DE4315738A1 - Strombegrenzungsschaltung und Konstantspannungsquelle für diese - Google Patents

Strombegrenzungsschaltung und Konstantspannungsquelle für diese

Info

Publication number
DE4315738A1
DE4315738A1 DE4315738A DE4315738A DE4315738A1 DE 4315738 A1 DE4315738 A1 DE 4315738A1 DE 4315738 A DE4315738 A DE 4315738A DE 4315738 A DE4315738 A DE 4315738A DE 4315738 A1 DE4315738 A1 DE 4315738A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
connection
operational amplifier
main
output
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE4315738A
Other languages
English (en)
Other versions
DE4315738C2 (de
Inventor
Tatsuhiko Fujihara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Publication of DE4315738A1 publication Critical patent/DE4315738A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4315738C2 publication Critical patent/DE4315738C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/08Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
    • H03K17/082Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit
    • H03K17/0822Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit in field-effect transistor switches
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/56Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
    • G05F1/565Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor
    • G05F1/569Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for protection
    • G05F1/573Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for protection with overcurrent detector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Direct Current Feeding And Distribution (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Strombegrenzungs­ schaltung, die zur Steuerung des Ausgangsstroms von einem Halbleiterleistungselement verwendet wird, das von an einen Steueranschluß desselben angelegten Eingangssignalen gesteu­ ert wird, zum Beispiel eines MOSFET, eines bipolaren Transi­ stors mit isoliertem Gate (IGBT) oder eines bipolaren Lei­ stungstransistors. Die Erfindung betrifft ferner eine Kon­ stantspannungsquelle für diese Strombegrenzungsschaltung.
Es ist bekannt, eine Strombegrenzungsschaltung zur Verhinde­ rung des Durchbruchs eines Halbleiterleistungselements infolge eines Überstroms und zur Steuerung des in eine Last fließenden Stroms auf einen konstanten Wert vorzusehen. Eine Schutzschaltung zur Verhinderung des Durchbruchs infolge eines Überstroms, wie sie in Fig. 2 gezeigt ist, wird von D. L. Zaremba in Jr. Electro. in Mini/Micro Northeast Conf. Rec. (1986) E. 10/4, Seiten 1 bis 4, beschrieben. Bei dieser Schaltung dient ein N-Kanal MOSFET 12 als Stromspiegelele­ ment, durch das ein Nebenschlußstrom (Meßstrom) fließt, der proportional zu einem Ausgangsstrom ID ist, der durch einen N-Kanal Leistungs-MOSFET fließt, der ein Halbleiterleistungs­ element darstellt. Der Drainanschluß und der Gateanschluß des MOSFETs 12 sind mit dem Drainanschluß bzw. dem Gateanschluß des MOSFETs 11 verbunden. Ein Strommeßwiderstand 31 liegt zwischen dem Sourceanschluß 24 als ein Stromspiegelanschluß des MOSFETs 12 und dem Sourceanschluß 22 des MOSFETs 11. Ein positiver Ausgangsanschluß 51 einer Konstantspannungsquelle 5 ist mit dem invertierenden Eingang 41 eines Operationsver­ stärkers 4 verbunden, während der negative Anschluß 52 der Konstantspannungsquelle 5 mit dem Sourceanschluß 22 des MOSFETs 11 verbunden ist. Der Stromspiegelanschluß 24 ist mit dem nicht-invertierenden Eingang 42 des Operationsverstärkers 4 verbunden. Ein Überstromsignal-Eingangsanschluß 62 einer Treiberschaltung 6 ist mit dem Ausgang 43 des Operationsver­ stärkers 4 verbunden. Der gemeinsame Gateanschluß 23 der MOSFETs 11 und 12 ist mit einem Treiberspannungs-Ausgangsan­ schluß 61 der Treiberschaltung 6 über einen Gatewiderstand 32 verbunden. Diese Strombegrenzungsschaltung arbeitet wie folgt. Wenn der Ausgangsstrom ID ansteigt, steigt der Meß­ strom IS proportional an. Als Folge davon nimmt auch die Spannung über dem Strommeßwiderstand 31 zu. Wenn diese Span­ nung die Ausgangsspannung von der Konstantspannungsquelle 5 übersteigt, geht das Potential am Ausgang 43 des Operations­ verstärkers 4 auf einen hohen Pegel, woraufhin die den Über­ stromzustand erfassende Treiberschaltung 6 den Ausgangsstu­ fentransistor 11 durch Absenken der Treiberspannung am Trei­ berspannungs-Ausgangsanschluß 61 auf einen geringeren Wert abschaltet. Diese Vorgänge verhindern Überstromdurchbrüche im Halbleiterleistungselement 11.
Die in Fig. 2 gezeigte Schaltung kann einen Überstromdurch­ bruch eines Halbleiterleistungselements verhindern, kann aber nicht einen konstanten Laststrom steuern. Die in Fig. 3 ge­ zeigte Strombegrenzungsschaltung, die ebenfalls in der oben genannten Literaturstelle offenbart ist, löst dieselbe Auf­ gabe, weshalb Teile in dieser Figur, die mit solchen in Fig. 2 übereinstimmen, mit derselben Bezugszahl bezeichnet sind.
In dieser Schaltung ist der Stromspiegelanschluß 24 mit dem invertierenden Eingang 41 des Operationsverstärkers 4 verbun­ den, während der positive Ausgangsanschluß 51 der Konstant­ spannungsquelle 5 mit dem nicht-invertierenden Eingang 42 verbunden ist. Der gemeinsame Gateanschluß 23 ist über einen Gatewiderstand 33 mit dem Ausgang 43 des Operationsverstär­ kers verbunden. Diese Strombegrenzungsschaltung arbeitet in folgender Weise. Wenn der Ausgangsstrom ID gering ist, ist der Meßstrom IS proportional ebenfalls gering, und die Span­ nung über dem Strommeßwiderstand 31 ist klein. Wenn dagegen der Ausgangsstrom ID groß ist, ist die Spannung über dem Strommeßwiderstand 31 hoch. Solange der Ausgangsstrom ID gering ist und die Spannung VS über dem Strommeßwiderstand 31 kleiner ist als die Ausgangsspannung VREF der Konstantspan­ nungsquelle 5, gibt der Operationsverstärker 4 an seinem Aus­ gang 43 eine ausreichend hohe Spannung ab, um die elektrische Leitfähigkeit in dem normalerweise eingeschalteten Ausgangs­ stufentransistor 11 ausreichend hoch zu halten. Wenn der Aus­ gangsstrom ID zunimmt und VS größer wird als VREF, nimmt die Ausgangsspannung am Ausgang 43 des Operationsverstärkers ab, und die elektrische Leitfähigkeit des Ausgangsstufentransi­ stors 11 nimmt wegen des Abfalls der an seinen Gateanschluß 23 angelegten Spannung ab. Dies setzt dem Ausgangsstrom ID einen größeren Widerstand entgegen, was bedeutet, daß der Strom unterhalb eines gewissen Werts gehalten wird.
Die in Fig. 3 gezeigte Strombegrenzungsschaltung hat zwei Nachteile. Der eine ist eine Schwingungsneigung. Das Aus­ gangssignal vom Operationsverstärker 4 wird über den Strom­ spiegeltransistor 12 auf die am invertierenden Eingang des Operationsverstärkers 4 anliegende Spannung rückgekoppelt. Die Verstärkung dieser Rückkopplungsschleife ist nahezu gleich der Verstärkung des Operationsverstärkers 4, die nor­ malerweise nahe bei 100 dB liegt. Zusätzlich tritt eine Pha­ senverzögerung am Ausgang 43 des Operationsverstärkers 4 auf, der mit dem Ausgangsstufentransistor 11 stark belastet ist. Daher wird bei der Strombegrenzungsschaltung von Fig. 3 eine Rückkopplungsschaltung, die leicht eine Phasenverzögerung bei hoher Verstärkung bewirkt, gebildet, was eine größere Schwin­ gungsneigung nach sich zieht. Der andere Nachteil dieser Schaltung besteht darin, daß, weil der Strom ständig auf einen konstanten Wert geregelt wird, diese Schaltung nicht eingesetzt werden kann, wenn der Strom auf zwei oder mehr Werten konstant gehalten werden muß.
Die Konstantspannungsquelle 5, die in Fig. 2 und 3 gezeigt ist, ist im einzelnen beschrieben in "Bipolar and MOS Analog Integrated Circuit Design" von A. B. Grebenn, herausgegeben von John Wiley Sons, New York. Bandabstandsreferenzschaltun­ gen sowie Schaltungen, die die Konstantspannungscharakteri­ stik von Zenerdioden ausnutzen, sind ebenfalls bekannt. Diese Schaltungen leiden jedoch an dem Nachteil, daß die Bandab­ standsreferenzschaltung die Gesamtschaltung zu groß macht und die Kosten erhöht, während Schaltungen, die die Konstantspan­ nungscharakteristik von Zenerdioden ausnutzen, zu einer Ab­ weichung der Spannung von dem konstanten Wert führen, wenn sie unter die Durchbruchspannung, die bei Zenerdioden nor­ malerweise 6 bis 8 Volt beträgt, fällt.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, unter Vermeidung der obigen Probleme eine Strombegrenzungsschaltung ohne Schwingungsneigung zu schaffen, oder eine Strombegrenzungs­ schaltung, die zur Steuerung konstanter Ströme auf zwei oder mehr Werten verwendet werden kann. Aufgabe der Erfindung ist es ferner, eine Konstantspannungsquelle für diese Strombe­ grenzungsschaltung zu schaffen, die billig ist und auch bei niedriger Versorgungsspannung eingesetzt werden kann.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Strombegren­ zungsschaltung gemäß Anspruch 1 bzw. eine Konstantspannungs­ quelle gemäß Anspruch 15 gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Un­ teransprüchen gekennzeichnet.
Wenn man die Impedanz des ersten und des zweiten Verstär­ kungseinstellelements, die mit einem Eingang des Operations­ verstärkers verbunden sind, mit Z1 bzw. Z2 bezeichnet, dann ist die Verstärkung einer Änderung am Steueranschluß des Haupt-Halbleiterelements gegenüber einer Änderung der Span­ nung am zweiten Hauptanschluß des Stromspiegelelements, das mit einem Ende des Strommeßelements verbunden ist, das heißt die Verstärkung A durch folgende Gleichung gegeben:
A= -|Z2|/|Z1|.
Indem man also die Impedanzen Z1 und Z2 des ersten und des zweiten Verstärkungseinstellelements geeignet wählt, kann man die Verstärkung A beliebig vorgeben. Da der Grund für die Schwingungsneigung der oben beschriebenen Strombegrenzungs­ schaltung eine starke Verstärkung und Phasenverzögerung sind, kann diese Schwingungsneigung dadurch unterbunden werden, daß die Verstärkung A durch Einstellen der Impedanzen Z1 und Z2 in obiger Weise ausreichend gering gemacht wird. Wenn ferner ein Widerstand zwischen den Ausgangsanschluß der Treiber­ schaltung oder des Operationsverstärkers und dem Steueran­ schluß des Haupt-Halbleiterelements eingesetzt wird, dann werden alle Frequenzen mit einer Periode, die kürzer als die Zeitkonstanten sind, die durch das Produkt des Widerstands­ werts RG des Widerstands und der Eingangskapazität C des Steueranschlusses des Haupt-Halbleiterelements, also RG·C, bestimmt werden, abgeschnitten. Deshalb tritt keine Schwin­ gung auf, selbst wenn sich eine Phasenverzögerung einstellt.
Es wird möglich, Ströme auf zwei oder mehr Werte dadurch kon­ stant zu halten, daß man anstelle einer konstanten Spannung zur Steuerung eine wählbare analoge Spannung an den ersten Eingang des Operationsverstärkers anlegt und die Strombegren­ zungswerte durch Wahl des Pegels der eingegebenen analogen Spannung verändert.
Die später im einzelnen erläuterte Konstantspannungsschal­ tung, die eine Reihenschaltung aus einem Verarmungs-MOSFET und einem Anreicherungs-MOSFET enthält, von denen bei erste­ rem Gate und Source und bei letzterem Gate und Drain mitein­ ander verbunden sind, erlaubt die Verwendung einer Speise­ spannung von bis hinunter zu 2 oder 3 Volt.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachfolgend anhand der Zeichnungen im einzelnen erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 ein Schaltbild einer Strombegrenzungsschaltung gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung,
Fig. 2 ein Schaltbild eines Beispiels einer herkömmlichen Strombegrenzungsschaltung,
Fig. 3 ein Schaltbild eines anderen Beispiels einer herkömm­ lichen Strombegrenzungsschaltung,
Fig. 4 ein Schaltbild einer Strombegrenzungsschaltung gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung,
Fig. 5 ein Schaltbild einer Strombegrenzungsschaltung gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung,
Fig. 6 ein Schaltbild einer Strombegrenzungsschaltung gemäß einem vierten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung,
Fig. 7 ein Schaltbild einer Konstantspannungsquelle gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung, und
Fig. 8 ein Schaltbild einer Konstantspannungsquelle gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
In den Zeichnungen sind, die Fig. 2 und 3 einschließend, jeweils übereinstimmende Teile mit denselben Bezugszahlen bezeichnet.
Fig. 1 zeigt eine Strombegrenzungsschaltung gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung, bei der keine Schwingungserscheinungen auftreten. Bei der in Fig. 1 gezeigten Schaltung ist der Ausgang des Operationsverstär­ kers 4 mit dem Gateanschluß 73 eines Gatesteuerungs-N-Kanal- MOSFETs 7 verbunden. Der Sourceanschluß 72 des MOSFETs 7 ist mit dem negativen Ausgangsanschluß 52 der Konstantspannungs­ quelle 5 und damit dem Sourceanschluß 22 des Ausgangsstufen­ transistors 11 verbunden. Der Drainanschluß 71 des MOSFET 7 ist über einen Gatewiderstand 32 mit dem Treiberspannungsaus­ gangsanschluß 61 der Treiberschaltung 6 und über den Gatewi­ derstand 33 mit dem gemeinsamen Gateanschluß 23 verbunden. Außerdem sind Verstärkungseinstellwiderstände 34 und 35 zwi­ schen den Stromspiegelanschluß 24 und den gemeinsamen Gatean­ schluß 23 geschaltet, wobei der Verbindungspunkt 25 zwischen diesen Widerständen mit dem nicht-invertierenden Eingang 42 des Operationsverstärkers 4 verbunden ist. Wenn in dieser Schaltung ID zunimmt und die Spannung VS über dem Meßwider­ stand 31 die Spannung VTH der Konstantspannungsquelle 5 über­ steigt, nimmt das Signal am Ausgang 43 des Operationsverstär­ kers 4 einen hohen Pegel an, woraufhin der Gatesteuerungs­ transistor 7 eingeschaltet wird und Treiberstrom von der Treiberschaltung 6 weg und zum Sourceanschluß 22 zieht. Dies führt zu einer Abnahme der an den gemeinsamen Gateanschluß 23 angelegten Spannung. Anders als bei der in Fig. 2 gezeigten bekannten Schaltung schaltet das Leistungshalbleiterelement an diesem Punkt nicht ab, sondern vermindert nur seine elek­ trische Leitfähigkeit. Damit wirkt das Element als Strombe­ grenzer, das den Ausgangsstrom von dem Element 11 konstant begrenzt. In diesem Fall ist es erforderlich, den Gatesteue­ rungstransistor 7 und den Gatewiderstand 32 aneinander anzu­ passen. Darüberhinaus kann die Vergrößerung der Änderung der an den Gateanschluß 23 angelegten Gatespannung gegenüber der Änderung der Spannung VS, auch als Verstärkung bekannt, mit­ tels der Verstärkungseinstellwiderstände 34 und 35 einge­ stellt werden, die zwischen den nicht-invertierenden Eingang 42 des Operationsverstärkers 4 und den Stromspiegelanschluß 24 bzw. den Eingang 42 und den gemeinsamen Gateanschluß 23 geschaltet sind. Infolgedessen kann eine Schwingungsneigung aufgrund übermäßiger Verstärkung verhindert werden. Während das Verhältnis der Widerstandswerte der Verstärkungseinstell­ widerstände 34 und 35 auf der Grundlage des Betrags der Pha­ senverzögerung bestimmt werden muß, wird der Wert des Wider­ stands 35 in der Regel auf ein Verhältnis von etwa 500 bis 50 000 als Bezug erhöht. Wenn man das Verhältnis des Haupt­ stroms ID zum Meßstrom IS, also ID : IS zu n : 1 annimmt, dann ist der Strombegrenzungswert bei dieser Schaltung durch die nachfolgende Gleichung (1) gegeben:
IDmax = n · VREF/RS (1)
in der RS den Widerstandswert des Meßwiderstands 31 dar­ stellt.
Die Werte der Verstärkungseinstellwiderstände 34 und 35 müs­ sen gegenüber dem Widerstandswert RS des Widerstands 31 aus­ reichend groß sein.
Fig. 4 zeigt eine Strombegrenzungsschaltung ohne Schwingungs­ erscheinungen gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Der Unterschied zwischen dieser Schaltung und derjenigen von Fig. 3 liegt darin, daß ein Ver­ stärkungseinstellwiderstand 34 zwischen den invertierenden Eingang 41 des Operationsverstärkers 4 und den Stromspiegel­ anschluß 24 geschaltet ist, während ein Verstärkungseinstell­ widerstand 35 zwischen den Eingang 41 und den gemeinsamen Gateanschluß 23 geschaltet ist. Dadurch kann die Vergrößerung der Änderung der an den Gateanschluß 23 angelegten Spannung gegenüber einer Änderung der Spannung VS, das heißt die Ver­ stärkung, so eingestellt werden, daß eine übermäßige Verstär­ kung, die einer der Gründe für Schwingungserscheinungen ist, verhindert werden kann, wie dies im Fall von Fig. 1 dargelegt wurde. Der Strombegrenzungswert IDmax ist ebenfalls durch die Gleichung (1) gegeben.
Fig. 5 zeigt eine Strombegrenzungsschaltung ohne Schwingungs­ erscheinungen gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Diese Schaltung ist in der Lage, Ströme auf zwei oder mehr Werten konstant zu halten. Diese Schaltung unterscheidet sich von derjenigen nach Fig. 1 darin, daß das Eingangssignal zu dem invertierenden Eingang 41 des Operationsverstärkers 4 keine Konstantspannung, son­ dern eine wählbare analoge Spannung ist, die über einen Ana­ logeingangsanschluß 26 eingegeben wird. Die Strombegrenzungs­ werte des Ausgangsstroms ID sind nach Maßgabe des Pegels die­ ser analogen Spannung wählbar. Das heißt, der Strombegren­ zungswert IDmax ist durch die folgende Gleichung (2) gegeben:
IDmax = n · VIN/RS (2)
in der VIN die analoge Eingangsspannung am Anschluß 26 ist.
