CN1154095C - 光盘、光盘读取设备、再生方法、记录方法和设备 - Google Patents
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Abstract
在光盘(10)的内周区域的读入区域(27)内,交替地形成作为评价光盘(10)的读入误码率的测试图案的凹坑长3T、脊长*6T、凹坑长7T、脊长3T、凹坑长6T、脊长7T的凹坑和脊。通过由再生***再生该测试图案数据,检测误码率,求出用于使该误码率为最小的修正系数,利用该修正系数修正再生信号,所以,再生信号可以在误码率为最小的状态下由再生***进行再生。
Description
技术领域
本发明涉及光盘、向该光盘记录数据的记录方法及数据记录装置和从光盘再生数据的数据再生方法及数据再生装置,特别是记录了可以检测倾斜量的检测信号的光盘、将倾斜量检测信号与数据一起向该光盘记录的记录方法及数据记录装置和从光盘检测倾斜量检测信号再生数据的数据再生方法及数据再生装置。
另外,本发明涉及具有评价测试图案的光盘、将再生数据与评价测试数据一起向该光盘记录的记录方法及数据记录装置和从光盘读出评价数据评价光盘的方法及装置,特别是记录了可以判断制造的光盘合格与否的评价测试图案的光盘、将评价测试数据与再生数据一起向该光盘记录的记录方法及其装置和从光盘检测评价测试图案信号判断制造的光盘合格与否的方法及其装置。
背景技术
如所周知,在作为一种信息记录再生装置的以光学方式记录信息的光盘装置中,盘再生面与物镜面的相对的倾斜量越大,再生信号的频率特性越坏,最后,数据读出时的误码率也越差。该相对的倾斜量取决于盘的物理弯曲引起的倾斜和光头的物镜的物理倾斜引起的倾斜。
以往,为了解决这些问题,如所周知,采用的方法是机械地使光头倾斜,以消除盘再生面与物镜面的相对的倾斜,例如,特开平3-142723等所记载的方法。该先有的装置具有将光读写头支持为可以倾动并通过齿轮与作为倾动源的电机机械连接的机构。在该装置中,检测盘的倾斜量,电机根据该倾斜量转动,通过齿轮使光读写头倾斜,控制物镜与光盘间的相对的倾斜量。利用这样的控制***,消除盘再生面与物镜面的相对的倾斜。
在采用这种先有的控制方式的装置中,由于在控制***内存在电机、齿轮等机械部件,所以,在高频区域,倾斜修正控制困难,只能在直流成分附近的控制频带内进行倾斜修正,另外,由于使用机械部件,所以,装置的小型化困难。特别是在正在开发可以以高密度记录大容量的信息的光盘的今天,为了再生信息,直流成分区域的倾斜修正已不够充分,迫切希望开发不仅在直流成分区域而且在高频区域也可以正确地进行倾斜修正的方式。
另外,在作为信息记录再生装置的一种的以光学方式记录信息的光盘装置中,数据以高精度记录到光盘中就是以高精度再生数据的前提。例如,如果在光盘上形成的凹坑(pit)的成形性差,可以预想,当然再生信号就不能以高精度、换言之就是不能以低误码率从该凹坑进行再生,从而就不能再生数据。同样,如果再生信号的频率特性差,最终数据读出时的误码率就差,另外,大家知道,如果来自相邻的凹坑串的串扰成分大,对于检索对象,就不能从凹坑串获得检索数据。
以往,虽然希望出现以高精度判断制造的光盘是否合格的方式,但是,在存储容量不太大的光盘中,在实际的再生***中只要确认了记录数据,对判断该数据的记录是否良好已足够了。然而,在正在开发可以以高密度记录大容量的信息的光盘的今天,就要求以更高的精度判断数据的记录是否良好,从而要求开发这样的判断方式。
发明内容
本发明的第1个目的旨在提供即使发生其再生面与物镜面的相对的倾斜也可以使再生信号的特性最佳的光盘。
另外,本发明的第2个目的旨在提供即使发生其再生面与物镜面的相对的倾斜也可以使再生信号的特性最佳的将测试图案与数据一起向光盘记录的记录方法。
另外,本发明的第3个目的旨在提供即使发生其再生面与物镜面的相对的倾斜也可以使再生信号的特性最佳的将测试图案与数据一起向光盘记录的记录装置。
另外,本发明的第4个目的旨在提供即使发生其再生面与物镜面的相对的倾斜也可以使再生信号的特性最佳的测试图案从光盘再生从而可以使再生数据最佳的从光盘再生数据的数据再生方法。
另外,本发明的第5个目的旨在提供即使发生其再生面与物镜面的相对的倾斜也可以从光盘再生使再生信号的特性最佳的测试图案从而可以使再生数据最佳的从光盘再生数据的数据再生装置。
本发明的第6个目的旨在提供记录了可以以高精度判断记录的数据是否良好的评价图案的光盘。
另外,本发明的第7个目的旨在提供将可以以高精度判断记录的数据是否良好的评价图案与再生数据一起向光盘记录的方法。
另外,本发明的第8个目的旨在提供将可以以高精度判断记录的数据是否良好的评价图案与再生数据一起向光盘记录的装置。
另外,本发明的第9个目的旨在提供再生可以以高精度判断记录的数据是否良好的评价图案从而判断光盘是否良好的方法。
另外,本发明的第10个目的旨在提供再生可以以高精度判断记录的数据是否良好的评价图案从而判断光盘是否良好的装置。
本发明可以提供一种光盘,该光盘包括:
数据区域,用于记录作为凹坑和脊的8/16变换数据,所述凹坑具有最短凹坑长度3T、最长凹坑长度kT和位于所述最短凹坑长度3T与所述最长凹坑长度kT之间的凹坑长度其中之一;所述脊具有最短非凹坑长度*3T、最长非凹坑长度*kT和位于所述最短非凹坑长度*3T与所述最长非凹坑长度*kT之间的非凹坑长度其中之一,其中T代表一个通道凹坑长度,k是整数,其中前缀*表示其后的长度为脊的长度,
测试图案区域,它位于所述数据区域之外,并且记录了具有所述凹坑和脊的图案的一个测试图案,所述测试图案对应于8/16变换测试图案数据并且是将具有连续的所述凹坑和脊的一个预定排列进行反复后所得到的,在所述预定排列中包括:
第一凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度之一;
第一脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度之一;
第二凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑的长度的剩余长度之一;
第二脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊的长度的剩余长度之一;
第三凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑和所述第二凹坑的长度的剩余的那个长度;
第三脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊和所述第二脊的长度的剩余的那个长度。
本发明提供一种光盘读取设备,包括:
读取装置,用于从光盘中读取存储在其中的测试图案和数据作为再生信号,
该光盘包括:
数据区域,具有根据8/16变换数据排列的凹坑和脊,从而该数据区域包括以凹坑和脊记录的数据,所述凹坑具有以下凹坑长度其中之一,即最短凹坑长度3T、最长凹坑长度kT和位于所述最短凹坑长度3T与所述最长凹坑长度kT之间的凹坑长度;所述脊具有以下凹坑长度其中之一,即最短非凹坑长度*3T、最长非凹坑长度*kT和位于所述最短非凹坑长度*3T与所述最长非凹坑长度*kT之间的非凹坑长度,其中T代表一个通道凹坑长度,k是整数,其中前缀*表示其后的长度为脊的长度,
测试图案区域,它位于所述数据区域之外,并且具有基于预定的排列规则排列的凹坑和脊,该预定的排列规则包括对应于8/16变换测试图案数据并且是将具有连续的所述凹坑和脊的一个预定排列进行反复后所得到的反复图案,在所述预定排列中包括:
第一凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度之一;
第一脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度之一;
