CN110658439A - 一种保护电路的测试方法及*** - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种保护电路的测试方法及***，本发明通过将芯片控制电路分别连接至GUI操作界面端和待测主板端，将GUI控制芯片与安装有GUI操作界面的计算机通过USB3.0接口连接，另外与待测主板通过I2C接口连接，将模拟电路控制芯片与I2C接口连接，并在模拟电路控制芯片上连接多个可调精密电阻，从而实现在GUI操作界面中对待测主板上的电流进行测试，在测试过程中，只需连接好仪器，打开GUI操作界面即可进行测试，测试成本低且操作简单，提高了工作效率以及测试精确度，减少人力工时。
Description
技术领域
本发明涉及保护电路测试技术领域，特别是一种保护电路的测试方法及***。
背景技术
随着人工智能的深入，对服务器的功率，性能要求也越来越高，越来越多的服务器主板和其他板卡在开发阶段需要引入设计保护电路，以防止12V供电链路烧毁现象。
现在的服务器性能要求越来越高，已经由之前的2路过渡到4路和8路，电源提供的12V电源要同时作为多组二级线路的输入。为了防止其中一组二级电路出现过流导致输入过流烧坏主板的情况发生，往往需要引入电路保护设计，针对此种电路保护设计，通过BMCI2C识别芯片寄存器地址，通过BMC读取sense电阻或sense电感两端的电流。
在操作过程中需要软件调试BMC，通过调试软件找到对应的sense电阻或sense电感，识别芯片寄存器地址，因此过程因BMC干扰导致测试不够稳定且操作复杂。
发明内容
本发明的目的是提供一种保护电路的测试方法及***，旨在解决现有技术中保护电路测试受BMC干扰导致不够稳定且操作复杂的问题，实现在GUI操作界面中对待测主板上的电流进行测试，提高工作效率以及测试精确度，减少人力工时。
为达到上述技术目的，本发明提供了一种保护电路的测试方法，所述方法包括以下步骤：
S1、将芯片控制电路分别连接至GUI操作界面端和待测主板端；
S2、待测主板上电后，选取芯片型号以及待测通道的寄存器地址，确定测试电路；
S3、选定需要测试的通道，设置所测通道的测量电阻阻值，在OTC待测通道中输入电压保护值；
S4、在GUI操作界面勾选待测通道，监测电流大小，当加载电流超过设计电流值时，进行指示报警。
优选地，所述芯片控制电路与GUI操作界面端和待测主板端的连接方式如下：
所述芯片控制电路与GUI操作界面端通过USB3.0接口连接，与待测主板端通过I2C接口连接；
所述芯片控制电路包括GUI控制芯片和模拟电路控制芯片，所述GUI控制芯片分别与USB3.0接口以及I2C接口连接，所述模拟电路控制芯片与I2C接口连接，所述模拟电路控制芯片还连接有多个可调电阻。
优选地，所述I2C接口传输Data、CLK以及GND信号。
优选地，所述可调电阻的数量为4个。
本发明还提供了一种保护电路的测试***，所述测试***包括：
电路连接模块，用于将芯片控制电路分别连接至GUI操作界面端和待测主板端；
测试电路确定模块，用于待测主板上电后，选取芯片型号以及待测通道的寄存器地址，确定测试电路；
参数设置模块，用于选定需要测试的通道，设置所测通道的测量电阻阻值，在OTC待测通道中输入电压保护值；
电流监测模块，用于在GUI操作界面勾选待测通道，当加载电流超过设计电流值时，进行指示报警。
优选地，所述芯片控制电路与GUI操作界面端和待测主板端的连接方式如下：
所述芯片控制电路与GUI操作界面端通过USB3.0接口连接，与待测主板端通过I2C接口连接；
所述芯片控制电路包括GUI控制芯片和模拟电路控制芯片，所述GUI控制芯片分别与USB3.0接口以及I2C接口连接，所述模拟电路控制芯片与I2C接口连接，所述模拟电路控制芯片还连接有多个可调电阻。
优选地，所述I2C接口传输Data、CLK以及GND信号。
优选地，所述可调电阻的数量为4个。
发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是发明所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：
与现有技术相比，本发明通过将芯片控制电路分别连接至GUI操作界面端和待测主板端，将GUI控制芯片与安装有GUI操作界面的计算机通过USB3.0接口连接，另外与待测主板通过I2C接口连接，将模拟电路控制芯片与I2C接口连接，并在模拟电路控制芯片上连接多个可调精密电阻，从而实现在GUI操作界面中对待测主板上的电流进行测试，在测试过程中，只需连接好仪器，打开GUI操作界面即可进行测试，测试成本低且操作简单，提高了工作效率以及测试精确度，减少人力工时。
附图说明
图1为本发明实施例所提供的一种保护电路的测试方法流程图；
图2为本发明实施例所提供的一种芯片控制电路结构示意图；
图3为本发明实施例所提供的一种保护电路的测试***结构框图。
具体实施方式
为了能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。
下面结合附图对本发明实施例所提供的一种保护电路的测试方法及***进行详细说明。
如图1所示，本发明公开了一种保护电路的测试方法，所述方法包括以下步骤：
S1、将芯片控制电路分别连接至GUI操作界面端和待测主板端；
S2、待测主板上电后，选取芯片型号以及待测通道的寄存器地址，确定测试电路；
S3、选定需要测试的通道，设置所测通道的测量电阻阻值，在OTC待测通道中输入电压保护值；
S4、在GUI操作界面勾选待测通道，当加载电流超过设计电流值时，进行指示报警。
将GUI操作界面在个人电脑上安装，通过USB接口连接至芯片控制电路，然后通过I2C的Data、CLK以及GND信号传输线连接至待测主板，其芯片控制方案如图2所示，GUI控制芯片通过Data、CLK以及GND信号传输线连接至待测主板I2C接口处，通过USB3.0接口连接至安装有GUI操作***的计算机上，模拟电路控制芯片连接有多个可调精密电阻，电阻数量优选4个，在测试不同通道时，可根据电路设计调节电阻阻值。
对于电流监控，可包含4个通道的电流检测，通过读取各通道在输出加载不同情况下的电流，并显示成16进制表示，当加载电流超过电路设计要求的电流值时，在电流显示界面进行报警。对于电流的显示，当电路的输出加载电流变化时，通过实时的电流滚动条进行显示，从而可实时精确观察到电流变化。
连接芯片时，会出现芯片识别，从而区分芯片型号，然后可确定此芯片，在确定了芯片型号后，通过I2C识别到防烧板芯片寄存器地址，芯片地址确定后，可以选取需要测试的通道，通过调节滑动变阻器将阻值调节为精密电阻的阻值，模拟主板精密电阻，通过I2C将主板电流通过GUI界面侦测，同时可以通过GUI界面设置精密电阻的耐压值，从而设置OCP点，达到OCP电流时，GUI界面报警提示。
在测试时，将芯片控制电路板通过USB接口连接至界面端，在界面端将芯片控制电路板通过I2C连接至待测主板。对待测主板上电，通过连接芯片，选择芯片型号，然后再选取待测通道的寄存器地址，确定待测电路。按照电路设计要求参数，选择需要测试的通道，然后设置填入所测通道的sense电阻阻值，然后在OTC的待测通道中输入电路设计要求中的电压保护值，需根据芯片规格将电压转换为16进制输入，然后观察通道设置处的待测通道电流保护值是否满足设计要求。在完成相关设置后，切换至电流显示界面，勾选待测通道，即可得到在输出加载电流不同情况下，流过精密电阻的电流值，且为16进制显示，当加载电流超过电路设计要求的电流值，电流显示界面中的OC处红灯亮起，当未超过此值时，OC处为绿灯显示。
本发明实施例通过将芯片控制电路分别连接至GUI操作界面端和待测主板端，将GUI控制芯片与安装有GUI操作界面的计算机通过USB3.0接口连接，另外与待测主板通过I2C接口连接，将模拟电路控制芯片与I2C接口连接，并在模拟电路控制芯片上连接多个可调精密电阻，从而实现在GUI操作界面中对待测主板上的电流进行测试，在测试过程中，只需连接好仪器，打开GUI操作界面即可进行测试，测试成本低且操作简单，提高了工作效率以及测试精确度，减少人力工时。
如图3所示，本发明实施例还公开了一种保护电路的测试***，，所述测试***包括：
电路连接模块，用于将芯片控制电路分别连接至GUI操作界面端和待测主板端；
测试电路确定模块，用于待测主板上电后，选取芯片型号以及待测通道的寄存器地址，确定测试电路；
参数设置模块，用于选定需要测试的通道，设置所测通道的测量电阻阻值，在OTC待测通道中输入电压保护值；
电流监测模块，用于在GUI操作界面勾选待测通道，当加载电流超过设计电流值时，进行指示报警。
将GUI操作界面在个人电脑上安装，通过USB接口连接至芯片控制电路，然后通过I2C的Data、CLK以及GND信号传输线连接至待测主板，其芯片控制方案如图2所示，GUI控制芯片通过Data、CLK以及GND信号传输线连接至待测主板I2C接口处，通过USB3.0接口连接至安装有GUI操作***的计算机上，模拟电路控制芯片连接有多个可调精密电阻，电阻数量优选4个，在测试不同通道时，可根据电路设计调节电阻阻值。
对于电流监控，可包含4个通道的电流检测，通过读取各通道在输出加载不同情况下的电流，并显示成16进制表示，当加载电流超过电路设计要求的电流值时，在电流显示界面进行报警。对于电流的显示，当电路的输出加载电流变化时，通过实时的电流滚动条进行显示，从而可实时精确观察到电流变化。
连接芯片时，会出现芯片识别，从而区分芯片型号，然后可确定此芯片，在确定了芯片型号后，通过I2C识别到防烧板芯片寄存器地址，芯片地址确定后，可以选取需要测试的通道，通过调节滑动变阻器将阻值调节为精密电阻的阻值，模拟主板精密电阻，通过I2C将主板电流通过GUI界面侦测，同时可以通过GUI界面设置精密电阻的耐压值，从而设置OCP点，达到OCP电流时，GUI界面报警提示。
在测试时，将芯片控制电路板通过USB接口连接至界面端，在界面端将芯片控制电路板通过I2C连接至待测主板。对待测主板上电，通过连接芯片，选择芯片型号，然后再选取待测通道的寄存器地址，确定待测电路。按照电路设计要求参数，选择需要测试的通道，然后设置填入所测通道的sense电阻阻值，然后在OTC的待测通道中输入电路设计要求中的电压保护值，需根据芯片规格将电压转换为16进制输入，然后观察通道设置处的待测通道电流保护值是否满足设计要求。在完成相关设置后，切换至电流显示界面，勾选待测通道，即可得到在输出加载电流不同情况下，流过精密电阻的电流值，且为16进制显示，当加载电流超过电路设计要求的电流值，电流显示界面中的OC处红灯亮起，当未超过此值时，OC处为绿灯显示。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种保护电路的测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
S1、将芯片控制电路分别连接至GUI操作界面端和待测主板端；
S2、待测主板上电后，选取芯片型号以及待测通道的寄存器地址，确定测试电路；
S3、选定需要测试的通道，设置所测通道的测量电阻阻值，在OTC待测通道中输入电压保护值；
S4、在GUI操作界面勾选待测通道，监测电流大小，当加载电流超过设计电流值时，进行指示报警。
2.根据权利要求1所述的一种保护电路的测试方法，其特征在于，所述芯片控制电路与GUI操作界面端和待测主板端的连接方式如下：
所述芯片控制电路与GUI操作界面端通过USB3.0接口连接，与待测主板端通过I2C接口连接；
所述芯片控制电路包括GUI控制芯片和模拟电路控制芯片，所述GUI控制芯片分别与USB3.0接口以及I2C接口连接，所述模拟电路控制芯片与I2C接口连接，所述模拟电路控制芯片还连接有多个可调电阻。
3.根据权利要求1或2所述的一种保护电路的测试方法，其特征在于，所述I2C接口传输Data、CLK以及GND信号。
4.根据权利要求2所述的一种保护电路的测试方法，其特征在于，所述可调电阻的数量为4个。
5.一种保护电路的测试***，其特征在于，所述测试***包括：
电路连接模块，用于将芯片控制电路分别连接至GUI操作界面端和待测主板端；
测试电路确定模块，用于待测主板上电后，选取芯片型号以及待测通道的寄存器地址，确定测试电路；
参数设置模块，用于选定需要测试的通道，设置所测通道的测量电阻阻值，在OTC待测通道中输入电压保护值；
电流监测模块，用于在GUI操作界面勾选待测通道，当加载电流超过设计电流值时，进行指示报警。
6.根据权利要求5所述的一种保护电路的测试***，其特征在于，所述芯片控制电路与GUI操作界面端和待测主板端的连接方式如下：
所述芯片控制电路与GUI操作界面端通过USB3.0接口连接，与待测主板端通过I2C接口连接；
所述芯片控制电路包括GUI控制芯片和模拟电路控制芯片，所述GUI控制芯片分别与USB3.0接口以及I2C接口连接，所述模拟电路控制芯片与I2C接口连接，所述模拟电路控制芯片还连接有多个可调电阻。
7.根据权利要求5或6所述的一种保护电路的测试***，其特征在于，所述I2C接口传输Data、CLK以及GND信号。
8.根据权利要求6所述的一种保护电路的测试***，其特征在于，所述可调电阻的数量为4个。
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