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Hintergrund der Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich allgemein auf integrierte Schaltungsvorrichtungen
und insbesondere auf eine neuartige Technik zum grafischen Anzeigen
von Halbleitertestergebnissen, um eine Visualisierung von Fehlerquellen
zu ermöglichen.
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Integrierte
Schaltungsanordnungen sind bei modernen elektronischen Vorrichtungen
allgegenwärtig
und ein großer
Teil des industriellen Sektors ist dem Entwurf und der Herstellung
derartiger Vorrichtungen gewidmet. Wenn elektronische Vorrichtungen kontinuierlich
verbessert werden und hochentwickelter werden, ist dies auch bei
Verbrauchererwartungen an den Qualitätspegel dieser Produkte der
Fall. Folglich werden neue und verbesserte Testtechniken durch Hersteller
kontinuierlich gesucht, um die Qualität integrierter Schaltungen,
gedruckter Schaltungsplatinen und integrierter Schaltungsanordnungen nach
einer Herstellung und vor einem Versand dieser Vorrichtungen zu
testen. Während
ein Testen ein Prüfen
vieler Aspekte des Produkts nach sich zieht, wie beispielsweise
ein Funktionalitätstesten
und ein Einbrenntesten, ist einer der bedeutsamsten Tests nach einer
Herstellung ein grundlegendes Kontinuitätstesten. Ein Kontinuitätstesten
kann zwei Aspekte umfassen: ein Leerlauftesten und ein Kurzschlusstesten. Ein
Leerlauftesten wird durchgeführt,
um sicherzustellen, dass alle Verbindungen, die zwischen Komponenten
der Vorrichtung verbunden sein sollen (z. B. von Integrierte-Schaltung-Anschlussstiften
mit gedruckten Schaltungsplatinen, von Integrierte-Schaltung-Anschlussdrähten mit
Anschlussstiften, Leiterbahnverbindungen zwischen Gedruckte-Schaltungsplatine-Knoten,
etc.), intakt sind. Ein Kurzschlusstesten wird durchgeführt, um
sicherzustellen, dass alle Verbindungen an der Vorrichtung lediglich
zwischen Knoten verbunden sind, die dieselben einem Entwurf nach
verbinden sollen.
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Integrierte
Schaltungsvorrichtungen, wie beispielsweise integrierte Schaltungen,
integrierte Schaltungsanordnungen, gedruckte Schaltungsplatinen
(PCBs = Printed Circuit Boards) und gedruckte Schaltungsanordnungen
(PCAs = Printed Circuit Assemblies), werden typischerweise unter
Verwendung von industriellen Schaltingsintern-Test-Testern (ICT-Testern; ICT = In
Circuit Test) getestet. ICT-Tester sind im Allgemeinen mit einem
Array von Testerschnittstellenanschlussstiften ausgerüstet, die
konfigurierbar mit verschiedenen Testerressourcen (z. B. Stromquellen,
Spannungsquellen, Messvorrichtungen, etc.) verbindbar sind. Eine
integrierte Schaltungsvorrichtung kann an einer Testerhalterung
befestig sein, die eine Anzahl von Sonden umfasst, die jeweilige
Testerschnittstellenanschlussstifte mit entsprechenden jeweiligen
Knoten der integrierten Schaltungsvorrichtung verbinden.
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Wie
hierin verwendet, bezieht sich der Begriff „Knoten" auf den leitfähigen Abschnitt einer elektrischen
Vorrichtung, der einen einzigen elektrischen Punkt in dem schematischen Äquivalentdiagramm der
elektronischen Vorrichtung bildet. Zum Beispiel kann ein Knoten
eine Anschlussfläche
eines integrierten Schaltungschips, ein Anschlussstift, ein Draht,
ein Lötkontakthügel, eine
Anschlussfläche, eine
Leiterbahn oder eine andere leitfähig verbindende Verbindung
einer Komponente einer integrierten Schaltungsvorrichtung oder irgendeine
Kombination derselben sein. Wie ebenfalls hierin verwendet, können die
Begriffe „integrierte
Schaltung" und „integrierte
Schaltungsvorrichtung" einen
integrierten Schaltungschip, ein Integriert-Schaltung-Gehäuse, eine
integrierte Schaltungsanordnung, eine gedruckte Schaltungsplatine
(PCB) und/oder eine gedruckte Schaltungsanordnung (PCA) aufweisen.
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Integrierte
Schaltungsvorrichtungen weisen Schaltungskomponenten auf, die einen
oder mehrere Schaltungsanschlüsse
aufweisen, die wirksam verbunden sind. Wie hierin verwendet, ist
eine „Komponente" eine Schaltungsvorrichtung,
die an der integrierten Schaltungsvorrichtung implementiert ist
und die einen oder mehrere Eingangsanschlüsse umfasst, die eines oder
mehrere entsprechende Eingangssignale empfangen kann, und eines
oder mehrere Ausgangssignale an einem oder mehreren entsprechenden
Ausgangsanschlüssen
erzeugt. Wie hierin verwendet, ist ein „Anschluss" das Tor, durch das Signale durch die
Komponente empfangen werden können
und durch das Signale durch die Komponente ausgegeben werden können. Ein
Anschluss kann einen Anschlussstift, eine Anschlussfläche, eine
Anschlussleitung, einen Draht, eine Wulst oder irgendein anderes
Tor oder eine Kombination derselben umfassen.
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Verbindungen
zwischen Anschlüssen
von Schaltungskomponenten in der Schaltung sind typischerweise mittels
Leiterbahnen und Durchkontaktierungen implementiert. Ein Leiten
(Routing) von Signalen zwischen Anschlüssen in einer Schaltung kann ziemlich
komplex sein. Folglich kann es ziemlich schwierig sein und ist in
der Tat selten, dass ein ICT-Tester
tatsächlich
den Anschluss einer Komponente direkt sondiert. Anstelle dessen
ist eine Schaltung mit Testkontaktpunkten entworfen, die entworfen
sind, um durch die Testerschnittstellenanschlussstifte eines Testers
sondiert zu werden, oder typischer durch die Sonden einer Testerhalterung,
die eine Schnittstelle zwischen den Testerschnittstellenanschlussstiften
und den Testkontaktpunkten der integrierten Schaltungsvorrichtung
bildet.
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Testerschnittstellenanschlussstifte
bilden auf Testkontaktpunkte an dem Integrierte-Schaltung-Testobjekt
(DUT = Device Under Test) ab. Wenn ein Testkontaktpunkt durch einen
Testerschnittstellenanschlussstift oder eine Schnittstellentestsonde sondiert
wird, wird der ICT-Tester mit der Schaltung elektrisch leitfähig. Ein
ICT-Tester kann ein stimulierendes Signal an einen Testkontaktpunkt
an einem DUT anlegen, und es kann eine Messung vorgenommen werden,
die verwendet werden kann, um zu bestimmen, ob ein Ausfall an einem
Anschluss, der mit dem Knoten des Testkontaktpunkts verbunden ist, besteht
oder nicht. Um beispielsweise auf eine Kontinuität zwischen einer Leiterbahn
an einer PCB des DUT und einem Anschluss einer Komponente hin zu testen
(d. h. zu prüfen,
dass der Komponentenanschluss ordnungsgemäße an die Leiterbahn gelötet ist),
kann ein Testkontaktpunkt, der mit der Leiterbahn verbunden ist,
stimuliert werden und kann ein Signal an dem Komponentenanschluss
durch eine kapazitive Erfassungssonde gemessen werden (beispielsweise
unter Verwendung eines kapazitiven Sondensystems, wie es in dem
US-Patent 5,498,964 an Kerschner et al. beschrieben ist, das hierin
durch Bezugnahme auf alles aufgenommen ist, das dasselbe lehrt).
