DE2926140A1 - Vorrichtung zur ermittlung der umfangsausbildung eines gegenstandes - Google Patents

Vorrichtung zur ermittlung der umfangsausbildung eines gegenstandes

Info

Publication number
DE2926140A1
DE2926140A1 DE19792926140 DE2926140A DE2926140A1 DE 2926140 A1 DE2926140 A1 DE 2926140A1 DE 19792926140 DE19792926140 DE 19792926140 DE 2926140 A DE2926140 A DE 2926140A DE 2926140 A1 DE2926140 A1 DE 2926140A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
parallel light
deviation
receiving
signal
edge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19792926140
Other languages
English (en)
Other versions
DE2926140C2 (de
Inventor
Isao Ito
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NGK Insulators Ltd
Original Assignee
NGK Insulators Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Insulators Ltd filed Critical NGK Insulators Ltd
Publication of DE2926140A1 publication Critical patent/DE2926140A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2926140C2 publication Critical patent/DE2926140C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/245Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using a plurality of fixed, simultaneously operating transducers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Description

HOFFMANN · EITJLS & PARTNER
DR. ING. E. HOFFMANN (1930-1976) . DIPL.-ING. W.EITLE · DR. RER. NAT.K. HOFFMANN . DIPL.-1NG. W. IEHH
DIPL.-ING. K. FOCHSLE · DR. RER. NAT. B. HANSEN ARABELIASTRASSE 4 (STERNHAUS) . D-8000 MDNCHEN 81 · TELEFON (08?) ΪΠ087 . TELEX 05-29619 (PATH E)
Vorrichtung zur Ermittlung der Umfangsaus*- bildung eines Gegenstandes
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur selbsttätigen, raschen, genauen, berührungslosen Ermittlung der Umfangsausbildung von säulenförmigen Gegenständen mit kreisförmigem oder elliptischem Querschnitt.
Es ist bereits bekannt, die Umfangsausbildung, insbesondere die Krümmung säulenförmiger Gegenstände, beispielsweise von zylindrischen oder elliptischen Körpern und dergleichen, zu messen, indem der Gegenstand gegen eine Grenzlehre gedrückt wird, die unter Berücksichtigung einer Toleranz der Gegenstände hergestellt wurde oder indem ein Fühler in Anlage an die Oberfläche des Gegenstandes gebracht wird, um dessen Abmessungen zu ermitteln. Bei diesen bekannten Verfahren stehen die Grenzlehre und der Fühler in einem unmittelbaren Kontakt mit den Gegenständen, so dap diese Verfahren sich nicht für spröde Gegenstände, wie beispeilsweise keramische
030012/0590 „ 5 _
ORIGINAL INSPECTED
292614α
Wabenanordnungen eigneten.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine neuartige Vorrichtung zur Ermittlung der Umfangsausbildung oder der Abmessungen von Gegenständen zu schaffen und insbesondere der Krümmung der Gegenstände, und zwar schnell und genau, sowie berührungslos.
Ferner soll durch die Erfindung eine Vorrichtung zur berührungslosen Ermittlung der Umfangsausbildung von Gegenständen geschaffen werden, die einfach aufgebaut und mühelos zu betätigen ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch dne Vorrichtung zur Ermittlung der Umfangsausbildung gelöst, die einen drehbaren Aufnahmetisch aufweist, auf dem der zu messende Gegenstand angeordnet wird, einen Detektor zur Ermittlung eines Drehwinkels des Aufnehmetisches zwecks Erzeugung eines Drehwinkelsignals, einen Randdetektor, der ein Projektionselement für Parallellicht aufweist, um dieses auf einen Gegenstand zu projizieren, und ein Aufηahmeelement für Parallellicht zur Aufnahme eines Teils des Parallellichts, welches durch den Gegenstand nicht abgefangen wird zwecks Erzeugung eines Randpositionssignals, wobei das Projektionselement und das Aufnahmeelement für Parallellicht an jeweils einer Seite des Aufnahmetisches angeordnet sind, einen Speicher zur Speicherung eines Standard-Randpostionssignals, das einen Standard-Gegenstand mit vorgegebener Umfangsausbildung entspricht, und eine Arbeitsschaltung zur Aufnahme des Drehwinkelsignals, des Randpositionssignals und des Standard-Randpcsitionssignals und zur Erzeugung eines Signals, welches eine Abweichung in der zu messenden Umfangsausbildung des Gegenstandes gegenüber einem Standard-Gegenstandes darstellt.
