JP3883100B2 - トラッキング制御方法及び記憶装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はトラッキング制御方法及び記憶装置に係り、特に所望の記録及び／又は再生マージンで光記録媒体に対して情報の記録及び／又は再生を行うためのトラッキング制御方法及びそのようなトラッキング制御方法を採用する光ディスク装置等の記憶装置に関する。
【０００２】
光磁気ディスク装置では、光磁気ディスクのランドに対して情報を記録及び／又は再生（記録／再生）する構成のものに加え、光磁気ディスクのランド及びグルーブの両方に情報を記録／再生する構成のものが提案されている。光磁気ディスクのランド及びグルーブの両方に情報を記録／再生する、所謂ランド・グルーブ記録方式を採用することにより、記録密度を増大することができる。
【０００３】
【従来の技術】
光磁気ディスクに代表される、ランド・グルーブ記録方式を採用する狭トラックピッチを有する光記録媒体では、隣接トラックに書き込まれている信号による信号干渉により、目的トラックの信号再生性能が劣化してしまう可能性がある。
【０００４】
この信号干渉の再生時の要因の１つとして、媒体記録面（反射面）に対する光軸の半径方向傾き、即ち、ラジアルチルトが知られている。ラジアルチルトがあると、光ビームに収差が発生して、隣接トラックの信号の干渉を受けやすくなる。通常、ラジアルチルトが小さい状態では、トラッキングエラー信号（ＴＥＳ）の中心が、読み取りエラーレートの最小点となるため、トラッキング目標位置をＴＥＳの中心とすれば良い。これに対し、ラジアルチルトが大きい状態では、トラッキング目標位置をＴＥＳの中心からどちらか一方にずらした点が、読み取りエラーレートの最小点となることが知られている。
【０００５】
従来の光記録媒体においては、比較的トラックピッチが大きいため、トラッキング目標位置をＴＥＳの中心としたままでも、十分な記録及び／又は再生マージン（記録／再生マージン）があった。しかし、光記録媒体の大容量化と共に、狭トラックピッチ化が進められると、ラジアルチルトの影響が更に大きくなることが予想される。
【０００６】
これらの問題を解決する手段として、光学ヘッドと光記録媒体との間の相対的な位置や角度を機械的に補正するチルト補正機構等の研究も行われている。しかし、チルト補正機構等の新たな機構を追加することは、記憶装置の構成や制御を複雑化することになり、記憶装置が高価になってしまう。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
光記録媒体の狭トラックピッチ化に伴い、ラジアルチルトの影響を更に受けやすくなり、従来の記憶装置では記録／再生マージンが著しく損なわれる可能性があるという問題があった。又、チルト補正機構を設けることは、記憶装置の構成や制御を複雑化すると共に、装置を高価にしてしまうという問題もあった。
【０００８】
そこで、本発明は、チルト補正機構等を設けることなく、所望の記録／再生マージンを確保することのできるトラッキング制御方法及び記憶装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記の課題は、本発明の第１の方法により達成できる。即ち、トラッキング目標位置をオフセットさせる手段と、テストライト用ビット誤り個数（読み取りエラーレート）を測定する手段を備えた記憶装置において、テストライト領域において、連続３トラック以上に渡ってデータを書き込み、両側データ書き込み済みトラックに挟まれた中央のトラックにおいて、トラッキング目標位置をオフセットさせながら、読み取りエラーレートを測定する。読み取りエラーレートは、最適トラッキング目標位置を中心として、正負にトラッキング目標位置のオフセットを増加させることで悪化する。そして、トラッキング目標位置対エラーレートの関係をプロットすれば、略Ｕ字状のカーブを描く。例えばあるエラーレート規定値を超えるトラッキング目標位置２点の中心を検出し、その結果をトラッキング目標位置の最適オフセットとしてメモリに記憶する。そして、以降の再生処理時は、このトラッキング目標位置の最適オフセットをサーボループに与えて再生を行う。
【００１０】
上記第１の方法において、連続３トラック以上に渡ってデータを書き込むが、その時の書き込みパワーを、テストライトによって求められた最適書き込みパワーに対して規定量増加させたパワーとすることで、信号干渉を発生させやすくすると共に、略Ｕ字状のカーブを狭めて、中心をより際立たせることもできる。この場合、少なくとも読み取りエラーを挟む両側トラックは、その増加パワーで書き込む。
【００１１】
上記の如く信号干渉を発生させやすくするために、最適再生パワーに対して規定量パワーを増加させても良い。
【００１２】
最適書き込みパワーに対して規定量増加させたパワーとは、事前に既知となっている書き込みテスト用トラックとユーザトラックとの間の最適書き込みパワー差近傍とすることができる。或いは、ライトリトライ処理で書き込みパワーを増減させ、その増加幅分だけ最適書き込みパワーを大きくしても良い。これにより、最適書き込みパワーを、実際にユーザデータが書き込まれるユーザトラックでの隣接トラックにおける信号もれ込み量の確認にも使用できる。
【００１３】
従来のテストライト処理は、最適書き込みパワーを求めるために行われ、テストトラックで書き込みパワー対読み取りエラーレートを測定することによって、書き込みパワー対読み取りエラーレートの略Ｕ字状のカーブを検出している。ここで、略Ｕ字状のカーブの中心を最適書き込みパワーとし、最適書き込みパワーに対して書き込みパワーを減じていったときの、エラーレートが大きくなり始める直前のパワーを最低書き込みパワーとして記憶する。又、書き込みパワーを規定量増加させて記録したデータにて、最適トラッキング目標位置を求めたときの略Ｕ字状のカーブの幅が、規定幅よりも狭かった場合又は規定エラーレート以下にならなかった場合には、最適書き込みパワーを小さくし、そのパワーに対して規定量パワーを増加させた書き込みパワーでデータを書き込み、再度測定し直す動作を行っても良い。最適書き込みパワーは、テストライト処理で求まった最低書き込みパワーまで小さくすることができる。逆に、略Ｕ字状のカーブの幅が、規定幅よりも広すぎた場合には、両側トラック書き込み時に増加させる規定量パワーを更に大きくしてデータを書き込み、再度測定をし直せば良い。
【００１４】
読み取りエラーレートの測定時に、最適再生パワーに対して規定量パワーを増加させているが、最適トラッキング目標位置を求めたときの略Ｕ字状のカーブの幅が、規定幅よりも狭かった場合又は規定エラーレート以下にならなかった場合には、再生パワーを小さくすることも可能である。逆に、略Ｕ字状のカーブの幅が規定幅よりも広すぎた場合には、再生パワーを大きくすることもできる。
【００１５】
上記の如き測定によって得られた最適トラッキング目標位置は、再生時の最適条件であるが、予め同結果の逆符合側にオフセットさせた状態で書き込み動作を行うことにより、再生時の最適トラッキング目標位置をより中心よりに設定することができる。この時の書き込み時のオフセット量は、上記第１の方法で得られた最適トラッキング目標位置の逆符号をそのまま加算するのではなく、ある規定の比率又は規定量減じた値を加算すると良い。
【００１６】
最適トラッキング目標位置の測定は、光記録媒体のゾーン毎、又は、複数ゾーン群を1エリアとしたエリア単位で行い、書き込み又は再生処理において、夫々のゾーン又はエリアに対応した測定結果をメモリに格納しておき読み出して用いるようにしても良い。
【００１７】
更に、光記録媒体の１回転における、夫々の回転角に対応したトラッキング目標位置の最適オフセットをメモリに記憶して補正をするようにしても良い。この場合、同一回転角度に相当するセクタ単位、又は複数セクタをセクタ群 (規定回転角度単位) として管理し、夫々のセクタ又はセクタ群に対して最適オフセットを測定し、光記録媒体の１回転に対応するテーブル形式でメモリに記憶する。そして、光記録媒体の１回転における補正処理では、テーブル形式でメモリに記憶した階段的なトラッキング目標位置の最適オフセットが滑らかに連続的に補正されるような制御を行うことが可能である。
【００１８】
光記録媒体の１回転における、夫々の回転角に対応したトラッキング目標位置の最適オフセットの遷移は、光記録媒体の面振れからも推定できる。この場合、フォーカス制御量に対応するフォーカスアクチュエータの変位量を検出し、その変位量の遷移状態から最適オフセットを推定することが可能である。フォーカスアクチュエータの変位量は、フォーカスアクチュエータの特性、例えば駆動電流対変位量特性を用いて、フォーカス制御中のフォーカスアクチュエータの駆動電流から算出して求めることが可能である。そして、光記録媒体の１回転における補正処理では、予め設定された光記録媒体の面振れに対するトラッキング目標位置の最適オフセット補正係数を用いて補正する。この場合、前述の如き測定／補正動作は不要となり、測定時間が短縮される。更に、この場合の補正量の中心値は、トラッキング目標位置の最適オフセット測定を光記録媒体の１回転の倍数にわたって測定したときの測定結果とする。或いは、補正量の中心は、フォーカス制御中のフォーカスアクチュエータの直流的な駆動電流から算出して求めることが可能な、フォーカスアクチュエータの絶対位置とすることもできる。この場合、予め基準となる光記録媒体を使用して測定された校正用データを、工場での記憶装置の立ち上げ時等に測定してメモリに記憶しておくことが必要である。
【００１９】
トラッキング目標位置の最適オフセットの測定処理は、夫々のエリアにおいて時間及び温度管理がなされ、前回実行時からの経過時間及び／又は温度変化量が規定値以上に達すると、再度測定し直すようにすることが望ましい。特に光記録媒体のロード直後は、温度が正しく計測できない可能性があるため、経過時間管理における基準値を短く設定し、ロード直後の方が比較的頻繁に再調整が実行されるようにしておく。
【００２０】
再生時にエラーが発生した場合は、トラッキング目標位置のオフセットを最適値から正側又は負側に規定量だけ変化させて再度再生処理を行うことも可能である。そして、このようなリトライ処理において、正側又は負側にオフセットさせて再生が成功したときの回数を夫々計数して統計的処理を行い、成功率に応じてトラッキング目標位置の最適オフセットを正側又は負側にずらす学習処理を行うことも可能である。尚、学習処理は、書き込み後の確認（ベリファイ）処理では計数を行わず、統計処理に反映されないようにする。
【００２１】
書き込み後の確認処理において、トラッキング目標位置の最適オフセットに対してある一定量減じたオフセット又はある一定比率で減じたオフセットにより、最適オフセットを補正しても良い。
【００２２】
トラッキング目標位置の最適オフセットを用いて再生処理をする際、シークの目的トラックアドレスに応じたエリアのトラッキング目標位置の最適オフセットを設定することができる。尚、オフセットの加算は、シーク終了後、規定のオフセットに達するまで、徐々にオフセットを増加させることで、トラッキング制御が不安定にならないようにする。又、シーク開始時には、シーク引き込み性能を損なわない範囲でオフセットを与え、トラッキング目標位置の最適オフセットまでの残り分をシーク動作終了後、規定のオフセットに達するまで、徐々にオフセットを増加させることも可能である。この場合、目標トラックのトラッキング目標位置の最適オフセットがシーク引き込み性能を損なわない範囲であれば、シーク開始時にそのトラッキング目標位置の最適オフセットが加算され、シーク後のオフセットの加算は不要となる。尚、シーク後、徐々にオフセットを増加させることで、シーク開始から、オフセットの加算が終了するまでの時間が増加し、見かけ上のシーク時間が長くなる。よって、そのトラッキング目標位置の最適オフセットの加算中の時間を実シーク時間に足し合わせ、回転補正計算に使用することが望ましい。
【００２３】
従って、本発明によれば、チルト補正機構等を設けることなく、所望の記録／再生マージンを確保し、高密度記録を実現することのできるトラッキング制御方法及び記憶装置を実現可能である。
【００２４】
【発明の実施の形態】
本発明になるトラッキング制御方法及び本発明になる記憶装置の各実施例を、以下図面と共に説明する。
【００２５】
【実施例】
図１は、記憶装置の第１実施例の構成を示すブロック図である。同図に示すように、光ディスク装置は、大略コントロールユニット１１０とエンクロージャ１１１とからなる。コントロールユニット１１０は、光ディスク装置の全体的な制御を行うＭＰＵ１１２、ホスト装置（図示せず）との間でコマンド及びデータのやり取りを行うインタフェース１１７、光ディスク（図示せず）に対するデータのリード／ライトに必要な処理を行う光ディスクコントローラ（ＯＤＣ）１１４、デジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）１１６及びメモリ１１８を有する。メモリ１１８は、ＭＰＵ１１２、ＯＤＣ１１４及びインタフェース１１７で共用され、例えばダイナミックランダムアクセスメモリ（ＤＲＡＭ）や、制御プログラムやフラグ情報等を格納する不揮発性メモリ等を含む。水晶振動子３０１は、ＭＰＵ１１２と接続されている。
【００２６】
ＯＤＣ１１４には、フォーマッタ１１４−１と、誤り訂正符号（ＥＣＣ）処理部１１４−２とが設けられている。ライトアクセス時には、フォーマッタ１１４−１がＮＲＺライトデータを光ディスクのセクタ単位に分割して記録フォーマットを生成し、ＥＣＣ処理部１１４−２がセクタライトデータ単位にＥＣＣを生成して付加すると共に、必要に応じて巡回冗長検査（ＣＲＣ）符号を生成して付加する。更に、ＥＣＣ処理部１１４−２はＥＣＣの符号化が済んだセクタデータを例えば１−７ランレングスリミテッド（ＲＬＬ）符号に変換する。
【００２７】
リードアクセス時には、セクタデータに対して１−７ＲＬＬの逆変換を行い、次にＥＣＣ処理部１１４−２でＣＲＣを行った後にＥＣＣによる誤り検出及び誤り訂正を行う。更に、フォーマッタ１１４−１でセクタ単位のＮＲＺデータを連結してＮＲＺリードデータのストリームとしてホスト装置に転送させる。
【００２８】
ＯＤＣ１１４に対しては、リード／ライト大規模集積回路（ＬＳＩ）１２０が設けられ、リード／ライトＬＳＩ１２０は、ライト変調部１２１、レーザダイオード制御回路１２２、リード復調部１２５及び周波数シンセサイザ１２６を有する。レーザダイオード制御回路１２２の制御出力は、エンクロージャ１１１側の光学ユニットに設けられたレーザダイオードユニット１３０に供給される。レーザダイオードユニット１３０は、レーザダイオード１３０−１とモニタ用ディテクタ１３０−２とを一体的に有する。ライト変調部１２１は、ライトデータをピットポジションモジュレーション（ＰＰＭ）記録（マーク記録とも言う）又はパルスウィドスモジュレーション（ＰＷＭ）記録（エッジ記録とも言う）でのデータ形式に変換する。
【００２９】
レーザダイオードユニット１３０を使用してデータの記録再生を行う光ディスク、即ち、書き換え可能な光磁気（ＭＯ）カートリッジ媒体として、本実施例では、光ディスク上のマークエッジの有無に対応してデータを記録するＰＷＭ記録が採用されている。又、光ディスクの記録フォーマットは、超解像技術（ＭＳＲ）を使用した２.３ＧＢフォーマットであり、ＺＣＡＶ方式を採用している。光ディスク装置に光ディスクをロードすると、先ず光ディスクの識別（ＩＤ）部をリードしてそのピット間隔からＭＰＵ１１２で光ディスクの種別（３．５インチサイズ、１２８ＭＢ，２３０ＭＢ，５４０／６４０ＭＢ，１．３ＧＢ，２．３ＧＢ，...といった記憶容量、種別等）を認識し、種別の認識結果をＯＤＣ１４に通知し、種別に応じた各種パラメータの設定がなされる。
【００３０】
ＯＤＣ１１４に対するリード系統としては、リード／ライトＬＳＩ１２０が設けられ、リード／ライトＬＳＩ１２０には上記の如くリード復調部１２５と周波数シンセサイザ１２６とが内蔵される。リード／ライトＬＳＩ１２０に対しては、エンクロージャ１１１に設けたＩＤ／ＭＯ用ディテクタ１３２によるレーザダイオード１３０−１からのレーザビームの戻り光の受光信号が、ヘッドアンプ１３４を介してＩＤ信号（エンボスピット信号）及びＭＯ信号として入力されている。
【００３１】
リード／ライトＬＳＩ１２０のリード復調部１２５には、自動利得制御（ＡＧＣ）回路、フィルタ、セクタマーク検出回路等の回路機能が設けられ、リード復調部１２５は入力されたＩＤ信号及びＭＯ信号からリードクロック及びリードデータを生成してＰＷＭデータを元のＮＲＺデータに復調する。又、ゾーンＣＡＶを採用しているため、ＭＰＵ１１２からリード／ライトＬＳＩ１２０に内蔵された周波数シンセサイザ１２６に対してゾーン対応のクロック周波数を発生させるための分周比の設定制御が行われる。
【００３２】
周波数シンセサイザ１２６は、プログラマブル分周器を備えたフェーズロックドループ（ＰＬＬ）回路であり、光ディスク上のゾーン位置に応じて予め定めた固有の周波数を有する再生用基準クロックをリードクロックとして発生する。即ち、周波数シンセサイザ１２６は、プログラマブル分周器を備えたＰＬＬ回路で構成され、通常モードでは、ＭＰＵ１１２がゾーン番号に応じて設定した分周比ｍ／ｎに従った周波数ｆｏの記録/再生用基準クロックを、ｆｏ＝（ｍ／ｎ）・ｆｉに従って発生する。
【００３３】
ここで、分周比ｍ／ｎの分母の分周値ｎは、光ディスクの種別に応じた固有の値である。又、分周比ｍ／ｎの分子の分周値ｍは、光ディスクのゾーン位置に応じて変化する値であり、各光ディスクに対してゾーン番号に対応した値のテーブル情報として予め準備されている。更に、ｆｉは、周波数シンセサイザ１２６の外部で発生した記録/再生用基準クロックの周波数を示す。
【００３４】
リード／ライトＬＳＩ１２０で復調されたリードデータは、ＯＤＣ１１４のリード系統に供給され、１−７ＲＬＬの逆変換を行った後にＥＣＣ処理部１１４−２の符号化機能によりＣＲＣ及びＥＣＣ処理を施され、ＮＲＺセクタデータに復元される。次に、フォーマッタ１１４−１でＮＲＺセクタデータを繋げたＮＲＺリードデータのストリームに変換し、メモリ１１８を経由してインタフェース１１７からホスト装置に転送される。
