TWI409281B - Hardenable resin composition and temporary fixation method and surface protection method using the processed member - Google Patents
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Description
本發明是有關於在加工種種構件之時,對該當加工構件的暫時固定方法和表面保護方法,還有適用於其等之樹脂組成物以及黏接劑。
在進行半導體晶圓、光學構件等之薄形化之情形中,一般都是以表面保護薄膜來保護晶圓的電路面以及光學構件的非加工面的同時,介在著前述保護薄片將基材將之暫時固定於基材,來研磨和電路面相反側的背面,即以所謂的背面研磨方法來加工。
現在,在產業的水平上,晶圓的厚度一般是150μm,不過現在的趨勢是越來越要求薄形化的晶圓。更且連很薄的厚度都薄形化下去的情形下,由於研磨面(背面)的電路面的凹凸的影響會有成為不均一的現象,也就是說電路圖案的背面轉印現象變得顯著。
會產生背面轉印現象的原因說明如以下。現在所使用的感壓性黏接性的表面保護薄膜,其對於半導體晶圓的電路的凹凸的追隨性有其界限。因此之故,黏接劑層和電路面之間變得介在有間隙(空氣袋),晶圓在其領域之中,並不為黏接劑層所直接支持。由於在研磨時,將晶圓極薄化的當時,在不被支持的劃線(切割道)之處,一邊壓縮空氣袋,一邊在電路晶片之間向著垂直的方向移動,其結果,在此領域並不被研磨,結果變得比其他地方還要更厚。另一方面,在具有凸塊等之硬的突起之情形下,晶圓被研磨得更深,結果比其他的部分變得更薄。
此一現象在晶圓的最終完成厚度在150μm以上的情況下,是不成問題的,但是在欲使晶圓薄到變為超過100μm以下之情形(特別是最終完成為50μm以下的厚度之情形),或者是有凸塊等之晶圓電路面的高的突起是非常顯著的情形(例如超過100μm以上的情形),不只是晶圓的抗斷裂強度大大地降低,在最糟糕的情況,甚至有在研磨中使晶圓破損的情事發生。
還有,在欲使晶圓削薄到50μm附近之情形,晶圓的邊緣缺刻、或是晶圓和表面保護層之間有研磨水進入也成為問題。此原因也是起因於表面保護薄膜的對晶圓的邊緣之密接性的缺乏。還有,隨著晶圓的薄型化,於在電路面上有像是凸塊之類的100μm以上的突起的半導體晶圓之中,以貼附典型的半導體表面保護薄片來進行研磨其自體有困難之處。
向來的表面保護薄膜,一般而言都是在聚合物薄片狀材料上擁有黏接劑層做為表面保護層。黏接劑是設計為具有可追隨電路面的凹凸之低彈性率。但是,如果這個傾向太強的話,當從晶圓上撕掉除去薄片之時,會加上很大的應力於晶圓上,與破損的原因有相關。
在此,在將薄片撕去之前,有人開發出一種能源射線易剝離型保護薄片,藉著照射紫外線等之能源射線,使黏接劑硬化,降低晶圓和保護薄片之間的接著力。但是在研磨之間,黏接劑仍然處於未硬化的狀態下,卻又太過柔軟,在研磨之中,會有晶圓發生破損的問題發生。
在專利文獻1之中,開示了一種晶圓的研磨方法,其於形成有電路的晶圓上貼附上述般的能源射線易剝離型保護薄片,再以能源射線使黏接劑層硬化之後,再進行晶圓背面的研磨。但是由於黏接劑並非流動體的緣故,其對晶圓電路面的凹凸的追隨性並不充分。
在專利文獻2之中,開示了熱熔型的半導體表面保護薄片。此熱熔型薄片是藉著將該薄片加熱至60~100℃使其熔融,顯現其流動性,其可追隨電路面的凹凸,可顯示出優異的研磨性。但是,此薄片,具有每遇到溫度高於融點的環境便熔融的性質。
另一方面,半導體晶圓,一般而言,在貼合了保護薄片之後,還會有貼合黏晶薄膜,也就是DAF(Die Attachment Film),以為了固定晶圓的步驟,還有藉由濺射之金屬膜形成步驟的過程中,會有接受加熱步驟等的處理。因此之故,由於在前述的步驟中之溫度上昇,會發生保護薄片再熔融的不順利之情事。
專利文獻1:日本專利公報特開平11-026406號公報專利文獻2:日本專利公報特開2000-38556號公報
本發明的目的在於提供一種光硬化型黏接劑,其在為了提高切削加工後的構件的尺寸的精度上,屬於高的黏接強度,而且在水中的剝離性優異,還有剝離後不會有黏膠殘留於構件,不但對環境保護上優異,也是作業上非常優異的。本發明的目的,在於提供一種光硬化型黏接劑,特別是利用背面研磨方法來進行半導體晶圓、光學構件等之薄型化之情形中,其特性是可以保護晶圓的電路面以及光學構件的非加工面。
本發明者為了解決傳統技術的課題,滿足前述產業界的深切的期望,求取一種組成物,其為對晶圓、光學構件的電路面的凹凸之追隨性非常充分的材料,而且在研磨時,做為支持體上具有充分的剛性,而做了種種的檢討的結果,得知到使用N,N-二乙基丙烯醯胺及/或N-異丙基丙烯醯胺之特定的物質,並組合特定的親水性聚合物,藉此得到高黏接強度,而且在水中的剝離性良好的接著劑組成物,達成了上述目的,以至於完成了本發明。
還有,本發明在加工光學構件之際,除了提示一種被加工構件的表面保護方法,其目的在於保護位於被加工構件的表面,且為未被加工的部分,使其免於受到加工時的污垢所影響,同時也提示了一種被加工構件的暫時固定方法,其特徵為:在基材上黏接該當被加工物,在加工了被加工物之後,藉著將接著部分浸泡於水,可將硬化體取掉,並回收被加工構件,更進一步地提供一種樹脂組成物以及黏接劑,其等適用於該當用途。
如此,本發明具有以下的要旨做為特徵。
1.一種樹脂組成物,其特徵為含有:(A)成分:N,N-二乙基丙烯醯胺及/或N-異丙基丙烯醯胺和,(B)成分:N-乙烯-2-吡咯烷酮的同元聚合物、N,N-二甲基丙烯醯胺的同元聚合物、N,N-二乙基丙烯醯胺的同元聚合物、丙烯醯基嗎啉的同元聚合物、N-異丙基丙烯醯胺的同元聚合物;以及N-乙烯-2-吡咯烷酮、N,N-二甲基丙烯醯胺、N,N-二乙基丙烯醯胺、丙烯醯基嗎啉、N-異丙基丙烯醯胺所組成群中選出之2種以上的單體的共聚合物所組成之大群之中,所選出之1種以上,以及(C)成分:聚合起始劑。
2.如上述1所記載之樹脂組成物,其含有(D)成分:聚合抑制劑。
3.如上述1或是2所記載之樹脂組成物,其相對於100質量份的(A)成分以及(B)成分的合計量,含有1~99質量份的(A)成分。
4.如上述1~3之任一項中所記載之樹脂組成物,其相對於100質量份的(A)成分以及(B)成分,含有0.1~20質量份的(C)成分。
5.如上述2~4之任一項中所記載之樹脂組成物,其相對於100質量份的(A)成分以及(B)成分,含有0.001~3質量份的(D)成分。
6.如上述1~5之任一項所記載之樹脂組成物,前述(B)成分為N-乙烯-2-吡咯烷酮的同元聚合物或是至少含有N-乙烯-2-吡咯烷酮之共聚合物。
7.一種黏接劑,其特徵為由上述1~6之任一項所記載之樹脂組成物所構成。
8.如上述1~6之任一項所記載之樹脂組成物的硬化物,其特徵為具有水溶性,或是會吸水而膨潤。
9.一種構件的暫時固定方法,其特徵為使用上述1~6之任一項所記載的樹脂組成物,將構件暫時固定,並加工該被暫時固定之構件之後,浸泡該被加工之構件於水中,除掉前述樹脂組成物的硬化物。
10.一種構件的表面保護方法,其特徵為:將上述1~6之任一項所記載之樹脂組成物,覆蓋於構件的表面,使之硬化之後,加工該構件之後,將之浸泡於水中,取掉前述樹脂組成物的硬化物。
本發明的樹脂組成物,因其組成之故,具有很大的吸水性,所以硬化物的膨潤性、溶解性很大,從被覆著體剝離下來的性能良好,還有硬化物本身對水的溶解性很大,或者同時具有兩方的性質。因此,藉著使用本發明的樹脂組成物,來黏接暫時固定構件,加工該暫時被固定構件之後,僅須將該被加工構件浸泡於水,便能夠容易地取掉。還有,由很容易調整硬化前的黏接劑的黏度,所以可以藉著任意地調整黏度,得以因應物品的形狀將本發明的樹脂組成物填入其縫隙內。
本發明的構件的暫時固定方法以及表面保護方法,由於是使用只因接觸到水便降低其黏接強度的樹脂組成物,所以具有只要使其接觸水,使很容易地可以回收構件的特徵,比起習知的黏接劑的情形,不需要使用到高價、引火性很強、或者會產生對人體有害的氣體的有機溶劑,所以可以得到特別的效果。
於本發明之中,可以使用(A)成分:N,N-二乙基丙烯醯胺及/或N-異丙基丙烯醯胺。
還有,於本發明之中可以使用(B)成分:N-乙烯基-2-吡咯烷酮的同元聚合物、N,N-二甲基丙烯醯胺的同元聚合物、N,N-二乙基丙烯醯胺的同元聚合物、丙烯醯基嗎啉的同元聚合物、N-異丙基丙烯醯胺的同元聚合物,以及由N-乙烯基-2-吡咯烷酮、N,N-二甲基丙烯醯胺、N,N-二乙基丙烯醯胺、丙烯醯基嗎啉、以及N-異丙基丙烯醯胺所構成群中選出之2種以上之單體的共聚合物所構成之大群之中選出之1種以上。於本發明中,舉(B)成分而言,以N-乙烯-2-吡咯烷酮的同元聚合物或是至少含有N-乙烯-2-吡咯烷酮之共聚合物為較佳。
再者,於本發明中,可以使用(C)成分:聚合起始劑。
於本發明的樹脂組成物中,(A)成分和(B)成分的組成比,可因應所希望的黏度來任意決定。也就是說,在想要提高黏度的情形,多配合(B)成分,要降低黏度的情形,便可少配合(B)成分,藉著改變(B)成分的配合量,可將之調整為所希望的黏度。在像這樣的情形下,相對於100質量份的(A)成分和(B)成分的合計量,配合1~50質量份的(A)成分為較佳。還有,例如要使用在間隙較大的處所之情形中,或者是適用在已彎曲的構件,宜調整為高黏度,像這樣的情形,則以相對於100質量份的(A)成分和(B)成分的合計量,配合50~99質量份的(B)成分為較佳。
(C)成分:聚合起始劑為例如光聚合起始劑、氧化還原聚合起始劑等。舉前述光聚合起始劑而言,可使用公知的各種光聚合起始劑。具體而言,可舉二苯基酮或是其衍生物;二苯乙二酮或是其衍生物;蒽醌(anthraquinone)或是其衍生物;安息香、安息香甲醚、安息香***、安息香丙醚、安息香丁醚、苄基二甲基縮酮等之安息香衍生物;二乙氧基苯乙酮、4-t-丁基三氯苯乙酮等之苯乙酮衍生物;2-二甲基胺基苯甲酸乙酯、p-二甲基胺基苯甲酸乙酯、二硫化二苯、硫化二苯并哌喃酮或者是其衍生物;樟腦醌、7,7-二甲基-2,3-二氧基雙環[2.2.1]庚烷-1-羧酸、7,7-二甲基-2,3-二氧基雙環[2.2.1]庚烷-1-羧基-2-溴化乙酯、7,7-甲基-2,3-二氧基雙環[2.2.1]庚烷-1-羧基-2-甲酯、7,7-
二甲基-2,3-二氧基雙環[2.2.1]庚烷-1-氯化羧酸等之樟腦醌衍生物;2-甲基-1-[4-(甲基硫代)苯基]-2-嗎啉基丙烷-1-酮、2-苄基-2-二甲基胺基-1-(4-嗎啉基苯基)-丁烷-1-酮等之α-胺基烷基酚的衍生物;苯甲醯基二苯基氧化膦、2,4,6-三甲基苯甲醯基二苯基氧化膦、苯甲醯基乙氧基氧化膦、2,4,6-三甲基苯甲醯基甲氧基苯基氧化膦、2,4,6-三甲基苯甲醯基乙氧基苯基氧化膦等之醯基氧化膦衍生物等。光聚合起始劑可以組合1種或是2種以上使用。以光聚合起始劑而言,當中以苄基二甲基縮酮、2-甲基-1-[4-(甲基硫代)苯基]-2-嗎啉基丙烷-1-酮為較佳。
還有,前述氧化還原系聚合起始劑以含有有機過氧化物和還原劑之氧化還原系觸媒為較佳。例如,可以舉:乙基乙縮酮過氧化物、甲基環己烯過氧化物等之縮酮過氧化物和磺烷酸鈷、磺烷酸銅等之金屬皂之組合;或者是辛醯基過氧化物、苯甲醯過氧化物等之醯基過氧化物,和N,N-二甲基苯胺、N,N-二甲基-p-甲苯胺等之3級胺之組合,或者是氫過氧化異丙苯、二異丙基苯氫過氧化物,和硫脲、乙烯基硫脲、乙醯基硫脲等有機硫脲之組合。更且,也可以將光聚合起始劑和氧化還原系聚合起始劑一起併用。
(C)成分:聚合起始劑的添加比率以相對於100質量份的(A)成分和(B)成分的合計量,使用0.1~20質量份為較佳。(C)成分的添加比率以0.2~10質量份為更佳。(C)成分的添加比率,若是在0.1質量份以上的話,可以確實地得到硬化促進效果。(C)成分的添加比率在20質量份以下的話,可以得到充分的硬化速度。舉更佳的形態而言,藉由添加0.2質量份的(C)成分,組成物的硬化體的交聯度會變高,切削加工時,變得不會發生位置偏移等,以這些點以及提高剝離性的點來看,為更佳。
本發明的樹脂組成物,為了提高其貯藏安定性,可以使用少量的(D)成分:聚合抑制劑。例如舉聚合抑制劑而言,可舉:甲基氫醌、氫醌、2,2-亞甲基-雙(4-甲基-6-第三丁基苯酚)、茶兒酚、氫醌單甲基醚、單第三丁基氫醌、2,5-第三丁基氫醌、p-苯醌、2,5-二苯基-p-苯醌、2,5-第三丁基-p-苯醌、苦味酸、檸檬酸、硫代二苯胺、第三丁基茶兒酚、2-丁基-4-羥基大茴香醚、或是2,6-第三丁基-p-甲苯酚等。其中尤其聚合抑制劑以2,2-亞甲基-雙(4-甲基-6-第三丁基苯酚)為較佳。
此等聚合抑制劑的使用比率,相對於100質量份的(A)成分和(B)成分的合計量,以0.001~3質量份為較佳;又以0.01~2質量份為更佳。藉由將聚合抑制劑的使用比率定在0.001質量份,可確保貯藏安定性,藉由定在3質量份以下,可得到良好的黏接性,也不至於會有未硬化的情形發生。
於本發明中,也可以和極性有機溶劑一起使用。藉由和極性有機溶劑一起使用,可更進一步地展現出硬化後的組成物在和水接觸之後,很容易膨潤,或是其黏接強度會降低。
有關於極性有機溶劑,以其沸點在50℃以上,200℃以下為較佳。選擇沸點在前述範圍之內的有機溶劑之時,由於可以更加確實地展現出硬化後的組成物在和溫水接觸後,其黏接強度會降低的現象,所以為較佳。還有,舉像這樣的極性有機溶劑的例子而言,可舉:醇類、酮類、酯類等。以極性有機溶劑而言,以選擇醇類為較佳。
舉上述醇類而言,可舉:甲醇、乙醇、正丙醇、異丙醇、正丁醇、異丁醇、第二丁醇、第三丁醇、正戊醇、異戊醇、2-乙基丁基醇等。以上述醇類而言,屬於沸點在120℃以下的甲醇、乙醇、正丙醇、異丙醇、正丁醇、異丁醇、第二丁醇、第三丁醇為較佳,而以甲醇、乙醇、異丙醇、正丁醇為特佳。
極性有機溶劑的添加比率,相對於100質量份的(A)成分和(B)成分的合計量,以0.5~10質量份為較佳。上述添加比率若是在0.5質量份以上的話,可以確保剝離性,若是在10質量份以下的話,無初期的黏接性低下的虞慮,組成物的硬化體會剝離。
於本發明中,也可以和(A)成分、(B)成分和(C)成分,一起使用不溶於(A)成分、(B)成分以及(C)成分的粒狀物質。藉此,由於硬化後的組成物可以保持一定的厚度,所以提高了加工精度。
不溶解於(A)成分、(B)成分以及(C)成分的粒狀物質,有機、無機粒子的任一皆可。具體來說,舉有機粒子而言,可舉:聚乙烯粒子、聚丙烯粒子、交聯聚甲基丙烯酸甲酯粒子、交聯聚苯乙烯粒子等。舉無機粒子而言,可舉:玻璃、矽膠、氧化鋁、鈦等之陶瓷粒子。
不溶解於(A)成分、(B)成分以及(C)成分之粒狀物質,在從加工精度的提昇,也就是控制黏接劑的膜厚的觀點來看,以球狀為較佳。具體而言,就有機粒子而言,以藉由和甲基丙烯酸甲酯單體、苯乙烯單體和交聯性單體之公知的乳化聚合法,以單分散粒子的狀態所得到的交聯聚甲基丙烯酸甲酯粒子、交聯聚苯乙烯粒子為較佳;以無機粒子而言,以球狀矽膠,由於於其粒子的變形很少,因其粒徑的不均一所致之硬化後的組成物的膜厚將成為均一,所以為較佳。在其中,更且從粒子的沉降等貯藏安定性和組成物的反應性的觀點來看,以交聯聚甲基丙烯酸甲酯粒子、交聯聚苯乙烯粒子為更佳。
不溶解於(A)成分、(B)成分以及(C)成分之粒狀物質的添加比率,相對於100質量份的(A)成分以及(B)成分的合計量,以0.1~20質量份為較佳,又以0.1~10質量份為更佳。上述添加比率,若是在0.1質量份以上的話,其硬化後的組成膜厚將維持在大致一定,若是在20質量份以下的話,沒有初期的黏接性的降低的虞慮。
在不損及本發明的目的的範圍之內,本發明的樹脂組成物可以使用一般為人使用的丙烯酸橡膠、胺基甲酸酯橡膠、丙烯醯腈-丁二烯-苯乙烯橡膠等之各種彈性體;無機填充物、溶劑、增量材、補強材、可塑劑、增黏劑、染料、顏料、難燃劑、矽烷偶合劑以及界面活性劑等之添加劑。
接著,本發明為一種構件的暫時固定方法,其特徵為:使用與水接觸後黏接強度會降低之樹脂組成物,來黏接構件,暫時固定構件,在加工過該暫時固定構件之後,將該被加工構件浸泡於水,取掉前述樹脂組成物的硬化物。藉此,可以在不使用有機溶劑之下,在提高光學構件等之種種構件的加工精度之下來加工之。
還有,若是藉著本發明的較佳實施樣態的話,硬化物與水接觸,而吸水膨潤、溶解,可取掉組成物的硬化物,可得到無論是在環境上,在作業性上,都非常優異的效果。而且,於本發明中,所謂的硬化物吸水膨潤的意思,是指相對於100質量份的吸水前的硬化物,其吸收了10質量份以上的水並膨潤的狀態。
於本發明的暫時固定方法中,若是使用由前述本發明的樹脂組成物所構成的黏接劑的話,可確實地得到前述發明的效果。
於本發明中,在使用適度地加熱後的溫水,具體而言是90℃以下的溫水之時,可在短時間之內達成於水中的剝離性,若是使用30~90℃,較佳為40~90℃的溫水的話,由於可以以短時間使黏接劑的硬化物膨潤、溶解並取掉黏接劑硬化物,所以為較佳。並且,至於硬化物與水的接觸的方法,以使整個接合體浸泡在水裏面,因為其簡便所以特別建議。
於本發明中,暫時固定之際所使用的構件的材質,並沒有特別的限制,在使用紫外線型黏接劑之情形中,以由可透過紫外線的構件的材料所構成的構件為較佳。舉像這樣的材質而言,因為例如可舉:水晶構件、玻璃構件、塑膠構件,所以本發明的暫時固定方法可以適用於水晶共振器、玻璃透鏡、塑膠透鏡以及光碟的加工中之暫時固定。
於暫時固定方法中,有關於黏接劑的使用方法,若是想定在黏接劑方面為使用光硬化型黏接劑的情形的話,例如,可舉的例子有:採用在要固定的一邊的構件或者支持基板的黏接面,適量地塗佈黏接劑,接著層疊上另一邊的構件的方法,或者是採用事先將要暫時固定的構件,多數地層疊,然後使黏接劑滲透到其間隙之內來塗佈的方法等,在塗佈好黏接劑之後,以可視光或是紫外線照射該構件,藉著使光硬化性黏接劑硬化,而暫時固定構件彼此的方法。
其後,對被暫時固定的構件施以切割、研削、研磨、開孔等加工之後,藉由將該構件浸泡於水,最好是溫水,便可從構件剝離黏接劑的硬化物。
還有,本發明為被加工構件的表面保護方法,其特徵為:使用前述樹脂組成物,使其被覆在被加工構件的表面,並使之硬化後,將該被加工構件浸泡於水中,取掉該前述樹脂組成物的硬化物。也就是說,藉著在被加工構件的未被加工之表面上,塗佈前述樹脂組成物並使其硬化,可以防止在加工時,該當表面污損,或者是產生碎屑。
再者,若依照本發明之較佳的實施樣態的話,硬化物和水接觸而膨潤或是溶解,可以取掉樹脂組成物的硬化物,可以得到無論是在環境上或是在作業上之優異的效果。
於本發明中,在表面保護之際所使用的構件的材質並沒有特別的限制,在取紫外線硬化型黏接劑來使用的情形中,以可以讓紫外線透過的材料所構成的構件為較佳。因為例如可以舉:水晶構件、玻璃構件、塑膠構件,所以本發明的保護方法可以適用於在水晶共振器、玻璃透鏡、塑膠透鏡以及光碟的加工中之表面保護。
在以下舉實施例以及比較例更加詳細地說明本發明,但是本發明並不限於此等實施例。
(A)成分:配合50質量份的N,N-二乙基丙烯醯胺(興人公司製DEAA)、(B)成分:配合50質量份的聚乙烯吡咯烷酮(日本觸媒公司製聚乙烯吡咯烷酮K-30)、(C)成分:以聚合起始劑而言,配合2質量份的I-907:2-甲基-1-[4(甲基硫化)苯基]-2-嗎啉基丙烷-1酮(千葉特殊化學公司(Ciba specialty chemicals Co.,Ltd.)製IRGACURE907,以下略稱為「IRGACURE907」)、(D)成分:以聚合抑制劑而言,配合0.1質量份的2,2-亞甲基-雙(4-甲基-6-第三丁基苯酚)(以下略稱為「MDP」)。製作樹脂組成物。使用所得到的樹脂組成物,用以下所示的評價方法來進行拉伸剪斷黏接強度的測定、剝離試驗、表面保護膜剝離試驗以及表面硬化性試驗。將其等結果顯示於表1。
(評價方法)拉伸剪斷黏接強度:遵從JIS K 6850來測定。具體而言,在被黏接材上使用耐熱派熱司(Pyrex,註冊商標,以下相同)玻璃(25mm×25mm×2.0mm),將黏接部位設成8mm,藉由所製作出的組成物,將2片耐熱派熱司玻璃相貼合,藉由使用了無電極放電燈泡的費訊公司(Fushion company)製的硬化裝置,以365nm的波長的積算光量2000mJ/cm2
的條件使之硬化,使用萬能試驗機,在溫度23℃、濕度50%的環境下,在拉伸速度為10mm/min之下,測定拉伸剪斷黏接強度。
剝離試驗:在上述耐熱派熱司玻璃之上塗佈所製作的樹脂組成物,以鈉鈣玻璃(150mm×150mm×1.7mm)做為支持體,將派熱司玻璃貼合於其上以外,以與上述同樣的條件,使組成物硬化,製作剝離試驗體。將所得到的試驗體,浸泡於溫水(80℃),測定耐熱派熱司(註冊商標)玻璃的剝離時間。
表面保護膜剝離試驗:在鈉鈣玻璃150mm×150mm×1.7mm之上,以棒材塗佈機(bar coater)將前述樹脂組成物塗佈成50μm的厚度,並藉著史坦列公司(Stanley Works)製的紫外燈以照度5mW/cm2
的條件,積算照射量成為1000mJ地,使樹脂組成物硬化,製作表面保護膜剝離試驗體。將所得到的試驗體,浸泡於溫水(80℃)中,測定硬化體完全剝離的時間。
表面硬化性試驗:藉由觸診來觸摸在前述條件下使之硬化的剝離試驗體,做出評價。
○…不殘留指紋的痕跡×…殘留指紋的痕跡。
以表1所示的組成來使用表1所示種類的原材料以外,與實施例1同樣地處理,製作樹脂組成物。針對所得到的組成物,與實施例1同樣地進行拉伸剪斷黏接強度的測定以及剝離試驗、表面保護膜剝離試驗以及表面硬化性試驗。將其等結果顯示於表1。
(使用材料)BDK:苄基二甲基縮酮(千葉特殊化學公司製IRGACURE651)NIPAM:N-異丙基丙烯醯胺(興人公司製NIPAM)聚乙烯吡咯烷酮K-30:聚乙烯吡咯烷酮(日本觸媒公司製K-30)聚乙烯吡咯烷酮K-85:聚乙烯吡咯烷酮(日本觸媒公司製K-85)聚乙烯吡咯烷酮K-90:聚乙烯吡咯烷酮(日本觸媒公司製K-90)
使用實施例2以及6的樹脂組成物,與實施例同樣地製作剝離試驗體A以及B,改變溫水的溫度40℃、50℃、60℃、70℃地來進行剝離試驗以及表面保護膜剝離試驗。將其結果顯示於表2。其結果,不論是那一個溫度,都具有剝離性。
使用實施例2的樹脂組成物,取150mm×150mm×2mm的耐熱派熱司玻璃,將在實施例1之中所使用的鈉鈣玻璃做為虛擬玻璃,將二者與實施例1同樣地使之黏接硬化。使用切割裝置,只切斷該黏接試驗體的耐熱派熱司玻璃部分為10mm的四方角塊。在切斷之時,並沒有發生耐熱派熱司玻璃的脫落,顯示良好的加工性。浸泡只有切斷耐熱派熱司玻璃部分的黏接試驗體於80℃的水中之間,在60分以內所有的試驗體全部剝離。
還有,以隨機方式各取出10個該剝離的切斷試驗片,使用光學顯微鏡觀察該切斷試驗片的背面(以樹脂組成物暫時固定的面)的各片,測定玻璃有缺刻處所的最大幅度,求得其平均值和標準偏差。將其結果,顯示於表3。
加熱熱熔型黏接劑(日化精工公司製阿德菲克斯A(ADFIX-A))至90℃,使之融熔,取150mm×150mm×2mm的耐熱派熱司玻璃,和在實施例1之中所使用的鈉鈣玻璃,將二者黏接。使用切割裝置,只切斷該黏接試驗體的耐熱派熱司玻璃部分為10mm的四方角塊。在切斷之時,並沒有發生耐熱派熱司玻璃的脫落,顯示良好的加工性。浸泡該試驗片於N-甲基吡咯烷酮溶液之中一天,回收試驗片,任意取出10個與實施例14同樣地剝離的切斷試驗片,使用光學顯微鏡觀察該切斷試驗片的背面(以熱熔型黏接劑所暫時固定的面)的各片,測定玻璃有缺刻處所的最大幅度,求得其平均值和標準偏差。將其結果,顯示於表3。
使用UV硬化型PET黏接膠帶,黏接150mm×150mm×2mm的耐熱派熱司玻璃。使用切割裝置,只切斷該黏接試驗體的耐熱派熱司玻璃部分為10mm的四方角塊。藉著照射紫外線於該試驗片的黏接膠帶部分,使其黏接力降低,回收該切斷試驗片。對該切斷試驗片任意取出10個與實施例14同樣地剝離的切斷試驗片,使用光學顯微鏡觀察該切斷試驗片的背面(以黏接膠帶所暫時固定的面)的各片,測定玻璃有缺刻處所的最大幅度,求得其平均值和標準偏差。將其結果,顯示於表3。
本發明的樹脂組成物可展現很高的黏接強度,在構件加工時不容易發生偏移,具有在尺寸精度上容易獲得優異的構件之效果。更且,本發明的樹脂組成物,藉由與水接觸其黏接強度便降低,由於構件之間的黏接力,或者是構件和夾具之間的黏接力降低,所以具有可以容易地回收構件的特徵。本發明的樹脂組成物,做為光學透鏡、稜鏡、光學陣列、矽晶圓、半導體實裝構件等之暫時固定用黏接劑以及表面保護材料,在產業上為有用的。
本發明的構件之暫時固定方法,由於使用具有前述特徵的樹脂組成物,所以不需要使用到於習知技術中為必要之溶劑,在產業上是非常有用的。
還有,在此引用於2006年6月19日申請的日本專利申請案2006-168635號的說明書、申請專利範圍以及摘要的全內容,做為本發明的說明書的開示,特別收錄於其中。
Claims (9)
- 一種樹脂組成物,其係使用於構件之暫時固定用,且該樹脂組成物含有(A)成分:N,N-二乙基丙烯醯胺及/或N-異丙基丙烯醯胺,和(B)成分:N-乙烯基-2-吡咯烷酮的同元聚合物、N,N-二甲基丙烯醯胺的同元聚合物、N,N-二乙基丙烯醯胺的同元聚合物、丙烯醯基嗎啉的同元聚合物、N-異丙基丙烯醯胺的同元聚合物,以及由N-乙烯基-2-吡咯烷酮、N,N-二甲基丙烯醯胺、N,N-二乙基丙烯醯胺、丙烯醯基嗎啉、以及N-異丙基丙烯醯胺所構成群中選出之2種以上之單體的共聚合物所構成之群組中選出之1種以上,與(C)成分:聚合起始劑。
- 如申請專利範圍第1項之樹脂組成物,其中含有(D)成分:聚合抑制劑。
- 如申請專利範圍第1項之樹脂組成物,其中相對於(A)成分以及(B)成分的合計量100質量份,含有(A)成分1~99質量份。
- 如申請專利範圍第1項之樹脂組成物,其中相對於(A)成分以及(B)成分的合計量100質量份,含有(C)成分0.1~20質量份。
- 如申請專利範圍第2項之樹脂組成物,其中相對於(A)成分以及(B)成分的合計量100質量份,含有(D)成分0.001~3質量份。
- 如申請專利範圍第1項之樹脂組成物,其中前述(B)成分為至少含有N-乙烯基-2-吡咯烷酮的同元聚合物或 是N-乙烯基-2-吡咯烷酮之共聚合物。
- 一種黏接劑,其特徵為:由申請專利範圍第1項至第6項中任一項之樹脂組成物所構成。
- 一種硬化物,其特徵為,由申請專利範圍第1項至第6項中任一項之樹脂組成物所構成的硬化物,且其具有水溶性,或者吸水而膨潤。
- 一種構件的暫時固定方法,其特徵為:使用申請專利範圍第1項至第6項中任一項之樹脂組成物,暫時固定構件,在加工該暫時固定之構件之後,再浸泡該經加工之構件於水,而取掉前述樹脂組成物的硬化物。
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