JPH1116251A - 光学的記憶装置 - Google Patents

光学的記憶装置

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JPH1116251A
JPH1116251A JP9166943A JP16694397A JPH1116251A JP H1116251 A JPH1116251 A JP H1116251A JP 9166943 A JP9166943 A JP 9166943A JP 16694397 A JP16694397 A JP 16694397A JP H1116251 A JPH1116251 A JP H1116251A
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optical storage
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亨 池田
Shigetomo Yanagi
茂知 柳
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    • G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
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Abstract

(57)【要約】 【課題】隣接トラックのデータを破壊することのない最
適な記録パワーを設定する。 【解決手段】ビーム光を発光するレーザダイオードを有
し、隣接トラック確認部２０５により、所定の発光パワ
ーによるレーザダイオードの発光駆動で媒体のテスト領
域に第１テストパターンの試し書きを行い、次にテスト
領域の特定トラックの特定セクタ２４２を指定して第２
テストパターンを規定回数の試し書きした後に隣接セク
タ２４４を再生してデータ破壊のないことを確認して最
適パワーとして設定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＭＯカートリッジ
等の書替え可能な媒体を用いた光学的記憶装置に関し、
特に、媒体ローディング時にレーザダイオードの発光パ
ワーを効率的に最適パワーに調整する光学的記憶装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクは、近年急速に発展するマル
チメディアの中核となる記憶媒体として注目されてお
り、例えば３．５インチのＭＯカートリッジを見ると、
旧来の１２８ＭＢや２３０ＭＢに加え、近年にあって
は、５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度記録の媒体
も提供されつつある。このため、光ディスクドライブと
しては、現在入手できる１８０ＭＢ、２３０ＭＢ、５４
０ＭＢ及び６４０ＭＢといった全ての媒体を使用できる
ことが望まれる。
【０００３】ところで、光ディスクドライブに使用する
ＭＯカートリッジにあっては、媒体トラックをゾーン分
割し、ゾーン毎のセクタ数を同一としたＺＣＡＶ記録
（ゾーン定角速度記録）を採用している。ＭＯ媒体のゾ
ーン数は、従来の１２８ＭＢ媒体では１ゾーン、２３０
ＭＢ媒体では１０ゾーンとなっているが、近年実用化さ
れた５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度のＰＷＭ記
録媒体にあっては、記録密度の向上に伴って媒体のトラ
ックピッチが狭くなり、ゾーン数も増加している。
【０００４】即ち、６４０ＭＢ媒体は１１ゾーンと少な
いが、５４０ＭＢ媒体では１８ゾーンとなっている。通
常、ＭＯカートリッジを使用する光ディスク媒体の場
合、媒体毎に最適な記録パワーに相違があることから、
媒体をローディングした際に、ゾーン毎に試し書きを行
って最適な記録パワーに調整する発光調整を行ってい
る。
【０００５】また従来の１２８ＭＢや２３０ＭＢ媒体
は、ピットポジション変調（ＰＰＭ）による記録であ
り、発光パワーはイレーズパワーと記録パワーの２段階
の変化でよい。これに対し５４０ＭＢや６４０ＭＢのＰ
ＷＭ媒体では、記録密度を高めるためにパルストレイン
による記録を採用している。パルストレイン記録では、
発光パワーを、イレーズパワー、第１ライトパワー、及
び第２ライトパワーの３段階に変化させている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光ディ
スク媒体の高密度化を実現するためにトラック間ピッチ
を狭めた場合、隣接トラックに対して熱伝導が起こりや
すくなるため、レーザダイオードによる試し書きによっ
て最適な記録パワーを決めていても、目的トラックに対
する記録は適切にできるが、隣接トラックを消去してし
まったり、隣接トラックのデータが漏れ込んでしまう等
の問題が発生する可能性が考えられる。
【０００７】本発明は、このような問題点に鑑みてなさ
れたもので、記録時の隣接するトラックへの漏れ込みに
よるデータ破壊を起すことのなく最適な記録パワーを設
定できるようにした光学的記憶装置を提供することを目
的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。本発明の光学的記憶装置は、図１（Ａ）のよ
うに、ビーム光を発光するレーザダイオードを有し、隣
接トラック確認部２０５により、所定の発光パワーによ
るレーザダイオードの発光駆動で、少なくとも隣接する
２トラックに第１テストパターンと第２テストパターン
を順番に試し書きした後に、先に第１テストパターンを
試し書きした隣接トラックを再生してデータ破壊の有無
を確認し、データ破壊がなかった場合に試し書きした発
光パワーを記録パワーとすることを特徴とする。
【０００９】また本発明の変形にあっては、隣接トラッ
ク確認部２０５により、所定の発光パワーによるレーザ
ダイオードの発光駆動で少なくとも隣接する３トラック
の中央のトラックに第１テストパターンを、両側の２ト
ラックに第２テストパターンを順番に試し書きした後
に、先に第１テストパターンの試し書きした隣接トラッ
クを再生してデータ破壊の有無を確認し、データ破壊が
なかった場合に試し書きした発光パワーを記録パワーと
してもよい。
【００１０】このような本発明の光学的記憶装置によれ
ば、記録パワーが決定された後に、決定された記録パワ
ーで試し書きを行って隣接トラックのデータ破壊がない
ことを確認して初めて実際の媒体記録に使用する有効な
記録パワーとして設定され、トラック間隔を狭めて高密
度化した媒体であっても、設定された記録パワーにより
隣接トラックのデータを破壊したり、隣接トラックから
のデータの漏れ込みを受けることなく、最適な記録が実
現できる。
【００１１】隣接トラック確認部２０５は、図１（Ｂ）
のように、テストライト領域２４０を最初に第１テスト
パターンで試し書きし、次のその中の特定トラックの同
一位置２４２を予め定めた回数だけ第２テストパターン
で試し書きした後に、先に第１テストパターンを試し書
きした隣接トラック位置２４４を再生してデータ破壊を
確認する。隣接トラック確認部２０５は、媒体の最内周
又は最外周に存在するユーザ未使用領域の一部で試し書
きによる隣接トラックのデータ破壊の有無を確認する。
したがって、最適パワーを決定する試し書きを行っても
ユーザデータは保証される。
【００１２】更に、発光ダイオードの発光パワーの調整
により最適記録パワーを決定して隣接トラック確認部２
０５の試し書きに使用する記録パワー初期値を決定する
記録パワー調整部２０４を設ける。隣接トラック確認部
２０５は、記録パワー調整部で決定した最適記録パワー
そのものを初期値として試し書きしてもよいし、最適記
録パワーよりも高めの記録パワーを初期値として試し書
きしてもよい。
【００１３】記録パワー調整部２０４は、発光ダイオー
ドの発光パワーを調整して媒体に試し書きしながら最適
記録パワーを決定する、即ち、記録パワー調整部２０４
は、レーザダイオードの記録パワーを段階的に徐々に低
下させながら所定のテストパターンを媒体に試し書きし
た後に再生して元のテストパターンと比較してデータの
不一致個数を計数し、この不一致個数が所定の閾値を超
える記録パワーを下限記録パワーとして検出し、下限記
録パワーに所定のオフセットを加算した値を最適記録パ
ワーに決定する。
【００１４】隣接トラック確認部２０５は、隣接トラッ
クの再生確認が正常に終了した場合、テストライト領域
２４０を初期化記録（イレーズ）する。隣接トラック確
認部２０５は、隣接トラックのデータ破壊の判断として
は次のいずれかとする。 隣接トラックから再生したＲＦ信号のピーク検波信号
のレベル変化が規定値以上であることを検出してデータ
破壊と判断する。
【００１５】隣接トラックの記録データと再生データ
を比較し、ビット誤り個数が規定値以上に増加したこと
を検出してデータ破壊と判断する。 隣接トラックの再生データに対するＥＣＣ誤り訂正数
が規定値以上に増加したことを検出してデータ破壊と判
断する。 隣接トラック確認部２０５は、試し書きにより隣接トラ
ックのデータ破壊を確認した場合は、所定の記録下限パ
ワーまで徐々にパワーを減少させながら試し書きを繰り
返して隣接トラックのデータが破壊されない記録パワー
を求める。この場合、隣接トラック確認部２０５は、媒
体上での位置を変えながら２回目以降の試し書きにより
隣接トラックのデータ破壊の有無を確認する。
【００１６】隣接トラック確認部２０５は、記録下限パ
ワーまで徐々にパワーを減少させて試し書きを繰り返し
ても隣接トラックのデータが破壊された場合は、媒体の
異なる位置で再度試し書きにより記録パワーを求める処
理を最初からやり直す。このとき、隣接トラック確認部
は、最適フォーカス点をサーチして自動焦点制御のオフ
セット値（目標値）を最適化した後にやり直す。
【００１７】最適フォーカス点のサーチは次のいずれか
とする。 対物レンズ位置を調整した際に、媒体戻り光から検出
されたトラッキングエラー信号が最大となるレンズ位置
を与えるオフセット値を最適フォーカス点とする。 対物レンズ位置を調整した際に、媒体戻り光から検出
されたＲＦ再生信号の最大となるレンズ位置を与えるオ
フセット値を最適フォーカス点とする。
【００１８】対物レンズ位置を調整した際に、媒体戻
り光を電気信号に変換する４分割ディテクタの総和信号
