WO2014064961A1 - 導電性及び応力緩和特性に優れる銅合金板 - Google Patents

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WO2014064961A1
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alloy sheet
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Inventor
波多野　隆紹
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Jx日鉱日石金属株式会社
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    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22C—ALLOYS
    • C22C9/00—Alloys based on copper
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22F—CHANGING THE PHYSICAL STRUCTURE OF NON-FERROUS METALS AND NON-FERROUS ALLOYS
    • C22F1/00—Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working
    • C22F1/08—Changing the physical structure of non-ferrous metals or alloys by heat treatment or by hot or cold working of copper or alloys based thereon
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/02—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors mainly consisting of metals or alloys
    • H01B1/026—Alloys based on copper

Definitions

  • the present invention relates to a copper alloy plate and electronic parts for energization or heat dissipation, and in particular, electronic parts such as terminals, connectors, relays, switches, sockets, bus bars, lead frames, heat sinks, etc. mounted on electric machines / electronic devices, automobiles and the like.
  • the present invention relates to a copper alloy plate used as a material for the above and an electronic component using the copper alloy plate.
  • copper alloys suitable for use in high current electronic parts such as high current connectors and terminals used in electric vehicles, hybrid cars, etc., or in heat dissipation electronic parts such as liquid crystal frames used in smartphones and tablet PCs.
  • the present invention relates to a plate and an electronic component using the copper alloy plate.
  • Parts for conducting electricity or heat such as terminals, connectors, switches, sockets, relays, bus bars, lead frames, heat sinks, etc., are built into automobiles, electrical equipment and electronic devices. Is used. Here, electrical conductivity and thermal conductivity are in a proportional relationship.
  • the copper alloy plate is deflected, and the contact force is obtained by the stress generated by this deflection.
  • the stress that is, the contact force is lowered due to the stress relaxation phenomenon, and the contact electric resistance is increased.
  • the copper alloy plate is required to be excellent in conductivity so that the amount of heat generation is reduced, and is also required to be excellent in stress relaxation characteristics so that the contact force does not decrease even if heat is generated.
  • a heat radiating part called a liquid crystal frame is used for a liquid crystal of a smartphone or a tablet PC.
  • a copper alloy plate for heat dissipation when stress relaxation characteristics are enhanced, creep deformation of the heat sink due to external force is suppressed, and the protection against liquid crystal components, IC chips, etc. disposed around the heat sink is improved. Etc. can be expected. For this reason, it is desired that the copper alloy plate for heat dissipation also has excellent stress relaxation characteristics.
  • Examples of materials having high electrical conductivity, relatively high strength, and good stress relaxation characteristics include C15100 (0.1 mass% Zr-residual Cu), C15150 (0.02 mass% Zr-residual Cu), C18140 (0 .1 mass% Zr-0.3 mass% Cr-0.02 mass% Si-residual Cu), C18145 (0.1 mass% Zr-0.2 mass% Cr-0.2 mass% Zn-residual Cu) C18070 (0.1% by mass Ti-0.3% by mass Cr-0.02% by mass Si-residual Cu), C18080 (0.06% by mass Ti-0.5% by mass Cr-0.1% by mass Ag) Alloys such as -0.08 mass% Fe-0.06 mass% Si-residual Cu) are registered in CDA (Copper Development Association).
  • a copper alloy in which Zr or Ti is added to Cu has relatively good stress relaxation characteristics, but the level of the stress relaxation characteristics is a large current. It is not always sufficient as a use of a component that supplies electricity or a component that dissipates a large amount of heat.
  • a component that supplies electricity or a component that dissipates a large amount of heat for example, in the copper alloy plate disclosed in Patent Document 1, 0.05 to 0.3 mass% of Zr is added, and Mg, Ti, Zn, Ga, Y, Nb, Mo, Ag, In, and Sn are included.
  • the stress relaxation characteristics were improved by adding 0.01 to 0.3% by mass of one or more of the above and further adjusting the crystal grain size after intermediate annealing to 20 to 100 ⁇ m.
  • the stress relaxation rate after holding for 1000 hours is at least 17.2%.
  • an object of the present invention is to provide a copper alloy plate having high strength, high conductivity, and excellent stress relaxation characteristics, and specifically, a Cu—Zr—Ti system having improved stress relaxation characteristics. It is an object to provide an alloy plate. Furthermore, another object of the present invention is to provide a method for producing the copper alloy plate and an electronic component suitable for high current use or heat dissipation use.
  • the present inventor combines high strength, high electrical conductivity, and excellent stress relaxation characteristics by including an appropriate amount of an element that improves stress relaxation characteristics in the copper alloy sheet. It has been found that a copper alloy sheet can be obtained.
  • the present invention completed on the basis of the above knowledge, in one aspect, contains 0.01 to 0.50 mass% of one or two of Zr and Ti in total, with the balance being made of copper and its inevitable impurities. , Having a conductivity of 70% IACS or more and a 0.2% proof stress of 330 MPa or more, and a stress relaxation rate of 15% or less after holding at 150 ° C. for 1000 hours, optionally, Ag, Fe, Co, A copper alloy plate containing 1.0% by mass or less of one or more of Ni, Cr, Mn, Zn, Mg, Si, P, Sn, and B.
  • the relationship between the spring limit value Kb (MPa) and the 0.2% yield strength ⁇ (MPa) is given by Kb ⁇ ( ⁇ 100).
  • the diffraction integrated intensities of the (111) plane and the (311) plane determined in the thickness direction on the rolled surface using an X-ray diffraction method are I (111) and I When (311) , I (111) / I (311) is 5.0 or less.
  • the present invention is a high-current electronic component using the copper alloy plate.
  • the ingot is hot-rolled at a temperature of 800 to 1000 ° C. to a thickness of 3 to 30 mm, and then cold rolling and recrystallization annealing are repeated.
