CN104422859A - 检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种通过简单构成能检测出绝缘检测时发生的电火花和部分放电的检测装置。所述检测装置包括：电流源，向正极侧图形供给电流，所述正极侧图形是检测对象的配线图形中的一个；电流测定部，测定流过所述检测对象的配线图形的电流；以及判定部，基于所述电流测定部测定的电流的时间变化，判定所述检测对象的配线图形中是否发生了电火花或部分放电。

Description

检测装置
技术领域
本发明主要涉及电路基板的检测装置。具体来说，涉及一种用于检测出在检测对象的配线图形间发生的电火花以及部分放电的构成。
背景技术
通过检测形成在电路基板的多个配线图形间的绝缘状态(是否确保充分的绝缘性)来判断该电路基板是否为良品的检测装置已被周知。通过向检测对象的一组配线图形施加所定的电压进而测定该配线图形间的电阻值来进行绝缘状态的检测。
由于在上述绝缘检测时向配线图形施加电压，因此在该配线图形间会发生电火花。当这种电火花发生时，电路基板上发生某种损伤的可能性则高。因此，优选地，将在检测中发生电火花的电路基板区别为不良品。
与此相关，专利文献1揭示了一种在检测出向配线图形所施加电压波形的下降(当前电压相比前次电压变小的部位)时，检测出电火花发生的构成。据专利文献1，由此能确实防止因绝缘检测而发生电火花的电路基板所混入。
但近来，印刷基板的图形间隙(pitch)逐年变窄，且鉴于此，绝缘检测时配线图形间发生部分放电的情况逐渐增多。发生部分放电时电路基板也会发生损伤。因此，优选地，与检测中发生电火花的电路基板一样，也应将发生部分放电的电路基板区别为不良品。
但，部分放电时，由于配线图形间流动的电流小，因此不能观测到如同电火花发生时的电压下降。因此，按专利文献1的构成不能检测出绝缘检测时发生的部分放电。
与此相关，专利文献2揭示了一种通过检测出发生了部分放电时所产生的电磁波来计算部分放电发生次数的构成。但由于专利文献2的构成需要用于接收上述电磁波的天线等，因此存在装置复杂化的问题。
【现有技术文献】
【专利文献1】日本专利第3546046号公报
【专利文献2】日本专利公开第2010-32457号公报
发明内容
本发明提供了一种按简单构成可检测出绝缘检测时发生的电火花和部分放电的检测装置。
根据本发明的一个观点，如下提供了一种检测装置的构成，以用于检测形成在电路基板上的配线图形的绝缘性，所述检测装置包括：电流源，向正极侧图形供给电流，所述正极侧图形是检测对象的配线图形中的一个；电流测定部，测定流过所述检测对象的配线图形的电流；以及判定部，基于所述电流测定部测定的电流的时间变化，判定所述检测对象的配线图形中是否发生了电火花或部分放电。
优选地，在所述的检测装置中，所述电流测定部测定流过负极侧图形的电流，所述负极侧图形是所述检测对象的配线图形中的另一个。
优选地，所述的检测装置按如下进行构成。即，所述检测装置包括用于测定结束时间的结束时间测定部，所述结束时间是自开始向所述正极侧图形供给电流后，所述电流测定部测定的电流直至小于预设的第一阈值时为止所需的时间。所述判定部，在所述结束时间超过规定时间时，判定发生了电火花或部分放电。
优选地，所述的检测装置包括控制部，以用于自开始向所述正极侧图形供给电流后，当所述电流测定部测定的电流在不小于预设的第二阈值的状态下超过预设的限定期限时，判定所述检测对象的配线图形间的绝缘性为不充分。
根据本发明，在检测对象的配线图形间发生电火花或部分放电时，流过该配线图形的电流的时间变化比正常时变慢。因此，基于流过配线图形的电流的时间变化，可判定电火花和部分放电的发生与否。
通过测定负极侧图形的电流，由于不容易受到正极侧各构成的影响，因此能高精密度地测定流过配线图形的电流。从而能高精密度地检测出电火花或部分放电。
在检测对象的配线图形间发生电火花或部分放电时，流过负极侧图形的电流的时间变化变慢而造成的结果是，该电流直至变稳定为止所需的时间变长。因此，如上所述，当结束时间长于规定时间时，可判定发生了电火花或部分放电。
