DE3007155A1 - Speichervorrichtung - Google Patents

Speichervorrichtung

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DE3007155A1
DE3007155A1 DE19803007155 DE3007155A DE3007155A1 DE 3007155 A1 DE3007155 A1 DE 3007155A1 DE 19803007155 DE19803007155 DE 19803007155 DE 3007155 A DE3007155 A DE 3007155A DE 3007155 A1 DE3007155 A1 DE 3007155A1
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Description

Pie Erfindung betrifft eine Speichervorrichtung und insbesondere eine stctische Speichervorrichtung rait Isolierschicht-Peldeffekttr-vnsistoren (IGT1^T) .
"•ei einer statischen Speichervorrichtung wird der Schreib- I- Vorgang in und der Lesevorgcng aus den Speicherzellen der- Speichervorrichtung durch ein Paar von Eit- oder Datenleitungen pro Sp.-ilteneinheit durchgeführt, wie es dem Fachmann bekannt ist. Das ?.'ir>r von Eit- oder Dntenleitungen ist über Lastelemente, wie beispielsweise Widerstünde, mit einer Konstantspannungsquelle 10 verbunden. Bei dieser Art von Speichervorrichtung tritt der Fall auf, daß beim Anlegen von logischen Daten, beispielsweise einer logischen "C", an das Bitleitungspaar die Daten in eine mit dem Eitleitungspaar verbundene Speicherzelle eingeschrieben und danach eine in einer anderen Speicherzelle, die auch mit dem gleichen 15 Bitleitungspaar verbunden ist, gespeicherte Information ausgelesen
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wird. In einem solchen Fall ist es nech der Schreiboperöition und vor der Leseoperation erforderlich, eine Fegeldifferenz zwischen den Bitleitungspaar zu beseitigen, die sich durch die Schreiboperation ergeben hat. Ist dies nicht der F&ll, so kann es im schlimmsten Fall passieren, daß die auf den Eit-Leitungen verbliebene Pegeldifferenz irrtümlicherweise in die .Speicherzelle eingeschrieben wird, die fvr die Leseoperation ausgewählt wurde. Dies führt zu einer Instabilität bei der Speicheroperation. Die irrtümliche Operation ist insbesondere dann problematisch, wenn
1C das Lesedatum ein inverses Datum, beispielsweise eine logische "1" ist. Die nach der Schreiboperation durchzuführende Leseoperation k?nn daher erst dann durchgeführt werden, nachdem das Bitleitungspaar im Pegel ausgeglichen wurde, .;uch wenn das Bitleitungspaar, das einen Schreibpegel mit einem logischen Datum 5 aufweist, auf einen Lesepegel mit einem anderen logischen Datum antwortet, so ergibt sich erfahrungsgemäß eine große Pegeländerung, die zu einer Verlängerung der Zugriffszeit führt. Das Problem kann unter Verwendung von Lastelementen mit einem großen Leitwert für das Bitleitungspaar gelöst x^erden, um die zum Ausgleich des Bitleitungspaares erforderliche Zeit zu verkürzen. Diese Lösung führt jedoch zu einer Vergrößerung der Ausmaße der Transistoren der Flip-Flop-Schaltungen und deren periphere Schaltungen, um die Ansteuerungsföhigkeit der Transistoren zu erhöhen. Damit ist es sehr schwer eine Speichervorrichtung hoher Dichte zu erhalten. Zudem steigt der durch die Bit-Leitungen fließende Strom an, so daß der Stromverbrauch erhöht wird.
Demgegenüber besteht die Aufgabe der Erfindung darin, eine
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verbesserte Speichervorrichtung zu schaffen, die eine verbesserte Zugriffszeit und einen geringeren Stromverbrauch aufweist.
Die erfindungsgem"ße Speichervorrichtung ist dadurch gekennzeichnet, daß für die Bit-Leitungen veränderbare oder steuerbare Lastelemente verwendet x^erden, deren 'Jiderstandswert derart veränderbar ist, daß er während einer Übergangsperiode vom Schreib- zum Lesezyklus einen kleinen ~.»~ert annimmt und itti Schreibund Lesezvklus groß ist..
Die veränderbaren oder steuerbaren Lastelemente können aus 1C ersten und zweiten IGFETs bestehen, deren Drainelektroden gemeinsam mit einer Spannungsquelle und deren Sourceelektroden gemeinsam mit der Bit-Leitung verbunden sind, wobei an die Gateelektrode des ersten IGPETs ein festes Potential angelegt und der Gateelektrode des zweiten IGFETs ein Steuersignal zugeführt wird.
5 Eine Ausführungsfοrm der erfindungsgeraäßen Speichervorrichtung weist eine statische Speicherzellenanordnung und ein Bitleitungspaar auf, das von zwei parallel geschalteten IGFETs abgeschlossen wird, wobei das Gatepotential des ersten IGFETs auf einer festen Spannung gehalten wird und die Gateelektrode des zweiten IGFETs von einem Signal gesteuert bzw. beaufschlagt wird, das von einem Schreibbefehlssignal erzeugt wird.
