DE19753011C2

DE19753011C2 - Optisches Speichergerät

Info

Publication number: DE19753011C2
Application number: DE19753011A
Authority: DE
Inventors: Toru Ikeda; Shigenori Yanagi
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Panasonic Corp
Priority date: 1997-06-24
Filing date: 1997-12-01
Publication date: 2000-03-16
Anticipated expiration: 2017-12-02
Also published as: DE19753011A1; JPH1116251A; JP3579214B2; US6067284A

Description

ALLGEMEINER STAND DER TECHNIK

Die Erfindung bezieht sich auf ein optisches Speicherge rät, das ein auswechselbares Medium verwendet, wie z. B. eine MO-Kassette oder dergleichen, und insbesondere auf ein opti sches Speichergerät zum effizienten Einstellen einer licht emittierenden Leistung oder Energie einer Laserdiode auf eine optimale Energie, wenn ein Medium geladen ist.

Einer optischen Platte wird als ein Speichermedium Auf merksamkeit geschenkt, das als ein Kern von Multimedia dient, die sich in den letzten Jahren schnell entwickelt. Betrachtet man eine MO-Kassette mit 3,5 Zoll als ein Beispiel, sind in den letzten Jahren zusätzlich zu den herkömmlichen Medien mit 128 MB und 230 MB Medien mit einer hochdichten Aufzeichnung mit 540 MB und 640 MB geschaffen worden. Daher ist es in ei nem Optische-Platte-Laufwerk wünschenswert, daß alle Medien mit 128 MB, 230 MB, 540 MB und 640 MB, die gegenwärtig ver fügbar sind, verwendet werden können. In der MO-Kassette, die in dem Optische-Platte-Laufwerk verwendet wird, wird eine ZCAV-Aufzeichnung (Aufzeichnung für Zone mit konstanter Win kelgeschwindigkeit) (engl. zone constant angular velocity re cording) verwendet, in der eine Medienspur in Zonen geteilt ist und die Zahl von Sektoren in jeder Zone gleich festgelegt ist. Die Zahl von Zonen des MO-Mediums ist gleich 1 Zone im Fall des herkömmlichen Mediums mit 128 MB und 10 Zonen im Fall des Mediums mit 230 MB. Im Fall der Medien mit 640 MB und 540 MB, die in den letzten Jahren zum praktischen Einsatz gebracht wurden, sind die Zahlen von Zonen gleich 11 Zonen bzw. 18 Zonen.

Ein Aufzeichnungsverfahren der herkömmlichen Medien mit 128 MB und 230 MB ist eine Vertiefung-Position-Modulation (PPM) (engl. pit position modulation). Bei der PPM-Aufzeich nung wird die lichtemittierende Energie bei drei Stufen einer Leseenergie, einer Löschenergie und einer Aufzeichnungsener gie geändert. Im Vergleich zu diesen Medien ist ein Aufzeich nungsverfahren der Medien mit 540 MB und 640 MB eine Puls breitenmodulation (PWM) (engl. pulse width modulation). Die PWM-Aufzeichnung wird auch Pulsfolgeaufzeichnung genannt. Bei der PWM-Aufzeichnung wird die lichtemittierende Energie bei vier Stufen der Leseenergie, Löschenergie und ersten und zweiten Schreibenergie geändert. Weil es im Fall der PWM- Aufzeichnung für ein Medium eines Direkt-Überschreib-Korres pondenz-Typs unnötig ist zu löschen, wird die lichtemittie rende Energie bei vier Stufen der Leseenergie, Hilfsenergie, ersten Schreibenergie und zweiten Schreibenergie geändert. Die Hilfsenergie ergibt eine spezifizierte Energie zum Erhö hen einer Antwortgeschwindigkeit eines Mediumerwärmens, um durch die erste oder zweite Schreibenergie zu schreiben.

Im Fall eines auswechselbaren optischen Plattenmediums, das in der Kassette eingeschlossen ist, wird gewöhnlich, weil eine optimale Aufzeichnungsenergie für jedes Medium verschie den ist, eine lichtemittierende Einstellung derart ausge führt, daß, wenn das Medium geladen ist, für jede Zone ein Testschreiben durchgeführt wird und die Energie auf die opti male Aufzeichnungsenergie eingestellt wird. Wenn jedoch eine Teilung zwischen Spuren verengt ist, um eine hohe Dichte des optischen Plattenmediums zu realisieren, tritt leicht eine Wärmeleitung in einer benachbarten Spur auf. Selbst wenn die optimale Aufzeichnungsenergie durch Ausführen des Testschrei bens durch eine Laserdiode bestimmt ist, zieht man folglich, obwohl die Aufzeichnung auf eine Zielspur richtig ausgeführt werden kann, eine Möglichkeit in Betracht, daß Probleme auf treten, wie z. B. Daten auf der benachbarten Spur gelöscht werden, Daten der benachbarten Spur lecken und dergleichen.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG

Aufgabe der Erfindung ist es, ein optisches Speichergerät zu schaffen, das eine optimale Aufzeichnungsenergie einstel len kann, ohne einen Datenfehler infolge eines Leckes zu ei ner benachbarten Spur beim Aufzeichnen zu verursachen.

Diese Aufgabe ist durch die Merkmale des Anspruch 1 ge löst.

Diese Aufgabe ist ferner durch die Merkmale des An spruchs 25 gelöst.

Nachdem die Aufzeichnungsenergie bestimmt wurde, wird ge mäß dem optischen Speichergerät der Erfindung, wie oben er wähnt wurde, das Testschreiben durch die bestimmte Aufzeich nungsenergie durchgeführt, und, nur wenn bestätigt wird, daß kein Datenfehler der benachbarten Spur vorliegt, wird die be stimmte Aufzeichnungsenergie als eine effektive Aufzeich nungsenergie eingestellt, um für eine tatsächliche Medienauf zeichnung verwendet zu werden. Selbst in einem Fall eines Me diums, in welchem eine hohe Dichte durch Verengen eines Spur intervalls realisiert ist, kann eine optimale Aufzeichnung realisiert werden, ohne einen Fehler in Daten der benachbar ten Spur infolge der eingestellten Aufzeichnungsenergie zu verursachen oder ein Lecken von Daten von der benachbarten Spur zu empfangen oder zu erhalten.

Die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit führt zu erst das Testschreiben auf einen Testschreibbereich (engl. test writing area) durch das erste Testmuster aus, führt das Testschreiben auf die gleiche Position einer spezifizierten Spur in dem Bereich durch das zweite Testmuster nur eine vor bestimmte Zahl von Malen aus und reproduziert danach die Po sition der benachbarten Spur, auf der das erste Testmuster zuerst testweise geschrieben wurde, und prüft einen Datenfeh ler. Die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit bestätigt das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein eines Datenfehlers in der benachbarten Spur durch das Testschreiben in einem Teil eines von einem Benutzer ungenutzten Bereichs, der in dem innersten oder äußersten Rand des Mediums existiert. Selbst wenn das Testschreiben, um die optimale Energie zu be stimmen, ausgeführt wird, sind Benutzerdaten daher garantiert oder gesichert. Ferner ist eine Aufzeichnungsenergie-Ein stelleinheit zum Entscheiden der optimalen Aufzeichnungsener gie durch Einstellen der lichtemittierenden Energie der lichtemittierenden Diode vorgesehen, dadurch einen Aufzeich nungsenergie-Anfangswert bestimmend, um für das Testschreiben der eine benachbarte Spur bestätigenden Einheit verwendet zu werden. Die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit kann das Testschreiben durch Verwenden der durch die Aufzeich nungsenergie-Einstelleinheit als einen Anfangswert entschie denen optimalen Aufzeichnungsenergie durchführen oder kann auch das Testschreiben durch Verwenden einer Aufzeichnungse nergie ausführen, die als ein Anfangswert geringfügig höher als die optimale Aufzeichnungsenergie ist. Die Aufzeichnungs energie-Einstelleinheit stellt die lichtemittierende Energie der lichtemittierenden Diode ein und bestimmt die optimale Aufzeichnungsenergie, während das Testschreiben auf das Medi um ausgeführt wird. Das heißt, die Aufzeichnungsenergie-Ein stelleinheit schreibt ein vorbestimmtes Testmuster testweise auf das Medium, während die Aufzeichnungsenergie der Laser diode schrittweise nach und nach verringert wird, und repro duziert und vergleicht danach das geschriebene Testmuster mit dem ursprünglichen Testmuster, zählt die Zahl von Malen einer Nichtübereinstimmung (engl. dissidence) von Daten, detektiert die Aufzeichnungsenergie, bei der die Zahl von Malen einer Nichtübereinstimmung einen vorbestimmten Schwellenwert über steigt, als eine untere Grenzaufzeichnungsenergie und ent scheidet einen Wert, der durch Addieren eines vorbestimmten Offset zu der unteren Grenzaufzeichnungsenergie erhalten wird, als eine optimale Aufzeichnungsenergie. Wenn die Repro duktion und Bestätigung der benachbarten Spur normal beendet ist, zeichnet (löscht) zur Initialisierung die eine benach barte Spur bestätigende Einheit den Testschreibbereich. Als eine Unterscheidungsbedingung des Datenfehlers der benachbar ten Spur verwendet die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit irgendeine der folgenden Bedingungen.

A) Wenn detektiert wird, daß eine Pegeländerung eines Spitzendetektionssignals eines von der benachbarten Spur re produzierten HF-Signals gleich oder größer als ein spezifi zierter Wert ist, wird bestimmt, daß ein Datenfehler vor liegt.
B) Die Aufzeichnungsdaten und Reproduktionsdaten der be nachbarten Spur werden verglichen und, wenn detektiert wird, daß die Zahl von Bitfehlern auf einen spezifizierten Wert oder mehr zunimmt, wird entschieden, daß ein Datenfehler vor liegt.
C) Wenn detektiert wird, daß die Zahl korrigierter ECC- Fehler für die Reproduktionsdaten der benachbarten Spur auf einen spezifizierten Wert oder mehr ansteigt, wird bestimmt, daß ein Datenfehler vorliegt.

Wenn der Datenfehler der benachbarten Spur durch das Testschreiben bestätigt wird, wiederholt die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das Testschreiben, während die Energie bis zu einer vorbestimmten unteren Grenzaufzeich nungsenergie nach und nach verringert wird, und erhält eine Aufzeichnungsenergie, bei der Daten der benachbarten Spur keinen Fehler verursachen. In diesem Fall bestätigt die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein eines Datenfehlers der benachbarten Spur durch das Testschreiben der zweiten und folgenden Male, wäh rend die Position auf dem Medium geändert wird. Wenn Daten der benachbarten Spur einen Fehler verursachen, selbst wenn das Testschreiben wiederholt wird, indem die Aufzeichnungs energie bis zu der unteren Grenzaufzeichnungsenergie nach und nach verringert wird, wiederholt die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit die Prozesse zum Erhalten der Aufzeich nungsenergie durch das Testschreiben bei einer verschiedenen Position des Mediums vom Beginn an. In diesem Fall sucht die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit einen optimalen Brennpunkt, optimiert einen Offsetwert (Zielwert) einer auto matischen Fokussiersteuerung und wiederholt danach die Pro zesse.

Der optimale Brennpunkt wird durch irgendeines der fol genden Verfahren gesucht.

A) Wenn eine Objektivlinsenposition eingestellt wird, wird ein Offsetwert, um eine Linsenposition zu liefern, bei der ein von einem Mediumrückkehrlicht detektiertes Nachführ- oder Spurfehlersignal (engl. tracking error signal) maximal ist, auf den optimalen Brennpunkt eingestellt.
B) Wenn die Objektivlinsenposition eingestellt wird, wird ein Offsetwert, um eine Linsenposition zu liefern, bei der ein von dem Mediumrückkehrlicht detektiertes HF-Reproduk tionssignal maximal ist, auf den optimalen Brennpunkt einge stellt.
C) Wenn die Objektivlinsenposition eingestellt wird, wird ein Offsetwert, um eine Linsenposition zu liefern, bei der ein Summensignal eines 4-Spaltdetektors zum Umwandeln des Mediumrückkehrlichts in elektrische Signal maximal ist, auf den optimalen Brennpunkt eingestellt.

Die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit schreibt zuerst testweise ein längstes Markierungslänge-Muster (engl. longest mark length pattern) als ein erstes Testmuster auf alle Spuren in dem Testschreibbereich des Mediums. Wenn das Testschreiben des Längste-Markierungslänge-Musters auf alle Spuren in dem Testschreibbereich abgeschlossen ist, bezeich net die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit einen spe zifizierten Sektor einer Spur T1, schreibt testweise ein kür zestes Markierungslänge-Muster (engl. shortest mark length pattern) als ein zweites Testmuster eine spezifizierte Zahl von Malen und reproduziert danach das Längste-Markierungs länge-Aufzeichnungsmuster des benachbarten Sektors, dadurch das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein eines Datenfehlers unterscheidend. Es ist auch möglich, in der Weise zu konstru ieren, daß anstelle des Kürzeste-Markierungslänge-Musters ein Gleichstrom-Lichtemissionsmuster, in welchem die höchste Energie beim Gerätebetrieb auf einen Anfangswert eingestellt ist, als ein zweites Testmuster verwendet wird, das Test schreiben eine spezifizierte Zahl von Malen durchgeführt wird und danach das Längste-Markierungslänge-Aufzeichnungsmuster der benachbarten Spur reproduziert wird, dadurch das Vorhan densein oder Nichtvorhandensein eines Datenfehlers unter scheidend. Durch Testschreiben des Längste-Markierungslänge- Musters und des Kürzeste-Markierungslänge-Musters mit einer kleinen Korrelation zu zwei benachbarten Spuren kann das Vor handensein oder Nichtvorhandensein des Datenfehlers in der benachbarten Spur durch eine kleine Datenmenge effizient ge prüft werden. Einstellungszeitsteuerungen der Aufzeichnungs energie durch das Testschreiben durch die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit erfolgen wie folgt.

A) Weil die optimale Aufzeichnungsenergie des Mediums je nach der Gerätetemperatur geändert wird, wird, wenn die Ände rung der Umgebungstemperatur des Geräts gleich oder größer als ein spezifizierter Wert ist, das Testschreiben durchge führt, und die Aufzeichnungsenergie wird neu eingestellt.
B) Weil eine Wahrscheinlichkeit besteht, daß die optima le Aufzeichnungsenergie im Zusammenhang mit der Zunahme der Nutzungszeit des Geräts abweicht, wird eine verstrichene Zeit von dem vorherigen Testschreiben an überwacht, wird das Test schreiben nach dem Verstreichen einer vorbestimmten Test schreib-Gültigkeitszeit wieder durchgeführt und wird die Auf zeichnungsenergie neu eingestellt.
C) Um einen Fall zu meistern, bei dem ein Fehler, wie z. B. eine Zeitüberschreitung (engl. overtime) oder derglei chen, für einen Zugriff von einem übergeordneten Gerät auf tritt, wird das Testschreiben gemäß einer Befehlsanweisung von dem übergeordneten Gerät ausgeführt, und die Aufzeich nungsenergie wird neu eingestellt.

Wenn die Einstellung der Aufzeichnungsenergie bei der Zeitsteuerung I, II oder III ausgeführt wird, stellt ferner die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit die Aufzeich nungsenergie durch das Testschreiben neu ein, während die Po sition des testweise zu beschreibenden Mediums jedesmal geän dert wird.

Die obigen und andere Aufgaben, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der folgenden ausführlichen Beschreibung mit Verweis auf die Zeichnungen offenkundiger.

KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

Fig. 1A und 1B sind Blockdiagramme eines Optische-Platte- Laufwerks gemäß der Erfindung;

Fig. 2 ist ein erläuterndes Diagramm einer internen Struktur eines Geräts, in das eine MO-Kassette geladen wurde;

Fig. 3 ist ein Blockdiagramm einer Laserdiode-Steuer schaltung in Fig. 1A und 1B;

Fig. 4A bis 4J sind Zeitdiagramme für ein Signal, einen Lichtemissionsstrom, einen Subtraktionsstrom und einen Über wachungsstrom gemäß einer PWM-Aufzeichnung der Erfindung ei nes einem direkten Überschreiben entsprechenden Mediums;

Fig. 5A bis 5J sind Zeitdiagramme für ein Signal, einen Lichtemissionsstrom, einen Subtraktionsstrom und einen Über wachungsstrom gemäß einer PPM-Aufzeichnung der Erfindung des einem direkten Überschreiben entsprechenden Mediums;

Fig. 6A und 6B sind Funktionsblockdiagramme einer eine optimale Schreibenergie einstellenden Einheit, die durch eine MPU in Fig. 1A und 1B realisiert ist;

Fig. 7 ist ein erläuterndes Diagramm einer Standard- Löschenergie-Tabelle in Fig. 6A und 6B;

Fig. 8 ist ein erläuterndes Diagramm einer Standard- Schreibenergie-Tabelle in Fig. 7;

Fig. 9 ist ein erläuterndes Diagramm einer Temperaturkor rekturkoeffizient-Tabelle in Fig. 6A und 6B;

Fig. 10 ist ein Flußdiagramm für einen Plattenaktivier prozeß vor einer Einstellung der lichtemittierenden Energie in Fig. 6A und 6B;

Fig. 11 ist ein Flußdiagramm für einen eine Aufzeich nungsenergie einstellenden Prozeß, der eine Bestätigung der benachbarten Spur in Fig. 6A und 6B einschließt;

Fig. 12A und 12B sind Flußdiagramme für eine Notwendig keit-Unterscheidung einer Einstellung der Aufzeichnungsener gie in Fig. 6A und 6B;

Fig. 13A und 13B sind Flußdiagramme für den Aufzeich nungsenergie-Einstellprozeß in Fig. 6A und 6B durch ein Test schreiben;

Fig. 14 ist ein erläuterndes Diagramm für eine Detektion einer Grenzenergie und eine Einstellung einer optimalen Ener gie in Fig. 13A und 13B;

Fig. 15 ist ein erläuterndes Diagramm eines Temperatur korrekturkoeffizienten zum Korrigieren einer Temperatur eines Offsetverhältnisses, um eine optimale Energie durch Addieren zu der Grenzenergie in Fig. 13A und 13B zu erhalten;

Fig. 16 ist ein erläuterndes Diagramm des Korrekturkoef fizienten für eine Zonenposition des Offsetverhältnisses, um die optimale Energie durch Addieren zu der Grenzenergie in Fig. 13A und 13B zu erhalten;

Fig. 17 ist ein erläuterndes Diagramm einer Fläche oder eines Bereichs auf einem Medium;

Fig. 18A und 18B sind erläuternde Diagramme eines Test schreibbereichs, der einem Nicht-Benutzer-Bereich in Fig. 17 zugeordnet ist;

Fig. 19A und 19B sind Flußdiagramme für einen eine be nachbarte Spur bestätigenden Prozeß in Fig. 6A und 6B;

Fig. 20A bis 20E sind Zeitdiagramme für ein erstes Test muster, das in dem eine benachbarte Spur bestätigenden Prozeß verwendet wird;

Fig. 21A bis 21E sind Zeitdiagramme für ein zweites Test muster, das in dem eine benachbarte Spur bestätigenden Prozeß verwendet wird; und

Fig. 22 ist ein Flußdiagramm für einen Energietabelle- Einstellprozeß unter Verwendung eines Einstellungsergebnisses einer optimalen Schreibenergie.

AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORM [Gerätekonstruktion]

Fig. 1A und 1B sind Schaltungsblockdiagramme eines Opti sche-Platte-Laufwerks als ein optisches Speichergerät der Er findung. Das Optische-Platte-Laufwerk der Erfindung ist durch einen Controller 10 und ein Gehäuse 12 aufgebaut. Der Con troller 10 weist auf: eine MPU 14 zum Ausführen einer Steue rung des gesamten Optische-Platte-Laufwerks; einen Schnitt stelle-Controller 16 zum Senden und Empfangen eines Befehls und von Daten an ein/von einem übergeordneten Gerät; einen Optische-Platte-Controller 18 zum Durchführen eines Forma tierprozesses von Schreibdaten auf ein optisches Plattenmedi um und von ECC-Codier/Decodierprozessen, um Daten zu lesen/zu schreiben; und einen Pufferspeicher 20, der gemeinsam durch die MPU 14, den Schnittstelle-Controller 16 und den Optische- Platte-Controller 18 genutzt wird.

Ein Codierer 22 und eine Laserdiode-Steuerschaltung 24 sind als ein Schreibsystem für den Optische-Platte-Controller 18 vorgesehen. Eine Steuerausgabe der Laserdiode-Steuerschal tung 24 wird an eine Laserdiodeneinheit 30 geliefert, die für eine optische Einheit auf der Seite des Gehäuses 12 vorgese hen ist. Die Laserdiodeneinheit 30 weist integriert eine La serdiode und eine lichtempfindliche Vorrichtung zum Überwa chen auf.

Als eine optische Platte zum Aufzeichnen und Reproduzie ren durch Verwenden der Laserdiodeneinheit 30, d. h. als ein wiederbeschreibbares MO-Kassettenmedium kann irgendeines ei nes 128-MB-Mediums, eines 230-MB-Mediums, eines 540-MB- Mediums, eines 640-MB-Mediums und 540-MB-Mediums und 640-MB- Mediums vom Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typ in der Aus führungsform verwendet werden. Bezüglich der MO-Kassetten medien mit 128 MB und 230 MB unter diesen wird eine Vertie fung-Position-Aufzeichnung (PPM-Aufzeichnung) zum Aufzeichnen von Daten in Entsprechung zu dem Vorhandensein oder Nichtvor handensein einer Markierung auf dem Medium verwendet. Ein Aufzeichnungsformat des Mediums basiert auf ZCAV und ist auf eine Zone im Fall des 128-MB-Mediums und auf zehn Zonen im Fall des 230-MB-Mediums eingestellt. Andererseits wird bezüg lich der MO-Kassettenmedien mit 540 MB und 640 MB mit einer hochdichten Aufzeichnung eine Pulsbreitenaufzeichnung (PWM- Aufzeichnung) verwendet, in der man Ränder, nämlich vordere und hintere Ränder, einer Markierung Daten entsprechen läßt. Eine Differenz in der Speicherkapazität zwischen 640 MB und 540 MB wird durch eine Differenz in der Sektorkapazität ver ursacht. Wenn die Sektorkapazität gleich 2 kB ist, ist die Speicherkapazität gleich 640 MB. Wenn andererseits die Sek torkapazität gleich 512 B ist, ist die Speicherkapazität gleich 540 MB. Ferner können im Fall der Kassettenmedien des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs mit 540 MB und 640 MB sowohl die PPM-Aufzeichnung als auch die PWM-Aufzeichnung verwendet werden. Das Aufzeichnungsformat der Medien ist ZCAV und ist auf 11 Zonen im Fall des 640-MB-Mediums und auf 18 Zonen im Fall des 540-MB-Mediums eingestellt. Wie oben er wähnt wurde, kann das Optische-Platte-Laufwerk der Erfindung den MO-Kassettenmedien mit 128 MB, 230 MB, 540 MB und 640 MB und den Kassettenmedien des Direkt-Überschreib-Korrespondenz- Typs mit 540 MB und 640 MB entsprechen. Wenn in das Optische- Platte-Laufwerk eine Medienkassette geladen ist, wird zuerst ein ID-Abschnitt des Mediums gelesen, wird die Art des Medi ums durch die MPU 14 aus dem Vertiefungsintervall erkannt, und wird das Erkennungsergebnis der Art dem Optische-Platte- Controller 18 mitgeteilt. Als Folge wird im Fall des Mediums mit 128 MB oder 230 MB der MO-Kassette ein Formatierprozeß entsprechend der PPM-Aufzeichnung ausgeführt. Im Fall des Me diums mit 540 MB oder 640 MB wird ein Formatierprozeß gemäß der PWM-Aufzeichnung ausgeführt. Ferner wird im Fall der Kas settenmedien des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs mit 540 MB und 640 MB ein Formatierprozeß gemäß entweder der PWM- Aufzeichnung oder der PPM-Aufzeichnung ausgeführt, die zu dieser Zeit bezeichnet ist. Als ein Lesesystem für den Opti sche-Platte-Controller 18 sind ein Decodierer 26 und eine Le se-LSI-Schaltung 28 vorgesehen. Ein lichtempfindliches Signal eines Rückkehrlichts eines Strahls von der Laserdiodeneinheit 30, das durch einen für das Gehäuse 12 vorgesehenen Detektor 32 empfangen wird, wird als ein ID-Signal und ein MO-Signal über einen Kopfverstärker 34 in die Lese-LSI-Schaltung 28 eingegeben. Die Lese-LSI-Schaltung 28 hat Schaltungsfunktio nen einer AGC-Schaltung, eines Filters, einer Sektormarkie rung-Detektierschaltung, eines Synthesizers, eines PLL und dergleichen. Die Lese-LSI-Schaltung 28 bildet einen Lesetakt und Lesedaten aus dem eingegebenen ID-Signal und MO-Signal und gibt an den Decodierer 26 aus. Weil das Zonen-CAV als ein Aufzeichnungsverfahren eines Mediums durch einen Spindelmotor 40 verwendet wird, wird eine Schaltsteuerung einer Taktfre quenz entsprechend einer Zone für den in der Lese-LSI-Schal tung 28 eingebauten Synthesizer durch die MPU 14 ausgeführt. Ein Modulierverfahren des Codierers 22 und ein Demodulierver fahren des Decodierers 26 werden gemäß der durch den Opti sche-Platte-Controller 18 erkannten Medienart geschaltet. Das heißt, sie werden im Fall der MO-Kassettenmedien mit 128 MB und 230 MB zu den Modulier- und Demodulierverfahren der PPM- Aufzeichnung geschaltet. Sie werden im Fall der MO-Kassetten medien mit 540 MB und 640 MB zu den Modulier- und Demodulier verfahren der PWM-Aufzeichnung geschaltet. Ferner werden sie im Fall der Kassettenmedien des Direkt-Überschreib-Korres pondenz-Typs mit 540 MB und 640 MB zu den Modulier- und Demo dulierverfahren der PWM-Aufzeichnung oder der PPM-Aufzeich nung geschaltet, die zu dieser Zeit bezeichnet ist. Ein De tektionssignal eines auf der Seite des Gehäuses 12 vorgesehe nen Temperatursensors 36 wird an die MPU 14 geliefert. Auf der Grundlage einer durch den Temperatursensor 36 detektier ten Umgebungstemperatur in dem Gerät steuert die MPU 14 im Fall der MO-Kassette jede der lichtemittierenden Energien zum Lesen, Löschen und Schreiben in der Laserdiode-Steuerschal tung 24 auf einen optimalen Wert bzw. steuert im Fall der Kassette vom Überschreib-Korrespondenz-Typ jede der licht emittierenden Energien zum Lesen, Helfen und Schreiben auf einen optimalen Wert.

Die MPU 14 steuert den auf der Seite des Gehäuses 12 vor gesehenen Spindelmotor 40 durch einen Treiber 38. Weil das Aufzeichnungsformat der MO-Kassette ZCAV ist, wird der Spin delmotor 40 bei einer konstanten Geschwindigkeit von z. B. 3600 UpM gedreht. Die MPU 14 steuert auch über einen Treiber 42 einen auf der Seite des Gehäuses 12 vorgesehenen Elektro magneten 44. Der Elektromagnet 44 ist auf der Seite angeord net, die der durch einen Strahl bestrahlten Seite der in das Gerät geladenen MO-Kassette gegenüberliegt, und liefert zur Zeit eines Aufzeichnens und Löschens ein äußeres Magnetfeld für das Medium. Ein DSP 15 realisiert eine Servofunktion zum Positionieren des Strahls von der Laserdiodeneinheit 30 auf das Medium. Zu diesem Zweck ist ein 4-Spaltdetektor 46 zum Empfangen des Strahlrückkehrlichts vom Medium für die opti sche Einheit auf der Seite des Gehäuses 12 vorgesehen, und eine FES-Detektierschaltung (Fokussierfehlersignal-Detektier schaltung) 48 erzeugt aus lichtempfindlichen Ausgaben des 4- Spaltdetektors 46 ein Fokussierfehlersignal E1 und gibt es in den DSP 15 ein. Wenn lichtempfindliche Signale der lichter fassenden Einheiten 46a, 46b, 46c und 46d des 4-Spaltdetek tors 46 Ea, Eb, Ec und Ed annehmen, wird das Fokussierfehler signal E1 folgendermaßen detektiert.

E1 = (Ea + Ec) - (Eb + Ed)

Das Fokussierfehlersignal E1 wird an den DSP 15 gelie fert, und eine Rückkopplungsregelung eines Fokussier-Stell glieds 56 zum Minimieren des Fokussierfehlersignals E1 wird in einer automatischen Fokussiersteuereinheit ausgeführt, die durch den DSP 15 realisiert ist. Die durch den DSP 15 reali sierte automatische Fokussiersteuereinheit erhält einen Off setwert (Zielwert), der als ein optimaler Brennpunkt dient, während eine Position einer Objektivlinse in einem Zustand sequentiell bewegt wird, wo eine Steuerschleife ausgeschaltet ist, stellt den Offsetwert des optimalen Brennpunkts in einer automatischen Fokussiersteuerschleife ein und wird rückgekop pelt so gesteuert, um das Fokussierfehlersignal E1 zu mini mieren, indem die durch den Offsetwert bestimmte Position (optimaler Brennpunkt) der Objektivlinse als eine Referenz verwendet wird. Der Offsetwert, der den optimalen Brennpunkt liefert, wird auf der Basis irgendeiner der folgenden drei Linsenpositionen bestimmt: eine Linsenposition, wo ein Spur fehlersignal E2 maximal ist; eine Linsenposition, wo ein HF- Reproduktionssignal maximal ist; und eine Linsenposition, wo ein Summensignal des 4-Spaltdetektors 46 maximal ist. Eine TES-Detektierschaltung (Spurfehlersignal-Detektierschaltung) 50 erzeugt das Spurfehlersignal E2 aus den lichtempfindlichen Ausgaben des 4-Spaltdetektors 46 und sendet es an den DSP 15. Das heißt, wenn die lichtempfindlichen Signale der lichter fassenden Einheiten 46a, 46b, 46c und 46d des 4-Spaltdetektös 46 Ea, Eb, Ec und Ed genannt werden, wird das Spurfehlersi gnal E2 folgendermaßen ausgedrückt:

E2 = (Ea + Eb) - (Ec + Ed)

Das Spurfehlersignal E2 wird in den DSP 15 eingegeben und wird ferner in eine TZC-Schaltung (Spur-Nulldurchgangspunkt- Detektierschaltung) 45 eingegeben, und ein Spur-Nulldurch gang-Puls E3 wird erzeugt und in den DSP 15 eingegeben. Fer ner ist ein Linsenpositionssensor 52 zum Detektieren einer Linsenposition der Objektivlinse zum Strahlen des Laser strahls auf das Medium auf der Seite des Gehäuses 12 vorgese hen, und ein Linsenpositionsdetektionssignal (LPOS) E4 des Linsenpositionssensors 52 wird in den DSP 15 eingegeben. Der DSP 15 steuert das Fokussier-Stellglied 56, ein Linsenstell glied 60 und einen VCM 64 über Treiber 54, 58 und 62 zum Strahlpositionieren an.

Fig. 2 zeigt schematisch das Gehäuse in dem Optische- Platte-Laufwerk. Der Spindelmotor 40 ist in einem Gehäuse 66 vorgesehen. Durch Einsetzen z. B. einer MO-Kassette 70 von der Seite einer Eingangstür 68 in eine Nabe einer Drehwelle des Spindelmotors 40 wird ein Laden derart durchgeführt, daß ein MO-Medium 72 in der MO-Kassette 70 an der Nabe der Drehwelle des Spindelmotors 40 befestigt wird. Ein Wagen 76, der durch den VCM 64 in der die Medienspuren kreuzenden Richtung bewegt werden kann, ist unterhalb des MO-Mediums 72 der geladenen MO-Kassette 70 vorgesehen. Eine Objektivlinse 80 ist auf dem Wagen 76 montiert, und ein Strahl von einem für ein festste hendes optisches System 78 vorgesehenen Halbleiterlaser ge langt über ein Prisma 82 in die Objektivlinse 80, und auf der Oberfläche des MO-Mediums 72 wird ein Strahlfleck gebildet. Die Objektivlinse 80 wird in der optischen axialen Richtung durch das in dem Gehäuse 12 in Fig. 1 gezeigte Fokussier- Stellglied 56 bewegt und kann auch in einer die Medienspuren kreuzenden radialen Richtung innerhalb eines Bereichs von z. B. zehn Spuren durch das Linsenstellglied 60 bewegt werden.

Die Position der auf dem Wagen 76 montierten Objektivlinse 80 wird durch den Linsenpositionssensor 52 in Fig. 1A und 1B de tektiert. Der Linsenpositionssensor 52 stellt das Linsenposi tionsdetektionssignal auf Null bei einer Neutralposition ein, wo die optische Achse der Objektivlinse 80 gerade Überkopf (engl. right overhead) gerichtet ist, und erzeugt das Linsen positionsdetektionssignal E4 gemäß Bewegungsbeträgen mit ver schiedenen Polaritäten für die Bewegung zur Außenseite und die Bewegung zur Innenseite.

[LD-Lichtemissionseinstellung]

Fig. 3 ist ein Schaltungsblockdiagramm der für den Con troller 10 in Fig. 1 vorgesehenen Laserdiode-Steuerschaltung 24. In der Laserdiodeneinheit 30 sind eine Laserdiode 100 und eine Überwachungsphotodiode 102 integriert vorgesehen. Die Laserdiode 100 empfängt einen Ansteuerstrom (I) von einer Netzspannung Vcc und emittiert Licht. Ein Laserstrahl wird gebildet und durch die optische Einheit auf die Medienober fläche gestrahlt, und Aufzeichnungs- und Reproduzieroperatio nen werden durchgeführt. Die Überwachungsphotodiode 102 emp fängt einen Teil des Lichts von der Laserdiode 100 und gibt einen lichtempfindlichen Strom 10 ab, der der lichtemittie renden Energie der Laserdiode 100 proportional ist. Eine Le seenergie-Stromquelle 104, eine Lösch/Hilfsenergie-Strom quelle 106, eine Erste-Schreibenergie-Stromquelle 108 und ei ne Zweite-Schreibenergie-Stromquelle 110 sind parallel mit der Laserdiode 100 verbunden und liefern einen Leseenergie strom I0, einen Lösch/Hilfsenergiestrom I1, einen ersten Schreibenergiestrom I2 bzw. einen dritten Schreibenergiestrom I3. Weil die von dem MO-Kassettenmedium geforderte Löschener gie und die von dem Kassettenmedium des Direkt-Überschreib- Korrespondenz-Typs geforderte Hilfsenergie nicht gleichzeitig verwendet werden, können sie geschaltet und verwendet werden. Es versteht sich offenkundig, daß eine ausschließlich für die Löschenergie verwendete Schaltung und eine ausschließlich für die Hilfsenergie verwendete Schaltung auch getrennt vorge sehen werden können.

Betrachtet man das MO-Kassettenmedium als ein Beispiel, fließt beispielsweise der Leseenergiestrom I0 zu der Zeit der Leseenergie-Lichtemission, fließt ein Strom (I0 + I1), der durch Addieren des Löschenergiestroms I1 zu dem Leseenergie strom I0 erhalten wird, zu der Zeit der Löschenergie-Licht emission, und ein Strom (I0 + I1 + I2), der durch weiteres Addieren des ersten Schreibenergiestroms I2 dazu erhalten wird, fließt zu der Zeit der Erste-Schreibenergie-Licht emission. Ein Strom (I0 + I1 + I3), der durch Addieren des zweiten Schreibenergiestroms I3 zu dem Leseenergiestrom I0 und Löschenergiestrom I1 erhalten wird, fließt zu der Zeit der Zweite-Schreibenergie-Lichtemission. Weil die Löschener gie im Fall des Kassettenmediums vom Direkt-Überschreib- Korrespondenz-Typ unnötig ist, fließt ein Strom (I0 + I1 + I2), der durch Addieren des Hilfsenergiestroms I1 und ersten Schreibenergiestroms I2 zu dem Leseenergiestrom I0 erhalten wird, zu der Zeit der Erste-Schreibenergie-Lichtemission. Ein Strom (I0 + I1 + I3), der durch Addieren des zweiten Schreib energiestroms I3 zu dem Leseenergiestrom I0 und dem Hilfs energiestrom I1 erhalten wird, fließt zu der Zeit der Zweite- Schreibenergie-Lichtemission. Eine automatische Energiesteu ereinheit (im folgenden "APC" genannt) 138 ist für die Lese energie-Stromquelle 104 vorgesehen. Eine spezifizierte Ziel leseenergie wird als eine Zielenergie in die APC 138 über ein Ziel-DAC-Register 120 und einen D/A-Wandler (im folgenden "DAC" genannt) 136 eingestellt. Ein EP/AP-Strom-DAC-Register 122 und ein DAC 140 sind als eine EP/AP-Strom-Anweisungs einheit für die Lösch/Hilfsenergiestromquelle 106 vorgesehen. Ein WP1-Strom-DAC-Register 124 und ein DAC 142 sind als eine WP1-Strom-Anweisungseinheit für die Erste-Schreibenergie- Stromquelle 108 vorgesehen. Ferner sind ein WP2-Strom-DAC- Register 126 und ein DAC 144 als eine WP2-Strom-Anweisungs einheit für die Zweite-Schreibenergie-Stromquelle 110 vorge sehen. Folglich können die Ströme der Stromquellen 104, 106, 108 und 110 passend geändert werden durch Einstellen von DAC- Anweisungswerten zu den entsprechenden Registern 120, 122, 124 bzw. 126. Eine Lichtemissionsstromquellenschaltung ist durch die Register, DACs und Konstantstromquellen aufgebaut.

Die APC 138 führt eine Rückkopplungsregelung so aus, daß ein von dem lichtempfindlichen Strom 10 der Photodiode 102 erhal tener Überwachungsstrom im mit der Zielspannung des DAC 136 entsprechend der Zielleseenergie übereinstimmt. Zu diesem Zweck sind Subtraktionsstromquellen 112, 114 und 116 für die Überwachungsphotodiode 102 vorgesehen, um die lichtempfindli chen Ströme zu subtrahieren, wenn das Licht gemäß der Lösch/Hilfsenergie und der ersten und zweiten Schreibenergie emittiert wird, welche die Leseenergie übersteigen, und den Überwachungsstrom im entsprechend der Leseenergie zu der APC rückzukoppeln. Ein beliebiger Subtraktionsstrom i1 kann zu der Subtraktionsstromquelle 112 für die Lösch/Hilfsenergie durch ein EP/AP-Subtraktion-DAC-Register 128 und einen DAC 146 eingestellt werden, die als eine EP/AP-Subtraktionsstrom- Anweisungseinheit dienen. Ein beliebiger Subtraktionsstrom 12 kann zu der Subtraktionsstromquelle 114 für die erste Schreibenergie durch ein WP1-Subtraktion-DAC-Register 130 und einen DAC 148 eingestellt werden, die als eine WP1-Subtrak tionsstrom-Anweisungseinheit dienen. Ferner kann ein beliebi ger Subtraktionsstrom 13 für die Subtraktionsstromquelle 116 für die zweite Schreibenergie durch ein WP2-Subtraktion-DAC- Register 132 und einen DAC 150 eingestellt werden, die als eine WP2-Subtraktionsstrom-Anweisungseinheit dienen. Die Überwachungsströme im in den lichtemittierenden Modi der obi gen drei Subtraktionsstromquellen i1, i2 und i3 lauten wie folgt.

A) Zur Zeit der Leseenergie-Lichtemission:
im = i0
B) Zur Zeit der Lösch/Hilfsenergie-Lichtemission:
im = i0 - i1
C) Zur Zeit der Erste-Schreibenergie-Lichtemission:
im = i0 - (i1 + i2)
D) Zur Zeit der Zweite-Schreibenergie-Lichtemission:
im = i0 - (i1 + i3)

Folglich fließt zur Zeit der Lichtemission gemäß irgend einer der Lösch/Hilfsenergie, der ersten Schreibenergie und der zweiten Schreibenergie, die die Zielleseenergie überstei gen, durch Subtrahieren des entsprechenden Subtraktionsstroms von dem lichtempfindlichen Strom 10 der Überwachungsstrom im als ein der Leseenergie entsprechender Strom in einen Überwa chungsspannung-Detektierwiderstand 118 und wird zu der APC 138 rückgekoppelt. Die APC 138 steuert daher die Leseenergie- Stromquelle 104, um immer die Zielleseenergie ohne Rücksicht auf die Art einer lichtemittierenden Energie beizubehalten, wodurch die automatische Leistungs- oder Energieregelung der spezifizierten Lösch/Hilfsenergie, ersten Schreibenergie und zweiten Schreibenergie realisiert wird. Bezüglich des Sub traktionsstroms ist außerdem eine Subtraktionsstromquellen schaltung durch die Register, DACs und Konstantstromquellen aufgebaut. Eine Überwachungsspannung von dem Überwachungs spannung-Detektierwiderstand 118, die dem Überwachungsstrom im entspricht, wird durch einen A/D-wandler (im folgenden "ADC" genannt) 152 in digitale Daten umgewandelt. Nachdem die digitalen Daten in ein Überwachung-ADC-Register 134 eingege ben wurden, werden sie zur Seite der MPU 14 ausgelesen. Der ADC 152 und das Überwachung-ADC-Register 134 bilden folglich eine Meßeinheit des Überwachungsstroms im.

Fig. 4A bis 4J sind Zeitdiagramme für ein Signal der PWM- Aufzeichnung, einen Lichtemissionsstrom, einen Subtraktions strom und einen Überwachungsstrom bezüglich des Kassetten mediums des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs in der La serdiode-Steuerschaltung 24 in Fig. 3. Nimmt man nun an, daß synchron mit einem Schreib-Tor von Fig. 4A Schreibdaten von Fig. 4B gegeben sind, werden die Schreibdaten von Fig. 4D synchron mit einem Schreibtakt von Fig. 4C in Pulsbreitedaten umgewandelt. Auf der Grundlage der Pulsbreitedaten wird ein Hilfspuls wie in Fig. 4E gezeigt erzeugt. Ferner wird ein er ster Schreibpuls wie in Fig. 4F dargestellt erzeugt. Außerdem wird ein zweiter Schreibpuls von Fig. 4G erzeugt. Der zweite Schreibpuls weist die Zahl von Pulsen entsprechend einer Pulsbreite der Pulsbreitedaten von Fig. 4D auf. Zum Beispiel weisen die Kopfpulsbreitedaten eine Pulsbreite von vier Tak ten auf, haben die nächsten Pulsbreitedaten zwei Takte, und weisen die nächsten Pulsbreitedaten drei Takte auf. In Ent sprechung zu ihnen werden bezüglich des zweiten Schreibpulses von Fig. 4G zwei Pulse bezüglich der 4-Takt-Breite der Kopf daten nach dem ersten Schreibpuls von Fig. 4F erzeugt, wird kein Puls bezüglich der nächsten 2-Takt-Breite erzeugt, und wird ein Puls bezüglich der dritten 3-Takt-Breite erzeugt, wodurch eine die Pulsbreite angebende Information aufgezeich net wird. Fig. 4H zeigt einen Lichtemissionsstrom und eine Energie, basierend auf dem Hilfspuls, ersten Schreibpuls und zweiten Schreibpuls der Fig. 4E, 4F und 4G, und bezieht sich auf die PWM-Aufzeichnung in den Überschreibmedien mit 540 MB und 640 MB, die nicht gelöscht werden müssen. Zuerst wird im mer ein Lesestrom geliefert, wodurch eine Gleichstrom-Licht emission durch eine Leseenergie RP durchgeführt wird. Deshalb fließt ein Lichtemissionsstrom (I0 + I1) synchron mit dem Hilfspuls, so daß der Strom um einen Betrag einer Hilfsener gie AP erhöht ist. Der Lichtemissionsstrom I2 wird zu der Zeit des ersten Schreibpulses addiert, und der Strom wird um einen Betrag einer ersten Schreibenergie WP1 erhöht. Ferner wird der Lichtemissionsstrom I3 bei der Zeitsteuerung des zweiten Schreibpulses addiert, und der Strom wird auf (I0 + I1 + I3) eingestellt, so daß er um einen Betrag einer zweiten Schreibenergie WP2 erhöht ist. Ein in Fig. 4I dargestellter Subtraktionsstrom wird an die Substraktionsstromquellen 112, 114 und 116 in Fig. 3 synchron mit dem Lichtemissionsstrom von Fig. 4H geliefert. Der dem erhöhten Betrag der Hilfsener gie AP entsprechende Subtraktionsstrom i1 fließt. Der dem er höhten Betrag der nächsten ersten Schreibenergie WP1 entspre chende Subtraktionsstrom i2 wird addiert, so daß ein Subtrak tionsstrom (i1 + i2) fließt. Ferner wird der dem erhöhten Be trag der zweiten Schreibenergie WP2 entsprechende Subtrakti onsstrom i3 addiert, und ein Subtraktionsstrom (i1 + i3) fließt. Daher ist der Überwachungsstrom im von Fig. 4J auf einen Wert eingestellt, bei dem der Subtraktionsstrom von Fig. 4H von dem lichtempfindlichen Strom i0 entsprechend dem Lichtemissionsstrom und der lichtemittierenden Energie von Fig. 4H subtrahiert ist. Sogar während der Lichtemission wird der Strom immer in einen vorbestimmten Strom entsprechend der Leseenergie umgewandelt und wird zur APC 138 rückgekoppelt.

Fig. 5A bis 5J sind Zeitdiagramme für ein Signal bei ei ner PPM-Aufzeichnung, einen Lichtemissionsstrom, einen Sub traktionsstrom und einen Überwachungsstrom der Kassettenmedi en mit 540 MB und 640 MB des Direkt-Überschreib-Korrespon denz-Typs. Nimmt man nun an, daß Schreibdaten von Fig. 5B synchron mit einem Schreib-Tor von Fig. 5A gegeben sind, wird ein Vertiefungsrandpuls von Fig. 5D synchron mit einem Schreibtakt von Fig. 5C erzeugt. Als Antwort auf den Vertie fungsrandpuls werden ein Hilfspuls von Fig. 5E und ein erster Schreibpuls von Fig. 5F gebildet. Bei der PPM-Aufzeichnung wird ein zweiter Schreibpuls von Fig. 5G nicht verwendet. Durch Liefern eines Lichtemissionsstroms von Fig. 5H durch einen solchen Hilfspuls und ersten Schreibpuls an die Laser diode wird eine lichtemittierende Energie P erhalten. Nimmt man nun an, daß die Hilfsenergie AP und Leseenergie RP gleich sind, wird sogar bei der Zeitsteuerung des Hilfspulses die Lichtemission gemäß der Leseenergie RP durch den Leseenergie strom 10 aufrechterhalten. Bei der Zeitsteuerung des ersten Schreibpulses ist der Lichtemissionsstrom auf (I1 + I2) er höht, so daß eine Energie erhalten wird, bei der der Betrag der Hilfsenergie AP zu dem Betrag der ersten Schreibenergie WP1 addiert ist. Als ein Subtraktionsstrom von Fig. 5I wird der Subtraktionsstrom (i1 + i2) bei der Lichtemission-Zeit steuerung des ersten Schreibpulses geliefert. Der Überwa chungsstrom im von Fig. 5J wird immer auf dem der Leseenergie entsprechenden konstanten lichtempfindlichen Strom gehalten.

[Aufzeichnungsenergieeinstellung]

Fig. 6A und 6B sind Funktionsblockdiagramme einer Auf zeichnungsenergie-Einstellfunktion, um die Aufzeichnungs energie (Schreibenergie und Lösch/Hilfsenergie) durch die La serdiode, die durch die MPU 14 des Optische-Platte-Laufwerks in Fig. 1A und 1B realisiert wird, auf den optimalen Wert einzustellen. Durch die MPU 14 ist eine Aufzeichnungsenergie- Einstelleinheit 200 aufgebaut. Eine Einstellungszeitsteue rung-Unterscheidungseinheit 202, eine Lichtemittierende- Energie-Einstelleinheit 204, eine eine benachbarte Spur be stätigende Einheit 205 und eine Energietabelle bildende Ein heit 206 sind für die Aufzeichnungsenergie-Einstelleinheit 200 vorgesehen. Eine Temperatur im Gerät wird in die Auf zeichnungsenergie-Einstelleinheit 200 durch ein Register 208 eingegeben. Eine Energietabelle-Speichereinheit 210 ist für die Aufzeichnungsenergie-Einstelleinheit 200 vorgesehen. Eine Standard-Lösch/Hilfsenergie-Tabelle 212, eine Standard- Schreibenergie-Tabelle 214 und eine Temperaturkorrekturkoef fizient-Tabelle 216 sind für die Energietabelle-Speicherein heit 210 vorgesehen. Als eine Standard-Lösch/Hilfsenergie- Tabelle 212, wie in Fig. 7 dargestellt, wurden z. B. Vorgabe- oder Standard-Löschenergien innerhalb eines Bereichs von 3,0 bis 4,5 mW in Entsprechung zu Zonennummern (i = 1 bis 11) ge speichert. Obwohl die Standard-Löschenergie und die Standard- Hilfsenergie in Fig. 7 gleichgesetzt sind, werden tatsäch lich, wenn sie verschieden sind, einzelne Tabellen gebildet. Wie in Fig. 8 dargestellt ist, wurden Standard-Schreib energien = 6,0 bis 11,0 mW in der Standard-Schreibenergie- Tabelle 214 in Entsprechung zu den Zonennummern (i = 1 bis 11) gespeichert. Wie in Fig. 9 dargestellt ist, wurden ferner Temperaturkorrekturkoeffizienten Kt = -0,1 bis 0,10 in der Temperaturkorrekturkoeffizient-Tabelle 216 in Entsprechung zu den Zonennummern (i = 1 bis 11) gespeichert. Die Temperatur korrekturkoeffizienten Kt in der Temperaturkorrekturkoeffi zient-Tabelle 216 von Fig. 9 werden auf Werte eingestellt, wenn die Temperatur (T) im Gerät = 25°C beträgt. Ferner wur den eine Lösch/Hilfsenergie-Tabelle 218, eine Erste-Schreib energie-Tabelle 220 und eine Zweite-Schreibenergie-Tabelle 222 für die Energietabelle-Speichereinheit 210 vorgesehen. Durch Multiplizieren der Standard-Lösch/Hilfsenergie-Tabelle 212 und der Standard-Schreibenergie-Tabelle 214 entsprechend der Zonennummer mit einer Standardvergrößerung, die die durch die Aufzeichnungsenergie-Einstelleinheit 200 bestimmte opti male Schreibenergie ergibt, kann jede Energie der Lösch/Hilfsenergie-Tabelle 218 und Erste-Schreibenergie- Tabelle 220 berechnet und registriert werden. Was die Zweite- Schreibenergie-Tabelle 222 anbetrifft, kann die zweite Schreibenergie erhalten werden, weil ein spezifiziertes Ener gieverhältnis, in welchem die erste Schreibenergie auf eine Referenz eingestellt ist, vorbestimmt wurde, durch Multipli zieren des spezifizierten Energieverhältnisses zu der ersten Schreibenergie, die in Entsprechung zu der Zonennummer von der Standard-Schreibenergie-Tabelle 214 erhalten wurde. Be züglich jeder der Lösch/Hilfsenergie, der ersten Schreibener gie und der zweiten Schreibenergie wird ferner der Wert ver wendet, der der Temperaturkorrektur unter Verwendung des Tem peraturkorrekturkoeffizienten in der Temperaturkorrekturkoef fizient-Tabelle 216 basierend auf der Temperatur (T) im Gerät zu dieser Zeit unterzogen wurde. Die Bildung der Lösch/Hilfs energie-Tabelle 218, der Erste-Schreibenergie-Tabelle 220 und der Zweite-Schreibenergie-Tabelle 222 unter Verwendung des Standardwertes der optimalen Schreibenergie, der durch die Aufzeichnungsenergie-Einstelleinheit 200 bestimmt wurde, wird durch die Energietabelle-Bildungseinheit 206 durchgeführt. Eine Energieeinstellung-Verarbeitungseinheit 224 ist für die Energietabelle-Speichereinheit 210 vorgesehen. Wenn sie einen Zugriff von einem übergeordneten Gerät nach Abschluß der Ein stellung der optimalen Schreibenergie empfängt, stellt die Energieeinstellung-Verarbeitungseinheit 224 verschiedene Energien durch die Lichtemissionssteuerung der Laserdiode auf der Basis der Temperatur in dem Gerät, einer Medienart, eines Zugriffsmodus des gewöhnlichen MO-Kassettenmediums, das ge löscht werden muß, und des Kassettenmediums des Überschreib- Korrespondenz-Typs, das nicht gelöscht werden muß, und der Zonennummer ein, die eine in einer Registergruppe 226 darge stellte Zugriffsspur angibt. Zur Zeit des Energieeinstellens berechnet die Energieeinstellung-Verarbeitungseinheit 224 ei nen Stromanweisungswert für jedes Register in der in Fig. 3 dargestellten Laserdiode-Steuerschaltung 24 auf der Basis der von den Tabellen wiedergewonnenen oder abgefragten Daten ge mäß der Temperatur im Gerät, der Medienart, dem Zugriffsmodus und ferner der Zonennummer mit Bezugnahme auf die Lösch/Hilfsenergie-Tabelle 218, die Erste-Schreibenergie- Tabelle 220, Zweite-Schreibenergie-Tabelle 222 und Tempera turkorrekturkoeffizient-Tabelle 216 in der Energietabelle- Speichereinheit 210. Die für die Aufzeichnungsenergie-Ein stelleinheit 200 vorgesehene Einstellungszeitsteuerung-Unter scheidungseinheit 202 unterscheidet eine Aufzeichnungsener gie-Einstellungszeitsteuerung durch die Lichtemittierende- Energie-Einstelleinheit 204 und aktiviert. Die Einstellungs zeitsteuerung-Unterscheidungseinheit 202 aktiviert nicht den Einstellprozeß der Aufzeichnungsenergie, kurz nachdem das Me dium in das Optische-Platte-Laufwerk geladen wurde. Wenn der Initialisierprozeß des Optische-Platte-Laufwerks beendet ist und der erste Schreibbefehl von dem übergeordneten Gerät er zeugt ist, unterscheidet die Einstellungszeitsteuerung- Unterscheidungseinheit 202 ihn, aktiviert die Aufzeichnungse nergie-Einstelleinheit 204, um so den eine erste licht emittierende Energie einstellenden Prozeß durchzuführen, der mit dem Testschreiben des Mediums verbunden ist. Anschließend aktiviert die Einstellungszeitsteuerung-Unterscheidungs einheit 202 die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit 205, um so das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein eines Datenfehlers der benachbarten Spur durch das Testschreiben gemäß der bestimmten Aufzeichnungsenergie zu prüfen. Nachdem der die Aufzeichnungsenergie einstellende Prozeß durch die Lichtemittierende-Energie-Einstelleinheit 204 und die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit 205 einmal beendet wur de, wird die Gültigkeitszeit des Schreibenergie-Einstellungs ergebnisses berechnet. Wenn die verstrichene Zeit vom Ende der Einstellung die berechnete Gültigkeitszeit erreicht, wer den zum Zweck der nächsten Aufzeichnungsenergieeinstellung die Prozesse der Lichtemittierende-Energie-Einstelleinheit 204 und der eine benachbarte Spur bestätigenden Einheit 205 sequentiell aktiviert. Während der Zeitperiode, bis die ver strichene Zeit die Gültigkeitszeit erreicht, wird, wenn die Temperatur (T) im Gerät, die von dem Register 208 eingegeben wird, z. B. ± 3°C übersteigt, die Aufzeichnungsenergieeinstel lung infolge der Aktivierung der Lichtemittierende-Energie- Einstelleinheit 204 und der eine benachbarte Spur bestätigen den Einheit 205 erzwungen ausgeführt. Die Aufzeichnungsener gie-Einstelleinheit 204 wiederholt Prozesse derart, daß ein beliebiger Testschreibbereich in einem vom Benutzer ungenutz ten Bereich des geladenen Mediums bezeichnet wird, ein vorbe stimmtes Testmuster auf das Medium geschrieben wird, während die Schreibenergie Schritt für Schritt nach und nach verrin gert wird, danach das Testmuster ausgelesen und mit dem ur sprünglichen Testmuster verglichen wird, und die Zahl von Ma len einer Nichtübereinstimmung der Daten gezählt wird. In dem Testschreibprozeß wird die Schreibenergie, wenn die gezählte Zahl von Malen einer Nichtübereinstimmung einen vorbestimmten maximalen Wert, z. B. 1000, übersteigt, als eine Grenzschreib energie detektiert. Wenn die Grenzschreibenergie detektiert wird, während die Schreibenergie wie oben erwähnt nach und nach reduziert wird, wird ein Wert, in dem ein vorbestimmter Offset zu der Grenzschreibenergie addiert ist, als eine opti male Schreibenergie bestimmt. Die Einstellung der Schreib energie in der Lichtemittierende-Energie-Einstelleinheit 204 wird durch Verwenden eines Vorgabe- oder Standardverhältnis ses ausgeführt, in dem ein Schreibenergie-Standardwert zu dieser Zeit auf eine Referenz eingestellt ist. Die Grenz schreibenergie wird daher auch als ein Standardverhältnis de tektiert, das die Grenzschreibenergie angibt. Ein Wert, in dem ein vorbestimmtes Offsetverhältnis addiert ist, ist als ein Standardverhältnis der optimalen Schreibenergie bestimmt. Nachdem das Testschreiben in dem Testschreibbereich des Medi ums durch die Lichtemissionsansteuerung der Laserdiode unter Verwendung der Schreibenergie und Lösch/Hilfsenergie durchge führt wurde, die in der Lichtemittierende-Energie-Einstell einheit 204 bestimmt wurden, reproduziert die eine benachbar te Spur bestätigende Einheit 205 die benachbarte Spur und prüft das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein eines Daten fehlers. Wenn kein Datenfehler vorliegt, werden die Schreib energie und Lösch/Hilfsenergie, die für das Testschreiben verwendet wurden, auf die optimale Aufzeichnungsenergie ein gestellt. Das heißt, nachdem die Aufzeichnungsenergie be stimmt wurde, wird ein Testschreiben gemäß der entschiedenen Aufzeichnungsenergie durchgeführt. Nur wenn das Nichtvorhan densein des Datenfehlers der benachbarten Spur bestätigt ist, wird eine solche Aufzeichnungsenergie als eine gültige Auf zeichnungsenergie festgelegt oder eingestellt, die für eine tatsächliche Medienaufzeichnung verwendet wird. Sogar in dem Medium mit der hochdichten Aufzeichnung mit 540 MB oder 640 MB, worin eine hohe Dichte durch Verengen des Spurintervalls realisiert wird, kann die optimale Aufzeichnung realisiert werden, ohne einen Fehler in den Daten der benachbarten Spur durch die eingestellte Aufzeichnungsenergie zu verursachen oder einem Lecken der Daten von der benachbarten Spur ausge setzt zu sein.

Eine Verarbeitungsprozedur der eine benachbarte Spur be stätigenden Einheit 205 lautet folgendermaßen:

A) Das erste Testmuster wird auf alle Spuren in dem Test schreibbereich testweise geschrieben.
B) Das zweite Testmuster wird bei einer spezifizierten Sektorposition einer spezifizierten Spur in dem Testschreib bereich eine bestimmte Zahl von Malen testweise geschrieben.
C) Die benachbarte Spur des Sektors, in welchem das zweite Testmuster testweise geschrieben wurde, wird reprodu ziert, und das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein eines Datenfehlers wird geprüft.

Wenn der eine benachbarte Spur bestätigende Prozeß normal beendet ist, wird der Testschreibbereich zur Initialisierung aufgezeichnet (gelöscht durch die Lösch/Überschreibopera tion). Als eine Unterscheidung über den Datenfehler der be nachbarten Spur durch die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit 205 wird das Vorhandensein des Datenfehlers bestimmt, indem detektiert wird, daß eine Pegeländerung eines Spitzen detektionssignal des aufgezeichneten HF-Signals gleich oder größer als der spezifizierte Wert ist, daß die Reproduktions daten mit den ursprünglichen Aufzeichnungsdaten verglichen werden und die Zahl von Bitfehlern auf einen spezifizierten Wert oder mehr angestiegen ist oder daß die Zahl von ECC- Korrekturfehlern für die Reproduktionsdaten auf einen spezi fizierten Wert oder mehr angestiegen ist. Wenn der Datenfeh ler der benachbarten Spur durch das Testschreiben bestätigt ist, verringert ferner die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit 205 nach und nach die Energie zu der unteren Grenz aufzeichnungsenergie, die durch das Testschreiben erhalten wurde, in der Lichtemittierende-Energie-Einstelleinheit 204, und die Aufzeichnungsenergie, bei der die Daten der benach barten Spur keinen Fehler hervorrufen, wird erhalten, während das Testschreiben wiederholt wird. In diesem Fall wird das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein des Datenfehlers der benachbarten Spur durch die zweiten und folgenden Testschrei boperationen geprüft, während die Prüfposition auf dem Medium geändert wird. Wenn die Daten der benachbarten Spur einen Fehler verursachen, selbst wenn das Testschreiben wiederholt wird, indem die Energie nach und nach zu der unteren Grenz aufzeichnungsenergie reduziert wird, führt die eine benach barte Spur bestätigende Einheit 205 wieder den Prozeß zum er neuten Erhalten der Aufzeichnungsenergie durch das Test schreiben bei einer verschiedenen Position auf dem Medium vom Beginn an aus. In diesem Fall aktiviert die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit 205 eine einen optimalen Brennpunkt detektierende Einheit 207, sucht den optimalen Brennpunkt, optimiert den Offsetwert, der einen Zielwert der automati schen Fokussiersteuerung ergibt und führt danach wieder den Prozeß aus. Zum Beispiel wird ein Längeste-Markierungslänge- Muster als ein erstes Testmuster verwendet, das für das Test schreiben der eine benachbarte Spur bestätigenden Einheit 205 verwendet wird, und ein Kürzeste-Markierungslänge-Muster mit einer kleinen Korrelation für das Längste-Markierungslänge- Muster wird als ein zweites Testmuster verwendet, wodurch er möglicht wird, daß das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein der Datenfehler in der benachbarten Spur durch eine kleine Datenmenge effizient geprüft wird. Ein Gleichstrom- Lichtemissionsmuster, in dem die höchste Energie beim Betrieb des Geräts auf einen Anfangswert eingestellt ist, kann auch als ein zweites Testmuster verwendet werden.

Der Einstellprozeß zum Entscheiden der optimalen Schreib energie durch die Lichtemittierende-Energie-Einstelleinheit 200 in Fig. 6A und 6B wird nun ausführlich mit Verweis auf Flußdiagramme beschrieben. Fig. 10 zeigt einen Plattenakti vierprozeß, wenn ein Medium in das Optische-Platte-Laufwerk der Erfindung geladen ist. Als Medien, die als Optische- Platte-Laufwerke der Erfindung verwendet werden können, gibt es sechs Arten von Medien: MO-Kassettenmedien mit 128 MB und 230 MB der PPM-Aufzeichnung, die gelöscht werden müssen; Me dien mit 540 MB und 640 MB der PWM-Aufzeichnung, die gelöscht werden müssen; und ferner Kassettenmedien mit 540 MB und 640 MB des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs, die nicht ge löscht werden müssen. In Fig. 10 wird in Schritt S1 das Medi um geladen und auf den Spindelmotor 40 gesetzt, wie in Fig. 2 dargestellt ist, und bei einer konstanten Geschwindigkeit ge dreht. Anschließend wird in Schritt S2 ein Lichtemissionsein stellung-Flag FL gesetzt. Ferner wird in Schritt S3 die ge genwärtige Zeit initialisiert. In Schritt S4 wird die gegen wärtige Temperatur (T) in dem Gerät detektiert. Die zur Ein stellung der Aufzeichnungsenergie zur Zeit einer Aktivierung notwendigen Prozesse sind beendet. In dem Plattenaktivierpro zeß werden zusätzlich zu einem vorbereitenden Prozeß zum Ent scheiden der Aufzeichnungsenergie eine Bildung jeder Koeffi ziententabelle eines DAC zum Anweisen eines für die Laserdi ode-Steuerschaltung vorgesehenen Stroms und eine Bildung ei ner Energietabelle zum Speichern des Vorgabe- oder Standard werts der lichtemittierenden Energie gemäß der Funktion der Energieeinstellung-Verarbeitungseinheit 224 in Fig. 6 durch geführt. Folglich sind die Standard-Lösch/Hilfsenergie- Tabelle 212, Standard-Schreibenergie-Tabelle 214 und Tempera turkorrekturkoffizient-Tabelle 216 vorbereitet, die in Fig. 7, 8 und 9 dargestellt sind.

Fig. 11 ist ein Flußdiagramm für den eine lichtemittie rende Energie einstellenden Prozeß, nachdem das Optische- Platte-Laufwerk aktiviert wurde. In dem eine lichtemittie rende Energie einstellenden Prozeß wird das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein einer Lichtemission-Einstellanforde rung von einem übergeordneten Gerät in Schritt S1 unterschie den. Falls es eine Anforderung gibt, folgt Schritt S4, und der Einstellprozeß durch das Testschreiben wird ausgeführt. Weil es im gewöhnlichen Zustand keine Lichtemission-Einstell anforderung von dem übergeordneten Gerät gibt, geht die Ver arbeitungsroutine zu Schritt S2 weiter, und die Notwendigkeit der Einstellung wird unterschieden. Die Unterscheidung über die Notwendigkeit der Lichtemissionseinstellung wird durch die Einstellungszeitsteuerung-Unterscheidungseinheit 202 in Fig. 6 durchgeführt. Wenn die Notwendigkeit der Licht emissionseinstellung in Schritt S3 bestimmt wird, folgt Schritt S4, und die Lichtemittierende-Energie-Einstelleinheit 204 führt das Testschreiben aus, wodurch die Schreibenergie und Lösch/Hilfsenergie entschieden werden. In Schritt S5 wird ein Prozeß zum Unterscheiden des Vorhandenseins oder Nicht vorhandenseins eines Datenfehlers der benachbarten Spur durch das Testschreiben unter Verwendung der in Schritt S4 bestimm ten Schreibenergie und Lösch/Hilfsenergie ausgeführt, wodurch die optimale Schreibenergie und Lösch/Hilfsenergie erhalten werden, bei denen kein Datenfehler in der benachbarten Spur auftritt. Anschließend wird in Schritt S6 die gegenwärtige Zeit aktualisiert, und die Zeit, wenn die optimale Aufzeich nungsenergie durch die Lichtemissionseinstellung und die Prü fung der benachbarten Spur bestimmt ist, wird gehalten. In Schritt S7 wird die gegenwärtige Temperatur aktualisiert, und die Temperatur in dem Gerät, wenn die optimale Aufzeichnungs energie bestimmt ist, wird gehalten.

Fig. 12A und 12B sind Flußdiagramme für den Prozeß zum Unterscheiden der Notwendigkeit der Lichtemissionseinstellung in Schritt S3 in Fig. 11. In dem die Notwendigkeit unter scheidenden Prozeß der Lichtemissionseinstellung wird zuerst in Schritt S1 die gegenwärtige Zeit gelesen. In Schritt S2 wird eine Zeit (A) berechnet, die von der Aktivierung des Op tische-Platte-Laufwerks bis zur vorherigen Lichtemissionsein stellung erforderlich ist. In Schritt S3 wird die Zeit (A) von der Aktivierung in die Zahl (B) von Einheitszeiten durch Teilen der Zeit (A) durch eine vorbestimmte Zeit, z. B. 20 Se kunden, umgewandelt. In Schritt S4 wird eine Prüfung vorge nommen, um zu sehen, ob die Einheitszeitzahl (B) kleiner als 8 ist, nämlich ob die Zeit (A), die von der Aktivierung bis zum ersten Testschreiben erforderlich ist, geringer als 160 Sekunden ist oder nicht. Wenn sie geringer als 160 Sekunden ist, folgt Schritt S5, und eine Prüfung wird vorgenommen, um zu sehen, ob die Einheitszeitzahl (B) kleiner als 4 ist, näm lich ob die Zeit (A) geringer als 80 Sekunden ist oder nicht. Wenn die Zeit (A) innerhalb eines Bereichs von 80 bis 160 Se kunden liegt, wird die Einheitszeit (B) auf 3 abgeschnitten, nämlich die Zeit (A) wird auf 30 Sekunden in Schritt S6 abge schnitten, und die Verarbeitungsroutine geht zu Schritt S7 weiter. Wenn in Schritt S5 die Zeit (A) geringer als 80 Se kunden ist, geht die Verarbeitungsroutine direkt zu Schritt S7 weiter. In Schritt S7 wird eine Gültigkeitszeit (C) be rechnet, um die Verwendung der optimalen Aufzeichnungsenergie zu garantieren, die in der vorherigen Lichtemissionseinstel lung bestimmt wurde. In diesem Fall wird die Gültigkeitszeit (C) auf 20 Sekunden × 2^B (Einheitszeitzahl) eingestellt. Der Maximalwert der Gültigkeitszeit ist auf 160 Sekunden be grenzt. Folglich wird die Gültigkeitszeit (C), um die durch die Lichtemissionseinstellung bestimmte optimale Aufzeich nungsenergie zu garantieren, auf die 2^B entsprechende Zeit eingestellt, wenn die Zeit (A) von der Aktivierung bis zur ersten Lichtemissionseinstellung geringer als 160 Sekunden ist. Wenn die Zeit (A) 160 Sekunden überschreitet, wird sie auf die vorbestimmte Gültigkeitszeit (C) = 160 Sekunden fi xiert. Eine solche Berechnung der Gültigkeitszeit (C) wird gemäß der Zeit variiert, die erforderlich ist, bis die Tempe ratur des in das Optische-Platte-Laufwerk geladenen Mediums auf die Temperatur in dem Gerät stabilisiert ist. Das heißt, weil bei der Anfangsphase, kurz nachdem das Medium geladen wurde, eine Differenz in der Medientemperatur und der Tempe ratur in dem Gerät existiert, kann die Einstellung der Auf zeichnungsenergie, gestützt auf die Temperatur in dem Gerät, bei dieser Phase nicht effektiv durchgeführt werden, so daß die Einstellung der Aufzeichnungsenergie auf eine Aktivierung hin nicht durchgeführt wird. Nach dem Verlauf von 1 bis 2 Mi nuten ist die Temperatur des geladenen Mediums mit der Tempe ratur in dem Gerät ausgeglichen. Daher wird die erste Licht emittierende-Energie-Einstellung synchron mit der Zeitsteue rung durchgeführt, wenn ein Schreibbefehl von dem übergeord neten Gerät zuerst erzeugt wird, nachdem das Optische-Platte- Laufwerk aktiviert wurde. Weil es verschiedene Zeitsteuerun gen gibt, wenn der Schreibbefehl von dem übergeordneten Gerät nach der Aktivierung erzeugt wird, in den Schritten S1 bis S7 in Fig. 12A und 12B, wird die Zeit (A) von der Aktivierung bis zur ersten Lichtemissionseinstellung erhalten, und die Gültigkeitszeit (C) für eine Unterscheidung der nächsten und folgenden Zeitsteuerungen der Lichtemissionseinstellung wer den aus der Zeit (A) bestimmt. Wenn die Gültigkeitszeit (C) in Schritt S7 berechnet werden kann, wird eine Gültigkeitsun terscheidungszeit (D) als eine Zeit berechnet, in der die be rechnete Gültigkeitszeit (C) zu der vorherigen Testschreib zeit in Schritt S8 addiert wird. In Schritt S9 wird eine Prü fung vorgenommen, um zu sehen, ob die gegenwärtige Zeit die Gültigkeitsunterscheidungszeit (D) überschritten hat. Wenn die gegenwärtige Zeit die Gültigkeitsunterscheidungszeit (D) überschreitet, folgt Schritt S14, und ein Lichtemissionsein stellung-Flag wird eingeschaltet. Die Verarbeitungsroutine wird zu Schritt S3 in Fig. 11 zurückgeführt. Wenn die gegen wärtige Zeit die Gültigkeitsunterscheidungszeit (D) in Schritt S9 nicht erreicht, wird das Lichtemissionseinstel lung-Flag in Schritt S13 ausgeschaltet. Wenn die Einheitszeit (B) gleich oder größer als 8 ist, nämlich gleich oder größer als 160 Sekunden in Schritt S4 ist, folgt Schritt S10, und eine Prüfung wird vorgenommen, um zu sehen, ob die Zeit, in der die vorherige Lichtemission-Einstellzeit von der gegen wärtigen Zeit subtrahiert ist, geringer als eine Stunde ist. Falls sie geringer als eine Stunde ist, wird die gegenwärtige Temperatur in Schritt S11 gelesen. In Schritt S12 wird eine Prüfung vorgenommen, um zu sehen, ob die gegenwärtige Tempe ratur innerhalb eines Bereichs von ± 3°C von der vorherigen Temperatur liegt. Wenn sie innerhalb von 3°C liegt, wird das Lichtemissionseinstellung-Flag in Schritt S13 ausgeschaltet, und die Lichtemissionseinstellung wird nicht durchgeführt. Wenn es eine Temperaturfluktuation gibt, die den Bereich von ± 3°C von der vorherigen Temperatur überschreitet, wird das Lichtemissionseinstellung-Flag in Schritt S14 eingeschaltet, und die Lichtemissionseinstellung wird ausgeführt. Wenn in Schritt S10 die Differenz zwischen der gegenwärtigen Zeit und der Zeit der vorherigen Lichtemissionseinstellung gleich oder größer als eine Stunde ist, wird das Lichtemissionseinstel lung-Flag in Schritt S14 gezwungen eingeschaltet, und die Lichtemissionseinstellung wird ausgeführt. Jede der in dem Notwendigkeit-Unterscheidungsprozeß der Lichtemissionsein stellung festgelegten Schwellenzeiten kann nach Bedarf geeig net bestimmt werden.

Fig. 13A und 13B zeigen den Lichtemission-Einstellprozeß, der mit dem Testschreiben verbunden ist, das in Schritt S4 in Fig. 11 ausgeführt wird. Dieser Prozeß wird durch die Licht emittierende-Energie-Einstelleinheit 204 in Fig. 6 ausge führt. Zuerst wird in Schritt S1 die Temperatur (T) in dem Gerät gemessen. In Schritt S2 werden ein Schreibmuster "596595" und hexadezimale Testmuster "FEDC, ..., 3210" in dem für den Controller 10 in Fig. 1 vorgesehenen Pufferspeicher 20 gebildet. Das Testmuster "596595" ist ein schlechtestes Testmuster, in dem angenommen wird, daß der größte Fehler auftreten wird. "FEDC, ..., 3210" beinhaltet alle Muster je des Wortes in hexadezimaler Notation. In Schritt S3 wird ein Testschreib-Ausführungssektor gebildet, um ein Testschreiben durchzuführen. Wie später hierin klar erläutert wird, wird in dem Testschreib-Ausführungssektor ein Testbereich bezeichnet, der in einem Nicht-Benutzer-Bereich des Mediums entschieden wird, und wird eine Sektoradresse erzeugt. In Schritt S4 wird ein Standardverhältnis WP0 einer Startschreibenergie WP aus der Temperatur in dem Gerät berechnet. In Schritt S5 wird die Schreibenergie WP durch Multiplizieren des Standardverhält nisses WP0 mit einer Standardschreibenergie DWP berechnet. In Schritt S6 wird eine Löschenergie EP oder eine Hilfsenergie AP durch Verwenden des Standardverhältnisses WP0 berechnet. Bei der Berechnung der Löschenergie EP wird ein Standardver hältnis der Löschenergie, das durch Addieren von 1 zu einem Wert erhalten wird, in dem ein Koeffizient 0,7 zu einem durch Subtrahieren von 1,0 von dem Standardverhältnis WP0 der Schreibenergie erhaltenen Wert multipliziert ist, verwendet und zu einer Standard-Löschenergie DEP multipliziert, wodurch die Löschenergie EP berechnet wird. Das heißt, ein Fluktua tionsverhältnis der Löschenergie wird für die Schreibenergie unterdrückt. Der obige Punkt wird auch ähnlich auf die Hilfs energie AP angewandt. In Schritt S7 wird ein Datenschreiben ausgeführt, in welchem die beiden Arten von Schreibmustern, die in dem Pufferspeicher in Schritt S2 gebildet wurden, testweise in den Testbereich des Mediums geschrieben werden, indem die berechnete Schreibenergie WP und Löschenergie EP (oder Hilfsenergie AP) verwendet werden. Wenn das Medium das Medium mit 128 MB oder das Medium mit 230 MB ist, wird in diesem Fall die PPM-Aufzeichnung ausgeführt. Im Fall des Me diums mit 540 MB oder des Mediums mit 640 MB wird die PWM- Aufzeichnung ausgeführt. Nach Abschluß des Datenschreibens des Testschreibens wird ein Datenlesen der Testmuster in Schritt S8 ausgeführt. In Schritt S9 werden die gelesenen Mu ster mit dem ursprünglichen Schreibmuster im Pufferspeicher verglichen, dadurch die Zahl von Malen einer Daten-Nichtüber einstimmung auf der Basis einer Worteinheit zählend. Wenn die Zahl von Malen einer Daten-Nichtübereinstimmung in Schritt S10 geringer als 1000 ist, bedeutet dies, daß die Schreib energie nicht den unteren Grenzpunkt der Schreibenergie er reicht, und die Verarbeitungsroutine geht weiter zu Schritt S11. Das Standardverhältnis WP0 der Schreibenergie wird um einen vorbestimmten Wert 0,05 reduziert. Die Verarbeitungs routine wird wieder zu Schritt S5 zurückgeführt, und die Lichtemissionseinstellung wird das Standardverhältnis WP0 verwendend ausgeführt, welches um nur 0,05 reduziert wurde. Das Datenschreiben des Testschreibens wird wiederholt, wäh rend das Standardverhältnis WP0 der Schreibenergie reduziert wird. Wenn in Schritt S10 die Zahl von Malen einer Daten- Nichtübereinstimmung gleich oder größer als 1000 ist, ist be stimmt, daß die Schreibenergie den unteren Grenzpunkt er reicht hat. In Schritt S12 wird das Standardverhältnis zu ei nem Standardverhältnis (WP0-EDG) der unteren Grenzenergie von 25°C korrigiert. Das heißt, ein Wert, der durch Multipli zieren eines Temperaturkorrekturkoeffizienten zu einem Wert erhalten wird, in dem von der gegenwärtigen Temperatur 25°C subtrahiert ist, wird zu der unteren Grenze (WP0-EDG) der in Schritt S12 bestimmten Schreibenergie addiert, wodurch korrigiert wird. In Schritt S13 wird das Standardverhältnis WP0 der optimalen Energie durch Addieren eines vorbestimmten Offsetverhältnisses ΔWP0 zu dem Temperaturkorrekturwert be rechnet. In Schritt S14 wird die Schreibenergie jeder Zone auf der Basis des Standardverhältnisses WP0 der optimalen Schreibenergie eingestellt, welche bestimmt wurde.

Fig. 14 zeigt die Zahl von Malen einer Daten-Nichtüber einstimmung, wenn die lichtemittierende Energie in der Licht emissionseinstellung in Fig. 13A und 13B schrittweise redu ziert wird. Zuerst wird die Lichtemissionseinstellung durch das Einstellen der Standardschreibenergie DWP bei einem Startpunkt 228 gestartet. Die Lichtemissionseinstellung wird durchgeführt, während der Standardwert um 0,05 jeweils von einem Start-Standardverhältnis 1,0 reduziert wird, wodurch die Zahl von Malen einer Nichtübereinstimmung erhalten wird. Wenn sich die Schreibenergie WP der unteren Grenzschreib energie WP nähert, nimmt die Zahl von Malen einer Nichtüber einstimmung zu. Wenn die Zahl von Malen einer Nichtüberein stimmung einen vorbestimmten Schwellenwert, z. B. 1000, er reicht, wird sie als ein unterer Grenzwert 230 detektiert. Durch Addieren des vorbestimmten Offsetverhältnisses ΔWP0 zu einer Standardverhältnis-WP0-Grenze entsprechend der unteren Grenzschreibenergie WP bei dem unteren Grenzwert 230 in die sem Fall wird ein Standardverhältnis Bestes-WP0 bestimmt, welches die optimale Schreibenergie WP ergibt.

Fig. 15 zeigt den Temperaturkorrekturkoeffizienten Kt für die Temperatur (T) des Offsetverhältnisses ΔWP0, das zu dem Standardverhältnis der Grenzenergie in Schritt S13 in Fig. 13B addiert wird. Der Temperaturkorrekturkoeffizient Kt, um das Offsetverhältnis ΔWP0 für die Temperatur (T) zu korrigie ren, wird durch eine Steigung (A) und einen Kreuzungspunkt (B) mit der (y)-Achse als Koeffizienten einer Beziehungsglei chung Kt = A . T + B einer linearen Approximation bestimmt, in der der Korrekturkoeffizient Kt bei der Temperatur (T = 25°C) gleich (Kt = 1,0) ist. Durch Substituieren der Tempera tur (T) in dem Gerät in die Beziehungsgleichung wird daher ein Wert des entsprechenden Temperaturkoeffizienten Kt erhal ten. Durch Multiplizieren dieses Werts mit dem bei der Tempe ratur (T = 25°C) erhaltenen Standard-Offsetverhältnis ΔWP0 kann das Standard-Offsetverhältnis ΔWP0 erhalten werden, wel ches für eine Berechnung der optimalen Schreibenergie verwen det wird.

Fig. 16 zeigt eine Beziehungsgleichung der linearen Approximation eines Zonenkorrekturkoeffizienten Ki für die Zonennummer des Offsetverhältnisses ΔWP0, das in Schritt S13 in Fig. 13 verwendet wird. Diese Beziehungsgleichung ist durch (Ki = C . i + D) bestimmt, und eine Steigung (C) und ein Kreuzungspunkt (D) mit der (y)-Achse sind als Koeffizien ten vorbereitet. Weil der Zonenkorrekturkoeffizient Ki bei der mittleren Zone Nr. (i = 6) auf 1,0 eingestellt ist, ist das Standard-Offsetverhältnis ΔWP0 bei der Zone Nr. 6 vorbe reitet. Der Zonenkorrekturkoeffizient Ki wird aus einer Be ziehungsgleichung (Ki = C . i + D) für eine beliebige Zone Nr. (i) erhalten und wird zu dem Standard-Offsetverhältnis ΔWP0 der Zone Nr. (i) multipliziert, so daß das Offsetver hältnis ΔWP0 erhalten werden kann, welches für eine Berech nung der optimalen Schreibenergie in Schritt S13 verwendet wird.

Fig. 17 zeigt eine Fläche oder einen Bereich des Mediums 72. Als ein Testschreibbereich, der für das Testschreiben zu der Zeit der Lichtemissionseinstellung der Erfindung verwen det wird, wird ein Nicht-Benutzer-Bereich 236 an der Innen seite oder ein Nicht-Benutzer-Bereich 238 an der Außenseite für einen Benutzerbereich 234 einem Energieeinstellbereich zugeordnet.

Fig. 18A und 18B zeigen den Nicht-Benutzer-Bereich 238 an der Außenseite in Fig. 17. Ein Testschreibbereich 240 ist be züglich Bereichen oder Spannen vorbestimmter Spuren T1, T2, T3, ... in dem Nicht-Benutzer-Bereich 238 festgelegt. In Schritt S1 in Fig. 13 wird daher durch Bezeichnen einer be liebigen Spuradresse und Sektornummer in dem Testschreibbe reich 240 ein Sektor bezeichnet, um das Testschreiben auszu führen. Als ein Verfahren zum Bezeichnen des Sektors, um das Testschreiben auszuführen, um zu vermeiden, daß das Test schreiben auf einen spezifizierten Sektor konzentriert wird, werden Testsektoren zufällig durch Verwenden von Zufallszah len bezeichnet oder werden Testsektoren sequentiell gemäß ei ner vorbestimmten Reihenfolge bezeichnet. Nach Abschluß der Lichtemissionseinstellung wird der Testsektor, in dem das Testschreiben durchgeführt wurde, durch Löschen zur Initiali sierung aufgezeichnet. Der Testbereich des Mediums, um das Testschreiben durchzuführen, wird ähnlich zu der Zeit der Prüfung der benachbarten Spur verwendet, welche durchgeführt wird, nachdem die Aufzeichnungsenergie durch die Lichtemissi onseinstellung erhalten wurde.

[Benachbarte Spur bestätigender Prozeß]

Fig. 19A und 19B sind Flußdiagramme für den eine benach barte Spur bestätigenden Prozeß, der mit dem Testschreiben in Schritt S5 in Fig. 11 verbunden ist. Vor dem eine benachbarte Spur bestätigenden Prozeß wird zuerst ein Offsetwert, der den optimalen Brennpunkt ergibt, durch die einen optimalen Brenn punkt detektierende Einheit 207 gesucht, die für die eine be nachbarte Spur bestätigende Einheit 205 in Fig. 6 vorgesehen ist, und wird in eine automatische Brennpunkt-Steuerschleife eingestellt. Die Funktion der einen optimalen Brennpunkt de tektierenden Einheit 207 wird durch den DSP 15 ausgeführt, der für den Controller 10 in Fig. 1 vorgesehen ist. Das heißt, der DSP 15 unterscheidet den Offsetwert, der den opti malen Brennpunkt ergibt, von dem Spurfehlersignal E2 zu die ser Zeit oder einem HF-Reproduktionssignal, das von dem De tektor 32 detektiert wird, während ein Fokussier-Offsetwert durch den Treiber 54 für das Fokussier-Stellglied 56 in dem Aus-Zustand der automatischen Brennpunkt-Steuerschleife schrittweise erhöht wird. Genauer gesagt, wird irgendeine der folgenden drei Bedingungen ausgewählt.

A) Der Offsetwert, bei dem das Spurfehlersignal E2 maxi mal wird, wird auf den optimalen Brennpunkt eingestellt.
B) Der Offsetwert, bei dem eine Amplitude des HF-Repro duktionssignals von entweder einem MO-Signal oder einem ID- Signal, das durch den Kopfverstärker 34 von dem Detektor 32 erhalten wird, maximal wird, wird auf den optimalen Brenn punkt eingestellt.
C) Der Offsetwert, bei dem das Summensignal (Ea + Eb + Ec + Ed) des 4-Spaltdetektor 46 maximal wird, 21118 00070 552 001000280000000200012000285912100700040 0002019753011 00004 20999wird auf den optimalen Brennpunkt eingestellt.

Wie oben erwähnt wurde, wird durch Einstellen des durch Suchen des optimalen Brennpunktes in Schritt S1 erhaltenen Offsetwertes in die automatische Brennpunkt-Steuerschleife und Durchführen der automatischen Brennpunktsteuerung der ei ne benachbarte Spur bestätigende Prozeß in einem Zustand ge startet, wo der Strahlfleck auf das Medium optimiert ist. In Schritt S2 wird z. B. der Testschreibbereich 240, wie in Fig. 18A gezeigt, in den Nicht-Benutzer-Bereich des Mediums 72 in Fig. 17, z. B. den Nicht-Benutzer-Bereich 238 an der äußersten Seite, eingestellt. Wie in schraffierten Gebieten dargestellt ist, wird das erste Testmuster in z. B. alle Spuren T1, T2, ... in dem Testschreibbereich 240 auf einer Sektoreinheitsba sis durch das Ansteuern der Laserdiode durch die Aufzeich nungsenergie geschrieben, die die Schreibenergie und Lösch/Hilfsenergie einschließt, welche zu dieser Zeit einge stellt waren. Zum Beispiel wird ein Längeste-Markierungs länge-Muster als ein erstes Testmuster zu dieser Zeit verwen det. In Schritt S3 wird das Reproduktionssignal durch Lesen des ersten Testmusters geprüft, das in der benachbarten Spur T2 der Bestätigungszielspur T1 geschrieben wurde. In Schritt S4 wird ein spezifizierter Sektor, z. B. ein Sektor 242-1, der Bestätigungszielspur T1 bezeichnet, und das zweite Testmuster wird eine vorbestimmte Zahl von Malen durch die Lichtemis sionsansteuerung der Laserdiode durch die gegenwärtige Auf zeichnungsenergie testweise geschrieben, um das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein eines Fehlers der Reproduktionsdaten eines Sektors 244-1 der benachbarten Spur T2 zu prüfen. Zum Beispiel wird ein Kürzeste-Markierungslänge-Muster als ein zweites Testmuster zu dieser Zeit verwendet. In Schritt S5 wird der Sektor 244-1 der benachbarten Spur T2, der dem Sek tor 242-1 der Spur T1 benachbart ist, in dem das zweite Test muster die vorbestimmte Zahl von Malen geschrieben wurde, ge lesen, wodurch das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein ei nes Datenfehlers von dem Reproduktionssignal unterschieden wird. Die Unterscheidung des Datenfehlers des Reproduktions signals in Schritt S5 wird gemäß irgendeiner der folgenden drei Bedingungen durchgeführt.

A) Wenn die Pegeländerung des Spitzendetektionssignals des reproduzierten HF-Signals geringer als der spezifizierte Wert ist, wird das Nichtvorhandensein des Datenfehlers ent schieden. Wenn detektiert wird, daß die Pegeländerung gleich oder größer als der spezifizierte Wert ist, wird das Vorhan densein des Datenfehlers entschieden.
B) Die Aufzeichnungsdaten und die Reproduktionsdaten werden auf einer Biteinheitsbasis verglichen. Wenn die Zahl von Bitfehlern geringer als ein spezifizierter Wert ist, wird das Nichtvorhandensein eines Datenfehlers bestimmt. Wenn de tektiert wird, daß sie auf den spezifizierten Wert oder mehr angestiegen ist, wird das Vorhandensein des Datenfehlers be stimmt.
C) Wenn die Zahl von ECC-Fehlern, die in einer ECC- Schaltung eines für den Controller 10 in Fig. 1 für die Re produktionsdaten vorgesehenen Formatierers korrigiert werden, geringer als z. B. ein spezifizierter Wert ist, der die Zahl korrigierbarer Fehler darstellt, wird das Nichtvorhandensein des Datenfehlers bestimmt. Wenn sie gleich oder größer als der spezifizierte Wert ist, wird das Vorhandensein des Daten fehlers entschieden.

Das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein des Datenfeh lers wird aus dem Zustand des Reproduktionssignals der be nachbarten Spur in Schritt S5 unterschieden. Wenn kein Daten fehler der benachbarten Spur in Schritt S6 vorliegt, wird die Initialisierungsaufzeichnung, um alle Spuren zu löschen (oder den Anfangswert zu überschreiben) in dem Testschreibbereich 240 in Fig. 18A durchgeführt. Danach wird in Schritt S8 die optimale Energie auf der Basis der Aufzeichnungsenergie ein gestellt, die durch das Testschreiben zu dieser Zeit bestä tigt werden konnte. Wenn das Vorhandensein des Fehlers der Reproduktionsdaten der benachbarten Spur in Schritt S6 ent schieden wird, folgt Schritt S9, und eine Prüfung wird vorge nommen, um zu sehen, ob die Energie gleich oder geringer als die zu der Zeit der Lichtemissionseinstellung in Fig. 14 er haltene untere Grenzenergie 230 ist oder nicht. Wenn sie grö ßer als die untere Grenzenergie ist, wird die Verarbeitungs routine zu Schritt S10 zurückgeführt, und die Aufzeichnungs energie wird um einen Betrag von nur einem vorbestimmten Ver hältnis α reduziert. Danach wird die Position des Bestäti gungssektors zu z. B. einem Sektor 242-2 in Fig. 18A geändert, und die Verarbeitungsroutine wird zu Schritt S4 zurückge führt. Das zweite Testmuster wird in den gewechselten oder geänderten Bestätigungssektor 242-2 durch die Lichtemissions ansteuerung der Laserdiode durch die in Schritt S10 geänderte Aufzeichnungsenergie eine spezifizierte Zahl von Malen test weise geschrieben. In den Schritten S5 und S6 wird ein be nachbarter Sektor 244-2 der benachbarten Spur T2 gelesen, und ein Datenfehler des Reproduktionssignals wird unterschieden. Wenn der Datenfehler des Reproduktionssignals der benachbar ten Spur nicht eliminiert ist, werden die gleichen Prozesse in Schritt S9 wiederholt, während die Aufzeichnungsenergie WP zu der unteren Grenzenergie oder weniger reduziert wird. Wenn kein Mediendefekt und keine spezielle Abnormität existiert, werden gewöhnlich das Testschreiben der spezifizierten Zahl von Malen des zweiten Testmusters auf den Bestätigungssektor der Schreibzielspur und die Prüfung des Sektorreproduktions signals der benachbarten Spur wiederholt, während die Auf zeichnungsenergie durch ein vorbestimmtes Verhältnis α je weils Zeit in Schritt S10 reduziert wird, so daß die Auf zeichnungsenergie, bei der die Daten des Reproduktionssignals keinen Fehler verursachen, erhalten wird. Nachdem der Test schreibbereich 240 in Schritt S7 zur Initialisierung aufge zeichnet wurde, kann die optimale Energie in Schritt S8 auf der Basis der Aufzeichnungsenergie eingestellt werden, bei der der Datenfehler des Reproduktionssignals der benachbarten Spur nicht auftrat. Wenn jedoch der Datenfehler in dem Sek torreproduktionssignal der benachbarten Spur auftritt, selbst wenn die Aufzeichnungsenergie zu der unteren Grenzenergie oder weniger in Schritt S9 reduziert ist, wird der Offsetwert durch Suchen des optimalen Brennpunkts in Schritt S12 in ei ner zu Schritt S1 ähnlichen Weise neu eingestellt. Bis die Zahl von Malen einer Ausführung einen spezifizierten Wert in Schritt S13 erreicht, wird danach die Verarbeitungsroutine zu Schritt S2 zurückgeführt, und der eine benachbarte Spur be stätigende Prozeß wird vom Beginn an wiederholt. In dem Fall, in dem der Datenfehler der benachbarten Spur nicht eliminiert werden kann, selbst wenn der eine benachbarte Spur bestäti gende Prozeß wiederholt wird, bis die Zahl von Malen einer Ausführung des eine benachbarte Spur bestätigenden Prozesses den spezifizierten Wert von Schritt S2 erreicht, geht die Verarbeitungsroutine von Schritt S13 zu Schritt S14 weiter.

In diesem Fall werden die Prozesse wie eine Abnormität oder abnorm beendet.

In Fig. 18A ist die optimale Energie auf der Basis der Aufzeichnungsenergie eingestellt, bei der der Datenfehler des Reproduktionssignals infolge des Testschreibens der ersten und zweiten Testmuster auf zwei benachbarte Spuren, z. B. die Spuren T1 und T2, des Testschreibbereichs 240 als Ziele nicht auftrat. Wie in Fig. 18B dargestellt ist, kann jedoch die op timale Energie auch auf der Basis der Aufzeichnungsenergie eingestellt werden, bei der der Datenfehler des Reprodukti onssignals infolge des Testschreibens nicht auftrat, worin drei Spuren, z. B. die Spuren T1 bis T3, in dem Testbereich bezeichnet sind. Das heißt, in Fig. 18B wird das erste Test muster in die mittlere Spur T2 unter zumindest drei benach barten Spuren T1, T2 und T3 durch die Lichtemissionsansteue rung der Laserdiode durch die Aufzeichnungsenergie testweise geschrieben, die die vorbestimmte Löschenergie und Schreib energie einschließt, und anschließend wird das zweite Test muster sequentiell in die beiden Spuren T1 und T3 auf beiden Seiten testweise geschrieben. Danach wird die benachbarte Spur T2, in der das erste Testmuster zuerst testweise ge schrieben wurde, reproduziert, und das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein eines Datenfehlers wird geprüft. Wenn es keinen Datenfehler gibt, wird die Aufzeichnungsenergie, bei der das Testschreiben durchgeführt wurde, auf die optimale Aufzeichnungsenergie eingestellt. In Fig. 18B ist auch in zu Fig. 18A ähnlicher Weise das erste Testmuster in alle drei benachbarte Spuren T1, T2 und T3 testweise geschrieben, und anschließend wird das zweite Testmuster sequentiell in spezi fizierte Sektoren der beiden Spuren T1 und T3 auf beiden Sei ten testweise geschrieben. Danach wird der Sektor der benach barten Spur T2, in den das erste Testmuster zuerst geschrie ben wurde und welcher zu dem Sektor benachbart ist, in dem das zweite Testmuster geschrieben wurde, reproduziert, und das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein eines Datenfehlers wird geprüft. Wenn es keinen Datenfehler gibt, wird die Auf zeichnungsenergie, bei der das Testschreiben durchgeführt wurde, ebenfalls auf die optimale Aufzeichnungsenergie einge stellt.

Fig. 20A bis 20E sind Zeitdiagramme, die das erste Test muster, welches in dem eine benachbarte Spur bestätigenden Prozeß in Fig. 19A und 19B verwendet wird, und ihre licht emittierende Energie bezüglich der PWM-Aufzeichnung, als ein Beispiel, des Kassettenmediums mit 540 MB oder 640 MB des Di rekt-Überschreib-Korrespondenz-Typs zeigen. Fig. 20A bis 20E zeigen die Schreibdaten des ersten Testmusters, welches zu erst in den ganzen Testschreibbereich 240 testweise geschrie ben wird, PWM-Daten, einen ersten Schreibpuls, einen zweiten Schreibpuls und eine lichtemittierende Energie. Wie aus den PWM-Daten von Fig. 20B offenkundig verstanden wird, wird das Längste-Markierungslänge-Muster als ein erstes Testmuster verwendet. Das Längste-Markierungslänge-Muster ist "1111...110", wenn es durch ein Bitmuster als Schreibdaten dargestellt ist. In den PWM-Daten von Fig. 20B sind ein er ster Schreibpuls von Fig. 20C und anschließend die zweiten Schreibpulse von Fig. 20D der Zahl entsprechend der längsten Markierungslänge angeordnet. Die PWM-Daten werden zuerst ge mäß der lichtemittierenden Energie, wie in Fig. 20E darge stellt, in alle Spuren in dem Testschreibbereich 240 testwei se geschrieben.

Fig. 21A bis 21E zeigen Schreibdaten des zweiten Test musters, welches eine spezifizierte Zahl von Malen in den spezifizierten Sektor der Bestätigungszielspur testweise ge schrieben wird, PWM-Daten, einen ersten Schreibpuls, einen zweiten Schreibpuls und eine lichtemittierende Energie. Wie sich aus den PWM-Daten von Fig. 21B offenkundig versteht, wird das Kürzeste-Markierungslänge-Muster als ein zweites Testmuster verwendet. Das heißt, in den PWM-Daten ist eine kürzeste Markierung mit einer Breite von einem Bit an der Kopfposition einer Musterlänge angeordnet. Die PWM-Daten sind "10000...0", wenn sie durch ein Bitmuster der Schreibdaten von Fig. 21A dargestellt sind. Wenn die PWM-Daten des Kürze ste-Markierungslänge-Musters geschrieben werden, wird ein er ster Schreibpuls von Fig. 21C erzeugt, und der zweite Schreibpuls von Fig. 21D wird nicht erzeugt. Somit ist er wie eine lichtemittierende Energie von Fig. 21E im wesentlichen eine Hilfsenergie (AP + RP) und ein Teil, in welchem sie um nur die Schreibenergie WP1 entsprechend der kürzesten Markie rungslänge entsprechend dem ersten Schreibpuls erhöht wird, existiert in der Mitte der lichtemittierenden Energie. Obwohl "1000...0" als ein Bitmuster in dem Kürzeste-Markierungs länge-Muster als ein zweites Testmuster in Fig. 21A bis 21E verwendet wird, kann auch ein Bitmuster aus lauter Nullen (alle 0) verwendet werden, in dem die Markierungslänge gleich 0 ist. In einem solchen Bitmuster aus lauter Nullen ent spricht die lichtemittierende Energie zu der Bestätigungs zielspur einem Gleichstrom-Lichtemissionsmuster der Lösch energie (EP + RP). In Anbetracht des Betriebs des Geräts wird die Gleichstrom-Lichtemittierende-Energie verwendet, in der die höchste Löschenergie auf einen Anfangswert eingestellt ist. Bezüglich des Falles, in welchem das Gleichstrom-Licht emissionsmuster der Löschenergie auf das zweite Testmuster ebenso eingestellt ist, wenn es einen Datenfehler in den Re produktionsdaten der benachbarten Spur gibt, wird die Lö schenergie EP, in der es keinen Datenfehler des Reprodukti onssignals gibt, durch Reduzieren der Löschenergie durch ein spezifiziertes Verhältnis α jeweils in Schritt S10 erhalten. In Schritt S8 werden die andere erste Schreibenergie und zweite Schreibenergie für die erhaltene Löschenergie EP ein gestellt. In Fig. 18A und 18B wird das Längste-Markierungs länge-Muster als ein erstes Testmuster in den ganzen Test schreibbereich 240 testweise geschrieben. In dem eine benach barte Spur bestätigenden Prozeß ist es jedoch auch möglich, in einer solchen Weise zu konstruieren, daß das erste Testmu ster in zumindest zwei benachbarte Spuren testweise geschrie ben wird, danach ein spezifizierter Sektor einer der Spuren als ein Bestätigungssektor bezeichnet wird, das zweite Test muster eine spezifizierte Zahl von Malen testweise geschrie ben wird und ein Datenfehler des benachbarten Sektors geprüft wird. Ferner ist es auch im Gegensatz dazu möglich, in einer solchen Weise zu konstruieren, daß das Kürzeste-Markierungs länge-Muster zuerst als ein erstes Testmuster in den ganzen Testschreibbereich 240 testweise geschrieben wird, danach ein spezifizierter Sektor einer spezifizierten Spur als ein Be stätigungssektor bezeichnet wird, das Längste-Markierungs länge-Muster als ein zweites Testmuster eine spezifizierte Zahl von Malen testweise geschrieben wird und ein Datenfehler des benachbarten Sektors geprüft wird. Fig. 20A bis 20E und Fig. 21A bis 21E zeigen das Testschreiben gemäß der PWM- Aufzeichnung als Beispiele. Bezüglich der PPM-Aufzeichnung von Fig. 5A bis 5J ist es jedoch auch möglich, in einer sol chen Weise zu konstruieren, daß ähnlich das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein eines Datenfehlers der benachbarten Spur auch durch das Testschreiben unter Verwendung des Läng ste-Markierungslänge-Musters und des Kürzeste-Markierungs länge-Musters als erste und zweite Testmuster geprüft werden kann.

Fig. 22 ist ein Flußdiagramm für einen Aufzeichnungsener gie-Einstellprozeß, nämlich einen eine Energietabelle bilden den Prozeß, der zuletzt in Schritt S8 in Fig. 19 nach Ab schluß des eine benachbarte Spur bestätigenden Prozesses durch das Testschreiben ausgeführt wird. Ein Fall der MO- Kassette, die gelöscht werden muß, ist als ein Beispiel dar gestellt. In dem eine Energietabelle bildenden Prozeß wird eine Standard-Energietabelle der Löschenergie EP und ersten Schreibenergie WP1 jeder Zone aus der Temperatur in dem Gerät in Schritt S1 berechnet. In Schritt S2 wird eine Schreibener gie (WP)i der Zonennummer (i) eingestellt. Das optimale Stan dardverhältnis WP0, das in der Schreibenergieeinstellung er halten wurde, wird zu einer Standard-Schreibenergie DWPi mul tipliziert, und eine Temperaturkorrektur wird ferner ausge führt, wodurch die Schreibenergie berechnet wird. In Schritt S3 wird eine Prüfung vorgenommen, um zu sehen, ob das Medium ein PWM-Medium ist. Im Fall des PWM-Mediums folgt Schritt S4. Ein Energieverhältnis (WP2/WP1) der Zonennummer (i) wird mit einer Schreibenergie (WP1)i entsprechend der in Schritt S2 erhaltenen ersten Schreibenergie multipliziert, wodurch eine zweite Schreibenergie (WP2)i berechnet wird. Im Endschritt S5 wird eine Löschenergie (EP)i der Zonennummer (i) eingestellt. Berechnet man die Löschenergie, wird ein Wert, der durch Sub trahieren von 1,0 von dem Standardverhältnis WP0 der in der Schreibenergieeinstellung abgeleiteten optimalen Schreibener gie erhalten wird, mit einem Koeffizienten 0,7 multipliziert, um einen Fluktuationsbetrag zu unterdrücken, wird 1,0 zu ei nem Multiplikationsergebnis addiert und wird ein resultieren der Wert zu einer Standard-Löschenergie DEPi multipliziert. Eine Temperaturkorrektur durch die gemessene Temperatur zu dieser Zeit wird offensichtlich ausgeführt. Im Fall des Plat tenmediums des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs, das nicht gelöscht werden muß, wird, um eine Hilfsenergie (AP)i der Zonennummer (i) einzustellen, ein Wert, der durch Subtra hieren von 1,0 von dem Standardverhältnis WP0 der durch die Schreibenergieeinstellung abgeleiteten optimalen Schreib energie erhalten wurde, mit einem Koeffizienten 0,7 multipli ziert, um den Fluktuationsbetrag zu unterdrücken, wird ein Multiplikationsergebnis zu 1,0 addiert, wird ein resultieren der Wert mit einer Standard-Hilfsenergie DAPi multipliziert, und wird eine Temperaturkorrektur durch die gemessene Tempe ratur zu dieser Zeit durchgeführt. Durch einen solchen eine Energietabelle bildenden Prozeß in Fig. 22 werden die Lösch/Hilfsenergie-Tabelle 218, Erste-Schreibenergie-Tabelle 220 und Zweite-Schreibenergie-Tabelle 222 gebildet, die in der Speichertabelle-Speichereinheit 210 in Fig. 6 dargestellt sind. Die der Zonennummer entsprechende Leistung oder Energie wird als Antwort auf einen folgenden Schreibzugriff von dem übergeordneten Gerät ausgelesen, und eine Temperaturkorrektur gemäß der Temperatur in dem Gerät zu dieser Zeit wird durch geführt. Danach werden die DAC-Anweisungswerte für die Regi ster in der Laserdiode-Steuerschaltung in Fig. 3 berechnet und eingestellt, wodurch die Lichtemissionssteuerung der La serdiode 100 durchgeführt wird.

Gemäß der Erfindung, wie oben erwähnt, wird, nachdem das erste Testmuster in den Nicht-Benutzer-Bereich des Mediums testweise geschrieben wurde, das zweite Testmuster eine spe zifizierte Zahl von Malen bei der gleichen Position einer vorbestimmten Spur durch die in dem Testschreiben verwendete Aufzeichnungsenergie oder durch eine höhere Energie als diese testweise geschrieben, und das Vorhandensein oder Nichtvor handensein des Datenfehlers wird aus dem Reproduktionssignal bei der Position der benachbarten Spur unterschieden. Falls es keinen Datenfehler gibt, wird eine solche Energie als eine geeignete Aufzeichnungsenergie eingestellt. Wenn es den Da tenfehler gibt, wird das Testschreiben durchgeführt, während die Aufzeichnungsenergie reduziert wird, und die optimale Aufzeichnungsenergie, bei der in der benachbarten Spur kein Datenfehler verursacht wird, kann eingestellt werden. Die Einstellung der Aufzeichnungsenergie, wenn das Spurintervall des Mediums verengt ist und eine hohe Dichte erreicht ist, ist optimiert, und die optimale Aufzeichnung kann realisiert werden, ohne einen Fehler in den Daten der benachbarten Spur zu verursachen. Wenn der Datenfehler der benachbarten Spur durch das Testschreiben unterschieden wird, wird durch Suchen des optimalen Brennpunktes ein Datenfehler der benachbarten Spur, der auftritt, wenn der Brennpunkt abgelenkt wird oder er abweicht und der Strahldurchmesser zunimmt, von der Ein stellung der optimalen Energie unterschieden. Das Vorhanden sein oder Nichtvorhandensein des Datenfehlers der benachbar ten Spur infolge einer Größe der Aufzeichnungsenergie kann genau erkannt oder unterschieden werden.

Beliebige Modifikationen der vorliegenden Erfindung sind innerhalb des Umfangs der Aufgabe der Erfindung möglich. Die vorliegende Erfindung ist nicht auf die MO-Kassettenmedien und die Kassettenmedien vom Direkt-Überschreib-Korrespondenz- Typ begrenzt, die in der Ausführungsform gezeigt wurden, son dern kann auch für jedes andere geeignete optische Plattenme dium verwendet werden, wie z. B. eine DVD und dergleichen. Ferner ist die Erfindung nicht auf die in der Ausführungsform gezeigten numerischen Werte begrenzt.

Claims

1. Optisches Speichergerät mit:
einer Laserdiode, um einen Lichtstrahl zu emittieren,
mit einer Aufzeichnungsenergie-Einstelleinheit zum Ent scheiden einer optimalen Aufzeichnungsenergie durch Einstel len der lichtemittierenden Energie der lichtemittierenden Diode und
einer eine benachbarte Spur bestätigenden Einheit zum Entscheiden eines Anfangswertes der Aufzeichnungsenergie, die bei einem Testschreiben auf der Basis der optimalen Aufzeich nungsenergie verwendet wird, zum sequentiellen Testschreiben eines ersten Testmusters und eines zweiten Testmusters auf zumindest zwei benachbarte Spuren durch eine Lichtemissions ansteuerung der Laserdiode durch eine vorbestimmte lichtemit tierende Energie, anschließenden Reproduzieren der benachbar ten Spur, in der das erste Testmuster zuerst testweise ge schrieben wurde, Prüfen des Vorhandenseins oder Nichtvorhan denseins eines Datenfehlers und Einstellen der in dem Test schreiben verwendeten lichtemittierenden Energie auf eine Aufzeichnungsenergie, wenn es keinen Datenfehler gibt.

2. Gerät nach Anspruch 1, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das erste Testmuster auf eine Vielzahl benachbarter Spuren eines Mediums testweise schreibt, an schließend das zweite Testmuster bei der gleichen Position der gleichen Spur unter der Vielzahl von Spuren eine vorbe stimmte Zahl von Malen testweise schreibt, danach die benach barte Spurposition reproduziert, wo das erste Testmuster zu erst testweise geschrieben wurde, und den Datenfehler prüft.

3. Gerät nach Anspruch 1, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das Testschreiben in einem Teil eines vom Benutzer ungenutzten Bereichs durchführt, der in einem innersten oder äußersten Rand eines Mediums existiert, und das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein des Datenfehlers der benachbarten Spur unterscheidet.

4. Gerät nach Anspruch 1, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit einen Aufzeichnungsenergie-Anfangswert einstellt, der geringfügig höher als die in der Aufzeich nungsenergie-Einstelleinheit entschiedene optimale Aufzeich nungsenergie ist, und das Testschreiben ausführt.

