JP5541720B2 - 検査装置 - Google Patents
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
2 信号生成部
3a 第1検出部
3b 第2検出部
3c 第3検出部
3d 第4検出部
4 制御部
11,21 電圧検出回路
12,42 A/Dコンバータ
22,32 コンパレータ
31,41 電流検出回路
100 回路基板
101 導体パターン
D1,D4 サンプリングデータ
N1 第1基準値
N2 第2基準値
N3 第3基準値
N4 第4基準値
S2,S3 検出信号
Ve 電圧信号
Claims (3)
- 検査対象体に対して検査用信号を供給したときに生じる物理量を検出する複数の検出部と、前記検査用信号の供給に伴う放電の発生の有無を前記各検出部による検出結果に基づいて判定する判定部とを備え、
前記各検出部は、前記物理量に対する検出周波数帯域が当該各検出部毎に互いに異なるようにそれぞれ構成され、
前記判定部は、前記各検出部によって検出された前記物理量の少なくとも1つが予め決められた条件を満たすときに前記放電が発生したと判定する検査装置であって、
前記検査用信号としての電圧信号を生成する信号生成部を備え、
第1の検出部、第2の検出部、第3の検出部および第4の検出部を前記各検出部として備え、
前記第1検出部は、前記検査対象体に対して前記電圧信号を供給したときに生じる前記物理量としての低周波成分の電圧を検出して当該電圧値を示す電圧データを出力し、
前記第2検出部は、前記検査対象体に対して前記電圧信号を供給したときに生じる前記物理量としての高周波成分の電圧を検出して当該電圧値が予め規定された基準電圧値以上のときに検出信号を出力し、
前記第3検出部は、前記検査対象体に対して前記電圧信号を供給したときに生じる前記物理量としての高周波成分の電流を検出して当該電流値が予め規定された基準電流値以上のときに検出信号を出力し、
前記第4検出部は、前記検査対象体に対して前記電圧信号を供給したときに生じる前記物理量としての低周波成分の電流を検出して当該電流値を示す電流データを出力し、
前記判定部は、前記第1検出部から出力された前記電圧データが予め決められた基準値以上のとき、前記第2検出部から前記検出信号が出力されたとき、前記第3検出部から前記検出信号が出力されたとき、および前記第4検出部から出力された前記電流データが予め決められた基準値以上のときのいずれかのときに前記予め決められた条件を満たしたとする検査装置。 - 前記各検出部は、前記物理量を検出する際の検出感度を任意に設定可能に構成されている請求項1記載の検査装置。
- 前記条件を前記検出部毎に任意に設定可能に構成されている請求項1または2記載の検査装置。
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