Eine weitere Ausführungsform der erfindungsgemäßen Speichervorrichtung weist eine Vielzahl von Speicherzellen, eine Vielzahl von Datenleitungen, über die die logische Information von und zu
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den Speicherzellen "übertragen werden, eine Vielzahl von veränderbaren I.fistelementen, die zwischen den l<atenleitungen und einem vorbestimmten Potential geschaltet sine, sowie eine Steuervorrichtung auf, die i.'i Betrieb den Leitwert der ver'r!nderbaren Lastelemente während einer "bergangsp&x'iode vom öchreibsura Lesezyklus größer ίΐϊ-cht als in Schreib- und im Lesezyklus.
Krfindungsgera"ß wird auch eine Speichervorrichtung vorgeschlagen mit einer Vielzahl von .-..dressleitungen, Lutenleitungen, Speicherzellen, zwischen den D ;tenleitungen und einem vorbe-
1C stimmten Potential angeordneten veränderbaren L-.. st element en, einer einrichtung zur Zuführung eines Steuersignals mit einem die Schreiboperation kennzeichnenden ersten Pegel und einem die Leseoperation kennzeichnenden zweiten Pegel, einer jjetektoreinriciitung zum Feststellen einer I''η de rung des Steuersignals vom 5 ersten zum zweiten Pegel sowie einer Steuereinrichtung, die in Abhängigkeit vom Ausg^ngssigmil der Detektoreinrichtung bzw. von der Feststellung einer änderung des Steuersignals wehrend des Betriebs den Leitwert der Lastelemente erhöht.
Demnach sieht die Erfindung eine Speichervorrichtung vor, die mit hoher Geschwindigkeit und bei niedrigem Stromverbrauch
arbeitet. Die Speichervorrichtung weist eine Vielzahl von Speicherzellen, Eit-Leitungen, zwischen den Eit-Leitungen und einem vorbestimmten Potential angeordneten ver«nderbfiren Lastelementen sowie eine Steuereinrichtung cuf, die den Leitwert der Lastelemente 2^ während einer Übergangsperiode vom Schreib- zum Lesezyklus größer
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macht als im Schreib- und Lesezyklus.
'.usführungsformen der Erfindung werden anhand der Zeichnungen n-^her beschrieben. 13s zeigen:
?ig. 1 ein Schaltbild des wesentlichen Teils der herkömmlichen K Speichervorrichtung;
Fig. 2 eine Reihe von Zeitdiagrftmmen zur Darstellung der Betriebsweise der in Fig. 1 dargestellten Speichervorrichtung;
Fig. 3 ein Elockschaltbild einer ersten .i.usführungsform der erfindungsgemjißen Speichervorrichtung;
Fig. J|. ein Schaltbild einer in der Speichervorrichtung nach Fig. 3 verwendeten Speicherzelle;
Fig. 5 ein Blockschaltbild der Steuerschaltung nach Fig. 3 j
Fig. 6 ein Schaltbild der Ansprechschaltung der in Fig. dargestellten Speichervorrichtung;
Pig· 7 ein Blockschaltbild der Schreibschaltung der in Fig. dargestellten Speichervorrichtung;
Fig. 8 ein Schaltbild einer Ausgangsschaltung der in Fig. dargestellten Speichervorrichtung;
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Fig. 9 eine Heihe von Eurvenfomen zur r,rlHuterung der Betriebsweise der Steuerschaltung;
Fig. 1C eine Reihe von roirvenforrnen zur Erläuterung der Betriebsweise der Speichervorrichtung nach Fig. 3 und
Fig· H ein Schaltbild einer weiteren ^usführungsform der erfindurigsgeiru'ßen Speichervorrichtung.
Fig. 1 zeigt eine i-usführungsform eines herkömmlichen statischen Speichers. In der nachfolgenden ErfindungsbeSchreibung stellen die verwendeten IGFETs eine Kombination von P-Kanal- und
1C IT-Kanal-III S FET s dar, die als Komplement ^r-FETs oder G-HOS-Struktur bekannt ist. Die bekannte Halbleiterspeichervorrichtung weist eine statische Speicherzellenar.ordnung mit Speicherzellen 11, 12, 21 und 22, Adress-Signalleitungen X1, X2, ΊΛ und 12, Bit- oder Datenleitungen D^i/-,» ^-ii» --5Pf "1^ ^i sowie i'bertragungs- oder Ankoppel-KISFETs ο.,«, Qo1, Q,o und Q, ^ s.uf. Die Bit-Leitungen werden durch P-Kanal HISFETs Q1Q, O11, Q20 und Q21 als Lastelemente abgeschlossen, wobei deren Gateelektroden mit Erdpotential (GKD) verbunden sind.
