TWM514004U - 積體電路的檢測裝置及檢測設備 - Google Patents

Description

積體電路的檢測裝置及檢測設備

本創作係有關一種檢測裝置，尤指一種用於積體電路的檢測裝置及檢測設備。

隨著科技的發展，許多資訊電子產品是朝向輕薄短小的方向來進行設計，但所具備的功能卻只能增加而不能減少，在如此的情況下，使得其電子電路走向積體化，製作成可執行多種功能的積體電路(Integrated Circuit，IC)，由於積體電路內的結構繁複，線寬窄小，製作上具有一定的困難度，且所需的製作成本高，相對的品質及良率的管控也愈加重要。其中各積體電路在出廠前，必須經過測試機台的檢測，而測試機台主要包含有一測試座以及一測試電路板，利用測試座供積體電路放置定位後，積體電路再透過測試座與測試電路板電性連接，而進行檢測。

習知用於積體電路的檢測裝置，主要包括一底座及與底座樞接的一蓋體，底座上設有一凹槽，並於凹槽內設有一導電結構，而蓋體底面設有一抵壓單元，其中，導電結構設有配合待測積體電路固定的一定位部，並於定位部中設有對應待測積體電路底部錫球位置的複數個透孔，透孔用以套接固定待測積體電路之錫球，將待測積體電路定位於定位部上，定位部下方設有導通待測積體電路與測試電路板的一導電部，待測積體電路藉由抵壓單元的抵壓以與導電部導接，藉由導電部中的導通件與測試電路板導接，而進行量測。

然而，習知用於積體電路的檢測裝置，雖然具有檢測的效果，但仍然存在有抵壓單元對積體電路下壓過程中，亦令導電部的探針產生折斷的情況。另定位部一般為了利於積體電路能夠輕易置入，兩者之間的配合皆相當的寬鬆，因而常導致積體電路和探針對位不準確的情況，而亟待加以改善者。

本創作之一目的，在於提供一種積體電路的檢測裝置及檢測設備，其係可達成快速定位和精準固持效果。

為了達成上述之目的，本創作係提供一種積體電路的檢測裝置，包括一承載座、一夾掣定位機構及一蓋板，該承載座安裝有一探針台；該夾掣定位機構包含一下基座、一彈性體、一上基座及一對彈性夾臂，該下基座對應該探針台配置，該彈性體被彈性夾掣在該探針台和該下基座之間，該上基座疊接在該下基座上，並於該上基座設有一晶片容槽，該對彈性夾臂可移動的配置在該晶片容槽內；該蓋板固定在該承載座，該蓋板在對應該晶片容槽的位置設有一開口，並在該對彈性夾臂和該蓋板之間設有令該對彈性夾臂能夠對所述積體電路夾掣固定的一滑動結構。

為了達成上述之目的，本創作係提供一種積體電路的檢測設備，包括一承載座、複數夾掣定位機構及一蓋板，該承載座安裝有複數探針台；每一該夾掣定位機構分別對應於每一該探針台裝設，每一該夾掣定位機構包含一下基座、一彈性體、一上基座及一對彈性夾臂，該下基座對應該探針台配置，該彈性體被彈性夾掣在該探針台和該下基座之間，該上基座疊接在該下基座上，並於該上基座設有一晶片容槽，該對彈性夾臂可移動的配置在該晶片容槽內；該蓋板固定在該承載座，該蓋板在對應各該晶片容槽的位置分別設有一開口， 並在各該彈性夾臂和該蓋板之間設有令各該彈性夾臂能夠分別對所述各積體電路夾掣固定的一滑動結構。

本創作還具有以下功效，利用滑動結構設置在蓋板和彈性夾臂之間，在向下壓掣上基座時可同時驅動各彈性夾臂進行對積體電路的夾掣固定，更增加使用的方便性。藉由T型移動塊的V形槽設置，可有效地對積體電路的對角進行精確的定位。

1‧‧‧檢測裝置

10‧‧‧承載座

11‧‧‧探針台

12‧‧‧彈性探針

13‧‧‧螺孔

20‧‧‧夾掣定位機構

21‧‧‧下基座

211‧‧‧矩形板

212‧‧‧角柱

213‧‧‧穿孔

214‧‧‧導引孔

22‧‧‧彈性體

23‧‧‧上基座

231‧‧‧晶片容槽

232‧‧‧導引槽

233‧‧‧定位柱

24‧‧‧彈性夾臂

241‧‧‧T型移動塊

242‧‧‧V形槽

243‧‧‧插孔

244‧‧‧第一斜面

245‧‧‧彈性頂針

30‧‧‧蓋板

31‧‧‧開口

32‧‧‧凸柱

321‧‧‧第二斜面

33‧‧‧通孔

A‧‧‧滑動結構

8‧‧‧積體電路

1A‧‧‧檢測設備

100‧‧‧承載座

300‧‧‧蓋板

圖1係本創作積體電路的檢測裝置分解圖。

圖2係本創作積體電路的檢測裝置另一視角分解圖。

圖3係本創作積體電路的檢測裝置組合外觀圖。

圖4係本創作的檢測裝置應用於積體電路的俯視圖。

圖5係圖4中的5-5剖視圖。

圖6係圖4中的6-6剖視圖。

圖7係本創作的夾掣定位機構被壓下後的剖視圖。

圖8係本創作的夾掣定位機構被壓下後另一方向的剖視圖。

圖9係本創作積體電路的檢測設備組合外觀圖。

有關本創作之詳細說明及技術內容，配合圖式說明如下，然而所附圖式僅提供參考與說明用，並非用來對本創作加以限制者。

請參閱圖1至圖3所示，本創作提供一種積體電路的檢測裝置，此積體電路的檢測裝置1主要包括一承載座10、一夾掣定位機構20及一蓋板30。

承載座10大致為一中空矩形體，在其內部安裝有一探針台11，並於探針台11佈設有複數支彈性探針12，另在承載座10頂面的角端分別設有一螺孔13。

夾掣定位機構20對應承載座10的探針台11安裝，且夾掣定位機構20主要包括一下基座21、一彈性體22、一上基座23及一對彈性夾臂24，其中下基座21包含一矩形板211及從矩形板211的四端角落處分別向上延伸有一角柱212，彈性體22可為一螺旋彈簧，其是套設在前述探針台11的外周圍，且彈性體22的兩端分別彈性抵接在探針台11和矩形板211之間；另在矩形板211的中間區域開設有對應前述彈性探針12套接的複數穿孔213，並於各穿孔213的外圍區域設有複數導引孔214。

上基座23對應下基座21的矩形板211疊接，上基座23大致亦呈一矩形塊，在中間區域開設有一晶片容槽231，另於上基座23底面的其中一對角位置開設有連通前述晶片容槽231的一導引槽232，並在導引槽232的兩側分別連接有複數定位柱233，各定位柱233是分別對應於前述的導引孔214穿接。

每一彈性夾臂24主要包含一T型移動塊241及一彈性頂針245，各T型移動塊241分別安裝在前述導引槽232內且可於導引槽222內可操作性移動，在T型移動塊241的底端形成有一V形槽242，頂端則設有一插孔243，彈性頂針242的一端插接前述插孔243，並被彈性夾掣在T型移動塊241和角柱212之間。

蓋板30為一矩形板體，對應於前述承載座10連接，在蓋板30的中間區域開設有供前述上基座23暴露出的一矩形開口31。另在T型移動塊241的兩側翼分別形成有一第一斜面244，在蓋板30的開口31對應角端分別延伸有 一對凸柱32，此凸柱32是對應於前述T型移動塊241的兩側翼設置，並在凸柱32對應於前述第一斜面244的位置設有一第二斜面321，其中第二斜面321和第一斜面244的傾斜方向相反，且彼此相互滑接接觸，並構成本創作的一滑動結構A(如圖6所示)。又，在蓋板30的各角端位置分別開設有一通孔33，各通孔33是對應於前述承載座10的螺孔13配置，以供螺絲等螺固元件穿設螺固。

請參閱圖4至圖6所示，本創作的檢測裝置1是可以被應用在一積體電路8的檢測，操作時首先將各彈性探針12電性連接於一檢測機(圖未示出)，次將積體電路8置入前述上基座23的晶片容槽231內，由於積體電路8的外形大致與晶片容槽231的外形相近，因此積體電路8的角端將對應形成在晶片容槽231的角端位置，此時積體電路8並未與各彈性探針12電性導接。

請續參閱圖7及圖8所示，當對上基座23向下壓掣時，各T型移動塊241受到彈性頂針245推抵，同時第一斜面244沿著第二斜面321滑移，將令各T型移動塊241以其V形槽242對應於積體電路8的一組對角進行夾掣定位；繼之，在上基座23向下沉入的過程中，將令積體電路8與各彈性探針12電性連接，如此據以得知積體電路8的各項性能參數。

請參閱圖9所示，本創作進一步提供一種積體電路的檢測設備，此檢測設備1A主要包括一承載座100、複數夾掣定位機構20及一蓋板300，承載座100安裝有複數探針台11，每一探針台11佈設有複數支彈性探針12(請參閱圖1所示)。每一夾掣定位機構20對應於每一探針台11配設，由於各夾掣定位機構20與前述實施例的夾掣定位機構20相同，因此不再一一重複贅述。蓋板300固定在承載座100上方，蓋板300在對應各晶片容槽231的位置分別設有一開口31(請參閱圖1所示)，並在各彈性夾臂24和蓋板300之間設有令各彈性夾 臂24能夠對所述各積體電路8夾掣固定的一滑動結構(請參閱圖8所示)，如此可同時對多數積體電路8進行檢測，進而提高檢測效能。

綜上所述，本創作之積體電路的檢測裝置及檢測設備，確可達到預期之使用目的，而解決習知之缺失，又因極具新穎性及進步性，完全符合新型專利申請要件，爰依專利法提出申請，敬請詳查並賜准本案專利，以保障創作人之權利。

1‧‧‧檢測裝置

10‧‧‧承載座

20‧‧‧夾掣定位機構

21‧‧‧下基座

212‧‧‧角柱

213‧‧‧穿孔

214‧‧‧導引孔

22‧‧‧彈性體

23‧‧‧上基座

231‧‧‧晶片容槽

232‧‧‧導引槽

233‧‧‧定位柱

24‧‧‧彈性夾臂

241‧‧‧T型移動塊

242‧‧‧V形槽

243‧‧‧插孔

244‧‧‧第一斜面

245‧‧‧彈性頂針

30‧‧‧蓋板

31‧‧‧開口

32‧‧‧凸柱

321‧‧‧第二斜面

33‧‧‧通孔

Claims (14)

1. 一種積體電路的檢測裝置，包括：一承載座，安裝有一探針台；一夾掣定位機構，包含一下基座、一彈性體、一上基座及一對彈性夾臂，該下基座對應該探針台配置，該彈性體被彈性夾掣在該探針台和該下基座之間，該上基座疊接在該下基座上，並於該上基座設有一晶片容槽，該對彈性夾臂可移動的配置在該晶片容槽內；一蓋板，固定在該承載座，該蓋板在對應該晶片容槽的位置設有一開口，並在該對彈性夾臂和該蓋板之間設有令該對彈性夾臂能夠對所述積體電路夾掣固定的一滑動結構。
2. 如請求項1所述之積體電路的檢測裝置，其中該探針台佈設有複數支彈性探針，該下基座包含一矩形板，於該矩形板開設有供各該彈性探針穿出的複數穿孔。
3. 如請求項2所述之積體電路的檢測裝置，其中該下基座更包含從該矩形板的各角端分別向上延伸有一角柱，該彈性夾臂包含一T型移動塊及一彈性頂針，該彈性頂針被彈性夾掣在該T型移動塊和該角柱之間。
4. 如請求項3所述之積體電路的檢測裝置，其中該T型移動塊的底端形成有一V形槽，該T型移動塊頂端設有供該彈性頂針插接的一插孔。
5. 如請求項3所述之積體電路的檢測裝置，其中在該蓋板的該開口對應角端分別延伸有一對凸柱，該對凸柱是對應於該T型移動塊的兩側翼設置，該滑動結構包含形成在該T型移動塊的一第一斜面及形成在該凸柱的一第二斜面，該第二斜面和該第一斜面的傾斜方向相反，且彼此相互滑接接觸。
6. 如請求項3所述之積體電路的檢測裝置，其中該上基座開設有連通該晶片容槽的一導引槽，該T型移動塊安裝在該導引槽內且可操作性移動。
7. 如請求項2所述之積體電路的檢測裝置，其中該下基座的該矩形板設有複數導引孔，該上基座連接有穿接各該導引孔的複數定位柱。
8. 一種積體電路的檢測設備，包括：一承載座，安裝有複數探針台；複數夾掣定位機構，分別對應各該探針台裝設，每一該夾掣定位機構包含一下基座、一彈性體、一上基座及一對彈性夾臂，該下基座對應該探針台配置，該彈性體被彈性夾掣在該探針台和該下基座之間，該上基座疊接在該下基座上，並於該上基座設有一晶片容槽，該對彈性夾臂可移動的配置在該晶片容槽內；一蓋板，固定在該承載座，該蓋板在對應各該晶片容槽的位置分別設有一開口，並在各該彈性夾臂和該蓋板之間設有令各該彈性夾臂能夠分別對所述各積體電路夾掣固定的一滑動結構。
9. 如請求項8所述之積體電路的檢測設備，其中該探針台佈設有複數支彈性探針，該下基座包含一矩形板，於該矩形板開設有供各該彈性探針穿出的複數穿孔。
10. 如請求項9所述之積體電路的檢測設備，其中該下基座更包含從該矩形板的各角端分別向上延伸有一角柱，該彈性夾臂包含一T型移動塊及一彈性頂針，該彈性頂針被彈性夾掣在該T型移動塊和該角柱之間。
11. 如請求項10所述之積體電路的檢測設備，其中該T型移動塊的底端形成有一V形槽，該T型移動塊頂端設有供該彈性頂針插接的一插孔。
12. 如請求項10所述之積體電路的檢測設備，其中在該蓋板的該開口對應角端分別延伸有一對凸柱，該對凸柱是對應於該T型移動塊的兩側翼設置，該滑動結構包含形成在該T型移動塊的一第一斜面及形成在該凸柱的一第二斜面，該第二斜面和該第一斜面的傾斜方向相反，且彼此相互滑接接觸。
13. 如請求項10所述之積體電路的檢測設備，其中該上基座開設有連通該晶片容槽的一導引槽，該T型移動塊安裝在該導引槽內且可操作性移動。
14. 如請求項9所述之積體電路的檢測設備，其中該下基座的該矩形板設有複數導引孔，該上基座連接有穿接各該導引孔的複數定位柱。