CN112327223A - 一种多测点用连接器测试探针模组 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种多测点用连接器测试探针模组，包括：一载体，所述载体内设置有内腔；一弹片，所述弹片包含：一弹性部，所述弹性部位于所述内腔中；一头部，所述头部与所述弹性部的一端连接，并且头部伸出所述载体；一尾部，所述尾部与所述弹性部的另一端连接，并且尾部伸出所述载体。该多测点用连接器测试探针模组，解决了现有测试模组存在测试不稳定以及电阻大的问题。

Description

一种多测点用连接器测试探针模组

技术领域

本发明属于电子测试技术领域，具体涉及一种多测点用连接器测试探针模组。

背景技术

随着手机、可穿戴设备功能越来越多，其内部电子元器件不断朝着小型化精密化发展，在此背景下，发展出了各种板对板集成连接器。在组装这些连接器之前需要对其进行测试，连接器的形式多种多样，其中有一些连接器接触点是凹槽结构，目前有一些测试这一类带凹槽连接器的模组，比如集成式ICT测试模组，在测试过程中，将测试模组对接到被测连接器上，每根ICT测试探针接触被测连接器的一个凹槽触点，实现单点接触，进行测试。

但是，目前这些测试模组存在以下问题：

（1）测试不稳定；

（2）电阻大。

因此，在这种情况下，如何提升测试探针模组的可靠性，显得非常迫切和重要。

发明内容

本发明的目的是提供一种多测点用连接器测试探针模组，解决现有测试模组存在测试不稳定以及电阻大的问题。

为解决上述问题，本发明公开了一种多测点用连接器测试探针模组，包括：

多个呈层叠设置在一起的载体，每个所述载体内设置有内腔，所述载体中设置有弹片；

所述弹片包含：

一弹性部，所述弹性部位于所述内腔中；

一头部，所述头部与所述弹性部的一端连接，并且头部伸出所述载体；

一尾部，所述尾部与所述弹性部的另一端连接，并且尾部伸出所述载体。

本发明的技术方案，还具有以下特点：

进一步地，所述弹性部的一端设置有外沿，所述内腔的最内处设置有滑槽，所述外沿位于所述滑槽中。

进一步地，，所述弹性部包含多个横向布置的U形体，多个U形体呈上下布置，并且每相邻的两个U形体的开口端的相邻边连接在一起。

进一步地，所述U形体的数量为二。

进一步地，所述尾部包含多个测试头。

进一步地，所述测试头的数量为三。

进一步地，多个所述测试头包含：

一个第一测试头；

两个第二测试头，两个第二测试头布置在第一测试头的两侧。

进一步地，每个所述第二测试头的局部均向外弯曲。

进一步地，所述第二测试头的底部外沿设置有尖脚。

进一步地，所述第一测试头的底部为锥形。

与现有技术相比，本发明的一种多测点用连接器测试探针模组，具有以下优点：（1）现有测试技术在使用过程中单点接触，如果出现对插不正的测试情况，测试探针接触到被测连接器的接触凹槽的带有斜面的内壁上时，就会出现针头弯曲的情况，在多次测量后探针会出现针头弯曲，针头脱落等问题，严重影响测试的稳定性；而本发明的一种多测点用连接器测试探针模组由于采用三点弹性接触，能适应各种对插情况，比如出现上述对插不正的情况时，测试头的三点可以根据实际情况，去适应不同对插状态，仍然能够稳定接触被测连接器的触点，有效解决了现有测试设备测试不稳定的问题；（2）本发明的一种连接器测试探针模组，根据安培公式可知R=U/I，当测试头的三个接触点均与接触凹槽的凹槽壁接触时，假设通过每个触点的电阻都是R，那么三个触点并联的电阻 R_总=R/3，也就是说，三点接触的电阻一定小于一点接触的电阻，从而说明本发明的多测点用连接器测试探针模组相比以前的测试探针模组电阻更小，性能更优。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是本发明的一种多测点用连接器测试探针模组的结构示意图；

图2是本发明的一种多测点用连接器测试探针模组中单个载体及其内部弹片的结构示意图；

图3是现有测试探针模组的工作原理图；

图4是本发明的一种多测点用连接器测试探针模组的第一种使用状态结构示意图；

图5是本发明的一种多测点用连接器测试探针模组的第二种使用状态结构示意图。

图中：1.载体，2.头部，3.外沿，4.滑槽，5.第二测试头，6.第一测试头，7.内腔，8.U形体，9.印制板，10.被测连接器，11.接触凹槽。

具体实施方式

以下将配合实施例来详细说明本发明的实施方式，藉此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。

如图1和图2所示，本发明的一种多测点用连接器测试探针模组，主要由以下部件构成：

多个呈层叠设置在一起的载体1，每个载体1内设置有内腔7，载体1中设置有弹片；

弹片包含：

一弹性部，弹性部位于内腔7中；

一头部2，头部2与弹性部的一端连接，并且头部2伸出载体1；

一尾部，尾部与弹性部的另一端连接，并且尾部伸出载体1；具体来说：尾部包含一个第一测试头6和两个第二测试头5，两个第二测试头5布置在第一测试头6的两侧。

如图3所示，现有测试技术在使用过程中单点接触，如果出现对插不正的测试情况，测试探针接触到被测连接器10的接触凹槽11的带有斜面的内壁上时，就会出现针头弯曲的情况，在多次测量后探针会出现针头弯曲，针头脱落等问题，严重影响测试的稳定性。

如图4和图5所示，而本发明的一种多测点用连接器测试探针模组由于采用三点弹性接触，能适应各种对插情况，比如出现上述对插不正的情况时，三个测试头可以根据实际情况，去适应不同对插状态，仍然能够稳定接触被测连接器的触点，有效解决了现有测试设备测试不稳定的问题。

另外，根据安培公式可知R=U/I，当测试头的三个接触点均与接触凹糟11的凹槽壁接触时，假设通过每个触点的电阻都是R，那么三个触点并联的电阻 R_总=R/3，也就是说，三点接触的电阻一定小于一点接触的电阻，从而说明本发明的多测点用连接器测试探针模组相比以前的测试探针模组电阻更小，性能更优。

结合图2，本发明的一种多测点用连接器测试探针模组中，每个第二测试头5的局部均向外弯曲，这样能形成较好的弹性形变，确保能顺利复原。

结合图2，本发明的一种多测点用连接器测试探针模组中，第二测试头5的底部外沿设置有尖脚，方便触碰接触凹槽，以便形成良好的接触。

结合图2，本发明的一种多测点用连接器测试探针模组中，第一测试头6的底部为锥形，方便触碰接触凹槽，以便形成良好的接触。

结合图2，本发明的一种多测点用连接器测试探针模组中，弹性部的一端设置有外沿3，内腔7的最内处设置有滑槽4，述外沿3位于滑槽4中，可在滑槽中滑动，便于完成装配。

结合图2，本发明的一种多测点用连接器测试探针模组中，弹性部包含两个横向布置的U形体8，两个U形体8呈上下布置，并且每相邻的两个U形体8的开口端的相邻边连接在一起，以便可在较大范围内形成一定的可恢复的弹性变形。

上述说明示出并描述了本发明的若干优选实施例，但如前所述，应当理解发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围，则都应在发明所附权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种多测点用连接器测试探针模组，其特征在于，包括：

多个呈层叠设置在一起的载体（1），每个所述载体（1）内设置有内腔（7），所述载体（1）中设置有弹片；

所述弹片包含：

一弹性部，所述弹性部位于所述内腔（7）中；

一头部（2），所述头部（2）与所述弹性部的一端连接，并且头部（2）伸出所述载体（1）；

一尾部，所述尾部与所述弹性部的另一端连接，并且尾部伸出所述载体（1）。

2.根据权利要求1所述的多测点用连接器测试探针模组，其特征在于，所述弹性部的一端设置有外沿（3），所述内腔（7）的最内处设置有滑槽（4），所述外沿（3）位于所述滑槽（4）中。

3.根据权利要求1所述的多测点用连接器测试探针模组，其特征在于，所述弹性部包含多个横向布置的U形体（8），多个U形体（8）呈上下布置，并且每相邻的两个U形体（8）的开口端的相邻边连接在一起。

4.根据权利要求3所述的多测点用连接器测试探针模组，其特征在于，所述U形体（8）的数量为二。

5.根据权利要求1所述的多测点用连接器测试探针模组，其特征在于，所述尾部包含多个测试头。

6.根据权利要求5所述的多测点用连接器测试探针模组，其特征在于，所述测试头的数量为三。

7.根据权利要求6所述的多测点用连接器测试探针模组，其特征在于，多个所述测试头包含：

一个第一测试头（6）；

两个第二测试头（5），两个第二测试头（5）布置在第一测试头（6）的两侧。

8.根据权利要求7所述的多测点用连接器测试探针模组，其特征在于，每个所述第二测试头（5）的局部均向外弯曲。

9.根据权利要求8所述的多测点用连接器测试探针模组，其特征在于，所述第二测试头（5）的底部外沿设置有尖脚。

10.根据权利要求9述的多测点用连接器测试探针模组，其特征在于，所述第一测试头（6）的底部为锥形。

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