DE2759086A1 - Fotodetektoranordnung - Google Patents
FotodetektoranordnungInfo
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Description
PATENTANWÄLTE ZENZ & HELBER - D 43OO bSSEN 1 · AM RUH^STEIN 1 · TEL.: (O2Ö1) 412ββ7 V^
/C R 10 '
RETICON CORPORATION 910 Benicia, Sunnyvale, Kalifornien 94086, U.S.A.
Die Erfindung bezieht sich auf eine Fotodetektoranordnung mit Fotodioden und Schieberegistern.
Die Verarmungszonen von diffundierten Übergängen und feldinduzierten Übergängen dienten für mehrere Jahre zur Trennung
von Elektronen/Löcher-Paaren, die von einfallendem Licht erzeugt wurden. Häufig wird zu diesem Zweck ein dotierter pnübergang (Fotodiode) in einem Siliziumsubstrat verwendet.
Diese dotierte Zone ist in typischer Ausführung mit einer Schicht aus Siliziumdioxid überzogen,so daß das einfallende
Licht eine Luft/SiO.-Grenzschicht und eine SiO_/Si-Grenzschicht
durchdringt. Diese Grenzschichten verursachen minimale Verluste. Wenn induzierte Übergänge verwendet werden, muß das einfallende
Licht ein transparentes Gate durchdringen. Dadurch ergeben sich zwei zusätzliche Grenzschichten. Außerdem absorbiert das
in der Regel als Gate-Material für diesen Zweck verwendete
polykristalline Silizium einen Teil der einfallenden Strahlung, insbesondere die Strahlung kürzerer Wellenlängen. Daher wird
für viele Anwendungsfälle dem diffundierten Übergang gegenüber
dem induzierten Übergang der Vorzug gegeben.
Sowohl analoge Schieberegister als auch digitale Schieberegister werden zum Lesen oder Verschieben der von einer Viel-
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Z/bu.
zahl von Übergängen abgetasteten Information zu einem gemeinsamen
Anschluß oder einer Videoleitung verwendet. Das digitale Schieberegister wird zumeist zum sequentiellen Zugriff zu
Schaltern verwendet, welche die Übergänge der Reihe nach mit einer gemeinsamen Videoleitung verbinden. Bei analogen Schieberegistern,
z.B. Kontaktreihenbauelementen (bucket brigade devices - BBD) und den ladungsgekoppelten Bauelementen (CCD)
wird die Ladung von mehreren Übergängen gleichzeitig (parallel) in das Register übertragen und sodann zu einem Ende des
Registers hin verschoben.
Verschiedene Kombinationen von induzierten und diffundierten
Übergängen und analogen und digitalen Schieberegistern werden in Abtastfeldern verwendet. So ist/beispielsweise in der
US-PS 3 814 846 die Kombination von digitalen Schieberegistern und (diffundierten) Fotodioden beschrieben. Eine Vielzahl
von Schaltern werden zum sequentiellen Koppeln der Fotodioden mit einer gemeinsamen Leitung verwendet. Ein.dieser Anordnung
anhaftendes Problem besteht darin, daß die Nicht-Einheitlichkeit der Schalter eine feste Mustermodulation oder ein Rauschen
hervorruft, die bzw. das dem Video-Ausgangssignal überlagert ist. Außerdem ist das dieser Anordnung zugeordnete statistische
Rauschen eine Funktion der Ausgangskapazität und daher abhängig von der Anzahl der in der Anordnung verwendeten Fotodioden.
Das statistische Rauschen wird daher bei dieser bekannten Anordnung mit zunehmender Zahl von Fotodioden stärker.
In der US-PS 3 866 067 ist die Kombination von feld-induzierten
Übergängenimd einem analogen Schieberegister beschrieben.
Diese Anordnung ermöglicht eine größere Übergangsdichte (20 bis 30 um-Zentren) und hat darüberhinaus ein niedrigeres
statistisches Rauschen und Festmusterrauschen als andere Anordnungen gleicher Gattung. Diese Vorteile werden jedoch
durch Nachteile aufgehoben, welche aus Herstellungsschwankungen resultieren. Die Dicken der zur Bildung der induzierten
Übergänge verwendeten Schichten, z.B. der polykristallinen
Siliziumschicht, sind nicht gleichmäßig. Daher sind auch die
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Reflexionskraft und die Absorption uneinheitlich·
Die optimale Fotodetektorwirkung kann anscheinend mit einer Kombination aus diffundierten Fotodioden und analogen
Schieberegistern gewonnen werden. Diese Kombination ist in der US-PS 3 845 295 beschrieben. Die hieraus bekannte Anordnung
weist eine Fotodiodenreihe mit einem analogen Schieberegister und Übertragungsmitteln auf einer Seite der Fotodioden
und Anti-Überstrahlungs- oder Rücksetzmitteln auf der anderen Seite der Fotodiodenreihe auf. Dieser allgemeine
Aufbau ist auch in einem Artikel mit der Bezeichnung "A Charge-Coupled Infrared Array With Schottky-Barrier Detectors11
von Elliott S. Kohn in J.EEE Transactions on Electronic Devices, Vol. ED-23, Nr. 2, Februar 1976 beschrieben.
Bei der erfindungsgemäßen Fotodetektoranordnung findet die Kombination von analogen Schieberegistern und diffundierten
Übergängen Verwendung. Anders als in bekannten Anordnungen gleicher Gattung ist jedoch erfindungsgemäß eine ineinandergreifende
bzw. verschachtelte Anordnung der Fotodioden vorgesehen, wodurch eine dichtere Bauweise der Detektoranordnung
ermöglicht wird.
In bevorzugter Ausführungsform weist die erfindungsgemäße
Fotodetektoranordnung Fotodioden mit einer Reihe bzw. Zeile von in gegenseitigem Abstand angeordneten η-leitenden Zonen
auf, die in einem p-leitenden Siliziumsubstrat ausgebildet sind. Ein analoges Schieberegister ist auf beiden Seiten
der Zeile bzw. Reihe von Fotodioden parallel zu dieser Reihe angeordnet. Eine langgestreckte diffundierte Zone ist im
Substrat zwischen jeder Seite der Fotodiodenreihe und dem zugehörigen Schieberegister ausgebildet. Diese diffundierte
Zone dient als Ladungs-"Senke" zur Verhinderung der Über-
y (blooming) *
strahlung bzw. Uberhellung/. Zwei parallele, mit Abstand angeordnete
Polysiliziumstreifen sind zwischen jeder dieser langgestreckten Diffusionszonen und den benachbarten Schieberegister
angeordnet· Mehrere η-leitende Zonen sind zwischen
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diesen Polysiliziumstreifen gebildet. Eine dieser Zonen ^^"
ist jeder der Fotodioden zugeordnet. Die Fotodioden sind abwechselnd mit einer dieser η-leitenden Zonen Über Metallleiter
verbunden, welche generell quer zu den Polysiliziumstreifen verlaufen.
Einer der Polysiliziumstreifen auf jeder Seite der Fotodiodenreihe
definiert Anti-Überstrahlungs-Gates bzw. -tore und bildet leitende Kanäle zwischen den n-leitenden
Zonen und den langgestreckten Senkenzonen. Die anderen Polysiliziumstreifen bilden Übertragungsgates bzw. -tore
und ermöglichen eine leitende Verbindung zwischen den verschiedenen η-leitenden Zonen und den analogen Schieberegistern.
Diese η-leitenden Zonen bilden daher entfernte, gemeinsame Sourcezonen sowohl für die Anti-Überstrahlungsfunktion
als auch für die Übertragungsfunktion·
Dieser ineinandergreifende Aufbau kann auch in einer Flächenanordnung verwendet werden, bei der ein digitales
Schieberegister verwendet wird, das sequentiell Fotodiodenreihen in der Anordnung bzw. Matrix von Fotodioden anwählt.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert. In der
Zeichnung zeigen:
Fig. 1 eine Teildraufsicht auf eine lineare Fotodiodenanordnung ;
Fig. 2 eine Querschnittsansicht auf einen Teil der Anordnung gemäß Fig. 1 entlang der Schnittlinie
2-2 in Fig. 1;
Fig. 3 eine der Anordnung gemäß Fig. 1 äquivalente Schaltung;
Fig. 4 ein schematisches Schaltbild eines analogen
Schieberegisters, das bei der Anordnung gemäß den Figuren 1 und 2 verwendet werden kann;
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-F-
Fig. 5 eine Teildraufsicht auf ein Ende des analogen Schieberegisters gemäß Fig. 4;
Fig. 6 ein Blockdiagramm auf eine Flächen—Fotodiodenanordnung gemäß eines Ausführungsbeispiel der Erfindung; und
Fig· 7 eine Teildraufsicht auf die Anordnung gemäß
Fig. 6 entsprechend der Schnittlinie 7-7 der Fig. 6.
Im folgenden werden Fotodetektoranordnungen mit Halbleiter-Fotodioden sowohl in linearer Anordnung als auch in Flächenanordnung der Fotodioden beschrieben. Dabei werden verschiedene Details der Anordnung (z.B. die besonderen Leitungstypen, die Anzahl von Fotodioden in der Anordnung usw.) an—
gegeben, um die Erfindung leichter verständlich zu machen. Es ist jedoch klar, daß das Wesen der Erfindung auch in Verbindung mit anderen. Ausführungsbeispielen verwendet werden
kann.
In den Figuren l bis 5 ist ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der linearen Anordnung gezeigt. Diese inzwischen in
der Praxis realisierte Anordnung weist eine Zeile bzw.
Reihe von 1024 Fotodioden auf, von denen jede durch eine η-leitende Zone in einem p—leitenden Siliziumsubstrat gebildet ist. Diese Fotodioden sind abwechselnd mit zwei analogen Schieberegistern gekoppelt, welche auf entgegengesetzten Seiten der Fotodioden angeordnet sind. Bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel weisen die analogen Schieberegister ladungsgekoppelte Bauelemente auf, die unter Verwendung von Doppelschichten aus Polysilizium hergestellt
sind. Es können aber auch anders aufgebaute analoge Schieberegister, z.B. bucket-brigade-Bauelemente verwendet werden.
Mit dem ineinandergreifenden Aufbau der Anordnung, der
nachfolgend noch genauer beschrieben werden wird, konnte ein Fotodiodenabstand von angenähert 16 pm realisiert werden.
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gezeigt. Der Aufbau dieses ladungsgekoppelten Bauelements, das eine Verschiebung der Information von den Fotodioden
in beiden Richtungen ermöglicht, wird erläutert. Für den Fachmann wird aus dieser Erläuterung klar, daß dieser besondere Aspekt der Erfindung nicht allein auf den Aufbau
gemäß den Figuren 1, 2 und 3 beschränkt ist.
In den Figuren 6 und 7 ist eine verschachtelte bzw. ineinandergreifende
Diodenanordnung in einer Flächenmatrix gezeigt. Bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel handelt
es sich um eine 256 χ 256 Matrix mit 0,00381 cm χ 0,00381 cm
Zentren, die auf einem Siliziumsubstrat von 1,016 χ 1,016 cm aufgebaut sind. Auch bei diesem Ausführungsbeispiel finden
ladungsgekoppelte Bauelemente in den analogen Schieberegistern Verwendung.
In der folgenden Beschreibung wird von der Anti-Überstrah—
lungsfunktion (anti-blooming function) oder Rückstellfunktion
gesprochen. Diese Funktion 'ist im Stande der Technik bekannt und dient zur Verhinderung einer Ladungsstreuung
von einer Diodenzone zu einer anderen (Überstrahlung). Diese Funktion wird in der vorliegenden Anmeldung nicht näher beschrieben, da sie zum Stande der Technik gehört.
Die genauen Fabrikationsschritte zur Herstellung der Fotodetektoranordnung
gemäß vorliegender Erfindung werden nachfolgend nicht beschrieben. Zu diesem Zweck ist die bekannte
MOS-Technologie geeignet. Bei den beschriebenen Ausführungs—
beispielen werden die Anordnungen bzw. Matrizen auf p—leitenden
Siliziumsubstraten unter Verwendung polykristalliner Silizium—Gates aufgebaut. In der Beschreibung und in den
Ansprüchen sind die Worte "dotierte Zonen" und "diffundierte
Zonen" austauschbar. Es ist klar, daß diese Zonen durch gewöhnliche
Diffusionsschritte oder mittels Ionenimplantation gebildet werden können.
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2V59086
Im folgenden wird auf die Figuren 1 und 2 Bezug genommen. Die dort dargestellte lineare Anordnung weist eine längliche optische Öffnung 10 auf, durch die Strahlung eintreten kann. Diese Strahlung wird von einer Vielzahl von
in einer Reihe in Ausrichtung mit der öffnung 10 angeordneten Fotodioden aufgenommen und bestimmt. Zwei derartige
Fotodioden sind in der Draufsicht gemäß Fig. 1 zu sehen. Jede der Fotodioden weist eine dotierte η-leitende Zone
auf, die in dem p-leitenden Siliziumsubstrat 11 (Fig. 2) ausgebildet ist. Zonen 12 und 13 sind in einer Draufsicht
gemäß Fig. 1 und eine Zone 13 in der Querschnittsansicht gemäß Fig. 2 gezeigt.
Bei der verschachtelten bzw. ineinandergreifenden Anordnung gemäß den Fig. 1 und 2 sind die Fotodioden abwechselnd mit
analogen Schieberegistern verbunden, die auf entgegengesetzten Seiten der Fotodiodenreihe angeordnet sind. So ist
beispielsweise die Zone 12 mit dem analogen Schieberegister 30 auf der rechten Seite der Fotodioden und die Zone 13 mit
dem analogen Schieberegister 31 auf der linken Seite der Fotodioden gekoppelt. Durch die ineinandergreifende Anordnung der Dioden läßt sich das Diodehfeld dichter anordnen,
da in der Regel die Linearabmessung für jede Stufe des
Schieberegisters größer als der Mittelpunktsabstand benachbarter Fotodioden ist. Dies führt zu einer höheren Betriebsgeschwindigkeit und geringerer Ladungsübertragung.
Zunächst sei die linke Seite der Anordnung betrachtet: Eine längliche Leitung 19, die aus einer diffundierten Zone im
Substrat 11 besteht, wird parallel zur Fotodiodenreihe neben diesen Dioden ausgebildet. Diese Leitung bildet, wie
im folgenden noch erläutert wird, eine Potentialsenke für die Rücksetz- oder Anti-ÜberStrahlungsfunktion· Neben der
Leitung 19 und dieser gegenüberliegend ist ein Paar von beabstandeten polykristallinen Siliziumstreifen 22 und 25 vorgesehen. Diese Streifen sind gegenüber dem Substrat 11 durch
eine Siliziumdioxidschicht 17 isoliert (Fig. 2). Einer dieser
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Streifen, nämlich der Streifen 22, nimmt ein Anti-Überstrahlungssignal
auf, während dem anderen Streifen 25 ein Übertragungssignal zugeführt wird.
Eine η-leitende Zone 28 wird im Substrat zwischen den Streifen 22 und 25 ausgebildet. Diese Zone ist mit der
Zone 13 durch eine Metalleitung 16 verbunden, welche den
Polysiliziumstreifen 22 überquert. Diese Leitung ist mit den Zonen 13 und 28 kontaktiert. Die Zone 28 bildet einen
entfernten Sourceanschluß für zwei MOS-Feldeffekttransistoren,
von denen einem die Zone 31 als Drainanschluß und dem anderen die eine Senke bildende Leitung 19 als Drainanschluß zugeordnet
sind.
Bei der Herstellung der Fotodetektoranordnung wird die Zone 28 im Substrat gebildet, nachdem die länglichen Polysiliziumstreifen
22 und 25 geätzt worden sind. Auf diese Weise ist die Zone 28 mit diesen Streifen ausgerichtet,- Während dieses
Dotierschritts werden die Zonen 19a und 3la so gebildet, daß die Zone 19 a der Senkenleitung mit der Polysilizium-Streifenleitung
22 und die Zone 31a, die mit dem analogen Schieberegister 31 direkt gekoppelt ist, mit der Polysilizium-Streifenleitung
25 ausgerichtet sind. Wie sich aus Fig. 2 ergibt, bilden die Polysiliziumstreifen 22 und 25 eine Vielzahl
von Gate-Elektroden für Feldeffekttransistoren an jeder der Zonen 28. (Die Zonen 31 und 31a sowie gleiche Zonen sind
als η-leitende Zonen in Fig. 2 gezeigt; diese Zonen sind bei einem ladungsgekoppelten Bauelemente induzierte Kanäle).
Auf der entgegengesetzten Seite der Fotodiodenreihe wird eine symmetrische Anordnung mit einer Metalleitung 15 verwendet,
welche die Zone 12 mit der η-leitenden Zone 27 verbindet. (Die Zone 27 entspricht der Zone 28). Auch auf dieser
Seite ist eine langgestreckte Senkenleitung 18 im Substrat gebildet, welche mit dem der Anti-Überstrahlung dienenden
polykristallinen Siliziumstreifen 21 im Bereich 18a ausgerichtet ist. Der zur Übertragung dienende Streifenleiter
24 ist mit der Zone 30a ausgerichtet, welche mit dem
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analogen Schieberegister 30 verbunden ist
Obwohl nur zwei Fotodioden in der Draufsicht gemäß Fig. 1 zu sehen sind, ist klar, daß die restlichen Fotodioden
entlang der optischen Öffnung 10 mit den Schieberegistern
in identischer Weise verbunden sind· Abwechselnde Fotodioden sind also mit aufeinanderfolgenden Stufen des
analogen Schieberegisters 30 und die restlichen abwechselnden Fotodioden mit aufeinanderfolgenden Stufen des analogen Schieberegisters 31 gekoppelt·
Im folgenden wird auf die äquivalente Schaltung gemäß Fig.
3 Bezug genommen. Die Zonen 12 und 13 sind ebenso wie die Zonen 27 und 28 als Dioden dargestellt. Die Dioden 27 und
28 werden jedoch nicht der einfallenden Strahlung ausgesetzt und wirken daher als Source—Zonen zur Ladungsübertragung entweder zu den Senkenleitern oder zu den analogen
Schieberegistern. Die Polysiliziumstreifen 24 und 25 sind
mit einer gemeinsamen Leitung verbunden und empfangen das Übertragungssignal zur Ladungsübertragung von den Fotodioden
in die analogen Schieberegister. Die Senkenleitungen 18 und 19 sind mit einer Quelle eines festen positiven Potentials
verbunden. Die Streifen 21 und 22 nehmen das Anti-Überstrahlungssignal (anti-blooming signal) auf, welches die Dioden
über die Zonen 27 und 28 an die Senkenleitungen ankoppelt.
Die Funktionsweise der Fotodiodenanordnung entspricht üblichen Anordnungen gleicher Gattung mit diffundierten Dioden
und einem analogen Schieberegister. Während der Integrations— periode, d.h. während der Periode, in welche einfallendes
Licht festgestellt wird, bewirkt das einfallende Licht ein Sammeln von Ladung in den Zonen 12 und 13. Diese Ladung
wird über die Metalleitungen zu den Zonen 27 bzw. 28 übertragen. Als nächstes wird ein positives Potential an die
Übertragungsstreifenleiter 24 und 25 angelegt. Die Ladung wird daher gleichzeitig von allen Fotodioden (und entfernten
Source-Zonen, z.B. der Zone 27) zu den Schieberegistern über-
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tragen. Eine solche Ladungsübertragung erfolgt unter Bezugnahme auf Fig. 2 in dem von den Zonen 28 und 31a und ähnlichen
Kanälen definierten Kanal. Diese Zonen bilden zusammen mit den Streifen 25 einen Feldeffekttransistor, der
als Schalter wirkt und den Ladungsfluß von der Zone 28 in das analoge Schieberegister ermöglicht.
Das Rücksetzen der Fotodioden erfolgt durch Anlegen eines positiven Potentials an die Streifenleiter 21 und 22· Dadurch
werden die Fotodioden an die Senkenleiter angekoppelt· Wie in Fig. 2 zu sehen ist, wirkt die Zone 28 wiederum als Source-Zone,
wenn Ladung über den von den Zonen 19a und 28 gebildeten Kanal übertragen wird. Diese Zonen wirken zusammen mit dem
Streifen 22 (ein Gate) als Feldeffekttransistor. Daher dient die Zone 28 als gemeinsame Source-Zone sowohl für die Übertragungsfunktion
als auch für die Anti-Überstrahlungs- oder
Rücksetζfunktion.
In Fig. 4 ist ein analoges Schieberegister 40 gezeigt, das als ladungsgekoppeltes Vier-Phasen-Bauelement ausgebildet
ist. Ein solches Register wird bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel des Fotodetektors jeweils als Register 30
bzw. 31 in der Anordnung gemäß den Figuren 1 und 2 verwendet. Jede Stufe des Registers ist über Leitungen 41 mit alternierenden
Fotodioden verbunden. Bei einer Ladungsübertragung von den Fotodioden (über die entfernten Source-Zonen) wird
die durch diese Ladung dargestellte Information entlang des Registers verschoben und entweder an der Leitung 60 oder
abgetastet bzw. gelesen. Daher kann die Information entweder nach rechts zur Leitung 60 odegtaach links zur Leitung 61
verschoben werden.
Ein Endbereich 43 des Registers 40 ist mit einer Leitung 56 verbunden, welche auch zum Gate 51 des Transistors 53
und einem Anschluß des Transistors 55 führt. Der andere Anschluß des Transistors 55 (Leitung 77) nimmt ein Rück-
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" 1V
setzpotential auf, welches an dem Bereich 43 ansteht, wenn
das Signal auf der Leitung 78 positiv ist. Der Drain-Anschluß des Transistors 53 ist an das positive Potential VDD
gelegt. Der Source-Anschluß dieses Transistors ist über einen Lastwiderstand 58 mit Erde verbunden. Die Ausgangsleitung 61 ist mit dem Source-Anschluß des Transistors 53
verbunden.
Das andere Ende des Registers 40 weist einen Endbereich 4 2 auf, welcher mit einem Anschluß des Transistors 54 und
dem Gate des Transistors 52 verbunden ist. Der andere Anschluß des Transistors 54 erhält das Rücksetzpotential,
wenn das 0. Signal positiv ist. Der Drain-Anschluß des Transistors 52 liegt an VDD, während der Source-Anschluß
dieses Transistors mit der Ausgangsleitung 60 und über den Lastwiderstand 57 mit Erde verbunden ist.
Wenn Ladung im Register nach rechts verschoben wird, wird dem Gate 45 ein positives Potential zugeführt, das ein Abtasten der Ladung am Lastwiderstand 57 ermöglicht· Wenn
Ladung nach links verschoben wird, erhält das Gate 46 in ähnlicher Weise ein positives Potential, das eine Ladungsverschiebung zum Gate 51 des Transistors 53 und deren Abtastung über dem Lastwiderstand 58 ermöglicht.
Bekanntlich arbeiten ladungsgekoppelte Oberflächenkana1-B'juelemente wirksamer, wenn in jeder Registerstufe verschiebbare Ladung vorhanden ist. Wenn die ladungsgekoppelten Bauelemente zur Verschiebung von Binärdaten verwendet
werden, werden die beiden Binärzustände einerseits durch eine relativ hohe Ladungsmenge und andererseits durch eine
relativ niedrige Ladungsmenge (im Gegensatz zu keiner Ladung) dargestellt. Die zuletzt genannte niedrige Ladung
wird häufig als "fette Null" bezeichnet. Um eine wirksame
Datenübertragung im Register 40 zu schaffen, werden zwei Generatoren zur Erzeugung einer "fetten Null" an entgegengesetzte Enden des Registers angeschaltet. Wenn Ladung
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νί-
nach rechts geschoben wird, die also an der Leitung 60 abgetastet bzw. gelesen werden kann, so gewährleistet die
vom Generator 50 in das Register gepumpte Ladung eine ausreichende Ladungsübertragung. Wenn die Ladung nach links
geschoben wird, also an der Leitung 61 gelesen bzw. abgetastet werden kann, so sorgt der Generator 49 für eine
wirksame Ladungsübertragung. Bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel sind beide Generatoren 49 und 50 "eingeschaltet", wenn Ladung entweder nach rechts oder nach
links verschoben wird. Es ist zwar nicht notwendig, vermeidet jedoch Logikschaltungen zur Steuerung der Generatoren.
(Beispielsweise könnte der Generator 50 abgeschaltet sein, wenn die Ladung nach links bewegt wird; Die zusätzliche,
vom Generator 50 eingeführte Ladung beeinflußt das Ausgangssignal nicht, da eine entsprechende Ladungsmenge in
jedern Zyklus zugeführt wird.)
In Fig. 5 ist das linke Ende des Registers 40 gezeigt. Der Bereich 43 ist mit einem länglichen Kanal 63 gekoppelt,
der sich über die Gesamtlänge des Registers erstreckt. Der Bereich 43 ist außerdem mit dem Gate 51 des Transistors 53
und mit der Rücksetzleitung 77 verbunden.
Wie oben erwähnt, werden in dem beschriebenen Ausführungsbeispiel für die ladungsgekoppelten Bauelemente zwei Schichten
aus polykristallinen Silizium zur Bildung der Übertragungsgates verwendet. In Fig. 5 sind Gates 46, 66, 68, 70, 72 und
74 aus der zweiten Schicht aus polykristallinen! Silizium und Gates 67, 69, 71 und 7 3 durch Ätzung aus der erster
polykristallinen Siliziumschicht gebildet. Die Gates 67 und 71 nehmen das 0 -Signal der Vier-Phasen-Zeitgabesignale auf,
und die Gates 69 und 7 3 sind mit der Quelle des 0_-Zeitgabesignals
verbunden. Den Gates 68 und 72 wird entweder das 0 - oder das 0.-Zeitgabesignal zugeführt, was von der Ladungs—
Verschieberichtung abhängig ist. In ähnlicher Weise erhalten in Abhängigkeit von der Ladungs-Verschieberichtung die Gates
70 und 74 entweder das 0/-oder das 0p-Zeitgabesignal. Die
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Gates 65 und 66 dienen zur Ladungsübertragung vom Generator
50 in das Register. Diese Ladung wird in den Bereich 43 geschoben,
wenn die Ladung im Register nach links verschoben wird, oder sie wird unter das Gate 68 geschoben, wenn die
Ladung im Register nach rechts verschoben wird.
Es sei angenommen, daß die Ladung nach links verschoben wird und ein positives Potential am Gate 46 ansteht. Während jedes
Zyklus der vier Zeitgabesignale wird die Ladung in einer Registerstufe zum Gate 51 des Transistors 53 geschoben und
ein dieser Ladung proportionales Signal an die Leitung 61
angelegt. Das Gate 51 des Transistors 53 wird von dem 01-Zeitgabesignal
während jedes Zyklus dadurch rückgesetzt, daß das Gate mit der Leitung 77 verbunden wird·
Die zuvor in Verbindung mit den Figuren 1 und 2 beschriebene verschachtelte Fotodiodenanordnung kann bei einer Flächenanordnung
wie die gemäß Fig· 6 verwendet werden. Diese Anordnung weist eine Fotodioden-Flächenmatrix 85 mit einer Vielzahl
von Spalten- oder Videoleitungen, z.B. den Leitungen 91, 93, 94 und 95 auf. Diese Leitungen sind abwechselnd mit
jedem der analogen Schieberegister 97 oder 98 verbunden. Die Matrix weist eine Vielzahl von Zeilenleitungen, z.B. die Leitungen
90 und 92, auf, welche mit'einem digitalen Schieberegister 99 verbunden sind. Ein Feldeffekttransistor ist
jeweils an den Schnittpunkten zwischen Zeilen- und Spaltenleitungen vorgesehen und koppelt die Fotodioden an die Video-(Spalten-)
Leitungen. Beispielsweise eine Fotodiode 87, welche eine diffundierte Zone im Substrat aufweist, wird
über den Transistor 96 mit der Videoleitung 91 verbunden.
Eine Leitung 90 bildet das Gate des Transistors 96. In ähnlicher Weise bildet die Leitung 92 eine Vielzahl von Gates
die zur Kopplung von Dioden mit den Spaltenleitern, beispielsweise der Diode 88 mit der Leitung 93 dienen· Wenn daher ein
positives Potential an die Leitung 90 (bei einem n-Kanal
Bauelement) angelegt wird, so werden alle Dioden entlang der
Leitung 90 mit den Videoleitungen verbunden· Zu beachten ist,
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daß in diesem Falle die Dioden mit beiden Registern 97 und
98 verbunden sind.
Jede der Videoleitungen ist über eine Übertragungseinrichtung
und eine Anti-Überstrahlungseinrichtung ähnlich den anhand der Figuren 1 und 2 beschriebenen mit dem zugehörigen
Schieberegister verbunden. In Fig. 7 ist die Videoleitung 91 mit dem Schieberegister 98 verbunden. Die Metalleitung
91 ist mit einer η-leitenden Zone 114 gekoppelt, die im Substrat ausgebildet ist. Eine η-leitende Zone 115 ist mit
Abstand von der Zone 114 ebenfalls im Substrat ausgebildet. Ein durch einen Polysiliziumstreifen gebildetes Gate liegt
zwischen den Zonen 114 und 115. Die Zonen 114- und 115 bilden zusammen mit der Streifenleitung 105 einen Feldeffekttransistor
117.
Die Zone 115 ist über eine Metalleitung 112 mit einer nleitenden Zone 110 gekoppelt. Die Zone 110 entspricht den
Sourcezonen 27 und 28, wie sie in Verbindung mit den Fig. 1 und 2 beschrieben worden sind. Die Zone 110 ist mit den
beabstandeten polykristallinen Siliziumstreifen 102 und 109 ausgerichtet. Ein Rand der Leitung 109 ist mit einem
Teil der Rücksetzleitung 10 3 ausgerichtet. Diese Rücksetzleitung entspricht den Senkenleitungen 18 und 19 bei dem
Ausführungsbeispiel gemäß den Figuren 1 und 2. Die Leitung 103 weist eine längliche η-leitende Diffusionszone auf,
die im Substrat ausgebildet und an positives Potential angelegt ist. Wie in Fig. 7 zu sehen ist, bilden die Leitung
103, die Zone 110 und der Streifen 109 einen Feldeffekttransistor
118. In ähnlicher Weise bilden die Zonen 110, die η-leitende, vom Register 98 bis zum Streifen 102
reichende Zone und der Streifen 102 einen Feldeffekttransistor
119.
Die Kopplung der Videoleitung 91 mit dem Schieberegister und der Rücksetz-iAnti-Überstrahlungs-) Leitung 103 ist ähnlich
der Kopplung der Fotodioden des Ausführungsbeispiels gemäß den Figuren 1 und 2 mit deren Schieberegistern, wobei
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jedoch zusätzlich ein Feldeffekttransistor 117 vorgesehen ist. Es sei angenommen, daß an der Leitung 90 zum digitalen
Schieberegister 99 ein positives Potential ansteht· In diesem Falle wird beispielsweise die Fotodiode 87 mit der
Videoleitung 91 verbunden. Die Leitung 91 ist wiederum über den Transistor 117 mit der Zone 110 gekoppelt. Ein
Rücksetzsignal wird bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel an die Streifen 109 angelegt, bis eine Ladungsübertragung in das Schieberegister 98 stattfindet. Daher ist
die Zone 110 vor der Übertragung mit der Leitung 103 über den Transistor 118 gekoppelt. Während der Ladungsübertragung zum Schieberegister sinkt das Potential auf der
Streifenleitung 109, und es wird ein Potential an die Leitung 102 angelegt, wodurch Ladung von der Zone 110 über
den Transistor 119 zum Schieberegister 98 übertragen wird.
Gleichzeitig mit dieser Ladungsübertragung wird von den anderen Fotodioden entlang der Leitung 90 Ladung zu den
Schieberegistern 97 und 98 übertragen. Danach wird diese Information von den anSlofeSff? SS§r98 zu den Video-Ausgangsleitungen übertragen. Das digitale Schieberegister
koppelt ein positives Potential bekannterweise nacheinander an jede der Zeilenleitungen in der Matrix. Die Zeilenleitungen können über die Leitung 106 mit VQn verbunden werden,
um alle Zeilenleitungen gleichzeitig rückzusetzen·
Der Transistor 117 dient zur Verringerung des Rauschens in der Matrix. Da-s Verhältnis der Kapazitäten der Videoleitung 91 und der Leitung 112 (Cy) zur Kapazität einer
einzigen Fotodiode Cg nimmt mit einer Erweiterung der Matrix
zu. Dieses erhöhte Verhältnis trägt zur Kreuzkopplung und zum Festmusterrauschen bei. Es ist außerdem erkennbar, daß
die Unterschiede zwischen den Schwellenspannungen der Transistoren 118 und 119 (sowie gleicher Transistoren) bei jeder
der Videoleitungen aufgrund von Herstellungstoleranzen schwanken. Dieser Unterschied kann durch AV- dargestellt
werden. Das Festmusterrauschen kann als Qn ■ C„AV. geschrieben
K Vw
'809828/0747
ψ 20
275908
werden. Wenn C größer als C wird, wird dieser Rauschpegel im Vergleich zu den von den Fotodioden erkennbaren Signalpegeln
unannehmbar hoch. Der Transistor 117 dient zur
Trennung der Kapazität der Videoleitung 91 von der Zone
110. Dies geschieht dadurch, daß die Leitung 105, d.h. das Gate des Transistors 117, auf einem positiven Potential
unter dem Betriebspotential der Matrix (d.h. 1 oder 2 Volt unter V Q) gehalten wird. Dadurch wird die Kapazität der
Leitung 91 wirksam vom Übergang 110 getrennt. Daher verringert der Transistor 117 das Rauschen der Matrix erheblich und
erlaubt die Herstellung größerer Matrixanordnungen.
Trennung der Kapazität der Videoleitung 91 von der Zone
110. Dies geschieht dadurch, daß die Leitung 105, d.h. das Gate des Transistors 117, auf einem positiven Potential
unter dem Betriebspotential der Matrix (d.h. 1 oder 2 Volt unter V Q) gehalten wird. Dadurch wird die Kapazität der
Leitung 91 wirksam vom Übergang 110 getrennt. Daher verringert der Transistor 117 das Rauschen der Matrix erheblich und
erlaubt die Herstellung größerer Matrixanordnungen.
Vorstehend wurde eine verschachtelte bzw. ineinandergreifende Fotodiodenanordnung beschrieben, in der diffundierte
Zonen als Fotodioden und ein analoges Schieberegister verwendet werden. Die Anti-Überstrahlungseinrichtung und die
Übertragungseinrichtung können bei der beschriebenen Anordnung auf der gleichen Seite der Fotodiodenreihe angeordnet werden, wodurch die verschachtelte Anordnung möglich wird. Eine ebenfalls beschriebene Puffereinrichtung, insbesondere für die Flächenmatrix, dient zum Reduzieren der Kapazität
am Übertragungsknoten, wodurch das Festmusterrauschen verringert wird.
Übertragungseinrichtung können bei der beschriebenen Anordnung auf der gleichen Seite der Fotodiodenreihe angeordnet werden, wodurch die verschachtelte Anordnung möglich wird. Eine ebenfalls beschriebene Puffereinrichtung, insbesondere für die Flächenmatrix, dient zum Reduzieren der Kapazität
am Übertragungsknoten, wodurch das Festmusterrauschen verringert wird.
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Claims (11)
1. Fotodetektoranordnung, die auf einem Substrat eines
ersten Leitungstyps aufgebaut ist und eine Reihe von Fotodioden
aufweist, von denen jede eine in dem Substrat eingebaute erste dotierte Zone eines zweiten Leitungstyps enthält,
dadurch gekennzeichnet, daß zwei analoge Schieberegister (30, 31) auf entgegengesetzten
Seiten der Fotodiodenreihe angeordnet sind, daß zwei langgestreckte dotierte Zonen (18, 19) des zweiten Leitungstyps
im Substrat auf den entgegengesetzten Seiten der Fotodiodenreihe zwischen den Fotodioden und den Schieberegistern vorgesehen
sind, daß ferner zwei langgestreckte Streifenleitungen (21, 22) von dem Substrat isoliert jeweils auf den
entgegengesetzten Seiten der Fotodiodenreihe zwischen den langgestreckten dotierten Zonen (18, 19) und den Schieberegistern
(30, 31) angeordnet sind, daß zwei weitere langgestreckte Streifenleitungen (24, 25) isoliert vom Substrat
jeweils auf entgegengesetzten Seiten der Fotodiodenreihe zwischen einer der ersten Streifenleitungen (21, 22) und
den Schieberegistern angeordnet sind, wobei die zweiten Streifenleitungen von den ersten Streifenleitungen beabstandet sind, daß mehrere zweite dotierte Zonen (27, 28)
mit dem zweiten Leitungstyp im Substrat zwischen den ersten und zweiten Streifenleitungen eingebaut sind und daß die
Fotodioden (12, 13) jeweils abwechselnd mit den zweiten
dotierten Zonen (27, 28) auf entgegengesetzten Seiten der Fotodiodenreihe über Verbindungen (IS9 16) gekoppelt sind,
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z/*>u. Λ«
ORIGINAL INSPECTED
wobei eine ineinandergreifende Fotodiodenanordnung mit einer Anti-Überstrahlungseinrichtung (21, 22) und einer
Übertragungseinrichtung (24, 25) auf jeder Seite der Fotodiodenreihe gebildet ist.
2. Fotodetektoranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jede der Verbindungen eine Metalleitung
(15, 16) aufweist, die eine (21, 22) der Streifenleitungen überkreuzt.
3. Fotodetektoranordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die ersten und zweiten dotierten Zonen
(12, 13 und 27, 28) und die langgestreckten-dotierten
Zonen (18, 19) η-leitende Zonen sind.
4. Fotodetektoranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die ersten und zweiten Streifenleitungen
(21, 22 und 24, 25) polykristalline Siliziumstreifen sind und die zweiten dotierten Zonen (27, 28) in
Ausrichtung mit den Streifenleitungen angeordnet sind.
5. Fotodetektoranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden analogen Schieberegister
(30, 31) jeweils ein ladungsgekoppeltes Bauelement enthalten.
6. Fotodetektoranordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß jedes der ladungsgekoppelten Bauelemente ein
Vier-Phasen-Bauelement (40 - Fig. 4) ist, das derart ausgebildet
und angeordnet ist, daß Ladung in jede Richtung des Bauelements verschiebbar ist.
7. Fotodetektoranordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß Ladungsgeneratoren (49, 50) zum Einkoppeln
bestimmter geringer Ladungsmengen/jedes Ende der ladungsgekoppelten
Bauelemente (40) vorgesehen sind.
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8. Fotodetektoranordnung, die auf einem Siliziumsubstrat eines ersten Leitungstyps aufgebaut ist, mit einer Reihe
von in das Substrat eindiffundierten lichtempfindlichen Übergängen eines zweiten Leitungstyps, einem analogen
Schieberegister zum Lesen von Information aus den diffundierten Übergängen, einer Übertragungseinrichtung zur Übertragung
von Ladung aus den Übergängen zum Schieberegister und einer Anti-Überstrahlungseinrichtung zur Verhinderung
einer Ladungsübertragung in den Übergängen, dadurch gekennzeichnet, daß zwei beabstandete und eine Vielzahl von
Gates definierende langgestreckte Streifenleiter isoliert vom Substrat (11) angeordnet sind, von denen einer ein
Anti-Überstrahlungssignal und der andere ein Übertragungssignal aufnimmt, wobei die Streifenleiter auf der einen
Seite der Potodiodenreihe angeordnet sind, daß eine elektrische Leitung zwischen dem einen Streifenleiter und der
Fotodiodenreihe angeordnet ist, daß mehrere diffundierte Zonen des zweiten Leitungstyps im Substrat zwischen den
beabstandeten Streifenleitern vorgesehen sind und daß eine wenigstens einige der diffundierten Übergänge mit einer
der diffundierten Zonen verbindende Kopplungseinrichtung vorgesehen ist, wobei die Streifenleiter, die elektrische
Leitung und die diffundierten Zonen derart zusammenwirken, daß die diffundierten Übergänge durch Anlegen eines Anti-Überstrahlungssignals
an einen der Streifenleiter mit der elektrischen Leitung zur Steuerung der Übertragung koppelbar
und durch Anlegen eines Übertragungssignals an den
anderen der Streifenleiter Ladung aus den Übergängen zu den Schieberegistern übertragbar ist.
9. Fotodetektoranordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrische Leitung als in das Substrat
(11) eindiffundierte langgestreckte Zone des zweiten Leitungstyps ausgebildet ist·
10. Fotodetektoranordnung nach Anspruch 9, dadurch gekenn-
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zeichnet, daß die diffundierten Zonen η-leitende Zonen
sind.
11. Fotodetektoranordnung nach einem der Ansprüche 8 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden beabstandeten
Streifenleiter aus polykristallinem Silizium bestehen.
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Applications Claiming Priority (1)
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Family Applications (1)
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