5. Gerät nach Anspruch 1, worin die Aufzeichnungsenergie- Einstelleinheit die lichtemittierende Energie der lichtemit tierenden Diode einstellt und die optimale Aufzeichnungsener gie bestimmt, während das Testschreiben auf ein Medium durch geführt wird.

6. Gerät nach Anspruch 1, worin die Aufzeichnungsenergie- Einstelleinheit auf eine solche Weise konstruiert ist, daß, während die Aufzeichnungsenergie der Laserdiode Schritt für Schritt nach und nach reduziert wird, ein vorbestimmtes Test muster auf ein Medium testweise geschrieben wird und danach das vorbestimmte Testmuster reproduziert und mit einem ur sprünglichen Testmuster verglichen wird, die Zahl von Malen einer Nichtübereinstimmung der Daten gezählt wird, eine Auf zeichnungsenergie, bei der die Zahl von Malen einer Nicht übereinstimmung einen vorbestimmten Schwellenwert überschrei tet, als eine untere Grenzaufzeichnungsenergie detektiert wird und ein durch Addieren eines vorbestimmten Offset zu der unteren Grenzaufzeichnungsenergie erhaltener Wert als eine optimale Aufzeichnungsenergie bestimmt wird.

7. Gerät nach Anspruch 1, worin, nachdem die Reproduktion und Prüfung der benachbarten Spur normal beendet wurden, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit alle Spuren zur Initialisierung aufzeichnet (löscht), in denen das Test schreiben durchgeführt wurde.

8. Gerät nach Anspruch 1, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit detektiert, daß eine Pegeländerung eines Spitzendetektionssignals eines von der benachbarten Spur re produzierten HF-Signals gleich oder größer als ein spezifi zierter Wert ist, dadurch das Vorhandensein des Datenfehlers bestimmend.

9. Gerät nach Anspruch 1, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit Aufzeichnungsdaten und Reproduktionsda ten der benachbarten Spur vergleicht und detektiert, daß die zahl von Bitfehlern auf einen spezifizierten Wert oder mehr angestiegen ist, dadurch das Vorhandensein des Datenfehlers bestimmend.

10. Gerät nach Anspruch 1, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit detektiert, daß die Zahl von ECC- Korrekturfehlern für Reproduktionsdaten der benachbarten Spur auf einen spezifizierten Wert oder mehr angestiegen ist, da durch das Vorhandensein des Datenfehlers bestimmend.

11. Gerät nach Anspruch 1, worin, wenn der Datenfehler der benachbarten Spur durch das Testschreiben bestimmt ist, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das Test schreiben wiederholt, während die Energie zu einer vorbe stimmten unteren Grenzaufzeichnungsenergie nach und nach re duziert wird, dadurch eine Aufzeichnungsenergie erhaltend, bei der die Daten der benachbarten Spur keinen Fehler verur sachen.

12. Gerät nach Anspruch 11, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das Vorhandensein oder Nichtvorhan densein des Datenfehlers der benachbarten Spur durch Durch führen des Testschreibens bei den zweiten und nachfolgenden Malen prüft, während eine Position auf dem Medium geändert wird.

13. Gerät nach Anspruch 11, worin in dem Fall, in dem die Daten der benachbarten Spur einen Fehler verursachen, selbst wenn das Testschreiben wiederholt wird, indem die Energie zu der unteren Grenzaufzeichnungsenergie nach und nach reduziert wird, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit den Pro zeß, um die Aufzeichnungsenergie zu erhalten, vom Beginn an wieder ausführt, indem das Testschreiben wieder bei einer verschiedenen Position auf einem Medium durchgeführt wird.

14. Gerät nach Anspruch 13, worin, wenn der Prozeß, um die Aufzeichnungsenergie zu erhalten, vom Beginn an wieder ausgeführt wird, die eine benachbarte Spur bestätigende Ein heit einen optimalen Brennpunkt sucht und einen Offsetwert einer automatischen Brennpunktsteuerung optimiert und danach den Prozeß wieder ausführt.

15. Gerät nach Anspruch 14, worin, wenn eine Position ei ner Objektivlinse eingestellt wird, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit einen Offsetwert, der eine Linsenpositi on ergibt, wo ein von dem Rückkehrlicht des Mediums detek tiertes Spurfehlersignal maximal ist, auf einen optimalen Brennpunkt einstellt.

16. Gerät nach Anspruch 12, worin, wenn eine Position ei ner Objektivlinse eingestellt wird, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit einen Offsetwert, der eine Linsenpositi on ergibt, wo ein von dem Rückkehrlicht des Mediums detek tiertes HF-Reproduktionssignal maximal ist, auf einen optima len Brennpunkt einstellt.

17. Gerät nach Anspruch 14, worin, wenn eine Position ei ner Objektivlinse eingestellt wird, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit einen Offsetwert, der eine Linsenpositi on ergibt, wo ein Summensignal eines 4-Spaltdetektors, um Rückkehrlicht des Mediums in ein elektrisches Signal umzuwan deln, maximal ist, auf einen optimalen Brennpunkt einstellt.

18. Gerät nach Anspruch 1, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit ein Längeste-Markierungslänge- Muster als das erste Testmuster auf alle Spuren in einem Testbereich eines Mediums testweise schreibt.

19. Gerät nach Anspruch 18, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit eine spezifizierte Sektorposition einer spezifizierten Spur in dem Testbereich des Mediums be zeichnet, in dem das Längste-Markierungslänge-Muster testwei se geschrieben wurde, und ein Kürzeste-Markierungslänge- Muster als das zweite Testmuster eine spezifizierte Zahl von Malen testweise schreibt.

20. Gerät nach Anspruch 18, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit eine spezifizierte Sektorposition einer spezifizierten Spur in dem Testbereich des Mediums be zeichnet, in dem das Längste-Markierungslänge-Muster testwei se geschrieben wurde, und ein Gleichstrom-Lichtemissions muster, in welchem eine höchste Energie beim Betrieb des Ge räts auf einen Anfangswert eingestellt ist, als das zweite Testmuster eine spezifizierte Zahl von Malen testweise schreibt.

21. Gerät nach Anspruch 1, worin, wenn eine Änderung in der Temperatur in dem Gerät gleich oder größer als ein spezi fizierter Wert ist, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das Testschreiben durchführt und die Aufzeichnungs energie neu einstellt.

22. Gerät nach Anspruch 1, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit eine verstrichene Zeit von einem vorherigen Testschreiben überwacht, das Testschreiben nach dem Verstreichen einer vorbestimmten Testschreib-Gültigkeits zeit wieder durchführt und die Aufzeichnungsenergie neu ein stellt.

23. Gerät nach Anspruch 1, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das Testschreiben gemäß einer An weisung von einem übergeordneten Gerät durchführt und die Aufzeichnungsenergie neu einstellt.

24. Gerät nach Anspruch 1, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit die Aufzeichnungsenergie durch das Testschreiben neu einstellt, während jedesmal eine Position auf einem Medium geändert wird, um testweise beschrieben zu werden.

25. Optisches Speichergerät mit:
einer Laserdiode, um einen Lichtstrahl zu emittieren,
einer Aufzeichnungsenergie-Einstelleinheit zum Entschei den einer optimalen Aufzeichnungsenergie durch Einstellen der lichtemittierenden Energie der lichtemittierenden Diode und
einer eine benachbarte Spur bestätigenden Einheit, zum Entscheiden eines Anfangswertes der Aufzeichnungsenergie, die bei einem Testschreiben auf der Basis der optimalen Aufzeich nungsenergie verwendet wird,
zum sequentiellen Testschreiben eines ersten Testmusters auf eine mittlere Spur und eines zweiten Testmusters auf zwei Spuren auf beiden Seiten unter zumindest drei benachbarten Spuren durch eine Lichtemissionsansteuerung der Laserdiode durch eine vorbestimmte lichtemittierende Energie, anschlie ßendem Reproduzieren der benachbarten Spur, in der das erste Testmuster testweise geschrieben wurde, Prüfen des Vorhanden seins oder Nichtvorhandenseins eines Datenfehlers und Ein stellen der in dem Testschreiben verwendeten lichtemittieren den Energie auf eine Aufzeichnungsenergie, wenn es keinen Da tenfehler gibt.

26. Gerät nach Anspruch 25, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das erste Testmuster auf eine Viel zahl von benachbarten Spuren eines Mediums testweise schreibt, anschließend das zweite Testmuster bei der gleichen Position einer gleichen Spur unter der Vielzahl von Spuren eine vorbestimmte Zahl von Malen testweise schreibt, danach die benachbarte Spurposition reproduziert, wo das erste Test muster zuerst testweise geschrieben wurde, und den Datenfeh ler prüft.

27. Gerät nach Anspruch 25, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das Testschreiben in einem Teil ei nes vom Benutzer ungenutzten Bereichs durchführt, der in ei nem innersten oder äußersten Rand eines Mediums existiert, und das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein des Datenfeh lers der benachbarten Spur unterscheidet.

28. Gerät nach Anspruch 25, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit einen Aufzeichnungsenergie-Anfangs wert einstellt, der geringfügig höher als die in der Auf zeichnungsenergie-Einstelleinheit entschiedene optimale Auf zeichnungsenergie ist, und das Testschreiben ausführt.

29. Gerät nach Anspruch 25, worin die Aufzeichnungsener gie-Einstelleinheit die lichtemittierende Energie der licht emittierenden Diode einstellt und die optimale Aufzeichnungs energie bestimmt, während das Testschreiben auf ein Medium durchgeführt wird.

30. Gerät nach Anspruch 25, worin die Aufzeichnungsener gie-Einstelleinheit in einer solchen Weise konstruiert ist, daß, während die Aufzeichnungsenergie der Laserdiode Schritt für Schritt nach und nach reduziert wird, ein vorbestimmtes Testmuster auf ein Medium testweise geschrieben wird und da nach das vorbestimmte Testmuster reproduziert und mit einem ursprünglichen Testmuster verglichen wird, die Zahl von Malen einer Nichtübereinstimmung der Daten gezählt wird, eine Auf zeichnungsenergie, bei der die Zahl von Malen einer Nicht übereinstimmung einen vorbestimmten Schwellenwert überschrei tet, als eine untere Grenzaufzeichnungsenergie detektiert wird und ein durch Addieren eines vorbestimmten Offset zu der unteren Grenzaufzeichnungsenergie erhaltener Wert als eine optimale Aufzeichnungsenergie bestimmt wird.

31. Gerät nach Anspruch 25, worin, nachdem die Reproduk tion und Prüfung der benachbarten Spur normal beendet wurden, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit alle Spuren zur Initialisierung aufzeichnet (löscht), in denen das Test schreiben durchgeführt wurde.

32. Gerät nach Anspruch 25, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit detektiert, daß eine Pegeländerung eines Spitzendetektionssignals eines von der benachbarten Spur reproduzierten HF-Signals gleich oder größer als ein spezifizierter Wert ist, dadurch das Vorhandensein des Daten fehlers bestimmend.

33. Gerät nach Anspruch 25, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit Aufzeichnungsdaten und Reprodukti onsdaten der benachbarten Spur vergleicht und detektiert, daß die Zahl von Bitfehlern auf einen spezifizierten Wert oder mehr angestiegen ist, dadurch das Vorhandensein des Datenfeh lers bestimmend.

34. Gerät nach Anspruch 25, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit detektiert, daß die Zahl von ECC- Korrekturfehlern für Reproduktionsdaten der benachbarten Spur auf einen spezifizierten Wert oder mehr angestiegen ist, da durch das Vorhandensein des Datenfehlers bestimmend.

35. Gerät nach Anspruch 25, worin, wenn der Datenfehler der benachbarten Spur durch das Testschreiben bestimmt ist, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das Test schreiben wiederholt, während die Energie zu einer vorbe stimmten unteren Grenzaufzeichnungsenergie nach und nach re duziert wird, dadurch eine Aufzeichnungsenergie erhaltend, bei der die Daten der benachbarten Spur keinen Fehler verur sachen.

36. Gerät nach Anspruch 35, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das Vorhandensein oder Nichtvorhan densein des Datenfehlers der benachbarten Spur durch Ausfüh ren des Testschreibens bei den zweiten und folgenden Malen prüft, während eine Position auf einem Medium geändert wird.

37. Gerät nach Anspruch 35, worin in dem Fall, in dem die Daten der benachbarten Spur einen Fehler verursachen, selbst wenn das Testschreiben wiederholt wird, indem die Energie zu der unteren Grenzaufzeichnungsenergie nach und nach reduziert wird, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit den Pro zeß, um die Aufzeichnungsenergie zu erhalten, vom Beginn an wieder ausführt, indem das Testschreiben wieder bei einer verschiedenen Position auf einem Medium durchgeführt wird.

38. Gerät nach Anspruch 37, worin, wenn der Prozeß, um die Aufzeichnungsenergie zu erhalten, vom Beginn an wieder ausgeführt wird, die eine benachbarte Spur bestätigende Ein heit einen optimalen Brennpunkt sucht und einen Offsetwert einer automatischen Brennpunktsteuerung optimiert und danach den Prozeß wieder ausführt.

39. Gerät nach Anspruch 38, worin, wenn eine Position ei ner Objektivlinse eingestellt wird, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit einen Offsetwert, der eine Linsenpositi on ergibt, wo ein von einem Rückkehrlicht des Mediums detek tiertes Spurfehlersignal maximal ist, auf einen optimalen Brennpunkt einstellt.

40. Gerät nach Anspruch 36, worin, wenn eine Position ei ner Objektivlinse eingestellt wird, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit einen Offsetwert, der eine Linsenpositi on ergibt, wo ein von dem Rückkehrlicht des Mediums detek tiertes HF-Reproduktionssignal maximal ist, auf einen optima len Brennpunkt einstellt.

41. Gerät nach Anspruch 38, worin, wenn eine Position ei ner Objektivlinse eingestellt wird, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit einen Offsetwert, der eine Linsenpositi on ergibt, wo ein Summensignal eines 4-Spaltdetektors, um Rückkehrlicht des Mediums in ein elektrisches Signal umzuwan deln, maximal ist, auf einen optimalen Brennpunkt einstellt.

42. Gerät nach Anspruch 25, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit ein Längeste-Markierungslänge- Muster als das erste Testmuster auf alle Spuren in einem Testbereich eines Mediums testweise schreibt.

43. Gerät nach Anspruch 42, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit eine spezifizierte Sektorposition einer spezifizierten Spur in dem Testbereich des Mediums be zeichnet, in dem das Längste-Markierungslänge-Muster testwei se geschrieben wurde, und ein Kürzeste-Markierungslänge- Muster als das zweite Testmuster eine spezifizierte Zahl von Malen testweise schreibt.

44. Gerät nach Anspruch 42, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit eine spezifizierte Sektorposition einer spezifizierten Spur in dem Testbereich des Mediums be zeichnet, in dem das Längste-Markierungslänge-Muster testwei se geschrieben wurde, und ein Gleichstrom-Lichtemissions muster, in dem eine höchste Energie beim Betrieb des Geräts auf einen Anfangswert eingestellt ist, als ein zweites Test muster eine spezifizierte Zahl von Malen testweise schreibt.

45. Gerät nach Anspruch 25, worin, wenn eine Änderung in der Temperatur in dem Gerät gleich oder größer als ein spezi fizierter Wert ist, die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das Testschreiben durchführt und die Aufzeichnungs energie neu einstellt.

46. Gerät nach Anspruch 25, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit eine verstrichene Zeit von einem vorherigen Testschreiben überwacht, das Testschreiben nach dem Verstreichen einer vorbestimmten Testschreib-Gültigkeits zeit wieder durchführt und die Aufzeichnungsenergie neu ein stellt.

47. Gerät nach Anspruch 25, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit das Testschreiben gemäß einer An weisung von einem übergeordneten Gerät durchführt und die Aufzeichnungsenergie neu einstellt.

48. Gerät nach Anspruch 25, worin die eine benachbarte Spur bestätigende Einheit die Aufzeichnungsenergie durch das Testschreiben neu einstellt, während jedesmal eine Position auf einem Medium geändert wird, um testweise beschrieben zu werden.