Wenn die Bit-Leitungen derartig abgeschlossen sind, so ist für die Bit-Leitung eine relativ lange Zeit erforderlich, um sie vom Schreibmodus zum Lesemodus zurückzustellen. Dies führt bei einer Verlängerung der Zugriffszeit der Speichervorrichtung zu einem verzögerten Zugriff. Der Grund dafür wird nun anhand von Fig. 2 näher beschrieben. Es wird angenommen, daß bei einem hohen
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Pegel der Datenbusleitung D und der Bit-Leitungen D1n oder D„~, die Daten in den Speicherzellen den logischen Zustand "G" haben, während bei einem hohen Pegel der Datenbusleitung D^ und der Bit-Leitungen Ό,,, oder D„. die Speicherzellen den logischen Pegel "1" haben. 1Us wird weiter angenommen, daß zum Zeitpunkt t = T ein Schreibfreigabesignal "MH als externer Schreibbefehl von einem Schreibmodus ("O") zu einem Lesemodus ("1") umgeschaltet wird und dcß vor dem Zeitpunkt t = T "O" in der Speicherzelle 11 eingeschrieben ist. In diesem Fall befindet sich die Bit-Leitung D.,,
1C auf niedrigem Pegel. l-7enn sofort nach dem Einschreiben einer "0" in die Speicherzelle 11 (nach t = T) eine "1" aus der Speicherzelle 21 ausgelesen wird, so wird die Kurvenform (D^0, ^11) eines durch eine durchgezogene Linie dargestellten Ausgangssignals um t Sekunden gegenüber der Kurvenform eines durch eine gestrichelte Linie dargestellten Signals einer "θ" auf der Bit-Leitung D1^, von dem angenommen wird, daß es aus der Zelle 11 ausgelesen wird, da der niedrige Pegel der Bit-Leitung D.. aufgrund des Einschreibens einer durch die durchgezogene Linie dargestellten "O1' viel niedriger ist als der aufgrund des Auslesens einer durch die gestrichelte Linie dargestellten "θ". Wenn ein Lesezyklus einem Schreibzyklus folgt, so ist die Zugriffszeit langer als wenn der Schreibzyklus oder der Lesezyklus dem Lesezyklus folgt. Dieser langsame Zugriff bestimmt im wesentlichen die gesamte Zugriffszeit der Speichervorrichtung. Um diesen Eachteil zu vermeiden, bis die Pegel der Adress-Signale bestimmt werden, muß der niedrige Pegel der Bit-Leitung vor dem Zeitpunkt t = T (D,.: durchgezogene Linie in Pig. 2) mindestens auf den niedrigen Pegel (D.^: gestrichelte Linie in Pig. 2) im Lesezyklus gebracht bzw.
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zurückgestellt werden, :1s ist daher erforderlich, die I egelrnckstellung bzw. -wiederherstellung d-ιdurch zu beschleunigen, dar5 die Größe der als Lastelemente dienenden i-Hol^Ts '-.^;> -L11 > Qp1-- und Γ^Λ erhöht wird, wodurch ihre Impedanz vermindert wird. Wenn die Impedanz -ruf diese '.'eise vermindert wird, so ist es erforderlich, die --.nsteuerfrhigkeit der mit den Datenbusleitungen D- Lind D1 verbundenen Dp.tenschreib-Treiberschaltung (nicht dargestellt)
entsprechend den lusinaß der Erhöhung der Lm st elemente zu erhöhen und die Impedanz der IIIΠFETs r\-, (\λ> '-ι ■ un^ ''--I1 zu vermindern, um die Schreiboperation zu realisieren, i.urz gesagt hat die Vergrößerung der Lr.st-FJTs eine Vergrößerung der ühipfl"che zur Folge, vias bei einer integrierten Schaltung unerwünscht ist.
Eine ,:iusführ-ungsform der erfindungsger,i"ßen Speichervorrichtung wird nun anhand der Figuren 3 bis 10 n"her beschrieben.
-rie "us ^ig. 3 zu ersehen ist werden einem Adress-Inverter 10 '\dress-Eingangssignale mit η Bits zugeführt, ura bezüglich der Adress-Eingangssign-ile wahreund komplementäre .'.dress-Signale Λ,, A..; A.p, A„; ...; A , λ zu erzeugen. Diese ^dress-Signale werden teilweise einem X-Decoder 11 zugeführt. Der X-Decoder 11, der beispielsweise die Form eines KOIi-Glieds aufweist, w"hlt entsprechend der angelegten Adress-3ignale eine der I/ortleitungen X1 - Χη aus. Die übrigen .'idress-Signale werden einem f-Adress-Decoder 12 zur Auswahl einer der Y Auswahlleitungen Y1 - Y. zugeführt, um an die ausgewählte Leitung einen ausgewählten Pegel anzulegen. Die Bit-Leitungen D1 und D1 sind mit den Speicherzellen G11 - O1-. verbunden. Die Bit-Leitung D^ ist über P-Ennal-
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Transistoren η_,. und C.-,ρ mit einer Spannungs quelle Vc c verbunden. In ähnlicher Vieise ist die Bit-Leitung D. über P -K anal -Trans ist or en Q„ und O . mit der Spannungs quelle Vcc verbunden. Die Bitleitungen D1 und T) sind jeweils über K-Kanal-Übertragungs- oder
S -\nkoppel-Transistoren O0 q und Qj „, deren Gateelektroden mit der VT-Auswahlleitung VT,, verbunden sind, mit Schreib-Busleitungen VJE und VTB verbunden, die mit einer Schreibschaltung M\. gekoppelt sind. Der Ansprech- oder Leseverstärker S^, der die Eingangssignale von den Bit-Leitungen D. und D. empfängt, wird entsprechend dem Signalpegel der I-Auswahlleitung I^ freigegeben bzw. betätigt, um die Eingangs Signa Ie auf den Bit-Leitungen D,. und D. zu verstärken. Das vom Verstärker S. verstärkte Signal wird an die Lese-P-usleitungen RB und IB übertragen, die mit einer Ausgangsschaltung 15> verbunden sind. Bei einem niedrigen Pegel eines Schreib-Befehlsignnls UE xjird der Speicher so gesteuert, daß eine Schreiboper··!tion durchgeführt x-fird, während bei einem hohen Pegel des Signals VE eine Leseoperation durchgeführt wird. Sine Steuerschaltung 13 erzeugt bei Imp fang des Schreib-Befehlsignals VJE • ein Schreib-Freigabesignal 'JlH mit niedrigeui Pegel. Das Schreibrreigsbesignal '..'TSI xtfird einer Schreib schaltung 1 ί). zugeführt. Die Steuerschaltung 13 erzeugt außerdem ein Lese-Freigabesignal RS, das der Ausgangsschaltung 15 zugeführt wird.
