DE3851247T2

DE3851247T2 - An Ort und Stelle diagnostizierbare elektronische Leiterplatte.

Info

Publication number: DE3851247T2
Application number: DE3851247T
Authority: DE
Inventors: William Herman Toth
Original assignee: AT&T Corp
Current assignee: AT&T Corp
Priority date: 1987-03-16
Filing date: 1988-03-09
Publication date: 1995-04-13
Anticipated expiration: 2008-03-10
Also published as: US4829520A; KR880011600A; DE3851247D1; JPS63277982A; CA1286364C; KR910009009B1; EP0283196A3; EP0283196B1; EP0283196A2

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft die Fehlerdiagnose bei elektronischen Schaltungen. Die Erfindung betrifft insbesondere Verfahren und Vorrichtungen, um Reparatursysteme über eine Fehlerdiagnose zu informieren.
Die VLSI-Technologie ermöglicht es, daß entfernbare oder steckbare Schaltkreisbausteine mit recht komplexen Teilsystemen bestückt werden. Die Kosten einer Leiterplatte nehmen mit der Komplexität zu und die Komplexität nimmt ihrerseits mit den Fortschritten bei den VSLI-Herstellungsverfahren zu.
Hohe Leiterplattenkosten machen die Reparatur von ausgefallenen Leiterplatten wünschenswert, durch die im Zuge der VSLI-Technologie entstehende Komplexität wird eine Reparatur am Einsatzort jedoch nahezu unmöglich. Viele gegenwärtige Systemgestaltungen beinhalten daher Verfahren und Hardware-Einrichtungen zum Eingrenzen von Fehlern auf entfernbare Unterbaugruppen (z. B. eine Leiterplatte). Sie sind darauf angewiesen, daß ein Außendiensttechniker die ausgefallenen Baugruppen ausfindig macht, sie ersetzt und die ausgefallenen Einheiten an ein Reparaturzentrum sendet. Manche auf Software basierende Systeme beinhalten auch Diagnose-Software, die entweder automatisch oder manuell aktiviert wird, und die das System testet und den Fehler innerhalb der gewünschten Genauigkeit lokalisiert. Die gewünschte Genauigkeit bei der Lokalisierung entspricht typischerweise einer entfernbaren Leiterplatte. Bei den meisten dieser Anwendungen werden die detaillierten Diagnoseergebnisse zu einer "Gut/Schlecht"-Anzeige zusammengefaßt, die dem Reparaturtechniker angezeigt wird, so daß er Leiterplatten geeignet ersetzen kann. Eine ausgefallene Leiterplatte wird entfernt und zur Reparatur an das Werk zurückgegeben, häufig mit einer schriftlichen Zusammenfassung der dem Techniker angezeigten Hinweise.
Die gegenwärtigen Verfahren weisen eine Reihe von Beschränkungen auf. Erstens werden die ausführlichen Testergebnisse nicht zuverlässig und sorgfältig mit den Leiterplatten an das Reparaturzentrum zurückgegeben. Dies betrifft die praktischen Probleme, Testhinweise genauer aufzuzeichnen, die Diagnoseaufzeichnung während des Transports der ausgefallenen Leiterplatte zu verlieren oder eine eventuelle Trennung von Aufzeichnung und zugehöriger Leiterplatte usw. Zweitens muß die Reparatur mit den minimalen Informationen, die über den letzten Ausfall der Leiterplatte übermittelt wurden, begonnen werden, sobald die ausgefallene Leiterplatte in dem Reparaturzentrum angekommen ist. Um mit der Reparatur fortzufahren, sind drittens externe Einrichtungen zum Testen erforderlich, um Ergebnisse zu erhalten und es ist fraglich, ob der ursprüngliche Fehler wieder hervorgerufen und identifiziert werden kann.
V.R. Subramanyan und L.R. Stine offenbaren in den Proceedings of the IEEE 1986 der National Aerospace and Electronics Conference, NAECON 86, Drayton, US, 19.-23. Mai 1986, Seiten 21-25, ein Wartungs- und Diagnosesystem, welches die Grundlage für den Oberbegriff der unabhängigen Ansprüche bildet.

Zusammenfassung der Erfindung

Erfindungsgemäß wird ein Verfahren gemäß Anspruch 1 und eine Schaltungsanordnung gemäß Anspruch 7 geschaffen.

