CN220691081U - 一种测试治具 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种测试治具，涉及生物识别模组的测试技术领域，包括支架和测试电路板，其中，测试电路板设置于支架，并且在支架上设置有测试工位，以此，方便在测试时，由测试工位来容置待测指纹模组，并且使得测试电路板的第一连接位与待测指纹模组中用于接地的结构件电连接，由此，在测试时，可以适时的向待测指纹模组中的结构件施加测试电流，从而由测试电路板对结构件上的电流值或阻抗进行检测从而判断其接地性能是否满足预定要求。

Description

一种测试治具

技术领域

本申请涉及生物识别模组的测试技术领域，具体而言，涉及一种测试治具。

背景技术

随着技术的革新，电子领域出现了很多新类型的产品，并且对于电子产品满足复杂使用环境的要求也越来越严苛，所以现在的电子产品可靠性测试标准也越来越高，尤其是对于静电防护的可靠性，这就要求电子产品在结构设计上需要有更好的接地设计，因此，接地性能的好坏直接影响整个产品的静电可靠性，相应的，为了评估电子产品的接地性能，也需要有相应的接地测试手段。

现有指纹模组经过多次结构的更新迭代后，形成指纹模组内结构件接地的方案，但与这种新结构的指纹模组匹配的测试治具还并未出现，因此，急需一种新的测试治具对其进行接地性能的测试。

实用新型内容

本申请的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种测试治具。

为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

本申请实施例的一方面，提供一种测试治具，用于测试指纹模组，包括具有测试工位的支架，测试工位用于容置待测指纹模组，在支架上设置有测试电路板，测试电路板靠近待测指纹模组的一侧具有第一连接位，测试电路板经第一连接位与待测指纹模组中用于接地的结构件电连接。

可选的，测试电路板的第二连接位与待测指纹模组中的模组电路板电连接，以使结构件依次经模组电路板和测试电路板接地。

可选的，测试电路板的第二连接位具有第二触点，第二触点经导电件与模组电路板电连接。

可选的，测试电路板的第一连接位具有第一触点，第一触点经导电件与结构件电连接。

可选的，测试工位和测试电路板位于支架的不同侧，在支架上开设有测试通道，测试通道的一端延伸至测试工位，测试通道的另一端延伸至测试电路板的第一触点，连接至第一触点的导电件穿设于测试通道。

可选的，导电件为弹性导电件，弹性导电件的一端固定于测试电路板，弹性导电件的另一端与待测指纹模组抵接。

可选的，弹性导电件为探针。

可选的，弹性导电件的数量为至少一个。

可选的，在支架上设置有与待测指纹模组外形适配的凹槽，凹槽作为测试工位。

可选的，在凹槽的侧壁上开设有与待测指纹模组中的模组电路板适配的避让通道，模组电路板经避让通道穿出。

可选的，测试治具还包括抵持件，抵持件用于与支架配合夹持待测指纹模组。

本申请的有益效果包括：

本申请提供了一种测试治具，包括支架和测试电路板，其中，测试电路板设置于支架，并且在支架上设置有测试工位，以此，方便在测试时，由测试工位来容置待测指纹模组，并且使得测试电路板的第一连接位与待测指纹模组中用于接地的结构件电连接，由此，在测试时，可以适时的向待测指纹模组中的结构件施加测试电流，从而由测试电路板对结构件上的电流值或阻抗进行检测从而判断其接地性能是否满足预定要求。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的一种通过结构件接地的指纹模组的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的一种测试治具的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的一种测试治具测试指纹模组的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的另一种测试治具测试指纹模组的结构示意图。

图标：110-支架；111-测试工位；112-测试通道；113-避让通道；114-凹陷部；120-测试电路板；121-第一连接位；122-第二连接位；123-第一触点；124-第二触点；130-螺钉；141-第一导电件；142-第二导电件；200-待测指纹模组；210-环形框；220-盖板；230-芯片；240-第一导电胶；250-模组电路板；251-连接器；260-第二导电胶；270-补强片；280-垫层；290-第三导电胶。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例中的各个特征可以相互结合，结合后的实施例依然在本申请的保护范围内。

在本申请的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该申请产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本申请的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

随着技术的发展，指纹模组的结构也会经过多次更新，从而产生出具有新型接地方案的指纹模组，该类型的指纹模组主要通过结构件实现接地，从而达到静电防护的效果，需要理解的是，结构件即为指纹模组中用于承受载荷且提供支撑强度的构件，并且为了满足接地需求，结构件的材质应当具有导电能力，例如金属等，只要其能够具有一定的导电能力和较好的强度即可。

为便于理解，请参照图1，示出了一种通过结构件接地的指纹模组，其包括环形框210以及安装至环形框210的指纹模块，环形框210作为指纹模块的载体，并对其提供保护，同时，环形框210也能够作为指纹模组的外观件，指纹模块可以用于实现目标物的指纹、掌纹等特征的采集。请继续参照图1，指纹模块包括模组电路板250以及层叠至模组电路板250上的芯片230，即指纹传感器，芯片230与模组电路板250电连接，当然，本申请对于两者之间的电连接方式不做要求，例如可以是通过第一导电胶240电连接(图1中所示)，也可以是用锡膏等通过表面贴装工艺电连接。模组电路板250可以是柔性电路板、硬质电路板、软硬结合板等形式，本申请对其不做要求。

在此基础上，为了提高指纹模组的强度，如图1所示，还可以在模组电路板250背离芯片230的一侧设置补强片270。由此，在配置指纹模组的接地时，可以使得补强片270经第二导电胶260与模组电路板250电连接(当然，本申请对于两者之间的电连接方式不做要求，例如还可以是用锡膏等通过表面贴装工艺电连接)，具体的，可以是补强片270与模组电路板250中的接地电路连接，环形框210则与补强片270电连接，由此，也使得环形框210接地，同样，本申请对于环形框210和补强片270的电连接方式不做要求，例如可以是通过激光电焊或第三导电胶290(图1中所示)电连接。因此，前述的指纹模组中的结构件可以是环形框210或补强片270。

此外，如图1所示，为了提高指纹模组的使用寿命，还可以在芯片230背离模组电路板250的一侧设置盖板220或涂层，以便提供保护，避免目标物直接与芯片230接触。在模组电路板250上可以设置有连接器251，方便指纹模组与外部设备进行连接，实现信息交互以及接地。在补强片270背离模组电路板250的一侧还可以设置有垫层280，方便指纹模组在安装于电子设备中时，通过垫层280与电子设备中的开关模块对应，从而在指纹模组受外力按压时，由垫层280按压开关模块从而切换开关模块的开关状态。为了避免按压时的硬接触，垫层280还可以具有弹性，其材质可以是硅胶、橡胶等。垫层280可以通过水胶、胶膜、泡棉等任一方式固定至补强片270。

需要理解的是，本申请对于通过结构件接地的指纹模组的具体结构不做要求，换言之，通过结构件接地的指纹模组可以是图1所示的指纹模组，也可以是与其相似的变形方案等。

为了实现上述指纹模组的性能测试，如图2所示，本申请实施例的一方面，提供一种测试治具，包括支架110和测试电路板120，其中，测试电路板120设置于支架110，并且在支架110上设置有测试工位111，以此，方便在测试时，由测试工位111来容置待测指纹模组200，测试电路板120靠近待测指纹模组200的一侧具有第一连接位121，并且使得测试电路板120的第一连接位121与待测指纹模组200中用于接地的结构件电连接，从而方便通过测试电路板120对结构件的接地性能进行测试。

为了便于进行待测指纹模组200的接地性能测试，可以在测试时，适时的向待测指纹模组200中的结构件施加测试电流，从而由测试电路板120对结构件上的电流值或阻抗进行检测从而判断其接地性能是否满足预定要求。其中，施加测试电流的主体可以是外部电源，也可以是测试治具中所包括的测试电源，本申请对其不做具体限制。

测试电路板120的第一连接位121与结构件进行电连接时，结构件可以是图1所示的指纹模组中的环形框210，也可以是补强片270，例如图3所示：测试电路板120的第一连接位121与环形框210电连接，又例如图4所示，测试电路板120的第一连接位121与补强片270电连接，由此，在向待测指纹模组200中的结构件施加测试电流时，就能够由测试电路板120对结构件上的电流值或阻抗进行检测从而判断其接地性能是否满足预定要求，同时，也能够初步反映出环形框210和补强片270之间的电连接性能是否良好。

本申请对于支架110的材质不做限制，可以是金属、塑料等。

本申请对于支架110上的测试工位111的数量不做限制，例如可以是一个或多个(包括两个及两个以上)，当测试工位111的数量为多个时，能够对多个待测指纹模组200进行同时测试，有利于实现批量化测试，满足实际的生产需求。多个测试工位111可以呈二维形态平铺排布，排布方式可以是阵列或非阵列，当然，多个测试工位111也可以呈三维形态排布，即在二维形态平铺的基础上，还可以层叠排布。

在支架110上具有多个测试工位111时，可以使得测试电路板120具有多个第一连接位121，多个第一连接位121和多个测试工位111一一对应，以便于在每个测试工位111内容置待测指纹模组200时，能够使得每个测试工位111内的待测指纹模组200均能够与对应的第一连接位121电连接。

在一些实施方式中，如图2所示，在支架110上设置有与待测指纹模组200外形适配的凹槽，凹槽便可以作为测试工位111，由此，如图3或图4所示，在待测指纹模组200安设于凹槽内时，便可以由凹槽的底部对其提供支撑，由凹槽的侧壁对待测指纹模组200的周向进行限位，以便于待测指纹模组200在测试时具有较好的稳定性。当然，在测试工位111的数量为多个时，对应的，凹槽的数量也为多个。

在一些实施方式中，如图2所示，在凹槽的底部还可以设置有凹陷部114，凹陷部114可以与待测指纹模组200中的垫层280适配，如图3或图4所示，在待测指纹模组200安设于凹槽内时，可以由凹陷部114对应容置垫层280，从而避免因为垫层280的突出导致待测指纹模组200可能出现的晃动，有效提高其安设于支架110时的稳定性和可靠性。

在一些实施方式中，如图2所示，在凹槽的侧壁上还可以开设有避让通道113，避让通道113可以与待测指纹模组200中的模组电路板250适配，以此，如图3或图4所示，在待测指纹模组200安设于凹槽内时，方便待测指纹模组200中的模组电路板250经避让通道113向外伸出。其中，避让通道113可以是通孔，也可以是通槽，本申请对其不做限制，当其为通槽且通槽的开口与凹槽的开口一致时，能够降低待测指纹模组200安设与支架110的难度，有助于提高测试的效率。

在一些实施方式中，待测指纹模组200的模组电路板250可以与测试电路板120的第二连接位122电连接，以便于接通接地回路，方便接地性能的测试。具体的，例如图2所示，测试电路板120具有第二连接位122，如图3或图4所示，在待测指纹模组200安设于凹槽内时，可以使得待测指纹模组200中的模组电路板250经连接器251与测试电路板120上的第二连接位122电连接，由此，结构件便可以依次经模组电路板250和测试电路板120完成接地。当然，在另一些实施方式中，待测指纹模组200的模组电路板250还可以与外部设备电连接，以便于接通接地回路。

在一些实施方式中，测试电路板120的第一连接位121可以经导电件(为便于区分，后续称为第一导电件141)与结构件电连接，具体的，如图2所示，测试电路板120的第一连接位121具有第一触点123，第一触点123可以是金手指、焊盘等，其接入测试电路板120内的测试电路中，并且为了方便第一连接位121顺利与结构件电连接，可以在第一触点123上固定设置有第一导电件141，以此，如图3或图4所示，在待测指纹模组200安设于凹槽内时，可以利用第一导电件141的延伸长度(延伸方向为垂直于测试电路板120水平面的方向，例如：可设置于结构件底端与测试电路板120的第一触点123之间，其可以是POGO针座)，使得测试电路板120的第一触点123顺利与结构件形成电连接，从而方便测试电路板120内的测试电路对结构件进行接地测试。

在一些实施方式中，为了便于布局，测试工位111和测试电路板120可以位于支架110的不同侧，因此，测试电路板120和测试工位111内的待测指纹模组200可能会被支架110阻隔，为了方便第一连接位121顺利与结构件电连接，可以在支架110上开设有测试通道112，并且使得测试通道112的一端延伸至测试工位111，测试通道112的另一端延伸至测试电路板120的第一触点123，由此，方便第一导电件141穿设于测试通道112，实现第一触点123与结构件的电连接。例如图2所示，凹槽和测试电路板120分别位于支架110的相对两侧，更具体的，凹槽可以位于支架110的顶部，测试电路板120可以位于支架110的底部，因此，为了方便第一连接位121顺利与结构件电连接，可以在支架110上开设测试通道112，由此，与第一触点123固定的第一导电件141就可以以穿设于测试通道112的方式伸入凹槽，如图3或图4所示，从而在待测指纹模组200安设于凹槽内时，由第一导电件141顺利与结构件接触，进而实现电连接。通过测试通道112的设置不仅能够方便第一连接位121经第一导电件141顺利与结构件电连接，而且还能够利用测试通道112对第一导电件141进行限位，从而提高第一导电件141的位置准确度，方便第一导电件141的顶端能够准确的与待测指纹模组200中的结构件接触。

在一些实施方式中，测试通道112可以是通孔、通槽等多种形式，本申请对其不做具体限制。

在一些实施方式中，测试电路板120可以经螺钉130(如图2至4所示)、热熔柱、粘结胶、电焊等多种方式固定至支架110，本申请对其具体连接方式不做限制。

在一些实施方式中，为了方便待测指纹模组200安设于测试工位111时，能够使得结构件与第一导电件141保持良好的接触，测试治具还可以包括抵持件，即如图3或图4所示，在待测指纹模组200安设于测试工位111后，抵持件沿垂直于测试电路板120水平面的方向向待测指纹模组200的盖板220或涂层施加抵持力，从而使得待测指纹模组200的相对两侧分别与支架110和抵持件抵接，以使得待测指纹模组200能够较为可靠的与第一触点123上的第一导电件141接触。

在一些实施方式中，测试电路板120的第二连接位122也可以经导电件(为便于区分，后续称为第二导电件142)与模组电路板250电连接，具体的，如图2所示，测试电路板120的第二连接位122具有第二触点124，第二触点124可以是金手指、焊盘等，其可以接入测试电路板120的接地回路，并且为了方便第二触点124顺利与模组电路板250电连接，可以在第二触点124上固定设置有第二导电件142，以此，如图3或图4所示，在待测指纹模组200安设于凹槽内时，可以利用第二导电件142的延伸长度(延伸方向也可以为垂直于测试电路板120水平面的方向，例如：可设置于连接器251与测试电路板120的第二触点124之间，其可以是POGO针座)，使得测试电路板120的第二触点124经第二导电件142与模组电路板250的连接器251形成电连接，从而方便模组电路板250经测试电路板120内的接地回路接地。

在一些实施方式中，测试电路板120的第二连接位122可以具有多个第二触点124，其中，部分第二触点124可以经第二导电件142与模组电路板250的连接器251连接，用于实现待测指纹模组200的接地，剩余第二触点124依然可以经其它第二导电件142与模组电路板250的连接器251连接，用于实现待测指纹模组200的通讯测试等。

在一些实施方式中，第一导电件141和/或第二导电件142可以是弹性导电件，即其具备一定的弹性形变能力，以便于能够在第二导电件142与连接器251和/或第一导电件141与结构件接触时，在接触位置形成抵接，从而提供可靠的电连接，以位于第一触点123的第一导电件141为例：第一导电件141的长度略微大于安设于凹槽内的待测指纹模组200的结构件到第一触点123的距离，由此，在待测指纹模组200安设于凹槽内时，可以配合抵持件，使得待测指纹模组200的结构件与第一导电件141接触的同时，促使第一导电件141发生形变，进而保证两者具有稳定可靠的接触。

在一些实施方式中，如图2至图4所示，弹性导电件为探针，探针较细，由此，一方面能够降低弹性导电件自身所引入的影响，提高测试的准确性，另一方面，还能够降低弹性导电件布设时所需要的空间，有利于测试治具的小型化。当然，在另一些实施方式中，弹性导电件还可以是弹片等。

在一些实施方式中，弹性导电件的数量为至少一个，由此，能够在部分弹性导电件损坏后，依然可以通过剩余的弹性导电件保持良好的电性连接。例如图2所示，在第一连接位121可以设置有多个第一触点123，每个第一触点123均可以设置有一个第一导电件141，由此，如图3或图4所示，在待测指纹模组200安设于凹槽内时，便可以使得结构件经多个第一导电件141与测试电路板120的第一连接位121电连接，随着测试次数的增加，可能会有部分第一导电件141受到磨损、变形等，此时，依然可以通过其它第一导电件141保持良好的电性连接，提供测试时的冗余。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (11)

1.一种测试治具，用于测试指纹模组，其特征在于，包括具有测试工位的支架，所述测试工位用于容置待测指纹模组，在所述支架上设置有测试电路板，所述测试电路板靠近所述待测指纹模组的一侧具有第一连接位，所述测试电路板经所述第一连接位与所述待测指纹模组中用于接地的结构件电连接。

2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试电路板的第二连接位与所述待测指纹模组中的模组电路板电连接，以使所述结构件依次经所述模组电路板和所述测试电路板接地。

3.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述测试电路板的第二连接位具有第二触点，所述第二触点经导电件与所述模组电路板电连接。

4.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试电路板的第一连接位具有第一触点，所述第一触点经导电件与所述结构件电连接。

5.如权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述测试工位和所述测试电路板位于所述支架的不同侧，在所述支架上开设有测试通道，所述测试通道的一端延伸至所述测试工位，所述测试通道的另一端延伸至所述测试电路板的第一触点，连接至所述第一触点的所述导电件穿设于所述测试通道。

6.如权利要求3至5任一项所述的测试治具，其特征在于，所述导电件为弹性导电件，所述弹性导电件的一端固定于所述测试电路板，所述弹性导电件的另一端与所述待测指纹模组抵接。

7.如权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述弹性导电件为探针。

8.如权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述弹性导电件的数量为至少一个。

9.如权利要求1至5任一项所述的测试治具，其特征在于，在所述支架上设置有与所述待测指纹模组外形适配的凹槽，所述凹槽作为所述测试工位。

10.如权利要求9所述的测试治具，其特征在于，在所述凹槽的侧壁上开设有与所述待测指纹模组中的模组电路板适配的避让通道，所述模组电路板经所述避让通道穿出。

11.如权利要求1至5任一项所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括抵持件，所述抵持件用于与所述支架配合夹持所述待测指纹模组。