TW526326B - Temperature detecting circuit and liquid crystal driving device using same - Google Patents
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Description
526326 五、發明說明(1) 技術領域 本發明係有關一種溫度檢測電路,尤其是關於一種利用 半導體積體電路中之電路元件的溫度-電壓特性進行溫度 檢測之溫度檢測電路,又依據其檢測結果以驅動電壓進行 補償液晶元件之溫度特性之液晶驅動裝置。 背景技術 利用上述半導體積體電路中之電路元件的溫度-電壓特 性進行溫度檢測之溫度檢測電路,其典型之習知技術係揭 示於日本國公開特許公報「特開平3 - 4 8 7 3 7號公報(公開曰 1 9 9 1年3月1日)」。圖7係顯示該習知技術之温度檢測電路 之電器構成的圖表。該習知技術中,係具備有:在電源線 1,2間連接有定電流源f 1與複數段之二極體dl 1,din之串 聯電路而構成之第1偏壓電壓源b 1 ;在上述電源線1,2間 連接有定電流源f 2與複數段之二極體d 2 1,d 2 m之串聯電路 加以構成之第2偏壓電壓源b2 ;以及放大從上述第1及第2 偏壓電壓源bl ,b2之第1及第2偏壓電壓之差並f以輸’出的 放大器3而構成。上述定電流源f 1與二極體d 1 η之連接點成 為第1偏壓電壓之輸出端而供給至上述放大器3之一方的輸 入端,上述定電流源f 2與二極體d 2 m之連接點成為第2偏壓 電壓之輸出端而供給至上述放大器3之另一方的輸入端。 因為η # in 5所以當定電流源f 1 ^ f 2之電流值互為相卓時 ,將每一個二極體之陽極陰極間的電壓設為Va。[ V ],在以 電源線1之電位為基準時,放大器3之一側的輸入端將產生 - η X Vac [ V ]之電壓,而另一側之輸入端則產生-m X Vac [ V ]之
O:\70\70668.ptd 第6頁 526326 五、發明說明(2) 電壓。因此,兩個輸入端間將產生(m - η ) X Vac [ V ]之偏差。 因而’將每一個二極體之陽極電極間的電壓之溫度依存設 為Δ Vac [ V/ °c ]時,而當溫度變動T [ °C ]時,放大器3之輸入 端間之偏差係進行T X (m —n) X △ vac[ V],而將該放大器3之 增益設為A,而可獲得AxTx(m-n)x Δν&(:[ν]。 如上述之習知技術中,由於將第1偏壓電壓源b 1之二極 體dll至dln之端子電壓以及第2偏壓電壓源b2之二極體d21 至d2m之端子電壓之差設為檢測溫度之輸出,因此若分別 聚集二極體d 1 1至d 1 η ; d 2 1至d 2 m之元件特性,可以約兩個 偏壓電壓源b 1,b 2之相對精度進行溫度檢測,使各種元件 不需高的精密度,而可以高精密度進行溫度檢測。 然而’尚有無法任意調整溫度檢測感度,及導致所期望 的輸出電壓無法放大之問題。尤其是,液晶面板由於係藉 由周圍溫度而使液 臨限值電壓Vth等之 的對比加以表示, 而變化。又,即使 限值電壓vth等之特 厚度使上述特性相 L透過性的傾斜或 因此經常以最適合 適應上述周圍溫度 r 件的材料使上述臨 料,亦會因液晶之 晶材料之施加電壓- i 特性產生大的變動, 故有必要使驅動電壓 藉由所使用之液晶元 性相異,即使相同材 異。 發明之揭示 紅Ϊ Ϊ =之目的係提供一種可對應各種溫度特性以及輸出 動恶範圍之溫度檢測電路。 主本^ 7 &之/服度檢測電路’係對於來自具有溫度特性較陡 心之 彳堅電壓源之第1偏壓電壓以及具有溫度特性較緩
O:\70\70668.ptd 第7頁 526326 五、發明說明(3) 和之第2偏壓電壓源之第2偏壓電壓,包括有輸出相對於這 些差值之電壓的反轉放大器,藉著上述反轉放大器輸出對 應於第1偏壓電壓與第2偏壓電壓之差的電壓,可大致以上 述第1及第2偏壓電壓源之相對精度進行溫度檢測,同時具 備有:將上述第1偏壓電壓供給上述反轉放大器之反轉輸 入端之第1電阻;介存於上述反轉放大器之上述反轉輸入 端與輸出端之間的第2電阻;將上述反轉放大器之輸出供 給非反轉輸入端之非反轉放大器;將預定之基準電位供給 上述非反轉放大器的反轉輸入端之第3電阻;以及介存於 上述反轉輸入端與輸出端之間的第4電阻。 根據上述構成,將來自具有溫度特性較陡急之第1偏壓 電壓源之第1偏壓電壓Vin供給至反轉放大器之反轉輸入端 ,將具有溫度特性較緩和之第2偏壓電壓源之第2偏壓電壓 Vbias供給至非反轉放大器之非反轉輸入端,而上述第1偏壓 電壓源與反轉輸入端之間介存第1電阻R 1 ,該反轉输入端 與輸出端之間介存第2電阻R2,反轉放大器之輸,出電麈 V^l係成為 V〇utl —(Vin-Vbias) x R2/Rl+Vbias ^ 即,將第2及第1偏壓電壓Vbias,Vin之差乘以第2及第1電、阻 比,再加上溫度斜度相對較平緩之第2偏壓電壓Vbias。從而 ,可大致以上述第1及第2之偏壓電壓源之相對精度進行溫 度檢測。因此,藉著適當設定上述第1及第2電阻之電阻值 ,可獲得所期望之溫度特性。 又,基準電位介由第3電阻將上述反轉放大器之輸出電