Kurze Beschreibung der Zeichnungen

Fig. 1 zeigt ein Blockdiagramm von Schaltungen auf einer Einsteckleiterplatte, welche die Möglichkeiten der vorliegenden Erfindung zur Diagnose an Ort und Stelle bietet;
Fig. 2 zeigt ein Flußdiagramm der wichtigsten Prozesse, die in dem Mikroprozessor in Fig. 1 ablaufen; und
Fig. 3 zeigt ein Flußdiagramm der mit der Wartung der Einsteckleiterplatte verbundenen Betriebsabläufe.

Ausführliche Beschreibung

Fig. 1 zeigt eine Verwirklichung der erfindungsgemäßen Gestaltung einer Einsteckleiterplatte. Die Hauptelemente bei der Leiterplattengestaltung gemäß Fig. 1 sind die funktionelle Schaltung 10 sowie der Mikroprozessor 20 und der elektrisch löschbare Speicher (EEROM) 30 auf der Leiterplatte. Die funktionelle Schaltung führt alle die Funktionen aus, die von der Leiterplatte gewünscht werden und bildet über die Leiterplatteneingangsleitungen 101 und die Leiterplattenausgangsleitungen 102 die Schnittstelle zu anderen Elementen oder Teilsystemen außerhalb der Leiterplatte. Die Leitungen 101 sind mit den Eingangsleitungen 11 der Schaltung 10 durch einen Multiplexer 40 mit zwei Eingängen verbunden, während die Leitungen 102 durch einen Schalter 50 mit den Ausgangsleitungen 12 der Schaltung 10 verbunden sind. Die Anordnung in Fig. 1 enthält zusätzlich zu den funktionellen Eingangs- und Ausgangsleitungssets 11 und 12 zusätzliche Leitungen, die zu der Schaltung 10 hinführen bzw. von ihr wegführen, insbesondere Diagnoseeingangsleitungen 13 und Diagnoseausgangsleitungen 14. Von einer Schaltung kann man ausreichende Diagnoseinformationen oft dadurch erhalten, daß man die Signale auf den normalen Ausgangsleitungen 12 beobachtet und sie mit den erwarteten Ausgangssignalen vergleicht. Bei anderen Schaltungsgestaltungen werden spezielle Schaltungen zur Fehlerfeststellung bereitgestellt. Die Ausgangssignale dieser Schaltungen bilden diagnostische Fehlerkennungsausgaben, die beispielsweise einen Alarm auslösen. Bei anderen Schaltungsgestaltungen können die elektrischen Signale an verschiedenen Zwischenpunkten innerhalb der Schaltung 10 insbesondere hilfreich sein, ausgefallene Komponenten oder Teilsysteme einzugrenzen. Diese Zwischenpunkte werden über zusätzliche Diagnoseausgangsleitungen nach außen gegeben. Die Leitungen 14 in Fig. 1 umfassen eine Ansammlung dieser Diagnoseleitungen. Die Leitungen 14 sind mit den Ausgangsleitungen 12 zur Bildung eines Datenbusses 16 zusammengefaßt. Der Datenbus 16 ist an den Mikroprozessor 20 und an das EEROM 30 angelegt.
Die auf dem Bus 16 zu erwartenden Ausgangssignale hängen selbstverständlich mit den an die Schaltung 10 angelegten Eingangssignalen zusammen. Bei den meisten Gestaltungen ist eine passive Beobachtung der Ausgangssignale jedoch nicht ausreichend, um das Auftreten aller möglichen Fehlfunktionen festzustellen und selbst wenn es ausreichend wäre, würde eine Feststellung von Fehlern lediglich durch die Beobachtung der auf die üblicherweise anliegenden Eingangssignale folgenden Ausgangssignale einen Mikroprozessor 20 mit sehr umfangreichen Berechnungs- und/oder Speichermöglichkeiten erforderlich machen. Handwerker lösen dieses Problem im allgemeinen dadurch, daß sie verschiedene Sätze von Diagnoseeingangssignalsequenzen spezifizieren, welche die Schaltung in einer vorbestimmten Art und Weise "testen" und dadurch Fehlfunktionen wirksam aufdecken. Aus diesem Grund ist der Multiplexer 40 vorgesehen.
In Fig. 1 können über die Eingangsleitungen 11 oder über die Diagnoseeingangsleitungen 13 Diagnoseabläufe an die Schaltung 10 angelegt werden. Die Eingangsleitungen 11 empfangen (abhängig von dem Status des Multiplexers 40) entweder von dem Bus 101 oder von dem Bus 15 Signale, während die Diagnoseeingangsleitungen 13 nur von dem Bus 15 Signale empfangen.