030012/0590
Die Erfindung wird anschließend an Hand der Zeichnung beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 einen schematischen Grundriß einer Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung,
Fig. 2 eine schematisehe Seitenansicht der Vorrichtung nach Fig. 1,
Fig. 3a und 3b Impulsformen zur Erläuterung des Betriebs der Vorrichtung nach den Fig. 1 und 2,
Fig. 4 eine schematische Darstellung der Umfangs-
ausbildung einer im wesentlichen elliptischen Säule zwecks Erläuterung des Betriebs der erfindungsgemäßen Vorrichtung,
Fig. 5 ein Diagramm, welches die Abweichung der üm-
fangsausbildung von Gegenständen zur Erläuterung der Kompensation eines geometrischen Fehlers des Gegenstandes angibt und
Fig. 6 einen schematisehen Grundriß einer weiteren Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
Die Fig. 1 und 2 stellen schematische Ansichten einer Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Ermittlung der lÄnfangsausbildung von Gegenständen dar. Ein zu messender Gegenstand 1 wird auf einen drehbaren Aufnahmetisch 2 in dessen Mitte angeordnet. Um sicherzustellen, daß sich der Gegenstand 1 auf dem Aufnahmetisch 2 in dessen Mitte befindet, ist eine Führungsplatte 3 auf der Oberfläche
030012/0590
-X-
des Aufnähmetisches 2 befestigt. Der Aufnahmetisch 2 ist mit einer umlaufenden Welle 4 verbunden, die durch einen Motor 5 und ein Getriebe 6 in Richtung des Pfeils A gedreht wird. Die Welle 4 ist ferner mit einem Drehwinkeldetektor, beispielsweise einem umlaufenden Codierer 7, verbunden. Der umlaufende Codierer 7 erzeugt ein Drehwinkelsignal des drehbaren Aufnähmetisehes 2 und somit des Gegenstandes 1 . .
Die Vorrichtung weist ferner drei Sätze optischer Randdetektoren auf, wovon jeder aus einem Projektionselement für Parallellicht und einem Aufnahmeelement für Parallellicht besteht, das jeweils an einer Seite des Aufnahmetisches 2 angeordnet ist. Somit sind gemäß Fig. 2 drei Projektionselemente 8A, 8B und 8C für Parallellicht an der linken Seite des Aufnahmetisches 2 in verschiedener Höhe angeordnet, und arbeiten mit drei Aufnahmelementen 9A, 9B und 9C für Parellellicht zusammen,die an der rechten Seite des Aufnahmetisches in verschiedener Höhe liegen. Bei dieser Ausführungsform wird die Umfangsausbildung des Gegenstandes 1 gleichzeitig an drei verschiedenen Abschnitten gemessen. Jedes Projektionselement für Parallellicht enthält eine Laserlichtquelle und einen rotierenden Spiegel zur Reflexion des Laserstrahls in paralleler Form, wie dies in den Zeichnungen dargestellt ist. Jedes der Lichtaufnahmeelemente für Parallellicht hat eine Eintrittsöffnung, die ausreichend breit zur Aufnahme des Parallellichtstrahls ist. An Stelle einer Lascrlichtquelle kann eine Kombination einer gewöhnlichen Lampe und eines Konkavspiegels verwendet v/erden. Gewöhnlich weicht ein Rand des von den Projektionselementen 8A-8C projizierten Parallellichtstrahls geringfügig ab, wobei diese Paral3elitäts±weichung die Genauigkeit der Messung beeinträchtigen könnte. Um eine derartige Abweichung des parallelen
030012/0590 - 8 -
2926H0
Lichtstrahls im Randbereich zu vermeiden, ist ein länglicher Streifen 10 stationär angeordnet, welcher den Randbereich des parallelen Lichtes ausblendet. Wie an späterer Stelle deutlich werden wird, wird die Stellung dieses Streifens als Bezugsposition für die Messung verwendet.
Das Drehwinkelsignal aus dem umlaufenden Codierer 7 und die ausgangsseitigen Randpositionssignale der das Parallellicht empfangenden Aufnahmeelemente 9A bis 9C des Randdetektors werden einer Arbeitsschaltung 11 zugeführt, die ferner ein in einen Speicher 12 gespeichertes Standard-Randpositionssignal erhält. Das Standard-Randpositionssignal entspricht einem Signal, das vom Randdetektor 8, 9 geliefert wird, wenn ein Standard-Gegenstand mit vorgegebener Umfangsausbildung und vorgegebenen Abmessungen auf dem Aufnahmetisch 2 angeordnet und über einen Winkelbereich von 360 gedreht wird. In der Arbeitsschaltung 11 werden die Randpositionssignale miteinander unter Steuerung des vom umlaufenden Codierer 7 gelieferten Drehwinkelsignals verglichen und es wird an der Ausgangsklemme 13 ein Signal erzeugt, welches ein Maß dafür ist,'ob der gemessene Gegenstand 1 eine richtige Umfangsausbildung aufweist, d.h. ob er die ordnungsgemäßen umfangsseitigen Abmessungen besitzt.