Das Lese-J'reigabesignal RE ist ein Signal mit aktivem hohen Pegel, um die Ausgangsschaltung oder Leseschaltung 15 zu betätigen, wenn sich das Signal RE auf hohem Pegel befindet. Ein jüin-/Ausgangsanschluß I/C ist mit der Schreibschaltung 1[|_ und der ausgangsschaltung 15 verbunden. Die Transistoren Q^p und Q-._ sind an ihren
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Gateelektroden geerdet und immer leitend. Sin Schreibendesignal WR wird den Gateelektroden der Transistoren C* und C-Uj zugeführt. Das Sehreibende Signal \TR iiieist einen niedrigen Pegel auf, um die Transistoren CU,. und C, leitend zu machen, wenn eine /'nderung vom Schreib zustand zum Lesezustand- auftritt. So wird, insbesondere das Schreibendesignal sofort auf niedrigen Pegel gebracht, nachdem das Signal UE sich vom niedrigen zum hohen Pegel geändert hat.
Die den Lsistelementen der herkömmlichen Speicher entsprechenden Transistoren CUp und Q-- können einen kleineren Leitwert aufweisen als die herkömmlichen Lastelemente. Bei den Transistoren Q-o und 0-- ist es ausreichend, wenn diese den Lackstrom der Bit-Leitung auf der hohen Pegelseite unter stationärer Bedingung kompensieren können. Die Transistoren Q,, und CUj , die einen höheren Strom als die Transistoren CUp und Q-- leiten können, E> können den Pegelausgleich der Signale auf den Bit-Leitungen D. D1 schnell dadurch ausgleichen, daß sie im fbergangszustand von der Schreib- zur Leseoperation leiten.
Der Aufbau einer in der Speichervorrichtung nach Fig. 3 verwendeten Speicherzelle ist in Fig. Ij. dargestellt. Danach ist die Speicherzelle vom G-HOS-Typ. Ein Inverter mit einem P-Kanal-Transistor C. 7 und einem K-Kanal-Transistor Q, ^ und ein weiterer Inverter mit einem P-Kanal-Transistor Q, ο und einem U-Kanal-Transistor Qi/ sind an ihren Ein- und Ausgängen kreuzweise miteinander verbunden. Zwischen den Drainelektroden der Transistoren Q.) £ und Qi'/ und den Bit-Leitungen D und D sind K-Kanal-Öbertragungs- oder Ankopplungs-Transistoren Q, -. und Q, , angeordnet, deren Gate-
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elektroden mit einer ,.'ortleitung X, verbunden sind.
Anhand von Fig. 5 wird die G teuer schaltung 13 beschrieben. ΤΚε Schreibbefehlssignal V.I1 wird einer Reihenschaltung aus den Invertern ?i bis ?ii zugeführt. Ein Inverter 22 in der zweiten i'tufe erzeugt ein ochreibfreigabesignal YEI . Das Ausgangs signal ICO- des Inverters 21 wird dem einen Eingang eines ΕϋΠ-Glieds sowie einem Inverter 27 zugeführt, um von diesem ein Lese-Freigabesignr-l HE abzunehmen. Das Ausgangs signal 10Gb des Inverters 2l\. wird den anderen Eingang des K CR-Ol ie ds 2$ zugeführt. Das .vus-
1C gangssignnl 100c des UCR-Glieds ?5 wird über einen Inverter 26 "Is Schreibendesignal *.;R den Gateelektroden der Transistoren C^, Cj , Γ- ^, und τ.^p zugeführt.