Beim Ausführen der Diagnoseroutinen kann es wünschenswert sein, keine Ausgangssignale an die Ausgangssignalleitungen 12 zu übermitteln. Aus diesem Grund ist der Schalter 50 vorgesehen. Der Multiplexer 40 und der Schalter 50 werden über den Steuerbus 17 von dem Mikroprozessor 20 gesteuert.
Um eine zeitliche Darstellung der Diagnoseausgaben zu erhalten, werden die Diagnoseausgangssignale des Busses 16 in Fig. 1 in dem EEROM 30 gespeichert. Zusätzlich hierzu werden diese Diagnoseausgangssignale auch an den Mikroprozessor 20 übermittelt. Bei dem EEROM 30 handelt es sich um eine herkömmliche, kommerziell erhältliche Einheit. Das Schreiben in das EEROM 30 und das Lesen aus diesem wird von dem Mikroprozessor 20 gesteuert.
Bei dem Mikroprozessor 20 handelt es sich um einen herkömmlichen Mikroprozessor mit einem zugehörigen Speicher 60, der einen Bereich nur zum Lesen und einen Schreib/Lesebereich umfaßt. Der Mikroprozessor 20 in Fig. 1 weist einen Eingang 104 für Benutzerdaten, einen Eingang 105 für die Benutzersteuerung und einen den Status anzeigenden Ausgang 106 auf. Bei dem den Status anzeigenden Ausgang 106 kann es sich um einen Ausgang mit mehreren Leitungen handeln, über den Informationen über den ordnungsgemäßen Betriebszustand oder über den Status der funktionellen Schaltung und des Mikroprozessors zu einem System außerhalb der Leiterplatte geliefert werden. Über den Eingang 105 für die Benutzersteuerung kann man von einem System außerhalb der Leiterplatte ausgewählte Routinen in dem Mikroprozessor 20 ablaufen lassen, während über den Eingang 104 für Benutzerdaten Daten in den Mikroprozessor 20 eingegeben werden können. Das Eingeben von Daten in den Mikroprozessor 20 kann bei einigen Diagnoseroutinen hilfreich sein, da hierdurch mehrere Register initialisiert, verschiedene Schwellenwerte gesetzt und die funktionelle Schaltung über die Busse 11 und 13 in jeden vorgewählten Zustand versetzt werden können. Durch die Möglichkeit, die Schaltung 10 in einen vorgewählten Zustand voreinstellen zu können, wird das Diagnoseverfahren wesentlich beschleunigt. Als Nebenbemerkung sei noch angegeben, daß der an der funktionellen Schaltung 10 anliegende spezifische Zustand auch durch den Speicher 60 erreicht werden kann, in den entweder durch den Konstrukteur Daten abgelegt worden sein können (in dem ROM-Bereich) oder in dem ein vorheriger Zustand des Systems in dem Schreib/Lesebereich des Speichers erfaßt wird.
Über die Eingänge 104 und 105 werden Informationen von einem System außerhalb der Leiterplatte an den Mikroprozessor 20 geliefert. Der Bus 16 liefert andererseits Informationen von innerhalb der Leiterplatte an den Mikroprozessor 20. Wie oben bereits beschrieben wurde, besteht der Bus 16 aus den normalen Ausgangsleitungen und aus den Diagnoseausgangsleitungen der Schaltung 10. Infolgedessen kann der Mikroprozessor 20 ansprechend auf mehrere vorher zugeordnete Zustände auf dem Bus 16 oder nach einer Analyse der Signalsequenzen auf dem Bus 16, welche die Notwendigkeit für eine Diagnose anzeigen können, automatisch Diagnoseroutinen initialisieren. Auf der Grundlage der verschiedenen Eingangsgrößen wählt der Mikroprozessor 20 auch die Ausgangsgrößen auf dem Bus 16 aus, die in dem EEROM 30 gespeichert werden.
