CN210090507U - 一种测试治具 - Google Patents

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郭士军
高裕弟
孙剑
洪耀
韩中伟
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Abstract

一种测试治具,其包括:基座,所述基座上设有载板;所述载板上设有分别容纳转接板和待测板件的第一容置槽和第二容置槽;所述第一容置槽和所述第二容置槽之间设有允许其内的转接板和待测板件接通的连通平面,所述连通平面使所述转接板的输入端和所述待测板件的测试端处于同一平面内;探针组件,设于所述载板上并与所述转接板的输出端导通连接;以及测试组件,与所述探针组件导电连通,并对所述待测板进行测试。

Description

一种测试治具
技术领域
本实用新型涉及电子器件的检测技术领域,具体涉及一种测试治具。
背景技术
随着电子产业的飞速发展,电子产品在制造过程中均需要进行严格的测试,电子产品的测试通常是将电子产品连接至插接与测试主机的转接板测试卡,通过电子产品与测试机之间的通信实现测试。
由于测试过程中转接板需要频繁连接待测板件,因此转接板的连接端的损耗较大,从而造成转接板的使用寿命较短,更换频率较高,从而带来了产能的下降。现有测试治具中转接板与待测板件连接的输入端通常为悬空设置于待测板件的安装槽开口处,使其与位于安装槽内的待测板件导电接通,因此当操作人员取放待测板件时,待测板件进入或者移出过程中易带动转接板产生上下方向的弯折,从而产生损耗,降低了其使用寿命。
实用新型内容
因此,本实用新型要解决的技术问题在于克服现有技术中的测试治具中对转接板和待测板件的连接处缺乏使其处于同一平面内的有效支撑,易导致转接板的连接端损坏的缺陷,从而提供一种测试治具。
为此,本实用新型的技术方案如下:
一种测试治具,其包括:
基座,所述基座上设有载板;所述载板上设有分别容纳转接板和待测板件的第一容置槽和第二容置槽;所述第一容置槽和所述第二容置槽之间设有允许其内的转接板和待测板件接通的连通平面,所述连通平面使所述转接板的输入端和所述待测板件的测试端处于同一平面内;
探针组件,设于所述载板上并与所述转接板的输出端导通连接;
以及测试组件,与所述探针组件导电连通,并对所述待测板进行测试。
进一步地,所述第一容纳槽上还设有压板,所述压板将所述转接板压置固定于所述第一容置槽中。
进一步地,所述压板与所述载板活动连接。
进一步地,所述压板通过螺栓固定于所述载板上。
进一步地,所述压板的一端与所述载板枢接,另一端通过锁紧件与所述载板活动连接。
进一步地,所述锁紧件包括设于所述压板和所述载板其中一个上的卡扣,以及设于另一个上的与所述卡扣配合的卡槽。
进一步地,所述压板上与所述转接板接触的表面还设有防护层。
进一步地,所述第一容置槽和/或所述第二容置槽内设有对其内的板件进行定位的定位销。
进一步地,所述测试治具还包括下压组件,所述下压组件将所述待测板件压置于所述第二容置槽中,并使所述待测板件的测试端与所述转接板的输入端保持导通连接。
进一步地,所述测试治具为I CT测试治具。
本实用新型技术方案,具有如下优点:
本实用新型提供的测试治具,包括:基座,基座上设有载板;载板上设有分别容纳转接板和待测板件的第一容置槽和第二容置槽;第一容置槽和第二容置槽之间设有允许其内的转接板和待测板件接通的连通平面,连通平面使转接板的输入端和待测板件的测试端处于同一平面内;探针组件,设于载板上并与转接板的输出端导通连接;以及测试组件,与探针组件导电连通,并对待测板进行测试。通过设置有分别容纳载板和待测板件的第一容置槽和第二容置槽,并在容置槽之间设有使其连通的连通平面,使转接板的输入端和待测板件的测试端位于同一平面内,通过连通平面对待测板件和转接板的连接端部进行稳定的支撑,避免转接板的输入端悬空设置,因此可避免取放待测板件的过程中其测试端带动转接板的输入端来回弯折,由此减少了转动板的损耗,提高了其使用寿命,并提升了测试性能和效率;由于更换转接板的次数减少,由此也提高了产线的测试产能。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型的测试治具的主视图;
图2为图1中载板的结构示意图;
图3为图1中下压板组的结构示意图。
附图标记说明:
1-基座;2-载板;3-探针组件;4-第一容置槽;5-第二容置槽;6-压板; 7-天板;8-下压手柄;9-下压板组;91-上层压板;92-下层压板;93-导向杆; 10-定位导向杆;11-固定螺栓;12-连通平面。
具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
实施例1
如图1所示,本实用新型记载了一种测试治具,具体指一种I CT测试治具,当然其也不限于I CT测试治具,也可为其他对电路板件进行导电接通的测试治具。其包括基座1、探针组件3和测试组件。其中基座1上设有载板2,载板2 通过固定螺栓11固定于基座1上,载板2上设有分别容纳转接板和待测板件的第一容置槽4和第二容置槽5;转接板通过压板6固定于第一容置槽4内;探针组件3设于载板2上并与转接板的输出端导通连接;探针组件3中的测试针的一端始终与转接板上的输出端导电连通,测试针的另一端通过导线与测试组件导电连通,测试组件通过探针组件和转接板对待测板进行测试。
如图2所示,其中第一容置槽4和第二容置槽5之间设有允许其内的转接板和待测板件接通的连通平面12,连通平面12使转接板的输入端和待测板件的测试端处于同一平面内。通过上述设置避免转接板输入端悬空设置,由此避免待测板件取放的过程中对转接板的连接端产生的使其反复弯折的作用力,由此减少了测试的过程中取放待测板件时对转接板的输入端的磨损,提高了转接板的使用寿命;减少了转接板的更换频率,由此提高了测试的产能。
其中为方便取放转接板和待测板件,可在第一容置槽4和第二容置槽5上分别设有与第一容置槽活第二容置槽连通的取放凹槽,便于操作人员的手指从取放凹槽放置或者取出转接板和待测板件。
本实施例中的压板6对应设置于第一容纳槽4的上方,压板6用于将转接板压置固定于第一容置槽4中,其中压板6与载板2活动连接。本实施例中压板6为一长条形板件,其两端分别设置有螺孔,与之对应的载板2上相应的位置也分别设有螺孔,通过螺栓或者螺钉将压板6固定于载板2上。
作为可替换的实施方式,压板6的一端与载板2枢接,另一端通过锁紧件与载板2活动连接。具体地,载板2上设有凸台,凸台设置为凹字型,凹字型的凸台上铰接有铰接轴,压板6的铰接端部设有允许铰接轴穿过的铰接孔,铰接轴穿过铰接孔后其两端分别***位于载板2上的凸台内。由此压板6可通过铰接轴相对于载板2进行翻转;压板6上未设置有铰接轴的端部设有锁紧件,其中锁紧件包括设于压板6和载板2其中一个上的卡扣,以及设于另一个上的与卡扣配合的卡槽;通过卡扣连接,可更加方便地实施压板6的打开和锁紧。
本实施例中至少在压板6上与转接板接触的表面还设有防护层,其中防护层可为柔性橡胶层,或者为贴附于压板6内侧表面的绝缘胶布。
本实施例中的测试治具还包括下压组件,下压组件将待测板件压置于第二容置槽5中,并使待测板件的测试端与转接板的输入端保持导通连接。其中下压组件包括天板7、下压手柄8、下压板组9和定位导向杆10;天板7竖向安装于底座1上,下压手柄8安装于天板7上,下压手柄8的输出端连接有下压板组9,通过下压手柄8可驱动下压板组9沿定位导向杆10向下移动将待测板件压合于第二容置槽5内,通过设置下压组件可确保待测板件的测试端与转接板的输入端保持良好的导通,确保测试的正常进行并提高产品测试性能。
其中为避免下压板组9对待测板件过度施压,如图3所示,本实施例中的下压板组9为双层压板组件,其中上层压板和下层压板之间设置有导向杆和缓冲弹簧,导向杆的一端固定于下层压板上,另一端与上层压板上的通孔滑动连接,位于上层压板和下层压板之间的导向杆上套设有弹簧。下压手柄8驱动下压组件9整体向下移动时,位于底部的下层压板首先接触到载板2并对待检测板施加作用力,其后位于上部的上层压板在下压手柄8的下压驱动下克服弹簧的作用力继续向下运动直至贴合在下层压板的上表面,并最终通过下层压板对待测板件进一步施加作用力,由此实现了对下层压板的进一步施力,通过设置双层压板结构,确保了待测板件被压紧的基础上,又通过设置缓冲弹簧避免了对其产生较大冲击力而造成的待测板件的破坏。
本实施例中的第一容置槽4和/或第二容置槽5内还设有对其内的转接板或待测板进行定位的若干定位销,其中定位销设置于转接板或待测板件的边缘与板件外形形状相符,通过将板件卡入其中对其进行定位。此时,压板6和下压板组的下层压板上分别设有与定位销对应设置的凹槽或凹孔,以确保压板6和下层压板可顺利压合到位与载板2的表面贴合。
当然,作为可替换的实施方式,也可在转接板或待测板件上设置有与定位销对应的若干定位孔,通过定位销***定位孔中对转接板或待测板件进行定位。
本实施例中的载板2、压板6、天板7、下压板组9中的上层压板、下层压板均为亚克力板。
本实用新型的工作过程为:
首先,将转接板准确卡入第一容置槽内,使其连接端朝向第二容置槽,并平铺于连通平面上;再将压板固定至载板上,实现对载板的固定;
其次,将待测板件准确卡入第二容置槽中,使其连接端朝向转接板设置,并将连接端平铺于连通平面上与转接板保持连接;
最后,操作人员下压手柄,手柄驱动下压板组9向下移动,下压板组9的下层压板与载板2接触后继续下压手柄直至上层压板克服弹簧压力压合至下层压板的上表面,由此完成了对一个待测板件的温度压合,同时待测板件的测试端通过转接板与测试组件连通执行测试;
测试完成后,将待测板件从第二容置槽内取出。
显然,上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例,而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型创造的保护范围之中。

Claims (10)

1.一种测试治具,其特征在于包括:
基座,所述基座上设有载板;所述载板上设有分别容纳转接板和待测板件的第一容置槽和第二容置槽;所述第一容置槽和所述第二容置槽之间设有允许其内的转接板和待测板件接通的连通平面,所述连通平面使所述转接板的输入端和所述待测板件的测试端处于同一平面内;
探针组件,设于所述载板上并与所述转接板的输出端导通连接;
以及测试组件,与所述探针组件导电连通,并对所述待测板进行测试。
2.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于:所述第一容置槽上还设有压板,所述压板将所述转接板压置固定于所述第一容置槽中。
3.根据权利要求2所述的测试治具,其特征在于:所述压板与所述载板活动连接。
4.根据权利要求3所述的测试治具,其特征在于:所述压板通过螺栓固定于所述载板上。
5.根据权利要求3所述的测试治具,其特征在于:所述压板的一端与所述载板枢接,另一端通过锁紧件与所述载板活动连接。
6.根据权利要求5所述的测试治具,其特征在于:所述锁紧件包括设于所述压板和所述载板其中一个上的卡扣,以及设于另一个上的与所述卡扣配合的卡槽。
7.根据权利要求3所述的测试治具,其特征在于:所述压板上与所述转接板接触的表面还设有防护层。
8.根据权利要求3所述的测试治具,其特征在于:所述第一容置槽和/或所述第二容置槽内设有对其内的板件进行定位的定位销。
9.根据权利要求3所述的测试治具,其特征在于:所述测试治具还包括下压组件,所述下压组件将所述待测板件压置于所述第二容置槽中,并使所述待测板件的测试端与所述转接板的输入端保持导通连接。
10.根据权利要求1-9任意一项所述的测试治具,其特征在于:所述测试治具为ICT测试治具。
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