CN201436662U - 存储器测试制具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种存储器测试制具，适用于具有一存储器插槽的一主板，此存储器测试制具包括连接件及载板。连接件具有第一插槽及第一焊指部，其中第一插槽电性连接第一焊指部。第一插槽插设待测存储器，以及第一焊指部***存储器插槽以电性连接主板及待测存储器。载板配置有多个可调电阻，并且载板连接连接件以使各可调电阻分别电性连接于第一插槽与第一焊指部之间，其中各可调电阻分别调整待测存储器的参考电压及工作电压。

Description

存储器测试制具

技术领域

本实用新型涉及一种测试制具，特别是涉及一种调整存储器参考电压及工作电压的存储器测试制具。

背景技术

在现今科技发达的年代，无可避免地，计算机***已成为人们生活上不可或缺的信息处理工具。计算机***能满足人们在工作、旅行与娱乐各方面的全部需求，譬如个人的财务明细、金融帐号密码、隐私文件和照片、感情信件、商业文件以及智能创作等数据，都可储存在计算机***中。在计算机***中，中央处理器会透过存储器取得指令及数据以进行运算，并且将运算的结果储存在存储器中，因此存储器为计算机***运行时不可或缺的组件。

依据上述，若存储器于计算机***运行时发生错误或故障，亦会造成计算机***发生意外(例如当机或重开机)。所以，存储器能否在计算机***运行时稳定的运作，影响着计算机***运行的稳定度。因此，在着重稳定度的计算机***中(例如服务器)，除了会对整个计算机***(包括中央处理器及存储器)进行长时间运行的测试，同时会调整存储器的参考电压及工作电压并进行计算机***的运行，以测试所使用的存储器是否在可容许的电压变动范围内能稳定的运作。而调整存储器的参考电压及工作电压，则先将可调电阻的接脚透过导线焊接于主板上对应的脚位，经由可调电阻调整存储器的参考电压及工作电压。而此焊接所引起的高温可能影响到主板上的芯片，并且由于使用的可调电阻较多，并且可调电阻具有较多接脚，会使得由主板焊接出来的导线会较为紊乱，很不美观并且不易辨识可调电阻接脚所对应的脚位。

实用新型内容

本实用新型提供一种存储器测试制具，可以在不更动主板电路的情况下，调整存储器的参考电压及工作电压，以对存储器进行测试。

本实用新型提出一种存储器测试制具，适用于具有一存储器插槽的一主板，存储器测试制具包括连接件及载板。连接件具有第一插槽及第一焊指部，其中第一插槽电性连接第一焊指部。第一插槽插设待测存储器，以及第一焊指部***存储器插槽以电性连接主板及待测存储器。载板配置有多个可调电阻，并且载板连接连接件以使各可调电阻分别电性连接于第一插槽与第一焊指部之间，其中各可调电阻分别调整待测存储器的参考电压及工作电压。

在本实用新型的一实施例中，此连接件具有第二插槽，并且载板具有第二焊指部，其中第二焊指部***第二插槽以连接此连接件及载板。

在本实用新型的一实施例中，此连接件具有第一连接端口，并且载板具有第二连接端口，其中第一连接端口连接第二连接端口以连接连接件及载板。

在本实用新型的一实施例中，此第一连接端口透过排线连接第二连接端口。

在本实用新型的一实施例中，此第一插槽与存储器插槽具有相同的结构，并且第一插槽与存储器插槽为双列直插式存储器组件插槽。

在本实用新型的一实施例中，此载板为印刷电路板。

在本实用新型的一实施例中，此待测存储器为第三代双数据速率存储器。

综合以上所述，本实用新型的存储器测试制具，通过连接件电性连接待测存储器及主板，并且连接件连接载板以使载板上的可调电阻电性连接于待测存储器与主板之间。藉此，可不更动主板电路即可调整存储器的参考电压及工作电压，以对待测存储器进行测试。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

图1为本实用新型一实施例的存储器测试制具的结构示意图。

图2为本实用新型另一实施例的存储器测试制具的结构示意图。

图3为本实用新型又一实施例的存储器测试制具的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的存储器测试制具其特征及其功效，详细说明如后。

图1为本实用新型一实施例的存储器测试制具的结构示意图。请参照图1，在本实施例中，存储器测试制具100包括连接件110及载板120，其中载板110例如为印刷电路板。连接件110具有第一插槽111、第一焊指部112及第一连接端口113，其中第一插槽111、第一焊指部112及第一连接端口113彼此电性连接，并且第一焊指部112为一金手指。第一插槽111用以插设待测存储器20，第一焊指部112***主板10上的存储器插槽11以电性连接主板10及待测存储器20，其中第一插槽111与存储器插槽11例如为存储器插槽并且为双列直插式存储器组件插槽，并且待测存储器20例如为第三代双数据速率存储器。

载板120具有第二连接端口121及配置多个可调电阻(如电阻R1～R4)。载板120的第二连接端口121透过排线130连接至连接件110的第一连接端口113，并且通过排线130致使各可调电阻(如电阻R1～R4)分别电性连接于第一插槽111与第一焊指部112之间。其中，各可调电阻(如电阻R1～R4)用来分别调整待测存储器20的参考电压及工作电压。藉此，当调整电阻R1～R4的阻值时，待测存储器20的参考电压及工作电压会随之调整，藉以测试待测存储器20于***可容许的电压变动范围内(例如1.5V±10％)是否能稳定的运作，并且不用对主板10上的电路进行更动，免去更动的麻烦。

图2为本实用新型另一实施例的存储器测试制具的结构示意图。请参照图1及图2，其不同之处在于存储器测试制具200的连接件210具有第二插槽213，并且载板220具有第二焊指部221，其中第二焊指部112为一金手指。第二焊指部221***第二插槽213以连接此连接件210及载板220，致使各可调电阻(如电阻R5～R8)分别电性连接于第一插槽211与第一焊指部212之间。藉此，可调整电阻R5～R8的阻值来调整待测存储器20的参考电压及工作电压，以进行待测存储器20的测试。

图3为本实用新型又一实施例的存储器测试制具的结构示意图。请参照图1及图3，其不同之处在于存储器测试制具300的载板320分割为两部份，以分别贴合于连接件310的两侧。同时，通过载板320贴合于连接件310，以此连接此连接件310及载板320，致使各可调电阻(如电阻R9～R12)分别电性连接于第一插槽311与第一焊指部312之间。藉此，待测存储器20的参考电压及工作电压可经由调整电阻R5～R8的阻值来调整，以此进行待测存储器20的测试。

综合以上所述，本实用新型实施例的存储器测试制具，通过连接件电性连接待测存储器及主板，并且连接件连接载板以使载板上的可调电阻电性连接于待测存储器与主板的存储器插槽之间。藉此，可不更动主板电路即可调整存储器的参考电压及工作电压，以对待测存储器进行测试。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的结构及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例，但是凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (8)

1.一种存储器测试制具，适用于具有一存储器插槽的一主板，其特征在于包括：

一连接件，具有一第一插槽及一第一焊指部，其中该第一插槽电性连接该第一焊指部，并且该第一插槽插设一待测存储器，以及该第一焊指部***该存储器插槽以电性连接该主板及该待测存储器；以及

一载板，配置有多个可调电阻，并且该载板连接该连接件以使该些可调电阻分别电性连接于该第一插槽与该第一焊指部之间，其中各该些可调电阻分别调整该待测存储器的一参考电压及一工作电压。

2.根据权利要求1所述的存储器测试制具，其特征在于其中该连接件具有一第二插槽，并且该载板具有一第二焊指部，其中该第二焊指部***该第二插槽以连接该连接件及该载板。

3.根据权利要求1所述的存储器测试制具，其特征在于其中该连接件具有一第一连接端口，并且该载板具有一第二连接端口，其中该第一连接端口连接该第二连接端口以连接该连接件及该载板。

4.根据权利要求3所述的存储器测试制具，其特征在于其中该第一连接端口透过一排线连接该第二连接端口。

5.根据权利要求1所述的存储器测试制具，其特征在于其中该第一插槽与该存储器插槽具有相同的结构。

6.根据权利要求5所述的存储器测试制具，其特征在于其中该第一插槽与该存储器插槽为一双列直插式存储器组件插槽。

7.根据权利要求1所述的存储器测试制具，其特征在于其中该载板为一印刷电路板。

8.根据权利要求1所述的存储器测试制具，其特征在于其中该待测存储器为一第三代双数据速率存储器。

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