Fig. 2 zeigt ein Flußdiagramm, welches die Betriebsweise des Mikroprozessors 20 darstellt. Nach dem Startblock 200 werden in dem Block 220 die Initialisierungen durchgeführt und die Steuerung an den Entscheidungsblock 201 übergeben, in dem der Status des Busses 16 ermittelt wird. Wenn der Bus 16 anzeigt, daß ein Fehler vorliegt oder daß ein möglicher Fehler vorliegen könnte, wird die Steuerung an den Weg 202 übergeben, die Fehleranzeige in dem EEROM 30 (Block 203) aufgezeichnet und es werden durch den Mikroprozessor 20 die Maßnahmen ermittelt, die als Reaktion auf den festgestellten Fehler oder den möglichen Fehler erforderlich sind (Block 204). Der Fehler ist manchmal nicht schlimm und kann infolge der Gestaltung der funktionellen Schaltung kompensiert werden. In diesen Fällen ist es ausreichend, lediglich die den Fehler betreffenden Informationen aufzuzeichnen (Fehlerkennzeichnung). Falls keine zusätzlichen Maßnahmen erforderlich sind (andere als die Aufzeichnung des Fehlers) wird die Steuerung vom Entscheidungsblock 205 an den Entscheidungsblock 201 übergeben. Wenn ermittelt wurde, daß eine Diagnoseroutine zu initialisieren ist, wird die Steuerung an den Block 206 übergeben.
Wenn durch den Entscheidungsblock 201 auf dem Bus 16 keine Fehler festgestellt wurden, wird die Steuerung an den Entscheidungsblock 207 übergeben, in dem die Aufmerksamkeit auf den Eingang 105 gerichtet wird. Wenn über den Eingang 105 nicht die Initialisierung von Diagnoseroutinen oder die Ausgabe von Daten angefordert wird, die in dem EEROM 30 gespeichert sind, wird an die Ausgangsleitungen 101 ein Ausgangssignal mit dem Inhalt "Alles in Ordnung" angelegt (Block 208) und die Steuerung wird an den Entscheidungsblock 201 zurückübergeben. Wenn über den Eingang 105 die Initialisierung von Routinen angefordert wird, wird die Steuerung wieder an den Block 206 übergeben.
Der Block 206 wird immer dann erreicht, wenn der Mikroprozessor 20 eine Routine ausführen muß. Durch die eine Diagnose anfordernde Eingabe (sei es über die Eingangsleitungen 105 oder den Bus 16) wird auch ein Hinweis auf die besondere Diagnoseroutine bereitgestellt, die ausgeführt werden soll. Die Auswahl der Diagnoseroutine und ihre Ausführung wird in dem Block 206 durchgeführt, wobei die Ergebnisse der Routine in dem EEROM 30 auf Anforderung gespeichert werden (Block 209). In dem Entscheidungsblock 210 wird ermittelt, ob der festgestellte Fehler oder die Diagnoseroutine darauf hinweisen, daß die betreffende Leiterplatte nicht mehr eingesetzt werden sollte. Falls dieses nicht der Fall ist, wird die Steuerung zurück an den Block 201 übergeben. Anderenfalls wird an die Ausgangsleitung 106 ein Alarmsignal übermittelt (Block 211) und der Betrieb des Mikroprozessors wird durch den Endblock 212 beendet. Wenn dieses eintritt, wird die ausgefallene Leiterplatte entfernt und an das Reparaturzentrum übersandt.
Wie in Fig. 3 dargestellt ist, wird in dem Reparaturzentrum durch Steuerung des Mikroprozessors 20 auf den Inhalt des EEROMs 30 zugegriffen. Die Leitungen 104, 105 und 106 ermöglichen eine Aktivierung der Mikroprozessorroutinen. Die Routinen können den Inhalt des EEROMs 30 ausgeben (Block 302) und die funktionelle Schaltung mit zusätzlichen Testabläufen testen (Block 304). Mit Hilfe der verfügbaren Informationen kann die Leiterplatte hoffentlich repariert und für einen neuen Einsatz versandt werden (Block 305). Als Teil der Reparatur wurde das EEROM natürlich in der durch den Hersteller des EEROMs angegebenen Art und Weise gelöscht.
