WO2007102560A1 - 分波器および通信装置 - Google Patents

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WO2007102560A1
WO2007102560A1 PCT/JP2007/054482 JP2007054482W WO2007102560A1 WO 2007102560 A1 WO2007102560 A1 WO 2007102560A1 JP 2007054482 W JP2007054482 W JP 2007054482W WO 2007102560 A1 WO2007102560 A1 WO 2007102560A1
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WO
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wiring
filter
signal
frequency band
ground
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PCT/JP2007/054482
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English (en)
French (fr)
Inventor
Wataru Koga
Takeshi Takenoshita
Takanori Ikuta
Original Assignee
Kyocera Corporation
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B1/00Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
    • H04B1/005Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission adapting radio receivers, transmitters andtransceivers for operation on two or more bands, i.e. frequency ranges
    • H04B1/0053Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission adapting radio receivers, transmitters andtransceivers for operation on two or more bands, i.e. frequency ranges with common antenna for more than one band
    • H04B1/0057Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission adapting radio receivers, transmitters andtransceivers for operation on two or more bands, i.e. frequency ranges with common antenna for more than one band using diplexing or multiplexing filters for selecting the desired band
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P1/00Auxiliary devices
    • H01P1/20Frequency-selective devices, e.g. filters
    • H01P1/213Frequency-selective devices, e.g. filters combining or separating two or more different frequencies
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/70Multiple-port networks for connecting several sources or loads, working on different frequencies or frequency bands, to a common load or source
    • H03H9/72Networks using surface acoustic waves
    • H03H9/725Duplexers
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B1/00Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
    • H04B1/38Transceivers, i.e. devices in which transmitter and receiver form a structural unit and in which at least one part is used for functions of transmitting and receiving
    • H04B1/40Circuits
    • H04B1/50Circuits using different frequencies for the two directions of communication
    • H04B1/52Hybrid arrangements, i.e. arrangements for transition from single-path two-direction transmission to single-direction transmission on each of two paths or vice versa

Definitions

  • the present invention relates to a duplexer having a plurality of filters having different pass frequency bands and a communication device including the duplexer.
  • Filters used in portable communication terminal devices are required to be small and light, and have low loss in the pass frequency band, and are attenuated outside the pass frequency band. It is required that the quantity is large, has characteristics, and that the frequency characteristics change sharply from the pass frequency band to the outside of the pass frequency band.
  • a duplexer that separates a signal in the transmission frequency band and a signal in the reception frequency band is also required to be small and lightweight.
  • the transmission filter used in the duplexer has low loss in the transmission frequency band, high attenuation in the reception frequency band, and the transmission frequency band power also has a sharp change in frequency characteristics over the reception frequency band. Is required.
  • the reception filter used in the duplexer has low loss in the reception frequency band, high attenuation in the transmission frequency band, and a sharp change in frequency characteristics from the reception frequency band to the transmission side frequency band. Is required.
  • the duplexer is required to have good transmission terminal strength and isolation characteristics to the reception terminal.
  • a duplexer having a dielectric resonator filter has been used as a duplexer.
  • a duplexer having a surface acoustic wave (abbreviation: SAW) filter and A duplexer equipped with a film bulk acoustic resonator (abbreviation: FBAR) filter has come to be used.
  • the matching circuit includes a strip line, a distributed constant line, and chip components such as a chip inductor and a chip capacitor. JP 2002 — In the 176337 publication, the matching circuit is arranged side by side with the transmission filter and the reception filter, so that the size can be reduced sufficiently!
  • a SAW device in which an excitation electrode is provided on a piezoelectric substrate is mounted in a recess of a package body, and an electrode pattern on the piezoelectric substrate and a terminal portion of the package are connected by wire bonding technology. After the connection, the recess is hermetically sealed with a cap or the like to produce a SAW filter, and the matching circuit is built into the knocker body to achieve a small size.
  • the parallel arm forming the SAW device and the terminal of the package with a bonding wire, and effectively using the inductance component of the bonding wire, the attenuation characteristic outside the pass frequency band of the SAW filter can be obtained. It is possible to improve.
  • the SAW device formed on the substrate is flip-chip mounted on the circuit board. It has also been proposed to reduce the space and height required for wire bonding.
  • flip chip mounting since the inductance component is eliminated by using a bonding carrier, it is possible to improve the attenuation characteristics outside the pass frequency band by providing a line having an inductance component on the circuit board. is there.
  • a line having a matching circuit and an inductance component is arranged in a package body so that the circuits do not interfere with each other.
  • a matching circuit is formed in the inner layer of the package, a line having an inductance component is routed away from the matching circuit, and connected to the ground by a caster around the package.
  • a ground layer is placed above the matching circuit. For this reason, a sufficiently low profile and small size can be achieved.
  • FIG. 11 is a diagram showing a configuration of the branching filter 1 of the conventional technique.
  • the duplexer 1 includes a first filter 2 and a second filter 3 having different pass frequency bands.
  • the first filter 2 and the second filter 3 are connected to a common connection point P, and the antenna terminal 4 is connected to the common connection point P.
  • the first filter 2 allows the transmission frequency band to pass (Hereinafter referred to as “Tx filter 2”)
  • the second filter 3 is a filter that passes the reception frequency band (hereinafter referred to as “Rx filter 3”)
  • the transmission signal given to is passed through the Tx filter 2 and given from the antenna terminal 4 to the antenna (not shown) and transmitted to another communication device.
  • a reception signal received by the antenna and input to the antenna terminal 4 passes through the Rx filter 3 and is given from the reception signal terminal 6 to a reception circuit (not shown).
  • a matching circuit 7 is provided between the antenna terminal 4 and each of the filters 2 and 3, more specifically between the antenna terminal 4 and the common connection point P.
  • the matching circuit 7 makes the impedance of the transmission circuit seen from the antenna terminal 4 almost infinite in the reception frequency band, and makes the impedance of the reception circuit almost infinite in the transmission frequency band. Can be done.
  • wires and lines having an inductance component between the parallel arm forming the SAW device and the ground are used.
  • a method of providing such as is used.
  • the splitter manufactured using the force CSP technology which uses the above-mentioned method to improve the attenuation characteristics and isolation characteristics outside the pass frequency band, is the wire bonding technology.
  • a bonding wire having an inductance component cannot be used. Therefore, it is necessary to provide a line having an inductance component on a circuit board.
  • the input / output electrodes, the ground electrode, and the matching circuit are arranged on the circuit board constituting the duplexer, it is difficult to provide a sufficiently long line having an inductance component. There is a problem that the attenuation characteristic and the isolation characteristic cannot be satisfied.
  • the object of the present invention is to provide attenuation characteristics and isolation characteristics outside the pass frequency band on the high frequency side of a filter having a low pass frequency band out of two filters having different pass frequency bands. It is an object of the present invention to provide a duplexer capable of improving the Chillon characteristics and a communication device including the duplexer.
  • the present invention includes a first signal input unit, a first signal output unit, and a first ground unit connected to a parallel arm configured to include at least one of a resonator and a capacitor.
  • a first filter having a pass frequency band;
  • a second filter comprising a second signal input unit, a second signal output unit, and a second ground unit, and having a pass frequency band higher than the pass frequency band of the first filter;
  • a ground terminal connected to each of the first and second wirings and the second ground part and to which a ground potential is applied;
  • One of the angles formed on a virtual plane determined in advance by the extension direction of a part of the first wiring and the extension direction of a part of the second wiring is selected to be less than 90 degrees, and
  • the first and second wirings are formed so that the direction of the current flowing through the part of the first wiring is opposite to the direction of the current flowing through the part of the second wiring. It is a duplexer.
  • the present invention further includes a multilayer wiring board provided with the first filter, the second filter, the common terminal, the first wiring, the second wiring, and the ground terminal,
  • the part of the first wiring and the part of the second wiring are formed in the same layer of the multilayer wiring board.
  • the part of the first wiring and the part of the second wiring are formed in different layers of the multilayer wiring board.
  • the present invention also includes the above-described duplexer,
  • the first filter is connected to the parallel arm configured to include at least one of the first signal input unit, the first signal output unit, the resonator, and the capacitor.
  • the second filter includes a second signal input unit, a second signal output unit, and a second ground unit, and has a pass frequency band higher than the pass frequency band of the first filter.
  • the first signal output unit and the second signal input unit are connected to a common terminal.
  • a first wiring is connected to the first signal output section and the second signal input section, and a second wiring is connected to the first ground section.
  • a ground terminal is connected to the first and second wirings and the second darnd section, respectively, and a ground potential is applied.
  • one of the angles formed on a predetermined virtual plane between the extending direction of a part of the first wiring and the extending direction of a part of the second wiring is less than 90 degrees.
  • the direction of the current flowing in the part of the first wiring is opposite to the direction of the current flowing in the part of the second wiring.
  • the direction of the current flowing through the part of the first wiring and the direction of the current flowing through the part of the second wiring are opposite to each other.
  • the direction of the magnetic flux surrounding each part of the wiring is opposite.
  • At least one of a resonator and a capacitor constituting a parallel arm of the first filter, a mutual inductance formed by the part of the first wiring and the part of the second wiring, and the second wiring A series resonant circuit is formed by the inductance.
  • the first filter The series resonance circuit can resonate outside the predetermined pass frequency band on the high frequency side, and the attenuation pole can be provided relatively easily.
  • the amount of attenuation outside the pass frequency band on the high frequency side of the first filter can be increased, and the attenuation characteristics can be improved.
  • the isolation characteristics outside the pass frequency band on the high frequency side of the first filter can be improved.
  • the first filter, the second filter, the common terminal, the first wiring, the second wiring, and the ground terminal are provided on the multilayer wiring board.
  • the part of the first wiring and the part of the second wiring are formed in the same layer of the multilayer wiring board. Therefore, the number of stacked layers can be reduced as compared with the case where the part of the first wiring and the part of the second wiring are respectively formed in different layers of the multilayer wiring board. Small size in the direction can be achieved.
  • the part of the first wiring and the part of the second wiring are formed in different layers of a multilayer wiring board. Accordingly, the part of the first wiring and the part of the second wiring are compared with the case where the part of the first wiring and the part of the second wiring are formed in the same layer of the multilayer wiring board.
  • the part of the wiring is formed, and the area of one surface portion of the layer orthogonal to the thickness direction of the multilayer wiring board can be reduced. As a result, it is possible to achieve a small size in a direction perpendicular to the thickness direction of the multilayer wiring board.
  • the antenna is connected to the common terminal.
  • the transmission / reception processing unit transmits a signal to another communication device via an antenna connected to the common terminal by giving a signal to the first signal input unit of the duplexer.
  • the transmission / reception processing unit receives a signal transmitted from another communication device by receiving a signal given from the second signal output unit of the duplexer.
  • the communication device can improve the attenuation characteristic outside the pass frequency band on the high frequency side of the first filter, and can improve the isolation characteristic outside the pass frequency band on the high frequency side of the first filter. Since the duplexer is provided, it is possible to realize a communication device capable of transmitting and receiving an excellent signal without transmitting or receiving an unnecessary signal outside the pass frequency band.
  • FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a duplexer 10 according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the first and second filters 11 and 12.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing the mounting substrate 35.
  • FIG. 4A to 4G are diagrams showing the wiring structure of the mounting board 35.
  • FIG. 4A to 4G are diagrams showing the wiring structure of the mounting board 35.
  • FIG. 5 is a block diagram illustrating a configuration of the communication device 100 according to the embodiment of the present invention.
  • FIGS. 6A to 6G are diagrams illustrating a wiring structure of the mounting substrate 90.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view showing the wiring structure of the second and third wiring forming layers 37 and 38 as viewed from the cutting plane line BB in FIG.
  • FIG. 8 is a diagram schematically showing the SAW element 200.
  • FIG. 9 is a graph showing measurement results of the attenuation characteristics and isolation characteristics of the example.
  • FIG. 10 is a graph showing the measurement results of the attenuation characteristics and isolation characteristics of the comparative example.
  • FIG. 11 is a diagram showing a configuration of the branching filter 1 of the conventional technique.
  • FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a duplexer 10 according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the first and second filters 11 and 12.
  • the duplexer 10 is provided between an antenna (not shown) and a transmission / reception processing unit (not shown).
  • the duplexer 10 includes the first filter 11, the second filter 12, the common terminal 13, the ground terminal 14, the transmission signal terminal 15, the reception signal terminal 16, the first wiring 17, the second wiring 18, the third wiring 19, It consists of 4 wiring 20, 5th wiring 21, 6th wiring 22 and ground wiring 23.
  • the first filter 11 includes a first signal input unit 25, a first signal output unit 26, and a first ground unit 27.
  • the second filter 12 includes a second signal input unit 30, a second signal output unit 31, and a second ground unit 32.
  • the first and second filters 11 and 12 of the present embodiment are as shown in FIG. It is constituted by a ladder type filter. In a ladder filter, a plurality of filter components are alternately connected in series and in parallel.
  • the basic section II of the ladder filter is composed of a first filter component F1 that forms a series arm and a second filter component F2 that forms a parallel arm.
  • the first and second filters 11 and 12 of the present embodiment are SAWs in which the first and second filter components Fl and F2 are constituted by surface acoustic wave (abbreviation: SAW) resonators. Realized by a filter.
  • the first and second filters 11 and 12 may be realized by a filter in which the first filter component F1 is configured by a SAW resonator and the second filter component F2 is configured by a capacitor. Further, an inductance element or a line having an inductance component may be connected in series or in parallel to the second filter component F2.
  • the first filter 11 is used as a transmission filter having a predetermined pass frequency band, specifically, a pass frequency band of 824 MHz to 849 MHz, and the second filter 12 is passed through the first filter 11. It is used as a reception filter having a pass frequency band higher than the frequency band, specifically, a pass frequency band of 869 MHz to 894 MHz.
  • the first filter 11 may be referred to as “transmission filter 11”
  • the second filter 12 may be referred to as “reception filter 12”.
  • the first signal output unit 26 and the second signal input unit 30 are connected to a common connection point CP, and the common terminal 13 that is an antenna terminal is connected to the common connection point CP.
  • the first wiring 17 is connected to the common terminal 13, the first signal output unit 26, and the second signal input unit 30.
  • a part of the first wiring 17 is formed with a matching circuit for reducing interference between the transmission filter 11 and the reception filter 12 and obtaining desired filter characteristics.
  • the second wiring 18 is connected to the first ground part 27.
  • a ground terminal 14 is connected to each of the first and second wirings 17 and 18 and the second ground portion 32, and a ground potential is applied thereto.
  • the first wiring 17 and the second wiring 18 are one of the angles formed on a predetermined virtual plane between the extending direction of a part L1 of the first wiring and the extending direction of a part L2 of the second wiring.