【００３５】
ＭＰＵ１１２に対しては、ＤＳＰ１１６を経由してエンクロージャ１１１側に設けた温度センサ１３６の検出信号が供給されている。ＭＰＵ１１２は、温度センサ１３６で検出した光ディスク装置内部の環境温度に基づき、レーザダイオード制御回路１２２におけるリード、ライト及びイレーズの各発光パワーを最適値に制御する。
【００３６】
ＭＰＵ１１２は、ＤＳＰ１６を経由してドライバ１３８によりエンクロージャ１１１側に設けたスピンドルモータ１４０を制御する。本実施例では、光ディスクの記録フォーマットがＺＣＡＶ方式であるため、スピンドルモータ１４０は例えば３６３７ｒｐｍの一定速度で回転される。
【００３７】
又、ＭＰＵ１１２は、ＤＳＰ１１６を経由してドライバ１４２を介してエンクロージャ１１１側に設けた電磁石１４４を制御する。電磁石１４４は、光ディスク装置内にロードされた光ディスクのビーム照射側と反対側に配置されており、記録時及び消去時に光ディスクに外部磁界を供給する。ＭＳＲを用いた１.３ＧＢ又は２．３ＧＢフォーマットのＭＳＲ光ディスクでは、再生を行う際にも外部磁界を供給する。
【００３８】
ＤＳＰ１１６は、光ディスクに対してレーザダイオード１３０からのビームの位置決めを行うためのサーボ機能を備え、目的トラックにシークしてオントラックするためのシーク制御部及びオントラック制御部として機能する。このシーク制御及びオントラック制御は、ＭＰＵ１１２による上位コマンドに対するライトアクセス又はリードアクセスに並行して同時に実行することができる。
【００３９】
ＤＳＰ１１６のサーボ機能を実現するため、エンクロージャ１１１側の光学ユニットに光ディスクからのビーム戻り光を受光するフォーカスエラー信号（ＦＥＳ）用ディテクタ１４５を設けている。ＦＥＳ検出回路１４６は、ＦＥＳ用ディテクタ１４５の受光出力からＦＥＳＥ１を生成してＤＳＰ１１６に入力する。
【００４０】
エンクロージャ１１１側の光学ユニットには、光ディスクからのビーム戻り光を受光するトラッキングエラー信号（ＴＥＳ）用ディテクタ１４７も設けられている。ＴＥＳ検出回路１４８は、ＴＥＳ用ディテクタ１４７の受光出力からＴＥＳＥ２を生成してＤＳＰ１１６に入力する。ＴＥＳＥ２は、トラックゼロクロス（ＴＺＣ）検出回路１５０にも入力され、ＴＺＣパルスＥ３が生成されてＤＳＰ１１６に入力される。
【００４１】
エンクロージャ１１１側には、光ディスクに対してレーザビームを照射する対物レンズの位置を検出するレンズ位置センサ１５４が設けられており、レンズ位置センサ１５４からのレンズ位置検出信号（ＬＰＯＳ）Ｅ４はＤＳＰ１１６に入力される。ＤＳＰ１１６は、光ディスク上のビームスポットの位置を制御するため、ドライバ１５８，１６２，１６６を介してフォーカスアクチュエータ１６０、レンズアクチュエータ１６４及びボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１６８を制御して駆動する。
【００４２】
図２は、エンクロージャ１１１の概略構成を示す断面図である。図２に示すように、ハウジング１６７内にはスピンドルモータ１４０が設けられ、インレットドア１６９側からＭＯカートリッジ１７０を挿入することで、ＭＯカートリッジ１７０に収納された光ディスク（ＭＯディスク）１７２のハブがスピンドルモータ１４０のターンテーブルに装着されて光ディスク１７２が光ディスク装置にロードされる。
【００４３】
ロードされたＭＯカートリッジ１７０内の光ディスク１７２の下側には、ＶＣＭ１６４により光ディスク１７２のトラックを横切る方向に移動自在なキャリッジ１７６が設けられている。キャリッジ１７６上には対物レンズ１８０が搭載され、固定光学系１７８に設けられているレーザダイオード１３０−１からのビームを立ち上げミラー１８２を介して入射して光ディスク１７２の記録面にビームスポットを結像する。
【００４４】
対物レンズ１８０は、図１に示すエンクロージャ１１１のフォーカスアクチュエータ１６０により光軸方向に移動制御され、又、レンズアクチュエータ１６４により光ディスク１７２のトラックを横切る半径方向に例えば数十トラックの範囲内で移動可能である。このキャリッジ１７６に搭載されている対物レンズ１８０の位置が、図１のレンズ位置センサ１５４により検出される。レンズ位置センサ１５４は、対物レンズ１８０の光軸が直上に向かう中立位置でレンズ位置検出信号をゼロとし、光ディスク１７２のアウタ側への移動とインナ側への移動に対して夫々異なる曲性の移動量に応じたレンズ位置検出信号Ｅ４を出力する。
【００４５】
図３は、本発明になる記憶装置の第１実施例の要部を示すブロック図である。記憶装置の第１実施例では、本発明が特に特開平１１−１６２５１号公報にて提案されているような、記録（ライト）パワーを増減させて書き込みが成功するまでリトライを行うリトライ処理を行う機能を備えた光磁気ディスク装置に適用されている。又、記憶装置の第１実施例は、本発明になるトラッキング制御方法の第１実施例を採用する。
【００４６】
図３において、光磁気ディスク装置は、大略ＭＰＵ１１２、ディジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）１１６、レーザダイオードを含む光学ヘッド３、フォトディテクタ部４、アンプ・フィルタ・オフセット加算回路５，６、二値化回路７、ドライバ（駆動回路）１６２，１５８、アクチュエータ１６４，１６０、メモリ１１８及び温度センサ１３６からなる。
【００４７】
ＭＰＵ１１２は、光磁気ディスク装置全体の制御を行う。メモリ１１８は、ＭＰＵ１１２が実行するプログラムやテーブル等の各種データを格納するＲＯＭ領域と、ＭＰＵ１１２が実行する計算の中間結果等を格納するＲＡＭ領域を含む。温度センサ１３６は、光磁気ディスク装置内の温度を検出して、温度検出信号をＭＰＵ１１２に供給する。
ＤＳＰ１１６は、大略アナログ・ディジタル変換器（ＡＤＣ）２１、アンプ２２、オフセット加算回路２３、トラッキング制御部２４、スイッチ回路２５、ディジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）２６、カウンタ２７、速度検出部２８、シーク制御部２９、トラッキングエラー信号（ＴＥＳ）振幅・オフセット検出回路３１、ＤＡＣ３２、ＡＤＣ４１、アンプ４２、フォーカス制御部４３、フォーカスアクチュエータ変位検出部４４、感度補正回路４５、スイッチ４６及びＤＡＣ２７からなる。光磁気ディスク１７２は、装着脱可能であっても良い。尚、図３では、説明の便宜上、ＤＳＰ１１６のハードウェア及びファームウェアのうち、本発明になるトラックッキング制御に直接関係する部分のみを示す。
【００４８】
尚、光磁気ディスク駆動系、読み出し／書き込み（リード／ライト）信号処理系等は、本発明の要旨と直接関係がないので、図３ではこれらの図示は省略する。又、光磁気ディスク装置の基本構成は、図３に示す基本構成に限定されず、ＤＳＰ１１６等のプロセッサが後述する動作と同等な動作を行える構成であれば、種々の周知の基本構成を用いることができる。図３中、図１及び図２と同一部分には同一符号を付し、その説明は省略する。
【００４９】
図３において、光学ヘッド３により光磁気ディスク９上に光ビームを照射して、光磁気ディスク１７２から反射された光ビームのうち、トラッキング制御に用いられる成分は、フォトディテクタ部４のＴＥＳ検出部により検出され、トラッキングエラー信号（ＴＥＳ）がアンプ・フィルタ・オフセット加算回路５を介して、二値化回路７及びＤＳＰ１１６内のＡＤＣ２１に供給される。光学ヘッド３及びフォトディテクタ部４は、図１に示すレーザダイオードユニット１３０、ＩＤ／ＭＯ用ディテクタ１３２、ヘッドアンプ１３４、ＦＥＳ用ディテクタ１４５及びＴＥＳ用ディテクタ１４７に対応する。アンプ・フィルタ・オフセット加算回路５は、アンプ（増幅）機能と、フィルタ機能と、オフセット加算機能とを備えている。ＡＤＣ２１は、ディジタル信号に変換されたＴＥＳをアンプ２２及びＴＥＳ振幅・オフセット検出回路３１に供給する。ＴＥＳ振幅・オフセット検出回路３１は、ＴＥＳの正側のピーク値及び負側のピーク値を検出して、ＭＰＵ１１２に供給する。
【００５０】
ＭＰＵ１１２は、ＴＥＳ振幅・オフセット検出回路３１から得られるＴＥＳの正側のピーク値及び負側のピーク値に基いて、ＴＥＳの中心付近でトラッキング制御が行われるようにＤＳＰ１１６内のＤＡＣ３２を介してオフセットをアンプ・フィルタ・オフセット加算回路５に供給して、ＴＥＳのオフセットを補正すると共に、ＴＥＳの振幅が規定振幅となるように、ＤＳＰ１１６内のアンプ２２のゲインを制御する。これにより、アンプ２２からは、ＴＥＳのレベルに対する変位量が正規化された、正規化ＴＥＳが得られてオフセット加算回路２３に供給される。
【００５１】
アンプ２２からの正規化ＴＥＳは、オフセット加算回路２３において後述するようなオフセットを加算された後、位相補償フィルタの機能を含むトラッキング制御部２４に供給される。トラッキング制御部２４は、スイッチ回路２５、ＤＡＣ２６及びドライバ１６２を介してトラック（レンズ）アクチュエータ１６４を周知の方法で制御することにより、光学ヘッド３、即ち、光ビームのトラッキング制御を行う。
【００５２】
又、アンプ・フィルタ・オフセット加算回路５からのＴＥＳは、二値化回路７により二値化されてＤＳＰ１１６内のカウンタ２７に供給される。速度検出部２８は、カウンタ２７の出力に基いてシーク速度を検出して、シーク制御部２９は、検出されたシーク速度に基いてシーク速度制御用の信号としてスイッチ２５に供給される。スイッチ２５は、ＭＰＵ１１２からの信号に基いて、シーク速度制御時にはシーク制御部２９からの信号を出力し、トラッキングオン時にはトラッキング制御部２４からの信号を出力するよう切替制御される。トラッキングオフ時には、両者の信号出力が切断される。
【００５３】
他方、光磁気ディスク１７２から反射された光ビームのうち、フォーカス制御に用いられる成分は、フォトディテクタ部４のＦＥＳ検出部により検出され、フォーカスエラー信号（ＦＥＳ）がアンプ・フィルタ・オフセット加算回路６を介して、ＤＳＰ１１６内のＡＤＣ４１に供給される。アンプ・フィルタ・オフセット加算回路６は、アンプ・フィルタ・オフセット加算回路５と同様の、アンプ（増幅）機能と、フィルタ機能と、オフセット加算機能とを備えている。ＡＤＣ４１は、ディジタル信号に変換されたＦＥＳをアンプ４２を介してフォーカス制御部４３に供給する。
【００５４】
フォーカスアクチュエータ変位検出部４４は、フォーカス制御部４３の出力に基いてフォーカス制御中のフォーカスアクチュエータ１６０の変位、即ち、光磁気ディスク１７２の面振れ量を検出し、感度補正回路４５に供給する。感度補正回路４５からの面振れ量に応じた感度補正値は、オフセット加算回路２３に供給される。又、フォーカス制御部４３の出力は、スイッチ回路４６、ＤＡＣ４７及びドライバ１５８を介してフォーカスアクチュエータ１６０を周知の方法で制御することにより、光学ヘッド３、即ち、光ビームのフォーカス制御を行う。スイッチ回路４６は、ＭＰＵ１１２からの信号に基いて、フォーカス制御を行わない場合にはフォーカス制御部４３の出力をＤＡＣ４７に供給しないように切替制御される。
【００５５】
次に、トラッキング目標位置の最適オフセットを用いた本実施例のトラッキング制御の概略について説明する。後述するトラッキング目標位置の最適オフセットを求める処理は、ロードされた記録媒体の媒体種別を識別し、３．５インチ２．３ＧＢ以上の高密度記録媒体である場合に、テストライト処理と同期して行われる。尚、２．３ＧＢ未満の低密度記録媒体の場合は、トラッキング目標位置の最適オフセットは求めない。
【００５６】
最初に、トラッキング目標位置のオフセットを、以下の如く検出する。先ず、例えば特開平９−２９３２５９号公報、特開平１１−７３６６９号公報や特開平１１−１６２５１号公報等にて提案されている如きテストライト処理で求められた最適記録（ライト）パワーで、テスト用トラックの1本の書き込みテスト用トラックにデータを書き込む。光磁気ディスク１７２上のテスト用トラックは、テストライト処理及びテストリード処理により光ビームのパワーを調整するために設けられた少なくとも１つ以上の領域であり、ユーザデータが書き込まれることはない。
【００５７】
次に、最適記録パワーでデータが書かれた両隣のトラックに、最適記録パワーに対して規定比率分パワーが大きくなる計数を乗算し、得られた最適記録パワーより大きい記録パワーを使用して、隣接トラックにより影響しやすい書き込み条件でデータを書き込む。この時、処理時間の短縮を目的に、３本のトラックとも大きい記録パワーで書き込んでも良い。又、ランド・グルーブ記録方式を採用する光磁気ディスク１７２の場合は、両隣にデータ書き込み済みトラックがランド再生の場合もグルーブ再生の場合も存在するように、最低でも4トラック分のデータを書き込む必要がある。
【００５８】
この時の記録パワー増加は、書き込みテスト用トラックとユーザトラック間の最適記録パワーの差に対応する程度にするか、或いは、書き込みリトライ処理で記録パワーを増減させる際の増加分程度にする。上記の如き処理により、実際にユーザデータが書き込まれるユーザトラックでの、隣接トラックにおける信号の漏れ込み量を確認することができる。
【００５９】
次に、オフセット加算回路２３に供給するオフセットデータを、ＴＥＳの正側（例えば、光磁気ディスク１７２のアウタ方向）にトラッキングするように徐々に増加させながらデータを再生し、ＯＤＣ１４のＥＣＣ処理部１４−２を利用して光磁気ディスク１７２に書き込んだライトデータを読み出して得たリードデータをビットコンペア又はバイトコンペアした結果から計算して、夫々のオフセットを加算した時のビット又はバイト誤り個数又はビット又はバイトエラーレート又はＥＣＣ訂正バイト数を測定する。このときに再生（リード）パワーを規定量又は規定比率だけ増加させ、隣接トラックの影響をより受けやすい状態にして測定すると、トラッキング目標位置のオフセットの振り幅（変化させる量）を小さくすることができる。
【００６０】
便宜上、以下の説明では、ビット誤り個数を測定した場合について述べる。
【００６１】
図４は、上記の如き測定により得られるトラッキング目標位置のオフセットとビット誤り個数との関係を示す図である。同図中、縦軸はビット誤り個数を任意単位で示し、横軸は光磁気ディスク１７２上の位置を示し、左方向は光磁気ディスク１７２のインナ方向、右方向は光磁気ディスク１７２のアウタ方向を示す。又、同図中、ビット誤り個数がある規定値以上になるポイントを、オフセットａとする。更に、オフセット加算回路２３に供給するオフセットデータを、ＴＥＳの負側（例えば光磁気ディスク１７２のインナ方向）にトラッキングするように徐々に増加させながらデータを再生し、同様にビット誤り個数がある規定値以上になるポイントをオフセットｂとする。そして、オフセットaとオフセットbの中点を、ビット誤り個数の最小点とし、トラッキング目標位置の最適オフセットとする。
【００６２】
図４では、測定結果が略Ｕ字であるが、例えば略レ字になる場合等を想定して、次のようにビット誤り個数の最小点を検出しても良い。つまり、上記正側と負側にオフセットを加算してビット誤り個数を測定した時の夫々の測定結果をメモリ１１８に保存し、負側に最も大きくオフセットさせた時をオフセット０の基準とする。オフセット０から正側のオフセット最大値、即ち、オフセットnまでのビット誤り個数を積算し、ビット誤り個数の平均Ａｖｅを求めることで、「（オフセット０の時のオフセット加算値）＋（測定時のオフセット変化幅×Ａｖｅ）＝最小ビット誤り個数となるオフセット」としても良い。
【００６３】
上記によらず、何らかの手法でデータ再生特性が最適になると思われる、トラッキング目標位置のオフセットを、トラッキング目標位置の最適オフセットとしても良い。
【００６４】
尚、オフセットを変化させてもビット誤り個数が規定値よりも多い場合、或いは、ビット誤り個数が規定値よりも小さいが規定値を満足するオフセット幅が狭い場合には、記録パワー又は再生パワーを小さくして再度測定を行う。再生パワーの下限は、最適再生パワーまでとし、オフセット加算状態でビット誤り個数を測定する再測定処理を行う。記録パワーの下限は、上記テストライト処理で得られる最低書き込み可能パワーに対して、上記記録パワー増加分又は記録パワー増加比率分、記録パワーを大きくしたパワーとして、再度の書き込みからの再測定処理を行う。
【００６５】
逆に、ビット誤り個数が規定値よりも小さいオフセットが、あるオフセット幅の規定値よりも広すぎる場合は、記録パワー又は再生パワーを大きくして再度測定処理を行う。記録パワーも再生パワーもあるところまで増加させても、ビット誤り個数が規定値よりも小さいオフセットが、オフセット幅の規定値よりも広すぎる場合は、トラッキング目標位置の最適オフセットは０とする。
【００６６】
上記の処理を、光磁気ディスク１７２のゾーン毎又はゾーン群毎に管理して実行する。又、上記の処理は、光磁気ディスク１７２の温度変化に依存するため、それらのゾーンに対して実行時間及び／又は実行温度がメモリ１１８に記憶され、現在時間及び／又は現在温度が過去に実行された時と規定値以上の差があれば、再度測定処理をやり直すようにする。尚、光磁気ディスク１７２を光磁気ディスク装置にロードした直後は、時間に対する光磁気ディスク１７２の温度変化量が比較的急峻であるため、実行時間間隔を短く設定し、ロードからの経過時間が長くなるほど、実行時間間隔が長くなるようにする。
【００６７】
再生時のトラッキング目標位置の最適オフセットは、上記の如き処理により求まるが、上記測定結果は、記録時にも使用することができる。記録時には、再生時のトラッキング目標位置の最適オフセットとは逆極性で、トラッキング目標位置のオフセットを設定することで、上記測定処理で得られた再生時のトラッキング目標位置の最適オフセットを小さくすることができる。書き込み時にトラッキング目標位置のオフセットを補正する際、経験的に再生時の方がオフセットの影響が小さく、あくまでもトラックセンタ付近で書き込みを行った方が危険度が小さいため、再生時のトラッキング目標位置の最適オフセットよりも小さなオフセットとする。