  • a method for producing a copper alloy sheet for annealing (A) In the recrystallization annealing before the final cold rolling, the temperature inside the furnace is set to 350 to 800 ° C., and the average crystal grain size of the copper alloy sheet is adjusted to 50 ⁇ m or less.
  • a copper alloy plate having high strength, high conductivity, and excellent stress relaxation characteristics, a manufacturing method thereof, and an electronic component suitable for high current use or heat dissipation use.
  • This copper alloy can be suitably used as a material for electronic parts such as terminals, connectors, switches, sockets, relays, bus bars, lead frames, etc., and particularly dissipates the material or the large amount of heat of electronic parts that carry a large current.
  • the copper alloy plate according to the embodiment of the present invention has a conductivity of 70% IACS or more and a 0.2% proof stress of 330 MPa or more. If the electrical conductivity is 70% IACS or higher, it can be said that the amount of heat generated during energization is equivalent to that of pure copper. In addition, if the 0.2% proof stress is 330 MPa or more, it can be said that the material has a strength necessary for a material for a component that conducts a large current or a material for a component that dissipates a large amount of heat.
  • the stress relaxation rate of the copper alloy plate when the stress of 80% of 0.2% proof stress is applied and held at 150 ° C. for 1000 hours is 15 % Or less, more preferably 10% or less.
  • the stress relaxation rate of ordinary Cu-Zr-Ti alloys is about 25 to 35%, but by reducing this to 15% or less, the contact force decreases even when a large current is applied after processing the connector. Increase in contact electrical resistance is unlikely to occur, and creep deformation is unlikely to occur even if heat and external force are applied simultaneously after processing into a heat sink.
  • the copper alloy sheet according to the embodiment of the present invention contains one or two of Zr and Ti in total of 0.01 to 0.50% by mass, more preferably 0.02 to 0.20% by mass. . Thereby, strength and stress relaxation characteristics are improved as compared with a normal Cu—Zr—Ti alloy.
  • the total of one or two of Zr and Ti is less than 0.01% by mass, it becomes difficult to obtain a 0.2% proof stress of 330 MPa or more and a stress relaxation rate of 15% or less. If the total of one or two of Zr and Ti exceeds 0.5% by mass, it becomes difficult to produce an alloy due to hot rolling cracks or the like.
  • the amount added is preferably adjusted to 0.01 to 0.45 mass%, and when adding Ti, the amount added is adjusted to 0.01 to 0.20 mass%. It is preferable.
  • the addition amount is less than the lower limit value, it is difficult to obtain the effect of improving the stress relaxation characteristics, and when the addition amount exceeds the upper limit value, conductivity and manufacturability may be deteriorated.
  • Cu-Zr-Ti alloy contains at least one of Ag, Fe, Co, Ni, Cr, Mn, Zn, Mg, Si, P, Sn and B in order to improve strength and heat resistance. Can be made. However, if the amount added is too large, the electrical conductivity may be reduced to be less than 70% IACS, or the manufacturability of the alloy may be deteriorated. Therefore, the amount added is preferably 1.0% by mass or less in total. Is 0.5 mass% or less. Moreover, in order to acquire the effect by addition, it is preferable to make addition amount into 0.001 mass% or more in total amount.
  • the stress relaxation characteristics of the copper alloy plate are improved.
  • the spring limit value of the product is Kb (MPa) and the 0.2% proof stress is ⁇ (MPa)
  • the relationship of Kb ⁇ ( ⁇ 100) is more preferable.
  • Kb ⁇ ( ⁇ 50) the stress relaxation characteristics are improved.
  • the stress relaxation rate exceeds 15%.
  • the upper limit value of Kb is not particularly restricted, but usually does not exceed ⁇ .
  • the stress relaxation properties of the copper alloy sheet are further improved.
  • the stress relaxation property is improved by adjusting I (111) / I (311) to 5.0 or less, preferably 2.0 or less on the rolled surface of the product.
  • I (111) and I (311) are diffraction integrated intensities of the (111) plane and the (311) plane, respectively, obtained in the thickness direction of the copper alloy plate using the X-ray diffraction method.
  • I (111) / I (311) exceeds 5.0, the stress relaxation rate exceeds 15%.
  • the lower limit of I (111) / I (311 ) is not limited in terms of the stress relaxation characteristics improved, I (111) / I ( 311) typically takes a value of more than 0.01.
  • the thickness of the product is preferably 0.1 to 2.0 mm. If the thickness is too thin, the cross-sectional area of the current-carrying part will decrease and heat generation will increase during energization, making it unsuitable as a material for connectors that carry large currents, and because it will deform with a slight external force, It is also unsuitable as a material. On the other hand, if the thickness is too thick, bending becomes difficult. From such a viewpoint, a more preferable thickness is 0.2 to 1.5 mm. When the thickness is in the above range, the bending workability can be improved while suppressing heat generation during energization.
  • the copper alloy plate according to the embodiment of the present invention can be suitably used for applications of electronic components such as terminals, connectors, relays, switches, sockets, bus bars, lead frames, heat sinks, in particular, electric vehicles, It is useful for applications of high-current electronic components such as high-current connectors and terminals used in hybrid vehicles and the like, or heat-dissipation electronic components such as liquid crystal frames used in smartphones and tablet PCs.
  • electronic components such as terminals, connectors, relays, switches, sockets, bus bars, lead frames, heat sinks, in particular, electric vehicles.
  • high-current electronic components such as high-current connectors and terminals used in hybrid vehicles and the like, or heat-dissipation electronic components such as liquid crystal frames used in smartphones and tablet PCs.
  • recrystallization annealing part or all of the rolled structure is recrystallized. Further, by annealing under appropriate conditions, Zr, Ti, etc. are precipitated, and the electrical conductivity of the alloy is increased. In the recrystallization annealing before the final cold rolling, the average crystal grain size of the copper alloy sheet is adjusted to 50 ⁇ m or less. If the average crystal grain size is too large, it will be difficult to adjust the 0.2% yield strength of the product to 330 MPa or more.
  • the conditions for recrystallization annealing before final cold rolling are determined based on the target crystal grain size after annealing and the target product conductivity.
  • annealing may be performed using a batch furnace or a continuous annealing furnace with the furnace temperature set at 350 to 800 ° C.
  • the heating time may be appropriately adjusted within the range of 30 minutes to 30 hours at a furnace temperature of 350 to 600 ° C.
  • a continuous annealing furnace the heating time may be appropriately adjusted within the range of 5 seconds to 10 minutes at a furnace temperature of 450 to 800 ° C.
  • higher conductivity can be obtained with the same crystal grain size.
  • the total workability of final cold rolling and the workability per pass are controlled.
  • the total processing degree R is preferably 25 to 99%. If R is too small, it becomes difficult to adjust the 0.2% proof stress to 330 MPa or more. When R is too large, the edge of the rolled material may be broken.
  • the processing degree r per pass is preferably 20% or less. If r is too large increases I (111) / I (311 ), the path that r is more than 20% among all paths include even one I a (111) / I (311) 5.0 It becomes difficult to adjust to the following.
  • the strain relief annealing of the present invention is performed using a continuous annealing furnace.
  • a continuous annealing furnace since the material is heated in a state of being wound in a coil shape, the material is deformed during the heating, and the material is warped. Therefore, the batch furnace is not suitable for the strain relief annealing of the present invention.
  • the temperature in the furnace is set to 300 to 700 ° C., the heating time is appropriately adjusted in the range of 5 seconds to 10 minutes, and the 0.2% proof stress ( ⁇ ) after the stress relief annealing is 0 before the stress relief annealing. Adjust to a value 10 to 50 MPa lower, preferably 15 to 45 MPa lower than 2% proof stress ( ⁇ 0 ). Thereby, Kb which was low in the final cold rolling is sufficiently increased. If ( ⁇ 0 ⁇ ) is too small or too large, Kb does not rise sufficiently, and it becomes difficult to obtain the relationship of Kb ⁇ ( ⁇ 100).
  • the tension applied to the material in the continuous annealing furnace is adjusted to 1 to 5 MPa, more preferably 1 to 4 MPa. If the tension is too large, it becomes difficult to adjust I (111) / I (311) to 5.0 or less. Further, the increase in Kb tends to be insufficient. On the other hand, if the tension is too small, the material in the passing plate of the annealing furnace may come into contact with the furnace wall, and the surface or edge of the material may be damaged.
  • the copper alloy sheet of the present invention by adding the characteristics of Kb ⁇ ( ⁇ -100) and the characteristics of I (111) / I (311) ⁇ 5.0 to the Cu—Zr—Ti alloy, One of the features is to improve the stress relaxation characteristics.
  • Kb ⁇ ⁇ -100 a.
  • ( ⁇ 0 ⁇ ) 10 to 50 MPa
  • b Adjusting the furnace tension in the strain relief annealing to 5 MPa or less
  • I (111) / I (311) ⁇ 5.0 a.
  • the degree of processing per pass is adjusted to 20% or less
  • b Adjusting the furnace tension in the strain relief annealing to 5 MPa or less, It is preferable.
  • annealing before final cold rolling a batch furnace is used, the heating time is 5 hours, the furnace temperature is adjusted in the range of 350 to 700 ° C, and the crystal grain size and conductivity after annealing are adjusted. Changed.
  • the crystal grain size after annealing a cross section perpendicular to the rolling direction was subjected to chemical corrosion after mirror polishing, and the average crystal grain size was determined by a cutting method (JIS H0501 (1999)).
  • the total workability and the workability per pass were controlled. Moreover, the 0.2% yield strength of the material after final cold rolling was calculated
  • strain relief annealing using a continuous annealing furnace the furnace temperature was 500 ° C., the heating time was adjusted between 1 second and 15 minutes, and the 0.2% proof stress after annealing was variously changed. In addition, various tensions were added to the material in the furnace. In some cases, strain relief annealing was not performed.
  • sample No. 13B specified in JIS Z2241 was taken so that the tensile direction was parallel to the rolling direction, and pulled in parallel with the rolling direction in accordance with JIS Z2241. Tests were performed to determine 0.2% yield strength.
  • test piece was taken from the material after strain relief annealing so that the longitudinal direction of the test piece was parallel to the rolling direction, and the conductivity at 20 ° C. was measured by a four-terminal method in accordance with JIS H0505.
  • the X-ray diffraction integrated intensity of the (111) plane and (311) plane was measured in the thickness direction with respect to the surface of the material after strain relief annealing.
  • RINT 2500 manufactured by Rigaku Corporation was used as the X-ray diffractometer, and measurement was performed with a Cu tube bulb at a tube voltage of 25 kV and a tube current of 20 mA.
  • Table 1 shows the evaluation results. In the final cold rolling, a plurality of passes were performed, and the maximum value in the degree of processing of each pass was shown.
  • the notation of “ ⁇ 10 ⁇ m” in the crystal grain size after the final recrystallization annealing in Table 1 indicates that when all of the rolling structure is recrystallized and the average crystal grain size is less than 10 ⁇ m, and only a part of the rolling structure is used. Both cases of recrystallization are included.
  • the total concentration of Zr and Ti is adjusted to 0.01 to 0.50 mass%, and the crystal grain size is adjusted to 50 ⁇ m or less in the recrystallization annealing before the final cold rolling.
  • the total workability is adjusted to 25 to 99%, and the workability per pass is adjusted to 20% or less.
  • the strain relief annealing the material is passed through the continuous annealing furnace with a tension of 1 to 5 MPa. As a result, the 0.2% proof stress was reduced by 10 to 50 MPa.
  • Comparative Example 1 was not subjected to strain relief annealing, and the stress relaxation rate exceeded 30%.
  • Comparative Examples 2 to 4 although strain relief annealing was performed, the material tension in the furnace exceeded 5 MPa, so I (111) / I (311) exceeded 5.0, and the comparatively high tension In (3), ( ⁇ Kb) exceeded 100.
  • the stress relaxation rate exceeded 15%.
  • Comparative Examples 5 and 6 since the degree of work per pass in the final cold rolling exceeded 20%, I (111) / I (311) exceeded 5.0 and the stress relaxation rate exceeded 15%. .
  • Comparative Example 11 the total work degree in the final cold rolling was less than 25%, and in Comparative Example 12, the crystal grain size after recrystallization annealing before the final cold rolling exceeded 50 ⁇ m.
  • the 0.2% proof stress was less than 330 MPa.

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Abstract

　高強度、高導電性および優れた応力緩和特性を兼ね備えた銅合金板、該銅合金板を用いた大電流用電子部品及び放熱用電子部品並びに銅合金板の製造方法を提供する。ＺｒおよびＴｉのうちの一種または二種を合計で０．０１～０．５０質量％含有し、残部が銅およびその不可避的不純物から成り、７０％ＩＡＣＳ以上の導電率、および３３０ＭＰａ以上の０．２％耐力を有し、１５０℃で１０００時間保持後の応力緩和率が１５％以下であり、随意的に、Ａｇ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｚｎ、Ｍｇ、Ｓｉ、Ｐ、ＳｎおよびＢのうちの一種以上を１．０質量％以下含有する銅合金板である。

Description

導電性及び応力緩和特性に優れる銅合金板
　本発明は銅合金板及び通電用又は放熱用電子部品に関し、特に、電機・電子機器、自動車等に搭載される端子、コネクタ、リレー、スイッチ、ソケット、バスバー、リードフレーム、放熱板等の電子部品の素材として使用される銅合金板、及び該銅合金板を用いた電子部品に関する。中でも、電気自動車、ハイブリッド自動車等で用いられる大電流用コネクタや端子等の大電流用電子部品の用途、又はスマートフォンやタブレットＰＣで用いられる液晶フレーム等の放熱用電子部品の用途に好適な銅合金板及び該銅合金板を用いた電子部品に関するものである。
　自動車や電機・電子機器等には、端子、コネクタ、スイッチ、ソケット、リレー、バスバー、リードフレーム、放熱板等の電気又は熱を伝えるための部品が組み込まれており、これら部品には銅合金板が用いられている。ここで、電気伝導性と熱伝導性は比例関係にある。
　近年、電子部品の小型化に伴い、通電部における銅合金板の断面積が小さくなる傾向にある。断面積が小さくなると、通電した際の銅合金板からの発熱が増大する。また、成長著しい電気自動車やハイブリッド電気自動車で用いられる電子部品には、バッテリー部のコネクタ等の著しく高い電流が流される部品があり、通電時の銅合金板の発熱が問題になっている。発熱が過大になると、銅合金板は高温環境に晒されることになる。
　コネクタ等の電子部品の電気接点では、銅合金板にたわみが与えられ、このたわみで発生する応力により、接点での接触力を得ている。たわみを与えた銅合金板を高温下で長時間保持すると、応力緩和現象により、応力すなわち接触力が低下し、接触電気抵抗の増大を招く。この問題に対処するため銅合金板には、発熱量が減ずるよう導電性により優れることが求められ、また発熱しても接触力が低下しないよう応力緩和特性により優れることも求められている。
　一方、例えばスマートフォンやタブレットＰＣの液晶には液晶フレームと呼ばれる放熱部品が用いられている。このような放熱用途の銅合金板においても、応力緩和特性を高めると、外力による放熱板のクリープ変形が抑制され、放熱板周りに配置される液晶部品、ＩＣチップ等に対する保護性が改善される等の効果を期待できる。このため、放熱用途の銅合金板においても、応力緩和特性に優れることが望まれている。
　ＣｕにＺｒやＴｉを添加すると応力緩和特性が向上することが知られていている（例えば、特許文献１参照）。導電率が高く比較的高い強度と良好な応力緩和特性を有する材料としては、例えばＣ１５１００（０．１質量％Ｚｒ－残Ｃｕ）、Ｃ１５１５０（０．０２質量％Ｚｒ－残Ｃｕ）、Ｃ１８１４０（０．１質量％Ｚｒ－０．３質量％Ｃｒ－０．０２質量％Ｓｉ－残Ｃｕ）、Ｃ１８１４５（０．１質量％Ｚｒ－０．２質量％Ｃｒ－０．２質量％Ｚｎ－残Ｃｕ）、Ｃ１８０７０（０．１質量％Ｔｉ－０．３質量％Ｃｒ－０．０２質量％Ｓｉ－残Ｃｕ）、Ｃ１８０８０（０．０６質量％Ｔｉ－０．５質量％Ｃｒ－０．１質量％Ａｇ－０．０８質量％Ｆｅ－０．０６質量％Ｓｉ－残Ｃｕ）等の合金が、ＣＤＡ（Ｃｏｐｐｅｒ　Ｄｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔ　Ａｓｓｏｃｉａｔｉｏｎ）に登録されている。
