TWI543131B - 有機發光顯示器的修復方法 - Google Patents

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TWI543131B TW103142059A TW103142059A TWI543131B TW I543131 B TWI543131 B TW I543131B TW 103142059 A TW103142059 A TW 103142059A TW 103142059 A TW103142059 A TW 103142059A TW I543131 B TWI543131 B TW I543131B
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Description

有機發光顯示器的修復方法
本發明係關於一種主動矩陣有機發光顯示器,特別是一種有機發光顯示器之缺陷畫素之修復方法。
主動矩陣有機發光顯示器包含有機發光二極體(以下縮寫為「有機發光二極體(OLED)」),能夠本身發射光線,以及具有響應時間快、發光效率高、亮度高、視角廣等優點。
用作自發光元件的有機發光二極體包含陽極、陰極以及形成於陽極與陰極之間的有機化合物層。有機化合物層包含電洞注入層HIL、電洞傳輸層HTL、發光層EML、電子傳輸層ETL以及電子注入層EIL。當驅動電壓被施加到陽極與陰極時,通過電洞傳輸層HTL的電洞以及通過電子傳輸層HTL的電子移動到發光層EML且形成激子。因此,發光層EML產生可見光。
根據視訊資料的灰階,有機發光顯示器以矩陣形式排列各自包含有機發光二極體的子畫素,以及調整每一有機發光二極體所發射的光線數量。每一子畫素包含電路單元,用於驅動發光單元即有機發光二極體。電路單元包含一個驅動薄膜電晶體與複數個切換薄膜電晶體,驅動薄膜電晶體控制有機發光二極體中流動的驅動電流,切換薄膜電晶體用於程 式化驅動薄膜電晶體的閘極-源極電壓以符合期望的灰階。
有機發光顯示器的顯示面板上形成的薄膜電晶體與訊號線的數目大於其他顯示裝置,以及有機發光顯示器比其他顯示裝置具有更複雜的配置。因此,有機發光顯示器的電路單元中頻繁產生缺陷。有機發光顯示器中,包含缺陷電路單元的子畫素不會正常發光且被識別為暗點(dark spot)。然而,因為具有相對高透射率的特定顏色的子畫素比其他顏色的子畫素具有更高的可見度,所以需要反制(countermeasure)。因此,提出了第1圖所示的虛擬畫素結構。
第1圖中,「A」表示虛擬畫素,「B」表示正常畫素。正常畫素B形成於實施影像的顯示區域中,虛擬畫素A形成於顯示區域外部的非顯示區域中。虛擬畫素A係為額外形成用以完成修復製程的畫素。習知技術的虛擬畫素結構中,當正常畫素B的電路單元中產生缺陷時,完成修復製程以連接正常畫素B的發光單元到虛擬畫素A的電路單元,從而使得正常畫素B發光。因此,消除了暗點的問題。
習知技術的虛擬畫素結構位於有機發光顯示器的顯示面板上的分離虛擬畫素A以消除缺陷。然而,當虛擬畫素A形成於顯示面板上時,顯示面板上顯示的影像的顯示區域的佔據比(即,開口率)則藉由虛擬畫素A的形成區域而被降低。
本發明實施例提供了一種有機發光顯示器的缺陷畫素的修復方法,能夠避免由於特定顏色的子畫素的缺陷電路單元造成的具有高透射率的特定顏色的子畫素的暗點問題,而不會降低開口率。
一方面,有機發光顯示器使用複數個單元畫素顯示影像,這些單元畫素的每一個包含用於顯示白光的白色子畫素,有機發光顯示器的修復方法包含:透過檢查這些白色子畫素的電路單元偵測缺陷白色子畫素;使用修復導電圖案,將單元畫素中與缺陷白色子畫素相鄰位置的鄰接子畫素的電路單元與缺陷白色子畫素的發光單元連接;與修復導電圖案連接的修復位置被儲存;以及補償待輸入修復位置的數位視訊資料。
待輸入修復位置的數位視訊資料的補償步驟包含當輸入與修復位置對應的數位視訊資料時,實現補償數值的計算處理作業;以及根據補償數值的計算處理作業調變數位視訊資料以產生補償資料,其中待輸入修復位置的數位視訊資料表示待輸入鄰接子畫素的數位視訊資料。
藉由缺陷白色子畫素與鄰接子畫素的發光單元之間的透射率差、缺陷白色子畫素與鄰接子畫素的發光單元之間的發光效率差,以及缺陷白色子畫素與鄰接子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體之間的尺寸差,不同地判定補償數值。
具有缺陷白色子畫素的單元畫素包含沿水平方向排列的四個子畫素,以及四個子畫素包含依照附名順序沿水平方向排列的顯示紅光的紅色子畫素、缺陷白色子畫素、顯示綠光的綠色子畫素以及顯示藍光的藍色子畫素。這種情況下,綠色子畫素被選為鄰接子畫素。修復導電圖案將屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極連接到屬於綠色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體。
當修復導電圖案被連接時,屬於綠色子畫素的電路圖案的驅動薄膜電晶體透過熔接製程共同連接到屬於綠色子畫素的發光單元的陽 極與屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極。屬於缺陷白色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體透過切割製程與屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極斷開連接。
待輸入修復位置的數位視訊資料的補償步驟包含完成調變製程,這樣待被施加到綠色子畫素的驅動薄膜電晶體的資料大於其初始數值。
包含缺陷白色子畫素的單元畫素包含沿水平方向排列的四個子畫素,四個子畫素包含依照附名順序沿水平方向排列的顯示紅光的紅色子畫素、缺陷白色子畫素、顯示藍光的藍色子畫素以及顯示綠光的綠色子畫素。這種情況下,紅色子畫素被選為鄰接子畫素。連接導電圖案將屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極連接到屬於紅色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體。
當修復導電圖案被連接時,屬於紅色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體透過熔接製程連接到屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極,以及還透過切割製程與屬於紅色子畫素的發光單元的陽極斷開連接。屬於缺陷白色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體透過切割製程與屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極斷開連接。
待輸入修復位置的數位視訊資料的補償步驟包含完成調變製程,這樣待被施加到紅色子畫素的驅動薄膜電晶體的資料小於其初始數值。
包含缺陷白色子畫素的單元畫素包含沿水平方向排列的四個子畫素,四個子畫素包含依照附名順序沿水平方向排列的顯示紅光的紅 色子畫素、缺陷白色子畫素、顯示藍光的藍色子畫素以及顯示綠光的綠色子畫素。這種情況下,藍色子畫素被選為鄰接子畫素。連接導電圖案將屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極連接到屬於藍色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體。
當修復導電圖案被連接時,屬於藍色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體透過熔接製程連接到屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極,以及還透過切割製程與屬於藍色子畫素的發光單元的陽極斷開連接。屬於缺陷白色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體透過切割製程與屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極斷開連接。
待輸入修復位置的數位視訊資料的補償步驟包含完成調變製程,這樣待被施加到藍色子畫素的驅動薄膜電晶體的資料小於其初始數值。
A‧‧‧虛擬畫素
B‧‧‧正常畫素
EVDD‧‧‧高電位電源
EVSS‧‧‧低電位電源
R‧‧‧紅色
G‧‧‧綠色
B‧‧‧藍色
SP‧‧‧子畫素
DA‧‧‧畫素陣列
10‧‧‧有機發光顯示器
11‧‧‧第一基板
12‧‧‧第二基板
15‧‧‧驅動器單元
20‧‧‧時序控制器
Gn1‧‧‧第一閘極線
Gn2‧‧‧第二閘極線
Dm‧‧‧資料電壓供應線
Rm‧‧‧參考線
DT‧‧‧驅動薄膜電晶體
Cst‧‧‧儲存電容器
ST1、ST2‧‧‧切換薄膜電晶體
Vref‧‧‧感測電壓
OLED‧‧‧有機發光二極體
Vdata‧‧‧資料電壓
SPR‧‧‧紅色子畫素
SPW‧‧‧白色子畫素
SPG‧‧‧綠色子畫素
SPB‧‧‧藍色子畫素
RE‧‧‧紅色發光單元
WE‧‧‧白色發光單元
GE‧‧‧綠色發光單元
BE‧‧‧藍色發光單元
RC‧‧‧紅色電路單元
WC‧‧‧白色電路單元
GC‧‧‧綠色電路單元
BC‧‧‧藍色電路單元
PTR‧‧‧修復導電圖案
第1圖表示使用習知技術的虛擬畫素結構的修復方法。
第2圖為本發明代表性實施例的有機發光顯示器的方塊圖。
第3圖表示本發明代表性實施例的有機發光顯示器中包含的子畫素的電路配置。
第4A圖與第4B圖表示組成一個單元畫素的子畫素的例子。
第5圖順序說明本發明代表性實施例的有機發光顯示器的修復方法。
第6圖詳細說明第5圖所示的資料補償步驟。
第7圖表示第4A圖所示的紅白綠藍(RWGB)的單元畫素結構中缺陷 白色子畫素的修復方法。
第8圖表示第4B圖所示的紅白藍綠(RWBG)的單元畫素結構中缺陷白色子畫素的修復方法。
第9圖表示第4B圖所示的RWBG的單元畫素結構中缺陷白色子畫素的另一修復方法。
第10A圖表示根據第7圖所示的修復方法補償資料前後的綠色的亮度變化。
第10B圖表示根據第7圖所示的修復方法補償資料前後的灰色的亮度變化。
第11A圖表示根據第9圖所示的修復方法補償資料前後的灰色的亮度變化。
第11B圖表示根據第9圖所示的修復方法補償資料前後的藍色的亮度變化。
現在將結合圖式部份對本發明的較佳實施方式作詳細說明。其中在這些圖式部份中所使用的相同的參考標號代表相同或同類部件。需要注意的是,如果已知技術的詳細描述被判定為可誤導本發明實施例則其被省略。
現在結合第2圖至第11B圖描述本發明的代表性實施例。
第2圖為本發明代表性實施例的有機發光顯示器的方塊圖。第3圖表示本發明實施例的有機發光顯示器中包含的子畫素的配置的電路示意圖。
如第2圖所示,本發明實施例的有機發光顯示器10包含畫素陣列DA、驅動器單元15以及時序控制器20,其中畫素陣列DA透過複數個子畫素SP顯示影像,驅動器單元15透過複數條訊號線供應驅動訊號到複數個子畫素SP,時序控制器20控制驅動器單元15的作業。畫素陣列DA、驅動器單元15與時序控制器20形成於第一基板11上,畫素陣列DA係藉由第二基板12被密封。
畫素陣列DA包含複數條資料線、與資料線交叉的複數條閘極線,以及以矩陣形式分別排列於資料線與閘極線的交叉處的複數個子畫素SP。
每一子畫素SP可使用任何已知的電路配置。第3圖表示子畫素SP的電路配置的例子。更特別地,第3圖表示子畫素的各種電路配置中最簡單的電路配置,能夠補償驅動薄膜電晶體的電特性缺陷(包含閥值電壓、電子移動性等)。以下描述中,本發明實施例使用第3圖所示的電路配置作為子畫素SP的電路配置的例子。其他的電路配置可用於子畫素SP。
資料線包含複數條資料電壓供應線Dm與複數條參考線Rm。閘極線包含複數條第一閘極線Gn1與複數條第二閘極線Gn2。
子畫素SP包含發光單元與電路單元。
發光單元被實施為有機發光二極體(OLED),根據高電位電源EVDD與低電位電源EVSS之間流動的驅動電流發光。
電路單元連接資料線與閘極線,以及作業以回應透過資料線與閘極線供應的驅動訊號。電路單元包含驅動薄膜電晶體DT以及複數個切換薄膜電晶體ST1與ST2,驅動薄膜電晶體DT控制被施加到有機發光 二極體OLED的驅動電流,切換薄膜電晶體ST1與ST2用於程式化驅動薄膜電晶體DT的閘極-源極電壓以符合期望的灰階。電路單元更包含儲存電容器Cst,用於保持經過程式化的驅動薄膜電晶體DT的閘極-源極電壓。第一切換薄膜電晶體ST1被打開,以回應透過第一閘極線Gn1供應的第一掃描脈衝,由此供應資料電壓Vdata到驅動薄膜電晶體DT的閘極。第二切換薄膜電晶體ST2被打開,以回應透過第二閘極線Gn2供應的第二掃描脈衝,由此可供應一初始化電壓到驅動薄膜電晶體DT的源極,或者利用驅動薄膜電晶體的源極的電壓作為感測電壓Vref對參考線Rm充電。感測電壓Vref係為基於補償數值的判定的電壓,此補償數值用於補償驅動薄膜電晶體DT的電特性偏差。
組成子畫素SP的薄膜電晶體被實施為p型或n型。此外,組成子畫素SP的薄膜電晶體的半導體層包含非晶矽、多晶矽或者氧化物。
驅動器單元15包含資料驅動器與閘極驅動器,其中資料驅動器用於驅動資料電壓供應線Dm,閘極驅動器用於驅動閘極線Gn1與Gn1。
在時序控制器20的控制下,資料驅動器轉換數位視訊資料為資料電壓,然後供應資料電壓到資料電壓供應線Dm。在時序控制器20的控制下,資料驅動器可供應初始化電壓到參考線Rm。此外,在時序控制器20的控制下,資料驅動器在被充電到參考線Rm的感測電壓Vref上完成取樣。
在時序控制器20的控制下,閘極驅動器產生第一與第二掃描脈衝,可順序地供應第一與第二掃描脈衝到閘極線Gn1與Gn1。閘極驅 動器可透過面板中閘極驅動器(gate driver-in panel;GIP)製程直接地形成於第一基板11上。
根據複數個時序訊號,時序控制器20控制資料驅動器與閘極驅動器的作業時序。時序控制器20可根據感測電壓Vref調變數位視訊資料,以及將調變的數位視訊資料供應到資料驅動器,從而補償驅動薄膜電晶體DT的電特性偏差。
第4A圖與第4B圖表示組成一個單元畫素的子畫素的例子。
除顯示紅光的紅色(R)子畫素SPR、顯示綠光的綠色(G)子畫素SPG以及顯示藍光的藍色(B)子畫素SPB以外,本發明實施例的有機發光顯示器10更包含顯示白光的白色(W)子畫素SPW,從而增加顯示面板上顯示的影像的亮度。根據白色子畫素SPW的佈置,一個單元畫素可被配置為如第4A圖與第4B圖所示。
如第4A圖所示,單元畫素具有紅白綠藍(RWGB)的結構。更特別地,單元畫素具有四個子畫素的紅白綠藍的結構,其中紅色子畫素SPR、白色子畫素SPW、綠色子畫素SPG以及藍色子畫素SPB依照附名順序沿水平方向排列。
如第4B圖所示,單元畫素具有紅白藍綠(RWBG)的結構。更特別地,單元畫素具有四個子畫素的紅白藍綠的結構,其中紅色子畫素SPR、白色子畫素SPW、藍色子畫素SPB以及綠色子畫素SPG依照附名順序沿水平方向排列。
這種情況下,紅色子畫素SPR包含紅色發光單元RE與紅 色電路單元RC;白色子畫素SPW包含白色發光單元WE與白色電路單元WC;綠色子畫素SPG包含綠色發光單元GE與綠色電路單元GC;以及藍色子畫素SPB包含藍色發光單元BE與藍色電路單元BC。
紅色發光單元RE被實施為紅色有機發光二極體。紅色有機發光二極體的陽極連接屬於紅色電路單元RC的驅動薄膜電晶體的源極,以及接收在驅動薄膜電晶體的源極與汲極之間流動的驅動電流。
白色發光單元WE被實施為白色有機發光二極體。白色有機發光二極體的陽極連接屬於白色電路單元WC的驅動薄膜電晶體(TFT)的源極,以及接收在驅動薄膜電晶體的源極與汲極之間流動的驅動電流。
綠色發光單元GE被實施為綠色有機發光二極體。綠色有機發光二極體的陽極連接屬於綠色電路單元GC的驅動薄膜電晶體的源極,以及接收在驅動薄膜電晶體的源極與汲極之間流動的驅動電流。
藍色發光單元BE被實施為藍色有機發光二極體。藍色有機發光二極體的陽極連接屬於藍色電路單元BC的驅動薄膜電晶體的源極,以及接收在驅動薄膜電晶體的源極與汲極之間流動的驅動電流。
第5圖順序說明本發明實施例的有機發光顯示器的修復方法。第6圖詳細說明第5圖所示的資料補償步驟。第7圖表示第4A圖所示的RWGB的單元畫素結構中缺陷白色子畫素的修復方法。第8圖表示第4B圖所示的RWBG的單元畫素結構中缺陷白色子畫素的修復方法。第9圖表示第4B圖所示的RWBG的單元畫素結構中缺陷白色子畫素的另一修復方法。
本發明實施例的修復方法係避免在具有高透射率的白色子 畫素SPW中出現白色子畫素SPW的缺陷電路單元所導致的暗點,不會降低開口率。RWGB子畫素中,白色子畫素具有最高的透射率,綠色子畫素的透射率大於紅色與藍色子畫素的透射率。即使在修復製程中具有低透射率的子畫素被識別為暗點,具有低透射率的子畫素幾乎不可見,因此不太重要。然而,如果具有高透射率的子畫素被識別為暗點,則容易看到具有高透射率的子畫素。因此,本發明實施例僅僅在具有最高透射率的白色子畫素上完成修復製程。尤其地,本發明實施例使用白色子畫素相鄰的鄰接子畫素,而不會為修復製程形成單獨的虛擬畫素。更特別地,當白色子畫素的電路單元中產生缺陷時,本發明實施例連接白色子畫素的鄰接子畫素的電路單元到缺陷白色子畫素的發光單元,從而使得白色子畫素正常發光。
如第5圖所示,本發明實施例的有機發光顯示器使用複數個單元畫素顯示影像,每一單元畫素包含第4A圖所示的RWGB結構或第4B圖所示的RWBG結構的白色子畫素SPW,本發明實施例的有機發光顯示器的修復方法在步驟S10與S20中檢查白色子畫素SPW的電路單元WC以及偵測具有缺陷的白色子畫素SPW。
接下來,在步驟S30中,使用修復導電圖案(repair conductive pattern;PTR)(請參考第7圖至第9圖),本發明實施例的修復方法連接單元畫素中缺陷白色子畫素SPW相鄰的鄰接子畫素的電路單元與缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE。本發明實施例可事先形成修復導電圖案PTR,這樣修復導電圖案PTR從白色子畫素SPW的有機發光二極體的陽極延伸,然後與鄰接子畫素的驅動薄膜電晶體的源極重疊,兩者之間插有絕緣層。當對應的白色子畫素SPW需要修復時,本發明實施例的修復方法在 熔接製程(welding process)中透過照射雷射束到重疊區域上將絕緣層熔化。因此,修復導電圖案PTR可連接鄰接子畫素的驅動薄膜電晶體的源極。
接下來,在步驟S40與S50中,本發明實施例的修復方法儲存用於連接修復導電圖案PTR的修復位置,然後補償將被輸入修復位置的數位視訊資料。本文揭露的實施例中,修復位置表示鄰接子畫素的位置。因此,將被輸入修復位置的數位視訊資料表示將被輸入鄰接子畫素的數位視訊資料。
以下結合第6圖詳細描述資料補償相關的步驟S50。
在步驟S51、S52與S53中,當與修復位置對應的數位視訊資料結合事先儲存的修復位置被輸入時,本發明實施例的修復方法能夠實現補償數值的計算處理作業。本文揭露的實施例中,根據事先儲存有補償數值的查詢表,藉由補償演算法完成補償數值的計算處理作業。
接下來,根據補償數值的計算處理作業,本發明實施例的修復方法將待輸入鄰接子畫素的數位視訊資料調變以產生補償資料。其後,在步驟S54中,本發明實施例的修復方法輸出補償資料到鄰接子畫素。
考慮到物理特性之間的差異,例如缺陷白色子畫素SPW與鄰接子畫素的發光單元之間的透射率差、缺陷白色子畫素SPW與鄰接子畫素的有機發光二極體之間的發光效率差,以及缺陷白色子畫素SPW與鄰接子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體之間的尺寸差,本發明實施例適當地判定補償資料,從而消除缺陷白色子畫素SPW與正常白色子畫素SPW之間的亮度差。本文揭露的實施例中,RWGB子畫素的透射率與RWGB子畫素的有機發光二極體的發光效率大小如下:白色子畫素SPW綠色子畫 素SPG>紅色子畫素SPR≒藍色子畫素SPB。RWGB子畫素的驅動薄膜電晶體的尺寸如下:白色子畫素SPW≒綠色子畫素SPG<紅色子畫素SPR≒藍色子畫素SPB。
使用修復導電圖案PTR將鄰接子畫素的電路單元連接到缺陷白色子畫素SPW的發光單元的方法的例子包含共享連接方法與開關連接方法。
如第7圖所示,共享連接方法用於在第4A圖所示的RWGB的單元畫素結構中選擇綠色子畫素SPG作為鄰接子畫素。
共享連接方法中,綠色子畫素SPG的電路單元連接缺陷白色子畫素的發光單元WE與綠色子畫素SPG的發光單元GE。為此,如第7圖所示,本發明實施例使用修復導電圖案PTR,連接與缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE對應的有機發光二極體的陽極到屬於綠色子畫素SPG的電路單元GC的驅動薄膜電晶體DT。
換言之,本發明實施例透過雷射熔接製程在修復導電圖案PTR上完成修復製程(例如,連接製程),從而共同連接屬於綠色子畫素SPG的電路單元GC的驅動薄膜電晶體DT到與綠色子畫素SPG的發光單元對應的有機發光二極體的陽極以及與缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE對應的有機發光二極體的陽極。此外,透過雷射切割製程,本發明實施例將屬於缺陷白色子畫素SPW的電路單元WC的驅動薄膜電晶體DT與缺陷白色子畫素SPW的陽極斷開連接。
因為綠色子畫素SPG與白色子畫素SPW的物理特性之間差別很小,使用上述共享連接方法連接綠色子畫素SPG與白色子畫素SPW 對於保持影像品質更具優勢。
共享連接方法中,綠色子畫素SPG的電路單元GC需要驅動缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE以及綠色子畫素SPG的發光單元GE。因此,本發明實施例可完成調變製程,這樣在補償待被輸入綠色子畫素SPG的資料的步驟中,待被施加到綠色子畫素SPG的驅動薄膜電晶體DT的資料大於其初始數值。
在第4B圖所示的RWBG的單元畫素結構中,開關連接方法需要選擇具有低透射率的紅色子畫素SPR或藍色子畫素SPB作為鄰接子畫素。
如第8圖所示,當紅色子畫素SPR被選擇為鄰接子畫素時所使用的開關連接方法中,紅色子畫素SPR的電路單元RC替換紅色子畫素SPR的發光單元RE僅僅連接缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE。為此,如第8圖所示,使用修復導電圖案PTR,本發明實施例將與缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE對應的有機發光二極體的陽極連接到屬於紅色子畫素SPR的電路單元RC的驅動薄膜電晶體DT。
換言之,本發明實施例透過雷射熔接製程在修復導電圖案PTR上完成修復製程(例如,連接製程),從而將屬於紅色子畫素SPR的電路單元RC的驅動薄膜電晶體DT連接到與缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE對應的有機發光二極體的陽極。此外,本發明實施例透過雷射切割製程將紅色子畫素SPR的驅動薄膜電晶體DT與紅色子畫素SPR的有機發光二極體的陽極斷開連接,以及還透過雷射切割製程將缺陷白色子畫素SPW的驅動薄膜電晶體DT與缺陷白色子畫素SPW的有機發光二極體的陽 極斷開連接。
因為紅色子畫素SPR與白色子畫素SPW的物理特性之間的差別較大,使用上述開關連接方法連接紅色子畫素SPR與白色子畫素SPW對於保持影像品質更具優勢。
開關連接方法中,紅色子畫素SPR的電路單元RC需要替換紅色子畫素SPR的發光單元RE僅僅驅動缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE。因此,本發明實施例可完成調變製程,這樣在待輸入紅色子畫素SPR的資料的補償步驟中,考慮到紅色子畫素SPR與白色子畫素SPW的物理特性之間的差值,被施加到紅色子畫素SPR的驅動薄膜電晶體DT的資料小於其初始數值。
如第9圖所示,當藍色子畫素SPB被選為鄰接子畫素時所使用的開關連接方法中,藍色子畫素SPB的電路單元BC替換藍色子畫素SPB的發光單元BE僅僅連接缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE。為此,如第9圖所示,使用修復導電圖案PTR,本發明實施例將與缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE對應的有機發光二極體的陽極連接到屬於藍色子畫素SPB的電路單元BC的驅動薄膜電晶體DT。
換言之,本發明實施例透過雷射熔接製程在修復導電圖案PTR上完成修復製程(例如,連接製程),從而將屬於藍色子畫素SPB的電路單元BC的驅動薄膜電晶體DT連接到與缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE對應的有機發光二極體的陽極。此外,本發明實施例透過雷射切割製程將藍色子畫素SPB的驅動薄膜電晶體DT與藍色子畫素SPB的有機發光二極體的陽極斷開連接,還透過雷射切割製程將缺陷白色子畫素SPW 的驅動薄膜電晶體DT與缺陷白色子畫素SPW的有機發光二極體的陽極斷開連接。
在與紅色子畫素SPR相同的方式下,因為藍色子畫素SPB與白色子畫素SPW的物理特性之間差異較大,使用上述開關連接方法連接藍色子畫素SPB與白色子畫素SPW對於保持影像品質更具優勢。
開關連接方法中,藍色子畫素SPB的電路單元BC需要替換藍色子畫素SPB的發光單元BE僅僅驅動缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE。因此,本發明實施例可完成調變製程,這樣在待被輸入藍色子畫素SPB的資料的補償步驟中,考慮到藍色子畫素SPB與白色子畫素SPW的物理特性之間的差異,被施加到藍色子畫素SPB的驅動薄膜電晶體DT的資料小於其初始數值。
第10A圖表示根據第7圖所示的修復方法補償資料前後的綠色的亮度變化。第10B圖表示根據第7圖所示的修復方法補償資料前後的灰色的亮度變化。第11A圖表示根據第9圖所示的修復方法補償資料前後的灰色的亮度變化。第11B圖表示根據第9圖所示的修復方法補償資料前後的藍色的亮度變化。第10A圖、第10B圖、第11A圖以及第11B圖中,Z軸表示亮度。
第7圖所示的共享連接方法中,因為缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE與綠色子畫素SPG的發光單元GE彼此共享綠色子畫素SPG的電路單元GC,可避免缺陷白色子畫素SPW的缺陷電路單元WC所導致的暗點。然而,這種情況下,當如第10A圖所示顯示綠色時,可產生亮度尖峰。或者,當如第10B圖所示顯示灰色時,可產生亮度下降。
然而,當透過本發明實施例的上述修復方法補償資料時,如第10A圖與第10B圖所示消除亮度尖峰與亮度下降。因此,改善了影像品質。
第9圖所示的開關連接方法中,因為藍色子畫素SPB的電路單元可驅動缺陷白色子畫素SPW的發光單元WE,所以可避免白色子畫素SPW的缺陷電路單元WC所導致的暗點。然而,這種情況下,當如第11A圖所示顯示灰色時,由於藍色子畫素SPB被識別為暗點的緣故,亮度被畸變。或者,當第11B圖所示顯示藍色時,由於藍色子畫素SPB被識別為暗點的緣故,可產生亮度下降。
當透過本發明實施例的上述修復方法補償資料時,第11A圖所示的灰色的顯示中,亮度畸變被補償。然而,無論資料補償如何,藍色子畫素SPB保持第11B圖所示的暗點的狀態。然而,因為藍色子畫素SPB的暗點具有很低的可見度,藍色子畫素SPB的暗點對保持影像品質沒有影響。第8圖所示的開關連接方法中可同樣獲得此作業效果。
如上所示,透過修復導電圖案,本發明實施例連接缺陷白色子畫素相鄰位置的鄰接子畫素的電路單元與單元畫素中缺陷白色子畫素的發光單元,以及適當地補償待輸入鄰接子畫素的數位視訊資料,從而避免由於白色子畫素的缺陷電路的緣故在具有高透射率的白色子畫素中出現的暗點,不會降低開口率。
待輸入修復位置的數位視訊資料的補償包含當輸入與修復位置對於的數位視訊資料時,能夠實現補償數值的計算處理作業,以及根據補償數值的計算處理作業調變此數位視訊資料以產生補償資料,其中待 輸入修復位置的數位視訊資料表示待輸入鄰接子畫素的數位視訊資料。
藉由缺陷白色子畫素與鄰接子畫素的發光單元之間的透射率差異、缺陷白色子畫素與鄰接子畫素的發光單元之間的發光效率差異,以及缺陷白色子畫素與鄰接子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體之間的尺寸差異,不同地判定補償資料。
具有缺陷白色子畫素的單元畫素包含沿水平方向排列的四個子畫素,四個子畫素包含依照附名順序沿水平方向排列的顯示紅光的紅色子畫素、缺陷白色子畫素、顯示綠光的綠色子畫素以及顯示藍光的藍色子畫素。這種情況下,綠色子畫素被選為鄰接子畫素。修復導電圖案將屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極連接到屬於綠色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體。
當修復導電圖案被連接時,屬於綠色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體透過熔接製程共同連接到屬於綠色子畫素的發光單元的陽極以及屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極。屬於缺陷白色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體透過切割製程與屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極斷開連接。
待輸入修復位置的數位視訊資料的補償包含完成調變製程,這樣待被施加到綠色子畫素的驅動薄膜電晶體的資料大於其初始數值。
包含缺陷白色子畫素的單元畫素包含沿水平方向排列的四個子畫素,四個子畫素包含依照附名順序沿水平方向排列的顯示紅光的紅色子畫素、缺陷白色子畫素、顯示藍光的藍色子畫素以及顯示綠光的綠色子畫素。這種情況下,紅色子畫素被選為鄰接子畫素。修復導電圖案將屬 於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極連接到屬於紅色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體。
當修復導電圖案被連接時,屬於紅色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體透過熔接製程連接到屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極,還透過切割製程與屬於紅色子畫素的發光單元的陽極斷開連接。屬於缺陷白色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體透過切割製程與屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極斷開連接。
待輸入修復位置的數位視訊資料的補償包含完成調變製程,這樣待施加到紅色子畫素的驅動薄膜電晶體的資料小於其初始數值。
包含缺陷白色子畫素的單元畫素包含沿水平方向排列的四個子畫素,四個子畫素包含依照附名順序沿水平方向排列的顯示紅光的紅色子畫素、缺陷白色子畫素、顯示藍光的藍色子畫素以及顯示綠光的綠色子畫素。這種情況下,藍色子畫素被選為鄰接子畫素。修復導電圖案將屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極連接到屬於藍色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體。
當修復導電圖案被連接時,屬於藍色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體透過熔接製程連接到屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極,還透過切割製程與屬於藍色子畫素的發光單元的陽極斷開連接。屬於缺陷白色子畫素的電路單元的驅動薄膜電晶體透過切割製程與屬於缺陷白色子畫素的發光單元的陽極斷開連接。
待輸入修復位置的數位視訊資料的補償包含完成調變製程,這樣待施加到藍色子畫素的驅動薄膜電晶體的資料小於其初始數值。
雖然本發明以前述之實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明。在不脫離本發明之精神和範圍內,所為之更動與潤飾,均屬本發明之專利保護範圍之內。尤其地,各種更動與修正可能為本發明揭露、圖式以及申請專利範圍之內主題組合排列之組件部和/或排列。除了組件部和/或排列之更動與修正之外,本領域技術人員明顯還可看出其他使用方法。
SP‧‧‧子畫素
DA‧‧‧畫素陣列
10‧‧‧有機發光顯示器
11‧‧‧第一基板
12‧‧‧第二基板
15‧‧‧驅動器單元
20‧‧‧時序控制器

Claims (12)

  1. 一種有機發光顯示器的修復方法,該有機發光顯示器使用複數個單元畫素顯示一影像,該等單元畫素的每一個包含用於顯示白光的一白色子畫素,該修復方法包含:透過檢查該等白色子畫素的電路單元偵測一缺陷白色子畫素;使用一修復導電圖案,將該單元畫素中與該缺陷白色子畫素相鄰位置的一鄰接子畫素的一電路單元與該缺陷白色子畫素的一發光單元連接,其中該鄰接子畫素包含除白色以外之一顏色;與該修復導電圖案連接的一修復位置被儲存;以及補償待輸入該修復位置的數位視訊資料。
  2. 如請求項1所述之有機發光顯示器的修復方法,其中補償待輸入該修復位置的數位視訊資料的步驟包含:當輸入與該修復位置對應的該數位視訊資料時,實現一補償數值的一計算處理作業;以及根據該補償數值的該計算處理作業調變該數位視訊資料以產生補償資料,其中待輸入該修復位置的該數位視訊資料表示待輸入該鄰接子畫素的數位視訊資料。
  3. 如請求項2所述之有機發光顯示器的修復方法,其中藉由該缺陷白色子畫素與該鄰接子畫素的該等發光單元之間的 一透射率差、該缺陷白色子畫素與該鄰接子畫素的該等發光單元之間的一發光效率差,以及該缺陷白色子畫素與該鄰接子畫素的該等電路單元的驅動薄膜電晶體之間的一尺寸差,不同地判定該補償數值。
  4. 如請求項1所述之有機發光顯示器的修復方法,其中具有該缺陷白色子畫素的該單元畫素包含沿一水平方向排列的四個子畫素,以及該四個子畫素包含依照附名順序沿該水平方向排列的顯示紅光的一紅色子畫素、該缺陷白色子畫素、顯示綠光的一綠色子畫素以及顯示藍光的一藍色子畫素,其中該綠色子畫素被選為該鄰接子畫素,其中該修復導電圖案將屬於該缺陷白色子畫素的該發光單元的一陽極連接到屬於該綠色子畫素的一電路單元的一驅動薄膜電晶體。
  5. 如請求項4所述之有機發光顯示器的修復方法,其中當該修復導電圖案被連接時,屬於該綠色子畫素的該電路圖案的該驅動薄膜電晶體透過一熔接製程共同連接到屬於該綠色子畫素的一發光單元的一陽極與屬於該缺陷白色子畫素的該發光單元的該陽極,其中屬於該缺陷白色子畫素的該電路單元的一驅動薄膜電晶體透過一切割製程與屬於該缺陷白色子畫素的該發光單元的該陽極斷開連接。
  6. 如請求項5所述之有機發光顯示器的修復方法,其中待輸入該修復位置的該數位視訊資料的補償步驟包含完成一調變製程,這樣待被施加到該綠色子畫素的該驅動薄膜電晶體的資料大於其初始數值。
  7. 如請求項1所述之有機發光顯示器的修復方法,其中包含該缺陷白色子畫素的該單元畫素包含沿一水平方向排列的四個子畫素,該四個子畫素包含依照附名順序沿該水平方向排列的顯示紅光的一紅色子畫素、該缺陷白色子畫素、顯示藍光的一藍色子畫素以及顯示綠光的一綠色子畫素,其中該紅色子畫素被選為該鄰接子畫素,其中該連接導電圖案將屬於該缺陷白色子畫素的該發光單元的一陽極連接到屬於該紅色子畫素的一電路單元的一驅動薄膜電晶體。
  8. 如請求項7所述之有機發光顯示器的修復方法,其中當該修復導電圖案被連接時,屬於該紅色子畫素的該電路單元的該驅動薄膜電晶體透過一熔接製程連接到屬於該缺陷白色子畫素的該發光單元的該陽極,以及還透過一切割製程與屬於該紅色子畫素的一發光單元的一陽極斷開連接,其中屬於該缺陷白色子畫素的該電路單元的一驅動薄膜電晶體透過一切割製程與屬於該缺陷白色子畫素的該發光單元的該陽極斷開連接。
  9. 如請求項8所述之有機發光顯示器的修復方法,其中待輸 入該修復位置的該數位視訊資料的補償步驟包含完成一調變製程,這樣待被施加到該紅色子畫素的該驅動薄膜電晶體的資料小於其初始數值。
  10. 如請求項1所述之有機發光顯示器的修復方法,其中包含該缺陷白色子畫素的該單元畫素包含沿一水平方向排列的四個子畫素,該四個子畫素包含依照附名順序沿該水平方向排列的顯示紅光的一紅色子畫素、該缺陷白色子畫素、顯示藍光的一藍色子畫素以及顯示綠光的一綠色子畫素,其中該藍色子畫素被選為該鄰接子畫素,其中該連接導電圖案將屬於該缺陷白色子畫素的該發光單元的一陽極連接到屬於該藍色子畫素的一電路單元的一驅動薄膜電晶體。
  11. 如請求項10所述之有機發光顯示器的修復方法,其中當該修復導電圖案被連接時,屬於該藍色子畫素的該電路單元的該驅動薄膜電晶體透過一熔接製程連接到屬於該缺陷白色子畫素的該發光單元的該陽極,以及還透過一切割製程與屬於該藍色子畫素的一發光單元的一陽極斷開連接,其中屬於該缺陷白色子畫素的該電路單元的一驅動薄膜電晶體透過一切割製程與屬於該缺陷白色子畫素的該發光單元的該陽極斷開連接。
  12. 如請求項11所述之有機發光顯示器的修復方法,其中待輸入該修復位置的該數位視訊資料的補償步驟包含完成一 調變製程,這樣待被施加到該藍色子畫素的該驅動薄膜電晶體的資料小於其初始數值。
TW103142059A 2013-12-30 2014-12-03 有機發光顯示器的修復方法 TWI543131B (zh)

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