CN108983013A - 一种老化测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电子产品测试技术领域，具体公开了一种老化测试方法，包括如下步骤：步骤1，提供一老化测试机，其中所述老化测试机包括老化炉体、设置于所述老化炉体一侧的搬运通道以及设置于所述搬运通道内的搬运装置；步骤2，加载待老化的面板于所述搬运装置上，并将所述面板与测试压头结合形成待老化工件；步骤3，将所述待老化工件搬运至所述老化炉体并进行老化；步骤4，将老化测试后的所述面板搬运出所述老化测试机。本发明提供的老化测试方法使得面板由未测试状态到测试后的状态的过程均无需人工操作，提高了工作效率，同时还净化了面板老化测试过程中的环境，避免工作人员将灰尘等异物带到面板上。

Description

一种老化测试方法

技术领域

本发明涉及电子产品测试技术领域，尤其涉及一种老化测试方法。

背景技术

面板，如液晶面板，在出厂前需要在老化炉体中进行老化测试，以确定产品为合格品。

现有技术中，往往采用人工将面板与载具上的测试压头结合，再将设置有面板的载具搬运至老化炉体中进行测试，最后由人工将面板由老化炉体中取出，并将面板与测试压头分离，由载具上取下面板。但采用人工操作效率低，无法满足生产要求。

发明内容

本发明的目的在于提供一种老化测试方法，以提高面板老化测试效率。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种老化测试方法，包括如下步骤：

步骤1，提供一老化测试机，其中所述老化测试机包括老化炉体、设置于所述老化炉体一侧的搬运通道以及设置于所述搬运通道内的搬运装置；

步骤2，加载待老化的面板于所述搬运装置上，并将所述面板与测试压头结合形成待老化工件；

步骤3，将所述待老化工件搬运至所述老化炉体并进行老化；

步骤4，将老化测试后的所述面板搬运出所述老化测试机。

作为优选，所述步骤2包括：

步骤21，将设置有测试压头的载具加载于所述搬运装置上；

步骤22，加载待老化的所述面板于所述载具上；

步骤23，将所述面板与所述载具上的所述测试压头结合形成所述待老化工件。

作为优选，所述搬运装置包括用于使所述面板和所述测试压头结合的对位模组，所述步骤21包括：步骤211，将空置的载具加载于所述对位模组。

作为优选，所述对位模组包括下压组件，所述步骤21还包括：步骤212，驱动所述下压组件下压，使得所述载具上的所述测试压头抬起；所述步骤23还包括：驱动所述下压组件抬起，使得所述测试压头下压与所述面板结合。

作为优选，所述搬运装置包括用于搬运载具的输送模组，所述步骤3包括：

步骤31，驱动所述输送模组加载所述待老化工件；

步骤32，驱动所述输送模组搬运所述待老化工件至所述老化炉体。

作为优选，所述步骤3还包括：

步骤33，将所述待老化工件与所述老化炉体内的信号发生单元连接；

步骤34，对所述待老化工件进行老化测试。

作为优选，所述步骤4还包括：

步骤41，将老化测试后的工件与所述老化炉体内的信号发生单元断开。

作为优选，所述搬运装置包括搬出模组，所述步骤4包括：

步骤42，驱动所述输送模组将老化测试后的工件搬出所述老化炉体并搬运至所述搬出模组；

步骤43，驱动所述搬出模组将所述工件上的所述面板与所述测试压头分离；

步骤44，驱动所述搬出模组将所述面板搬出所述老化测试机。

作为优选，所述步骤44后还包括：

步骤45，驱动所述输送模组将空置的载具搬运至所述老化炉体内；或者驱动所述输送模组将空置的载具搬运至所述对位模组。

作为优选，所述步骤45包括：

步骤451，驱动所述输送模组将空置的载具自所述搬出模组上卸载；

步骤452，驱动所述输送模组将空置的载具搬运至所述老化炉体内；或者驱动所述输送模组将空置的载具搬运至所述对位模组。

本发明的有益效果：本发明提供的老化测试方法使得面板由未测试状态到测试后的状态的过程均无需人工操作，提高了工作效率，同时还净化了面板老化测试过程中的环境，避免工作人员将灰尘等异物带到面板上。

附图说明

图1是本发明实施例一提供的老化测试机的俯视图；

图2是本发明实施例一提供的入料模组和对位模组的结构示意图；

图3是本发明实施例一提供的入料模组的结构示意图；

图4是图2中A处的放大图；

图5是本发明实施例一提供的对位模组的部分结构示意图；

图6是本发明实施例一提供的载具的剖视图；

图7是本发明实施例一提供的输送模组的部分结构示意图；

图8是本发明实施例一提供的搬出模组的结构示意图；

图9是本发明实施例一提供的搬出模组的另一视角的结构示意图；

图10是图8中B处的放大图；

图11是本发明实施例一提供的搬出模组的搬运组件的结构示意图。

图中：

1、老化炉体；

2、搬运通道；21、通道入口；22、通道出口；

3、入料模组；31、入料吸附平台；32、入料旋转驱动件；33、第一驱动件；34、第一导轨；35、第二驱动件；

4、对位模组；42、移动臂；421、移动臂吸盘支架；422、移动臂驱动件；4221、水平驱动件；4222、竖直驱动件；423、移动臂吸盘；424、位置补正组件；43、测位组件；44、第五驱动件；45、下压组件；451、压头；452、安装板；453、第三驱动件；454、第四驱动件；511、搬运驱动件；512、底座；

6、输送模组；61、第二导轨；62、输送机构；63、输送驱动组件；64、输送载物台；

7、搬出模组；71、吸附组件；711、吸嘴；712、电磁阀；713、分流组件；72、吸附支架；73、搬运组件；731、滑轨；732、搬运吸附平台；733、通气孔；74、置物台；75、竖直驱动机构；76、水平驱动机构；77、支架滑轨；78、支架滑块；79、压接解开机构；791、解开板；792、支板；793、解开板驱动气缸；

10、载具；101、托板；102、压块组件；1021、连接座；1022、压块；1023、拨杆；1024、弹性件；1025、挡销；

20、工作支架。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部。

实施例一

本实施例一提供了一种老化测试机，用于电子产品的老化试验中，以提高其自动化程度和工作效率。

如图1所示，本实施例提供的老化测试机包括老化炉体1、搬运通道2和搬运装置。搬运通道2设置于老化炉体1的一侧，搬运通道2包括分别设置于其两端的通道入口21和通道出口22；对位模组4设置于搬运通道2内，用于将面板和测试压头结合形成待老化工件；搬运装置设置于搬运通道2内，用于将面板由通道入口21运送至对位模组4内、将待老化工件输送至老化炉体1内，并将老化测试后的工件由老化炉体1搬出，及将老化测试后的面板搬运至通道出口22。

在本实施例中，测试压头包括压块1022和连接于压块1022下端的电路板，在其它实施例中，连接于压块1022下端的还可以不连接电路板，而是压块1022下端连接探针；待老化工件是指设置有面板和测试压头的载具10，且面板与测试压头结合成功；老化测试后的工件是指在老化炉体1内进行测试后的面板和具有测试压头的载具10。

本实施例中，载具10用于承载面板，其中，将仅设置有测试压头的载具10称为空载的载具10，将承载有待老化工件的载具10称为满载的载具10，待老化工件是指面板老化前的满载的载具10，老化测试后的工件是指面板老化测试后的满载的载具10。

如图1所示，在本实施例中规定，搬运通道2的长度方向为X方向，竖直方向为Z方向，与X和Z方向垂直的方向为Y方向。

在本实施例中，沿搬运通道2的长度方向的两侧均设置有老化炉体1，搬运装置能够将待老化工件放置于搬运通道2两侧的老化炉体1中。搬运通道2两侧均设置老化炉体1，提高了空间利用率、搬运装置的利用率及提高了老化测试机的工作效率。