【００６８】
又、書き込み時にトラッキング目標位置をオフセットさせた場合は、再生時のトラッキング目標位置の最適オフセットはオフセット加算回路２３で加算されるトラッキング目標位置の最適オフセットよりも小さくなるはずであるため、トラッキング目標位置の最適オフセットを小さく補正する必要がある。
【００６９】
上記では、光磁気ディスク１７２の１回転単位のトラッキング目標位置の最適オフセットについて述べた。つまり、光磁気ディスク１７２の１回転単位の測定では、１回転の整数倍（上記の場合は１倍）のトラックにデータを書き込み、光磁気ディスク１７２の１回転の整数倍のデータ再生誤りをオフセットを正／負側に段階的に変えることで測定し、トラッキング目標位置の最適オフセットを求める。
【００７０】
以下では、更に光磁気ディスク１７２の1回転内の回転角に相当する単位で測定を行う場合について説明する。この場合、光磁気ディスク１７２の１回転内の回転角を分割する形で区切られるセクタ単位、又は、セクタ群単位で、オフセットに対するデータ再生誤りを測定する。実際の書き込み処理は、上記１回転単位の測定の場合と同様で良い。つまり、管理対象をセクタ単位、又は、セクタ群単位とするだけで良い。この時、各データは、階段上の不連続なものとなるが、再生時等に使用される場合は、そのデータを連続的なデータに補正して滑らかにオフセットが加算されるようにすれば良い。
【００７１】
図５は、光磁気ディスク１７２の1回転内の回転角に相当する単位で測定を行う場合を説明する図である。同図中、（ａ）は光磁気ディスク１７２の回転に同期した回転同期信号、（ｂ）はセクタ番号、（ｃ）は１回転内のデータ測定結果、（ｄ）は１回転内の補正後のデータを示す。
【００７２】
トラッキング目標位置の最適オフセットを求める他の手法として、光磁気ディスク１７２の１回転内の面振れ量とチルト量とが比例関係にあるという特性を利用しても良い。フォーカスアクチュエータ１６０が図６に示す特性を有する場合の動作を、図７と共に説明する。図６中、（ａ）はフォーカスアクチュエータ１６０の変位とアクチュエータ駆動電流周波数との関係、即ち、アクチュエータ駆動伝達関数（ばね支持型）を示し、縦軸も横軸も任意単位で示す。又、図６中、（ｂ）はフォーカスアクチュエータ１６０の位相と共振周波数との関係を示す図であり、縦軸も横軸も任意単位で示す。
【００７３】
光磁気ディスク１７２の面振れ量は、フォーカス制御中のフォーカスアクチュエータ１６０の変位量、即ち、フォーカス制御量を検出することによって知ることができる。フォーカスアクチュエータ１６０の変位量は、フォーカスサーボ中のフォーカスアクチュエータ１６０に対する駆動電流指示値を、アクチュエータ駆動伝達関数を用いることで計算により求めることができる。ばね支持型のフォーカスアクチュエータ１６０の場合、駆動電流指示値は次のアクチュエータ駆動伝達関数を用いて計算できる。ここで、Ｘｆはフォーカスアクチュエータ１６０の変位量、Ｇｆはフォーカスアクチュエータ１６０のアクチュエータ駆動伝達関数、Ｉｆはフォーカスアクチュエータ１６０の駆動電流、Ｃｆはフォーカスアクチュエータ１６０のコイル推力係数、ｍｆはフォーカスアクチュエータ１６０の質量、Ｄｆはフォーカスアクチュエータ１６０のダンパ係数、Ｋｆはフォーカスアクチュエータ１６０のばね係数である。又、ｓは、ラプラス変換により微分方程式を解く際に一般的に用いられる演算子であり、その周波数特性を求める時は、ｓ＝ｊω＝ｊ２πｆ（ωは角周波数（ｒａｄ/ｓ），ｆは周波数（Ｈｚ））として計算する。
【００７４】
Ｘｆ＝Ｇｆ・Ｉｆ＝Ｃｆ／（ｍｆ・ｓ２+Ｄｆ・ｓ+Ｋｆ）
フォーカスアクチュエータ１６０の変位量を、光磁気ディスク１７２の１回転中常に計算し、ある係数を乗じた出力をトラッキング目標位置の最適オフセットとして補正すれば良い。
【００７５】
図７中、（ａ）は光磁気ディスク１７２の回転に同期した回転同期信号、（ｂ）は１回転内の面振れ量、（ｃ）はフォーカスアクチュエータ１６０の駆動電流、（ｄ）は１回転内の補正後のデータを示す。
【００７６】
尚、この時、フォーカスアクチュエータ１６０の変位量の交流成分を検出し、その交流成分にのみ対応させたトラッキング目標位置の最適オフセット遷移を、前出１回転単位の測定で得られた１回転の平均的トラッキング目標位置の最適オフセットに加算することで補正しても良い。又、１回転単位の測定は行わず、フォーカスアクチュエータ１６０の変位量そのものに対応させたトラッキング目標位置の最適オフセットのみで補正しても良い。このときは、フォーカスアクチュエータ１６０の中立点と光磁気ディスク１７２との間の距離が既知の状態で、オフセットの校正を行っておく必要がある。工場での光磁気ディスク装置の立ち上げ時等にオフセットの校正を行いメモリ１１８に記憶しておく場合、記憶された値との相対変化量を補正する。
【００７７】
以上説明した通り、トラッキング目標位置のオフセットとデータ再生誤りについては密接な関係があることがわかる。ここで、再生時に読み取りエラーが発生した時のリトライ処理において、トラッキング目標位置のオフセットを正方向／負方向に増減させることで、読み取りエラーが発生したセクタが読めるようになる可能性がある。よって、再生時に読み取りエラーが発生した時のリトライ処理時に、トラッキング目標位置のオフセットを正方向／負方向に増減させるモードを設定しておくことが望ましい。そして、オフセットを正方向に振ったときに成功したのか、或いは負方向に振ったときに成功したのかを、夫々の場合について計数し、その計数結果をある規定のタイミングで統計処理し、成功比率の高い方向になるようにトラッキング目標位置の最適オフセットを記憶し直す学習処理を行うことが有効である。学習処理の概念については、例えば特開２０００−１８２２９２号公報に記録／再生パワー学習法が提案されており、記録／再生パワーパラメータをトラッキング目標位置のオフセットと置き換えれば良い。
【００７８】
尚、書き込み後の確認（ベリファイ）処理では、トラッキング目標位置の最適オフセットを規定量小さくして加算することが望ましい。又、リトライ処理時には、トラッキング目標位置のオフセットを増減しない、或いは、増減量を通常再生時よりも小さくすることが望ましい。更に、トラッキング目標位置のオフセットの増減は、学習処理の対象とはしないことが望ましい。
【００７９】
以上説明した処理は、図８に示す手段により実現できる。図８は、図３の要部を示す機能ブロック図である。
【００８０】
図８において、発光調整部２００は図１に示すＭＰＵ１１２に対応し、最適フォーカス点検出部２０７は図３に示すＤＳＰ１１６に対応し、装置内温度検出部２０８は図３に示す温度センサ１３６に対応する。発光調整部２００は、調整タイミング判定部２０２、発光パワー調整部２０３、隣接トラック及び最適トラッキング位置確認部２０４、最適トラッキング位置テーブル作成部２０５及びパワーテーブル作成部２０６の処理機能を有するプログラム又はファームウェアからなる。
【００８１】
調整タイミング判定部２０２は、装置内温度検出部２０８からの温度検出信号に基いて、発光パワー調整部２０３による記録パワー調整タイミングを判定して起動する。調整タイミング判定部２０２は、光磁気ディスク装置に光磁気ディスク１７２がロードされた直後は記録パワーの調整処理を起動せず、光磁気ディスク装置の初期化処理が終了してホスト装置（図示せず）から最初のライトコマンドが発行された際に、これに応答して発光パワー調整部２０３を起動してテストライト処理を伴う最初の発光パワー調整処理を行わせ、ロードされた光磁気ディスク１７２の種別が２．３ＧＢ以上の高密度タイプであれば、続いて隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４を起動して決定された記録パワーによるテストライト処理で隣接トラックのデータ破壊の有無を確認させると共に、最適トラッキング位置、即ち、トラッキング目標位置の最適オフセットを確認させる。
【００８２】
一度、発光パワー調整部２０３及び隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４による記録パワー調整処理が終了すると、その後は記録パワー調整結果の有効時間を算出し、調整終了からの経過時間が算出した有効時間（例えば、経過時間に応じて１０秒毎、２分毎、１０分毎と増やす）に達した時、次の記録パワー調整のため発光パワー調整部２０３及び隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４の処理を順次起動する。又、経過時間が有効時間に達するまでの間、装置内温度検出部２０８から得られる装置内温度Ｔが例えば±３℃を超えた時には、強制的に発光パワー調整部２０３及び隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４の起動による記録パワー調整処理を行わせる。
【００８３】
発光パワー調整部２０３は、ロードされた光磁気ディスク１７２のユーザ未使用領域の任意のテストライト領域を指定し、予め定めたテストパターンを記録パワーを段階的に徐々に低下させながら書き込んだ後に読み出して、元のテストパターンと比較してデータの不一致個数を計数する処理を繰り返す。このテストライト処理において、計数された不一致個数が予め定めた最大数を超える時の記録パワーを限界記録パワーとして検出する。
【００８４】
このように記録パワーを段階的に低下させながら限界記録パワーを検出すると、この限界記録パワーに所定のオフセットを加算した値を最適記録パワーと決定する。発光パワー調整部２０３における記録パワーの設定は、その時の記録パワーデフォルト値を基準としたデフォルト比率を使用して行われる。従って、限界記録パワーも、限界記録パワーを示すデフォルト比率として検出され、これに所定のオフセット値を加算した値を最適記録パワーのデフォルト値として決定することになる。
【００８５】
隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４は、発光パワー調整部２０３で決定された記録パワー及び消去（イレーズ）パワーを使用したレーザダイオードの発光駆動により光磁気ディスク１７２のテストライト領域でテストライト処理を行った後に、隣接トラックを再生してデータの再生が可能か否か、データ破壊若しくは劣化の有無を確認する。データ破壊若しくは劣化がなかった場合には、テストライト処理に使用した記録パワー及び消去パワーを最適記録パワーとして設定する。又、隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４は、最適トラッキング位置検出処理の結果に基いて最適トラッキング位置を求める。最適トラッキング位置テーブル作成部２０５は、隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４で求められた最適トラッキング位置に基いて最適トラッキング位置テーブルを作成する。又、パワーテーブル作成部２０６は、発光パワー調整部２０３で決定された記録パワー及び隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４で設定された最適記録パワーに基いてパワーテーブルを作成する。
【００８６】
隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４の処理手順は、次の▲１▼〜▲３▼のステップで構成できる。尚、隣接トラック確認処理が正常に終了したら、テストライト領域を消去しておく。
▲１▼テストライト領域の全てのトラックに第１のテストパターンをテストライトし、
▲２▼テストライト領域の特定トラックの特定セクタ位置に第２のテストパターンを規定回数テストライトし、
▲３▼第２のテストパターンをテストライトしたセクタの隣接セクタを再生してデータ破壊の有無を確認すると共に、最適トラッキング位置を求める。
【００８７】
このように、本実施例では、発光調整部２００内の隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４が隣接トラック確認処理に加えて最適トラッキング位置確認処理を行い、最適トラッキング位置テーブル作成部２０５が最適トラッキング位置テーブルを作成する点を除けば、基本的には上記特開平１１−１６２５１号公報の図１（Ａ）に示されている機能ブロックの動作と同様である。
【００８８】
従って、発光パワー調整に先立つディスク起動処理、隣接トラックの確認を含む記録パワー調整処理、記録パワー調整の必要性判断、テストライトによる記録パワー調整処理及び隣接トラック確認処理は、夫々上記特開平１１−１６２５１号公報の図１１、図１２、図１３、図１４及び図２０に示されているフローチャートと同様になる。ただし、本実施例の場合、上記特開平１１−１６２５１号公報の図１２に示されている隣接トラックの確認を含む記録パワー調整処理中、ステップＳ５’は、図９に示すようにテストライトによる隣接トラック確認処理に加え、最適トラッキング位置確認処理を行うことになる。図９中、上記特開平１１−１６２５１号公報の図１２と同一ステップには同一符号を付し、その説明は省略する。
【００８９】
上記特開平１１−１６２５１号公報の図２０に示されている隣接トラック確認処理により求められた記録パワーは、最適パワーとして設定された後、図１０に示す処理が行われる。図１０は、略Ｕ字カーブを有するビット誤り個数の測定結果から、ビット誤り個数の増加点の中点、即ち、図４におけるオフセットaとオフセットbの中点を求めて、ビット誤り個数の最小点とする処理を説明するフローチャートである。
【００９０】
図１０において、ステップＳ１１は、最適パワーで測定トラックに対するテストライト処理を行い、ステップＳ１２は、最適パワーにオフセットを加算したパワーで測定トラックの両隣接トラックに対するテストライト処理を行う。ステップＳ１３は、データリード処理を行い、測定トラック及びその両隣接トラックからデータ（テストデータ）を再生する。ステップＳ１４は、再生されたデータの不一致数を例えばワード単位に換算し、ステップＳ１５は、データ不一致数が規定値以下であるか否かを判定する。ステップＳ１５の判定結果がＹＥＳであると、ステップＳ１６は、トラッキング位置を光磁気ディスク１７２のインナ側に移動し、処理はステップＳ１３へ戻る。
【００９１】
他方、ステップＳ１５の判定結果がＮＯであると、ステップＳ１７は、トラッキング位置（オフセットｂ）を保存し、ステップＳ１８は、トラッキング位置を中心値に初期化する。その後、ステップＳ１９は、上記ステップＳ１３と同様にデータリード処理を行い、ステップＳ２０は、上記ステップＳ１４と同様にデータ不一致数を例えばワード単位に換算する。又、ステップＳ２１は、上記ステップＳ１５と同様に、データ不一致数が規定値以下であるか否かを判定する。ステップＳ２１の判定結果がＹＥＳであると、ステップＳ２２は、トラッキング位置を光磁気ディスク１７２のアウタ側に移動し、処理はステップＳ１９へ戻る。
【００９２】
ステップＳ２１の判定結果がＮＯであると、ステップＳ２３は、トラッキング位置（オフセットａ）を保存し、ステップＳ２４は、保存されたトラッキング位置（オフセットａとｂ）の中点を検出し、処理は終了する。検出された中点は、ビット誤り個数の最小点、即ち、トラッキング目標位置の最適オフセットとする。
【００９３】
図１１は、光磁気ディスク１７２上の記録フォーマットを説明する図である。同図の下部に拡大して示すように、光磁気ディスク１７２のインナ側の１ゾーンには、アウタ方向に向かって順次バッファ０領域Ａ、バッファ１領域Ｂ、スペア領域Ｃ、データトラック領域（ユーザトラック領域）ＤＡＴＡ、バッファ２領域Ｄ、テストライト領域Ｅ、バッファ３領域Ｆ及びバッファ４領域Ｇが設けられている。トラッキング目標位置の最適オフセットを求める際には、最適パワーを求める際と同様に、テストライト領域Ｅを用いる。
【００９４】
次に、実際の再生又は記録時に、トラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理について、図１２及び図１３と共に説明する。図１２は、本実施例におけるトラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理を説明するフローチャートである。又、図１３は、最適オフセットの加算処理を説明する図である。
【００９５】
図１２に示す処理は、ＭＰＵ１１２がホスト装置から再生又は記録を目的としたシークコマンドを受けると開始される。ステップＳ３１は、受けたシークコマンドに伴うジャンプ命令が発行されたか否かを判定し、判定結果がＹＥＳになると、ステップＳ３２は、光磁気ディスク１７２上の識別情報（ＩＤ）部分のリードを実行する。ステップＳ３３は、ＩＤ部分のリードが成功したか否かを判定し、判定結果がＮＯであると、処理はステップＳ３２へ戻る。他方、ステップＳ３３の判定結果がＹＥＳであると、ステップＳ３４は、シークコマンドの処理目的から、トラッキング目標位置のオフセットの加算の要否を判定する。ステップＳ３４の判定結果がＮＯであると、ステップＳ３５は、オフセットを０に設定すると共に、オフセット加算時間を０に設定し、処理はステップＳ３７へ進む。
【００９６】
他方、ステップＳ３４の判定結果がＹＥＳであると、トラッキング目標位置の最適オフセットをメモリ１１８から読み込み、再生又は記録のいずれかの処理に応じたオフセットを計算して設定すると共に、オフセットの加算時間を計算して設定し、処理はステップＳ３７へ進む。ステップＳ３７は、シークが実行されたか否かを判定し、判定結果がＮＯであると、処理は後述するステップＳ４０へ進む。ステップＳ３７の判定結果がＹＥＳであると、ステップＳ３８は、設定されているオフセットを加算し、ステップＳ３８は、シークコマンドに含まれている目的トラックに到達しているか否かを判定する。
【００９７】
