CN102176436B - 高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备工艺 - Google Patents

高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备工艺 Download PDF

Info

Publication number
CN102176436B
CN102176436B CN201110065272A CN201110065272A CN102176436B CN 102176436 B CN102176436 B CN 102176436B CN 201110065272 A CN201110065272 A CN 201110065272A CN 201110065272 A CN201110065272 A CN 201110065272A CN 102176436 B CN102176436 B CN 102176436B
Authority
CN
China
Prior art keywords
diamond
electronic package
preparation
package material
sic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201110065272A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102176436A (zh
Inventor
何新波
杨振亮
吴茂
刘荣军
任淑彬
曲选辉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
University of Science and Technology Beijing USTB
Original Assignee
University of Science and Technology Beijing USTB
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by University of Science and Technology Beijing USTB filed Critical University of Science and Technology Beijing USTB
Priority to CN201110065272A priority Critical patent/CN102176436B/zh
Publication of CN102176436A publication Critical patent/CN102176436A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102176436B publication Critical patent/CN102176436B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

本发明提供了一种高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备工艺,其特征是首先按重量百分比,将10~15%的粘接剂,5~20%的石墨,20~40%的硅粉,30~60%的金刚石颗粒湿混,混合时间16~24h。然后在10~50MPa压力和150℃的温度下温压成形获得复合材料毛坯。在氩气保护气氛中1100℃烧结24h,随炉冷却后得到具有一定强度和孔隙度的Diamond/Si/C多孔基体。然后将气相渗透的渗料置于石墨坩埚中,将所制备的Diamond/Si/C多孔基体置于该石墨坩埚上,然后整体置于高真空烧结炉中进行真空气相渗透1-2h,渗透温度1500~1650℃,真空度-0.08~-0.01MPa。随炉冷却后即可获得致密的Diamond/SiC电子封装材料。本发明是一种周期短、工艺简单、设备要求较低、成本低,并可制备复杂形状致密Diamond/SiC电子封装材料的方法。

Description

高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备工艺
技术领域
本发明属于一种电子封装材料的制备方法,特别涉及一种高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备方法。
背景技术
科技发展使电子封装材料在近几年迅速发展,各种体积微小,功能强大的电子元器件在各行各业中发挥着极其重要的作用。集成电路未来必将朝着大功率、小型化、轻量化、高密度组装化、低成本、高性能和高可靠性的方向发展。然而高集成度和高功率必然会导致集成电路的高发热率,极大的热量会严重影响了电子器件的稳定性和寿命。采用具有高热导率、低热膨胀系数、高热稳定性的电子封装材料对电子元件进行封装,可以解决这个问题。
传统封装材料由于各种不足之处而逐渐被SiC/Cu、SiC/Al、Si/Al等金属基电子封装材料取代。金属基电子封装材料的综合性能获得了电子行业充分的肯定,但是它们的热物理性能也很有限。为了满足未来高集成度、高发热电子元器件的要求,必须开发新型高热导、高稳定性的电子封装材料,Diamond/SiC电子封装材料可满足未来电子工业发展的需求。目前制备Diamond/SiC电子封装材料的工艺方法主要有高温高压反应烧结法、高温高压液相熔渗法、热等静压法、先驱体转化法等,这些方法要么对设备要求高,产品形状简单,需要进行后续加工,而高硬度和低导电性使其加工成本大幅提高;要么工艺周期很长,材料致密度不高,难以获得高致密度高热导率的Diamond/SiC电子封装材料。此类方法的成本很高,难以实现产业化。
发明内容
本发明的目的是为了克服现有制备Diamond/SiC电子封装材料方法存在的不足,提供一种Diamond/SiC电子封装材料的制备方法,该方法可在较短工艺周期内获得具有高致密度、较复杂形状、高性能的Diamond/SiC电子封装材料零件。本发明是通过以下技术方案实现的:
一种高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备方法,包括步骤:制备Diamond/Si/C多孔基体,将气相渗透的渗料纯硅置于石墨坩埚中,将所制备的Diamond/Si/C多孔基体置于该石墨坩埚上,然后整体置于高真空烧结炉中进行真空气相渗透1-2h,渗透温度1500~1650℃,真空度-0.08~-0.01MPa,随炉冷却后即可获得致密的Diamond/SiC电子封装材料。
所述气相渗透的渗料为纯硅, 使用纯硅可与多孔基体内碳充分反应生成碳化硅,形成金刚石-碳化硅复合材料,相容性和稳定性更好,而且不会引入杂质。
所述Diamond/Si/C多孔基体的制备方法包括步骤:按重量百分比,将10~15%的粘接剂,5~20%的石墨,20~40%的硅粉,30~60%的金刚石颗粒湿混,混合时间16~24h;然后在10~50MPa压力和150℃的温度下温压成形获得复合材料毛坯;在氩气保护气氛中1100℃烧结24h,随炉冷却后得到具有一定强度和孔隙度的Diamond/Si/C多孔基体。
所述粘接剂为酚醛树脂,硅粉粒径-300目,金刚石颗粒粒径为-500目或-100目,湿混的溶剂为无水乙醇或丙酮。
本发明的优点在于:
(1)       气相渗透工艺可制备高性能Diamond/SiC电子封装材料。由气相渗透工艺制备的Diamond/SiC电子封装材料内部组织均匀,结合紧密,可保证Diamond/SiC电子封装材料较高的力学性能;金刚石在热处理过程中损伤较小,可保证Diamond/SiC电子封装材料较高的热性能;
(2)       根据Diamond/SiC电子封装材料零件形状,可以采用模形或粉末注射成形工艺制备Diamond/Si/C多孔基体,实现复杂零件的近净成形,避免非常困难的后续加工,因此该方法可实现复杂形状Diamond/SiC零件的低成本制备,对于推动Diamond/SiC电子封装材料的发展与应用具有重要作用;
(3)       原料经混合、压制、烧结后获得的Diamond/Si/C多孔坯体通过一次周期为1-2h的气相渗透处理即可获得致密化的Diamond/SiC电子封装材料,材料制备工艺简单,制备周期较短,适合于批量化生产。
附图说明
图1 本发明制备的Diamond/SiC电子封装材料的截面扫描电镜形貌。
图2 本发明制备的Diamond/SiC电子封装材料的断面扫面电镜形貌。
具体实施方式
实施例1
按重量百分比,将15%的粘接剂酚醛树脂,15%的石墨,40%的粒径-300目硅粉,30%粒径为-100目的金刚石颗粒湿混,混合时间16h。然后在10MPa压力和150℃的温度下温压成形获得复合材料毛坯。在氩气保护气氛中1100℃烧结24h,随炉冷却后得到密度为3.07g/cm3的Diamond/Si/C多孔基体。
将气相渗透的渗料纯硅置于石墨坩埚中,将所制备的Diamond/Si/C多孔基体置于该石墨坩埚上,然后整体置于高真空烧结炉中进行真空气相渗透1h,渗透温度1500℃,真空度-0.01MPa。随炉冷却后即可获得致密度为99.6%的Diamond/SiC电子封装材料。 
实施例2
按重量百分比,将15%的粘接剂酚醛树脂,10%的石墨,35%粒径-300目的硅粉,40%粒径为-100目的金刚石颗粒湿混,混合时间24h。然后在30MPa压力和150℃的温度下温压成形获得复合材料毛坯。在氩气保护气氛中1100℃烧结24h,随炉冷却后得到密度为3.24g/cm3的Diamond/Si/C多孔基体。
将气相渗透的渗料纯硅置于石墨坩埚中,将所制备的Diamond/Si/C多孔基体置于该石墨坩埚上,然后整体置于高真空烧结炉中进行真空气相渗透2h,渗透温度1650℃,真空度-0.08MPa。随炉冷却后即可获得致密度为99.8%的Diamond/SiC电子封装材料。
实施例3
按重量百分比,将10%的粘接剂酚醛树脂,20%的石墨,40%粒径-300目的硅粉,30%粒径为-500目的金刚石颗粒湿混,混合时间24h。然后在30MPa压力和150℃的温度下温压成形获得复合材料毛坯。在氩气保护气氛中1100℃烧结24h,随炉冷却后得到密度为3.12g/cm3的Diamond/Si/C多孔基体。
将气相渗透的渗料纯硅置于石墨坩埚中,将所制备的Diamond/Si/C多孔基体置于该石墨坩埚上,然后整体置于高真空烧结炉中进行真空气相渗透2h,渗透温度1650℃,真空度-0.08MPa。随炉冷却后即可获得致密度为99.2%的Diamond/SiC电子封装材料。
实施例4
按重量百分比,将15%的粘接剂酚醛树脂,5%的石墨,20%粒径-300目的硅粉,60%粒径为-500目的金刚石颗粒湿混,混合时间24h。然后在50MPa压力和150℃的温度下温压成形获得复合材料毛坯。在氩气保护气氛中1100℃烧结24h,随炉冷却后得到密度为3.53g/cm3的Diamond/Si/C多孔基体。
将气相渗透的渗料纯硅置于石墨坩埚中,将所制备的Diamond/Si/C多孔基体置于该石墨坩埚上,然后整体置于高真空烧结炉中进行真空气相渗透2h,渗透温度1650℃,真空度-0.01MPa。随炉冷却后即可获得致密度为99.8%的Diamond/SiC电子封装材料。

Claims (4)

1.一种高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备方法,其特征在于,所述的高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备方法包括:制备的Diamond/Si/C多孔基体,将气相渗透的渗料纯硅置于石墨坩埚中,将所制备的Diamond/Si/C多孔基体置于该石墨坩埚上,然后整体置于高真空烧结炉中进行真空气相渗透1-2h,渗透温度1500~1650℃,真空度-0.08~-0.01MPa,随炉冷却后即可获得致密的Diamond/SiC电子封装材料。
2.根据权利要求1所述的高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备方法,其特征在于,所述Diamond/Si/C多孔基体的制备方法包括步骤:按重量百分比,将10~15%的粘接剂,5~20%的石墨,20~40%的硅粉,30~60%的金刚石颗粒湿混,混合时间16~24h;然后在10~50MPa压力和150℃的温度下温压成形获得复合材料毛坯;在氩气保护气氛中1100℃烧结24h,随炉冷却后得到具有一定强度和孔隙度的Diamond/Si/C多孔基体。
3.根据权利要求2所述的高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备方法,其特征在于,所述粘接剂为酚醛树脂,硅粉粒径-300目,金刚石颗粒粒径为-500目或-100目,湿混的溶剂为无水乙醇或丙酮。
4.根据权利要求1所述的一种高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备方法,其特征在于,所述气相渗透的渗料为纯硅,使用纯硅可与多孔基体内碳充分反应生成碳化硅,形成金刚石-碳化硅复合材料。
CN201110065272A 2011-03-17 2011-03-17 高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备工艺 Expired - Fee Related CN102176436B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110065272A CN102176436B (zh) 2011-03-17 2011-03-17 高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备工艺

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110065272A CN102176436B (zh) 2011-03-17 2011-03-17 高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备工艺

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102176436A CN102176436A (zh) 2011-09-07
CN102176436B true CN102176436B (zh) 2012-08-29

Family

ID=44519583

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201110065272A Expired - Fee Related CN102176436B (zh) 2011-03-17 2011-03-17 高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备工艺

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102176436B (zh)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102610531A (zh) * 2012-03-12 2012-07-25 华中科技大学 一种金刚石-硅复合封装材料的制备方法
CN103724014B (zh) * 2013-12-26 2015-03-04 西北工业大学 一种高热导金刚石掺杂SiC陶瓷的制备方法
CN106673656A (zh) * 2017-01-19 2017-05-17 北京科技大学 一种石墨为碳源制备金刚石/碳化硅复合材料的方法
CN107353007A (zh) * 2017-07-13 2017-11-17 华通信安(北京)科技发展有限公司 一种金刚石/碳化硅复合材料及其制备方法
CN110819313B (zh) * 2019-11-08 2021-07-13 北京科技大学广州新材料研究院 金刚石-碳化硅复合材料的制备方法以及电子设备
CN113416075B (zh) * 2021-07-13 2022-09-30 华侨大学 一种制备Diamond/SiC复合材料的方法
CN114133263B (zh) * 2021-10-29 2023-02-28 中广核研究院有限公司 碳化硅的高熵合金连接方法及碳化硅连接件
CN116425546A (zh) * 2023-04-19 2023-07-14 吉林大学 一种大粒径高占比金刚石/碳化硅复合材料制备方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101293294A (zh) * 2008-05-30 2008-10-29 北京科技大学 一种铝碳化硅封装外壳的封接方法
CN101649400A (zh) * 2009-07-20 2010-02-17 温州宏丰电工合金有限公司 电子封装用金刚石增强金属基复合材料及其制备方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3975235B2 (ja) * 2001-10-24 2007-09-12 株式会社石塚研究所 複合焼結体の製造方法及びそのための反応容器

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101293294A (zh) * 2008-05-30 2008-10-29 北京科技大学 一种铝碳化硅封装外壳的封接方法
CN101649400A (zh) * 2009-07-20 2010-02-17 温州宏丰电工合金有限公司 电子封装用金刚石增强金属基复合材料及其制备方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JP特开2003-137653A 2003.05.14

Also Published As

Publication number Publication date
CN102176436A (zh) 2011-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102176436B (zh) 高性能Diamond/SiC电子封装材料的制备工艺
CN102030556B (zh) 一种金刚石/碳化硅陶瓷基复合材料的制备方法
CN108257925B (zh) 一种硅化金刚石/SiC复合材料的制备方法
CN102184873B (zh) 一种快速制备金刚石-碳化硅电子封装材料的方法
CN103924119B (zh) 一种超高导热石墨鳞片/铜复合材料及其制备方法
CN105236982B (zh) 氮化铝增强的石墨基复合材料及制备工艺
CN104150940B (zh) 氮化硅与碳化硅复相多孔陶瓷及其制备方法
CN104276823B (zh) 高绝缘碳化硅/氮化硼陶瓷材料及其制备方法
CN105503227B (zh) 一种立体织物增强碳化硅‑金刚石复合材料的制备方法
CN109553419A (zh) 一种气压固相烧结碳化硼复相陶瓷及其制备方法
CN104045350B (zh) 一种采用反应烧结工艺制备氮化硅-碳化硅复合陶瓷材料的方法
CN105254306A (zh) 一种高导热氮化硅陶瓷的制备方法
CN105000889B (zh) 一种前驱体转化法制备含铁硅碳氮陶瓷的方法
CN101734923A (zh) 一种氮化铝多孔陶瓷及其制备方法
CN103833403A (zh) 一种碳化硅晶须增韧碳化硼陶瓷复合材料的制备方法及产品
CN103060596A (zh) 一种SiC增强Al基复合材料的制备方法
CN107513651B (zh) 一种钛颗粒增强镁基复合材料的制备方法
CN109811177A (zh) 一种高导电高强度银-石墨烯复合材料的制备方法
CN101734920B (zh) 一种氮化钛多孔陶瓷及其制备方法
CN104131208A (zh) 一种氧化铝-碳化钛微米复合陶瓷刀具材料及其微波烧结方法
CN105084364B (zh) 一种多孔碳化硅球形粉末的制备工艺
CN109987954A (zh) 一种碳化钨增强石墨基复合材料及制备方法
CN107058840B (zh) 一种W-Si-C系反应体的高温制备方法
CN105367061A (zh) 一种纳米二硅化钼增强的高导热碳化硅基陶瓷电路板基板材料及其制备方法
CN109160814A (zh) 一种原位碳化硅-铁硅复合材料及其制备方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20120829

Termination date: 20210317

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee