CN108873285A - 高分辨率扫描显微术 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种用于对样本进行高分辨率扫描显微术的显微镜和方法，照亮样本，将扫描地导引通过样本的点光斑或线光斑成像为帧，光斑按成像比例衍射受限地成像为帧并且帧静止地处于探测平面内，针对扫描位置以位置分辨率检测帧，位置分辨率在考虑成像比例的情况下至少是衍射受限的帧的半值宽度的两倍，因此检测到帧的衍射结构，针对每个扫描位置分析帧的衍射结构，产生样本的图像，图像具有超过衍射极限的分辨率，提供测器阵列，探测器阵列具有像素并且大于帧，来自探测平面的帧的射线不成像地再分配到探测器阵列的像素上，设有再分配元件，探测光线至少部分地在其光谱组成方面有所区别，射线从所述至少两个再分配元件到达探测器阵列的像素。

Description

高分辨率扫描显微术

本申请是申请日为2014年07月18日、国家申请号为201480055894.2、发明名称为“高分辨率扫描显微术”的原申请的分案申请。

本发明涉及一种用于对样本进行高分辨率扫描显微术的显微镜，具有用于照亮样本的照明装置，具有成像装置，用于在样本上扫描至少一个点光斑或线光斑并且用于按成像比例在探测平面内将点光斑或线光斑成像为衍射受限的静止的帧，具有探测器装置，用于针对不同的扫描位置以位置分辨率检测探测平面内的帧，所述位置分辨率在考虑成像比例的情况下至少是衍射受限的帧的半值宽度的两倍，具有分析装置，用于由探测器装置的数据针对扫描位置分析帧的衍射结构并且用于产生样本的图像，所述图像的分辨率超过衍射极限。本发明还涉及一种用于对样本进行高分辨率扫描显微术的方法，其中，照亮样本，将至少一个在样本上扫描地导引的点光斑或线光斑成像为帧，其中，点光斑或线光斑衍射受限地按成像比例成像为帧并且帧静止地处于探测平面内，针对不同的扫描位置以位置分辨率检测帧，所述位置分辨率在考虑成像比例的情况下至少是衍射受限的帧的半值宽度的两倍，从而检测帧的衍射结构，针对每个扫描位置分析帧的衍射结构并且产生样本的图像，所述图像的分辨率超过衍射极限。

这种显微镜或显微术方法例如由C.Müller und J.Enderlein的公开出版物Physical Review Letters,104,198101(2010)，或者由专利文献EP 2317362 A1已知，其也提及了关于现有技术的其它说明。

这种方式实现了分辨率的提高，方法是将光光斑衍射受限地成像在探测平面上。衍射受限的成像将点光斑成像为艾里斑。在探测平面内这样检测衍射斑，使得能够分辨出其结构。因此，在显微镜的成像效率方面，探测器进行超采样。在成像点光斑时，分辨出艾里斑的形状。通过适当的衍射结构分析，得到了超过衍射极限2倍的分辨率提高，这种分析在所述文献中进行了描述并且其与之相关的公开内容在此完全包含在本发明中。

然而在此在探测方面不可避免的是，对于每个在样本上以这种方式被扫描的点来说，与传统的激光扫描显微镜(以下也称为LSM)相比，必须通过大量的图像信息拍摄一个帧。如果例如以16像素检测一个光斑的帧的结构，则每个光斑不只包含16倍的数据量，单个像素平均也只包含在通常的针孔探测中照射到LSM探测器上的射线强度的1/16。因为射线强度必然不均匀地分布在帧的结构、例如艾里斑上，所以在结构边缘上的射线强度实际上甚至还明显小于在n个像素时为1/n的平均值。

所要解决的问题是，能够在探测器侧以高分辨率检测射线量。通常在显微镜中使用的传统的CCD阵列不能实现足够的信噪比，因此即使延长图像拍摄时长也无济于事，而延长图像拍摄时长本身在应用中已经被视为是不利的。APD阵列也与过高的暗噪声相关，因此即使延长测量时长所得到的信噪比也不够。对于CMOS探测器同理，其还在探测器元件的尺寸方面是不利的，因为光斑的衍射受限的帧可能落在过少的像素上。PMT阵列带来了类似的结构空间问题；在该处的像素同样过大。因此，结构空间问题尤其在于，用于高分辨率的显微镜在诸如准备设备的研发开销方面只能在能集成到现有的LSM结构中的情况下实现。然而在此，预设帧的确定尺寸。只在附加地设置再次将图像显著地、也就是以多个量级扩展的光学器件时，才能安装面积较大的探测器。这种光学器件使得想在没有其它成像误差的情况下得到衍射受限的结构是非常耗费的。

在现有技术中已知其它方法，它们避免在高分辨率时在所述探测方面的问题。例如在EP 1157297B1中提到一种方法，其中借助结构化的照明充分利用非线性过程。结构化的照明在多个旋转和地点位置中推移经过样本并且在这些不同的状态下将样本成像在广视场探测器上，对于这些探测器不存在所述的限制。

在没有所述探测器限制的情况下同样达到高分辨率(也就是超过衍射极限的样本图像分辨率)的方法由WO 2006127692和DE 102006021317已知。简称为PALM的方法使用标记物质，其可以借助光学激活信号被激活。标记物质只能在激活状态下被激励射线激励以发出某种荧光射线；未激活的分子即使在有激励射线入射的情况下也不会发出荧光射线。激活射线使激活物质进入一种状态，在该状态下其能够被激励以发光。因此其通常称为变换信号。这样施加所述变换信号，使得至少一定比例的被激活的标记分子与相邻的同样被激活的标记分子相间隔，使得被激活的标记分子在显微术的光学分辨率方面是分隔开的或者可事后分隔开。这称为激活的分子的隔离。对于这些被隔离的分子，能够简单地确定其由于分辨率受限所得到的射线分布的中心并且因此通过计算以比光学成像真正允许的精度更高的精度确定分子的位置。为了使整个样本成像，PALM方法利用了这个事实，即标记分子在给定的变化信号强度下通过变换信号被激活的概率对于所有标记分子来说是相同的。这样施加变换信号的强度，从而实现期望的隔离。一直重复这些方法步骤，直至尽可能所有的标记分子一次包含在已经被激励以发光的子集中。

在本发明中，在样本上被扫描的光斑静止地成像到探测平面内。来自探测平面的射线不成像地被再分配并且被引到探测器阵列上。在此，术语“不成像地”是相对于探测平面内现有的帧而言的。帧的单个面区域当然仍可以按照成像定理成像。因此在探测器阵列与再分配元件之间均为成像的光学器件。然而，处于探测平面内的帧在再分配时不是保持不变的。

术语“衍射受限”不局限于按照阿贝原理的衍射极限，而是也包括这些情况，其中理论最大值由于真实的不可接近性或限制缺少了20％。帧在这时也具有在此称为衍射结构的结构。它被超采样。

这种原理实现了应用一种尺寸不与帧匹配的探测器阵列。探测器阵列优选在至少一个延伸上大于或小于待检测的帧。不同几何设计的概念既包括探测器阵列的不同延伸也包括涉及帧在探测平面内的延伸的高度和宽度的不同比例。探测器阵列的像素还可以对于所需要的分辨率是过大的。这也允许了，探测器阵列的像素布局的轮廓从根本上与帧在探测平面内的轮廓是不同的。最后，探测器阵列按照本发明具有与帧在探测平面中不同的尺寸。所述方法中的再分配或显微镜中的再分配元件实现了选择探测器阵列，而不需要考虑由于帧和其尺寸形成的尺寸限制和像素尺寸限制。尤其是可以将探测器排用作探测器阵列。

在LSM中样本的图像通常通过以光斑扫描样本的方式由大量的帧形成，所述帧分别配属于不同的扫描位置。

按照本发明的方案也能以并行化的形式针对多个光斑同时进行，如对于激光扫描显微镜已知的那样。由此扫描样本上的多个光斑，并且多个光斑的帧静止地并排处于探测平面内。它们随即由大小与面积相应的共同的再分配元件或者由多个单独的再分配元件进行再分配并且随即被引到相应更大的单独的或者多个单独的探测器阵列上。

以下示例性地重点描述以一个单独点光斑进行的扫描。然而这不应理解为限制，并且所阐述的特征和原理实质上也适用于多个点光斑的并行扫描并且也适用于应用线光斑的情况。后者当然只是横向于线延伸地受到衍射限制，因此本说明书的与之相关的特征只适用于一个方向(横向于线延伸)。

通过按照本发明的方式，可以在令人满意的速度下并且以可忍受的设备耗费实施ISM方法。本发明为高分辨率显微术原理开启了广阔的、迄今未形成的应用领域。

实现再分配或再分配元件的可能性在于，使用由光导纤维组成的束。所述光导纤维优选可以设计为多模式的光导纤维。所述束具有入口，其布置在探测平面内并且在其轮廓中满足衍射受限的帧在探测平面内的延伸。而光导纤维在出口处以通过探测器阵列预设的几何布局布置，并且这种布局与入口的布局不同。在此，光导纤维的出口侧端部可以直接导引到探测器阵列的像素上。特别有利的是，将束的出口整合在插头中，所述插头可以方便地插在探测器排、例如APD或PMT排上。

对于理解本发明重要的是，区分探测器阵列的像素和帧在探测平面内被分辨出的图像像素。每个图像像素通常正好配属于一个探测器阵列像素，但是两者在其布局方面是不同的。本发明的主要特征在于，在探测平面内拍摄在其尺寸和布局方面造成帧的超采样的图像像素的射线。以此方式分辨帧的结构，其由于帧的衍射受限的产生而是衍射结构。再分配元件具有入口侧，该图像像素设置在入口侧。入口侧处于探测平面内。再分配元件将每个图像像素上的射线导引至探测器阵列的像素。将图像像素配置给探测器阵列的像素的过程没有保持图像结构，因此再分配元件相对于帧是不成像的。本发明的特征也可以在于，在按照本发明所述类型的显微镜中，探测器装置具有不成像的再分配元件，其具有处于探测平面内的入口侧，在所述入口侧拍摄具有图像像素的射线。再分配元件还有出口侧，在出口侧将在图像像素处拍摄的射线输入探测器阵列的像素，其中，射线从入口侧向出口侧相对于帧不成像地再分配。类似地，按照本发明的方法的特征可以在于，在按照本发明所述类型的方法中，在具有图像像素的探测平面内拍摄射线，它们相对于帧不成像地再分配到探测器阵列的像素上。探测器阵列在其像素的布局和/或尺寸方面与探测平面内的图像像素的布局和/或尺寸不同。此外，探测平面内的图像像素由再分配元件这样提供，使得相对于衍射极限，帧的衍射结构被超采样或过采样。

对于高度敏感的探测器阵列已知的是，相邻的像素在射线强度差较大的情况下显示出由于串音的干扰。为了避免这种情况，优选采用一种扩展设计，其中光导纤维这样从入口导引至出口，使得在出口处相邻的光导纤维也在入口处相邻。因为衍射受限的帧不显示跳跃状的射线强度变化，所以再分配元件的这种设计方案自动地确保了探测器阵列的并排像素具有尽可能小的射线强度差，这使串音或者说串扰最小化。

取代基于光导纤维的再分配，也可行的是，为再分配元件配设镜子，其具有倾斜程度不同的镜元件。这种镜子例如可以设计为分段镜、DMD或者自适应镜，其中，对于后两种变型方案，相应的调节或控制确保了镜元件的斜率。镜元件将来自探测平面的射线导引至探测器阵列的像素，探测器阵列的像素具有与镜元件不同的几何布局。

镜元件与光导纤维束的入口内的光导纤维端部一样，在帧的衍射结构的分辨率方面显示图像像素。图像像素的尺寸，而非(还有)探测器阵列的像素尺寸，对于超采样是决定性的。在此也将由多个单独探测器组成的组理解为探测器阵列，因为它们的布局总是不同于(也就是大于)探测平面内的图像像素。

对于LSM，根据期望的分辨率使用不同的物镜。物镜的转换改变了帧在探测平面内的延伸。因此优选的是，沿成像方向在探测平面之前布置变焦光学器件，用于使帧的尺寸与探测器装置的尺寸适配。这种变焦光学器件在明显小于100％的百分比范围内改变帧的尺寸，也就是比开头作为不利之处阐述的使帧尺寸增倍的过程容易实现的多。

对样本的照明优选与在普通的LSM中一样同样扫描地进行，即使其并不是必须的。然而这样达到了最大分辨率提升。如果扫描地照明样本，则相宜的是，照明装置和成像装置具有共同的扫描装置，它们导引照明光斑经过样本并且同时相对于探测器再扫描(descannt)与照明光斑重合的、在其上成像样本的光斑，因此帧静止在探测平面内。在这种结构中，可以将变焦光学器件置入照明和成像装置的共同部分中。这不仅允许将帧与探测平面内的探测器的尺寸适配，而且也附加地允许可使用的照明射线完全入射到物镜孔内，而不产生边缘损失，根据物镜的选择，物镜孔可能改变。

在探测器阵列的并排像素之间的与射线强度有关的串扰可以如本文开头已经提到的那样，在再分配时借助光导纤维束通过光导纤维在束中的适当布局减少。附加地或替选地还可能的是执行校准。为此，每个光导纤维依次被施加射线并且检测相邻像素中的干扰信号。以此方式建立了校准矩阵，通过其在之后的样本显微术中校正并排像素的与射线强度有关的串扰。

帧的衍射结构的分辨率附加地允许，确定光斑的运动方向，其沿着所述运动方向在扫描样本时移动。尽管运动方向原则上由扫描仪(例如扫描镜或可运动的样本台)的机械机构已知，然而在此出现机械上造成的剩余不准确度。这可以被消除，方法是借助交叉关联分析探测器阵列的单独像素的信号。在此利用这一点，即样本内的并排的图像像素由于光斑的衍射受限的成像在一定程度上重叠，但是它们的中心是并排的。如果用交叉关联分析这些图像像素的信号，则可以减少或完全消除由于扫描机械机构不可避免的公差而保留下来的剩余不准确度。

除了提高分辨率，通过使由(配属于探测平面内的图像像素的)单独探测器元件的测量序列组成的信号在空间和时间上相关，检测由光斑检测到的探测容积内的荧光随时间的变化，例如可由时间相关如在荧光相关光谱分析中那样确定漫射系数并且也通过考虑图像像素之间的空间相关性可视化地显示定向的漫射和漫射屏障。荧光分子的运动过程也为了跟踪应用而受到关注，因为在该处，照明光斑应追随荧光分子的运动。在此描述的布局允许了高度准确地在像素照明时间内确定运动方向。因此作为扩展设计优选的是，检测样本内的变化，方法是在样本中静止的点光斑或线光斑内确定和分析衍射受限的帧随时间的变化。

按照本发明的方法还能够在扫描式照明中修改照明分布，例如借助相位滤波器。由此可以非常简单地实现所述方法，如在Gong等人的Opt.Let.,34,3508(2009)中描述的那样。

至此描述了方法，控制仪在显微镜的运行中实现这些方法步骤。

不言而喻的是，之前所述的和之后还将阐述的特征不只可以在所说明的组合中，而且也可以在其它组合中或者单独地使用，只要不超出本发明的保护范围即可。

以下例如根据也公开了本发明的重要特征的附图进一步阐述本发明。在附图中：

图1示出用于高分辨率显微术的激光扫描显微镜的示意图；

图2示出图1的显微镜的探测器装置的放大视图；

图3和图4示出探测器装置19的可能实施形式在探测平面内的俯视图；

图5示出通过用于使探测器场尺寸适配的变焦光学器件对图1的显微镜进行的扩展设计；

图6示出图5的显微镜在变焦光学器件方面以及在用于多色成像的扩展设计方面的变型方案；

图7示出图1的显微镜的变型方案，其中，所述变型方案涉及探测器装置；

图8示出图7的探测器装置19的变型方案；

图9示出用于借助探测器和纤维束的翻倍在两个不同的波长范围内高分辨率地观察样本的激光扫描显微镜装置；

图10示意性地示出激光扫描显微镜；

图11示出用于以针对两个波长范围提高的分辨率同时拍摄图像的纤维布置；

图12示出使光学器件与用于两个待探测的波长范围的不同孔尺寸适配的第一解决方案；

图13示出使光学器件与用于两个待探测的波长范围的不同孔尺寸适配的第二解决方案；

图14示出使光学器件与用于两个待探测的波长范围的不同孔尺寸适配的解决方案；

图15示出激光扫描显微镜的一种变型方案；

图16示出针对图15的纤维布局的草图；

图17示出激光扫描显微镜的另一变型方案；

图18示出针对两个波长范围以提高的分辨率同时拍摄图像的纤维布置以及用于通过更精细的艾里斑采样观察样本的附加备选可能性；并且

图19示出探测单元的简图。

图1示意性地示出激光扫描显微镜1，其设计用于显微观察样本2。激光扫描显微镜(以下简称为LSM)1由控制仪C进行控制并且包括照明光路3以及成像光路4。照明光路照亮样本2中的一个光斑，并且成像光路4衍射受限地使所述光斑成像，以便探测。照明光路3和成像光路4分享多个元件。但这和对样本2的扫描式照明一样是不太必要的。也可以对样本进行宽场照明。

对样本2的照明在LSM1中借助所提供的激光射线5进行，其通过不需要功能广泛的转向镜6和透镜7入射到镜子8上。镜子8用于使激光射线5以反射角入射到发射滤波器9上。为了更直观地显示，对于激光射线5只画出了其主轴。

当在发射滤波器9上反射之后，激光射线5由扫描仪10双轴地转向并且借助透镜11和12通过物镜13聚焦在样本2中的光斑14内。在此，光斑在图1的视图中显示为点状，但也可以是线形的光斑。在光斑14中被激励的荧光射线又通过物镜13、透镜11和12到达扫描仪10，之后沿成像方向又存在静止的光线。所述光线经过发射滤波器9和15，它们的功能是在波长方面选择光斑14中的荧光射线并且尤其将其与激光射线5的例如可以用作激励射线的照明射线分开。透镜16用于在整体上将光斑14成像为衍射受限的图像17，其处于探测平面18中。所述探测平面18是样本2的光斑14所处平面的共轭平面。光斑14的图像17在探测平面18内被探测器装置19拍摄，其在以下根据图2至图4进一步阐述。在此重要的是，探测器装置19在空间上分辨探测平面18内的光斑14的衍射受限的图像17。

光斑在探测横截面上在探测平面18中的强度分布(高斯分布)在图1中显示为18a。

控制仪C控制LSM1的所有部件，尤其是扫描仪10和探测器装置19。控制仪针对不同的扫描位置拍摄每个帧17的数据，分析其衍射结构并且产生样本2的高分辨率的整体图像。

图1中的LSM1示例性地针对一个唯一的光斑示出，所述光斑在样本上被扫描。然而LSM1也可以同时用于按照线光斑进行扫描，所述线光斑例如垂直于图1的附图平面延伸。也可行的是，这样设计图1的LSM1，从而扫描样本中的多个并排的点光斑。所述点光斑的相应帧17在探测平面18内同样是并排的。探测器装置19相应地设计用于检测探测平面18内的并排的帧17。

在图2中放大地显示探测器装置19。所述探测器装置19由光导纤维束20组成，其馈向探测器阵列24。光导纤维束20由多个单个光导纤维21构成。光导纤维21的端部构成光导纤维束入口22，其处于探测平面18内。因此，光导纤维21的各个端部因此表示像素，通过它们拍摄光斑14的衍射受限的图像17。因为光斑14在图1的实施形式中示例性地是点光斑，所以图像17是艾里斑，其延伸处于探测平面18在图1和图2中所示的圆形内部。光导纤维束入口22的延伸的尺寸使得艾里斑的延伸被遮盖。光导纤维束20中的各个单个光导纤维21在其出口处在几何上布置得与在光导纤维束入口22处不同，也就是布置为长条形插头23的形式，光导纤维21的出口侧端部在该长条形插头23中并排地设置。插头23与探测器排24的几何布局适配地设计，也就是光导纤维21的每个出口侧端部正好处于探测器排24的一个像素25之前。

再分配元件的几何延伸是非常基本的，也就是与其实现形式无关，在图4中其通过纤维束实现，在入口侧与帧的延伸(或者在并排帧的多个点光斑的情况下)适配。再分配元件的功能是，由探测平面18这样拍摄射线，使得按照扫描定理测量，帧的强度分布相对于衍射极限被超采样，也就是再分配元件具有处于探测平面18内的像素(按照图3的构造方式通过光导纤维的入口端部构成)，它们至少比最小的可分辨结构小2倍，所述最小的可分辨结构在考虑探测平面18内的成像比例的情况下由衍射极限产生。

当然，使用插头23只是将光导纤维21的出口侧端部布置在像素25之前的多个可能性中的一种。同样可行的是使用其它连接。单个的像素25也可以直接与光导纤维21熔合。不需要使用探测器排24；取而代之，可以针对每个像素25使用单独的探测器。

图3和图4示出光导纤维束入口22的可能实施形式。光导纤维21可以在光导纤维束入口22处相互熔合。由此达到更高的占空系数，也就是光导纤维束入口22处的单个光导纤维21之间的空隙被最小化。熔合另一方面导致相邻的光导纤维之间在一定程度上的串扰。如果想要避免这一点，可以粘接光导纤维。也可以将光导纤维21的端部布置为正方形，如图4所示。

优选地，这样将各个光导纤维21配置给探测器阵列24的单个像素25，使得并排地处于光导纤维束入口22处的光导纤维21也在探测器阵列24处是并排的。通过这种方式将相邻像素25之间的串扰减至最小，所示串扰例如可能由于散射射线或者在单个像素25的信号处理中出现。如果探测器阵列24是一排，则可以通过以下方式实现相应的布局，即，通过螺旋线确定单个光导纤维在探测器排上的顺序，所述螺旋线在探测平面18的俯视图中将单个光导纤维依次地连接。

图3还示出了无效纤维26，其处于光导纤维21在光导纤维束入口22上的布局的角部。这些无效纤维不导引至探测器阵列的像素25。在无效纤维的位置上不再存在分析信号所需的信号强度。由此可以将光导纤维21的数量并且因此将探测器排24或探测器阵列中的像素25的数量减小至使得例如可以通过32个像素进行工作。这些探测器排24已经在激光扫描显微镜的其它方面使用，这具有的优点是，信号分析电子器件只需在这些激光扫描显微镜中暂时提供一次并且其在已经存在的探测器排24与通过探测器装置19增添的其它探测器排24之间转换。

按照图4，将具有正方形的基本形状的光导纤维用于束。所述光导纤维同样在探测平面内具有高覆盖率，也就是有效地使射线会聚。

图5示出图1的LSM1的一种扩展设计，其中，在探测平面18之前布置有变焦光学器件27。在图1的构造方式中探测平面18所处的共轭平面形成中间像平面28，变焦光学器件27由中间像平面拍摄射线并且将其导引至探测平面18。变焦光学器件27允许使图像17最佳地与探测器装置19的入口延伸适配。

图6示出图1的激光扫描显微镜1的另一种变型方案。一方面，变焦光学器件在此作为变焦光学器件29布置为，使得其处于部分光路中，所述部分光路由照明光路3和成像光路4穿过。由此得到的优点是，不只图像17的尺寸能够与探测器装置19的入口侧适配，也可以相对于成像光路4使物镜13的光圈填充度并且因此使激光射线5的利用度适配。

附加地在图6中，LSM1还通过以下方式设计为双通道式，即在发射滤波器9之后布置有分束器，所述分束器将射线分为两个单独的颜色通道。颜色通道的相应元件分别相当于在图1的LSM1中沿成像方向布置在发射滤波器9之后的元件。颜色通道在图6的视图中通过附图标记后缀“a”和“b”进行区分。

当然，实现两个颜色通道与使用变焦光学器件29无关。然而组合的优点在于，必须单独地设置在两个颜色通道内并且因此重复存在的变焦光学器件27只需要一次。然而，变焦光学器件27当然也可以使用在按照图1的构造方式中并且图6的LSM1也可以在不具有变焦光学器件29的情况下实现。

图7示出图1的LSM1在探测器装置19方面的变型方案。

探测器装置19具有分段镜30，其具有单独的棱面31。所述棱面31在图像17的分辨率方面相当于光导纤维21在光导纤维束入口22处的端部。单独的棱面31在其相对于射线入射的光轴的斜率方面有所不同。与透镜32和小型透镜阵列33以及只用于射线折叠的转向镜34一起，每个棱面31将帧17的面区段成像在探测器阵列24的像素25上。根据棱面31的定向，探测器阵列24在此优选可以是2D阵列，但也可以使探测器排。

图8示出图7的探测器装置19的扩展设计，其中在透镜32之前还布置有折射元件35，所述折射元件将射线特别好地分配到探测器排上。

如已经提到的那样，探测器阵列24在其几何形状方面可以无其它限制地选择。当然，探测器装置19中的再分配元件必须与相应的探测器阵列适配。最后，分辨出图像17的单独像素在其尺寸方面不再通过探测器阵列24预设，而是通过使来自探测平面18的射线进行再分配的元件预设。在艾里斑中，斑的直径在衍射受限的成像中按照公式1.22·λ/NA得出，其中，λ是所成像的射线的平均波长，并且NA是物镜13的数字光圈。半值宽度是0.15·λ/NA。为了达到高分辨率，将探测时的位置分辨率设计为半值宽度的两倍就足够了，也就是两次扫描半值宽度。因此，棱面元件31或者光导纤维21在光导纤维束入口22处的端部最大允许是衍射受限的帧的半值宽度的一半。这当然在考虑处于物镜13之后的光学器件形成的成像比例的情况下适用。在最简单的情况下，每个半值宽度在探测平面18内具有4x4的像素阵列就足够了。

根据图5和图6阐述的变焦光学器件除了允许这样适配，使得光斑14的衍射受限的帧17的衍射分布最佳地填充探测器装置19的入口面积，还在将多于一个的艾里斑成像在探测平面18内时允许另一种运行方式。在将多于一个的艾里斑成像在探测器装置19上的测量中，在探测器装置19的外部像素上探测来自样本2的其它深度平面的光线。在处理图像的过程中，得到附加的信号强度，而不会影响LSM1的深度分辨率。因此，变焦光学器件27或29允许了在深度分辨率和图像的信噪比之间形成妥协。

在图1-8中示出的解决方案适用于针对一个波长范围得到具有提高的空间分辨率的数据。然而对于很多应用所期待的是，得到在多个波长中的数据。

在此，连续的数据拍摄的缺点在于，一方面拍摄时间大于两倍，因为除了拍摄图像还需要时间来更换滤波器和改变在纤维束上成像的放大倍数。

通过使探测器装置翻倍并且借助二色性光束分配器使信号光谱分离，可以得到针对两个波长范围的时间数据(参见图9)。然而，敏感的探测器增加了这种装置的成本。此外，除了附加的探测器还需要用于实时数据拍摄的计算单元。最后，需要同时控制两个实时***。也就是说，这种将探测单元翻倍的方式会带来显著的附加成本。

图9示出用于借助探测器和纤维束的翻倍在两个不同的波长范围内高分辨率地观察样本的激光扫描显微镜装置。

分色器40将探测光路分为两个具有不同波长范围的部分光路。

如已在之前描述的那样，分别设有可调节的聚焦光学器件41或42以及纤维束43、44和多通道探测器45、46。

本发明的目的在于避免所述缺点。

本发明的特征在于独立权利要求的特征。

优选的扩展设计是从属权利要求的主题。

以下尤其根据图9-19中的视图详细阐述本发明。

图9-19的附图标记表示：

40：分色器

41、42：可调节的聚焦光学器件

43、44：纤维束

45、46、47：多通道探测器

48、49：纤维束

50、51：探测器区域

52：可调节的聚焦光学器件

53、54：可调节的光学器件

55：可翻转的转向镜

56：纤维束

57、58、59：纤维束

60、61、62：探测器区域

63：光除波器/颜色滤波器

64、65：纤维束

66、67、68：探测器区域

69：纤维束

70：多通道探测器

71：分色器

72：镜子

本发明方法的基础是，可以通过一个唯一的多通道探测器探测两个波长范围，其中，可以针对两个波长范围对样本信号进行次艾里斑扫描。

作为这种装置中的探测器，如其例如在DE102012204128A1中描述的，可以使用例如GaAsP探测器或者由32个单独通道组成的多通道探测器。在按照Colin Sheppard等人在In Optik 80,No.2,53(1982)中的方法计算高分辨率图像时，必须在每个空间方向上对艾里斑进行至少两倍的超采样。由此原因按照本发明建议，将探测器的例如32个通道分为两组，即每组16个通道。16个通道分别用于通过对艾里斑的相应超采样来探测样本信号。针对一个波长范围分别对16个通道图像的计算形成了高分辨率图像。

在激光扫描显微镜装置中，样本信号在光谱上例如通过二向分色器分为两个光路(为此参见图9)。

图10示意性地示出激光扫描显微镜，其中可以通过唯一一个探测单元同时得到针对两个波长范围的数据。为此，通过分色器40对样本光线进行光谱分离并且在两个纤维束43、44上转向，所述纤维束允许对信号进行次艾里斑扫描。两个纤维束接着将光线转向到共同的四通道探测器47上。

在此，借助成像光学器件可以针对光谱范围的两个光路将样本平面成像在两个纤维束上，它们优选分别由16个通道组成。

样本平面相对于纤维束的入射表面的平面光学共轭地布置。相应的纤维束将两个波长范围的光线传导至共同的探测器。这种纤维布置例如在图11中示意性地示出。

图11示出用于以针对两个波长范围提高的分辨率同时拍摄图像的纤维布置。在此，处于第一插头或纤维束48(在图左部)中的纤维1至16配属于第一波长范围；处于第二插头或纤维束49中的纤维17至32配属于第二波长范围。两个插头处于与孔平面相应的图像平面内。

两个插头的纤维随即在探测器47上的区域50和51内分别聚集在一起(在图右部)，以便将两个波长范围的光线导引至具有32个通道的共同的探测器排上。

为了能够基于两个16探测通道确保稳定地重建高分辨率图像，一方面重要的是，针对单独通道之间的对话(既通过光导纤维也在探测器之上或之内进行)进行校正。这例如可以通过校准测量进行，其中依次将确定量的光线引入每个纤维中并且测量所有通道上的信号。由此得到的矩阵可以逆转，以便将纤维上的强度分布配置给探测器上测量到的信号。

另一方面必须确保，纤维在两个纤维束48、49中这样布置，从而保证艾里斑的二次采样。图11所示的布局基于圆形纤维的六角形布局。针对水平方向，可以通过纤维13、2、1、5和16检测艾里斑。与它们呈60°角的是纤维14、3、1、6和11；呈120°角的是纤维15、4、1、7和12。以此方式针对三个定向实现了上述扫描规则。附加的纤维8、9和10一方面改善了聚集效率并且由此改善了信噪比，另一方面改善了针对其余定向的采样。

所描述的纤维布局不只限于这种具有圆形直径的纤维布局；对于六角形纤维同样可以规定这种布局。这种布局对于正方形纤维同样可行，在这种情况中规定，正方形纤维布置在4×4元素的正方形矩阵内。在这种情况下，实现了针对艾里斑的不同方向对4个纤维的采样。

当在多个波长中通过显微镜观察对象时需要注意，艾里斑的大小取决于波长。艾里斑的大小与波长成正比。因此，为了最佳地对艾里斑采样，成像需要与用于两个波长范围的纤维适配。为此存在多个按照本发明的解决方案：

针对两个光路分别使用一个缩放***41、42，以便实现针对两个区域的最佳采样(也可参见图12)。这种布局的特点是最大的灵活性。

图12示出使光学器件与用于两个待探测的波长范围的不同孔尺寸适配的第一解决方案。在这种情况下，两个探测通道分别具有各自的可调节式聚焦光学器件41、42。这种解决方案通过最大的灵活性。

作为备选可行的是，将缩放***的一部分共同用于两个波长范围。光路分配在缩放***52的共同使用部分之后进行(也可参见图13)。这种布局与第一解决方案的灵活性相似，但这种布局的成本更低并且更紧凑。

图13示出使光学器件与用于两个待探测的波长范围的不同孔尺寸适配的第二解决方案。在这种情况下，两个探测通道具有共同的可调节式聚焦光学器件52；随即在分开的光路中通过可沿光轴移动的光学元件53、54实现与孔尺寸的适配。

这种解决方案的灵活性与之前在图12中描述的解决方案相似。

通常存在应同时测量的波长范围的典型组合方式。这由用于为生物样本染色的色素的典型组合方式得出。如果观察用于典型组合方式的中央波长的关系，则得出值λ_1/λ₂≈1.15。这种比例关系可以用于进一步简化光学***：

-探测光线的波长分离如图13所示在共同使用的缩放***52之后才进行。接着使波长较长的探测通道的成像缩小一个因数，例如约为1.15，因此针对两个波长范围，艾里斑在两个纤维束上的大小相等(也可参见图13)。

-备选地，在两个纤维束中使用这样的纤维，它们的直径(还有它们的束直径)恰恰具有例如1.15的关系(参见图14)。以此方式在两个探测通道之一内可以不使用附加的光学器件。

-图14示出使光学器件与用于两个待探测的波长范围的不同孔尺寸适配的这种解决方案。在这种情况下，两个探测通道具有共同的可调节式聚焦光学器件52。与孔尺寸的适配通过改变纤维直径和43、44中的纤维束直径实现；它们彼此间存在与典型波长关系相应的固定比例关系。

-最后也存在不使用附加光学器件和不同纤维直径的可能性。在这种情况下建议，要么针对一个波长范围选择最佳采样，同时确认针对第二波长范围的扫描是更差的，要么这样调节缩放，使得艾里斑在一个纤维束上过大约7.5％并且在第二纤维束上过小。这种效果能够在重建时得到考虑，但不会产生最佳的分辨率提高。

-备选地，这样设计可调节式聚焦光学器件，使得其具有横向色差，所述横向色差正好与艾里斑的放大抵销。

在所有描述的布置中，分色器可以通过相应的机械机构更换，以便能够使两个波长带的选择更灵活。

原则上，前述布置和变型方案也可以扩展为多于两个的波长范围。为此需要附加地分配颜色和对探测器通道进行分配。

图15示出激光扫描显微镜的一种变型方案，其中能够通过纤维束43、44用一个唯一的探测单元同时得到针对两个波长范围的数据，并且其中可以备选地通过纤维束56进行一个波长下的测量(取决于可移动的转向镜55是否处于光路中)。所有三个纤维束允许对信号进行次艾里斑扫描。信号接着被转向至共同的多通道探测器。

图16示出针对图15的纤维布局的草图，所述纤维布局用于针对两个波长范围以提高的分辨率同时拍摄图像，以及作为补充的备选可能性，能够根据艾里斑在纤维入口处的尺寸以更精细的艾里斑采样或者改善的信噪比(SNR)观察样本。在此，处于第一插头或纤维束57(图15中为43)内的纤维1至16配属于探测器47上的第一波长范围60；处于第二插头或纤维束59(图15中为44)内的纤维17至32配属于第二波长范围。具有纤维1’至32’的电插头或纤维束59(图15中为56)用于通过探测器47的总探测面62在一个波长下备选地观察样本。

所有三个插头均处于一个图像平面内。所有三个插头的纤维随即被汇集到一起(在图右部)，以便将两个波长范围的光线导引至具有32个通道的共同的探测器排。在此，汇集这样进行，使得57中的纤维1和59中的1’配属于第一探测器通道，纤维2和2’配属于第二通道，以此类推。以此方式可以用同一个探测器选择性地在两个波长中进行测量或者在一个波长中但以更精细的采样或改善的信噪比进行测量。

图17示出激光扫描显微镜的另一变型方案，其中可以通过唯一一个探测单元同时得到针对两个波长范围的数据，并且其中可以备选地在一个波长中进行测量(取决于可移动的分色器是否处于光路中)。所有两个纤维束43、44允许对信号进行次艾里斑扫描。接着将信号转向至共同的多通道探测器47。如果只需要针对一个波长进行探测，则可以借助可翻入或可移入的光除波器或颜色滤波器63防止光线从纤维束1照射到探测器上。相反，可以借助光除波器或颜色滤波器63(具有不同的透射性能)使得在观察两个波长范围时，光线不会从纤维束2照射到由纤维束1照明的探测器通道内。

图18示出针对两个波长范围以提高的分辨率同时拍摄图像的纤维布置，以及用于通过更精细的艾里斑采样观察样本的附加备选可能性。在此，处于第一插头64(在图左部)内的纤维17至32配属于探测器47上的第一波长范围67；处于第二插头65内的纤维1至16配属于探测器47上的第二波长范围66。备选地，总样本光线可以例如通过分色器的翻转在图12中只转向至第二插头；纤维1’至32’(探测器区域68)用于在一个波长下拍摄数据。两个插头处于与样本平面光学共轭的图像平面内。两个插头的纤维随即被汇集到一起(在图右部)，以便将两个波长范围的光线导引至具有32个通道的共同的探测器排。在此，汇集这样进行，使得64中的纤维17和65中的17’配属于第十七个探测器通道，纤维18和18’配属于第十八个通道并且以此类推；前边的十六个探测器通道只通过纤维1’至16’得到信号。以此方式能够通过同一个探测器选择性地在两个波长中进行测量或者在一个波长中但以更精细的采样或改善的信噪比进行测量。

图19示出探测单元的简图，所述探测单元用于针对两个颜色通道探测高分辨率图像。在此，在纤维束69之后进行颜色分离。

在探测器矩阵或探测器排70之前安装有小型化的分色器71，它们分别透射地加载探测器元件并且通过在分配器镜子和另一镜子72上的双重反射加载第二探测器元件。

借助分色器71和镜子72将信号分为两个光谱部分并且分别分配到多通道探测器70的两个探测器元件上。在这个例子中，例如根据奇数的探测器通道产生用于第一波长范围的高分辨率图像，根据偶数的探测器通道产生用于第二波长范围的图像。

变型方案：

以下描述按照本发明的前述解决方案的不同变型方案：

a)如果所使用的多通道探测器的敏感表面足够大，则可以这样布设纤维束，使得不止一个纤维束将管线导引到探测器元件上。以此方式，用户可以如上所述地将探测通道用于同时探测两个波长范围，或者作为备选，在第二探测通道内提供用于在一个波长中观察样本的所有探测器通道(例如以更精细的艾里斑采样或者改善的信噪比基于对多于一个艾里斑的观察)。这种组合式的纤维插头布局在附图中示出。

b)作为对上述解决方案的备选，在两个纤维束之一中将16个纤维汇集在一起，而在第二纤维束中包含有32个纤维。对此的示意图在图17中伸出。在此也可以实现在两个波长范围内观察样本。对于第一波长范围，使用来自具有32个纤维的纤维束中的纤维1’和16’，将来自具有16个纤维的纤维束中的纤维16至32用于第二波长范围(参见图17)。

在这种情况下，为了确保在两个波长范围下探测数据时样本光线不会从纤维17’至32’照射到探测器上，必须在纤维出口17’至32’和进入光路的探测器通道17至32之间装入除波器，或者在纤维端部17、17’、…32、32’和对应的探测器通道之间***颜色滤波器，所述颜色滤波器只透射纤维17至32的波长范围的光线并且阻挡来自纤维17’至32’的光线。

c)对前述布局的另一备选方案的基础是使用单独的纤维束。在纤维出口与探测器之间才进行波长范围的光谱分离。在此，在每个纤维之后相应于波长带进行光束分离。两个波长带随即分配到两个探测器元件上。视图在图19中示出。需要注意的是，在此既可以针对一个波长也可以作为两个波长之间的折中方案进行纤维束的适配。备选地这样设计可调节式聚焦光学器件，使得其具有横向色差，所述横向色差正好抵销了艾里斑的增大。必要时需要附加的聚焦光学器件，以便使纤维的光线对准探测器通道定向。

d)在另一种备选布局中，使用两个纤维束，其中，显微镜侧的纤维插头并排地布置。一个聚焦光学器件满足了将两个波长带并排布置的功能。这个功能通过具有可变的轴横向色差的光学元件产生。这例如可以通过具有较高色散度的楔形物K(示例性地在图9中布置在聚焦光学器件41之前)实现，其能够垂直于光轴移动。以此方式，处于第一波长范围的光线被转向至纤维1至16，而第二波长范围的光线在空间上错移地到达纤维17至32。波长范围的选择可以通过不同的楔形角实现(具有不同楔形角的“阶梯状”楔形物或者可转换的楔形物，其在光路中移动)。

备选地，可变的轴横向色差可以通过可侧向移动的透镜部分KG实现，其在图9中示例性地布置在聚焦光学器件41之后，其折射率和阿贝数这样选择，使得两个波长范围在空间上分开。通过在光路中移动楔形物，可以选择波长范围。这种元件由DE19951482A1已知。

在这两种情况下，可选地可能需要附加的本领域已知的镜子，以便将两个在空间上分开的波长范围的光线转向到两个纤维束上。

Claims (37)

1.一种用于对样本(2)进行高分辨率扫描显微术的显微镜，具有

-用于照亮样本(2)的照明装置(3)，

-成像装置(4)，用于在样本(2)上扫描至少一个点光斑或线光斑(14)并且用于在探测平面(18)内将点光斑或线光斑(14)成像为衍射受限的静止的帧(17)，

-探测器装置(19)，用于针对不同的扫描位置以位置分辨率检测探测平面(18)内的帧(17)，

-分析装置(C)，用于由探测器装置(19)的数据针对扫描位置分析帧(17)的衍射结构并且用于产生样本(2)的图像，所述图像的分辨率超过衍射极限，其中，

-探测器装置(19)具有：

-探测器阵列(24)，所述探测器阵列具有像素(25)并且大于帧(17)，

和

-不成像的再分配元件(20-21；30-34；30-35)，所述再分配元件布置在探测器阵列(24)之前并且将来自探测平面(18)的射线不成像地分配到探测器阵列(24)的像素(25)上，

-其中，设有至少两个同时受到探测光线加载的再分配元件，并且其中，探测光线至少部分地在其光谱组成方面有所区别，并且射线从所述至少两个再分配元件到达探测器阵列的像素，

-其中，在探测光路中设置至少一个分色器，用于产生至少两个部分光路，所述部分光路具有至少部分不同的光谱特性，

-其中，每个所述再分配元件是纤维束，所述纤维束的纤维端部终结于探测器阵列的像素处。

2.按权利要求1所述的显微镜，其特征在于，所述再分配元件包括由光导纤维(21)组成的束(20)，其具有布置在探测平面(18)内的入口(22)和出口(23)，光导纤维(21)在出口(23)处以不同于入口(22)的几何布局终结于探测器阵列(24)的像素(25)处。

3.按权利要求2所述的显微镜，其中，所述光导纤维是多模式的光导纤维。

4.按权利要求2或3所述的显微镜，其特征在于，所述光导纤维这样从入口(22)延伸至出口(23)，使得在出口(23)处相邻的光导纤维(21)也在入口(22)处相邻，以便将并排的像素(25)的与射线强度有关的串扰减至最小。

5.按权利要求1所述的显微镜，其特征在于，所述再分配元件包括具有倾斜程度不同的镜元件(31)的镜子(30)，其将来自探测平面(18)的射线转向至探测器阵列(24)的像素(25)上，其中，探测器阵列(24)的像素(25)具有与镜元件(31)不同的几何布局。

6.按权利要求1所述的显微镜，其特征在于，所述成像装置(4)具有沿成像方向布置在探测平面(18)之前的变焦光学器件(27)，用于使帧(17)的尺寸与探测器装置(19)的尺寸适配。

7.按权利要求6所述的显微镜，其特征在于，所述照明装置(3)和成像装置(4)分享一个扫描装置(10)，使得照明装置(3)对样本(2)进行照明而在其上形成衍射受限的点光斑或线光斑，而所述点光斑或线光斑与由成像装置成像的光斑(14)重合，其中，这样布置变焦光学器件(27)，使得其也是照明装置(3)的组成部分。

8.按权利要求1所述的显微镜，其特征在于，所述探测器阵列(24)是探测器排。

9.按权利要求8所述的显微镜，其特征在于，所述探测器排是APD或PMT排。

10.按权利要求5所述的显微镜，其特征在于，所述镜子(30)是分段镜、DMD或者自适应镜。

11.按权利要求1所述的显微镜，其特征在于，探测光线从再分配元件到达探测器阵列的相邻区域。

12.按权利要求1所述的显微镜，其特征在于，用来自至少两个再分配元件的探测光线加载探测器阵列的至少一个像素。

13.按权利要求1所述的显微镜，其特征在于，既用经滤波的光谱组成的探测光线也用无光谱滤波的探测光线加载探测器阵列的像素。

14.按权利要求1所述的显微镜，其特征在于，为了进行无光谱滤波的探测，用探测光线加载比光谱滤波的探测更多的像素。

15.按权利要求14所述的显微镜，其特征在于，受到上述加载的像素并排地布置和/或用来自至少两个再分配元件的光线加载像素。

16.按权利要求1所述的显微镜，其特征在于，在探测光路中设置开关元件，用于启动通过未滤波的探测光线对再分配元件的加载过程。

17.按权利要求1所述的显微镜，其特征在于，不同纤维束的至少两个纤维终结于探测器阵列的像素处。

18.按权利要求1所述的显微镜，其特征在于，二向色镜和转向元件沿光线方向这样设置在光导体之后和探测器阵列的像素之前，从而用至少部分不同的波长加载相邻的探测像素。

19.一种用于对样本(2)进行高分辨率扫描显微术的方法，其中，

-照亮样本(2)，

-将至少一个在样本(2)上扫描地导引的点光斑或线光斑(14)成像为帧(17)，其中，点光斑或线光斑(14)衍射受限地成像为帧(17)并且帧(17)静止地处于探测平面(18)内，

-针对不同的扫描位置以位置分辨率检测帧(17)，从而检测帧(17)的衍射结构，

-针对每个扫描位置分析帧(17)的衍射结构并且产生样本(2)的图像，所述图像的分辨率超过衍射极限，其中，

-提供探测器阵列(24)，所述探测器阵列具有像素(25)并且大于帧(17)，并且

-来自探测平面(18)的帧的射线不成像地再分配到探测器阵列(24)的像素(25)上，

-其中，设有至少两个同时受到探测光线加载的再分配元件，并且其中，探测光线至少部分地在其光谱组成方面有所区别，并且射线从所述至少两个再分配元件到达探测器阵列的像素，

-其中，在探测光路中设置至少一个分色器，用于产生至少两个部分光路，所述部分光路具有至少部分不同的光谱特性，

-其中，每个所述再分配元件是纤维束，所述纤维束的纤维端部终结于探测器阵列的像素处。

20.按权利要求19所述的方法，其特征在于，帧(17)的射线借助由光导纤维(21)组成的束(20)进行再分配，所述束具有布置在探测平面(18)内的入口(22)和出口(23)，光导纤维(21)在出口(23)处以不同于入口(22)的几何布局终结于探测器阵列(24)的像素(25)处。

21.按权利要求20所述的方法，其中，所述光导纤维是多模式的光导纤维。

22.按权利要求20或21所述的方法，其特征在于，所述光导纤维(21)这样从入口(22)导引至出口(23)，使得在出口(23)处相邻的光导纤维(21)也在入口(22)处相邻，以便将并排的像素(25)的与射线强度有关的串扰减至最小。

23.按权利要求19、20或21所述的方法，其特征在于，由光导纤维(21)组成的束(20)和探测器阵列(24)通过以下方式进行校准，即，单独地为每个光导纤维(21)加载射线，检测配属于在出口(23)处相邻的光导纤维(21)的像素(25)内的干扰信号并且建立校准矩阵，通过所述校准矩阵在样本(2)的显微术中校正并排的像素(25)的与射线强度有关的串扰。

24.按权利要求19所述的方法，其特征在于，帧(17)的射线借助具有倾斜程度不同的镜元件(31)的镜子(30)进行再分配，其中，通过镜子(30)将来自探测平面(18)的射线导向探测器阵列(24)的像素(25)，并且探测器阵列(24)的像素(25)具有与镜元件(31)不同的几何布局。

25.按权利要求19所述的方法，其特征在于，所述探测器阵列(24)是探测器排。

26.按权利要求25所述的方法，其特征在于，所述探测器排是APD或者PMT排。

27.按权利要求19所述的方法，其特征在于，通过以下方式确定点光斑或线光斑(14)的扫描的运动方向，即，借助交叉关联分析探测器阵列(24)的单个像素(25)的信号。

28.按权利要求19所述的方法，其特征在于，通过以下方式检测样本(2)内的变化，即，对于静止在样本(2)内的点光斑或线光斑(14)，确定并且分析衍射受限的帧(17)随时间的变化。

29.按权利要求24所述的方法，其特征在于，所述镜子(30)是分段镜、DMD或者自适应镜。

30.按权利要求28所述的方法，其特征在于，探测光线从再分配元件到达探测器阵列的相邻区域。

31.按权利要求28所述的方法，其特征在于，用来自至少两个再分配元件的探测光线加载探测器阵列的至少一个像素。

32.按权利要求20所述的方法，其特征在于，既用经滤波的光谱组成的探测光线也用无光谱滤波的探测光线加载探测器阵列的像素。

33.按权利要求20所述的方法，其特征在于，为了进行无光谱滤波的探测，用探测光线加载比光谱滤波的探测更多的像素。

34.按权利要求33所述的方法，其特征在于，受到上述加载的像素并排地布置和/或用来自至少两个再分配元件的光线加载像素。

35.按权利要求20所述的方法，其特征在于，在探测光路中设置开关元件，用于启动通过未滤波的探测光线对再分配元件的加载过程。

36.按权利要求20所述的方法，其特征在于，不同纤维束的至少两个纤维终结于探测器阵列的像素处。

37.按权利要求20所述的方法，其特征在于，二向色镜和转向元件沿光线方向这样设置在光导体之后和探测器阵列的像素之前，从而用至少部分不同的波长加载相邻的探测像素。