ステップＳ３９の判定結果がＮＯであると、ステップＳ４０は、目的トラックへ到達するためにジャンプするべきトラック本数を計算し、ステップＳ４１は、計算されたトラック本数のジャンプを実行する。ステップＳ４２は、ジャンプが成功したか否かを判定し、判定結果がＮＯであると、ステップＳ４３は、トラックへの再引き込みを実行し、処理はステップＳ３２へ戻る。ステップＳ４２の判定結果がＹＥＳであると、処理はステップＳ３２へ戻る。又、ステップＳ３９の判定結果がＹＥＳになると、処理は終了する。
【００９８】
従って、ステップＳ３４においてオフセットの加算が必要でないと判断されると、現在のトラックを確認して目標トラックとの距離を計算する。この場合、回転補正が施され、最適なジャンプ本数が設定される。そしてジャンプが開始され、ジャンプが終了すると目標トラックに到達したかを確認し、そうでない場合は再度ジャンプをし直す処理が行われ、従来と同様に最終的に目標トラックに位置付けられる。
【００９９】
他方、ステップＳ３４においてオフセットの加算が必要であると判断されると、現在のトラックを確認して目標トラックとの距離を計算する。この場合も、回転補正が施され、最適なジャンプ本数が設定され、その補正処理にはシーク終了後のオフセット加算処理に要する時間も加味される。その後、ジャンプが開始されて終了すると、徐々にオフセットが加算され、目標オフセットまで増加させる。そして、目標トラックに到達したかを確認し、そうでない場合は再度ジャンプをし直す処理が行われ、最終的に目標トラックに位置付けられる。又、光磁気ディスク１７２の１回転分の補正する時は、１回転分に相当するデータを転送すると共に、１回転分のオフセットの平均値までオフセットが加算され、その後は1回転のデータを回転に同期して自動的に出力する。
【０１００】
図１３（ａ）は、シーク中のトラッキングエラー信号を示し、同図（ｂ）はシークに伴い上記トラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理により加算されるオフセットを示す。
【０１０１】
尚、目標トラック確認処理とオフセット加算処理は、上記の如く並列に実行することが可能である。
【０１０２】
次に、本発明になる記憶装置の第２実施例の実際の再生又は記録時に、トラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理について、図１４及び図１５と共に説明する。記憶装置の第２実施例の基本構成は、図３に示す構成と同様である。図１４は、本実施例におけるトラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理を説明するフローチャートである。又、図１５は、最適オフセットの加算処理を説明する図である。図１４中、図１２と同一ステップには同一符号を付し、その説明は省略する。
【０１０３】
図１４において、ステップＳ３７の判定結果がＹＥＳであると、ステップＳ５１は、残りのオフセットを加算してからステップＳ３９の処理へ進む。又、ステップＳ４１の後、ステップＳ５２は設定されているオフセットを加算し、ステップＳ５３は、ジャンプを終了してから、ステップＳ４２の処理へ進む。
【０１０４】
従って、シークの動作マージンを損なわない程度のオフセットであれば、シーク引き込み時に既にオフセットが加算される。又、目標のオフセット、即ち、例えばメモリ１１８等のメモリに登録されている最適オフセットが、大きい場合には、シーク引き込み時に加算したオフセットとの差を、シーク終了後に徐々に加算する。
【０１０５】
図１５（ａ）は、シーク中のトラッキングエラーを示し、同図（ｂ）はシークに伴い上記トラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理により加算されるオフセットを示す。
【０１０６】
図１６は、光磁気ディスク１７２のランドに記録する際のラジアルチルトとビットエラーレート（ＢＥＲ）を最小（ＢＥＲｍｉｎ）とするアクチュエータ１６４の移動量との関係を示す図である。同図中、縦軸はＢＥＲを最小（ＢＥＲｍｉｎ）とするトラックアクチュエータ１６４の移動量（μｍ）を示し、プラス側が光磁気ディスク１７２のアウタ方向への移動量、マイナス側がインナ方向への移動量を示し、横軸はリード時のラジアルチルト（ｍｉｎ）を示す。又、□印はライト時のラジアルチルトが-１０ｍｉｎ、●印はライト時のラジアルチルトが０ｍｉｎ、△印はライト時のラジアルチルトが+１０ｍｉｎの場合を夫々示す。
【０１０７】
図１７は、光磁気ディスク１７２のグルーブに記録する際のラジアルチルトとＢＥＲを最小（ＢＥＲｍｉｎ）とするアクチュエータ１６４の移動量との関係を示す図である。同図中、縦軸はＢＥＲを最小（ＢＥＲｍｉｎ）とするトラックアクチュエータ１６４の移動量（μｍ）を示し、プラス側が光磁気ディスク１７２のアウタ方向への移動量、マイナス側がインナ方向への移動量を示し、横軸はリード時のラジアルチルト（ｍｉｎ）を示す。又、□印はライト時のラジアルチルトが-１０ｍｉｎ、●印はライト時のラジアルチルトが０ｍｉｎ、△印はライト時のラジアルチルトが+１０ｍｉｎの場合を夫々示す。
【０１０８】
又、図１８は、ラジアルチルトと光ビームの強度分布との関係を示す図である。同図（ａ）はライト時のラジアルチルトが-１０ｍｉｎ、同図（ｂ）はライト時のラジアルチルトが０ｍｉｎ、同図（ｃ）はライト時のラジアルチルトが+１０ｍｉｎの場合の光ビームの強度分布を夫々示す。同図中、上側は光磁気ディスク１７２、光学ヘッド３の対物レンズ３００及び光ビーム３０１を示し、下側は光磁気ディスク１７２上の光ビーム３０１の強度分布を示す。又、矢印は、ＢＥＲを最小（ＢＥＲｍｉｎ）とするアクチュエータ１６４の移動方向を示す。ここで、光学ヘッド３は、波長が６６０ｎｍの光ビーム３１０を出射するレーザダイオードを用い、対物レンズ３００の開口数（ＮＡ）は０．５５である。又、ダブルマスク・リアアパチャディテクション（ＲＡＤ）方式を採用するものとする。
【０１０９】
図１６〜図１８からもわかるように、リード時の影響に比べると、ライト時のラジアルチルトの影響は小さく見える。又、トラッキング目標位置は、光ビーム３０１の強度が強くなる方向にオフセット（デトラック）させた方が、ＢＥＲが小さくなることが確認された。
【０１１０】
尚、上記の場合、工場で予めトラックセンタがトラッキング目標位置となるようにオフセットが注入されており、このトラッキング目標位置がオフセット０として設定されていることが前提である。又、チルトがあると、トラックセンタからずれた位置になってしまう可能性があるので、最適目標位置を探して対応するオフセットを付与する点に特徴がある。
【０１１１】
上記の如く、エラーレートに基いて最適オフセットを求める他に、再生信号振幅などをモニタすることで最適オフセットを求めるようにしても良い。
【０１１２】
又、上記実施例において得られる測定結果は、光磁気ディスク１７２がイジェクト（アンロード）されるとクリアされる。
【０１１３】
上記実施例では、従来装置との互換性を考慮して、例えば２.３ＧＢ未満の低密度記録媒体に対しては、本発明の機能を動作させないようにしているが、従来装置との互換性を考慮しない場合には、本発明の機能を低密度記録媒体に対して動作させても良い。この際、記録媒体の種別を判別する方法は、上記の如きＩＤ部のピットから種別を判別する方法の他に、制御情報領域の媒体情報をリードする方法を採用することも可能である。
【０１１４】
本発明は、光磁気ディスク装置への適用に限定されるものではなく、他の方式の光磁気や相変化型等の各種光記録媒体を用いる記憶装置や光ビームを利用して光磁気的性質の変化で情報を記録する磁気記録媒体を用いる記憶装置等にも適用可能であることは、言うまでもない。
【０１１５】
本発明は、以下に付記する発明をも包含するものである。
【０１１６】
（付記１） 光ビームの記録媒体上におけるトラッキング目標位置をオフセットさせながら光ビーム照射状態を測定し最適な光ビーム照射状態のトラッキング目標位置になるように最適オフセットを測定する測定ステップと、
前記測定ステップにより測定された前記最適オフセットを設定してトラッキング制御を行う制御ステップとを含むことを特徴とする、トラッキング制御方法。
【０１１７】
（付記２） 前記記録媒体の種別を判別する判別ステップを更に含み、前記測定ステップは、前記判別ステップにおいて前記記録媒体が高密度記録媒体であると判別された場合に実行されることを特徴とする、（付記１）記載のトラッキング制御方法。
【０１１８】
（付記３） 前記測定ステップは、読み取りエラー状況又は再生信号振幅又はフォーカス制御量に基いて前記光ビームの照射状態を検出することを特徴とする、（付記１）又は（付記２）記載のトラッキング制御方法。
【０１１９】
（付記４） 前記測定ステップは、隣接トラックからの波形干渉が発生しやすい状態で実行されることを特徴とする、（付記１）〜（付記３）のいずれか１項記載のトラッキング制御方法。
【０１２０】
（付記５） 前記測定ステップは、前記記録媒体の半径半径位置毎に及び／又は前記記録媒体の１回転角度毎に実行されることを特徴とする、（付記１）〜（付記４）のいずれか１項記載のトラッキング制御方法。
【０１２１】
（付記６） 前記測定ステップは、前回と今回の測定実行時間の差が規定時間以上の時及び／又は前回と今回の測定実行時の温度差が規定温度以上である時に実行されることを特徴とする、（付記１）〜（付記５）のいずれか１項記載のトラッキング制御方法。
【０１２２】
（付記７） 前記記録媒体の再生処理時にエラーが発生した場合に、トラッキング目標位置の最適オフセットを正側又は負側に変化させて再度再生処理を行う再生処理ステップを更に含むことを特徴とする、（付記１）〜（付記６）のいずれか１項記載のトラッキング制御方法。
【０１２３】
（付記８） 前記再生処理ステップは、再度行う再生処理の成功率に応じて前記トラッキング目標位置の最適オフセットを正側又は負側に変化させることを特徴とする、（付記７）記載のトラッキング制御方法。
【０１２４】
（付記９） シーク処理の目的及び目的アドレスに応じて最適オフセットを設定する設定ステップを更に含むことを特徴とする、（付記１）〜（付記８）のいずれか１項記載のトラッキング制御方法。
【０１２５】
（付記１０） 光ビームの記録媒体上におけるトラッキング目標位置をオフセットさせながら光ビーム照射状態を測定し最適な光ビーム照射状態のトラッキング目標位置になるように最適オフセットを測定するオフセット測定制御手段と、
更新された前記最適オフセットを設定してトラッキング制御を行うトラッキング制御手段とを備えたことを特徴とする、記憶装置。
【０１２６】
（付記１１） 前記記録媒体の種別を判別する判別手段を更に備え、前記オフセット測定制御手段は、前記判別手段により前記記録媒体が高密度記録媒体であると判別された場合に前記最適オフセットの測定を行うことを特徴とする、（付記１０）記載の記憶装置。
【０１２７】
（付記１２） 光ビームの記録媒体上におけるトラッキング目標位置をオフセットさせながら光ビーム照射状態を測定し最適な光ビーム照射状態のトラッキング目標位置になるように最適オフセットを測定する測定手段と、
前記測定手段により測定された前記最適オフセットを設定してトラッキング制御を行う制御手段とを備えたことを特徴とする、記憶装置。
【０１２８】
（付記１３） 前記記録媒体の種別を判別する判別手段を更に備え、前記測定手段は、前記判別手段において前記記録媒体が高密度記録媒体であると判別された場合に前記最適オフセットを測定することを特徴とする、（付記１２）記載の記憶装置。
【０１２９】
（付記１４） 前記測定手段は、読み取りエラー状況又は再生信号振幅又はフォーカス制御量に基いて前記光ビームの照射状態を検出することを特徴とする、（付記１２）又は（付記１３）記載の記憶装置。
【０１３０】
（付記１５） 前記測定手段は、隣接トラックからの波形干渉が発生しやすい状態で前記最適オフセットを測定することを特徴とする、（付記１２）〜（付記１４）のいずれか１項記載の記憶装置。
【０１３１】
（付記１６） 前記測定手段は、前記記録媒体の半径半径位置毎に及び／又は前記記録媒体の１回転角度毎に前記最適オフセットを測定することを特徴とする、（付記１２）〜（付記１５）のいずれか１項記載の記憶装置。
【０１３２】
（付記１７） 前記測定手段は、前回と今回の測定実行時間の差が規定時間以上の時及び／又は前回と今回の測定実行時の温度差が規定温度以上である時に前記最適オフセットを測定することを特徴とする、（付記１２）〜（付記１６）のいずれか１項記載の記憶装置。
【０１３３】
（付記１８） 前記記録媒体の再生処理時にエラーが発生した場合に、トラッキング目標位置の最適オフセットを正側又は負側に変化させて再度再生処理を行う再生処理手段を更に備えたことを特徴とする、（付記１２）〜（付記１７）のいずれか１項記載の記憶装置。
【０１３４】
（付記１９） 前記再生処理手段は、再度行う再生処理の成功率に応じて前記トラッキング目標位置の最適オフセットを正側又は負側に変化させることを特徴とする、（付記１８）記載の記憶装置。
【０１３５】
（付記２０） シーク処理の目的及び目的アドレスに応じて最適オフセットを設定する設定手段を更に備えたことを特徴とする、（付記１２）〜（付記１９）のいずれか１項記載の記憶装置。
【０１３６】
以上、本発明を実施例により説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種々の変形及び改良が可能であることは、言うまでもない。
【０１３７】
【発明の効果】
本発明によれば、チルト補正機構等を設けることなく、所望の記録／再生マージンを確保することのできるトラッキング制御方法及び記憶装置を実現可能である。又、最適なオフセットを測定することで、チルトが発生していても、最適なトラッキング目標位置に位置付け可能となり、記録／再生処理を高精度な位置で行えるため、高密度記録／再生が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明になる記憶装置の第１実施例を示すブロック図である。
【図２】エンクロージャの概略構成を示す断面図である。
【図３】本発明になる記憶装置の第１実施例の要部を示すブロック図である。
【図４】トラッキング目標位置のオフセットとビット誤り個数との関係を示す図である。
【図５】光磁気ディスクの1回転内の回転角に相当する単位で測定を行う場合を説明する図である。
【図６】フォーカスアクチュエータの特性を示す図である。
【図７】フォーカスアクチュエータが図６に示す特性を有する場合の動作を説明する図である。
【図８】図３の要部を示す機能ブロック図である。
【図９】隣接トラックの確認を含む記録パワー調整処理を説明するフローチャートである。
【図１０】ビット誤り個数の増加点の中点を求める処理を説明するフローチャートである。
【図１１】光磁気ディスク上の記録フォーマットを説明する図である。
【図１２】トラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理を説明するフローチャートである。
【図１３】最適オフセットの加算処理を説明する図である。
【図１４】本発明になる記憶装置の第２実施例におけるトラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理を説明するフローチャートである。
【図１５】最適オフセットの加算処理を説明する図である。
【図１６】ランドに記録する際のラジアルチルトとビットエラーレートを最小とするアクチュエータの移動量との関係を示す図である。
【図１７】グルーブに記録する際のラジアルチルトとビットエラーレートを最小とするアクチュエータの移動量との関係を示す図である。
【図１８】ラジアルチルトと光ビームの強度分布との関係を示す図である。
【符号の説明】
２３ オフセット加算回路
３１ ＴＥＳ振幅・オフセット検出回路
４４ フォーカスアクチュエータ変位検出部
１１２ ＭＰＵ
１１６ ＤＳＰ
１１８ メモリ
１７２ 光磁気ディスク
２００ 発光調整部
２０４ 隣接トラック及び最適トラッキング位置確認部
２０５ 最適トラッキング位置テーブル作成部
【発明の属する技術分野】
本発明はトラッキング制御方法及び記憶装置に係り、特に所望の記録及び／又は再生マージンで光記録媒体に対して情報の記録及び／又は再生を行うためのトラッキング制御方法及びそのようなトラッキング制御方法を採用する光ディスク装置等の記憶装置に関する。
【０００２】
光磁気ディスク装置では、光磁気ディスクのランドに対して情報を記録及び／又は再生（記録／再生）する構成のものに加え、光磁気ディスクのランド及びグルーブの両方に情報を記録／再生する構成のものが提案されている。光磁気ディスクのランド及びグルーブの両方に情報を記録／再生する、所謂ランド・グルーブ記録方式を採用することにより、記録密度を増大することができる。
【０００３】
【従来の技術】
光磁気ディスクに代表される、ランド・グルーブ記録方式を採用する狭トラックピッチを有する光記録媒体では、隣接トラックに書き込まれている信号による信号干渉により、目的トラックの信号再生性能が劣化してしまう可能性がある。
【０００４】
この信号干渉の再生時の要因の１つとして、媒体記録面（反射面）に対する光軸の半径方向傾き、即ち、ラジアルチルトが知られている。ラジアルチルトがあると、光ビームに収差が発生して、隣接トラックの信号の干渉を受けやすくなる。通常、ラジアルチルトが小さい状態では、トラッキングエラー信号（ＴＥＳ）の中心が、読み取りエラーレートの最小点となるため、トラッキング目標位置をＴＥＳの中心とすれば良い。これに対し、ラジアルチルトが大きい状態では、トラッキング目標位置をＴＥＳの中心からどちらか一方にずらした点が、読み取りエラーレートの最小点となることが知られている。
【０００５】
従来の光記録媒体においては、比較的トラックピッチが大きいため、トラッキング目標位置をＴＥＳの中心としたままでも、十分な記録及び／又は再生マージン（記録／再生マージン）があった。しかし、光記録媒体の大容量化と共に、狭トラックピッチ化が進められると、ラジアルチルトの影響が更に大きくなることが予想される。
【０００６】
