CN113686243B - 一种印材相对拉伸量的测量方法 - Google Patents

一种印材相对拉伸量的测量方法 Download PDF

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Abstract

本申请公开了一种印材相对拉伸量的测量方法，所述相对拉伸量是指相对于正常印刷时设定张力下的承印材料，在印制过程中由于张力波动所产生的形变量，所述相对拉伸量既可为正也可为负，所述方法根据两色组图像采集时间间隔以及对应基准色组的纵向位置确定印材的相对拉伸量，根据所述相对拉伸量来校正套色参数，本申请提供的方法还适用于复卷，复合等需要控制张力的设备中。

Description

一种印材相对拉伸量的测量方法
技术领域
本申请属于印刷领域，特别涉及一种印材相对拉伸量的测量方法。
背景技术
多色组印刷设备用于印刷颜色复杂图案的制品，多色组印刷机印刷颜色复杂图案一般通过不同色组套叠印刷而形成，在正式印刷之前，调试印刷机使多个色组精准对齐，使印刷而得的印刷品满足印刷精度的要求，这一过程称为套准。高品质印刷品通常要求更高的套准精度，为实现高精度套准控制，需要对套偏值进行及时准确的测量，从而在调机和印刷过程中实时修正套色参数。
现有技术中，实时检测套偏值的方法包括基于视觉方法的套准方案，通常，基于视觉方法的套准方案首先对色标组进行拍照，再根据拍照所得图像中识别色标影像，再根据所述色标影像确定套偏值，然而，对于易变形的承印基材在印制过程中会被拉伸，特别是在印刷设备在加减速过程中，印刷设备张力波动，导致承印基材发生形变，进而导致套准精度下降。
发明内容
为解决现有技术存在的技术问题，本申请提供一种印材相对拉伸量的测量方法，所述相对拉伸量是指相对于正常印刷时设定张力下的承印材料，在印制过程中由于张力波动所产生的形变量，所述相对拉伸量既可为正也可为负，所述方法根据两色组图像采集时间间隔以及对应基准色组的纵向位置确定印材的相对拉伸量，根据所述相对拉伸量来校正套色参数。
传统方法无法进行定量的印刷材料拉伸量测量，只能根据设备张力间接得到或控制定性的拉伸还是缩短。本申请内容除用于印刷高精度套准外，也可用于复卷，复合等需要控制张力的设备中。
本申请的目的通过以下方案实现：
一种印材相对拉伸量的测量方法，所述测量方法用于测量拉伸系数较大的承印基材在印制过程中的相对拉伸量，所述测量方法适用于机组式多色组印刷设备，所述机组式多色组印刷设备包括多个相互独立的色组，沿走纸方向，自第二个色组起，在每个色组的下游均配置一个测量模块，每个测量模块均包括延时触发板和处理器，每两个待测测量模块形成一个拉伸量测量组，每个拉伸量测量组中位于上游的测量模块被标记为第一测量模块，该测量模块中各器件相应地被标记为第一器件，其所处理的物理量被标记为第一物理量，位于下游的测量模块被标记为第二测量模块，该测量模块中各器件相应地被标记为第二器件，其所处理的物理量被标记为第二物理量，所述测量方法包括：
第一处理器获取第一时间间隔并发送至第二处理器，所述第一时间间隔为第一延时触发板两次被触发的时间间隔；
第二内理器获取第二时间间隔，所述第二时间间隔为第二延时触发板两次被触发的时间间隔，第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同；
第一处理器获取第一纵向偏差，并发送到第二处理器，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；
第二处理器获取第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；
第二处理器获取走纸速度；
第二处理器根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。
在本实现方式中，根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量，具体可根据下式(1)计算：
Δl＝(Δt2-Δt1)×v+y2-y1 式(1)
其中，Δl表示印材相对拉伸量，Δt1表示第一时间间隔，Δt2表示第二时间间隔，v表示走纸速度，y1表示第一纵向偏差，y2表示第二纵向偏差。
在本可实现的方式中，所述获取第一纵向偏差的方法包括：
获取第一目标靶标图像几何中心坐标；
获取第一目标靶标影像几何中心坐标；
计算第一纵向偏差，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心纵坐标与第一目标靶标影像几何中心纵坐标之差。
相应地，所述获取第二纵向偏差的方法包括：
获取第二目标靶标图像几何中心坐标；
获取第二目标靶标影像几何中心坐标；
计算第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心纵坐标与第二目标靶标影像几何中心纵坐标之差。
在本实现方式中，所述测量方法还可以包括：
获取前次版周的第一校正触发距离和第二校正触发距离；
获取本次版周的第一实际触发距离和第二实际触发距离；
获取第一校正偏差和第二校正偏差；
根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。
可选地，所述根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量具体可根据下式(2)计算：
Δl＝(Δt2-Δt1)×v+y2-y1+N2-M2+M1-N1 式(2)
其中，Δl表示印材相对拉伸量，Δt1表示第一时间间隔，Δt2表示第二时间间隔，v表示走纸速度，y1表示第一纵向偏差，y2表示第二纵向偏差，N1表示第一校正触发距离，M1表示第一实际触发距离，N2表示第二校正触发距离，M2表示第二实际触发距离。
在本实现方式中，所述第一校正触发距离为基于获取第一校正触发距离的版周，在前次版周的第一实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离；相应地，所述第二校正触发距离为基于获取第二校正触发距离的版周，在前次版周的第二实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离。
在另一种可实现的方式中，所述测量方法包括：
第一处理器获取第一距离间隔并发送至第二处理器，所述第一距离间隔为第一延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离；
第二处理器获取第二距离间隔，所述第二距离间隔为第二延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离，第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同；
第一处理器获取第一纵向偏差，并发送至第二处理器，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；
第二处理器获取第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；
第二处理器获取走纸速度；
第二处理器根据所述第一距离间隔、第二距离间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。
在本实现方式中，根据所述第一距离间隔、第二距离间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量具体可根据下式(3)计算：
Δl＝ΔL2-ΔL1+y2-y1 式(3)
其中，Δl表示印材相对拉伸量，ΔL1表示第一距离间隔，ΔL2表示第二距离间隔，y1表示第一纵向偏差，y2表示第二纵向偏差。
进一步地，获取第一纵向偏差以及第二纵向偏差的方法与前一实现方式中获取相应纵向偏差的方法相同。
在本实现方式中，所述测量方法还可以包括：
获取前次版周的第一校正触发距离和第二校正触发距离；
获取本次版周的第一实际触发距离和第二实际触发距离；
获取第一校正偏差和第二校正偏差；
根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。
可选地，所述根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量具体可根据下式(4)计算：
Δl＝ΔL2-ΔL1+y2-y1+N2-M2+M1-N1 式(4)
其中，Δl表示印材相对拉伸量，ΔL1表示第一距离间隔，ΔL2表示第二距离间隔，y1表示第一纵向偏差，y2表示第二纵向偏差，N1表示第一校正触发距离，M1表示第一实际触发距离，N2表示第二校正触发距离，M2表示第二实际触发距离。
在本实现方式中，所述第一校正触发距离为基于获取第一校正触发距离的版周，在前次版周的第一实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离；相应地，所述第二校正触发距离为基于获取第二校正触发距离的版周，在前次版周的第二实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离。
第二方面，本申请还提供一种测量印材相对拉伸量的程序，所用程序用于执行时实现上述第一方面所述印材相对拉伸量的测量方法的步骤。
第三方面，一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现上述第一方面所述印材相对拉伸量的测量方法的步骤。
第四方面，一种检测设备，所述检测设备包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行上述第一方面所述印材相对拉伸量的测量方法。
与现有技术相比，本申请提供的方法基于视觉方案，利用独特设计的靶标形态以及特定测量模块任意两色组间印材的相对拉伸量测量，可以测量任意两个色组之间印材的相对拉伸量，根据该方法获得的相对拉伸量更接近真实值，测量误差达到像素级别。
附图说明
图1示出包括本申请提供测量方法适用的印刷设备结构示意图；
图2示出本申请提供一个版周靶标的示意图；
图3示出本申请提供一种印材相对拉伸量的测量方法的流程图；
图4示出本申请提供另一种印材相对拉伸量的测量方法的流程图。
附图标记说明
1-色组，11-印版滚筒，12-压印滚筒，13-导向滚筒，2-测量模块，21-图像采集器，22-光源，23-延时触发板，24-传感器，25-处理器，3-套色子***，4-印刷机通讯总线。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致方法的例子。
下面通过具体的实施例对本申请提供的印材相对拉伸量的测量方法进行详细阐述。
首先，对本方案的使用场景作简要介绍。
图1示出包括本申请提供测量方法适用的印刷设备结构示意图，如图1所示，所述多色组印刷机包括多个色组1以及多个测量模块2，沿走纸方向，自第二个色组1开始，在每个色组1的下游配置有一个测量模块2。
在本实例中，在每个套色子***3中仅包括一个色组以及唯一与之匹配的测量模块，即，所述测量模块仅为被指定的唯一色组进行套准检测，各色组套偏值的检测相互独立，并且，每个所述测量模块与对应的色组紧邻，从而在各个色组印刷完成后能够即时检测该色组的套偏值，不仅检测效率更高，所检测到的套偏值的准确度也更高。
如图1所示，每个所述色组1均包括印版滚筒11、压印滚筒12和至少两个导向滚筒13，其中，所述印版滚筒11与所述压印滚筒12相对设置，待印刷的基材由所述印版滚筒11与所述压印滚筒12之间的狭缝穿过并且被二者压紧，两个所述导向滚筒13分别设置于所述印版滚筒11与所述压印滚筒12压紧位置的两侧，所述测量模块2设置于位于下游的导向滚筒13的下游。
以图1所示印刷设备为例，假设所述印刷共包括N个色组，其中，位于生产线上游的第一个色组作为基准色组，不设置测量模块，则，从第二个色组开始，在每个色组的下游设置一个测量模块，则，整个所述套准***共有N-1个测量模块。
如图1所示，每个所述测量模块2均包括用于采集靶标图像的图像采集器21、用于为图像采集补光的光源22、用于触发图像采集器21以及光源22的延时触发板23、用于触发延时触发板的传感器24和用于计算套偏值的处理器25，各测量模块2中的处理器25通过印刷机通讯总线4与印刷机控制器电联连。
在本实例中，所述印刷机控制器为按照校正参数执行调节各色组印刷位置的控制器，所述控制器可控制调节所有色组的印刷位置，其调节方式可以使用现有技术中任意一种调节方式，在本申请的方案中不做详尽讨论。
可选地，所述印刷机控制器可与各处理器通过线缆连通，也可以通过无线方式，例如，无线局域网等方式连通。
在本实例中，所述延时触发板23与所述传感器24、所述处理器25、所述图像采集器21以及所述光源22分别电连接，所述处理器25还与所述图像采集器21电连接，从而所述延时触发板23能够根据由光电靶标生成的触发信号针对测量模块中各器件针对性地生成延时触发信号，即，针对图像采集器生成图像采集延时信号，针对光源生成光源延时信号，并分别发送给相应的器件，测量模块中各器件则根据相应触发信号被触发启动。
进一步需要说明的是，承印材料在印刷过程中，由于调机速度一般较小，而生产速度一般较大，因此，从调机速度到生产速度需要加速，而承印材料用完或到达印刷长度要求后又需要减速，导致印刷张力发生变化，进一步导致承印材料发生形变，本申请所述相对拉伸量是指相对于正常印刷张力下，承印材料在印刷张力波动下被拉伸或者缩短的量。可以理解的是，该量可为正，也可为负，即，本申请所述相对拉伸量既可为正值，也可以为负值；一般地，如果承印材料被拉伸，则相对拉伸量为正值，如果承印材料被缩短，则相对拉伸量为负值。
可以理解的是，所述印刷机即使按照生产速度运行，其实际走纸速度也是在一个较小的波动范围内，控制走纸速度过程也会导致印刷机产生微弱的加速或者减速，这也会导致承印材料的拉伸变形波动，因此，需要实时测量承印材料的相对拉伸量。
以下以图1所示设备为例，说明本申请提供的印材相对拉伸量的测量方法。
本申请提供的方案用于测量承印材料在任意两个色组之间走纸后的相对拉伸量，因此，本申请将两个待测测量模块视为一个拉伸量测量组，每个拉伸量测量组中位于上游的测量模块被标记为第一测量模块，该测量模块中各器件相应地被标记为第一器件，其所处理的物理量被标记为第一物理量，位于下游的测量模块被标记为第二测量模块，该测量模块中各器件相应地被标记为第二器件，其所处理的物理量被标记为第二物理量。可以理解的是，待测的两个色组可以相邻，也可以不相邻，如无特别说明，以下实例均以两个色组相邻为例进行说明。