Es wird nunmehr ein Meßvorgang zur Ermittlung der Krümmung des Gegenstandes 1 mittels der in den Fig. 1 und 2 dargestellten Vorrichtung unter Bezugnahme auf die Fig. 3 beschrieben. Der Gegenstand, beispeilsweise eine elliptische Säule, wird auf den drehbaren Aufnahmetisch 2 gebracht und in Richtung des Pfeils A gedreht. Während dieser Drehung projizieren die Projektionselemente 8A bis 8C für Parallellicht die Laserstrahlen während einer vorgegebenen Zeitspanne T aufeinanderfolgend in Fig. 1 von oben nach unten. Anders ausgedrückt, der Gegenstand 1 wird während der Zeit-
030012/0590
spanne T durch den Laserstrahl abgetastet. Fig. 3a zeigt eine Wellenform des Ausgangssignals eines der Aufnahmeelemente für Parallellicht, beispielsweise des Aufnahmeelements 9A, wenn sich der Gegenstand 1 nicht auf dem Aufnahmetisch 2 befindet. Da der Laserstrahl nicht durch den Gegenstand ausgeblendet wird, empfängt das Aufnahmeelement 9A während der Zeitspanne T den Laserstrahl vom Projektionselement 8A,womit das Ausgangssignal vom Aufnahmeelement 9A während der gesamten Abtastperiode T vorhanden ist. Befindet sich hingegen der Gegenstand 1 auf dem Aufnahmetisch 2, so wird der Laserstrahl durch den Gegenstand abgeschirmt und die Dauer des vom Aufnahmeelement 9A erhaltenen Ausgangssignals wird gemäß Fig. 3b auf t verringert. Wie aus Fig. 1 ersichtlich ist, steht die Dauer t in Beziehung zu einer Entfernung S zwischen dem Streifen 10 und einem Rand des Gegenstands 1. Daher kann eine Entfernung r.zwischen dem Rand des Gegenstandes 1 und einem gegebenen Bezugspunkt, wie beispielsweise dem Mittelpunkt 0 des Aufnahmetisches 2, als Unterschied zwischen einer konstanten Entfernung L vom Bezugspunkt 0 zu dem stationär angeordneten Streifen und der gemessenen Entfernung S ermittelt werden. Auf diese Weise kann die Entfernung r gemessen werden, wobei diese Entfernung sich abhängig von der Drehung des Aufnahmetisches 2 ändert. Im Speicher 12 sind die Standard-Randpositionswerte für die Entfernung r bei den jeweiligen Drehwinkeln des Aufnähmetisehes 2 gespeichert. Somit kann in der Arbeitsschaltung 11 eine Abweichung der Entfernung r gegenüber dem Standardwert bei der jeweiligen Winkelposition unter Steuerung des vom umlaufenden Codierer 7 gelieferten Drehwinkelsignals berechnet werden. Da bei dieser Ausführungsform die Messung in drei verschiedenen Positionen des Gegenstandes Λ erfolgt, kann die rechtwinkelige Lage der Gegenstandsoberfläche ebenfalls ermittelt werden, indem drei für
030012/05 9 0
-y.
/IO 2926U0
die Entfernung r in verschiedenen Höhen berechnete Werte verglichen werden.
Wie vorausgehend erläutert wurde, ist die Führungsplatte 3 auf der Oberfläche des Aufnahmetisches 2 zur Einstellung des Gegenstandes befestigt. Jedoch könnte in der Praxis der Gegenstand nicht genau im Mittelpunkt 0 des Aufnahmetisches 2 angeordnet sein und der Mittelpunkt des Gegenstandes 1 eine Abweichung gegenüber dem Mittelpunkt 0 des Aufnahmetisches aufweisen. Eine derartige Abweichung könnte einen Meßfehler verursachen. Jedoch kann erfindungsgemäß eine derartige Abweichung in der Arbeitsschaltung 11 kompensiert werden. Dies wird unter Bezugnahme auf die Fig. 4 und 5 erläutert.
Fig. 4 stellt eine schematische Ansicht einer Umfangsanordnung eines Gegenstandes von im wesentlichen elliptischer Form dar. Der Standard-Gegenstand hat einen Hauptdurchmesser D-, , einen kleinen Durchmesser D , einen kleinen Krümmungsradius R1 und einen Haupt-Krümmungsradius R~, wie aus Fig. 4 ersichtlich ist. Somit kann die Entfernung r vom Mittelpunkt C bis zu einem im Winkel © angeordneten Rand des Gegenstandes wie folgt ausgedrückt werden:
r = R1 + (D /2-R1) cos Q oder
r =
- (R2-Ds/2) sin B
