CN109239950A - 一种对位方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电子产品测试技术领域，具体公开一种对位方法，其包括如下步骤：步骤1，提供一对位模组，其中所述对位模组包括设置有测试压头的对位搬运平台和移动臂；步骤2，所述移动臂搬运所述面板至所述对位搬运平台上的预设位置；步骤3，将所述面板与所述测试压头结合。测试压头设置于对位搬运平台上，移动臂将面板放置于对位搬运平台上，并通过对位搬运平台使面板与测试压头结合，本发明提供的对位方法完成面板与测试压头的自动对位和结合，提高了面板与测试压头结合的自动化程度和工作效率，净化了面板生产环境。

Description

一种对位方法

技术领域

本发明涉及电子产品测试技术领域，尤其涉及一种对位方法。

背景技术

面板，如液晶面板，在出厂前需要进行老化测试，以确定产品为合格品，在面板老化测试前需要将面板与测试压头结合，以使面板能够被点亮进行测试。

现有技术中，往往采用人工将面板与测试压头结合，由于面板的整个生产过程需要在清洁度较高的环境中进行，且需要较高的结合效率，以满足为其他设备供料的需求，但采用人工将面板与测试压头结合无法满足上述要求。

有鉴于上述的缺陷，创设对位方法，使其更具有产业上的利用价值。

发明内容

本发明的目的在于提供一种对位方法，以提高生产效率，优化生产环境。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种对位方法，包括如下步骤：

步骤1，提供一对位模组，其中所述对位模组包括设置有测试压头的对位搬运平台和移动臂；

步骤2，所述移动臂搬运面板至所述对位搬运平台上的预设位置；

步骤3，将所述面板与所述测试压头结合。

作为优选，所述步骤3之前还包括步骤31：检测设置于所述对位搬运平台上的所述面板的位置，并判断所述测试压头与所述面板是否对位成功。

作为优选，若所述测试压头与所述面板对位成功，则进行步骤3；

若所述测试压头与所述面板未对位成功，则调节所述面板的位置，并重复步骤31。

作为优选，所述步骤2之前还包括步骤22：获取所述预设位置的位置信息。

作为优选，所述对位模组还包括下压组件，所述对位搬运平台包括压块组件，所述步骤2之前还包括步骤21：所述下压组件下压所述压块组件，使得所述测试压头向上运动，给所述面板让位。

作为优选，所述步骤3包括：所述下压组件离开所述压块组件，使所述测试压头下压，使得所述测试压头抵接所述面板。

作为优选，所述步骤2中所述移动臂搬运所述面板至所述对位搬运平台上的预设位置包括：

步骤23：所述移动臂吸附需要与所述测试压头结合的所述面板；

步骤24：所述移动臂将吸附的所述面板放置到所述对位模组上。

作为优选，步骤23与步骤24之间还包括步骤：获取所述面板与所述预设位置的相对位置，并根据所述相对位置对所述面板进行位置调整。

作为优选，所述步骤3后还包括步骤5：对位搬运平台水平运动，将完成结合的所述测试压头与所述面板运至下一工序。

作为优选，所述对位搬运平台上能够依次设置多组所述测试压头和所述面板；所述步骤3后还包括步骤4：

所述对位搬运平台水平运动，所述移动臂搬运另一所述面板至所述对位搬运平台上的另一所述预设位置，将另一所述面板与相应的另一所述测试压头结合。

本发明的有益效果：电路板设置于对位搬运平台上，移动臂将面板放置于对位搬运平台上，并通过对位搬运平台使面板与电路板结合，本发明提供的对位方法完成面板与电路板的自动对位和结合，提高了面板与电路板结合的自动化程度和工作效率，净化了面板生产环境。

附图说明

图1是本发明实施例一提供的老化测试机的结构示意图；

图2是本发明实施例一提供的入料模组和对位模组的结构示意图；

图3是本发明实施例一提供的对位模组的局部结构示意图；

图4是本发明实施例一提供的压块组件和托板的剖视图；

图5是本发明实施例一提供的压块组件和托板的另一位置的剖视图；

图6是图2中A处的放大图；

图7是本发明实施例一提供的移动臂的局部结构示意图；

图8是本发明实施例二提供的对位方法流程图；

图9是本发明实施例二提供的对位方法的详细流程图。

图中：

1、老化炉体；

2、搬运通道；21、通道入口；22、通道出口；

3、入料模组；

4、对位模组；

41、对位搬运平台；411、对位搬运底座；412、托板；413、定位槽；414、对位搬运驱动件；415、压块组件；4151、连接座；4152、压块；4153、拨杆；4154、第一弹性件；4155、第二弹性件；4156、挡销；