  • the angle direction is selected to be less than 90 degrees, and the direction II of the current flowing in the part L1 of the first wiring is opposite to the direction 12 of the current flowing in the part L2 of the second wiring.
  • the direction of the current II flowing in the part L1 of the first wiring II and the direction 12 of the current flowing in the part L2 of the second wiring are opposite to each other.
  • the direction of the magnetic flux surrounding each part of L2 is opposite. If the directions of the magnetic fluxes surrounding the part L1 of the first wiring and the part L2 of the second wiring are opposite to each other, the magnetic fluxes cancel each other, so that the inductance of the second wiring 18 is apparently reduced.
  • an electrode other than the electrodes forming the first wiring 17 and the second wiring 18 is not disposed between the part L1 of the first wiring and the part L2 of the second wiring. More specifically, it is configured such that a part L1 of the first wiring and a part L2 of the second wiring are adjacently opposed to each other on a predetermined virtual plane. As a result, the magnetic flux surrounding the part L1 of the first wiring and the part L2 of the second wiring affect each other, so that part of the first wiring L1 and part of the second wiring L2 And to be able to couple electromagnetically well!
  • Part L1 of the first wiring is selected such that the width dimension is, for example, about 50 m or more and less than 150 m, and the wiring length is selected, for example, about 0.3 mm or more and less than 2 mm.
  • a part L2 of the second wiring is selected such that the width dimension is, for example, about 50 m or more and less than 150 m, and the wiring length is selected, for example, about 0.2 mm or more and less than 1.5 mm.
  • the coupling coefficient between the part L1 of the first wiring and the part L2 of the second wiring is selected to be, for example, 0.4.
  • the coupling coefficient is preferably 0.1 or more and less than 0.6.
  • the third wiring 19 connects the transmission signal terminal 15 and the first signal input unit 25.
  • the fourth wiring 20 connects the first signal output unit 26 and the common terminal 13.
  • the fifth wiring 21 connects the second signal input unit 30 and the common terminal 13, and the portion connecting the common terminal 13 and the common connection point CP is common to the fourth wiring 20.
  • the sixth wiring 22 connects the reception signal terminal 16 and the second signal output unit 31.
  • the ground wiring 23 connects the second ground portion 32 and the ground terminal 14. A part of the ground wiring 23 is common to a part of the first wiring L1 and the wiring between the ground terminals 14.
  • the duplexer 10 according to the present embodiment includes a transmission filter 11 and a reception filter 12.
  • the formed filter device is flip-chip mounted on the mounting substrate 35.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing the mounting substrate 35.
  • 4A to 4G are diagrams showing the wiring structure of the mounting board 35.
  • FIG. 4A is a plan view seen from the thickness direction of the mounting substrate 35
  • FIG. 4B is a cross-sectional view showing the first wiring formation layer 36 seen from the cutting plane line AA in FIG. 3
  • FIG. 4D is a cross-sectional view showing the second wiring formation layer 37 seen from the section line B—B of FIG. 3
  • FIG. 4D is a sectional view showing the second wiring formation layer 37 seen from the section line C—C of FIG.
  • 4E is a cross-sectional view showing the third wiring formation layer 38 in which the cross-sectional line DD force of FIG. 3 is also seen
  • FIG. 4F is the third wiring formation layer in view of the cross-section line E-E of FIG.
  • FIG. 4G is a bottom view showing the mounting board 35.
  • the mounting substrate 35 is a multilayer wiring substrate having a multilayer structure in which three layers are laminated, and is realized by, for example, a low temperature co-fired ceramics (abbreviation: LTCC) substrate.
  • LTCC low temperature co-fired ceramics
  • Alumina is used as the main raw material for LTCC, and the relative dielectric constant is about 6 and less than 18.
  • the mounting substrate 35 may be realized by a resin substrate using a resin material such as glass epoxy resin, epoxy resin, and polyimide resin.
  • the specific dielectric constant of the resin material is 3 or more. Less than.
  • the mounting substrate 35 includes a first wiring formation layer 36, a second wiring formation layer 37, and a third wiring formation layer 38. In the mounting substrate 35, first to third wiring formation layers 36 to 38 are laminated in the order of a third wiring formation layer 38, a second wiring formation layer 37, and a first wiring formation layer 36.
  • the first to third wiring formation layers 36 to 38 are formed in a rectangular shape projected onto a virtual plane perpendicular to the thickness direction.
  • the two ends in the longitudinal direction of the first to third wiring formation layers 36 to 38 are referred to as the first end and the second end, respectively, and the first to third wiring formation layers 36 to Two side portions in the width direction of 38 are referred to as a first side portion and a second side portion, respectively, and two surface portions in the thickness direction of the first to third wiring forming layers 36 to 38 are respectively referred to as a first surface portion and a second side portion. This is called the second surface part.
  • first to third wiring formation layers 36 to 38 On the first surface portions of the first to third wiring formation layers 36 to 38, a plurality of the first and second wirings 17 and 18 described above and the third to sixth wirings 19 to 22 and the ground wiring 23 described later are formed. The wiring portion is formed. In the first to third wiring formation layers 36 to 38, a plurality of vias penetrating each wiring formation layer are formed. Furthermore, mounting board 35 A common terminal 13, a ground terminal 14, a transmission signal terminal 15, and a reception signal terminal 16 are formed on the bottom surface.
  • the first wiring 17 circulates counterclockwise around the center in the longitudinal direction of the second wiring formation layer 37 and closer to the first side than the center in the width direction, and at the second end and in the width direction.
  • the first spiral wiring portion 55 formed to extend to a position closer to the first side than the center, and the center in the longitudinal direction of the third wiring formation layer 38 and closer to the first side than the center in the width direction
  • a second spiral wiring portion 70 formed around the position clockwise and extending to the first end and a position closer to the first side than the center in the width direction, and a third wiring forming layer 38
  • a third ground wiring portion 74 formed continuously with the first and second end portions and the second side portion, a tenth via 65 and an eleventh via 66 penetrating the second wiring formation layer 37, and a third A third ground via 79 penetrating the wiring forming layer 38 is included.
  • the matching circuit formed in a part of the first wiring 17 is constituted by the first spiral wiring portion 55, the second spiral wiring portion 70, and the tenth via 65 of the first wiring 17.
  • the end of the second spiral wiring portion 70 formed at the center in the direction and closer to the first side than the center in the width direction is connected via the tenth via 65.
  • the first wiring 17 is connected to the third ground wiring portion 74 through an eleventh via 66 that penetrates the second wiring formation layer 37.
  • the second wiring 18 includes a first wiring portion 40 formed closer to the first end than the central portion in the longitudinal direction of the first wiring forming layer 36 and in the central portion in the width direction, and the width direction of the second wiring forming layer 37.
  • a sixth wiring portion 56 formed to extend approximately in the longitudinal direction at a position near the center and closer to the first end than the longitudinal central portion, and the longitudinal central portion of the third wiring forming layer 38
  • a tenth wiring portion 71 formed closer to the second end and closer to the second side than the central portion in the width direction, a first via 46 penetrating the first wiring forming layer 36,
  • a sixth via 61 passing through the second wiring formation layer 37 and a twelfth via 75 penetrating through the third wiring formation layer 38 are included.
  • the first wiring portion 40 and the first end portion in the extending direction of the sixth wiring portion 56 are connected via the first via 46.
  • the second end portion in the extending direction of the sixth wiring portion 56 and the tenth wiring portion 71 are connected via the sixth via 61.
  • the second wiring 18 is formed in the central portion in the longitudinal direction of the bottom surface portion of the mounting substrate 35 and on the first side portion, and on the first and second end portions and excluding the second side portion. Connected to ground terminal 14.
  • the third wiring 19 includes a second wiring portion 41 formed at a position closer to the first end than the central portion in the longitudinal direction of the first wiring forming layer 36 and closer to the second side than the central portion in the width direction, A seventh wiring portion 57 formed at a position closer to the first end than the center in the longitudinal direction of the second wiring formation layer 37 and closer to the second side than the center in the width direction; and a third wiring formation layer 38 An eleventh wiring portion 72 formed closer to the first end than the central portion in the longitudinal direction and closer to the second side than the central portion in the width direction, and a second penetrating through the first wiring forming layer 36.
  • the fourth wiring 20 includes a third wiring portion 42 formed at a position closer to the first end than the central portion in the longitudinal direction of the first wiring forming layer 36 and closer to the first side portion than the central portion in the width direction.
  • Second wiring formation layer Eighth wiring portion 58 formed in the longitudinal center and on the first side of layer 37, second spiral wiring portion 70 formed in third wiring formation layer 38, and first wiring formation
  • a third via 48 that penetrates the layer 36, a seventh via 62 that penetrates the second wiring formation layer 37, and a fourteenth via 77 that penetrates the third wiring formation layer 38 are configured.
  • the fifth wiring 21 includes a fourth wiring portion 43 formed closer to the second end than the longitudinal center of the first wiring forming layer 36 and closer to the first side than the width central.
  • An eighth wiring portion 58 formed in the second wiring formation layer 37; a second spiral wiring portion 70 formed in the third wiring formation layer 38; a fourth via 49 penetrating the first wiring formation layer 36; A seventh via 62 penetrating the second wiring formation layer 37 and a fourteenth via 77 penetrating the third wiring formation layer 38 are included.
  • the sixth wiring 22 has a fifth wiring portion 44 formed closer to the second end than the longitudinal central portion of the first wiring forming layer 36 and closer to the second side than the width central portion.
  • a via 50, a ninth via 64 that penetrates the second wiring formation layer 37, and a fifteenth via 78 that penetrates the third wiring formation layer 38 are configured.
  • the ground wiring 23 includes a first ground wiring portion 45 formed over the entire circumference when viewed from the thickness direction of the first wiring formation layer 36, and first and second ends of the second wiring formation layer 37 and the second side.
  • a second ground via 67 passing through the layer 37 and a third ground via 79 penetrating the third wiring formation layer 38 are configured.
  • the transmission signal passes through the third wiring 19 and is input to the first signal input unit 25 of the transmission filter 11.
  • the signal output from the first signal output unit 26 of the transmission filter 11 passes through the fourth wiring 20, and is a central portion in the longitudinal direction of the bottom surface portion of the mounting substrate 35 and of the two side portions in the width direction. Output from the common terminal 13 formed on the first side.
  • the reception signal input to the common terminal 13 passes through the fifth wiring 21 and is input to the second signal input unit 30 of the reception filter 12.
  • the signal output from the second signal output unit 31 of the reception filter 12 passes through the sixth wiring 22 and is at the second end of the two ends in the longitudinal direction on the bottom surface of the mounting substrate 35 and Output from the reception signal terminal 16 formed on the second side.
  • a part L1 of the first wiring and a part L2 of the second wiring are formed in the same layer of the mounting substrate 35. Specifically, a part of the first spiral wiring part 55 corresponding to the part L1 of the first wiring and a part of the sixth wiring part 56 corresponding to the part L2 of the second wiring are connected to the second part. It is formed on the first surface portion of the wiring formation layer 37.
  • “part of the first spiral wiring portion 55” is denoted by the reference symbol “L1”
  • “part of the sixth wiring portion 56” is denoted by the reference symbol “L2”.
  • the angle formed by the extending direction of the part L1 of the first spiral wiring part 55 and the extending direction of the part L2 of the sixth wiring part 56 is The direction of the current flowing through part L1 of the first spiral wiring portion 55 and the direction of the current flowing through part L2 of the sixth wiring portion 56 are less than 90 degrees and 0 degrees in the present embodiment.
  • the first spiral wiring portion 55 and the sixth wiring portion 56 are formed on the first surface portion of the second wiring forming layer 37 so as to be opposite.
  • the extending direction of the part L1 of the first spiral wiring part 55 and the extending direction of the part L2 of the sixth wiring part 56 are the same, and the first spiral wiring part 55
  • the first spiral wiring part 55 and the sixth wiring part 56 are formed as the second wiring so that the direction of the current flowing in the part LI of the first wiring part and the direction of the current flowing in the part L2 of the sixth wiring part 56 are opposite.
  • the first surface portion of the layer 37 is formed.
  • the part L1 of the first spiral wiring part 55 and the part L2 of the sixth wiring part 56 are electromagnetically coupled.
  • part L1 of the first spiral wiring part 55 and the direction of the current flowing through the part L2 of the sixth wiring part 56 is opposite to the part of the first spiral wiring part 55.
  • the direction of the magnetic flux surrounding each of L1 and part L2 of L6 and the sixth wiring part 56 is opposite.
  • part L1 of the first spiral wiring part 55 and the sixth wiring part 56 Part L2 is designed to have a coupling coefficient of 0.3 and is electromagnetically coupled.
  • the first surface portion of the second wiring formation layer 37 is arranged so that the part L1 of the first spiral wiring part 55 and the part L2 of the sixth wiring part 56 can be electromagnetically coupled. 1 No other wiring is formed between part L1 of the spiral wiring part 55 and part L2 of the sixth wiring part 56.
  • the first spiral wiring portion 55 and the sixth wiring portion 56 are the same as the extending direction of the part L1 of the first spiral wiring portion 55 and the sixth wiring portion.
  • the angle formed by the extending direction of a part L2 of 56 on a predetermined virtual plane is 0 degree.
  • the extending direction of the part L1 of the first spiral wiring part 55 and the extending direction of the part L2 of the sixth wiring part 56 are the same. It is formed to become one.
  • first spiral wiring portion 55 and the sixth wiring portion 56 have a direction of a current flowing in a part L1 of the first spiral wiring part 55 and a direction of a current flowing in a part L2 of the sixth wiring part 56. Formed to be the opposite.
  • a series resonant circuit is formed by the mutual inductance formed by the capacitor of the transmission filter 11, the part LI of the first spiral wiring part 55 and the part L2 of the sixth wiring part 56, and the inductance of the sixth wiring part 56. Is formed.
  • the mutual inductance formed by the part L1 of the first spiral wiring part 55 and the part L2 of the sixth wiring part 56 increases, the mutual inductive coupling increases, and the part L1 of the first spiral wiring part 55 Since the direction of the flowing current is opposite to the direction of the current flowing through the part L2 of the sixth wiring portion 56, the resonance frequency of the series resonance circuit increases.
  • the reception filter The series resonance circuit can resonate outside the pass frequency band on the high frequency side of the transmission filter 11 having a pass frequency band lower than the pass frequency band of the filter 12, and an attenuation pole can be provided relatively easily. Can do. As a result, it is possible to increase the amount of attenuation outside the high frequency side pass frequency band of the transmission filter 11, in other words, in the high frequency side attenuation region, and to improve the attenuation characteristic.
  • the attenuation amount outside the pass frequency band on the high frequency side of the transmission filter 11 can be increased, the signal leakage from the transmission filter 11 to the reception filter 12 can be reduced as much as possible. It is possible to improve the isolation characteristics outside the high frequency side pass frequency band.