Falls ein derartiger Standard-Gegenstand richtig auf dem Auf nahmetisch in dessen Mitte 0 angeordnet ist, kann die Arbeitsschaltung 11 die Entfernung r berechnen, während der Aufnahmetisch 2 eine Umdrehung ausführt. Diese berechnete Enfernung r ist in pig. 5 durch die voll ausgezogene Kurve a
Q30012/0590 - Π' -
/ΙΊ 2926U0
angegeben. Jedoch weicht bei der tatsächlichen Messung der Mittelpunkt C des Gegenstandes 1 vom Mittelpunkt O des Aufnahmetisches 2 ab und die dabei berechnete Entfernung R kann durch die gestrichelte Kurve B in Fig. 5 ausgedrückt werden. Um dne derartige Abweichung der Mittenposition zu kompensieren, kann die Kurve b in Fig. 5 in die strichpunktierte Kurve c umgewandelt werden, indem folgende Kprrekturgrößen eingeführt werden:
In Richtung der Hauptachse: (dp.. + dp2)/2 In Richtung der kleinen Achse: (dq.. + dq~) /2
Auf diese Weise kann die Abweichung der Mittenposition kompensiert werden. Jedoch wird bei einer tatsächlichen Messung ebenfalls ein Winkelfehler erzeugt, d.h. eine Abweichung in Drehrichtung. Dieser Winkelfehler kann korrigiert werden, indem ein Korrektionswinkel C^ eingeführt wird, welchei in bekannter Weise nach der Methode der kleinsten Quadrate ermittelt wird. D.h. der Korrektionswinkel Ck kann durch folgende Gleichung ermittelt werden
X a-cA )2 > Minimum, n=l n
wobei <^ ii^2'^3 und C^ * die Winke !abweichungen zwischen der idealen Kurve; a und der Kurve c jeweils bei vier vorgegebenen Winkelpositionen (^ ^ , ö 2 f ^ 3 und 04 darstellten. Nachdem eine Korrektur in der vorausgehend beschriebenen Weise vorgenommen wurde, kann die Abweichung der Umfangsausbildung <3es Gegenstandes 1 gegenüber einem Standard-Gegenstand in extrem genauer Weise ermittelt werden. Die Arbeitsschaltung 11 erkennt ferner, ob die berechnete Abweichung die maximale zulässige Toleranz überschreitet und erzeugt an der Ausgangs-
030012/0590
- 12 -
-yf-
klemme 13 ein Signal, welches gegebenenfalls gedruckt oder angezeigt wird.
Die Erfindung ist nicht auf die vorausgehend beschriebene Ausführungsform beschränkt, sondern kann im Rahmen der Ansprüche weitere Abänderungen erfahren. Beispielsweise können unterschiedliche Arten von Umfangsausbildungen verschieden geformter Gegenstände, wie zylindrischer oder polygonaler Säulen, durch die erfindungsgemäße Vorrichtung gemessen werden. Ferner geben gemäß der Ausführungsform nach den Pig. 1 und die Projektionselemente 8 für Parallellicht den Laserstrahl nur an einer Seite des Gegenstandes ab. Ist jedoch der zu messende Gegenstand 1 verhältnismäßig klein, so kann der gesamte Gegenstand durch das Parallellicht beleuchtet werden, das gemäß Fig. 6 von dem Projektionselement 8 für Parallellicht abgegeben wird. In desem Fall sollte das Lichtaufnahmeelement 9 eine Eintrittsöffnung aufweisen, die ausreichend breit ist, um das an beiden Seiten des Gegenstandes 1 vorbeitretende Licht aufzunehmen. In der vorausgehend erläuterten Ausführungsform wird die Entfernung S gemessen, indem die Zeitdauer des Ausgangssignals vom Lichtaufnahmeelement 9 gemessen wird, jedoch kann die Entfernung S durch eine Amplitude des Ausgangssignals des Lichtaufnahmeelements 9 ermittelt werden, falls der Gegenstand gleichzeitig durch ein breites Parallellicht beleuchtet wird. In diesem Falle ist es nicht notwendig, daß der Laserstrahl im Lichtprojektionselement 8 eine Abtastung vornimmt, womit der rotierende Spiegel weggelassen v/erden kann, und es genügt, den zu messenden Gegenstand über einen Winkel von 180° anstatt von 360 zu drehen.
Wie vorausgehend im einzelnen erläutert wurde, kann die erfindungsgemäße Vorrichtung die Umfangsausbildung eines Gegenstandes und insbesondere seine Krümmung berührungslos genau
030012/0590
13 2926U0
ermitteln und eignet sich daher besonders zum Messen spröder Gegenstände. Da ferner die Messung in sehr kurzer Zeit von beispielsweise zwei bis drei Sekunden erfolgen kann, eignet sich die erfindungsgemäße Meßvorrichtung besonders für die Messung von Gegenständen, wie beispielsweise keramischen Wabenanordnungen, die in Massenfertigung hergestellt werden.
030012/0590