42、移动臂；421、移动臂吸盘支架；422、移动臂驱动件；4221、水平驱动件；4222、竖直驱动件；423、移动臂吸盘；424、位置补正组件；

43、测位组件；431、相机支架；432、CCD相机；433、驱动相机电机；

44、测位驱动件；

45、移动定位件；451、定位气缸；452、定位板；46、测位导轨；

47、下压组件；471、压头；472、安装板；473、第三驱动件；474、第四驱动件；

5、抓取模组；6、输送模组；7、搬出模组；8、工作支架。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部。

实施例一

本实施例一提供了一种老化测试机，用于电子产品的老化试验中。其中，老化测试机包括对位模组4，对位模组4用于将测试压头和面板对位后，进行结合形成待老化工件，以使得面板能够被点亮、及能够对面板进行老化测试，对位模组4能够提高面板老化试验机的自动化程度和工作效率，优化面板的生产环境。

如图1所示，本实施例提供的一种老化测试机包括老化炉体1、搬运通道2和搬运装置。搬运通道2设置于老化炉体1的一侧，搬运通道2包括分别设置于其两端的通道入口21和通道出口22；搬运装置设置于搬运通道2内，用于将待老化工件由通道入口21运送至老化炉体1内，并用于将老化后的工件由老化炉体1搬出，及将老化后的工件搬运至通道出口22。

设置在搬运通道2内的搬运装置，实现了搬运装置与老化炉体1的线上对接，搬运装置自动将待老化工件放置于老化炉体1内，并将老化后的工件由老化炉体1搬出，及将老化后的工件搬运至通道出口22，使得老化测试机自动化程度高，节约了人工成本。

在本实施例中规定，平行于搬运通道2的长度方向的方向为X方向，在水平面内，且与X方向垂直的方向为Y方向，竖直方向为Z方向。

在本实施例中，沿搬运通道2的长度方向的两侧均设置有老化炉体1，搬运装置可以将待老化工件放置于搬运通道2两侧的老化炉体1中，搬运通道2两侧均设置老化炉体1，提高了搬运装置的利用率、空间利用率及提高了老化测试机的工作效率。在其他实施例中，也可以仅仅在搬运通道2的一侧设置老化炉体1。

搬运装置包括由通道入口21向通道出口22所在侧依次设置的入料模组3、对位模组4、抓取模组5及搬出模组7，其中，入料模组3设置在靠近通道入口21的一端，搬出模组7设置在通道出口22的一端。搬运装置还包括输送模组6，输送模组6间隔设置有两组，两组输送模组6分别设置在两组老化炉体1相互靠近的一侧，且入料模组3、对位模组4、抓取模组5及搬出模组7位于两组输送模组6之间。搬运装置还可以包括工作支架8，入料模组3、对位模组4、抓取模组5、搬出模组7及输送模组6均设置于工作支架8上。

入料模组3用于承接上道工序运送至入料模组3的面板，并将面板搬运至对位模组4，实现入料模组3与对位模组4的对接。

对位模组4用于将面板与测试压头结合并形成待老化工件，并将待老化工件搬运至抓取模组5。

抓取模组5用于将待老化工件搬运至输送模组6，输送模组6将待老化工件输送至老化炉体1，输送模组6还可以将老化后的工件搬离老化炉体1，并将老化后的工件沿X方向运送到搬出模组7，老化后的工件通过其他搬运组件由输送模组6放置到搬出模组7，或搬出模组7直接将老化后的工件由输送模组6取下，从而由搬出模组7将老化后的工件运送至通道出口22。

如图2-7所示，对位模组4包括对位搬运平台41、移动臂42和测位组件43，且对位搬运平台41、移动臂42和测位组件43均设置于工作支架8上。对位搬运平台41上设置有测试压头，对位搬运平台41用于将面板与测试压头结合；移动臂42设置于对位搬运平台41的上方，移动臂42能够沿第一方向运动和沿竖直方向运动，移动臂42用于搬运面板，并将面板放置于对位搬运平台41的预设位置；第一方向与竖直方向垂直；测位组件43用于检测放置于对位搬运平台41上的面板和测试压头的位置。

其中，在本实施例中，第一方向与X方向一致，第二方向与Y方向一致，竖直方向与Z方向一致。

测试压头设置于对位搬运平台41上，移动臂42将面板放置于对位搬运平台41上，并通过测位组件43检测面板和测试压头的位置，使面板位于预设位置，并通过搬运平台使面板与测试压头结合，本实施例提供的对位模组4完成的面板与测试压头的自动对位和结合，提高了对位模组4的自动化程度和工作效率，净化了面板生产环境。

如图3所示，对位搬运平台41包括对位搬运底座411、托板412和测试压头，测试压头包括压块组件415，在本实施例中，对位搬运平台41还可以包括对位搬运驱动件414，对位搬运驱动件414设置于工作支架8上，并与对位搬运底座411连接，对位搬运驱动件414用于驱动对位搬运底座411沿X方向运动，以将对位搬运底座411和托板412运送到抓取模组5。对位搬运驱动件414可以为气缸，也可以为直驱电机，在此不作限制。

对位搬运底座411上相对的两端分别设置有为托板412定位的移动定位件45和定位针，托板412还设置有定位槽413，定位针能够位于定位槽413内。

移动定位件45包括定位气缸451和连接于定位气缸451一端的定位板452，定位气缸451能够驱动定位板452靠近或远离定位针，减小定位针与定位板452的间距，从而将托板412限制在定位针和定位板452之间。

托板412可拆卸地设置于对位搬运底座411上，托板412上设置有测试压头，抓取模组5可以将仅设置有测试压头的托板412放置到对位搬运底座411上，定位气缸451驱动定位板452向靠近定位针的一侧移动，夹紧托板412。当测试压头与面板结合完毕后，定位气缸451驱动定位板452向远离定位针的一侧移动，放开托板412，抓取模组5将托板412取走。

压块组件415设置于托板412上，压块组件415用于压接面板。

如图3-5所示，压块组件415包括连接座4151、压块4152、第一弹性件4154、压块滑轨和拨杆4153，连接座4151连接于托板412上，拨杆4153转动连接于连接座4151，拨杆4153能够驱动压块4152向上运动，具体地，压块4152上设置有挡销4156，拨杆4153一端抵压于挡销4156的下侧，下压拨杆4153的另一端，其一端向上运动，并驱动压块4152向上运动。

压块4152通过第一弹性件4154和压块滑轨可上下滑动的设置于连接座4151上，电路板/探针连接于压块4152的下表面，电路板/探针可以随压块4152的上下运动而运动，从而使测试压头与面板结合或分离。

具体地，第一弹性件4154的下端连接于压块4152上，其上端连接于连接座4151上，压块滑轨固定在连接座4151上，压块4152上设置有与压块滑轨配合的滑槽，以使压块4152沿滑轨上下运动。当未下压拨杆4153的另一端时，压块4152在自身重力和第一弹性件4154的压力作用下，使测试压头抵压在托板412上；当下压拨杆4153的另一端时，拨杆4153驱动压块4152向上运动，压块4152和测试压头离开托板412。

压块4152能够沿Z向运动，使得电路板/探针和面板均在与托板412接触的状态下进行位置检测，在测位时，电路板/探针和面板在Z方向上与测位组件43的距离一致，两者的测位条件一致，提高了位置对比的精确度。测试压头能够沿Z向运动，既不会影响面板的位置测量、和满足面板和测试压头对位所需的空间条件，还能够实现面板与测试压头的结合。

在本实施例中，沿连接座4151的X方向间隔设置有多个压块4152，每个压块4152均对应有两个第一弹性件4154、一个压块滑轨和一个拨杆4153，每个压块4152均可以独立的上下运动，从而使得每放置一次托板412可以设置多个面板，提高工作效率。

压块组件415还可以包括第二弹性件4155，连接座4151上开设有用于容置第二弹性件4155的凹槽，拨杆4153穿设于第二弹性件4155后转动连接于连接座4151上，当下压拨杆4153的另一端时，第二弹性件4155可以为拨杆4153提供缓冲力，减小下压拨杆4153时产生的噪音。在本实施例中，第一弹性件4154和第二弹性件4155均可以为弹簧，弹簧的轴向与Z方向一致。

托板412上开设有通槽，通槽内嵌设有透明件，测位组件43能够通过透明件检测面板和测试压头的位置，透明件不但可以支撑面板和测试压头，还可以使测位组件43透过其确定面板和测试压头的具***置。在本实施例中，透明件可以为透明玻璃，后透明的塑料板。

如图3所示，对位模组4还包括设置于对位搬运平台41上方的下压组件47，下压组件47能够将面板与测试压头分离，具体地，下压组件47通过下压拨杆4153的另一端，使压块4152上抬，进而使面板与测试压头分离。

具体地，下压组件47设置于工作支架8上，下压组件47包括安装板472、压头471、第三驱动件473、第四驱动件474。

安装板472设置在工作支架8上，第四驱动件474固定在安装板472上，用于驱动压头471和第三驱动件473沿X方向运动，从而使压头471能够下压到不同的拨杆4153上。

第三驱动件473与第四驱动件474连接，压头471与第三驱动件473连接，第三驱动件473驱动压头471沿Z方向运动，以使压头471抵压到拨杆4153的另一端上，第三驱动件473和第四驱动件474可以为气缸。

如图2和图6所示，移动臂42设置于对位搬运平台41的上方，并将面板放置于对位搬运平台41的预设位置。

移动臂42包括移动臂吸盘支架421、移动臂驱动件422、移动臂吸盘423及位置补正组件424。移动臂驱动件422设置在工作支架8上，并与移动臂吸盘支架421连接，用于驱动移动臂吸盘支架421沿X方向和Z方向运动。具体地，移动臂驱动件422包括水平驱动件4221和竖直驱动件4222，分别用于驱动移动臂吸盘支架421沿X方向和Z方向运动，移动臂42能够沿X方向运动，用于将多个面板沿X方向依次放置到托板412上，移动臂42能够沿Z方向运动，使移动臂42能够吸附设置在入料吸附平台上的面板，及将吸附的面板放置到托板412上。

移动臂吸盘423设置于移动臂吸盘支架421的下端，用于吸附面板。本实施例中，移动臂吸盘支架421上设置有两组移动臂吸盘423，便于将入料吸附平台上的面板一次性搬运至托板412上，提高工作效率。

如图6和图7所示，位置补正组件424设置于移动臂吸盘支架421，并与移动臂吸盘423连接，用于补正移动臂吸盘423的位置，以将面板设置于对位搬运平台41的预设位置。具体地，位置补正组件424包括分别驱动移动臂吸盘423沿X、Y方向运动的电机和驱动移动臂吸盘423在平面内旋转的电机，从而可以根据测位组件43的测得的面板的位置信息，补正移动臂吸盘423的位置，以将面板设置于托板412的预设位置。

在本实施例中，以测试压头上连接有电路板为例，测试压头的电路板和面板上均设置有两个对位标记，测试压头和面板的对位标记均位于透明件的正上方，以使测位组件43能够检测到其位置信息，对位标记可以为十字标记等任何可以标记测试压头位置的记号，当测试压头上的两个对位标记与面板上的两个对位标记均重合后，即表示测试压头与面板对位成功。

如图3所示，测位组件43设置于工作支架8上，并位于对位搬运底座411的下方，从而可以分别检测测试压头和放置于透明件上的面板的对位标记的位置。

测位组件43包括相机支架431和CCD相机432，CCD相机432设置于相机支架431上，相机支架431连接有测位驱动件44和测位导轨46，测位驱动件44和测位导轨46设置于工作支架8上，测位导轨46的长度方向与X方向一致，测位驱动件44用于驱动测位组件43沿测位导轨46运动，测位导轨46为相机支架431的运动起导向作用，从而检测托板412上不同位置的测试压头和面板的位置，以及可以根据不同大小的面板，调节测位组件43在X方向上的位置。测位驱动件44可以为气缸，也可以为直驱电机，在此不作限制。

在本实施例中，测位组件43包括两个沿第一方向依次设置CCD相机432，且两个CCD相机432的间距能够调节。

测位组件43还可以包括相机驱动件，相机驱动件包括驱动相机电机433和与驱动相机电机433的输出端连接的双向丝杆，双向丝杆的其中一段设置有右旋螺纹,另一段设置有左旋螺纹，两个CCD相机432分别螺接于双向丝杆的右旋螺纹和左旋螺纹上，驱动相机电机433正转和反转，使两个CCD相机432相互远离或靠近，从而使得测位组件43适应两个对位标记间距不同的情况，提高测位组件43的适用性。

在其他实施例中，也可以不设置相机支架431、驱动测位组件43和测位导轨46，而是通过对位搬运平台41的移动实现托板412上不同位置的面板和测试压头的位置的检测。通过调节两个CCD相机432的间距，适应不同大小的面板的位置信息的检测。

对位模组4还包括控制器，CCD相机432与控制器电连接，CCD相机432将检测到的面板和测试压头的位置信息传递给控制器，并通过控制器控制位置补正组件424工作，以驱动移动臂吸盘423吸附面板，并调节面板的位置。

本实施例中，在工作支架8上间隔设置有两组对位搬运平台41，两组对位搬运平台41相互靠近的一侧设置有两组移动臂42，两组移动臂42分别与两组对位搬运平台41相对应，两组对位搬运平台41的下方均设置有驱动测位组件43。两组对位搬运平台41分别为两组输送模组6提供待老化工件，两组对位搬运平台41和两组输送模组6同时工作，可以提高老化测试机的工作效率。入料吸附平台31能够沿Y方向运动，且入料吸附平台31能够旋转，从而为两组对位搬运平台41提供符合角度要求的面板。

托板412上所有的测试压头与面板结合后，对位搬运平台41沿X轴向抓取模组5所在侧移动，抓取模组5抓取托板412，将托板412放置到输送模组6上。

实施例二

本实施例二提供了一种对位方法，该方法可以应用于实施例一中的对位模组4，以提高生产效率，优化生产环境。

如图8所示，本实施例提供的对位方法包括如下步骤：

步骤1，提供一对位模组4，其中对位模组4包括设置有测试压头的对位搬运平台41和移动臂42。本实施例中的对位模组4可以为实施例一中提供的对位模组4，也可以为其他通过本实施例二的方法实现面板与测试压头结合的设备。

步骤2，移动臂42搬运面板至对位搬运平台41上的预设位置；

步骤3，将面板与测试压头结合。

测试压头设置于对位搬运平台41上，移动臂42将面板放置于对位搬运平台41上，并通过对位搬运平台41使面板与测试压头结合，本实施例提供的对位方法完成面板与测试压头的自动对位和结合，提高了对位模组4的自动化程度和工作效率，提高了面板生产环境的洁净度。

对位模组4还包括控制器和测位组件43，测位组件43和移动臂42电均与控制器电连接。

在本实施例中，测试压头和面板上均设置有对位标记，测试压头上的对位标记与面板上的对位标记能够重合，当测试压头上的对位标记与面板上的对位标记能够重合时，则表明面板与测试压头对位成功。本实施例中，面板和测试压头上均设置有两个对位标记，面板上的两个对位标记和测试压头上的两个对位标记分别重合，即根据测试压头的对位标记和面板的对位标记是否重合，进而判断面板与测试压头是否对位成功，判断标准统一，适用性强，提高了面板与测试压头的对位精度。测位组件43检测目标明确，且不会因为不同规格的面板的差异而影响检测结果，保证了检测精度和检测标准的统一性。

如图9所示，步骤2之前还包括步骤22：获取预设位置的位置信息。本实施例中的预设位置是指，当面板放置到对位搬运平台41时，面板上的对位标记能够与测试压头上的对位标记重合的位置。

其中，步骤22：获取预设位置的位置信息包括：

步骤221，获取测试压头的位置信息；具体地，测位组件43检测测试压头上的对位标记的位置信息。

步骤222、设定面板的预设位置，该预设位置能够使面板的对位标记与测试压头的对位标记重合。

对位模组4还包括下压组件47，对位搬运平台41包括压块组件415，下压组件47能够使测试压头向上运动。

步骤2之前还包括步骤21：下压组件47下压压块组件415，使得测试压头向上运动，给面板让位。具体地，步骤22设置在步骤21之前，即获取测试压头的位置信息后，测试压头再向上运动。测试压头能够沿Z向运动，既不会影响面板的位置测量和满足面板和测试压头对位所需的空间条件，还能够实现面板与测试压头的结合。

步骤2，移动臂42搬运面板至对位搬运平台41上的预设位置，具体包括步骤23和步骤24：

步骤23：移动臂42吸附需要与测试压头结合的面板；

步骤24：移动臂42将吸附的面板放置到对位模组4上。

步骤23与步骤24之间还包括步骤：获取面板与预设位置的相对位置，并根据相对位置对面板进行位置调整。即，将面板的预设位置与测得的面板的当前位置进行比较，根据比较结果对面板进行位置调整，控制器可以控制移动臂42移动合适的距离，使面板能够与测试压头对位。控制器可以为现有的任意一种控制器，只要能够完成上述功能即可，在此不对控制器进行限制。获取面板时，移动臂42可以先将面板放置到对位搬运平台41上，测试压头和面板均在与对位搬运平台41上进行位置检测，在测位时，测试压头和面板在Z方向上与测位组件43的距离一致，两者的测位条件一致，提高了面板实时位置和预设位置对比的精确度。

移动臂42将吸附的面板放置到对位模组4上后，且步骤3之前还包括步骤31：检测设置于对位搬运平台41上的面板的位置，并判断测试压头与面板是否对位成功。即，检测设置于对位搬运平台41上的面板的位置是否与预设位置一致。本实施例中，即使移动臂42根据位置对比结果对面板进行了调节，测位组件43还需要再次检测对位搬运平台41上的面板的位置，以保证测试压头与面板的对位精度，提高待老化工件的稳定性。

若测试压头与面板未对位成功，则调节面板的位置，并重复步骤31。具体地，检测面板当前的位置信息，将面板的预设位置与测得的面板的当前位置进行比较，根据比较结果，通过移动臂42对面板进行位置调整，并重复步骤31。

若测试压头与面板对位成功，则进行步骤3；

步骤3，将面板与测试压头结合具体包括：下压组件47离开压块组件415，使得测试压头下压，并抵接于面板。

上述步骤完成了对位搬运平台41上的一组测试压头和面板的对位，本实施例中，对位搬运平台41上能够依次设置多组测试压头和面板；步骤3后还包括步骤4：对位搬运平台41水平运动，移动臂42搬运另一面板至对位搬运平台41上的另一预设位置，将另一面板与相应的另一测试压头结合。直至对位搬运平台41上的所有测试压头均与一个面板对位成功，则进行步骤5，步骤5包括对位搬运平台41水平运动，将完成结合的测试压头与面板运至下一工序。

即对位搬运平台41运动至抓取模组5，以便抓取模组5将托板412搬运离开，及入料模组3将未设置面板的托板412搬运至对位搬运平台41上，进行下一周期的测试压头与面板的结合。

显然，本发明的上述实施例仅仅是为了清楚说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包括在本发明权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种对位方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1，提供一对位模组(4)，其中所述对位模组(4)包括设置有测试压头的对位搬运平台(41)和移动臂(42)；

步骤2，所述移动臂(42)搬运面板至所述对位搬运平台(41)上的预设位置；

步骤3，将所述面板与所述测试压头结合。

2.根据权利要求1所述的对位方法，其特征在于，所述步骤3之前还包括步骤31：检测设置于所述对位搬运平台(41)上的所述面板的位置，并判断所述测试压头与所述面板是否对位成功。

3.根据权利要求2所述的对位方法，其特征在于，若所述测试压头与所述面板对位成功，则进行步骤3；

若所述测试压头与所述面板未对位成功，则调节所述面板的位置，并重复步骤31。

4.根据权利要求1所述的对位方法，其特征在于，所述步骤2之前还包括

步骤22：获取所述预设位置的位置信息。

5.根据权利要求1所述的对位方法，其特征在于，所述对位模组(4)还包括下压组件(47)，所述对位搬运平台(41)包括压块组件(415)，所述步骤2之前还包括步骤21：所述下压组件(47)下压所述压块组件(415)，使得所述测试压头向上运动，给所述面板让位。

6.根据权利要求5所述的对位方法，其特征在于，所述步骤3包括：所述下压组件(47)离开所述压块组件(415)，使所述测试压头下压，使得所述测试压头抵接所述面板。

7.根据权利要求1所述的对位方法，其特征在于，所述步骤2中所述移动臂(42)搬运所述面板至所述对位搬运平台(41)上的预设位置包括：

步骤23：所述移动臂(42)吸附需要与所述测试压头结合的所述面板；

步骤24：所述移动臂(42)将吸附的所述面板放置到所述对位模组(4)上。

8.根据权利要求7所述的对位方法，其特征在于，步骤23与步骤24之间还包括步骤：获取所述面板与所述预设位置的相对位置，并根据所述相对位置对所述面板进行位置调整。

9.根据权利要求1所述的对位方法，其特征在于，所述步骤3后还包括步骤5：对位搬运平台(41)水平运动，将完成结合的所述测试压头与所述面板运至下一工序。

10.根据权利要求1所述的对位方法，其特征在于，所述对位搬运平台(41)上能够依次设置多组所述测试压头和所述面板；所述步骤3后还包括步骤4：

所述对位搬运平台(41)水平运动，所述移动臂(42)搬运另一所述面板至所述对位搬运平台(41)上的另一所述预设位置，将另一所述面板与相应的另一所述测试压头结合。