TWI792702B

TWI792702B - 聚乙烯醇薄膜、包含其之光學薄膜及其製法

Info

Publication number: TWI792702B
Application number: TW110143336A
Authority: TW
Inventors: 戴冠丞
Original assignee: 長春石油化學股份有限公司
Priority date: 2021-11-22
Filing date: 2021-11-22
Publication date: 2023-02-11
Also published as: TW202321355A

Abstract

本發明係關於一種聚乙烯醇薄膜、包含其之光學薄膜及其製法，該聚乙烯醇薄膜具有由10 cm內厚度偏差與相位差均勻係數之乘積所得之染色係數介於7至70，且具有由該相位差均勻係數與含水率均勻係數之乘積所得之斷裂係數小於130。本發明之聚乙烯醇薄膜具有低染色不均、抗斷膜性高的特性。

Description

聚乙烯醇薄膜、包含其之光學薄膜及其製法

本發明係關於一種聚乙烯醇(polyvinyl alcohol，PVA)薄膜及其製造方法，該PVA薄膜可用於作為光學薄膜，特別係偏光膜。

聚乙烯醇(polyvinyl alcohol，PVA)薄膜是一種親水性聚合物，具有透明性、機械強度、水溶性、可加工性佳等性能，已廣泛用於包裝材料或電子產品的光學膜。聚乙烯醇薄膜係偏光板內的重要組成，將其染色延伸後具有偏光的特性，使光線具有偏光性而得以控制明暗，現今已廣泛用於各式液晶螢幕中。

近年來，隨著螢幕技術向薄型化邁進，對於偏光板製程的品質要求也逐漸提高，在薄型化的過程中，延伸性與染色均勻性議題因薄型化也需逐步提升。

聚乙烯醇薄膜製備成光學薄膜的製造過程中，可依照所需性能而選擇性地使用官能基改質，隨後再進行拉伸。製造方法可分為乾式及濕式，乾式是在固定的溫濕度下，將聚乙烯醇薄膜於惰性氣體環境中進行拉伸，隨後進行染色等工序；濕式是將聚乙烯醇薄膜進行染色，隨後於溶液中進行拉伸。由於乾式所製備的聚乙烯醇薄膜常會有表面不平整或染色不均的問題，而濕式所製造出的聚乙烯醇薄膜具有較佳性能(例如顏色均勻)，因此目前一般係使用濕式方式製造聚乙烯醇薄膜居多。

製造偏光膜時，拉伸倍率越高，可獲得的光學性能也會隨之提高，因此於拉伸時會盡可能的將聚乙烯醇薄膜拉伸至接近斷裂的臨界附近，以獲得較佳光學性的聚乙烯醇薄膜。

良好的偏光膜具有顏色均勻、色斑少及無皺褶等特性，能提供較佳的光學性質。為提高偏光膜的光學性質，先前技術會藉由改變聚乙烯醇結構或加入官能基(例如陽離子基)等，以改變黏度或皂化度，進而提升光學性質。

然而，現有技術中使用聚乙烯醇薄膜製備大尺寸的偏光薄膜時，仍常會發生染色不均勻、薄膜延伸性不佳的現象。例如在專利文獻CN103992606B中記載一種用於偏光板的聚乙烯醇薄膜，其寬度方向中央部位的相位差為10至40 nm，若相位差小於10 nm，則易產生染色不均的現象。惟本案發明人發現即使控制聚乙烯醇薄膜其寬度方向相位差落在10至40 nm 間亦存在染色不均的問題；此外，當聚乙烯醇薄膜薄型化時，對應幅寬較大的薄膜其物性條件更為嚴苛，故亦須設法控制薄膜的結晶均勻性與水分均勻性，以避免薄膜於延伸過程中斷裂。

