TWI327446B

TWI327446B - Electro-optical device

Info

Publication number: TWI327446B
Application number: TW095103935A
Authority: TW
Inventors: Takaaki Hayashi
Original assignee: Seiko Epson Corp
Priority date: 2005-02-14
Filing date: 2006-02-06
Publication date: 2010-07-11
Also published as: JP4345743B2; CN1825619A; KR20060091236A; KR100751848B1; US7994810B2; US20110254555A1; US8324916B2; US20060195736A1; CN100433360C; JP2006251774A; TW200633573A

Description

1327446 九、發明說明【發明所屬之技術領域】本發明是關於光電裝置。【先前技術】近年來，光電裝置，例如有機電激發光顯示器隨著顯

示畫像之高精細化、畫面之大型化等，要求增大畫素電路 ;構成畫素電路之配線圖案或電極圖案之微細化。因此，在有機電激發光顯示器（有機EL顯示器）之各製造工程中’則要求複雜並且高度之技術。並且爲了保證該些有機 EL顯示器之性能、信賴性保證，於出貨前之各製造工程 ’各種（例如全燈檢查）之檢查也爲重要。並且將執行該些各種檢查之檢查電路，與多數畫素電路同時設置在基板 (例如，專利文獻1、2 )。於專利文獻1中，以與在基板上形成有密封構件之安裝部之檢查電路成爲外包裝之方式，安裝用以保護基板上之光電元件之密封構件，以謀求裝置之小型化。再者，於專利文獻2中，將構成檢查電路之電晶體元件，配置在密封材料之密封區域（密封材料黏著於基板之區域），以謀求如密封區域般之死角的有效利用。〔專利文獻1〕日本特開2004-200034號公報〔專利文獻2〕日本特開平1〇_214065號公報【發明內容】 -4 - 13,27446 〔發明所欲解決之課題〕但是，上述兩檢査電路因皆形成在與密封構件重疊之部分，故無法充分享受到藉由密封構件之保護。而且，兩檢查電路因與密封構件之接合面對峙，故於任何力量施加於密封構件之時，由於該力量直接施加於檢查電路，故有損傷該檢查電路之可能。

本發明是爲了解決上述問題點而所創作出者，該目的是提供可以由周圍環境保護形成在基板之檢查用之檢查電路的光電裝置。〔用以解決課題之手段〕本發明之光電裝置是屬於在基板之顯示區域，形成包含有多數掃描線、多數資料線、對應於該些掃描線和資料線之交叉部而所設置之光電元件的多數單位電路，並且將用以密封形成在上述顯示區域之多數畫素電路之光電元件的密封構件接合於上述基板之光電裝置，接合上述基板和上述密封構件之接合區域和上述顯示區域之間，形成有檢查電路。若依據本發明之光電裝置，形成在基板之檢查電路因完全被密封構件內包，故完全隔離外部之濕氣、氧氣等而予以保護。再者，檢查電路因被形成在直接不與密封構件之黏著面對峙之顯示區域和黏著區域之間，故被施加於密封構件之力量，例如在基材黏著密封構件之時，密封構件抵接於基板之力量經由黏著面不直接施加。因此，由於何 -5- 1327446 種原因被施加至密封構件之力量而對檢查電路所造成之損傷的可能性爲小。再者，例如，若設爲密封構件爲不銹鋼等之金屬性之密封構件時，由於以密封構件完全遮斷外部電性雜波，故檢查電路不會藉由電性雜波而執行錯誤動作

於該記載之光電裝置中，上述檢查電路即使具備有將檢查資料信號供給至各個上述多數資料線之資料線控制用檢查電路部，及將檢查用之選擇信號選擇性供給至各個上述多數掃描線的掃描線控制用檢查電路部中之至少任一方亦可。若依據該光電裝置，具備有資料線控制用檢查電路部及掃描線控制用檢查電路部之至少一方的光電裝置，是該所具備之檢查電路部是隔離周圍環境（濕氣、氧氣、外力 )而保護該所具備之檢查電路。上述資料線控制用檢查電路部即使具備有供給檢查模式fg號之檢查模式信號供給線；供給檢查資料信號之檢查資料信號供給線；和被設置在上述檢查資料信號供給線和各個上述多數資料線之間，根據上述檢查模式信號，將上述檢查資料信號供給至各個所對應之上述資料線的電晶體亦可。若依據該光電裝置，因可以以如檢查模式訊號供給線、檢查資料訊號供給線及電晶體般之最小限，形成上述資料線控制用檢查電路部’故可以在顯示區域和黏著區域之間形成同檢查電路部。 -6 - 1327446 在該光電裝置中，上述檢查模式信號供給線及上述檢查資料信號供給線，即使各個是與形成在上述基板之四角 ¥中之任一角部的檢查用外部端子電性連接亦可。若依據該光電裝置，檢查用外部端子是由被形成在各資料線之延長線上之基板之一邊的資料線之外部端子，被形成在偏移之上述基板之偶部。因此，不會增大基板之尺寸’可以增大同檢查用外部端子尺寸。

若依據該光電裝置，可針對各色之光電元件予以檢查於該光電裝置中，上述掃描線控制用檢查電路部，即使是具備有供給檢查用之選擇信號的選擇信號供給線；和供給檢查用之時脈信號的時脈信號供給線；和供給檢查模式信號的檢查模式信號供給線：和對應於各個上述多數資料線而所設置，將上述選擇信號應答於上述時脈信號而從一方移位至另一方，輸出至所對應之掃描線的移位暫存器 ;並具備有根據上述檢査模式信號，將上述選擇信號供給至掃描線之電晶體亦可。若依據該光電裝置，因以如選擇信號供給線、時脈信號供給線、檢查模式信號供給線、移位暫存器及電晶體之最小限度的電路構成，來形成掃描線控制用檢查電路部，故可以在顯示區域和接合區域之間形成同檢查電路部。在該光電裝置中，即使上述選擇信號供給線、上述時脈信號供給線及上述檢查模式信號供給線，各個是與形成在上述基板之四角落中之任一角部的檢查用外部端子電性 1327446 連接亦可。若依據該光電裝置，選擇訊號供給線、時脈訊號供給線及檢查模式訊號供給線之檢查用外部端子，是自被形成在各掃描線之延長線上之基板之一邊之掃描線之外部端子，形成在偏移之上述基板之角落。因此，不用增加基板之尺寸，可以增大檢查用外部端子之尺寸。本發明之光電裝置屬於在基板之顯示區域，形成包含