Der Wert des gemessenen Signals gibt an, ob der Komponentenanschluss
ordnungsgemäß mit der
Leiterbahn verbunden ist oder nicht.
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Wenn
ein ICT-Tester konfiguriert wird, wird eine Beschreibung des Schaltungsentwurfs
des DUT zu dem Tester heruntergeladen. Jeder Knoten muss eindeutig
identifiziert werden und jegliche spezifische Komponentenanschlüsse, die
getestet werden sollen, müssen
ebenfalls eindeutig identifiziert werden. Testergebnisse werden
auf einer Pro-Knoten-Anschluss-Basis
anstelle von bloß einer
Pro-Knoten-Basis gesammelt, weil typischerweise mehr als ein Anschluss
mit irgendeinem gegebenen Knoten verbunden ist. Man betrachte beispielsweise
eine Leiterbahn, die zwei Komponentenanschlüsse verbindet – wohingegen
die Leiterbahn und die zwei Anschlüsse zu Zwecken des schematischen
Diagramms als ein einziger „Knoten" betrachtet werden, müssen die
zwei Anschlüsse
zu Zwecken eines Testens einer Konnektivität zwischen den jeweiligen Anschlüssen und
der Leiterbahn unabhängig
betrachtet werden. Somit werden Testergebnisse auf einer Pro-Anschluss-Basis
anstelle einer Pro-Knoten-Basis zurückgegeben.
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Bei
großen
komplexen integrierten Schaltungsvorrichtungen ist eventuell die
Beziehung eines ausgefallenen Anschlusses zu dem gesamten Entwurf
einer integrierten Schaltungsvorrichtung auf Grund der unterschiedlichen
Namensgebungsübereinkünfte zwischen
dem jeweiligen Gehäuseanschluss
(der als eine einzige Instanz der Komponente in dem Datenblatt definiert
ist, das der Komponente entspricht) und dem Namen des Anschlusses,
der in dem entsprechenden DUT-Schema definiert ist, nicht unmittelbar
ersichtlich. Bei irgendeiner gegebenen Komponente gibt es häufig ferner
keine physische Möglichkeit,
um zu sehen, welche Komponenteneingangsanschlüsse auf welchen Komponentenausgangsanschluss
bezogen sind. Um dies zu versehen, muss der Ingenieur typischerweise
auf ein Datenblatt Bezug nehmen, das durch den Hersteller der Komponente
geliefert wird und das die Komponentenspezifikationen und häufig Blockdiagramme
der internen Schaltungsanordnung der Komponente umfasst, was ermöglicht,
dass der Ingenieur sehen kann, welche Eingänge auf welche Ausgänge bezogen
sind und wie. Es gibt jedoch kein bestehendes Schaltungstestergebnisanalysesystem,
das die Komponentendatenblätter
mit den Knoten eines Integrierte-Schaltung-Testobjekts verknüpft. Sobald
auf ein Durchführen
einer Reihe von ICT-Tests einmal die Ausfallsinformationen gesammelt
wurden, kann es folglich immer noch schwierig sein, eine Quelle
(Quellen) der Ausfälle
schnell zu ermitteln.
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Zusammenfassung der Erfindung
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Ausführungsbeispiele
der Erfindung umfassen Verfahren und Vorrichtungen zum grafischen Präsentieren
von Testergebnissen eines Schaltungstestobjekts.
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Bei
einem Ausführungsbeispiel
umfasst ein Verfahren zum grafischen Präsentieren von Testergebnissen
eines Schaltungstestobjekts ein Erfassen von Testergebnissen für entsprechende
Schaltungsvorrichtungsknoten des Schaltungstestobjekts, ein Zugreifen
auf ein grafisches Diagramm, das ei ne Darstellung von zumindest
einem Abschnitt des Schaltungstestobjekts aufweist, wobei die Darstellung
eine Schaltungskomponente und zugeordnete Schaltungskomponentenanschlüsse aufweist,
ein Abbilden der Schaltungskomponentenanschlüsse, die in dem grafischen
Diagramm dargestellt sind, auf entsprechende Schaltungsvorrichtungsknoten
des Schaltungstestobjekts und ein Anzeigen des grafischen Diagramms,
wobei eine Anzeige der Testergebnisse ermöglicht ist, die den Schaltungsvorrichtungsknoten
entsprechen, die zu den Schaltungskomponentenanschlüssen abgebildet
sind, die in dem grafischen Diagramm dargestellt sind.
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Bei
einem Ausführungsbeispiel
ist das Verfahren als Programmanweisungen implementiert, die greifbar
auf einem computerlesbaren Speichermedium ausgeführt sind.
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Bei
einem Ausführungsbeispiel
umfasst ein Schaltungstestergebnisanalysesystem eine Testergebnisempfangseinrichtung
zum Empfangen von Testergebnissen für entsprechende Schaltungsvorrichtungsknoten
eines Schaltungstestobjekts und eine Grafikdiagrammerzeugungseinrichtung
zum Zugreifen auf ein grafisches Diagramm, das eine Darstellung
von zumindest einem Abschnitt des Schaltungstestobjekts aufweist,
wobei die Darstellung eine Schaltungskomponente und zugeordnete
Schaltungskomponentenanschlüsse
aufweist, zum Abbilden der Schaltungskomponentenanschlüsse, die
in dem grafischen Diagramm dargestellt sind, zu entsprechenden Schaltungsvorrichtungsknoten
des Schaltungstestobjekts und zum Anzeigen des grafischen Diagramms,
wobei eine Anzeige der Testergebnisse ermöglicht ist, die den Schaltungsvorrichtungsknoten
entsprechen, die zu den Schaltungskomponentenanschlüssen abgebildet
sind, die in dem grafischen Diagramm dargestellt sind.
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Kurze Beschreibung der Zeichnungen
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Ein
vollständigeres
Verständnis
dieser Erfindung und von vielen der zugehörigen Vorteile derselben wird
ohne weiteres ersichtlich, wenn dieselbe durch Bezugnahme auf die
folgende detaillierte Beschreibung in Verbindung mit den zugehörigen Zeichnungen
besser verständlich
wird, in denen gleiche Bezugszeichen die gleichen oder ähnliche
Komponenten angeben, in denen:
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1 ein
Blockdiagramm eines Schaltungstestprozesses ist, der ein Ausführungsbeispiel
eines Schaltungstestergebnisanalysesystems umfasst;
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2 ein
Blockdiagramm eines Ausführungsbeispiels
des Schaltungstestergebnisanalysesystems ist;
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3 ein
Flussdiagramm auf hoher Ebene für
ein Ausführungsbeispiel
einer Software ist, die die Funktionen des Schaltungstestergebnisanalyseprogramms
implementiert;
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4 ein
Blockdiagramm einer zu testenden Schaltung ist;
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5 ein
Blockdiagramm einer Komponente der zu testenden Schaltung ist;
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6 ein
Blockdiagramm einer Komponente der in 5 gezeigten
Komponente ist;
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7 ein
Blockdiagramm eines Schaltungstestergebnisanalysesystems ist, das
ein Funktionsdiagramm eines Ausführungsbeispiels
eines Schaltungstestergebnisanalyseprogramms darstellt;
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8 ein
Ausführungsbeispiel
eines exemplarischen Anzeigebildschirms ist, der durch ein Ausführungs beispiel
eines Schaltungstestergebnisanalyseprogramms erzeugt werden kann;
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9 ein
Ausführungsbeispiel
eines exemplarischen Anzeigebildschirms ist, der durch ein Ausführungsbeispiel
eines Schaltungstestergebnisanalyseprogramms erzeugt werden kann,
das ein exemplarisches Gehäusediagramm
anzeigt;
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10 ein
Ausführungsbeispiel
eines exemplarischen Anzeigebildschirms ist, der durch ein Ausführungsbeispiel
eines Schaltungstestergebnisanalyseprogramms erzeugt werden kann,
das ein alternatives exemplarisches Gehäusediagramm anzeigt;
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11 ein
Ausführungsbeispiel
eines exemplarischen Anzeigebildschirms ist, der durch ein Ausführungsbeispiel
eines Schaltungstestergebnisanalyseprogramms erzeugt werden kann,
das ein exemplarisches Schaltungsdiagramm anzeigt;
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12 ein
Ausführungsbeispiel
eines exemplarischen Anzeigebildschirms ist, der durch ein Ausführungsbeispiel
eines Schaltungstestergebnisanalyseprogramms erzeugt werden kann,
das ein exemplarisches Schaltungsdiagramm anzeigt, das mehr Einzelheiten
einer ausgewählten
Komponente darstellt;
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13 ein
Ausführungsbeispiel
eines exemplarischen Anzeigebildschirms ist, der durch ein Ausführungsbeispiel
eines Schaltungstestergebnisanalyseprogramms erzeugt werden kann,
das einen exemplarischen Einrichtungsdialog (Setup-Dialog) anzeigt;
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14 ein
Ausführungsbeispiel
eines exemplarischen Anzeigebildschirms ist, der durch ein Ausführungsbeispiel
eines Schaltungstestergebnisanalysepro gramms erzeugt werden kann,
das einen exemplarischen Zeitsteuereinrichtungsdialog anzeigt;
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15 ein
Flussdiagramm ist, das ein exemplarisches Verfahren zum Abbilden
von DUT-Knotennamen zu Diagrammknotennamen darstellt; und
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16 ein
Flussdiagramm ist, das ein exemplarisches Verfahren zum Abbilden
von Testergebnissen zu Diagrammknoten darstellt.
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Detaillierte Beschreibung
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In
der folgenden detaillierten Beschreibung der Ausführungsbeispiele
wird Bezug auf die zugehörigen
Zeichnungen genommen, die einen Teil derselben bilden und in denen
durch eine Darstellung spezifische Ausführungsbeispiele gezeigt sind,
in denen die Erfindung praktiziert werden kann. Diese Ausführungsbeispiele
sind ausreichend detailliert beschrieben, um zu ermöglichen,
dass Fachleute auf dem Gebiet die Erfindung praktizieren können, und es
sollte klar sein, dass andere Ausführungsbeispiele verwendet werden
können
und dass strukturelle logische und elektrische Veränderungen
vorgenommen werden können,
ohne von der Wesensart und dem Schutzbereich der vorliegenden Erfindungen
abzuweichen. Die folgende detaillierte Beschreibung ist deshalb
nicht in einem einschränkenden
Sinn aufzufassen und der Schutzbereich der vorliegenden Erfindungen
ist lediglich durch die beigefügten
Ansprüche definiert.
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1 zeigt
Komponenten eines Schaltungstestprozesses, der ein Ausführungsbeispiel
eines Schaltungstestergebnisanalysesystems 10 umfasst. Ein
Schaltungstestsystem 2 empfängt einen Schaltungsentwurf,
hierin im Folgenden als eine „Netzliste" 4 bezeichnet,
der verwendet wird, um das Schaltungstestsystem 2 zu konfigurieren,
um Tests an einer integrierten Schaltungsvorrichtung auszuführen, die
gemäß dem Schaltungsentwurf
implementiert ist, der durch die Netzliste 4 definiert
ist.
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Das
Schaltungstestsystem 2 nimmt eine integrierte Schaltungsvorrichtung
(hierin auch als ein „Testobjekt" oder „DUT" bezeichnet) 3 auf,
die gemäß dem Schaltungsentwurf
implementiert ist, der durch die Netzliste 4 definiert
ist, und die dem Schaltungstestsystem 2 für ein Testen
präsentiert
wird.
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Das
Schaltungstestsystem 2 kann konfiguriert sein, um eine
Anzahl von Tests an dem DUT 3 auszuführen. Tests können lediglich
beispielsweise und nicht einschränkend
Konnektivitätstests,
Funktionstest, etc. umfassen. Während
eines Tests wird eines oder werden mehrere Signale an Knoten des DUT 3 angelegt
und können
entsprechende Messungen vorgenommen werden. Testergebnisse 5 werden durch
das Schaltungstestsystem 2 erzeugt. Bei einem Ausführungsbeispiel
werden die Testergebnisse 5 auf einer Pro-Komponentenanschluss-Basis erzeugt. In
anderen Worten ausgedrückt,
resultiert jeder Komponentenanschluss, der stimuliert wird, und eine
entsprechende Messung, die diesem Anschluss zugeordnet ist, in einem
Testergebnis 5, das diesem Komponentenschluss entspricht,
der die entsprechende Messung aufweist oder von derselben abgeleitet
ist. Es kann einer oder können
mehrere Tests ausgeführt
werden, die in mehr als einem Testergebnis 5 für einen
gegebenen Komponentenanschluss resultieren.
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Bei
einem Ausführungsbeispiel
können
die Testergebnisse 5 in einer Speicherung 6 gespeichert sein,
wie beispielsweise einem Computerspeicher, der einen Computerspeicher
in der Form von Registern, eines RAM, lokaler Platten oder einer
externen Speicherung umfassen kann, um lediglich einige Möglichkeiten
zu nennen.
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Ein
Schaltungstestergebnisanalysesystem 10 empfängt die
Testergebnisse 5. Bei einem Ausführungsbeispiel liest das Schaltungstestergebnisanalysesystem 10 die
Testergebnisse 5 aus der Speicherung 6. Bei einem
anderen Ausführungsbeispiel
empfängt
das Schaltungstestergebnisanalysesystem 10 die Testergebnisse 5 direkt
von dem Schaltungstestsystem 2.
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2 ist
ein Blockdiagramm eines Ausführungsbeispiels
des Schaltungstestergebnisanalysesystems 10, das die Hauptkomponenten
des Systems und logische Verbindungen zwischen denselben darstellt.
Das Schaltungstestergebnisanalysesystem 10 umfasst einen
Prozessor 11, der als ein Computer, ein Mikroprozessor,
eine Mikrosteuerung, ein programmierbares Logikarray (PLA = Programmable
Logic Array) oder irgendeine andere Rechenvorrichtung implementiert
sein kann, die die hierin beschriebenen Funktionen des Prozessors 11 durchführt. Bei
einem Ausführungsbeispiel
ist der Prozessor wirksam, um Programmanweisungen eines Schaltungstestergebnisanalyseprogramms 20 zu
lesen, das in dem Programmspeicher 12 gespeichert ist.
Bei einem anderen Ausführungsbeispiel
sind die Programmanweisungen des Schaltungstestergebnisanalyseprogramms 20 in
der Prozessorvorrichtung selbst eingebettet oder codiert, beispielsweise
in dem Fall, dass der Prozessor 11 unter Verwendung eines
PLA implementiert ist. Der Prozessor 11 führt die
Funktionalität
des Schaltungstestergebnisanalyseprogramms 20 durch, wie
es hierin im Folgenden detaillierter beschrieben ist.
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Das
Schaltungstestergebnisanalyseprogramm 20 erfordert einen
Zugriff auf die Testergebnisse 5 und auf eines oder mehrere
Schaltungsdiagramme 15. Die Testergebnisse 5 und
die Schaltungsdiagramme 15 können für einen Zugriff durch den Prozessor 11 in
einem computerlesbaren Datenspeicher gespeichert sein, der als irgendeine
Kombination eines Direktzugriffspeichers (RAM = Random Access Memory),
eines Nur-Lese-Speichers (ROM = Read-Only Memory), eines lokalen
Cache-Speichers, eines lokalen Festplattenspeichers und/oder eines
Langzeitspeicherungsspeichers oder irgendeiner Variation derselben
implementiert sein kann.
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Der
Prozessor 11 führt
ferner direkt oder indirekt die Funktionalität durch, die zum Bilden einer Schnittstelle
mit den Eingabe- und Ausgabegeräten des
Schaltungstestergebnisanalysesystems 10 erforderlich ist.
Eingabegeräte
des Systems 10 umfassen Einrichtungen, um eine Benutzereingabe
zu empfangen, die die Form von irgendeiner Kombination einer Tastatur,
einer Maus, eines Infrarotgeräts
(IR-Gerät), eines
Berührungsbildschirms,
eines Mikrofons, das eine Schnittstelle mit einer Spracherkennungssoftware
bilden kann, eines externen Medienlaufwerks, das Medien liest, oder
irgendeines anderen Geräts annehmen
kann, von dem eine Benutzereingabe empfangen werden kann. Ausgabegeräte des Systems 10 umfassen
Einrichtungen, um eine Schaltungstestergebnisanalyseprogrammausgabe dem
Benutzer zu präsentieren,
die die Form von irgendeiner Kombination einer Anzeige, eines Berührungsbildschirms,
eines Druckers oder irgendeines anderen Geräts annehmen können, an
dem eine Anzeigeausgabe angezeigt werden kann.
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3 ist
ein Flussdiagramm auf hoher Ebene für ein Ausführungsbeispiel einer Software,
die die Funktionen des Schaltungstestergebnisanalyseprogramms 20 implementiert.
Die Software erfasst Testergebnisse, die einem speziellen DUT entsprechen, bei
einem Block 31. Die Testergebnisse umfassen das, was hierin
im Folgenden als „DUT-Knotennamen" bezeichnet sein
soll, und entsprechende Testergebnisinformationen. DUT-Knotennamen
sind die Namen entsprechender Knoten an dem DUT, wie es durch das
Schaltungstestsystem bekannt ist. Somit sind die DUT-Knotennamen
typischerweise Knotennamen, die in der Netzliste definiert sind,
die verwendet wird, um das Schaltungstestsystem zu konfigurieren.
Die entsprechenden Testergebnisinformationen sind Informationen
hinsichtlich dessen, wie der entsprechende Knoten sich in einem
gegebenen Test verhalten hat. Die entsprechenden Testergebnisinformationen
können
deshalb in der Form einer Bestanden- oder Durchgefallen-Angabe,
einer Anzahl von Ausfällen,
einem gemessenen Parameterwert, etc. sein.
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Bei
einem Block 32 erfasst die Software eine Benutzereingabe.
Die Software verarbeitet die Benutzereingabe, um ein Diagramm auszuwählen, das die
Kriterien der Benutzereingabe erfüllt, bei einem Block 33.
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Die
Software greift bei einem Block 34 auf das angeforderte
Diagramm aus einem Pool von Diagrammen zu, die dem angeforderten
Diagramm entsprechen. Das angeforderte Diagramm kann die Form eines
Blockdiagramms, eines Schemas oder eines Schaltungsgehäuses annehmen.
Jedes Diagramm umfasst das, was hierin im Folgenden als „getestete
Diagrammknoten" bezeichnet
sein soll. Getestete Diagrammknoten sind Knoten eines Diagramms,
die entsprechende DUT-Knoten aufweisen, für die Testergebnisse empfangen
wurden (bei dem Block 31).
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Bei
einem Ausführungsbeispiel
können
die DUT-Knotennamen der DUT-Knoten und die Getestet-Diagrammknoten-Namen
der getesteten Diagrammknoten, die den jeweiligen DUT-Knoten entsprechen,
unterschiedliche Namen aufweisen. In einer gegebenen Netzliste ist
jeder Schaltungskomponente ein eindeutiger Vorrichtungsname zugewiesen. Da
es mehrere Instanzen von irgendeiner gegebenen Komponente geben
kann, kann es ebenfalls mehrere Instanzen der Anschlüsse der
gegebenen Komponente geben, was in mehreren identischen Anschlussnamen
in der Schaltung resultiert. Folglich kann jedem Anschluss in dem
DUT-Schema ein eindeutiger Name zugewiesen sein. Bei einem Ausführungsbeispiel
wird auf einen Anschluss durch die Kombination des Anschlussnamens
und des eindeutigen Vorrichtungsnamens der entsprechenden Komponente
Bezug genommen.
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Die
Software bildet bei einem Block 35 DUT-Knotennamen auf
entsprechende Getestet-Diagrammknoten-Namen ab. Die Software zeigt
das angeforderte Diagramm bei einem Block 36 an. Die Software
wartet dann bei dem Block 32 erneut auf eine Benutzereingabe.
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Testergebnisinformationen
von getesteten Diagrammknoten können
direkt in dem angezeigten Diagramm angezeigt werden. Bei einem Ausführungsbeispiel
zeigt das Diagramm eine Anzahl von Ausfällen, die an jeweiligen getesteten
Knoten erfasst wurden, in der Form einer Tabelle an. Bei einem Ausführungsbeispiel
wird beispielsweise die Anzahl von Ausfällen der jeweiligen getesteten
Knoten in der Form eines Histogramms oder einer Balkengrafik dargestellt,
die einen Balken aufweist, der eine Länge aufweist, die einer Anzahl
von Ausfällen
entspricht, die an dem jeweiligen Knoten erfasst wurden. Bei einem
Ausführungsbeispiel
ist die Anzahl von Ausfällen
der jeweiligen getesteten Knoten in der Form einer Farbe dargestellt,
wobei unterschiedliche Farben unterschiedlichen Anzahlen von Ausfällen entsprechen.
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Bei
einem Ausführungsbeispiel
zeigt die Software eine Angabe einer verfügbaren Erweiterung von einer
oder mehreren Komponenten und/oder Knoten der angezeigten Schaltung
an, für
die mehr anzeigbare Informationen existieren. Bei einem Ausführungsbeispiel
weist der Erweiterungsindikator einen Hyperlink auf. Bei anderen
Ausführungsbeispielen
kann der Erweiterungsindikator eine Aufklappliste, ein Button, etc.
sein.
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Die
Benutzereingabe kann eine Auswahl einer erweiterbaren Komponente
oder eines Knotens aufweisen, die in dem Diagramm angezeigt sind,
wie es durch den Benutzer ausgewählt
ist. Bei diesem Ausführungsbeispiel
wählt die
Software ein nächstes Diagramm
aus einem Pool von Diagrammen aus, die der ausgewählten Komponente
oder dem Knoten entsprechen. Wie bei allen Diagrammen werden Knoten
des nächsten
Diagramms, das entsprechende Testergebnisse aufweist, abgebildet
und dann angezeigt. Typischerweise weist das nächste Diagramm einen feineren
Detailpegel als das vorhergehende Diagramm auf. Das nächste Diagramm
kann beispielsweise eine Teilschaltung der Schaltung aufweisen,
die in dem vorhergehenden Diagramm angezeigt ist, und kann mehr
Details umfassen, einschließlich
Komponenten und/oder Knoten, die in dem vorhergehenden Diagramm
nicht angezeigt sind. Verfügbare
Testergebnisse, die jeweiligen Knoten in dem nächsten Diagramm entsprechen,
können betrachtet
werden.
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Bei
einem Ausführungsbeispiel
weisen die Schaltungsdiagramme Blockdiagramme und/oder schematische
Diagramme auf, die aus veröffentlichten
Datenblättern
verfügbar
sind, die der jeweiligen Schaltung entsprechen. Die DUT-Knotennamen
werden zu den entsprechenden Getestet-Diagrammknoten-Namen abgebildet,
die die Anschlussnamen der Komponente sind, wie es in den Datenblättern veröffentlicht
ist, die der Komponente entsprechen.
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Wie
es vorhergehend beschrieben ist, werden integrierte Schaltungsvorrichtungen
typischerweise unter Verwendung von ICT-Testern getestet. Eine integrierte
Schaltungsvorrichtung weist eine Anzahl von verbundenen elektronischen
Komponenten auf. Jede Komponente weist typischerweise zumindest
einen Eingangsanschluss und zumindest einen Ausgangsanschluss auf.
Eingangsanschlüsse
können
verbunden sein, um ein Leistungssignal, eine Masse oder ein Eingangssignal
zu empfangen. Ausgangsanschlüsse
können
verbunden sein, um ein Ausgangssignal zu anderen Abschnitten der
Schaltung auszugeben. Eingangs- und Ausgangsanschlüsse können als
ein Anschlussstift, eine Anschlussleitung, ein Draht, eine Anschlussfläche, etc. implementiert
sein.
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Um
eine gegebene integrierte Schaltungsvorrichtung zu testen, muss
der Tester konfiguriert sein, um zu verstehen, welche Knoten an
der Vorrichtung sondiert werden und mit welchen Komponentenanschlüssen diese
Knoten verbunden sein sollten. Ein ICT-Tester wird typischerweise,
unter anderen Handlungen, durch ein Herunterladen einer Netzliste
der Schaltung der integrierten Schaltungsvorrichtung zu dem Tester
konfiguriert. Eine Netzliste ist typischerweise eine Textbeschreibung
der Schaltungskonnektivität
und umfasst eine Liste von Verbindern, eine Liste von Komponenteninstanzen
und für jede
Komponenteninstanz eine Liste der Sig nale, die mit den Komponenteninstanzanschlüssen verbunden
sind. Es kann mehr als eine Instanz einer speziellen Komponente
geben. Alle Instanzen einer speziellen Komponente sind identisch
und weisen eine identische interne Schaltungsanordnung und die gleiche
Anzahl und die gleichen Namen von Anschlüssen auf. Das Gehäuselayout,
einschließlich
Anschlussnamen (auch als Anschlussstiftbelegung bzw. „Pin-Out" bezeichnet) und
ein Betrieb einer speziellen Komponente können in einem entsprechenden Datenblatt
definiert sein, das durch den Hersteller der Komponente geliefert
wird. Alle Instanzen einer speziellen Komponente können deshalb
durch Bezugnahme auf ein einziges Datenblatt ersichtlich sein.
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Namensgebungsübereinkünfte einer
kundenspezifisch entworfenen Schaltung können sich von den Namensgebungsübereinkünften unterscheiden,
die bei den entsprechenden Datenblättern von vorgefertigten Komponenten
verwendet werden, die bei dem Entwurf einer integrierten Schaltungsvorrichtung
verwendet werden. Somit ist es eventuell schwierig, die Position
und die Ursache eines Ausfalls und wie der Ausfall zu reparieren
ist lediglich basierend auf den DUT-Knotennamen von ausfallenden DUT-Knoten,
die mit den Testergebnissen von dem ICT-Tester zurückgegeben
werden, zu verstehen.
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Man
betrachte beispielsweise das Blockdiagramm einer Schaltung 40 (die
ein Vierer-Sende/Empfangsgerät
ausführt),
die an einer PCB 41 befestigt ist, wie es in 4 gezeigt
ist. Die Schaltung 40 umfasst auf der Blockdiagrammebene
einen CPU-Block 42, einen Speicherblock 44 und
einen Eingabe/Ausgabe-Block 46 (E/A-Block), die auf wirksame
Weise verbunden sind. Viele der Komponenten der Schaltung können unter
Verwendung standardmäßiger Komponenten
aus dem Regal implementiert sein, deren Betrieb durch eine Bezugnahme
auf Datenblätter,
die durch die jeweiligen Komponentenhersteller geliefert werden,
gut verstanden werden. Es sei beispielsweise angenommen, dass der
E/A-Block 46 ein Paar von Vierer-Sende/Empfangsgeräten 48a, 48b umfasst,
die an der PCT 41 gehäust
und befestigt sind. Ferner sei angenommen, dass die Spezifikationen
der Vierer-Sende/Empfangsgeräte 48a, 48b (typischerweise
durch den Hersteller) in einem entsprechenden Datenblatt geliefert
sind, das eine Anschlussstiftbelegung des Gehäuses und Blockdiagramme und/oder
schematische Diagramme des internen Betriebs der Sende/Empfangsgerät-Schaltungsanordnung
umfasst. Das Datenblatt enthält
typischerweise ferner Spezifikationen, wie beispielsweise maximale
und minimale Spannungspegel, maximale und minimale Temperaturen,
etc. und Zeitdiagramme, die die Beziehungen zwischen den Eingangssignalen,
die an den Eingangsanschlüssen
des Sende/Empfangsgeräts
empfangen werden, und Ausgangssignalen, die auf die Ausgangsanschlüsse des
Sende/Empfangsgeräts
ausgegeben werden, darstellen. Das Datenblatt des Chips zeigt die
Anschlussstiftbelegung des Gehäuses,
wobei jeder der Gehäuseanschlüsse mit
entsprechenden Namen etikettiert ist.
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5 ist
ein exemplarisches Blockdiagramm eines Vierer-Sende/Empfangsgeräts 50 in der Form einer
Kombination eines Gehäuselayoutdiagramms und
eines Blockdiagramms, die in einem Datenblatt präsentiert sein können, das
einem speziellen Sende/Empfangsgerät-Chip entspricht, der das
Sende/Empfangsgerät 42 implementiert.
Das Sende/Empfangsgerät 50 umfasst
vier einzelne Sende/Empfangsgerät-Blöcke 51a, 51b, 51c und 52d,
einen Verbindungssteuerblock 55 und einen Synchronisationsblock 56.
Die Eingangs- und Ausgangsanschlüsse,
die in dem Blockdiagramm gezeigt sind, entsprechen tatsächlichen
Eingangs- und Ausgangsanschlüssen
eines tatsächlichen
entsprechenden Vierer-Sende/Empfangsgerät-Chips. Die Etiketten der Eingangs- und
Ausgangsanschlüsse
sind typischerweise zumindest etwas bezeichnend für das Signal
(die Signale), das (die) an dem entsprechenden Anschluss eingegeben
oder ausgegeben werden soll(en).
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Ein
Datenblatt einer vorgefertigten Komponente, wie beispielsweise eines
integrierten Schaltungschips, kann zusätzliche Blockdiagramme einzelner
Blöcke
innerhalb der Hauptschaltung umfassen. Das Datenblatt, das dem Vierer-Sende/Empfangsgerät 50 entspricht,
kann beispielsweise ferner ein schematisches Blockdiagramm eines
einzelnen Senders 53 umfassen, in 6 dargestellt,
der jeden der Senderblöcke 53a, 53b, 53c, 53d innerhalb
jedes der entsprechenden Sende/Empfangsgerät-Blöcke 51a, 51b, 51c, 51d implementiert.
Das Blockdiagramm 53 präsentiert
die Schaltungsanordnung eines Senderblocks 53a, 53b, 53c, 53d in
feineren Einzelheiten, was bei einer Fehlerbehebung von Problemen
bei den Verbindungen oder der Einrichtung der Schaltung nützlich sein
kann.
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Es
ist ersichtlich, dass aus dem Blickpunkt des Testers jeder Knoten,
der Anschluss und jedes Signal in einem gegebenen DUT über die
Schaltung hinweg einen eindeutigen Namen aufweisen muss, damit der
ICT-Tester jeden Knoten oder Anschluss in der Schaltung eindeutig
testen kann. Das gleiche gilt von dem Blickpunkt des Ingenieurs
aus, der die Schaltung bereinigt (Debugging).
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Ferner
ist ersichtlich, dass jedoch, weil jedes Signal und jeder Knoten
in einer gegebenen Schaltung für
eine Eingabe zu dem ICT-Tester eindeutig benannt sein muss, es selten
ist, dass die Namen, die für
jeden der Knoten, Komponenten und Komponentenanschlüsse in dem
DUT gewählt
sind (typischerweise in der Netzliste definiert), tatsächlich mit den
entsprechenden Namen der Anschlüsse übereinstimmen,
die in den Herstellerdatenblättern
der zugeordneten Komponenten etikettiert sind. Dieses Problem ist
weiter verschärft,
wenn mehr als eine Instanz einer gegebenen Komponente bei der DUT-Schaltung
verwendet wird (was zu mehreren Komponenten mit identischen Sätzen von
Anschlussnamen führt)
und wenn eine oder mehrere Komponenten auf höherer Ebene unter Verwendung von
Komponenten auf niedrigerer Ebene von mehr als einem unterschiedlichen
Hersteller implementiert sind (der die Anschlüsse des hergestellten Chips desselben
unter Verwendung unterschiedlicher Namen etikettieren kann, ob wohl
die Funktionalität
und die Anschlussstiftbelegung identisch sind).
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Wenn
Testergebnisse dem Bereinigungsingenieur präsentiert werden, ist es nützlich und
deshalb typisch, die Ergebnisse unter Verwendung der DUT-Knotennamen
zu präsentieren – also der
Namen der Knoten, Anschlüsse
und Signale des Schemas, mit dem der Ingenieur arbeitet. Wie es
vorhergehend erörtert
ist, können
ICT-Testergebnisse auf einer Pro-Anschluss-Basis
zurückgegeben
werden, die den Namen eines Anschlusses und entsprechende Testergebnisinformationen
aufweist. Wenn folglich ein Satz von ICT-Testergebnissen empfangen wird,
kann es auf Grund der unterschiedlichen Namensgebungsübereinkünfte der
Komponenten, Knoten, Anschlüsse
und Signale des DUT, wie es durch den ICT-Tester bekannt ist, und
der Namen der Anschlüsse
und Signale, wie dieselben in den Datenblättern vorgefertigter Komponenten
identifiziert sind, die bei der Schaltung verwendet werden, sehr schwierig
und/oder zeitraubend für
den Bereinigungsingenieur sein, die Beziehung zwischen den ICT-Testausfällen und
der Position des Ausfalls innerhalb der Schaltung, oder wie die
Signale in der Schaltung zu modifizieren sind, um die Schaltung
zu reparieren, zu bestimmen und zu verstehen.
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7 ist
ein Ausführungsbeispiel
des Schaltungstestergebnisanalysesystems 10, das ein Funktionsdiagramm
eines Ausführungsbeispiels
des Schaltungstestergebnisanalyseprogramms 20 darstellt.
Bei diesem Ausführungsbeispiel
umfasst das Schaltungstestergebnisanalyseprogramm 20 eine Benutzereingabefunktion 21,
die das Eingabegerät (die
Eingabegeräte) 14 auf
eine Diagrammauswahleingabe von dem Benutzer hin überwacht
und einen Auswahlprozessor 22 auf ein Empfangen einer gültigen Diagrammauswahleingabe
hin aufruft. Der Auswahlprozessor 22 ruft eine der Diagrammgeneratorfunktionen
(beispielsweise einen Gehäusediagrammgenerator 24,
einen Ausfalldiagrammgenerator 25 oder einen Schaltungsdiagrammgenerator 26) entsprechend
der Diagrammauswahleingabe auf. Die Diagrammgeneratoren 24, 25, 26 erlangen
ein entspre chendes Diagramm 15 wieder. Das entsprechende
Diagramm weist eine Anzahl von Knoten, Komponenten, Anschlüssen und/oder
Signalen auf, die angezeigt werden und entsprechende Testergebnisse
aufweisen, die diesen Knoten, Komponenten, Anschlüssen und/oder
Signalen entsprechen. Ein Testergebnisprozessor 23 erlangt
die Testergebnisse 5, die den Diagrammknoten, Komponenten,
Anschlüssen
und/oder Signalen entsprechen, wieder. Eine Abbildungsfunktion 25 bildet
DUT-Entwurfsnamen zu Diagrammnamen ab oder umgekehrt. Der aktive
Diagrammgenerator 24, 25, 26 zeigt das
ausgewählte
Diagramm an der Ausgabeeinrichtung (d. h. Anzeige) 14 an.
Falls Testergebnisse für
einen Knoten, einen Anschluss, eine Komponente oder ein Signal verfügbar sind,
die in dem Diagramm angezeigt sind, können die Testergebnisse entweder
direkt (über
eine visuelle Angabe an der Anzeige) oder indirekt (über einen
Erweiterungsmechanismus, wie beispielsweise einen Hyperlink, ein
Menü, etc.)
verfügbar
gemacht werden.
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Unter
jetziger Bezugnahme auf ein Beispiel betrachte man die Verwendung
des Schaltungstestergebnisanalysesystems 10 zum Untersuchen
von Testergebnissen des Vierer-Sende/Empfangsgeräts 50 von 5. 8 ist
ein Ausführungsbeispiel
eines exemplarischen Anzeigebildschirms, der durch ein Ausführungsbeispiel
eines Schaltungstestergebnisanalyseprogramms 20 erzeugt
werden kann. Der Bildschirm 80 kann Verknüpfungen
zum Anzeigen von Testergebnisinformationen bereitstellen. Zum Beispiel
kann der Bildschirm 80 einen Hyperlink 82 bereitstellen,
um eine Anzeige eines Gehäusediagramms
des DUT zu ermöglichen.
Der Bildschirm 80 kann einen Hyperlink 84 bereitstellen,
um eine Anzeige eines Schaltungsdiagramms des DUT zu ermöglichen.
Der Bildschirm 80 kann die tatsächlichen Testergebnisse selbst
anzeigen (wie es bei 86 gezeigt ist) oder einen Hyperlink
(nicht gezeigt) bereitstellen, um dieselben anzuzeigen. Auf die
Diagramme kann unter Verwendung von irgendeiner oder mehreren von gut
bekannten grafischen Benutzerschnittstellen oder Webseiten-Quernavigationsmechanismen,
einschließlich
Hyperlinks, Menüs,
Werkzeugleisten, etc. zugegriffen werden.
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9 ist
ein exemplarisches Gehäusediagramm 90,
das auf eine Auswahl des Gehäusediagramm-Hyperlinks 82 von
dem Bildschirm 80 von 8 hin angezeigt
werden kann. Wie es dargestellt ist, umfasst das Gehäusediagramm 90 eine
Darstellung 92 des ausgewählten Komponentengehäuses. Die
Komponentengehäusedarstellung 92 umfasst Darstellungen
der Komponentengehäuseeingangs- und
-ausgangsanschlüsse
und entsprechende Testergebnisinformationen für diese Anschlüsse, für die entsprechende
Testergebnisse verfügbar
sind. Das Gehäusediagramm 90 kann
beispielsweise nützlich sein,
um unmittelbar zu ermitteln, welche Anschlüsse ein Konnektivitätsproblem
aufweisen. Die Testergebnisinformationen können bei einem Ausführungsbeispiel
unter Verwendung unterschiedlicher Farben präsentiert werden, die unterschiedlichen
Anzahlen von Ausfällen
entsprechen. Man nehme beispielsweise an, dass der ICT-Tester eine
Reihe von zehn Tests an einem DUT ausführt. Die Testergebnisse können für jeden
Anschluss des Gehäuses
gesammelt und durch ein Bezeichnen unterschiedlicher Farben für unterschiedliche
Bereiche von Anzahlen von Ausfällen
direkt an dem Gehäusediagramm
präsentiert
werden. Wie es in 9 gezeigt ist, weisen somit
Anschlüsse
XLINKP_1_A und XLINKN_1_A jeweils mehr als 50 % Ausfälle auf,
weisen Anschlüsse XMT_1_A[0],
XMT_1_A[3], XMT_1_A[4] und XMT_1_A[13] jeweils mehr als 50 % Ausfälle auf
und weisen die verbleibenden Anschlüsse keine Ausfälle auf.
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10 ist
ein alternatives exemplarisches Gehäusediagramm 100, das
auf eine Auswahl des Gehäusediagramm-Hyperlinks 82 von
dem Bildschirm 80 von 8 hin angezeigt
werden kann. Wie es dargestellt ist, umfasst das Gehäusediagramm 100 eine
Darstellung 102 des ausgewählten Komponentengehäuses. Die
Komponentengehäusedarstellung 102 umfasst
Darstellungen der Komponentengehäuseeingangs-
und -ausgangsanschlüsse
mit entsprechenden Anschlussetiketten und entsprechenden Test ergebnisinformationen
für diese
Anschlüsse,
für die
entsprechende Testergebnisse verfügbar sind. Die Testergebnisinformationen
werden bei diesem Ausführungsbeispiel
unter Verwendung einer Balkengrafik präsentiert. Die Ansicht des Gehäuses ist
gedreht und eine Balkengrafik ist an jedem Anschluss angezeigt.
Die Länge
des Balkens gibt die Anzahl von Ausfällen an, die an dem entsprechenden Anschluss
erfasst wurden. Wie es in 10 gezeigt ist,
weisen wiederum die Anschlüsse
XLINKP_1_A und XLINKN_1_A jeweils mehr als 50 % Ausfälle auf, weisen
die Anschlüsse
XMT_1_A[0], XMT_1_A[3], XMT_1_A[4] und XMT_1_A[13] jeweils mehr
als 50 % Ausfälle
auf und weisen die verbleibenden Anschlüsse keine Ausfälle auf.
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11 ist
ein exemplarisches Schaltungsdiagramm 110, das auf eine
Auswahl des Schaltungsdiagramm-Hyperlinks 84 von dem Bildschirm 80 von 8 hin
angezeigt werden kann. Das Schaltungsdiagramm 110 stellt
die funktionale Schaltung der Komponente dar. Das Schaltungsdiagramm 110 kann
die funktionale Schaltung der Komponente in der Form eines Blockdiagramms,
eines schematischen Blockdiagramms oder eines schematischen Diagramms anzeigen.
Die Komponentengehäuseeingangs-
und -ausgangsanschlüsse
sind zusammen mit direkt oder indirekt zugreifbaren entsprechenden
Testergebnisinformationen dargestellt. Beispielsweise können Testergebnisinformationen,
die einem speziellen Anschluss entsprechen, der in dem Schaltungsdiagramm 110 angezeigt
ist, direkt in dem Programm selbst durch die Verwendung unterschiedlicher
Farben, die unterschiedliche Testergebnisse angeben, einer Balkengrafikanzeige
direkt an dem Anschluss, etc. angezeigt werden. Alternativ, wie
es durch eine Schattierung in 10 angegeben
ist, können
Anschlüsse
mit zugeordneten Testergebnisinformationen auswählbar sein (d. h. durch einen
Hyperlink, ein Menüelement,
ein Werkzeugleistenelement, etc.), sodass, wenn dieselben durch
einen Benutzer ausgewählt
werden, die Testergebnisse in einem anderen Fenster oder Bildschirm
angezeigt werden.
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Komponenten,
die in dem Schaltungsdiagramm 110 angezeigt sind, können ferner
auswählbar
(erneut durch eine Schattierung angegeben) gemacht werden, um ein
feiner detailliertes Diagramm der auswählbaren Komponente zu betrachten.
Dadurch, dass man verstehen kann, welche Eingangsanschlüsse Ausfälle aufweisen
und welche Ausgangsanschlüsse
durch diese Eingangsanschlüsse beeinflusst
sind, kann der Benutzer die Ursache des Ausfalls und mögliche Reparaturen
einfacher verstehen, um die Fehler bezüglich der betrachteten Komponente
zu reparieren.
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Ein
Senderblock 112 in 11 kann
beispielsweise auswählbar
sein, um die interne Funktionalität des Senders zu betrachten. 12 stellt
ein exemplarisches Schaltungsdiagramm 120 dar, das auf
eine Auswahl des Senderblocks 112 in 11 hin angezeigt
werden kann. Anschlüsse
können
ferner auswählbar
sein, wie es in 11 durch eine Schattierung angegeben
ist, um zusätzliche
Diagramme, zugeordnete Testinformationen und/oder Einrichtungsdialoge
anzuzeigen.
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Der
Anschluss XLINKP_1_A beispielsweise kann ausgewählt werden, um einen Einrichtungsdialog
erscheinen zu lassen, wie es bei dem Beispielbildschirm 130 in 13 gezeigt
ist. Der Einrichtungsdialog kann ermöglichen, dass Parameter, die dem
Anschluss oder dem Signal zugeordnet sind, das an den Anschluss
angelegt ist, durch den Benutzer eingerichtet werden. Beispielsweise
können
Zeitsteuerparameter ausgewählt
werden, um einen Zeitsteuereinrichtungsdialog erscheinen zu lassen,
wie es bei dem Beispielbildschirm 140 dargestellt ist,
der in 14 gezeigt ist. Zeitsteuer- und andere Einrichtungsparameter
können
eingestellt werden, was abhängig
von den Typen von Test und Testausfällen Probleme bei dem betrachteten
DUT bereinigen oder bei einer Bereinigung unterstützen kann.
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Die
Komponentenanschlussnamen in den angezeigten Diagrammen können als
entweder die DUT-Knotennamen oder als die Namen angezeigt werden,
die in dem Komponentendatenblatt verwen det werden, solange die Testergebnisse
zu den geeigneten Anschlüssen
in den angezeigten Diagrammen abgebildet sind. Die in 8–14 gezeigten Beispielbildschirmdiagramme
zeigen die Komponentenanschlussnamen mit den entsprechenden DUT-Knotennamen
an. Die Auswahl dessen, ob die DUT-Knotennamen oder die Komponentenanschlussnamen,
die in den Datenblättern
gezeigt sind, angezeigt werden sollen, hängt von Präferenzen ab, die der speziellen
Implementierung des Schaltungstestergebnisanalysesystems zugeordnet
sind. Alternativ kann das Schaltungstestergebnisanalysesystem ermöglichen,
dass der Benutzer aktiv wählt,
wie die Anschlussnamen anzuzeigen sind, beispielsweise durch ein
Optionseinrichtungsmenü.
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15 ist
ein Flussdiagramm, das ein Verfahren zum Abbilden von DUT-Knotennamen
(einschließlich
DUT-Anschlussnamen) zu Diagrammanschlussnamen darstellt. Ein DUT-Knotenname wird
bei einem Block 151 empfangen. Der empfangene DUT-Knotenname wird bei
einem Block 152 in einer DUT-zu-Diagramm-Abbildung lokalisiert. Die
Testergebnisse, die dem DUT-Knoten entsprechen, der durch den empfangenen
DUT-Knotennamen
identifiziert ist, werden bei einem Block 153 zu dem Diagrammknotennamen
abgebildet, der einem empfangenen DUT-Knotennamen entspricht, der
in der Abbildung nachgeschlagen wird.
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16 ist
ein Flussdiagramm, das ein Verfahren zum Abbilden von Testergebnissen
zu Diagrammanschlussnamen darstellt. Bei einem Block 161 wird
ein Diagrammanschlussname empfangen. Der empfangene Diagrammanschlussname
wird bei einem Block 162 in einer Diagramm-zu-DUT-Abbildung
lokalisiert. Die Testergebnisse, die dem DUT-Knoten entsprechen,
der in der Abbildung identifiziert ist, die dem empfangenden Diagrammknotennamen
entspricht, werden bei einem Block 163 zu dem empfangenen
Diagrammknotennamen abgebildet.
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Zusammenfassend
gesagt können
Testergebnisse, die durch einen ICT-Tester ausgegeben werden, in
einem nützlichen
For mat präsentiert
werden, das direkt an Grafikdiagramme der zu testenden Schaltung
gebunden ist, mit Verknüpfungen
zu Diagrammen, die die Schaltungsfunktionalität von Komponenten der Schaltung
darstellen und Testergebnisinformationen, die Anschlüssen der
Komponenten zugeordnet sind. Ein Verknüpfen von Testergebnisinformationen
mit grafischen Diagrammen einer Schaltungsfunktionalität von Komponenten
der Schaltung ermöglicht
ein effizientes Verständnis
durch den Benutzer dahingehend, welche Komponentenanschlüsse auf
welche Ausgangsanschlüsse
bezogen sind. Ein Verknüpfen
eines Einrichtungsdialogs mit den Diagrammen ermöglicht eine schnellere und
effizientere Bereinigung und Ausfallanalyse.
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Fachleute
auf dem Gebiet erkennen, dass die Verfahren und Vorrichtungen, die
hierin beschrieben und dargestellt sind, in einer Software, einer Firmware
oder einer Hardware oder irgendeiner geeigneten Kombination derselben
implementiert sein können.
Das Verfahren und die Vorrichtung der Erfindung können durch
einen Computer- oder Mikroprozessorprozess implementiert sein, bei
dem Anweisungen ausgeführt
werden, wobei die Anweisungen für
eine Ausführung
auf einem computerlesbaren Medium gespeichert sind und durch irgendeinen
geeigneten Anweisungsprozessor ausgeführt werden. Alternative Ausführungsbeispiele
werden jedoch betrachtet und befinden sich innerhalb der Wesensart und
des Schutzbereichs der Erfindung.
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Obwohl
dieses bevorzugte Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung zu darstellenden Zwecken offenbart wurde,
erkennen Fachleute auf dem Gebiet, dass verschiedene Modifikationen,
Hinzufügungen
und Substitutionen möglich
sind, ohne von dem Schutzbereich und der Wesensart der Erfindung
abzuweichen, wie dieselbe in den zugehörigen Ansprüchen offenbart ist.