Die Eetriebsxireise der Steuerschaltung 13 wird anhand von Fig. 9 n?-:her beschrieben, uenn sich das Schreibbefehls signal JE vom niedrigen Tegel zum hohen Pegel rindert, um eine der Schreiboperation folgende Leseoperation zu bewirken, so ändert sich das Ausgangssignal 1COa des Inverters 21 vom hohen Pegel zum niedrigen Pegel, und zwar nach einer Verzögerungszeit T^ im Inverter 21. Kach einer Verzögerung Tp in den Invertern 22 bis 2lj_ ändert sich das ' usgangssignal des Inverters 2[j. vom niedrigen Pegel zum hohen Fegel. Tp'hrend der Zeitdauer Tp, während der die Ausgangs signale 100a und 100b sich beide auf niedrigem Pegel befinden, befindet sich das Ausgangs signal 100c des NOR-G-Ii eds 2$ auf hohem Pegel. Das Ausgangssignal 100c wird dann durch den Inverter 26 invertiert, um als Schreib ende signal \TR mit einem niedrigen Pegel während der Zeitdauer Tp zu dienen. Die aktive Zeitdauer des Signals WR
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entspricht der ."Jurame der- Verzögerungen der Inverter PP bis P.!+ und. ist etw; gleich 1 5 - 3- nseo. ..uf diese "eise wird das Schreibendesignfil '.T: sofort nach dem Linde der ochreiboperation erzeugt. Irfincungsge;.1" ~' wirf1 die Zeitdauer r.'-„ vorzugsweise im wesentlichen gleich finer Zeitixmst-.nte gewählt, die durch die V-iclerstsndswerte der Transistoren ' ->A, \]:, ■' -,^ und CoQ unc die rar>pzit"tswertfc Jer Hit-Leitunken L\, '.. , ...; 0. und ".^4. bestim-.it wird. nei der d-.r-r.estellten '.jch ltunr_ kennen die Inverter ?1 bis ?n und drs !''CR-miirv; ?S eine 'J-..<".:.-:;truktur :-.ufi-;eisen.
πίκ· £ zeigt die "ch-vltungsstruirtur .'er -nsi)rechsch- ltungen Z. bis Z, . Jede ,nsprechschriltun^ '.;eist einen ,differenzverstärker !>uf. In äer dargestellten .Visf'hrun^sfcKi sind jev;eils l-i;:n;:l L"sttrr?.nsistoren "'",_o und "^. den ■;ifferens-::",in£:.rigstr-iaisistoren ^€λ bis r C) in jeder inorcinimg jjeneins: .11 und die Lese-Eusleitungen
Λ-. r'P und IF sine jeweils siit den geneins-o.ien Verbindungspunkten verbunden, rie ")iffe^enseing^r.ooty.^aistoren \r^ und '.,-^ vcvdzr. nur d-"-nn betätigt bzw. freigegeber1, v;~nn ^eν 'Zn-"'':^. rr-'-ltronsistor \r.-durch einen hohen Pegel ·. uf cei- > -usw.hlleitung T1 leiten-] gen-iO-'.t i-'ird. Zu dieser.i reitpunict t..str-η diese Transistoren die
2' r.ignr Inegel der Hit-Leitungen ].-. und J. -".b und "bertr-.gen dio abgetasteten 3ign:-lpegel -iuf die Lese-::)U£leitunben V"p und IT'.
T?ig. 7 zeigt die .'Jch^.ltun^sstr iktur der L.chreibsch-l bung ^ij.. Die der.i 7Un-Z-USg-TIgSInSChIUr5 I/G sugef"hrten Lchreitd-jten vjerden 'iber Inverter 31 und j? ver-sfrkt und d.nr. eirie.,1 -C'I-Cilied °5 3? sowie "ber einen Inverter 35 eineu I.G.'l-O-lied 36 zugeT'-hrt, denen jevjeils luch d;.s 3chreibfreigabesign^l ,,'ill zugeführt v.rird.
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>?s Ausgangssignal des ITGR-Glieds 33 wird über einen Inverter 3'i verstärkt und als erstes Schreibet turn einer Schreib-Eusleitung '.T zugeführt. ">-s --usgangssignal des Inverters 3? wird durch einen Inverter- 3Γ iri Pegel invertiert, einem ilCIi-frlied 36 zugeführt, rq.,o rl·-s ^chreibfreig-'.besign-'·! Τ.ΠΪΊ empfangt, und über einen Invert?:· 37 -'-Is zvreites Jchreibdutum an eine Busleitung „Έ abgegeben, ^s ist hier ;.nsuraerkeri, dvR d-*s Dr. turn ca 5in-/ \usgrmg I/C nur O.nnn r:n die' ,ichreih-FuE-leitun^ '.."B und -.,"B v/eitergegeben wird,
xenn drs ;:ichreibfreig-:ibesignril '7I]I einen niedrigen Tegel besitzt. 1C Vuf diese '.."eise werden w^hr-e und Lompleraent-^re ochreibdaten ausgegeben.
Fig. 8 zeigt d>iS .lchultbild der ausgangsschaltung 15· P-I ?,η·°·1-Transistoren :,<7 und C^g sowie IT-Kf;rial Transistoren ί~.^α und r\c„, deren G-ateelektroden mit den Lese-Busleitungen IiB und
15* Ti} verbunden sind, bilden eine erste Verstrrkerstufe, wenn ein ^r-insistor '.71 durch einen hohen Pegel des Leseireig'ibesignsls r.T; leitend gemacht viird. Das Ausgangs signal des Differenzverpf-'rkers der ersten Stufe wird einem Differenzverstärker der zxire it en otufe zugeführt. Der Differenzverstärker der zweiten
Γ0 Stufe weist P-Kanal Transistoren C:, bis C/-, , II-Kanal Transistoren ''Vt- und Γ// für den Differenzeingang und einen H-Kanal Transistor c\rjO auf. Der Differenzverstärker der zweiten Stufe wird betätigt, itfenn der Transistor 0.7p in Abhängigkeit von einem hohen Pegel des Lesefreigabesignals RE leitend gemacht wird. G-leich-
?% zeitig werden die Transistoren Q^1 und O, leitend, um einen großen Laststrom zu liefern. Das Ausgangssignal des Differenzverstärker der zweiten Stufe xirird dem Ein-/Ausgangsanschluß
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I/O über eine ΰ-MOS-Gegentakt ausgangs schaltung zugeführt, die aus den Transistoren r>7 bis Q7-, besteht. Die ausgangsschaltung 15· ist nur dann in Betrieb, wenn das Signal IiE sich auf hohem Pegel befindet, um Lesedaten dem aJin-/AUSgings.r :.nschluß I/O zuzuführen. Befindet sich das Signal IiE auf dem anderen, d^s heii?.t dem niedrigen Pegel, so machen die Transistoren 0,o und r.f~ cüe Transistoren ^/q bzitf. Cv7 nicht leitend, so df-..!? der ^iin-/.:usgangsanschluß I/o von der -.usgangs schaltung 15 getrennt ist.
Die Betriebsweise der erfindungsgem"Ben opeiehervorrichtung wird nun anhand von Fig. 10 beschrieben. Der niedrige I egel des Signals VJE wird bis zum Zeitpunkt t = T beibehalten und die Speicherzelle C.. wird durch den hohen Pegel auf der Wortleitung X1 und den hohen Pegel auf der Z-Auswahlleitung J1 gewählt. Unter dieser Bedingung wird eine "ü" in die Speicherzelle 0.. einge-
13> schrieben und die Bit-Leitung D. wird zu diesem Zeitpunkt auf hohem Pegel gehalten, während die Bit-Leitung ό7 auf tiefem niedrigen Pegel gehalten wird. Zum Zeitpunkt T wird das Signal VJE vom niedrigen zum hohen Pegel verschoben, so daß der Betriebsmodus der Speichervorrichtung in den Lesemodus geändert wird.
Im Lesemodus ändert sich die Wortleitung Z1 auf hohen Pegel und die eine "1" speichernde Speicherzelle C.., soll ausgewählt werden. Zu diesem Zeitpunkt, unmittelbar nach Beendigung des Schreibmodus, kommt das Signal I.'R auf niedrigen Pegel, um die Lasttransistoren Q_., QoL, Q-3ς und C_Q einzuschalten, so daß die Bit-Leitung DT, die auf dem tiefen niedrigen Pegel (durch eine durchgezogene Linie dargestellt) gehalten wurde, steil auf den hohen Pegel ansteigt, wodurch die Bit-Leitungen D1 und D1 sofort auf einen ausgeglichenen
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Pegel gebracht werden. D-üciit befindet sich die Speichervorrichtung im Lesemodus und die Eit-Leitung D. nimmt dünn niedrigen Pegel •"-r., der höher ist als der oben erwrhnte tiefe niedrige Pegel, wie es durch eine gestrichelte Linie dargestellt ist, entsprechend der "1" in der Speicherzelle O1-.. In diesem Zusammenhang wird der niedrige Fegel der Bit-Leitung im Lesemodus auf den Erdpegel gezogen, und zwar lediglich durch den Transistor der Speicherzelle, dessen Impedanz höher ist als die der Schreibschaltung und damit höher als im Schreibmodus. Dies hat zur Folge, daß die Pegel-
1C xnderung der Bit-Leitung vom Einschreiben einer "0" zum Auslesen einer "1" viel größer ist als die PegelHnderung beim Auslesen einer "C" (durch die gestrichelte Linie von D1 in Pig. 10 dargestellt) zum Einlesen einer "1". Dies war der Grund, warum die Zugriffszeit zur Speicherzelle verzögert wird.
5 Andererseits wird bei der Erfindung der Signalpegel der Bit-Leitung, insbesondere der Bit-Leitung mit niedrigem Pegel, am Ende des Schreibmodus schnell angehoben, um sofort einen ausgeglichenen Zustand zu erhalten. Auf diese Weise wird die Speichervorrichtung sofort in einen lesebereiten Zustand gebracht.
PC Dnmit ermöglicht die Erfindung einen Zugriff zur Speichervorrichtung mit hoher Geschwindigkeit. Zusätzlich wird-bei der erfindungsgemäßen Speichervorrichtung der Strom der Lasttransistoren (QooJ ^V "'7A unc^ ^7)' ^e immer leitend sind, klein gehalten, wodurch sich eine große Einsparung beim Stromver- ?S brpoich ergibt.
Bei der obigen Ausführungsform können die P-Kanal HISFETs
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^-J1 bis ^p n«ch ""1Ig. ?. durch ίί-.,.■;\m-':l '"iJPiTs ersetzt werden, wie es in ?ig. 11 dargestellt ist. 7Ln diesev.i 7--11 hr.t das Qate-3ign\l des !'T-FSn-I i:ir.nv,Ts ",Ul,.. eine sun Schreibendesignnl n~ch Fig. 3 entgegengesetzte ?hi'se. Dieses 3ign-rl mit entgegengesetzter Fh-" se viird mit 'rTl gel..ennzeichr:et.
Die Erfindung ':■■:.■ nn unter Verxrencung von ΐ:-;,αη- 1 iil^ÄTs des Anreicherungs- -"Is -.-,uch des Ver-mungstyps realisiert
werden.
'Jie aus deu obigen ersichtlich ist, wird durch die Erfindung eine wirkungsvolle, st .,tische Il-J.bleiterspeichervorrichtimg geschaffen.
'"'nderungen und .usgest'iltungen der beschriebenen ..usführungsfomen Bind f->"r den ?·■ chia-~nn ohne weiteres möglich und fallen in den T-lf>hr.ien der Erfindung.
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Claims (2)

  1. Or) Speichervorrichtung mit einer Vielzahl von "..Ortleitungen, Bit-Leitungen, Speicherzellen und Liisteleiüenten, die jeweils zwischen den Bit-Leitungen und einem vorbestimmten Potential angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Lastelemente einen veränderbaren oder steuerbaren Leitwert besitzen und dai? die Speichervorrichtung eine Einrichtung zur Zurührung eines Steuersignals mit einem die Schreiboperation kennzeichnenden ersten Pegel und einem die Leseoperation kennzeichnenden zweiten Pegel, eine Detektoreinrichtung zum Peststellen einer änderung des Steuersignals vom 1 . zum 2. Pegel sowie eine Steuereinrichtung aufweist, die in ,ibhängigkeit von der Feststellung einer /nderung des Steuersignals den Leitxvert des La stelements erhöht.
  2. 2. Speichervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch g e k e η η
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    zeichnet, daß sie eine auf den ersten Pegel des
    Steuersignals ansprechende Schreibeinrichtung aufweist, die einer ausgewählten Bit-Leitung eine einzuschreibende logische Information zuführt.
    3. Speichervorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine auf den zweiten Pegel des Steuersignals ansprechende Leseeinrichtung aufweist, die eine auf einer ausgewählten Bit-Leitung ausgelesene Information abfragt.
    If.. Speichervorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,' daß die Detektoreinrichtung eine Verzögerungsschaltung zur Verzögerung des
    Steuersignals aufweist.
    5· Speichervorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis i\.t dadurch gekennzeichnet , daß die Lastelemente einen ersten Feldeffekttransistor, der normalerweise leitend gemacht ist, und einen zweiten Feldeffekttransistor aufweist, der durch das Ausgangssignal der Steuereinrichtung gesteuert wird.
    6. Speichervorrichtung nach Anspruch 5, dadurch g ekennzeichnet, daß der Leitwert des zweiten Feldeffekttransistors größer ist als der des ersten Feldeffekttransistors.
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    7. Speichervorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Speicherzelle eine Flip-Flop-Schaltung ist.
    8. Statische Speichervorrichtung, bei der eine in eine ausgewählte Speicherzelle vom statischen Typ einzuschreibende logische Information und eine von der ausgewählten Speicherzelle ausgelesene logische Information über eine Bit-Leitung übertragen werden, mit Lastelementen zwischen den Bit-Leitungen und einem vorbestimmten Potential, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine Steuereinrichtung aufweist, die den spezifischen Widerstand der Lastelemente in einer Übergangszeit vom Schreibzyklus zum Lesezyklus kleiner macht als im Schreib- und Lesezyklus .
    9. Speichervorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine Detektoreinrichtung zum Feststellen des Übergangszyklus aufweist.
    10. Speichervorrichtung nach einem der Ansprüche 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Speicherzelle eine Flip-Flop-Schaltung ist.
    11. Speichervorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine Einrichtung zum Zuführen eines Steuersignals zum Auswählen des Schreiboder Lesezyklus aufweist.
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    1P. Speicher vor richtung n^.ch einen der :nspr';che R bis 11, dadurch gekennzeichnet, dn^ die Oetektoreinrichtung eir 7erz;'gerungselement zum Verzögein des Steuersignals und eine Torschaltung --vafweist, der d-.-.ε Steuersignal und d^s verzögerte ".teuersignal zugeführt werden.
    13· speichervorrichtung nach einei.i der ."msprüche 8 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Lastelemente einen leitf"higgemachten ersten Feldeffekttransistor und einen durch das Steuersignal gesteuerten zweiten Feldeffekttransistor
    1)+. Speichervorrichtung mit einer Vielzahl von Adressenleitungen, Datenleitungen, statischen Speicherzellen, Adressanschlüssen, denen eine Vielzahl von Adressignalen zugeführt xierden, einem Steueranschluß, dem ein Steuersignal mit einem ersten Pegel und einem zweiten Pegel zugeführt wird, einer Betriebsartwahlschaltung, die in Abhängigkeit vom ersten Pegel des Steuersignals ein Schreibfreigabesignal und in Abhängigkeit vom zweiten Pegel des Steuersignals ein Lesefreigabesignal erzeugt, einer Schreibeinrichtung, die in Abhängigkeit vom Schreibfreigabesignal eine einzuschreibende logische Information der ausgewählten Bit-Leitung zuführt, mit einer Vielzahl von zwischen den Bit-Leitungen und einem vorbestimmten Potential angeordneten Widerstandselementen und einer Vielzahl von zwischen den Bit'-Leitungen und dem vorbestimmten Potential angeordneten Feldeffekttransistoren, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine Steuerschaltung zum Erzeugen eines Schreibendesignals aufweist, wenn
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    d'i3 Steuersignal sich νο,.ι ersten zum zweiten Fegel "ndert, und den !"teelektroden der Feldeffekttransistoren das Schreibendesign?! zugeführt värd.
    1>. speichervorrichtung n'-ch Anspruch 1'}, dadurch g e kennzeichnet, da? die Steuerschaltung eine Inverterschaltung sura Invertieren des r;teuersigrv: Is, eine Verzögerungsschr.ltung, deren liim-'-Xig d-:s J. teuer signal oder das invertierte Steuersignal zugeführt T.-/ird, vxid ein I'or-Glied aufweist, den das Ausgr-.ngssignal der Verzögerungssch.-iltun^ und das invertierte 3teuersignnl oder- d^.s Cteuersignal zugef"hr-fc i^er-den.
    16. ,Speichervorrichtung nach .mspr-uch 1L, dadurch g ekennzeichnet, da? der "..'iderst/ nd des Feldeffekttransistors kleiner ist eis der des "..'iderstandselements.
    17· Speichervorrichtung nach einen der „nsprüche 1Lj. oder 15> dadurch gekennzeichnet, da-?- jede üpeicherzelle ein Paar von kreuzgekoppelten Transistoren und einen t'bertrugungs- oder .nkoppeltransistor aufweist, der zwischen einen der Kreuzkopplungspunkte und der zugehörigen Edt-Leitung angeordnet ist.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0040917A1 (de) * 1980-05-22 1981-12-02 Fujitsu Limited Statischer Schreib-Lese-Speicher
DE3520025A1 (de) * 1984-06-04 1985-12-05 Hitachi Microcomputer Engineering Ltd., Kodaira, Tokio/Tokyo Statischer mosram

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58203694A (ja) * 1982-05-21 1983-11-28 Nec Corp メモリ回路
JPS6043295A (ja) * 1983-08-17 1985-03-07 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US4791613A (en) * 1983-09-21 1988-12-13 Inmos Corporation Bit line and column circuitry used in a semiconductor memory
US4553053A (en) * 1983-10-03 1985-11-12 Honeywell Information Systems Inc. Sense amplifier
FR2561472B1 (fr) * 1984-03-19 1991-05-10 Cit Alcatel Translateur de niveaux logiques
JPS6148192A (ja) * 1984-08-11 1986-03-08 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US4555777A (en) * 1984-08-14 1985-11-26 Texas Instruments Incorporated Sense amplifier circuit for dynamic read/write memory
US4644197A (en) * 1985-01-28 1987-02-17 Motorola, Inc. Reduced power sense amplifier
US4685086A (en) * 1985-11-14 1987-08-04 Thomson Components-Mostek Corp. Memory cell leakage detection circuit
JPS62153681A (ja) * 1985-12-24 1987-07-08 株式会社八光電機製作所 乾燥炉
JP2559028B2 (ja) * 1986-03-20 1996-11-27 富士通株式会社 半導体記憶装置
JPS62250588A (ja) * 1986-04-23 1987-10-31 Hitachi Ltd スタテイツク型ram
LU86915A1 (de) * 1986-10-07 1987-11-11 Siemens Ag Breitbandsignal-koppeleinrichtung
JP2654548B2 (ja) * 1987-10-02 1997-09-17 株式会社日立製作所 半導体記憶装置
GB2213009B (en) * 1987-11-27 1992-02-05 Sony Corp Memories having bit line loads controlled by p-channel mis transistors
US4899317A (en) * 1988-02-01 1990-02-06 Motorola, Inc. Bit line precharge in a bimos ram
JP2761515B2 (ja) * 1989-03-08 1998-06-04 株式会社日立製作所 半導体記憶装置
US5142495A (en) * 1989-03-10 1992-08-25 Intel Corporation Variable load for margin mode
KR950005577B1 (ko) * 1992-12-30 1995-05-25 현대전자산업주식회사 비트 라인 부하 회로
US5570042B1 (en) * 1995-01-03 2000-10-17 Sgs Thomson Micro Electronics Pecl input buffer
JP2002237195A (ja) * 2001-02-13 2002-08-23 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
CN111768807B (zh) * 2020-06-28 2024-06-14 上海磁宇信息科技有限公司 磁性随机存储单元的字线电源控制电路

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3967252A (en) * 1974-10-03 1976-06-29 Mostek Corporation Sense AMP for random access memory
US3949385A (en) * 1974-12-23 1976-04-06 Ibm Corporation D.C. Stable semiconductor memory cell
US4099265A (en) * 1976-12-22 1978-07-04 Motorola, Inc. Sense line balance circuit for static random access memory

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
NICHTS-ERMITTELT *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0040917A1 (de) * 1980-05-22 1981-12-02 Fujitsu Limited Statischer Schreib-Lese-Speicher
DE3520025A1 (de) * 1984-06-04 1985-12-05 Hitachi Microcomputer Engineering Ltd., Kodaira, Tokio/Tokyo Statischer mosram
US4760561A (en) * 1984-06-04 1988-07-26 Hitachi, Ltd. MOS static type RAM having a variable load

Also Published As

Publication number Publication date
JPS55113190A (en) 1980-09-01
US4386419A (en) 1983-05-31
DE3007155C2 (de) 1986-05-22
JPS5951072B2 (ja) 1984-12-12

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