が最大となるレンズ位置をを与えるオフセット値最適フ
ォーカス点とする。 隣接トラック確認部２０５は、媒体のテストライト領域
２４０の全トラックに、第１テストパターンとして最長
マーク長パターンを最初に試し書きする。このテストラ
イト領域２４０の全トラックに対する最長マーク長パタ
ーンの試し書きが済んだら、トラックＴ１の特定セクタ
２４２を指定して第２テストパターンとして最短マーク
長パターンを規定回数試し書きし、その後に隣接セクタ
２４４の最長マーク長記録パターンを再生してデータ破
壊の有無を判断する。
【００１９】また第２テストパターンとしては、最短マ
ーク長パターンの代わりに装置動作上の最高パワーを初
期値としたＤＣ発光パターンを使用して規定回数の試し
書きを行い、その後に隣接トラックの最長マーク長記録
パターンを再生してデータ破壊の有無を判断してもよ
い。このような相関の小さい最長マーク長パターンと最
短マーク長パターンを隣接した２つのトラックに試し書
きすることで、隣接トラックにおけるデータ破壊の有無
の確認が少ないデータ量で効率良くできる。
【００２０】隣接トラック確認部２０５による試し書き
による記録パワーの設定タイミングは、次のようにな
る。 装置温度により媒体の最適記録パワーが変化すること
から、装置の環境温度変化が規定値以上の時に、試し書
きして記録パワーを再設定する。 装置の使用時間の増加に伴って最適な記録パワーがず
れてくる可能性があるため、前回の試し書きからの経過
時間を監視し、所定の試し書き有効時間経過後に再度試
し書きして記録パワーを再設定する。
【００２１】上位装置からのアクセスに対しオーバタ
イム等のエラーが発生した場合に対処するため、上位装
置からのコマンド指示によって試し書きして記録パワー
を再設定する。 更に、隣接トラック確認部２０５は、〜のタイミン
グで記録パワーの調整を実行する際には、試し書きする
媒体の位置を毎回変えながら、試し書きにより記録パワ
ーを再設定する。
【００２２】
【発明の実施の形態】
＜目 次＞ １．装置構成 ２．発光調整 ３．最適ライトパワー調整 ４．隣接トラック確認処理 １．装置構成 図２は本発明の光学的記憶装置である光ディスクドライ
ブの回路ブロック図である。本発明の光ディスクドライ
ブは、コントローラ１０とエンクロージャ１２で構成さ
れる。コントローラ１０には光ディスクドライブの全体
的な制御を行うＭＰＵ１４、上位装置との間でコマンド
及びデータのやり取りを行なうインタフェースコントロ
ーラ１６、光ディスク媒体へのライトデータのフォーマ
ット処理とリードデータに対するＥＣＣ処理を行うフォ
ーマッタ１８、ＭＰＵ１４，インタフェースコントロー
ラ１６及びフォーマッタ１８で共用されるバッファメモ
リ２０を備える。
【００２３】フォーマッタ１８に対してはライト系統と
してエンコーダ２２とレーザダイオード制御回路２４が
設けられ、レーザダイオード制御回路２４の制御出力は
エンクロージャ１２側の光学ユニットに設けたレーザダ
イオードユニット３０に与えられている。レーザダイオ
ードユニット３０はレーザダイオードとモニタ用の受光
素子を一体に備える。
【００２４】レーザダイオードユニット３０を使用して
記録再生を行う光ディスク、即ち書替え可能なＭＯカー
トリッジ媒体として、この実施形態にあっては１２８Ｍ
Ｂ、２３０ＭＢ、５４０ＭＢ及び６４０ＭＢのいずれか
を使用することができる。このうち１２８ＭＢ及び２３
０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体については、媒体上のマ
ークの有無に対応してデータを記録するピットポジショ
ン記録（ＰＰＭ記録）を採用している。また媒体の記録
フォーマットは、ＺＣＡＶであり、１２８ＭＢは１ゾー
ン、２３０ＭＢは１０ゾーンである。
【００２５】一方、高密度記録となる５４０ＭＢ及び６
４０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体については、マークの
エッジ即ち前縁と後縁をデータに対応させるパルス幅記
録（ＰＷＭ記録）を採用している。ここで、６４０ＭＢ
と５４０ＭＢの記憶容量の差はセクタ容量の違いによる
もので、セクタ容量が２ＫＢのとき６４０ＭＢとなり、
一方、５１２Ｂのときは５４０ＭＢとなる。また媒体の
記録フォーマットはＺＣＡＶであり、６４０ＭＢは１１
ゾーン、５４０ＭＢは１８ゾーンである。
【００２６】このように本発明の光ディスクドライブ
は、１２８ＭＢ、２３０ＭＢ５４０ＭＢまたは６４０Ｍ
Ｂの各記憶容量のＭＯカートリッジに対応可能である。
したがって光ディスクドライブにＭＯカートリッジをロ
ーディングした際には、まず媒体のＩＤ部をリードし、
そのピット間隔からＭＰＵ１４において媒体の種別を認
識し、種別結果をフォーマッタ１８に通知することで、
１２８ＭＢまたは２３０ＭＢ媒体であればＰＰＭ記録に
対応したフォーマット処理を行い、５４０ＭＢまたは６
４０ＭＢ媒体であればＰＷＭ記録に従ったフォーマット
処理を行うことになる。
【００２７】フォーマッタ１８に対するリード系統とし
ては、デコーダ２６、リードＬＳＩ回路２８が設けられ
る。リードＬＳＩ回路２８に対しては、エンクロージャ
１２に設けたディテクタ３２によるレーザダイオード３
０からのビームの戻り光の受光信号が、ヘッドアンプ３
４を介してＩＤ信号及びＭＯ信号として入力されてい
る。
【００２８】リードＬＳＩ回路２８にはＡＧＣ回路、フ
ィルタ、セクタマーク検出回路、シンセサイザ及びＰＬ
Ｌ等の回路機能が設けられ、入力したＩＤ信号及びＭＯ
信号よりリードクロックとリードデータを作成し、デコ
ーダ２６に出力している。またスピンドルモータ４０に
よる媒体の記録方式としてゾーンＣＡＶを採用している
ことから、リードＬＳＩ回路２８に対してはＭＰＵ１４
より、内蔵したシンセサイザに対しゾーン対応のクロッ
ク周波数の切替制御が行われている。
【００２９】ここでエンコーダ２２の変調方式及びデコ
ーダ２６の復調方式は、フォーマッタ１８による媒体種
別に応じ、１２８ＭＢ及び２３０ＭＢについてはＰＰＭ
記録の変調及び復調方式に切り替えられる。一方、５４
０及び６４０ＭＢの媒体については、ＰＷＭ記録の変調
及び復調方式に切り替えられる。ＭＰＵ１４に対して
は、エンクロージャ１２側に設けた温度センサ３６の検
出信号が与えられている。ＭＰＵ１４は、温度センサ３
６で検出した装置内部の環境温度に基づき、レーザダイ
オード制御回路２４におけるリード、ライト、イレーズ
の各発光パワーを最適値に制御する。ＭＰＵ１４は、ド
ライバ３８によりエンクロージャ１２側に設けたスピン
ドルモータ４０を制御する。
【００３０】ＭＯカートリッジの記録フォーマットはＺ
ＣＡＶであることから、スピンドルモータ４０を例えば
３６００ｒｐｍの一定速度で回転させる。またＭＰＵ１
４は、ドライバ４２を介してエンクロージャ１２側に設
けた電磁石４４を制御する。電磁石４４は装置内にロー
ディングされたＭＯカートリッジのビーム照射側と反対
側に配置されており、記録時及び消去時に媒体に外部磁
界を供給する。
【００３１】ＤＳＰ１５は、媒体に対しレーザダイオー
ド３０からのビームの位置決めを行うためのサーボ機能
を実現する。このため、エンクロージャ１２側の光学ユ
ニットに媒体からのビーム戻り光を受光する４分割ディ
テクタ４６を設け、ＦＥＳ検出回路（フォーカスエラー
信号検出回路）４８が、４分割ディテクタ４６の受光出
力からフォーカスエラー信号Ｅ１を作成してＤＳＰ１５
に入力している。ここで４分割ディテクタ４６の受光部
４６ａ，４６ｂ，４６ｃ，４６ｄの受光信号をＥａ，Ｅ
ｂ，Ｅｃ，Ｅｄとすると、フォーカスエラー信号Ｅ１
は、 Ｅ１＝（Ｅａ＋Ｅｃ）−（Ｅｂ＋Ｅｄ） として検出される。
【００３２】このフォーカスエラー信号Ｅ１は、ＤＳＰ
１５に与えられ、ＤＳＰ１５で実現される自動焦点制御
部でフォーカスエラー信号Ｅ１を最小とするフォーカス
アクチュエータ５６のフィードバック制御が行われる。
ＤＳＰ１５で実現される自動焦点制御部は、制御ループ
をオフした状態で対物レンズの位置を順次移動しながら
最適フォーカス点となるオフセット値（目標値）求め、
この最適フォーカス点のオフセット値を自動焦点制御ル
ープに設定し、オフセット値で決まる位対物レンズの位
置（最適フォーカス点）を基準にフォーカスエラー信号
Ｅ１を最小とするようにフィードバック制御される。こ
の最適フォーカス点ヲ与えるオフセット値の決めとして
は、トラッキングエラー信号Ｅ２が最大となるレンズ位
置、ＲＦ再生信号が最大となるレンズ位置、及び４分割
ディテクタ４６の総和信号が最大となるレンズ位置の３
つがある。
【００３３】ＴＥＳ検出回路（トラッキングエラー信号
検出回路）５０は、４分割ディテクタ４６の受光出力か
らトラッキングエラー信号Ｅ２を作成し、ＤＳＰ１５に
入力している。即ち、トラッキングエラー信号Ｅ２は、
４分割ディテクタ４６の受光部４６ａ，４６ｂ，４６
ｃ，４６ｄの受光信号をＥａ，Ｅｂ，Ｅｃ，Ｅｄとする
と、 Ｅ２＝（Ｅａ＋Ｅｂ）−（Ｅｃ＋Ｅｄ） となる。トラッキングエラー信号Ｅ２はＴＺＣ回路（ト
ラックゼロクロス検出回路）４５に入力され、トラック
ゼロクロスパルスＥ３を作成してＤＳＰ１５に入力して
いる。
【００３４】更にエンクロージャ１２側には、媒体に対
しレーザビームを照射する対物レンズのレンズ位置を検
出するレンズ位置センサ５２が設けられ、そのレンズ位
置検出信号（ＬＰＯＳ）Ｅ４をＤＳＰ１５に入力してい
る。ＤＳＰ１５は、ビーム位置決めのため、ドライバ５
４，５８，６２を介してフォーカスアクチュエータ５
６、レンズアクチュエータ６０及びＶＣＭ６４を制御駆
動している。
【００３５】ここで光ディスクドライブにおけるエンク
ロージャの概略は図３のようになる。図３において、ハ
ウジング６６内にはスピンドルモータ４０が設けられ、
スピンドルモータ４０の回転軸のハブに対しインレット
ドア６８側よりＭＯカートリッジ７０を挿入すること
で、内部のＭＯ媒体７２がスピンドルモータ４０の回転
軸のハブに装着されるローディングが行われる。
【００３６】ローディングされたＭＯカートリッジ７０
のＭＯ媒体７２の下側には、ＶＣＭ６４により媒体トラ
ックを横切る方向に移動自在なキャリッジ７６が設けら
れている。キャリッジ７６上には対物レンズ８０が搭載
され、固定光学系７８に設けている半導体レーザからの
ビームをプリズム８２を介して入射し、ＭＯ媒体７２の
媒体面にビームスポットを結像している。