本案發明人發現，針對薄膜之厚薄，若膜面之厚度差異過大時，厚的區域顏色較深，薄的區域顏色較淡，因而看起來不均勻；膜厚偏差不大的狀況下，鄰近膜面之相位差差異過大時，相位差大的區域顏色偏深，相位差小的區域顏色較淡。因此，薄膜表面的染色外觀濃淡取決於薄膜之厚度差異與相位差差異的複合因素，故只要將兩偏差值控制在一定限度內，即能避免染色不均以及色塊的產生；且針對薄膜斷裂的問題，發明人發現將薄膜之含水率均勻性(代表延伸性)與相位差均勻性(代表結晶性)控制在一定限度範圍內，即使生產更寬更薄的薄膜亦不會發生薄膜斷裂的問題。

是以，為解決上述問題，本發明藉由提供一種聚乙烯醇薄膜，其藉由控制薄膜10 cm之厚度偏差、相位差均勻係數來界定染色係數，以及相位差均勻係數搭配含水率均勻性來界定斷裂係數，使該薄膜具有低染色不均、抗斷膜性高的特性。

本發明之目的為提供一種聚乙烯醇薄膜，其具有：染色係數介於7至70，其係10 cm內厚度偏差與相位差均勻係數之乘積；及斷裂係數小於130，其係該相位差均勻係數與含水率均勻係數之乘積。

於較佳實施例中，該聚乙烯醇薄膜之該染色係數介於7至27。

於較佳實施例中，該聚乙烯醇薄膜之10 cm內厚度偏差不大於3.0 μm。

於較佳實施例中，該聚乙烯醇薄膜之相位差均勻係數介於4.7至24.7。

於較佳實施例中，該聚乙烯醇薄膜進一步具有含水率標準差小於0.3%。

於較佳實施例中，該聚乙烯醇薄膜之10 cm內厚度偏差不大於2.0 μm。

本發明之另一目的為提供一種光學薄膜，其係由如前所述之聚乙烯醇薄膜所製得。

於較佳實施例中，該光學薄膜係偏光膜。

本發明之又另一目的為提供一種製造如前所述之聚乙烯醇薄膜之方法，其步驟包含：(a)溶解製程：將一聚乙烯醇系樹脂於高於100˚C之溫度下及高於1 atm之壓力下，溶解至少5小時，形成聚乙烯醇溶液；(b)壓出成型：藉由押出機通過模具，在20 kg/cm ²以上的模具背壓下將該聚乙烯醇溶液吐出；(c)水份調整：於複數乾燥輥成膜，其中第一乾燥輥之加熱源入口溫度與出口溫度分布小於4℃，幅寬方向溫度標準差小於 4℃；(d)乾燥製程：經上述乾燥輥成膜後，於烘箱內進行乾燥，得到該聚乙烯醇薄膜。

於較佳實施例中，該步驟(b)係於25 kg/cm ²以上的模具背壓下進行。

本發明之功效在於，本發明提供之聚乙烯醇薄膜經過染色後，以偏光板直交檢驗後發現並無染色不均之色塊，因此具有低染色不均之特性；且本發明提供之薄膜在經過拉伸時，具備足夠的延伸性可避免斷裂，因此具有高抗斷膜性。

以下實施方式不應視為過度地限制本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者可在不背離本發明之精神或範疇的情況下對本文所討論之實施例進行修改及變化，而仍屬於本發明之範圍。