有各被供給選擇信號之多數掃描線、各被供給資料信號之多數資料線、對應於該些掃描線和資料線之交叉部而所設置之光電元件的多數單位電路，並且在鄰接於上述顯示區域之位置形成檢查電路，同時將用以密封形成在上述顯示區域之多數單位電路之密封構件接合於上述基板之光電裝置中’將上述檢查電路用之檢查用外部端子，形成在比接合上述密封構件和上述基板之接合區域更外側，上述基板之角落部。若依據光電裝置時，檢查用外部端子是被形成在自各掃描線及各資料線之延長線上之基板一邊偏移的上述基板之角落部。因此，不用增大基板之尺寸，可以增大同檢查用外部端子尺寸。並且，因形成在比密封區域更外側，故即使於黏著密封構件之後亦可以檢查。於該光電裝置中，具備有電性被連接於各個上述多數掃描線，使供給上述選擇信號之多數選擇信號輸入端子；和電性被連接於各個上述多數資料線，使供給上述資料信號之多數資料信號輸入端子’上述多數選擇信號輸入端子 -8- 1327446 是被設置在上述基板之第1邊，上述多數資料信號輸入端子是被設置在與上述基板之上述第1邊不同之第2邊，上述檢查用外部端子是形成在上述基板之上述第1邊與上述第2邊交叉之角落部。

若依據該光電裝置，第1邊和第2邊交叉之基板的角落部’是不形成在第1邊所形成之選擇訊號輸入端子及在第2邊所形成之資料訊號輸入端子。因此，檢查用外部端子是不用增大基板之尺寸’可以增大同檢查用外部端子尺寸。本發明之光電裝置是屬於在基板之顯示區域，形成包含有各被供給選擇信號之多數掃描線 '各被供給資料信號之多數資料線、對應於該些掃描線和資料線之交叉部而所設置之光電元件的多數單位電路，並且在鄰接於上述顯示區域之位置形成檢查電路之光電裝置，具有接合用以密封形成在上述顯示區域之多數單位電路的密封構件和上述基板之接合區域，將和對準標記倂用之上述檢查電路用的多數檢查用外部端子，形成在比上述接合區域更外側。若依據本發明之光電裝置，在基板上形成檢查用外部端子之時點，因可以將該檢查用外部端子當作對準標記使用’故例如可以利用於製造多數光電元件之工程中的對準作業。或是，因在比密封構件之密封區域更外側上形成檢查用外部端子，故亦可以利用於將密封構件貼合於基板上之時的對準作業。在該光電裝置中，上述多數檢查用外部端子是形成在 1327446

上述基板之角落部。若依據該光電裝置，因形部端子之尺寸，容易與探針連易增大尺寸，故於將密封構件精度高的對準。在該光電裝置中，上述多形成於上述基板之各角落部，成亦可。若依據該光電裝置時，多落部之邊而配置形成，故藉由之配置關係，可成爲精度佳之若依據該光電裝置，可對並且在製造光電元件之工程中作對準標記予以利用。於該光電裝置中，上述光亦可。若依據該光電裝置，可對且在製造電激發光元件之工程當作對準標記予以利用。若依據該光電裝置時，可並且於製造有機電激發光元件裝置而製造之時，可以將檢查以利用。於該光電裝置中，即使在成在角落部，故可以增大外接，並且對於對準標記也容貼在基板時，可以容易執行數之檢查用外部端子即使被沿著各角落部之邊而配置形數檢查用外部端子因沿著角多數相鄰之檢查用外部端子對準。各色之光電元件執行檢查，，可以將檢查用外部端子當電元件即使爲電激發光元件電激發光元件執行檢查，並中，可以將檢查用外部端子對有機電激元件執行檢查，之工程，例如利用液滴吐出用外部端子當作對準標記予上述顯不區域上形成射出紅 -10- 1327446 色光的多數光電元件、射出綠色光的多數光電元件、射出藍色光之多數光電元件，上述檢查電路之訊號供給線是具有供給用以射出紅色光之光電元件之檢查資料訊號的紅色用檢查資料訊號供給線，供給用以光之光電元件之檢查資料訊號的綠色用檢查資料訊號，和供給用以射出藍色光之光電元件之檢查資料訊號的藍色用檢查訊號供給線亦可。於該光電裝置中，上述光電元件即使爲電激發光亦可

若依據該光電裝置，則可以執行電激發光元件之檢查於該光電裝置中，上述電激發光元件即使發光層由有機發光材料所構成亦可。若依據該光電裝置，則可以執行有機電激發光元件之檢查。【實施方式】以下，按照圖面說明將本發明之光電裝置予以具體化之一實施形態。第1圖爲有機EL顯示器之斜視圖，第2 圖爲其有機EL顯示器之重要部位剖面圖。如第1圖所示般，當作光電裝置之有機EL顯示器1 ，是具備有四角形之透明基板2。透明基板2在本實施形態中，是由無鹼玻璃所形成。在透明基板2之表面（元件形成面）2a，形成有以假想線所包圍之略四角形狀之顯示區域3。在顯示區域3上 -11 - 1327446

，如第1圖所示般，矩陣狀形成有mxn個之畫素4。當詳細敘述時，在顯示區域3，形成每一行m個之畫素4群爲 η行，再者，每1列η個之畫素4群爲m行。各畫素4是如第3圖所示般，由具有射出紅色光之紅色光用有機EL元件7(參照第4圖）的紅色用畫素電極 4R、具有射出綠色光之綠色用有機EL元件7(參照第4 圖）的綠色用畫素電路4G，及射出藍色光之藍色用有機 EL元件7(參照第4圖）的3種類畫素電路所構成。當作單位電路之紅、綠及藍色用畫素電路4R、4G、4B，是沿著行方向依照紅色用畫素電路4R、綠色用畫素電路4G、藍色用畫素電路4B之順序而被配置。即是，各畫素電路 4R、4G、4B是沿著行方向，依紅色畫素電路4R、綠色用畫素電路4G、藍色用畫素電路4B、紅色用畫素電路4R、綠色用畫素電路4G、…之順序重複配置。再者，沿著列方向，配置有同色之畫素電路4R、4G、4B。在顯示區域3，各沿著列方向對應於被配置在各列方向之各色畫素電路4R、4G、4B而各沿著列方向，形成資料線Lr、Lg、Lb，各將資料訊號Dr、Dg、Db供給至該列方向之同色之畫素電路4R、4G、4B。再者，多數掃描線 Ly對應於被重複配置在各行方向之各色之畫素電路4R、 4G、4B而各沿著行方向被形成，各供給選擇訊號Sy (參照第4圖）供給至行方向之各畫素電路4R'4G、4B。即是，各畫素電路4G、4B是被形成在各個所對應之各資料線Lr、Lg、Lb和各掃描線Ly之交差部上。 -12- 1327446 开夕成在列方向之各資料線Lr、Lg、Lb之上下兩端部是被延伸形成至透明基板2之上下兩端部，在透明基板2 之上下兩側邊’在透明基板2之左右兩側邊，被電性連接於除左右偶角部（角落部）形成在端緣上之資料線外部端子6。虽作對應於各資料線Lr、Lg、Lb而所形成之資料訊號輸入端子之資料線外部端子5，是以銅箔等所形成之端子’沿者當作透明基板2之第2側邊的上側邊及下側邊 ’以等間距被配列形成在表面（元件形成面）。然後’各上下兩側之各資料線外部端子5是藉由所謂異方性導電膜（ACF )方式，與形成在無圖示之本體由聚醯亞胺所形成之資料線用撓性基板上之多數連接端子（無圖示）’電性連接。在撓性基板上安裝資料線驅動用1C 晶片’自該資料線驅動用1C晶片供給至各畫素電路4R、 4G、4B之資料訊號Dr、Dg、Db則被輸出。然後，在本實施形態中’各資料線Lr、L g、Lb是經由自上下兩側部

所對應之資料線外部端子5，同步供給相同內容之資料訊號 D r、D g、D b。另外’形成在行方向之多數掃描線Ly之左右兩端部 ’是被延伸形成至透明基板2之左右兩端部，在透明基板 2之左右兩側邊’被電性連接於除上下偶角部（角落部）形成在端緣上之資料線外部端子6。當作對應於掃描線Ly 而所形成之選擇訊號輸入端子之掃描線外部端子6，是以銅箔等所形成之端子，沿著當作透明基板2之第1側邊的左側邊及右側邊’以等間距被配列形成在表面（元件形成 -13- 1327446 面）。

然後，各左右雨側之各掃描線外部端子6是藉由所謂異方性導電膜（ACF)方式，與形成在無圖示之本體由聚醯亞胺所形成之資料線用撓性基板上之多數連接端子（無圖示），電性連接。在撓性基板上安裝掃描線驅動用1C 晶片，自該掃描線驅動用1C晶片朝各掃描線Ly輸出選擇訊號Sy。然後，在本實施形態中，各掃描線Ly是經由自左右兩側部所對應之掃描線外部端子6，同步供給選擇訊並且，在顯示區域3，對應於被配置在各列方向之各色畫素電路4R、4G、4B而各沿著列方向形成多數電源線 Lvr、Lvg、Lvb，供給對應於列方向之同色之畫素電路4R 、4G、4B之驅動電壓Vr、Vg、Vb (參照第4圖）。然後，多數電源線Lvr、Lvg、Lvb之上下兩端，是與各沿著行方向而所形成之對應的共同電源線Lcr、Leg、Lc電性連形成在上側共同電源線Lcr、Leg、Leb之左側部，是各延伸形成至透明基板2之左端部，電性連接於形成在透明基板2之左上偶角部（角落部）之紅色用、綠色用、藍色用之檢查用電源線外部端子17、18、19。再者，形成於下側之共同電源線Lcr、Leg、Leb之右側部是各延伸形成至透明基板2之右端部，電性連接於在透明基板2之右下偶角部（角落部）上所形成之紅色用、綠色用、藍色用之檢查用電源線外部端子17、18、19。紅色用、綠色用、藍 -14- 1327446

色用之檢查用電源線外部端子17、18、19爲檢查用外部端子’於出貨前所執行之檢查時’自檢查裝置（無圖示）供給驅動電壓乂1*、¥§、乂13。再者，紅色用、綠色用、藍色用之檢查電源線外部端子17、18、19是由銅箔所形成之端子。該些檢查用之外部端子17〜19因各被設置在偶角部’數量也較少，故以較大尺寸形成上述資料線外部端子 5、上述掃描線外部端子6等。

另外’形成在上側之共问電源線Lcr、Leg、Lcb之左側部，及形成於下側之共同電源線Lcr、Leg、Leb之右側部’是與鄰接於資料線外部端子5而所形成之無圖示之共同電源線外部端子5連接。無圖示之共同電源線外部端子是以與資料線外部端子5相同方法所形成，與被形成在資料線用之撓性基板之電源供給用之連接端子電性連接。然後’在本實施形態中，使供給至各個電源線L

Lvb之驅動電壓Vr、Vg、Vb’自形成在資料線用撓性基板之連接端子予以輸出》因此，電源線Lvr、Lvg、Lvb是自上下兩端部側經由所對應之共同電源線L c r、L c g、L c b 而供給驅動電壓Vr、Vg、Vb。第4圖是表示構成畫素4之紅色用畫素電路4R、綠色用畫素電路4G及藍色用畫素電路4B之電路構成。爲了便於說明’針對紅色畫素電路4 R予以說明，針對其他畫素電路4 G、4 B則予以省略。紅色畫素電路4R各具備有驅動電晶體Q1、開關電晶體Q2及保持電容器C1。驅動電晶體Qi及開關電晶體Q2 -15- 1327446

是由導電行爲N通道之薄膜電晶體（TFT )所構成。驅動電晶體Q1是源極被連接於當作射出紅色光之光電元件之有機EL元件7之陽極，汲極被連接於所對應之電源線 Lvr。驅動電晶體Q1之閘極是被連接於保持電容器C1。該保持電容器C1之另一端是被連接於電源線Lvr。開關電晶體Q2是閘極被連接於掃描線Ly。再者，開關電晶體Q2是汲極被連接於資料線Lr，汲極是與驅動電晶體Q1之閘極及保持電容器C1之一端連接。即是，在綠用畫素電路4G中，驅動電晶體Q1之汲極是被連接於電源線Lvg，並且開關電晶體q2之汲極是被連接於資料線Lg。再者，綠色用畫素電路4G之有機 EL元件7爲射出綠色光之有機El元件。同樣的，在藍色用畫素電路4B中，驅動電晶體Q1之汲極是被連接於電源線Lvb ’並且開關電晶體q2之汲極是被連接於資料線Lb °再者’藍色用畫素電路4B之有機EL元件7爲射出藍色

光之有機EL元件。然後’當選擇訊號

Sy在特定期間被輸出至掃描線Ly 時’紅色用畫素電路4R、綠色用畫素電路4G及藍色用畫素電路4B之開關電晶體q2在特定期間呈接通（on )，經由資料線Lr、Lg ' Lb而各供給資料訊號Dr、Dg、Db。如此一來’資料訊號Dr、Dg、Db則經由開關電晶體Q2 各被供給至保持電容器C1。各畫素電路4R、4G、4B之保持電容器C1是蓄積並保持對應於資料訊號Dr、Dg、Db 之電荷量。再者’各畫素電路4R、4G、4B之驅動電晶體 -16- 1327446 Q1之閘極端子之電位是藉由資料訊號Dr、Dg' Db被推昇，對驅動電晶體Q1汲極/源極’將因應資料訊號Dr、Dg 、Db之驅動電流Ir、Ig、lb各供給至有機EL元件。該驅動電流Ir、Ig、lb則成爲相對於因應被蓄積於保持電容器 C1之資料訊號Dr、Dg、Db之電荷量。即是，驅動電晶體Q1是應答於資料訊號Dr、Dg、Db

