TWI616309B - 薄膜卷材之製造方法 - Google Patents
薄膜卷材之製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI616309B TWI616309B TW102117200A TW102117200A TWI616309B TW I616309 B TWI616309 B TW I616309B TW 102117200 A TW102117200 A TW 102117200A TW 102117200 A TW102117200 A TW 102117200A TW I616309 B TWI616309 B TW I616309B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- thickness
- film
- profile
- measurement
- roll
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 60
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 403
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 156
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 claims abstract description 26
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 23
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims abstract description 12
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 claims abstract description 8
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 5
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 claims description 33
- 239000000088 plastic resin Substances 0.000 abstract 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 44
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 44
- 239000000047 product Substances 0.000 description 28
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 19
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 17
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 13
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 10
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 9
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 8
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 7
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 7
- -1 polypropylene Polymers 0.000 description 6
- 210000002435 tendon Anatomy 0.000 description 6
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 5
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 5
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 4
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 4
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 3
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 3
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 2
- 239000002033 PVDF binder Substances 0.000 description 2
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 2
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 229920000193 polymethacrylate Polymers 0.000 description 2
- 229920002981 polyvinylidene fluoride Polymers 0.000 description 2
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 description 2
- LIKMAJRDDDTEIG-UHFFFAOYSA-N 1-hexene Chemical compound CCCCC=C LIKMAJRDDDTEIG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxy-5-methylphenyl)ethanamine Chemical compound COC1=CC=C(C)C=C1CCN SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 2-Propenoic acid Natural products OC(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000512259 Ascophyllum nodosum Species 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004696 Poly ether ether ketone Substances 0.000 description 1
- 229930182556 Polyacetal Natural products 0.000 description 1
- 239000004697 Polyetherimide Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N Vinyl chloride Chemical compound ClC=C BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- 229920001893 acrylonitrile styrene Polymers 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 150000001336 alkenes Chemical class 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- FACXGONDLDSNOE-UHFFFAOYSA-N buta-1,3-diene;styrene Chemical compound C=CC=C.C=CC1=CC=CC=C1.C=CC1=CC=CC=C1 FACXGONDLDSNOE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 235000014113 dietary fatty acids Nutrition 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- 229920006244 ethylene-ethyl acrylate Polymers 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000000194 fatty acid Substances 0.000 description 1
- 229930195729 fatty acid Natural products 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 239000003063 flame retardant Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 229920001519 homopolymer Polymers 0.000 description 1
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 210000003205 muscle Anatomy 0.000 description 1
- 239000002736 nonionic surfactant Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920001707 polybutylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920002530 polyetherether ketone Polymers 0.000 description 1
- 229920001601 polyetherimide Polymers 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 description 1
- 229920005672 polyolefin resin Polymers 0.000 description 1
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001955 polyphenylene ether Polymers 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 229920002620 polyvinyl fluoride Polymers 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- SCUZVMOVTVSBLE-UHFFFAOYSA-N prop-2-enenitrile;styrene Chemical compound C=CC#N.C=CC1=CC=CC=C1 SCUZVMOVTVSBLE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 1
- 229920000468 styrene butadiene styrene block copolymer Polymers 0.000 description 1
- 229920001909 styrene-acrylic polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 description 1
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29D—PRODUCING PARTICULAR ARTICLES FROM PLASTICS OR FROM SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE
- B29D7/00—Producing flat articles, e.g. films or sheets
- B29D7/01—Films or sheets
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C48/00—Extrusion moulding, i.e. expressing the moulding material through a die or nozzle which imparts the desired form; Apparatus therefor
- B29C48/25—Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
- B29C48/30—Extrusion nozzles or dies
- B29C48/305—Extrusion nozzles or dies having a wide opening, e.g. for forming sheets
- B29C48/31—Extrusion nozzles or dies having a wide opening, e.g. for forming sheets being adjustable, i.e. having adjustable exit sections
- B29C48/313—Extrusion nozzles or dies having a wide opening, e.g. for forming sheets being adjustable, i.e. having adjustable exit sections by positioning the die lips
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C48/00—Extrusion moulding, i.e. expressing the moulding material through a die or nozzle which imparts the desired form; Apparatus therefor
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C48/00—Extrusion moulding, i.e. expressing the moulding material through a die or nozzle which imparts the desired form; Apparatus therefor
- B29C48/03—Extrusion moulding, i.e. expressing the moulding material through a die or nozzle which imparts the desired form; Apparatus therefor characterised by the shape of the extruded material at extrusion
- B29C48/07—Flat, e.g. panels
- B29C48/08—Flat, e.g. panels flexible, e.g. films
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C48/00—Extrusion moulding, i.e. expressing the moulding material through a die or nozzle which imparts the desired form; Apparatus therefor
- B29C48/25—Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C48/00—Extrusion moulding, i.e. expressing the moulding material through a die or nozzle which imparts the desired form; Apparatus therefor
- B29C48/25—Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
- B29C48/92—Measuring, controlling or regulating
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C2948/00—Indexing scheme relating to extrusion moulding
- B29C2948/92—Measuring, controlling or regulating
- B29C2948/92009—Measured parameter
- B29C2948/92114—Dimensions
- B29C2948/92152—Thickness
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C2948/00—Indexing scheme relating to extrusion moulding
- B29C2948/92—Measuring, controlling or regulating
- B29C2948/92009—Measured parameter
- B29C2948/92114—Dimensions
- B29C2948/92171—Distortion, shrinkage, dilatation, swell or warpage
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C2948/00—Indexing scheme relating to extrusion moulding
- B29C2948/92—Measuring, controlling or regulating
- B29C2948/92323—Location or phase of measurement
- B29C2948/92447—Moulded article
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C2948/00—Indexing scheme relating to extrusion moulding
- B29C2948/92—Measuring, controlling or regulating
- B29C2948/92504—Controlled parameter
- B29C2948/92523—Force; Tension
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C2948/00—Indexing scheme relating to extrusion moulding
- B29C2948/92—Measuring, controlling or regulating
- B29C2948/92504—Controlled parameter
- B29C2948/92609—Dimensions
- B29C2948/92647—Thickness
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C2948/00—Indexing scheme relating to extrusion moulding
- B29C2948/92—Measuring, controlling or regulating
- B29C2948/92504—Controlled parameter
- B29C2948/92609—Dimensions
- B29C2948/92666—Distortion, shrinkage, dilatation, swell or warpage
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Extrusion Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
Abstract
本發明係關於不利用振盪製造出外觀良好的薄膜卷材之方法，提供一種薄膜卷材之製造方法，其特徵為：包含：從具備唇部間隙(lip gap)之調整手段的模具擠壓熱可塑性樹脂，且邊移行邊製膜，而形成薄膜的工程(A)；在薄膜之移行中調整薄膜之厚度的工程(B)；將薄膜捲成捲筒狀的工程(C)，在工程(B)中，藉由重複下述(a)~(c)之步驟調整薄膜之厚度，(a)在薄膜之寬方向中，以特定間隔測量薄膜之厚度，製作個別厚度剖面之步驟；(b)根據一個或其以上之該個別厚度剖面，製作測量厚度剖面之步驟；(c)根據測量厚度剖面，和設定厚度剖面，調整唇部間隙之步驟，又，以一次之測量厚度剖面中之薄膜厚度之振幅R1，一次之測量厚度剖面中之薄膜厚度之標準偏差σ1，累計平均剖面中之薄膜厚度之振幅RAV，及累計平均剖面中之薄膜厚度之標準偏差σAV，各滿足R1≦2.0μm、σ1≦0.5μm、RAV≦1.0μm、及σAV≦0.2μm之條件之方式，又調整薄膜之厚度。
Description
本發明係關於薄膜卷材之製造方法，尤其關於藉由將由熱可塑性樹脂所構成之薄膜捲成捲筒狀而形成的薄膜卷材之製造方法。
由聚酯、聚丙烯、聚碳酸酯、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)等之熱可塑性樹脂所構成之薄膜，例如在液晶顯示裝置或電漿顯示器等之平面顯示器中，當作光擴散膜或用以保護平面顯示器之構成構件之表面的保護膜等使用。
再者，被安裝於液晶顯示裝置之液晶面板中，也有例如配置偏光板之情況，如此之偏光板係在偏光子之兩面，疊層由上述之熱可塑性樹脂所構成之保護膜而構成，又在該保護膜之至少一方之表面又設置防眩層或硬塗層等。
再者，例如，在上述構成之偏光板中，當在由熱可塑性樹脂所構成之保護膜具有厚度不均時(即是，厚度不均勻)，如此之保護膜有容易剝離，當被放置在重複高溫和低溫之環境下時容易產生裂紋之情形，薄膜之商
品價值明顯受到損害。因此，在如此的由熱可塑性樹脂所構成之薄膜之製造工程中，要求將與薄膜之縱向(或是製造生產線中之薄膜的移行方向或搬運方向)正交之薄膜之寬方向之薄膜厚度之分布設在特定範圍內。例如，要求以在薄膜之全寬上薄膜厚度均勻之方式來控制薄膜厚度。該薄膜厚度之寬方向之調整係藉由被設置在具有模具之特定寬度之模唇的厚度調整手段而被實施，且上述模具係被用於擠壓成形熔融的熱可塑性樹脂，一般而言，為可以調整熔化聚合物通過之模唇之縫隙狀間隙的螺栓，或是由如此之螺栓，和可以加熱該螺栓之加熱器等所構成的手段(例如，熱螺栓方式之致動器等)。再者，模唇之間隙可以使用各被設置在以特定間隔被設置在模唇之寬方向之複數區間的螺栓，而在各區間獨立調整。再者，如此之模唇之間隙的調整也有自動化之情況。
使用如此之厚度調整手段而被調整之薄膜之寬方向之厚度，一般係在薄膜被捲成捲筒狀之期間藉由厚度測量器而被測量，其測量值係被反饋至上述調整手段，然後，又重複進行薄膜寬方向之厚度的均勻化之調整，即進行所謂的反饋控制。
在以上述厚度測量值為基準之薄膜厚度之調整方法中，雖然可藉由使用該調整方法，將薄膜之厚度在薄膜之寬方向，根據至少一次從其一方之端部掃描(scan)至另一方之端部而測量薄膜厚度所製作的測量厚度剖面，並藉由上述反饋控制，實施薄膜之寬方向之厚度
的均勻化，但是在最終的薄膜卷材製品之表面外觀，以產生被稱為暴筋(gauge band)的沿著薄膜之縱向(或是捲繞方向)的凸部，或被稱為金字塔((pyramid)之不良情形為多。
在此，「暴筋」也被稱為昆布卷、活塞環等，該係指於將薄膜捲成捲筒狀之時，在薄膜卷材之一部分產生於捲繞方向的帶狀缺陷(凸部)。該缺陷係在薄膜之寬方向中之薄膜的厚度中，由於僅些許薄膜之厚度大的部分被捲在輥而累積在捲繞方向而產生。如此一來，暴筋係由於薄膜卷材製作時之卷徑差的原因而產生。
再者，「金字塔」也被稱為皺摺、多角形化等，為成為上述暴筋之前的現象，該係在卷材表面微細的凹凸連成帶狀而形成。
如此之缺陷雙方皆因為在以又對樹脂薄膜上進行的硬塗處理、低反射(AR)處理、防眩(AG)處理等之表面處理等所代表的後加工之各處理工程中，在薄膜上引起目視上之缺陷，故如此薄膜卷材中之上述缺陷的任一者在薄膜之品質上皆強烈被要求其改善。
並且，上述之厚度調整手段中，雖然根據測量厚度剖面，進行對調整手段的反饋控制，但是成為此時之基準的目標值，係薄膜寬方向之均勻厚度分布(該也被稱為期待厚度剖面)。
因此，例如於測量厚度剖面之一區間之薄膜厚度(即是，在薄膜之寬方向上設定的特定區間中之薄膜的厚度)
大於目標值之時，為了抑制從相當於其區間之模具吐出熔化聚合物之吐出量，進行在其區間縮小模唇之間隙的調整。
然後，之後也一面重複同樣的調整，一面進行薄膜之厚度的調整，至最終在薄膜之寬方向取得均勻厚度為止。
但是，此時，將在調整吐出量之期間所製作的測量厚度剖面中之該部分(或區間)之薄膜厚度相加平均而取得的累計厚度(即是，薄膜之縱向之厚度的累計值之平均值)仍較其目標值厚。
即是，在該部分之累計厚度相對於其目標值成為+側之數值，其結果，產生暴筋或金字塔等之缺陷的原因仍然無法排除。
如此一來，在以往之厚度調整手段中，因針對與薄膜之累計厚度有關之要素，完全無考慮到，故要有效地抑制薄膜卷材中之暴筋或金字塔等之缺陷，並取得外觀之良好的薄膜卷材則有困難。
對此，就以以往技術而言，提案有下述方法：例如一面在薄膜和用以捲取薄膜之芯體之間以一定週期進行芯體之軸方向之相對性往返運動(振盪機構)，一面捲取薄膜之方法(參照專利文獻1等)。
屬於暫時將薄膜捲在中間輥，之後從中間輥卷出薄膜，一面施加振盪一面切成所需之寬度，並再次捲成捲筒狀，製造出最終的薄膜卷材之方法，其係根據捲在中間輥之前的薄膜寬方向之厚度分布，預測最終之薄膜卷材之卷
形狀，並根據所預測之最終的卷形狀，控制模具中之吐出量的方法(參照專利文獻2等)。
屬於邊從捲取薄膜之中間輥捲回薄膜，分條(切割)成複數之特定製品寬度而製造出製品卷材的薄膜卷材之製造方法，其係測量中間輥之寬方向之卷徑分布，根據其測量值而以所決定之振盪條件使中間輥移動(振盪)至軸方向，邊以分條製造出製品卷材之方法(參照專利文獻3等)。
為一種薄膜之捲取方法，係屬於在測量延伸薄膜之寬方向之厚度分布，根據其測量值，控制從模具吐出之吐出量，而邊將薄膜之寬方向中之厚度分布控制成特定之剖面，邊將薄膜捲成捲筒狀之方法，其特徵為：測量薄膜卷材之寬方向之卷徑分布，從其卷徑分布值預測捲取後之薄膜卷材之卷形狀，並根據該預測值，調整自模具吐出之吐出量，而將薄膜卷材之卷形狀控制成目標的卷形狀(參照專利文獻4等)。
[專利文獻1]日本公昭36-22875號公報
[專利文獻2]日本特開2002-28972號公報
[專利文獻3]日本特開2002-87690號公報
[專利文獻4]日本特開2001-30339號公報
但是，記載於專利文獻1之發明，除了於以捲取部進行搖動(振盪)之時，有薄膜不受均勻之捲取張力，而產生皺紋之虞外，所捲取之薄膜卷材之端面無均勻對齊，由於即使在後工程也需要EPC(邊緣位置控制)機構等，故在品質上、設備上之問題為多。
再者，在專利文獻1中，為了將卷材端面較均勻地對齊，雖然也實施對製品寬進行分條(切割)及振盪，但是因需要放大搖動寬部分的有效寬度，故必須將薄膜生產設備規模設定成較大，在成本上有大的問題。
再者，記載於專利文獻2、3之發明針對中間輥，即是在薄膜製造工程內所用之輥上的捲繞外觀，並無詳細記載，只不過係關於實施振盪後之最終卷材製品的捲繞外觀。如上述般，效率隨著實施振盪而下降，並且在該方法中，因另外需要從中間輥回朝最終製品卷材的捲回(換捲)或分條工程，故時間上、人力負擔大，稱不上有效率。
記載於專利文獻4之發明，由於直接測量實際之薄膜卷材之卷徑分布，故可以將薄膜卷材之外觀精加工成良好，但是由於捲取薄膜卷材之時的捲取設備之振動或捲取軸之軸搖晃等之設備引起的測量誤差，有使捲繞外觀受損之虞。再者，也預測由於追加卷徑分布之測量器，或導入用以對所測量之卷徑分布進行反饋控制之新增軟
體，或配線連接等，需花費較大的成本。
於是，本發明係以提供不利用振盪，製造出外觀良好之薄膜卷材為目的。
本發明者為了解決上述課題，深入研究結果，找出由以下構成所形成的解決手段，而完成本發明。
因此，本發明雖然係提供以下之製造方法，但本發明並不限定於以下之方法。
[1]為一種薄膜卷材之製造方法，包含以下之工程(A)~(C)：(A)從具備唇部間隙(lip gap)之調整手段的模具擠壓熱可塑性樹脂，且邊移行邊製膜，而形成薄膜之工程；(B)在該薄膜之移行中，調整該薄膜之厚度的工程，重複下述之步驟(a)~(c)，而調整薄膜之厚度的工程，(a)在與該薄膜之移行方向正交之該薄膜之寬方向，以特定間隔測量該移行中之薄膜的厚度，製作個別厚度剖面之步驟，(b)根據一個或其以上之該個別厚度剖面，製作測量厚度剖面之步驟，(c)根據該測量厚度剖面，和設定厚度剖面，調整
該模具之唇部間隙之步驟；(C)將薄膜捲成捲筒狀之工程，在該工程(B)中，以滿足下述之條件之方式，又調整薄膜之厚度，R1≦2.0μm，σ1≦0.5μm，RAV≦1.0μm，及σAV≦0.2μm，[式中，R1係一次之該測量厚度剖面中之薄膜厚度之最大值和最小值之差，表示該測量厚度剖面中之薄膜厚度之振幅，σ1係表示一次之該測量厚度剖面中之薄膜厚度之標準偏差，RAV係表示100次連續製作該測量厚度剖面而相加平均所取得之累計平均剖面中之薄膜厚度之最大值和最小值之差，表示該累計平均剖面中之薄膜厚度的振幅，σAV係表示該累計平均剖面中之薄膜厚度之標準偏差]。
[2]如上述[1]所記載之製造方法，其中，在上述步驟(a)中，根據以特定間隔測量從上述薄膜之寬方向之一方之端部至另一方之端部，或從另一方之端部至一方之端部而所取得之與薄膜厚度有關的測量資料，製作一個上述個別厚度剖面。
[3]如上述[1]所記載之製造方法，其中，在上述步驟(b)中，根據兩個以上之上述個別厚度剖面，製作上述測量厚度剖面。
[4]如上述[1]~[3]中之任一項所記載之製造方法，其中，上述設定厚度剖面係從由期待厚度剖面及逆符號剖面所構成之群中被選擇出。
[5]如上述[4]所記載之製造方法，其中，上述設定厚度剖面為逆符號剖面。
[6]如上述[5]所記載之製造方法，其中，上述逆符號剖面係每製作上述測量厚度剖面，就根據該測量厚度剖面而被製作。
若藉由本發明，可以不用利用振盪，有效果地製造外觀良好之薄膜卷材。
1‧‧‧模具
2‧‧‧調整手段
3‧‧‧鑄造輥
3’‧‧‧鑄造輥(或是對向輥)
3”‧‧‧鑄造輥(或是冷卻輥)
4‧‧‧熱可塑性樹脂薄膜
5‧‧‧厚度測量器
6‧‧‧薄膜卷材
7‧‧‧控制手段
第1圖為表示在本發明之製造方法及本發明之製造方法中所使用之裝置之一例的概略圖。
第2圖為用以說明逆符號剖面之概略圖。
第3圖為表示藉由調整薄膜厚度使得薄膜厚度變化的概略圖。
以下，針對本發明之薄膜卷材之製造方法之一實施型態，一面參照圖面，一面予以詳細說明，本發明並不限定於該實施型態。
第1圖為表示在本發明之薄膜卷材之製造方法及本發明之製造方法中可以使用之裝置之一例的概略圖。
在本發明之薄膜卷材之製造方法中可以使用之裝置係如第1圖所示般，具備：可以將熔融之熱可塑性樹脂吐出成薄膜狀之模具1；可以調整熱可塑性樹脂之吐出量，進而可以調整由如此之熱可塑性樹脂所構成之薄膜之厚度的調整手段2；夾著熔融之熱可塑性樹脂，可以成形薄膜狀而對其表面賦與平滑性，並且進行冷卻的至少一根鑄造輥3(以及3’及3”)；被配置在熱可塑性樹脂薄膜4之移行路上，可以測量與薄膜4之移行方向正交之薄膜之寬方向之厚度的厚度測量器5；可以將熱可塑性樹脂薄膜4捲成捲筒狀之捲取機(無圖示)；可以儲存以厚度測量器5所測量之資料，並處理其測量資料而對調整手段2給予指示之控制手段7。
使用如上述般所構成之裝置，在本發明之製
造方法中，以捲取機(無圖示)將藉由熔融擠壓成形所成形之熱可塑性樹脂薄膜4捲成捲筒狀，最終形成薄膜卷材6。
並且，在本發明中，將熱可塑性樹脂薄膜4捲成捲筒狀者稱為「薄膜卷材」。
在本發明之製造方法中，如第1圖所示般，首先對擠壓機(無圖示)連續性供給熱可塑性樹脂，藉由模具1擠壓熔融之熱可塑性樹脂而成形薄膜狀。更詳細而言，從模具1之模唇之縫隙狀之間隙擠壓熱可塑性樹脂。
就以熱可塑性樹脂而言，可舉出乙烯、丙烯、丁烯、己烯等之烯系單體之均聚物或兩種類以上之上述烯系單體之共聚合體、一種類以上之上述烯系單體，和能與上述烯系單體聚合的一種類以上之聚合性單體之共聚合體等之聚烯系樹脂；聚甲基丙烯酸酯(PMA)、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)、乙烯-丙烯酸乙酯共聚合體等之丙烯酸系樹脂；丁二烯-苯乙烯共聚合體、丙烯腈-苯乙烯共聚合體、聚苯乙烯、苯乙烯一丁二烯一苯乙烯共聚合體、苯乙烯/異戊二烯/苯乙烯共聚合體、苯乙烯-丙烯酸共聚合體等之苯乙烯系樹脂；氯乙烯系樹脂；聚氟乙烯、聚偏二氟乙烯等之氟化乙烯系樹脂；6-耐隆、6,6-耐隆、12-耐隆等之醯胺系樹脂；聚對苯二甲酸乙二醇酯、聚對苯二甲酸丁二等之酯系樹脂；聚碳酸酯系樹脂、聚苯醚系樹脂、聚縮醛系樹脂、聚苯硫系樹脂、聚矽氧系樹脂、熱可塑性胺甲酸乙酯系樹脂、聚醚醚酮系樹脂、聚醚醯亞胺系樹脂、
熱可塑性彈性體系樹脂、架橋樹脂等。並且，在本發明中可以所使用之熱可塑性樹脂並不限定於上述，若為可以藉由熔融擠壓成形而成形薄膜狀者即可，不特別限制。
熱可塑性樹脂即使以任意之量含有適當橡膠粒子、脂肪酸酯、安定化劑、氧化防止劑、紫外線吸收劑、阻燃劑、非離子系界面活性劑等之添加劑亦可。
模具1具備模唇，該模唇具有吐出熔融之樹脂的縫隙狀之間隙，在該模唇，於其模唇寬上，每特定區間各設置有調整手段2。
調整手段2若為可以調整吐出熔融之樹脂的模唇之間隙者即可，進一步為可以在指定之每區間獨立調整從模唇吐出之熔融樹脂之吐出量者，可以在各區間獨立調整模具1之全寬方向中之熔融樹脂之吐出量分布者。其結果，本發明中，可以調整熱可塑性樹脂薄膜4(之後，也有樹脂薄膜4或薄膜4或僅略稱為薄膜之情形)之寬方向之厚度分布。
調整手段2若為具有可以在模具1之模唇寬方向之特定的每區間調整模唇之間隙的機構，進一步若為具有可以在各區間獨立調整熔融樹脂之吐出量的機構即可，並不特別限制，例如可沿著模唇寬而藉由每區間所具備之螺栓的推壓可在其區間調整模唇之間隙的手段；由螺栓，和被配置在如此之螺栓之周圍的電氣而可自由調整傳熱量之加熱器所構成，而且利用其熱量所導致的螺栓伸縮而可在每區間獨立調整模唇之間隙的熱螺栓方式之致動器
等，在本發明中，其中又以使用熱螺栓方式之致動器為佳。
再者，調整手段2係在模具1之模唇之全寬，各自獨立設置在模唇之寬方向之特定的每區間，該區間之間隔一般為10~100mm，最佳為20~60mm。因此，例如被設置在模唇寬為1800mm之模具1的厚度調整手段2之數量一般為18~180個，最佳為30~90個。
如此一來，從模具1之模唇被擠壓之熔融樹脂，即使已係薄膜狀之形態亦可，然後接著例如第1圖所示般，被夾在兩根之鑄造輥3及3’而成形及冷卻，並且因應所需，可利用第3根鑄造輥3”來冷卻固化(並且，鑄造輥3’也有被稱為對向輥之情形，鑄造輥3”也有被稱冷卻輥之情形)。
並且，在本實施型態中，係以可以使用3根輥而成形薄膜及冷卻固化之3根輥法為例，但是鑄造輥即使為一根亦可，即使為兩根或4根以上之複數根亦可。再者，鑄造輥在第1圖中，雖然係在排列成橫一列的狀態下配置，但是其配置並不特別限制，例如即使為在排列成縱一列之I字形或L字形、逆L字形、Z字形、逆Z字形或傾斜配置等之狀態下配置亦可。
鑄造輥之表面即使因應薄膜之表面所要求之性能，例如施予電鍍處理亦可，然後即使為又藉由研磨精加工賦予鏡面性的鏡面輥亦可。再者，即使施予可賦予編織形狀、稜鏡形狀或柱形狀之透鏡形狀的加工或處理亦
可。
就以鑄造輥之構造而言，即使為具有削取圓筒形之金屬而製作出之剛性高的鑽孔構造的輥(或是削取輥)亦可，即使為具有在周圍配置由薄金屬所構成之無接縫之筒的彈性構造之輥(所謂的彈性輥)亦可。並且，鑄造輥即使其表面以聚矽氧或氟系之橡膠素材所構成亦可。一般而言，在輥之內部循環冷卻用之熱媒體，其溫度可因應熱可塑性樹脂之熱特性而適當變更。
如此一來，熔融樹脂藉由與輥表面接觸並且在輥上通過，適當成形及冷卻固化，而成為樹脂薄膜4，因應所需通過任意之複數根之搬運用輥及/或旋轉輥，最終藉由捲取機，被捲成捲筒狀，而成為薄膜卷材6。
樹脂薄膜4即使在被捲成捲筒狀而成為薄膜卷材6之期間，通過被配置在薄膜之上下的一對厚度測量器5，因應所需，通過異物檢查機(無圖示)、保護薄膜貼合機(無圖示)、端部分條機(無圖示)等亦可。該些之機器係因應樹脂薄膜所要求之性能而事先適當選擇，一般而言，以具備厚度測量器5和異物檢查機及端部分條機為多。
就以厚度測量器5，例如使兩個測量探針配置成各接觸於薄膜之兩側(上下)，藉由測量其測量探針間之距離，測量薄膜之厚度的接觸式之測量器；可以使用放射線等，以非接觸方式測量薄膜之厚度的非接觸式之測量器等，其中在本發明中，從防止對薄膜造成損傷等之觀點
來看，以使用非接觸式之測量器為佳。並且，即使在非接觸式之測量器之中，從可以在線上監視測量精度等之觀點來看，以使用放射線透過型之厚度測量器等為佳。
薄膜厚度之測量係於薄膜4在製造線上移行之期間，藉由厚度測量器5，在薄膜之寬方向進行從薄膜4之一方之端部朝另一方之端部的一次掃描(掃描)而測量薄膜厚度，接著連續進行從該薄膜4之另一方之端部朝一方之端部的又一次掃描(掃描)而測量薄膜厚度的操作，將在薄膜之寬方向以特定測量間隔所測量之薄膜厚度的測量值全部發送至控制手段7。
如上述般，厚度測量器5因對在線上移行之樹脂薄膜4，一面在薄膜之寬方向掃描，一面測量其厚度，故以厚度測量器5實際測量之薄膜厚度之位置，相對於薄膜之移行方向及薄膜之寬方向為傾斜方向，該方向係可以由在樹脂薄膜4之線上移行之速度(以下，稱為線速度)，和在厚度測量器5之薄膜寬方向掃描(scan)薄膜厚度而測量其厚度的掃描速度算出而決定。
在薄膜之寬方向中的厚度測量間隔，係能各對應於在模具1之模唇中為了配置調整手段2而所設置之區間的特定間隔，一般為0.1~30mm，例如於薄膜之全寬為1450mm之時，一區間之間隔若設為例如10mm即可。再者，在本發明中，在各區間，即使又設置複數之測量點而以特定之測量間隔更詳細地測量薄膜之厚度亦可。此時之測量間隔若在上述0.1~30mm之範圍內即可，並不特
別限制。
線速度一般為10~100m/分鐘。測量器5在薄膜之寬方向一面測量薄膜厚度一面掃描(scan)之速度，一般為0.5~3m/分鐘。
然後，在本發明中，在上述工程(B)中，藉由重複以下詳細說明之步驟(a)、(b)及(c)，根據樹脂薄膜4之移行中以測量器5測量所取得之與薄膜厚度有關之測量資料，從控制手段7各自對各調整手段2給予指示，可以在每區間獨立調整模唇之間隙，而調整樹脂薄膜4之厚度。
步驟(a)：在與樹脂薄膜4之移行方向正交之樹脂薄膜4之寬方向，以特定間隔測量該移行中之樹脂薄膜4的厚度，作製個別厚度剖面之步驟，步驟(b)：根據一個或其以上之上述個別厚度剖面，製作測量厚度剖面之步驟，及步驟(c)：根據上述測量厚度剖面，和任意選擇之設定厚度剖面，調整模具1之唇部間隙之步驟；在步驟(a)中，例如在薄膜4之移行中，在與薄膜4之行走方向正交之薄膜之寬方向，藉由在薄膜之寬方向以每特定間隔進行一次分(即是，將從端部至端部為止設為一次分)從薄膜之一方之端部至另一方之端部，或從另一方之端部至一方之端部的薄膜之厚度掃描(scan)，將在各測量點測量而取得之與薄膜厚度有關之測量資料(包含在各測量點之與薄膜厚度測量值有關之資
訊的資料，包含各測量點之位置資訊及在其測量點之薄膜厚度測量值等之資訊的資料)全部發送至控制手段7，每當如此的一次分之測量資料被發送至控制手段7，在控制手段7，被發送之測量資料中，根據當作製品被使用之製品有效寬內的某測量點之測量資料，製作「個別厚度剖面」。
因此，本發明中之「個別厚度剖面」係包含以特定間隔設置在薄膜之寬方向上之各測量點的與薄膜厚度測量值有關之資訊的資料，意味著包含藉由薄膜寬方向之一次分之掃描測量所取得之製品有效寬內之各測量點之位置資訊及在其測量點的薄膜厚度測量值等之資訊的資料。
並且，在上述實施型態中，雖然敘述根據當作製品使用之薄膜之製品有效寬內之測量資料，製作個別厚度剖面，但是在本發明中，個別厚度剖面並不僅限定於如此所製作之個別厚度剖面，即使根據從薄膜之寬方向之一方之端部至另一方端部，或從另一方之端部至一方之端部的掃描(scan)而取得的所有測量資料，製作一個個別厚度剖面亦可。
因此，在本發明中，其特徵為根據每次以特定間隔從薄膜寬方向之一方之端部至另一方之端部，或從另一方之端部至一方之端部，測量薄膜之厚度，即是薄膜之寬方向之掃描測量一次分之與薄膜厚度有關之所有測量資料，在薄膜之全寬或製品有效寬製作一個個別厚度剖面。
並且，在本發明中，薄膜之製品有效寬係於
薄膜卷材製造時，可事先任意設定者，相對於薄膜之全寬，一般為50~95%，最佳為60~90%，更佳為65~85%。在上述範圍內之薄膜，寬方向之薄膜厚度幾乎無偏差大之部分。並且，在本發明中，樹脂薄膜4之厚度的「偏差」係指對於樹脂薄膜4之期待厚度，樹脂薄膜4之厚度變大或變小之意，意味著薄膜之厚度不均勻。
再者，如此一來，在樹脂薄膜4被捲成薄膜卷材之前，被捲取之樹脂薄膜4之寬度原樣地成為製品寬，藉由利用分條機等修整薄膜之寬方向之端部(即使為雙方之端部亦可，單方之端部亦可)，有效率地切掉樹脂薄膜4之製品有效寬外之厚度的偏差大之部分(例如，邊珠等)，可以在製品有效寬內，取得於薄膜4之寬方向之厚度幾乎無偏差之外觀之良好的薄膜卷材。
再者，在本發明中，製品有效寬一般係在樹脂薄膜4之寬方向中，除去樹脂薄膜4之兩端部的中央部的寬度。例如，薄膜之全寬為1450mm之時，當從薄膜之寬方向之兩端部朝中央部側各修整100mm時，該薄膜之製品有效寬成為1250mm。
接著，在步驟(b)中，根據在上述步驟(a)製作之一個或其以上之「個別厚度剖面」，製作「測量厚度剖面」。
在本發明中，「測量厚度剖面」係為了將上述個別厚度剖面所含的與薄膜厚度有關之測量資料分割成以與此相同之間隔設置在對應於各調整手段1區間(即是，為了配
置調整手段2，以特定間隔在模具1之模唇寬方向設置在模唇的每個區間)之薄膜之寬方向的每區間(以下，也有略稱為「測量區間」之情形)而整理出的薄膜之寬方向之製品有效寬或全寬中之與薄膜之厚度有關的資訊資料。
再者，「測量厚度剖面」係如同上述般，根據一個或其以上之「個別厚度剖面」而製作出，在本發明中，「根據一個或其以上之個別厚度剖面，製作測量厚度剖面」係指在初期設定成於製作測量厚度剖面之時使用一個個別厚度剖面之情況下，原樣地使用其個別厚度剖面，製作測量厚度剖面之意，於初期設定成製作測量厚度剖面之時使用兩個以上之個別厚度剖面之情況下，使用將該兩個以上之個別厚度剖面在所對應之每區間與薄膜厚度有關之測量資料相加平均而所取得之剖面，而製作出測量厚度剖面之意。
因此，在本發明中，「根據兩個以上之個別厚度剖面而所製作出之測量厚度剖面」係指在薄膜之移行方向中所對應之每區間，將兩個以上之上述定義的個別厚度剖面，其區間內之與薄膜厚度有關之測量資料，在薄膜之移行方向相加平均而所取得之剖面之意。
此時，各區間內之與薄膜厚度有關之測量資料，即使在薄膜之行走方向之對應的每測量點與其薄膜厚度測量值相加平均，或在各區間內，於在薄膜之寬方向具有複數測量點之情況下，將在各區間所取得之該些薄膜厚度測量值之平均值當作其區間之薄膜厚度的測量值，各在薄膜之移
行方向相加平均而製作測量厚度剖面亦可。
再者，在本發明中，於製作測量厚度剖面之時所使用之兩個以上之個別厚度剖面，即使為連續，或不連續者亦可。
在本發明之一的較佳實施型態中，即使在測量厚度剖面之製作中，將與薄膜之厚度有關之測量資料分割成調整手段每1區間(或是每測量區間)而加以整理之時，在一個個別厚度剖面，於薄膜寬方向之各區間內具有複數之測量點，且在各區間各取得複數之薄膜厚度之情況下，在其區間，將薄膜厚度測量值相加平均而所取得之平均值當作其區間之薄膜厚度測量值，在各個對應之每區間於薄膜之移行方向又將其薄膜厚度之測量值(平均值)予以相加平均，製作測量厚度剖面亦可。
更具體而言，在一個個別厚度剖面中，對應於調整手段1區間之薄膜厚度測量區間內所取得之與薄膜厚度有關之測量資料，包含在薄膜之寬方向以5點所測量之薄膜厚度測量值之情況，將在其5點之薄膜厚度測量值之平均值當作其區間之薄膜厚度測量值，在各個所對應之每區間，於薄膜之移行方向將其值予以相加平均而製作「測量厚度剖面」。
因此，在本發明中，如此一來，可以在一個個別厚度剖面中，在每區間(即是，每調整手段，或調整手段每1區間，或對應於其調整手段1區間的薄膜之每測量區間)，算出薄膜厚度之平均值，而如上述般製作測量厚度
剖面。
並且，在本發明中，即使不如上述般在一個個別厚度剖面中，於每區間算出薄膜厚度測量值之平均值，製作出上述測量厚度剖面亦可。此時，藉由原樣地使用在各測量點所取得之薄膜厚度測量值，即是將在各測量點所取得之薄膜厚度測量值，原樣地各在薄膜之縱向予以相加平均，可以製作測量厚度剖面。
再者，在本發明中，即使於製作測量厚度剖面之時，在各測量點之剖面厚度測量值重複使用亦可。
步驟(c)：根據上述步驟(b)所製作出的「測量厚度剖面」，和任意選擇之「設定厚度剖面」，調整模具1之唇部間隙。
詳細而言，比較在步驟(b)所製作出之「測量厚度剖面」，和以下詳細說明之「設定厚度剖面」，更具體而言，在調整手段每1區間(或是所對應之薄膜厚度之每測量區間)，將「測量厚度剖面」與「設定厚度剖面」比較，以之後所製作出之「測量厚度剖面」與「設定厚度剖面」一致或接近，更具體而言在各個調整手段1區間(或是所對應之測量區間)，「測量厚度剖面」與「設定厚度剖面」一致或接近之方式，從控制手段7對各調整手段2各給予指示。
作為「設定厚度剖面」，可舉出例如薄膜之厚度被設定成一定之「期待厚度剖面」，及以下更詳細說明之「逆符號剖面」等，在本發明中，可以事先任意選擇
該些而予以使用。
首先，「期待厚度剖面」若因應薄膜製品之期待的厚度而適當調整及決定即可，可設定成例如10~300μm、30~150μm之範圍內之厚度，以一定的厚度為理想。
例如，在某區間，於「測量厚度剖面」之厚度大於「期待厚度剖面」之厚度之情況下，從控制手段7對所對應之調整手段2給予指示使縮窄模唇間隙(即是，關閉模唇)，再者，於「測量厚度剖面」之厚度小於「期待厚度剖面」之厚度之情況下，從控制手段7對所對應之調整手段2給予指示使增大模唇間隙(即是，打開模唇)。
如此一來，在本發明中，於薄膜4之移行中，重複步驟(a)、(b)及(c)，可以在每區間獨立調整薄膜厚度。
並且，在本發明之工程(B)中，以滿足以下之條件之方式，又調整薄膜4之厚度。
R1≦2.0μm，σ1≦0.5μm，RAV≦1.0μm，及σAV≦0.2μm，式中，R1係一次之上述測量厚度剖面中之薄膜厚度之最大值和最小值之差，表示上述測量厚度剖面中之薄膜厚度之振幅(以下，也有略稱為「振幅R1」之情形)，σ1係表示一次的上述測量厚度剖面中之薄膜厚度之標
準偏差(以下，也有略稱為「標準偏差σ1之情形」)，RAV係表示100次連續製作上述測量厚度剖面而相加平均所取得之累計平均剖面中之薄膜厚度之最大值和最小值之差，表示上述累計平均剖面中之薄膜厚度的振幅(以下，也有略稱「振幅RAV之情形」)，σAV係表示上述累計平均剖面中之薄膜厚度之標準偏差(以下，也有略稱為「標準偏差σAV之情形」)。
並且，在本發明中，於持續進行薄膜之製膜之期間，即是薄膜之移行中，將連續製作的100個「測量厚度剖面」予以相加平均，即是在薄膜之移行方向中，分別在每調整手段1區間，累計100次連續製作之各個「測量厚度剖面」所含之與薄膜厚度有關之測量資料，詳細而言，在各區間，在對應於薄膜之移形方向的每測量點，累計薄膜厚度測量值，或將期區間內之複數的薄膜厚度測量值當作其區間之薄膜厚度測量值，在各個對應的每區間於薄膜之移行方向累計該些值，藉由除以測量次數之100，製作出「累計平均剖面」。
因此，在本發明中，「累計平均剖面」係指包含藉由分別在設置於薄膜之寬方向之各調整手段1區間(或是所對應之各測量區間)，在薄膜之移行方向將任意之100個的連續「測量厚度剖面」所含之與薄膜厚度有關之測量資料予以相加平均而算出之薄膜移行方向之各區間的薄膜厚度之平均有關之資訊的資料。
再者，「累計平均剖面」之算出所使用之100個連續
的「測量厚度剖面」所含之與薄膜厚度有關之測量資料，即使各為如同上述般，在每調整手段1區間(或是所對應之測量區間)將複數之薄膜厚度測量值予以平均的平均值亦可。
並且，「累計平均剖面」係分別在薄膜之寬方向的每調整手段1區間(或是所對應之測量區間)被整理，意味著涵蓋薄膜之全寬或製品有效寬之資料。
然後，在本發明中，以下詳細說明之振幅R1及RAV以及標準偏差σ1及σAV各在控制手段7被被算出。
在本發明中，控制手段7並不特別限制，例如使用具有運算處理功能之控制機器，具體而言適當使用包含PC等者即可。
在本發明中，在上述工程(B)中，又以從控制手段7對各調整手段2給予指示，使各個振幅R1及RAV以及標準偏差σ1及σAV滿足上述條件：R1≦2.0(μm)、RAV≦1.0(μm)、σ1≦0.5(μm)及σAV≦0.2(μm)，在每區間獨立調整薄膜之厚度為重要。
再者，在本發明中，針對算出振幅(R1)及標準偏差(σ1)，係以每次製作一個測量厚度剖面，使用其最新之測量厚度剖面，算出振幅(R1)及標準偏差(σ1)為佳。
對於振幅(RAV)及標準偏差(σAV)之算出係使用最新之100個之測量厚度剖面，依序算出振幅(RAV)及標準偏差(σAV)為佳。
例如，於最新之測量厚度剖面係在第1200號被製作出之情況下，使用在該第1200號被製作出之測量厚度剖面算出振幅(R1)及標準偏差(σ1)，並且使用之前所製作的第1101至1200號的100個測量厚度剖面，算出振幅(RAV)及標準偏差(σAV)。
「振幅(R1)」係從上述一次的測量厚度剖面所算出者，詳細而言為一次測量厚度剖面中之各調整手段1區間(或是所對應之各測量區間)之薄膜厚度測量值之最大值和最小值的差。
並且，在發明中，「一次之測量厚度剖面」係指以上述操作所製作出之測量厚度剖面之任一個，最佳為意味著一個最新之測量厚度剖面。
再者，在本發明中，振幅(R1)係表示一次之測量厚度剖面中之薄膜厚度之精度。
在本發明中，振幅(R1)為2.0μm以下，最佳為1.5μm以下，更佳為1.0μm以下。
再者，當振幅(R1)大於2.0μm時，厚度調整手段2之每一次調整之條件變更變大，進而容易受到振盪(hunting)等之影響，使得之後的厚度之調整能下降，進而難以取得高的厚度精度。
「標準偏差(σ1)」係從上述一次的測量厚度剖面所算出者，詳細而言為一次測量厚度剖面中之各調整手段1區間(或是所對應之各測量區間)之薄膜厚度測量值之標準偏差之值。
標準偏差(σ1)為0.5μm以下，最佳為0.4μm以下，更佳為0.3μm以下。
再者，當標準偏差(σ1)大於0.5μm時，設置在模具1之每區間的厚度調整手段2各進行模唇間隙之調整時，例如在接近的兩個區間實施調整之時，在該些區間之間的條件變更之差變大，由於接近之調整手段之條件變更互相受到影響，故各區間之調整能力下降，厚度調整可能需要時間，並且有陷入無法控制振盪等之狀態。
「振幅(RAV)」係從上述累計平均剖面所算出，詳細而言，累計平均剖面中之各調整手段1區間(或是所對應之各測量區間)之薄膜厚度(即是，連續100個之測量厚度剖面之各區間的薄膜之移行方向(或是捲繞方向)中之薄膜厚度測量值之平均值)之最大值和最小值之差。
在本發明中，振幅(RAV)係意味著薄膜被捲成薄膜卷材之時之捲繞方向之薄膜厚度累計值之偏差寬度。
因此，振幅(RAV)之值越大，意味著產生暴筋等之捲取時不良情形的可能性變大，振幅(RAV)之值越小，產生暴筋等之捲取時之不良情形的可能性變小。
再者，振幅(RAV)越小，在之後的100次之厚度測量中持續一次之厚度測量中之偏差寬度之時，100次之累計值之平均偏差寬則與該一次之厚度測量之時的偏差寬度相同。
振幅(RAV)為1.0μm以下，最佳為0.9μm以下，更
佳為0.8μm以下。
再者，當RAV大於1.0μm時，在薄膜卷材中，產生暴筋等之可能性變高。
並且，在本發明中，在藉由100次之掃描(scan)進行的薄膜厚度之測量所花費之時間內，使用調整手段2在每區間調整薄膜厚度，依此可以達成上述條件：RAV≦1.0μm。
「標準偏差(σAV)」係從上述累計平均剖面所算出，詳細而言，從累計平均剖面中之各調整手段1區間(或是所對應之各測量區間)之薄膜厚度(即是，連續100個之測量厚度剖面之各區間的薄膜之移行方向(或是捲繞方向)中之薄膜厚度測量值之平均值)所算出之標準偏差之值。
在本發明中，標準偏差(σAV)為0.2μm以下。
當標準偏差(σAV)大於0.2μm時，即是在最終之捲取型態中，於薄膜厚度之累計值產生大的偏差，係指還未到產生爆筋等，產生了捲取的鬆緊差之意，在緊的部分，產生金字塔等之凹凸，在鬆的部分產生縐摺等，在表面處理等之後加工中，表面品質下降之可能性變高。
再者，在本發明中，在藉由100次之掃描(scan)進行的薄膜厚度之測量所花費之時間內，使用調整手段2在每區間調整薄膜厚度，依此可以達成上述條件：σAV≦0.2σm。
並且，在上述工程(B)中之薄膜厚度之調整
中，如上述般，測量厚度剖面係根據一個或其以上之個別厚度剖面而製作出，並且該測量厚度剖面中之薄膜厚度在某區間，判斷出大於期待厚度剖面之薄膜厚度之時，調整模唇間隙，使接下來被製作出之測量厚度剖面之厚度，在其區間，與期待厚度剖面一致或接近。
再者，此時，在本發明中，以縮小測量厚度剖面之薄膜厚度之偏差寬度為目的，將「逆符號剖面」設定為設定厚度剖面，在上述特定之標準偏差之數值範圍內，以故意產生厚度之薄部分之方式，隨時從控制手段7對各調整手段2給予指示為佳。
在此，針對在本發明中可以使用之「逆符號剖面」又加以詳細說明。
在本發明中，「逆符號剖面」係如第2圖所示般，將測量厚度剖面之薄膜厚度之值，和期待厚度剖面之薄膜厚度之值的差(△T=「測量厚度剖面之薄膜厚度之值」-「期待厚度剖面之薄膜厚度之值」)之值的符號成為相反而繪製。
因此，逆符號剖面和測量厚度剖面之關係係如第2圖所示般，以期待厚度剖面為中心具有對稱之關係。
例如，將薄膜之製品期待厚度(TP)設定成100μm，測量厚度剖面中之某測量部位(或測量點)之薄膜厚度之測量值(TM)為101μm之情況下，該實測值(TM)和期待厚度之值(TP)之差(△T=TM-TP)成為「+1μm」。此時之符號「+(正)」，其逆符號為「-(負)」，此時
之逆符號剖面之厚度之值成為「-1μm」。
再者，在此，於薄膜製膜開始時之薄膜厚度之調整(初期調整)中，至少在與各厚度調整手段之各區間對應之薄膜測量區間中，實施薄膜厚度之測量，成為其調整目標之製膜當初的設定值，為期待厚度(或是期待厚度剖面)。
但是，例如將設定厚度剖面設定成期待厚度剖面，如第3圖所示般，在某期間的相加平均厚度剖面(例如，將實施薄膜厚度精度之初期調整之後，到某時點之測量厚度剖面予以相加平均而算出之剖面)為剖面(i)，之後所製作出之測量厚度剖面為剖面(ii)之時，之後所製作之相加平均厚度剖面(即是，將從實施薄膜厚度精度之初期調整之後，至製作剖面(ii)之時點的測量厚度剖面予以相加平均而算出之剖面)，成為第3圖之剖面(iii)般。
因此，如此相加平均厚度剖面係表示接近於每次製作時為了算出而重新被加的測量厚度剖面之舉動，一般而言，幾乎無薄膜上之所有測量部位(或是測量點)之厚度與期待厚度完全一致之情形，因此，最終的相加平均厚度剖面(即是，將實施薄膜厚度精度之初期調整之後至薄膜之捲取結束之時點的測量厚度剖面予以相加平均而算出之剖面)，幾乎不與期待厚度剖面一致。
在此，在本發明中，如同上述般，在薄膜厚度之調整中，根據一個或其以上之個別厚度剖面而所製作出之測量厚度剖面中，於判斷薄膜之厚度大於期待之厚度
之情況下，不僅用以將此接近於期待厚度之上述般之調整，測量厚度剖面之薄膜厚度之累計的結果，使其平均之薄膜厚度的振幅變小為目的，設定逆符號剖面以作為設定厚度剖面，以在上述特定標準偏差之數值範圍內故意產生厚度薄之部分之方式，從控制手段7調整手段2各給予指示為佳。如此一來，藉由進行厚度之調整，如此之累計平均剖面成為極接近於期待厚度剖面，或一致，可以取得薄膜厚度之均勻性，進行提升薄膜卷材之外觀品質。
再者，如此之逆符號剖面可以根據一個或其以上之個別厚度剖面而作製的上述測量厚度剖面而製作。再者，其設定係在控制手段7中能自動性進行。
但是，每次根據一個厚度剖面製作一個測量厚度剖面，設定成根據其測量厚度剖面製作逆符號剖面時，增加控制手段7所含之控制機器之繁雜性，造成功能性之負擔，並且有產生反映測量誤差等之問題之虞。因此，每次至少根據兩個以上，較佳為10個以上，更佳20個以上，最佳為30個以上之個別厚度剖面製作測量厚度剖面，根據其測量厚度剖面，設定成製作出所對應的逆符號面為佳。
再者，與此相反，每次根據過多的個別厚度剖面，例如1000個的個別厚度剖面製作測量厚度剖面，設定成製作與測量厚度剖面對應之逆符號剖面時，製作一個所需數量之個別厚度剖面及根據此之測量厚度剖面所花費之時間變長，此為原因，在該期間有產生因累計厚度所引起之暴
筋等的不良情形之虞。
因此，製作測量厚度剖面之時所使用之個別厚度剖面之數量，可因應製作一個個別厚度剖面所需之時間，及製作一個測量厚度剖面所需之時間，和薄膜製品之捲取時間(製作一條薄膜卷材之時間)，而適當設定。
並且，就以薄膜厚度之調整手段而言，例如可以使用上述之熱螺栓方式之致動器，此時，因藉由因應電熱量使螺栓伸縮而在各區間調整唇部間隙來調整薄膜之厚度，故從設定逆符號剖面到開始薄膜厚度之調整為止之時間(反應時間)變長，因此有產生被稱為振盪之控制延遲的情形。
因此，鑒於如此之時間，以事先決定製作逆符號剖面所使用之個別厚度剖面之數量為佳。
再者，同樣之理由，作為逆符號剖面之設定數值，則以對厚度差(△T)事先加上或減去振盪所造成之控制延遲部分的厚度之振幅具有效果。
如此所取得之薄膜卷材係在例如液晶顯示裝置或電漿顯示器等之平面顯示器中，可以適當作為光擴散薄膜、用以保護平面顯示器之構成構件之表面的保護膜，或偏光板所含之偏光子之保護膜等之材料而使用。
以下，雖然針對本發明之實施例予以說明，但是本發明並不限定於該些實施例。
就以熱可塑性樹脂而言，使用混合含有丙烯酸之聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)系樹脂(住友化學(股)製造的「SUMIPEX HT01X」30重量份，和聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)系樹脂(住友化學(股)製造的「SUMIPEX EX」70重量份而所取得之丙烯酸系樹脂。
如第1圖所示般，配置模具1、調整手段2、輥3、3’及3”、薄膜之厚度的測量器5、薄膜卷材6及控制手段7，並且在測量器5和薄膜卷材6之間配置有分條機(無圖示)。
作為模具1，使用模具寬為1650mm者，沿著模具1之模唇寬，配置藉由沿著其模唇寬(1650mm)而以25mm間隔具有65根的螺栓之熱螺栓方式之致動器的厚度調整手段。作為測量器5，使用放射線透過型之厚度測量器，在與薄膜之移行方向正交之薄膜寬方向，將其測量間隔設為5mm間隔。再者，將該薄膜之製品有效寬設為1250mm。
在控制手段7中，根據從測量器5發送之測量資料，根據一次分之測量資料，即是在寬方向進行從薄膜之端部至端部的一次掃描(scan)而進行測量所取得之資料，製作一個個別厚度剖面，且根據該一個個別厚度剖面，製作一個測量厚度剖面。接著，於每次如此地製作測量厚度剖面，以在各區間將所製作出之最新測量厚度剖面與當作設
定厚度剖面所選擇出之期待厚度剖面(厚度為80μm且一定之剖面)比對，之後製作出之測量厚度剖面在各區間與期待厚度剖面一致之方式，設定成從控制手段7對各調整手段2各發出指示。並且，與此並行，以滿足以下之條件：R1≦2.0μm、RAV≦1.0μm、σ1≦0.5μm及σAV≦0.2μm之方式，又設定成從控制手段7對各調整手段各發出指示。
並且，在控制手段7中，根據個別厚度剖面製作測量厚度剖面之時，將從測量器5被發送至控制手段7之測量資料中，對應於調整手段(即是螺栓)1區間的5點薄膜厚度測量值之平均值當作如此之1區間的測量值，設定成製作測量厚度剖面。
在此，製造熱可塑性樹脂薄膜，具體而言如下述般。
首先，使用一軸擠壓(日立造船(股)製作，螺桿徑：130mm φ)從模具寬1650mm的模具(模唇寬：1650mm)，將上述丙烯酸系樹脂熔融擠壓成薄膜狀，在兩根輥3及3’之間夾入樹脂，並且以接觸於另一根的冷卻輥3”之方式，將樹脂予以成形及固化，而取得期待之製品厚度(基準厚度)80μm之熱可塑性樹脂薄膜。
並且，在此的熱可塑性樹脂薄膜之厚度係在寬方向切割所成形之熱可塑性樹脂薄膜，藉由測微計，在寬方向以等間隔測量20點製品有效寬內之厚度，為該所測量之20點的厚度平均值。
並且，以手動調整，將薄膜厚度精度初期調整成±2μm左右。
再者，從模具1650mm之模具(模唇寬：1650mm)所取得之熱可塑性樹脂薄膜之全寬約為1450mm。
使該熱可塑性樹脂薄膜通過冷卻輥3”之後，在薄膜移行中，使用放射線透過型之厚度測量器5，在各測量點(間隔：5mm)，重複進行從薄膜之一方之端部至另一方之端部掃描(scan)薄膜之厚度而測量薄膜厚度，接著，連續從該另一方之端部掃描(scan)至一方之端部的薄膜厚度測量。將該測量資料全部發送至控制手段7，隨著上述設定，每進行一次薄膜之寬方向之厚度的掃描測量(即是，每從薄膜寬度之一方之端部掃描至另一方之端部，或是從另一方之端部掃描至一方之端部而進行測量)，各分別製作個別厚度剖面及測量厚度剖面，在每個區間控制設置在模具1之調整手段2)。
通過放射線透過型之厚度測量器5之薄膜4，之後以藉由分條機使薄膜之寬度成為製品有效寬(1250mm)之方式，薄膜之兩端部被分條(切割)，利用捲取機被捲取，最終在輥芯(直徑：152.4mm)捲取全長2000m之薄膜，製作出薄膜卷材6。
針對如上述般根據於實施薄膜之厚度精度之初期調整之後，至成為最終之薄膜卷材為止之期間被製作之測量厚度剖面而所算出之振幅(R1)及標準偏差(σ1)，和振幅(RAV)及標準偏差(σAV)，於以下表1
各表示將全部所算出之值予以相加平均者。
並且，在實施例1中，從實施薄膜厚度精度之初期調整之後至取得最終之薄膜卷材為止之期間所製作之測量厚度剖面之數量為200個。
在上述實施例1中，除了以將作為設定厚度剖面所選擇出之期待厚度剖面(即是，厚度為80μm且一定之剖面)，代替逆符號剖面，然後根據20個之個別厚度剖面製作一個測量厚度剖面之方式，變更設定之外，其他與上述實施例1相同，製作出薄膜卷材。
針對根據於實施薄膜之厚度精度之初期調整之後，至成為最終之薄膜卷材為止之期間被製作之測量厚度剖面而所算出之振幅(R1)及標準偏差(σ1)，和振幅(RAV)及標準偏差(σAV)，於以下表1各表示將全部所算出之值予以相加平均者。
並且，在實施例2中，從實施薄膜厚度精度之初期調整之後至取得最終之薄膜卷材為止之期間所製作之測量厚度剖面之數量為200個。
除變更設定成在上述實施例1中，不進行藉由手動的初期厚度之調整，R1、RAV、σ1及σAV各滿足以下之條件：R1≦4.0μm、RAV≦2.0μm、σ1≦1.0μm，及σAV≦0.5
μm之方式，變更設定從控制手段7對調整手段2發出指示之外，其他藉由與上述實施例1相同之方法，製造出薄膜卷材。
針對根據至最終製造出薄膜卷材為止所製作的測量厚度剖面而算出之振幅(R1)及標準偏差(σ1)，和振幅(RAV)及標準偏差(σAV)，於以下表1各表示將全部所算出之值予以相加平均者。
並且，在比較例1中，至最終製造薄膜卷材為止所製作的測量厚度剖面之數量為200個。
外觀：針對在上述實施例及比較例所製造出之薄膜卷材，以目視檢查期薄膜外觀，在薄膜卷材表面完全無暴筋或金字塔之問題者評估成「◎」。再者，雖然有些許金字塔模樣的凹凸，但是將不會對之後的後加工產生影響之程度者評估為「○」。然後，將同時明顯產生金字塔和暴筋者評估為「×」。
如上述般，在本發明中，在寬方向掃描測量移行中之薄膜的厚度而製作個別厚度剖面，根據一個或其以上之個別厚度剖面(在實施例1中為1個，在實施例2中為20個之個別厚度剖面)製作測量厚度剖面，並且將該測量厚度剖面與設定厚度剖面(在實施例1中為期待厚度剖面，在實施例2中為逆符號剖面)，根據其結果，在每區間獨立調整薄膜之厚度。然後，與此並行，根據連續製作之100個之測量厚度剖面，以各滿足R1≦2.0μm、RAV≦1.0μm、σ1≦0.5μm及σAV≦0.2μm之條件，在各區間調整薄膜之厚度，依此在本發明中，如表1所示般，不利用振盪，可以製造出外觀優良的薄膜卷材。
尤其，在實施例2中，可以製造出完全無暴筋或金字塔等之外觀上之問題的薄模卷材。
再者，在實施例2中，將使用於製作測量厚度剖面之個別厚度剖面之數量設為20個(並且，在實施例1中，使用於製作測量厚度剖面之個別厚度剖面之數量為一個)，並且就以設定厚度剖面而言，藉由使用逆符號剖面，顯著地改善薄膜卷材外觀。
對此，在比較例1中，雖然與實施例1、2相同，根據測量厚度剖面而進行薄膜厚度之調整，但是所製造出之薄膜卷材產生爆筋及金字塔，無法取得良好之薄膜卷材之外觀。
如此一來，藉由使用本發明之製造方法，可以製造出外觀優良之薄膜卷材。
本案發明係以2012年5月18日於日本申請之特願2012-114439號為基礎而主張其優先權，其內容全部藉由在本說明書中參照而被援用。
1‧‧‧模具
2‧‧‧調整手段
3‧‧‧鑄造輥
3’‧‧‧鑄造輥(或是對向輥)
3”‧‧‧鑄造輥(或是冷卻輥)
4‧‧‧熱可塑性樹脂薄膜
5‧‧‧厚度測量器
6‧‧‧薄膜卷材
7‧‧‧控制手段
Claims (2)
- 一種薄膜卷材之製造方法，其特徵為：包含以下之工程(A)~(C)：(A)從具備唇部間隙(lip gap)之調整手段的模具擠壓熱可塑性樹脂，且邊移行邊製膜，而形成薄膜之工程；(B)在該薄膜之移行中，調整該薄膜之厚度的工程，即重複下述之步驟(a)~(c)，而調整薄膜之厚度的工程，(a)在與該薄膜之移行方向正交之該薄膜之寬方向，以特定間隔測量該移行中之薄膜的厚度，作製個別厚度剖面之步驟，(b)將兩個以上之該個別厚度剖面相加平均而製作測量厚度剖面之步驟，(c)根據該測量厚度剖面，和設定厚度剖面，調整該模具之唇部間隙之步驟；(C)將薄膜捲成捲筒狀之工程，在該工程(B)中，上述設定厚度剖面係每製作上述測量厚度剖面，根據該測量厚度剖面所製作的逆符號剖面，及以滿足下述之條件之方式，進一步調整薄膜之厚度，R1≦2.0μm，σ1≦0.5μm，RAV≦1.0μm，及 σAV≦0.2μm，[式中，R1係一次之該測量厚度剖面中之薄膜厚度之最大值和最小值之差，表示該測量厚度剖面中之薄膜厚度之振幅，σ1係表示一次之該測量厚度剖面中之薄膜厚度之標準偏差，RAV係表示100次連續製作該測量厚度剖面而相加平均所取得之累計平均剖面中之薄膜厚度之最大值和最小值之差，表示該累計平均剖面中之薄膜厚度的振幅，σAV係表示該累計平均剖面中之薄膜厚度之標準偏差]。
- 如申請專利範圍第1項所記載之薄膜卷材之製造方法，其中在上述步驟(a)中，根據以特定間隔測量從上述薄膜之寬方向之一方之端部至另一方之端部，或從另一方之端部至一方之端部而所取得之與薄膜厚度有關的測量資料，製作一個上述個別厚度剖面。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2012114439A JP5889713B2 (ja) | 2012-05-18 | 2012-05-18 | フィルムロールの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW201412496A TW201412496A (zh) | 2014-04-01 |
| TWI616309B true TWI616309B (zh) | 2018-03-01 |
Family
ID=49842303
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW102117200A TWI616309B (zh) | 2012-05-18 | 2013-05-15 | 薄膜卷材之製造方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5889713B2 (zh) |
| KR (1) | KR101983397B1 (zh) |
| TW (1) | TWI616309B (zh) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6382625B2 (ja) * | 2014-08-05 | 2018-08-29 | 株式会社カネカ | 外観不良候補抽出装置、外観不良判定装置、フィルム状物の製造装置、外観不良判定方法、及びフィルム状物の製造方法 |
| CN104494154B (zh) * | 2014-12-19 | 2017-09-22 | 松德机械股份有限公司 | 一种复合包装膜成型工艺及其制作装置 |
| JP2017100372A (ja) * | 2015-12-02 | 2017-06-08 | コニカミノルタ株式会社 | フィルムロールの製造方法 |
| JP6919031B2 (ja) * | 2016-03-28 | 2021-08-11 | 住友重機械モダン株式会社 | フィルム成形装置 |
| JP6746339B2 (ja) * | 2016-03-28 | 2020-08-26 | 住友重機械モダン株式会社 | フィルム成形装置 |
| JP2019081336A (ja) * | 2017-10-31 | 2019-05-30 | 株式会社カネカ | 外観不良判定装置、フィルム状物の製造装置、及び樹脂フィルムの製造方法 |
| TWI669544B (zh) * | 2018-02-14 | 2019-08-21 | 住華科技股份有限公司 | 捲繞結構及其形成方法 |
| DE102018127670A1 (de) | 2018-11-06 | 2020-05-07 | Windmöller & Hölscher Kg | Stellvorrichtung für eine Kontrolle einer Austrittsdicke eines Düsenaustrittsspaltes einer Flachfolienmaschine |
| DE102018127671A1 (de) * | 2018-11-06 | 2020-05-07 | Windmöller & Hölscher Kg | Verfahren für die Kontrolle eines Dickenprofils einer Folienbahn |
| CN112848216B (zh) * | 2020-12-29 | 2023-01-31 | 安徽万朗磁塑股份有限公司 | 一种门封胶套生产线在线成型自动测控装置及方法 |
| CN115847792B (zh) * | 2022-11-25 | 2023-08-01 | 广东汇发塑业科技有限公司 | 一种生物降解膜的均衡牵引方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002187196A (ja) * | 2000-12-21 | 2002-07-02 | Teijin Ltd | フィルム厚みの制御方法 |
| JP2007223311A (ja) * | 2006-01-24 | 2007-09-06 | Toyo Kohan Co Ltd | フィルムの膜厚制御方法及びその製膜装置 |
| US20070233307A1 (en) * | 2006-03-30 | 2007-10-04 | Takashi Sasaki | Profile control method and system therefor |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54146859A (en) * | 1978-05-10 | 1979-11-16 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Thickness control and its device |
| JP3828950B2 (ja) * | 1995-12-15 | 2006-10-04 | 東芝機械株式会社 | ２軸延伸フィルム上のダイボルト対応位置算出方法および同算出方法を用いた２軸延伸フィルムの厚さ制御方法 |
| JP3631636B2 (ja) | 1999-07-19 | 2005-03-23 | 帝人株式会社 | フィルムの巻取方法 |
| JP2002028972A (ja) | 2000-07-17 | 2002-01-29 | Teijin Ltd | フィルムロールの製造方法 |
| JP2002087690A (ja) | 2000-09-11 | 2002-03-27 | Teijin Ltd | フィルムロールの製造方法 |
| JP4377766B2 (ja) * | 2004-07-21 | 2009-12-02 | 株式会社日本製鋼所 | ロール状シート製造装置及び製造方法 |
| KR100805346B1 (ko) * | 2006-03-03 | 2008-02-20 | 조형진 | 성형성이 우수한 합판접합용 합성수지 필름 제조공정 |
-
2012
- 2012-05-18 JP JP2012114439A patent/JP5889713B2/ja active Active
-
2013
- 2013-05-15 TW TW102117200A patent/TWI616309B/zh active
- 2013-05-16 KR KR1020130055480A patent/KR101983397B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002187196A (ja) * | 2000-12-21 | 2002-07-02 | Teijin Ltd | フィルム厚みの制御方法 |
| JP2007223311A (ja) * | 2006-01-24 | 2007-09-06 | Toyo Kohan Co Ltd | フィルムの膜厚制御方法及びその製膜装置 |
| US20070233307A1 (en) * | 2006-03-30 | 2007-10-04 | Takashi Sasaki | Profile control method and system therefor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP5889713B2 (ja) | 2016-03-22 |
| JP2013240897A (ja) | 2013-12-05 |
| KR20130129132A (ko) | 2013-11-27 |
| TW201412496A (zh) | 2014-04-01 |
| KR101983397B1 (ko) | 2019-05-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI616309B (zh) | 薄膜卷材之製造方法 | |
| JP2013240897A5 (zh) | ||
| KR101868831B1 (ko) | 필름 제조 장치 및 제조 방법 | |
| EP2177341B1 (en) | Apparatus and process for producing laminated sheet | |
| JP4600066B2 (ja) | 積層フィルムの製造装置および製造方法 | |
| JP2003167314A (ja) | フィルム | |
| KR102119284B1 (ko) | 광학 필름 및 그 제조 방법 | |
| JP6572554B2 (ja) | ゴムストリップの製造装置 | |
| JP7234556B2 (ja) | 二軸配向フィルムの製造方法 | |
| JP3631636B2 (ja) | フィルムの巻取方法 | |
| JP2002087690A (ja) | フィルムロールの製造方法 | |
| KR101868832B1 (ko) | 필름 제조 장치 및 제조 방법 | |
| JP2021049741A (ja) | 二軸配向フィルムの製造方法 | |
| JP2002028972A (ja) | フィルムロールの製造方法 | |
| JP2001030340A (ja) | フィルムの厚さ制御装置及び制御方法 | |
| JPH0479290B2 (zh) | ||
| JPH0375027B2 (zh) | ||
| JP2019123092A (ja) | 斜め延伸フィルムの製造方法 | |
| JP6911336B2 (ja) | フィルムの製造方法 | |
| JP2002187196A (ja) | フィルム厚みの制御方法 | |
| JP2020056713A (ja) | 走行位置の異常判定方法 | |
| JP2008030258A (ja) | 積層シートの製造装置および製造方法 | |
| JP2822087B2 (ja) | 押出成形フィルムの巻こぶ巻ずれ防止方法 | |
| JPS62222954A (ja) | ポリエステルフイルムの巻取方法 | |
| JP6598134B2 (ja) | 未加硫ゴムシートの製造装置および未加硫ゴムシートの製造方法 |