进一步的，搬运装置包括由通道入口21向通道出口22所在侧依次设置的入料模组3、对位模组4及搬出模组7，其中，入料模组3设置在靠近通道入口21的一端，搬出模组7设置在通道出口22的一端。搬运装置还包括输送模组6，输送模组6间隔设置有两组，两组输送模组6分别设置在两组老化炉体1相互靠近的一侧，且入料模组3、对位模组4及搬出模组7位于两组输送模组6之间。搬运装置还可以包括工作支架20，入料模组3、对位模组4、搬出模组7及输送模组6均设置于工作支架20上。

入料模组3用于承接送入老化测试机内的面板，并将面板输送至对位模组4。

对位模组4可以吸附位于入料模组3上的面板，并将面板放置与载具10的预设位置，使面板与测试压头结合并形成待老化工件。

输送模组6用于将对位模组4上的满载的载具10搬运至老化炉体1，及将老化炉体1内的老化测试后的工件搬运至搬出模组7，搬出模组7用于将老化测试后的工件上的面板由输送模组6上取下，并将其运送至通道出口22，输送模组6再次将空载的载具10搬运至对位模组4。

如图2和图3所示，入料模组3包括入料吸附平台31、入料旋转驱动件32和入料平移驱动件。

入料平移驱动件可以包括设置于工作支架20且沿Y方向设置的第一驱动件33及沿X方向设置的第二驱动件35。工作支架20上还设置有与第一驱动件33平行的第一导轨34，第二驱动件35连接于第一驱动件33和第一导轨34上，第一驱动件33驱动第二驱动件35沿Y方向运动。第一驱动件33和第二驱动件35可以为气缸，也可以为直驱电机，在此不作限制。

入料旋转驱动件32与第二驱动件35连接，入料旋转驱动件32上连接有入料吸附平台31，入料吸附平台31用于吸附面板，入料旋转驱动件32用于驱动入料吸附平台31在水平面内旋转，以调整面板的位向，第二驱动件35驱动入料旋转驱动件32和入料吸附平台31沿X方向运动，将上道工序运送至入料吸附平台31的面板运送至对位模组4。

如图3和图4所示，对位模组4包括移动臂42、底座512、搬运驱动件511、和测位组件43。搬运驱动件511设置于工作支架20上，且与底座512连接，搬运驱动件511用于驱动底座512沿搬运通道2的长度方向运动；搬运驱动件511可以为气缸，也可以为直驱电机或电机驱动的丝杆螺母结构，只要能驱动底座512沿X方向运动即可，在此不作限制。移动臂42设置于工作支架20上，并位于底座512的上方，移动臂42用于搬运面板，并将面板放置于位于底座512的载具10的预设位置，具体地，移动臂42将面板由入料模组3放置于底座512上的载具10的预设位置。

移动臂42包括移动臂吸盘支架421、移动臂驱动件422、移动臂吸盘423及位置补正组件424。

移动臂驱动件422设置在工作支架20上，并与移动臂吸盘支架421连接，移动臂吸盘423设置于移动臂驱动件422的下端用于吸附面板，具体地，移动臂驱动件422包括水平驱动件4221和竖直驱动件4222，分别用于驱动移动臂吸盘支架421沿X方向和Z方向运动，移动臂吸盘支架421沿X方向运动可以将面板依次放置在载具10的不同位置，移动臂吸盘支架421沿Z方向运动可以将面板放置到载具10上或将面板从载具10上吸附起来。

位置补正组件424设置于移动臂吸盘支架421，并与移动臂吸盘423连接。具体地，位置补正组件424包括分别驱动移动臂吸盘423沿X、Y方向运动的电机和驱动移动臂吸盘423在平面内旋转的电机，从而可以补正移动臂吸盘423的位置，以将面板设置于载具10的预设位置。

如图5和图6所示，载具10包括托板101和设置在托板101上的压块组件102，压块组件102用于压接电路板和放置于托板101上的面板。

如图6所示，压块组件102包括连接座1021、压块1022、弹性件1024和拨杆1023，连接座1021连接于托板101上，电路板连接于压块1022的下表面形成测试压头，电路板可以随压块1022的上下运动而运动。拨杆1023转动连接于连接座1021，拨杆1023能够驱动压块1022向上运动，具体地，压块1022上设置有挡销1025，拨杆1023一端抵压于挡销1025的下侧，下压拨杆1023的另一端，其一端向上运动，并驱动压块1022向上运动。

压块1022通过弹性件1024可上下滑动的设置于连接座1021上，弹性件1024的下端连接于压块1022上，其上端连接于连接座1021上，当未下压拨杆1023的另一端时，压块1022在自身重力和弹性件1024的压力作用下，使电路板抵压在托板101上；当下压拨杆1023的另一端时，拨杆1023驱动压块1022向上运动，测试压头离开托板101。

在本实施例中，沿连接座1021的X方向间隔设置有多个压块组件102，从而使得每放置一次托板101可以设置多个面板，提高工作效率。

如图5所示，对位模组4还包括设置于工作支架20上的下压组件45，下压组件45能够向下运动下压拨杆1023，使压块1022抬起，下压组件45还可以向上运动，离开拨杆1023，压块1022下压。下压组件45包括安装板452、压头451、第三驱动件453、第四驱动件454。

安装板452设置在工作支架20上，第四驱动件454固定在安装板452上，用于驱动压头451和第三驱动件453沿X方向运动，从而使压头451能够下压到压块组件102的多个位置。

第三驱动件453与第四驱动件454连接，压头451与第三驱动件453连接，第三驱动件453驱动压头451沿竖直方向运动，以使压头451抵压到压块组件102上，第三驱动件453和第四驱动件454可以为气缸。

如图5所示，测位组件43设置于工作支架20上，并位于底座512的下方，用于检测放置于载具10上的面板的位置，以保证面板与测试压头结合。检测时，底座512沿X轴移动到预设的位置，载具10上设置有通槽，通槽内安装有透明件，面板放置于透明件上，测位组件43通过透明件检测面板的位置，如果面板未放置在预设位置，则移动臂吸盘423吸附面板，位置补正组件424动作，使面板设置在载具10的预设位置，实现测试压头和面板的结合形成待老化工件，为将待老化工件放置到老化炉体1内做准备。

本实施例中，测位组件43还连接有用于驱动其沿X轴运动的第五驱动件44，以使测位组件43能够检测不同尺寸的面板的位置信息。测位组件43可以是CCD相机。

本实施例中，在工作支架20上沿Y方向设置有两组对位模组4，两组对位模组4分别为两组输送模组6提供待老化工件，两组对位模组4和两组输送模组6同时工作，可以提高老化测试机的工作效率。入料吸附平台31能够沿Y方向运动，且入料吸附平台31能够旋转，从而为两组对位模组4提供符合角度要求的面板。

如图1和图7所示，输送模组6用于将承载有待老化工件的载具10输送至老化炉体1及用于将载具10搬离老化炉体1。

输送模组6包括第二导轨61和能够沿第二导轨61运动的输送机构62，第二导轨61的长度方向与搬运通道2的长度方向一致，且第二导轨61位于老化炉体1与对位模组4之间。

输送机构62包括输送驱动组件63和连接于驱动组件的输送载物台64，输送驱动组件63用于驱动载物台沿Y方向Z方向运动，以使输送载物台64伸入底座512的上方，载具10的下方，为对位模组4提供空载的载具10，以及承接底座512上的满载的载具10。

如图1和图8所示，搬出模组7设置于通道出口22处，搬出模组7用于将老化测试后的面板运送至通道出口22。搬出模组7包括吸附组件71、搬运组件73及置物台74。

工作支架20上设置有两组平行的置物台74，且两组置物台74沿Y方向间隔设置，两组平行的置物台74分别用于承接两组输送模组6运送的载具10。

如图8和图9所示，工作支架20上间隔设置有两组压接解开机构79，且两组压接解开机构79分为位于两组置物台74相互背离的一侧；压接解开机构79包括可上下滑动地设置于工作支架20上的解开板791，解开板791能够下压拨杆1023的一端，使压块1022抬起。

具体地，工作支架20上连接有支板792，支板792上设置有解开板驱动气缸793，解开板驱动气缸793连接于解开板791驱动解开板791升降，解开板791抬起压块1022下压到托板101，解开板791下压到拨杆1023的一端，使压块1022抬起，吸附组件71可以吸附和搬运面板。

输送模组6的输送载物台64搬运载具10的部分过程为：解开板791处于抬起状态，输送模组6使输送载物台64放置于置物台74上，解开板791下压到拨杆1023上，吸附组件71吸附和搬运面板，面板搬运完成后，解开板791抬起，输送模组6将空载的载具10运送至对位模组4。

如图8和图10所示，搬运组件73能够沿X方向运动，并位于两组置物台74之间，吸附组件71将两组置物台74的载具10上的面板吸附，运动到搬运组件73，搬运组件73沿X方向运动，将面板运送到通道出口22。

本实施例中，吸附组件71通过吸附支架72连接于工作支架20上，吸附支架72可沿Y方向往复滑动地设置于工作支架20上，使吸附组件71能够分别位于两组置物台74和搬运组件73的上方，并将两组置物台74上的面板搬运至搬运组件73上。具体地，工作支架20上设置有支架滑轨77，吸附支架72上设置有支架滑块78，支架滑块78上设置有与支架滑轨77滑动配合的滑槽，工作支架20上还设置有水平驱动机构76，用于驱动吸附支架72沿支架滑轨77往复滑动，水平驱动机构76可以为直线电机或驱动气缸。

吸附组件71还能够相对于工作支架20沿Z方向上下往复运动，以将置物台74上放置的面板吸附，并将面板放置到搬运组件73上。

具体地，工作支架20上设置有竖直驱动机构75，竖直驱动机构75驱动吸附支架72相对于工作支架20沿Z方向运动，竖直驱动机构75可以为直线电机或驱动气缸。

如图8和图10所示，吸附支架72上设置有并联的多组吸附组件71，每组吸附组件71均包括多个吸嘴711和电磁阀712，多个吸嘴711用于吸附面板。

电磁阀712与真空泵连接，用于控制多个吸嘴711的真空状态，通过电磁阀712可以控制每组吸附组件71是否可以吸附面板。

每组吸附组件71还可以包括分流组件713，分流组件713与电磁阀712和多个吸嘴711连通，用于分别控制每个吸嘴711的真空状态，从而可以根据面板的大小决定开启不同个数的吸嘴711，提高了吸附组件71的使用范围。由于分流组件713为现有技术，在此不再赘述。

如图11所示，搬运组件73包括滑轨731和搬运吸附平台732，滑轨731设置于工作支架20上，且位于两组置物台74之间，滑轨731的长度方向与Y方向平行，搬运吸附平台732通过直线电机或驱动气缸驱动，可滑动地设置于滑轨731上，用于吸附和搬运面板，并将其运输至通道出口22，具体地，搬运吸附平台732可以与真空泵连通，搬运吸附平台732上表面间隔设置有多个通气孔733，通过真空泵实现搬运吸附平台732内的真空吸附，通过通气孔733可以将多种不同尺寸规格的面板吸附。搬运组件73结构简单，占用空间小，且运送效率高。

实施例二

本实施例二提供了一种老化测试方法，该方法可以应用于实施例一中的老化测试机中，但不限于此，还可以用于其他老化测试设备中，以提高面板老化效率。

本实施例二提供了的老化测试方法包括如下步骤：

步骤1，提供一老化测试机，其中所述老化测试机包括老化炉体1、设置于所述老化炉体1一侧的搬运通道2以及设置于所述搬运通道2内的搬运装置；

步骤2，加载待老化的面板于所述搬运装置上，并将所述面板与测试压头结合形成待老化工件；在该步骤中，测位组件可以检测面板在载具10上的位置信息，判断面板是否位于载具10的预设位置，如果面板在预设位置则测试压头下压于面板，如果面板不在预设位置，则通过移动臂42调节面板的位置，直至面板位于载具的预设位置上。

步骤3，将所述待老化工件搬运至所述老化炉体1并进行老化；

步骤4，将老化测试后的面板搬运出所述老化测试机。在本实施例中，测试压头是指压块1022和连接于压块1022下端的电路板；待老化工件是指设置有面板和测试压头的载具10，且面板与测试压头结合成功；老化测试后的工件是指在老化炉体1内进行测试后的面板和具有测试压头的载具10。

其中，所述步骤2包括：

步骤21，将设置有测试压头的载具10加载于所述搬运装置上；

步骤22，加载待老化的所述面板于所述载具10上；

步骤23，将所述面板与所述载具10上的测试压头结合形成所述待老化工件。

所述搬运装置包括用于使所述面板和所述测试压头结合的对位模组4，所述步骤21包括：步骤211，将空置的载具10加载于所述对位模组4。本实施例中空置的载具10的是指载具10上设置有测试压头，而未放置面板。

其中，所述对位模组4包括下压组件45，所述步骤21还包括：步骤212，驱动所述下压组件45下压，使得所述载具10上的所述测试压头抬起；

所述步骤23还包括：驱动所述下压组件45抬起，使得所述测试压头下压与所述面板结合。

所述搬运装置可以包括用于搬运所述载具10的输送模组6，所述步骤3包括：

步骤31，驱动所述输送模组6加载所述待老化工件；具体地，输送模组6加载位于对位模组4上的待老化工件。

步骤32，驱动所述输送模组6搬运所述待老化工件至所述老化炉体1。

所述步骤3还包括：

步骤33，将所述待老化工件与所述老化炉体1内的信号发生单元连接；

步骤34，对所述待老化工件进行老化测试。信号发生单元与面板电连接，可以使面板通电，以及进行老化测试。

所述步骤4将老化测试后的面板搬运出所述老化测试机之前，所述步骤4还包括：

步骤41，将老化测试后的工件与所述老化炉体1内的信号发生单元断开。

所述搬运装置还可以同时包括用于搬运所述载具10的输送模组6和搬出模组7，所述步骤4中将老化测试后的面板搬运出所述老化测试机包括：

步骤42，驱动所述输送模组6将老化测试后的工件搬出所述老化炉体1并搬运至所述搬出模组7；

步骤43，驱动所述搬出模组7将所述工件上的所述面板与载具10上的所述测试压头分离；

步骤44，驱动所述搬出模组7将面板搬出所述老化测试机。

此时，载具10再次成为空置的载具10，为了保持整个老化测试过程中的环境清洁，载具10始终不离开老化测试机，因此在步骤44后还包括：

步骤45，驱动所述输送模组6将空置的载具10搬运至所述对位模组4；将空置的载具10搬运至所述对位模组4，以便再次在对位模组4处将面板与测试压头结合，进行下一批次的面板的老化测试。

另外，如果载具10需要维修或者载具10的测试压头需要更换时，步骤45还可以是：驱动所述输送模组6将空置的载具10搬运至所述老化炉体1内，老化炉体1内具有排出口，载具10可以从排出口排出，进行维修或更换测试压头。

具体地，所述步骤45包括：

步骤451，驱动所述输送模组6将空置的载具10自所述搬出模组7上卸载；

步骤452，驱动所述输送模组6将空置的载具10搬运至所述老化炉体1内；或者驱动所述输送模组6将空置的载具10搬运至所述对位模组4。

本实施例中提供的老化测试方法使得面板由未测试状态到测试后的状态的过程均无需人工操作，提高了工作效率，同时还净化了面板老化测试过程中的环境，避免工作人员将灰尘等异物带到面板上。

显然，本发明的上述实施例仅仅是为了清楚说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包括在本发明权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种老化测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1，提供一老化测试机，其中所述老化测试机包括老化炉体(1)、设置于所述老化炉体(1)一侧的搬运通道(2)以及设置于所述搬运通道(2)内的搬运装置；

步骤2，加载待老化的面板于所述搬运装置上，并将所述面板与测试压头结合形成待老化工件；

步骤3，将所述待老化工件搬运至所述老化炉体(1)并进行老化；

步骤4，将老化测试后的所述面板搬运出所述老化测试机。

2.根据权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，所述步骤2包括：

步骤21，将设置有所述测试压头的载具(10)加载于所述搬运装置上；

步骤22，加载待老化的所述面板于所述载具(10)上；

步骤23，将所述面板与所述载具(10)上的所述测试压头结合形成所述待老化工件。

3.根据权利要求2所述的老化测试方法，其特征在于，所述搬运装置包括用于使所述面板和所述测试压头结合的对位模组(4)，所述步骤21包括：步骤211，将空置的载具(10)加载于所述对位模组(4)。

4.根据权利要求3所述的老化测试方法，其特征在于，所述对位模组(4)包括下压组件(45)，所述步骤21还包括：步骤212，驱动所述下压组件(45)下压，使得所述载具(10)上的所述测试压头抬起；所述步骤23还包括：驱动所述下压组件(45)抬起，使得所述测试压头下压与所述面板结合。

5.根据权利要求3所述的老化测试方法，其特征在于，所述搬运装置包括用于搬运载具(10)的输送模组(6)，所述步骤3包括：

步骤31，驱动所述输送模组(6)加载所述待老化工件；

步骤32，驱动所述输送模组(6)搬运所述待老化工件至所述老化炉体(1)。

6.根据权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，所述步骤3还包括：

步骤33，将所述待老化工件与所述老化炉体(1)内的信号发生单元连接；

步骤34，对所述待老化工件进行老化测试。

7.根据权利要求6所述的老化测试方法，其特征在于，所述步骤4还包括：

步骤41，将老化测试后的工件与所述老化炉体(1)内的信号发生单元断开。

8.根据权利要求5所述的老化测试方法，其特征在于，所述搬运装置包括搬出模组(7)，所述步骤4包括：

步骤42，驱动所述输送模组(6)将老化测试后的工件搬出所述老化炉体(1)并搬运至所述搬出模组(7)；

步骤43，驱动所述搬出模组(7)将所述工件上的所述面板与所述测试压头分离；

步骤44，驱动所述搬出模组(7)将所述面板搬出所述老化测试机。

9.根据权利要求8所述的老化测试方法，其特征在于，所述步骤44后还包括：

步骤45，驱动所述输送模组(6)将空置的载具(10)搬运至所述老化炉体(1)内；或者驱动所述输送模组(6)将空置的载具(10)搬运至所述对位模组(4)。

10.根据权利要求9所述的老化测试方法，其特征在于，所述步骤45包括：

步骤451，驱动所述输送模组(6)将空置的载具(10)自所述搬出模组(7)上卸载；

步骤452，驱动所述输送模组(6)将空置的载具(10)搬运至所述老化炉体(1)内；或者驱动所述输送模组(6)将空置的载具(10)搬运至所述对位模组(4)。