而予以導通，保持該導通狀態而將驅動電流Ir、Ig、lb供給至各有機el元件。如此一來’在該時序，各畫素電路 4R、4G、4B之有機EL元件7各以相對於資料訊號Dr、 Dg、Db之亮度發光。如此一來，由矩陣狀被配置形成在顯示區域3之各畫素電路4R、4G、4B所形成之各畫素4，是在第3圖中，以由上側之掃描線Ly至下側之掃描線Ly之順序，在特定期間輸出選擇訊號Sy。然後，相對於輸出選擇訊號Sy之掃描線Ly上的被選擇之各畫素4(畫素電路4R、4G、4B )，資料訊號Dr、Dg、Db是經由資料線Lr、Lg、Lb — 起被供給，該被選擇之掃描線Ly上之被選擇各畫素4( 畫素電路4R、4G、4B )中之有機EL元件7則發光。即是，從最上側之掃描線Ly上之各畫素4依序至最下側之掃描線Ly之各畫素4是被發光控制，使1圖框畫像以所謂之線順序顯示在顯示區域3上。第2圖是表不畫素電路4R、4G、4B之各有機EL兀件7之構造的有機EL顯示器1之重要剖面圖。並且，爲了便於說明，於第2圖中，將射出紅色光之有機EL元件 •17- 1327446 、第95103935號專利申請案中文說明書修正頁民國98年i 10月5日修正 . 7表記爲紅色用有機EL元件7R，將射出綠色光之 EL7表示爲綠色用有機EL元件7G，將射出藍色光之 EL表記爲藍色用有機EL元件。如第2圖所示般，各有機EL元件7R、7G、7B 形成在透明基板2之元件形成面2a上所形成之電路層2b。該電路形成層2b爲形成有用以驅動被形成在區域3之上述各畫素電路4R、4G、4B之驅動電晶f ^ 等般之電路元件，或被形成在顯示區域3之外側的後料線控制用檢查電路部8a、8b及構成掃描線控制用電路部9a、9b之電路元件之一部份或全部的層。再者，於對應於電路形成層2b上之顯示區域3 域，形成有將各有機EL元件7R、7G、7B區劃成矩之堤壁B"在藉由各堤壁B所區劃之凹狀區域之各底形成有陽極31 (畫素電極或是個別電極）。於本實施中，陽極31爲透明電極，是由爲具有光透過性之導 ^ 材料之銦-錫化合物（ITO)所構成。 . 各陽極31是經由接觸孔Η而與所對應之驅動電 Q1電性連接。在各陽極31上，本實施形態中，形成洞輸送層32、以發光層33R、33G、33Β之順序被疊機能層34。發光層33R是由射出紅色光之有機發光所構成之發光層，發光層33G是由射出綠色光之有機材料所構成之發光層，發光層33Β是由射出藍色光之發光材料所構成之發光層。在機能層34全面上形成有當作共同電極之陰極有機有機是被形成顯示 I Q1 述資檢查之區陣狀部，形態電性晶體有電層之材料發光有機 -18- 35 >

1327446 陰極35是由氧化鋁膜所形成。以覆蓋陰極35全丘，形成有保護膜36。然後，疊層上述陽極31、機及陰極35’構成各有機EL元件7(7R、7G、7B) 然後，自各有機EL元件7(7R、7G、7B)戶; 光，是經由透明電極之陽極31，而在第2圖中被身側。再者’朝向陰極3 5射出之光是利用由氧化盡成之陰極35而被反射，經由陽極31而射出至下H ，本實施形態之有機EL顯示器1爲底部發射型；^ 於第1圖中，在鄰接於上述顯示區域3之上一透明基板2之兀件形成面2a，於行方向形成當作i 檢查電路之資料線控制用檢查電路部8a、8b。上ΐ 資料線控制用檢查電路部8a、8b是如第3圖所ί 應於各個資料線Lr、Lg、Lb而設置有閘極電晶體極電晶體Q3是由導電型爲N通道之薄膜電晶體所構成。各閘極電晶體Q3之閘極是各被電性連接行方向而所形成之檢査模式訊號供給線1 0。然後，用以檢查之高電位（H位準）之檢查模式訊號MD 模式訊號供給線L0時，各閘極電晶體Q3則一起呈 ON )。各閘極電晶體Q3之源極是被連接於各個所對料線1^、1^、1^。各閘極電晶體卩3，源極被連接用之資料線Lr之各閘極電晶體Q3，是該汲極各被接於沿著行方向而所形成之紅色檢查資料訊號供糸 Ϊ之方式能層34 〇 ί射出之 f出至下丨膜所構丨。因此 :顯不器兩側之 :料線用丨及下側 :般，對 Q3。閘 (TFT ) 於沿著當供給至檢查接通（應之資於紅色電性連 I線L1 -19-

1327446 。再者，各閘極電晶體Q3’源極被連接於綠色用線Lg之各閘極電晶體Q3，是該汲極各被電性連接行方向而所形成之綠色用檢查資料訊號線L2。並閘極電晶體Q3，源極被連接於藍色用之資料線Lb 極電晶體Q3 ’是該汲極各被電性連接於沿著行方形成之藍色用檢查資料訊號供給線L3。上側資料線控制用檢查電路部8a之各供給線、L2、L 3同時鄰接而被形成，該右側部是延伸形明基板2之四角落中之右上角落部。然後，檢查模供給線L 0是電性連接於形成在透明基板2之右上 (角落部）之檢查模式訊號外部端子10。紅色檢查號供給線L1是被電性連接於形成在透明基板2之角部（角落部）之紅用檢查資料外部端子11。綠色資料訊號供給線L2是被電性連接於形成在透明基: 偶角部（角落部）之綠色用檢查資料外部端子12。查資料訊號供給線L3是被電性連接於形成在透明之右上偶角部（角落部）之藍色用檢查資料外部端下側資料線控制用檢查電路部8b之各供給線、L2、L3也同樣，彼此鄰接而被形成，該左側部伸形成至透明基板2之四角落中之左下角部。然後上側資料線控制用檢查電路8 a相同，檢查模式訊線LO是被電性連接於檢查模式訊號外部端子1〇, 檢查資料訊號供給線L1是被電性連接於紅色檢查部端子11，綠色檢查資料訊號供給線L2是被電性之資料 :於沿著且，各之各閘向而所 L0、L1 成至透式訊號偶角部資料訊右上偶用檢查板2之藍色檢基板2 子13。 L0、L1 是被延，也與號供給紅色用資料外連接於 -20- 1327446 綠色檢查資料外部端子12，藍色檢查資料訊號供給線L3 是被電性連接於藍色檢查資料外部端子13。各被連接於上側及下側資料線控制用檢查電路部8a、 8b之各供給線L0、LI、L2、L3之外部端子1〇〜13是由銅泊等所形成之觸子。再者，該些外部端子1〇〜13各被設置在角落部，因數量較少，故以比上述資料線外部端子5、上述掃描線外部端子6等大之尺寸所形成。該些外部端子10~ 13爲檢查用外部端子，於出貨前進行檢查時’自檢查裝置被供給檢查資料訊號Dmr、Dmg、 Dmb。然後，在從檢查模式訊號外部端子1 〇供給用以檢查之檢查模式訊號MD之狀態’當各個檢查資料訊號Dmr 、Dmg、Dmb被供給至各檢查資料外部端子u〜13時，各個檢査訊號D m r、D m g、D m b則經由閘極電晶體q 3被供給至各個所對應之各資料線Lr、Lg、Lb。

於第1圖中，在鄰接於上述顯示區域3之左右兩側之透明基板2之元件形成面2a上，於列方向形成有當作掃描線用檢查電路之掃描線控制用檢查電路部9a、9b。如第 5圖所示般，左側及右側掃描線控制用檢查電路部9a、9b 各對應於各掃描線Ly而設置有閘極電晶體Q4及移位暫存器SR。閘極電晶體Q4是以導電型爲N通道型之薄膜電晶體 (TFT )所構成。各閘極電晶體Q4之閘極是各被電性連接於沿著列方向而所形成之檢查模式訊號供給線L4。檢查模式訊號供給線L4之一端是被連接於上述檢查模式訊 -21 -

1327446 號供給線L0。因此，當對檢查模式訊號供給線L4供以檢查之Η位準之檢查模式訊號MD時，各閘極電 Q4則一起呈接通（ON)，各閘極電晶體Q4是源極接於對應之掃描線Ly，汲極被連接於所對應之移位器SR。各移位暫存器SR是被串聯連接，對應於最上側之描線Ly之移位暫存器SR是被連接於選擇訊號供給線。然後，對應於最上側之掃描線Ly之移位暫存器SR，輸入自選擇訊號線L5所供給之用以檢查之Η位準之1 訊號Sm。各移位暫存器SR是各被電性連接於沿著列戈而所形成之時脈訊號供給線L6，輸入自時脈訊號供給 L6所供給之時脈訊號CL。然後，被輸入至最上側之移位暫存器SR之Η位準選擇訊號Sm，是應答於時脈訊號CL而從上側移位暫存 SR被移位至下側移位暫存器SR。因此，選擇訊號Sm 位而被輸入之移位暫存器SR，是至下一個時脈訊號CL 生爲止，經由閘極電晶體Q4，將該Η位準之選擇訊號輸出至所對應之掃描線Ly。因此，藉由與時脈訊號CL 步而移位之選擇訊號Sm，自上側掃描線Ly依順序至下掃描線Ly選擇掃描線Ly。左側掃描線控制用檢查電路9a之供給線L5之端部是被延伸形成至透明基板2之四角落中之左上偶角部。後，選擇訊號供給線L5是電性連接於形成在透明基板之左上偶角部（角落部）之選擇訊號外部端子15。時脈用體連存掃 L5 被擇向線之器移發 S m 同側 5 妖 yi \\ 2 訊 -22- 1327446 號供給線L16是被電性連接至形成在透明基板2之四角落中之左下偶角部（角落部）之時脈訊號外部端子16。右側掃描線控制用檢查電路部9b之供給線L5之端部是延伸形成至透明基板2之四偶角中之右上偶角部。然後 ’選擇訊號供給線L5是電性連接於形成在透明基板2之

右上偶角部（角落部）之選擇訊號外部端子15。時脈訊號供給線L6是電性連接至形成在透明基板2之四角落中之右下偶角部（角落部）之時脈訊號外部端子16。左側及右側掃描線控制用檢查電路部9a、9b之選擇訊號外部端子15及時脈訊號外部端子16爲以銅箔所形成之端子。再者，選擇訊號外部端子15及時脈訊號16各被設置在偶角部，因數量較少，各被連接於上側及下側資料線控制用檢查電路部8a、8b之各供給線L0、LI、L2、L3 之外部端子10〜13是由銅箔等所形成之端子。再者，該些外部端子10~13各被設置在角落部，因數量較少，故以比上述資料線外部端子5、上述掃描線外部端子6等大之尺寸所形成。該些外部端子15、16爲檢查用外部端子，於出貨前進行檢查時’自檢查裝置被供給檢查資料訊號Sm、時脈訊號CL。然後’在各閘極電晶體q4呈接通（on)，自選擇訊號外部端子15供給選擇訊號Sm之狀態下，時脈訊號CL被供給至時脈訊號外部端子16，對各掃描線Ly依序供給選擇訊號Sm。於第1圖中，包圍資料線控制用檢查電路部8a、8b -23- 1327446 l〇及掃描線控制用檢查電路部9a、9b之區域之外側，檢查用之上述各外部端子5、6、10〜13、15、16、17〜19、20 之內側之透明基板2之元件形成面2a，設置有當作密封構件之密封基板· 21之黏著區域Z1。密封基板21爲不鏽鋼製，在該透明基板2側之面凹陷設置收容凹部22，該形成四角環狀之外緣23成爲黏著面，在黏著區域Z1經由年黏著劑而對透明基板2貼合。此時，如第2圖所示般，在黏著區域Z1和顯示區域3之間，形成掃描線控制用檢查電路9a、9b (資料線控制用檢查電路部8a、8b也相同）。因此，透明基板2是除了外部端子5、6、10〜13、15、16 、17〜19、20之外，各檢查電路部8a、8b、9a、9b及被形成在顯示區域3之各畫素電路4R、4G、4B被內包在密封基板21之收容凹部22並被密封。其結果，各畫素電路 4R、4G、4B、各檢查電路部8a、8b、9a、9b是藉由密封基板21隔離溼氣或氧等而被保護。上述檢查用之各外部端子10〜13、15〜19、20是分成比密封基板2 1 (藉由密封基板2 1所密封之密封區域）更外側之透明基板2之四偶角（角落部）而所形成。即是，如第1圖所示般，在左上偶角部，配置選擇訊號外部端子 15及各檢查用電源線外部端子17、18、19，在左下偶角各配置檢查模式訊號外部端子10、時脈訊號外部端子16 及各檢查資料外部端子11〜13。再者，在右下偶角部配置時脈訊號外部端子16及各檢查用電源線外部端子17、18 、19’在右上偶角部配置檢查模式訊號外部端子10、選擇 -24- 1327446 訊號外部端子15及各檢查資料外部端子11〜13。再者，左上偶角部及有下偶角部是各形成有當作與檢査裝置之接地用探針連接之檢查用外部端子的接地外部端子20，該接地外部端子20是與各畫素電路4R、4G、4B之有機EL元件 7之陰極電性連接。然後，在本實施形態中，各偶角也各沿著角落直角配列形成5個檢查用之外部端子，成爲於將上述密封基板21黏著於透明基板2之時的對準標記。

接著，針對上述般所構成之有機EL顯示器1之檢查方法予以說明。有機EL顯示器1出貨前，使用檢查裝置以使執行亮點檢査、暗點檢查。首先，形成於透明基板2之各偶角部之各外部端子 10〜13、15~20是各連接於所對應之檢查裝置之探針。即是，檢查模式訊號外部端子10是連接於供給檢查模式訊號MD之探針。紅色檢查資料外部端子11是連接於供給紅色檢查資料訊號Dmr之探針。綠色用檢查資料外部端子 12是連接於供給綠色用檢查資料訊號Dmg之探針。藍色用檢查資料外部端子13是連接於供給藍色用檢查訊號Sm 之探針。時脈訊號外部端子16是連接於供給時脈訊號CL 之探針。並且，紅用、綠用、藍用之各檢查用電源線外部端子17、18、19是連接於各供給驅動電壓Vr、Vg、Vb 之探針。接地外部端子20是連接於接地（地面）探針。然後，檢査裝置是在將各驅動電壓Vi·、Vg、Vb各供給至紅色用、綠色用、藍色用之各檢查電源線外部端子17 、18、19之狀態，將η位準之檢查模式訊號MD輸出至 -25- 1327446 檢查模式訊號外部端子1 0。如此一來，上側及下側資料線控制用檢查電路部8a、8b之閘極電晶體Q3及左側及右側掃描線控制用檢查電路8a、8b之閘極電晶體Q3以及左側及右側掃描線控制用檢查電路部9 a、9 b之閘極電晶體Q 4 一起呈接通（ON)。在該狀態下，將Η位準之選擇訊號 Sm輸出至選擇訊號外部端子15，並且將紅、綠、藍用檢查資料訊號Dmr、Dmg、Dmb輸出至紅、綠、藍用檢查資

料外部端子11、12、13。其結果，選擇最上側之掃描線Ly，該被選擇之掃描線Ly上之各畫素電路4R、4G、4B是各個紅、綠、藍用檢查資料訊號 Dmr、Dmg、Dmb經由資料線 Lr、Lg' Lb 被供給保持，根據紅、綠 '藍檢查資料訊號Dmr、Dmg、 Dmb，有機EL元件7則發光。然後，以後，每供給時脈訊號C L至時脈訊號外部端子16，則使上述選擇訊號Sin移位至移位暫存器SR，使各掃描線Ly上之各畫素電路4R、4G、4B之有機EL元件 7同樣發光。然後，選擇最下側之掃描線Ly，並使該掃描線Ly上之各畫素電路4R、4g、4b之有機EL元件予以發光時，顯示區域3之所有畫素電路4R、4G、4B則以根據紅、綠、藍用檢查資料訊號Dmr、Dmg、Dmb之亮度予以發光。然後’觀看該顯示區域3之顯示狀態檢查有缺陷之畫素4。例如，於檢查暗點之時，檢查裝置是將各有機EL 以最亮之亮度發光的紅、綠、藍用檢查資料訊號Dmr、 -26- 1327446

Dmg、Dmb供給至各畫素電路4R、4G、4B，使各畫素4 以最亮之亮度予以發光。在該狀態下，檢查在顯示區域3 內不發光的有缺陷的畫素4。於執行亮點檢查時，檢查裝置是將不使各有機EL發光之紅、綠、藍用檢查資料訊號Dmr、Dmg、Dmb各供給至各畫素電路4R、4G、4B而不使顯示區域3中之各畫素 4予以發光。在該狀態下，檢查在顯示區域3內發光之有

缺陷的畫素4。抵如上述般，若依據本實施形態，則有以下效果。 (1)若依據本實施形態，僅將檢查裝置之探針接在形成於透明基板2之四角落的檢查用之各外部端子 10〜13、15〜20，則可以執行暗點檢查 '亮點檢查等之缺陷畫素之檢查。而且，藉由密封基板21 (藉由密封基板21 所密封之密封區域），因各外部端子被形成在外側之角落部，故即使於貼合密封基板21之後亦可以檢查。 (2 )若依據本實施形態，則在透明基板2之四角落形成檢查用之各外部端子1〇〜13、15〜2 0。即是，外部端子10〜13、15 ~2 0是被形成在自各資料線Lr、Lg、Lb及各掃描線Ly之延長線上之構明基板2之一邊所形成之各資料線1^、1^、1^及各掃描線1^之外部端子5、6偏離之空間上具有餘裕的透明基板2之角落部。因此，不用透明基板2之尺寸（框緣部分）’可以使檢查用之各外部端子 10~13、15〜20之尺寸比外部端子5、6之尺寸增大。然後，藉由可以增大檢查用之各外部端子1〇~13、15〜20之尺 -27- 20 > 20 >

1327446 寸，則可以容易並短時間對各外部端子10~13、15〜精度佳連接檢查裝置之探針。 (3 )若依據本實施形態，在密封基板21之外側檢查用之外部端子10〜13、15〜20，當作將同密封基I! 貼合在透明基板2之時的對準標記。因此，不需要確成僅將密封基板2 1貼合在透明基板2之對準標記的，並且可以省略該部分之製造工程。並且，因將檢查外部端子10〜13、15~20各沿著四偶角（角落部）直列形成，故可以精度佳將密封基板21貼合在透明基板並且，檢查用之外部端子10〜13、15〜2 0因可以成有機EL元件7R、7G、7B之機能層34之前事先形故亦可以當作以噴墨方式形成有機EL元件7R、7G 之機能層3 4之時的對準標記予以利用。即是，可以形成檢查用之外部端子1〇〜13、15〜20之後所執行之之製造工程之對準標記予以利用。 (4 )若依據本實施形態時，將檢查電路，即是及下側資料線控制用檢查電路部8a、8b及左側及右描線控制用檢查電路9a、9b，形成在凹部22所內包置。因此，各檢查電路部8a、8b、9a、9b是隔離外濕氣、氧氣等而完全被保護。再者，各檢查電路部8a 、9a、9b因直接被形成不與密封基板21之黏著面對黏著區域Z1之內側（顯示區域3與黏著區域Z1之間故被施加在密封基板21之力量，例如將密封基板21 於基板2之時，將密封基板21抵接於透明基板2之形成 X 21 保形區域用之角配 :2 ° 於形成，、7B 當作各種上側側掃之位部之、8b 峙之 )，黏著力量 -28- 1327446

經由黏著面不直接施加。因此，各檢查電路部8a、8b、9a 、9b可以減小任何原因被施加於密封基板2 1之力量而受損之可能性。 (5 )若依據本實施形態，以不鏽鋼形成密封基板21 。因此，因藉由密封基板21以密封構件完全遮蔽外部之電磁性雜波檢查電路部 8a、8b、9a、9b不會由於電磁性雜波而執行錯誤動作。 (6 )若依據本實施形態，上側及下側資料線控制用檢查電路部8a、8b因僅以相對於各資料線Lr ' Lg、Lb而設置之閘極電晶體Q3所構成，故縮小電路規模，僅以該部分可以增大顯示區域3。再者，由於電路規模變小，故容易將上側及下側資料線控制用檢查電路部8 a、8 b內包於密封基板21之收容凹部22。 (7 )若依據實施形態，左側及右側掃描線控制用檢查電路9a、9b因僅以相對於掃描線Ly而設置之閘極電晶體Q4和移位暫存器SR所構成，故縮小電路規模，僅以該部分可以增大顯示區域3。再者，由於電路規模縮小，容易使左側及右側掃描線控制用檢查電路9a、9b內-包在密封基板21之收容凹部22。並且，發明之實施形態並不限定於上述實施形態，即使如上述般予以實施亦可。〇於上述實施形態中，雖然爲使各有機EL元件7R 、7G、7B予以發光而執行之檢查電路，但並不限定於此，即使應用於驅動電晶體Q1、配線等、其他檢查對象之 -29- 1327446 (\t \〇 ^ 檢查電路亦可。〇於上述實施形態中，檢查用之外部端子10〜13、 15〜20所有雖然爲用以從檢查裝置輸入訊號的輸入端子，但是即使爲將訊號輸出至檢查檢查之輸出端子亦可。〇於上述實施形態中，上側及下側資料線控制用檢查電路部8a、8b是構成於選擇一個掃描線Ly之時，對所有資料線Lr、Lg、Lb —起各輸出紅色用、綠色用、藍色用之各檢查資料訊號Dmr、Dmg、Dmb。即使將此變更成第6圖所示之上側及下側資料線控制用檢查電路部8a、8b 而予以實施亦可。於第6圖中，上側及下側資料線控制檢查電路8a、8b 是對應於各資料線Lr、Lg、Lb而設置有移位暫存器SR。各閘極電晶體Q 3之閘極是各個被連接於所對應之移位暫存器SR1。各移位暫存器SR1是被串聯連接，對應於最左側之資料線Lr之移位暫存器SR是被連接於選擇訊號供給線L41 。然後，在最左側之移位暫存器SR1，輸入自選擇訊號供給線L41所供給之檢査用之Η位準之選擇訊號Sml。各移位暫存器SR1是各被電性連接於沿著行方向而所形成之時脈訊號供給線L42，輸入自時脈訊號供給線L42所供給之時脈訊號CL1。並且，選擇訊號供給線L41及時脈訊號供給線L4 2是電性被連接於形成在透明基板2之偶角部之檢查用之外部端子41、42。然後，被輸入至最左側之移位暫存器SR1之Η位準 -30- 1327446

之選擇訊號Sml，是應答於時脈訊號CL1而從左側之移位暫存器SR移位至有側之移位暫存器SR1。因此，選擇訊號Sml移位被輸入之移位暫存器SR1是僅使該Η位準之選擇訊號Sml至發生下一個時脈訊號CL1爲止所對應之閘極電晶體Q3成爲接通狀態。因此，可以藉由適當控制時脈訊號CL1，選擇資料線Lr、Lg、Lb中之一個，將檢查資料訊號僅供給至該被選擇之資料線，執行檢查。〇於上述實施形態中，雖然以不鏽鋼（金屬）形成當作密封構件之密封基板2 1，但是能在玻璃基板上形成收容凹部等，發揮密封構件本來之功能，即使爲任何材料亦可。〇於上述實施形態中，檢查模式訊號外部端子10以及檢査模式訊號供給線L0，雖然共同設置上側及下側資料線控制用檢查電路部8a、8b，左側及右側掃描線控制用檢查電路部9a、9b，但是即使獨立設置亦可。〇於上述實施形態中，雖然在左側及右側掃描線控制用檢查電路部9 a、9 b中，設置閘極電晶體Q4，但是即使省略此而予以實施亦可。〇於上述實施形態中，雖然設置上側及下側資料線控制用檢查電路部8a' 8b之兩個檢查電路，但是即使應用於僅設置任一方之形態亦可。〇於上述實施形態中，雖然設置左側及右側掃描線控制用檢查電路部9a、9b之兩個檢查電路，但是即使應用於僅設置任一方之形態亦可。 -31 - 1327446

〇於上述實施形態中’上側及下側資料線控制用檢查電路8a、8b是成爲各自兩側將檢查資料訊號Dmr、Dmg 、Dmb供給至共同資料線Lr、Lg、Lb。即使將此實施成上側資料線控制用檢查電路部8a將資料訊號輸出至奇數號之資料線’下側資料線控制用檢查電路部8b將資料訊號輸出至偶數號之資料線亦可。〇於上述實施形態中’左側及右側掃描線控制用檢查電路部9a、9b是成爲各自兩側選擇共同之掃描線Ly。即使將此實施成例如左側掃描線控制用檢查電路部9a選擇奇數號之掃描線Ly，右側掃描線控制用檢查電路部9b 選擇偶數號之掃描線Ly亦可。於上述實施形態中，雖然設置資料線控制用檢查電路部8a、8b和掃描線控制用檢查電路部9a、9b，但是例如即使運用於僅設置資料線控制用檢查電路8a、8b，或相反的僅設置掃描線控制用檢查電路9a、9b亦可。〇於上述實施形態中，雖然將檢查用外部端子具體化成在所有四偶角之角落部，但是即使爲任一之角落部亦可 ° 〇於上述實施形態中，雖然爲使各有機元件7R、7G 、7B予以發光而執行之檢查電路，但是並不限定於此，即使應用於驅動電晶體Q1、配線等、其他檢查對象之檢查電路亦可。〇於上述實施形態中，檢查用之外部端子10〜13、 15〜2 0雖然爲用以自所有檢查裝置輸入訊號之輸入端子， -32- 1327446 ^ Λ〇但是即使爲將訊號輸出至檢查裝置之輸出端子亦可。〇於上述實施形態中，雖然將光電裝置具體化成有機EL顯示器1之底部發射型，但是即使爲頂部發射型亦可。〇於形成接合區域Ζ1和陰極35 (光電裝置之共同電極）之區域之間，即使形成掃描線控制用檢查電路部9a 、9b (資料線控制用檢查電路部8a、8b也相同）亦可。藉此，各檢查電路部8a、8b、9a、9b當作光電元件之有機電激發光元件7，是自外部濕氣、氧氣等完全被保護。再者，即使以覆蓋掃描線控制用檢查電路9a、9b (資料線控制用檢查電路部8a、8b也相同）之方式，形成於陰極 (光電元件之共同電極）亦可。藉此，由於以密封構件完全遮斷外部之電磁性雜波，故各檢查電路部8a、8b、9a、 9b不會有因電磁性雜波而產生錯誤動作。〇再者，於第2圖中，保護膜36雖然是以覆蓋陰極 35 (光電元件之共同電極）上之方式而予以形成，但是即使以覆蓋各檢查電路部8a、8b、9a ' 9b之方式，形成保護膜36亦可。因此，各檢查電路部8a、8b、9a、9b和當作光電元件之有機電激發光元件7和陰極35,是隔離外部濕氣、氧氣而完全被保護，並且，各檢查電路部8a、8b、 9a、9b可以減小以任何原因而被施加至密封基板2 1之力量所造成之損傷的可能性。再者，以覆蓋各檢查電路部8a 、8b、9a、9b之方式，形成保護膜，並且以連接連接區域 Z1和保護膜36之方式，形成保護膜爲佳。因此，各檢查 •33- 1327446 電路部8a、8b、9a、9b和當作光電元件之有機電激發光兀件7和陰極35’是隔離外部濕氣、氧氣而完全被保護。

〇於上述實施形態中，雖然將光電裝置具體化成有機EL·電激發光裝置1’但是並不限定於此，即使爲例如液晶顯示裝置等亦可，或是具備平面狀之電子放射元件，利用同元件所放射出之電子的螢光物質發光的場效型顯示裝置（FED或SED等）亦可。同樣的，即使以有機電激發光元件、液晶、電子放射元件當作光電元件亦可。【圖式簡單說明】第1圖是本發明之有機EL顯示器之斜視圖。第2圖是有機EL顯示器之重要部位剖面圖。第3圖是用以說明有機EL顯示器之電性構成之電路圖。第4圖是用以說明畫素電路之電路圖。第5圖是用以說明掃描線控制用檢查電路之電路圖。第6圖是用以說明資料線控制用檢查電路部之另外例的電路圖。【主要元件符號說明】 1:當作光電裝置之有機EL顯示器 2:當作基板之透明基板 3 :顯示區域 4 .畫素 -34- 1327446

4R:紅色畫素電路 4G:綠色畫素電路 4B :藍色畫素電路 5 :資料線外部端子 6 =掃描線外部端子

7:當作光電元件之有機電激發光元件 8a :上側資料線控制檢查電路 8b :下側資料線控制用檢查電路部 9a :左側掃描線控制用檢查電路部 9b :右側掃描線控制用檢查電路部 10:檢查模式訊號外部端子 1 1 :紅色用檢查資料外部端子 1 2 :綠色用檢查資料外部端子 13:藍色用檢查電源線外部端子 15:選擇訊號外部端子

16:時脈訊號外部端子 17:紅色用檢查電源線外部端子 18:綠色用電源線外部端子 19:藍色用檢查電源線外部端子 20 :接地用外部端子 2 1 :密封基板 33R、33G ' 33B ：發光層 L0 :檢查模式訊號供給線 L 1 :紅色用檢查資料訊號供給線 -35- 1327446

L2 :綠色用檢查資料訊號供給線 L3 :藍色用檢查資料訊號供給線 L4 :檢查模式訊號供給線 L5 :選擇訊號供給線 L 6 ·時脈訊號供給線

Lr 、 Lg 、 Lb :資料線

Ly :掃描線

Sm、Sy選擇訊號

SR :移位暫存器 Z 1 :接合區域

Dr、Dg、Db :資料訊號

Dmr紅色用檢查資料訊號

Dmg綠色用檢查資料訊號

Dmb藍色用檢查資料訊號 MD:檢查模式訊號

Q 3、Q 4閘極電晶體 -36-

Claims

1327446 十、申請專利範圍第95 1 03 93 5號專利申請案中文申請專利範圍修正本民國98年1 0月 1. 一種光電裝置，接合形成有多數畫素電路和密封上述多數畫素電路的密封構件，上述多數 • 之各個被連接於資料線及掃描線而構成，其特徵上述基板具備電路形成層，該電路形成層形上述畫素電路之電晶體；和被連接於上述掃描線料線中之至少一方，包含電晶體的檢查電路，上述多數畫素電路之各個係在上述電路形成被連接於驅動上述畫素電路之上述電晶體且成爲素電極；包含發光層之機能層；和橫跨整個上述電路而被設置且成爲陰極之共同電極， • 上述檢查電路之上述電晶體係被配置在形成 . 同電極之區域，和接合上述基板和上述密封構件域之間而構成。 2 ·如申請專利範圍第1項所記載之光電裝置上述檢查電路之上述電晶體係被連接於供給檢查 +之檢查模式訊號供給線，及供給檢查資料訊號之訊號供給線而構成。 3 .如申請專利範圍第2項所記載之光電裝置含有被連接於上述檢查模式訊號供給線之檢查用 5日修正之基板，畫素電路 Λ · 诗 · 成有驅動及上述資層上具有陽極之畫多數畫素有上述共之接合區，其中，模式訊號檢査資料，其中，外部端子 1327446 ’及被連接於上述檢查資料訊號供給線之檢查用外部端子而構成^ 4·如申請專利範圍第1項所記載之光電裝置，其中，上述檢查電路之上述電晶體係被連接於供給檢查用之選擇訊號之選擇訊號供給線’以及供給檢查模式訊號之檢查模式訊號供給線而構成。 5.如申請專利範圍第4項所記載之光電裝置，其中，具有被連接於上述選擇訊號供給線之移位暫存器，以及被連接於上述移位暫存器，供給檢查用之時脈訊號的時訊號供給線。 6 .如申請專利範圍第5項所記載之光電裝置，其中，包含被連接於上述選擇訊號供給線之檢查用外部端子；被連接於上述時脈訊號供給線之檢查用外部端子；及被連接於上述檢查模式訊號供給線之檢查外部端子而構成。

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