图2示出本申请提供一个版周靶标的示意图，如图2所示，每个版周的靶标包括光电靶标、标定靶标以及多个基准靶标。
图3示出本申请提供一种印材相对拉伸量的测量方法的流程图，如图3所示，所述方法以时间间隔和走纸速度为基准进行测量，具体包括以下步骤S101至步骤S106：
步骤S101，第一理器获取第一时间间隔并发送至第二处理器，所述第一时间间隔为第一延时触发板两次被触发的时间间隔。
在本实例中，所述时间间隔是指同一色组在两个版周被触发的时间间隔，这两个版周可以是相邻的两个版周，也可以是不相邻的两个版周，具体如何选择则依据测算对象而具体选取，例如，如果计算相邻两个版周期间承印材料的相对拉伸量，则时间间隔的起止时刻分别为所述两个相邻版周该色组分别被触发的时刻，如果计算第一和第三版周期间承印材料的相对拉伸量，则时间间隔的起止时刻分别为第一版周以及第三版周该色组分别被触发的时刻。
可以理解的是，相对拉伸量的测量范围与具体的应用有关，例如，用于套准值修正的拉伸量测量应用中，为能够更及时准确地调整套色参数，通常会测量相邻色组间承印材料的相对拉伸量。又例如，在为保持固定拉伸率收卷应用中，为精确测量拉伸率变化，通常会测量从放卷端到收卷端的相对拉伸量。
在本实例中，所述第一时间间隔为第一色组在两个待测版周被触发时刻的差值，该差值可被第一处理器获取并被发送至第二处理器。
步骤S102，第二处理器获取第二时间间隔，所述第二时间间隔为第二延时触发板两次被触发的时间间隔，第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同。
在本实例中，获取第二时间间隔的方式与获取第一时间间隔的方式相同，在此不再赘述。
特别需要说明的是，获取第二时间间隔的起止时刻与获取第一时间间隔的起止时刻的版周分别相同。例如，如果第一时间间隔为第一色组第一与第二版周之间的时间间隔，则第二时间间隔为第二色组第一与第二版周之间的时间间隔；如果第一时间间隔为第一色组第一与第三版周之间的时间间隔，则第二时间间隔为第二色组第一与第三版周之间的时间间隔。
步骤S103，第一处理器获取第一纵向偏差，并发送至第二处理器，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差。
在本实例中，所述纵向是指沿走纸方向。基于此，可以理解的是，纵向偏差是指在走纸方向上的偏差。
在本可实现的方式中，所述获取第一纵向偏差的方法包括步骤S131至步骤S133：
步骤S131，获取第一目标靶标图像几何中心坐标。
在本实例中，本步骤具体可以包括：
获取第一目标靶标图像；
确定第一目标靶标图像几何中心坐标。
其中，所述第一目标靶标图像为图像采集器采集所得图像，该图像承载有第一目标靶标影像，所述第一目标靶标影像可能是完整的，也可能是不完整的，但是随着印制版周的增加，套色参数不断地被修正，第一目标靶标影像越来越趋近位于所述第一目标靶标图像的中央。
进一步地，根据第一目标靶标图像确定其几何中心坐标则可采用现有技术中任意一种确定图像几何中心坐标的方法，本申请对此不做特别限定。
步骤S132，获取第一目标靶标影像几何中心坐标。
在本实例中，本步骤可以具体包括：
确定第一目标靶标影像；
确定第一目标靶标影像几何中心坐标。
在本实例中，对在第一目标靶标图像中确定第一目标靶标影像的方法不做特别限定，可以使用现有技术中任意一种在图像中确定特定目标影像的方法。
进一步地，本实例示例性地使用环形或者圆形目标靶标进行说明，可以使用现有技术中任意一种确定几何图像几何中心的方法来确定第一目标靶标影像的几何中心，并在与第一靶标图像相同的坐标系中确定第一目标靶标影像几何中心的坐标。
可以理解的是，即使第一目标靶标影像不完整，也可利用几何手段来确定其几何中心，该几何中心可以第一目标靶标图像之外，但是其坐标仍在前述坐标系中确定。
进一步地，对于其它形状可用的目标靶标，亦可使用与示例相同的方式或者等价变换的方式确定其几何中心坐标。
步骤S133，计算第一纵向偏差，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心纵坐标与第一目标靶标影像几何中心纵坐标之差。
在本实例中，所述第一纵向偏差仅考虑两个几何中心的纵坐标之差，即使存在横向上也存在差异，在本实例中也暂不考虑。
步骤S104，第二处理器获取第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差。
与获取第一纵向偏差相似地，所述获取第二纵向偏差的方法可以包括如下步骤：
获取第二目标靶标图像几何中心坐标；
获取第二目标靶标影像几何中心坐标；
计算第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心纵坐标与第二目标靶标影像几何中心纵坐标之差。
其中，各步骤的实现方式与计算第一纵向偏差相对应的各步骤的实现方式相同，在此不再赘述。
步骤S105，第二处理器获取走纸速度。
在本实例中，所述走纸速度可以为预设值，也可以为实测量，测量走纸速度的方法可以现有技术中任意一种测量印刷机走纸速度的方法，本申请不做特别限定。
步骤S106，第二处理器根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。
在本实例中，本步骤具体可根据下式(1)计算：
Δl＝(Δt2-Δt1)×v+y2-y1 式(1)
其中，Δl表示印材相对拉伸量，Δt1表示第一时间间隔，Δt2表示第二时间间隔，v表示走纸速度，y1表示第一纵向偏差，y2表示第二纵向偏差。
在本实现方式中，所述测量方法还可以包括以下步骤S107至步骤S110：
步骤S107，获取前次版周的第一校正触发距离N1和第二校正触发距离N2。
在本实现方式中，所述第一校正触发距离为基于获取第一校正触发距离的版周，在前次版周的第一实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离，例如，本次计算的是第四版周与第五版周期间承印材料的相对拉伸量，则第一校正触发距离为第三版周与第四版周之间实际的触发距离加之理论校正量，这个理论校正量由根据套偏值等参数确定，因此，第一校正触发距离是个理论值，该值作为本次版周，在本例中，即作为第四版周与第五版周之间触发距离的理想值。
相应地，所述第二校正触发距离为基于获取第二校正触发距离的版周，在前次版周的第二实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离。
步骤S108，获取本次版周的第一实际触发距离M1和第二实际触发距离M2。
本次版周的第一实际触发距离为实测值。理想情况下，第一实际触发距离与第一校正触发距离相等。
可以理解的是，所述第二实际触发距离与所述第一实际触发距离相似。
步骤S109，获取第一校正偏差和第二校正偏差。
在本实例中，所述第一校正偏差为第一校正触发距离N1与第一实际触发距离M1之差。
相似地，所述第二校正偏差为第二校正触发距离N2与第二实际触发距离M2之差。
步骤S110，根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。
本步骤具体可根据下式(2)计算：
Δl＝(Δt2-Δt1)×v+y2-y1+N2-M2+M1-N1 式(2)
其中，Δl表示印材相对拉伸量，Δt1表示第一时间间隔，Δt2表示第二时间间隔，v表示走纸速度，y1表示第一纵向偏差，y2表示第二纵向偏差，N1表示第一校正触发距离，M1表示第一实际触发距离，N2表示第二校正触发距离，M2表示第二实际触发距离。
图4示出本申请提供另一种印材相对拉伸量的测量方法的流程图，如图4所示，所述方法以距离间隔为基准进行测量，具体包括以下步骤S201至步骤S206：
步骤S201，第一处理器获取第一距离间隔并发送至第二处理器，所述第一距离间隔为第一延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离。
在本实例中，采集时机如步骤S101所述，在此不再赘述。
进一步地，走纸距离可使用现有技术中任意一种测量特定时间段内承印材料走纸距离的方法，本申请不做特别限定。
步骤S202，第二处理器获取第二距离间隔，所述第二距离间隔为第二延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离，第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同。
本步骤的采集时机如步骤S102所述，在此不再赘述。
进一步地，走纸距离的采集方式与步骤S201相同，以便减小***误差。
步骤S203，第一处理器获取第一纵向偏差，并发送至第二处理器，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差。
本步骤的实现方式与步骤S103相同，在此不再赘述。
步骤S204，第二处理器获取第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差。
本步骤的实现方式与步骤S104相同，在此不再赘述。
步骤S205，第二处理器获取走纸速度。
本步骤的实现方式与步骤S105相同，在此不再赘述。
步骤S206，第二处理器根据所述第一距离间隔、第二距离间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。
在本实现方式中，根据所述第一距离间隔、第二距离间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量具体可根据下式(3)计算：
Δl＝ΔL2-ΔL1+y2-y1 式(3)
其中，Δl表示印材相对拉伸量，ΔL1表示第一距离间隔，ΔL2表示第二距离间隔，y1表示第一纵向偏差，y2表示第二纵向偏差。
进一步地，获取第一纵向偏差以及第二纵向偏差的方法与前一实现方式中获取相应纵向偏差的方法相同。
在本实现方式中，所述测量方法还可以包括步骤S207至步骤S210：
步骤S207，获取前次版周的第一校正触发距离和第二校正触发距离；
步骤S208，获取本次版周的第一实际触发距离和第二实际触发距离；
步骤S209，获取第一校正偏差和第二校正偏差；
步骤S210，根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量，具体可根据下式(4)计算：
Δl＝ΔL2-ΔL1+y2-y1+N2-M2+M1-N1 式(4)
其中，Δl表示印材相对拉伸量，ΔL1表示第一距离间隔，ΔL2表示第二距离间隔，y1表示第一纵向偏差，y2表示第二纵向偏差，N1表示第一校正触发距离，M1表示第一实际触发距离，N2表示第二校正触发距离，M2表示第二实际触发距离。
在本实例中，步骤S207至步骤S209与步骤S107至步骤S109分别对应相同，在此不再赘述。
本申请还提供一种测量印材相对拉伸量的程序，所用程序用于执行时实现上述第一方面所述印材相对拉伸量的测量方法的步骤。
本申请还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现上述第一方面所述印材相对拉伸量的测量方法的步骤。
本申请还提供一种检测设备，所述检测设备包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行上述第一方面所述印材相对拉伸量的测量方法。
以上结合具体实施方式和范例性实例对本申请进行了详细说明，不过这些说明并不能理解为对本申请的限制。本领域技术人员理解，在不偏离本申请精神和范围的情况下，可以对本申请技术方案及其实施方式进行多种等价替换、修饰或改进，这些均落入本申请的范围内。本申请的保护范围以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种印材相对拉伸量的测量方法，其特征在于，所述测量方法用于测量拉伸系数较大的承印基材在印制过程中的相对拉伸量，所述测量方法所适用的印刷设备包括多个色组，沿走纸方向，自第二个色组起，在每个色组的下游均配置一个测量模块，每个测量模块均包括延时触发板和处理器，每两个待测测量模块形成一个拉伸量测量组，每个拉伸量测量组中位于上游的测量模块被标记为第一测量模块，该第一测量模块中各器件相应地被标记为第一器件，其所处理的物理量被标记为第一物理量，位于下游的测量模块被标记为第二测量模块，该第二测量模块中各器件相应地被标记为第二器件，其所处理的物理量被标记为第二物理量，所述测量方法包括：
第一处理器获取第一时间间隔并发送至第二处理器，所述第一时间间隔为第一延时触发板两次被触发的时间间隔；
第二处理器获取第二时间间隔，所述第二时间间隔为第二延时触发板两次被触发的时间间隔，第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同；
第二处理器获取第一纵向偏差，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；
第二处理器获取第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；
第二处理器获取走纸速度；
第二处理器根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量，具体可根据下式（1）计算：
式（1）；
其中，Δl表示印材相对拉伸量，Δt 1 表示第一时间间隔，Δt 2 表示第二时间间隔，v表示走纸速度，y 1 表示第一纵向偏差，y 2 表示第二纵向偏差。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述获取第一纵向偏差的方法包括：
获取第一目标靶标图像几何中心坐标；
获取第一目标靶标影像几何中心坐标；
计算第一纵向偏差，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心纵坐标与第一目标靶标影像几何中心纵坐标之差。
4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述测量方法还包括：
获取前次版周的第一校正触发距离和第二校正触发距离；
获取本次版周的第一实际触发距离和第二实际触发距离；
获取第一校正偏差和第二校正偏差；
根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、所述第一时间间隔、第二时间间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差和走纸速度计算印材相对拉伸量具体可根据下式（2）计算：
式（2）；
其中，Δl表示印材相对拉伸量，Δt 1 表示第一时间间隔，Δt 2 表示第二时间间隔，v表示走纸速度，y 1 表示第一纵向偏差，y 2 表示第二纵向偏差，N 1 表示第一校正触发距离，M 1 表示第一实际触发距离，N 2 表示第二校正触发距离，M 2 表示第二实际触发距离。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一校正触发距离为基于获取第一校正触发距离的版周，在前次版周的第一实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离；所述第二校正触发距离为基于获取第二校正触发距离的版周，在前次版周的第二实际触发距离基础上进行理论校正后的触发距离。
7.一种印材相对拉伸量的测量方法，其特征在于，所述测量方法用于测量拉伸系数较大的承印基材在印制过程中的相对拉伸量，所述测量方法所适用的印刷设备包括多个色组，沿走纸方向，自第二个色组起，在每个色组的下游均配置一个测量模块，每个测量模块均包括延时触发板和处理器，每两个待测测量模块形成一个拉伸量测量组，每个拉伸量测量组中位于上游的测量模块被标记为第一测量模块，该第一测量模块中各器件相应地被标记为第一器件，其所处理的物理量被标记为第一物理量，位于下游的测量模块被标记为第二测量模块，该第二测量模块中各器件相应地被标记为第二器件，其所处理的物理量被标记为第二物理量，所述测量方法包括：
第一处理器获取第一距离间隔并发送至第二处理器，所述第一距离间隔为第一延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离；
第二处理器获取第二距离间隔，所述第二距离间隔为第二延时触发板两次被触发期间承印材料的走纸距离，第二延时触发板两次被触发的版周与第一延时触发板两次被触发的版周对应相同；
第一处理器获取第一纵向偏差，并发送到第二处理器，所述第一纵向偏差为第一目标靶标图像几何中心与其承印的第一目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；
第二处理器获取第二纵向偏差，所述第二纵向偏差为第二目标靶标图像几何中心与其承印的第二目标靶标影像几何中心之间的纵向偏差；
第二处理器根据所述第一距离间隔、第二距离间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差计算印材相对拉伸量。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，根据所述第一距离间隔、第二距离间隔、第一纵向偏差和第二纵向偏差计算印材相对拉伸量具体可根据下式（3）计算：
Δl=ΔL 2 -ΔL 1 +y 2 -y 1 式（3）；
其中，Δl表示印材相对拉伸量，ΔL 1 表示第一距离间隔，ΔL 2 表示第二距离间隔，y 1 表示第一纵向偏差，y 2 表示第二纵向偏差。
9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述测量方法还包括：
获取前次版周的第一校正触发距离和第二校正触发距离；
获取本次版周的第一实际触发距离和第二实际触发距离；
获取第一校正偏差和第二校正偏差；
根据所述第一校正偏差、所述第二校正偏差、前次版周的第一校正触发距离和第二校正触发距离、本次版周的第一实际触发距离和第二实际触发距离计算印材相对拉伸量。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一距离间隔、第二距离间隔、第一纵向偏差、第二纵向偏差、第一校正触发距离、第一实际触发距离、第二校正触发距离和第二实际触发距离计算印材相对拉伸量具体可根据下式（4）计算：
式（4）；
其中，Δl表示印材相对拉伸量，ΔL 1 表示第一距离间隔，ΔL 2 表示第二距离间隔，y 1 表示第一纵向偏差，y 2 表示第二纵向偏差，N 1 表示第一校正触发距离，M 1 表示第一实际触发距离，N 2 表示第二校正触发距离，M 2 表示第二实际触发距离。
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