第二凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑的长度的剩余长度之一;
第二脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊的长度的剩余长度之一;
第三凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑和所述第二凹坑的长度的剩余的那个长度;
第三脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊和所述第二脊的长度的剩余的那个长度。
本发明提供一种从光盘读取数据的光盘再生方法,
该光盘包括:
数据区域,具有根据8/16变换数据排列的凹坑和脊,从而该数据区域包括以凹坑和脊记录的数据,所述凹坑具有以下凹坑长度其中之一,即最短凹坑长度3T、最长凹坑长度kT和位于所述最短凹坑长度3T与所述最长凹坑长度kT之间的凹坑长度;所述脊具有以下凹坑长度其中之一,即最短非凹坑长度*3T、最长非凹坑长度*kT和位于所述最短非凹坑长度*3T与所述最长非凹坑长度*kT之间的非凹坑长度,其中T代表一个通道凹坑长度,k是整数,其中前缀*表示其后的长度为脊的长度,
测试图案区域,它位于所述数据区域之外,并且具有基于预定的排列规则排列的凹坑和脊,该预定的排列规则包括对应于8/16变换测试图案数据并且是将具有连续的所述凹坑和脊的一个预定排列进行反复后所得到的反复图案,在所述预定排列中包括:
第一凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度之一;
第一脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度之一;
第二凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑的长度的剩余长度之一;
第二脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊的长度的剩余长度之一;
第三凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑和所述第二凹坑的长度的剩余的那个长度;
第三脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊和所述第二脊的长度的剩余的那个长度,
所述方法包括步骤:
从光盘中读取存储在其中的测试图案和数据作为再生信号,
本发明提供一种在光盘上记录数据的光盘记录方法,包括:
将记录数据转换为物理数据,物理数据对应于凹坑和脊的图案,所述凹坑具有以下凹坑长度其中之一,即最短凹坑长度3T、最长凹坑长度kT和位于所述最短凹坑长度3T与所述最长凹坑长度kT之间的凹坑长度;所述脊具有以下凹坑长度其中之一,即最短非凹坑长度*3T、最长非凹坑长度*kT和位于所述最短非凹坑长度*3T与所述最长非凹坑长度*kT之间的非凹坑长度,其中T代表一个通道凹坑长度,k是整数,其中前缀*表示其后的长度为脊的长度,
在位于数据区域之外的测试图案区域记录一个测试图案,在数据区域记录物理数据,其中该测试图案区域具有基于预定的排列规则排列的凹坑和脊,该预定的排列规则包括对应于8/16变换测试图案数据并且是将具有连续的所述凹坑和脊的一个预定排列进行反复后所得到的反复图案,在所述预定排列中包括:
第一凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度之一;
第一脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度之一;
第二凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑的长度的剩余长度之一;
第二脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊的长度的剩余长度之一;
第三凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑和所述第二凹坑的长度的剩余的那个长度;
第三脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊和所述第二脊的长度的剩余的那个长度。
本发明提供一种在光盘上记录数据的光盘记录设备,包括:
转换装置,将记录数据转换为物理数据,物理数据对应于凹坑和脊的图案,所述凹坑具有以下凹坑长度其中之一,即最短凹坑长度3T、最长凹坑长度kT和位于所述最短凹坑长度3T与所述最长凹坑长度kT之间的凹坑长度;所述脊具有以下凹坑长度其中之一,即最短非凹坑长度*3T、最长非凹坑长度*kT和位于所述最短非凹坑长度*3T与所述最长非凹坑长度*kT之间的非凹坑长度,其中T代表一个通道凹坑长度,k是整数,其中前缀*表示其后的长度为脊的长度,
记录装置,在位于数据区域之外的测试图案区域记录一个测试图案,在数据区域记录物理数据,其中该测试图案区域具有基于预定的排列规则排列的凹坑和脊,该预定的排列规则包括对应于8/16变换测试图案数据并且是将具有连续的所述凹坑和脊的一个预定排列进行反复后所得到的反复图案,在所述预定排列中包括:
第一凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度之一;
第一脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度之一;
第二凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑的长度的剩余长度之一;
第二脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊的长度的剩余长度之一;
第三凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑和所述第二凹坑的长度的剩余的那个长度;
第三脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊和所述第二脊的长度的剩余的那个长度。
附图说明
图1是表示本发明的一个实施例的光盘装置的概略的框图。
图2是表示图1所示的盘驱动装置的详细结构的框图。
图3是概略地示出图1所示的光盘的结构的斜视图。
图4是表示图1和图3所示的光盘的平面图。
图5A是表示作为在图4所示的光盘上形成的测试图案的最长凹坑串的平面图。
图5B是表示从图5A所示的最长凹坑串再生的再生信号波形的波形图。
图6A是表示作为在图4所示的光盘上形成的测试图案的最短凹坑串的平面图。
图6B是表示从该最短凹坑串再生的再生信号波形的波形图。
图7是表示根据作为测试图案的最短凹坑串及最长凹坑串和具有它们之间的不同的凹坑长的凹坑串再现的MTF信号的曲线图。
图8是表示作为测试图案的中心凹坑串和相邻凹坑串的平面图。
图9A是表示根据作为测试图案的最短凹坑串3T及最长凹坑串11T和具有它们之间的不同的凹坑长5T、7T、9T的凹坑串再现的MTF信号的曲线图。
图9B和9C是表示作为测试图案的最短凹坑串3T和最长凹坑串11T的再生信号的波形图。
图10是表示组装到图1所示的光盘装置中的利用测试信号修正再生信号的倾斜修正电路的框图。
图11是表示对于测试图案理想的再生信号的频率特性的曲线图。
图12是表示包含对于测试图案倾斜成分的实际的再生信号的频率特性的曲线图。
图13A是表示包含倾斜成分的再生信号的频率特性的曲线图。
图13B是表示横向滤波器的频率特性的曲线图。
图13C是表示将包含倾斜成分的再生信号的频率特性与横向滤波器的频率特性合成的合成频率特性的曲线图。
图14A是表示本发明其他实施例的评价图案的凹坑串的平面图。
图14B是表示根据图14A所示的凹坑串再生的再生信号的波形图。
图15是表示图14A所示的评价图案的数据结构的概略图。
图16是表示组装到图1所示的光盘装置中的利用评价图案修正再生信号的倾斜修正电路的框图。
图17是表示利用图14A所示的评价图案由图16所示的修正电路修正再生信号的顺序的流程图。
图18是表示将图像数据编码、建立图像文件的编码***的框图。
图19是表示图18所示的编码***的编码处理的流程图。
图20是将利用图19所示的流程编码的主图像数据、声音数据和副图像数据组合、建立图像数据的文件的流程图。
图21和22是分别表示用于将格式化的图像文件向光盘记录的盘格式器的***的框图。
图23是生成用于向图21和22所示的盘格式器中的盘上记录逻辑数据的流程图。
图24是根据逻辑数据生成用于向盘记录的物理数据的流程图。
图25是用于说明载波电平与噪音电平之比的C/N比的曲线图。
图26是表示再生***对于第3组的测试图案的凹坑串的频率特性的曲线图。
图27是用于说明串扰特性的曲线图。
具体实施方式
下面,参照附图说明本发明实施例的光盘和光盘再生装置。
图1是从本发明的一个实施例的光盘再生数据的光盘再生装置的框图,图2是驱动图1所示的光盘的盘驱动部的框图,图3和图4是图1和图2所示的光盘的结构。
图1所示的光盘再生装置具有键操作/显示器4、监视器6和扬声器8。这里,用户通过操作键操作/显示器4,便可从光盘10再生记录数据。记录数据包括图像数据、副图像数据和声音数据,这些数据被变换为视频信号和音频信号。监视器6根据视频信号显示图像,扬声器8根据音频信号发生声音。
如所周知,光盘10有各种结构。对于光盘10,例如,如图3所示的那样,有以高密度记录数据的读出专用盘。如图3所示,光盘10由一对复合层18和介于该复合层18之间的粘接层20构成。各复合盘层18由透明基板14和记录层即光反射层16构成。该盘层18配置为光反射层16与粘接层20接触。在该光盘10上设置中心孔22,在其两面的中心孔22的周围设置在其转动时用于可以压住该光盘10的夹紧区域24。光盘19装入到光盘装置中时,图2所示的主轴电机12的主轴***到中心孔22内,在盘转动的期间,光盘10在该夹紧区域24被夹紧。
如图3所示,光盘10在其两面的夹紧区域24的周围具有可以向光盘10上记录信息的信息区域25。各信息区域25将其外周区域规定为通常不记录信息的导出区域26,将与夹紧区域24相邻的其内周区域规定为同样通常不记录信息的导入区域27,此外,将该导出区域26与导入区域27之间的区域规定为数据记录区域28。数据记录区域28具有以该光盘固有的规格确定的指定的逻辑格式。关于其详细情况,在向欧洲申请的专利申请号96101282.0,filed Janurary 30,199、Kikuchi et.al中有详细介绍。关于逻辑格式的详细情况,请参见其说明书。
如图4所示,在导出区域26之外与该区域26相邻的外侧的区域部分29B和导入区域27之外与该区域相邻的内侧的区域部分29A这两个区域部分或至少其中一个区域部分,作为用于评价在光盘10上形成的凹坑串的测试图案的1例,形成如下4组凹坑串。如后面上述,当这4组测试图案以不同于图像数据等再生对象数据的信号从外部的信号发生器作为评价数据记录到光盘上时,记录到导入区域27之外与该区域27相邻的内侧的区域部分29A内。然而,当将评价数据设在图像数据等再生对象数据的开头来记录评价数据和其后的再生对象数据时,也可以将其记录到导入区域27内。如后面作为其他实施例参照图14A、图14B和图15说明的那样,3T-6T-7T图案的评价数据记录到导入区域27内。
在与4组测试图案相当的凹坑串的说明中,T表示通道凹坑长,n和m为整数(□T),凹坑长和(*□T)表示与位于相邻的凹坑间的间隔相当的非凹坑长。这里,在图1和2所示的再生装置中,光盘10根据其半径方向的位置改变其转动速度,由于道是用光束以一定的线速度扫描的线速度一定的CLV(Constant Linear Velocity)式的,所以,凹坑长nT、mT分别从光盘10的内周到外周以一定长形成。
(a)作为具有图5A所示的最长凹坑长(nT)的凹坑和非凹坑反复的凹坑串(nT+*nT)的最长凹坑长串的第1组。
(b)作为具有图6A所示的最短凹坑长(mT)的凹坑和非凹坑反复的凹坑串(mT+*mT)的最短凹坑长串的第2组。
(c)与最短凹坑长串(mT+*mT)到指定凹坑长串[(m+8)T+*(m+8)T]之间相当的在该区间都无倍数关系的具有下面所示的凹坑长串的凹坑和非凹坑反复排列的反复凹坑长串的第3组;
[(mT+*mT)]的[p次反复],
[(m+1)T+*(m+1)T]的[q次反复],
[(m+2)T+*(m+2)T]的[r次反复],
[(m+4)T+*(m+4)T]的[s次反复],
[(m+8)T+*(m+8)T]的[t次反复]。
这里,(p>q>r>s>t)的关系成立,选定再生p、q、r、s、t次的反复凹坑串所需要的时间基本上一定。另外,[(m+8)T+*(m+8)T]具体地说就相当于最长凹坑串(nT+*nT)。
(d)如图8所示,最短凹坑长串(mT+*mT)沿光盘10的1周反复排列、作为与和中心道相当的该最短凹坑长串(mT+*mT)相邻的道凹坑长串[(m+1)T+*(m+1)T]沿光盘10的内侧的1周反复排列、凹坑长串[(m+2)T+*(m+2)T]与最短凹坑长串(mT+*mT)相邻地沿光盘10的下1周反复排列的凹坑长串的第4组。
在第4组中,如图8所示,凹坑长串[(m+1)T+*(m+1)T]作为内周的道、凹坑长串(mT+*mT)作为中心道、凹坑长串[(m+2)T+*(m+2)T]作为外周道沿光盘10的半径方向配置。然而,也可以取代图8所示的配置,将凹坑长串[(m+2)T+*(m+2)T]作为内周的道、凹坑长串(mT+*mT)作为中心道、凹坑长串[(m+1)T+*(m+1)T]作为外周道沿光盘10的半径方向配置。
从上述第1组到第4组的凹坑长串,具体地说,就是相当于(m=3)和(n=11),具有如下关系。
(a)第1组:具有最长凹坑长(11T)的凹坑和非凹坑反复的凹坑串(11T+*11T);
(b)第2组:具有最短凹坑长(3T)的凹坑和非凹坑反复的凹坑串(3T+*3T);
(c)第3组:下面所示的凹坑长串的反复排列串,
(3T+*3T)的[p次反复],
(4T+*4T)的[q次反复],
(6T+*6T)的[r次反复],
(7T+*7T)的[s次反复],
(11T+*11T)的[t次反复]。
如上上述,(4T+*4T)、(6T+*6T)和(7T+*7T)的凹坑串相当于从最短凹坑长串(3T+*3T)到指定凹坑长串(11T+*11T)之间,它们都不是倍数关系。
(d) 最短凹坑长串(4T+*4T)沿光盘10的1周反复排列、作为与和中心道相当的该最短凹坑长串(4T+*4T)相邻的道凹坑长串(5T+*5T)沿光盘10的内侧的1周反复排列、凹坑长串(6T+*6T)与最短凹坑长串(4T+*4T)相邻地沿光盘10的下1周反复排列的凹坑长串的第4组。
另外,作为测试图案的其他例子,也可以形成如下凹坑串。(a)具有作为图5A所示的最长凹坑串(nT)的凹坑和非凹坑反复的凹坑串(nT+*nT)的最长凹坑长串的第1组;
(b)作为具有图6A所示的最短凹坑长(mT)的凹坑和非凹坑反复的凹坑串(mT+*mT)的最短凹坑长串的第2组;
作为其他例子,可以是如下的关系。
(c)与从最短凹坑长串(mT+*mT)到指定凹坑长串[(m+14)T+*(m+14)T]之间相当的该区间的凹坑串都无倍数关系的下面所示的凹坑长串反复排列的反复凹坑长串的第3组;
[(mT+*mT)]的[p次反复],
[(m+1)T+*(m+1)T]的[q次反复],
[(m+3)T+*(m+3)T]的[r次反复],
[(m+7)T+*(m+7)T]的[s次反复],
[(m+14)T+*(m+14)T]的[t次反复]。
这里,(p>q>r>s>t)的关系成立,选定再生p、q、r、s、t次的反复凹坑串所需要的时间基本上一定。另外,[(m+14)T+*(m+14)T]具体地说就相当于最长凹坑串(nT+*nT)。
(d)如图8所示,最短凹坑长串(mT+*mT)沿光盘10的1周反复排列、作为与和中心道相当的该最短凹坑长串(mT+*mT)相邻的道凹坑长串[(m+1)T+*(m+1)T]沿光盘10的内侧的1周反复排列、凹坑长串[(m+2)T+*(m+2)T]与最短凹坑长串(mT+*mT)相邻地沿光盘10的下1周反复排列的凹坑长串的第4组。
上述其他例子的第1组到第4组的凹坑长串,具体地说就是相当于(n=18)和(m=4),具有如下关系。
(a)第1组:具有最长凹坑长(4T)的凹坑和非凹坑反复的凹坑串(18T+*18T);
(b)第2组:具有最短凹坑长(4T)的凹坑和非凹坑反复的凹坑串(4T+*4T);
(c)第3组:下面所示的凹坑长串的反复排列串,
(4T+*4T)的[p次反复],
(5T+*5T)的[q次反复],
(7T+*7T)的[r次反复],
(11T+*11T)的[s次反复],
(18T+*18T)的[t次反复]。
同样,(5T+*5T)、(7T+*7T)和(11T+*11T)的凹坑串相当于从最短凹坑长串(4T+*4T)到指定凹坑长串(18T+*18T)之间,它们都不是倍数关系。
(d)最短凹坑长串(4T+*4T)沿光盘10的1周反复排列、作为与和中心道相当的该最短凹坑长串(4T+*4T)相邻的道凹坑长串(5T+*5T)沿光盘10的内侧的1周反复排列、凹坑长串(6T+*6T)与最短凹坑长串(4T+*4T)相邻地沿光盘10的下1周反复排列的凹坑长串的第4组。
当检测到从具有图5A所示的第1组的最长凹坑长(nT)的凹坑串反射的反射光束并将其变换为再生信号时,便可获得图5B所示的再生信号。另外,当检测到从具有图6A所示的第2组的最短凹坑长(mT)的凹坑串反射的反射光束并将其变换为再生信号时,便可获得图6B所示的再生信号。
如后面上述,根据图5B和图6B所示的第1和第2组的再生波形评价根据模子即原盘形成的光盘10的凹坑的成形性。另外,利用光束将第3组的凹坑串变换为再生信号时,便可获得图7所示的MTF(Modulation Transfer Function)信号。在该MTF信号中,凹坑长越小,再生信号的振幅就越小,凹坑长越大,再生信号的振幅就越大。根据图7所示的MTF信号特性可以评价根据凹坑再生的再生信号的频率特性。
此外,如图8所示,第4组的凹坑串形成为与中心道相当的凹坑长串(mT+*mT)和与相邻道相当的凹坑长串[(m+1)T+*(m+1)T]及[(m+2)T+*(m+2)T],所以,可以评价在再生信号中包含的来自相邻道的串扰。这里,串扰量Ct与从再生道的振幅At(与中心道相当)中减去相邻的道的振幅Br后的值相当(Ct=At-Br(dB))。
另外,在导出区域26和导入区域27或者至少其中一方除了用于评价在光盘10上形成的凹坑串的第1组到第4组的凹坑串外,进而作为第5组的凹坑串还形成用于修正光盘10的再生面与物镜34之间相对的倾斜量的第2测试图案。第5组的凹坑串,从最短凹坑长串(mT+*mT)到最长凹坑长串(nT+*nT),各凹坑串的反复排列按其凹坑长顺序排列。
在第5组的第1例中,是(m=3、n=11),排列具有从3T到11T的凹坑长的凹坑串。另外,作为第5组的另一例子,是(m=4、n=18),排列具有从4T到18T的凹坑长的凹坑串。在第5组的第1例中,当再生该第2测试图案时,就再生图9A、图9B和图9C所示的MTF信号。如后面详细上述,利用该MTF信号可以修正光盘10的再生面与物镜34之间的相对的倾斜量。由图9A可知,各凹坑串的反复次数,和第3组的反复次数(从p到t)相同地,选定为使再生该反复的凹坑串所需要的时间基本上一定。另外,图9A所示的MTF信号,根据表示将其信号波形放大的信号波形的图9B和图9C的信号波形可知,是对各凹坑的信号波形的集合。
下面,参照图1和图2说明从这样的光盘10再生数据的光盘再生装置。在光盘再生装置中,在驱动光盘的盘驱动部30中,利用光束检索光盘10。即,如图2所示,光盘10置于由电机驱动电路11驱动的主轴电机12上,随该主轴电机12以线速度恒定地转动。在光盘10的下方,设置将光束即激光束聚焦到该光盘10上的光头即光读写头32。为了检索信息记录区域25特别是数据记录区域28,该光头32设置在导向机构(图中未示出)上,可以沿光盘10的半径方向移动,利用由驱动电路37的驱动信号所驱动的馈送电机33在光盘10的半径方向上移动。光盘10上,物镜34保持为可以沿其光轴移动,响应聚焦驱动电路36的驱动信号沿其光轴方向移动,物镜34总是保持为聚焦状态,在记录层16上形成微小光束斑点。另外,该物镜34保持为可以沿光盘10的半径方向微动,根据道驱动电路38的驱动信号进行微动,总是保持为跟踪状态,用光束追踪光盘10的记录层16上的道。
光头32检测从光盘10上反射的光束,检测的该检测信号从光头32通过前置放大器40供给伺服处理电路44。在伺服处理电路44中,根据检测信号生成聚焦信号、跟踪信号和电机控制信号,并将这些信号分别供给驱动电路36、38、11。因此,物镜34保持为聚焦状态和跟踪状态,另外,主轴电机12按指定的转数转动,利用光束例如以线速度一定地追踪记录层16上的道。当作为访问信号的控制信号从***CPU部50供给伺服处理电路44时,移动信号就从伺服处理电路44供给驱动电路37,光头32就沿光盘10的半径方向移动,访问记录层16的指定的扇区,再生数据由前置放大器40放大后,从盘驱动部30输出。输出的再生数据通过由记录在***用ROM和RAM部52内的程序控制的***CPU部50和***处理器部54存储到数据RAM部56内。该存储的再生数据由***处理器部54处理,分为图像数据、声音数据和副图像数据,图像数据、声音数据和副图像数据分别输出到图像译码器部58、声音译码器部60和副图像译码器部62进行译码。译码后的图像数据、声音数据和副图像数据由D/A和再生处理电路64变换为作为模拟信号的视频信号、音频信号和副图像信号,同时进行混合处理,视频信号和副图像信号供给监视器6,音频信号供给扬声器8。结果,在监视器6上便显示出图像,同时从扬声器8再现出声音。
如上上述,在图1和图2所示的光盘再生装置中,伴随再生动作的开始,检索光盘10的导入区域27之外与该区域27相邻的内侧的区域部分29A和导出区域26之外与该区域26相邻的外侧的区域部分29B的双方或者至少其中的一方,为了检测倾斜量,检索与第2测试图案相当的第5组的凹坑串,其再生信号读入图2的数据处理电路42。根据该检测的倾斜量按如下方式检索数据区域25时,实际上就除去了该再生信号包含的倾斜成分。
数据处理电路42中包含的用于该倾斜修正的倾斜修正电路示于图10。如前上述,利用光头32读取记录在光盘10上的信息,模拟再生信号输出到前置放大器40。该模拟再生信号由前置放大器40放大后,供给由延迟电路121、122、123、124构成的5抽头结构的横向滤波器104,如后上述,该信号波形修正后供给2值化电路105。在2值化电路105中,再生信号进行2值化处理,该数字化的数字再生信号在PLL电路106中进行时钟再生,该进行过时钟再生的信号在解调电路107中进行解调后,顺序传送给数据处理器108进行处理。
如上上述,在光盘10上,如图4所示的那样形成作为属于第5组的第2测试图案的凹坑串,在进行再生时,开始便先检测属于该第5组的凹坑串。这里,以从4T到18T的凹坑串为例进行说明。当一个接一个地再生作为测试图案的4T到18T的凹坑串时,就再生了MTF信号,该MTF信号由A/D变换器109进行A/D变换。在***CPU部50中,根据该数字化的MTF信号求把第2测试图案的各4T到18T的凹坑串修正为具有图11所示的理想的振幅特性的修正系数,该修正系数存储到***用ROM和RAM部52内。
通常,如图10所示,在光盘10的转动期间,当在光盘10与光头32之间发生相对的倾斜例如发生倾斜角θrad时,如图12中的实线所示,再生信号的电平便周期性地衰减。通过修正该电平衰减的修正系数与修正对象的凹坑串的再生信号相乘,便可获得图12中虚线所示的理想的信号波形。即,在***CPU部50中,将由于倾斜而其一部分衰减的第2测试图案的数字化的MTF信号与对于各凹坑串的理想的基准信号电平即振幅进行比较,求出两者之差。当各凹坑串的实际的信号电平与基准信号电平一致时,该修正系数就取为1,当两者有差别时,就确定与实际的信号电平相乘的修正系数,以使之成为基准电平。对4T到18T的各凹坑串求该修正系数,对于装入该再生装置中的光盘10作为固有的倾斜修正系数即再生***的频率特性存储到***用ROM和RAM部52内。
该倾斜修正系数也可以利用在导入区域27和导出区域26的某一方形成的第5组的凹坑串的第2测试图案决定,或者也可以由两者决定倾斜修正系数。另外,如图4所示,也可以当以数据区域25的中心70为基准检索内周一侧的区域27的道时,就使用内周侧倾斜修正系数,当以数据区域25的中心70为基准检索外周一侧的区域74的道时,就使用外周侧倾斜修正系数。显而易见,这时,内周侧倾斜修正系数由在导入区域27形成的第5组的凹坑串的第2测试图案决定,外周侧倾斜修正系数由在导出区域26形成的第5组的凹坑串的第2测试图案决定。此外,该倾斜修正系数通常随着检索区域从内周向外周变化而增大,所以,要根据检索的区域或者道的序号进而决定对修正系数进行位置修正的系数修正系数,并将其存储到***用ROM和RAM部52内,与检索位置对应的修正系数也可以从***CPU部50输出。
在图10所示的电路中,在掌握再生***的频率特性后,便开始检索来自数据区域25的数据。即,为了使由光头32检测的数据区域25的再生信号的频率特性成为最佳的频率特性,修正系数作为修正数据从***CPU部50传送给横向滤波器104。在横向滤波器104中,从***CPU部50传送来的数据由D/A变换器111、112、113、114、115变换为模拟量,由乘法器116、117、118、119、120将其与横向滤波器104的各抽头输出相乘。例如,当倾斜量发生5mrad时,第2测试图案的再生信号便成为例如图13A所示的频率特性,为了使之成为图13C所示的最佳特性,可以输出图13B所示的修正系数特性,从决定横向滤波器104的各抽头系数值的***CPU部50分别向D/A变换器111、112、113、114、115输出例如系数值10H、20H、FFH、20H、10H。这样,即使光盘10发生倾斜,从而再生信号的频率特性被恶化,通过利用横向滤波器104的频率特性修正再生信号,便可进行正常的再生动作。
在图13A、13B和13C中,λ表示光束即激光束的波长,NA表示物镜34的数值孔径。
下面,参照图14A、图14B和图15说明本发明的其他实施例的评价图案。在光盘10进行再生时最初检索的图4所示的导入区域27内,作为用于评价在光盘10上形成的凹坑串的测试图案的其他例子,如图14A所示,凹坑和脊按照3T、mT、nT的反复周期作为评价数据进行记录。即,在导入区域27内,如图15所示,在记述物理扇区地址的标题66之后,凹坑长3T的凹坑、具有脊长*mT的脊、凹坑长nT的凹坑、脊长*3T的脊、凹坑长mT的凹坑和脊长*nT的脊反复作为评价数据68记录到1物理扇区内。包含该评价数据的1个物理扇区在某一道中可以设置至少1个或多个。另外,也可以在不同的道中设置多个包含评价数据的物理扇区。这里,m、n≥6,m≤n,并且m、n≤14(=k)。另外,凹坑或脊长3T、*3T与最小凹坑长或脊长相当,凹坑或脊长14T、*14T(kT、*kT)与最大凹坑长或脊长相当。当利用光束检索图14A所示的评价数据时,就检测到图14B所示的反射光电平。
在评价数据的具体例子中,m=6、n=7,作为评价数据,反复记录凹坑长3T的凹坑、具有脊长*6T的脊、凹坑长7T的凹坑、脊长*3T的脊、凹坑长6T的凹坑和脊长*7T的脊。该一组3-6-7的凹坑长和脊长用以16位表示的代码字表示,相当于“001 000001 0000001”,该16位代码字相当于8位的172H的数据符号。即,该16位代码字通过8/16变换,变换为8位的数据符号172H。
图14A所示的评价数据由具有和图10基本上相同的电路结构的图16所示的误码率修正电路进行检测,决定误码率修正系数,使字节误码率成为最小。即,在图17所示的S50,当光盘再生装置开始再生动作时,在S51检索光盘10的导入区域27,在S52检索包含图15所示的评价数据即测试信号的扇区。当判明包含测试图案的扇区时,在S54,***CPU部50就对作为补偿器的横向滤波器104的乘法器116、117、118、119、120设定缺省的抽头系数,同时,从该判明的扇区读出具有图14A所示的3·6·7图案的测试图案,并输出到前置放大器40。该测试图案信号由前置放大器40放大后,通过由延迟电路121、122、123、124构成的5抽头结构的横向滤波器104供给2值化电路105。在2值化电路105中,再生信号被进行2值化处理,该数字化的数字再生信号在PLL电路106中被进行时钟再生。这里,如果没有误码,在解调电路107中,就以用16位表示的代码字输出“001 000001 0000001”。如果读取时发生了错误,从解调电路107就输出包含错误的其他代码字。该代码字被供给***处理器54,变换为数据符号,该变换结果输出到***CPU部50。在***CPU部50中,确认代码字与数据符号172H是否一致。同样,在S54,为了测定字节误码率,一个一个地将3·6·7图案变换为代码字,在***CPU部50中确认是否发生了错误,计算对某一指定数的3·6·7图案的字节误码率。在S55,当该字节误码率大于10-5时,就返回到S54,***CPU部50对作为补偿器的横向滤波器104的乘法器116、117、118、119、120设定其他抽头系数,再次执行S54和S55。在S55,当字节误码率收敛到10-5以内时,就固定该抽头系数,并在S56开始通常的再生动作。
在上述其他实施例的具体例中,评价数据采用具有m=6和n=7的3-6-7凹坑和脊的反复排列。然而,评价数据也可以采用3-7-6、6-3-7、7-3-6、6-7-3和7-6-3的凹坑和脊反复排列中的任意一种。这里,在3-7-6的凹坑和脊反复排列中,和3-6-7凹坑和脊反复排列一样,成为凹坑长3T的凹坑、具有脊长*7T的脊、凹坑长6T的凹坑、脊长*3T的脊、凹坑长7T的凹坑和脊长*6T的脊的排列;在6-3-7的凹坑和脊反复排列中,成为凹坑长6T的凹坑、具有脊长*3T的脊、凹坑长7T的凹坑、脊长*6T的脊、凹坑长3T的凹坑和脊长*7T的脊的排列。其他反复图案也一样,成为其数字的排列的顺序。
下面,参照图18~图24说明将评价数据与图像数据和用于再生该图像数据的管理数据一起向光盘10记录的方法和应用该记录方法的记录***。
图18是将图像数据编码并生成某一标题集合84的图像文件88的编码***。在图18所示的***中,作为主图像数据、声音数据和副图像数据的数据源,例如采用录像机(VTR)201、录音机(ATR)202和副图像再生器203。它们在***控制器(Sys con)205的控制下发生主图像数据、声音数据和副图像数据,这些数据分别供给图像编码器(VENC)206、声音编码器(AENC)207和副图像编码器(SPENC)208,同样,在***控制器205的控制下,由这些编码器206、207、208进行A/D变换,同时,以各自的压缩方式进行编码,作为编码后的主图像数据、声音数据和副图像数据存储到存储器210、211、212内。这里,在进行编码时,例如利用按照MPEG2(Moving PictureExpert Group)的规格确定的压缩方式进行压缩,编码数据相当于组件化的图像、声音和副图像组件数据。
该主图像数据、声音数据和副图像数据在***控制器205的控制下输出到文件格式器(FFMT)214,变换为***的图像数据的文件结构,同时,各数据的设定条件和属性等管理信息作为文件在***控制器205的控制下存储到存储器216内。