Die vielseitige Verwendbarkeit der in Fig. 1 dargestellten Struktur ergibt sich aus mehreren sehr wünschenswerten Eigenschaften, die mit dieser Struktur implementiert werden. Eine charakteristische Eigenschaft ist beispielsweise durch eine in den Mikroprozessor 20 eingebettete Routine gegeben, welche das Einleiten von Operationen feststellt (z. B. beim Einschalten der Spannung). Diese Routine wird in Block 220 ausgeführt. In Block 220 wird auch die funktionelle Schaltung initialisiert oder konfiguriert, beispielsweise gemäß der Funktion, die sie in Abhängigkeit von der bestimmten Stelle, an der sie in das Gesamtsystem eingefügt ist, erfüllen muß. Bei der funktionellen Schaltung 10 kann es sich beispielsweise um ein Multipol-Bessel-Filter handeln, bei dem die Anzahl implementierter Pole von dem Mikroprozessor 20 gesteuert wird. An einer Stelle innerhalb des Gesamtsystems können die Eingänge 105 ein Drei-Pol-Realisierung spezifizieren, während sie an einer anderen Stelle innerhalb des Gesamtsystems eine Vier-Pol- Realisierung spezifizieren können. Solche eine Neukonfigurierung kann im Rahmen der Routinen des Blocks 220 einfach durchgeführt werden.
Eine andere charakteristische Eigenschaft bildet beispielsweise die Integritätsüberprüfung des Speichers. Da eine der Hauptaufgaben der vorliegenden Erfindung darin besteht, gespeicherte Diagnoseinformationen verfügbar zu machen, ist es wesentlich, diese wichtigen Größen zu schützen. Es entsteht nun die Frage, was passieren würde, wenn das EEROM 30 entweder teilweise oder vollständig ausfallen würde. Es muß daher offensichtlich eine Prozedur enthalten sein, welche das Speichern von Informationen verifiziert. Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung wird das Schreiben von Daten in das EEROM 30 (z. B. im Block 209) durch den Mikroprozessor 20 mittels einer Routine bewirkt, welche den Inhalt des EEROMs 30 an den Speicherstellen liest und die gespeicherten Informationen mit den Informationen vergleicht, die dem Mikroprozessor 20 zur Verfügung stehen. Wenn das Speichern der Informationen erfolgreich verläuft, liegt eine Übereinstimmung vor und die Routine wird normal verlassen. Wenn keine Übereinstimmung vorliegt, versucht die Routine erneut zu lesen. Falls diese Aufgabe nicht erfolgreich ausgeführt werden kann, werden die Daten in einen anderen Bereich oder Block des EEROMs 30 eingelesen. Die logische Erklärung hierfür besteht in der Hoffnung, daß das EEROM 30 nur teilweise ausgefallen ist und die Diagnoseinformationen daher nach wie vor gespeichert werden können.
Die vorliegende Beschreibung veranschaulicht die Prinzipien der Erfindung. Es sei jedoch bemerkt, daß Veränderungen bei der Konstruktion und bei den Ausführungsformen sehr einfach in den in Fig. 1 dargestellten Entwurf aufgenommen werden können, ohne den Schutzbereich der Erfindung zu verlassen. In der Beschreibung wird beispielsweise die Verwendung eines elektrisch löschbaren Festwertspeichers (EEROM 30) beschrieben. Der kritische Aspekt dieses Speichers im Hinblick auf seine Funktionsweise im Zusammenhang mit der vorliegenden Erfindung besteht in seiner Eigenschaft "nur zu lesen" oder ausführlicher in der Eigenschaft von Festwertspeichern, daß der Speicherinhalt beim Abschalten der Spannung unverändert bleibt. Der löschbare Festwertspeicher besitzt den Vorteil, wiederverwendbar zu sein. Dieses ist jedoch kein kritischer Punkt. Unter geeigneten Umständen kann wirtschaftlich machbar sein, einen anderen Speicher zu verwenden, dessen Speicherinhalt auch ohne Spannung nicht verloren geht, oder sogar einen herkömmlichen Festwertspeicher (ROM) zu verwenden, der durch den Mikroprozessor 20 nur einmal beschrieben werden kann. Dieses ROM kann nach seiner Nutzung im Reparaturzentrum entfernt und durch ein anderes ersetzt werden. Im Zusammenhang mit der vorliegenden Beschreibung werden alle Speicherversionen durch den Ausdruck "Robustspeicher" erfaßt, die in der Anordnung gemäß Fig. 1 verwendet werden können und ihren Speicherinhalt (ohne externe Spannung an die Leiterplatte) für eine Zeitspanne behalten, die ausreichend dafür ist, die Leiterplatte in ein Reparaturzentrum zu bringen und den Inhalt des Speichers zu lesen.

Claims

1. Verfahren zur Fehleridentifizierung einer auswechselbaren elektronischen Baugruppe, die funktionelle Schaltungen (10), eine Prüfeinrichtung (20, 40, 60) für die funktionellen Schaltungen und einen Robustspeicher (30), enthält, nämlich einen Speicher, der seinen Inhalt ohne anliegende Versorgungsspannung hält, zur Speicherung von Ergebnissen, die durch die Prüfeinrichtung gewonnen worden sind, gekennzeichnet durch die Schritte:

Anlegen einer in der Prüfeinrichtung gespeicherten Prüffolge (206) unter Ansprechen auf einen Fehler, der durch Bauteile in den funktionellen Schaltungen festgestellt wird, und Speichern von Ergebnissen (209), die unter Ansprechen auf die Prüffolge gewonnen worden sind, in einem Block des Robustspeichers, der sich in der Baugruppe (207) befindet.

2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem der Schritt des Anlegens einer Prüffolge auch dann ausgeführt wird, wenn Versorgungsspannung oder ein Prüfanforderungssignal an die Baugruppe angelegt werden.

3. Verfahren nach Anspruch 1, mit ferner dem Schritt, daß der Inhalt des Robustspeichers nach dem Speicherschritt gelesen und eine Integritätsprüfung für die in dem Robustspeicher abgelegten Informationen nach dem Speicherschritt durchgeführt wird.

4. Verfahren nach Anspruch 3, mit ferner dem Schritt, daß die Ergebnisse in einem anderen Block des Robustspeichers abgelegt werden, wenn der Schritt der Ausführung einer Integritätsprüfung anzeigt, daß der Speicherschritt vor der Ausführung der Integritätsprüfung fehlerhaft gewesen ist.

5. Verfahren nach Anspruch 1, mit ferner dem Schritt, daß anhand des Fehlers das Auftreten von Bedingungen in den funktionellen Schaltungen identifiziert wird, die eine Reparatur einer ausgefallenen Baugruppe im System erforderlich machen.

ß. Verfahren nach Anspruch 5, mit ferner den Schritten: Lesen des Inhalts des sich in der ausgefallenen Untergruppe befindenden Speichers, um den Grund für den Ausfall der Baugruppe zu lokalisieren, Reparieren der ausgefallenen Untergruppe und Zurückführen des sich in der ausgefallenen Untergruppe befindenden Robustspeichers in einen inhaltsfreien Zustand.

7. Schaltungsanordnung zur Fehleridentifizierung einer austauschbaren elektronischen Baugruppe, die funktionelle Schaltungen (10) zur Ausführung vorgewählter Funktionen enthält, wobei die Baugruppe ferner eine Prüfeinrichtung (20, 40, 60) für die funktionellen Schaltungen und einen Robustspeicher (30) umfaßt, nämlich einen Speicher, der seinen Inhalt ohne anliegende Versorgungsspannung hält, zur Speicherung von Ergebnissen, die durch die Prüfeinrichtung gewonnen worden sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfeinrichtung (20,40,60) unter Ansprechen auf einen festgestellten Fehlerzustand in den funktionellen Schaltungen eine Prüffolge erzeugt und an die funktionellen Schaltungen (10) anlegt, und daß der Robustspeicher (30) gewählte Signale der funktionellen Schaltungen speichert, die unter Ansprechen auf die Prüffolge auftreten.

8. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, mit ferner einer Einrichtung (103) zum Lesen des Inhalts des Robustspeichers.

9. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, bei der die Prüfeinrichtung umfaßt

einen Prozessorspeicher (60) zur Speicherung von Prüffolgen, eine Eingangs/Ausgangs-Einrichtung (103, 104, 105, 106) zur Aufnahme von Prüfanforderungen und

einen Prozessor (20) zur Ausführung von Prüfungen unter Ansprechen auf die Prüfanforderungen durch Anlegen der im Prozessorspeicher abgelegten Prüffolge an die funktionellen Schaltungen und durch Speicherung der gewählten Signale im Robustspeicher.

10. Schaltungsanordnung nach Anspruch 9, bei der der Prozessor den Inhalt des Robustspeichers liest und an die Eingangs/Ausgangs-Einrichtung anlegt.

11. Schaltungsanordnung nach Anspruch 9, bei der die Prüffolge eine im Prozessorspeicher abgelegte Prüffolge ist, die als Funktion der von der Eingangs/Ausgangs-Einrichtung aufgenommenen Prüfanforderung gewählt wird.