Claims (3)

HOFFMAoNiN · BIXLUK & PARTNER : . " DR. ING. E. HOFFMANN (1930-197(5) · DIPL.-ING. W. EITLE · DR. RER. NAT. K. HOFFMANN . Dl PL.-I NG. W. LEHN DIPL.-ING. K. FDCHSLE · DR. RER. NAT. B. HANSEN ARABELLASTRASSE 4 (STERNHAUS) . D-8000 MD NCH EN 81 · TELEFON (089) 911087 · TELEX 05-29il9 (PATH E) 32 285 NGK Insulators,. Ltd., Nagaya City / Japan Vorrichtung zur Ermittlung der Umfangsausbildung eines Gegenstandes Patentansprüche :
1. Vorrichtung zur Ermittlung der Umfangsausbildung eines Gegenstandes, gekennzeichnet durch einen drehbaren Aufnahmetisch (2), auf dem der zu messende Gegenstand angeordnet wird, einen Detektor (7) zur Ermittlung eines Drehwinkels des Aufnahmetisehes zwecks Erzeugung eines Drehwinkelsignals, einen Randdetektor, der ein Projektionselement (8A, 8B, 8C) für Parallellicht aufweist, um dieses auf den Gegenstand zu projizieren", und ein Aufnahmeelement
030015/0590
2926U0
(9A, 9B, 9C) für Parallellicht zur Aufnahme eines Teils des Parallellichts, welches durch den Gegenstand nicht abgefangen wird zwecks Erzeugung eines Randpositionssignals, wobei das Projektionselement und das Aufnahmeelement für Parallellicht jeweils an einer Seite des Aufnahmetisches angeordnet sind, einen Speicher (1 2) zur Speicherung eines Standard-Randpositionssignals, das einen Standard-Gegenstand mit vorgegebener Umfangsausbildung entspricht, und eine Arbeitsschaltung (11) zur Aufnahme des Drehwinkelsignals, des Randpositionssignals und des Standard-Randpositonssignals und zur Erzeugung eines Signals, welches eine Abweichung in der zu messenden Umfangsausbildung des Gegenstandes gegenüber einem Standard-Gegenstaxes darstellt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, diß der Randdetektor eine Anzahl von Paaren von Projektions-und Aufnahmeelementen für Parallellicht aufweist, die an verschiedenen Punkten längs des Randes des zu erfaßenden Gegenstandes angeordnet sind,
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Randdetektor ferner ein stationär angeordnetes Element (10) zum Abfangen eines Teils des Parallellichts in dessen Umfangsbereich aufweist.
4. Vorrichtung nach Anpruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Speicher (12) die maximale zulässige Toleranz der Abweichung speichert und die Arbeitsschaltung (11) die ermittelte Abweichung mit der maximalen zulässigen Toleranz vergleicht.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Projektionselement (8A, 8B, 8C) für Parallellicht eine Laserlichtquelle umfaßt, und einen um-
030012/0B90
laufenden Spiegel zur parallelen Reflexion des Laserstrahls zwecks Abtastung des Gegenstandes und daß die Randposition ermittelt wird, indem die Zeitdauer des Ausgangssignals vom Aufnahmeelement (9A, 9B, 9C) für Parallellicht gemessen wird.
6. Vorrichtung nach Anspruch 1 ,. g e k e η η ζ e i c h η et durch ein Führungselement (3), das am Aufnahmetisch (3) zur Einstellung des Gegenstandes auf demselben befestigt
7. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Arbeitsschaltung (11) eine Abweichung in der zentralen Lage des Gegenstandes gegenüber dem Aufnahmetisch kompensiert.
8. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 7, dadurch g e kenn ze ic h η e t, daß die Arbeitsschaltung eine Abweichung der Winkellage des Gegenstands gegenüber dem Aufnahmetisch kompensiert.
_ 4 „
3 0 0 12/0590
DE2926140A 1978-09-11 1979-06-28 Vorrichtung zur Ermittlung von projizierten Querschnittsgrößen gleichgestaltiger Werkstücke Expired DE2926140C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11060078A JPS5537919A (en) 1978-09-11 1978-09-11 Automatic outer configuration measurement device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2926140A1 true DE2926140A1 (de) 1980-03-20
DE2926140C2 DE2926140C2 (de) 1983-12-08

