DE102006008464B4 - Eindruckeinrichtung - Google Patents

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Abstract

Eindruckeinrichtung (1), bei welcher vorgesehen sind: eine Halterung (15) zum Haltern eines Gegenstandskörpers (13); ein bewegbarer Körper (19), der weg von der Halterung (15) und nahe zu dieser bewegbar ist; ein Halter (43) zum Haltern einer Schablone (41), die dazu ausgebildet ist, ein Muster in den Gegenstandskörper (13) einzudrücken, wobei der Halter (43) eine Achse festlegt, sich steuerbar zur Halterung (15) entlang der Achse bewegen kann, und um die Achse verschwenkbar ist; ein Kugellager (45), das im Wesentlichen im Zentrum der unteren Oberfläche des bewegbaren Körpers (19) derart angebracht ist, dass das axiale Zentrum des Kugellagers (45) mit der Achse zusammenfällt, wobei das Kugellager (45) den Halter (43) schwenkbar um die Achse lagert; drei oder mehr Verstellgruppen, die an dem Halter (43) angebracht sind, und um die Achse in Abständen angeordnet sind, wobei jede der Verstellgruppen einen Stellantrieb (47A, 47B, 47C) in Kontakt mit dem Halter (43) aufweist, um den Halter zu verschwenken und um den Halter (43) in einer gewünschten Winkel-Orientierung bezüglich des Gegenstandskörpers (13) anzuordnen und die Winkel-Orientierung aufrechtzuerhalten, und eine Entfernungsmessvorrichtung (49A, 49B, 49C), die dazu ausgebildet ist, eine Entfernung zum Gegenstandskörper (13) zu messen, wobei die Stellantriebe (47A, 47B, 47C) und die Entfernungsmessvorrichtungen (49A, 49B, 49C) der drei oder mehr Verstellgruppen einander entsprechend angeordnet sind, wobei die Stellantriebe (47A, 47B, 47C) mit gleichmäßigen Abständen entlang eines Kreises, der um die Achse zentriert ist, angeordnet sind, wobei ein entsprechender Stellantrieb (47A, 47B, 47C) und eine entsprechende Entfernungsmessvorrichtung (49A, 49B, 49C) entgegengesetzt zueinander in Bezug auf die Achse angeordnet sind; und eine Steuerung, die dazu ausgebildet ist, Einstellspannungen zum Betrieb der Stellantriebe (47A, 47B, 47C) aus von den Entfernungsmessvorrichtungen (49A, 49B, 49C) gemessenen Werten zu berechnen, so dass die Orientierung dreidimensional gesteuert wird, um eine Parallelität zwischen der mit einem Muster versehenen Oberfläche der Schablone (41) und einer Oberfläche des Gegenstandskörpers (13) beizubehalten.

Description

  • BESCHREIBUNG
  • Die vorliegende Anmeldung beruht auf der früheren japanischen Patentanmeldung Nr. 2005-051757 (eingereicht am 25. Februar 2005) und beansprucht deren Priorität; der Gesamtinhalt dieser früheren Anmeldung wird durch Bezugnahme in die vorliegende Anmeldung eingeschlossen.
  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Eindruckeinrichtung zum Eindrücken eines Musters von einer Schablone in einen Gegenstandskörper, und spezieller eine Eindruckeinrichtung zum Eindrücken eines Musters von einer Schablone in einen Gegenstandskörper mit hoher Genauigkeit bezüglich der Parallelität zwischen der Schablone und dem Gegenstandskörper.
  • Die Vorgehensweise mit der Bezeichnung ”Nano-Eindruck” zur Ausbildung eines feinen Musters im Nanometerbereich auf einem Resist wurde in den vergangenen Jahren entwickelt. Bei dieser Vorgehensweise wird ein Negativmuster als Gegenstück für ein gewünschtes Muster auf dem Resist in ein Quarzsubstrat durch ein Elektronenstrahlschreibverfahren mit einer Auflösung im Nanometerbereich eingeschnitten, das als eine Schablone (oder ein Stempel) dient. Dann wird die Schablone auf das Resist mit einem vorbestimmten Druck gedrückt, um ein Positivmuster auf das Resist zu drucken. Auf diese Weise kann ein gewünschtes Muster mit Abmessungen im Nanometerbereich auf dem Resist hergestellt werden. Die Vorgehensweise des Nano-Eindruckens ist in folgendem Artikel beschrieben: ”Precision Engineering Journal of the International Societies for Precision Engineering and Nanotechnology, 25(2001) 192–199)”.
  • Bei dem voranstehend geschilderten Schritt des Eindruckens ist es wesentlich für eine exakte Ausbildung des Musters auf dem Resist, dass die Schablone eng und gleichmäßig gegen das Resist gedrückt wird. Es ist eine exakte Einstellung der Parallelität zwischen der Schablone und dem Resist erforderlich. Für ein enges und gleichmäßiges Drücken beschreibt der voranstehend erwähnte Artikel eine flexible Halterung, die ausreichend flexibel ist, um passiv die Orientierung der Schablone einzustellen, wenn die Schablone gegen einen Gegenstandskörper gedrückt wird. Allerdings ist die flexible Halterung in einem derartigen Fall nicht einsetzbar, in welchem der Druck zum Andrücken der Schablone relativ hoch ist, nämlich da die flexible Halterung so flexibel ist.
  • Vorbekannte Eindruckvorrichtungen ergeben sich aus der DE 201 22 196 U1 , der WO 2003/065120 A2 und der nicht vorveröffentlichten WO 2005/026837 A2 .
  • Vor diesem Hintergrund ist eine Eindruckeinrichtung wünschenswert, die einen Eindruck mit einem relativ hohen Druck durchführen kann.
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung ist eine Eindruckeinrichtung versehen mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1, insbesondere mit: einer Halterung zum Haltern eines Gegenstandskörpers; einem Halter zum Haltern einer Schablone, die so ausgebildet ist, dass sie ein Muster auf den Gegenstandskörper eindrückt, wobei der Halter eine Achse festlegt, und gesteuert zur Halterung entlang der Achse bewegbar ist, und sich um die Achse verschwenken kann; und drei oder mehr Verstellgruppen, die an dem Halter angebracht sind, und in Abständen um die Achse herum angeordnet sind, wobei jede der Stellgruppen einen Stellantrieb in Kontakt mit dem Halter aufweist, um den Halter zu verschwenken, und eine Entfernungsmessvorrichtung, die so ausgebildet ist, dass sie eine Entfernung zum Gegenstandskörper misst, wobei der Stellantrieb und die Entfernungsmessvorrichtung einander gegenüberliegend in Bezug auf die Achse angeordnet sind.
  • Vorteilhafte Weiterbildungen ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen.
  • Die Erfindung wird nachstehend anhand zeichnerisch dargestellter Ausführungsbeispiele näher erläutert, aus welchen weitere Vorteile und Merkmale hervorgehen. Es zeigt:
  • 1 eine schematische Darstellung einer Eindruckeinrichtung gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
  • 2 eine schematische Darstellung einer Beziehung zwischen Stellantrieben und Entfernungsmessvorrichtungen der Eindruckeinrichtung;
  • 3 ein Diagramm zur Erläuterung einer Eigenschaft der Entfernungsmessvorrichtung;
  • 4 eine erläuternde Darstellung der von den Entfernungsmessvorrichtungen durchgeführten Messung;
  • 5 eine erläuternde Darstellung einer Beziehung zwischen einem gemessenen Wert und einem kompensierten Wert;
  • 6 eine erläuternde Darstellung einer Anordnung der Stellantriebe; und
  • 7 eine erläuternde Darstellung einer Eindruckeinrichtung gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • Nunmehr wird auf 1 Bezug genommen. Eine Eindruckeinrichtung 1 gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist mit einem Gestell für die gesamte Konstruktion der Einrichtung versehen. Das Gestell 3 weist weiterhin ein oberes Gestell 5, ein unteres Gestell 7, und mehrere (typischerweise vier) Führungsstangen 9 auf. Die Führungsstangen 9, die auch als Zugstangen dienen, verlaufen in Vertikalrichtung und parallel zueinander. Das obere Gestell 5 und das untere Gestell 7 sind aneinander zu einem vereinigten Körper durch die parallelen Führungsstangen 9 befestigt. Ein bewegbarer Tisch 11 ist an dem unteren Gestell 7 angebracht, und kann glatt gesteuert in Richtungen senkrecht zu den Führungsstangen bewegt werden, nämlich in Horizontalrichtungen. Eine Halterung 15 zum Haltern eines Gegenstandskörpers 13 ist an dem bewegbaren Tisch 11 angebracht.
  • Ein so genannter X-Y-Tisch ist vorzugsweise bei dem bewegbaren Tisch 11 vorgesehen, der mit einem X-Tisch und einem Y-Tisch versehen ist, die sich jeweils in Richtung X bzw. Y senkrecht zueinander bewegen können, und mit einem X- und einem Y-Servomotor, welche jeweils gesteuert den X- bzw. Y-Tisch antreiben. Der X- und der Y-Tisch sind so übereinander angeordnet, dass der bewegbare Tisch 11 gesteuert in jede Horizontalrichtung bewegt werden kann. Da ein X-Y-Tisch allgemein bekannt ist, erfolgt keine detailliertere Beschreibung des bewegbaren Tisches 11. Der Gegenstandskörper 13 ist eine Platte, die aus einem Substrat aus einem geeigneten Material wie beispielsweise Silizium, Glas oder Keramik besteht, und einem Resist aus einem thermoplastischen Harz, das eine Dicke von einigen 10 nm bis mehreren μm aufweist, und auf das Substrat aufgebracht ist. Die Halterung 15 ist mit einer Heizvorrichtung 17 zum Erwärmen und daher Erweichen des Resists vorgesehen, beispielsweise mit einer Heizung.
  • Ein bewegbarer Körper 19 ist so vorgesehen, dass er die Führungsstange 9 überspannt, und der Halterung 15 zugewandt ist. Geeignete Lager, beispielsweise Kugellager, sind zwischen dem bewegbaren Körper 19 und den Führungsstangen 9 vorgesehen, um eine Bewegung des bewegbaren Körpers 19 entlang den Führungsstangen 9 zu ermöglichen. Hierdurch kann sich der bewegbare Körper 19 weg von der Halterung 15 und nahe zu dieser bewegen, wie ein Stempel in einer Pressmaschine. Das Gestell 3 ist mit einem Paar von Linearführungen 21 parallel zu den Führungsstangen 9 versehen. Ein Paar von Gleitstücken 23 bewegt sich gleitbeweglich entlang den Linearführungen 21, und ist an dem bewegbaren Körper 19 angebracht, um die Bewegung des bewegbaren Körpers 19 zu führen.
  • Im einzelnen wird, da die Eindruckeinrichtung 1 mit den vertikal bewegbaren Gleitstücken 23 und den mehreren parallelen Führungsstangen 9 versehen ist, verhindert, dass der bewegbare Körper 19 sich in Horizontalrichtung bewegt, und verschwenkt, und wird ermöglicht, dass er sich exakt unter Beibehaltung der Horizontallage in Vertikalrichtung bewegt.
  • Das obere Gestell 5 ist mit einem Antriebsmechanismus versehen, um den bewegbaren Körper 19 in Vertikalrichtung anzutreiben. Hydraulikmechanismen wie beispielsweise ein Hydraulikzylinder, Kurbelmechanismen und Gelenkmechanismen sind bevorzugte Beispiele für den Antriebsmechanismus, jedoch kann jeder Mechanismus, der einen steuerbaren, exakten Antrieb in Hin- und Herbewegung ermöglicht, als Antriebsmechanismus bei der vorliegenden Ausführungsform eingesetzt werden. Zur Vereinfachung der Beschreibung dient ein Kugelumlaufspindelmechanismus als Beispiel für den Antriebsmechanismus bei der Beschreibung der vorliegenden Ausführungsform.
  • Im Einzelnen ist der Kugelumlaufspindelmechanismus 25 an dem oberen Gestell 5 angebracht, so dass eine Antriebsstange 27 des Kugelumlaufspindelmechanismus 25 mit dem bewegbaren Körper 19 verbunden ist. Durch Drehen einer Antriebsmutter oder einer Antriebsspindel des Kugelumlaufspindelmechanismus 25 steigt die Antriebsstange 27 an oder senkt sich ab, um so steuerbar den bewegbaren Körper 19 anzutreiben. Ob die Antriebsmutter oder die Antriebsspindel gedreht wird, hängt von der Konstruktion des Kugelumlaufspindelmechanismus 25 ab, und ist in Bezug auf die vorliegende Erfindung nicht wesentlich.
  • Ein angetriebenes Rad 29 ist an der Antriebsmutter oder der Antriebsspindel des Kugelumlaufspindelmechanismus 25 angebracht. Das angetriebene Rad 29 ist mit einem Antriebsrad 35, das durch einen Servomotor 33 angetrieben wird, über einen Synchronriemen 37 verbunden, gehaltert durch das obere Gestell 5 über eine Stütze 31. Im Einzelnen treibt der Servomotor 33 den Kugelumlaufspindelmechanismus 25 über die Räder 29 und 35, den Synchronriemen 37 usw. an. Alternativ kann eine derartige Abänderung erfolgen, dass der Servomotor 33 direkt den Kugelumlaufspindelmechanismus 25 ohne irgendwelche Kraftübertragungsteile antreibt.
  • Wenn sich der Servomotor 33 in normaler oder entgegengesetzter Richtung gesteuert durch eine Steuerung 39 dreht, steigt daher der bewegbare Körper 19 in Vertikalrichtung steuerbar an oder sinkt entsprechend ab, entlang den Führungsstangen 9 und den Linearführungen 21. Die vertikale Position des bewegbaren Körpers 19 kann durch eine Detektorvorrichtung (nicht gezeigt) erfasst werden. Als Beispiele für derartige Detektorvorrichtungen lassen sich ein Drehdetektor wie beispielsweise ein Drehkodierer zur Erfassung einer Drehposition des Servomotors 33 oder eine Linearskala angeben, die parallel zur Linearführung 21 vorgesehen ist, um direkt die Vertikalposition zu erfassen Eine Halterplatte 43, an welcher eine Schablone 41 angebracht ist, ist schwenkbar durch eine untere Oberfläche des bewegbaren Körpers 19 gehaltert. Die untere Oberfläche des bewegbaren Körpers 19 weist im Wesentlichen in dessen Zentrum ein Kugellager 45 auf, auf solche Weise, dass das Zentrum in Axialrichtung des Kugellagers 45 mit dem Zentrum in Axialrichtung des Kugelumlaufspindelmechanismus 25 zusammenfällt. Das Kugellager 45 ermöglicht eine schwenkbare Halterung der Halterplatte 43. Das Kugellager 45 kann einen üblichen Aufbau aufweisen, und stellt einen geringen Reibungswiderstand und extrem kleines Spiel sicher.
  • Die Schablone 41 besteht beispielsweise aus Silizium, Glas oder irgendeiner Keramik, und weist ein feines Muster zum Eindrücken in einen Gegenstandskörper auf. Das Muster wird beispielsweise durch ein Elektronenstrahlschreibverfahren mit einer Auflösung im Nanometerbereich hergestellt.
  • Zum Zeitpunkt des Eindruckens des Musters auf dem Gegenstandskörper 13 durch die Schablone 41 wird ein Auslenkwinkel der Halterplatte 43 so eingestellt, dass Parallelität zwischen der mit einem Muster versehenen Oberfläche der Schablone 41 und einer Oberfläche des Gegenstandskörpers 13 eingestellt wird. Aus diesem Grund sind drei oder mehr Stellantriebe 47A, 47B und 47C zwischen dem bewegbaren Körper 19 und der Halterplatte 43 vorgesehen. Die Stellantriebe 47A, 47B und 47C sind jeweils mit mehreren piezoelektrischen Elementen (elektrostriktiven Elementen) oder magnetostriktiven Elementen versehen. Durch Anlegen jeweils gesteuerter Spannungen führen die Stellantriebe 47A, 47B und 47C jeweils eine kontrollierte, kleine Verformung aus. Die Stellantriebe 47A, 47B und 47C sind in gleichen Abständen entlang einem Kreis mit dem Zentrum im Zentrum des Kugellagers 45 angeordnet, wie in 2 gezeigt ist.
  • Die kleinen Verformungen der Stellantriebe 47A, 47B und 47C, die durch die jeweilige angelegte Spannung gesteuert werden, führen zu einer Auslenkung der Halterplatte 43, die zum Zentrum des Kugellagers 45 zentriert ist. Durch ordnungsgemäße Einstellung der Verformungen der Stellantriebe 47A, 47B und 47C durch die angelegten Spannungen wird daher die Orientierung der Halterplatte 43 ordnungsgemäß eingestellt, um so die Parallelität zwischen der mit einem Muster versehenen Fläche der Schablone 41 und der Oberfläche des Gegenstandskörpers 13 einzustellen.
  • Zur Einstellung der Parallelität sind Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C jeweils entsprechend den Stellantrieben 47A, 47B und 47C und diesen zugewandt angeordnet. Im einzelnen sind die Stellantriebe 47A, 47B und 47C und die Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C jeweils paarweise vorgesehen, wobei jedes Paar als eine Verstellgruppe zur Einstellung der Orientierung der Halterplatte 43 dient. Die Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C sind jeweils so ausgebildet, dass sie die Entfernung von der jeweiligen Vorrichtung selbst zur Oberfläche des Gegenstandskörpers 13 messen. Bei den Entfernungsmessvorrichtungen können beispielsweise Reflexions-CCD-Verschiebungssensoren mit hoher Auflösung vorzugsweise eingesetzt werden.
  • Ein CCD-Verschiebungssensor erfasst eine Verschiebungsentfernung gegenüber einem bestimmten Punkt als Messzentrum L0, und gibt die gemessene Entfernung als ein Analogsignal aus, das in einer linearen Beziehung zur gemessenen Entfernung innerhalb eines begrenzten Bereiches steht, wie in 3 gezeigt ist. Ein im Handel erhältlicher Sensor mit der Handelsbezeichnung ”Z300-S10” (OMRON Corporation) kann vorzugsweise hier eingesetzt werden. Da dieser CCD-Verschiebungssensor eine Verschiebung mit einer Auflösung von 1 μm erfassen kann, kann die Entfernung zwischen einem bestimmten Punkt auf der Oberfläche des Gegenstandskörpers 13 und der mit einem Muster versehenen Oberfläche der Schablone 41 durch diesen Sensor mit einer Auflösung von 1 μm gemessen werden.
  • Die Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C sind jeweils so angeordnet, dass sie die Kompensationsgröße bestimmen, die zum Einstellen der Stellantriebe 47A, 47B und 47C benötigt wird. Bei der einfachsten Anordnung können die Entfernungsmessvorrichtungen jeweils zu den Stellantrieben ausgerichtet sein. Um jedoch eine gegenseitige Störung durch die Abmessungen zwischen den Entfernungsmessvorrichtungen und den Stellantrieben zu verhindern, können die Entfernungsmessvorrichtungen von derartigen, ausgerichteten Positionen abweichen. Gemäß der vorliegenden Ausführungsform sind die Stellantriebe 47A, 47B und 47C und die Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C so angeordnet, wie dies in 2 gezeigt ist. In der Aufsicht ist jede der Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C auf einer geraden Linie angeordnet, die durch das Zentrum des entsprechenden Stellantriebs 47A, 47B bzw. 47C und das Zentrum des Kugellagers 45 hindurchgeht, und entgegengesetzt zum entsprechenden Stellantrieb 47A, 47B oder 47C in Bezug auf das Zentrum des Kugellagers 45. Die Anordnung der Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C muss nicht ungedingt exakt sein, und kann in gewissem Ausmaß eine Abweichung von der exakten Anordnung zeigen.
  • Im einzelnen befindet sich jede der Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C in einem Bereich entgegengesetzt zum entsprechenden Stellantrieb 47A, 47B oder 47C in Bezug auf eine Linie senkrecht zum Zentrum der Schwenkbewegung der Halterplatte 43, nämlich dem Zentrum des Kugellagers 45.
  • Wenn Entfernungen von den Vorrichtungen 49A, 49B und 49C zu entsprechenden Punkten auf der Oberfläche des Gegenstandskörpers 13 mit Hilfe der Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C gemessen werden, werden Spannungen für einen Verschiebungsbefehl zum Einstellen der Stellantriebe 47A, 47B und 47C jeweils an diese angelegt, so dass die Verformungen der Stellantriebe 47A, 47B und 47C fein abgestimmt eingestellt werden. Daher wird die Orientierung der mit einem Muster versehenen Oberfläche der Schablone 41 so eingestellt, dass die Parallelität zwischen der mit einem Muster versehenen Oberfläche der Schablone 41 und der Oberfläche des Gegenstandskörpers 13 fein abgestimmt eingestellt wird.
  • Zum Zeitpunkt der Durchführung der Entfernungsmessung werden Entfernungen in Bezug auf das Messzentrum L0 gemessen. Unter der Voraussetzung, dass die Werte der Entfernungen zur Oberfläche des Gegenstandskörpers 13, die von den Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C gemessen werden, jeweils mit L1, L2 bzw. L3 (siehe 4) bezeichnet sind, werden Kompensationsgrößen, die zur Einstellung der Parallelität an den Punkten benötigt werden, an weichen die Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C angeordnet sind, jeweils als Differenz gegenüber dem Messzentrum L0 erhalten, also als (L1 – L0), (L2 – L0) und (L3 – L0).
  • Die voranstehend erwähnten Kompensationsgrößen müssen in jene an den Punkten umgewandelt werden, an welchen die Stellantriebe 47A, 47B und 47C angeordnet sind, da die Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C jeweils von den Stellantrieben 47A, 47B und 47C abweichen. Der Verlauf der Stellantriebe 47A, 47B und 47C führt zu einer Verringerung der Entfernungen von entsprechenden Punkten auf der mit einem Muster versehenen Oberfläche der Schablone 41 zur Oberfläche des Gegenstandskörpers 13. Da jede der Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C entgegengesetzt zum entsprechenden Stellantrieb 47A, 47B bzw. 47C in Bezug auf das Zentrum des Kugellagers 45 wie voranstehend geschildert angeordnet ist, führt der Verlauf der Stellantriebe 47A, 47B und 47C zu einer Vergrößerung der Entfernungen von der jeweiligen Entfernungsmessvorrichtung 49A, 49B und 49C zur Oberfläche des Gegenstandskörpers 13. Diese Situation ist in 5 dargestellt. Die Kompensationsgrößen l1, l2 und l3, die zur Einstellung der Parallelität an den Punkten benötigt werden, an weichen die Stellantriebe 47A, 47B und 47C angeordnet sind, werden jeweils auf folgende Art und Weise umgewandelt.
  • Zur Erleichterung der Berechnung der Umwandlung erfolgt die folgende Beschreibung auf Grundlage der Annahme, dass die obere Oberfläche der Halterplatte 43 und das Drehzentrum des Kugellagers 45 in derselben Ebene in einer Anfangsstufe liegen, bei welcher keine Spannung an die Stellantriebe angelegt ist. Weiterhin wird ein räumliches X-Y-Z-Koordinatensystem mit seinem Ursprung im Drehzentrum des Kugellagers 45 vorausgesetzt, wie in 6 gezeigt ist. Hierbei bezeichnen Punkte P1, P2 und P3 Kontaktpunkte zwischen den Stellantrieben 47A, 47B und 47C und der Halterplatte 43. Der Teilkreis der Punkte P1, P2 und P3 weist einen Radius R auf.
  • Unter der Voraussetzung, dass die an die Stellantriebe 47A, 47B und 47C angelegten Spannungen jeweils zu deren Verschiebung Δ1, Δ2 bzw. Δ3 führen, ergeben sich die jeweiligen Koordinaten P1, P2 und P3 an den Enden von deren Spitzen in dem X-Y-Z-Koordinatensystem folgendermaßen. P1 = (–R, 0, Δ1) P2 = (R/2, √3/2R, Δ2) P3 = (R/2, –√3/2R, Δ3)
  • Ebenen zentriert zum Ursprung O werden durch folgende Gleichung repräsentiert: ax + by + cz = 0
  • Da die Enden der Spitzen in der Ebene liegen, lassen sich folgende Gleichungen aufstellen: –aR + cΔ1 = 0 (2) aR/2 + b√3/2 × R + cΔ2 = 0 (3) aR/2 – b√3/2 × R + cΔ3 = 0 (4)
  • Setzt man Gleichung (2) in die Gleichungen (3) und (4) ein, so erhält man: cΔ1/2 + b√3/2 × R + cΔ2 = 0 (5) cΔ2/2 – b√3/2 × R + cΔ3 = 0 (6)
  • Die Addition von Gleichung (5) zur Gleichung (6) ergibt: c(Δ1 + Δ2 + Δ3) = 0 (7)
  • Daher müssen Δ1, Δ2 und Δ3 folgende Beziehung erfüllen: Δ1 + Δ2 + Δ3 = 0 (8)
  • Nimmt man an, dass die gewünschten Größen l1, l2 und l3, die sich aus dem Zustand der Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C ergeben, addiert zu einem Offset Δ, jeweils gleich Δ1, Δ2 bzw. Δ3 sind, so erhält man folgende Gleichungen: Δ1 = l1 + Δ Δ2 = l2 + Δ Δ3 = l3 + Δ (9)
  • Durch Einsetzen der Gleichungen (9) in die Gleichung (8) ergibt sich l1 + l2 +l3 + 3Δ = 0, und daher:
    Figure DE102006008464B4_0002
  • Daher erhält man die Verstellungen oder Verschiebungen Δ1, Δ2 und Δ3, die bei den Stellantrieben 47A, 47B und 47C hervorgerufen werden sollen, folgendermaßen:
    Figure DE102006008464B4_0003
  • Wenn Spannungen proportional zu diesen Werten an die Stellantriebe 47A, 47B und 47C angelegt werden, wird die Schablone 41 ordnungsgemäß ausgerichtet, um so die Parallelität einzustellen.
  • Die Steuerung 39 führt die voranstehend geschilderten Berechnungen durch.
  • Die Einstellung der Parallelität erfolgt folgendermaßen. Der Servomotor 33 treibt den bewegbaren Körper 19 so, dass er gesteuert durch die Steuerung 39 absinkt, so dass die Messzentren L0 der Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C im Wesentlichen mit der oberen Oberfläche des Gegenstandskörpers 13 übereinstimmen. Dann werden die Entfernungen zur oberen Oberfläche des Gegenstandskörpers 13 jeweils durch die Entfernungsmessvorrichtungen 49A, 49B und 49C gemessen, und werden die gemessenen Werte L1, L2 und L3 der Steuerung 39 zugeführt. Dann werden hieraus die benötigten Spannungen V1, V2 und V3 wie voranstehend geschildert berechnet, und an die Stellantriebe 47A, 47B und 47C angelegt. Hierdurch wird die Halterplatte 43 gesteuert so ausgerichtet, dass die Parallelität zwischen der mit einem Muster versehenen Oberfläche der Schablone 41 und der oberen Oberfläche des Gegenstandskörpers 13 hergestellt wird.
  • Nach Einstellung der Parallelität wie voranstehend geschildert, wobei die Ausrichtung der Schablone 41 in diesem Zustand gehalten wird, wird die Schablone 41 gegen ein Resist auf der oberen Oberfläche des Gegenstandskörpers 13 gedrückt. Das Resist wird vorzugsweise mit Hilfe der Heizvorrichtung 17 vorher so erwärmt, dass es erweicht wird. Dann wird der Gegenstandskörper 13 abgekühlt, damit das Resist aushärtet, und dann wird die Schablone 41 von dem Gegenstandskörper 13 getrennt. Hierdurch wird ein feines Muster von der mit einem Muster versehenen Oberfläche der Schablone 41 in den Gegenstandskörper 13 als Eindruck eingedrückt.
  • Die Steuerung 39 ist vorzugsweise mit einer Speichervorrichtung für die gemessenen Werte L1, L2 und L3 und die Kompensationsspannungen V1, V2 und V3 versehen. Wenn die Steuerung 39 wieder aktiv wird, kann die Orientierung der Schablone 41 aus den gespeicherten Daten wieder hergestellt werden. Daher kann das Eindrucken durch die Schablone 41 wiederholt und stabil unter gleich bleibenden Bedingungen durchgeführt werden, bis die Schablone 41 ausgetauscht wird.
  • Die voranstehende Beschreibung erfolgt auf Grundlage eines Falles, bei weichem das thermoplastische Resist auf dem Gegenstandskörper 13 so erwärmt wurde, dass es weich wurde, und dann das Eindrucken durchgeführt wurde. Allerdings kann die vorliegende Erfindung auch in einem Fall eingesetzt werden, in welchem ein unter Ultraviolettstrahlung aushärtendes Resist eingesetzt wird. In diesem Fall ist vorzuziehen, dass die Schablone 41 lichtdurchlässig ausgebildet ist, und eine Lichtquelle 51 an der Halterplatte 43 angebracht ist. Alternativ können eine Lichtquelle 51 und eine optische Führungsvorrichtung zum Leiten von Licht der Lichtquelle in Kombination vorhanden sein.
  • Anstelle der voranstehend geschilderten CCD-Verschiebungssensoren können beispielsweise Laserverschiebungssensoren, LED-Verschiebungssensoren, Ultraschallsensoren oder Kontaktverschiebungssensoren bei den Entfernungsmessvorrichtungen 47A, 47B und 47C eingesetzt werden. Weiterhin erfolgte voranstehend eine Beschreibung einer aufrechten Eindruckeinrichtung, jedoch kann die Eindruckeinrichtung auch so ausgebildet und eingesetzt sein, dass sie eine horizontale Einrichtung ist.
  • Wie aus der voranstehenden Beschreibung deutlich geworden sein sollte, kann die Eindruckeinrichtung gemäß der vorliegenden Ausführungsform der vorliegenden Erfindung die Schablone eng und gleichmäßig gegen den Gegenstandskörper drücken. Da die Einrichtung keinen flexiblen Halter aufweist, kann ein relativ hoher Druck beim Eindrucken eingesetzt werden, und wird dennoch die Genauigkeit nicht beeinträchtigt. Darüber hinaus kann ein exaktes Eindrucken unabhängig von der Materialqualität des Gegenstandskörpers und davon durchgeführt werden, ob dieser weich oder hart ist.
  • Fachleuten auf diesem Gebiet werden leicht zusätzliche Vorteile und Abänderungen einfallen. Daher ist die Erfindung in ihren breiteren Aspekten nicht auf die speziellen Einzelheiten und reprasentativen Ausführungsformen beschränkt, die hier dargestellt und beschrieben wurden. Daher können verschiedene Abänderungen vorgenommen werden, ohne vom Wesen und Umfang der Erfindung abzuweichen, die sich aus der Gesamtheit der vorliegenden Anmeldeunterlagen ergeben und von den beigefügten Patentansprüchen umfasst sein sollen.

Claims (6)

  1. Eindruckeinrichtung (1), bei welcher vorgesehen sind: eine Halterung (15) zum Haltern eines Gegenstandskörpers (13); ein bewegbarer Körper (19), der weg von der Halterung (15) und nahe zu dieser bewegbar ist; ein Halter (43) zum Haltern einer Schablone (41), die dazu ausgebildet ist, ein Muster in den Gegenstandskörper (13) einzudrücken, wobei der Halter (43) eine Achse festlegt, sich steuerbar zur Halterung (15) entlang der Achse bewegen kann, und um die Achse verschwenkbar ist; ein Kugellager (45), das im Wesentlichen im Zentrum der unteren Oberfläche des bewegbaren Körpers (19) derart angebracht ist, dass das axiale Zentrum des Kugellagers (45) mit der Achse zusammenfällt, wobei das Kugellager (45) den Halter (43) schwenkbar um die Achse lagert; drei oder mehr Verstellgruppen, die an dem Halter (43) angebracht sind, und um die Achse in Abständen angeordnet sind, wobei jede der Verstellgruppen einen Stellantrieb (47A, 47B, 47C) in Kontakt mit dem Halter (43) aufweist, um den Halter zu verschwenken und um den Halter (43) in einer gewünschten Winkel-Orientierung bezüglich des Gegenstandskörpers (13) anzuordnen und die Winkel-Orientierung aufrechtzuerhalten, und eine Entfernungsmessvorrichtung (49A, 49B, 49C), die dazu ausgebildet ist, eine Entfernung zum Gegenstandskörper (13) zu messen, wobei die Stellantriebe (47A, 47B, 47C) und die Entfernungsmessvorrichtungen (49A, 49B, 49C) der drei oder mehr Verstellgruppen einander entsprechend angeordnet sind, wobei die Stellantriebe (47A, 47B, 47C) mit gleichmäßigen Abständen entlang eines Kreises, der um die Achse zentriert ist, angeordnet sind, wobei ein entsprechender Stellantrieb (47A, 47B, 47C) und eine entsprechende Entfernungsmessvorrichtung (49A, 49B, 49C) entgegengesetzt zueinander in Bezug auf die Achse angeordnet sind; und eine Steuerung, die dazu ausgebildet ist, Einstellspannungen zum Betrieb der Stellantriebe (47A, 47B, 47C) aus von den Entfernungsmessvorrichtungen (49A, 49B, 49C) gemessenen Werten zu berechnen, so dass die Orientierung dreidimensional gesteuert wird, um eine Parallelität zwischen der mit einem Muster versehenen Oberfläche der Schablone (41) und einer Oberfläche des Gegenstandskörpers (13) beizubehalten.
  2. Eindruckeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Halter (43) eine Heizvorrichtung (17) zum Erwärmen des Gegenstandskörpers (13) aufweist.
  3. Eindruckeinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch einen leuchtenden Körper zum Beleuchten der Schablone (41), wobei der leuchtende Körper aus der Gruppe ausgewählt ist, die eine an dem Halter (43) angebrachte Lichtquelle (51) und eine optische Führungsvorrichtung umfasst, die an dem Halter (43) befestigt ist, um Licht von einer externen Lichtquelle zu leiten.
  4. Eindruckeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass jeder der Stellantriebe (47A, 47B, 47C) aus der Gruppe ausgewählt ist, welche ein piezoelektrisches Element und ein magnetostriktives Element umfasst.
  5. Eindruckeinrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Entfernungsmessvorrichtungen (49A, 49B, 49C) einen CCD-Verschiebungssensor aufweist, einen Laserverschiebungssensor, einen LED-Verschiebungssensor, einen Ultraschallsensor, oder einen Kontaktverschiebungssensor.
  6. Eindruckeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Berechnung der Einstellspannungen die Berücksichtigung einer Abweichung zwischen einem Ort jeder der Entfernungsmessvorrichtungen (49A, 49B, 49C) und einem Ort eines entsprechenden Stellantriebs (47A, 47B, 47C) aufweist.
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Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4700996B2 (ja) * 2005-04-19 2011-06-15 東芝機械株式会社 転写装置
US7648354B2 (en) * 2005-04-28 2010-01-19 Toshiba Kikai Kabushiki Kaisha Transfer apparatus having gimbal mechanism and transfer method using the transfer apparatus
JP4729338B2 (ja) * 2005-05-10 2011-07-20 東芝機械株式会社 転写装置
JP4596981B2 (ja) * 2005-05-24 2010-12-15 株式会社日立ハイテクノロジーズ インプリント装置、及び微細構造転写方法
JP4701008B2 (ja) 2005-05-25 2011-06-15 東芝機械株式会社 ジンバル機構を備えた転写装置
US8025829B2 (en) * 2006-11-28 2011-09-27 Nanonex Corporation Die imprint by double side force-balanced press for step-and-repeat imprint lithography
KR100843342B1 (ko) 2007-02-12 2008-07-03 삼성전자주식회사 Uv 나노 임프린트 리소그래피 수행 공정 및 장치
GB2457269A (en) * 2008-02-07 2009-08-12 Jbs Process Enginerrng Ltd A press for compressing tortilla
US8795572B2 (en) * 2008-04-17 2014-08-05 Massachusetts Institute Of Technology Symmetric thermocentric flexure with minimal yaw error motion
US8210840B2 (en) * 2008-04-17 2012-07-03 Massachusetts Institute Of Technology Diaphragm flexure with large range and high load capacity
DE102009038108A1 (de) * 2009-06-25 2010-12-30 Bpe E.K. Verfahren zum Aufbringen von mikro-und/oder nanogroßen Strukturen auf feste Körper
FR2951106B1 (fr) * 2009-10-08 2012-01-06 S E T Presse a tete articulee
DE102010007970A1 (de) * 2010-02-15 2011-08-18 Suss MicroTec Lithography GmbH, 85748 Verfahren und Vorrichtung zum aktiven Keilfehlerausgleich zwischen zwei im wesentlichen zueinander parallel positionierbaren Gegenständen
KR101007050B1 (ko) * 2010-04-30 2011-01-12 황진성 열 프레스 각인기 및 이를 이용한 각인방법
FR2965495B1 (fr) * 2010-10-01 2013-08-02 Commissariat Energie Atomique Dispositif d'estampage et/ou de percage comprenant une tete support de substrat dont l'orientation est commandee en continu
KR101110420B1 (ko) * 2011-02-16 2012-02-24 한국기계연구원 기판 정렬 모듈 및 이를 구비하는 리소그래피 장치
JP2013230017A (ja) * 2012-04-26 2013-11-07 Seiko Epson Corp 搬送装置、電子部品搬送装置および電子部品検査装置
WO2014052777A1 (en) 2012-09-27 2014-04-03 North Carolina State University Methods and systems for fast imprinting of nanometer scale features in a workpiece
JP6116937B2 (ja) * 2013-02-28 2017-04-19 公立大学法人大阪府立大学 パターン形成装置およびそれを用いたパターン形成方法
JP6370539B2 (ja) * 2013-09-13 2018-08-08 公立大学法人大阪府立大学 パターン形成装置およびそれを用いたパターン形成方法
CN104712616B (zh) * 2013-12-12 2017-04-12 上海旭恒精工机械制造有限公司 内循环高速液压***、液压平台及液压平台组件
KR101567192B1 (ko) * 2014-02-28 2015-11-06 (주)케이딧 타각장치
JP2018069501A (ja) * 2016-10-26 2018-05-10 ローランドディー.ジー.株式会社 加飾装置及び加飾方法
CN106547175B (zh) * 2017-01-22 2019-08-09 青岛天仁微纳科技有限责任公司 一种精密对准式纳米压印设备
KR102152070B1 (ko) * 2017-07-04 2020-09-04 주식회사 리텍 변위 센서를 이용하여 기판의 표면을 평탄화하기 위한 장치 및 그 방법
TWI633644B (zh) * 2017-08-17 2018-08-21 矽品精密工業股份有限公司 打印設備
US11911989B2 (en) 2018-12-19 2024-02-27 Promess, Inc. Press frame assembly
CN112046069B (zh) * 2020-08-25 2022-05-17 东北电力大学 基于模态驱动的蛛网型热压机平台配平装置及其配平方法
CN113787276A (zh) * 2021-09-30 2021-12-14 苏州艾科瑞思智能装备股份有限公司 一种自适应调整水平度的封装机焊头

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003065120A2 (en) * 2002-01-11 2003-08-07 Massachusetts Institute Of Technology Microcontact printing
DE20122196U1 (de) * 2000-10-12 2004-09-16 Board of Regents, The University of Texas System, Austin Schablone für Niederdruck-Mikro- und -Nanoprägelithographie bei Raumtemperatur
WO2005026837A2 (de) * 2003-09-11 2005-03-24 Carl Zeiss Nts Gmbh Stempellithografieverfahren sowie vorrichtung und stempel für die stempellithografie

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4879676A (en) 1988-02-29 1989-11-07 Mips Computer Systems, Inc. Method and apparatus for precise floating point exceptions
JPH03101409U (de) * 1990-02-05 1991-10-23
JPH04146092A (ja) * 1990-10-05 1992-05-20 Toshiba Corp 非接触ハンドリング装置およびその方法
JP3633828B2 (ja) * 1999-05-20 2005-03-30 株式会社ミツトヨ 構造体の制御方式
US6873087B1 (en) * 1999-10-29 2005-03-29 Board Of Regents, The University Of Texas System High precision orientation alignment and gap control stages for imprint lithography processes
JP3588633B2 (ja) * 2001-09-04 2004-11-17 独立行政法人産業技術総合研究所 インプリントリソグラフィー用移動ステージ
EP1573395A4 (de) * 2002-08-01 2010-09-29 Molecular Imprints Inc Streuungsmessausrichtung für die drucklithographie
KR20040033482A (ko) * 2002-10-14 2004-04-28 현대모비스 주식회사 차량의 비상등 자동점멸장치
US6871558B2 (en) * 2002-12-12 2005-03-29 Molecular Imprints, Inc. Method for determining characteristics of substrate employing fluid geometries
JP2004259985A (ja) * 2003-02-26 2004-09-16 Sony Corp レジストパターン形成装置およびその形成方法、および、当該方法を用いた半導体装置の製造方法
TW568349U (en) * 2003-05-02 2003-12-21 Ind Tech Res Inst Parallelism adjusting device for nano-transferring
US6977461B2 (en) * 2003-12-15 2005-12-20 Asml Netherlands B.V. System and method for moving an object employing piezo actuators
JP2005288672A (ja) * 2004-04-06 2005-10-20 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 微小構造体の製造方法及び製造装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE20122196U1 (de) * 2000-10-12 2004-09-16 Board of Regents, The University of Texas System, Austin Schablone für Niederdruck-Mikro- und -Nanoprägelithographie bei Raumtemperatur
WO2003065120A2 (en) * 2002-01-11 2003-08-07 Massachusetts Institute Of Technology Microcontact printing
WO2005026837A2 (de) * 2003-09-11 2005-03-24 Carl Zeiss Nts Gmbh Stempellithografieverfahren sowie vorrichtung und stempel für die stempellithografie

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
CHOI, B.J. et al: Design of orientation stages for step and flash imprint lithography. In: Precision Engineering Journal of the International Societies for Precision Engineering and Nanotechnology, 25, 2001, 192-199. *

Also Published As

Publication number Publication date
JP4500183B2 (ja) 2010-07-14
TWI348181B (en) 2011-09-01
US20060193938A1 (en) 2006-08-31
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JP2006237395A (ja) 2006-09-07
KR20060094908A (ko) 2006-08-30

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