これらの問題を解決する手段として、光学ヘッドと光記録媒体との間の相対的な位置や角度を機械的に補正するチルト補正機構等の研究も行われている。しかし、チルト補正機構等の新たな機構を追加することは、記憶装置の構成や制御を複雑化することになり、記憶装置が高価になってしまう。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
光記録媒体の狭トラックピッチ化に伴い、ラジアルチルトの影響を更に受けやすくなり、従来の記憶装置では記録／再生マージンが著しく損なわれる可能性があるという問題があった。又、チルト補正機構を設けることは、記憶装置の構成や制御を複雑化すると共に、装置を高価にしてしまうという問題もあった。
【０００８】
そこで、本発明は、チルト補正機構等を設けることなく、所望の記録／再生マージンを確保することのできるトラッキング制御方法及び記憶装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記の課題は、本発明の第１の方法により達成できる。即ち、トラッキング目標位置をオフセットさせる手段と、テストライト用ビット誤り個数（読み取りエラーレート）を測定する手段を備えた記憶装置において、テストライト領域において、連続３トラック以上に渡ってデータを書き込み、両側データ書き込み済みトラックに挟まれた中央のトラックにおいて、トラッキング目標位置をオフセットさせながら、読み取りエラーレートを測定する。読み取りエラーレートは、最適トラッキング目標位置を中心として、正負にトラッキング目標位置のオフセットを増加させることで悪化する。そして、トラッキング目標位置対エラーレートの関係をプロットすれば、略Ｕ字状のカーブを描く。例えばあるエラーレート規定値を超えるトラッキング目標位置２点の中心を検出し、その結果をトラッキング目標位置の最適オフセットとしてメモリに記憶する。そして、以降の再生処理時は、このトラッキング目標位置の最適オフセットをサーボループに与えて再生を行う。
【００１０】
上記第１の方法において、連続３トラック以上に渡ってデータを書き込むが、その時の書き込みパワーを、テストライトによって求められた最適書き込みパワーに対して規定量増加させたパワーとすることで、信号干渉を発生させやすくすると共に、略Ｕ字状のカーブを狭めて、中心をより際立たせることもできる。この場合、少なくとも読み取りエラーを挟む両側トラックは、その増加パワーで書き込む。
【００１１】
上記の如く信号干渉を発生させやすくするために、最適再生パワーに対して規定量パワーを増加させても良い。
【００１２】
最適書き込みパワーに対して規定量増加させたパワーとは、事前に既知となっている書き込みテスト用トラックとユーザトラックとの間の最適書き込みパワー差近傍とすることができる。或いは、ライトリトライ処理で書き込みパワーを増減させ、その増加幅分だけ最適書き込みパワーを大きくしても良い。これにより、最適書き込みパワーを、実際にユーザデータが書き込まれるユーザトラックでの隣接トラックにおける信号もれ込み量の確認にも使用できる。
【００１３】
従来のテストライト処理は、最適書き込みパワーを求めるために行われ、テストトラックで書き込みパワー対読み取りエラーレートを測定することによって、書き込みパワー対読み取りエラーレートの略Ｕ字状のカーブを検出している。ここで、略Ｕ字状のカーブの中心を最適書き込みパワーとし、最適書き込みパワーに対して書き込みパワーを減じていったときの、エラーレートが大きくなり始める直前のパワーを最低書き込みパワーとして記憶する。又、書き込みパワーを規定量増加させて記録したデータにて、最適トラッキング目標位置を求めたときの略Ｕ字状のカーブの幅が、規定幅よりも狭かった場合又は規定エラーレート以下にならなかった場合には、最適書き込みパワーを小さくし、そのパワーに対して規定量パワーを増加させた書き込みパワーでデータを書き込み、再度測定し直す動作を行っても良い。最適書き込みパワーは、テストライト処理で求まった最低書き込みパワーまで小さくすることができる。逆に、略Ｕ字状のカーブの幅が、規定幅よりも広すぎた場合には、両側トラック書き込み時に増加させる規定量パワーを更に大きくしてデータを書き込み、再度測定をし直せば良い。
【００１４】
読み取りエラーレートの測定時に、最適再生パワーに対して規定量パワーを増加させているが、最適トラッキング目標位置を求めたときの略Ｕ字状のカーブの幅が、規定幅よりも狭かった場合又は規定エラーレート以下にならなかった場合には、再生パワーを小さくすることも可能である。逆に、略Ｕ字状のカーブの幅が規定幅よりも広すぎた場合には、再生パワーを大きくすることもできる。
【００１５】
上記の如き測定によって得られた最適トラッキング目標位置は、再生時の最適条件であるが、予め同結果の逆符合側にオフセットさせた状態で書き込み動作を行うことにより、再生時の最適トラッキング目標位置をより中心よりに設定することができる。この時の書き込み時のオフセット量は、上記第１の方法で得られた最適トラッキング目標位置の逆符号をそのまま加算するのではなく、ある規定の比率又は規定量減じた値を加算すると良い。
【００１６】
最適トラッキング目標位置の測定は、光記録媒体のゾーン毎、又は、複数ゾーン群を1エリアとしたエリア単位で行い、書き込み又は再生処理において、夫々のゾーン又はエリアに対応した測定結果をメモリに格納しておき読み出して用いるようにしても良い。
【００１７】
更に、光記録媒体の１回転における、夫々の回転角に対応したトラッキング目標位置の最適オフセットをメモリに記憶して補正をするようにしても良い。この場合、同一回転角度に相当するセクタ単位、又は複数セクタをセクタ群 (規定回転角度単位) として管理し、夫々のセクタ又はセクタ群に対して最適オフセットを測定し、光記録媒体の１回転に対応するテーブル形式でメモリに記憶する。そして、光記録媒体の１回転における補正処理では、テーブル形式でメモリに記憶した階段的なトラッキング目標位置の最適オフセットが滑らかに連続的に補正されるような制御を行うことが可能である。
【００１８】
光記録媒体の１回転における、夫々の回転角に対応したトラッキング目標位置の最適オフセットの遷移は、光記録媒体の面振れからも推定できる。この場合、フォーカス制御量に対応するフォーカスアクチュエータの変位量を検出し、その変位量の遷移状態から最適オフセットを推定することが可能である。フォーカスアクチュエータの変位量は、フォーカスアクチュエータの特性、例えば駆動電流対変位量特性を用いて、フォーカス制御中のフォーカスアクチュエータの駆動電流から算出して求めることが可能である。そして、光記録媒体の１回転における補正処理では、予め設定された光記録媒体の面振れに対するトラッキング目標位置の最適オフセット補正係数を用いて補正する。この場合、前述の如き測定／補正動作は不要となり、測定時間が短縮される。更に、この場合の補正量の中心値は、トラッキング目標位置の最適オフセット測定を光記録媒体の１回転の倍数にわたって測定したときの測定結果とする。或いは、補正量の中心は、フォーカス制御中のフォーカスアクチュエータの直流的な駆動電流から算出して求めることが可能な、フォーカスアクチュエータの絶対位置とすることもできる。この場合、予め基準となる光記録媒体を使用して測定された校正用データを、工場での記憶装置の立ち上げ時等に測定してメモリに記憶しておくことが必要である。
【００１９】
トラッキング目標位置の最適オフセットの測定処理は、夫々のエリアにおいて時間及び温度管理がなされ、前回実行時からの経過時間及び／又は温度変化量が規定値以上に達すると、再度測定し直すようにすることが望ましい。特に光記録媒体のロード直後は、温度が正しく計測できない可能性があるため、経過時間管理における基準値を短く設定し、ロード直後の方が比較的頻繁に再調整が実行されるようにしておく。
【００２０】
再生時にエラーが発生した場合は、トラッキング目標位置のオフセットを最適値から正側又は負側に規定量だけ変化させて再度再生処理を行うことも可能である。そして、このようなリトライ処理において、正側又は負側にオフセットさせて再生が成功したときの回数を夫々計数して統計的処理を行い、成功率に応じてトラッキング目標位置の最適オフセットを正側又は負側にずらす学習処理を行うことも可能である。尚、学習処理は、書き込み後の確認（ベリファイ）処理では計数を行わず、統計処理に反映されないようにする。
【００２１】
書き込み後の確認処理において、トラッキング目標位置の最適オフセットに対してある一定量減じたオフセット又はある一定比率で減じたオフセットにより、最適オフセットを補正しても良い。
【００２２】
トラッキング目標位置の最適オフセットを用いて再生処理をする際、シークの目的トラックアドレスに応じたエリアのトラッキング目標位置の最適オフセットを設定することができる。尚、オフセットの加算は、シーク終了後、規定のオフセットに達するまで、徐々にオフセットを増加させることで、トラッキング制御が不安定にならないようにする。又、シーク開始時には、シーク引き込み性能を損なわない範囲でオフセットを与え、トラッキング目標位置の最適オフセットまでの残り分をシーク動作終了後、規定のオフセットに達するまで、徐々にオフセットを増加させることも可能である。この場合、目標トラックのトラッキング目標位置の最適オフセットがシーク引き込み性能を損なわない範囲であれば、シーク開始時にそのトラッキング目標位置の最適オフセットが加算され、シーク後のオフセットの加算は不要となる。尚、シーク後、徐々にオフセットを増加させることで、シーク開始から、オフセットの加算が終了するまでの時間が増加し、見かけ上のシーク時間が長くなる。よって、そのトラッキング目標位置の最適オフセットの加算中の時間を実シーク時間に足し合わせ、回転補正計算に使用することが望ましい。
【００２３】
従って、本発明によれば、チルト補正機構等を設けることなく、所望の記録／再生マージンを確保し、高密度記録を実現することのできるトラッキング制御方法及び記憶装置を実現可能である。
【００２４】
【発明の実施の形態】
本発明になるトラッキング制御方法及び本発明になる記憶装置の各実施例を、以下図面と共に説明する。
【００２５】
【実施例】
図１は、記憶装置の第１実施例の構成を示すブロック図である。同図に示すように、光ディスク装置は、大略コントロールユニット１１０とエンクロージャ１１１とからなる。コントロールユニット１１０は、光ディスク装置の全体的な制御を行うＭＰＵ１１２、ホスト装置（図示せず）との間でコマンド及びデータのやり取りを行うインタフェース１１７、光ディスク（図示せず）に対するデータのリード／ライトに必要な処理を行う光ディスクコントローラ（ＯＤＣ）１１４、デジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）１１６及びメモリ１１８を有する。メモリ１１８は、ＭＰＵ１１２、ＯＤＣ１１４及びインタフェース１１７で共用され、例えばダイナミックランダムアクセスメモリ（ＤＲＡＭ）や、制御プログラムやフラグ情報等を格納する不揮発性メモリ等を含む。水晶振動子３０１は、ＭＰＵ１１２と接続されている。
【００２６】
ＯＤＣ１１４には、フォーマッタ１１４−１と、誤り訂正符号（ＥＣＣ）処理部１１４−２とが設けられている。ライトアクセス時には、フォーマッタ１１４−１がＮＲＺライトデータを光ディスクのセクタ単位に分割して記録フォーマットを生成し、ＥＣＣ処理部１１４−２がセクタライトデータ単位にＥＣＣを生成して付加すると共に、必要に応じて巡回冗長検査（ＣＲＣ）符号を生成して付加する。更に、ＥＣＣ処理部１１４−２はＥＣＣの符号化が済んだセクタデータを例えば１−７ランレングスリミテッド（ＲＬＬ）符号に変換する。
【００２７】
リードアクセス時には、セクタデータに対して１−７ＲＬＬの逆変換を行い、次にＥＣＣ処理部１１４−２でＣＲＣを行った後にＥＣＣによる誤り検出及び誤り訂正を行う。更に、フォーマッタ１１４−１でセクタ単位のＮＲＺデータを連結してＮＲＺリードデータのストリームとしてホスト装置に転送させる。
【００２８】
ＯＤＣ１１４に対しては、リード／ライト大規模集積回路（ＬＳＩ）１２０が設けられ、リード／ライトＬＳＩ１２０は、ライト変調部１２１、レーザダイオード制御回路１２２、リード復調部１２５及び周波数シンセサイザ１２６を有する。レーザダイオード制御回路１２２の制御出力は、エンクロージャ１１１側の光学ユニットに設けられたレーザダイオードユニット１３０に供給される。レーザダイオードユニット１３０は、レーザダイオード１３０−１とモニタ用ディテクタ１３０−２とを一体的に有する。ライト変調部１２１は、ライトデータをピットポジションモジュレーション（ＰＰＭ）記録（マーク記録とも言う）又はパルスウィドスモジュレーション（ＰＷＭ）記録（エッジ記録とも言う）でのデータ形式に変換する。
【００２９】
レーザダイオードユニット１３０を使用してデータの記録再生を行う光ディスク、即ち、書き換え可能な光磁気（ＭＯ）カートリッジ媒体として、本実施例では、光ディスク上のマークエッジの有無に対応してデータを記録するＰＷＭ記録が採用されている。又、光ディスクの記録フォーマットは、超解像技術（ＭＳＲ）を使用した２.３ＧＢフォーマットであり、ＺＣＡＶ方式を採用している。光ディスク装置に光ディスクをロードすると、先ず光ディスクの識別（ＩＤ）部をリードしてそのピット間隔からＭＰＵ１１２で光ディスクの種別（３．５インチサイズ、１２８ＭＢ，２３０ＭＢ，５４０／６４０ＭＢ，１．３ＧＢ，２．３ＧＢ，...といった記憶容量、種別等）を認識し、種別の認識結果をＯＤＣ１４に通知し、種別に応じた各種パラメータの設定がなされる。
【００３０】
ＯＤＣ１１４に対するリード系統としては、リード／ライトＬＳＩ１２０が設けられ、リード／ライトＬＳＩ１２０には上記の如くリード復調部１２５と周波数シンセサイザ１２６とが内蔵される。リード／ライトＬＳＩ１２０に対しては、エンクロージャ１１１に設けたＩＤ／ＭＯ用ディテクタ１３２によるレーザダイオード１３０−１からのレーザビームの戻り光の受光信号が、ヘッドアンプ１３４を介してＩＤ信号（エンボスピット信号）及びＭＯ信号として入力されている。
【００３１】
リード／ライトＬＳＩ１２０のリード復調部１２５には、自動利得制御（ＡＧＣ）回路、フィルタ、セクタマーク検出回路等の回路機能が設けられ、リード復調部１２５は入力されたＩＤ信号及びＭＯ信号からリードクロック及びリードデータを生成してＰＷＭデータを元のＮＲＺデータに復調する。又、ゾーンＣＡＶを採用しているため、ＭＰＵ１１２からリード／ライトＬＳＩ１２０に内蔵された周波数シンセサイザ１２６に対してゾーン対応のクロック周波数を発生させるための分周比の設定制御が行われる。
【００３２】
周波数シンセサイザ１２６は、プログラマブル分周器を備えたフェーズロックドループ（ＰＬＬ）回路であり、光ディスク上のゾーン位置に応じて予め定めた固有の周波数を有する再生用基準クロックをリードクロックとして発生する。即ち、周波数シンセサイザ１２６は、プログラマブル分周器を備えたＰＬＬ回路で構成され、通常モードでは、ＭＰＵ１１２がゾーン番号に応じて設定した分周比ｍ／ｎに従った周波数ｆｏの記録/再生用基準クロックを、ｆｏ＝（ｍ／ｎ）・ｆｉに従って発生する。
【００３３】
ここで、分周比ｍ／ｎの分母の分周値ｎは、光ディスクの種別に応じた固有の値である。又、分周比ｍ／ｎの分子の分周値ｍは、光ディスクのゾーン位置に応じて変化する値であり、各光ディスクに対してゾーン番号に対応した値のテーブル情報として予め準備されている。更に、ｆｉは、周波数シンセサイザ１２６の外部で発生した記録/再生用基準クロックの周波数を示す。
【００３４】
リード／ライトＬＳＩ１２０で復調されたリードデータは、ＯＤＣ１１４のリード系統に供給され、１−７ＲＬＬの逆変換を行った後にＥＣＣ処理部１１４−２の符号化機能によりＣＲＣ及びＥＣＣ処理を施され、ＮＲＺセクタデータに復元される。次に、フォーマッタ１１４−１でＮＲＺセクタデータを繋げたＮＲＺリードデータのストリームに変換し、メモリ１１８を経由してインタフェース１１７からホスト装置に転送される。
【００３５】
ＭＰＵ１１２に対しては、ＤＳＰ１１６を経由してエンクロージャ１１１側に設けた温度センサ１３６の検出信号が供給されている。ＭＰＵ１１２は、温度センサ１３６で検出した光ディスク装置内部の環境温度に基づき、レーザダイオード制御回路１２２におけるリード、ライト及びイレーズの各発光パワーを最適値に制御する。
【００３６】
ＭＰＵ１１２は、ＤＳＰ１６を経由してドライバ１３８によりエンクロージャ１１１側に設けたスピンドルモータ１４０を制御する。本実施例では、光ディスクの記録フォーマットがＺＣＡＶ方式であるため、スピンドルモータ１４０は例えば３６３７ｒｐｍの一定速度で回転される。
【００３７】
又、ＭＰＵ１１２は、ＤＳＰ１１６を経由してドライバ１４２を介してエンクロージャ１１１側に設けた電磁石１４４を制御する。電磁石１４４は、光ディスク装置内にロードされた光ディスクのビーム照射側と反対側に配置されており、記録時及び消去時に光ディスクに外部磁界を供給する。ＭＳＲを用いた１.３ＧＢ又は２．３ＧＢフォーマットのＭＳＲ光ディスクでは、再生を行う際にも外部磁界を供給する。
【００３８】
ＤＳＰ１１６は、光ディスクに対してレーザダイオード１３０からのビームの位置決めを行うためのサーボ機能を備え、目的トラックにシークしてオントラックするためのシーク制御部及びオントラック制御部として機能する。このシーク制御及びオントラック制御は、ＭＰＵ１１２による上位コマンドに対するライトアクセス又はリードアクセスに並行して同時に実行することができる。
【００３９】
ＤＳＰ１１６のサーボ機能を実現するため、エンクロージャ１１１側の光学ユニットに光ディスクからのビーム戻り光を受光するフォーカスエラー信号（ＦＥＳ）用ディテクタ１４５を設けている。ＦＥＳ検出回路１４６は、ＦＥＳ用ディテクタ１４５の受光出力からＦＥＳＥ１を生成してＤＳＰ１１６に入力する。
【００４０】
エンクロージャ１１１側の光学ユニットには、光ディスクからのビーム戻り光を受光するトラッキングエラー信号（ＴＥＳ）用ディテクタ１４７も設けられている。ＴＥＳ検出回路１４８は、ＴＥＳ用ディテクタ１４７の受光出力からＴＥＳＥ２を生成してＤＳＰ１１６に入力する。ＴＥＳＥ２は、トラックゼロクロス（ＴＺＣ）検出回路１５０にも入力され、ＴＺＣパルスＥ３が生成されてＤＳＰ１１６に入力される。