Family

ID=14539951

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2926140A Expired DE2926140C2 (de) 1978-09-11 1979-06-28 Vorrichtung zur Ermittlung von projizierten Querschnittsgrößen gleichgestaltiger Werkstücke

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4298285A (de)
JP (1) JPS5537919A (de)
CA (1) CA1120590A (de)
CH (1) CH640937A5 (de)
DE (1) DE2926140C2 (de)
FR (1) FR2435698B1 (de)
GB (1) GB2030286B (de)
SE (1) SE442343B (de)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3143173A1 (de) * 1981-10-30 1983-05-19 Automation W + R GmbH, 8000 München Messanordnung zur messung der winkelstellung eines messobjekts nach dem reflektionsverfahren
DE3214253A1 (de) * 1982-04-17 1983-10-20 Messwandler-Bau Gmbh, 8600 Bamberg Leitring fuer eine messvorrichtung
DE3219389A1 (de) * 1982-05-24 1983-11-24 Richter Bruno Gmbh Optisch-elektrisches messverfahren zur erfassung von unrunden querschnitten insbesondere strangartiger gegenstaende und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE3325522A1 (de) * 1982-07-28 1984-02-02 General Electric Co., Schenectady, N.Y. Messvorrichtung und -verfahren
DE3233101A1 (de) * 1982-09-07 1984-03-08 Feinprüf-, Feinmeß- und Prüfgeräte GmbH, 3400 Göttingen Verfahren zur bestimmung des winkels der normalen eines um eine ortsfeste drehachse umlaufenden prueflings und messmaschine zur durchfuehrung des verfahrens
DE3419287A1 (de) * 1983-06-09 1984-12-13 Paul Kocher AG, Orpund, Bern Vorrichtung zum positionieren von bohrern
FR2582801A1 (fr) * 1985-05-29 1986-12-05 Texpa Eng Sa Procede optoelectronique pour mesurer les dimensions et les formes de fruits, legumes et objets divers
DE3831566A1 (de) * 1987-09-17 1989-05-11 Ngk Insulators Ltd Verfahren zum messen der umrissformen von gegenstaenden, die durch eine vielzahl zylindrischer oberflaechenabschnitte begrenzt sind
EP1003014A2 (de) * 1998-11-18 2000-05-24 SMS Demag AG Messverfahren für Höhe und Breite eines stabförmigen Walzguts
DE102012008110A1 (de) * 2012-04-25 2013-10-31 Heye International Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Gestaltvermessung von Gegenständen

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2067326B (en) * 1980-01-09 1983-03-09 British United Shoe Machinery Workpiece identification apparatus
JPS56115904A (en) * 1980-02-19 1981-09-11 Unitika Ltd Automatic measuring method for size of human body and device therefor
JPS56124003A (en) * 1980-03-06 1981-09-29 Toshiba Corp Measuring device for pattern
JPS57508A (en) * 1980-06-03 1982-01-05 Sumitomo Heavy Ind Ltd Contour measuring device
US4404684A (en) * 1980-07-31 1983-09-13 Unitika Ltd. Object solid figure recognizing method and apparatus
US4532723A (en) * 1982-03-25 1985-08-06 General Electric Company Optical inspection system
DE3241770A1 (de) * 1982-11-11 1984-05-17 Dipl.-Ing. Bruno Richter GmbH & Co. Elektronische Betriebskontroll-Geräte KG, 8602 Stegaurach Optisch-elektrische messeinrichtung erhoehter messsicherheit zum messen der lage und/oder der abmessung von gegenstaenden
US4908782A (en) * 1983-05-19 1990-03-13 Compressor Components Textron Inc. Airfoil inspection method
DE3372673D1 (en) * 1983-09-23 1987-08-27 Ibm Deutschland Process and device for mutually aligning objects
JPH0629699B2 (ja) * 1983-10-20 1994-04-20 新技術事業団 非接触長さ計測方法及び装置
JPS60181604A (ja) * 1984-02-28 1985-09-17 Toyoda Gosei Co Ltd 回転変形体の変形状態計測方法及び装置
US4634273A (en) * 1984-06-08 1987-01-06 Trw Inc. O-ring inspection method
GB8524473D0 (en) * 1985-10-04 1985-11-06 Loughborough Consult Ltd Making measurements on body
US4650334A (en) * 1985-10-18 1987-03-17 Caterpillar Inc. Optical straightness gauge and method
US5184732A (en) * 1985-12-20 1993-02-09 Gersan Establishment Shape sorting
GB8531396D0 (en) * 1985-12-20 1986-02-05 Gersan Ets Sorting
DE3622313A1 (de) * 1986-07-03 1988-01-07 Harald Michael Robert Dr Petry Verfahren und vorrichtung zum beruehrungslosen messen der unwucht oder unrundheit einer welle oder dergl. rotationskoerper
US4872757A (en) * 1988-04-20 1989-10-10 Ball Corporation Optical convex surface profiling and gauging apparatus and method therefor
US4863275A (en) * 1988-04-20 1989-09-05 Ball Corporation Portable, shock-proof container surface profiling instrumentation
US4969110A (en) * 1988-08-01 1990-11-06 General Electric Company Method of using a priori information in computerized tomography
JPH02136705A (ja) * 1988-11-17 1990-05-25 Nippon Kinzoku Kogyo Kk ダイスの孔形状測定装置及びその方法
US4978223A (en) * 1989-03-08 1990-12-18 Westinghouse Electric Corp. Determination of dimensions of tubes
WO1991015731A1 (de) * 1990-04-05 1991-10-17 Aurotec System Gmbh Industrieautomation Verfahren und vorrichtung zum vermessen und/oder prüfen der umrissformen oder kanten von werkstücken
US5140534A (en) * 1990-07-20 1992-08-18 Westinghouse Electric Corp. Centerless runout and profile inspection system and method
GB9110570D0 (en) * 1991-05-16 1991-07-03 Cruickshank John S Measuring,inspection and comparative analysis apparatus for moving object profiles
US5345309A (en) * 1991-10-10 1994-09-06 Ball Corporation Precision three dimensional profiling and measurement system for cylindrical containers
IT1281546B1 (it) * 1995-04-13 1998-02-18 Marposs Spa Apparecchio di misura optoelettronico per il controllo di dimensioni lineari
DE112004000510T5 (de) * 2003-03-24 2006-11-02 Plastic Technologies, Inc., Holland Lasersystem für Vermessungen des Profils von Gegenständen
JP5032923B2 (ja) * 2006-10-16 2012-09-26 イビデン株式会社 ハニカム構造体用載置台、及び、ハニカム構造体の検査装置
WO2008047404A1 (fr) 2006-10-16 2008-04-24 Ibiden Co., Ltd. Support de montage pour structure alvéolaire et dispositif d'inspection pour structure alvéolaire
DE102007052033A1 (de) * 2007-10-30 2009-05-07 Rosenberger Ag Verfahren und Messgerät zur berührungslosen Erfassung des räumlichen Formverlaufs von Bauteilen
JP6021909B2 (ja) 2011-07-21 2016-11-09 ブルックス オートメーション インコーポレイテッド 低温試料グループホルダーにおける寸法変化の補正のための方法と装置
JP5872504B2 (ja) * 2012-06-27 2016-03-01 日本碍子株式会社 セラミックハニカム構造体の製造方法
JP5629729B2 (ja) * 2012-06-27 2014-11-26 日本碍子株式会社 セラミックハニカム構造体の製造方法
JP5763040B2 (ja) * 2012-12-05 2015-08-12 日本碍子株式会社 セラミックハニカム構造体の製造方法、及びセラミックハニカム乾燥体の仕上げ加工装置
US20140340511A1 (en) * 2013-05-14 2014-11-20 Android Industries Llc Uniformity Testing System and Methodology for Utilizing the Same