基于流过负极侧图形的电流，可检测配线图形间的绝缘性。因此，根据上述构成的检测装置，可使用共同的构成(电流源、电流测定部等)来实现绝缘检测、电火花和部分放电的检测，从而可简化检测装置。
附图说明
图1是示出本发明一个实施形态的检测装置整体构成的模式电路图。
图2是示出根据检测装置检测配线图形之状态的简略化电路图。
图3是基于检测装置的绝缘检测的流程图。
图4A是示出正常时的正极侧图形的电压V之时间变化的图表，图4B是示出正常时的流过负极侧图形的电流I之时间变化的图表。
图5A是示出发生电火花时的正极侧图形的电压V之时间变化的图表，图5B是示出发生电火花时的流过负极侧图形的电流I之时间变化的图表。
图6A是示出发生部分放电时的正极侧图形的电压V之时间变化的图表，图6B是示出发生部分放电时的流过负极侧图形的电流I之时间变化的图表。
图7A是示出充电期间结束后发生部分放电时的正极侧图形的电压V之时间变化的图表，图7B是示出充电期间结束后发生部分放电时的流过负极侧图形的电流I之时间变化的图表。
[附图标记说明]
1：检测装置
11：恒定电流源
16：电流测定部
22：判定部
P1：正极侧图形
P2：负极侧图形
具体实施方式
接下来，参考附图对本发明的实施形态进行说明。图1所示的本实施形态的检测装置1用于对形成在电路基板2的配线图形间的绝缘状态进行不良与否的判定。虽然在实际的电路基板中形成有多个复杂的配线图形，但在图1将其简单化，进而示出了在电路基板2形成有四个简单的配线图形P1至P4的状态。
检测装置1包括控制部10、恒定电流源11、电压测定部12、限幅电路(Limiter circuit)13、探针14、开关电路15和电流测定部16。
控制部10是包括作为运算装置的CPU、作为记忆装置的ROM或RAM等硬件的计算机。并且，控制部10在上述ROM等中维持着用于控制检测装置1各部的程序等软件。控制部10通过上述硬件和上述软件的协作来控制检测装置1的各部。
检测装置1包括多个探针14。各探针14是由棒状乃至针状形成的导电性部件，且能与电路基板2上的配线图形P1至P4中的任意一个相接触。
恒定电流源11包括正极侧端子和负极侧端子，且向正极侧端子和负极侧端子间供给恒定的电流。并且，恒定电流源11的负极侧端子接地。
限幅电路13用于保护恒定电流源11的正极侧端子和负极侧端子间的电位差不超过所定的上限电压。
电流测定部16包括正极侧端子和负极侧端子，且用于检测出从正极侧端子向负极侧端子流动的电流的大小。电流测定部16的测定结果被输入至控制部10。并且，电流测定部16的负极侧端子接地。
开关电路15用于将各探针14在与恒定电流源11的正极侧端子相接触的状态、与电流测定部16的正极侧端子相接触的状态、与恒定电流源11和电流测定部16均不相接触的状态中任意切换状态。控制部10控制开关电路15。
控制部10通过适当地控制开关电路15，可使任意的探针14与恒定电流源11的正极侧端子相接触。据此，对相应探针14所接触的配线图形，可供给来自恒定电流源11的恒定电流。在本说明书中将供给了来自恒定电流源11的恒定电流的配线图形称为“正极侧图形”。并且，控制部10通过适当地控制开关电路15，可使任意的探针14与电流测定部16的正极侧端子相接触。据此，基于电流测定部16可测定相应探针14所接触的配线图形中流动的电流。在本说明书中将基于电流测定部16而进行电流测定的配线图形称为“负极侧图形”。
电压测定部12用于测定正极侧图形的电压。电压测定部12的测定结果被输入至控制部10。
在此，参考图2更具体地进行说明。图2举例说明了将一组配线图形P1、P2作为检测对象的情况。图2在检测对象的配线图形P1、P2中，将一个配线图形P1作为正极侧图形，而将另一个配线图形P2作为负极侧图形。并且，在图2中，为了方便说明，适当地省略了不必要构成的图示。