【００４１】
エンクロージャ１１１側には、光ディスクに対してレーザビームを照射する対物レンズの位置を検出するレンズ位置センサ１５４が設けられており、レンズ位置センサ１５４からのレンズ位置検出信号（ＬＰＯＳ）Ｅ４はＤＳＰ１１６に入力される。ＤＳＰ１１６は、光ディスク上のビームスポットの位置を制御するため、ドライバ１５８，１６２，１６６を介してフォーカスアクチュエータ１６０、レンズアクチュエータ１６４及びボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１６８を制御して駆動する。
【００４２】
図２は、エンクロージャ１１１の概略構成を示す断面図である。図２に示すように、ハウジング１６７内にはスピンドルモータ１４０が設けられ、インレットドア１６９側からＭＯカートリッジ１７０を挿入することで、ＭＯカートリッジ１７０に収納された光ディスク（ＭＯディスク）１７２のハブがスピンドルモータ１４０のターンテーブルに装着されて光ディスク１７２が光ディスク装置にロードされる。
【００４３】
ロードされたＭＯカートリッジ１７０内の光ディスク１７２の下側には、ＶＣＭ１６４により光ディスク１７２のトラックを横切る方向に移動自在なキャリッジ１７６が設けられている。キャリッジ１７６上には対物レンズ１８０が搭載され、固定光学系１７８に設けられているレーザダイオード１３０−１からのビームを立ち上げミラー１８２を介して入射して光ディスク１７２の記録面にビームスポットを結像する。
【００４４】
対物レンズ１８０は、図１に示すエンクロージャ１１１のフォーカスアクチュエータ１６０により光軸方向に移動制御され、又、レンズアクチュエータ１６４により光ディスク１７２のトラックを横切る半径方向に例えば数十トラックの範囲内で移動可能である。このキャリッジ１７６に搭載されている対物レンズ１８０の位置が、図１のレンズ位置センサ１５４により検出される。レンズ位置センサ１５４は、対物レンズ１８０の光軸が直上に向かう中立位置でレンズ位置検出信号をゼロとし、光ディスク１７２のアウタ側への移動とインナ側への移動に対して夫々異なる曲性の移動量に応じたレンズ位置検出信号Ｅ４を出力する。
【００４５】
図３は、本発明になる記憶装置の第１実施例の要部を示すブロック図である。記憶装置の第１実施例では、本発明が特に特開平１１−１６２５１号公報にて提案されているような、記録（ライト）パワーを増減させて書き込みが成功するまでリトライを行うリトライ処理を行う機能を備えた光磁気ディスク装置に適用されている。又、記憶装置の第１実施例は、本発明になるトラッキング制御方法の第１実施例を採用する。
【００４６】
図３において、光磁気ディスク装置は、大略ＭＰＵ１１２、ディジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）１１６、レーザダイオードを含む光学ヘッド３、フォトディテクタ部４、アンプ・フィルタ・オフセット加算回路５，６、二値化回路７、ドライバ（駆動回路）１６２，１５８、アクチュエータ１６４，１６０、メモリ１１８及び温度センサ１３６からなる。
【００４７】
ＭＰＵ１１２は、光磁気ディスク装置全体の制御を行う。メモリ１１８は、ＭＰＵ１１２が実行するプログラムやテーブル等の各種データを格納するＲＯＭ領域と、ＭＰＵ１１２が実行する計算の中間結果等を格納するＲＡＭ領域を含む。温度センサ１３６は、光磁気ディスク装置内の温度を検出して、温度検出信号をＭＰＵ１１２に供給する。
ＤＳＰ１１６は、大略アナログ・ディジタル変換器（ＡＤＣ）２１、アンプ２２、オフセット加算回路２３、トラッキング制御部２４、スイッチ回路２５、ディジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）２６、カウンタ２７、速度検出部２８、シーク制御部２９、トラッキングエラー信号（ＴＥＳ）振幅・オフセット検出回路３１、ＤＡＣ３２、ＡＤＣ４１、アンプ４２、フォーカス制御部４３、フォーカスアクチュエータ変位検出部４４、感度補正回路４５、スイッチ４６及びＤＡＣ２７からなる。光磁気ディスク１７２は、装着脱可能であっても良い。尚、図３では、説明の便宜上、ＤＳＰ１１６のハードウェア及びファームウェアのうち、本発明になるトラックッキング制御に直接関係する部分のみを示す。
【００４８】
尚、光磁気ディスク駆動系、読み出し／書き込み（リード／ライト）信号処理系等は、本発明の要旨と直接関係がないので、図３ではこれらの図示は省略する。又、光磁気ディスク装置の基本構成は、図３に示す基本構成に限定されず、ＤＳＰ１１６等のプロセッサが後述する動作と同等な動作を行える構成であれば、種々の周知の基本構成を用いることができる。図３中、図１及び図２と同一部分には同一符号を付し、その説明は省略する。
【００４９】
図３において、光学ヘッド３により光磁気ディスク９上に光ビームを照射して、光磁気ディスク１７２から反射された光ビームのうち、トラッキング制御に用いられる成分は、フォトディテクタ部４のＴＥＳ検出部により検出され、トラッキングエラー信号（ＴＥＳ）がアンプ・フィルタ・オフセット加算回路５を介して、二値化回路７及びＤＳＰ１１６内のＡＤＣ２１に供給される。光学ヘッド３及びフォトディテクタ部４は、図１に示すレーザダイオードユニット１３０、ＩＤ／ＭＯ用ディテクタ１３２、ヘッドアンプ１３４、ＦＥＳ用ディテクタ１４５及びＴＥＳ用ディテクタ１４７に対応する。アンプ・フィルタ・オフセット加算回路５は、アンプ（増幅）機能と、フィルタ機能と、オフセット加算機能とを備えている。ＡＤＣ２１は、ディジタル信号に変換されたＴＥＳをアンプ２２及びＴＥＳ振幅・オフセット検出回路３１に供給する。ＴＥＳ振幅・オフセット検出回路３１は、ＴＥＳの正側のピーク値及び負側のピーク値を検出して、ＭＰＵ１１２に供給する。
【００５０】
ＭＰＵ１１２は、ＴＥＳ振幅・オフセット検出回路３１から得られるＴＥＳの正側のピーク値及び負側のピーク値に基いて、ＴＥＳの中心付近でトラッキング制御が行われるようにＤＳＰ１１６内のＤＡＣ３２を介してオフセットをアンプ・フィルタ・オフセット加算回路５に供給して、ＴＥＳのオフセットを補正すると共に、ＴＥＳの振幅が規定振幅となるように、ＤＳＰ１１６内のアンプ２２のゲインを制御する。これにより、アンプ２２からは、ＴＥＳのレベルに対する変位量が正規化された、正規化ＴＥＳが得られてオフセット加算回路２３に供給される。
【００５１】
アンプ２２からの正規化ＴＥＳは、オフセット加算回路２３において後述するようなオフセットを加算された後、位相補償フィルタの機能を含むトラッキング制御部２４に供給される。トラッキング制御部２４は、スイッチ回路２５、ＤＡＣ２６及びドライバ１６２を介してトラック（レンズ）アクチュエータ１６４を周知の方法で制御することにより、光学ヘッド３、即ち、光ビームのトラッキング制御を行う。
【００５２】
又、アンプ・フィルタ・オフセット加算回路５からのＴＥＳは、二値化回路７により二値化されてＤＳＰ１１６内のカウンタ２７に供給される。速度検出部２８は、カウンタ２７の出力に基いてシーク速度を検出して、シーク制御部２９は、検出されたシーク速度に基いてシーク速度制御用の信号としてスイッチ２５に供給される。スイッチ２５は、ＭＰＵ１１２からの信号に基いて、シーク速度制御時にはシーク制御部２９からの信号を出力し、トラッキングオン時にはトラッキング制御部２４からの信号を出力するよう切替制御される。トラッキングオフ時には、両者の信号出力が切断される。
【００５３】
他方、光磁気ディスク１７２から反射された光ビームのうち、フォーカス制御に用いられる成分は、フォトディテクタ部４のＦＥＳ検出部により検出され、フォーカスエラー信号（ＦＥＳ）がアンプ・フィルタ・オフセット加算回路６を介して、ＤＳＰ１１６内のＡＤＣ４１に供給される。アンプ・フィルタ・オフセット加算回路６は、アンプ・フィルタ・オフセット加算回路５と同様の、アンプ（増幅）機能と、フィルタ機能と、オフセット加算機能とを備えている。ＡＤＣ４１は、ディジタル信号に変換されたＦＥＳをアンプ４２を介してフォーカス制御部４３に供給する。
【００５４】
フォーカスアクチュエータ変位検出部４４は、フォーカス制御部４３の出力に基いてフォーカス制御中のフォーカスアクチュエータ１６０の変位、即ち、光磁気ディスク１７２の面振れ量を検出し、感度補正回路４５に供給する。感度補正回路４５からの面振れ量に応じた感度補正値は、オフセット加算回路２３に供給される。又、フォーカス制御部４３の出力は、スイッチ回路４６、ＤＡＣ４７及びドライバ１５８を介してフォーカスアクチュエータ１６０を周知の方法で制御することにより、光学ヘッド３、即ち、光ビームのフォーカス制御を行う。スイッチ回路４６は、ＭＰＵ１１２からの信号に基いて、フォーカス制御を行わない場合にはフォーカス制御部４３の出力をＤＡＣ４７に供給しないように切替制御される。
【００５５】
次に、トラッキング目標位置の最適オフセットを用いた本実施例のトラッキング制御の概略について説明する。後述するトラッキング目標位置の最適オフセットを求める処理は、ロードされた記録媒体の媒体種別を識別し、３．５インチ２．３ＧＢ以上の高密度記録媒体である場合に、テストライト処理と同期して行われる。尚、２．３ＧＢ未満の低密度記録媒体の場合は、トラッキング目標位置の最適オフセットは求めない。
【００５６】
最初に、トラッキング目標位置のオフセットを、以下の如く検出する。先ず、例えば特開平９−２９３２５９号公報、特開平１１−７３６６９号公報や特開平１１−１６２５１号公報等にて提案されている如きテストライト処理で求められた最適記録（ライト）パワーで、テスト用トラックの1本の書き込みテスト用トラックにデータを書き込む。光磁気ディスク１７２上のテスト用トラックは、テストライト処理及びテストリード処理により光ビームのパワーを調整するために設けられた少なくとも１つ以上の領域であり、ユーザデータが書き込まれることはない。
【００５７】
次に、最適記録パワーでデータが書かれた両隣のトラックに、最適記録パワーに対して規定比率分パワーが大きくなる計数を乗算し、得られた最適記録パワーより大きい記録パワーを使用して、隣接トラックにより影響しやすい書き込み条件でデータを書き込む。この時、処理時間の短縮を目的に、３本のトラックとも大きい記録パワーで書き込んでも良い。又、ランド・グルーブ記録方式を採用する光磁気ディスク１７２の場合は、両隣にデータ書き込み済みトラックがランド再生の場合もグルーブ再生の場合も存在するように、最低でも4トラック分のデータを書き込む必要がある。
【００５８】
この時の記録パワー増加は、書き込みテスト用トラックとユーザトラック間の最適記録パワーの差に対応する程度にするか、或いは、書き込みリトライ処理で記録パワーを増減させる際の増加分程度にする。上記の如き処理により、実際にユーザデータが書き込まれるユーザトラックでの、隣接トラックにおける信号の漏れ込み量を確認することができる。
【００５９】
次に、オフセット加算回路２３に供給するオフセットデータを、ＴＥＳの正側（例えば、光磁気ディスク１７２のアウタ方向）にトラッキングするように徐々に増加させながらデータを再生し、ＯＤＣ１４のＥＣＣ処理部１４−２を利用して光磁気ディスク１７２に書き込んだライトデータを読み出して得たリードデータをビットコンペア又はバイトコンペアした結果から計算して、夫々のオフセットを加算した時のビット又はバイト誤り個数又はビット又はバイトエラーレート又はＥＣＣ訂正バイト数を測定する。このときに再生（リード）パワーを規定量又は規定比率だけ増加させ、隣接トラックの影響をより受けやすい状態にして測定すると、トラッキング目標位置のオフセットの振り幅（変化させる量）を小さくすることができる。
【００６０】
便宜上、以下の説明では、ビット誤り個数を測定した場合について述べる。
【００６１】
図４は、上記の如き測定により得られるトラッキング目標位置のオフセットとビット誤り個数との関係を示す図である。同図中、縦軸はビット誤り個数を任意単位で示し、横軸は光磁気ディスク１７２上の位置を示し、左方向は光磁気ディスク１７２のインナ方向、右方向は光磁気ディスク１７２のアウタ方向を示す。又、同図中、ビット誤り個数がある規定値以上になるポイントを、オフセットａとする。更に、オフセット加算回路２３に供給するオフセットデータを、ＴＥＳの負側（例えば光磁気ディスク１７２のインナ方向）にトラッキングするように徐々に増加させながらデータを再生し、同様にビット誤り個数がある規定値以上になるポイントをオフセットｂとする。そして、オフセットaとオフセットbの中点を、ビット誤り個数の最小点とし、トラッキング目標位置の最適オフセットとする。
【００６２】
図４では、測定結果が略Ｕ字であるが、例えば略レ字になる場合等を想定して、次のようにビット誤り個数の最小点を検出しても良い。つまり、上記正側と負側にオフセットを加算してビット誤り個数を測定した時の夫々の測定結果をメモリ１１８に保存し、負側に最も大きくオフセットさせた時をオフセット０の基準とする。オフセット０から正側のオフセット最大値、即ち、オフセットnまでのビット誤り個数を積算し、ビット誤り個数の平均Ａｖｅを求めることで、「（オフセット０の時のオフセット加算値）＋（測定時のオフセット変化幅×Ａｖｅ）＝最小ビット誤り個数となるオフセット」としても良い。
【００６３】
上記によらず、何らかの手法でデータ再生特性が最適になると思われる、トラッキング目標位置のオフセットを、トラッキング目標位置の最適オフセットとしても良い。
【００６４】
尚、オフセットを変化させてもビット誤り個数が規定値よりも多い場合、或いは、ビット誤り個数が規定値よりも小さいが規定値を満足するオフセット幅が狭い場合には、記録パワー又は再生パワーを小さくして再度測定を行う。再生パワーの下限は、最適再生パワーまでとし、オフセット加算状態でビット誤り個数を測定する再測定処理を行う。記録パワーの下限は、上記テストライト処理で得られる最低書き込み可能パワーに対して、上記記録パワー増加分又は記録パワー増加比率分、記録パワーを大きくしたパワーとして、再度の書き込みからの再測定処理を行う。
【００６５】
逆に、ビット誤り個数が規定値よりも小さいオフセットが、あるオフセット幅の規定値よりも広すぎる場合は、記録パワー又は再生パワーを大きくして再度測定処理を行う。記録パワーも再生パワーもあるところまで増加させても、ビット誤り個数が規定値よりも小さいオフセットが、オフセット幅の規定値よりも広すぎる場合は、トラッキング目標位置の最適オフセットは０とする。
【００６６】
上記の処理を、光磁気ディスク１７２のゾーン毎又はゾーン群毎に管理して実行する。又、上記の処理は、光磁気ディスク１７２の温度変化に依存するため、それらのゾーンに対して実行時間及び／又は実行温度がメモリ１１８に記憶され、現在時間及び／又は現在温度が過去に実行された時と規定値以上の差があれば、再度測定処理をやり直すようにする。尚、光磁気ディスク１７２を光磁気ディスク装置にロードした直後は、時間に対する光磁気ディスク１７２の温度変化量が比較的急峻であるため、実行時間間隔を短く設定し、ロードからの経過時間が長くなるほど、実行時間間隔が長くなるようにする。
【００６７】
再生時のトラッキング目標位置の最適オフセットは、上記の如き処理により求まるが、上記測定結果は、記録時にも使用することができる。記録時には、再生時のトラッキング目標位置の最適オフセットとは逆極性で、トラッキング目標位置のオフセットを設定することで、上記測定処理で得られた再生時のトラッキング目標位置の最適オフセットを小さくすることができる。書き込み時にトラッキング目標位置のオフセットを補正する際、経験的に再生時の方がオフセットの影響が小さく、あくまでもトラックセンタ付近で書き込みを行った方が危険度が小さいため、再生時のトラッキング目標位置の最適オフセットよりも小さなオフセットとする。
【００６８】
又、書き込み時にトラッキング目標位置をオフセットさせた場合は、再生時のトラッキング目標位置の最適オフセットはオフセット加算回路２３で加算されるトラッキング目標位置の最適オフセットよりも小さくなるはずであるため、トラッキング目標位置の最適オフセットを小さく補正する必要がある。
【００６９】
上記では、光磁気ディスク１７２の１回転単位のトラッキング目標位置の最適オフセットについて述べた。つまり、光磁気ディスク１７２の１回転単位の測定では、１回転の整数倍（上記の場合は１倍）のトラックにデータを書き込み、光磁気ディスク１７２の１回転の整数倍のデータ再生誤りをオフセットを正／負側に段階的に変えることで測定し、トラッキング目標位置の最適オフセットを求める。
【００７０】
以下では、更に光磁気ディスク１７２の1回転内の回転角に相当する単位で測定を行う場合について説明する。この場合、光磁気ディスク１７２の１回転内の回転角を分割する形で区切られるセクタ単位、又は、セクタ群単位で、オフセットに対するデータ再生誤りを測定する。実際の書き込み処理は、上記１回転単位の測定の場合と同様で良い。つまり、管理対象をセクタ単位、又は、セクタ群単位とするだけで良い。この時、各データは、階段上の不連続なものとなるが、再生時等に使用される場合は、そのデータを連続的なデータに補正して滑らかにオフセットが加算されるようにすれば良い。
【００７１】
図５は、光磁気ディスク１７２の1回転内の回転角に相当する単位で測定を行う場合を説明する図である。同図中、（ａ）は光磁気ディスク１７２の回転に同期した回転同期信号、（ｂ）はセクタ番号、（ｃ）は１回転内のデータ測定結果、（ｄ）は１回転内の補正後のデータを示す。
【００７２】
トラッキング目標位置の最適オフセットを求める他の手法として、光磁気ディスク１７２の１回転内の面振れ量とチルト量とが比例関係にあるという特性を利用しても良い。フォーカスアクチュエータ１６０が図６に示す特性を有する場合の動作を、図７と共に説明する。図６中、（ａ）はフォーカスアクチュエータ１６０の変位とアクチュエータ駆動電流周波数との関係、即ち、アクチュエータ駆動伝達関数（ばね支持型）を示し、縦軸も横軸も任意単位で示す。又、図６中、（ｂ）はフォーカスアクチュエータ１６０の位相と共振周波数との関係を示す図であり、縦軸も横軸も任意単位で示す。
【００７３】
光磁気ディスク１７２の面振れ量は、フォーカス制御中のフォーカスアクチュエータ１６０の変位量、即ち、フォーカス制御量を検出することによって知ることができる。フォーカスアクチュエータ１６０の変位量は、フォーカスサーボ中のフォーカスアクチュエータ１６０に対する駆動電流指示値を、アクチュエータ駆動伝達関数を用いることで計算により求めることができる。ばね支持型のフォーカスアクチュエータ１６０の場合、駆動電流指示値は次のアクチュエータ駆動伝達関数を用いて計算できる。ここで、Ｘｆはフォーカスアクチュエータ１６０の変位量、Ｇｆはフォーカスアクチュエータ１６０のアクチュエータ駆動伝達関数、Ｉｆはフォーカスアクチュエータ１６０の駆動電流、Ｃｆはフォーカスアクチュエータ１６０のコイル推力係数、ｍｆはフォーカスアクチュエータ１６０の質量、Ｄｆはフォーカスアクチュエータ１６０のダンパ係数、Ｋｆはフォーカスアクチュエータ１６０のばね係数である。又、ｓは、ラプラス変換により微分方程式を解く際に一般的に用いられる演算子であり、その周波数特性を求める時は、ｓ＝ｊω＝ｊ２πｆ（ωは角周波数（ｒａｄ/ｓ），ｆは周波数（Ｈｚ））として計算する。
【００７４】
Ｘｆ＝Ｇｆ・Ｉｆ＝Ｃｆ／（ｍｆ・ｓ２+Ｄｆ・ｓ+Ｋｆ）
フォーカスアクチュエータ１６０の変位量を、光磁気ディスク１７２の１回転中常に計算し、ある係数を乗じた出力をトラッキング目標位置の最適オフセットとして補正すれば良い。
【００７５】
図７中、（ａ）は光磁気ディスク１７２の回転に同期した回転同期信号、（ｂ）は１回転内の面振れ量、（ｃ）はフォーカスアクチュエータ１６０の駆動電流、（ｄ）は１回転内の補正後のデータを示す。
【００７６】
尚、この時、フォーカスアクチュエータ１６０の変位量の交流成分を検出し、その交流成分にのみ対応させたトラッキング目標位置の最適オフセット遷移を、前出１回転単位の測定で得られた１回転の平均的トラッキング目標位置の最適オフセットに加算することで補正しても良い。又、１回転単位の測定は行わず、フォーカスアクチュエータ１６０の変位量そのものに対応させたトラッキング目標位置の最適オフセットのみで補正しても良い。このときは、フォーカスアクチュエータ１６０の中立点と光磁気ディスク１７２との間の距離が既知の状態で、オフセットの校正を行っておく必要がある。工場での光磁気ディスク装置の立ち上げ時等にオフセットの校正を行いメモリ１１８に記憶しておく場合、記憶された値との相対変化量を補正する。
【００７７】
以上説明した通り、トラッキング目標位置のオフセットとデータ再生誤りについては密接な関係があることがわかる。ここで、再生時に読み取りエラーが発生した時のリトライ処理において、トラッキング目標位置のオフセットを正方向／負方向に増減させることで、読み取りエラーが発生したセクタが読めるようになる可能性がある。よって、再生時に読み取りエラーが発生した時のリトライ処理時に、トラッキング目標位置のオフセットを正方向／負方向に増減させるモードを設定しておくことが望ましい。そして、オフセットを正方向に振ったときに成功したのか、或いは負方向に振ったときに成功したのかを、夫々の場合について計数し、その計数結果をある規定のタイミングで統計処理し、成功比率の高い方向になるようにトラッキング目標位置の最適オフセットを記憶し直す学習処理を行うことが有効である。学習処理の概念については、例えば特開２０００−１８２２９２号公報に記録／再生パワー学習法が提案されており、記録／再生パワーパラメータをトラッキング目標位置のオフセットと置き換えれば良い。
【００７８】
尚、書き込み後の確認（ベリファイ）処理では、トラッキング目標位置の最適オフセットを規定量小さくして加算することが望ましい。又、リトライ処理時には、トラッキング目標位置のオフセットを増減しない、或いは、増減量を通常再生時よりも小さくすることが望ましい。更に、トラッキング目標位置のオフセットの増減は、学習処理の対象とはしないことが望ましい。
【００７９】
以上説明した処理は、図８に示す手段により実現できる。図８は、図３の要部を示す機能ブロック図である。
【００８０】
図８において、発光調整部２００は図１に示すＭＰＵ１１２に対応し、最適フォーカス点検出部２０７は図３に示すＤＳＰ１１６に対応し、装置内温度検出部２０８は図３に示す温度センサ１３６に対応する。発光調整部２００は、調整タイミング判定部２０２、発光パワー調整部２０３、隣接トラック及び最適トラッキング位置確認部２０４、最適トラッキング位置テーブル作成部２０５及びパワーテーブル作成部２０６の処理機能を有するプログラム又はファームウェアからなる。
【００８１】
調整タイミング判定部２０２は、装置内温度検出部２０８からの温度検出信号に基いて、発光パワー調整部２０３による記録パワー調整タイミングを判定して起動する。調整タイミング判定部２０２は、光磁気ディスク装置に光磁気ディスク１７２がロードされた直後は記録パワーの調整処理を起動せず、光磁気ディスク装置の初期化処理が終了してホスト装置（図示せず）から最初のライトコマンドが発行された際に、これに応答して発光パワー調整部２０３を起動してテストライト処理を伴う最初の発光パワー調整処理を行わせ、ロードされた光磁気ディスク１７２の種別が２．３ＧＢ以上の高密度タイプであれば、続いて隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４を起動して決定された記録パワーによるテストライト処理で隣接トラックのデータ破壊の有無を確認させると共に、最適トラッキング位置、即ち、トラッキング目標位置の最適オフセットを確認させる。
【００８２】
一度、発光パワー調整部２０３及び隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４による記録パワー調整処理が終了すると、その後は記録パワー調整結果の有効時間を算出し、調整終了からの経過時間が算出した有効時間（例えば、経過時間に応じて１０秒毎、２分毎、１０分毎と増やす）に達した時、次の記録パワー調整のため発光パワー調整部２０３及び隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４の処理を順次起動する。又、経過時間が有効時間に達するまでの間、装置内温度検出部２０８から得られる装置内温度Ｔが例えば±３℃を超えた時には、強制的に発光パワー調整部２０３及び隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４の起動による記録パワー調整処理を行わせる。
【００８３】
発光パワー調整部２０３は、ロードされた光磁気ディスク１７２のユーザ未使用領域の任意のテストライト領域を指定し、予め定めたテストパターンを記録パワーを段階的に徐々に低下させながら書き込んだ後に読み出して、元のテストパターンと比較してデータの不一致個数を計数する処理を繰り返す。このテストライト処理において、計数された不一致個数が予め定めた最大数を超える時の記録パワーを限界記録パワーとして検出する。
【００８４】
このように記録パワーを段階的に低下させながら限界記録パワーを検出すると、この限界記録パワーに所定のオフセットを加算した値を最適記録パワーと決定する。発光パワー調整部２０３における記録パワーの設定は、その時の記録パワーデフォルト値を基準としたデフォルト比率を使用して行われる。従って、限界記録パワーも、限界記録パワーを示すデフォルト比率として検出され、これに所定のオフセット値を加算した値を最適記録パワーのデフォルト値として決定することになる。
【００８５】
隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４は、発光パワー調整部２０３で決定された記録パワー及び消去（イレーズ）パワーを使用したレーザダイオードの発光駆動により光磁気ディスク１７２のテストライト領域でテストライト処理を行った後に、隣接トラックを再生してデータの再生が可能か否か、データ破壊若しくは劣化の有無を確認する。データ破壊若しくは劣化がなかった場合には、テストライト処理に使用した記録パワー及び消去パワーを最適記録パワーとして設定する。又、隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４は、最適トラッキング位置検出処理の結果に基いて最適トラッキング位置を求める。最適トラッキング位置テーブル作成部２０５は、隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４で求められた最適トラッキング位置に基いて最適トラッキング位置テーブルを作成する。又、パワーテーブル作成部２０６は、発光パワー調整部２０３で決定された記録パワー及び隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４で設定された最適記録パワーに基いてパワーテーブルを作成する。
【００８６】
隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４の処理手順は、次の▲１▼〜▲３▼のステップで構成できる。尚、隣接トラック確認処理が正常に終了したら、テストライト領域を消去しておく。
▲１▼テストライト領域の全てのトラックに第１のテストパターンをテストライトし、
▲２▼テストライト領域の特定トラックの特定セクタ位置に第２のテストパターンを規定回数テストライトし、
▲３▼第２のテストパターンをテストライトしたセクタの隣接セクタを再生してデータ破壊の有無を確認すると共に、最適トラッキング位置を求める。
【００８７】
このように、本実施例では、発光調整部２００内の隣接トラック確認及び最適トラッキング位置確認部２０４が隣接トラック確認処理に加えて最適トラッキング位置確認処理を行い、最適トラッキング位置テーブル作成部２０５が最適トラッキング位置テーブルを作成する点を除けば、基本的には上記特開平１１−１６２５１号公報の図１（Ａ）に示されている機能ブロックの動作と同様である。
【００８８】
従って、発光パワー調整に先立つディスク起動処理、隣接トラックの確認を含む記録パワー調整処理、記録パワー調整の必要性判断、テストライトによる記録パワー調整処理及び隣接トラック確認処理は、夫々上記特開平１１−１６２５１号公報の図１１、図１２、図１３、図１４及び図２０に示されているフローチャートと同様になる。ただし、本実施例の場合、上記特開平１１−１６２５１号公報の図１２に示されている隣接トラックの確認を含む記録パワー調整処理中、ステップＳ５’は、図９に示すようにテストライトによる隣接トラック確認処理に加え、最適トラッキング位置確認処理を行うことになる。図９中、上記特開平１１−１６２５１号公報の図１２と同一ステップには同一符号を付し、その説明は省略する。
【００８９】
上記特開平１１−１６２５１号公報の図２０に示されている隣接トラック確認処理により求められた記録パワーは、最適パワーとして設定された後、図１０に示す処理が行われる。図１０は、略Ｕ字カーブを有するビット誤り個数の測定結果から、ビット誤り個数の増加点の中点、即ち、図４におけるオフセットaとオフセットbの中点を求めて、ビット誤り個数の最小点とする処理を説明するフローチャートである。
【００９０】
図１０において、ステップＳ１１は、最適パワーで測定トラックに対するテストライト処理を行い、ステップＳ１２は、最適パワーにオフセットを加算したパワーで測定トラックの両隣接トラックに対するテストライト処理を行う。ステップＳ１３は、データリード処理を行い、測定トラック及びその両隣接トラックからデータ（テストデータ）を再生する。ステップＳ１４は、再生されたデータの不一致数を例えばワード単位に換算し、ステップＳ１５は、データ不一致数が規定値以下であるか否かを判定する。ステップＳ１５の判定結果がＹＥＳであると、ステップＳ１６は、トラッキング位置を光磁気ディスク１７２のインナ側に移動し、処理はステップＳ１３へ戻る。
【００９１】
他方、ステップＳ１５の判定結果がＮＯであると、ステップＳ１７は、トラッキング位置（オフセットｂ）を保存し、ステップＳ１８は、トラッキング位置を中心値に初期化する。その後、ステップＳ１９は、上記ステップＳ１３と同様にデータリード処理を行い、ステップＳ２０は、上記ステップＳ１４と同様にデータ不一致数を例えばワード単位に換算する。又、ステップＳ２１は、上記ステップＳ１５と同様に、データ不一致数が規定値以下であるか否かを判定する。ステップＳ２１の判定結果がＹＥＳであると、ステップＳ２２は、トラッキング位置を光磁気ディスク１７２のアウタ側に移動し、処理はステップＳ１９へ戻る。
【００９２】
ステップＳ２１の判定結果がＮＯであると、ステップＳ２３は、トラッキング位置（オフセットａ）を保存し、ステップＳ２４は、保存されたトラッキング位置（オフセットａとｂ）の中点を検出し、処理は終了する。検出された中点は、ビット誤り個数の最小点、即ち、トラッキング目標位置の最適オフセットとする。
【００９３】
図１１は、光磁気ディスク１７２上の記録フォーマットを説明する図である。同図の下部に拡大して示すように、光磁気ディスク１７２のインナ側の１ゾーンには、アウタ方向に向かって順次バッファ０領域Ａ、バッファ１領域Ｂ、スペア領域Ｃ、データトラック領域（ユーザトラック領域）ＤＡＴＡ、バッファ２領域Ｄ、テストライト領域Ｅ、バッファ３領域Ｆ及びバッファ４領域Ｇが設けられている。トラッキング目標位置の最適オフセットを求める際には、最適パワーを求める際と同様に、テストライト領域Ｅを用いる。
【００９４】
次に、実際の再生又は記録時に、トラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理について、図１２及び図１３と共に説明する。図１２は、本実施例におけるトラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理を説明するフローチャートである。又、図１３は、最適オフセットの加算処理を説明する図である。
【００９５】
図１２に示す処理は、ＭＰＵ１１２がホスト装置から再生又は記録を目的としたシークコマンドを受けると開始される。ステップＳ３１は、受けたシークコマンドに伴うジャンプ命令が発行されたか否かを判定し、判定結果がＹＥＳになると、ステップＳ３２は、光磁気ディスク１７２上の識別情報（ＩＤ）部分のリードを実行する。ステップＳ３３は、ＩＤ部分のリードが成功したか否かを判定し、判定結果がＮＯであると、処理はステップＳ３２へ戻る。他方、ステップＳ３３の判定結果がＹＥＳであると、ステップＳ３４は、シークコマンドの処理目的から、トラッキング目標位置のオフセットの加算の要否を判定する。ステップＳ３４の判定結果がＮＯであると、ステップＳ３５は、オフセットを０に設定すると共に、オフセット加算時間を０に設定し、処理はステップＳ３７へ進む。
【００９６】
他方、ステップＳ３４の判定結果がＹＥＳであると、トラッキング目標位置の最適オフセットをメモリ１１８から読み込み、再生又は記録のいずれかの処理に応じたオフセットを計算して設定すると共に、オフセットの加算時間を計算して設定し、処理はステップＳ３７へ進む。ステップＳ３７は、シークが実行されたか否かを判定し、判定結果がＮＯであると、処理は後述するステップＳ４０へ進む。ステップＳ３７の判定結果がＹＥＳであると、ステップＳ３８は、設定されているオフセットを加算し、ステップＳ３８は、シークコマンドに含まれている目的トラックに到達しているか否かを判定する。
【００９７】
ステップＳ３９の判定結果がＮＯであると、ステップＳ４０は、目的トラックへ到達するためにジャンプするべきトラック本数を計算し、ステップＳ４１は、計算されたトラック本数のジャンプを実行する。ステップＳ４２は、ジャンプが成功したか否かを判定し、判定結果がＮＯであると、ステップＳ４３は、トラックへの再引き込みを実行し、処理はステップＳ３２へ戻る。ステップＳ４２の判定結果がＹＥＳであると、処理はステップＳ３２へ戻る。又、ステップＳ３９の判定結果がＹＥＳになると、処理は終了する。
【００９８】
従って、ステップＳ３４においてオフセットの加算が必要でないと判断されると、現在のトラックを確認して目標トラックとの距離を計算する。この場合、回転補正が施され、最適なジャンプ本数が設定される。そしてジャンプが開始され、ジャンプが終了すると目標トラックに到達したかを確認し、そうでない場合は再度ジャンプをし直す処理が行われ、従来と同様に最終的に目標トラックに位置付けられる。
【００９９】
他方、ステップＳ３４においてオフセットの加算が必要であると判断されると、現在のトラックを確認して目標トラックとの距離を計算する。この場合も、回転補正が施され、最適なジャンプ本数が設定され、その補正処理にはシーク終了後のオフセット加算処理に要する時間も加味される。その後、ジャンプが開始されて終了すると、徐々にオフセットが加算され、目標オフセットまで増加させる。そして、目標トラックに到達したかを確認し、そうでない場合は再度ジャンプをし直す処理が行われ、最終的に目標トラックに位置付けられる。又、光磁気ディスク１７２の１回転分の補正する時は、１回転分に相当するデータを転送すると共に、１回転分のオフセットの平均値までオフセットが加算され、その後は1回転のデータを回転に同期して自動的に出力する。
【０１００】
図１３（ａ）は、シーク中のトラッキングエラー信号を示し、同図（ｂ）はシークに伴い上記トラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理により加算されるオフセットを示す。
【０１０１】
尚、目標トラック確認処理とオフセット加算処理は、上記の如く並列に実行することが可能である。
【０１０２】
次に、本発明になる記憶装置の第２実施例の実際の再生又は記録時に、トラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理について、図１４及び図１５と共に説明する。記憶装置の第２実施例の基本構成は、図３に示す構成と同様である。図１４は、本実施例におけるトラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理を説明するフローチャートである。又、図１５は、最適オフセットの加算処理を説明する図である。図１４中、図１２と同一ステップには同一符号を付し、その説明は省略する。
【０１０３】
図１４において、ステップＳ３７の判定結果がＹＥＳであると、ステップＳ５１は、残りのオフセットを加算してからステップＳ３９の処理へ進む。又、ステップＳ４１の後、ステップＳ５２は設定されているオフセットを加算し、ステップＳ５３は、ジャンプを終了してから、ステップＳ４２の処理へ進む。
【０１０４】
従って、シークの動作マージンを損なわない程度のオフセットであれば、シーク引き込み時に既にオフセットが加算される。又、目標のオフセット、即ち、例えばメモリ１１８等のメモリに登録されている最適オフセットが、大きい場合には、シーク引き込み時に加算したオフセットとの差を、シーク終了後に徐々に加算する。
【０１０５】
図１５（ａ）は、シーク中のトラッキングエラーを示し、同図（ｂ）はシークに伴い上記トラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理により加算されるオフセットを示す。
【０１０６】
図１６は、光磁気ディスク１７２のランドに記録する際のラジアルチルトとビットエラーレート（ＢＥＲ）を最小（ＢＥＲｍｉｎ）とするアクチュエータ１６４の移動量との関係を示す図である。同図中、縦軸はＢＥＲを最小（ＢＥＲｍｉｎ）とするトラックアクチュエータ１６４の移動量（μｍ）を示し、プラス側が光磁気ディスク１７２のアウタ方向への移動量、マイナス側がインナ方向への移動量を示し、横軸はリード時のラジアルチルト（ｍｉｎ）を示す。又、□印はライト時のラジアルチルトが-１０ｍｉｎ、●印はライト時のラジアルチルトが０ｍｉｎ、△印はライト時のラジアルチルトが+１０ｍｉｎの場合を夫々示す。
【０１０７】
図１７は、光磁気ディスク１７２のグルーブに記録する際のラジアルチルトとＢＥＲを最小（ＢＥＲｍｉｎ）とするアクチュエータ１６４の移動量との関係を示す図である。同図中、縦軸はＢＥＲを最小（ＢＥＲｍｉｎ）とするトラックアクチュエータ１６４の移動量（μｍ）を示し、プラス側が光磁気ディスク１７２のアウタ方向への移動量、マイナス側がインナ方向への移動量を示し、横軸はリード時のラジアルチルト（ｍｉｎ）を示す。又、□印はライト時のラジアルチルトが-１０ｍｉｎ、●印はライト時のラジアルチルトが０ｍｉｎ、△印はライト時のラジアルチルトが+１０ｍｉｎの場合を夫々示す。
【０１０８】
又、図１８は、ラジアルチルトと光ビームの強度分布との関係を示す図である。同図（ａ）はライト時のラジアルチルトが-１０ｍｉｎ、同図（ｂ）はライト時のラジアルチルトが０ｍｉｎ、同図（ｃ）はライト時のラジアルチルトが+１０ｍｉｎの場合の光ビームの強度分布を夫々示す。同図中、上側は光磁気ディスク１７２、光学ヘッド３の対物レンズ３００及び光ビーム３０１を示し、下側は光磁気ディスク１７２上の光ビーム３０１の強度分布を示す。又、矢印は、ＢＥＲを最小（ＢＥＲｍｉｎ）とするアクチュエータ１６４の移動方向を示す。ここで、光学ヘッド３は、波長が６６０ｎｍの光ビーム３１０を出射するレーザダイオードを用い、対物レンズ３００の開口数（ＮＡ）は０．５５である。又、ダブルマスク・リアアパチャディテクション（ＲＡＤ）方式を採用するものとする。
【０１０９】
図１６〜図１８からもわかるように、リード時の影響に比べると、ライト時のラジアルチルトの影響は小さく見える。又、トラッキング目標位置は、光ビーム３０１の強度が強くなる方向にオフセット（デトラック）させた方が、ＢＥＲが小さくなることが確認された。
【０１１０】
尚、上記の場合、工場で予めトラックセンタがトラッキング目標位置となるようにオフセットが注入されており、このトラッキング目標位置がオフセット０として設定されていることが前提である。又、チルトがあると、トラックセンタからずれた位置になってしまう可能性があるので、最適目標位置を探して対応するオフセットを付与する点に特徴がある。
【０１１１】
上記の如く、エラーレートに基いて最適オフセットを求める他に、再生信号振幅などをモニタすることで最適オフセットを求めるようにしても良い。
【０１１２】
又、上記実施例において得られる測定結果は、光磁気ディスク１７２がイジェクト（アンロード）されるとクリアされる。
【０１１３】
上記実施例では、従来装置との互換性を考慮して、例えば２.３ＧＢ未満の低密度記録媒体に対しては、本発明の機能を動作させないようにしているが、従来装置との互換性を考慮しない場合には、本発明の機能を低密度記録媒体に対して動作させても良い。この際、記録媒体の種別を判別する方法は、上記の如きＩＤ部のピットから種別を判別する方法の他に、制御情報領域の媒体情報をリードする方法を採用することも可能である。
【０１１４】
本発明は、光磁気ディスク装置への適用に限定されるものではなく、他の方式の光磁気や相変化型等の各種光記録媒体を用いる記憶装置や光ビームを利用して光磁気的性質の変化で情報を記録する磁気記録媒体を用いる記憶装置等にも適用可能であることは、言うまでもない。
【０１１５】
本発明は、以下に付記する発明をも包含するものである。
【０１１６】
（付記１） 光ビームの記録媒体上におけるトラッキング目標位置をオフセットさせながら光ビーム照射状態を測定し最適な光ビーム照射状態のトラッキング目標位置になるように最適オフセットを測定する測定ステップと、
前記測定ステップにより測定された前記最適オフセットを設定してトラッキング制御を行う制御ステップとを含むことを特徴とする、トラッキング制御方法。
【０１１７】
（付記２） 前記記録媒体の種別を判別する判別ステップを更に含み、前記測定ステップは、前記判別ステップにおいて前記記録媒体が高密度記録媒体であると判別された場合に実行されることを特徴とする、（付記１）記載のトラッキング制御方法。
【０１１８】
（付記３） 前記測定ステップは、読み取りエラー状況又は再生信号振幅又はフォーカス制御量に基いて前記光ビームの照射状態を検出することを特徴とする、（付記１）又は（付記２）記載のトラッキング制御方法。
【０１１９】
（付記４） 前記測定ステップは、隣接トラックからの波形干渉が発生しやすい状態で実行されることを特徴とする、（付記１）〜（付記３）のいずれか１項記載のトラッキング制御方法。
【０１２０】
（付記５） 前記測定ステップは、前記記録媒体の半径半径位置毎に及び／又は前記記録媒体の１回転角度毎に実行されることを特徴とする、（付記１）〜（付記４）のいずれか１項記載のトラッキング制御方法。
【０１２１】
（付記６） 前記測定ステップは、前回と今回の測定実行時間の差が規定時間以上の時及び／又は前回と今回の測定実行時の温度差が規定温度以上である時に実行されることを特徴とする、（付記１）〜（付記５）のいずれか１項記載のトラッキング制御方法。
【０１２２】
（付記７） 前記記録媒体の再生処理時にエラーが発生した場合に、トラッキング目標位置の最適オフセットを正側又は負側に変化させて再度再生処理を行う再生処理ステップを更に含むことを特徴とする、（付記１）〜（付記６）のいずれか１項記載のトラッキング制御方法。
【０１２３】
（付記８） 前記再生処理ステップは、再度行う再生処理の成功率に応じて前記トラッキング目標位置の最適オフセットを正側又は負側に変化させることを特徴とする、（付記７）記載のトラッキング制御方法。
【０１２４】
（付記９） シーク処理の目的及び目的アドレスに応じて最適オフセットを設定する設定ステップを更に含むことを特徴とする、（付記１）〜（付記８）のいずれか１項記載のトラッキング制御方法。
【０１２５】
（付記１０） 光ビームの記録媒体上におけるトラッキング目標位置をオフセットさせながら光ビーム照射状態を測定し最適な光ビーム照射状態のトラッキング目標位置になるように最適オフセットを測定するオフセット測定制御手段と、
更新された前記最適オフセットを設定してトラッキング制御を行うトラッキング制御手段とを備えたことを特徴とする、記憶装置。
【０１２６】
（付記１１） 前記記録媒体の種別を判別する判別手段を更に備え、前記オフセット測定制御手段は、前記判別手段により前記記録媒体が高密度記録媒体であると判別された場合に前記最適オフセットの測定を行うことを特徴とする、（付記１０）記載の記憶装置。
【０１２７】
（付記１２） 光ビームの記録媒体上におけるトラッキング目標位置をオフセットさせながら光ビーム照射状態を測定し最適な光ビーム照射状態のトラッキング目標位置になるように最適オフセットを測定する測定手段と、
前記測定手段により測定された前記最適オフセットを設定してトラッキング制御を行う制御手段とを備えたことを特徴とする、記憶装置。
【０１２８】
（付記１３） 前記記録媒体の種別を判別する判別手段を更に備え、前記測定手段は、前記判別手段において前記記録媒体が高密度記録媒体であると判別された場合に前記最適オフセットを測定することを特徴とする、（付記１２）記載の記憶装置。
【０１２９】
（付記１４） 前記測定手段は、読み取りエラー状況又は再生信号振幅又はフォーカス制御量に基いて前記光ビームの照射状態を検出することを特徴とする、（付記１２）又は（付記１３）記載の記憶装置。
【０１３０】
（付記１５） 前記測定手段は、隣接トラックからの波形干渉が発生しやすい状態で前記最適オフセットを測定することを特徴とする、（付記１２）〜（付記１４）のいずれか１項記載の記憶装置。
【０１３１】
（付記１６） 前記測定手段は、前記記録媒体の半径半径位置毎に及び／又は前記記録媒体の１回転角度毎に前記最適オフセットを測定することを特徴とする、（付記１２）〜（付記１５）のいずれか１項記載の記憶装置。
【０１３２】
（付記１７） 前記測定手段は、前回と今回の測定実行時間の差が規定時間以上の時及び／又は前回と今回の測定実行時の温度差が規定温度以上である時に前記最適オフセットを測定することを特徴とする、（付記１２）〜（付記１６）のいずれか１項記載の記憶装置。
【０１３３】
（付記１８） 前記記録媒体の再生処理時にエラーが発生した場合に、トラッキング目標位置の最適オフセットを正側又は負側に変化させて再度再生処理を行う再生処理手段を更に備えたことを特徴とする、（付記１２）〜（付記１７）のいずれか１項記載の記憶装置。
【０１３４】
（付記１９） 前記再生処理手段は、再度行う再生処理の成功率に応じて前記トラッキング目標位置の最適オフセットを正側又は負側に変化させることを特徴とする、（付記１８）記載の記憶装置。
【０１３５】
（付記２０） シーク処理の目的及び目的アドレスに応じて最適オフセットを設定する設定手段を更に備えたことを特徴とする、（付記１２）〜（付記１９）のいずれか１項記載の記憶装置。
【０１３６】
以上、本発明を実施例により説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種々の変形及び改良が可能であることは、言うまでもない。
【０１３７】
【発明の効果】
本発明によれば、チルト補正機構等を設けることなく、所望の記録／再生マージンを確保することのできるトラッキング制御方法及び記憶装置を実現可能である。又、最適なオフセットを測定することで、チルトが発生していても、最適なトラッキング目標位置に位置付け可能となり、記録／再生処理を高精度な位置で行えるため、高密度記録／再生が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明になる記憶装置の第１実施例を示すブロック図である。
【図２】エンクロージャの概略構成を示す断面図である。
【図３】本発明になる記憶装置の第１実施例の要部を示すブロック図である。
【図４】トラッキング目標位置のオフセットとビット誤り個数との関係を示す図である。
【図５】光磁気ディスクの1回転内の回転角に相当する単位で測定を行う場合を説明する図である。
【図６】フォーカスアクチュエータの特性を示す図である。
【図７】フォーカスアクチュエータが図６に示す特性を有する場合の動作を説明する図である。
【図８】図３の要部を示す機能ブロック図である。
【図９】隣接トラックの確認を含む記録パワー調整処理を説明するフローチャートである。
【図１０】ビット誤り個数の増加点の中点を求める処理を説明するフローチャートである。
【図１１】光磁気ディスク上の記録フォーマットを説明する図である。
【図１２】トラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理を説明するフローチャートである。
【図１３】最適オフセットの加算処理を説明する図である。
【図１４】本発明になる記憶装置の第２実施例におけるトラッキング目標位置の最適オフセットの加算処理を説明するフローチャートである。
【図１５】最適オフセットの加算処理を説明する図である。
【図１６】ランドに記録する際のラジアルチルトとビットエラーレートを最小とするアクチュエータの移動量との関係を示す図である。
【図１７】グルーブに記録する際のラジアルチルトとビットエラーレートを最小とするアクチュエータの移動量との関係を示す図である。
【図１８】ラジアルチルトと光ビームの強度分布との関係を示す図である。
【符号の説明】
２３ オフセット加算回路
３１ ＴＥＳ振幅・オフセット検出回路
４４ フォーカスアクチュエータ変位検出部
１１２ ＭＰＵ
１１６ ＤＳＰ
１１８ メモリ
１７２ 光磁気ディスク
２００ 発光調整部
２０４ 隣接トラック及び最適トラッキング位置確認部
２０５ 最適トラッキング位置テーブル作成部
Claims (10)
- 光ビームの記録媒体上におけるトラッキング目標位置をオフセットさせながら光ビーム照射状態を測定し、読み取りエラー状況又は再生信号振幅又はフォーカス制御量と前記トラッキング目標位置との関係に基いて前記光ビーム照射状態を検出することで、最適な光ビーム照射状態のトラッキング目標位置になるように最適オフセットを測定する測定ステップと、
前記測定ステップにより測定された前記最適オフセットを設定してトラッキング制御を行う制御ステップとを含み、
該測定ステップは、目的トラックに隣接する隣接トラックに最適書き込みパワーよりも高い書き込みパワーで書き込みを行い、及び／又は、前記目的トラックを最適再生パワーよりも高い再生パワーで読み取り、該隣接トラックからの波形干渉が発生しやすい状態で実行され、前記オフセットを変化させる量であるオフセット幅を所定幅以下にすることを特徴とする、トラッキング制御方法。 - 前記記録媒体の種別を判別する判別ステップを更に含み、前記測定ステップは、前記判別ステップにおいて前記記録媒体の記録密度が所定値以上であると判別された場合に実行されることを特徴とする、請求項１記載のトラッキング制御方法。
- 前記測定ステップは、前記記録媒体の半径位置毎に及び／又は前記記録媒体の１回転角度毎に実行されることを特徴とする、請求項１又は２記載のトラッキング制御方法。
- 前記測定ステップは、オフセットを変化させてもビット誤り個数が規定値より多い場合、或いは、ビット誤り個数が規定値よりも小さいが規定値が満足するオフセット幅が規定幅より狭い場合には、書き込みパワー及び／又は再生パワーを小さくして再度測定を行うことを特徴とする、請求項１記載のトラッキング制御方法。
- 光ビームの記録媒体上におけるトラッキング目標位置をオフセットさせながら光ビーム照射状態を測定し、読み取りエラー状況又は再生信号振幅又はフォーカス制御量と前記トラッキング目標位置との関係に基いて前記光ビーム照射状態を検出することで、最適な光ビーム照射状態のトラッキング目標位置になるように最適オフセットを測定するオフセット測定制御手段と、
更新された前記最適オフセットを設定してトラッキング制御を行うトラッキング制御手段とを備え、
該オフセット測定制御手段は、目的トラックに隣接する隣接トラックに最適書き込みパワーよりも高い書き込みパワーで書き込みを行い、及び／又は、前記目的トラックを最適再生パワーよりも高い再生パワーで読み取り、該隣接トラックからの波形干渉が発生しやすい状態で該最適オフセットを測定し、前記オフセットを変化させる量であるオフセット幅を所定幅以下にすることを特徴とする、記憶装置。 - 前記記録媒体の種別を判別する判別手段を更に備え、前記オフセット測定制御手段は、前記判別手段により前記記録媒体の記録密度が所定値以上であると判別された場合に前記最適オフセットの測定を行うことを特徴とする、請求項５記載の記憶装置。
- 光ビームの記録媒体上におけるトラッキング目標位置をオフセットさせながら光ビーム照射状態を測定し、読み取りエラー状況又は再生信号振幅又はフォーカス制御量と前記トラッキング目標位置との関係に基いて前記光ビーム照射状態を検出することで、最適な光ビーム照射状態のトラッキング目標位置になるように最適オフセットを測定する測定手段と、
前記測定手段により測定された前記最適オフセットを設定してトラッキング制御を行う制御手段とを備え、
該測定手段は、目的トラックに隣接する隣接トラックに最適書き込みパワーよりも高い書き込みパワーで書き込みを行い、及び／又は、前記目的トラックを最適再生パワーよりも高い再生パワーで読み取り、該隣接トラックからの波形干渉が発生しやすい状態で該最適オフセットを測定し、前記オフセットを変化させる量であるオフセット幅を所定幅以下 にすることを特徴とする、記憶装置。 - 前記記録媒体の種別を判別する判別手段を更に備え、前記測定手段は、前記判別手段において前記記録媒体の記録密度が所定値以上であると判別された場合に前記最適オフセットを測定することを特徴とする、請求項７記載の記憶装置。
- 前記オフセット測定制御手段又は前記測定手段は、オフセットを変化させてもビット誤り個数が規定値より多い場合、或いは、ビット誤り個数が規定値よりも小さいが規定値が満足するオフセット幅が規定幅より狭い場合には、書き込みパワー及び／又は再生パワーを小さくして再度測定を行うことを特徴とする、請求項５又は７記載の記憶装置。
- 前記オフセット測定制御手段又は前記測定手段は、少なくとも読み取りエラーを挟む両側トラックに対して最適書き込みパワーよりも高い書き込みパワーで書き込みを行うことを特徴とする、請求項５又は７記載の記憶装置。
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