CN113933549A - 一种ddr信号质量辅助测试治具及测试方法 - Google Patents

一种ddr信号质量辅助测试治具及测试方法 Download PDF

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邓林
陈勇
熊春霖
陆超杰
章润林
罗旦
颜磊
黎源华
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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Abstract

本发明公开了一种DDR信号质量辅助测试治具及测试方法，此治具包括基板和连接板，所述基板的一侧与DDR颗粒焊接，所述基板的另一侧设有与所述DDR颗粒连接的焊球；所述连接板可拆卸安装于主板上，所述连接板上设有多根探针，各所述探针的一端与所述主板连接，各所述探针的另一端则与基板上的焊球一一对应接触；所述连接板上还设有卡紧组件，用于将所述DDR颗粒和基板卡紧在所述连接板上。本发明具有结构简单、拆装简便且可重复利用等优点。

Description

一种DDR信号质量辅助测试治具及测试方法
技术领域
本发明主要涉及DDR板载颗粒测试技术领域，具体涉及一种DDR信号质量辅助测试治具及测试方法。
背景技术
板载ddr信号质量测试，主要对PCB主板的DDR信号通道的质量用示波器测量，通过DDR基板将信号引出，从而截取到最接近DDR信号通道的波形。对现有技术来说，DDR基板正反面是通过焊盘分别与DDR颗粒和被测主板焊接。由于是通过直接焊接的方式，基板又是多层埋阻板，焊接拆除后，会影响基板的阻抗，从而导致基板几乎是一次性的，不能多次使用。由于基板的单价比较高，如果被测主板较多，那么基板会造成巨大的成本浪费。
发明内容
本发明要解决的技术问题就在于：针对现有技术存在的问题，本发明提供一种结构简单、拆装简便、可重复利用的DDR信号质量辅助测试治具及测试方法。
为解决上述技术问题，本发明提出的技术方案为：
一种DDR信号质量辅助测试治具，包括基板和连接板，所述基板的一侧与DDR颗粒焊接，所述基板的另一侧设有与所述DDR颗粒连接的焊球；所述连接板可拆卸安装于主板上，所述连接板上设有多根探针，各所述探针的一端与所述主板连接，各所述探针的另一端则与基板上的焊球一一对应接触；所述连接板上还设有卡紧组件，用于将所述DDR颗粒和基板卡紧在所述连接板上。
作为上述技术方案的进一步改进：
所述连接板通过螺栓或螺钉可拆卸安装于主板上。
所述卡紧组件为钢丝扣具。
所述连接板上设有多个容纳槽，各所述DDR颗粒和基板位于所述容纳槽内。
所述基板的两侧设有测试点。
本发明还公开了一种基于如上所述的DDR信号质量辅助测试治具的测试方法，包括步骤：
首先将DDR颗粒焊接到基板的正面上；
在基板的背面焊盘植球，将植球好的基板与DDR颗粒整体放入连接板上，同时保证基板背面的BGA球能和连接板上的探针顶端接触良好；
再将连接板固定到主板上面，保证探针底端和主板接触良好；
然后进行测试，通过基板上的测试点，用示波器探头把信号传入示波器内部，进行信号质量测试；
直接拆开螺栓，将连接板整体从主板上拆下。
与现有技术相比，本发明的优点在于：
本发明的DDR信号质量辅助测试治具，通过连接板上的探针连接基板上的DDR颗粒和主板，其中连接板紧固于主板，测试基板通过卡紧组件紧固在连接板上，从而保证探针两端与测试基板与主板紧密接触，保证其电气连接可靠性；其中测试基板通过卡紧组件(如钢丝扣具)进行紧固，其拆装简便，不影响基板电气性能，避免拆焊导致温度过高而使得基板电气性能改变，而且上述基板通过上述的连接方式，可以重复多次使用。
附图说明
图1为本发明在实施例的立体结构图。
图2为本发明在实施例的剖视结构图。
图例说明：1、主板；2、连接板；201、探针；202、螺栓；3、基板；301、焊球；302、测试点；4、DDR颗粒；5、卡紧组件。
具体实施方式
以下结合说明书附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
如图1和图2所示，本实施例的DDR信号质量辅助测试治具，包括基板3和连接板2，基板3的顶侧与DDR颗粒4焊接且设有测试点302，基板3的底侧设有与DDR颗粒4连接的焊球301，基板3与DDR颗粒4整体形成测试基板；连接板2可拆卸安装于主板1上，连接板2上设有多根探针201，各探针201的一端与主板1连接，各探针201的另一端则与基板3上的焊球301一一对应接触；连接板2上还设有卡紧组件5，用于将DDR颗粒4和基板3(测试基板)卡紧在连接板2上，保证其与探针201的可靠接触。
在一具体实施例中，连接板2通过螺栓202与螺母的配合方式可拆卸安装于主板1上。当然，也可以直接通过螺钉紧固在主板1上。其中连接板2上设有多个容纳槽，各DDR颗粒4和基板3的整体则位于容纳槽内。其中连接板2大小样式可根据实际板型定制，一块连接板2可容下多块基板3，以满足被测主板1对DDR颗粒4片数的要求。
在一具体实施例中，卡紧组件5为钢丝扣具，结构简单且操作简便。
本发明的DDR信号质量辅助测试治具，通过连接板2上的探针201连接基板3上的DDR颗粒4和主板1，其中连接板2紧固于主板1，测试基板通过卡紧组件5紧固在连接板2上，从而保证探针201两端与测试基板与主板1紧密接触，保证其电气连接可靠性；其中测试基板通过卡紧组件5(如钢丝扣具)进行紧固，其拆装简便，不影响基板3电气性能，避免拆焊导致温度过高而使得基板3电气性能改变，而且上述基板3通过上述的连接方式，可以重复多次使用。
本发明实施例还公开了一种基于如上所述的DDR信号质量辅助测试治具的测试方法，包括步骤：
首先将DDR颗粒4焊接到基板3的正面上；
在基板3的背面焊盘植球，将植球好的基板3与DDR颗粒4整体放入连接板2上，同时保证基板3背面的BGA球能和连接板2上的探针201顶端接触良好；
再将连接板2通过机械方式，用螺丝固定到主板1上面，保证探针201底端和主板1接触良好；
然后进行测试，通过基板3上的测试点302，用示波器探头把信号传入示波器内部，从而可以使用示波器进行信号质量测试。
测试完成后，直接拆开螺栓202，将连接板2整体从主板1上拆下，即可重复使用。
以上仅是本发明的优选实施方式，本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰，应视为本发明的保护范围。

Claims (6)

1.一种DDR信号质量辅助测试治具，其特征在于，包括基板(3)和连接板(2)，所述基板(3)的一侧与DDR颗粒(4)焊接，所述基板(3)的另一侧设有与所述DDR颗粒(4)连接的焊球(301)；所述连接板(2)可拆卸安装于主板(1)上，所述连接板(2)上设有多根探针(201)，各所述探针(201)的一端与所述主板(1)连接，各所述探针(201)的另一端则与基板(3)上的焊球(301)一一对应接触；所述连接板(2)上还设有卡紧组件(5)，用于将所述DDR颗粒(4)和基板(3)卡紧在所述连接板(2)上。
2.根据权利要求1所述的DDR信号质量辅助测试治具，其特征在于，所述连接板(2)通过螺栓(202)或螺钉可拆卸安装于主板(1)上。
3.根据权利要求1或2所述的DDR信号质量辅助测试治具，其特征在于，所述卡紧组件(5)为钢丝扣具。
4.根据权利要求1或2所述的DDR信号质量辅助测试治具，其特征在于，所述连接板(2)上设有多个容纳槽，各所述DDR颗粒(4)和基板(3)位于所述容纳槽内。
5.根据权利要求1或2所述的DDR信号质量辅助测试治具，其特征在于，所述基板(3)的两侧设有测试点(302)。
6.一种基于权利要求1～5中任意一项所述的DDR信号质量辅助测试治具的测试方法，其特征在于，包括步骤：
首先将DDR颗粒(4)焊接到基板(3)的正面上；
在基板(3)的背面焊盘植球，将植球好的基板(3)与DDR颗粒(4)整体放入连接板(2)上，同时保证基板(3)背面的BGA球能和连接板(2)上的探针(201)顶端接触良好；
再将连接板(2)固定到主板(1)上面，保证探针(201)底端和主板(1)接触良好；
然后进行测试，通过基板(3)上的测试点(302)，用示波器探头把信号传入示波器内部，进行信号质量测试；
测试完成后，直接拆开螺栓(202)，将连接板(2)整体从主板(1)上拆下。
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