CN103472347A - 辅助测试电路及具有该辅助测试电路的芯片及电路板 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种辅助测试电路及具有该辅助测试电路的芯片及电路板。一种辅助测试电路，用于辅助测量芯片的多个引脚及对应的功能电路的电连接状态，该辅助测试电路包括引脚选择单元、分压单元及测试结果输出端，该分压单元包括测试电压输入端、电压输出端及连接于该测试电压输入端与电压输出端之间的分压元件，该测试电压输入端用于接收测试电压，该引脚选择单元连接于该多个引脚与该电压输出端之间，该引脚选择单元用于根据外部控制信号控制该多个引脚其中之一与该电压输出端电连接，该电压输出端直接或间接连接至该测试结果输出端。本发明辅助测试电路检测过程简单且测试点较少。

Description

辅助测试电路及具有该辅助测试电路的芯片及电路板
技术领域
本发明涉及一种辅助测试电路及具有该辅助测试电路的芯片及电路板。
背景技术
电路板上集成很多芯片，目前，检测这些芯片各引脚所连接的功能电路是正常、开路还是短路时通常利用一个测试点和一个引脚电性相连，然后用测试设备测量该测试点的电压值来判断该引脚所连接的功能电路是正常、开路还是短路。然而，当芯片引脚的数目较多时，所需要的测试点也相应增多，测试时需要人工将测试设备与多个测试点依次连接，以依次对每个引脚的对应的功能电路的电连接状态进行检测，这种需要人工依次更换测试点的方式导致了检测过程繁琐且耗时。
发明内容
针对上述问题，有必要提供一种检测过程较简单的用于辅助测量芯片的多个引脚及对应的功能电路的电连接状态的辅助测试电路。
有必要提供一种具有该辅助测试电路的芯片。
有必要提供一种具有该辅助测试电路的电路板。
一种辅助测试电路，用于辅助测量芯片的多个引脚及对应的功能电路的电连接状态，该辅助测试电路包括引脚选择单元、分压单元及测试结果输出端，该分压单元包括测试电压输入端、电压输出端及连接于该测试电压输入端与电压输出端之间的分压元件，该测试电压输入端用于接收测试电压，该引脚选择单元连接于该多个引脚与该电压输出端之间，该引脚选择单元用于根据外部控制信号控制该多个引脚其中之一与该电压输出端电连接，该电压输出端直接或间接连接至该测试结果输出端。
一种芯片，其包括多个引脚及多个分别对应该多个引脚连接的功能电路，该芯片还包括用于辅助检测该多个引脚及对应的功能电路的电连接状态的辅助测试电路，该辅助测试电路包括引脚选择单元、分压单元及测试结果输出端，该分压单元包括测试电压输入端、电压输出端及连接于该测试电压输入端与电压输出端之间的分压元件，该测试电压输入端用于接收测试电压，该引脚选择单元连接于该多个引脚与该电压输出端之间，该引脚选择单元用于根据外部控制信号控制该多个引脚其中之一与该电压输出端电连接，该电压输出端直接或间接连接至该测试结果输出端。
一种电路板，该电路板包括至少一芯片，该芯片包括多个引脚及多个分别对应该多个引脚连接的功能电路，该电路板还包括用于辅助检测该多个引脚及对应的功能电路的电连接状态的辅助测试电路，该辅助测试电路包括引脚选择单元、分压单元及测试结果输出端，该分压单元包括测试电压输入端、电压输出端及连接于该测试电压输入端与电压输出端之间的分压元件，该测试电压输入端用于接收测试电压，该引脚选择单元连接于该多个引脚与该电压输出端之间，该引脚选择单元用于根据一控制信号控制该多个引脚其中之一与该电压输出端电连接，该电压输出端直接或间接连接至该测试结果输出端。
与现有技术相比，本发明辅助测试电路及具有该辅助测试电路的芯片及电路板中引脚选择单元根据外部控制信号依次控制该多个引脚其中之一与该电压输出端电连接，测试时只需要将该测试结果输出端与测试设备相连，不需要人工更换连接，因而达到了检测过程简单的技术效果。另外，每个引脚不需要分别引出一个测试点，只需要将测试电压输入端及测试结果输出端引出，因而在一定程度上减少了测试点的数目，节约测试点所占的面积。
附图说明
图1是本发明的电路板一较佳实施方式结构示意图。
图2是本发明的芯片一较佳实施方式结构示意图。
主要元件符号说明
电路板 1
辅助测试电路 10、45
引脚选择单元 11
分压单元 13、453
判断单元 15
通信单元 17、457
测试结果输出端 19、459
输入端 111
输出端 113
控制端 115
芯片 30、40
引脚 31、41
功能电路 33、43
测试电压输入端 131、4531
电压输出端 133
分压元件 135
通信输入端 171
通信输出端 173
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明作具体介绍。图1是本发明的电路板一较佳实施方式结构示意图。该电路板1包括至少一芯片30及辅助测试电路10，该芯片30包括多个引脚31及多个与该多个引脚31分别对应且连接的功能电路33，该辅助测试电路10用于辅助检测该多个引脚31所对应连接的该功能电路33的电连接状态。
本实施例中，该辅助测试电路10包括引脚选择单元11、分压单元13、判断单元15、通信单元17及测试结果输出端19。
该分压单元13包括测试电压输入端131、电压输出端133及连接于该测试电压输入端131与该电压输出端133之间的分压元件135，该测试电压输入端131用于接收测试电压。该电压输出端133与该引脚选择单元11的输出端113电连接。其中，该测试电压为直流电压，该分压单元13包括电阻。其中，该测试电压可以由外部测试设备提供，也可以是该电路板1上具有的电压提供电路提供该测试电压至该测试电压输入端131。
该引脚选择单元11用于根据一控制信号控制该多个引脚31之一与该分压单元13电连接，以把该引脚31所连接的功能电路33引入该辅助测试电路10并将该引脚31所连接的功能电路33与该分压单元13串联。具体而言，该引脚选择单元11包括多个输入端111、输出端113及控制端115，该多个输入端111分别连接该多个引脚31，该输出端113连接该分压单元。该控制端115接收控制信号，并根据该控制信号控制该多个引脚31之一与该分压单元13电连接。该引脚选择单元11可以为选择器。
该判断单元15位于该电压输出端133及该测试结果输出端19之间，用于接收该电压输出端133的电压并将该电压输出端133的电压与预先存储在该判断单元15内的第一范围、第二范围及第三范围进行比较。该第一范围、该第二范围及该第三范围分别与第一测试结果、第二测试结果及第三测试结果对应。若该电压输出端133的电压位于该第一范围内，则将该第一测试结果输出，若该电压输出端133的电压位于该第二范围内，则将该第二测试结果输出，若该电压输出端133的电压位于该第三范围内，则将该第三测试结果输出。其中，该第一测试结果代表该引脚31所连接的功能电路33正常，该第二测试结果代表该引脚31所连接的功能电路33开路，该第三测试结果代表该引脚31所连接的功能电路33短路。优选地，该第一测试结果、该第二测试结果及该第三测试结果均为数字信号。
在一种变更实施方式中，该判断单元15也可以接收该电压输出端133的电压并根据该电压输出端133的电压大小输出第一测试结果或第二测试结果，该第一测试结果代表该引脚31所连接的功能电路33正常，该第二测试结果代表该引脚所连接的功能电路33不正常。该第一测试结果及该第二测试结果也可以均为数字信号。
该通信单元17包括通信输入端171及通信输出端173，该通信输入端171连接该判断单元15，用于接收该第一测试结果、该第二测试结果及该第三测试结果。该通信输出端173连接该测试结果输出端19。该通信单元17用于将该第一测试结果、该第二测试结果及该第三测试结果分别转换为支持UART协议的信号或者支持I2C协议的信号，并通过该测试结果输出端19输出。
本发明的测试过程简述如下：将该芯片30压合至该电路板1的预定位置，同时将该芯片30的多个引脚31与该引脚选择单元11的多个输入端111一一相连，提供测试电压至该测试电压输入端131，并提供一控制信号至该引脚选择单元11的控制端115，将一引脚31与该电压输出端133连接，然后，通过电脑或显示器从该测试结果输出端19读出该引脚31对应的功能电路33的电连接状态的测试结果；至此，该引脚31对应的功能电路33的电连接状态的测试完成。进一步地，可以更换控制信号控制其他引脚31依次与该电压输出端133连接，并依次获得其他引脚31对应的功能电路33的电连接状态的测试结果，当所有引脚31的测试结果均已读出，即表示整个测试完成。
本发明的测试原理主要为：由于该引脚31所连接的功能电路33通常在芯片30内部包括接地端，即测试时，该引脚31所连接的功能电路33一端接地，一端与该引脚31电连接，使得该功能电路33与该分压单元13串联，在该测试电压输入端131加的测试电压依序经由该分压单元13及该功能电路33接地从而形成回路，该功能电路33的正常、短路及开路时的电阻大小是不同的，因此使得相应的该电压输出端133（也即功能电路33与分压单元13之间的节点）输出的电压的大小在该功能电路33的正常、短路及开路时也各不相同，因此根据该电压输出端133输出的电压的大小即可判断该功能电路是正常、短路还是开路。
可以理解，在一种变更的实施方式中，该通信单元17也可位于该芯片30内部，即该通信单元17是该芯片30原有的一部分，用于与其他功能电路或芯片之间进行通信。
与现有技术相较，本发明电路板、芯片及该辅助测试电路中的引脚选择单元在不同的控制信号的控制下与相应的引脚相连，以将该引脚所连接的功能电路与该分压单元串联，该电压输出端将该引脚所连接的功能电路的电压输出。该判断单元将该功能电路的电压与预存在该判断单元内的电压范围进行比较，并将测试结果输出。该通信单元将测试结果所对应不同的数字编码信号转换成该通信单元能识别的相应的支持UART协议或者支持I2C协议的信号输出。从而只需在该电路板上增加一个测试结果输出端所对应的引脚而不需要引入测试点即可判断出该电路板、该芯片的多个该引脚所连接的功能电路是正常、开路还是短路。从而达到了检测过程简单且测试点较少的技术效果。
可以理解，在一种变更的实施方式中，该电路板1可以不包括该判断单元15及该通信单元17，只需将电压输出端133与该测试结果输出端19相连，然后利用测试设备与该测试结果输出端19相连，从而读出该测试结果输出端19的电压即可判断该引脚31所连接的功能电路33是正常、开路还是短路。此种实施方式在该电路板1上引入测试结果输出端19作为一个测试点即可测量该芯片30的多个引脚31所连接的功能电路33是正常、开路还是短路。不需要人工依次更换测试设备依次与测试点相连，检测过程简单，测试点较少。
另外，在另一种变更的实施方式中，该电路板1也可以不包括该通信单元17。则该电路板1只需将该判断单元15判断出的测试结果输出，则可根据不同的测试结果判断该引脚31所连接的功能电路33是正常、开路还是短路。
请参阅图2，是本发明的芯片一较佳实施方式结构示意图。在本实施方式中，该辅助测试电路45也可以集成在该芯片40中。该辅助测试电路45在该芯片40中测试引脚41所连接的功能电路43的测试原理与该辅助测试电路10位于该电路板1上测试该引脚31所连接的功能电路33的工作原理一样。在此不再赘述。
该实施方式中，该辅助测试电路45作为该芯片40内部的一部分，分压单元453的测试电压输入端4531可以作为该芯片40的测试电压输入引脚，该测试结果输出端459也可以作为该芯片40的测试结果输出引脚，特别地，当通信单元457为该芯片40固有的与外部其他功能电路的通信模块时，该通信单元457对应连接的通信引脚也同时将作为该测试结果输出引脚。
虽然本发明以优选实施方式揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可做各种的变化，这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求的保护范围之内。

Claims (11)

1.一种电路板，该电路板包括至少一芯片，该芯片包括多个引脚及多个分别对应该多个引脚连接的功能电路，其特征在于，该电路板还包括用于辅助检测该多个引脚及对应的功能电路的电连接状态的辅助测试电路，该辅助测试电路包括引脚选择单元、分压单元及测试结果输出端，该分压单元包括测试电压输入端、电压输出端及连接于该测试电压输入端与电压输出端之间的分压元件，该测试电压输入端用于接收测试电压，该引脚选择单元连接于该多个引脚与该电压输出端之间，该引脚选择单元用于根据一控制信号控制该多个引脚其中之一与该电压输出端电连接，该电压输出端直接或间接连接至该测试结果输出端。
2.如权利要求1所述的电路板，其特征在于，该引脚选择单元包括多个输入端、一输出端及一控制端，该多个输入端分别连接该多个引脚，该输出端连接该电压输出端，该控制端接收该控制信号。
3.如权利要求1所述的电路板，其特征在于，该辅助测试电路还包括连接于该电压输出端与该测试结果输出端的判断单元，该判断单元用于接收该电压输出端的电压并依据该电压输出端的电压大小输出第一测试结果、第二测试结果或第三测试结果，该第一测试结果代表测试引脚连接的功能电路正常，该第二测试结果代表测试引脚连接的功能电路开路，该第三测试结果代表测试引脚连接的功能电路短路。
4.如权利要求3所述的电路板，其特征在于，该判断单元预先存储有第一范围、第二范围及第三范围，该第一范围、该第二范围及该第三范围分别与该第一测试结果、该第二测试结果及该第三测试结果对应，若该电压输出端的电压位于该第一范围内，则将第一测试结果输出，若该电压输出端的电压位于该第二范围内，则将第二测试结果输出，若该电压输出端的电压位于该第三范围内，则将该第三测试结果输出。
5.如权利要求1所述的电路板，其特征在于，该辅助测试电路还包括连接于该电压输出端与该测试结果输出端的判断单元，该判断单元用于接收该电压输出端的电压并依据该电压输出端的电压大小输出第一测试结果或第二测试结果，该第一测试结果代表测试引脚连接的功能电路正常，该第二测试结果代表测试引脚连接的功能电路不正常。
6.如权利要求3或5所述的电路板，其特征在于，该第一测试结果、该第二测试结果及该第三测试结果均为数字信号。
7.如权利要求3或5所述的电路板，其特征在于，该芯片或该辅助测试电路还包括通信单元，该通信单元包括输入端及输出端，该通信单元输入端连接该判断单元，用于接收该第一测试结果、该第二测试结果及该第三测试结果，该通信单元的输出端连接该测试结果输出端，该通信单元用于将该第一测试结果、该第二测试结果及该第三测试结果分别转换为支持UART协议的信号或者支持I2C协议的信号，并通过该测试结果输出端输出。
8.如权利要求1所述的电路板，其特征在于，该分压单元包括电阻，该测试电压为直流电压。
9.如权利要求1所述的电路板，其特征在于，该辅助测试电路集成于该芯片内部。
10.一种辅助测试电路，用于辅助测量芯片的多个引脚及对应的功能电路的电连接状态，其特征在于，该辅助测试电路包括引脚选择单元、分压单元及测试结果输出端，该分压单元包括测试电压输入端、电压输出端及连接于该测试电压输入端与电压输出端之间的分压元件，该测试电压输入端用于接收测试电压，该引脚选择单元连接于该多个引脚与该电压输出端之间，该引脚选择单元用于根据外部控制信号控制该多个引脚其中之一与该电压输出端电连接，该电压输出端直接或间接连接至该测试结果输出端。
11.一种芯片，其包括多个引脚及多个分别对应该多个引脚连接的功能电路，其特征在于，该芯片还包括用于辅助检测该多个引脚及对应的功能电路的电连接状态的辅助测试电路，该辅助测试电路包括引脚选择单元、分压单元及测试结果输出端，该分压单元包括测试电压输入端、电压输出端及连接于该测试电压输入端与电压输出端之间的分压元件，该测试电压输入端用于接收测试电压，该引脚选择单元连接于该多个引脚与该电压输出端之间，该引脚选择单元用于根据外部控制信号控制该多个引脚其中之一与该电压输出端电连接，该电压输出端直接或间接连接至该测试结果输出端。
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