  • the part L1 of the first spiral wiring part 55 and the part L2 of the sixth wiring part 56 are the same layer of the mounting substrate 35, specifically the second layer.
  • the wiring forming layer 37 is formed. Therefore, compared to the case where part L1 of the first spiral wiring part 55 and part L2 of the sixth wiring part 56 are formed in different layers of the mounting board 35, the number of stacked mounting boards 35 can be reduced. Therefore, the mounting substrate 35 can be reduced in size in the thickness direction.
  • FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of communication apparatus 100 according to an embodiment of the present invention.
  • Communication device 100 is realized by a mobile phone, for example.
  • Communication device 100 It includes a communication unit 101, a control unit 102, a microphone 103, a speaker 104, and an operation unit 105.
  • the transmission / reception unit 101 includes an antenna 110, a duplexer 10, and a transmission / reception processing unit 111.
  • the transmission / reception processor 111 includes a digital signal processor (abbreviation: DSP) 115, a modulator 116, a first mixer 117, a local oscillator 118, a first band pass filter (hereinafter referred to as “first BPF”).
  • DSP digital signal processor
  • the control unit 102 is connected to the transmission / reception unit 101.
  • the microphone 103, the speaker 104, and the operation unit 105 are connected to the control unit 102.
  • the operation unit 105 includes a plurality of operation pieces such as operation keys operated by the operator. By operating each operation piece, the operation unit 105 generates a signal representing information corresponding to the operation, such as predetermined information such as numeric information, character information, and instruction information to the communication device body, and the control unit 102 To give. Therefore, the operator can give information to the communication device main body by operating each operation piece of the operation unit 105.
  • the control unit 102 is realized including, for example, a central processing unit (abbreviation: CPU), and based on a control program stored therein, the transmission / reception unit 101, the microphone 103, the speaker 104, and the operation General control of part 105.
  • CPU central processing unit
  • the operation unit 105 is operated by the operator, and the voice input to the microphone 103 is converted from an analog signal to a digital signal by the control unit 102 by an analog Z-digital (abbreviation: AZD) conversion process, and is given to the DSP 115.
  • the DSP 115 compresses the audio signal given from the control unit 102 and synchronizes the audio signal based on the time division multiple access (Time Division Multiple Access: TDMA) method, and then shapes the waveform to form a baseband signal. Is generated.
  • Modulator 116 converts the baseband signal into an analog signal by digital Z analog (abbreviation: DZA) conversion processing, and generates a modulated wave based on a predetermined modulation method of the mobile phone.
  • DZA digital Z analog
  • the first mixer unit 117 multiplies the oscillation signal having a predetermined oscillation frequency generated by the local oscillator 118 and the modulated wave supplied from the modulator 116 to perform frequency conversion.
  • unnecessary signals included in the signal frequency-converted by the first mixer unit 117 are attenuated, and then desired by the power amplifier 120.
  • the signal is amplified up to the signal strength of 1 and transmitted from the antenna 110 to another communication device through the duplexer 10.
  • the signal received by the antenna 110 is given to the low noise amplifier 121 through the duplexer 10 and amplified, and then the unnecessary signal included in the signal is attenuated by the second BPF 122 and given to the second mixer unit 123.
  • the second mixer unit 123 multiplies the oscillation signal having a predetermined transmission frequency generated by the local oscillator 118 and the signal supplied from the second BPF 122 to perform frequency conversion.
  • the LPF 124 removes an unnecessary frequency signal from the frequency-converted signal, passes a signal in a frequency band equal to or lower than a predetermined cutoff frequency, and applies the signal to the demodulator 125.
  • the demodulator 125 demodulates the signal given from the LPF 124 into a voice signal, converts the demodulated voice signal into a digital signal by AZD conversion processing, and gives it to the DSP 115.
  • the DSP 115 the compressed digital signal given from the demodulator 125 is decompressed and then converted into an analog signal by the DZA conversion process, and sound is output from the speaker 104.
  • transmission / reception processing section 111 provides antenna 110 connected to common terminal 13 by giving a signal to first signal input section 25 of duplexer 10.
  • a signal can be transmitted to another communication device via the network.
  • the transmission / reception processing unit 111 can receive a signal transmitted from another communication device by receiving a signal given from the second signal output unit 31 of the duplexer 10.
  • the communication device 100 can improve the attenuation characteristic outside the pass frequency band on the high frequency side of the transmission filter 11, and can improve the isolation characteristic outside the pass frequency band on the high frequency side of the transmission filter 11. Therefore, it is possible to realize a communication device 100 capable of transmitting and receiving an excellent signal without transmitting or receiving an unnecessary signal outside the pass frequency band. Can do.
  • FIG. 6A to 6G are diagrams showing the wiring structure of the mounting board 90.
  • FIG. 6A is a plan view seen from the thickness direction of the mounting substrate 90
  • FIG. 6B is a cross-sectional view showing the first wiring formation layer 36 seen from the cutting plane line A—A of FIG. 3
  • FIG. 6D is a cross-sectional view showing the second wiring formation layer 37 as viewed from section line B—B in FIG. 3
  • FIG. 6D is a cross-sectional view showing the second wiring formation layer 37 also viewed from the section line C—C force in FIG.
  • the 6E is a cross-sectional view showing the third wiring formation layer 38 in which the cutting plane line DD force of FIG.
  • FIG. 6F is the third wiring formation layer 38 in which the cutting plane line E—E force of FIG. 3 is also seen.
  • FIG. 6G is a bottom view showing the mounting substrate 90.
  • FIG. FIG. 7 is a cross-sectional view showing the wiring structure of the second and third wiring forming layers 37 and 38 in which the cutting plane line BB force of FIG. 3 is also seen.
  • the third wiring formation layer 38 is indicated by a solid line
  • the second wiring formation layer 37 is indicated by a two-dot chain line.
  • duplexer of the present embodiment is similar to the duplexer 10 of the first embodiment described above, only the different parts will be described, and the parts corresponding to the first embodiment will not be described. In order to avoid duplication, common explanations are omitted.
  • the mounting substrate 90 is formed by laminating the first to third wiring formation layers 36 to 38 in the order of the third wiring formation layer 38, the second wiring formation layer 37, and the first wiring formation layer 36.
  • a multilayer wiring board with a multi-layer structure which is realized by, for example, an LTCC board.
  • the second wiring 18 of the present embodiment includes a first wiring portion 40, a sixth wiring portion 56, a tenth wiring portion 71, a first via 46, and a sixth wiring.
  • the via 61 and the twelfth via 75 are included, but the formation positions are different.
  • the first wiring portion 40 of the present embodiment is formed closer to the first end than the central portion in the longitudinal direction of the first wiring forming layer 36 and in the central portion in the width direction.
  • the sixth wiring portion 56 is formed at a position closer to the first end than the longitudinal central portion of the second wiring forming layer 37 and closer to the second side than the width central portion.
  • the tenth wiring portion 71 is formed at the center in the longitudinal direction of the third wiring forming layer 38 and at a position closer to the second side than the center in the width direction.
  • the sixth via 61 of this embodiment is formed at a position closer to the second side than the sixth via 61 of the first embodiment.
  • the twelfth via 75 of the present embodiment is formed at a position closer to the second side and closer to the first end than the twelfth via of the first embodiment.
  • a part L1 of the first wiring and a part L2 of the second wiring are formed in different layers of the mounting substrate 35.
  • a part of the second spiral wiring portion 70 corresponding to the part L1 of the first wiring is formed in the third wiring forming layer 38, and a sixth wiring part corresponding to the part L2 of the second wiring.
  • a part of 56 is formed in the second wiring formation layer 37.
  • the “part of the second spiral wiring portion 70” is denoted by the reference symbol “L1”
  • the “part of the sixth wiring portion 56” is denoted by the reference symbol “L2”.
  • the section of FIG. As shown in Chillon XI, seeing the force in the thickness direction of the second and third wiring formation layers 37, 38, part L1 of the second spiral wiring part 70 and part L2 of the sixth wiring part 56 overlap.
  • the second spiral wiring portion 70 is formed in the third wiring forming layer 38
  • the sixth wiring portion 56 is formed in the second wiring forming layer 37.
  • a part of the second spiral wiring part 70 and a part of the sixth wiring part 56 are extended.
  • the angle formed by the extending direction of L2 is less than 90 degrees, 0 degrees in the present embodiment, and the direction of the current flowing in part L1 of the second spiral wiring portion 70 and one of the sixth wiring portions 56
  • the second spiral wiring portion 70 is formed in the third wiring forming layer 38 and the sixth wiring portion 56 is formed in the second wiring forming layer 37 so that the direction of the current flowing through the portion L2 is opposite. .
  • the extending direction of the part L1 of the second spiral wiring part 70 and the extending direction of the part L2 of the sixth wiring part 56 are the same, and a part of the second spiral wiring part 70
  • the second spiral wiring portion 70 is formed in the third wiring forming layer 38 so that the direction of the current flowing through L1 is opposite to the direction of the current flowing through part L2 of the sixth wiring portion 56, and the sixth wiring portion 56 is formed in the second wiring formation layer 37.
  • a part L1 of the second spiral wiring part 70 and a part L2 of the sixth wiring part 56 shown in section XI of FIG. 7 are electromagnetically coupled.
  • the direction of the current flowing in the part L1 of the second spiral wiring part 70 and the direction of the current flowing in the part L2 of the sixth wiring part 56 are opposite to each other.
  • the direction of the magnetic flux surrounding each of L1 and the part L2 of the sixth wiring part 56 is opposite.
  • the part L1 of the second spiral wiring part 70 and the part of the sixth wiring part 56 Part L2 is designed to have a coupling coefficient of 0.4 and is electromagnetically coupled.
  • the thicknesses of the second and third wiring forming layers 37 and 38 are set so that the part L1 of the second spiral wiring part 70 and the part L2 of the sixth wiring part 56 can be electromagnetically coupled. Do not form another wiring between part L1 of the second spiral wiring part 70 and part L2 of the sixth wiring part 56 in the direction.
  • the second spiral wiring portion 70 and the sixth wiring portion 56 are the same as the extending direction of the part L1 of the second spiral wiring portion 70 and the sixth wiring portion. Part of 56 It is formed so that the angle formed by the extending direction of L2 on a predetermined virtual plane is 0 degree. In other words, in the second spiral wiring portion 70 and the sixth wiring portion 56, the extending direction of the part L1 of the second spiral wiring part 70 and the extending direction of the part L2 of the sixth wiring part 56 are the same. Formed to be.
  • the part L1 of the second spiral wiring part 70 and the part L2 of the sixth wiring part 56 are the direction of the current flowing through the part L1 of the second spiral wiring part 70 and the part L2 of the sixth wiring part 56. It is formed so that the direction of the current flowing through
  • a series resonant circuit is formed by the mutual inductance formed by the capacitor of the transmission filter 11, the part L1 of the second spiral wiring part 70 and the part L2 of the sixth wiring part 56, and the inductance of the sixth wiring part 56. Is formed.
  • the mutual inductance formed by the part L1 of the second spiral wiring part 70 and the part L2 of the sixth wiring part 56 increases, the mutual inductive coupling increases, and the part L1 of the second spiral wiring part 70 increases. Since the direction of the flowing current is opposite to the direction of the current flowing through the part L2 of the sixth wiring portion 56, the resonance frequency of the series resonance circuit increases.
  • the reception filter The series resonance circuit can resonate outside the pass frequency band on the high frequency side of the transmission filter 11 having a pass frequency band lower than the pass frequency band of the filter 12, and an attenuation pole can be provided relatively easily. Can do. As a result, the attenuation amount outside the pass frequency band on the high frequency side of the transmission filter 11 can be increased, and the attenuation characteristic can be improved.
  • the attenuation amount outside the pass frequency band on the high frequency side of the transmission filter 11 can be increased, the signal leakage from the transmission filter 11 to the reception filter 12 can be reduced as much as possible. It is possible to improve the isolation characteristics outside the high frequency side pass frequency band.
  • the second spiral wiring portion 70 is also observed in the thickness direction of the second and third wiring forming layers 37, 38 (hereinafter referred to as “layer thickness direction”).
  • the second spiral wiring portion 70 is formed on the third wiring formation layer 38 so that the portion L1 of the first wiring portion L1 and the portion L2 of the sixth wiring portion 56 overlap, and the sixth wiring portion 56 is formed on the second wiring formation layer 37. Forming. In other words, a part L1 of the second spiral wiring part 70 and a part L2 of the sixth wiring part 56 are formed at a predetermined interval in the thickness direction of the layer.
  • the part L1 of the second spiral wiring part 70 and the part L2 of the sixth wiring part 56 are opposed to each other, in other words, from the thickness direction of the layer, compared to the case where they are formed in the same layer. As can be seen, the area where the part L1 of the second spiral wiring part 70 and the part L2 of the sixth wiring part 56 overlap can be increased.
  • the facing area is increased, and the second spiral wiring part 70 in the thickness direction of the layer is increased.
  • the distance between the part L1 and the part L2 of the sixth wiring part 56 may be reduced.
  • the second spiral wiring in the thickness direction of the layer increases as the facing area increases. It is necessary to increase the distance between part L1 of the part 70 and part L2 of the sixth wiring part 56.
  • the facing area can be increased in the present embodiment, the coupling between the part L1 of the second spiral wiring part 70 and the part L2 of the sixth wiring part 56 is made more than in the first embodiment. Further, the inductance can be increased and the inductance due to mutual inductive coupling can be easily adjusted.
  • the part L1 of the second spiral wiring part 70 and the part L2 of the sixth wiring part 56 are respectively different layers of the mounting substrate 35, specifically the third wiring. Formed on the formation layer 38 and the second wiring formation layer 37. Therefore, a portion L1 of the second spiral wiring portion 70 is formed as compared with a case where a portion L1 of the second spiral wiring portion 70 and a portion L2 of the sixth wiring portion 56 are formed in the same layer of the mounting substrate 35.
  • Third wiring formation layer 38 and the second 6 The area of the first surface portion of the second wiring forming layer 37 where the part L2 of the wiring part 56 is formed can be reduced. As a result, it is possible to reduce the size of the mounting substrate 35 in the direction perpendicular to the thickness direction.
  • the communication device 100 including the duplexer 10 has been described. However, instead of the duplexer 10, the communication device including the duplexer of the present embodiment is provided. As in the first embodiment described above, an unnecessary signal outside the pass frequency band is transmitted or received, and an excellent signal that does not need to be received or transmitted is transmitted and received. It is possible to realize a communication device 100 that can
  • LTCC is mainly made of alumina and has a dielectric constant of 9.4.
  • the thickness of each LTCC layer is 0.125 mm.
  • the surface of each layer is made of silver, and the minimum width of the electrode is 0.075 mm.
  • the diameter of the via for connecting the electrode formed on the surface of each layer is 0.1 mm, and the inside is filled with silver.
  • a filter with a pass frequency band of 824 MHz to 849 MHz was used as a transmit filter, and a filter with a pass frequency band of 869 MHz to 894 MHz was used as a receive filter.
  • the SAW element was formed using a thin film process.
  • a lithium tantalate (LiTaO) single crystal was used as the piezoelectric substrate 201 .
  • Ti titanium
  • main surface aluminum copper with a thickness of 130 nm is formed on the surface in the thickness direction of the Ti thin film.
  • Al—Cu Al—Cu thin films were formed, and these were alternately laminated in three layers to form a total of six TiZAl—Cu laminated films.
  • a photoresist was applied by a resist coating apparatus so that the thickness dimension was about 0.5 m.
  • a photoresist pattern was formed by a reduction projection exposure apparatus.
  • an unnecessary portion of the photoresist is dissolved with an alkaline developer using a developing device, and an electrode pattern is then processed using a reactive ion etching (abbreviation: RIE) device.
  • RIE reactive ion etching
  • a protective film was formed in a predetermined region of the electrode pattern. Specifically, a silica (310) film with a thickness of about 0.0111 is formed on the main surface of the electrode pattern and the piezoelectric substrate by a thermal vapor deposition (abbreviation: CVD) apparatus.
  • CVD thermal vapor deposition
  • the photoresist was patterned by photolithography, and the protective film of the flip-chip electrode portion was etched by an RIE apparatus or the like.
  • a multilayer electrode composed of chromium (Cr), nickel (Ni), and gold (Au) was formed using a sputtering apparatus. The thickness of the deposited laminated electrode was about 1 ⁇ m.
  • the photoresist and the laminated electrode at unnecessary portions were simultaneously removed by a lift-off method to form pads for connecting flip-chip bumps.
  • the piezoelectric substrate 201 was diced along dicing lines and divided into SAW element chips.
  • FIG. 8 is a diagram schematically showing the SAW element 200.
  • the SAW element 200 includes a transmission filter 11 and a reception filter 12.
  • the transmission filter 11 is a ladder type filter composed of series resonators 203a, 203b, 203c, and 203d that form series arms and parallel resonators 204a and 204b that form parallel arms.
  • the reception filter 12 is a ladder type finoletor constituted by series resonators 205a, 205b, 205c, and 205d that form series arms and parallel resonators 206a, 206b, 206c, and 206d that form parallel arms.
  • each chip and the mounting substrate 35 made of the LTCC substrate are arranged so that the electrode forming surface of each chip of the SAW element 200 faces the surface on which the electrode pattern of the LTCC substrate is printed.
  • nitrogen gas (N) atmosphere nitrogen gas (N) atmosphere
  • Betaing was performed in an atmosphere to melt the solder, thereby bonding the chips to the LTCC board.
  • a resin was applied to the LTCC substrate to which the chips were bonded, and beta was performed in an N atmosphere to seal the chips.
  • mount the mounting board 35 mount the mounting board 35.
  • Dicing was performed along the icing line and divided into a plurality of parts to produce the duplexer 10 of the present invention.
  • the matching circuit formed in a part of the first wiring 17 is composed of the first spiral wiring portion 55, the second spiral wiring portion 70 and the tenth via 65 of the first wiring 17, and its length dimension is 10.37 mm. Yes, the inductance is 7.9nH.
  • the length L1 of the first wiring part L1 is 0.5 mm, and the inductance is 0.25 nH.
  • the second wiring 18 includes a first wiring portion 40, a sixth wiring portion 56, a tenth wiring portion 71, a first via 46, a sixth via 61, and a twelfth via 75, and its length dimension. Is 1.0 mm and the inductance is 0.69 nH.
  • the length L2 of the second wiring part L2 is 0.55 mm, and the inductance is 0.33 nH.
  • the direction of the current flowing in the part L1 of the first wiring is opposite to the direction of the current flowing in the part L2 of the second wiring in the part L1 of the first wiring and the part L2 of the second wiring. It is arranged to become.
  • the distance between the part L1 of the first wiring and the part L2 of the second wiring is 0.075 mm
  • the mutual inductance is 0.12 nH
  • the coupling coefficient is 0.4.
  • the value of each inductance and the coupling coefficient is obtained using “Q 3D Extractor” which is simulation software made by Ansoft.
  • Attenuation characteristics and isolation characteristics were measured using the duplexer 10 manufactured by flip-chip mounting the SAW element 200 on the mounting substrate 35 having the configuration shown in FIGS. 4A to 4G.
  • the isolation characteristic is a characteristic of a signal leaking to one filter force and the other filter.
  • an RF signal is applied to the first signal input unit 25 of the transmission filter 11 and a signal from the second signal output unit 31 of the reception filter 12 is measured, whereby the first signal input unit 25 and the first signal input unit 25 are measured.
  • the isolation characteristics with the second signal output unit 31 were evaluated.
  • FIG. 9 shows the measurement results of the attenuation characteristics and isolation characteristics of the example.
  • the horizontal axis of the graph shown in Fig. 9 represents frequency (unit: MHz), and the vertical axis represents attenuation and isolation (unit: dB).
  • the attenuation characteristic of the transmission filter 11 is indicated by a thick solid line
  • the attenuation characteristic of the reception filter 12 is indicated by a thin solid line
  • the isolation characteristic is indicated by a broken line.
  • the duplexer of the present embodiment is outside the pass frequency band of the transmission filter 11 and in the pass frequency band of the reception filter 12, in other words, in the high frequency side attenuation band of the transmission filter 11. It can be seen that it has better attenuation characteristics and isolation characteristics than the duplexer of the comparative example described later.
  • the part L2 of the second wiring connected to the section 27 and the ground terminal 14 is such that the extending direction of the part L1 of the first wiring and the extending direction of the part L2 of the second wiring are not opposite to each other.
  • the part L1 of the first wiring and the part L2 of the second wiring are the direction of the current flowing through the part L1 of the first wiring and the direction of the current flowing through the part L2 of the second wiring.
  • the coupling coefficient between the part L1 of the first wiring and the part L2 of the second wiring is less than 0.1.
  • the structure of the mounting substrate 35 and the pass frequency bands of the transmission filter 11 and the reception filter 12 are the same as in the embodiment.
  • Fig. 10 shows the measurement results of the attenuation characteristics and isolation characteristics of the comparative example.
  • the horizontal axis of the graph shown in Fig. 10 represents frequency (unit: MHz), and the vertical axis represents attenuation and isolation (unit: dB).
  • the attenuation characteristic of the transmission filter 11 is indicated by a thick solid line
  • the attenuation characteristic of the reception filter 12 is indicated by a thin solid line
  • the isolation characteristic is indicated by a broken line.
  • the duplexer of the comparative example is described above in the pass frequency band of the receive filter 12 outside the pass frequency band of the transmit filter 11, in other words, in the attenuation region on the high frequency side of the transmit filter 11. It can be seen that the attenuation characteristic and the isolation characteristic are inferior to the duplexer of this embodiment.
  • Table 1 shows the measurement results of attenuation and isolation at 894 MHz in the high-frequency attenuation region of the transmission filter 11.
  • Comparative Example -35.3 -36.2 As shown in Table 1, the attenuation of the comparative example at 894 MHz, which is the high-frequency attenuation region of the transmission filter 11, is -35.3 dB, and the isolation of the comparative example is -36. 2dB. On the other hand, the attenuation amount of the embodiment at 894 MHz, which is the attenuation region on the high frequency side of the transmission filter 11, is ⁇ 48.3 dB, and the isolation is 46.3 dB. Therefore, the attenuation characteristics and isolation characteristics of the example were improved over the attenuation characteristics and isolation characteristics of the comparative example.
  • the length dimension in the longitudinal direction, the length dimension in the width direction, and the length dimension in the thickness direction of the duplexer 10 of the present invention are 2.5 mm, 2. Omm, and 0.8 mm, respectively.
  • a DMS (Double Mode SAW) type filter and an IIDT (Interdigitated Interdig ital Transducer) type filter are used as part of the force filter described in the case of using a ladder type filter as a filter. May be. That is, the expression of the present invention is conditional on having parallel arms, and the configuration of the filter is not particularly limited as long as it has parallel arms.

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Abstract

 本発明は、通過周波数帯域が異なる2つのフィルタのうち通過周波数帯域が低いフィルタの高周波側の通過周波数帯域外における減衰特性およびアイソレーション特性を向上することができる分波器およびこれを備える通信装置に関する。第1螺旋配線部分55の一部L1の延在方向と第6配線部分56の一部L2の延在方向とが予め定める仮想一平面上において成す角度がたとえば0度になるように、かつ第1螺旋配線部分55の一部に流れる電流の向きと、第6配線部分56の一部L2に流れる電流の向きとが反対になるように、第1螺旋配線部分55および第6配線部分56を形成する。

Description

分波器および通信装置
技術分野
[0001] 本発明は、通過周波数帯域が異なる複数のフィルタを有する分波器およびこれを 備える通信装置に関する。
背景技術
[0002] 携帯型の通信端末装置に用いられるフィルタに対して、小形ィ匕および軽量ィ匕を図 ることが要求されており、さらに通過周波数帯域では低損失であり、通過周波数帯域 外では減衰量が大き!、特性を有し、かつ通過周波数帯域から通過周波数帯域外に かけての周波数特性の変化が急峻であることが要求されている。
また送信周波数帯の信号と、受信側周波数帯の信号とを分離する分波器に対して も、小型および軽量であることが求められている。分波器に用いられる送信用フィルタ においては、送信周波数帯では低損失であり、受信周波数帯では高減衰であり、さ らに送信周波数帯力も受信周波数帯にかけての周波数特性の変化が急峻であるこ とが求められている。分波器に用いられる受信用フィルタにおいては、受信周波数帯 では低損失であり、送信周波数帯では高減衰であり、さらに受信周波数帯から送信 側周波数帯にかけての周波数特性の変化が急峻であることが求められている。さら に、分波器においては、送信端子力 受信端子へのアイソレーション特性が良好で あることが求められている。
従来、分波器としては、誘電体共振器フィルタを備えるものが用いられていたが、小 形化の要請から、弾性表面波(Surface Acoustic Wave ;略称: SAW)フィルタを備え る分波器および圧電薄膜共振子(Film Bulk Acoustic Resonator;略称: FBAR)フィ ルタを備える分波器が用いられるようになって 、る。
従来の SAWフィルタを備える分波器としては、特開 2002— 176337号公報に示さ れるように、送信用フィルタと受信用フィルタとの整合を取るために、送信用フィルタと 受信用フィルタとの間に整合回路として、ストリップ線路、分布定数線路、ならびにチ ップインダクタおよびチップキャパシタなどのチップ部品を配置して 、る。特開 2002 — 176337号公報では、整合回路が送信フィルタおよび受信フィルタと並んで配置さ れて 、るので、充分な小形化が図られて!/ヽな 、。
特開 2004— 336181号公報では、パッケージ本体の凹部の中に、圧電基板上に 励振電極を設けた SAWデバイスを実装し、ワイヤボンディング技術によって圧電基 板上の電極パターンとパッケージの端子部とを接続した後、その凹部をキャップなど によって気密封止することによって、 SAWフィルタを作製しており、ノ ッケージ本体に 整合回路を内蔵することによって、小形ィ匕を図っている。
この場合は、 SAWデバイスを形成する並列腕とパッケージの端子部とをボンディン グワイヤで接続することによって、ボンディングワイヤのインダクタンス成分を有効に用 いることによって、 SAWフィルタの通過周波数帯域外の減衰特性を向上することが 可能である。
パッケージをさらに小形化するために、チップサイズパッケージ(Chip Size Package ;略称: CSP)技術を積極的に活用し、基板上に形成された SAWデバイスを回路基 板上にフリップチップ実装することによって、ワイヤボンディングに必要なスペースお よび高さを削減することも提案されている。フリップチップ実装の場合、ボンディングヮ ィャで構成して 、たインダクタンス成分がなくなるので、回路基板にインダクタンス成 分を有する線路を設けることによって、通過周波数帯域外の減衰特性の向上を図る ことが可能である。特開 2003— 198325号公報では、パッケージ本体内に、整合回 路とインダクタンス成分とを有する線路を配置し、かつ、互いの回路が干渉しないよう に配置している。具体的には、整合回路をパッケージの内層で形成し、インダクタン ス成分を有する線路を整合回路から遠ざけた場所で引き回し、パッケージ外周のキ ヤスタレーシヨンによってグランドに接続している。また、整合回路と他の回路との干 渉を抑えるために、整合回路の上層にグランド層を配置している。このため、充分な 低背化および小形ィ匕が図れて 、な 、。
図 11は、従来の技術の分波器 1の構成を示す図である。分波器 1は、通過周波数 帯域が異なる第 1フィルタ 2および第 2フィルタ 3を含んで構成される。第 1フィルタ 2お よび第 2フィルタ 3は、共通接続点 Pに接続されており、共通接続点 Pにはアンテナ端 子 4が接続されている。たとえば、第 1フィルタ 2が送信周波数帯を通過させるフィルタ (以下、「Txフィルタ 2」という)であり、第 2フィルタ 3が受信周波数帯を通過させるフィ ルタ(以下、「Rxフィルタ 3」という)であるとき、不図示の送信回路から送信信号端子 5 に与えられる送信信号は、 Txフィルタ 2を通過してアンテナ端子 4から不図示のアン テナに与えられ、他の通信装置に送信される。またアンテナで受信されてアンテナ端 子 4に入力された受信信号は、 Rxフィルタ 3を通過して、受信信号端子 6から不図示 の受信回路へ与えられる。
分波器 1では、たとえば送信回路カゝら送信信号端子 5に与えられた送信信号の一 部が、 Txフィルタ 2を通過して共通接続点 Pから Rxフィルタ 3に漏洩してしまう。そこ で、アンテナ端子 4と各フィルタ 2, 3との間、さらに述べるとアンテナ端子 4と共通接 続点 Pとの間に、整合回路 7が設けられる。整合回路 7によって、受信周波数帯では アンテナ端子 4から見た送信回路のインピーダンスがほぼ無限大となるように、また送 信周波数帯では送信回路力 見た受信回路のインピーダンスがほぼ無限大となるよ うにすることができる。
従来の技術では、 SAWフィルタを小形ィ匕し、かつ通過周波数帯域外の減衰特性 を良好に保っために、 SAWデバイスを形成する並列腕とグランドとの間に、インダク タンス成分を有するワイヤーおよび線路などを設ける手法が用いられて 、る。分波器 にお 、ても、通過周波数帯域外の減衰特性およびアイソレーション特性を改善する ために前述の手法が用いられている力 CSP技術を用いて製造される分波器は、ヮ ィャボンディング技術を用いて製造される分波器とは異なり、インダクタンス成分を有 するボンディングワイヤを用いることができな 、ので、回路基板にインダクタンス成分 を有する線路を設ける必要がある。
しかし、分波器を構成する回路基板には、入出力電極、グランド電極および整合回 路が配設されるので、インダクタンス成分を有する充分な長さの線路を設けることが 困難であり、所望の減衰特性とアイソレーション特性とを満足できないという問題があ る。
発明の開示
本発明の目的は、通過周波数帯域が異なる 2つのフィルタのうち通過周波数帯域 が低いフィルタの高周波側の通過周波数帯域外における減衰特性およびアイソレー シヨン特性を向上することができる分波器およびこれを備える通信装置を提供するこ とである。
本発明は、第 1信号入力部と、第 1信号出力部と、共振子およびキャパシタの少なく ともいずれか一方を含んで構成される並列腕に接続される第 1グランド部とを備え、 予め定める通過周波数帯域を有する第 1フィルタと、
第 2信号入力部と、第 2信号出力部と、第 2グランド部とを備え、前記第 1フィルタの 通過周波数帯域よりも高い通過周波数帯域を有する第 2フィルタと、
前記第 1信号出力部と前記第 2信号入力部とが接続される共通端子と、 前記第 1信号出力部および前記第 2信号入力部に接続される第 1配線と、 前記第 1グランド部に接続される第 2配線と、
前記第 1および第 2配線、ならびに前記第 2グランド部にそれぞれ接続され、グラン ド電位が与えられるグランド端子とを含み、
前記第 1配線の一部の延在方向と前記第 2配線の一部の延在方向とが予め定める 仮想一平面上において成す角度のうち一方の角度は、 90度未満に選ばれ、かつ前 記第 1配線の前記一部に流れる電流の向きと、前記第 2配線の前記一部に流れる電 流の向きとが反対になるように、前記第 1および第 2配線が形成されることを特徴とす る分波器である。
また本発明において、前記第 1フィルタ、前記第 2フィルタ、前記共通端子、前記第 1配線、前記第 2配線および前記グランド端子が設けられる多層配線基板をさらに含 み、
前記第 1配線の前記一部および前記第 2配線の前記一部は、前記多層配線基板 の同一の層に形成されることを特徴とする。
また本発明にお!、て、前記第 1配線の前記一部および前記第 2配線の前記一部は 、前記多層配線基板の異なる層に形成されることを特徴とする。
また本発明は、前述の分波器と、
前記共通端子に接続されるアンテナと、
前記第 1信号入力部に信号を与え、前記第 2信号出力部から信号が与えられる送 受信処理部とを含むことを特徴とする通信装置である。 本発明によれば、第 1フィルタは、第 1信号入力部と、第 1信号出力部と、共振子お よびキャパシタの少なくともいずれか一方を含んで構成される並列腕に接続される第
1グランド部とを備え、予め定める通過周波数帯域を有する。第 2フィルタは、第 2信 号入力部と、第 2信号出力部と、第 2グランド部とを備え、第 1フィルタの通過周波数 帯域よりも高い通過周波数帯域を有する。第 1信号出力部と第 2信号入力部とは、共 通端子に接続される。第 1信号出力部および第 2信号入力部には第 1配線が接続さ れ、第 1グランド部には第 2配線が接続される。第 1および第 2配線、ならびに第 2ダラ ンド部には、グランド端子がそれぞれ接続され、グランド電位が与えられる。
第 1配線および第 2配線は、第 1配線の一部の延在方向と第 2配線の一部の延在 方向とが予め定める仮想一平面上において成す角度のうち一方の角度が 90度未満 に選ばれ、かつ前記第 1配線の前記一部に流れる電流の向きと、前記第 2配線の前 記一部に流れる電流の向きとが反対になるように形成される。ここで、前記第 1配線 の前記一部に流れる電流の向きと、前記第 2配線の前記一部に流れる電流の向きと が反対になるとは、前記第 1配線の前記一部および前記第 2配線の前記一部をそれ ぞれ取囲む磁束の向きが反対になることをいう。
前記第 1配線の前記一部と前記第 2配線の前記一部とを近づけると、相互誘導結 合が大きくなり、前記第 1配線の前記一部に流れる電流の向きと、前記第 2配線の前 記一部に流れる電流の向きとが反対、換言すると、前記第 1配線の前記一部および 前記第 2配線の前記一部をそれぞれ取囲む磁束の向きが反対であるので、磁束を 打消し合 、、前記第 2配線のインダクタンスが見かけ上小さくなる。
前記第 1フィルタの並列腕を構成する共振子およびキャパシタの少なくともいずれ か一方と、前記第 1配線の前記一部および前記第 2配線の前記一部によって形成さ れる相互インダクタンスと、前記第 2配線のインダクタンスとによって、直列共振回路 が形成される。前記第 1配線の前記一部および前記第 2配線の前記一部によって形 成される相互インダクタンスが大きくなると、相互誘導結合が大きくなり、前記第 1配線 の前記一部に流れる電流の向きと、前記第 2配線の前記一部に流れる電流の向きと が反対であるので、前記直列共振回路の共振周波数は上がる。
前述のように第 1配線および第 2配線を形成することによって、前記第 1フィルタの 高周波側の予め定める通過周波数帯域外で前記直列共振回路を共振させることが でき、比較的容易に減衰極を設けることができる。これによつて第 1フィルタの高周波 側の通過周波数帯域外における減衰量を大きくすることができ、減衰特性を向上す ることができる。さらに第 1フィルタの高周波側の通過周波数帯域外における減衰量 を大きくすることができるので、第 1フィルタの高周波側の通過周波数帯域外におけ るアイソレーション特性を向上することができる。
本発明によれば、第 1フィルタ、第 2フィルタ、共通端子、第 1配線、第 2配線および グランド端子は、多層配線基板に設けられる。前記第 1配線の前記一部および前記 第 2配線の前記一部は、多層配線基板の同一の層に形成される。したがって前記第 1配線の前記一部および前記第 2配線の前記一部が、多層配線基板の異なる層に それぞれ形成される場合に比べて、積層数を低減することができ、多層配線基板の 厚み方向への小形ィ匕を図ることができる。
本発明によれば、前記第 1配線の前記一部および前記第 2配線の前記一部は、多 層配線基板の異なる層に形成される。これによつて前記第 1配線の前記一部および 前記第 2配線の前記一部が多層配線基板の同一の層に形成される場合に比べて、 前記第 1配線の前記一部および前記第 2配線の前記一部が形成され、多層配線基 板の厚み方向に直交する層の一表面部の面積を小さくすることができる。これによつ て多層配線基板の厚み方向に直交する方向の小形ィ匕を図ることができる。
本発明によれば、アンテナは、前記共通端子に接続される。送受信処理部は、分 波器の第 1信号入力部に信号を与えることによって、共通端子に接続されるアンテナ を介して他の通信装置に信号を送信する。また送受信処理部は、分波器の第 2信号 出力部から与えられる信号を受け取ることによって、他の通信装置から送信された信 号を受信する。通信装置には、第 1フィルタの高周波側の通過周波数帯域外におけ る減衰特性を向上することができるとともに、第 1フィルタの高周波側の通過周波数帯 域外におけるアイソレーション特性を向上することができる分波器が備えられるので、 通過周波数帯域外の不要な信号を送信したり、または受信したりすることなぐ品質 の優れた信号の送受信をすることができる通信装置を実現することができる。
図面の簡単な説明 [0004] 本発明の目的、特色、および利点は、下記の詳細な説明と図面とからより明確にな るであろう。
図 1は、本発明の第 1の実施の形態である分波器 10の構成を示す図である。
図 2は、第 1および第 2フィルタ 11, 12の構成を示す図である。
図 3は、実装基板 35を模式的に示す断面図である。
図 4A〜図 4Gは、実装基板 35の配線構造を示す図である。
図 5は、本発明の実施の一形態である通信装置 100の構成を示すブロック図である 図 6A〜図 6Gは、実装基板 90の配線構造を示す図である。
図 7は、図 3の切断面線 B— Bから見た第 2および第 3配線形成層 37, 38の配線構 造を示す断面図である。
図 8は、 SAW素子 200を模式的に示す図である。
図 9は、実施例の減衰特性およびアイソレーション特性の測定結果を示すグラフで ある。
図 10は、比較例の減衰特性およびアイソレーション特性の測定結果を示すグラフ である。
図 11は、従来の技術の分波器 1の構成を示す図である。
発明を実施するための最良の形態
[0005] 以下図面を参考にして本発明の好適な実施例を詳細に説明する。
図 1は、本発明の第 1の実施の形態である分波器 10の構成を示す図である。図 2は 、第 1および第 2フィルタ 11, 12の構成を示す図である。分波器 10は、不図示のアン テナと不図示の送受信処理部との間に設けられる。分波器 10は、第 1フィルタ 11、第 2フィルタ 12、共通端子 13、グランド端子 14、送信信号端子 15、受信信号端子 16、 第 1配線 17、第 2配線 18、第 3配線 19、第 4配線 20、第 5配線 21、第 6配線 22およ び接地配線 23を含んで構成される。
第 1フィルタ 11は、第 1信号入力部 25、第 1信号出力部 26および第 1グランド部 27 を含む。第 2フィルタ 12は、第 2信号入力部 30、第 2信号出力部 31および第 2グラン ド部 32を含む。本実施の形態の第 1および第 2フィルタ 11, 12は、図 2に示すような ラダー(ladder)型フィルタによって構成される。ラダー型フィルタは、複数のフィルタ 構成素子が、直列および並列に交互に接続されている。ラダー型フィルタの基本区 間 IIは、直列腕を形成する第 1フィルタ構成素子 F1および並列腕を形成する第 2フィ ルタ構成素子 F2によって構成される。本実施の形態の第 1および第 2フィルタ 11, 1 2は、第 1および第 2フィルタ構成素子 Fl, F2が、弾性表面波(Surface Acoustic Wa ve;略称: SAW)共振子によって構成される SAWフィルタによって実現される。第 1 および第 2フィルタ 11, 12は、第 1フィルタ構成素子 F1が SAW共振子によって構成 され、第 2フィルタ構成素子 F2がキャパシタによって構成されるフィルタによって実現 されてもよい。また、第 2フィルタ構成素子 F2に直列または並列に、インダクタンス素 子またはインダクタンス成分を有する線路が接続されて ヽてもよ ヽ。
本実施の形態において、第 1フィルタ 11は、予め定める通過周波数帯域、具体的 には 824MHzから 849MHzの通過周波数帯域を有する送信フィルタとして用いら れ、第 2フィルタ 12は、第 1フィルタ 11の通過周波数帯域よりも高い通過周波数帯域 、具体的には 869MHzから 894MHzの通過周波数帯域を有する受信フィルタとし て用いられる。以下の説明では、第 1フィルタ 11を「送信フィルタ 11」、第 2フィルタ 12 を「受信フィルタ 12」という場合がある。
第 1信号出力部 26と第 2信号入力部 30とは、共通接続点 CPに接続されており、共 通接続点 CPにはアンテナ端子である共通端子 13が接続されている。第 1配線 17は 、共通端子 13、第 1信号出力部 26および第 2信号入力部 30に接続される。第 1配線 17の一部分には、送信フィルタ 11と受信フィルタ 12との干渉を低減して、所望のフィ ルタ特性を得るための整合回路が形成される。第 2配線 18は、第 1グランド部 27に接 続される。第 1および第 2配線 17, 18ならびに第 2グランド部 32には、グランド端子 1 4がそれぞれ接続され、グランド電位が与えられる。
第 1配線 17および第 2配線 18は、第 1配線の一部 L1の延在方向と、第 2配線の一 部 L2の延在方向とが予め定める仮想一平面上において成す角度のうち一方の角度 力 90度未満に選ばれ、かつ第 1配線の一部 L1に流れる電流の向き IIと、第 2配線 の一部 L2に流れる電流の向き 12とが反対になるように形成される。図 1では、第 1配 線の一部 L1の延在方向と、第 2配線の一部 L2の延在方向とが予め定める仮想一平 面上において成す角度が 0度、つまり第 1配線の一部 LIの延在方向と第 2配線の一 部 L2の延在方向とが同一である場合を示している。本実施の形態では、前記のよう に第 1配線 17および第 2配線 18を設けることによって、第 1配線の一部 L1と第 2配線 の一部 L2とを電磁気的に結合させている。
ここで、第 1配線の一部 L1に流れる電流の向き IIと、第 2配線の一部 L2に流れる 電流の向き 12とが反対になるとは、第 1配線の一部 L1および第 2配線の一部 L2をそ れぞれ取囲む磁束の向きが反対になることをいう。第 1配線の一部 L1および第 2配 線の一部 L2をそれぞれ取囲む磁束の向きが反対になっていると、磁束を打消し合う ため、第 2配線 18のインダクタンスが見かけ上小さくなる。
また第 1配線の一部 L1と第 2配線の一部 L2との間には、第 1配線 17および第 2配 線 18を形成する電極以外の電極を配設しないようにしている。さらに述べると、予め 定める仮想一平面上において第 1配線の一部 L1と第 2配線の一部 L2とが隣接して 対向する対向部を形成するように構成している。これによつて、第 1配線の一部 L1お よび第 2配線の一部 L2をそれぞれ取囲む磁束が互いに影響を及ぼし合い、第 1配 線の一部 L 1と第 2配線の一部 L2とが良好に電磁気的に結合できるようにして!/、る。 第 1配線の一部 L1は、幅寸法がたとえば 50 m以上 150 m未満程度に選ばれ 、配線長がたとえば 0. 3mm以上 2mm未満程度に選ばれる。第 2配線の一部 L2は 、幅寸法がたとえば 50 m以上 150 m未満程度に選ばれ、配線長がたとえば 0. 2 mm以上 1. 5mm未満程度に選ばれる。第 1配線の一部 L1と第 2配線の一部 L2との 結合係数は、たとえば 0. 4に選ばれる。結合係数は、好ましくは 0. 1以上 0. 6未満 である。
第 3配線 19は、送信信号端子 15と第 1信号入力部 25とを接続する。第 4配線 20は 、第 1信号出力部 26と共通端子 13とを接続する。第 5配線 21は、第 2信号入力部 30 と共通端子 13とを接続し、共通端子 13と共通接続点 CPとを接続する部分が、第 4配 線 20と共通している。第 6配線 22は、受信信号端子 16と第 2信号出力部 31とを接続 する。接地配線 23は、第 2グランド部 32とグランド端子 14とを接続する。接地配線 23 の一部分は、第 1配線の一部 L1およびグランド端子 14間の配線と共通している。 本実施の形態の分波器 10は、送信フィルタ 11および受信フィルタ 12を含んで構 成されるフィルタ装置を、実装基板 35にフリップチップ実装することによって形成され る。
図 3は、実装基板 35を模式的に示す断面図である。図 4A〜図 4Gは、実装基板 3 5の配線構造を示す図である。図 4Aは、実装基板 35の厚み方向から見た平面図で あり、図 4Bは図 3の切断面線 A— Aから見た第 1配線形成層 36を示す断面図であり 、図 4Cは図 3の切断面線 B— Bから見た第 2配線形成層 37を示す断面図であり、図 4Dは、図 3の切断面線 C— Cから見た第 2配線形成層 37を示す断面図である。図 4 Eは、図 3の切断面線 D—D力も見た第 3配線形成層 38を示す断面図であり、図 4F は図 3の切断面線 E—Eから見た第 3配線形成層 38を示す断面図であり、図 4Gは実 装基板 35を示す底面図である。
実装基板 35は、 3つの層が積層される多層構造の多層配線基板であり、たとえば 低温同時焼成セラミックス(Low Temperature Co-fired Ceramics;略称: LTCC)基板 によって実現される。 LTCCの主原料としてはアルミナを用いており、比誘電率は 6以 上 18未満程度である。また実装基板 35は、ガラスエポキシ榭脂、エポキシ榭脂およ びポリイミド榭脂などの榭脂材料を用いた榭脂基板によって実現されてもよぐ前記 榭脂材料の比誘電率は 3以上 8未満程度である。実装基板 35は、第 1配線形成層 3 6、第 2配線形成層 37および第 3配線形成層 38を含む。実装基板 35は、第 1〜第 3 配線形成層 36〜38が、第 3配線形成層 38、第 2配線形成層 37および第 1配線形成 層 36の順に積層されている。
第 1〜第 3配線形成層 36〜38は、これらの厚み方向に垂直な仮想平面に投影した 形状が長方形状に形成される。以下の説明において、第 1〜第 3配線形成層 36〜3 8の長手方向の 2つの端部をそれぞれ第 1端部および第 2端部といい、第 1〜第 3配 線形成層 36〜38の幅方向の 2つの側部をそれぞれ第 1側部および第 2側部といい、 第 1〜第 3配線形成層 36〜38の厚み方向の 2つの表面部をそれぞれ第 1表面部お よび第 2表面部という。第 1〜第 3配線形成層 36〜38の第 1表面部には、前述の第 1 および第 2配線 17, 18ならびに後述する第 3〜第 6配線 19〜22および接地配線 23 を構成する複数の配線部分が形成されている。また第 1〜第 3配線形成層 36〜38 には、各配線形成層を貫通する複数のビアが形成されている。さらに実装基板 35の 底面部には、共通端子 13、グランド端子 14、送信信号端子 15および受信信号端子 16が形成されている。
第 1配線 17は、第 2配線形成層 37の長手方向中央部でかつ幅方向中央部よりも 第 1側部寄りの位置を中心として反時計まわりに周回し、第 2端部でかつ幅方向中央 部よりも第 1側部寄りの位置まで延びて形成される第 1螺旋配線部分 55と、第 3配線 形成層 38の長手方向中央部でかつ幅方向中央部よりも第 1側部寄りの位置を中心 として時計まわりに周回し、第 1端部でかつ幅方向中央部よりも第 1側部寄りの位置ま で延びて形成される第 2螺旋配線部分 70と、第 3配線形成層 38の第 1および第 2端 部と第 2側部とに連なって形成される第 3接地配線部分 74と、第 2配線形成層 37を 貫通する第 10ビア 65および第 11ビア 66と、第 3配線形成層 38を貫通する第 3接地 ビア 79とを含んで構成される。第 1配線 17の一部分に形成される整合回路は、第 1 配線 17の第 1螺旋配線部分 55、第 2螺旋配線部分 70および第 10ビア 65によって 構成される。第 2配線形成層 37の長手方向中央部でかつ幅方向中央部よりも第 1側 部寄りの位置に形成される第 1螺旋配線部分 55の端部と、第 3配線形成層 38の長 手方向中央部でかつ幅方向中央部よりも第 1側部寄りの位置に形成される第 2螺旋 配線部分 70の端部とは、第 10ビア 65を介して接続される。第 1配線 17は、第 2配線 形成層 37を貫通する第 11ビア 66を介して第 3接地配線部分 74に接続される。 第 2配線 18は、第 1配線形成層 36の長手方向中央部よりも第 1端部寄りでかつ幅 方向中央部に形成される第 1配線部分 40と、第 2配線形成層 37の幅方向中央付近 部でかつ長手方向中央部よりも第 1端部寄りの位置に、大略的に長手方向に延びる ように形成される第 6配線部分 56と、第 3配線形成層 38の長手方向中央部よりも第 2 端部寄りで、かつ幅方向中央部よりも第 2側部寄りの位置に形成される第 10配線部 分 71と、第 1配線形成層 36を貫通する第 1ビア 46と、第 2配線形成層 37を貫通する 第 6ビア 61と、第 3配線形成層 38を貫通する第 12ビア 75とを含んで構成される。第 1配線部分 40と、第 6配線部分 56の延び方向の第 1端部とは、第 1ビア 46を介して 接続される。第 6配線部分 56の延び方向の第 2端部と、第 10配線部分 71とは、第 6 ビア 61を介して接続される。第 2配線 18は、実装基板 35の底面部の長手方向中央 部でかつ第 1側部と、第 1および第 2端部でかつ第 2側部を除く部分とに形成される グランド端子 14に接続される。
第 3配線 19は、第 1配線形成層 36の長手方向中央部よりも第 1端部寄りでかつ幅 方向中央部よりも第 2側部寄りの位置に形成される第 2配線部分 41と、第 2配線形成 層 37の長手方向中央部よりも第 1端部寄りでかつ幅方向中央部よりも第 2側部寄りの 位置に形成される第 7配線部分 57と、第 3配線形成層 38の長手方向中央部よりも第 1端部寄りでかつ幅方向中央部よりも第 2側部寄りの位置に形成される第 11配線部 分 72と、第 1配線形成層 36を貫通する第 2ビア 47と、第 2配線形成層 37を貫通する 第 8ビア 63と、第 3配線形成層 38を貫通する第 13ビア 76とを含んで構成される。 第 4配線 20は、第 1配線形成層 36の長手方向中央部よりも第 1端部寄りでかつ幅 方向中央部よりも第 1側部寄りの位置に形成される第 3配線部分 42と、第 2配線形成 層 37の長手方向中央部でかつ第 1側部に形成される第 8配線部分 58と、第 3配線 形成層 38に形成される第 2螺旋配線部分 70と、第 1配線形成層 36を貫通する第 3ビ ァ 48と、第 2配線形成層 37を貫通する第 7ビア 62と、第 3配線形成層 38を貫通する 第 14ビア 77とを含んで構成される。
第 5配線 21は、第 1配線形成層 36の長手方向中央部よりも第 2端部寄りでかつ幅 方向中央部よりも第 1側部寄りの位置に形成される第 4配線部分 43と、第 2配線形成 層 37に形成される第 8配線部分 58と、第 3配線形成層 38に形成される第 2螺旋配線 部分 70と、第 1配線形成層 36を貫通する第 4ビア 49と、第 2配線形成層 37を貫通す る第 7ビア 62と、第 3配線形成層 38を貫通する第 14ビア 77とを含んで構成される。 第 6配線 22は、第 1配線形成層 36の長手方向中央部よりも第 2端部寄りでかつ幅 方向中央部よりも第 2側部寄りの位置に形成される第 5配線部分 44と、第 2配線形成 層 37の長手方向中央部よりも第 2端部寄りでかつ幅方向中央部よりも第 2側部寄りの 位置に形成される第 9配線部分 59と、第 3配線形成層 38の長手方向中央部よりも第 2端部寄りでかつ幅方向中央部よりも第 2側部寄りの位置に形成される第 12配線部 分 73と、第 1配線形成層 36を貫通する第 5ビア 50と、第 2配線形成層 37を貫通する 第 9ビア 64と、第 3配線形成層 38を貫通する第 15ビア 78とを含んで構成される。 接地配線 23は、第 1配線形成層 36の厚み方向から見てその全周にわたって形成 される第 1接地配線部分 45と、第 2配線形成層 37の第 1および第 2端部と第 2側部と に形成される第 2接地配線部分 60と、第 3配線形成層 38に形成される第 3接地配線 部分 74と、第 1配線形成層 36を貫通する第 1接地ビア 51と、第 2配線形成層 37を貫 通する第 2接地ビア 67と、第 3配線形成層 38を貫通する第 3接地ビア 79とを含んで 構成される。
実装基板 35の底面部における長手方向の 2つの端部のうちの第 1端部でかつ幅方 向の 2つの側部のうちの第 2側部に形成される送信信号端子 15に入力された送信信 号は、第 3配線 19を通過して送信フィルタ 11の第 1信号入力部 25に入力する。送信 フィルタ 11の第 1信号出力部 26から出力された信号は、第 4配線 20を通過して、実 装基板 35の底面部における長手方向中央部でかつ幅方向の 2つの側部のうちの第 1側部に形成される共通端子 13から出力される。
また共通端子 13に入力された受信信号は、第 5配線 21を通過して受信フィルタ 12 の第 2信号入力部 30に入力する。受信フィルタ 12の第 2信号出力部 31から出力さ れた信号は、第 6配線 22を通過して、実装基板 35の底面部における長手方向の 2 つの端部のうちの第 2端部でかつ第 2側部に形成される受信信号端子 16から出力さ れる。
本実施の形態では、第 1配線の一部 L1および第 2配線の一部 L2を、実装基板 35 の同一の層に形成している。具体的に述べると、第 1配線の一部 L1に相当する第 1 螺旋配線部分 55の一部と、第 2配線の一部 L2に相当する第 6配線部分 56の一部と を、第 2配線形成層 37の第 1表面部に形成している。以下、「第 1螺旋配線部分 55 の一部」に参照符号「L1」を付し、「第 6配線部分 56の一部」に参照符号「L2」を付し て説明する。
さらに述べると、第 2配線形成層 37の第 1表面部において、第 1螺旋配線部分 55 の一部 L1の延在方向と第 6配線部分 56の一部 L2の延在方向との成す角度が 90度 未満、本実施の形態では 0度になるように、かつ第 1螺旋配線部分 55の一部 L1に流 れる電流の向きと第 6配線部分 56の一部 L2に流れる電流の向きとが反対になるよう に、第 1螺旋配線部分 55および第 6配線部分 56を、第 2配線形成層 37の第 1表面 部に形成している。換言すれば、第 1螺旋配線部分 55の一部 L1の延在方向と第 6 配線部分 56の一部 L2の延在方向とが同一になるように、かつ第 1螺旋配線部分 55 の一部 LIに流れる電流の向きと第 6配線部分 56の一部 L2に流れる電流の向きとが 反対になるように、第 1螺旋配線部分 55および第 6配線部分 56を、第 2配線形成層 3 7の第 1表面部に形成している。これによつて第 1螺旋配線部分 55の一部 L1と第 6配 線部分 56の一部 L2とを電磁気的に結合させている。
ここで、第 1螺旋配線部分 55の一部 L1に流れる電流の向きと、第 6配線部分 56の 一部 L2に流れる電流の向きとが反対になるとは、第 1螺旋配線部分 55の一部 L1お よび第 6配線部分 56の一部 L2をそれぞれ取囲む磁束の向きが反対になることをいう 本実施の形態では、第 1螺旋配線部分 55の一部 L1と、第 6配線部分 56の一部 L2 とを、結合係数が 0. 3となるように設計して、電磁気的に結合させている。
本実施の形態では、第 1螺旋配線部分 55の一部 L1と、第 6配線部分 56の一部 L2 とが電磁気的に結合できるように、第 2配線形成層 37の第 1表面部における第 1螺旋 配線部分 55の一部 L1と第 6配線部分 56の一部 L2との間に、他の配線を形成しな いようにしている。
前述のように本実施の形態の分波器 10によれば、第 1螺旋配線部分 55および第 6 配線部分 56は、第 1螺旋配線部分 55の一部 L1の延在方向と第 6配線部分 56の一 部 L2の延在方向とが予め定める仮想一平面上において成す角度が 0度になるよう に形成される。換言すれば、第 1螺旋配線部分 55および第 6配線部分 56は、第 1螺 旋配線部分 55の一部 L1の延在方向と第 6配線部分 56の一部 L2の延在方向とが同 一になるように形成される。さらに第 1螺旋配線部分 55と第 6配線部分 56とは、第 1 螺旋配線部分 55の一部 L1に流れる電流の向きと、第 6配線部分 56の一部 L2に流 れる電流の向きとが反対になるように形成される。
第 1螺旋配線部分 55の一部 L1と第 6配線部分 56の一部 L2とを近づけると、相互 誘導結合が大きくなり、第 1螺旋配線部分 55の一部 L1に流れる電流の向きと、第 6 配線部分 56の一部 L2に流れる電流の向きとが反対、換言すると、第 1螺旋配線部 分 55の一部 L1および第 6配線部分 56の一部 L2をそれぞれ取囲む磁束の向きが反 対であるので、磁束を打消し合い、第 6配線部分 56のインダクタンスが見かけ上小さ くなる。 送信フィルタ 11のキャパシタと、第 1螺旋配線部分 55の一部 LIおよび第 6配線部 分 56の一部 L2によって形成される相互インダクタンスと、第 6配線部分 56のインダク タンスとによって、直列共振回路が形成される。第 1螺旋配線部分 55の一部 L1およ び第 6配線部分 56の一部 L2によって形成される相互インダクタンスが大きくなると、 相互誘導結合が大きくなり、第 1螺旋配線部分 55の一部 L1に流れる電流の向きと、 第 6配線部分 56の一部 L2に流れる電流の向きとが反対であるので、直列共振回路 の共振周波数は上がる。
前述のように第 1螺旋配線部分 55の一部 L1の延在方向と第 6配線部分 56の一部 L2の延在方向とが同一になるようにし、かつ第 1螺旋配線部分 55の一部 L1に流れ る電流の向きと、第 6配線部分 56の一部 L2に流れる電流の向きとが反対になるよう に第 1螺旋配線部分 55および第 6配線部分 56を形成することによって、受信フィル タ 12の通過周波数帯域よりも低 、通過周波数帯域を有する送信フィルタ 11の高周 波側の通過周波数帯域外で前記直列共振回路を共振させることができ、比較的容 易に減衰極を設けることができる。これによつて送信フィルタ 11の高周波側の通過周 波数帯域外、換言すると高周波側の減衰域における減衰量を大きくすることができ、 減衰特性を向上することができる。
さらに送信フィルタ 11の高周波側の通過周波数帯域外における減衰量を大きくす ることができるので、送信フィルタ 11から受信フィルタ 12への信号の漏洩を可及的に 小さくすることができ、送信フィルタ 11の高周波側の通過周波数帯域外におけるアイ ソレーシヨン特性を向上することができる。
また本実施の形態の分波器 10によれば、第 1螺旋配線部分 55の一部 L1および第 6配線部分 56の一部 L2は、実装基板 35の同一の層、具体的には第 2配線形成層 3 7に形成される。したがって第 1螺旋配線部分 55の一部 L1および第 6配線部分 56の 一部 L2が実装基板 35の異なる層にそれぞれ形成される場合に比べて、実装基板 3 5の積層数を低減することができ、実装基板 35の厚み方向への小形化を図ることが できる。
図 5は、本発明の実施の一形態である通信装置 100の構成を示すブロック図である 。通信装置 100は、たとえば携帯電話機によって実現される。通信装置 100は、送受 信部 101、制御部 102、マイクロフォン 103、スピーカ 104および操作部 105を含ん で構成される。送受信部 101は、アンテナ 110、分波器 10および送受信処理部 111 を含む。送受信処理部 111は、デジタル信号処理装置(Digital Signal Processor;略 称: DSP) 115、変調器 116、第 1ミキサ部 117、局部発振器 118、第 1バンドパスフィ ルタ(以下、「第 1BPF」という) 119、パワーアンプ 120、ローノイズアンプ 121、第 2バ ンドパスフィルタ(以下、「第 2BPF」という) 122、第 2ミキサ部 123、ローパスフィルタ( 以下、「LPF」という) 124および復調器 125を含む。制御部 102は、送受信部 101に 接続されている。マイクロフォン 103、スピーカ 104および操作部 105は、制御部 102 に接続されている。
操作部 105は、操作者が操作する操作キーなどの複数の操作片を有する。操作部 105は、各操作片が操作されることによって、数字情報、文字情報および通信装置 本体への指示情報などの所定の情報など、操作に応じた情報を表す信号を生成し て制御部 102に与える。したがって操作者は、操作部 105の各操作片を操作して、 通信装置本体に情報を与えることができる。制御部 102は、たとえば中央演算処理 装置(Central Processing Unit ;略称: CPU)を含んで実現され、その内部に記憶され る制御プログラムに基づいて、送受信部 101、マイクロフォン 103、スピーカ 104およ び操作部 105を統括的に制御する。
操作者によって操作部 105が操作され、マイクロフォン 103に入力された音声は、 制御部 102で、アナログ Zデジタル (略称: AZD)変換処理によってアナログ信号か らデジタル信号へ変換されて DSP115に与えられる。 DSP115では、制御部 102か ら与えられる音声信号の圧縮、および時分割多元接続(Time Division Multiple Acce ss ;略称: TDMA)方式に基づく音声信号の同期化をした後、波形整形してベースバ ンド信号を生成する。変調器 116では、ベースバンド信号を、デジタル Zアナログ (略 称: DZA)変換処理によってアナログ信号に変換し、携帯電話機の所定の変調方式 に基づいて変調波を生成する。第 1ミキサ部 117では、局部発振器 118によって生 成された予め定める発振周波数の発振信号と、変調器 116から与えられる変調波と を乗算して周波数変換をする。第 1BPF119では、第 1ミキサ部 117で周波数変換さ れた信号に含まれる不要な信号を減衰させ、その後パワーアンプ 120によって所望 の信号強度にまで信号を増幅し、分波器 10を通してアンテナ 110から他の通信装置 に対して送信する。
またアンテナ 110によって受信された信号は、分波器 10を通してローノイズアンプ 1 21に与えられて増幅された後、第 2BPF122によって信号に含まれる不要な信号が 減衰され、第 2ミキサ部 123に与えられる。第 2ミキサ部 123では、局部発振器 118に よって生成された予め定める発信周波数の発振信号と、第 2BPF122から与えられる 信号とを乗算して周波数変換をする。 LPF124では、周波数変換された信号カも不 要な周波数の信号を除去し、予め定める遮断周波数以下の周波数帯域の信号を通 過させて、復調器 125に与える。復調器 125では、 LPF124から与えられる信号を音 声信号に復調し、復調した音声信号を AZD変換処理によってデジタル信号に変換 し、 DSP115に与える。 DSP115では、復調器 125から与えられ、圧縮されているデ ジタル信号の伸長処理などをした後、 DZA変換処理によってアナログ信号に変換さ れ、スピーカ 104から音声が出力される。
前述のように本実施の形態の通信装置 100によれば、送受信処理部 111は、分波 器 10の第 1信号入力部 25に信号を与えることによって、共通端子 13に接続されるァ ンテナ 110を介して他の通信装置に信号を送信することができる。また送受信処理 部 111は、分波器 10の第 2信号出力部 31から与えられる信号を受け取ることによつ て、他の通信装置から送信された信号を受信することができる。通信装置 100には、 送信フィルタ 11の高周波側の通過周波数帯域外における減衰特性を向上すること ができるとともに、送信フィルタ 11の高周波側の通過周波数帯域外におけるアイソレ ーシヨン特性を向上することができる前述の分波器 10が備えられるので、通過周波 数帯域外の不要な信号を送信したり、または受信したりすることなぐ品質の優れた 信号の送受信をすることができる通信装置 100を実現することができる。
次に本発明の第 2の実施の形態の分波器に関して説明する。図 6A〜図 6Gは、実 装基板 90の配線構造を示す図である。図 6Aは、実装基板 90の厚み方向から見た 平面図であり、図 6Bは図 3の切断面線 A— Aから見た第 1配線形成層 36を示す断面 図であり、図 6Cは図 3の切断面線 B— Bから見た第 2配線形成層 37を示す断面図で あり、図 6Dは、図 3の切断面線 C— C力も見た第 2配線形成層 37を示す断面図であ る。図 6Eは、図 3の切断面線 D— D力も見た第 3配線形成層 38を示す断面図であり 、図 6Fは図 3の切断面線 E—E力も見た第 3配線形成層 38を示す断面図であり、図 6Gは実装基板 90を示す底面図である。図 7は、図 3の切断面線 B— B力も見た第 2 および第 3配線形成層 37, 38の配線構造を示す断面図である。図 7では、第 3配線 形成層 38を実線で示し、第 2配線形成層 37を二点鎖線で示して 、る。
本実施の形態の分波器は、前述の第 1の実施の形態の分波器 10と類似しているの で、異なる部分についてのみ説明し、第 1の実施の形態と対応する部分には同一の 参照符を付し、重複を避けるため、共通する説明は省略する。
実装基板 90は、実装基板 35と同様に、第 1〜第 3配線形成層 36〜38が、第 3配 線形成層 38、第 2配線形成層 37および第 1配線形成層 36の順に積層される多層構 造の多層配線基板であり、たとえば LTCC基板によって実現される。
本実施の形態の第 2配線 18は、第 1の実施の形態と同様に、第 1配線部分 40と、 第 6配線部分 56と、第 10配線部分 71と、第 1ビア 46と、第 6ビア 61と、第 12ビア 75と を含んで構成されるが、形成位置が異なる。本実施の形態の第 1配線部分 40は、第 1配線形成層 36の長手方向中央部よりも第 1端部寄りでかつ幅方向中央部に形成さ れる。第 6配線部分 56は、第 2配線形成層 37の長手方向中央部よりも第 1端部寄り で、かつ幅方向中央部よりも第 2側部寄りの位置に形成される。第 10配線部分 71は 、第 3配線形成層 38の長手方向中央部でかつ幅方向中央部よりも第 2側部寄りの位 置に形成される。本実施の形態の第 6ビア 61は、第 1の実施の形態の第 6ビア 61より も第 2側部寄りの位置に形成される。本実施の形態の第 12ビア 75は、第 1の実施の 形態の第 12ビアよりも第 2側部寄りでかつ第 1端部寄りの位置に形成される。
本実施の形態では、第 1配線の一部 L1および第 2配線の一部 L2を、実装基板 35 の異なる層に形成している。具体的に述べると、第 1配線の一部 L1に相当する第 2 螺旋配線部分 70の一部を第 3配線形成層 38に形成し、第 2配線の一部 L2に相当 する第 6配線部分 56の一部を第 2配線形成層 37に形成している。以下、「第 2螺旋 配線部分 70の一部」に参照符号「L1」を付し、「第 6配線部分 56の一部」に参照符 号「L2」を付して説明する。
さらに述べると、第 3配線形成層 38に第 2配線形成層 37を積層したとき、図 7のセク シヨン XIに示すように、第 2および第 3配線形成層 37, 38の厚み方向力 見て、第 2 螺旋配線部分 70の一部 L1と第 6配線部分 56の一部 L2とが重なるように、第 2螺旋 配線部分 70を第 3配線形成層 38に形成し、第 6配線部分 56を第 2配線形成層 37に 形成している。
さらに述べると、第 2および第 3配線形成層 37, 38の厚み方向に直交する仮想一 平面上において、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1の延在方向と第 6配線部分 56の 一部 L2の延在方向との成す角度が 90度未満、本実施の形態では 0度になるように、 かつ第 2螺旋配線部分 70の一部 L1に流れる電流の向きと第 6配線部分 56の一部 L 2に流れる電流の向きとが反対になるように、第 2螺旋配線部分 70を第 3配線形成層 38に形成し、第 6配線部分 56を第 2配線形成層 37に形成している。換言すれば、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1の延在方向と第 6配線部分 56の一部 L2の延在方向と が同一になるように、かつ第 2螺旋配線部分 70の一部 L1に流れる電流の向きと第 6 配線部分 56の一部 L2に流れる電流の向きとが反対になるように、第 2螺旋配線部分 70を第 3配線形成層 38に形成し、第 6配線部分 56を第 2配線形成層 37に形成して いる。これによつて図 7のセクション XIに示す第 2螺旋配線部分 70の一部 L1と第 6配 線部分 56の一部 L2とを電磁気的に結合させている。
ここで、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1に流れる電流の向きと、第 6配線部分 56の 一部 L2に流れる電流の向きとが反対になるとは、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1お よび第 6配線部分 56の一部 L2をそれぞれ取囲む磁束の向きが反対になることをいう 本実施の形態では、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1と、第 6配線部分 56の一部 L2 とを、結合係数が 0. 4となるように設計して、電磁気的に結合させている。
本実施の形態では、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1と、第 6配線部分 56の一部 L2 とが電磁気的に結合できるように、第 2および第 3配線形成層 37, 38の厚み方向に おける第 2螺旋配線部分 70の一部 L1と第 6配線部分 56の一部 L2との間に、他の配 線を形成しな 、ようにして 、る。
前述のように本実施の形態の分波器によれば、第 2螺旋配線部分 70および第 6配 線部分 56は、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1の延在方向と第 6配線部分 56の一部 L2の延在方向とが予め定める仮想一平面上において成す角度が 0度になるように 形成される。換言すれば、第 2螺旋配線部分 70および第 6配線部分 56は、第 2螺旋 配線部分 70の一部 L1の延在方向と第 6配線部分 56の一部 L2の延在方向とが同一 になるように形成される。また第 2螺旋配線部分 70の一部 L1と第 6配線部分 56の一 部 L2とは、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1に流れる電流の向きと、第 6配線部分 56 の一部 L2に流れる電流の向きとが反対になるように形成される。
第 2螺旋配線部分 70の一部 L1と第 6配線部分 56の一部 L2とを近づけると、相互 誘導結合が大きくなり、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1に流れる電流の向きと、第 6 配線部分 56の一部 L2に流れる電流の向きとが反対、換言すると、第 2螺旋配線部 分 70の一部 L1および第 6配線部分 56の一部 L2をそれぞれ取囲む磁束の向きが反 対であるので、磁束を打消し合い、第 6配線部分 56のインダクタンスが見かけ上小さ くなる。
送信フィルタ 11のキャパシタと、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1および第 6配線部 分 56の一部 L2によって形成される相互インダクタンスと、第 6配線部分 56のインダク タンスとによって、直列共振回路が形成される。第 2螺旋配線部分 70の一部 L1およ び第 6配線部分 56の一部 L2によって形成される相互インダクタンスが大きくなると、 相互誘導結合が大きくなり、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1に流れる電流の向きと、 第 6配線部分 56の一部 L2に流れる電流の向きとが反対であるので、前記直列共振 回路の共振周波数は上がる。
前述のように第 2螺旋配線部分 70の一部 L1の延在方向と第 6配線部分 56の一部 L2の延在方向とが同一になるようにし、かつ第 2螺旋配線部分 70の一部 L1に流れ る電流の向きと、第 6配線部分 56の一部 L2に流れる電流の向きとが反対になるよう に第 2螺旋配線部分 70および第 6配線部分 56を形成することによって、受信フィル タ 12の通過周波数帯域よりも低 、通過周波数帯域を有する送信フィルタ 11の高周 波側の通過周波数帯域外で前記直列共振回路を共振させることができ、比較的容 易に減衰極を設けることができる。これによつて送信フィルタ 11の高周波側の通過周 波数帯域外における減衰量を大きくすることができ、減衰特性を向上することができ る。 さらに送信フィルタ 11の高周波側の通過周波数帯域外における減衰量を大きくす ることができるので、送信フィルタ 11から受信フィルタ 12への信号の漏洩を可及的に 小さくすることができ、送信フィルタ 11の高周波側の通過周波数帯域外におけるアイ ソレーシヨン特性を向上することができる。
本実施の形態では、図 7に示すように、第 2および第 3配線形成層 37, 38の厚み方 向(以下、「層の厚み方向」という」)力も見て、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1と第 6 配線部分 56の一部 L2とが重なるように、第 2螺旋配線部分 70を第 3配線形成層 38 に形成し、第 6配線部分 56を第 2配線形成層 37に形成している。換言すれば、第 2 螺旋配線部分 70の一部 L1と第 6配線部分 56の一部 L2とは、層の厚み方向に予め 定める間隔をあけて形成される。これによつて第 2螺旋配線部分 70の一部 L1と第 6 配線部分 56の一部 L2とは、同一の層に形成する場合に比べて、対向面積、換言す れば層の厚み方向から見て、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1と第 6配線部分 56の一 部 L2とが重なる面積を大きくすることができる。
第 2螺旋配線部分 70の一部 L1および第 6配線部分 56の一部 L2間の結合を大きく するには、前記対向面積を大きくして、層の厚み方向における第 2螺旋配線部分 70 の一部 L1と第 6配線部分 56の一部 L2との間隔を小さくすればよい。また第 2螺旋配 線部分 70の一部 L1および第 6配線部分 56の一部 L2間で同じ結合度を得るために は、前記対向面積が大きくなるにつれて、層の厚み方向における第 2螺旋配線部分 70の一部 L1と第 6配線部分 56の一部 L2との間隔を広げる必要がある。
本実施の形態では対向面積を大きくすることができるので、第 2螺旋配線部分 70の 一部 L1と第 6配線部分 56の一部 L2との結合を、前述の第 1の実施の形態よりもさら に大きくすることができ、相互誘導結合によるインダクタンスを容易に調整することが できる。
また本実施の形態の分波器によれば、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1および第 6 配線部分 56の一部 L2は、それぞれ実装基板 35の異なる層、具体的には第 3配線 形成層 38と第 2配線形成層 37とに形成される。したがって第 2螺旋配線部分 70の一 部 L1および第 6配線部分 56の一部 L2が実装基板 35の同一の層に形成される場合 に比べて、第 2螺旋配線部分 70の一部 L1が形成される第 3配線形成層 38および第 6配線部分 56の一部 L2が形成される第 2配線形成層 37の第 1表面部の面積を小さ くすることができる。これによつて実装基板 35の厚み方向に直交する方向の小形ィ匕 を図ることができる。
前述の第 1の実施の形態では、分波器 10を備えて構成される通信装置 100につい て説明したが、分波器 10に代えて、本実施の形態の分波器を備えて通信装置 100 を構成してもよぐ前述の第 1の実施の形態と同様に、通過周波数帯域外の不要な 信号を送信したり、または受信したりすることなぐ品質の優れた信号の送受信をする ことができる通信装置 100を実現することができる。
(実施例)
以下に、分波器 10の実施例および比較例について説明する。分波器 10を構成す る実装基板 35の材料としては、 3層構造の LTCCを用いた。 LTCCはアルミナを主 原料とし、比誘電率は 9. 4である。 LTCCの 1層あたりの厚み寸法は 0. 125mmであ り、各層の表面には銀で電極を形成しており、電極の最小の幅寸法は 0. 075mmで ある。また、各層の表面に形成される電極を接続するためのビアの直径寸法は、 0. 1 mmであり、内部には銀が充填されている。
また、 800MHz帯の分波器を構成するために、通過周波数帯域が 824MHzから 8 49MHzのフィルタを送信フィルタとし、通過周波数帯域が 869MHzから 894MHz のフィルタを受信フィルタとした。
本実施例では、 SAW素子を、薄膜プロセスを用いて形成した。圧電基板 201とし ては、タンタル酸リチウム (LiTaO )単結晶を用いた。圧電基板 201の厚み方向の表
3
面である主面(以下、単に「主面」という場合がある)に、厚み寸法が 6nmのチタン (Ti )薄膜を形成し、 Ti薄膜の厚み方向の表面に、厚み寸法が 130nmのアルミニウム 銅 (Al— Cu)薄膜を形成し、これを交互に各 3層ずつ積層して、合計 6層の TiZAl— Cu積層膜を形成した。
次に、レジスト塗布装置によって、厚み寸法が約 0. 5 mになるようにフォトレジスト を塗布した。次に、縮小投影露光装置によって、フォトレジストパターンを形成した。 次に、現像装置によって不要部分のフォトレジストをアルカリ現像液で溶解させ、反 応性イオンエッチング(Reactive Ion Etching;略称: RIE)装置によって、電極パター ンを形成した。次に、電極パターンの所定領域に保護膜を形成した。具体的には、 熱化学気相成長(Chemical Vapor Deposition;略称: CVD)装置によって、電極パタ ーンおよび圧電基板の主面に、厚み寸法が約 0. 02 111のシリカ(310 )膜を形成し
2
た。
次に、フォトリソグラフィによってフォトレジストのパターユングを行い、 RIE装置など でフリップチップ用電極部の保護膜のエッチングを行った。次に、スパッタリング装置 を用いて、クロム (Cr)、ニッケル (Ni)および金 (Au)から成る積層電極を成膜した。 成膜した積層電極の厚み寸法は、約 1 μ mとした。次に、フォトレジストおよび不要箇 所の積層電極をリフトオフ法によって同時に除去し、フリップチップ用バンプを接続す るパッドを形成した。次に、圧電基板 201をダイシング線に沿ってダイシング加工を 施し、 SAW素子のチップごとに分割した。
図 8は、 SAW素子 200を模式的に示す図である。 SAW素子 200は、送信フィルタ 11および受信フィルタ 12を含んで構成される。送信フィルタ 11は、直列腕を形成す る直列共振子 203a, 203b, 203c, 203dと、並列腕を形成する並列共振子 204a, 204bとによって構成されるラダー型フィルタである。また、受信フィルタ 12は、直列腕 を形成する直列共振子 205a, 205b, 205c, 205dと、並列腕を形成する並列共振 子 206a, 206b, 206c, 206dとによって構成されるラダー型フイノレタである。
次に、 LTCC力 成る実装基板 35の厚み方向の表面に、半田力 成る電極パター ンを印刷した。次に、フリップチップ実装装置を用いて、 SAW素子 200の各チップの 電極形成面が LTCC基板の前記電極パターンが印刷された表面に臨むようにして、 前記各チップと LTCCカゝら成る実装基板 35とを仮接着した。次に、窒素ガス (N )雰
2 囲気中でベータを行い、半田を溶融することによって、前記各チップと前記 LTCC基 板とを接着した。次に、前記各チップが接着された前記 LTCC基板に榭脂を塗布し、 N雰囲気中でベータを行い、前記各チップを榭脂封止した。次に、実装基板 35をダ
2
イシング線に沿ってダイシング加工を施し、複数個に分割し、本発明の分波器 10を 作製した。
送信フィルタ 11の第 1信号出力部 26、受信フィルタ 12の第 2信号入力部 30および グランド端子 14に接続される第 1配線の一部 L1と、送信フィルタ 11の第 1グランド部 27およびグランド端子 14に接続される第 2配線の一部 L2とは、第 1配線 17の一部 L 1の延在方向と第 2配線 18の一部 L2の延在方向とが同一になるように、かつ 0. 075 mmの間隔をあけて配設される。第 1配線 17の一部分に形成される整合回路は、第 1配線 17の第 1螺旋配線部分 55、第 2螺旋配線部分 70および第 10ビア 65によって 構成され、その長さ寸法は 10. 37mmであり、インダクタンスは 7. 9nHである。また、 第 1配線の一部 L1の長さ寸法は 0. 5mmであり、インダクタンスは 0. 25nHである。 第 2配線 18は、第 1配線部分 40、第 6配線部分 56、第 10配線部分 71、第 1ビア 4 6、第 6ビア 61、および第 12ビア 75を含んで構成され、その長さ寸法は 1. 0mmであ り、インダクタンスは 0. 69nHである。また、第 2配線の一部 L2の長さ寸法は 0. 55m mであり、インダクタンスは 0. 33nHである。
さらに前記第 1配線の一部 L1および前記第 2配線の一部 L2は、第 1配線の一部 L 1に流れる電流の向きと、第 2配線の一部 L2に流れる電流の向きとが反対になるよう に配設される。前記第 1配線の一部 L1と前記第 2配線の一部 L2との間隔は 0. 075 mmであり、相互インダクタンスは 0. 12nHであり、結合係数は 0. 4である。ここで、 各インダクタンスと結合係数の値は、アンソフト社製のシミュレーションソフトである「Q 3D Extractorを用いて求めている。
前述の図 4A〜図 4Gに示すような構成の実装基板 35に SAW素子 200をフリップ チップ実装して作製した分波器 10を用いて、減衰特性およびアイソレーション特性を 測定した。アイソレーション特性とは、一方のフィルタ力 他方のフィルタに漏洩する 信号の特性のことである。本実施例では、送信フィルタ 11の第 1信号入力部 25に RF 信号を印加し、受信フィルタ 12の第 2信号出力部 31からの信号を測定することによ つて、第 1信号入力部 25と第 2信号出力部 31との間のアイソレーション特性を評価し た。
実施例の減衰特性およびアイソレーション特性の測定結果を図 9に示す。図 9に示 すグラフの横軸は、周波数 (単位: MHz)を表し、縦軸は減衰量およびアイソレーショ ン(単位: dB)を表している。図 9では、送信フィルタ 11の減衰特性を太い実線で示し 、受信フィルタ 12の減衰特性を細い実線で示し、アイソレーション特性を破線で示す 図 9に示す測定結果から、本実施例の分波器は、送信フィルタ 11の通過周波数帯 域外でかつ受信フィルタ 12の通過周波数帯域、換言すると送信フィルタ 11の高周 波側の減衰域において、後述の比較例の分波器に比べて、良好な減衰特性および アイソレーション特性を有して 、ることがわかる。
(比較例)
比較例において、送信フィルタ 11の第 1信号出力部 26、受信フィルタ 12の第 2信 号入力部 30およびグランド端子 14に接続される第 1配線の一部 L1と、送信フィルタ 11の第 1グランド部 27およびグランド端子 14に接続される第 2配線の一部 L2とは、 第 1配線の一部 L 1の延在方向と第 2配線の一部 L2の延在方向とが対向しな 、位置 に、かつ 0. 2mmの間隔をあけて配設される。また前記第 1配線の一部 L1および前 記第 2配線の一部 L2は、前記第 1配線の一部 L1に流れる電流の向きと、前記第 2配 線の一部 L2に流れる電流の向きとが反対になるように配設される。前記第 1配線の 一部 L1と前記第 2配線の一部 L2との結合係数は、 0. 1未満である。実装基板 35の 構造、ならびに送信フィルタ 11および受信フィルタ 12の通過周波数帯域は、実施例 と同一である。
比較例の減衰特性およびアイソレーション特性の測定結果を図 10に示す。図 10に 示すグラフの横軸は、周波数 (単位: MHz)を表し、縦軸は減衰量およびアイソレー シヨン(単位: dB)を表している。図 10では、送信フィルタ 11の減衰特性を太い実線 で示し、受信フィルタ 12の減衰特性を細い実線で示し、アイソレーション特性を破線 で示す。
図 10に示す測定結果から、比較例の分波器は、送信フィルタ 11の通過周波数帯 域外でかつ受信フィルタ 12の通過周波数帯域、換言すると送信フィルタ 11の高周 波側の減衰域において、前述の実施例の分波器に比べて、減衰特性およびアイソレ ーシヨン特性が劣ることがわかる。
送信フィルタ 11の高周波側の減衰域の 894MHzにおける減衰量およびアイソレー シヨンの測定結果を表 1に示す。
[表 1] 減衰量(dB) アイソレーション(dB)
実施例 -48.3 -46.3
比較例 -35.3 -36.2 表 1に示すように、送信フィルタ 11の高周波側の減衰域である 894MHzにおける 比較例の減衰量は、 - 35. 3dBであり、比較例のアイソレーションは、—36. 2dBで ある。これに対して、送信フィルタ 11の高周波側の減衰域である 894MHzにおける 実施例の減衰量は、 -48. 3dBであり、アイソレーションは、 46. 3dBである。した がって実施例の減衰特性およびアイソレーション特性は、比較例の減衰特性および アイソレーション特'性よりも向上した。
また、本発明を実施することによって、従来では困難であった受信フィルタ 12の通 過周波数帯域、換言すると送信フィルタ 11の高周波側の通過周波数帯域外におけ る減衰特性およびアイソレーション特性の改善と、分波器 10の小形化とを同時に実 現できた。本発明の分波器 10の長手方向の長さ寸法、幅方向の長さ寸法および厚 み方向の長さ寸法は、それぞれ 2. 5mm、 2. Ommおよび 0. 8mmである。
本発明は、前述の各実施の形態に限定されるものではなぐ本発明の要旨を逸脱 しない範囲において種々の変更をすることができる。たとえば前述の各実施の形態 では、フィルタとしてラダー型のフィルタを用いた場合について説明した力 フィルタ の一部に DMS (Double Mode SAW)型のフィルタおよび IIDT(Interdigitated Interdig ital Transducer)型のフィルタを用いてもよい。すなわち、本発明の発現は並列腕を有 していることが条件であり、並列腕を有していればフィルタの構成には特に制約を受 けるものではない。また前述の各実施の形態では、 SAWフィルタを用いた場合につ いて説明したが、圧電薄膜共振子(Film Bulk Acoustic Resonator;略称: FBAR)フィ ルタを用いてもよい。このような DMS型および IIDT型のフィルタ、ならびに FBARフ ィルタを用いた場合でも、前述の各実施の形態と同様の効果を達成することができる 本発明は、その精神または主要な特徴力 逸脱することなぐ他のいろいろな形態 で実施できる。したがって、前述の実施形態はあらゆる点で単なる例示に過ぎず、本 発明の範囲は特許請求の範囲に示すものであって、明細書本文には何ら拘束され ない。さらに、特許請求の範囲に属する変形や変更は全て本発明の範囲内のもので ある。

Claims

請求の範囲
[1] 第 1信号入力部と、第 1信号出力部と、共振子およびキャパシタの少なくともいずれ か一方を含んで構成される並列腕に接続される第 1グランド部とを備え、予め定める 通過周波数帯域を有する第 1フィルタと、
第 2信号入力部と、第 2信号出力部と、第 2グランド部とを備え、前記第 1フィルタの 通過周波数帯域よりも高い通過周波数帯域を有する第 2フィルタと、
前記第 1信号出力部と前記第 2信号入力部とが接続される共通端子と、 前記第 1信号出力部および前記第 2信号入力部に接続される第 1配線と、 前記第 1グランド部に接続される第 2配線と、
前記第 1および第 2配線、ならびに前記第 2グランド部にそれぞれ接続され、グラン ド電位が与えられるグランド端子とを含み、
前記第 1配線の一部の延在方向と前記第 2配線の一部の延在方向とが予め定める 仮想一平面上において成す角度のうち一方の角度は、 90度未満に選ばれ、かつ前 記第 1配線の前記一部に流れる電流の向きと、前記第 2配線の前記一部に流れる電 流の向きとが反対になるように、前記第 1および第 2配線が形成されることを特徴とす る分波器。
[2] 前記第 1フィルタ、前記第 2フィルタ、前記共通端子、前記第 1配線、前記第 2配線 および前記グランド端子が設けられる多層配線基板をさらに含み、
前記第 1配線の前記一部および前記第 2配線の前記一部は、前記多層配線基板 の同一の層に形成されることを特徴とする請求項 1記載の分波器。
[3] 前記第 1配線の前記一部および前記第 2配線の前記一部は、前記多層配線基板 の異なる層に形成されることを特徴とする請求項 2記載の分波器。
[4] 請求項 1〜3のいずれか 1つに記載の分波器と、
前記共通端子に接続されるアンテナと、
前記第 1信号入力部に信号を与え、前記第 2信号出力部から信号が与えられる送 受信処理部とを含むことを特徴とする通信装置。
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