本文中術語「一」及「一種」代表於本文中之語法對象有一個或多於一個(即至少一個)。

聚乙烯醇薄膜之厚度偏差，係將幅寬方向之局部厚度差異控制在有限範圍內，以避免顏色有所落差。本文所述之「10 cm內厚度偏差」係為取一寬度方向 t mm 與流動方向 50 mm 之聚乙烯醇薄膜樣品，其中 t 值係由聚乙烯醇薄膜樣品之寬度決定，將取得之聚乙烯醇薄膜樣品置於Thwing-Albert儀器公司所製作之ProGage測厚儀，記錄其每 1cm 寬度方向之厚度值，接著將測得之厚度值以每10 cm作為範圍(例如0-10 cm、1-11 cm、…、270-280 cm等)，取獲得之聚乙烯醇薄膜樣品厚度差最大值M與最小值m相減以得到10 cm厚度偏差，即10 cm內厚度偏差(μm) = M – m。於一較佳實施例，該聚乙烯醇薄膜之10 cm內厚度偏差不大於3.0 μm，具體例如：不大於3 μm、不大於2.5 μm、不大於2.0 μm、不大於1.5 μm。於一更佳實施例，本發明聚乙烯醇薄膜之10 cm內厚度偏差不大於2.0 μm。

聚乙烯醇薄膜之相位差，係導因於聚乙烯醇晶體本身具有雙折射性質，此折射現象會受到聚乙烯醇的結晶性影響，染色呈色後會因折射的差異顯現出顏色深淺不一的現象，故相位差的偏差須控制在一定範圍內。本文所述之「相位差均勻係數」係為取一寬度方向t mm 與流動方向 50 mm之聚乙烯醇膜樣品，其中t 值由聚乙烯醇薄膜樣品之寬度決定，將取得之聚乙烯醇薄膜樣品置於Photron公司所製作之X-stage相位差量測儀，並設定其每次量測範圍之寬度方向為 20 cm 、流動方向為30 cm，依寬度方向取得相位差平均值x與標準差y以計算相位差均勻係數，即相位差均勻係數(%)= y/x*100%。於一較佳實施例，該聚乙烯醇薄膜之相位差均勻係數介於4.7至24.7之間，具體為以下數值中任意兩者間的範圍，例如：4.7、6.7、8.7、10.7、12.7、14.7、16.7、18.7、20.7、22.7或24.7。

本文所述之「染色係數」係為前述10 cm內厚度偏差與前述相位差均勻係數之乘積。發明人發現，藉由將厚度偏差與相位差均勻性控制在特定範圍，膜面的外觀濃淡便會調至一定限度內，即能避免染色不均色塊的發生。於一較佳實施例，該染色係數介於7至70之間，具體為以下數值中任意兩者間的範圍，例如：7、10、13、16、19、21、24、27、30、33、36、39、41、44、47、50、53、56、59、61、64、67或70。於一更佳實施例，本發明聚乙烯醇薄膜之染色係數介於7至27之間。

聚乙烯醇薄膜若水份分布不均勻，在延伸過程中易發生脆性斷裂，薄膜延伸性也變差。本文所述之「含水率均勻係數」係為先取長100 mm與寬100 mm之聚乙烯醇薄膜以天平秤得重S g，再將該聚乙烯醇薄膜置於83℃烘箱中乾燥20分鐘後，取出放入乾燥皿中冷卻5分鐘再秤得重W g，接著計算其水分含量，即水分含量(%)=(S-W)/S*100%。再將上述聚乙烯醇薄膜依其寬度方向分成五等分後依序取樣，測得含水率後計算平均數m與標準差n，接著計算含水率均勻係數，即含水率均勻係數(%)=n/m*100%。於一較佳實施例，該聚乙烯醇薄膜之含水率標準差小於0.3%，具體例如：小於0.3%、小於0.25%、小於0.2%、小於0.15%或小於0.1%。

在偏光板的延伸工藝中為避免延伸時斷裂，除相位差均勻性外，含水率均勻性亦為一重要的管控指標。本文所述之「斷裂係數」係為前述相位差均勻係數與前述含水率均勻係數之乘積。於一較佳實施例，該聚乙烯醇薄膜之斷裂係數小於130，具體例如：小於130、小於120、小於110、小於100、小於90、小於80、小於70、小於60、小於50、小於40、小於30、小於20、小於10。

另一方面，本發明亦提供該聚乙烯醇薄膜之製造方法，其步驟包含：(a)溶解製程：將一聚乙烯醇系樹脂於高於100˚C之溫度下及高於1 atm之壓力下，溶解至少5小時，形成聚乙烯醇溶液；(b)壓出成型：藉由押出機通過模具，在20 kg/cm ²以上的模具背壓下將該聚乙烯醇溶液吐出；(c)水份調整：於複數乾燥輥成膜，其中第一乾燥輥之加熱源入口溫度與出口溫度分布小於4℃，幅寬方向溫度標準差小於 4℃；(d)乾燥製程：經上述乾燥輥成膜後，於烘箱內進行乾燥，得到該聚乙烯醇薄膜。

溶解製程，係將一聚乙烯醇系樹脂於高於100˚C之溫度下及高於1 atm之壓力下溶解至少5小時，以形成聚乙烯醇溶液，作為後續製備聚乙烯醇薄膜之原液。根據至少一實施例，溶解該聚乙烯醇系樹脂之溫度較佳為高於100˚C，具體例如： 100˚C、115˚C、120˚C、125˚C或130˚C等；溶解該聚乙烯醇系樹脂之壓力較佳為高於1 atm，具體例如：1 atm、1.51 atm、2 atm、2.5 atm或3 atm等；溶解該聚乙烯醇系樹脂之溶解時間較佳為至少5小時，具體例如：至少5小時、至少6小時、至少7小時、至少8小時或至少9小時等。

上開之聚乙烯醇樹脂，係由乙烯酯系樹脂單體聚合，形成聚乙烯酯系樹脂後，再進行皂化反應所獲得；其中，該乙烯酯系樹脂單體包含甲酸乙烯酯、乙酸乙烯酯、丙酸乙烯酯、丁酸乙烯酯、戊酸乙烯酯或辛酸乙烯酯等乙烯酯類，且本發明並不限於此等，較佳為乙酸乙烯酯。此外，烯烴類化合物或丙烯酸酯衍生物，與上述乙烯酯系樹脂單體共聚合形成之共聚合物亦可使用；該烯烴類化合物包含乙烯、丙烯或丁烯等，且本發明並不限於此等。該丙烯酸酯衍生物包含丙烯酸、丙烯酸甲酯、丙烯酸乙酯、丙烯酸正丙酯、丙烯酸異丙酯或丙烯酸正丁酯等，且本發明並不限於此等。

上開之聚乙烯醇樹脂的皂化度/鹼化度較佳為98.00%以上，以獲得較佳之光學特性，具體如以下數值中任意兩者間的範圍，例如：98.00%、98.50%、99.00%、99.50%、100.00%；較佳為98.00%至99.00%。

上開之聚乙烯醇的聚合度係介於1500至5000之間，具體如以下數值中任意兩者間的範圍，例如：1500、2000、2500、3000、3500、4000、4500或5000等，聚合度高於1500具有較佳之加工特性，但聚合度若高於5000則不利於溶解。

壓出成型，係藉由押出機通過模具在20 kg/cm ²以上的模具背壓下，將該聚乙烯醇溶液吐出，初步形成聚乙烯醇薄膜。根據至少一實施例，模具背壓之壓力為20 kg/cm ²以上，具體例如：20 kg/cm ²以上、25 kg/cm ²以上、30 kg/cm ²以上、35 kg/cm ²以上或40 kg/cm ²以上；較佳為23 kg/cm ²以上；更佳為25 kg/cm ²以上。發明人發現，聚乙烯醇薄膜之厚度偏差係透過原料自模具吐出時的壓力決定，因此為使模具的幅寬方向吐出均勻，一般係將吐出壓力增加。於一較佳實施例中，將吐出壓力增加至25 kg/cm ²以上。

水份調整，如圖1之乾燥流程100所示，係將該經模具110背壓下吐出之聚乙烯醇溶液經由複數乾燥輥(120為第一乾燥輥、130為第二乾燥輥；140為第三乾燥輥；150為第N乾燥輥)加熱成膜。相位差均勻性與含水率均勻性係由薄膜成形時的乾燥受熱均勻性決定，因在緊繃狀態下聚乙烯醇分子鏈未被完全拉直，幅寬方向受熱不均的狀況下會產生結晶度的差異，使得雙折射性質降低，進而影響其後續染色與碘液及染料交聯的呈色。為避免此問題，除熱源需供應穩定外，成膜用的乾燥輥流道亦需經精密設計，自乾燥輥熱源入口210至乾燥輥熱源出口220進行每20 cm之乾燥輥流道溫度量測，使整個乾燥輥的幅寬方向溫度盡可能均一，另除了控制乾燥輥的溫度高低於一定範圍外，亦控制第一乾燥輥120的幅寬方向溫度標準差於一定範圍。本文所述之「第一乾燥輥」係為經模具背壓後吐出之聚乙烯醇溶液第一個接觸之乾燥輥。根據至少一實施例，該複數乾燥輥之加熱源入口溫度與出口溫度差分布小於4℃，幅寬方向溫度標準差小於 4℃，以取得相位差均勻性佳的薄膜。根據至少一實施例，該第一乾燥輥的幅寬方向溫度標準差小於 4℃，較佳為小於 3℃，更佳為小於2℃。

乾燥製程，係將經上述乾燥輥加熱成膜後之聚乙烯醇薄膜置於烘箱內進行乾燥，以獲得具低染色不均且高抗斷膜性之聚乙烯醇薄膜。

本發明之聚乙烯醇薄膜還可以製備成一種光學薄膜。本文所述之「光學薄膜」係指偏光膜、抗藍光膜、濾光鏡等，且本發明並不限於此等。較佳地，本發明之聚乙烯醇薄膜是作為偏光薄膜。

於一較佳實施例中，製造偏光膜(或稱偏光板)之方法包含以下步驟：將該聚乙烯醇薄膜膨潤、染色、延伸、補色、乾燥及三醋酸纖維素薄膜(TAC)貼合，即可獲得偏光膜。

進一步將聚乙烯醇薄膜用於光學薄膜之製造時，會進行拉伸及染色，以偏光膜為例，由於偏光膜製程中會使用含有I3-、I5-碘離子之硼酸水溶液染色聚乙烯醇薄膜，硼酸可與聚乙烯醇未定型(amorphous)區域產生交聯作用後，將碘離子固定而避免碘離子溶出。 實施例

在下文中，將進一步以詳細說明與實施例描述本發明。然而，應理解這些實施例僅用於幫助可更加容易理解本發明而非用於限制本發明之範圍。

製造 聚乙烯醇 薄膜：先將聚乙烯醇系樹脂加熱融化形成聚乙烯醇溶液，再將該聚乙烯醇溶液壓出成型，並經乾燥輥將該聚乙烯醇溶液成膜且調整其水分，將該聚乙烯醇成膜樣品以烘箱乾燥，獲得聚乙烯醇薄膜。

製造偏光膜：將聚乙烯醇薄膜浸漬於30 ℃水中使其膨潤並朝機械方向(MD)進行單軸延伸至原來長度的2.0倍，接著，一邊浸漬於含有0.03 質量%之碘，及3質量%之碘化鉀的30 ℃水溶液，一邊將該聚乙烯醇薄膜拉伸至原來長度的3.3倍，接著浸入3 質量%之碘化鉀及3 質量%之硼酸的30℃水溶液中，並進一步延伸至原先的3.6倍。繼而浸入5 質量%之碘化鉀及4 質量%之硼酸的60℃水溶液中，並進一步延伸至原先的6.0倍。後續於3質量%之碘化鉀水溶液浸泡15秒後，於60℃乾燥4分鐘，即可獲得偏光膜。

以下請參見表1，係為實施例1至4及比較例1至3之實驗控制變因及染色均勻性、抗斷膜性測定結果。

表1

	模具背壓 (kg/cm2)	第一乾燥輥溫度標準差 (℃)	幅寬 (m)	10 cm 厚度偏差 (μm)	相位差平均值 (nm)	相位差標準差 (nm)	相位差均勻係數 (-)	含水率標準差	含水率均勻係數	染色係數	斷裂係數	染色均勻性	斷膜
實施例1	29.1	1.85	2.8	1.6	23.99	1.13	4.71	0.10	2.06	7.54	9.70	◎	無
實施例2	27.9	1.97	3.26	1.5	17.14	3.06	17.85	0.26	7.20	26.78	128.52	◎	無
實施例3	22.7	3.61	1.28	2.9	29.97	6.97	23.26	0.07	3.27	67.45	76.06	○	無
實施例4	20.1	2.09	3.1	3	20.97	2.28	10.87	0.20	8.62	32.61	93.70	○	無
比較例1	20.4	4.81	1.28	2.8	27.97	9.67	34.57	0.05	2.39	96.80	82.62	╳	無
比較例2	24.4	4.01	1.28	1.7	18.85	10.78	57.19	0.03	1.52	97.22	86.93	╳	無
比較例3	19.3	4.66	3.1	3.4	20.44	5.11	25.00	0.20	8.62	85.00	215.50	╳	有

本實施例中，偏光板染色均勻性評價方法包含：

一片檢驗：將製造之偏光片裁切成寬度方向為30 cm、流動方向為30 cm之樣品，並置於包含一面光源(光度為 14,000 cd)之載台的暗室中，且該載台上方已事先貼上一透光率為43%之偏光板(測試人員位於背光側)。接著由背光側之測試人員拿起樣品於距載台約 1公尺之高度，使樣品與載台水平呈現 30-60度，觀察樣品表面之染色現象。

兩片檢驗：將載台上方再鋪上一層偏光片(透光率為43%)，並以如前述相同手法再次進行樣品染色之判斷。

依據一片檢驗與兩片檢驗之目視判斷結果，將偏光片之染色狀況分為三個等級：若兩片檢驗合格，則給予「◎」；若一片檢驗合格，則給予「○」；若一片檢驗不合格，則給予「╳」。

本實施例中，偏光膜斷裂評價方法包含：以 5,000公尺成品為基準，使用自製之偏光膜製作試驗機，讓偏光膜於30 ^oC下膨潤2分鐘，並經第一次延伸，將該偏光膜延伸至原長的2.0倍；再經30 ^oC之染色液 (由0.5 g/L之I ₂與20 g/L之KI 組成)染色3分鐘後，進行第二次延伸，將該偏光膜延伸至原長之3.0倍；再於50 ^oC之延伸槽 (溶液為60g/L之KI 與60g/L之硼酸組成)中進行第三次延伸，將該偏光膜延伸至原長的5.5倍，觀察該偏光膜於三次延伸過程中是否斷裂。

值得注意的是，先前技術記載一種用於偏光板的聚乙烯醇薄膜，其寬度方向中央部位的相位差為10至40 nm，更進一步指出若相位差小於10 nm，則易產生染色不均的現象。然而，如表1所示，即使如比較例1使用寬度方向相位差均落在10至40 nm 的聚乙烯醇薄膜，亦存在著染色不均的問題。

根據表1，由本發明之聚乙烯醇薄膜製備之偏光膜從染色係數觀點來看，實施例1至4之染色係數均介於7至70，其中實施例1及2之染色係數更是介於7至27，染色均勻性優異。相較之下，比較例1至3之染色係數均高於70，在偏光板染色均勻性測試中皆於一片檢驗即不合格，染色均勻性不佳。

再由斷裂係數觀點來看，實施例1至4之斷裂係數均小於130，且均無斷膜現象的產生。相較之下，比較例3之染色係數高於130，其在偏光板斷裂測試中發生斷膜，抗斷膜性不佳。

綜上所述，本發明之聚乙烯醇薄膜其於10 cm內厚度偏差與相位差均勻係數所獲得之乘積即染色係數介於7至70、於相位差均勻係數與含水率均勻係數所獲得之乘積即斷裂係數小於130，可同時兼具低染色不均性以及高抗斷膜性。

本文中，所提供的所有範圍旨在包括在給定之範圍內的每個特定範圍以及在該給定範圍之間的子範圍的組合。此外，除非另有說明，否則本文提供的所有範圍皆包括所述範圍的端點。例如，範圍1-5具體包括1、2、3、4和5，以及諸如2-5、3-5、2-3、2-4、1-4等子範圍。

在本說明書中引用的所有刊物和專利申請案皆透過引用併入本文，並且出於任何及所有目的，每一各別刊物或專利申請案皆明確且各別地指出以透過引用併入本文。在本文與透過引用併入本文的任何刊物或專利申請案之間存在不一致的情況下，以本文為準。

本文所用之術語「包括」、「具有」和「包含」具有開放、非限制性的意義。術語「一」和「該」應理解為涵蓋複數及單數。術語「一個或多個」係指「至少一個」，因此可包括單一特徵或混合物/組合特徵。

除了在操作實施例中或再另外指出的地方，所有表示成分及/或反應條件的量的數字在所有情況下皆可使用術語「約」修飾，意指在所指示的數字的±5%以內。本文所用之術語「基本上不含」或「實質上不含」係指少於約2%的特定特徵。在申請專利範圍中可否定地排除本文中肯定地闡述的所有要素或特徵。

100:乾燥流程 110:模具 120:第一乾燥輥 130:第二乾燥輥 140:第三乾燥輥 150:第N乾燥輥 210:乾燥輥熱源入口 220:乾燥輥熱源出口

圖1所示為製造聚乙烯醇薄膜之方法中，水分調整製程中乾燥流程之示意圖。

無。

100:乾燥流程

110:模具

120:第一乾燥輥

130:第二乾燥輥

140:第三乾燥輥

150:第N乾燥輥

210:乾燥輥熱源入口

220:乾燥輥熱源出口

Claims

一種聚乙烯醇薄膜，其具有：染色係數介於7至70，其係10 cm內厚度偏差與相位差均勻係數之乘積；及斷裂係數小於130，其係該相位差均勻係數與含水率均勻係數之乘積。
如請求項1之聚乙烯醇薄膜，其中染色係數介於7至27。
如請求項1之聚乙烯醇薄膜，其中該10 cm內厚度偏差不大於3.0 μm。
如請求項1之聚乙烯醇薄膜，其中該相位差均勻係數介於4.7至24.7。
如請求項1之聚乙烯醇薄膜，其進一步具有含水率標準差小於0.3%。
如請求項1之聚乙烯醇薄膜，其中該10 cm內厚度偏差不大於2.0 μm。
一種光學薄膜，其係由如請求項1至5任一項之聚乙烯醇薄膜所製得。
如請求項6之光學薄膜，其係偏光膜。
一種製造如請求項1至5任一項之聚乙烯醇薄膜之方法，包含： (a) 溶解製程：將一聚乙烯醇系樹脂於高於100˚C之溫度下及高於1 atm之壓力下，溶解至少5小時，形成聚乙烯醇溶液； (b) 壓出成型：藉由押出機通過模具，在20 kg/cm ²以上的模具背壓下將該聚乙烯醇溶液吐出； (c) 水份調整：於複數乾燥輥成膜，其中第一乾燥輥之加熱源入口溫度與出口溫度分布小於4℃，幅寬方向溫度標準差小於 4℃； (d) 乾燥製程：經上述乾燥輥成膜後，於烘箱內進行乾燥，得到該聚乙烯醇薄膜。
如請求項9之方法，其中該步驟(b)係於25 kg/cm ²以上的模具背壓下進行。