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3224322A (en) * 1960-08-05 1965-12-21 Ass Eng Ltd Optical gauging system
DE1548315A1 (de) * 1965-09-14 1970-04-16 Singer Co Vorrichtung zum Klassifizieren von Wellen u.dgl.
DE2032905B2 (de) * 1970-07-02 1974-09-05 Hommelwerke Gmbh, 6800 Mannheim Gerät zum Prüfen der Formfehler an Werkstücken
DE2818060A1 (de) * 1977-04-25 1978-11-02 Sopelem Verfahren und vorrichtung zur optischen mass-pruefung

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB966408A (en) * 1962-03-27 1964-08-12 Ass Eng Ltd Optical gauging system
CH446734A (de) * 1965-11-05 1967-11-15 Emhart Zuerich Sa Verfahren und Einrichtung zur Prüfung einer Kantenlinie eines Körpers
FR1555808A (de) * 1967-12-11 1969-01-31
US4064534A (en) * 1976-04-20 1977-12-20 Leone International Sales Corporation System for monitoring the production of items which are initially difficult to physically inspect
US4122525A (en) * 1976-07-12 1978-10-24 Eaton-Leonard Corporation Method and apparatus for profile scanning

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3224322A (en) * 1960-08-05 1965-12-21 Ass Eng Ltd Optical gauging system
DE1548315A1 (de) * 1965-09-14 1970-04-16 Singer Co Vorrichtung zum Klassifizieren von Wellen u.dgl.
DE2032905B2 (de) * 1970-07-02 1974-09-05 Hommelwerke Gmbh, 6800 Mannheim Gerät zum Prüfen der Formfehler an Werkstücken
DE2818060A1 (de) * 1977-04-25 1978-11-02 Sopelem Verfahren und vorrichtung zur optischen mass-pruefung

