DE2760030C2 - Speicherschaltung - Google Patents
SpeicherschaltungInfo
- Publication number
- DE2760030C2 DE2760030C2 DE2760030A DE2760030A DE2760030C2 DE 2760030 C2 DE2760030 C2 DE 2760030C2 DE 2760030 A DE2760030 A DE 2760030A DE 2760030 A DE2760030 A DE 2760030A DE 2760030 C2 DE2760030 C2 DE 2760030C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- bus line
- logic elements
- output
- bus
- column
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/02—Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
- G11C5/025—Geometric lay-out considerations of storage- and peripheral-blocks in a semiconductor storage device
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/403—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells with charge regeneration common to a multiplicity of memory cells, i.e. external refresh
- G11C11/404—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells with charge regeneration common to a multiplicity of memory cells, i.e. external refresh with one charge-transfer gate, e.g. MOS transistor, per cell
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4091—Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4093—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10B—ELECTRONIC MEMORY DEVICES
- H10B12/00—Dynamic random access memory [DRAM] devices
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Description
diagramms nach F i g. 1;
F i g. I zeigt ein Blockdiagramm der erfindungsgemäßen Speicherschaltung mit Ein-Transistor/Bit-Speicherzellen,
die in einer 64 χ 64 Bit-Anordnung angeordnet sind, d. h. in einer quadratisrhen Anordnung aus 64 Zei-Ien
und 64 Spalten. Die Speicherzellenanordnung ist in eine erste und eine zweite Gruppe 30,40 aufgeteilt, die
jeweils 32 Zeilenleitungen, & h. Wortleitungen 17 bzw.
17' aufweist Außerdem sind 64 Differenzverstärker 12, d. h. Leseverstärker, mit jeweils zwei Eingängen vorgesehen,
denen die Signale der Spaltenleitungen bzw. Bit-Leitungen 16 und 16' zugeführt werden, die der ersten
bzw. zweiten Zeilengruppe 30 und 40 zugeordnet sind. An den Schnittpunkten der Zeilenleitungen 16 und der
Wortleitungen 17 der ersten Zeilengruppe 30 sind 64x32 1-Transistor-Speicherzellen 10 vorgesehen. In
gleicher Weise sind 64 χ 32 Speicherzellen 10' an den Schnittpunkten der Bit-Leitungen 16' und der Wortleitungen
17' in der zweiten Zeilengruppe 40 vorgesehen. Die Wortleitunger. 17 der ersten ZeHengruppe 30 sind
mit entsprechenden Zeilenadreßdekodern ±8 verbunden.
Die Wortleitungen 17' der zweiten Zeilengruppe 40 sind mit entsprechenden Adreßdekodern 18' verbunden.
Jede Bit-Leitung 16,16' ist über Verknüpfungsglieder 20 bzw. 20' mit einer Eingangs/Ausgangs-Sammelleitung
(I/O-Sammelleitung) verbunden. Es sind vier I/O-Sammelleitungen
13A, 13/1', 135 und 135' vorgesehen. Die
Bit-Leitungen 16 und 16' in ungradzahligen Spalten sind über die Verknüpfungsglieder 20 und 20' in der gleichen
Spalte mit den I/O-Sammelleitungen 13Λ und 13A'entsprechend
verbunden. Die Bit-Leitungen 16 und 16' in geradzahligen Spalten sind über die Verknüpfungsglieder
20 und 20' in der gleichen Spalte mit den I/O-Sammelleitungen 135 und 135' entsprechend verbunden.
Ferner sind zwei Ausgangsverstärker 14 und 14' vorgesehen. Ein Paar von mit den ungradzahligen Bit-Leitungen
verbundenen I/O-Sammelleitungen 13/4 und 13 A'
sind mit den beiden Eingängen des Ausgangsverstärkers 14 verbunden, während das Paar von mit gradzahligen
Bit-Leitungen verbundenen I/O-Sammelleitungen 135 und 135' mit den beiden Eingängen des Ausgangsverstärkers
14' verbunden sind. Die Schreibgatter 19/1 und 19/4'sind dafür vorgesehen, daß den I/O-Sammelleitungen
13A und 13/l'die Eingangssignale fNbzvf.TNzugeführt
wenden. Auf der anderen Seile werden durch die Schreibgatter 195 und 195'die Eingangssignale //Vbzw.
77?den I/O-Sammelleitungen 135und 13ö'zugeführt.
Die jeweiligen Verknüpfungsglieder 20, 20' werden durch einen Dekoder 15' zur Auswahl der Bit-Leitungen
von benachbarten Spalten angesteuert. 32 Spaltendekoder sind ii: der 64 χ 64 Bii-Anordnung vorgesehen. Vier
mit den Bit-Leitungen von benachbarten Spalten verbundene Verknüpfungsglieder 20,20' werden gleichzeitig
durch ein Ausgangssignal 22 eines einzelnen Spaltendekoders 15' gesteuert Dem Spaltendekoder 15' werden
fünf Adreßsignale zugeführt, mit denen eines von 25 (=32) Paaren von Spaltenleitungen ausgewählt wird.
Dabei wird ein weiteres Adreßsignal dazu verwendet, einen der Ausgänge des Verstärkers 14 und 14' auszuwählen.
Damit wird für die Speicherschaltung eine hohe Arbeitsgeschwindigkeit
erreicht Im Falle der Schreiboperation wird eines der Paare von Verknüpfungsgliedern
19 A; 19/Toder 195; 195'durch das oben beschriebene
einzelne Adreßsignal ausgewählt. Dann werden über das ausgewählte Paar 70η Verknüpfungsgliedern die
komplementären Eingangssignale IN und TR den I/O-Sammelleitungen
zugeführt. Damit kann eine stabile Speicherhaltung erhalten werden. An den Schnittpunkten
der bit-Leitungen 16,16' und der Auswahlleitungen
21, IV sind 64 Pseudozellen 11, IV vorgesehen. Diese
Pseudozellen werden dazu verwendet eine Bezugsspannung für den Leseverstärker 12 zu erzeugen.
Fig.2 zeigt eine vorteilhafte integrierte Ausführungsform
des Schaltungsdiagramms von Fig. 1. Diese
Schaltung ist als integrierte Halbleiterschaltung auf einem Halbleitertyp ausgebildet und zwar nach den für
den MOS-Halbleiter bekannten Herstellungstechniken für integrierten Schaltungen. Ir diesem FaI! sind die
entsprechenden Gate-Elektroden der verwendeten MOS-Transistoren aus polykristallinem Silizium. Die
Transistoren Qn zur Beaufschlagung des Differenzverstärkers
12 sind zu einem einzelnen MOS-Transistor (nicht gezeigt) integriert und es werden damit die Source-Elektroden
der Schalttransistoren Q13 und (Ju durch
eine Aluminiumleitung 5 zu den Drain-Elektroden der MOS-Transistoren 15 geführt, wodvjrch die Chip-Fläche
reduziert wird.
Die durch die Polysiliziumschicht 22 gebildete Dekoder-Ausgangsleitung
ist zwischen den beiden benachbarten Bit-Leitungen 16,16' angeordnet Der Zwischenraum
zwischen den Spaltenleitungen beträgt 9 μ, da der Zwiscnenraum zwischen Dekoder-Ausgangsleitung 22
und jeweiliger Bit-Leitung 16, 16' 2 μ benötigt und die minimale Breite der Polysiliziumschicht mindestens 5 μ.
Da jedoch lediglich eine Dekoder-A'isgangsleitung 22 für je zwei Spalten vorgesehen ist, ist die dargestellte
Ausführungsform sehr raumsparend ausgestaltet.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (6)
1. Speicherschaltung mit in Zeilen (17) und Spalten zellen wird das Speicherausgangssignal einer Ausgangs-(16)
angeordneten Speicherzellen (11) und einer 5 schaltung zugeführt und durch zwei Differenzverstär-Vielzahl
von Logikelementen (20), die je eine Spalte kerstufen verstärkt, wie es in dem Artikel »Digest of
(16) mit einer an den Eingang eines Ausgangsver- Technical Papers« der ISSCC, 13. Februar 1975, Seite
stärkers angeschlossenen Busleitung verbinden, wo- 102 und 103, beschrieben ist In dieser Schaltung, in der
bsi die Logikelemente (20) die Zuführung der Aus- der Verstärker der ersten Stufe als Leseverstärker begangssignale
von den Spalten (16) zugeordneten Le- io zeichnet wird, verstärkt jeder Verstärker der ersten Stuseverstärkern
(12) über die Busleitung in den Aus- fe, der jeweils mit einer Spalte der Speicherzellen-Magangsverstärker
steuern, dadurch gekennzeichnet, trixanordnung verbunden ist, das von der zur Spalte
daß eine erste und zweite Busleitung (13A, 13.BJ mit gehörenden ausgewählten Speicherzeile ausgelesene
je einem zugeordneten ersten und zweiten Aus- Informationssignal und führt es über ein Logikelement
gangsverstärker (14, 14') vorgesehen sind und daß 15 einer Eingangs/Ausgangs (I/O)-Busleitung zu. Das der
ein Teil der Logikelemente (20) mit der ersten Bus- l/O-Busleitung zugeführte Signal wird dann einem Einleitung
(13A) und die übrigen Logikelemente (20) gang eines Ausgangsdifferenzverstärkers der zweiten
mit der zweiten Busleitung (i3B) verbunden sind Stufe zugeführt Dem anderen Eingang des Ausgangsderart,
daß die mit jeder der Busleitungen verbun- Verstärkers wird eine Bezugsspannung und das Eindene
ZaHt von Logikelementen (20) kleiner als die 20 gangssignal differenzverstärkt und einer Ausgangs-Zahl
der insgesamt vorhandenen Logikelemente (20) schaltung zugeführt
ist Da die Kapazität einer Busleitung durch die Leitungs-
2. Speicherschaltung nach Anspruch 1, wobei jede kapazität der Busleitung selbst und durch die kapazitive
Spalte in eine erste und zweite Spaltenhälfte (16,16') Belastung durch die Logikelemente bestimmt wird, die
unterteilt ist, dadurch gekennzeichnet, daß jede der 25 Busleitung selbst normalerweise auf der Isolierschicht
beiden Busleitungen in eine erste und zweite Buslei- des HalbleitersubsW ats aufgebracht ist, so daß ihre Leitungshälfte
(13/4,13S; 13Λ', t3B') unterteilt ist die stungskapazität selbst relativ klein ist dagegen die Kaan
zwei Eingänge des jeweils der Busleitung züge- pazität der Logikelemente pn-Obergangskapazitäten
ordneten Ausgangsverstärkers (14,14') angeschlos- der die Logikelemente bildenden Transistoren umfaßt
sen sind, wobei die erste und zweite Spaltenhälfte 30 liefern die Logikelemente den überwiegenden Teil (typi-(16,
16') jeder Spalte über je ein Logikelement (20, scherweise ca. 70—80%) der Gesamtkapazität der Bus-20')
mit der ersten fcnv. zwcrten Busleitungshälfte leitung, und führen daher zu einer geringen Arbeitsge-(13,4,13/1'oder
13ß, \33') einer Busleitung verbun- schwindigkeit der Speicherschaltung.
den sind. Die erfindungsgemäße Aufgabe besteht darin, die Ar-
3. Speicherschaltung nach Anspruch 2, dadurch 35 beitsgeschwindigkeit der Speicherschaltung, mit der eigekennzeichnet,
daß Steuerelemente (19/4, 19ß, ne Vielzahl von Daten verarbeitet wird, zu erhöhen.
19,4', 190") für den Schreibbetrieb der Speicher- Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst schaltung vorgesehen sind, die die erste Hälfte (13/4, daß eine erste und zweite Busleitu^i?, mit je einem zuge- \3B) jeder Busleitung mit Signalen und die zweite ordneten ersten und zweiten Ausgangsverstärker vorHälfte (13/4", 13B^ jeder Busleitung mit dazu korn- 40 gesehen sind und daß ein Teil der Logikelemente mit plementären Signalen beaufschlagen. der ersten Busleitung und die übrigen Logikelemente
19,4', 190") für den Schreibbetrieb der Speicher- Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst schaltung vorgesehen sind, die die erste Hälfte (13/4, daß eine erste und zweite Busleitu^i?, mit je einem zuge- \3B) jeder Busleitung mit Signalen und die zweite ordneten ersten und zweiten Ausgangsverstärker vorHälfte (13/4", 13B^ jeder Busleitung mit dazu korn- 40 gesehen sind und daß ein Teil der Logikelemente mit plementären Signalen beaufschlagen. der ersten Busleitung und die übrigen Logikelemente
4. Speicherschaltung nach Anspruch 1, dadurch mit der zweiten Busleitung verbunden sind derart, daß
gekennzeichnet, daß jeweils nebeneinander ange- die mit jeder der Busleitungen verbundene Zahl von
ordnete Logikelemente (20) mit verschiedenen Bus- Logikelementen kleiner als die Zahl der insgesamt vorleitungen(13A,
13ß,>verbunden sind. 45 handenen Logikelemente ist.
5. Speicherschaltung nach Anspruch 4, dadurch Durch die erfindungsgemäße Ausgestaltung der Speigekennzeichnet,
daß mit den nebeneinander liegen- cherschaltung wird die Arbeitsgeschwindigkeit dadurch
den, mit verschiedenen Busleitungen verbundenen erhöht, daß die Zahl der an die Spaltenbusleitungen
Logikelementen (20) auch nebeneinander angeord- angeschlossenen Logikelemente verringert wird. Durch
neten Spalten verbunden sind. 50 die Verdoppelung der Spaltenbusleitungen liegt an je-
6. Speicherschaltung nach Anspruch 2, dadurch der Spaltenbusleitung nur die Hälfte der Verknüpfungsgekennzeichnet,
daß eine Vielzahl von Auswahllei- glieder.
tungen (22) zum Steuern der Logikelemente (20,20') Hierdurch wird die Kapazität jeder Busleitung deutparallel
zu den Spalten (16) vorgesehen ist. lieh herabgesetzt, so daß die Busleitung durch das Aus-
55 gangssignal des Leseverstärkers oder durch ein
Schreib-Eingangssignal mit wesentlich höherer Arbeitsgeschwindigkeit betrieben werden kann. Natürlich wird
dies dadurch erkauft, daß eine zusätzliche Busleitung
Die Erfindung betrifft eine Speicherschaltung mit in vorgesehen werden muß, die auch eine zusätzliche eige-
Zcilen und Spalten angeordneten Speicherzellen und 60 ne Kapazität hat. Da der Anteil der eigenen Leitungska-
einer Vielzahl von Logikelementen, die je eine Spalte pazität der Busleitung aber, wie erwähnt, nur sehr ge-
mit einer an den Eingang eines Ausgangsverstärkers ring ist, ergibt sich insgesamt eine beträchtliche Kapazi-
angeschlossenen Busleitung verbinden, wobei die Lo- tätsverringerung.
gikelemente die Zuführung der Ausgangssignale von Eine Ausführungsform der Erfindung wird anhand
den Spalten zugeordneten Leseverstärkern über die 65 der Zeichnungen näher beschrieben. Es zeigt
Busleitung in den Ausgangsverstärker steuern. Fig. 1 ein Blockdiagramm der erfindungsgemäßen
In einer Speicherschaltung mit einem Transistor und Speicherschaltung und
einem Kondensator als eine Speicherzelle ist das Ausle- F i g. 2 eine integrierte Ausführungsform des Block-
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8269376A JPS538528A (en) | 1976-07-12 | 1976-07-12 | Memory circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2760030C2 true DE2760030C2 (de) | 1986-04-03 |
Family
ID=13781482
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2731442A Expired DE2731442C2 (de) | 1976-07-12 | 1977-07-12 | Speicherschaltung mit Isolierschicht-Feldeffekttransistoren |
DE2760030A Expired DE2760030C2 (de) | 1976-07-12 | 1977-07-12 | Speicherschaltung |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2731442A Expired DE2731442C2 (de) | 1976-07-12 | 1977-07-12 | Speicherschaltung mit Isolierschicht-Feldeffekttransistoren |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4125878A (de) |
JP (1) | JPS538528A (de) |
DE (2) | DE2731442C2 (de) |
FR (1) | FR2358725A1 (de) |
GB (1) | GB1555043A (de) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4239993A (en) * | 1978-09-22 | 1980-12-16 | Texas Instruments Incorporated | High performance dynamic sense amplifier with active loads |
US4370575A (en) * | 1978-09-22 | 1983-01-25 | Texas Instruments Incorporated | High performance dynamic sense amplifier with active loads |
FR2442488A1 (fr) * | 1978-11-22 | 1980-06-20 | Cii Honeywell Bull | Dispositif d'extraction et re-ecriture de l'information pour une memoire a rafraichissement |
DE2855118C2 (de) * | 1978-12-20 | 1981-03-26 | IBM Deutschland GmbH, 70569 Stuttgart | Dynamischer FET-Speicher |
JPS59915B2 (ja) * | 1979-11-29 | 1984-01-09 | 富士通株式会社 | メモリ回路 |
JPS56101694A (en) * | 1980-01-18 | 1981-08-14 | Nec Corp | Semiconductor circuit |
JPS57164491A (en) * | 1981-04-02 | 1982-10-09 | Nec Corp | Semiconductor device |
JPS57198594A (en) * | 1981-06-01 | 1982-12-06 | Hitachi Ltd | Semiconductor storage device |
USRE34060E (en) * | 1981-06-01 | 1992-09-08 | Hitachi, Ltd. | High speed semiconductor memory device having a high gain sense amplifier |
JPS57172588A (en) * | 1981-07-24 | 1982-10-23 | Nec Corp | Memory circuit |
US4555776A (en) * | 1982-04-19 | 1985-11-26 | International Business Machines Corporation | Voltage balancing circuit for memory systems |
US4493056A (en) * | 1982-06-30 | 1985-01-08 | International Business Machines Corporation | RAM Utilizing offset contact regions for increased storage capacitance |
US4723228B1 (en) * | 1983-08-31 | 1998-04-21 | Texas Instruments Inc | Memory decoding circuitry |
JPH0795395B2 (ja) * | 1984-02-13 | 1995-10-11 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路 |
JPS61110394A (ja) * | 1984-10-31 | 1986-05-28 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US5197033A (en) * | 1986-07-18 | 1993-03-23 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device incorporating internal power supply for compensating for deviation in operating condition and fabrication process conditions |
US4710902A (en) * | 1985-10-04 | 1987-12-01 | Motorola, Inc. | Technique restore for a dynamic random access memory |
US4740921A (en) * | 1985-10-04 | 1988-04-26 | Motorola, Inc. | Precharge of a dram data line to an intermediate voltage |
JPH0642537B2 (ja) * | 1985-11-15 | 1994-06-01 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
KR890003373B1 (ko) * | 1986-11-30 | 1989-09-19 | 삼성전자 주식회사 | 씨모오스 반도체 메모리 장치의 입출력 회로 |
GB8917835D0 (en) * | 1989-08-04 | 1989-09-20 | Inmos Ltd | Current sensing amplifier for a memory |
JPH02236893A (ja) * | 1990-02-23 | 1990-09-19 | Hitachi Ltd | 半導体メモリ装置 |
EP0496406B1 (de) * | 1991-01-25 | 1999-05-06 | Nec Corporation | Halbleiterspeicheranordnung |
JP3085803B2 (ja) * | 1992-11-26 | 2000-09-11 | 株式会社東芝 | 差動電流源回路 |
DE4343852C1 (de) * | 1993-12-22 | 1995-05-24 | Itt Ind Gmbh Deutsche | Verfahren zum Betrieb eines Leseverstärkers und Leseverstärker zur Durchführung des Verfahrens |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3678473A (en) * | 1970-06-04 | 1972-07-18 | Shell Oil Co | Read-write circuit for capacitive memory arrays |
US3760381A (en) * | 1972-06-30 | 1973-09-18 | Ibm | Stored charge memory detection circuit |
US3838295A (en) * | 1973-02-05 | 1974-09-24 | Lockheed Electronics Co | Ratioless mos sense amplifier |
JPS5079224A (de) * | 1973-11-12 | 1975-06-27 | ||
JPS5539073B2 (de) * | 1974-12-25 | 1980-10-08 | ||
US4061999A (en) * | 1975-12-29 | 1977-12-06 | Mostek Corporation | Dynamic random access memory system |
-
1976
- 1976-07-12 JP JP8269376A patent/JPS538528A/ja active Pending
-
1977
- 1977-07-11 FR FR7721355A patent/FR2358725A1/fr active Granted
- 1977-07-11 US US05/814,849 patent/US4125878A/en not_active Expired - Lifetime
- 1977-07-12 DE DE2731442A patent/DE2731442C2/de not_active Expired
- 1977-07-12 DE DE2760030A patent/DE2760030C2/de not_active Expired
- 1977-07-12 GB GB29266/77A patent/GB1555043A/en not_active Expired
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
ISSCC, 13. Februar 1975, Digest of Technical Papers, S. 102, 103 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2731442C2 (de) | 1990-05-10 |
GB1555043A (en) | 1979-11-07 |
US4125878A (en) | 1978-11-14 |
JPS538528A (en) | 1978-01-26 |
FR2358725B1 (de) | 1984-05-18 |
DE2731442A1 (de) | 1978-01-19 |
FR2358725A1 (fr) | 1978-02-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2760030C2 (de) | Speicherschaltung | |
DE3941926C2 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung | |
DE4036091C2 (de) | Dynamischer Halbleiterspeicher mit wahlfreiem Zugriff | |
DE4433695C2 (de) | Dynamische Halbleiterspeichervorrichtung | |
DE2919166C2 (de) | Speichervorrichtung | |
DE3716518C2 (de) | ||
DE3937068C2 (de) | Dynamische Halbleiterspeicheranordnung | |
DE3939337C2 (de) | ||
DE4015452C2 (de) | ||
DE4312651C2 (de) | Dram | |
DE4005992A1 (de) | Verfahren zum verringern des kopplungsrauschens von wortleitungen in einer halbleiterspeichervorrichtung | |
EP0078338B1 (de) | FET-Speicher | |
DE2646653A1 (de) | Leseverstaerker fuer statische speichereinrichtung | |
EP0126784B1 (de) | Halbleiterspeicher | |
DE3917558A1 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung | |
DE2760086C2 (de) | ||
DE60118833T2 (de) | Halbleiter-Speicher mit unterteilter Wortleitungstruktur | |
DE2713024B2 (de) | Speicher mit Blindzellen | |
DE69125576T2 (de) | Speicheranordnung mit Abtastverstärkern vom Stromspiegeltyp | |
DE3337850C2 (de) | ||
DE69119252T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung | |
DE68915625T2 (de) | Halbleiterspeicher mit verbesserten Abfühlverstärkern. | |
DE2633558C2 (de) | Speicherbaustein | |
DE3939314A1 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung mit einer mehrzahl von speicherfeldern mit verbessertem peripherem schaltkreisbereich und verbesserter verbindungsanordnung | |
DE3643635A1 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
AC | Divided out of |
Ref country code: DE Ref document number: 2731442 Format of ref document f/p: P |
|
Q172 | Divided out of (supplement): |
Ref country code: DE Ref document number: 2731442 |
|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
AC | Divided out of |
Ref country code: DE Ref document number: 2731442 Format of ref document f/p: P |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
AC | Divided out of |
Ref country code: DE Ref document number: 2731442 Format of ref document f/p: P |