DE19629898C2 - CCD-Festkörper-Bildsensor mit verbesserter Ladungsübertragung zum horizontalen CCD - Google Patents
CCD-Festkörper-Bildsensor mit verbesserter Ladungsübertragung zum horizontalen CCDInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Festkörper-Bildsensor gemäß der im
Anspruch beschriebenen Art.
Aus der US 4,990,985 ist bereits ein Festkörper-Bildsensor mit einer Viel
zahl von vertikalen CCD's bekannt, die Bildsignalladungen zu einem hori
zontalen CCD übertragen. Die VCCD's und das HCCD sind in einer n-lei
tenden Wanne ausgebildet, die in einem p-leitenden Substrat vorgesehen
ist. Die n-leitende Wanne wird von einer n+-leitenden Barriere in einen
VCCD-Bereich und in einen HCCD-Bereich unterteilt. Die an den dem
HCCD zugewandten Enden der VCCD's vorgesehenen n+-leitenden Barrie
ren liegen dabei unter einer oberen Elektrode des HCCD's, die die horizon
talen Übertragungstaktimpulse empfängt.
Aus "IEEE Transactions on Electron Devices" Vol. ED-33 (1986), S. 458-
463 ist ein weiterer Festkörper-Bildsensor mit einer allgemeinen p-leiten
den Wanne bekannt, die in einem n-leitenden Substrat vorgesehen ist. Der
Bilderzeugungsbereich umfaßt VCCD's und ein horizontales Schieberegi
ster, das aus einem vergrabenen CDD mit ionenimplantierten Barrieren
zusammengesetzt ist. Diese CCD's sind in der gemeinsamen flachen ebe
nen p-Wanne vorgesehen.
Aus der EP 0 185 343 B1 ist eine Ladungsübertragungsvorrichtung be
kannt. Hier wird ein Festkörper-Bildsensor beschrieben mit einer Vielzahl
von VCCD's, die Bildsignalladungen zu einem HCCD übertragen. Die
VCCD's sind dabei in einer p-leitenden Wanne ausgebildet, während sich
unter dem HCCD eine p--leitende Wanne befindet. Der Grenzbereich zwi
schen der p--leitenden Wanne und der p-leitenden Wanne verläuft dabei
am Rand des HCCD's. Zwischen diesen beiden Wannen besteht kein Über
lappungsbereich.
Schließlich ist aus der EP 0 566 117 A1 ein Festkörper-Bildsensor be
kannt, bei dem die Wannen des HCCD's und der VCCD's mit verschiedenen
Verunreinigungskonzentrationsverteilungen ausgebildet sind. In einem
Bereich überlappen sich die Wannen, wodurch eine erhöhte Verunreini
gungskonzentration im Überlappungsbereich entsteht.
Nachfolgend wird unter Bezugnahme auf die Fig. 1 bis 3 ein weiterer her
kömmlicher Festkörper-Bildsensor erläutert. Dabei veranschaulicht Fig.
1 das Layout desselben, Fig. 2a veranschaulicht einen Schnitt durch den
selben entlang der Linie A-A' in Fig. 1, und Fig. 2b veranschaulicht das Po
tentialprofil entlang dieser Linie.
Wie es in Fig. 1 dargestellt ist, umfaßt der herkömmliche Festkörper-Bild
sensor eine Vielzahl von Photodioden PD, die matrixförmig unter der Ober
fläche eines Halbleitersubstrats ausgebildet sind, um jeweils ein Licht
signal in ein elektrisches Videosignal umzusetzen, eine Vielzahl vertika
ler ladungsgekoppelter Bauelemente (VCCDs) 1, die jeweils zwischen den
Photodioden PD angeordnet sind, um von diesen erzeugte Videosignalla
dungen mittels einer Mehrzahl von über den VCCDs 1 angeordneten Über
tragungs-Gate-Elektroden VG1-VG4 nach außen zu übertragen, und ein
horizontales ladungsgekoppeltes Bauelement (HCCD) 2, das an den Aus
gangsseiten der VCCDs 1 ausgebildet ist, um die Videosignalladungen von
diesen zur Ausgangseite des HCCD 2 zu übertragen.
Wie es in Fig. 1 dargestellt ist, existiert eine Vielzahl von Sätzen von vier
Vertikalübertragungs-Gate-Elektroden VG1, VG2, VG3 und VG4, die ab
wechselnd über den VCCDs 1 ausgebildet sind und deren Potentialpegel
aufeinanderfolgend geändert werden, um die Videosingnalladungen von
den Photodioden PD auf ein 4-phasiges Taktsignal hin zur Ausgangsseite
des jeweiligen VCCD 1 zu übertragen. An diese vertikalen Übertragungs-
Gate Elektroden VG1-VG4 werden Vertikaltaktsignale Vϕ1, Vϕ2, Vϕ3 bzw.
Vϕ4 angelegt. Außerdem existiert eine Vielzahl von Sätzen zweier Horizon
talübertragungs-Gate-Elektroden HG1 und HG2, die abwechselnd über
dem HCCD 2 ausgebildet sind und deren Potentialpegel aufeinanderfol
gend geändert werden, um die Signalladungen von den VCCDs 1 entspre
chend einem 2-phasigen Takt zur Ausgangsseite des HCCD 2 zu übertra
gen. An die Gate-Elektroden HG1 und HG2 werden Taktsignale Hϕ1 bzw.
Hϕ2 angelegt.
Das HCCD 2 und die VCCDs 1 sind in zwei p-Wannen 4 bzw. 5 ausgebildet,
deren Potentialniveaus verschieden sind. Da die VCCDs 1 und das HCCD 2
unter der Oberfläche des Substrats 3 ausgebildet sind, werden sie manch
mal als BCCDs (vergrabene landungsgekoppelte Bauelemente) bezeich
net.
Gemäß Fig. 1 bilden die zwei Wannen 4 und 5 unter einem Teil der letzten
Vertikalübertragungs-Gate-Elektrode VG4 und einem Teil jeder der
Horizontalübertragungs-Gate-Elektroden HG1 und HG2 aufgrund der
Diffusion bei ihren Herstellprozessen einen Überlappungsbereich 6.
Der genannte Schnitt in Fig. 2a zeigt die unter der Oberfläche des n-Sub
strats 3 ausgebildeten p-Wannen 4 und 5, die unter der Oberfläche der p-
Wanne 4 ausgebildeten n-VCCD-Bereiche, und den unter der Oberfläche
der p-Wanne 5 ausgebildeten n-HCCD-Bereich 2. In diesem Fall bilden,
wie bereits erläutert, die Wannen 4 und 5 in unvermeidlicher Weise nach
dem Ansteuern des Sensors aufgrund der Diffusion bei ihren Herstell
prozessen den in Fig. 2a dargestellten Überlappungsbereich 6. Eines der
bemerkenswerten Merkmale in Fig. 2a ist es, daß der Überlappungsbe
reich 6 unter einem Teil der letzten Vertikalübertragungs-Gate-Elektode
VG4 und einem Teil jeder der Horizontalübertragungs-Gate-Elektroden
HG1 und HG2 ausgebildet ist.
Wie es in Fig. 3 dargestellt ist, bewegt sich beim Festkörper-Bildsensor ge
mäß dem vorstehend angegebenen Aufbau jede der in den Photodioden PD
erzeugten Bildsignalladungen durch das zugehörige VCCD 1, dessen Po
tentialniveau aufeinanderfolgend durch die Vertikalübertragungs-Takt
signale Vϕ1, Vϕ2, Vϕ3 und Vϕ4 geändert wird, zum HCCD 2 hin.
Die über die VCCDs 1 übertragenen Bildsignalladungen werden über den
HCCD 2, dessen Potentialniveau durch die Horizontaltaktsignale Hϕ1 und
Hϕ2 aufeinanderfolgend geändert wird, an den Meßverstärker 7 übertra
gen, der die Bildsignalladungen mit vorgegebener Verstärkung verstärkt.
Wie im genannten Potentialprofildiagramm der Fig. 2b dargestellt, besteht
beim herkömmlichen Festkörper-Bildsensor jedoch, da die p-Konzentra
tion im durch die Wanne 4 für die VCCDs 1 und die Wanne 5 für das HCCD
2 gebildeten Überlappungsbereich 6 erhöht ist, das Problem eines verrin
gerten Ladungsübertragungs-Wirkungsgrads aufgrund einer Potential
barriere 8, wie sie im Zentrum des Überlappungsbereichs 6 ausgebildet
ist. D. h., daß, wie es in Fig. 3 dargestellt ist, unter Umständen ein Teil der
Bildsignalladungen wegen der Potentialbarriere 8 nicht an den HCCD-Be
reich 2 übertragen wird sondern im Bereich zwischen den VCCD-Berei
chen 1 und dem HCCD Bereich 2 verbleibt.
Demgemäß besteht beim Aufbau eines herkömmlichen Festkörper-Bild
sensors die Tendenz, Fehler, wie schwarze Zeilen auf einem Anzeigeschirm,
zu erzeugen, die von ineffizienter Übertragung von Bildsignalladungen
herrühren.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Festkörper-Bildsensor
mit verbessertem Ladungsübertragungs-Wirkungsgrad zu schaffen.
Diese Aufgabe wird durch den Festkörper-Bildsensor gemäß dem beige
fügten Anspruch gelöst.
Bei diesem Sensor ist nur unter den Horizontalübertragungs-Gate-Elek
troden im HCCD ein Überlappungsbereich aus der ersten Wanne zum Aus
bilden der VCCDs und der zweiten Wanne zum Ausbilden des HCCD vor
handen. Dadurch können Ladungen verlustfrei übertragen werden, so daß
Fehler wie das Auftreten schwarzer Zeilen in einer Anzeige verhindert wer
den können. Eine horizontale Ladungsübertragung erfolgt zu beiden Sei
ten der durch den Überlappungsbereich mit erhöhter Konzentration im
HCCD erzeugten Potentialbarriere. Die Erfindung wird im folgenden an
hand eines durch Figuren veranschaulichten Ausführungsbeispiels näher
erläutert.
Fig. 1 veranschaulicht das Layout eines herkömmlichen Festkörper-Bild
sensors.
Fig. 2a veranschaulicht einen Schnitt durch den Festkörper-Bildsensor
von Fig. 1 entlang der dortigen Linie A-A'.
Fig. 2b veranschaulicht das Potentialprofil entlang des Schnitts von
Fig. 2a.
Fig. 3 erläutert den Fluß von Bildsignalladungen bei einem her
kömmlichen Festkörper-Bildsensor.
Fig. 4 veranschaulicht das Layout eines erfindungsgemäßen Festkörper-
Bildsensors.
Fig. 5a veranschaulicht einen Schnitt durch den Festkörper-Bildsensor
von Fig. 3 entlang der dortigen Linie B-B'.
Fig. 5b veranschaulicht das Potentialprofil entlang des Schnitts in Fig. 5a.
Fig. 6 erläutert den Fluß von Bildsignalladungen in einem erfindungsge
mäßen Festkörper-Bildsensor.
Wie es in der Layoutzeichnung von Fig. 4 dargestellt ist, umfaßt ein erfin
dungsgemäßer Festkörper-Bildsensor eine Vielzahl von Photodioden PD,
die matrixförmig unter der Oberfläche eines Halbleitersubstrats angeord
net sind, um ein Lichtsignal in eine elektrische Bildsignalladung umzu
wandeln, eine Vielzahl vertikaler ladungsgekoppelter Bauelemente
(VCCDs) 11, die zwischen den Photodioden PD angeordnet sind, um die in
diesen erzeugten Bildsignalladungen mittels einer Mehrzahl von über den
VCCDs 11 ausgebildeten Vertikalübertragungs-Gate-Elektroden VG5-
VG8 zur Ausgangsseite der VCCDs 11 zu übertragen, und ein horizontales
ladungsgekoppeltes Bauelement (HCCD) 12, das an den Ausgangsseiten
der VCCDs 11 ausgebildet ist, um die Bildsignalladungen zur Ausgangs
seite des HCCD 12 zu übertragen.
Wie es in Fig. 4 dargestellt ist, verfügt der Festkörper-Bildsensor auch
über eine Vielzahl von Sätzen aus vier Vertikalübertragungs-Gate-Elek
troden VG5, VG6, VG7 und VG8, die abwechselnd über den VCCDs 11 aus
gebildet sind, um entsprechend einem 4-phasigen Taktsignal aufeinan
derfolgend abwechselnde Potentialniveaus an sie anzulegen, um die Bild
signalladungen aus den Photodioden PD zu den Ausgangsseiten der
VCCDs 11 zu übertragen. An die Gate-Elektroden VG5, VG6, VG7 und VG8
werden Vertikaltaktsignale Vϕ5, Vϕ6, Vϕ7 bzw. Vϕ8 angelegt.
Der Festkörper-Bildwandler verfügt auch über eine Vielzahl von Sätzen
aus zwei Horizontalübertragungs-Gate-Elektroden HG3 und HG4, die ab
wechselnd auf dem HCCD 12 ausgebildet sind, um entsprechend einem 2-
phasigen Taktsignal aufeinanderfolgend unterschiedliche Potentialnive
aus an diese anzulegen, um die Bildsignalladungen von den VCCDs 11 zur
Ausgangsseite des HCCD 12 zu übertragen, wobei an jede der Gate-Elek
troden HG3 und HG4 ein Horizontaltaktsignal Hϕ3 bzw. Hϕ4 angelegt wird.
Das HCCD 12 und die VCCDs 11 sind in p-Wannen 14 und 15 mit vonein
ander verschiedenen Potentialniveaus ausgebildet.
Wie ersichtlich, ist insoweit der erfindungsgemäße Festkörper-Bildsensor
mit dem unter den Fig. 1-3 beschriebenen identisch. Nachfolgend wird
der Unterschied zwischen den beiden erläutert.
Gemäß Fig. 5 bilden die zwei Wannen 14 und 15 nach einem Eintreibpro
zeß für einen Diffusionsvorgang während eines Herstellprozesses einen
Überlappungsbereich 16. Abweichend vom Fall beim herkömmlichen
Festkörper-Bildsensor ist erkennbar, daß beim erfindungsgemäßen Fest
körper-Bildsensor ein Überlappungsbereich 16 nur unter den Horizontal
übertragungs-Gate-Elektroden HG3 und HG4 ausgebildet ist.
Gemäß der Schnittansicht von Fig. 5a weist der erfindungsgemäße Fest
körper-Bildsensor eine n-Wanne 14 und eine p-Wanne 15 auf, die an der
Oberfläche eines n-Substrats 13 ausgebildet sind, wobei an der Oberflä
che der Wanne 14 eine Vielzahl von n-VCCDs 11 ausgebildet ist und ein n-
HCCD 12 in der Wanne 15 ausgebildet ist.
Wie bereits zum Stand der Technik erläutert wurde, bilden die Wannen 14
und 15 nach dem Eintreibprozeß zur Diffusion, wie während der Sensor
herstellung ausgeführt, in unvermeidlicher Weise den Überlappungsbe
reich 16. Wie jedoch bereits in Zusammenhang mit Fig. 4 erläutert wurde,
existiert beim erfindungsgemäßen Festkörper-Bildsensor, abweichend
vom Fall beim herkömmlichen, dieser Überlappungsbereich nur unter den
Horizontalübertragungs-Gate-Elektroden HG3 und HG4, d. h. nur im
HCCD 12.
Nachfolgend wird unter Bezugnahme auf Fig. 6, die den Fluß von Bild
signalladungen zeigt, die Funktion des erfindungsgemäßen Festkörper-
Bildsensors mit dem oben beschriebenen Aufbau erläutert.
Die in den Photodioden PD erzeugten Bildsignalladungen werden über die
VCCDs 11, deren Potentialniveaus durch die an die Vertikalübertragungs-
Gate-Elektroden VG5-VG8 jeweils angelegten Vertikaltaktsignale Vϕ5-
Vϕ8 aufeinanderfolgend geändert werden, zum HCCD 12 übertragen.
Die über die VCCDs übertragenen Bildsignalladungen werden über den
HCCD 12, dessen Potentialniveau durch die Horizontalübertragungs-
Taktsignale Hϕ3 und Hϕ4 abwechselnd geändert werden, an den Meßver
stärker 17 übertragen, der diese Bildsignalladungen erfaßt und mit vorge
gebener Verstärkung verstärkt.
In diesem Fall ist, wie bereits zum Stand der Technik erläutert, eine Poten
tialbarriere 18 in der Mitte des Überlappungsbereichs 16 ausgebildet, da
die p-Konzentration im Überlappungsbereich 16 der Wannen 14 und 15
höher als in den Wannen selbst ist.
Jedoch verringert, wie es in Fig. 6 dargestellt ist, da die Potentialbarriere
18 nur unter den Horizontalübertragungs-Gate-Elektroden HG3 und HG4
vorliegt, abweichend von der in Fig. 2b dargestellten Potentialbarriere 8
beim herkömmlichen Festkörper-Bildsensor, die Potentialbarriere 18 den
Ladungsübertragungs-Wirkungsgrad des Festkörper-Bildsensors nicht.
Zwar werden durch die innerhalb des HCCD 12 ausgebildete Potentialbar
riere 18 Bildsignalladungen aufgeteilt, jedoch treffen sie sich wieder an
der Ausgansseite des HCCD 12 und werden gemeinsam an den Meßver
stärker 17 geliefert. Dieser Effekt wird erzielt, weil die aufgrund des Über
lappungbereichs 16 gebildete Potentialbarriere 18 unter den Horizontal-
Ladungsübertragungs-Gate-Elektroden HG3 und HG4 innerhalb des
HCCD 12 liegt.
Claims (1)
1. Festkörper-Bildsensor mit:
- - einem Halbleitersubstrat (13) vom ersten Leitungstyp;
- - einer Vielzahl von Photodioden (PD), die auf einer Oberfläche des Sub strats ausgebildet sind;
- - einer ersten Wanne (14) vom zweiten Leitungstyp, die unter der Oberflä che des Substrats ausgebildet ist;
- - einer zweiten Wanne (15) vom zweiten Leitungstyp, die unter der Oberflä che des Substrats so ausgebildet ist, daß ein Teil derselben mit der ersten Wanne (14) einen Überlappungsbereich (16) mit erhöhter Konzentration von Verunreinigungen vom zweiten Leitungstyp bildet;
- - einer Vielzahl vertikaler ladungsgekoppelter Bauelemente (VCCDs, 11) vom ersten Leitungstyp, die jeweils unter der Oberfläche in einem Bereich der ersten Wanne (14) ausgebildet sind, um in den Photodioden (PD)er zeugte Signalladungen auf externe Vertikalübertragungs-Taktsignale hin zur Ausgansseite der VCCDs (11) zu übertragen;
- - Vertikalübertragungs-Gate-Elektroden (VG5-VG8), die über der Vielzahl von VCCDs (11) ausgebildet sind, und denen externe Vertikalübertra gungs-Taktsignale zugeführt werden;
- - einem horizontalen ladungsgekoppelten Bauelement (HCCD, 12) vom er sten Leitungstyp, das in einem Bereich der zweiten Wanne (15) ausgebildet ist, um die von den VCCDs (11) übertragenen Bildsignalladungen entspre chend externen Horizontalübertragungs-Taktsignalen zu seiner Aus gangsseite zu übertragen; und
- - einer Vielzahl von Horizontalübertraguns-Gate-Elektroden, die über dem HCCD ausgebildet sind, um die Horizontalübertragungs-Taktsignale anzulegen;
- - wobei der Überlappungsbereich (16) mit erhöhter Konzentration von Ver unreinigungen vom zweiten Leitungstyp zwischen der ersten Wanne (14) und der Zweiten Wanne (15) nur unter den Horizontalübertragungs-Gate- Elektroden innerhalb des HCCDs (12) ausgebildet ist und eine horizontale Ladungsübertragung zu beiden Seiten der durch den Überlappungsbe reich (16) mit erhöhter Konzentration im HCCD erzeugten Potentialbarrie re erfolgt.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
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Owner name: HYNIX SEMICONDUCTOR INC., ICHON, KYONGGI, KR |
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Owner name: CROSSTEK CAPITAL, LLC, WILMINGTON, DEL., US |
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R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20130201 |