下面,说明用于根据图像数据建立文件的***控制器205的编码处理的标准的流程。
按照图19所示的流程,将主图像数据和声音数据编码,作成编码主图像和声音数据的数据。即,当开始进行编码处理时,在图19的S70,设定主图像数据和声音数据编码所需要的参量。该设定的参量的一部分保存到***控制器205内,同时,在文件格式器214中利用。在S71,利用参量对主图像数据进行预编码,计算最佳的符号量的分配。在S72,根据预编码得到的符号量分配进行主图像的编码。这时,也同时进行声音数据的编码。在S73,如果需要,就进行主图像数据的部分的再编码,可以置换再编码部分的主图像数据。通过这一系列的处理步骤,就对主图像数据和声音数据进行了编码。另外,在S74和S75,对副图像数据进行编码,作成编码副图像数据。即,同样设定将副图像数据编码所需要的参量。在S74,设定的参量的一部分保存到***控制器205内,在文件格式器214中利用。根据该参量对副图像数据进行编码。通过这些处理,就对副图像数据进行了编码。
按照图20所示的流程,将编码后的主图像数据、声音数据和副图像数据组合,变换为特定的数据结构。即,在S76,设定作为多个图像、声音和副图像组件排列的图像数据的最小单位的数据单元,作成用于再生各数据单元的再生信息。其次,在S77,设定构成连接多个按单元的再生顺序配置的各程序的程序链的单元的结构、主图像、副图像和声音属性等(这些属性信息的一部分可以利用各数据编码时得到的信息。),根据该单元信息作成管理单元的再生的单元再生管理信息。编码后的主图像数据、声音数据和副图像数据细分为一定的组件,为了可以按照各数据的时间代码顺序进行再生,对每个指定单位在其开头配置控制组件的再生的导引组件,并配置各数据单位,由各数据单位构成单元。然后,构成由多个单元构成的图像目标,格式化为再生与该图像目标的集合相当的某一标题的图像的标题集合的结构。
图21和图22是用于将按上述方式进行格式化的标题集合向光盘记录的盘格式器的***。如图21和图22所示,在盘格式器***中,这些文件数据从存储作成的标题集合的存储器220、222供给卷格式器(VFMT)226。在卷格式器226中,从标题集合84、86中抽出管理信息,作成管理标题集合的图像管理程序,并作成按指定的排列顺序应向光盘10记录的状态的逻辑数据。在盘格式器(DFMT)228中,将误码修正用的数据附加到由卷格式器226作成的逻辑数据上,再变换为向光盘记录的物理数据。在解调器230中,将由盘格式器228作成的物理数据变换为实际向光盘记录的记录数据,该经过解调处理的记录数据由记录器232记录到光盘10上。
关于参照图5A~图9C说明的测试图案,在图21所示的格式器***中,在记录数据向光盘10记录之前,记录器232通过开关236与测试图案信号发生器234连接。从该测试图案信号发生器234发生已说明过的第1到第5组的凹坑串的第1和第2测试图案的测试图案信号。按照该发生的测试图案信号,第1到第5组的测试图案被记录到导入区域27及其附近。记录测试图案之后,切换开关236,记录器232与调制器230连接,将物理数据记录到数据区域28内。当记录完该物理数据后,再次切换开关236,记录器232通过开关236与测试图案信号发生器234连接,再次将第1到第5组的凹坑串向光盘10上进行记录。
关于参照图14A~图15说明的3·6·7图案,如图22所示,准备如图15所示的那样预先存储扇区地址及包含连续的3·6·7图案的评价数据的存储器221,开始先将该评价数据供给卷格式器226,然后,将文件数据从文件数据存储器220、222供给卷格式器226。从而,在导入区域27的指定的扇区地址中,记录扇区地址及包含连续的3·6·7图案的评价数据,从而图像数据等记录数据作为物理数据记录到数据区域28内。
下面,参照图23和图24说明用于作成上述逻辑数据和物理数据的标准的流程。图23是作成用于向光盘10记录的逻辑数据的流程。即,在S80,先设定图像数据文件的数、排列顺序、各图像数据文件的大小等参量。其次,在S81,根据设定的参量和各图像标题集合72的图像标题集合信息作成图像管理程序。然后,在S82,数据按照图像管理程序71、图像标题集合72的顺序沿着相应的逻辑块序号配置,作成用于向光盘10记录的逻辑数据。如前上述,3·6·7图案与逻辑数据172H相当,逻辑数据172H连续地变换为物理数据。
然后,执行图24所示的作成用于向光盘记录的物理数据的流程。即,在S83,逻辑数据分割为一定字节数,生成误码修正用的数据。其次,在S84,将分割为一定字节数的逻辑数据和生成的误码修正用的数据合并,准备物理扇区。然后,在S85,将物理扇区链接,准备物理数据。这样,按照图25所示的流程,对生成的物理数据根据一定规则进行调制处理,作成记录数据。然后,将该记录数据记录到光盘10上。将该光盘10作为原盘,根据该原盘复制大量的光盘。
在上述实施例中,第1组到第5组的凹坑串也可以不按照其顺序记录到导入区域27和读出区域28内,只要能够从物理上进行区分,按照什么顺序进行记录都可以。另外,当不进行下面上述的制造的光盘10的评价时,第1组到第4组的凹坑串也可以不记录到光盘10上,另外,只以光盘10的评价为对象而不需要倾斜修正时,也可以不形成第5组的凹坑串。
下面,说明评价按上述方法制作的光盘的方法。首先,将上述制造的光盘10装入再生装置,获得其第1测试图案的第1组到第4组的再生信号,根据这些信号波形按如下那样评价制造的光盘10是否合格。根据与最长凹坑(nT+*nT)相当的信号波形评价各凹坑的成形性。即,只要各凹坑是正确地成形的,则与最长凹坑(nT+*nT)相当的信号波形便如图5B所示的那样,脉冲宽度比较大,其前沿和后沿间的电平变化小、而且其前沿和后沿清晰明了。因此,当该信号波形被中途切断、不清晰明了时,便可视为凹坑成形性有问题,从而可以判定制造的光盘10是不合格产品。另外,根据与最短凹坑(mT+*mT)相当的信号波形评价凹坑相对于凹坑间的非凹坑区域是否形成为可以明确地区分的凹坑。即,根据图6B所示的再生信号如图25所示求出噪音电平(N)和与再生信号的峰值电平相当的载波电平(C),根据该C/N比判断凹坑串的成形性。当该C/N比小时,由于不能区分与凹坑相当的载波和与光盘10上的缺陷等相当的噪音,所以,当该C/N比小于指定值时,就视为凹坑串的成形性有问题,而判定制造的光盘10是不合格产品。此外,当利用光束将第3组的凹坑串变换为再生信号时,便可获得图7所示的MTF信号,如前上述,根据该MTF信号,可以获得图26所示的再生***对第3组的凹坑串的频率特性。当光盘10发生弯曲或偏心等不良现象时,该频率特性就变坏。因此,通过判断该频率特性,便可判断光盘10的物理特性是否良好。
另外,由于第4组的凹坑串如图8所示,形成与中心道相当的凹坑长串(mT+*mT)及与相邻道相当的凹坑长串[(m+1)T+*(m+1)T]和[(m+2)T+*(m+2)T],所以,可以评价在再生信号中包含的来自相邻道的串扰。这里,串扰量Ct相当于从再生道的振幅At(与中心道相当)减去相邻道的振幅Br后的值(Ct=At-Br(dB))。即,再生与中心道相当的凹坑长串(mT+*mT)时,如图27所示,便出现与相邻道相当的凹坑长串[(m+1)T+*(m+1)T]和[(m+2)T+*(m+2)T]的频率fr1、fr2,从而便可将具有频率fc的凹坑长串(mT+*mT)的主信号电平和与具有这些频率fr1、fr2的相邻道相当的凹坑长串[(m+1)T+*(m+1)T]和[(m+2)T+*(m+2)T]的相邻信号电平之差作为串扰量进行检测。该串扰量大时,可以充分判别检索道与相邻道,该串扰量小时,就不能判别检索道与相邻道。当串扰量小于指定值时,就判定光盘10为不合格产品。
利用其他实施例的3·6·7评价图案评价光盘10时,在图17所示的流程图的S55,即使改变横向滤波器104的抽头系数,误码率也收敛不到10-5以内时,该光盘就判定为不合格产品。
如上上述,即使发生盘再生面与物镜间的相对倾斜,通过根据该量使再生等效电路(横向滤波器)的各抽头系数成为最佳,便可使再生等效电路的频率特性为最佳,从而可以提高再生信号特性。因此,最终便可改善数据读出时的误码率。此外,由于在控制***内不存在电机、齿轮等机械部件,所以,容易实现高频带化,从而可以获得宽的控制频带,并且适合于装置的小型化。
Claims (25)
1.一种光盘,该光盘包括:
数据区域,用于记录作为凹坑和脊的8/16变换数据,所述凹坑具有最短凹坑长度3T、最长凹坑长度kT和位于所述最短凹坑长度3T与所述最长凹坑长度kT之间的凹坑长度其中之一;所述脊具有最短非凹坑长度*3T、最长非凹坑长度*kT和位于所述最短非凹坑长度*3T与所述最长非凹坑长度*kT之间的非凹坑长度其中之一,其中T代表一个通道凹坑长度,k是整数,其中前缀*表示其后的长度为脊的长度,
测试图案区域,它位于所述数据区域之外,并且记录了具有所述凹坑和脊的图案的一个测试图案,所述测试图案对应于8/16变换测试图案数据并且是将具有连续的所述凹坑和脊的一个预定排列进行反复后所得到的,在所述预定排列中包括:
第一凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度之一;
第一脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度之一;
第二凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑的长度的剩余长度之一;
第二脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊的长度的剩余长度之一;
第三凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑和所述第二凹坑的长度的剩余的那个长度;
第三脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊和所述第二脊的长度的剩余的那个长度。
2.根据权利要求1所述的光盘,其特征在于:
所述数据区域位于所述光盘的内周道区域的导入区域和所述光盘的外周道区域的导出区域之间,并且在所述导入区域中设置所述测试图案区域。
3.根据权利要求1所述的光盘,其特征在于:具有凹坑长度为3T的凹坑、脊长度为*6T的脊以及凹坑长度为7T的凹坑的图案等价于代码字0010000010000001。
4.根据权利要求1所述的光盘,其特征在于:所述凹坑和脊的所述排列从包括如下排列的组中进行选择:3T-*6T-7T-*3T-6T-*7T,3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T,6T-*3T-7T-*6T-3T-*7T,7T-*3T-6T-*7T-3T-*6T,6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T,以及7T-*6T-3T-*7T-6T-*3T。
5.根据权利要求2所述的光盘,其特征在于:所述测试图案区域包括至少一个物理扇区,该物理扇区具有一个标题,其中描述了一个物理扇区地址,该物理扇区还具有一个数据部分,其中记录了具有所述凹坑和脊的图案的测试图案。
6.一种光盘读取设备,包括:
读取装置,用于从光盘中光学地读取存储在其中的测试图案和数据作为再生信号,
该光盘包括:
数据区域,具有根据8/16变换数据排列的凹坑和脊,从而该数据区域包括以凹坑和脊记录的数据,所述凹坑具有以下凹坑长度其中之一,即最短凹坑长度3T、最长凹坑长度kT和位于所述最短凹坑长度3T与所述最长凹坑长度kT之间的凹坑长度;所述脊具有以下凹坑长度其中之一,即最短非凹坑长度*3T、最长非凹坑长度*kT和位于所述最短非凹坑长度*3T与所述最长非凹坑长度*kT之间的非凹坑长度,其中T代表一个通道凹坑长度,k是整数,其中前缀*表示其后的长度为脊的长度,
测试图案区域,它位于所述数据区域之外,并且具有基于预定的排列规则排列的凹坑和脊,该预定的排列规则包括对应于8/16变换测试图案数据并且是将具有连续的所述凹坑和脊的一个预定排列进行反复后所得到的反复图案,在所述预定排列中包括:
第一凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度之一;
第一脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度之一;
第二凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑的长度的剩余长度之一;
第二脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊的长度的剩余长度之一;
第三凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑和所述第二凹坑的长度的剩余的那个长度;
第三脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊和所述第二脊的长度的剩余的那个长度。
7.根据权利要求6所述的光盘读取设备,其特征在于:
所述数据区域位于所述光盘的内周道区域的导入区域和所述光盘的外周道区域的导出区域之间,并且在所述导入区域中设置所述测试图案区域。
8.根据权利要求6所述的光盘读取设备,其特征在于:具有凹坑长度为3T的凹坑、脊长度为*6T的脊以及凹坑长度为7T的凹坑的图案等价于代码字0010000010000001。
9.根据权利要求6所述的光盘读取设备,其特征在于:所述凹坑和脊的所述排列从包括如下排列的组中进行选择:3T-*6T-7T-*3T-6T-*7T,3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T,6T-*3T-7T-*6T-3T-*7T,7T-*3T-6T-*7T-3T-*6T,6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T,以及7T-*6T-3T-*7T-6T-*3T。
10.根据权利要求7所述的光盘读取设备,其特征在于:所述测试图案区域包括至少一个物理扇区,该物理扇区具有一个标题,其中描述了一个物理扇区地址,该物理扇区还具有一个数据部分,其中记录了具有所述凹坑和脊的图案的测试图案。
11.一种从光盘读取数据的光盘再生方法,
该光盘包括:
数据区域,具有根据8/16变换数据排列的凹坑和脊,从而该数据区域包括以凹坑和脊的图案记录的数据,所述凹坑具有以下凹坑长度其中之一,即最短凹坑长度3T、最长凹坑长度kT和位于所述最短凹坑长度3T与所述最长凹坑长度kT之间的凹坑长度;所述脊具有以下凹坑长度其中之一,即最短非凹坑长度*3T、最长非凹坑长度*kT和位于所述最短非凹坑长度*3T与所述最长非凹坑长度*kT之间的非凹坑长度,其中T代表一个通道凹坑长度,k是整数,其中前缀*表示其后的长度为脊的长度,
测试图案区域,它位于所述数据区域之外,并且具有基于预定的排列规则排列的凹坑和脊,该预定的排列规则包括对应于8/16变换测试图案数据并且是将具有连续的所述凹坑和脊的一个预定排列进行反复后所得到的反复图案,在所述预定排列中包括:
第一凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度之一;
第一脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度之一;
第二凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑的长度的剩余长度之一;
第二脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊的长度的剩余长度之一;
第三凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑和所述第二凹坑的长度的剩余的那个长度;
第三脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊和所述第二脊的长度的剩余的那个长度,
所述方法包括步骤:
从光盘中读取存储在其中的测试图案和数据作为再生信号,
12.根据权利要求11所述的光盘再生方法,其特征在于:
所述数据区域位于所述光盘的内周道区域的导入区域和所述光盘的外周道区域的导出区域之间,并且在所述导入区域中设置所述测试图案区域。
13.根据权利要求11所述的光盘再生方法,其特征在于:具有凹坑长度为3T的凹坑、脊长度为*6T的脊以及凹坑长度为7T的凹坑的图案等价于代码字0010000010000001。
14.根据权利要求11所述的光盘再生方法,其特征在于:所述凹坑和脊的所述排列从包括如下排列的组中进行选择:3T-*6T-7T-*3T-6T-*7T,3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T,6T-*3T-7T-*6T-3T-*7T,7T-*3T-6T-*7T-3T-*6T,6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T,以及7T-*6T-3T-*7T-6T-*3T。
15.根据权利要求12所述的光盘再生方法,其特征在于:所述测试图案区域包括至少一个物理扇区,该物理扇区具有一个标题,其中描述了一个物理扇区地址,该物理扇区还具有一个数据部分,其中记录了具有所述凹坑和脊的图案的测试图案。
16.一种在光盘上记录数据的光盘记录方法,包括:
将记录数据转换为物理数据,物理数据对应于凹坑和脊的图案,所述凹坑具有以下凹坑长度其中之一,即最短凹坑长度3T、最长凹坑长度kT和位于所述最短凹坑长度3T与所述最长凹坑长度kT之间的凹坑长度;所述脊具有以下凹坑长度其中之一,即最短非凹坑长度*3T、最长非凹坑长度*kT和位于所述最短非凹坑长度*3T与所述最长非凹坑长度*kT之间的非凹坑长度,其中T代表一个通道凹坑长度,k是整数,其中前缀*表示其后的长度为脊的长度,
在位于数据区域之外的测试图案区域记录一个测试图案,在数据区域记录物理数据,其中该测试图案区域具有基于预定的排列规则排列的凹坑和脊,该预定的排列规则包括对应于8/16变换测试图案数据并且是将具有连续的所述凹坑和脊的一个预定排列进行反复后所得到的反复图案,在所述预定排列中包括:
第一凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度之一;
第一脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度之一;
第二凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑的长度的剩余长度之一;
第二脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊的长度的剩余长度之一;
第三凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑和所述第二凹坑的长度的剩余的那个长度;
第三脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊和所述第二脊的长度的剩余的那个长度。
17.根据权利要求16所述的光盘记录方法,其特征在于:
所述数据区域位于所述光盘的内周道区域的导入区域和所述光盘的外周道区域的导出区域之间,并且在所述导入区域中设置所述测试图案区域。
18.根据权利要求16所述的光盘记录方法,其特征在于:具有凹坑长度为3T的凹坑、脊长度为*6T的脊以及凹坑长度为7T的凹坑的图案等价于代码字0010000010000001。
19.根据权利要求16所述的光盘记录方法,其特征在于:所述凹坑和脊的所述排列从包括如下排列的组中进行选择:3T-*6T-7T-*3T-6T-*7T,3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T,6T-*3T-7T-*6T-3T-*7T,7T-*3T-6T-*7T-3T-6T,6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T,以及7T-*6T-3T-*7T-6T-*3T。
20.根据权利要求17所述的光盘记录方法,其特征在于:所述测试图案区域包括至少一个物理扇区,该物理扇区具有一个标题,其中描述了一个物理扇区地址,该物理扇区还具有一个数据部分,其中记录了具有所述凹坑和脊的图案的测试图案。
21.一种在光盘上记录数据的光盘记录设备,包括:
转换装置,将记录数据转换为物理数据,物理数据对应于凹坑和脊的图案,所述凹坑具有以下凹坑长度其中之一,即最短凹坑长度3T、最长凹坑长度kT和位于所述最短凹坑长度3T与所述最长凹坑长度kT之间的凹坑长度;所述脊具有以下凹坑长度其中之一,即最短非凹坑长度*3T、最长非凹坑长度*kT和位于所述最短非凹坑长度*3T与所述最长非凹坑长度*kT之间的非凹坑长度,其中T代表一个通道凹坑长度,k是整数,其中前缀*表示其后的长度为脊的长度,
记录装置,在位于数据区域之外的测试图案区域记录一个测试图案,在数据区域记录物理数据,其中该测试图案区域具有基于预定的排列规则排列的凹坑和脊,该预定的排列规则包括对应于8/16变换测试图案数据并且是将具有连续的所述凹坑和脊的一个预定排列进行反复后所得到的反复图案,在所述预定排列中包括:
第一凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度之一;
第一脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度之一;
第二凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑的长度的剩余长度之一;
第二脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊的长度的剩余长度之一;
第三凹坑,它具有3T、6T和7T这三种长度中未被用于定义所述第一凹坑和所述第二凹坑的长度的剩余的那个长度;
第三脊,它具有*3T、*6T和*7T这三种长度中未被用于定义所述第一脊和所述第二脊的长度的剩余的那个长度。
22.根据权利要求21所述的光盘记录设备,其特征在于:
所述数据区域位于所述光盘的内周道区域的导入区域和所述光盘的外周道区域的导出区域之间,并且在所述导入区域中设置所述测试图案区域。
23.根据权利要求21所述的光盘记录设备,其特征在于:具有凹坑长度为3T的凹坑、脊长度为*6T的脊以及凹坑长度为7T的凹坑的图案等价于代码字0010000010000001。
24.根据权利要求21所述的光盘记录设备,其特征在于:所述凹坑和脊的所述排列从包括如下排列的组中进行选择:3T-*6T-7T-*3T-6T-*7T,3T-*7T-6T-*3T-7T-*6T,6T-*3T-7T-*6T-3T-*7T,7T-*3T-6T-*7T-3T-6T,6T-*7T-3T-*6T-7T-*3T,以及7T-*6T-3T-*7T-6T-*3T。
25.根据权利要求22所述的光盘记录设备,其特征在于:所述测试图案区域包括至少一个物理扇区,该物理扇区具有一个标题,其中描述了一个物理扇区地址,该物理扇区还具有一个数据部分,其中记录了具有所述凹坑和脊的图案的测试图案。
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