Fig. 6 zeigt eine Strombegrenzungsschaltung ohne Schwingungs­ erscheinungen gemäß einem vierten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Auch diese Schaltung ist in der Lage, Ströme auf zwei oder mehr Werten konstant zu halten. Diese Schaltung unterscheidet sich von derjenigen nach Fig. 4 darin, daß ein Analogeingangsanschluß 26 vorgesehen ist, über den eine wählbare analoge Spannung an den nicht-invertieren­ den Eingang 42 des Operationsverstärkers 4 angelegt werden kann. Dies erlaubt es, den Strombegrenzungswert IDmax gemäß Gleichung (2) wählbar zu gestalten. Während in der in Fig. 4 gezeigten Schaltung der Ausgangsstufentransistor 11 normaler­ weise im Einschaltzustand ist, schaltet der Ausgangsstufen­ transistor 11 bei der Schaltung von Fig. 6 ab, wenn die Ein­ gangsspannung VIN am Eingangsanschluß 26 Null wird, und bleibt solange eingeschaltet, solange VIN positiv bleibt, wobei im Transistor 11 ein Strom mit einem Maximalwert fließt, der anhand von VIN durch die Formel (2) gegeben ist.
Während die obigen Ausführungsbeispiele in allen Fällen einen MOSFET 11 als Halbleiterleistungselement verwenden, kann jedes andere Halbleiterleistungselement einschließlich eines IGBT und eines bipolaren Leistungstransistors eingesetzt wer­ den. Außerdem kann ein solches Element entweder vom N-Kanal­ typ oder vom P-Kanaltyp sein. Wenn jedoch die Schaltungen der Fig. 4 und 6 in Verbindung mit einem bipolaren Transistor verwendet werden, muß ein Operationsverstärker 4 eingesetzt werden, der einen hohen Treiberstrom zu liefern imstande ist, damit ein ausreichender Basisstrom zur Verfügung steht.
Der Meßwiderstand 31 vereinfacht die Schaltungsauslegung, weil die Spannung über ihm direkt proportional dem Ausgangs­ strom des Ausgangsstufentransistors 11 ist. Darüberhinaus erleichtert er die Steuerung, weil in der Schaltung der Fig. 5 oder 6 die an den Anschluß 26 angelegte analoge Eingangs­ spannung und der Strombegrenzungswert in einem direkt propor­ tionalen Verhältnis stehen. Dessenungeachtet kann als Strom­ meßelement jedes beliebige Element verwendet werden, das eine auf dem Strom basierende Spannung erzeugt. Beispielsweise kann ein MOSFET verwendet werden.
Obwohl Verstärkungseinstellwiderstände 34 und 35 den Vorteil bieten, daß sie leicht integriert werden können und billig sind, kann stattdessen jedes beliebige andere Element, zum Beispiel ein Kondensator, als Verstärkungseinstellelement verwendet werden, sofern es eine Impedanz aufweist.
Der in den Schaltungen der Fig. 1 und 5 als Gatesteuertransi­ stor verwendete MOSFET 7 kann durch eine andere Transistorart einschließlich eines bipolaren Transistors und eines IGBT ersetzt werden.
Die Fig. 7 und 8 zeigen eine billige Konstantspannungsquelle als Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung, die ein­ gesetzt werden kann, selbst wenn die Versorgungsspannung für eine Strombegrenzungsschaltung gering ist. Bei diesen Schal­ tungen sind ein Verarmungs-N-Kanal-MOSFET 8 und ein Anreiche­ rungs-N-Kanal-MOSFET 9 in Reihe zwischen einen Stromquellen­ anschluß Vcc und einen Masseanschluß GND geschaltet. Der Sourceanschluß 82 und der Gateanschluß 83 des MOSFETs 8 sind miteinander verbunden, und der Drainanschluß 91 und der Gate­ anschluß 93 des MOSFETs 9 sind miteinander verbunden. Der Verbindungspunkt 50 zwischen den beiden MOSFETs 8 und 9 dient als Ausgangsanschluß.
Das Beispiel von Fig. 7 betrifft den Fall, wo die Konstant­ spannung VREF gegenüber Masse als Bezugspunkt erzeugt wird, während bei dem Beispiel von Fig. 8 die Konstantspannung VREF gegenüber der Speisespannung als Bezugspunkt erzeugt wird. In beiden Fällen handelt es sich bei den MOSFETs 8 und 9 um N- Kanal-MOSFETs, obwohl auch P-Kanal-MOSFETs verwendet werden können. Diese Konstantspannungsquelle ist billig, da sie lediglich aus zwei MOSFETs besteht, und kann nicht nur als Konstantspannungsquelle 5 für die in den Fig. 1 und 4 gezeig­ ten Ausführungsbeispiele, sondern auch als Konstantspannungs­ quelle für eine Überstromschutzschaltung und andere Strombe­ grenzungsschaltungen, wie beispielsweise in Fig. 2 gezeigt, eingesetzt werden.
Bei einer solchen aus der Verbindung eines Verarmungs-MOSFETs mit einem Anreicherungs-MOSFET gebildeten Schaltung, bei der der Gateanschluß und der Sourceanschluß des Verarmungs- MOSFETs verbunden sind und der Gateanschluß und der Drainan­ schluß des Anreicherungs-MOSFETs verbunden sind, ergibt sich der Drainstrom IDD des Verarmungs-MOSFETs aus der folgenden Gleichung und ist konstant, wenn die Spannung VDSD zwischen Drain und Source höher ist als der konstante Wert VDSSat:
IDD-(µD COXD WD/2 LD) VTHD 2.
In dieser Gleichung bezeichnet µD die Ladungsträgerbeweglich­ keit, COXD die Gateoxidfilmkapazität, WD die Kanalbreite, LD die Kanallänge und VTHD die Schwellenspannung.
Der Drainstrom IDE des Anreicherungs-MOSFETs ist durch fol­ gende Gleichung gegeben, wobei die Spannung zwischen Drain und Source von VDSE abhängt:
IDE = (µE COXE WE/2 LE) (VDSE-VTHD)2.
In dieser Gleichung bezeichnet µE die Ladungsträgerbeweglich­ keit, COXE die Gateoxidfilmkapazität, WE die Kanalbreite, LE die Kanallänge und VTHD die Schwellenspannung.
Da die Reihenschaltung der beiden Transistoren dazu führt, daß IDD = IDE, ergibt sich die folgende Gleichung für VDSE:
VDSE = (µD COXD WD LEE COXE WE LD)1/2 VTHD+VTHE
das heißt, VDSE wird konstant und kann als Konstantspannung eingesetzt werden. Da die minimale Versorgungsspannung, die den Einsatz der Schaltung als Konstantspannungsquelle er­ laubt, VDSSat oder VDSE ist und der Wert von VDSSat, wie auch der Wert von VTHE allgemein etwa 1 Volt beträgt, kann der Wert von VDSE auf 1 bis 2 Volt eingestellt werden, und der Wert von VDSSat + VDSE kann in diesem Fall auch auf 2 bis 3 Volt eingestellt werden. Mit anderen Worten, es ist möglich, eine Speisespannung von nur 2 oder 3 Volt zu verwenden.
Die Elemente in jedem einzelnen der obigen Ausführungsbei­ spiele können einschließlich der Konstantspannungsquelle auf einem Ein-Chip-Leistungs-IC integriert werden.

Claims (15)

1. Strombegrenzungsschaltung, umfassend ein Haupt-Halbleiterelement (11) mit einem ersten und einem zweiten Hauptanschluß (21, 22) sowie einem Steueran­ schluß (23),
ein Stromspiegelelement (12) mit einem ersten und einem zweiten Hauptanschluß (21, 24) sowie einem Steueranschluß (23), dessen erster Hauptanschluß und dessen Steueranschluß jeweils mit dem entsprechenden Anschluß des Haupt-Halbleiter­ elements (11) verbunden sind, während sein zweiter Hauptan­ schluß über ein Strommeßelements (31) mit dem zweiten Hauptan­ schluß des Haupt-Halbleiterelement (11) verbunden ist derart, daß das Stromspiegelelement (12) von einem Strom (IS) durch­ flossen wird, der dem Ausgangsstrom (ID) durch den ersten und den zweiten Hauptanschluß des Haupt-Halbleiterelements (11) proportional ist,
einen Operationsverstärker (4) zum Vergleich der Span­ nung zwischen den beiden Anschlüssen des Strommeßelements (31) mit einer Bezugsspannung, wobei das Eingangssignal zu den Steueranschlüssen (23) mittels des Ausgangssignals des Operationsverstärkers (4) derart steuerbar ist, daß der Aus­ gangsstrom (ID) des Haupt-Halbleiterelements (11) unter einem vorgegebenen Wert bleibt, wobei ferner die Bezugsspannung (VREF) an einem ersten Eingang (41) des Operationsverstärkers (4) anliegt, ein erstes Verstärkungseinstellelement (34) zwi­ schen einen zweiten Eingang (42) des Operationsverstärkers (4) und den zweiten Hauptanschluß des Stromspiegelelements (12) geschaltet ist und ein zweites Verstärkungseinstellele­ ment (35) zwischen den zweiten Eingang (42) des Operations­ verstärkers (4) und die Steueranschlüsse (23) geschaltet ist, und wobei die Impedanz des ersten Verstärkungseinstellele­ ments (34) um ein vorgegebenes Maß größer ist als die des zweiten Verstärkungseinstellelements (35).
2. Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Ausgang (43) des Operationsver­ stärkers (4) mit dem Steueranschluß (73) eines Schaltelements (7) verbunden ist, dessen einer Hauptanschluß (72) mit dem zweiten Hauptanschluß (22) des Haupt-Halbleiterelements (11) verbunden ist und dessen anderer Hauptanschluß (71) an eine Verbindung zwischen einer Treiberschaltung (6) und dem Steueranschluß (23) des Haupt-Halbleiterelements (11) ange­ schlossen ist.
3. Schaltung nach Anspruch 2, bei der ein die Betriebs­ geschwindigkeit des Haupt-Halbleiterelements (11) begrenzen­ der Widerstand (33) zwischen den mit der Treiberschaltung (6) verbundenen Hauptanschluß (71) des Schaltelements (7) und den Steueranschluß (23) des Haupt-Halbleiterelements (11) ge­ schaltet ist.
4. Schaltung nach Anspruch 1, bei der der Ausgang (43) des Operationsverstärkers (4) mit dem Steueranschluß des Haupt-Halbleiterelements (11) verbunden ist.
5. Schaltung nach Anspruch 4, bei der ein die Betriebs­ geschwindigkeit des Haupt-Halbleiterelements (11) begrenzen­ der Widerstand zwischen den Ausgang (43) des Operationsver­ stärkers (4) und den Steueranschluß (23) des Haupt-Halblei­ terelements (11) geschaltet ist.
6. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Bezugsspannung die Ausgangsspannung einer Konstantspannungsquelle ist, die zwi­ schen den ersten Eingang (42) des Operationsverstärkers (4) und den zweiten Hauptanschluß (22) des Haupt-Halbleiterele­ ments (11) geschaltet ist.
7. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Bezugsspannung einem an den ersten Eingang (42) des Operationsverstärkers (4) an­ gelegten analogen Spannungswert äquivalent ist.
8. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Strommeßelement (31) ein Widerstand ist.
9. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Strommeßelement ein MOSFET ist.
10. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß das Verstärkungseinstell­ element als Widerstand wirkt.
11. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß das Verstärkungseinstell­ element ein Kondensator ist.
12. Schaltung nach einem der Ansprüche 2, 3 und 6 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß das an den Ausgang (43) des Operationsverstärkers (4) angeschlossene Schaltelement (7) ein MOSFET ist.
13. Schaltung nach einem der Ansprüche 2, 3 und 6 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß das an den Ausgang (43) des Operationsverstärkers (4) angeschlossene Schaltelement (7) ein bipolarer Transistor ist.
14. Schaltung nach einem der Ansprüche 2, 3 und 6 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß das an den Ausgang (43) des Operationsverstärkers (4) angeschlossene Schaltelement (7) ein bipolarer Transistor mit isoliertem Gate ist.
15. Konstantspannungsquelle für eine Strombegrenzungs­ schaltung, bei der ein Verarmungs-MOSFET (8), dessen Gatean­ schluß und Sourceanschluß zusammengeschaltet sind, mit einem Anreicherungs-MOSFET, dessen Gateanschluß und Drainanschluß zusammengeschaltet sind, in Reihe geschaltet ist, wobei der Verbindungspunkt zwischen den beiden MOSFETs (8, 9) als Aus­ gangsanschluß (50) dient.
DE4315738A 1992-05-12 1993-05-11 Strombegrenzungsschaltung und Konstantspannungsquelle für diese Expired - Fee Related DE4315738C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4117811A JPH05315852A (ja) 1992-05-12 1992-05-12 電流制限回路および電流制限回路用定電圧源