特開２０１１－１１７０５５号公報
　しかしながら、ＣｕにＺｒまたはＴｉを添加した銅合金（以下、Ｃｕ－Ｚｒ－Ｔｉ系合金とする）は、比較的良好な応力緩和特性を有するとはいうものの、その応力緩和特性のレベルは大電流を通電する部品又は大熱量を放散する部品の用途として必ずしも十分とはいえなかった。例えば、特許文献１が開示する銅合金板は、０．０５～０．３質量％のＺｒを添加するとともに、Ｍｇ、Ｔｉ、Ｚｎ、Ｇａ、Ｙ、Ｎｂ、Ｍｏ、Ａｇ、Ｉｎ、Ｓｎの中の一種以上を０．０１～０．３質量％添加し、さらに中間焼鈍後の結晶粒径を２０～１００μｍに調整することにより、応力緩和特性を改善したものであるが、実施例における１５０℃で１０００時間保持後の応力緩和率は最低でも１７．２％である。
　そこで、本発明は、高強度、高導電性および優れた応力緩和特性を兼ね備えた銅合金板を提供することを目的とし、具体的には、応力緩和特性が改善されたＣｕ－Ｚｒ－Ｔｉ系合金板を提供することを課題とする。さらには、本発明は、該銅合金板の製造方法及び大電流用途又は放熱用途に好適な電子部品を提供することをも目的とする。
　上記課題を解決するために鋭意検討した結果、本発明者は、応力緩和特性を向上させる元素を適量銅合金板中に含有させることにより、高強度、高導電性および優れた応力緩和特性を兼ね備えた銅合金板が得られることを見出した。
　以上の知見を基礎として完成した本発明は一側面において、ＺｒおよびＴｉのうちの一種または二種を合計で０．０１～０．５０質量％含有し、残部が銅およびその不可避的不純物から成り、７０％ＩＡＣＳ以上の導電率、および３３０ＭＰａ以上の０．２％耐力を有し、１５０℃で１０００時間保持後の応力緩和率が１５％以下であり、随意的に、Ａｇ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｚｎ、Ｍｇ、Ｓｉ、Ｐ、ＳｎおよびＢのうちの一種以上を１．０質量％以下含有する銅合金板である。
　本発明に係る銅合金板は一実施態様において、ばね限界値Ｋｂ（ＭＰａ）と、０．２％耐力σ（ＭＰａ）との関係が、Ｋｂ≧（σ－１００）で与えられる。
　本発明に係る銅合金板は別の一実施態様において、Ｘ線回折法を用い圧延面において厚み方向に求めた（１１１）面および（３１１）面の回折積分強度をそれぞれＩ(111)およびＩ(311)としたときに、Ｉ(111)／Ｉ(311)が５．０以下である。
　本発明は別の一側面において、上記銅合金板を用いた大電流用電子部品である。
　本発明は更に別の一側面において、上記銅合金板を用いた放熱用電子部品である。
　本発明は更に別の一側面において、インゴットを、８００～１０００℃で厚み３～３０ｍｍまで熱間圧延した後、冷間圧延と再結晶焼鈍とを繰り返し、最終の冷間圧延の後、歪取焼鈍を施す銅合金板の製造方法であって、
（Ａ）最終の冷間圧延前の再結晶焼鈍において、炉内温度を３５０～８００℃として、銅合金板の平均結晶粒径を５０μｍ以下に調整し、
（Ｂ）最終の冷間圧延において、総加工度を２５～９９％、１パスあたりの圧延加工度を２０％以下とし、
（Ｃ）歪取焼鈍において、連続焼鈍炉を用い、炉内温度を３００～７００℃、炉内で銅合金板に付加される張力を１～５ＭＰａとして、銅合金板を通板し、０．２％耐力を１０～５０ＭＰａ低下させる、
　ことを含む上記銅合金板の製造方法である。
　本発明によれば、高強度、高導電性および優れた応力緩和特性を兼ね備えた銅合金板及びその製造方法、並びに大電流用途又は放熱用途に好適な電子部品を提供することが可能である。この銅合金は、端子、コネクタ、スイッチ、ソケット、リレー、バスバー、リードフレーム等の電子部品の素材として好適に使用することができ、特に大電流を通電する電子部品の素材又は大熱量を放散する電子部品の素材として有用である。
応力緩和率の測定原理を説明する図である。 応力緩和率の測定原理を説明する図である。
（特性）
　本発明の実施の形態に係る銅合金板は、７０％ＩＡＣＳ以上の導電率を有し、且つ３３０ＭＰａ以上の０．２％耐力を有する。導電率が７０％ＩＡＣＳ以上であれば、通電時の発熱量が純銅と同等といえる。また、０．２％耐力が３３０ＭＰａ以上であれば、大電流を通電する部品の素材又は大熱量を放散する部品の素材として必要な強度を有しているといえる。
　本発明の実施の形態に係る銅合金板の応力緩和特性については、０．２％耐力の８０％の応力を付加し、１５０℃で１０００時間保持した時の銅合金板の応力緩和率が１５％以下であり、より好ましくは１０％以下である。通常のＣｕ－Ｚｒ－Ｔｉ系合金の応力緩和率は２５～３５％程度であるが、これを１５％以下にすることで、コネクタに加工した後に大電流を通電しても接触力低下に伴う接触電気抵抗の増加が生じ難くなり、また、放熱板に加工した後に熱と外力が同時に加わってもクリープ変形が生じ難くなる。
（合金成分濃度）
　本発明の実施の形態に係る銅合金板は、Ｚｒ及びＴｉのうちの一種又は二種を合計で０．０１～０．５０質量％、より好ましくは０．０２～０．２０質量％含有する。これにより、通常のＣｕ－Ｚｒ－Ｔｉ系合金に比べて強度及び応力緩和特性が改善される。Ｚｒ及びＴｉのうちの一種又は二種の合計が０．０１質量％未満になると、３３０ＭＰａ以上の０．２％耐力および１５％以下の応力緩和率を得ることが難しくなる。Ｚｒ及びＴｉのうちの一種又は二種の合計が０．５質量％を超えると、熱間圧延割れ等により合金の製造が困難になる。Ｚｒを添加する場合にはその添加量を０．０１～０．４５質量％に調整することが好ましく、Ｔｉを添加する場合にはその添加量を０．０１～０．２０質量％に調整することが好ましい。添加量が下限値を下回ると応力緩和特性の改善効果が得られにくく、添加量が上限値を超えると導電率や製造性の悪化を招くことがある。
　Ｃｕ－Ｚｒ－Ｔｉ系合金には、強度や耐熱性を改善するために、Ａｇ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｚｎ、Ｍｇ、Ｓｉ、Ｐ、ＳｎおよびＢのうちの一種以上を含有させることができる。ただし、添加量が多すぎると、導電率が低下して７０％ＩＡＣＳを下回ったり、合金の製造性が悪化したりする場合があるので、添加量は総量で１．０質量％以下、より好ましくは０．５質量％以下とする。また、添加による効果を得るためには、添加量を総量で０．００１質量％以上にすることが好ましい。
（ばね限界値）
　ばね限界値を指標に金属組織を調整することにより、銅合金板の応力緩和特性が改善される。本発明に係る銅合金板においては、製品のばね限界値をＫｂ（ＭＰａ）、０．２％耐力をσ（ＭＰａ）としたときに、Ｋｂ≧（σ－１００）の関係に、より好ましくは、Ｋｂ≧（σ－５０）の関係に調整することで、応力緩和特性が向上する。Ｋｂ＜（σ－１００）の場合は、応力緩和率が１５％を超える。Ｋｂの上限値は特に規制されないが、通常はσを超える値になることはない。
（圧延面の結晶方位）
　圧延面に配向する結晶粒の方位を制御することで、銅合金板の応力緩和特性がより改善される。本発明に係る銅合金板においては、製品の圧延面において、Ｉ(111)／Ｉ(311)を５．０以下、好ましくは２．０以下に調整することにより、応力緩和特性が向上する。ここで、Ｉ(111)およびＩ(311)はそれぞれＸ線回折法を用いて銅合金板の厚み方向に求めた（１１１）面および（３１１）面の回折積分強度である。Ｉ(111)／Ｉ(311)が５．０を超えると、応力緩和率が１５％を超える。Ｉ(111)／Ｉ(311)の下限値は応力緩和特性改善の点からは制限されないものの、Ｉ(111)／Ｉ(311)は典型的には０．０１以上の値をとる。
（厚み）
　製品の厚みは０．１～２．０ｍｍであることが好ましい。厚みが薄すぎると、通電部断面積が小さくなり通電時の発熱が増加するため大電流を流すコネクタ等の素材として不適であり、また、わずかな外力で変形するようになるため放熱板等の素材としても不適である。一方で、厚みが厚すぎると、曲げ加工が困難になる。このような観点から、より好ましい厚みは０．２～１．５ｍｍである。厚みが上記範囲となることにより、通電時の発熱を抑えつつ、曲げ加工性を良好なものとすることができる。
（用途）
　本発明の実施の形態に係る銅合金板は、端子、コネクタ、リレー、スイッチ、ソケット、バスバー、リードフレーム、放熱板等の電子部品の用途に好適に使用することができ、特に、電気自動車、ハイブリッド自動車等で用いられる大電流用コネクタや端子等の大電流用電子部品の用途、又はスマートフォンやタブレットＰＣで用いられる液晶フレーム等の放熱用電子部品の用途に有用である。
（製造方法）
　純銅原料として電気銅等を溶解し、カーボン脱酸等により酸素濃度を低減した後、Ｚｒ及びＴｉのうちの一種又は二種と、必要に応じて他の合金元素を添加し、厚み３０～３００ｍｍ程度のインゴットに鋳造する。このインゴットを例えば８００～１０００℃の熱間圧延により厚み３～３０ｍｍ程度の板とした後、冷間圧延と再結晶焼鈍とを繰り返し、最終の冷間圧延で所定の製品厚みに仕上げ、最後に歪取焼鈍を施す。最終冷間圧延後のばね限界値は、１００ＭＰａに満たないほど低いが、その後の歪取焼鈍により上昇する。
　再結晶焼鈍では、圧延組織の一部または全てを再結晶化させる。また、適当な条件で焼鈍することにより、Ｚｒ、Ｔｉ等が析出し、合金の導電率が上昇する。最終冷間圧延前の再結晶焼鈍では、銅合金板の平均結晶粒径を５０μｍ以下に調整する。平均結晶粒径が大きすぎると、製品の０．２％耐力を３３０ＭＰａ以上に調整することが難しくなる。
　最終冷間圧延前の再結晶焼鈍の条件は、目標とする焼鈍後の結晶粒径および目標とする製品の導電率に基づき決定する。具体的には、バッチ炉または連続焼鈍炉を用い、炉内温度を３５０～８００℃として焼鈍を行えばよい。バッチ炉では３５０～６００℃の炉内温度において３０分から３０時間の範囲で加熱時間を適宜調整すればよい。連続焼鈍炉では４５０～８００℃の炉内温度において５秒から１０分の範囲で加熱時間を適宜調整すればよい。一般的にはより低温でより長時間の条件で焼鈍を行うと、同じ結晶粒径でより高い導電率が得られる。
　最終冷間圧延では、一対の圧延ロール間に材料を繰り返し通過させ、目標の板厚に仕上げてゆく。最終冷間圧延の総加工度と１パスあたりの加工度を制御する。
　総加工度Ｒ（％）は、Ｒ＝（ｔ0－ｔ）／ｔ0×１００（ｔ0：最終冷間圧延前の板厚、ｔ：最終冷間圧延後の板厚）で与えられる。また、１パスあたりの加工度ｒ（％）とは、圧延ロールを１回通過したときの板厚減少率であり、ｒ＝（Ｔ0－Ｔ）／Ｔ0×１００（Ｔ0：圧延ロール通過前の厚み、Ｔ：圧延ロール通過後の厚み）で与えられる。
　総加工度Ｒは２５～９９％とするのが好ましい。Ｒが小さすぎると、０．２％耐力を３３０ＭＰａ以上に調整することが難しくなる。Ｒが大きすぎると、圧延材のエッジが割れることがある。
　１パスあたりの加工度ｒは２０％以下とすることが好ましい。ｒが大きすぎるとＩ(111)／Ｉ(311)が増加し、全パスの中にｒが２０％を超えるパスが一つでも含まれるとＩ(111)／Ｉ(311)を５．０以下に調整することが難しくなる。
　本発明の歪取焼鈍は連続焼鈍炉を用いて行う。バッチ炉の場合、コイル状に巻き取った状態で材料を加熱するため、加熱中に材料が変形を起こし材料に反りが生じる。したがって、バッチ炉は本発明の歪取焼鈍に不適である。
　連続焼鈍炉において、炉内温度を３００～７００℃とし、５秒から１０分の範囲で加熱時間を適宜調整し、歪取焼鈍後の０．２％耐力（σ）を歪取焼鈍前の０．２％耐力（σ0）に対し１０～５０ＭＰａ低い値、好ましくは１５～４５ＭＰａ低い値に調整する。これにより、最終冷間圧延上がりにおいて低かったＫｂが充分に上昇する。（σ0－σ）が小さすぎても大きすぎても、Ｋｂが充分に上昇せず、Ｋｂ≧（σ－１００）の関係を得ることが難しくなる。
　歪取焼鈍においては、連続焼鈍炉内において材料に付加される張力を１～５ＭＰａ、より好ましくは１～４ＭＰａに調整する。張力が大きすぎると、Ｉ(111)／Ｉ(311)を５．０以下に調整することが難しくなる。また、Ｋｂの上昇が充分ではなくなる傾向にある。一方、張力が小さすぎると、焼鈍炉を通板中の材料が炉壁と接触し、材料の表面やエッジに傷が付くことがある。
　本発明に係る銅合金板によれば、Ｋｂ≧（σ－１００）なる特徴およびＩ(111)／Ｉ(311)≦５．０なる特徴をＣｕ－Ｚｒ－Ｔｉ系合金に付与することにより、応力緩和特性を改善することを一つの特徴としているが、そのための製造条件を整理して示すと、
（１）Ｋｂ≧σ－１００のためには、
ａ．歪取焼鈍において、（σ0－σ）＝１０～５０ＭＰａに調整する、
ｂ．歪取焼鈍における炉内張力を５ＭＰａ以下に調整する、
（２）Ｉ(111)／Ｉ(311)≦５．０のためには、
ａ．最終冷間圧延において、１パスあたりの加工度を２０％以下に調整する、
ｂ．歪取焼鈍における炉内張力を５ＭＰａ以下に調整する、
ことが好ましい。
　以下に本発明の実施例を比較例と共に示すが、これらの実施例は本発明及びその利点をよりよく理解するために提供するものであり、本発明が限定されることを意図するものではない。
　溶銅に合金元素を添加した後、厚みが２００ｍｍのインゴットに鋳造した。インゴットを９５０℃で３時間加熱し、熱間圧延により厚み１５ｍｍの板にした。熱間圧延板表面の酸化スケールをグラインダーで研削、除去した後、焼鈍と冷間圧延を繰り返し、最終の冷間圧延で所定の製品厚みに仕上げた。最後に連続焼鈍炉を用い歪取焼鈍を行った。
　最終冷間圧延前の焼鈍（最終再結晶焼鈍）は、バッチ炉を用い、加熱時間を５時間とし炉内温度を３５０～７００℃の範囲で調整し、焼鈍後の結晶粒径と導電率を変化させた。焼鈍後の結晶粒径の測定においては、圧延方向に直角な断面を鏡面研磨後に化学腐食し、切断法（ＪＩＳ　Ｈ０５０１（１９９９年））により平均結晶粒径を求めた。
　最終冷間圧延では、総加工度および１パスあたりの加工度を制御した。また、最終冷間圧延後の材料の０．２％耐力を求めた。連続焼鈍炉を用いた歪取焼鈍では、炉内温度を５００℃とし加熱時間を１秒から１５分の間で調整し、焼鈍後の０．２％耐力を種々変化させた。また、炉内において材料に付加する張力を種々変化させた。なお、一部の例では歪取焼鈍を行わなかった。
　製造途中の材料および歪取焼鈍後の材料につき、次の測定を行った。
（成分）
　歪取焼鈍後の材料の合金元素濃度をＩＣＰ－質量分析法で分析した。
（０．２％耐力）
　最終冷間圧延後および歪取焼鈍後の材料につき、ＪＩＳ　Ｚ２２４１に規定する１３Ｂ号試験片を引張方向が圧延方向と平行になるように採取し、ＪＩＳ　Ｚ２２４１に準拠して圧延方向と平行に引張試験を行い、０．２％耐力を求めた。
（ばね限界値）
　歪取焼鈍後の材料から、幅１０ｍｍ、長さ１００ｍｍの短冊形状の試験片を、試験片の長手方向が圧延方向と平行になるように採取し、ＪＩＳ　Ｈ３１３０に規定されているモーメント式試験により圧延方向と平行な方向のばね限界値を測定した。
（導電率）
　歪取焼鈍後の材料から、試験片の長手方向が圧延方向と平行になるように試験片を採取し、ＪＩＳ　Ｈ０５０５に準拠し四端子法により２０℃での導電率を測定した。
（結晶方位）
　歪取焼鈍後の材料の表面に対し、厚み方向に（１１１）面および（３１１）面のＸ線回折積分強度を測定した。Ｘ線回折装置には（株）リガク製ＲＩＮＴ２５００を使用し、Ｃｕ管球にて、管電圧２５ｋＶ、管電流２０ｍＡで測定を行った。
（応力緩和率）
　歪取焼鈍後の材料から、幅１０ｍｍ、長さ１００ｍｍの短冊形状の試験片を、試験片の長手方向が圧延方向と平行になるように採取した。図１のように、ｌ＝５０ｍｍの位置を作用点として、試験片にｙ0のたわみを与え、圧延方向の０．２％耐力（ＪＩＳ　Ｚ２２４１に準拠して測定）の８０％に相当する応力（ｓ）を負荷した。ｙ0は次式により求めた。
　ｙ0＝（２／３）・ｌ2・ｓ　／　（Ｅ・ｔ）
ここで、Ｅは圧延方向のヤング率であり、ｔは試料の厚みである。１５０℃にて１０００時間加熱後に除荷し、図２のように永久変形量（高さ）ｙを測定し、応力緩和率｛［ｙ（ｍｍ）／ｙ0（ｍｍ）］×１００（％）｝を算出した。
　表１に評価結果を示す。最終冷間圧延では複数のパスを実施したが、これら各パスの加工度の中での最大値を示した。表１の最終再結晶焼鈍後の結晶粒径における「＜１０μｍ」の表記は、圧延組織の全てが再結晶化しその平均結晶粒径が１０μｍ未満であった場合、および圧延組織の一部のみが再結晶化した場合の双方を含んでいる。
　発明例１～２５の銅合金板では、ＺｒとＴｉの合計濃度を０．０１～０．５０質量％に調整し、最終冷間圧延前の再結晶焼鈍において、結晶粒径を５０μｍ以下に調整し、最終冷間圧延において、総加工度を２５～９９％に、１パスあたりの加工度を２０％以下に調整し、歪取焼鈍において、材料を連続焼鈍炉に張力１～５ＭＰａで通板して０．２％耐力を１０～５０ＭＰａ低下させた。
　発明例１～２５の銅合金板では、いずれもＺｒ、Ｔｉの添加量が適正であり、７０％ＩＡＣＳ以上の導電率、３３０ＭＰａ以上の０．２％耐力、１５％以下の応力緩和率を達成できている。また、発明例１～２５の銅合金板では、いずれもＫｂ≧（σ－１００）なる関係およびＩ(111)／Ｉ(311)≦５．０なる関係が得られていることが分かる。
　比較例１は歪取焼鈍を行わなかったものであり、応力緩和率が３０％を超えた。
　比較例２～４では、歪取焼鈍を行ったものの、炉内での材料張力が５ＭＰａを超えたため、Ｉ(111)／Ｉ(311)が５．０を超え、特に張力が高かった比較例３では（σ－Ｋｂ）も１００を超えた。比較例２～４の応力緩和率は１５％を超えた。
　比較例５、６では、最終冷間圧延における１パス当たりの加工度が２０％を超えたため、Ｉ(111)／Ｉ(311)が５．０を超え、応力緩和率が１５％を超えた。
　比較例７、８では歪取焼鈍における０．２％耐力の低下量が過小であり、比較例９、１０では歪取焼鈍における０．２％耐力の低下量が過大であった。このため比較例７～１０での（σ0－σ）は、１０～５０ＭＰａの範囲から外れた。その結果、（σ－Ｋｂ）が１００を超え、応力緩和率が１５％を超えた。
　比較例１１では最終冷間圧延における総加工度が２５％に満たなかったため、また比較例１２では最終冷間圧延前の再結晶焼鈍上がりの結晶粒径が５０μｍを超えたため、歪取焼鈍後の０．２％耐力が３３０ＭＰａに満たなかった。
　比較例１３では、ＺｒとＴｉの合計濃度が０．０１質量％未満だったため、歪取焼鈍後の０．２％耐力が３３０ＭＰａ未満となり、応力緩和率が１５％を超えた。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001

Claims (7)

  1. 　ＺｒおよびＴｉのうちの一種または二種を合計で０．０１～０．５０質量％含有し、残部が銅およびその不可避的不純物から成り、７０％ＩＡＣＳ以上の導電率、および３３０ＭＰａ以上の０．２％耐力を有し、１５０℃で１０００時間保持後の応力緩和率が１５％以下であり、
    　随意的に、Ａｇ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｚｎ、Ｍｇ、Ｓｉ、Ｐ、ＳｎおよびＢのうちの一種以上を１．０質量％以下含有することを特徴とする銅合金板。
  2. 　ばね限界値Ｋｂ（ＭＰａ）と、０．２％耐力σ（ＭＰａ）との関係が、Ｋｂ≧（σ－１００）で与えられることを特徴とする、請求項１に記載の銅合金板。
  3. 　Ｘ線回折法を用い圧延面において厚み方向に求めた（１１１）面および（３１１）面の回折積分強度をそれぞれＩ(111)およびＩ(311)としたときに、Ｉ(111)／Ｉ(311)が５．０以下であることを特徴とする請求項１に記載の銅合金板。
  4. 　Ｘ線回折法を用い圧延面において厚み方向に求めた（１１１）面および（３１１）面の回折積分強度をそれぞれＩ(111)およびＩ(311)としたときに、Ｉ(111)／Ｉ(311)が５．０以下であることを特徴とする請求項２に記載の銅合金板。
  5. 　請求項１～４の何れか１項に記載の銅合金板を用いた大電流用電子部品。
  6. 　請求項１～４の何れか１項に記載の銅合金板を用いた放熱用電子部品。
  7. 　インゴットを、８００～１０００℃で厚み３～３０ｍｍまで熱間圧延した後、冷間圧延と再結晶焼鈍とを繰り返し、最終の冷間圧延の後、歪取焼鈍を施す銅合金板の製造方法であって、
    （Ａ）前記最終の冷間圧延前の再結晶焼鈍において、炉内温度を３５０～８００℃として、銅合金板の平均結晶粒径を５０μｍ以下に調整し、
    （Ｂ）前記最終の冷間圧延において、総加工度を２５～９９％、１パスあたりの圧延加工度を２０％以下とし、
    （Ｃ）前記歪取焼鈍において、連続焼鈍炉を用い、炉内温度を３００～７００℃、炉内で銅合金板に付加される張力を１～５ＭＰａとして、銅合金板を通板し、０．２％耐力を１０～５０ＭＰａ低下させる、
    　ことを含む請求項１～４の何れか１項に記載の銅合金板の製造方法。
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