【００３７】対物レンズ８０は図２のエンクロージャ１
２に示したフォーカスアクチュエータ５６により光軸方
向に移動制御され、またレンズアクチュエータ６０によ
り媒体トラックを横切る半径方向に例えば数十トラック
の範囲内で移動することができる。このキャリッジ７６
に搭載している対物レンズ８０の位置が、図２のレンズ
位置センサ５２により検出される。レンズ位置センサ５
２は対物レンズ８０の光軸が直上に向かう中立位置でレ
ンズ位置検出信号を０とし、アウタ側への移動とインナ
側への移動に対しそれぞれ異なった極性の移動量に応じ
たレンズ位置検出信号Ｅ４を出力する。 ２，ＬＤ発光調整 図４は図２のコントローラ１０に設けたレーザダイオー
ド制御回路２４の回路ブロック図である。図４におい
て、レーザダイオードユニット３０にはレーザダイオー
ド１００とモニタフォトダイオード１０２が一体に設け
られている。レーザダイオード１００は電源電圧Ｖccに
より駆動電流Ｉを受けて発光し、光学ユニットによりレ
ーザビームを生成して媒体面に照射して記録再生を行
う。
【００３８】モニタフォトダイオード１０２はレーザダ
イオード１００からの光の一部を入射し、レーザダイオ
ード１００の発光パワーに比例した受光電流Ｉ0 を出力
する。レーザダイオード１００に対しては、リードパワ
ー電流源１０４、イレーズパワー電流源１０６、第１ラ
イトパワー電流源１０８、第２ライトパワー電流源１１
０が並列接続されており、それぞれリードパワー電流Ｉ
0 、イレーズパワー電流Ｉ１、第１ライトパワー電流Ｉ
２、及び第３ライトパワー電流Ｉ３を流すようにしてい
る。
【００３９】即ち、リードパワー発光時にはリードパワ
ー電流Ｉ0 が流れ、イレーズパワー発光時にはリードパ
ワー電流Ｉ0 にイレーズパワー電流Ｉ１を加えた電流
（Ｉ0＋Ｉ１）が流れ、第１ライトパワー発光時には更
に第１ライトパワー電流Ｉ２を加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１
＋Ｉ２）が流れる。また第２ライトパワー発光時には第
２ライトパワー電流Ｉ３をリードパワー電流Ｉ0 及びイ
レーズパワー電流Ｉ１に加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１＋Ｉ
３）が流れる。
【００４０】リードパワー電流源１０４に対しては、自
動パワー制御部（以下「ＡＰＣ」という）１３８が設け
られている。ＡＰＣ１３８に対しては目標ＤＡＣレジス
タ１２０及びＤＡコンバータ（以下「ＤＡＣ」という）
１３６を介して、目標パワーとして規定の目標リードパ
ワーが設定されている。イレーズパワー電流源１０６に
対しては、ＥＰ電流指示部としてＥＰ電流ＤＡＣレジス
タ１２２及びＤＡＣ１４０が設けられる。ＷＰ１電流源
１０８に対してはＷＰ１電流指示部としてＷＰ１電流Ｄ
ＡＣレジスタ１２４及びＤＡＣ１４２が設けられ、更に
第２ライトパワー電流源１１０に対してもＷＰ２電流指
示部としてＷＰ２電流ＤＡＣレジスタ１２６及びＤＡＣ
１４４が設けられる。
【００４１】このため各電流源１０４，１０６，１０
８，１１０の電流は、対応するレジスタ１２０，１２
２，１２４，１２６に対するＤＡＣ指示値をセットする
ことで適宜に変更することができる。ここでレジスタ、
ＤＡＣ及び定電流源によって、発光電流源回路が構成さ
れている。ＡＰＣ１３８による制御は、フォトダイオー
ド１０２の受光電流ｉ0 から得られたモニタ電流ｉm が
目標リードパワーに対応したＤＡＣ１３６の目標電圧に
一致するようにフィードバック制御を行う。このためモ
ニタフォトダイオード１０２に対し、リードパワーを超
えるイレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライト
パワーで発光した際の受光電流を差し引いて、リードパ
ワー相当のモニタ電流ｉm をＡＰＣに帰還するため、差
引電流源１１２，１１４，１１６を設けている。
【００４２】イレーズパワー用差引電流源１１２に対し
ては、ＥＰ差引電流指示部としてのＥＰ差引ＤＡＣレジ
スタ１２８及びＤＡＣ１４６により任意の差引電流ｉ１
を設定することができる。第１ライトパワー用差引電流
源１１４に対しては、ＷＰ１差引電流指示部としてのＷ
Ｐ１差引ＤＡＣレジスタ１３０及びＤＡＣ１４８により
任意の差引電流ｉ２を設定することができる。更に第２
ライトパワー差引電流源１１６に対しても、ＷＰ２差引
電流指示部としてのＷＰ２差引ＤＡＣレジスタ１３２及
びＤＡＣ１５０によって任意の差引電流ｉ３を設定する
ことができる。
【００４３】この３つの差引電流源ｉ１，ｉ２，ｉ３の
発光モードにおけるモニタ電流ｉmは次のようになる。 リード発光時 ；ｉm ＝ｉ0 イレーズ発光時 ；ｉm ＝ｉ0 −ｉ１ 第１ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
２） 第２ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
３） したがって、目標リードパワーを超えるイレーズパワ
ー、第１または第２ライトパワーのいずれの発光時にあ
っても、対応する差引電流を受光電流ｉ0 から引くこと
で、モニタ電流ｉm はリードパワー相当の電流としてモ
ニタ電圧検出用抵抗１１８に流れ、ＡＰＣ１３８に帰還
される。
【００４４】このためＡＰＣ１３８は発光パワーの如何
に関わらず、常時目標リードパワーを維持するようにリ
ードパワー電流源１０４を制御し、これによって規定の
イレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワ
ーの自動パワー制御が実現される。この差引電流につい
ても、レジスタ、ＤＡＣおよび定電流源によって、差引
電流源回路が構成されている。
【００４５】モニタ電流ｉm に対応したモニタ電圧検出
抵抗１１８によるモニタ電圧は、ＡＤコンバータ（以下
「ＡＤＣ」という）１５２によりディジタルデータに変
換され、モニタＡＤＣレジスタ１３４に入力された後、
ＭＰＵ１４側に読み出される。このため、ＡＤＣ１５２
及びモニタＡＤＣレジスタ１３４はモニタ電流ｉm の測
定部を構成する。
【００４６】図５は図４のレーザダイオード制御回路２
４におけるＰＷＭ記録の信号、発光電流、差引電流及び
モニタ電流のタイムチャートである。いま図５（Ａ）の
ライトゲートに同期して図５（Ｂ）のライトデータが与
えられたとすると、図５（Ｃ）のライトクロックに同期
してライトデータは図５（Ｄ）のパルス幅データに変換
される。このパルス幅データに基づき、図５（Ｅ）のよ
うに消去パルスが生成され、更に図５（Ｆ）のように第
１ライトパルスが生成される。更に図５（Ｇ）の第２ラ
イトパルスが生成される。
【００４７】この第２ライトパルスは図５（Ｄ）のパル
ス幅データのパルス幅に応じたパルス数をもつ。例えば
先頭のパルス幅データについては４クロックのパルス幅
であり、次のパルス幅データは２クロックであり、次の
パルス幅データは３クロックである。これに対応して図
５（Ｇ）の第２ライトパルスは、図５（Ｆ）の第１ライ
トパルスに続いて先頭データの４クロック幅については
２パルス発生し、次の２クロック幅については０パルス
であり、３番目の３クロック幅については１パルスを発
生し、パルス幅を表わす情報を記録するようにしてい
る。
【００４８】図５（Ｈ）は図５（Ｅ）（Ｆ）及び（Ｇ）
の消去パルス、第１ライトパルス及び第２ライトパルス
に基づいた発光電流とパワーであり、５４０ＭＢ及び６
４０ＭＢのオーバライト媒体でのＰＷＭ記録を例にとっ
ている。まずリード電流は常時流してリードパワーＲＰ
でＤＣ発光させている。このため、消去パルスに同期し
て発光電流（Ｉ0 ＋Ｉ１）が流れ、これによってイレー
ズパワーＥＰ分アップとなり、第１ライトパルスのタイ
ミングで発光電流Ｉ２が加算されて第１ライトパワーＷ
Ｐ１分アップとなり、更に第２ライトパルスのタイミン
グで発光電流Ｉ３が加算されて（Ｉ0 ＋Ｉ１＋Ｉ３）と
なって第２ライトパワーＷＰ２分アップする。
【００４９】この図５（Ｈ）の発光電流に同期して、図
５（Ｉ）に示す差引電流が図４の差引電流源１１２，１
１４，１１６に流れる。即ち、イレーズパワーＥＰ分の
アップに対応する差引電流ｉ１が流れ、次の第１ライト
パワーＷＰ１分のアップ分に対応する差引電流ｉ２を加
算して差引電流（ｉ１＋ｉ２）が流れ、更に第２ライト
パワーＷＰ２分のアップに対応する差引電流ｉ３を加算
して差引電流（ｉ１＋ｉ３）が流れる。
【００５０】このため図５（Ｊ）のモニタ電流ｉm は、
図５（Ｈ）の発光電流及び発光パワーに対応した受光電
流ｉ0 から図５（Ｈ）の差引電流を差し引いた値とな
り、発光中であっても常にリードパワー相当の一定電流
に変換され、ＡＰＣ１３８に帰還される。尚、１２８Ｍ
Ｂ及び２３０ＭＢのオーバライト媒体のＰＷＭ記録にあ
っては、図５（Ｈ）における（ＲＰ＋ＥＰ＋ＷＰ１）が
イレーズパワーとなり、また（ＲＰ＋ＥＰ＋ＷＰ２）が
ライトパワーとなる。更に、（ＲＰ＋ＥＰ）はアシスト
パワーとして図５（Ｅ）の消去パルスに同期して発光さ
れ、イレーズパワー及びライトパワーへの立ち上げを高
速にできるようにしている。
【００５１】図６はＰＰＭ媒体の記録時の信号、発光電
流、差引電流及びモニタ電流のタイミングチャートであ
る。図６（Ａ）のライトゲートに同期して図６（Ｂ）の
ライトデータが与えられたとすると、図６（Ｃ）のライ
トクロックに同期して図６（Ｄ）のピットエッジパルス
が生成される。このピットエッジパルスに対応して、図
６（Ｅ）の消去パルスと図６（Ｆ）の第１ライトパルス
が作られる。ＰＰＭ記録にあっては、図６（Ｇ）の第２
ライトパルスは使用されない。
【００５２】このような消去パルス及び第１ライトパル
スによる図６（Ｈ）の発光電流をレーザダイオードに流
すことで、発光パワーＰが得られる。ＰＰＭ記録にあっ
ては、消去パワーはリードパワーＲＰと同じであること
から、消去パルスのタイミングであってもリードパワー
電流Ｉ0 によるリードパワーＲＰによる発光が維持され
る。第１ライトパルスのタイミングでは発光電流が（Ｉ
１＋Ｉ２）に増加して第１ライトパワーＷＰ１分にイレ
ーズパワーＥＰ分を加算したパワーとなる。図６（Ｉ）
の差引電流は第１ライトパルスの発光タイミングで差引
電流（ｉ１＋ｉ２）を流す。これによって図６（Ｊ）の
モニタ電流ｉm は常にリードパワーの受光電流相当に維
持される。 ３．記録パワー調整 図７は、図２の光ディスクドライブのＭＰＵ１４で実現
されるレーザダイオードによる記録パワー（ライトパワ
ーとイレーズパワー）を最適値に設定するための記録パ
ワー調整機能の機能ブロック図である。
【００５３】図７において、ＭＰＵ１４によって記録パ
ワー調整部２００が構成され、記録パワー調整部２００
には調整タイミング判定部２０２、発光パワー調整部２
０４、隣接トラック確認部２０５、及びパワーテーブル
作成部２０６が設けられている。記録パワー調整部２０
０に対しては、レジスタ２０８によって装置内温度が入
力される。また記録パワー調整部２００に対してはパワ
ーテーブル格納部２１０が設けられる。
【００５４】パワーテーブル格納部２１０にはデフォル
トイレーズパワーテーブル２１２、デフォルトライトパ
ワーテーブル２１４及び温度補正係数テーブル２１６が
設けられる。例えばデフォルトイレーズパワーテーブル
２１２としては、図８のように、ゾーン番号ｉ＝１〜１
１に対応してデフォルトイレーズパワーが３．０〜４．
５ｍＷとして格納されている。
【００５５】またデフォルトライトパワーテーブル２１
４は、図９のように、ゾーン番号ｉ＝１〜１１に対応し
てデフォルトライトパワー＝６．０〜１１．０ｍＷが格
納されている。更に温度補正係数テーブル２１６は図１
０のように、ゾーン番号ｉ＝１〜１１に対応して温度補
正係数Ｋｔ＝−０．１．〜０．１０が格納されている。
尚、図１０の温度補正係数テーブル２１６の温度補正係
数Ｋｔは、装置内温度Ｔ＝２５℃の場合の値である。
【００５６】パワーテーブル格納部２１０には、更にイ
レーズパワーテーブル２１８、第１ライトパワーテーブ
ル２２０及び第２ライトパワーテーブル２２２が設けら
れている。このため記録パワー調整部２００で決定され
た最適ライトパワーを与えるデフォルト倍率をゾーン番
号に対応するデフォルトイレーズパワーテーブル２１
２、デフォルトライトパワーテーブル２１４に掛け合わ
せることで、イレーズパワーテーブル２１８及び第１ラ
イトパワーテーブル２２０の各パワーを算出して登録す
ることができる。また第２ライトパワーテーブル２２２
については、予め第１ライトパワーを基準とした規定の
パワー比率が定まっていることから、デフォルトライト
パワーテーブル２１４からゾーン番号に対応して求めた
第１ライトパワーに規定のパワー比率を乗ずることで、
第２ライトパワーを得ることができる。更にイレーズパ
ワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワーのそれぞ
れについては、そのときの装置内温度Ｔに基づいた温度
補正係数テーブル２１６の温度補正係数を用いた温度補
正された値を使用する。
【００５７】このような記録パワー調整部２００で決定
された最適ライトパワーのデフォルト値を用いたイレー
ズパワーテーブル２１８、第１ライトテーブル２２０及
び第２ライトパワーテーブル２２２の作成は、パワーテ
ーブル作成部２０６により行われる。パワーテーブル格
納部２１０に対してはパワー設定処理部２２４が設けら
れる。パワー設定処理部２２４は最適ライトパワーの調
整が終了した後に上位装置からのアクセスを受けた際、
レジスタ群２２６に示される装置内温度、媒体種別、ラ
イトまたはイレーズのアクセスモード、更にアクセスト
ラックを示すゾーン番号に基づいて、レーザダイオード
の発光制御による各種のパワー設定を行う。
【００５８】このパワー設定の際にパワー設定処理部２
２４は、装置内温度、媒体種別、ライトまたはイレーズ
のアクセスモード、更にゾーン番号によって、パワーテ
ーブル格納部２１０のイレーズパワーテーブル２１８、
第１ライトパワーテーブル２２０、第２ライトパワーテ
ーブル２２２及び温度補正係数テーブル２１６を参照
し、テーブルから検索されたデータに基づいて、図４に
示したレーザダイオード制御回路２４の各レジスタに対
する電流指示値を算出して出力する。
【００５９】記録パワー調整部２００に設けた調整タイ
ミング判定部２０２は、発光パワー調整部２０４による
記録パワー調整タイミングを判定して起動する。調整タ
イミング判定部２０２は、光ディスクドライブに媒体が
ローディングされた直後は記録パワーの調整処理を起動
せず、光ディスクドライブの初期化処理が終了して上位
装置から最初のライトコマンドが発行された際に、これ
を判断して記録パワー調整部２０４を起動して媒体試し
書きを伴う最初の発光パワー調整処理を行わせ、続いて
隣接トラック確認部２０５を起動して決定された記録パ
ワーによる試し書きで隣接トラックのデータ破壊の有無
を確認させる。
【００６０】一度、発光パワー調整部２０４及び隣接ト
ラック確認部２０５による記録パワー調整処理が終了す
ると、その後はライトパワー調整結果の有効時間を算出
し、調整終了からの経過時間が算出した有効時間に達し
たとき、次の記録パワー調整のため発光パワー調整部２
０４及び隣接トラック確認部２０５の処理を順次起動す
る。また経過時間が有効時間に達するまでの間、レジス
タ２０８から入力する装置内温度Ｔが例えば±３℃を超
えたときには、強制的に発光パワー調整部２０４及び隣
接トラック確認部２０５の起動による記録パワー調整を
行わせる。
【００６１】記録パワー調整部２０４はローディングさ
れた媒体のユーザ未使用領域の任意のテストライト領域
を指定し、予め定めたテストパターンを媒体にライトパ
ワーを段階的に徐々に低下させながら書き込んだ後に読
み出して、元のテストパターンと比較してデータの不一
致個数を計数する処理を繰り返す。この試し書き処理に
おいて、計数された不一致個数が予め定めた最大数例え
ば１０００個を超えるときのライトパワーを限界ライト
パワーとして検出する。
【００６２】このようにライトパワーを段階的に低下さ
せながら限界ライトパワーを検出したならば、この限界
ライトパワーに所定のオフセットを加算した値を最適ラ
イトパワーと決定する。発光パワー調整部２０４におけ
るライトパワーの設定は、そのときのライトパワーデフ
ォルト値を基準としたデフォルト比率を使用して行われ
る。したがって限界ライトパワーも、限界ライトパワー
を示すデフォルト比率として検出され、これに所定のオ
フセット比を加算した値を最適ライトパワーのデフォル
ト比として決定することになる。
【００６３】隣接トラック確認部２０５は、発光パワー
調整部２０４で決定されたライトパワーおよびイレーズ
パワーを使用したレーザダイオードの発光駆動で媒体の
テストライト領域での試し書きを行った後に、隣接トラ
ックを再生してデータ破壊の有無を確認し、データ破壊
がなかった場合に試し書きし使用したライトパワー及び
イレーズパワーを最適記録パワーとする。
【００６４】即ち、記録パワーが決定された後に、決定
された記録パワーで試し書きを行って隣接トラックのデ
ータ破壊がないことを確認して始めて実際の媒体記録に
使用する有効な記録パワーとして設定する。このためト
ラック間隔を狭めて高密度化した５４０ＭＢや６４０Ｍ
Ｂの高密度記録の媒体であっても、設定された記録パワ
ーにより隣接トラックのデータを破壊したり、隣接トラ
ックからのデータの間り込みを受けることなく、最適な
記録が実現できる。
【００６５】隣接トラック確認部２０５の処理手順は、 テストライト領域の全トラックに第１テストパターン
を試し書き： テストライト領域の特定トラックの特定セクタ位置に
第２テストパターンを規定回数回数例書き； 第２テストパターンを試し書きしたセクタの隣接セク
タを再生してデータ破壊の有無を確認：とする。また隣
接トラック確認処理が正常に終了したら、テストライト
領域を初期化記録（イレーズ）しておく。
【００６６】隣接トラック確認部２０５による隣接トラ
ックのデータ破壊の判断としては、再生したＲＦ信号の
ピーク検波信号のレベル変化が規定値以上であること、
再生データを元の記録データ比較しテビット誤り個数が
規定値以上に増加したこと、或いは、再生データに対す
るＥＣＣ誤り訂正数が規定値以上に増加したことを検出
してデータ破壊と判断する。
【００６７】更に、隣接トラック確認部２０５は、試し
書きにより隣接トラックのデータ破壊を確認した場合
は、発光パワー調整部２０４での試し書きで求めた記録
下限パワーまで徐々にパワーを減少させて試し書きを繰
り返しながら隣接トラックのデータが破壊されない記録
パワーを求める。この場合、媒体上での確認位置を変え
ながら２回目以降の試し書きにより隣接トラックのデー
タ破壊の有無を確認する。
【００６８】隣接トラック確認部２０５は、記録下限パ
ワーまで徐々にパワーを減少させて試し書きを繰り返し
ても隣接トラックのデータが破壊された場合は、媒体の
異なる位置で再度試し書きにより記録パワーを求める処
理を最初からやり直す。このとき、隣接トラック確認部
２０５は最適フォーカス点検出部２０７を起動し、最適
フォーカス点をサーチして自動焦点制御の目標値を与え
るオフセット値を最適化した後にやり直す。
【００６９】隣接トラック確認部２０５の試し書きに使
用する第１テストパターンとしては例えば最長マーク長
パターンを使用し、第２テストパターンとして最長マー
ク長パターンに対し相関の小さい最短マーク長パターン
を使用し、これによって隣接トラックでのデータ破壊の
有無の確認が少ないデータ量で効率良くできるようにす
る。また第２テストパターンとしては、装置動作上の最
高パワーを初期値としたＤＣ発光パターンを使用しても
よい。
【００７０】次に、図７の発光パワー調整部２００によ
る最適ライトパワーを決定するための調整処理の詳細を
フローチャートを参照して説明する。図１１は本発明の
光ディスクドライブに媒体をローディングした際のディ
スク起動処理である。本発明の光ディスクドライブとし
て使用する媒体には、ＰＰＭ記録媒体である１２８ＭＢ
媒体と２３０ＭＢ媒体、及びＰＷＭ記録媒体である５４
０ＭＢ媒体と６４０ＭＢ媒体の４種類がある。図１１に
おいて、ステップＳ１で媒体のロードを行って、図３に
示したようにスピンドルモータ４０にセットして一定速
度で回転する。
【００７１】続いてステップＳ２で、発光調整要求フラ
グＦＬをセットする。更にステップＳ３で現在時刻を初
期化し、ステップＳ４で現在の装置内温度Ｔを検出し
て、起動時の記録パワーの調整に必要な処理を終了す
る。またディスク起動処理にあっては、この記録パワー
決定のための準備処理以外に、図７に示したＬＤ発光処
理部１６０の機能によるレーザダイオード制御回路に設
けている電流指示用のＤＡＣの各係数テーブルの作成、
及び発光パワーのデフォルト値を格納するパワーテーブ
ルの作成が行われ、結果として図８，図９及び図１０に
示したデフォルトイレーズパワーテーブル２１２、デフ
ォルトライトパワーテーブル２１４及び温度補正係数テ
ーブル２１６が準備されることになる。
【００７２】図１２は光ディスクドライブ起動後の発光
パワー調整処理のフローチャートである。この発光パワ
ー調整処理にあっては、ステップＳ１で上位装置からの
発光調整要求の有無をチェックしており、もし要求があ
ればステップＳ４に進んでテストライトによる調整処理
を実行する。通常時にあっては上位装置からの発光調整
の要求はないことから、ステップＳ２に進み、調整の必
要性を判断する。
【００７３】この発光調整の必要性の判断は、図７の調
整タイミング判定部２０２が行っている。ステップＳ３
で発光調整の必要性が判断されると、ステップＳ４に進
み、発光パワー調整部２０４が試し書きを実行してライ
トパワー及びイレーズパワーを決定する。次にステップ
Ｓ５に進み、ステップＳ４で決定したライトパワーとイ
レースパワーを使用した試し書きにより、隣接トラック
のデータ破壊の有無を確認する処理を行い、隣接トラッ
クにデータ破壊を起さない最適なライトパワーとイレー
ズパワーを求める。
【００７４】続いてステップＳ６で現在時刻を更新し、
発光調整と隣接トラック確認により最適記録パワーが決
定された時刻を保持する。次にステップＳ７で現在温度
を更新し、最適記録パワーが決定されたときの装置内温
度を保持する。図１３は図１２のステップＳ３における
発光調整の必要性判断処理のフローチャートである。発
光調整の必要性判断処理にあっては、まずステップＳ１
で現在時刻を読み込み、ステップＳ２で光ディスクドラ
イブの起動から前回の発光調整までの時間Ａを算出す
る。ステップＳ３では、起動からの時間Ａを予め定めた
一定時間例えば２０秒で割ることで、単位時間数Ｂに変
換する。
【００７５】ステップＳ４にあっては、単位時間数Ｂが
８未満、即ち起動から最初のテストライトまでの時間Ａ
が１６０秒未満か否かチェックする。１６０秒未満であ
ればステップＳ５に進み、単位時間数Ｂは４未満か、即
ち時間Ａは８０秒未満か否かチェックする。時間Ａが８
０秒から１６０秒の間であった場合には、ステップＳ６
で単位時間数Ｂを３、即ち時間Ａを３０秒にクリップし
て、ステップＳ７に進む。ステップＳ５で時間Ａが８０
秒未満であった場合には、そのままステップＳ７に進
む。ステップＳ７では、前回の発光調整で決定されてい
る最適記録パワーの使用を保証する有効時間Ｃを算出す
る。
【００７６】この場合、有効時間Ｃは２０秒×２B （単
位時間数）とする。但し、有効時間の最大値は１６０秒
にリミットされる。この結果、発光調整で決定された最
適記録パワーを保証する有効時間Ｃは、起動から最初の
発光調整までの時間Ａが１６０秒未満であれば２B に対
応した時間に設定される。１６０秒を超えた場合には、
一定の有効時間Ｃ＝１６０秒に固定される。
【００７７】このような有効時間Ｃの算出は、光ディス
クドライブにローディングした媒体の媒体温度が装置内
温度に安定するまでに掛かる時間に応じて可変させてい
る。即ち、媒体をローディングした直後の初期段階にあ
っては、媒体と装置内の温度の間には差があることか
ら、この段階では装置内温度に基づいた記録パワーの調
整は有効にできないことから、起動時には記録パワーの
調整は行わない。
【００７８】ローディングした媒体の温度は１〜２分程
度経過すると装置内の温度に平衡してくる。そこで光デ
ィスクドライブ起動後の最初に上位装置からライトコマ
ンドが発行されたタイミングに同期して最初の発光パワ
ー調整を行う。起動後、上位装置からライトコマンドが
発行されるタイミングは様々であることから、図４１の
ステップＳ１〜Ｓ７において、起動から最初の発光調整
までの時間Ａを求め、この時間Ａから次回以降の発光調
整タイミング判別のための有効時間Ｃを決めるようにし
ている。
【００７９】ステップＳ７で有効時間Ｃが算出できたな
らば、ステップＳ８で、有効判定時刻Ｄを前回のテスト
ライト時刻に算出した有効時間Ｃを加えた時刻として算
出する。そしてステップＳ９で、現在時刻が有効判定時
刻Ｄを超えたか否か判定する。現在時刻が有効判定時刻
Ｄを超えていれば、ステップＳ１４に進んでテス発光調
整フラグをオンし、図１２のステップＳ３にリターンす
る。
【００８０】ステップＳ９で現在時刻が有効判定時刻Ｄ
に達していない場合には、ステップＳ１７で発光調整フ
ラグをオフとする。またステップＳ４で単位時間Ｂが８
以上即ち１６０秒以上の場合には、ステップＳ１０に進
み、現在時刻から前回の発光調整時刻を引いた時間が１
時間未満か否かチェックする。１時間未満であればステ
ップＳ１１で現在温度を読み込み、ステップＳ１２で前
回温度に対し現在温度が±３℃の範囲内か否かチェック
する。３℃以内であれば、ステップＳ１３で発光調整フ
ラグをオフし、発光調整は行わない。
【００８１】前回温度に対し±３℃の範囲を超える温度
変動があった場合には、ステップＳ１４で発光調整フラ
グをオンし、発光調整を実行する。またステップＳ１０
で現在時刻と前回の発光調整時刻との差が１時間以上の
場合には、ステップＳ１４で強制的に発光調整フラグを
オンして発光調整を実行する。なお、この発光調整必要
性判断処理で整定されている各閾値時間は必要に応じて
適宜に定めることができる。
【００８２】図１４は図４０のステップＳ４で行う試し
書きを伴う発光調整処理であり、図３５の発光調整部２
０４により行われる。まずステップＳ１で装置内温度Ｔ
を測定する。続いてステップＳ２で、図２のコントロー
ラ１０に設けているバッファメモリ２０上にライトパタ
ーン『５９６５９５』と『ＦＥＤＣ，・・・３２１０』
の各１６進のテストパターンを生成する。テストパター
ン『５９６５９５』はエラー発生が最も大きいことが予
想される最悪パターンであり、『ＦＥＤＣ，・・・３２
１０』は１６進の各ワードの全パターンである。
【００８３】続いてステップＳ３に進み、試し書きを行
うテストライト実行セクタを生成する。テストライト実
行セクタは、後の説明で明らかにするように、媒体の非
ユーザ領域に定めたテスト領域を指定してセクタアドレ
スを発生する。次にステップＳ４で、装置内温度からス
タートライトパワーＷＰのデフォルト比ＷＰＯを計算す
る。次にステップＳ５で、デフォルトライトパワー比Ｗ
ＰＯにそのときのデフォルトライトパワーＤＷＰを掛け
合わせることでライトパワーＷＰを計算する。
【００８４】次にステップＳ６で、デフォルト比ＷＰＯ
を用いてイレーズパワーＥＰを計算する。デフォルトイ
レーズパワーＥＰの計算は、ライトパワーのデフォルト
比ＷＰＯから１．０を引いた値に係数０．７を掛けた値
を１に足したイレーズパワーのデフォルト比を用いて、
これをデフォルトイレーズパワーＤＥＰに掛け合わせる
ことで、イレーズパワーＥＰを計算する。即ち、ライト
パワーに対しイレーズパワーの変動比を抑えるようにし
ている。
【００８５】次にステップＳ７で、算出されたライトパ
ワーＷＰとイレーズパワーＥＰを使用して、ステップＳ
２でバッファメモリに生成された２種のライトパターン
の媒体のテスト領域に対する試し書きのデータライトを
行う。このとき媒体が１２８ＭＢ媒体または２３０ＭＢ
媒体であればＰＰＭ記録を行い、５４０ＭＢ媒体または
６４０ＭＢ媒体であればＰＷＭ記録を行う。
【００８６】試し書きのデータライトが済んだならば、
ステップＳ８でテストパターンのデータリードを行い、
ステップＳ９でリードパターンをバッファメモリの元の
ライトパターンと比較し、データ不一致をワード単位に
計数する。ステップＳ１０でデータ不一致数が１０００
未満であれば、ライト低パワー限界点に達していないこ
とからステップＳ１１に進み、ライトパワーのデフォル
ト比ＷＰＯを所定値０．０５減少させ、再びステップＳ
５に戻り、０．０５だけ減らしたデフォルト比ＷＰＯを
用いた発光調整を行う。
【００８７】このようなライトパワーのデフォルト比Ｗ
ＰＯを低下させながら試し書きのデータライトを繰り返
し、ステップＳ１０でデータ不一致数が１０００以上に
なるとライトパワーが下方の限界点に達したものと判定
し、ステップＳ１２で２５℃の下限パワーのデフォルト
比（ＷＰＯ−ＥＤＧ）に校正する。即ち、現在温度から
２５℃を差し引いた値に温度補正係数を乗じた値をステ
ップＳ１０で判定したライトパワー下限（ＷＰＯ−ＥＤ
Ｇ）に加えて校正する。次にステップＳ１３で、この温
度校正値に所定のオフセット比ΔＷＰＯを加算して最適
パワーのデフォルト比率ＷＰＯを算出し、ステップＳ１
４で、決定された最適ライトパワーのデフォルト比ＷＰ
Ｏに基づいた各ゾーンのライトパワーの設定を行う。
【００８８】図１５は図１４における発光調整における
発光パワーを段階的に低下させたときのデータ不一致数
である。まずスタート点２２８のデフォルトライトパワ
ーＤＷＰの設定により発光調整を開始し、スタートデフ
ォルト比１．０から０．０５ずつ減らしながら発光調整
を行って不一致数を求める。ライトパワーＷＰが下限ラ
イトパワーＷＰに近付くと不一致数は増加し、予め定め
た閾値例えば１０００回に達したときに下限２３０とし
て検出する。そして、このときの下限３３０における下
限ライトパワーＷＰに対応したデフォルト比ＷＰＯ-lim
itに対し所定のオフセット比ΔＷＰＯを加えることで、
最適ライトパワーＷＰを与えるデフォルト比ＷＰ-best
を決定する。
【００８９】図１６は、図１４のステップＳ１３で限界
パワーのデフォルト比に加算するオフセット比ΔＷＰＯ
の温度Ｔに対する温度補正係数Ｋｔを示している。図１
６の温度Ｔに対するオフセット比ΔＷＰＯを補正するた
めの温度補正係数Ｋｔは、温度Ｔ＝２５℃の補正係数Ｋ
ｔ＝１．０とした直線近似の関係式Ｋｔ＝Ａ・Ｔ＋Ｂの
係数である傾きＡとｙ軸交点Ｂにより定められている。
【００９０】そこで、そのときの装置内温度Ｔを関係式
に代入することで、対応する温度係数Ｋｔの値を求め、
これに温度Ｔ＝２５℃で求めているデフォルトオフセッ
ト比ΔＷＰＯを掛け合わせることで、最適ライトパワー
の算出に使用するオフセット比ΔＷＰＯを求めることが
できる。図１７は、図１４のステップＳ１３で使用する
オフセット比ΔＷＰＯのゾーン番号に対するゾーン補正
係数Ｋｉの直線近似の関係式である。この関係式はＫｉ
＝Ｃ・ｉ＋Ｄで決まり、その係数として傾きＣとｙ軸交
点Ｄが準備されている。またゾーン補正係数Ｋｉは中央
のゾーン番号ｉ＝６で１．０としていることから、ゾー
ン番号６におけるデフォルトオフセット比ΔＷＰＯが準
備されている。
【００９１】このため、任意のゾーン番号ｉに対し関係
式Ｋｉ＝Ｃ・ｉ＋Ｄからゾーン補正係数Ｋｉを求め、ゾ
ーン番号ｉのデフォルトオフセット比ΔＷＰＯに掛け合
わせることで、ステップＳ１３の最適ライトパワーの算
出に使用するオフセット比ΔＷＰＯを求めることができ
る。図１８は、媒体７２の領域であり、本発明の発光調
整の際の試し書きに使用するテストライト領域として、
ユーザ領域２３４に対するインナ側の非ユーザ領域２３
６またはアウタ側の非ユーザ領域２３８をパワー調整領
域に割り当てる。
【００９２】図１９（Ａ）（Ｂ）は、図１８のアウタ側
の非ユーザ領域２３８であり、非ユーザ領域２３８の中
の所定トラックＴ１，Ｔ２，Ｔ３・・・の範囲について
テストライト領域２４０を設定している。このため図１
４のステップＳ１にあっては、このテストライト領域２
４０の任意のトラックアドレスとセクタ番号を指定して
試し書きを行うセクタを指定することになる。
【００９３】テストライトを行うセクタ指定の方法は、
特定のセクタにテストライトが集中することを避けるた
め、乱数を使用してランダムテストセクタを指定する
か、或いは所定の順番にテストセクタを指定する。また
発光調整が済んだら、試し書きを行ったテストセクタ
は、イレーズにより初期化記録しておく。この試し書き
を行う媒体のテスト領域については、発光調整により記
録パワーを求めた後に行なう隣接トラック確認の際にも
同様にして使用される。４．隣接トラック確認処理 図２０は図１２のステップＳ５における試し書き（テス
トライト）を伴う隣接トラック確認処理のフローチャー
トである。まず隣接トラック確認処理に先立ち、ステッ
プＳ１で、図７の隣接トラック確認部２０５に設けてい
る最適フォーカス点検出部２０７によって最適フォーカ
ス点を与えるオフセット値をサーチして自動焦点制御ル
ープに設定する。
【００９４】この最適フォーカス点検出部２０７の機能
は、図２のコントローラ１０に設けているＤＳＰ１５に
より実行される。即ちＤＳＰ１５は、自動焦点制御ルー
プをオフした状態でフォーカスアクチュエータ５６に対
しドライバ５４を介してフォーカスオフセットの値を段
階的に増加させながら、そのときのトラッキングエラー
信号Ｅ１またはディテクタ３２から検出されるＲＦ再生
信号から最適フォーカス点を与えるオフセット値を判定
する。具体的には、次の３つのいずれかとする。
【００９５】トラッキングエラー信号Ｅ２が最大とな
るオフセット値を最適フォーカス点とする。 ディテクタ３２からヘッドアンプ３４を介して得られ
たＭＯ信号またはＩＤ信号のいずれかのＲＦ再生信号の
振幅が最大となるオフセット値を最適フォーカス点とす
る。
【００９６】４分割ディテクタ４６の総和信号（Ｅａ
＋Ｅｂ＋Ｅｃ＋Ｅｄ）が最大となるオフセット値を最適
フォーカス点とする。 このようにステップＳ１で最適フォーカス点をサーチし
て求めたオフセット値を自動焦点制御ループにセットし
て自動焦点制御を行うことで、媒体に対するビームスポ
ットを最適とした状態で隣接トラック確認処理に入る。
【００９７】ステップＳ２では、図１８の媒体７２の非
ユーザ領域、例えば再アウタ側の非ユーザ領域２３８の
中に例えば図１９（Ａ）のようにライトテスト領域２４
０を設定し、テストライト領域２４０の中の例えば全て
のトラックＴ１、Ｔ２，・・・に、斜線のようにセクタ
単位に第１テストパターンを、そのとき設定されている
ライトパワー及びイレーズパワーを含む記録パワーによ
るレーザダイオードの駆動で書き込む。このときの第１
テストパターンは例えば最長マーク長パターンを使用す
る。
【００９８】続いてステップＳ３で、確認対象トラック
Ｔ１の隣接トラックＴ２に書き込んだ第１テストパター
ンをリードして再生信号を確認する。続いてステップＳ
４で、確認対象トラックＴ１の特定のセクタ例えばセク
タ２４２−１を指定して、現在の記録パワーによるレー
ザダイオードの発光駆動により、隣接トラックＴ２のセ
クタ２４４−１の再生データの破壊の有無を確認するた
めに、第２テストパターンを予め定めた規定回数例書き
する。このときの第２テストパターンは例えば最短マー
ク長パターンを使用する。
【００９９】続いてステップＳ５で、第２テストパター
ンの規定回数のライトが行われたトラックＴ１のセクタ
２４２−１に隣接する隣接トラックＴ２のセクタ２４４
−１をリードして、再生信号からデータ破壊があるか否
かを判断する。このステップＳ５における再生信号のデ
ータ破壊の判断は、次の３つのいずれかとする。 再生したＲＦ信号のピーク検波信号のレベル変化が規
定値未満であればデータ破壊がないと判断し、レベル変
化が規定値以上であることを検出するとデータ破壊と判
断する。
【０１００】記録データと再生データをビット単位に
比較し、ビット誤り個数が規定値未満であればデータ破
壊はないと判断し、規定値以上に増加していたことを検
出した場合にはデータ破壊と判断する。 再生データに対する図２のコントローラ１０に設けて
いるフォーマッタ１１８のＥＣＣ回路におけるＥＣＣ誤
り訂正数が、例えば訂正可能な規定値未満であればデー
タ破壊はないと判断し、規定値以上であればデータ破壊
と判断する。
【０１０１】このようなステップＳ５における隣接トラ
ックの再生信号の状態からデータ破壊の有無を判断し、
ステップＳ６で隣接トラックのデータ破壊がなかった場
合には、図１９（Ａ）のテストライト領域２４０の全ト
ラックをイレーズする初期化記録を行った後、ステップ
Ｓ８で、このときの試し書きににより確認できた記録パ
ワーに基づく最適パワーの設定を行う。
【０１０２】一方、ステップＳ６で隣接トラックの再生
データの破壊が判断された場合には、ステップＳ９に進
み、図１５に示した発光調整の際に求めたパワー下限２
３０以下か否かチェックする。下限パワーより大きけれ
ばステップＳ１０に戻って、記録パワーを予め定めた所
定比率α分だけ減少させた後、確認セクタの位置を例え
ば図１９（Ａ）のセクタ２４２−２に変更し、ステップ
Ｓ４に戻る。
【０１０３】そして、変更した確認セクタ２４２−２に
対し、ステップＳ１０で変更した記録パワーによるレー
ザダイオードの発光駆動により第２テストパターンを規
定回数試し書きし、ステップＳ５，Ｓ６により隣接トラ
ックＴ２の隣接セクタ２４４−２をリードして再生信号
のデータ破壊を判断する。そして、隣接トラックの再生
信号のデータ破壊が解消されない場合には、ステップＳ
９で記録パワーＷＰを下限パワー以下となるまで減少さ
せながら、同じ処理を繰り返す。
【０１０４】媒体欠陥や特別な異常がなければ、通常は
ステップＳ１０で記録パワーを所定比率αずつ減少させ
ながら書込対象トラックの確認セクタに対する第２テス
トパターンの規定回数の試し書きと隣接トラックのセク
タ再生信号の確認を繰り返すと、再生信号のデータが破
壊されない記録パワーが求まり、ステップＳ７でテスト
ライト領域２４０を初期化記録した後に、ステップＳ８
で隣接トラックの再生信号のデータ破壊を起こさなかっ
た記録パワーに基づく最適パワーの設定ができる。
【０１０５】しかしながら、ステップＳ９で記録パワー
を下限パワー以下としても隣接トラックのセクタ再生信
号にデータ破壊が起きていた場合には、ステップＳ１２
で、ステップＳ１と同様最適フォーカス点のサーチによ
りオフセット値を再設定し直した後、ステップＳ１３で
実行回数が規定値に達するまで、ステップＳ２に戻って
最初から隣接トラック確認処理を繰り返す。ステップＳ
２からの隣接トラック確認処理の実行回数が規定値に達
するまで隣接トラック確認処理を繰り返しても、隣接ト
ラックのデータ破壊が解消できなかった場合には、ステ
ップＳ１３からステップＳ１４に進み、この場合は異常
終了とする。
【０１０６】図１９（Ａ）は、テストライト領域２４０
の隣接する２トラック、例えばトラックＴ１，Ｔ２を対
象とした第１テストパターンと第２テストパターンの試
し書きで再生信号のデータ破壊を起こさなかった記録パ
ワーに基づく最適パワーの設定を行っているが、図１９
（Ｂ）のように、テスト領域の中の３トラック、例えば
トラックＴ１〜Ｔ３を指定した試し書きによって再生信
号のデータ破壊を起こさなかった記録パワーに基づく最
適パワーの設定を行ってもよい。
【０１０７】即ち、図１９（Ｂ）にあっては、所定のイ
レーズパワーとライトパワーを含む記録パワーによるレ
ーザダイオードの発光駆動で少なくとも隣接する３トラ
ックＴ１，Ｔ２，Ｔ３の中央のトラックＴ２に第１テス
トパターンを試し書きし、続いて両側の２トラックＴ
１，Ｔ３に第２テストパターンを順番に試し書きした後
に、先に第１テストパターンの試し書きした隣接トラッ
クＴ２を再生してデータ破壊の有無を確認し、データ破
壊がなかった場合に試し書きした記録パワーを最適な記
録パワーとする。
【０１０８】勿論、図１９（Ｂ）についても、図１９
（Ａ）と同様、隣接する３トラックＴ１，Ｔ２，Ｔ３の
全てに第１テストパターンを試し書きし、続いて両側の
２トラックＴ１，Ｔ３の特定セクタに第２テストパター
ンを順番に試し書きした後に、第２テストパターンの書
込みセクタに隣接する先に第１テストパターンを試し書
きした隣接トラックＴ２のセクタを再生してデータ破壊
の有無を確認し、データ破壊がなかった場合に試し書き
した記録パワーを最適な記録パワーとしてもよい。
【０１０９】図２１は図２０の隣接トラック確認処理で
使用するテストパターン及びその発光パワーのタイムチ
ャートである。図２１（Ａ）〜（Ｅ）は、最初にテスト
領域２４０の全域に試し書きする第１テストパターンの
ライトデータ、ＰＷＭデータ、第１ライトパルス、第２
ライトパルス及び発光パワーを表しており、図２１
（Ｂ）のＰＷＭデータから明らかなように、最長マーク
長パターンとしている。
【０１１０】この最長マーク長パターンは、ライトデー
タとしてのビットパターンで見ると「１１１１・・・・
１１０」となる。図２１（Ｂ）のＰＷＭデータは、図２
１（Ｃ）の第１ライトパルスが１つと、その後ろに図２
１（Ｄ）の第２ライトパルスが最長マーク長に応じた数
だけ並び、図２１（Ｅ）のような発光パワーによってテ
ストライト領域２４０の全トラックに最初に試し書きさ
れる。
【０１１１】図２１（Ｆ）〜（Ｊ）は、確認対象トラッ
クの特定セクタに規定回数試し書きする第２テストパタ
ーンのライトデータ、ＰＷＭデータ、第１ライトパル
ス、第２ライトパルス及び発光パワーであり、図２１
（Ｇ）のＰＷＭデータから明らかなように、最短マーク
長パターンとしている。即ち、ＰＷＭデータは１パター
ン長の先頭位置に１ビット幅の最短マークを持ってお
り、図２１（Ｆ）のライトデータのビットパターンで表
すと「１００００・・・０」となる。
【０１１２】この最短マーク長パターンのＰＷＭデータ
の書込みについては、図２１（Ｈ）の第１ライトパルス
が１つ生成され、図２１（Ｉ）の第２ライトパルスは出
されず、その結果、図２１（Ｊ）の発光パワーのよう
に、基本的には（ＥＰ＋ＰＲ）のイレーズパワーであ
り、途中に第１ライトパルスに対応した最短マーク長に
対応するライトパワーＷＰ１だけアップした部分をもっ
ている。
【０１１３】また図２１（Ｆ）〜（Ｊ）の第２テストパ
ターンしての最短マーク長パターンにビットパターンと
して「１０００・・・０」を使用しているが、マーク長
が０となるオール０のビットパターンとしてもよい。こ
のオール０のビットパターンにあっては、確認対象トラ
ックに対する発光パワーは（ＥＰ＋ＰＲ）のイレーズパ
ワーによるＤＣ発光パターンであり、装置の動作上、最
高となるイレーズパワーを初期値としたＤＣ発光パター
ンを使用する。
【０１１４】このイレーズパワーのＤＣ発光パターンを
第２テストパターンとした場合についても、隣接トラッ
クの再生データにデータ破壊があったときには、ステッ
プＳ１０でイレーズパワーを規定比率αずつ減らしなが
ら再生信号のデータ破壊のないイレーズパワーＥＰを求
め、ステップＳ８で、求めたイレーズパワーＥＰに対す
る他の第１ライトパワー、第２ライトパワーの設定を行
う。
【０１１５】また図１９ではライトテスト領域２４０の
全域に第１テストパターンとして最長マーク長パターン
を最初に試し書きしているが、隣接トラックの確認処理
には、少くとも２本の隣接したトラックに第１テストパ
ターンを試し書きし、その後に一方のトラックの特定セ
クタを確認セクタに指定して第２テストパターンを規定
回数試し書きして隣接セクタのデータ破壊を確認しても
よい。
【０１１６】更に、ライトテスト領域２４０の全域に逆
に最短マーク長パターンを第１トストパターンとして最
初に試し書きし、その後に特定トラックの特定セクタを
確認セクタに指定して最長マーク長パターンを第２テス
トパターンとして規定回数試し書きして隣接セクタのデ
ータ破壊を確認してもよい。更にまた、図２１はＰＷＭ
記録による試し書きを例にとっているが、図６のＰＰＭ
記録についても、同様に最長マーク長パターンと最短マ
ーク長パターンを第１及び第２テストパターンとして使
用した試し書きにより、隣接トラックのデータ破壊の有
無の確認を起ってもよい。
【０１１７】図２２は、試し書きによる隣接トラックの
確認処理が済んだ後に図２０のステップＳ８で最終的に
行われる記録パワー設定処理、即ちパワーテーブル作成
処理のフローチャートである。パワーテーブル作成処理
にあっては、ステップＳ１でゾーンごとのイレーズパワ
ーＥＰ、第１ライトパワーＷＰ１のデフォルトパワーテ
ーブルを装置内温度から計算する。
【０１１８】続いてステップＳ２でゾーン番号ｉのライ
トパワー（ＷＰ）ｉを設定し、ライトパワー調整に求め
た最適デフォルト比ＷＰＯをデフォルトライトパワーＤ
ＷＰｉに掛け合わせ、更に温度補正を行ってライトパワ
ーを算出する。次にステップＳ３で、ＰＷＭ媒体か否か
チェックする。もしＰＷＭ媒体であった場合にはステッ
プＳ４に進み、ゾーン番号ｉのパワー比（ＷＰ２／ＷＰ
１）にステップＳ２で求めた第１ライトパワーに相当す
るライトパワー（ＷＰ１）ｉを乗じ、第２ライトパワー
（ＷＰ２）ｉを算出する。最終的にステップＳ５で、ゾ
ーン番号ｉのイレーズパワー（ＥＰ）ｉを設定する。
【０１１９】このイレーズパワーの算出にあっては、ラ
イトパワー調整で得られた最適ライトパワーのデフォル
ト比ＷＰＯから１．０を引いた値に変動分を抑えるため
の係数０．７を乗じ、これを１．０に加えてデフォルト
イレーズパワーＤＰｉに掛け合わせる。もちろん、その
ときの測定温度による温度補正を施す。このような図２
２のパワーテーブル作成処理により、図７のパワーテー
ブル格納部２１０に示したイレーズパワーテーブル２１
８、第１ライトパワーテーブル２２０及び第２ライトパ
ワーテーブル２２２が作成されることになる。
【０１２０】そして、それ以降の上位装置からのライト
アクセスに対しゾーン番号に対応したパワーを読み出
し、そのときの装置内温度に従った温度補正を施した
後、図４のレーザダイオード制御回路のレジスタに対す
るＤＡＣ指示値を算出してセットし、レーザダイオード
１００の発光制御を行うことになる。
【０１２１】
【発明の効果】以上説明してきたように本発明によれ
ば、媒体の非ユーザ領域に第１テストパターンを試し書
きした後、試し書きで使用した記録パワーもしくはそれ
より高いパワーにより所定トラックの同一位置に第２テ
ストパターンを規定回数試し書きしてその隣接トラック
位置の再生信号からデータ破壊の有無を判断し、データ
破壊がなければ適正な記録パワーとして設定し、データ
破壊があった場合には記録パワーを下げながら試し書き
を行って、隣接トラックにデータ破壊を起こさない適切
な記録パワーを設定することができ、媒体のトラック間
隔が狭まって高密度化した際の記録パワーの調整を最適
化して、隣接トラックのデータを破壊することなく最適
な記録を実現することができる。
【０１２２】また隣接トラックのデータ破壊を試し書き
により判断する際に最適フォーカス点のサーチを取り込
むことで、フォーカス点がずれてビームが太くなってい
ることによる隣接トラックのデータ破壊を最適パワーの
設定から区別し、記録パワーの強さによる隣接トラック
のデータ破壊の有無の正確な判断ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の原理説明図
【図２】本発明による光ディスクドライブのブロック図
【図３】ＭＯカートリッジをローディングした装置内部
構造の説明図
【図４】図２のレーザダイオード制御回路のブロック図
【図５】本発明のＰＷＭ記録における信号、発光電流、
差引電流及びモニタ電流のタイムチャート
【図６】本発明のＰＰＭ記録における信号、発光電流、
差引電流及びモニタ電流のタイムチャート
【図７】図２のＭＰＵで実現される最適ライトパワー調
整部の機能ブロック図
【図８】図７のデフォルトイレーズパワーテーブルの説
明図
【図９】図７のデフォルトライトパワーテーブルの説明
図
【図１０】図７の温度補正係数テーブルの説明図
【図１１】図７の発光パワー調整に先立つディスク起動
処理のフローチャート
【図１２】図７の隣接トラック確認を含む記録パワー調
整処理のフローチャート
【図１３】図７の記録パワー調整の必要性判断のフロー
チャート
【図１４】試し書きによる図７の記録パワー調整処理の
フローチャート
【図１５】図１４における限界パワーの検出と最適パワ
ーの設定の説明図
【図１６】図１４の限界パワーに加算して最適パワーを
求めるオフセット比の温度を補正する温度補正係数の説
明図
【図１７】図１４の限界パワーに加算して最適パワーを
求めるオフセット比のゾーン位置に対する補正係数の説
明図
【図１８】媒体の領域説明図
【図１９】図１８の非ユーザ領域に割り当てられたテス
トライト領域の説明図
【図２０】図７の隣接トラック確認処理のフローチャー
ト
【図２１】隣接トラック確認処理で使用する第１及び第
２テストパターンのタイムチャート
【図２２】最適ライトパワーの調整結果を用いたパワー
テーブル設定処理のフローチャート
【符号の説明】
１０：コントローラ １２：エンクロージャ １４：ＭＰＵ １５：ＤＳＰ １６：インタフェースコントローラ １８：フォーマッタ ２０：バッファメモリ ２２：エンコーダ ２４：レーザダイオード制御回路 ２６：デコーダ ２８：リードＬＳＩ回路 ３０：レーザダイオードユニット ３２：ディテクタ ３４：ヘッドアンプ ３６：温度センサ ３８，４２，５４，５８，６２：ドライバ ４０：スピンドルモータ ４４：電磁石 ４６：４分割ディテクタ ４８：ＦＥＳ検出回路 ５０：ＴＥＳ検出回路 ５２：レンズ位置センサ ５６：フォーカスアクチュエータ ６０：レンズアクチェータ ６４：ＶＣＭ（キャリッジアクチュエータ） ６６：ハウジング ６８：インレットドア ７０：ＭＯカートリッジ ７２：ＭＯ媒体 ７６：キャリッジ ７８：固定光学系 ８０：対物レンズ １００：レーザダイオード（ＬＤ） １０２：モニタフォトダイオード（ＰＤ） １０４：リードパワー電流源 １０６：イレーズパワー電流源 １０８：第１ライトパワー電流源 １１０：第２ライトパワー電流源 １１２：イレーズパワー差引電流源 １１４：第１ライトパワー差引電流源 １１６：第２ライトパワー差引電流源 １１８：モニタ電圧検出抵抗 １２０：目標ＤＡレジスタ（目標ＤＡＣレジスタ） １２２：イレーズパワー電流レジスタ（ＥＰ電流ＤＡＣ
レジスタ） １２４：第１ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ１電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２６：第２ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ２電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２８：イレーズパワー差引ＤＡレジスタ（ＥＰ差引Ｄ
ＡＣレジスタ） １３０：第１ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ１差
引ＤＡＣレジスタ） １３２：第２ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ２差
引ＤＡＣレジスタ） １３４：モニタＡＤＣレジスタ 136,140,142,144,146,148,150 ：ＤＡコンバータ（ＤＡ
Ｃ） １３８：自動パワー制御部（ＡＰＣ） １５２：ＡＤコンバータ（ＡＤＣ） ２００：パワー調整部 ２０２：調整タイミング判定部 ２０４：発光パワー調整部 ２０５：隣接トラック確認部 ２０６：パワーテーブル作成部 ２０７：最適フォーカス点検出部 ２１０：パワーテーブル格納部 ２１２：デフォルトイレーズパワーテーブル ２１４：デフォルトライトパワーテーブル ２１６：温度補正係数テーブル ２１８：イレーズパワーテーブル ２２０：第１ライトパワーテーブル ２２２：第２ライトパワーテーブル ２２４：パワー設定処理部 ２２６：レジスタ群 ２２８：開始点 ２３０：限界点 ２３２：最適点 ２３４：ユーザ領域 ２３６，２３８：非ユーザ領域 ２４０：テストライト領域 ２４２−１，２４２−２：確認セクタ位置 ２４４−１，２４４−２：隣接セクタ位置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５０１ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５０１Ａ ５７２ ５７２Ｃ ５７２Ｆ

Claims (26)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】ビーム光を発光するレーザダイオードと、 所定の発光パワーによる前記レーザダイオードの発光駆
    動で少なくとも隣接する２トラックに第１テストパター
    ンと第２テストパターン順番に試し書きした後に、先に
    第１テストパターンの試し書きした隣接トラックを再生
    してデータ破壊の有無を確認し、データ破壊がなかった
    場合に前記試し書きした発光パワーを記録パワーとする
    隣接トラック確認部と、を備えたことを特徴とする光学
    的記憶装置。
  2. 【請求項２】ビーム光を発光するレーザダイオードと、 所定の発光パワーによる前記レーザダイオードの発光駆
    動で少なくとも隣接する３トラックの中央のトラックに
    第１テストパターンを、両側の２トラックに第２テスト
    パターンを順番に試し書きした後に、先に第１テストパ
    ターンの試し書きした隣接トラックを再生してデータ破
    壊の有無を確認し、データ破壊がなかった場合に前記試
    し書きした発光パワーを記録パワーとする隣接トラック
    確認部と、を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。
  3. 【請求項３】請求項１又は２記載の光学的記憶装置に於
    いて、前記隣接トラック確認部は、媒体の隣接する複数
    トラックに第１テストパターン試し書きし、次に前記複
    数トラックの中の同一トラックの同一位置に第２テスト
    パターンを所定回数試し書きした後に先に試し書きした
    隣接トラック位置を再生してデータ破壊を確認すること
    を特徴とする光学的記憶装置。
  4. 【請求項４】請求項１又は２記載の光学的記憶装置に於
    いて、前記隣接トラック確認部は、媒体の最内周又は最
    外周に存在するユーザ未使用領域の一部で試し書きして
    隣接トラックのデータ破壊の有無を判断することを特徴
    とする光学的記憶装置。
  5. 【請求項５】請求項３記載の光学的記憶装置に於いて、
    更に、前記発光ダイオードの発光パワーの調整により最
    適記録パワーを決定して前記隣接トラック確認部の試し
    書きに使用する記録パワーの初期値を決定する記録パワ
    ー調整部を設けたことを特徴とする光学的記憶装置。
  6. 【請求項６】請求項５の光学的記憶装置に於いて、前記
    隣接トラック確認部は、前記記録パワー調整部で決定し
    た最適記録パワーよりも高めの記録パワー初期値を設定
    して試し書きすることを特徴とする光学的記憶装置。
  7. 【請求項７】請求項５記載の光学的記憶装置に於いて、
    前記記録パワー調整部は、前記発光ダイオードの発光パ
    ワーを調整して媒体に試し書きしながら最適記録パワー
    を決定することを特徴とする光学的記憶装置。
  8. 【請求項８】請求項５記載の光学的記憶装置に於いて、
    前記記録パワー調整部は、前記レーザダイオードの記録
    パワーを段階的に徐々に低下させながら所定のテストパ
    ターンを媒体に試し書きした後に再生して元のテストパ
    ターンと比較してデータの不一致個数を計数し、該不一
    致個数が所定の閾値を超える記録パワーを下限記録パワ
    ーとして検出し、該下限記録パワーに所定のオフセット
    を加算した値を最適記録パワーに決定することを特徴と
    する光学的記憶装置。
  9. 【請求項９】請求項１又は２記載の光学的記憶装置に於
    いて、前記隣接トラック確認部は、隣接トラックの再生
    確認が正常に終了後に、試し書きした全トラックを初期
    化記録（イレーズ）することを特徴とする光学的記憶装
    置。
  10. 【請求項１０】請求項１又は２の光学的記憶装置に於い
    て、前記隣接トラック確認部は、隣接トラックから再生
    したＲＦ信号のピーク検波信号のレベル変化が規定値以
    上であることを検出してデータ破壊と判断することを特
    徴とする光学的記憶装置。
  11. 【請求項１１】請求項１又は２記載の光学的記憶装置に
    於いて、前記隣接トラック確認部は、隣接トラックの記
    録データと再生データを比較し、ビット誤り個数が規定
    値以上に増加したことを検出してデータ破壊と判断する
    ことを特徴とする光学的記憶装置。
  12. 【請求項１２】請求項１又は２記載の光学的記憶装置に
    於いて、前記隣接トラック確認部は、隣接トラックの再
    生データに対するＥＣＣ誤り訂正数が規定値以上に増加
    したことを検出してデータ破壊と判断することを特徴と
    する光学的記憶装置。
  13. 【請求項１３】請求項１又は２記載の光学的記憶装置に
    於いて、前記隣接トラック確認部は、試し書きにより隣
    接トラックのデータ破壊を判断した場合は、所定の記録
    下限パワーまで徐々にパワーを減少させながら試し書き
    を繰り返して隣接トラックのデータが破壊されない記録
    パワーを求めることを特徴とする光学的記憶装置。
  14. 【請求項１４】請求項１３記載の光学的記憶装置に於い
    て、前記隣接トラック確認部は、媒体上での位置を変え
    ながら２回目以降の試し書きにより隣接トラックのデー
    タ破壊の有無を確認することを特徴とする光学的記憶装
    置。
  15. 【請求項１５】請求項１３記載の光学的記憶装置に於い
    て、前記隣接トラック確認部は、前記記録下限パワーま
    で徐々にパワーを減少させて試し書きを繰り返しても隣
    接トラックのデータが破壊された場合は、媒体の異なる
    位置で再度試し書きにより記録パワーを求める処理を最
    初からやり直すことを特徴とする光学的記憶装置。
  16. 【請求項１６】請求項１５記載の光学的記憶装置に於い
    て、前記隣接トラック確認部は、記録パワーを求める処
    理を最初からやり直す際に、最適フォーカス点をサーチ
    して自動焦点制御のオフセット値を最適化した後にやり
    直すことを特徴とする光学的記憶装置。
  17. 【請求項１７】請求項１６記載の光学的記憶装置に於い
    て、前記隣接トラック確認部は、対物レンズ位置を調整
    した際に、媒体戻り光から検出されたトラッキングエラ
    ー信号が最大となるレンズ位置を与えるオフセット値を
    最適フォーカス点とすることを特徴とする光学的記憶装
    置。
  18. 【請求項１８】請求項１４記載の光学的記憶装置に於い
    て、前記隣接トラック確認部は、対物レンズ位置を調整
    した際に、媒体戻り光から検出されたＲＦ再生信号の最
    大となるレンズ位置を与えるオフセット値を最適フォー
    カス点とすることを特徴とする光学的記憶装置。
  19. 【請求項１９】請求項１６記載の光学的記憶装置に於い
    て、前記隣接トラック確認部は、対物レンズ位置を調整
    した際に、媒体戻り光を電気信号に変換する４分割ディ
    テクタの総和信号が最大となるレンズ位置を与えるオフ
    セット値を最適フォーカス点とすることを特徴とする光
    学的記憶装置。
  20. 【請求項２０】請求項１又は２記載の光学的記憶装置に
    於いて、前記隣接トラック確認部は、媒体のテスト領域
    の全トラックに、前記第１テストパターンとして最長マ
    ーク長パターンを試し書きすることを特徴とする光学的
    記憶装置。
  21. 【請求項２１】請求項２０記載の光学的記憶装置に於い
    て、前記隣接トラック確認部は、前記最長マーク長パタ
    ーンの試し書きが済んだ媒体のテスト領域の特定トラッ
    クの特定セクタ位置を指定して、前記第２テストパター
    ンとして最短マーク長パターンを規定回数試し書きする
    ことを特徴とする光学的記憶装置。
  22. 【請求項２２】請求項２０記載の光学的記憶装置に於い
    て、前記隣接トラック確認部は、前記最長マーク長パタ
    ーンの試し書きが済んだ媒体のテスト領域の特定トラッ
    クの特定セクタ位置を指定して、前記第２テストパター
    ンとして装置動作上の最高パワーを初期値としたＤＣ発
    光パターンにより規定回数試し書きすることを特徴とす
    る光学的記憶装置。
  23. 【請求項２３】請求項１又は２記載の光学的記憶装置に
    於いて、前記隣接トラック確認部は、装置内温度変化が
    規定値以上の時に、試し書きして記録パワーを再設定す
    ることを特徴とする光学的記憶装置。
  24. 【請求項２４】請求項１又は２記載の光学的記憶装置に
    於いて、前記隣接トラック確認部は、前回の試し書きか
    らの経過時間を監視し、所定の試し書き有効時間経過後
    に再度試し書きして記録パワーを再設定することを特徴
    とする光学的記憶装置。
  25. 【請求項２５】請求項１又は２記載の光学的記憶装置に
    於いて、前記隣接トラック確認部は、上位からの指示に
    よって試し書きして記録パワーを再設定することを特徴
    とする光学的記憶装置。
  26. 【請求項２６】請求項１又は２記載の光学的記憶装置に
    於いて、前記隣接トラック確認部は、試し書きする媒体
    の位置を毎回変えながら、試し書きにより記録パワーを
    再設定することを特徴とする光学的記憶装置。
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