TWI681515B - 半導體封裝製造設備、雷射加工方法以及加工載板之整平方法 - Google Patents

半導體封裝製造設備、雷射加工方法以及加工載板之整平方法 Download PDF

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Abstract

一種雷射加工方法，包括以下步驟：放置載具於吸附框體，其中載具包含一膜層與一加工載板，加工載板貼附於膜層；使膜層與吸附框體之光學玻璃層形成腔室，其中膜層位於加工載板與腔室之間；以及對腔室抽氣，使膜層與光學玻璃層之間形成真空，膜層朝光學玻璃層移動，以使加工載板平貼於光學玻璃層。此外，一種半導體封裝製造設備與加工載板之整平方法亦被提出。

Description

半導體封裝製造設備、雷射加工方法以及加工載板之整平方法
本發明是有關於一種半導體封裝製造設備、雷射加工方法以及加工載板之整平方法。
近來有人提出扇出式晶圓級封裝構造(fan-out wafer level package，FOWLP)與扇出式面板等級封裝構造(fan-out panel level package， FOPLP)，以晶圓承載系統(Wafer Support System,WSS)或面板承載系統(Panel Support System，PSS)等暫時載板作為封裝製程中的晶片承載件，以重配置線路層作為晶片之訊號延伸，在最終封裝產品再予以移除暫時載板，藉此可以省略基板而更加的封裝薄化，並且線路可以更加的微間距與密集化。
針對雷射加工而言，當加工載板進行加工之前，需要先對載板固定。習用固定方式中，係可利用吸盤吸附以固定載板。由於加工載板被吸盤吸附的地方無法進行雷射加工，故往往以局部吸附的方式，即吸盤先吸附加工載板的一部份以固定載板位置，而雷射對加工載板的另一部分(即加工載板未被吸盤吸附之表面)進行加工，亦即習用技術僅能做到局部吸附，無法確保未被吸附之加工載板是否平貼，影響到後續雷射加工精度。
此外，針對其他製程而言，亦有固定加工載板之需求，係在加工載板之不同位置設置多個吸盤，透過多個吸盤抽真空的方式去吸附加工載板，不僅無法全面性整平加工載板，且多個吸盤在其設置上困難度提升，且成本提高。
因此，如何改良並能提供一種『半導體封裝製造設備、雷射加工方法及加工載板之整平方法』來避免上述所遭遇到的問題，係業界所待解決之課題。
本發明提供一種半導體封裝製造設備與雷射加工方法，利用加工載板放置於光學玻璃層抽氣，使膜層與光學玻璃層之間形成真空，以使加工載板能平貼於光學玻璃層，確保後續雷射加工之穩定度。
本發明提供一種加工載板之整平方法，加工載板放置於光學玻璃層抽氣，讓膜層與光學玻璃層之間形成真空，使加工載板能平貼於光學玻璃層，達到整平加工載板之需求。
本發明之一實施例提出一種半導體封裝製造設備，用於扇出式等級封裝構造及晶圓產品，半導體封裝製造設備包括一吸附框體、一光學玻璃層以及至少一抽氣元件。吸附框體用以供一載具放置，載具包含一膜層與一加工載板，加工載板貼附於膜層。光學玻璃層設置於吸附框體之內，當載具放置於吸附框體時，膜層與光學玻璃層形成一腔室，膜層位於加工載板與腔室之間。抽氣元件設置於吸附框體之內，抽氣元件抽氣，使膜層與光學玻璃層之間形成真空，膜層朝光學玻璃層移動，以使加工載板平貼於光學玻璃層。
在一實施例中，上述半導體封裝製造設備更包括一雷射元件，雷射元件用以發出一雷射光束，雷射光束穿過光學玻璃層與膜層，用以對加工載板進行加工。
在一實施例中，上述吸附框體包括一凸部，凸部凸出於光學玻璃層之表面，且該凸部凸出於該吸附框體之一表面，形成一環形凸部。
本發明之另一實施例提出一種雷射加工方法，包括以下步驟：放置一載具於一吸附框體，其中載具包含一膜層與一加工載板，加工載板貼附於膜層；使膜層與吸附框體之一光學玻璃層之間形成一腔室，其中膜層位於加工載板與腔室之間；對腔室抽氣，使膜層與光學玻璃層之間形成真空，膜層朝光學玻璃層移動，以使加工載板平貼於光學玻璃層；以及雷射元件用以發出一雷射光束，雷射光束穿過光學玻璃層與膜層，用以對加工載板進行加工。
在一實施例中，上述光學玻璃層係為一透明玻璃。
在一實施例中，上述使膜層與吸附框體之光學玻璃層之間形成腔室的步驟，包括以下步驟：使膜層接觸於吸附框體之一凸部，其中凸部凸出於光學玻璃層，且凸部凸出於吸附框體之一表面，形成一環形凸部。
本發明之再一實施例提出一種加工載板之整平方法，包括以下步驟：放置一載具於一吸附框體，其中載具包含一膜層與一加工載板，加工載板貼附於膜層；使膜層與吸附框體之一光學玻璃層之間形成一腔室，其中膜層位於加工載板與腔室之間；以及對腔室抽氣，使膜層與光學玻璃層之間形成真空，膜層朝光學玻璃層移動，以使加工載板平貼於光學玻璃層。
在一實施例中，上述使膜層與吸附框體之光學玻璃層之間形成腔室的步驟，包括以下步驟：使膜層接觸於吸附框體之一凸部，其中凸部凸出於光學玻璃層，且凸部凸出於吸附框體之一表面，形成一環形凸部。
基於上述，在本發明之半導體封裝製造設備、雷射加工方法以及加工載板之整平方法中，使膜層與光學玻璃層之間形成一腔室，利用對腔室抽氣，使膜層與光學玻璃層之間的腔室形成真空，膜層朝光學玻璃層移動，以使加工載板平貼於光學玻璃層，來壓平加工載板，避免加工載板形成翹曲或造成位移。
為讓本發明能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
下面結合實施例，對本發明的具體實施方式作進一步描述。以下實施例僅用於更加清楚地說明本發明的技術方案，而不能以此來限制本發明的保護範圍。
需說明的是，在各個實施例的說明中，當一元件被描述是在另一元件之「上方/上」或「下方/下」，係指直接地或間接地在該另一元件之上或之下的情況，其可能包含設置於其間的其他元件；所謂的「直接地」係指其間並未設置其他中介元件。「上方/上」、「下方/下」、「左邊/左」或「右邊/右」等的描述係以圖式為基準進行說明，但亦包含其他可能的方向轉變。為了說明上的便利和明確，圖式中各元件的厚度或尺寸，係以誇張或省略或概略的方式表示，且各元件的尺寸並未完全為其實際的尺寸。
圖1為本發明之半導體封裝製造設備的示意圖。請參閱圖1。本實施例之半導體封裝製造設備10用於扇出式等級封裝構造及晶圓產品，半導體封裝製造設備10至少包括一吸附框體11、一光學玻璃層13以及至少一抽氣元件14。吸附框體11用以供一載具21放置。載具21包含一膜層22與一加工載板23，加工載板23貼附於膜層22，且加工載板23與膜層22兩者緊密接合，其中膜層22為一薄膜，薄膜本身為一軟性結構。需說明的是，加工載板23之表面231為一線路面，其具有電子電路配置；加工載板23之底面232為一加工面，加工載板23之底面232貼附至膜層22。由此可知，本實施例係利用膜層22將加工載板23固定在載具21上，即膜層22為加工載板23與載具21連結在一起之一媒介物。除此之外，可利用載具21來移動加工載板23至一加工處(如本實施例之雷射加工)。在一實施例中，可利用機械手臂移動載具21，或利用滾輪輸送方式移動載具21，其中加工載板23之類型可端視實際半導體封裝製程而定。
在本實施例中，光學玻璃層13設置於吸附框體11之內。光學玻璃層13係以光學玻璃所製成，其中光學玻璃層13具有相對的一受光面132與一出光面131，其中受光面132係接收雷射元件30發出之雷射光束，使雷射元件30之雷射光束能穿過光學玻璃層13並由出光面131射出。吸附框體11包括一凸部12與一表面112，凸部12係由表面112凸出形成之一凸緣，即凸部12凸出於吸附框體11之表面112，形成一環形凸部。以圖1為例，凸部12除了凸出於吸附框體11之表面112以外，凸部12也凸出於光學玻璃層13之表面，且光學玻璃層13之表面低於吸附框體11之表面112。然，本發明不對此加以限制，在另一實施例中，光學玻璃層13之表面高於吸附框體11之表面112，凸部12可凸出於光學玻璃層13之表面，且凸部12仍高於吸附框體11之表面112。當載具21放置於吸附框體11之表面112時，膜層22接觸於凸部12，且使得膜層22與光學玻璃層13之出光面131之間形成具密閉空間之一腔室S，其中膜層22位於加工載板23與腔室S之間，加工載板23之底面232為一加工面並朝向雷射元件30，凸部12位於腔室S之周圍。
此外，至少一抽氣元件14設置於吸附框體11內，吸附框體11內具有一抽氣孔洞113，抽氣孔洞113之一端連通至光學玻璃層13之周圍，抽氣孔洞113之另一端連通抽氣元件14。由此可知，本實施例之抽氣元件14藉由吸附框體11內之抽氣孔洞113以連通至腔室S之內。
在此配置之下，抽氣元件14抽氣，使膜層22與光學玻璃層13之間的腔室S形成真空，由於光學玻璃層13係為一硬性結構且為透明結構，而膜層22為一軟性結構，使得軟性結構之膜層22會朝硬性結構之光學玻璃層13移動，進而使加工載板23之整個之底面232(即加工面)能平貼於光學玻璃層13之出光面131，來壓平加工載板23之底面232(即加工面)，避免加工載板23形成翹曲或造成位移。當壓平加工載板23後，雷射元件30用以發出一雷射光束，雷射光束穿過光學玻璃層13與膜層22，用以對加工載板23進行雷射加工。由此可知，本實施例利用光學玻璃層13與膜層22來達到整平加工載板23的同時，更可利用透明之光學玻璃層13的特性，來對加工載板23進行雷射加工。
在一實施例中，本實施例可透過上述的半導體封裝製造設備10去執行本發明的加工載板之整平方法，其可在任一製程對加工載板進行整平。加工載板之整平方法包括以下步驟：提供一吸附框體11，吸附框體11的型態與尺寸可依據實際半導體封裝製造方法所需而擇定。以圖1為例，吸附框體11包括凸部12以及表面112，凸部12係由表面112凸出形成之一凸緣，即凸部12凸出於吸附框體之表面112，形成一環形凸部。
接著，設置光學玻璃層13於吸附框體11之內。光學玻璃層13係以光學玻璃所製成，使雷射元件30之雷射光束能穿過光學玻璃層13。以圖1為例，凸部12凸出於光學玻璃層13之表面，且光學玻璃層13之表面低於吸附框體11之表面112。然，本發明不對此加以限制，在另一實施例中，光學玻璃層13之表面高於吸附框體11之表面112，凸部12可凸出於光學玻璃層13之表面，且凸部12仍高於吸附框體11之表面112。此外，設置至少一抽氣元件14於吸附框體11內，吸附框體11內具有一抽氣孔洞113，抽氣孔洞113之一端連通至光學玻璃層13之周圍，抽氣孔洞113之另一端連通抽氣元件14。
接著，放置一載具21於一吸附框體11，在一實施例中，可利用機械手臂移動載具21，或利用滾輪輸送方式移動載具21。載具21包含一膜層22與一加工載板23，加工載板23設置於膜層22，其中膜層22為一薄膜，薄膜本身為一軟性結構，其中加工載板23之類型可端視實際半導體封裝製程而定。需說明的是，加工載板23之表面231為一線路面，其具有電子電路配置；加工載板23之底面232為一加工面，加工載板23之底面232貼附至膜層22。由此可知，本實施例係利用膜層22將加工載板23固定在載具21上，即膜層22為加工載板23與載具21連結在一起之一媒介物。
接著，使膜層22與吸附框體11之一光學玻璃層13之間形成一腔室S。詳細而言，當載具21放置於吸附框體11之表面112時，使膜層22接觸於吸附框體11之凸部12，進而使得膜層22與光學玻璃層13之出光面131之間形成具密閉空間之一腔室S，其中膜層22位於加工載板23與腔室S之間，加工載板23之底面232為一加工面並朝向雷射元件30。
接著，抽氣元件14對腔室S抽氣，使膜層22與光學玻璃層13之間的腔室S形成真空，由於光學玻璃層13係為一硬性結構且為透明結構，而膜層22為一軟性結構，使得軟性結構之膜層22會朝硬性結構之光學玻璃層13移動，進而使加工載板23之整個之底面232(即加工面)能平貼於光學玻璃層13之出光面131，來壓平加工載板23之底面232(即加工面)，避免加工載板23形成翹曲或造成位移，達到整平加工載板23之需求。
在一實施例中，本實施例可透過上述的半導體封裝製造設備10去執行本發明的雷射加工方法。需說明的是，本發明的雷射加工方法與前述加工載板之整平方法相似，其中相同的步驟不再重複說明，以下僅說明差異處。本發明的雷射加工方法中，光學玻璃層13係為一透明玻璃。除此之外，前述對腔室S抽氣，使膜層22與光學玻璃層13之間的腔室S形成真空，以使加工載板23之整個之底面232(即加工面)能平貼於光學玻璃層13之出光面131，來壓平加工載板23之底面232(即加工面)之後，接著，雷射元件30用以發出一雷射光束，由於光學玻璃層13係為一透明玻璃，雷射光束能穿過光學玻璃層13與膜層22，用以對加工載板23進行雷射加工。
綜上所述，在本發明之半導體封裝製造設備、雷射加工方法以及加工載板之整平方法中，使膜層與光學玻璃層形成一腔室，利用對腔室抽氣，使膜層與光學玻璃層之間的腔室形成真空，膜層朝光學玻璃層移動，以使加工載板平貼於光學玻璃層，來壓平加工載板，避免加工載板形成翹曲或造成位移。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10‧‧‧半導體封裝製造設備 11‧‧‧吸附框體 112‧‧‧ 113‧‧‧抽氣孔洞 12‧‧‧凸部 13‧‧‧光學玻璃層 131‧‧‧出光面 132‧‧‧受光面 14‧‧‧抽氣元件 21‧‧‧載具 22‧‧‧膜層 23‧‧‧加工載板 231‧‧‧表面 232‧‧‧底面 30‧‧‧雷射元件 S‧‧‧腔室
圖1為本發明之半導體封裝製造設備的示意圖。
10‧‧‧半導體封裝製造設備
11‧‧‧吸附框體
112‧‧‧表面
113‧‧‧抽氣孔洞
12‧‧‧凸部
13‧‧‧光學玻璃層
131‧‧‧出光面
132‧‧‧受光面
14‧‧‧抽氣元件
21‧‧‧載具
22‧‧‧膜層
23‧‧‧加工載板
231‧‧‧表面
232‧‧‧底面
30‧‧‧雷射元件
S‧‧‧腔室

Claims (8)

  1. 一種半導體封裝製造設備，用於一扇出式等級封裝構造及一晶圓產品，該半導體封裝製造設備包括： 一吸附框體，用以供一載具放置，其中該載具包含一膜層與一加工載板，該加工載板貼附於該膜層； 一光學玻璃層，設置於該吸附框體之內，其中當該載具放置於該吸附框體時，該膜層與該光學玻璃層之間形成一腔室，該膜層位於該加工載板與該腔室之間；以及 至少一抽氣元件，設置於該吸附框體之內，該至少一抽氣元件抽氣，使該膜層與該光學玻璃層之間形成真空，該膜層朝該光學玻璃層移動，以使該加工載板平貼於該光學玻璃層。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之半導體封裝製造設備，更包括： 一雷射元件，用以發出一雷射光束，該雷射光束穿過該光學玻璃層與該膜層，用以對該加工載板進行加工。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之半導體封裝製造設備，其中該吸附框體包括一凸部，該凸部凸出於該光學玻璃層，且該凸部凸出於該吸附框體之一表面，形成一環形凸部。
  4. 一種雷射加工方法，包括以下步驟： 放置一載具於一吸附框體，其中該載具包含一膜層與一加工載板，該加工載板貼附於該膜層； 使該膜層與該吸附框體之一光學玻璃層之間形成一腔室，其中該膜層位於該加工載板與該腔室之間； 對該腔室抽氣，使該膜層與該光學玻璃層之間形成真空，該膜層朝該光學玻璃層移動，以使該加工載板平貼於該光學玻璃層；以及 一雷射元件用以發出一雷射光束，該雷射光束穿過該光學玻璃層與該膜層，用以對該加工載板進行加工。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之雷射加工方法，其中該光學玻璃層係為一透明玻璃。
  6. 如申請專利範圍第4項所述之雷射加工方法，其中所述使該膜層與該吸附框體之該光學玻璃層之間形成該腔室的步驟，包括以下步驟： 使該膜層接觸於該吸附框體之一凸部，其中該凸部凸出於該光學玻璃層，且該凸部凸出於該吸附框體之一表面，形成一環形凸部。
  7. 一種加工載板之整平方法，包括以下步驟： 放置一載具於一吸附框體，其中該載具包含一膜層與一加工載板，該加工載板貼附於該膜層； 使該膜層與該吸附框體之一光學玻璃層之間形成一腔室，其中該膜層位於該加工載板與該腔室之間；以及 對該腔室抽氣，使該膜層與該光學玻璃層之間形成真空，該膜層朝該光學玻璃層移動，以使該加工載板平貼於該光學玻璃層。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之加工載板之整平方法，其中所述使該膜層與該吸附框體之該光學玻璃層之間形成該腔室的步驟，包括以下步驟： 使該膜層接觸於該吸附框體之一凸部，其中該凸部凸出於該光學玻璃層，且該凸部凸出於該吸附框體之一表面，形成一環形凸部。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200427521A (en) * 2003-03-03 2004-12-16 Toray Industries Slit die, and method and apparatus for manufacturing base material having coated film
TW200610954A (en) * 2004-09-16 2006-04-01 Jen-I Kuo Method for measuring numbers of via and checking qualities of filled-via for ceramic green tapes
WO2014071179A2 (en) * 2012-11-01 2014-05-08 Thermalens, Llc Thermally influenced changeable tint device
TW201434653A (zh) * 2013-03-15 2014-09-16 Au Optronics Corp 電子裝置及其製造方法
TWM554224U (zh) * 2017-10-02 2018-01-11 盟立自動化股份有限公司 雷射輔助接合裝置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200427521A (en) * 2003-03-03 2004-12-16 Toray Industries Slit die, and method and apparatus for manufacturing base material having coated film
TW200610954A (en) * 2004-09-16 2006-04-01 Jen-I Kuo Method for measuring numbers of via and checking qualities of filled-via for ceramic green tapes
WO2014071179A2 (en) * 2012-11-01 2014-05-08 Thermalens, Llc Thermally influenced changeable tint device
TW201434653A (zh) * 2013-03-15 2014-09-16 Au Optronics Corp 電子裝置及其製造方法
TWM554224U (zh) * 2017-10-02 2018-01-11 盟立自動化股份有限公司 雷射輔助接合裝置

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