CN113933549A - 一种ddr信号质量辅助测试治具及测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种DDR信号质量辅助测试治具及测试方法,此治具包括基板和连接板,所述基板的一侧与DDR颗粒焊接,所述基板的另一侧设有与所述DDR颗粒连接的焊球;所述连接板可拆卸安装于主板上,所述连接板上设有多根探针,各所述探针的一端与所述主板连接,各所述探针的另一端则与基板上的焊球一一对应接触;所述连接板上还设有卡紧组件,用于将所述DDR颗粒和基板卡紧在所述连接板上。本发明具有结构简单、拆装简便且可重复利用等优点。
Description
技术领域
本发明主要涉及DDR板载颗粒测试技术领域,具体涉及一种DDR信号质量辅助测试治具及测试方法。
背景技术
板载ddr信号质量测试,主要对PCB主板的DDR信号通道的质量用示波器测量,通过DDR基板将信号引出,从而截取到最接近DDR信号通道的波形。对现有技术来说,DDR基板正反面是通过焊盘分别与DDR颗粒和被测主板焊接。由于是通过直接焊接的方式,基板又是多层埋阻板,焊接拆除后,会影响基板的阻抗,从而导致基板几乎是一次性的,不能多次使用。由于基板的单价比较高,如果被测主板较多,那么基板会造成巨大的成本浪费。
发明内容
本发明要解决的技术问题就在于:针对现有技术存在的问题,本发明提供一种结构简单、拆装简便、可重复利用的DDR信号质量辅助测试治具及测试方法。
为解决上述技术问题,本发明提出的技术方案为:
一种DDR信号质量辅助测试治具,包括基板和连接板,所述基板的一侧与DDR颗粒焊接,所述基板的另一侧设有与所述DDR颗粒连接的焊球;所述连接板可拆卸安装于主板上,所述连接板上设有多根探针,各所述探针的一端与所述主板连接,各所述探针的另一端则与基板上的焊球一一对应接触;所述连接板上还设有卡紧组件,用于将所述DDR颗粒和基板卡紧在所述连接板上。
作为上述技术方案的进一步改进:
所述连接板通过螺栓或螺钉可拆卸安装于主板上。
所述卡紧组件为钢丝扣具。
所述连接板上设有多个容纳槽,各所述DDR颗粒和基板位于所述容纳槽内。
所述基板的两侧设有测试点。
本发明还公开了一种基于如上所述的DDR信号质量辅助测试治具的测试方法,包括步骤:
首先将DDR颗粒焊接到基板的正面上;
在基板的背面焊盘植球,将植球好的基板与DDR颗粒整体放入连接板上,同时保证基板背面的BGA球能和连接板上的探针顶端接触良好;
再将连接板固定到主板上面,保证探针底端和主板接触良好;
然后进行测试,通过基板上的测试点,用示波器探头把信号传入示波器内部,进行信号质量测试;
直接拆开螺栓,将连接板整体从主板上拆下。
与现有技术相比,本发明的优点在于:
本发明的DDR信号质量辅助测试治具,通过连接板上的探针连接基板上的DDR颗粒和主板,其中连接板紧固于主板,测试基板通过卡紧组件紧固在连接板上,从而保证探针两端与测试基板与主板紧密接触,保证其电气连接可靠性;其中测试基板通过卡紧组件(如钢丝扣具)进行紧固,其拆装简便,不影响基板电气性能,避免拆焊导致温度过高而使得基板电气性能改变,而且上述基板通过上述的连接方式,可以重复多次使用。
附图说明
图1为本发明在实施例的立体结构图。
图2为本发明在实施例的剖视结构图。
图例说明:1、主板;2、连接板;201、探针;202、螺栓;3、基板;301、焊球;302、测试点;4、DDR颗粒;5、卡紧组件。
具体实施方式
以下结合说明书附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
如图1和图2所示,本实施例的DDR信号质量辅助测试治具,包括基板3和连接板2,基板3的顶侧与DDR颗粒4焊接且设有测试点302,基板3的底侧设有与DDR颗粒4连接的焊球301,基板3与DDR颗粒4整体形成测试基板;连接板2可拆卸安装于主板1上,连接板2上设有多根探针201,各探针201的一端与主板1连接,各探针201的另一端则与基板3上的焊球301一一对应接触;连接板2上还设有卡紧组件5,用于将DDR颗粒4和基板3(测试基板)卡紧在连接板2上,保证其与探针201的可靠接触。
在一具体实施例中,连接板2通过螺栓202与螺母的配合方式可拆卸安装于主板1上。当然,也可以直接通过螺钉紧固在主板1上。其中连接板2上设有多个容纳槽,各DDR颗粒4和基板3的整体则位于容纳槽内。其中连接板2大小样式可根据实际板型定制,一块连接板2可容下多块基板3,以满足被测主板1对DDR颗粒4片数的要求。
在一具体实施例中,卡紧组件5为钢丝扣具,结构简单且操作简便。
本发明的DDR信号质量辅助测试治具,通过连接板2上的探针201连接基板3上的DDR颗粒4和主板1,其中连接板2紧固于主板1,测试基板通过卡紧组件5紧固在连接板2上,从而保证探针201两端与测试基板与主板1紧密接触,保证其电气连接可靠性;其中测试基板通过卡紧组件5(如钢丝扣具)进行紧固,其拆装简便,不影响基板3电气性能,避免拆焊导致温度过高而使得基板3电气性能改变,而且上述基板3通过上述的连接方式,可以重复多次使用。
本发明实施例还公开了一种基于如上所述的DDR信号质量辅助测试治具的测试方法,包括步骤:
首先将DDR颗粒4焊接到基板3的正面上;
在基板3的背面焊盘植球,将植球好的基板3与DDR颗粒4整体放入连接板2上,同时保证基板3背面的BGA球能和连接板2上的探针201顶端接触良好;
再将连接板2通过机械方式,用螺丝固定到主板1上面,保证探针201底端和主板1接触良好;
然后进行测试,通过基板3上的测试点302,用示波器探头把信号传入示波器内部,从而可以使用示波器进行信号质量测试。
测试完成后,直接拆开螺栓202,将连接板2整体从主板1上拆下,即可重复使用。
以上仅是本发明的优选实施方式,本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例,凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰,应视为本发明的保护范围。
Claims (6)
1.一种DDR信号质量辅助测试治具,其特征在于,包括基板(3)和连接板(2),所述基板(3)的一侧与DDR颗粒(4)焊接,所述基板(3)的另一侧设有与所述DDR颗粒(4)连接的焊球(301);所述连接板(2)可拆卸安装于主板(1)上,所述连接板(2)上设有多根探针(201),各所述探针(201)的一端与所述主板(1)连接,各所述探针(201)的另一端则与基板(3)上的焊球(301)一一对应接触;所述连接板(2)上还设有卡紧组件(5),用于将所述DDR颗粒(4)和基板(3)卡紧在所述连接板(2)上。
2.根据权利要求1所述的DDR信号质量辅助测试治具,其特征在于,所述连接板(2)通过螺栓(202)或螺钉可拆卸安装于主板(1)上。
3.根据权利要求1或2所述的DDR信号质量辅助测试治具,其特征在于,所述卡紧组件(5)为钢丝扣具。
4.根据权利要求1或2所述的DDR信号质量辅助测试治具,其特征在于,所述连接板(2)上设有多个容纳槽,各所述DDR颗粒(4)和基板(3)位于所述容纳槽内。
5.根据权利要求1或2所述的DDR信号质量辅助测试治具,其特征在于,所述基板(3)的两侧设有测试点(302)。
6.一种基于权利要求1~5中任意一项所述的DDR信号质量辅助测试治具的测试方法,其特征在于,包括步骤:
首先将DDR颗粒(4)焊接到基板(3)的正面上;
在基板(3)的背面焊盘植球,将植球好的基板(3)与DDR颗粒(4)整体放入连接板(2)上,同时保证基板(3)背面的BGA球能和连接板(2)上的探针(201)顶端接触良好;
再将连接板(2)固定到主板(1)上面,保证探针(201)底端和主板(1)接触良好;
然后进行测试,通过基板(3)上的测试点(302),用示波器探头把信号传入示波器内部,进行信号质量测试;
测试完成后,直接拆开螺栓(202),将连接板(2)整体从主板(1)上拆下。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202111229201.5A CN113933549A (zh) | 2021-10-21 | 2021-10-21 | 一种ddr信号质量辅助测试治具及测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
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Publications (1)
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Family
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---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN113933549A (zh) |
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