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4315738A1 true DE4315738A1 (de) 1993-11-18
DE4315738C2 DE4315738C2 (de) 1996-11-14

Family

ID=14720857

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4315738A Expired - Fee Related DE4315738C2 (de) 1992-05-12 1993-05-11 Strombegrenzungsschaltung und Konstantspannungsquelle für diese

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5422593A (de)
JP (1) JPH05315852A (de)
DE (1) DE4315738C2 (de)
GB (2) GB9309487D0 (de)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4417252A1 (de) * 1994-05-17 1995-11-30 Bosch Gmbh Robert Leistungshalbleiter mit Weak-Inversion-Schaltung
WO1996012346A2 (en) * 1994-10-12 1996-04-25 Philips Electronics N.V. A protected switch
DE10119261C1 (de) * 2001-04-20 2002-12-05 Infineon Technologies Ag Lasttransistor mit Strombegrenzungsanordnung
DE102006008292A1 (de) * 2006-02-22 2007-08-30 Infineon Technologies Ag Überlastschutz für steuerbare Stromverbraucher
US8427207B2 (en) 2008-02-25 2013-04-23 Infineon Technologies Ag Semiconductor device arrangement and method

Families Citing this family (75)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3243902B2 (ja) * 1993-09-17 2002-01-07 株式会社日立製作所 半導体装置
US6476667B1 (en) * 1993-10-29 2002-11-05 Texas Instruments Incorporated Adjustable current limiting/sensing circuitry and method
AU680098B2 (en) * 1994-03-21 1997-07-17 Clipsal Australia Pty Ltd High impedance power supply
AUPM457794A0 (en) * 1994-03-21 1994-04-14 Gerard Industries Pty Ltd High impedance power supply
DE69421083T2 (de) * 1994-11-17 2000-03-16 Co.Ri.M.Me. Consorzio Per La Ricerca Sulla Microelettronica Nel Mezzogiorno Schutzschaltung und Verfahren für Leistungstransistor sowie diese verwendender Spannungsregler
JPH0946141A (ja) * 1995-07-27 1997-02-14 Nec Eng Ltd バイアス回路
KR100320672B1 (ko) * 1995-12-30 2002-05-13 김덕중 스위칭 제어 집적회로
JPH09191103A (ja) * 1996-01-09 1997-07-22 Nec Corp 電流検出手段を有する半導体装置
JPH1014099A (ja) * 1996-06-21 1998-01-16 Nec Corp 過電流検出回路
US5777502A (en) * 1996-08-07 1998-07-07 Texas Instruments Incorporated Method to protect gate-source elements of external power fETS from large pre-drive capacity
DE19707708C2 (de) * 1997-02-26 2002-01-10 Infineon Technologies Ag Strombegrenzungsschaltung
US6054845A (en) * 1998-01-29 2000-04-25 Siemens Aktiengesellschaft Current limiting circuit
US5886570A (en) * 1997-10-22 1999-03-23 Analog Devices Inc Inverter circuit biased to limit the maximum drive current to a following stage and method
KR100298435B1 (ko) * 1998-06-03 2001-08-07 김영환 온도보상기능을갖는자동이득제어장치
JP3164065B2 (ja) * 1998-06-24 2001-05-08 日本電気株式会社 半導体装置
JP2000022456A (ja) * 1998-06-26 2000-01-21 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体集積回路
US6545852B1 (en) 1998-10-07 2003-04-08 Ormanco System and method for controlling an electromagnetic device
KR100625768B1 (ko) * 1998-12-09 2006-12-05 페어차일드코리아반도체 주식회사 스위칭모드 파워 서플라이의 피드백 회로
US6406102B1 (en) 1999-02-24 2002-06-18 Orscheln Management Co. Electrically operated parking brake control system
US6185082B1 (en) 1999-06-01 2001-02-06 System General Corporation Protection circuit for a boost power converter
US6411133B1 (en) * 1999-06-30 2002-06-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device
JP2001211059A (ja) * 2000-01-26 2001-08-03 Toshiba Corp 半導体スイッチ素子の過電流保護回路
JP3660846B2 (ja) * 2000-02-23 2005-06-15 日本無線株式会社 Fetバイアス回路
JP2002043916A (ja) * 2000-07-28 2002-02-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電圧検出回路および半導体装置
JP3831894B2 (ja) * 2000-08-01 2006-10-11 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路
JP3793012B2 (ja) * 2000-09-21 2006-07-05 松下電器産業株式会社 負荷駆動装置
JP3872331B2 (ja) * 2001-03-07 2007-01-24 富士通株式会社 Dc−dcコンバータ及び電源回路
JP3861613B2 (ja) * 2001-03-27 2006-12-20 日産自動車株式会社 オンチップ温度検出装置
US7132868B2 (en) * 2001-06-27 2006-11-07 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device
DE10146581C1 (de) * 2001-09-21 2003-04-24 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung mit einem Halbleiterschalter und einer Schutzschaltung
DE10212863B4 (de) * 2002-03-22 2006-06-08 Siemens Ag Ansteuerschaltung für einen Sperrschicht-Feldeffekttransistor
US6816349B1 (en) * 2002-06-27 2004-11-09 Micrel, Inc. Integrated power switch with current limit control and a method of use
FR2838891A1 (fr) * 2002-12-17 2003-10-24 Siemens Vdo Automotive Circuit electronique de controle et de limitation d'un courant electrique dans une charge soumise a une tension d'alimentation
US6970337B2 (en) * 2003-06-24 2005-11-29 Linear X Systems Inc. High-voltage low-distortion input protection current limiter
JP4068022B2 (ja) * 2003-07-16 2008-03-26 Necエレクトロニクス株式会社 過電流検出回路及び負荷駆動回路
US7157959B2 (en) * 2004-03-31 2007-01-02 Semiconductor Components Industries, L.L.C. Method of forming a self-gated transistor and structure therefor
JP2005333691A (ja) * 2004-05-18 2005-12-02 Rohm Co Ltd 過電流検出回路及びこれを有する電源装置
JP2006053898A (ja) 2004-07-15 2006-02-23 Rohm Co Ltd 過電流保護回路およびそれを利用した電圧生成回路ならびに電子機器
JP2006067660A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
US7122882B2 (en) * 2004-11-02 2006-10-17 Alpha And Omega Semiconductor Ltd. Low cost power MOSFET with current monitoring
JP4650026B2 (ja) * 2005-03-01 2011-03-16 日本電気株式会社 電力増幅器
US20060214812A1 (en) * 2005-03-25 2006-09-28 Ainsworth Kenneth M Measurement of output voltage characteristics on dynamic logic signals
US7368980B2 (en) * 2005-04-25 2008-05-06 Triquint Semiconductor, Inc. Producing reference voltages using transistors
US7202711B2 (en) * 2005-09-07 2007-04-10 Delphi Technologies, Inc. Technique for determining a load current
DE102007002334B4 (de) * 2006-01-20 2009-06-25 Denso Corporation, Kariya Überstromerkennungsschaltkreis
JP2007228447A (ja) * 2006-02-27 2007-09-06 Hitachi Ltd スイッチング素子のゲート駆動回路
US7463079B2 (en) * 2006-05-05 2008-12-09 Honeywell International Inc. Short circuit protection by gate voltage sensing
JP4996203B2 (ja) * 2006-11-07 2012-08-08 ルネサスエレクトロニクス株式会社 電源電圧回路
DE102008010854B4 (de) * 2008-02-25 2017-06-01 Infineon Technologies Ag Halbleiterbauelementanordnung und Verfahren zur Herstellung derselben
JP5044448B2 (ja) * 2008-03-03 2012-10-10 ルネサスエレクトロニクス株式会社 電源スイッチ回路
US8232784B2 (en) * 2008-04-01 2012-07-31 O2Micro, Inc Circuits and methods for current sensing
TWI369049B (en) * 2008-04-30 2012-07-21 Advanced Analog Technology Inc Power switch circuit exhibiting over current protection and short circuit protection mechanism
JP2009277930A (ja) * 2008-05-15 2009-11-26 Nec Electronics Corp 半導体装置
TWI380548B (en) * 2008-12-16 2012-12-21 Delta Electronics Inc Error detecting and motor protecting apparatus and method thereof
US7852148B2 (en) * 2009-03-27 2010-12-14 Semiconductor Components Industries, Llc Method of forming a sensing circuit and structure therefor
JP5691158B2 (ja) 2009-11-13 2015-04-01 ミツミ電機株式会社 出力電流検出回路および送信回路
JP5767847B2 (ja) 2011-04-15 2015-08-19 ローム株式会社 基準電流生成回路及びこれを用いた電源装置
KR101247219B1 (ko) 2011-05-19 2013-03-26 (주)태진기술 전류제한회로
US8525554B2 (en) * 2011-05-31 2013-09-03 System General Corporation High-side signal sensing circuit
US8624637B2 (en) * 2012-02-08 2014-01-07 Infineon Technologies Ag Switching control circuit for thermal protection of transistors
EP2637304A1 (de) * 2012-03-05 2013-09-11 Siemens Aktiengesellschaft Digitaleingabeeinheit
KR101381376B1 (ko) * 2012-08-20 2014-04-04 주식회사 레오엘에스아이 전류 제한 스위치
JP6115273B2 (ja) * 2013-04-11 2017-04-19 ソニー株式会社 電源回路、電源システムおよび蓄電装置
US9092043B2 (en) 2013-08-22 2015-07-28 Freescale Semiconductor, Inc. Power switch with current limitation and zero direct current (DC) power consumption
US9048838B2 (en) 2013-10-30 2015-06-02 Infineon Technologies Austria Ag Switching circuit
US9525063B2 (en) 2013-10-30 2016-12-20 Infineon Technologies Austria Ag Switching circuit
US9453859B2 (en) * 2013-11-07 2016-09-27 Infineon Technologies Americas Corp. Voltage converter with VCC-Less RDSon current sensing circuit
DE102014201584A1 (de) * 2014-01-29 2015-07-30 Robert Bosch Gmbh Halbleiterschalter und Verfahren zum Bestimmen eines Stroms durch einen Halbleiterschalter
US9712156B2 (en) * 2014-12-01 2017-07-18 Hamilton Sundstrand Corporation Solid state power controllers
WO2016143364A1 (ja) * 2015-03-09 2016-09-15 富士電機株式会社 駆動回路および半導体モジュール
GB2549934A (en) 2016-04-28 2017-11-08 Reinhausen Maschf Scheubeck Junction temperature and current sensing
IT201600123267A1 (it) * 2016-12-05 2018-06-05 St Microelectronics Srl Limitatore di corrente, dispositivo e procedimento corrispondenti
FR3075518B1 (fr) * 2017-12-18 2021-01-29 Safran Electronics & Defense Circuit de commutation
JP2019146300A (ja) * 2018-02-16 2019-08-29 株式会社東芝 ドライバ回路
JPWO2023276491A1 (de) * 2021-06-29 2023-01-05

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3743453A1 (de) * 1986-12-24 1988-07-28 Dold & Soehne Kg E Schaltungsanordnung zum kurzschlussschutz eines halbleiterverstaerkerelementes
US4864216A (en) * 1989-01-19 1989-09-05 Hewlett-Packard Company Light emitting diode array current power supply
DE3844387A1 (de) * 1988-04-30 1989-11-09 Samsung Electronics Co Ltd Elektrische schaltung zur erzeugung einer bezugsspannung unter verwendung einer auflade- und entladeschaltung
DE3927307A1 (de) * 1988-09-01 1990-04-05 Fuji Electric Co Ltd Halbleitervorrichtung
DE4207568A1 (de) * 1991-03-14 1992-09-17 Fuji Electric Co Ltd Ueberstrom-detektorschaltung fuer eine halbleiterleistungsvorrichtung

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2034939B (en) * 1979-09-18 1983-01-19 Siemens Ag Integrated constant current source
US4634902A (en) * 1982-11-17 1987-01-06 Clarion Co., Ltd. Circuit arrangement capable of adjusting a threshold level of a differential transistor circuit
US4553084A (en) * 1984-04-02 1985-11-12 Motorola, Inc. Current sensing circuit
JPS63104117A (ja) * 1986-10-22 1988-05-09 Seiko Epson Corp 基準電圧発生回路
FR2628547B1 (fr) * 1988-03-09 1990-12-28 Sgs Thomson Microelectronics Generateur stabilise de fourniture de tension de seuil de transistor mos
IT1232074B (it) * 1989-03-31 1992-01-23 Marelli Autronica Dispositivo di controllo e regolazione per un motore elettrico a corrente continua
US5013934A (en) * 1989-05-08 1991-05-07 National Semiconductor Corporation Bandgap threshold circuit with hysteresis
JP2674669B2 (ja) * 1989-08-23 1997-11-12 株式会社東芝 半導体集積回路
JP3011727B2 (ja) * 1989-10-26 2000-02-21 富士電機株式会社 過電流検出回路
JPH0452816A (ja) * 1990-06-15 1992-02-20 Seiko Epson Corp 基準電圧回路
US5157322A (en) * 1991-08-13 1992-10-20 National Semiconductor Corporation PNP transistor base drive compensation circuit

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3743453A1 (de) * 1986-12-24 1988-07-28 Dold & Soehne Kg E Schaltungsanordnung zum kurzschlussschutz eines halbleiterverstaerkerelementes
DE3844387A1 (de) * 1988-04-30 1989-11-09 Samsung Electronics Co Ltd Elektrische schaltung zur erzeugung einer bezugsspannung unter verwendung einer auflade- und entladeschaltung
DE3927307A1 (de) * 1988-09-01 1990-04-05 Fuji Electric Co Ltd Halbleitervorrichtung
US4864216A (en) * 1989-01-19 1989-09-05 Hewlett-Packard Company Light emitting diode array current power supply
DE4207568A1 (de) * 1991-03-14 1992-09-17 Fuji Electric Co Ltd Ueberstrom-detektorschaltung fuer eine halbleiterleistungsvorrichtung

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"Bipolar and MOS Analog Integrated Circuit Design"von A. B. Grebenn, herausgegeben von John Wiley Sons, New York, 1984, S. 193-197 *
L. Zaremba in Jr. Electro in Mini/Micro Northeast Conf. Rec. (1986) E. 10/4, S. 1-4 *

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4417252A1 (de) * 1994-05-17 1995-11-30 Bosch Gmbh Robert Leistungshalbleiter mit Weak-Inversion-Schaltung
DE4417252C2 (de) * 1994-05-17 1998-07-02 Bosch Gmbh Robert Leistungshalbleiter mit Weak-Inversion-Schaltung
WO1996012346A2 (en) * 1994-10-12 1996-04-25 Philips Electronics N.V. A protected switch
WO1996012346A3 (en) * 1994-10-12 1996-06-27 Philips Electronics Nv A protected switch
DE10119261C1 (de) * 2001-04-20 2002-12-05 Infineon Technologies Ag Lasttransistor mit Strombegrenzungsanordnung
DE102006008292A1 (de) * 2006-02-22 2007-08-30 Infineon Technologies Ag Überlastschutz für steuerbare Stromverbraucher
US7626795B2 (en) 2006-02-22 2009-12-01 Infineon Technologies Ag Overload protection for controllable current consumers
DE102006008292B4 (de) * 2006-02-22 2011-09-15 Infineon Technologies Ag Überlastschutz für steuerbare Stromverbraucher
US8427207B2 (en) 2008-02-25 2013-04-23 Infineon Technologies Ag Semiconductor device arrangement and method
US8643406B2 (en) 2008-02-25 2014-02-04 Infineon Technologies Ag Semiconductor device including a power transistor and switchable element
US8917120B2 (en) 2008-02-25 2014-12-23 Infineon Technologies Ag Semiconductor device having a switchable element

Also Published As

Publication number Publication date
GB2267003B (en) 1995-12-13
DE4315738C2 (de) 1996-11-14
JPH05315852A (ja) 1993-11-26
US5422593A (en) 1995-06-06
GB9309766D0 (en) 1993-06-23
GB2267003A (en) 1993-11-17
GB9309487D0 (en) 1993-06-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4315738C2 (de) Strombegrenzungsschaltung und Konstantspannungsquelle für diese
DE69020295T2 (de) Zeitverzögerungsschaltungen mit Temperaturkompensation.
DE69423488T2 (de) Spannungsregler
DE60225124T2 (de) Regelungseinrichtung mit kleiner Verlustspannung, mit großem Lastbereich und schneller innerer Regelschleife
DE69802577T2 (de) Lastpol stabilizierter Spannungsregler
DE3927278C2 (de) Spannungsreglerschaltkreis
DE19530472B4 (de) Konstantstromschaltung
EP0557850B1 (de) Schaltungsanordnung zur Laststrombegrenzung eines Leistungs-MOSFET
DE2424812B2 (de) Verstärker mit Überstromschutz
DE3703201A1 (de) Cmos-eingangspegelwandlerschaltung mit temperaturkompensierender n-kanal-feldeffekttransistorstruktur
DE2639790A1 (de) Schaltungsanordnung zur lieferung konstanten stroms
DE10052939B4 (de) Folge- und Halteschaltkreis
DE2410205A1 (de) Hystereseschaltung
DE2453597A1 (de) Signalpegel-steuerkreis
DE2849216A1 (de) Vorrichtung zur drehzahlregelung von gleichstrommotoren
DE102006007479A1 (de) Shunt-Regler
DE69815289T2 (de) Spannungsreglerschaltungen und halbleiterschaltung
DE69838973T2 (de) Schwachstromüberwachung durch "low-side" getriebenen DMOS mittels Modulierung seines inneren Widerstands
DE19620839C2 (de) Operationsverstärker
DE2462423A1 (de) Operationsverstaerker
DE69314075T2 (de) Schneller Schaltstromspiegel
DE2122768A1 (de) Spannungsregler fur negative Spannungen
EP0973084A2 (de) Integrierte Schaltung mit einem Spannungsregler
DE3136300C2 (de)
DE69800590T2 (de) Zweifachbegrenzende Batteriespeisungsschaltung für eine digitale Leitung

Legal Events

Date Code Title Description
8181 Inventor (new situation)

Free format text: FUJIHIRA, TATSUHIKO, KAWASAKI, KANAGAWA, JP

8101 Request for examination as to novelty
8110 Request for examination paragraph 44
8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: HOFFMANN, E., DIPL.-ING., PAT.-ANW., 82166 GRAEFEL

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee