CN217520409U - 校准装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及校准工装技术领域，提供一种校准装置，用于校准深度规，所述深度规包括检查段，所述校准装置包括校准构件，所述校准构件设置有容纳部和连通部，所述容纳部用于容纳所述深度规，所述校准装置还包括用于抵接所述检查段的端部第一平面，所述连通部被设置为使得所述第一平面和所述检查段经由所述连通部被观察。本申请提供的校准装置，在使用校准装置时，利用容纳部对深度规进行限定，利用第一平面与检查段的端部抵接，再通过连通部对第一平面和检查段二者进行观察，确认二者彼此抵接，并进一步通过连通部对所观察到的检查段进行测量，从而对检查段的长度进行校准。

Description

校准装置

技术领域

本申请涉及校准工装技术领域，尤其是涉及一种校准装置。

背景技术

现有技术中，通常利用深度规对孔进行，深度规的尺寸，尤其是其检查段的尺寸对孔的检查结果是重要的，但现有技术中仍然缺少对深度规进行校准的方式。

实用新型内容

有鉴于此，本申请提供一种校准装置，目的在于一定程度上解决以上技术问题。

根据本申请提供一种校准装置，用于校准深度规，所述深度规包括检查段，所述校准装置包括校准构件，所述校准构件设置有容纳部和连通部，所述容纳部用于容纳所述深度规，所述校准装置还包括用于抵接所述检查段的端部第一平面，所述连通部被设置为使得所述第一平面和所述检查段经由所述连通部被观察。

优选地，所述容纳部具有第一延伸方向，所述连通部具有第二延伸方向，所述第一延伸方向垂直于所述第二延伸方向。

优选地，所述校准构件包括彼此相对的第二平面和第三平面，所述第三平面用于与所述第一平面贴合，所述容纳部贯穿所述校准构件，所述容纳部的两端分别暴露于所述第二平面和所述第三平面。

优选地，所述容纳部包括贯穿所述校准构件的校准孔，所述校准孔在所述第二平面和所述第三平面之间延伸，所述连通部包括设置于所述第三平面的槽部。

优选地，所述槽部贯穿所述校准构件，所述校准孔被设置为圆柱形孔，所述槽部的宽度大于或者等于所述圆柱形孔的直径，当沿着所述圆柱形孔的轴向观察时，所述圆柱形孔位于所述槽部内。

优选地，所述校准构件形成为圆柱体，所述校准孔与所述圆柱体同轴。

优选地，所述校准装置还包括底座，所述第一平面设置于所述底座，所述底座与所述校准构件可拆卸连接，所述底座还包括与所述第一平面彼此相对的第二平面，所述第一平面与所述第二平面彼此平行。

优选地，所述校准装置还包括连接件，所述底座与所述校准构件经由所述连接件连接。

优选地，所述校准构件设置有多个内螺纹孔，所述底座设置有数量与所述内螺纹孔相等并且位置与所述内螺纹孔对应的沉头孔，所述连接件包括数量与所述多个内螺纹孔相等的螺栓，每一所述螺栓被设置为贯穿对应的所述沉头孔并且旋拧于对应的所述内螺纹孔。

优选地，所述校准构件和所述底座均由金属形成，所述校准构件和所述底座二者被设置为由机加工获得。

本申请提供的校准装置，在使用校准装置时，利用容纳部对深度规进行限定，利用第一平面与检查段的端部抵接，再通过连通部对第一平面和检查段二者进行观察，确认二者彼此抵接，并进一步通过连通部对所观察到的检查段进行测量，从而对检查段的长度进行校准。

为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1示出了根据本申请实施例的校准装置的校准构件的剖视图的示意图；

图2示出了根据本申请实施例的校准装置的校准构件的仰视图的示意图；

图3示出了根据本申请实施例的校准装置的底座的剖视图的示意图；

图4示出了根据本申请实施例的校准装置的底座的俯视图的示意图；

图5示出了根据本申请实施例的校准装置的剖视图的示意图；

图6示出了根据本申请实施例的校准装置所校准的深度规的示意图。

附图标记：

10-校准构件；11-校准孔；12-连通部；13-内螺纹孔；20-底座；21-沉头孔；30-螺栓；40-深度规。

具体实施方式

下面将结合附图对本申请的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。

根据本申请实施例提供一种校准装置，校准装置包括校准构件10、底座20和螺栓30，以下将结合图1至图6具体描述前面这些部件的结构和工作原理。

深度规是用来检查孔的深度一种工具，在本申请实施例中，以用于检查孔的深度的深度规40为例进行说明，通过将深度规40的检查段***到待检查孔中来对孔的深度进行检查，如图6所示，图6示意性地给出了深度规40的结构，在图6中示出了深度规40的两个部分，上面的部分可以供使用者握持，下面的部分(图中用两条斜线与上面的部分区分开来)为前面所提到的检查段(通常，上面供握持的部分更细，图6中并未这样示出，仅示意性地给出了这两部分的)，因此，深度规40的检查段的长度是重要的，但在现有技术中，目前仍然缺少对深度规40的校准方式，也就是对检查段的长度的校准方式，因此这里，如在以下的描述中所要提到的，本申请实施例根据本申请实施例提供的校准装置，来对深度规40进行校准，从而能够确保深度规40在检查孔的深度时的准确性。

在实施例中，校准装置用于校准上面提到的深度规40，深度规40包括检查段，校准装置包括校准构件10，校准构件10设置有容纳部和连通部12，容纳部用于容纳深度规40，校准装置还包括用于抵接检查段的端部第一平面，连通部12被设置为使得第一平面和检查段经由连通部12被观察，如此，在使用校准装置时，利用容纳部对深度规40进行限定，利用第一平面与检查段的端部抵接，再通过连通部12对第一平面和检查段二者进行观察，确认二者彼此抵接，并进一步通过连通部12对所观察到的检查段进行测量，从而对检查段的长度进行校准。

如图1和图2所示，容纳部可以包括校准孔11，校准孔11可以具有第一延伸方向，连通部12可以具有第二延伸方向，第一延伸方向可以垂直于第二延伸方向，图1示出了校准构件10的剖视图，具体而言，校准构件10可以形成为圆柱体形状，该剖视图是利用经过圆柱体的校准构件10的轴线并且经过后续描述中会提到的两个螺纹孔的轴线的平面对校准构件10剖切所得到的，在图1给出的示例中，第一延伸方向可以为图1中的竖直方向，第二延伸方向可以为图1中的垂直于纸面的方向。将校准孔11和连通部12二者的延伸方向设置为彼此垂直，有利于对检测段与第一平面的配合情况以及检测段本身进行准确地观察，从而降低校准的难度，另外，在校准构件10由金属形成的情况下，采用机加工获得校准构件10时，校准孔11和连通部12二者的这种设置方式也有利于降低加工校准孔11和连通部12的难度。

在实施例中，进一步地，校准构件10可以包括彼此相对的第二平面和第三平面，第三平面用于与第一平面贴合，校准孔11可以贯穿校准构件10，校准孔11的两端分别暴露于第二平面和第三平面，连通部12包括设置于第三平面的槽部。具体地，在实施例中，如图1和图2所示，并尤其参见图1，这里第二平面和第三平面二者可以分别为校准构件10的上端面和下端面，作为示例，第二平面和第三平面二者可以彼此平行。在实施例中，校准孔11在竖直方向上贯穿校准构件10有利于进一步降低校准孔11的加工难度，类似地，通过在第三平面上开设槽部来设置连通部12同样有利于降低连通部12的加工难度，此外，由于第三平面用于与第一平面贴合，这使得槽部开设于第三平面能够尤其直观地对检测段与第一平面的配合情况以及检测段本身进行观察。

在实施例中，如图1和图2所示，并尤其参见图2，槽部可以贯穿校准构件10，如此在校准构件10的下端面与第一平面贴合时，可以通过贯穿校准构件10的槽部对槽部所对应的第一平面的部分进行清理，例如吹扫，从而使得第一平面上可能存在的颗粒物被排出第一平面的所述部分，即该槽部形成为实质上的排屑槽，这有利于避免第一平面的所述部分的颗粒物对校准过程造成干扰。进一步地，校准孔11被设置为圆柱形孔，优选地，校准孔11的轴线可以与校准构件10同轴，从而进一步降低校准孔11的加工难度。在实施例中，槽部的宽度可以大于或者等于圆柱形孔的直径，在图1至图5给出的示例中，槽部的宽度等于圆柱形孔的直径，当沿着圆柱形孔的轴向观察时，圆柱形孔位于槽部内，从而确保能够对检查段进行相对全面地观察。

如图2至图5所示，在实施例中，校准装置还可以包括底座20，第一平面设置于底座20，即第一平面形成为底座20的上端面，进一步地，底座20可以与校准构件10可拆卸连接，从而便于校准装置中底座20和校准构件10的维护和更换，具体来说，当底座20的上端面在使用过程中磨损时，可以将底座20拆下，并利用磨削工具例如磨床对底座20的上端面进行磨削，使得底座20的上端面重新平整，这样能够确保将底座20与校准构件10重新组装时校准装置的精度。底座20还可以包括与第一平面彼此相对的第二平面，这里第二平面即底座20的下端面，第一平面与第二平面可以彼此平行，从而当底座20置于水平面时，第一平面也是水平的，这有利于进一步确保对检查段测量的准确性。

在实施例中，校准装置还包括连接件，底座20与校准构件10经由连接件连接。这里，作为示例，连接件包括螺栓30，校准构件10的下端面可以设置有多个内螺纹孔13，底座20可以设置有数量与内螺纹孔13相等并且位置与内螺纹孔13对应的沉头孔21，螺栓30被设置为贯穿沉头孔21并且旋拧于内螺纹孔13。更为具体地，螺栓30可以为内六角螺栓，通过六角螺栓从底座20下方旋拧至内螺纹孔13中，利用沉头孔21，内六角螺栓不会相对于底座20的下端面凸出，从而确保底座20的下端面在放置于水平面时不会出现倾斜。

进一步地，在实施例中，在图1和图2给出的示例中，内螺纹孔13的数量可以为两个，在未示出的示例中，内螺纹孔可以为三个、四个甚至更多，在实施例中，内螺纹孔可以任意地分布在底座上，即可以如图2示出的那样与校准构件10同心地分布，也可以在数量为三个、四个甚至更多的情况下形成与校准构件10的轴线不相关的分布，例如数量为三个时，三个内螺纹孔形成的三角形的外接圆与校准构件10不同心，这使得底座20上的内螺纹孔更方便加工。此外，底座20也可以由金属形成，并利用机加工的方式获得，由于沉头孔21的位置与内螺纹孔13是一一对应的，因此内螺纹孔13的共圆设置同样有利于降低沉头孔21的加工难度。

以上仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的保护范围，凡是在本申请的创新构思下，利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的保护范围内。

Claims (10)

1.一种校准装置，其特征在于，用于校准深度规，所述深度规包括检查段，所述校准装置包括校准构件，所述校准构件设置有容纳部和连通部，所述容纳部用于容纳所述深度规，所述校准装置还包括用于抵接所述检查段的端部第一平面，所述连通部被设置为使得所述第一平面和所述检查段经由所述连通部被观察。

2.根据权利要求1所述的校准装置，其特征在于，所述容纳部具有第一延伸方向，所述连通部具有第二延伸方向，所述第一延伸方向垂直于所述第二延伸方向。

3.根据权利要求1所述的校准装置，其特征在于，

所述校准构件包括彼此相对的第二平面和第三平面，所述第三平面用于与所述第一平面贴合，所述容纳部贯穿所述校准构件，所述容纳部的两端分别暴露于所述第二平面和所述第三平面。

4.根据权利要求3所述的校准装置，其特征在于，所述容纳部包括贯穿所述校准构件的校准孔，所述校准孔在所述第二平面和所述第三平面之间延伸，所述连通部包括设置于所述第三平面的槽部。

5.根据权利要求4所述的校准装置，其特征在于，

所述槽部贯穿所述校准构件，所述校准孔被设置为圆柱形孔，所述槽部的宽度大于或者等于所述圆柱形孔的直径，当沿着所述圆柱形孔的轴向观察时，所述圆柱形孔位于所述槽部内。

6.根据权利要求5所述的校准装置，其特征在于，所述校准构件形成为圆柱体，所述校准孔与所述圆柱体同轴。

7.根据权利要求1所述的校准装置，其特征在于，所述校准装置还包括底座，所述第一平面设置于所述底座，所述底座与所述校准构件可拆卸连接，所述底座还包括与所述第一平面彼此相对的第二平面，所述第一平面与所述第二平面彼此平行。

8.根据权利要求7所述的校准装置，其特征在于，所述校准装置还包括连接件，所述底座与所述校准构件经由所述连接件连接。

9.根据权利要求8所述的校准装置，其特征在于，所述校准构件设置有多个内螺纹孔，所述底座设置有数量与所述内螺纹孔相等并且位置与所述内螺纹孔对应的沉头孔，所述连接件包括数量与所述多个内螺纹孔相等的螺栓，每一所述螺栓被设置为贯穿对应的所述沉头孔并且旋拧于对应的所述内螺纹孔。

10.根据权利要求7所述的校准装置，其特征在于，所述校准构件和所述底座均由金属形成，所述校准构件和所述底座二者被设置为由机加工获得。

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