如图2所示，一组配线图形P1、P2具有寄生电容C。因此，根据恒定电流源11向正极侧图形P1供给恒定的电流I0，使寄生电容C得以充电。随此，正极侧图形P1的电压V上升。
在此，针对正极侧图形P1的电压V的变化，结合图4A进行简单说明。图4A是模式化举例示出自开始向正极侧图形P1供给电流后的该正极侧图形P1的电压V的时间变化的图表。并且，图4A和图4B是不发生电火花或部分放电时(正常时)的图表。如上所述，根据电压测定部12测定电压V。
通过给寄生电容C充电，如图4A所示，正极侧图形P1的电压V慢慢上升。并且，在开始向正极侧图形P1供给电流前的状态中，寄生电容C完全放电，因此该正极侧图形P1的电压V为零。因此，在图4A中，示出正极侧图形P1的电压V从零慢慢上升的状态。如此，在本说明书中将正极侧图形P1的电压V上升的期间(寄生电容C充电的期间)称为“充电期间”。
并且如上所述，限幅电路13设置在检测装置1中，因此用于保护恒定电流源11的正极侧端子和负极侧端子间的电位差不超过上限电压。如图4A所示，若正极侧图形P1的电压V增大至上限电压，则限幅电路13开始工作，从而电压V恒定于上限电压。即，在寄生电容C截止至上限电压进行充电的时点，该寄生电容C的充电结束。
接下来，针对流过负极侧图形P2的电流I，结合图4B进行说明。图4B是示出在正极侧图形P1的电压V如图4A变化时流过负极侧图形P2的电流I的时间变化的图表。如上所述，根据电流测定部16测定电流I。
如图2所示，认为在配线图形P1、P2之间存在电阻R。该电阻R理想值为无限大，但实际上具有有限的值。因此，在电阻R中可流过电流Ir。并且，在充电期间，如图2所示，用于给寄生电容C充电的电流(I0-Ir)流过负极侧图形P2。因此，在充电期间中，用于给寄生电容C充电的电流(I0-Ir)与流过电阻R的电流Ir流过负极侧图形P2。此时流过负极侧图形P2的电流合计为I0。其结果是，充电期间中，在负极侧图形P2中流过恒定的电流I0。
由于在寄生电容C的充电结束后不再流过用于该充电的电流，因此在负极侧图形P2中流过的则只是流过电阻R的电流Ir。因此，充电期间结束后如图4B所示，流过负极侧图形P2的电流I剧减，进而逐渐接近Ir。
因此，在充电期间结束且流过负极侧图形P2的电流I稳定后，若能确认该电流I变得足够小，则能保证流过电阻R的电流Ir足够小(电阻R足够大)。
接下来，针对本实施形态的检测装置1的电路基板检测方法，参考图3的流程图进行说明。
首先，控制部10在形成于电路基板的多个配线图形中，选择将要检测绝缘性的一组配线图形(步骤S101)。控制部10通过适当地控制开关电路15，将作为检测对象所选择的一组配线图形中的一个作为正极侧图形，而将另一个作为负极侧图形。在此，如前述图2，将配线图形P1作为正极侧图形且将配线图形P2作为负极侧图形进行说明。据此，对正极侧图形P1，开始供给来自恒定电流源11的电流(步骤S102)。并且，控制部10开始进行对正极侧图形P1开始供给电流起所经过时间的计测(步骤S103)。
控制部10，在步骤S103中开始测定后的所经过时间在超过预设的限定期限时为止的期间中(步骤S104的判断)，根据电流测定部16测定流过负极侧图形P2的电流I(步骤S105)。
如上所述，在充电期间结束后若能确认电流I足够小，则能保证检测对象的配线图形P1、P2间的电阻R足够大。因此，控制部10判定在步骤S105中测定的电流I是否小于预设的检测结束阈值(参考图4B)(步骤S106)。当电流I的测定结果小于检测结束阈值时，由于电阻R足够大，因此控制部10判定检测对象的配线图形P1、P2间的绝缘性被充分确保(步骤S107)。此时，控制部10，获得自步骤S103起至步骤S107为止的经过时间(开始向正极侧图形P1供给电流后至流过负极侧图形P2的电流I小于检测结束阈值时为止所需的时间)(步骤S108)。将此时获得的经过时间作为“绝缘检测结束时间”(参考图4B)。如上，本实施形态的控制部10具有作为测定绝缘检测结束时间的结束时间测定部21的功能。
另外，虽然经过了充分的时间，但流过负极侧图形P2的电流I不小于检测结束阈值时，认为电阻R小于规定值(配线图形P1、P2间的绝缘性未被充分确保)。因此，控制部10，在电流I不小于检测结束阈值的状态下，超过了限定期限时(步骤S104的判断)，判定检测对象的配线图形P1、P2间的绝缘性未被充分确保(步骤S109)。此时，控制部10将电路基板判定为不良品(步骤S113)，且结束流程。
如上所述，根据步骤S104至步骤S106的循环，可对检测对象的配线图形P1、P2间的绝缘性进行检测。
但，在上述的绝缘检测(步骤S104至步骤S016)中，由于处于向正极侧图形P1施加电压的状态，因此在检测对象的配线图形P1、P2间可能会发生电火花或部分放电。因此本实施形态的控制部10，在基于上述绝缘检测判断配线图形P1、P2间的绝缘性为充分时(步骤S107)，判定在该绝缘检测中在配线图形P1、P2间是否发生电火花或部分放电(步骤S110)。针对用于判定是否发生了电火花和部分放电的构成在后面进行说明。控制部10，当判定在绝缘检测中发生了电火花或部分放电时，将电路基板判定为不良品(步骤S113)，且结束流程。
在步骤S110中，当判定在绝缘检测中没有发生电火花和部分放电时，控制部10针对预定要进行检测的所有一组配线图形，判定绝缘检测是否结束(步骤S111的判断)，当未结束时，针对下一组配线图形继续进行绝缘检测。当针对所有的一组配线图形结束绝缘检测时，控制部将电路基板判定为良品，且结束流程(步骤S112)。
根据上述检测方法，可仅将能充分确保配线图形间的绝缘性的电路基板判定为良品。并且，由于可将在绝缘检测中发生电火花或部分放电的电路基板区别为不良品，因此可提高判定为良品的电路基板的可靠性。
接下来，针对在上述步骤S110中，用于检测出电火花和部分放电的方法进行说明。
图5A和图5B示出了在充电期间在检测对象的配线图形P1、P2间发生电火花时之正极侧图形P1的电压V的时间变化(图5A)以及流过负极侧图形P2的电流I的时间变化(图5B)。
电火花发生的瞬间，由于正极侧图形P1的电荷流向负极侧图形P2，因此如图5A所示，正极侧图形P1的电压V暂时下降。即，给寄生电容C充电的一部分电荷放电。其结果是，由于完成该寄生电容C充电所需的时间(充电期间)比正常时变长，因此电流I开始减少的时间相比正常时变慢。结果是，如图5B所示，绝缘检测结束时间相比正常时变长。并且，在本发明书中，“正常时”指的是未发生电火花或部分放电之状态。
如上所述，当充电期间中发生电火花时，充电期间相比正常时变长，其结果是，绝缘检测结束时间比正常时变长。
接下来，针对发生部分放电之情况进行说明。图6A和图6B示出了在充电期间在检测对象的配线图形P1、P2间发生部分放电时之正极侧图形P1的电压V的时间变化(图6A)以及流过负极侧图形P2的电流I的时间变化(图6B)。
当发生部分放电时，正极侧图形P1的电荷也流向负极侧图形P2。部分放电时，由于并非是如电火花那样的急剧电荷流出，因此从正极侧图形P1的电荷流出份额可用恒定电流源11供给的电流进行补充。因此，如图6A所示，在发生部分放电的过程中，正极侧图形P1的电压V虽然不下降(不发生来自寄生电容C的放电)，但电压V的上升速度(寄生电容C的充电速度)降低。因此，寄生电容C充电所需的时间(充电时间)比正常时变长。
如上所述，充电期间中发生部分放电时，充电期间比正常时也变长。因此，此时，电流I开始减少的时间比正常时也变慢。结果是，如图6B所示，绝缘检测结束时间比正常时变长。
接下来，参考图7A和图7B，针对充电期间结束后发生部分放电之示例进行说明。图7示出了在充电期间结束后在检测对象的配线图形P1、P2间发生部分放电时之正极侧图形P1的电压V的时间变化(图7A)以及流过负极侧图形P2的电流I的时间变化(图7B)。
如上所述，在发生部分放电的过程中，正极侧图形P1的电压V不下降(不发生来自寄生电容C的放电)。因此，当充电期间结束后发生部分放电时，电压V的图表(图7A)与正常时的电压V的图表(图5A)几乎相同。因此，只通过电压V的时间变化不能判断充电期间结束后是否发生了部分放电。
但即便此时，电流I的图表也能示出部分放电的影响。具体来说，如图7B所示，充电期间结束后，在发生部分放电的期间中，电流I减少的速度比正常时变慢。因此，绝缘检测结束时间比正常时变长。
如上所述，在绝缘检测中，检测对象的配线图形P1、P2间发生部分放电或电火花时，流过负极侧图形P2的电流I的时间变化(电流I开始减少的时间，或该电流I的减少速度)比正常时变慢。
因此，本实施形态的控制部10，具有作为基于电流I的时间变化来判定绝缘检测中是否发生电火花以及部分放电的判定部22的功能。
具体来说，本实施形态的判定部22，判定在图3的步骤S108中获得的绝缘检测结束时间是否超过规定时间。并且，上述“规定时间”基于正常时的绝缘检测结束时间预先设定。
判定部22，在绝缘检测结束时间超过规定时间时，判断该绝缘检测结束时间比正常时变长。此时，由于说明电流I开始减少的时间和该电流I的减少速度中的至少一个比正常时变慢，因此判定部22判定在绝缘检测中发生了电火花或部分放电(步骤S110中“是”)。
另外，判定部22，在绝缘检测结束时间不超过规定时间时，判断该绝缘检测结束时间与正常时无变化。此时，由于电流I开始减少的时间和该电流I的减少速度两者全都被认为正常，因此判定部22判断在绝缘检测中没有发生电火花和部分放电(步骤S110中“否”)。
根据如此构成的本实施形态的检测装置1，除了以往能检测的电火花(图5A和图5B)之外，还能检测出以往难以进行检测的部分放电(图6A和图6B)的发生。
尤其，当充电期间结束后发生部分放电时(图7A和图7B之情况)，电压V的图表与正常时(图5A)没有变化。因此，利用电压V的变化来检测电火花的专利文献1的构成不能检测出如图7A和图7B之情况。与此相关，在本实施形态中，由于利用流过负极侧图形P2的电流I的时间变化，因此在图7A和图7B之情况中也能检测出部分放电。
并且本实施形态的检测装置1，在绝缘检测(步骤S104至步骤S106的循环)以及电火花和部分放电的检测中，可利用共同的构成(恒定电流源11、电流测定部16等)。据此，在本实施形态的检测装置1中，不需要用于检测电火花或部分放电的特殊传感器(sensor)等。因此，可简化检测装置1的构成。
如上述说明的，本实施形态的检测装置1包括恒定电流源11、电流测定部16以及判定部22。恒定电流源11向检测对象的配线图形的一个即正极侧图形P1供给电流。电流测定部16测定流过检测对象的配线图形的电流I。判定部22，基于电流测定部16测定的电流I的时间变化，判定检测对象的配线图形P1、P2间是否发生了电火花或部分放电。
即，检测对象的配线图形P1、P2间发生电火花或部分放电时，流过该配线图形的电流I的时间变化比正常时变慢。因此，基于流过配线图形的电流I的时间变化，可判定是否发生电火花和部分放电。
并且，在本实施形态的检测装置1中，电流测定部16测定流过检测对象的配线图形的另一个即负极侧图形P2的电流。
即，通过测定负极侧图形的电流，由于不容易受到正极侧各构成的影响，因此能高精密度地测定流过配线图形的电流。从而，能高精密度地检测出电火花或部分放电。
并且，如上所述，本实施形态的检测装置1，包括用于测定电流测定部16所测定的电流I直至小于检测结束阈值时为止所需的时间即绝缘检测结束时间的结束时间测定部21。判定部22，在绝缘检测结束时间超过规定时间时，判定发生了电火花或部分放电。
即，检测对象的配线图形P1、P2间发生了电火花或部分放电时，流过负极侧图形P2的电流I的时间变化变慢，其结果是，至该电流I稳定时为止所需的时间变长。因此，如上所述，当绝缘检测结束时间比规定时间变长时，可判定发生了电火花或部分放电。
并且，如上所述，本实施形态的检测装置1，包括控制部10，以用于自开始向正极侧图形P1供给电流后，电流测定部16所测定的电流在不小于预设的检测结束阈值的状态下超过预设的限定期限时，判定检测对象的配线图形P1、P2间的绝缘性不充分。
如此，基于流过负极侧图形P2的电流I，可检测配线图形间的绝缘性。因此，根据上述构成的检测装置1，利用共同的构成(恒定电流源11、电流测定部16等)可实现绝缘检测以及电火花和部分放电的检测，从而可简化检测装置1。
以上虽然对本发明的优选实施形态进行了说明，但上述构成例如可按下述进行变形。
在上述实施形态中，即使电火花或部分放电发生一次，也将其判定为不良品，但也可容许数次的电火花(或部分放电)。
在上述实施形态中，并不使用基于电压测定部12的电压V的测定结果。因此，电压测定部12可被省略。
在以往的方法(专利文献1)中，虽然不能检测出部分放电的发生，但能检测出电火花的发生。由此，通过组合以往的方法和本案发明的方法，可以区分电火花的发生和部分放电的发生而进行检测。因此，在电火花发生时和在部分放电发生时，根据需要可进行不同的处理。
在上述实施形态中，将第一阈值(检测出电火花和部分放电时使用的阈值)和第二阈值(判断绝缘性充分与否时使用的阈值)作为相同值(检测结束阈值)。但第一阈值和第二阈值也可不同。
并且，上述实施形态虽然是在电流测定部中测定流过负极侧图形P2的电流的构成，但从测定流过配线图形P1、P2的电流的观点来看，也可构成为在电流测定部中测定流入正极侧图形P1的电流。但，当采取测定流入正极侧图形P1的电流之构成时，由于容易受到正极侧的各构成的影响，因此难以准确检测出流过配线图形的电流。因此，从电火花和部分放电的检测精密度这点来看，应优选采取如上述实施形态之测定流过负极侧图形P2的电流的构成。

Claims (4)

1.一种检测装置，检测形成在电路基板上的配线图形的绝缘性，所述检测装置包括：
电流源，向正极侧图形供给电流，所述正极侧图形是检测对象的配线图形中的一个；
电流测定部，测定流过所述检测对象的配线图形的电流；以及
判定部，基于所述电流测定部测定的电流的时间变化，判定所述检测对象的配线图形中是否发生了电火花或部分放电。
2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于所述电流测定部测定流过负极侧图形的电流，所述负极侧图形是所述检测对象的配线图形中的另一个。
3.根据权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于进一步包括用于测定结束时间的结束时间测定部，所述结束时间是自开始向所述正极侧图形供给电流后，所述电流测定部测定的电流直至小于预设的第一阈值时为止所需的时间，
所述判定部，在所述结束时间超过规定时间时，判定发生了电火花或部分放电。
4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于进一步包括控制部，以用于自开始向所述正极侧图形供给电流后，当所述电流测定部测定的电流在不小于预设的第二阈值的状态下超过预设的限定期限时，判定所述检测对象的配线图形间的绝缘性为不充分。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110673000A (zh) * 2019-10-28 2020-01-10 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 一种油浸式电流互感器局部放电在线监测方法及装置

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6095735B2 (ja) * 2014-07-29 2017-03-15 ヤマハファインテック株式会社 プリント基板検査装置及び検査方法
CN111880055B (zh) * 2020-07-09 2024-04-16 上海联影医疗科技股份有限公司 打火检测装置和方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1996028A (zh) * 2005-12-28 2007-07-11 日本电产丽德株式会社 基板检查装置及基板检查方法
CN101191811A (zh) * 2006-11-30 2008-06-04 日本电产理德株式会社 基板检查装置和基板检查方法
CN101292166A (zh) * 2005-10-18 2008-10-22 日本电产理德株式会社 绝缘检查装置和绝缘检查方法
CN101454680A (zh) * 2006-06-20 2009-06-10 日本电产理德株式会社 基板检查装置和基板检查方法
CN101937030A (zh) * 2009-06-26 2011-01-05 日本电产理德株式会社 基板检查方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5840703B2 (ja) * 1976-02-20 1983-09-07 日本精密計測株式会社 非破壊絶縁試験装置
JPS546046A (en) 1977-06-16 1979-01-17 Toray Ind Inc Acrylonitrile polymer compsition
JP3546046B2 (ja) * 2001-09-26 2004-07-21 日本電産リード株式会社 回路基板の絶縁検査装置及び絶縁検査方法
JP4059291B2 (ja) * 2005-10-18 2008-03-12 日本電産リード株式会社 絶縁検査装置及び絶縁検査方法
JP5014778B2 (ja) * 2006-12-28 2012-08-29 日本電産リード株式会社 基板検査方法及び基板検査装置
JP4838193B2 (ja) * 2007-05-10 2011-12-14 日置電機株式会社 回路基板検査装置
JP4987591B2 (ja) * 2007-07-02 2012-07-25 日置電機株式会社 回路基板検査装置
JP2010032457A (ja) * 2008-07-31 2010-02-12 Hioki Ee Corp 絶縁検査装置および絶縁検査方法
JP2010175339A (ja) * 2009-01-28 2010-08-12 Mitsubishi Electric Corp 絶縁検査装置
JP5541720B2 (ja) * 2010-08-30 2014-07-09 日置電機株式会社 検査装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101292166A (zh) * 2005-10-18 2008-10-22 日本电产理德株式会社 绝缘检查装置和绝缘检查方法
CN1996028A (zh) * 2005-12-28 2007-07-11 日本电产丽德株式会社 基板检查装置及基板检查方法
CN101454680A (zh) * 2006-06-20 2009-06-10 日本电产理德株式会社 基板检查装置和基板检查方法
CN101191811A (zh) * 2006-11-30 2008-06-04 日本电产理德株式会社 基板检查装置和基板检查方法
CN101937030A (zh) * 2009-06-26 2011-01-05 日本电产理德株式会社 基板检查方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110673000A (zh) * 2019-10-28 2020-01-10 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 一种油浸式电流互感器局部放电在线监测方法及装置
CN110673000B (zh) * 2019-10-28 2021-11-30 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 一种油浸式电流互感器局部放电在线监测方法及装置

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