CN103137210A - Ddr信号测试辅助治具 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种DDR信号测试辅助治具，其包括板体，所述板体可拆卸地扣合于一设有DDR连接器的主板上，所述板体上开设若干测试孔，所述若干测试孔与主板上的DDR连接器的引脚一一对应，每一所述测试孔外周均设置一个字符，所述字符表示与对应的测试孔配合的DDR连接器的引脚的名称或功能。测试者可通过本发明的DDR信号测试辅助治具快速寻找到待测的引脚，提高了测试效率。

Description

DDR信号测试辅助治具
技术领域
本发明涉及一种电子装置测试辅助治具，尤其涉及一种便于测试主板的DDR信号的辅助治具。
背景技术
双倍速率同步动态随机存储器（Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory，DDR SDRAM）是应用在计算机及电子产品领域的一种高带宽并行数据总线，其被广泛应用于电脑、服务器（Server）等电子设备。当电子设备的主板设计好后，往往需要对DDR信号进行测试。现有的测试方法大都是让测试者对照样板文件在主板上逐个寻找测试点并一一进行信号测试，然而由于主板上的DDR内存连接器的引脚较多（例如，DDR3具有240个引脚），测试者将其一一与样板文件比对时工作非常繁重且容易出错，给测试带来较多不便。
发明内容
鉴于以上情况，有必要提供一种测试便利的DDR信号测试辅助治具。
一种DDR信号测试辅助治具，其包括板体，所述板体可拆卸地扣合于一设有DDR连接器的主板上，所述板体上开设若干测试孔，所述若干测试孔与主板上的DDR连接器的引脚一一对应，每一所述测试孔外周均设置一个字符，所述字符分别表示与对应的测试孔配合的DDR连接器的引脚的名称或功能。
本发明的DDR信号测试辅助治具通过在板体开设测试孔，并邻近测试孔设置字符，在使用该DDR信号测试辅助治具时，每个测试孔均与DDR内存连接器的一个引脚配合，使得测试者可通过字符快速寻找到对应的引脚，提高了测试效率。
附图说明
图1为现有的集成有DDR内存连接器的主板的示意图；
图2为本发明较佳实施方式的DDR信号测试辅助治具的示意图。
主要元件符号说明
DDR信号测试辅助治具 100
板体 10
定位孔 21、22、23
主板 200
电源引脚 V
接地引脚 G
信号引脚 S
定位点 P
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1及图2，本发明的较佳实施方式提供一种DDR信号测试辅助治具100，用于辅助测试电脑、服务器等电子设备（图未示）的主板200的DDR信号。
所述主板200上集成至少一个DDR内存连接器（图未示），在本实施例中，该DDR内存连接器用于供DDR3内存条插件，该DDR内存连接器包括240个引脚（本案中仅举例表示），该240个引脚均从主板200的一表面露出。所述240个引脚包括多个电源引脚V、多个接地引脚G及多个信号引脚S。该主板200上还设有三个定位点P，所述定位点P可为用于固定DDR内存连接器和主板200的螺钉。
该DDR信号测试辅助治具100包括一板体10，该板体10采用塑胶材料制成，例如透明的丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物（Acrylonitrile Butadiene Styrene，ABS）。该板体10可拆卸地扣合于主板200上，该板体10上对应待测主板200的DDR内存连接器的引脚及定位点P的排配位置、形状及数量开设多个测试孔及定位孔。在本实施例中，该测试孔的数量为240个（本案中仅举例其中几个表示），定位孔的数量为3个，分别标记为21、22、23。
该240个测试孔用于分别与DDR内存连接器的一个引脚配合，以使引脚通过该测试孔穿过板体10。该240个测试孔按照与其配合的引脚划分为三类，下面具体介绍。
第一类为信号孔，该信号孔与DDR内存连接器的信号引脚数量相等，用于与信号引脚一一对应配合。同时板体10上邻近每一个信号孔的位置上设置一个字符，例如：CS3、BA0、ERR、DQ27等，上述字符分别表示与对应的信号孔配合的信号引脚的名称或功能。为便于测试者识别，该信号孔对应的字符可利用黑色油墨印刷于板体10上。
第二类为接地孔，该接地孔与DDR内存连接器的接地引脚数量相等，用于与接地引脚一一对应配合。同时板体10上邻近每一个接地孔的位置上设置一个字符，例如：GND，该字符表示与对应的接地孔配合的引脚为接地引脚。为便于测试者识别，该接地孔对应的字符可利用蓝色油墨印刷于板体10上。
第三类为电源孔，该电源孔与DDR内存连接器的电源引脚数量相等，用于与电源引脚一一对应配合。同时板体10上邻近每一个电源孔的位置上设置一个字符，例如：VTT、VDD，其中字符VTT表示与对应的电源孔配合的引脚为电源引脚，该电源引脚的电压约为1.5V；该字符VDD表示与对应的电源孔配合的引脚为电源引脚，该电源引脚的电压约为0.75V。为便于测试者识别，该电源孔对应的字符可利用红色油墨印刷于板体10上。
该定位孔21-23分别用于与一个主板200上的一个定位点P配合，定位点P通过该定位孔21-23穿过板体10，以便板体10扣合于该主板200上。
下面说明该DDR信号测试辅助治具100的使用原理，当需要测试主板的DDR信号时，将该板体10通过定位孔21-23和定位点P扣合于主板200上，并使得DDR内存连接器的信号引脚从板体10上的信号孔露出，接地引脚从接地孔露出，电源引脚从电源孔露出。当需要测试DDR内存连接器的任意一个信号引脚时，使用者可通过设置于信号孔附近的字符快速寻找到对应的信号引脚，例如通过字符BA0即可寻找到DDR内存连接器的BANK地址信号引脚。此时测试者可利用一个探针接触该BANK地址信号引脚，另一探针接触距离该BANK地址信号引脚最近的接地引脚，以作测试。由于测试者可以通过接地孔及其对应的字符识别到接地引脚，故在测试时，可以选择距离待测试的信号引脚最近的接地引脚。如此，既减少了寻找接地引脚的时间，又可避免因待测试的信号引脚与接地引脚距离过远，造成信号返回路径过长而引起信号失真的现象。
同时，该电源孔及对应字符的设置还可以用于辅助电源稳定性测试，以便测试者快速的寻找到对应的电源引脚。
可以理解，本发明的DDR信号测试辅助治具100上的测试孔的数量不局限于实施例中所述的240个，也可依据具体的DDR内存连接器的引脚设定。
本发明的DDR信号测试辅助治具100通过在板体10开设测试孔，并邻近测试孔设置字符，在使用该DDR信号测试辅助治具100时，每个测试孔均与DDR内存连接器的一个引脚配合，使得测试者可通过字符快速寻找到对应的引脚，从而提高测试效率。

Claims (9)

1.一种DDR信号测试辅助治具，其特征在于：该DDR信号测试辅助治具包括板体，所述板体可拆卸地扣合于一设有DDR连接器的主板上，所述板体上开设若干测试孔，所述若干测试孔与主板上的DDR连接器的引脚一一对应，所述板体上邻近每一个信号孔的位置上设置一个字符，所述字符分别表示与对应的测试孔配合的DDR连接器的引脚的名称或功能。
2.如权利要求1所述的DDR信号测试辅助治具，其特征在于：所述板体上开设若干定位孔，所述若干定位孔设于与主板上的定位点配合，所述定位点穿过定位孔。
3.如权利要求1所述的DDR信号测试辅助治具，其特征在于：所述测试孔包括若干信号孔，所述信号孔与主板上的DDR连接器的信号引脚一一对应。
4.如权利要求1所述的DDR信号测试辅助治具，其特征在于：所述测试孔包括若干接地孔，所述接地孔与主板上的DDR连接器的接地引脚一一对应。
5.如权利要求4所述的DDR信号测试辅助治具，其特征在于：邻近所述接地孔设置的字符为GND。
6.如权利要求1所述的DDR信号测试辅助治具，其特征在于：所述测试孔包括若干电源孔，所述电源孔与主板上的DDR连接器的电源引脚一一对应。
7.如权利要求6所述的DDR信号测试辅助治具，其特征在于：邻近所述电源孔设置的字符为VTT或VDD。
8.如权利要求1所述的DDR信号测试辅助治具，其特征在于：所述板体采用塑胶材料制成。
9.如权利要求1所述的DDR信号测试辅助治具，其特征在于：所述字符通过油墨印刷于板体上。
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