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3143173A1 (de) * 1981-10-30 1983-05-19 Automation W + R GmbH, 8000 München Messanordnung zur messung der winkelstellung eines messobjekts nach dem reflektionsverfahren
DE3214253A1 (de) * 1982-04-17 1983-10-20 Messwandler-Bau Gmbh, 8600 Bamberg Leitring fuer eine messvorrichtung
DE3219389A1 (de) * 1982-05-24 1983-11-24 Richter Bruno Gmbh Optisch-elektrisches messverfahren zur erfassung von unrunden querschnitten insbesondere strangartiger gegenstaende und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE3325522A1 (de) * 1982-07-28 1984-02-02 General Electric Co., Schenectady, N.Y. Messvorrichtung und -verfahren
DE3233101A1 (de) * 1982-09-07 1984-03-08 Feinprüf-, Feinmeß- und Prüfgeräte GmbH, 3400 Göttingen Verfahren zur bestimmung des winkels der normalen eines um eine ortsfeste drehachse umlaufenden prueflings und messmaschine zur durchfuehrung des verfahrens
DE3419287A1 (de) * 1983-06-09 1984-12-13 Paul Kocher AG, Orpund, Bern Vorrichtung zum positionieren von bohrern
FR2582801A1 (fr) * 1985-05-29 1986-12-05 Texpa Eng Sa Procede optoelectronique pour mesurer les dimensions et les formes de fruits, legumes et objets divers
DE3831566A1 (de) * 1987-09-17 1989-05-11 Ngk Insulators Ltd Verfahren zum messen der umrissformen von gegenstaenden, die durch eine vielzahl zylindrischer oberflaechenabschnitte begrenzt sind
EP1003014A2 (de) * 1998-11-18 2000-05-24 SMS Demag AG Messverfahren für Höhe und Breite eines stabförmigen Walzguts
EP1003014A3 (de) * 1998-11-18 2001-11-21 SMS Demag AG Messverfahren für Höhe und Breite eines stabförmigen Walzguts
DE102012008110A1 (de) * 2012-04-25 2013-10-31 Heye International Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Gestaltvermessung von Gegenständen
DE102012008110B4 (de) * 2012-04-25 2014-03-13 Heye International Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Gestaltvermessung von Hohlglasartikeln

Also Published As

Publication number Publication date
GB2030286B (en) 1983-05-05
SE442343B (sv) 1985-12-16
CH640937A5 (de) 1984-01-31
FR2435698B1 (fr) 1985-08-23
GB2030286A (en) 1980-04-02
JPS6238642B2 (de) 1987-08-19
SE7905377L (sv) 1980-03-12
JPS5537919A (en) 1980-03-17
US4298285A (en) 1981-11-03
FR2435698A1 (fr) 1980-04-04
DE2926140C2 (de) 1983-12-08
CA1120590A (en) 1982-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2926140A1 (de) Vorrichtung zur ermittlung der umfangsausbildung eines gegenstandes
DE2926168A1 (de) Vorrichtung zur messung der umfangsausbildung eines gegenstandes
DE2361155C2 (de) Vorrichtung zum Positionieren eines ersten Gegenstandes in bezug auf einen zweiten Gegenstand
EP2093537B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung einer Ausrichtung von zwei drehbar gelagerten Maschinenteilen
EP0740770B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur vermessung von exzenterdrehteilen
DE2536263A1 (de) Anordnung zum orten von teilen, zum ausrichten von masken und zum feststellen der richtigen ausrichtung einer maske
EP0358982A2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur automatisierten berührungsfreien Oberflächenkontrolle von zylindrischen Teilen
DE2431206A1 (de) Vorrichtung zum optischen lesen einer beugungsspur
DE3123703A1 (de) Optisches messsystem mit einer fotodetektoranordnung
DE2440321B2 (de) Vorrichtung zur automatischen messung von tunnel-profilen
DE2611514A1 (de) Oberflaechen-abtastpruefvorrichtung
DE3129503A1 (de) Laserstrahl-ablenkvorrichtung
CH645462A5 (de) Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen messung einer dimension mindestens eines objekts.
DE2545678A1 (de) Pruefvorrichtung fuer glasflaschen
CH677700A5 (de)
DE3325522A1 (de) Messvorrichtung und -verfahren
DE69310651T2 (de) Verfahren zum Feststellen der Nullpunkte von Positionsgebern
DE19718494A1 (de) Berührungsloses Messen der Maß- und Formabweichungen gekrümmter Oberflächen
DE2740076C3 (de) Hologrammspeicher
DE1423641A1 (de) Vorrichtung zur Justierung einer Marke auf einem Koerper,z.B. eines Punktes einer photographischen Schicht durch Vergleichsmessung zweier Signale
DE2304695B2 (de) Vorrichtung zur Kompensation der fehlerhaften Neigung der Flächen eines Spiegelgrades
CH684026A5 (de) Verfahren zur Messung von relativen Winkeln.
DE3825228A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum messen des aussendurchmessers eines drahtstifts
DE2655704B2 (de) Vorrichtung zum Ermitteln von Fremdkörpern in Glasflaschen
DE1164686B (de) Einrichtung zum Bestimmen und Korrigieren der Lageeines Bauteiles.

Legal Events

Date Code Title Description
OAP Request for examination filed
OD Request for examination
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition