CN100578279C - 焦点检测设备、驱动该设备的方法及照相机*** - Google Patents

焦点检测设备、驱动该设备的方法及照相机*** Download PDF

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Abstract

通过提高AF速度实现低成本和高速度的AF传感器，而不必提供专用于大的散焦AF的传感器。该AF传感器具有两个传感器，每一个包括多个光电转换元件，该AF传感器基于从所述传感器读取的信号检测焦点。该两个传感器每一个包括多个线性传感器11到13。该两个传感器每一个具有：多个积累控制电路(PB检测电路14到16及积累判决电路17到19)，用于控制所述光电转换元件的积累时间；及多个扫描电路(移位寄存器21到23)，用于读取出从所述光电转换元件输出的信号。所述AF传感器具有第一模式和第二模式，在第一模式中两个传感器中每个线性传感器的积累时间被独立控制以独立地读取信号输出，在第二模式中两个传感器中线性传感器的积累时间被共同控制以读取信号输出。

Description

焦点检测设备、驱动该设备的方法及照相机***
技术领域
本发明涉及焦点检测设备、驱动该设备的方法及照相机***，尤其涉及使用在TTL-SIR自动聚焦数字照相机或模拟(银盐)照相机中的用于自动聚焦检测的AF传感器。
背景技术
本申请人在第2005-300844号日本专利申请公报中公开了一种相关技术中的TTL-SIR(通过镜头二次成像配准，Through The LensSecondary Imaged Registration)类型的自动聚焦(以下称为AF)传感器。图9例示了一种用于相关技术中线性TTL-SIR类型AF的AF固态图像传感器的线性传感器配置布局。相应于AF的测距点(rangingpoints)，在该AF传感器的同一半导体基片101上形成了7个线性传感器对102。此外，一中央线性传感器对103被放置用于测距中央交叉。因此，在水平及垂直方向上以交叉形式在中央测距点上布置线性传感器，实现了对于垂直及水平线检测的交叉测距。
线性传感器对102及中央线性传感器对103每一个都分别具有一对线性传感器，即用于A像(标准部分)104的线性传感器及用于B像(参考部分)105的线性传感器。经过照相机***的成像镜头(未示)的光束被二次成像光学***(未示)成像为AF传感器上用于A像104的线性传感器和用于B像105的线性传感器的两个对象。相位差被检测以计算散焦(de-focusing)量。
以上的线性类型的AF传感器具有一个缺点，即在对象是低对比度的天空的情况下，窄的测距区域使得其难以一次获得散焦量，增加了AF计算处理的次数，从而降低了AF速度。
图10例示了相关技术中对于区域类型TTL-SIR AF用于自动聚焦检测的AF传感器的布图。本申请人在第H11-191867及2005-109370号日本专利申请公报中公开了该区域类型的AF传感器。在该图中，通过CMOS处理在同一半导体基片中形成一芯片，该芯片包括传感器电路块201、模拟电路块202和数字电路块203。区域传感器204、205、206及207内的像素具有光电转换元件，例如二维布置以形成拾取对象的图像拾取区域的光电二极管。
TTL-SIR类型的AF传感器需要对于A像(标准部分)和B像(参考部分)的图像拾取区域，以检测两个待测距对象之间的相位差。这就是说，区域传感器1’(205)相对于经过光中心214(或传感器中心)的垂直线对称地布置，B像与区域传感器1(204)的A像相对。此外，区域传感器2’(207)相对于经过光中心214的水平线对称地布置，B像与区域传感器2(206)的A像相对。在区域传感器1和1’内，布置了56个像素阵列×18行。在区域传感器2和2’内，布置了145个像素阵列×42列。
模拟电路块202包括：自动增益控制(AGC)电路208，用于通过AF传感器的积累时间来自动控制信号输出电路的增益；信号放大电路209，用于放大并输出所述AF传感器的所述光电转换信号；及电源电路210，用于产生驱动该传感器所需要的参考电压。数字电路块203包括：SRAM 211，用于保存所述AF传感器的积累时间数据及增益设定值；复用器电路212，用于选择一模拟信号并将其输出给监控器；及定时发生器和输入/输出(I/O)213。
在用于对于以上TTL-SIR AF进行自动聚焦检测的AF传感器中，一条线被分割为多条以实现测距多个点。另一方面，由于每个测距区域较窄，不能一次聚焦较大的散焦。这需要AF测距多次，引起了AF速度较慢的问题。特别是，区域类型的AF传感器被用于较宽范围内的多个测距点的AF，但是由于芯片区域的增加，增加了成本。
在线性类型的AF传感器中，存在如下限制，即在预定区域内布置专用于大的散焦的一条线不能实现多个点测距。但是，这具有没有直接增加芯片区域的优点。另一方面，像素非常密集地排列在区域类型的AF传感器中，从而以所布置的专用线的区域成比例地增加了芯片区域，增加了成本，这阻碍了实际使用。
发明内容
本发明的目的是，提高AF速度而不必为大的散焦AF提供专用传感器，从而实现低成本及高速度的AF传感器。
为了实现上述目的，在根据本发明的相位差检测类型的焦点检测设备中，该焦点检测设备具有两个传感器，其每一个包括多个光电转换元件，并基于从所述传感器读取出的信号检测焦点，该两个传感器的每一个包括：多个线性传感器；多个积累控制电路，用于控制所述光电转换元件的积累时间；以及多个扫描电路，用于读取从所述光电转换元件输出的信号，该焦点检测设备的特征在于包括：第一驱动单元，用于执行第一模式，在该模式中两个传感器的每一个中的线性传感器的积累时间被独立控制，以及信号被独立输出；及第二驱动单元，用于执行第二模式，在该模式中两个传感器的每一个中的多个线性传感器的积累时间被共同控制，并且信号被输出。
在本发明中，所述第一驱动单元在执行第一模式时可独立驱动多个扫描电路，所述第二驱动单元在执行第二模式时可顺序驱动多个扫描电路。所述多个积累控制电路检测从待布置的多个光电转换元件输出信号的最大和最小值，并基于被检测的最大和最小值之差来控制所述光电转换元件的积累时间，从而对象图像的亮度对比度可以是一个预定值。所述多个线性传感器可彼此紧邻放置。该多个线性传感器可放置为对准其排列方向。
根据本发明的照相机***的特征在于包括上述相位差检测类型的焦点检测设备。
在根据本发明驱动所述焦点检测设备的一个方法中，该焦点检测设备包括两个传感器，其每一个包括多个光电转换元件，并基于从所述传感器读取的信号检测焦点，该两个传感器的每一个包括：多个线性传感器；多个积累控制电路，用于控制所述多个线性传感器的积累时间；以及多个扫描电路，用于读取从所述多个线性传感器输出的信号，所述驱动焦点检测设备的方法的特征在于包括：执行第一模式，在该模式中所述线性传感器的积累时间被独立控制，并且信号被独立输出；及执行第二模式，在该模式中所述多个线性传感器的积累时间被共同控制，并且信号被输出。
在本发明中，执行所述第一模式可独立驱动多个扫描电路，执行所述第二模式可顺序驱动多个扫描电路。
根据本发明，AF速度可被提高而不必为大的散焦AF提供专用传感器，从而实现了低成本及高速度的AF传感器。
通过以下参考附图对示例性实施例的说明，本发明进一步的特征将更加明显。
附图说明
图1是一个结构图，其例示了根据本发明第一实施例AF传感器(焦点检测设备)的配置。
图2是一个在所述第一实施例中，用在PB检测电路中的最大和最小值检测电路的示意性电路图。
图3是在第一实施例中积累判决电路的示意性电路图。
图4是在第一实施例中移位寄存器的示意图。
图5A是例示第一模式的典型示图。
图5B是例示第二模式的典型示图。
图6是一示意图，其例示了根据本发明第二实施例，AF传感器(焦点检测设备)的配置。
图7A是例示第一模式的典型示图。
图7B是例示第二模式的典型示图。
图8是一典型示图，其例示了根据本发明第三实施例照相机***的通常配置。
图9是一示意图，其例示了相关技术中线性类型的AF传感器的配置。
图10是一示意图，其例示了相关技术中区域型AF传感器的配置。
具体实施方式
以下参考附图描述根据本发明的焦点检测设备、驱动该焦点检测设备的方法以及使用该焦点检测设备的照相机***的实施例。
根据本发明的焦点检测设备(以下称为AF传感器)使用相位差检测类型的AF，其具有两个传感器，每一个包括被布置的多个光电转换元件，并从所述传感器读取信号以检测焦点。所述两个传感器每一个由多个线性传感器形成，并被提供了：多个积累控制电路，用于控制所述多个线性传感器的积累时间；及多个扫描电路，用于读取从所述多个线性传感器输出的信号。该配置具有多种焦点检测模式。本实施例具有第一模式和第二模式，在第一模式中，所述两个传感器中每个线性传感器的积累时间被独立控制，并且信号输出被独立读取，在第二模式中，所述两个传感器中的所述线性传感器的积累时间被共同控制，并且信号输出被读取。在所述第一模式中，每个线性传感器的积累时间被独立控制，并且每个扫描电路被独立驱动而输出信号。在第二模式中，多个线性传感器的积累时间被控制为好像它们是一个线性传感器一样，并且每个扫描电路被顺序驱动以输出信号。
如上所述，在本实施例中，相同线性传感器具有散焦区域不同的第一和第二模式。这使得对于普通的AF使用所述第一模式，对于大的散焦AF使用所述第二模式，从而提高了AF速度而不必为大的散焦AF提供专用的传感器，抑制了芯片区域的增加，实现了低成本及高速度的AF传感器。
(第一实施例)
图1是一个示意图，其描述了根据本发明第一实施例的AF传感器。
图1中例示的本实施例的AF传感器使用TTL-SIR类型的AF传感器，其具有两个传感器，每一个包括被布置的多个光电转换元件，并且从所述传感器读取信号以检测焦点。由于所述两个传感器在配置上是相同的，为了方便仅描述其中之一。在所述传感器中的半导体基片10上，相应于多个区域1到3(该图中的3个区域)布置了3个线性传感器11到13用于AF。该传感器具有的电路包括：3个峰/底(PB)检测电路14到16，用于根据区域1到3划分的AGC控制；及3个积累判决电路17到19，其作为积累控制电路，用于控制线性传感器11到13的积累时间。这些电路布置在半导体基片10上。此外，在同一半导体基片10上布置了包括3个移位寄存器21到23的电路作为扫描电路，用于读取从线性传感器11到13输出的信号。
区域1到3中的线性传感器11到13由布置在一条直线上的像素形成，其包括光电转换元件，例如光电二极管，用于将光转换为电信号，从而根据转换的光信号的积累量来输出信号。所述3个线性传感器11到13布置在一条直线上，其像素的排列方向对齐。
所述PB检测电路14到16被分割以执行AGC控制，以基于相应线性传感器11到13内的光电转换元件的积累时间来自动控制所述信号输出电路的增益。图1中除成直线连接的所述3个线性传感器11到13两侧之外的部分被用作PB检测电路14到16。最大和最小值检测电路用于检测所述线性传感器11到13中多个光电转换元件的输出的最大和最小值，其被使用在所述PB检测电路14到16中。
图2是使用在所述PB检测电路14到16中的最大和最小值检测电路的示意电路图。
在图2中，被所述线性传感器11到13的所述光电转换元件转换为电信号的光信号被分别输入到最大值检测电路30中相应的放大器31，和最小值检测电路40中相应的放大器41。在所述最大值检测电路30中，具有一个恒定电流源负载的NMOS源极跟随器32检测与从放大器31输出的光信号相应的信号的最大值，并将该最大值输出作为PEAK(峰)输出。另一方面，在最小值检测电路40中，具有一个恒定电流源负载的PMOS源极跟随器42检测与从放大器41输出的光信号相应的信号的最小值，并将该最小值输出作为BTM(底)输出。这时的AGC控制范围是由AGC控制选择开关所开启的区域。在所选择的范围内比较的最大和最小值检测信号被输出。
所述积累判决电路17到19基于最大和最小值检测电路30和40检测的信号输出的最大和最小值之差来控制线性传感器11到13的积累时间，从而对象图像的亮度对比度可等于一预定值。
图3是积累判决电路17到19的示意性电路图。
图3中例示的积累判决电路17到19分别在微分放大器50的反转输入端上和非反转输入端上，接收由最大值检测电路30检测的作为PEAK值的最大值信号、以及由最小值检测电路40检测到的作为BTM值的最小值信号。比较器51将所述微分放大器50的输出信号与数模转换器(未示)设定的恒定电压VDAC进行比较，从而判决是否终止积累，并输出该积累的判决。
移位寄存器21到23是用于读取线性传感器11到13的图像信号的扫描电路，其通过CMOS处理形成在同一半导体基片10上。
图4是移位寄存器21到23的电路图。
如图4所示，移位寄存器21到23包括串行连接的多阶(n阶)触发器(FF)。移位脉冲被输入到该移位寄存器21到23中其每一阶上的FF 70。用于区域1、2和3的开始脉冲被分别独立输入给所述移位寄存器21到23中的第一阶的FF 70。从前一阶的FF 70输出的信号被输入给第二到第n阶上的FF 70。通过一个或门(OR)电路71，将第一移位寄存器21第n阶FF 70的信号输出与用于所述区域2的所述开始脉冲之间的逻辑或信号输入到第二移位寄存器22的第一阶上的FF 70。类似地，通过一个或门电路71，将第二移位寄存器22第n阶FF 70的信号输出与用于所述区域3的开始脉冲之间的逻辑或信号输入到第三移位寄存器23的第一阶上的FF 70。
移位寄存器21到23中其每一阶上的FF 70的输出信号被连接到传输MOS晶体管开关72的栅极。该传输MOS晶体管开关72被连接到以阵列布置的线存储器60。被3个区域1到3的线性传感器11到13光电转换的电信号(图像信号)被存储在线存储器60中。该图像信号由移位寄存器21到23通过各个传输MOS晶体管开关72以水平方向输出。当从区域1到3中的移位寄存器21到23读取图像信号时，可通过用于区域1、2和3的开始脉冲独立控制所述区域1到3。
以下参考图5A到5B描述本实施例的总体操作。
本实施例中AF传感器中两个传感器的每一个都具有第一驱动模式和第二驱动模式，在第一驱动模式中，线性传感器11到13的积累时间被独立控制，并且信号被独立输出，在第二驱动模式中，线性传感器11到13的积累时间被共同控制，并且信号被输出。在第一模式中，线性传感器11到13的积累时间被独立控制，从而移位寄存器21到23被独立驱动以输出信号。在第二模式中，线性传感器11到13的积累时间被控制为好像它们是一个线性传感器一样，从而移位寄存器21到23被顺序驱动以输出信号。
图5A是例示第一模式的示意图。图5B是例示第二模式的示意图。
首先，参考图5A描述第一模式的操作。
通过在区域1中存储由照射在线性传感器11上的光产生的电荷而光电转换的信号通过PB检测电路14被提供了AGC控制的范围，以被输出到积累判决电路17。根据积累判决电路17关于是否终止积累的判决结果来终止积累，然后读取图像信号。通过移位寄存器21与所述移位脉冲同步地顺序读取区域1的图像信号，其中用于所述区域1的所述开始脉冲被输入到该移位寄存器21中。
类似地，在所述区域2中，通过存储由照射在线性传感器12上的光产生的电荷而光电转换的信号通过PB检测电路15被提供了AGC控制的范围，以被输出到积累判决电路18。根据积累判决电路18关于是否终止积累的判决结果来终止积累，然后读取图像信号。通过所述移位寄存器22与移位脉冲同步地顺序读取区域2的图像信号，其中用于所述区域2的所述开始脉冲被输入到该移位寄存器22中。所述区域1和2的所述线性传感器11和12被互相独立控制。
类似地，在区域3中，通过存储由照射在线性传感器13上的光产生的电荷而光电转换的信号通过PB检测电路16被提供了AGC控制的范围，从而被输出到积累判决电路19。根据积累判决电路19关于是否终止积累的判决结果来终止积累，然后读取图像信号。通过移位寄存器23与移位脉冲同步地顺序读取区域3的图像信号，其中用于所述区域3的所述开始脉冲被输入到该移位寄存器23中。所述区域1、2和3的线性传感器11、12和13被互相独立控制。
参考图5B描述第二模式的操作。
在第二模式中，区域1到3被共同视为一个线性传感器。出于这个原因，被分割用于区域1到3每一个的PB检测电路14到16被互相连接。根据积累判决电路18关于是否终止积累的判决结果来终止积累，然后读取图像信号。被连接在一起的PB检测电路14到16可与积累判决电路17和19进行连接，但该积累判决电路17和19不判决是否终止积累。用于区域1的开始脉冲被输入给移位寄存器21以使得所述移位脉冲顺序地驱动所述区域1的线性传感器11到所述区域3的线性传感器13，从而读取图像信号。
可基于来自控制台(未示)(例如预定的操作按钮或者用于AF的开关)的操作信号执行从第一模式到第二模式的转换，或者从第二模式到第一模式的转换。
根据上述本实施例，线性传感器彼此紧邻地二维地放置，实现了区域类型的AF传感器。此外，AF传感器具有大的散焦功能，并且能够共同处理过去被分割为3部分的所述区域，从而将AF的速度提高了两倍，这实现了高速度和低成本的AF传感器。
就是说，在本实施例中形成AF传感器的两个传感器每一个都具有第一模式和第二模式，在第一模式中，多个线性传感器的积累时间被独立控制，并且信号被独立输出，在第二模式中，多个线性传感器的积累时间被共同控制，并且信号被输出。这使得第一模式能被用于普通AF，第二模式能用于大的散焦AF。因此，同一线性传感器具有散焦区域不同的多种模式，使得能够共同处理过去被分割为三部分的所述区域，而不必提供专用于大的散焦AF的传感器。这将AF的速度提高了两倍，并且实现了高速度和低成本的AF传感器。
(第二实施例)
图6是一示意图，其描述了根据本发明第二实施例的AF传感器。通过相同的附图标记和符号表示与第一实施例中相同的组成元件，并且简化或省略了对其的说明。
在图6所例示的本实施例的AF传感器中，与第一实施例的情况相同，在半导体基片10上相应于3个区域1到3布置了3个线性传感器11到13。包括光电转换元件(例如光电二极管)的像素在线性传感器11到13中被布置在一条直线中。该3个线性传感器11到13在一条直线中互相连接。
PB检测电路14到16被分割以执行AGC控制，以基于各线性传感器的积累时间来自动控制信号输出电路的增益。该PB检测电路14到16如图6所示被平均分割以提高计算处理速度。区域1和2之间的空间区域24，及区域2和3之间的空间区域25被作为无效区域，且不用于AGC控制。PB检测电路14到16根据光强度检测多个光电转换元件的输出中的最大和最小值。积累判决电路17到19基于该最大和最小值之差来控制所述积累时间，从而对象图像的亮度对比度可等于一预定值。该积累判决电路17到19与图2中第一实施例所例示的一致。在AF传感器上提供了移位寄存器21到23，其作为扫描电路用于读取图像信号，并且通过CMOS处理形成在同一半导体基片10上。该移位寄存器21到23与图4中的第一实施例中的相同。
以下参考图7A和7B描述本实施例的总体操作。
图7A是描述第一模式的示意图，图7B是描述第二模式的示意图。
首先，参考图7A描述第一模式的操作。
通过在区域1中存储由照射在线性传感器11上的光产生的电荷而光电转换的信号通过PB检测电路14被提供了AGC控制的范围，以被输出到积累判决电路17。根据积累判决电路17关于是否终止积累的判决结果来终止积累，然后读取图像信号。通过移位寄存器21与所述移位脉冲同步地顺序读取所述区域1的图像信号，其中用于所述区域1的所述开始脉冲被输入到该移位寄存器21中。
类似地，在区域2中，通过存储由照射在线性传感器12上的光产生的电荷而光电转换的信号通过PB检测电路15被提供了AGC控制的范围，以被输出到积累判决电路18。根据积累判决电路18关于是否终止积累的判决结果来终止积累，然后读取图像信号。通过移位寄存器22与所述移位脉冲同步地顺序读取所述区域2的图像信号，其中用于区域2的所述开始脉冲被输入到该移位寄存器22中。所述区域1和2的线性传感器11和12被互相独立控制。
类似地，在区域3中，通过存储由照射在线性传感器13上的光产生的电荷而光电转换的信号通过PB检测电路16被提供了AGC控制的范围，以被输出到积累判决电路19。根据积累判决电路19关于是否终止积累的判决结果来终止积累，然后读取图像信号。通过移位寄存器23与所述移位脉冲同步地顺序读取区域3的图像信号，其中用于所述区域3的所述开始脉冲被输入到该移位寄存器23中。所述区域1、2和3的线性传感器11、12和13被互相独立控制。
参考图7B描述第二模式的操作。
在第二模式中，区域1到3的线性传感器11到13被共同视为一个线性传感器。出于这个原因，被分割用于区域1到3每一个的PB检测电路14到16被互相连接。根据积累判决电路18关于是否终止积累的判决结果来终止积累，然后读取图像信号。被连接在一起的PB检测电路14到16可与积累判决电路17和19进行连接，但该积累判决电路17和19不判决是否终止积累。用于区域1的开始脉冲被输入给移位寄存器21以使得所述移位脉冲顺序驱动区域1的线性传感器11到区域3的线性传感器13，以读取图像信号。
根据本实施例，线性传感器彼此紧邻地二维地放置，实现了区域类型的AF传感器。此外，AF传感器具有大的散焦功能，并且能够共同处理过去被分割为3部分的所述区域，从而将AF的速度提高了两倍，这实现了高速度和低成本的AF传感器。
就是说，在本实施例中形成AF传感器的两个传感器每一个都具有第一模式和第二模式，在第一模式中，多个线性传感器的积累时间被独立控制，并且信号被独立输出，在第二模式中，多个线性传感器的积累时间被共同控制，并且信号被输出。因此，同一传感器具有散焦区域不同的多种模式，实现了共同处理过去被分割为三部分的所述区域，而不必提供专用于大的散焦AF的传感器。这将AF的速度提高了两倍，并且实现了高速度和低成本的AF传感器。
在本实施例中，用于由多个线性传感器的PB检测电路进行AGC控制的区域被相等地分割，并且在所述线性传感器之间的空白区域作为无效区域而不用于AGC控制，从而实现了进一步提高处理速度。
(第三实施例)
图8是一示意图，其例示了根据本发明，具有使用焦点检测设备的TTL-SIR类型AF***的单反照相机的光学***。该光学***包括：成像镜头80，用于同时将对象图像成像在胶片或者图像传感器上；快速返回镜81，其是透射百分之几十光的半透明镜，用于将光反射给取景屏82；副镜83，用于将光传导到AF***；以上实施例中提到过的AF传感器84；二次成像镜头(软焦点透镜组)85，用于再次将对象图像成像在AF传感器84上；反射镜86，用于将光传导给AF传感器84；焦面快门87；胶片或图像传感器88；及光的主轴89。
根据本实施例，在上述实施例中描述的AF传感器的使用实现了比传统传感器更快的聚焦速度，并且实现了低成本的单反照相机。
应当理解，本发明的本实施例可应用于无论是模拟或数字照相机的TTL-SIR类型的AF照相机。
本发明可使用在焦点检测设备及使用该设备的照相机***中，尤其可使用在照相机***内的AF传感器中，该照相机***例如是数字或模拟的TTL-SIR类型的AF照相机。
虽然参考示例性实施例描述了本发明，应当理解，本发明不限于所公开的示例性实施例。以下权利要求的范围符合最宽泛的解释，从而包括所有修改及等价的结构和功能。

Claims (8)

1、一种相位差检测类型的焦点检测设备，其被提供有两个传感器，每个传感器包括多个光电转换元件，该焦点检测设备用于基于从所述两个传感器读出的信号检测焦点，其中
所述两个传感器的每一个包括多个线性传感器，并包括用于控制所述光电转换元件的积累时间的多个积累控制电路、以及用于读取从所述光电转换元件输出的信号的多个扫描电路，其中
所述焦点检测设备包括：
第一驱动单元，用于执行第一模式，以使得对于所述两个传感器的每一个中的所述多个线性传感器，积累时间被独立控制以及信号被独立读出；以及
第二驱动单元，用于执行第二模式，以使得对于所述两个传感器的每一个中的所述多个线性传感器，积累时间被共同控制以及信号被读出。
2、根据权利要求1的相位差检测类型的焦点检测设备，其中
所述第一驱动单元在执行第一模式时独立地驱动所述多个扫描电路，以及
所述第二驱动单元在执行第二模式时顺序地驱动所述多个扫描电路。
3、根据权利要求1或2的相位差检测类型的焦点检测设备，其中
所述多个积累控制电路检测从布置的所述多个光电转换元件输出的信号的最大值和最小值，并基于要被检测的所述最大值和最小值之差来控制所述光电转换元件的积累时间，使得对象图像的亮度对比度能够为一预定值。
4、根据权利要求1或2的相位差检测类型的焦点检测设备，其中
所述多个线性传感器被彼此紧邻地布置。
5、根据权利要求4的相位差检测类型的焦点检测设备，其中
所述多个线性传感器被布置为对准其排列方向。
6、一种照相机***，其包括根据权利要求1或2的相位差检测类型的焦点检测设备。
7、一种用于驱动相位差检测类型的焦点检测设备的方法，该焦点检测设备被提供有两个传感器，每个传感器包括多个光电转换元件，该焦点检测设备用于基于从所述两个传感器读取的信号来检测焦点，其中
所述两个传感器的每一个包括多个线性传感器，并包括用于控制所述多个线性传感器的积累时间的多个积累控制电路、以及用于读取从所述多个线性传感器输出的信号的多个扫描电路，其中
驱动所述焦点检测设备的所述方法包括下述步骤：
执行第一模式，以使得对于所述两个传感器的每一个中的所述多个线性传感器，积累时间被独立控制以及信号被独立读出；及
执行第二模式，以使得对于所述两个传感器的每一个中的所述多个线性传感器，积累时间被共同控制以及信号被读出。
8、根据权利要求7的用于驱动相位差检测类型的焦点检测设备的方法，其中
所述执行第一模式独立地驱动所述多个扫描电路，及
所述执行第二模式顺序地驱动所述多个扫描电路。
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