O:\70\70668.ptd 第8頁 526326 五、發明說明(4) 壓ν。^ 1供給反轉輸入端,同時介由第4電阻放大供給至可 歸還輸出之非反轉放大器之非反轉輸入端。 從而,藉著適當設定上述第3及第4電阻之電阻值,可將 上述反轉放大器所獲得之溫度特性設在所期望之輸出電壓 值。 又,在本發明之溫度檢測電路中,係包括上述第1及第2 偏壓電壓源,而上述第1及第2偏壓電壓源係分別將定電流 源及一個或複數段之二極體的串聯電路連接於電源線簡, 並以從上述定電流源與二極體之連接點對上述反轉放大器 之輸入端供給偏壓電壓之方式構成,並藉由上述二極體之 元件面積差生成溫度特性之差值。 根據上述之構成,藉著上述第1偏壓電壓源與第2偏壓電 壓源使每一個二極體的面積不同之方式形成,並於以上述 第1偏壓電壓源與第2偏壓電壓源使相同面積之二極體的並 聯段數不同之方式形成而加以製作之電流能力互異之二極 體,藉由來自定電流源之固定電流涸定動作點而動作、可 ί 形成互異之溫度特性,並容易形成在相同的半導體積體電 路内。 復且,本發明之液晶驅動裝置,係搭載上述溫度檢測電 路,而上述非反轉放大器之輸出電壓為用於液晶元件之驅 動者,其係使藉由上述第1及第2電阻所決定之反轉放大器 的增益適合於液晶面板之溫度特性,並使藉由上述第3及 第4電阻以及基準電位所決定之輸出電壓適合於液晶元件 之驅動所需的電壓。
O:\70\70668.ptd 第9頁 526326 五、發明說明(5) 根據上述構成,藉著設定第1及第2電阻之電阻值使反轉 放大器適合於依液晶元件之材料或液晶層的厚度而不同的 施加電壓-光透過性之傾斜或臨限值電壓Vth等之液晶面板 的溫度特性,再藉著設定第3及第4電阻之電阻值使輸出電 壓位準適合於液晶元件所需之電壓。 從而,藉著設定第1至第4電阻以及基準電位,以適合所 使用之液晶面板的任意溫度特性,可獲得任意之驅動電壓 ,使可經常以最佳之對比顯示。 本發明之其他目的,特徵及優點依以下之記載必可十分 明瞭,又本發明之優點可藉以下參照圖面之說明而可明 白。 圖式之簡要說明 圖1係顯示本發明實施形態之溫度檢測電路之電器構成 之方塊圖。 圖2係顯示來自圖1所示之溫度檢測電路所使用之兩個偏 壓源之偏壓之溫度特性圖表。 f 圖3係顯示本發明另一實施形態之溫度檢測電路之電器 構成之方塊圖。 圖4係係顯示本發明又一實施形態之溫度檢測電路之電 器構成之方塊圖。 圖5係用以說明以上述溫度檢測電路做為液晶驅動裝置 之電源電路而搭載之大晝面的液晶顯示裝置之圖。 圖6係用以說明以上述溫度檢測電路做為液晶驅動裝置 之電源電路而搭載之小畫面的液晶顯不裝置之圖。
O:\70\70668.ptd 第10頁 526326 五、發明說明(6) 1 圖7係顯示典型習知技術之溫度檢測電路之電器構成 方塊圖。 發明最佳實施型態 如下所述,依據圖1以及圖2就本發明之實施形態加以言,、 明。 兄 圖1係顯示本發明實施形態之溫度檢測電路的電器構成 方塊圖。該溫度檢測電路係具備有:約產生溫度斜度之第 1及第2偏壓電壓源B1,B2 ;放大來自上述偏壓電壓源Bl, B2之第1及第2偏壓電壓Vin,Vbias之差並予以輸出之反轉放 大器11以及非反轉放大器12;用以設定上述反轉放大器u 之增益之第1及第2電阻R 1、R 2 ;以及用以設定上述非反轉 放大器12之增益及設定基準電位之第3及第4電阻R3、R4, 上述構件係藉由設置於半導體積體電路内而構成。 上述偏壓電源B 1係於電源線1 3,1 4間連接有第1定電流 源F1與複數段之二極體di 1,…,Din之串聯電路而構成, 而上述定電流電源F 1與二極體D 11之連接點P 1成為第1偏壓 電壓Vin之輸出端(從反轉放大器1丨側觀看時成為輸入端(第 1輸入端))。上述偏壓電源B 2係於電源線1 3,1 4間連接有 弟2定電流源F2與複數段之二極體D21 ,…,D2m之串聯、電 路而構成,上述定電流電源F2與二極體D21之連接點P2成 為第2偏壓電壓Vbias之輸出端(從反轉放大器1 1側觀看時成 為輸入端(第2輸入端))。二極體D11至Din ;D21至D2m與定 電流源F 1,F 2亦可相互替換。 在此,二極體D11至Din ;D21至D2m之元件特性以及元件
O:\70\70668.ptd 第11頁 526326 五、發明說明(7) 面積係相等,且n >m。從而,如圖2所示,來自元件數多之 偏壓電壓源B 1之偏壓電壓Vin則具有較陡急之溫度特性,而 來自元件數少之偏壓電壓源B2之偏壓電壓Vbias係具有較緩 和之溫度特性。 上述偏壓電壓Vin係介由電阻R1供給反轉放大器1 1之反轉 輸入端,而上述偏壓電壓Vbias則直接供給反轉放大器11之 非反轉輸入端。反轉放大器11之輸出電壓VQUt 1 (將輸出該 輸出電壓VQUt 1之部分設為反轉放大器1 1之輸出端),係直 接供給反轉放大器12之非反轉輸入端,同時介由歸還用之 電阻R2提供給上述反轉放大器11之反轉輸入端。上述非反 轉放大器12之反轉輸入端介由電阻R3所預定之基準電位 (圖1之例中將輸入接地電位、該接地電位之部分設為第3 輸入端)加以供給,同時介由歸還用之電阻R 4輸出非反轉 放大器12之輸出電壓VQut 2 (將輸出該輸出電壓VQUt 2之部分 設為非反轉放大器1 2之輸出端)加以供給。 因而,當定電流源F 1,F 2之電流值互為相等時,將每一 r 個二極體之陽極陰極間的電壓設為Vae [ V ],並以電源線1 4 之電位為基準,於反轉放大器11之反轉輸入端產生 nxVac[V]之電壓,而在非反轉輸入端產生mxVac[V]之電壓 。然而,在兩個輸入端間產生(η - m ) X Vac [ V ]之偏差。而後 ,將每一個二極體之陽極陰極間的電壓之溫度依存設為 △ Vac[V/ °C],當溫度變動T[ °C]時,反轉放大器11之輸入 端間的偏差係變動T X (n-m) X △ Vac[ V],再將該反轉放大 器11之增益設為A ( = R2/R1),而可獲得
O:\70\70668.ptd 第12頁 526326 五、發明說明(8) A X T X (n-m) χ Δν^ν]。又,上述輸出電壓v〇ut 1係變成
Voutl —(Vin-vbias) x R2/Rl + Vblas 即,將第2及第1偏壓電壓Vbias,Vin之乘以第2及第1電阻比 ,再加上溫度斜度相對較平緩之第2偏壓電壓Vbias。然而, 可以約上述第1及第2偏壓電壓源B 1,B 2之相對精度進行溫 度檢測。因此,藉著適當設定上述第1及第2之電阻值R1 , R 2,可獲得所期待之溫度特性(溫度斜度)。 又,由於基準電位介由第3電阻將上述反轉放大器11之 輸出電壓V〇ut 1供給反轉輸入端,同時介由第4電阻放大可 歸還輸出之非反轉放大器12之非反轉輸入端,因此非反轉 放大器12之輸出電壓Vout 2係變成 V〇ut2=[ (1+R3/R4) ] χ Voutl V〇ut2 = -[ ( 1 + R3/R4) ] x (Vin-Vbias) x R2/R1 + [(1+R3/R4) x Vbias] 而藉著適當設定上述第3及第4之電阻R3,r4的電阻值,可 將上述反轉放大器1 1所獲得之溫度特性設為所期待之輸出 電壓值。 % 此外,就此設定二極體D 11至]^ η ; D 21至D 2m之元件面積 ’且使定電流源F 1 ’ F 2之電流值互異時,上述圖2所示、之 偏壓電壓Vin,Vbias之溫度斜度固定,可使電壓位準變化,. 例如當增大定電流源F 1之電流值時,如上述圖2中符號 所示,可擴大上述反轉放大器1丨之輸入端間的偏差。而^ ’亦可取代二極體使用具有如上述圖2所示之線形溫度特 性之其他元件。使二極體在半導體積體電路内容易製作,
O:\70\70668.ptd 第13頁 526326 五、發明說明(9) 藉由使用二極體,使該溫度檢測電路之單晶化較為容易。 如以下所述,依據圖3,就本發明之其他實施形態加以 說明。 圖3係表示本發明其他實施形態之溫度檢測電路的電器 構成方塊圖。該溫度檢測電路係類似上述圖1所示之溫度 檢測電路,相對應之部分係附註相同之參照符號,並省略 其說明。應注意的是,在該溫度檢測電路中,偏壓電源 Bla與偏壓電源B2之二極體的串聯段數為相等m個,且偏壓 電源B 1 a側與偏壓電源B 2側之元件面積互異。該圖3之例中 ,偏壓電壓源B 1 a分別與上述二極體D 1 1至D 1 m並列設有二 極體 Dlla 至 Dima 。二極體D11 至 Dim,Dlla 至 Dima,D21 至 D2m之元件面積相等,從而,偏壓電壓源Bla側係形成偏壓 電壓源B 2側的元件面積之兩倍。 上述所製作之電流能力不同的二極體D 1 1至D 1 m,D 1 1 a至 D 1 m a,D 2 1至D 2 m,藉由來自定電流源F 1 ,F 2之固定電流固 定動作點而動作,使可形成互異之溫度特性。積此,在偏 壓電源B 1 a側,上述每一個二極體之陽極陰極間的電壓温 度依存△ Va。[ V / °C ]變大,與圖1所示之溫度檢測電路相同 ,可使該偏壓電源B 1 a側之溫度特性較陡急。 、 如此,藉由元件面積之差使溫度特性互異,而可於相同 之半導體積體電路内可容易形成溫度特性互異之偏壓電壓 源B1a , B2 〇 此外,並非僅如上述以相同面積之二極體的並聯階段數 目使每一段二極體之元件面積不同之方式,亦可將一個二
O:\70\70668.ptd 第14頁 526326 五、發明說明(ίο) 極面積以上述第1偏壓電壓源B 1與第2偏壓電壓源B 2不同之 方式形成。 如以下所述’依據圖4至圖6,就本發明之復一實施形態 加以說明。 “ 圖4係表示本發明之復一實施形態之溫度檢測電路之電 器構成方塊圖。該溫度檢測電路係類似上述圖1以及圖3所 示之溫度檢測電路,其相對應之部分係附註相同之參照符 號,並省略其說明。應注意的是,在該溫度檢測電路中, 上述電阻R1 0,R1 1 ,··· ,R1 i (第1電阻群)以及串聯電阻 R 2 0,R 2 1,…,R 2 j (第2電阻群)加以構成,並於各串聯 電阻R 1 0至R 1 i ; R 2 0至R 2 j之連接點間設有開關S 1 0至S 1 i (第1開關);S 2 0至S 2 j (第2開關)。 該溫度檢測電路係作為液晶驅動裝置之電源電路而加以 實現,上述開關S 1 0至S 1 i ; S 2 0至S 2 j係適合於所使用之液 晶面板的種類等,設定於放大率調整電阻器2 1之放大率資 料(開關資料)藉由未圖示之外部機器以解碼器2 2加以解碼 ,而上述開關S 1 0至S 1 i内之任何一種,以及上述開關S2 0 至S2 j内之任何一種為⑽之狀態。 例如,當開關S12與開關S2 j為ON時,變成R1=R10 + RU、 R2=R12+Rli 、 R3=R20+R2j-1+R1i 、 j 。開關si〇 至 S 1 i ; S2 0至S2 j係例如以M0S電晶體或傳送閘等之類比開關 加以實現,而控制端子則以來自上述解螞器2 2之高位準或 低位準之出進行0N/0FF之控制。 上述開關S1 0至S1 i ; S2 0至S2 j雖然玎能形成在上述偏壓
O:\70\70668.ptd 第15頁 526326 五、發明說明(11) 電壓源B1 ,B2等之同時形成在半導體積體電路内,但是亦 可…。又,上述放大率調整電阻器21為了鎖栓上述放大率 資料而設計,上述放大率資料係對應於上述開關S 1 0至S 1 i ;S2 0至S2 j之數目的位元數之並行資料或者是串行資料中 任一種資料亦可(圖4係以並形加以表示)。 圖5以及圖6係用以說明利用上述溫度檢測電路做為上述 液晶驅動裝置之電源電路並予以搭載之液晶顯不裝置圖不 。圖5之例係搭載於個人電腦之大晝面的液晶顯示裝置, 圖6之例係搭載於行動電話之終端裝置等的小晝面液晶顯 示裝置。圖5之例係使用該溫度檢測電路做為對用以液晶 顯示板3 1之驅動電路3 2,3 3進行電源供給之電源電路3 4。 圖6之例係於液晶面板41連接有TCP 42,而該TCP 42上所 安裝之驅動電路4 3内使用適合上述單晶化之該溫度檢測電 路做為電源電路44。 上述溫度檢測電路之輸出電壓,例如以圖5之液晶 顯示裝置為例時,係使用來自電源電路34之輸出電壓位準 。該電源電路3 4之輸出電壓,係於驅動電路3 3中依據應該 顯示的畫像資料使其適合液晶顯示面板3 1之液晶元件的灰 階度特性而加以分壓,並且施加於液晶元件。換言之、,上 述溫度檢測電路之輸出電壓係成為液晶驅動用基準電 壓,以利用該液晶驅動用基準電壓產生施加於液晶面板3 1 之液晶驅動電壓,並驅動液晶面板3 1。從而,對來自電源 電路3 4之驅動電路3 2,3 3供給以液晶驅動用基準電壓為基 準進行分壓之電壓位準。此外,圖5中雖圖示T F T液晶面板
O:\70\70668.ptd 第16頁 526326 五、發明說明(12) ’惟上述溫度檢測電路亦適用於S T N液晶、T F D液晶專所明 面板。 根據上述液晶面板3 1 ’ 4 1之液晶元件材料或液晶層的厚 度不同,對應於施加電壓-光透過性之斜率或臨限值電壓 Vth等之液晶面板的溫度特性,藉由設定電阻R1至R4的電阻 值可對應於各種溫度特性之液晶面板,並且可經常以最適 當的對比加以表示。具體言之,藉著上述電阻R1以及電阻 R2之電阻值使反轉放大器11之增益適合上述施加電壓-光 透過性之斜率或臨限值電壓Vth等之液晶面板的溫度特性, 再藉著設定電阻R3以及電阻R4之電阻值以及基準電位,使 輸出電壓位準適合液晶元件之驅動所需的電壓。 如上所述,本發明之溫度檢測電路,於以輸出對應於來 自互異之兩個溫度特性之偏壓電壓源的偏壓電壓之差值的 電壓之方式的溫度檢測電路中,對於求出上述偏壓電壓之 差值的反轉放大器,設有將第1偏壓電壓供給反轉輸.入端 之第1電阻以及介存於反轉輸入端與輸出端之間的第2電阻 ,並設有放大反轉放大器之輸出的非反轉放大器、將預定 之基準電壓供給該反轉輸入端之第3電阻以及介存於反轉 輸入端與輸出端之間的第4電阻。 、 此外,藉著適當設定第1及第2電阻之電阻值可獲得所期 待之溫度特性。此外,對第3及第4電阻之電阻值加以適當 設定,則可得到所欲之輸出電壓值。 又,本發明之溫度檢測電路係分別以定電流源與一個或 複數段二極體之串聯電路構成兩個偏壓電壓源,並藉由溫
O:\70\70668.ptd 第17頁 526326 五、發明說明(13) 度 特 性 之 差 值 產 生 二 極 體 之 元 件 面 積 差 〇 此 外 j 可 容 易 形 成 於 相 同 之 半 導 體 集 積 電 路 内 〇 復 且 本 發 明 之 液 晶 驅 動 裝 置 係 搭 載 於 上 述 溫 度 檢 測 電 路 , 且 非 反 轉 放 大 器 之 出 電 壓 係 用 於 液 晶 元 件 之 驅 動 的 液 晶 驅 動 裝 置 中 藉 由 使 第 1及第2 電 阻 所 決 定 之 反 轉 放 大 器 之 增 益 適 合 液 晶 面 板 之 溫 度 特 性 再 藉 由 第 3及第4 電 阻 以 及 基 準 電 位 使 所 決 定 之 m 出 電 壓 位 準 適 合 液 晶 元 件 之 驅 動 所 需 的 電 壓 〇 另 外 藉 著 a又 定 第1至第4 電 阻 以 及 基 準 電 位 y 以 適 合 於 所 使 用 之 液 晶 面 板 的 任 意 溫 度 特 性 可 獲 得 任 意 之 驅 動 電 壓 j 且 可 經 常 以 最 適 當 的 對 比 予 以 顯 示 〇 發 明 之 詳 細 說 明 的 項 困 中 所 提 出 之 具 體 實 施 態 樣 或 實 施 例 即 使 係 明 表 示 本 發 明 之 技 術 内 容 者 9 惟 不 應 侷 限 於 上 述 之 具 體 例 或 狹 義 地 解 釋 而 係 在 本 發 明 之 精 神 與 以 下 中 請 專 利 範 圍 之 範 圍 内 可 進 行 種 種 變 更 並 加 以 實 施 者 〇 元件符號說E 1 月 ϊ 11 反 轉 放 大 器 12 非 反 轉 放 大 器 13 j 14 電 源 線 - 21 放 大 率 調 整 電 阻 器 22 解 碼 器 31 液 晶 面 板 32 1 33 驅 動 電 路 34 電 源 電 路
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五、發明說明 (14) 41 液 晶面板 42 TCP 43 驅 動電路 44 電 源電路 B1, Bla 第 1偏壓電壓 源 B2 第 2偏壓電壓 源 D1 1 , · · · Din ;D21 ,… D2m 二極體 D 1 1 a 至D 1 ma 二極體 F1 第 1定電流源 F2 第 2定電流源 P1, P2 連 接點 R1 第 1電阻 R2 第 2電阻 R3 第 3電阻 R4 第 4電阻 S1 0 至SI i ; S20 至SIj 開關 O:\70\70668.ptd 第19頁 526326 圖式簡單說明 O:\70\70668.ptd 第20頁
Claims (1)
- 526326 案號 90109651 曰 修正 六、申請專利範圍 述第1偏壓電壓源與第2偏壓電壓源使串聯連接於上述定電 流源之二極體數目相異。 4.如申請專利範圍第2項之溫度檢測電路,其中藉著上 述第1偏壓電壓源與第2偏壓電壓源使串聯連接於上述定電 流源的每一個二極體面積相異。 5 .如申請專利範圍第2項之溫度檢測電路,其中於上述 第1及第2偏壓電壓源中至少一方中,對於串聯連接於上述 定電流源之各二極體’甚至可並聯二極體’箱者上述第1 偏壓電壓源與第2偏壓電壓源,使串聯於上述定電流源之 各二極體並聯之二極體數目相異。 6. 如申請專利範圍第2項之溫度檢測電路,其中上述第1 及第2偏壓電壓源各自具備之二極體係形成於相同的半導 體積體電路内。 7. —種液晶驅動裝置,其係搭載申請專利範圍第1至6項 之溫度檢測電路,而上述非反轉放大器之輸出電壓為用於 液晶元件之驅動的液晶驅動裝置中’ 使藉由上述第1及第2電阻所決定之反轉放大器的增益 適合液晶面板之溫度特性,並使藉由上述第3及第4電阻以 及基準電位決定之輸出電壓適合液晶元件之驅動所需的電 壓。 8. —種溫度檢測電路,其包括有:輸入有對應溫度變化 而進行不同變化之第1及第2偏壓電壓之第1及第2輸入端; 輸入者所預定之基準電位的第3輸入端; 具備有與上述第1輸入端連接的反轉輸入端、與上述O:\70\70668-920120.ptc 第22頁 526326 _案號 90109651_年月日__'一 六、申請專利範圍 第2輸入端連接的非反轉輸入端,以及具有輸出對應上述反 轉輸入端電壓與上述非反轉輸入端電壓之差值的電壓之輸 出端的反轉放大器; 具備有上述反轉放大器之輸出端連接的非反轉輸入端 、與上述第3輸入端連接的反轉輸入端,以及具有輸出對 應上述非反轉輸入端電壓與上述反轉輸入端之電壓之差值 的電壓之輸出端的非反轉放大器; 介存於上述第1輸入端與上述反轉放大器之反轉輸入 端之間的第1電阻; 連接上述反轉放大器之輸出端與上述反轉放大器之反 轉輸入端之間的第2電阻; 介存於上述第3輸入端與上述非反轉放大器之反轉輸 入端之間的第3電阻; 連接上述反轉放大器之輸出端與上述非反轉放大器之 反轉輸入端之間的第4電阻。 9. 一種溫度檢測電路,係包括有:輸入有對應溫度變化 而進行不同變化之第1及第2偏壓電壓之第1及第2輸入端; 輸入有所預定之基準電位的第3輸入端; 具備有反轉輸入端、非反轉輸入端以及輸入端的反轉 放大器; 具備有反轉輸入端、非反轉輸入端以及輸出端的非反 轉放大器; 包含串聯設置以連接上述反轉放大器之輸出端與上述 第1輸入端之複數電阻的第1電阻群;O:\70\70668-920120.ptc 第23頁 526326 案號 90109651 Λ_ 曰 修正 六、申請專利範圍 可選擇性斷接上述反轉放大器之反轉輸入端與上述第1 電阻群之各電阻間的第1開關; 包含串聯設置以連接上述非反轉放大器之輸出端與上 述第3輸入端之複數電阻的第2電阻群; 可選擇性斷接上述非反轉放大器之反轉輸入端與上述 第2電阻群之各電阻間的第2開關。 1 0 .如申請專利範圍第8項之溫度檢測電路,其中包括分 別產生上述第1及第2偏壓電壓之第1及第2偏壓電壓源,且 上述第1及第2偏壓電壓源,係具備有分別將定電流源 及與上述定電流源串聯於一個或複數段二極體以及上述定 電流源與二極體間之連接點,而 上述第1及第2偏壓電壓源之上述各連接點則分別與上 述第1及第2輸入端連接, 藉由上述第1及第2偏壓電壓源各自之二極體元件面積 的差值,使上述第1及第2偏壓電壓對應溫度變化而進行不 同變4匕。O:\70\70668-920120.ptc 第24頁
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---|---|---|---|---|
US20050052437A1 (en) * | 2002-08-14 | 2005-03-10 | Elcos Microdisplay Technology, Inc. | Temperature sensor circuit for microdisplays |
US7492344B2 (en) * | 2004-08-13 | 2009-02-17 | Himax Technologies Limited | Temperature sensor for liquid crystal display device |
JP4771043B2 (ja) | 2004-09-06 | 2011-09-14 | 日本電気株式会社 | 薄膜半導体素子及びその駆動回路並びにそれらを用いた装置 |
US20060192597A1 (en) * | 2005-02-04 | 2006-08-31 | Johns Charles R | Temperature sensing circuits, and temperature detection circuits including same |
JP2007187559A (ja) * | 2006-01-13 | 2007-07-26 | Ricoh Co Ltd | 温度検出回路 |
KR100714621B1 (ko) * | 2006-01-24 | 2007-05-07 | 삼성전기주식회사 | 온도보상기능을 갖는 led 구동 장치 |
WO2008038439A1 (fr) * | 2006-09-28 | 2008-04-03 | Sharp Kabushiki Kaisha | Panneau d'affichage et dispositif d'affichage |
JP5099505B2 (ja) * | 2008-02-15 | 2012-12-19 | セイコーインスツル株式会社 | ボルテージレギュレータ |
US9276766B2 (en) * | 2008-09-05 | 2016-03-01 | Ketra, Inc. | Display calibration systems and related methods |
US9509525B2 (en) * | 2008-09-05 | 2016-11-29 | Ketra, Inc. | Intelligent illumination device |
US20110063214A1 (en) * | 2008-09-05 | 2011-03-17 | Knapp David J | Display and optical pointer systems and related methods |
US8773336B2 (en) | 2008-09-05 | 2014-07-08 | Ketra, Inc. | Illumination devices and related systems and methods |
US10210750B2 (en) | 2011-09-13 | 2019-02-19 | Lutron Electronics Co., Inc. | System and method of extending the communication range in a visible light communication system |
US8886047B2 (en) * | 2008-09-05 | 2014-11-11 | Ketra, Inc. | Optical communication device, method and system |
US8159448B2 (en) * | 2008-12-19 | 2012-04-17 | Analog Devices, Inc. | Temperature-compensation networks |
US9386668B2 (en) | 2010-09-30 | 2016-07-05 | Ketra, Inc. | Lighting control system |
USRE49454E1 (en) | 2010-09-30 | 2023-03-07 | Lutron Technology Company Llc | Lighting control system |
US8749172B2 (en) | 2011-07-08 | 2014-06-10 | Ketra, Inc. | Luminance control for illumination devices |
KR102025722B1 (ko) * | 2012-05-02 | 2019-09-26 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 온도 센서 회로, 및 온도 센서 회로를 사용한 반도체 장치 |
JP2014130099A (ja) * | 2012-12-28 | 2014-07-10 | Toshiba Corp | 温度検出回路、温度補償回路およびバッファ回路 |
US9345097B1 (en) | 2013-08-20 | 2016-05-17 | Ketra, Inc. | Interference-resistant compensation for illumination devices using multiple series of measurement intervals |
US9769899B2 (en) | 2014-06-25 | 2017-09-19 | Ketra, Inc. | Illumination device and age compensation method |
USRE48955E1 (en) | 2013-08-20 | 2022-03-01 | Lutron Technology Company Llc | Interference-resistant compensation for illumination devices having multiple emitter modules |
US9360174B2 (en) | 2013-12-05 | 2016-06-07 | Ketra, Inc. | Linear LED illumination device with improved color mixing |
US9578724B1 (en) | 2013-08-20 | 2017-02-21 | Ketra, Inc. | Illumination device and method for avoiding flicker |
US9651632B1 (en) | 2013-08-20 | 2017-05-16 | Ketra, Inc. | Illumination device and temperature calibration method |
USRE48956E1 (en) | 2013-08-20 | 2022-03-01 | Lutron Technology Company Llc | Interference-resistant compensation for illumination devices using multiple series of measurement intervals |
US9247605B1 (en) | 2013-08-20 | 2016-01-26 | Ketra, Inc. | Interference-resistant compensation for illumination devices |
US9237620B1 (en) | 2013-08-20 | 2016-01-12 | Ketra, Inc. | Illumination device and temperature compensation method |
US9155155B1 (en) | 2013-08-20 | 2015-10-06 | Ketra, Inc. | Overlapping measurement sequences for interference-resistant compensation in light emitting diode devices |
US9332598B1 (en) | 2013-08-20 | 2016-05-03 | Ketra, Inc. | Interference-resistant compensation for illumination devices having multiple emitter modules |
US9736895B1 (en) | 2013-10-03 | 2017-08-15 | Ketra, Inc. | Color mixing optics for LED illumination device |
US9146028B2 (en) | 2013-12-05 | 2015-09-29 | Ketra, Inc. | Linear LED illumination device with improved rotational hinge |
US9392663B2 (en) | 2014-06-25 | 2016-07-12 | Ketra, Inc. | Illumination device and method for controlling an illumination device over changes in drive current and temperature |
US10161786B2 (en) | 2014-06-25 | 2018-12-25 | Lutron Ketra, Llc | Emitter module for an LED illumination device |
US9557214B2 (en) | 2014-06-25 | 2017-01-31 | Ketra, Inc. | Illumination device and method for calibrating an illumination device over changes in temperature, drive current, and time |
US9736903B2 (en) | 2014-06-25 | 2017-08-15 | Ketra, Inc. | Illumination device and method for calibrating and controlling an illumination device comprising a phosphor converted LED |
US9392660B2 (en) | 2014-08-28 | 2016-07-12 | Ketra, Inc. | LED illumination device and calibration method for accurately characterizing the emission LEDs and photodetector(s) included within the LED illumination device |
US9510416B2 (en) | 2014-08-28 | 2016-11-29 | Ketra, Inc. | LED illumination device and method for accurately controlling the intensity and color point of the illumination device over time |
US9237612B1 (en) | 2015-01-26 | 2016-01-12 | Ketra, Inc. | Illumination device and method for determining a target lumens that can be safely produced by an illumination device at a present temperature |
US9485813B1 (en) | 2015-01-26 | 2016-11-01 | Ketra, Inc. | Illumination device and method for avoiding an over-power or over-current condition in a power converter |
US9237623B1 (en) | 2015-01-26 | 2016-01-12 | Ketra, Inc. | Illumination device and method for determining a maximum lumens that can be safely produced by the illumination device to achieve a target chromaticity |
JP2016183932A (ja) | 2015-03-26 | 2016-10-20 | 株式会社東芝 | 温度センサ回路 |
US11030942B2 (en) | 2017-10-13 | 2021-06-08 | Jasper Display Corporation | Backplane adaptable to drive emissive pixel arrays of differing pitches |
US11272599B1 (en) | 2018-06-22 | 2022-03-08 | Lutron Technology Company Llc | Calibration procedure for a light-emitting diode light source |
US10951875B2 (en) | 2018-07-03 | 2021-03-16 | Raxium, Inc. | Display processing circuitry |
US11710445B2 (en) | 2019-01-24 | 2023-07-25 | Google Llc | Backplane configurations and operations |
US11637219B2 (en) | 2019-04-12 | 2023-04-25 | Google Llc | Monolithic integration of different light emitting structures on a same substrate |
US11238782B2 (en) | 2019-06-28 | 2022-02-01 | Jasper Display Corp. | Backplane for an array of emissive elements |
US11626062B2 (en) | 2020-02-18 | 2023-04-11 | Google Llc | System and method for modulating an array of emissive elements |
US11538431B2 (en) | 2020-06-29 | 2022-12-27 | Google Llc | Larger backplane suitable for high speed applications |
EP4371104A1 (en) | 2021-07-14 | 2024-05-22 | Google LLC | Backplane and method for pulse width modulation |
CN113884208B (zh) * | 2021-09-09 | 2023-10-10 | 芯原微电子(成都)有限公司 | 一种高精度过温检测电路 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT1202895B (it) * | 1979-02-27 | 1989-02-15 | Ates Componenti Elettron | Dispositivo di protezione termica per un componente elettronico a semiconduttore |
DE3145245C2 (de) * | 1980-11-18 | 1985-11-14 | Kabushiki Kaisha Suwa Seikosha, Shinjuku, Tokio/Tokyo | Thermometer mit einem Quarzkristallschwinger |
US4721636A (en) * | 1984-11-01 | 1988-01-26 | Southwall Technologies, Inc. | Multiple pane glass unit with electrically conductive transparent film for use as radiation shield |
JPS62102231A (ja) * | 1985-10-29 | 1987-05-12 | Casio Comput Co Ltd | 液晶光シャッタの温度制御装置 |
JPH01266514A (ja) | 1988-04-18 | 1989-10-24 | Casio Comput Co Ltd | 液晶パネル駆動回路 |
JPH0348737A (ja) | 1989-07-17 | 1991-03-01 | Nec Corp | 温度検出回路 |
US5025248A (en) * | 1989-09-01 | 1991-06-18 | Microthermo | Automatic temperature monitoring system |
DE69319943T2 (de) * | 1992-02-28 | 1999-02-11 | Canon K.K., Tokio/Tokyo | Flüssigkristallanzeigegerät |
US5383083A (en) * | 1992-05-19 | 1995-01-17 | Pioneer Electronic Corporation | Protective apparatus for power transistor |
DE69213224T2 (de) * | 1992-06-25 | 1997-02-20 | Sgs Thomson Microelectronics | Programmierbarer Ausgangsspannungsregler |
DE4236333A1 (de) * | 1992-10-28 | 1994-05-05 | Bosch Gmbh Robert | Monolithich integriertes MOS-Endstufenbauteil mit einer Übertemperatur-Schutzeinrichtung |
US5723915A (en) * | 1992-12-04 | 1998-03-03 | Texas Instruments Incorporated | Solid state power controller |
JPH06258140A (ja) | 1993-03-05 | 1994-09-16 | Nikon Corp | 温度補償回路 |
JP3584536B2 (ja) | 1995-03-31 | 2004-11-04 | セイコーエプソン株式会社 | 出力電圧の温度特性を変化させる機構を有する電圧源回路、およびその機構を有する液晶用安定化電源回路 |
JPH09229778A (ja) | 1996-02-26 | 1997-09-05 | Hitachi Ltd | Ic化温度センサ |
DE19742930C1 (de) * | 1997-09-29 | 1998-11-19 | Siemens Ag | Leistungsschalter mit Überlastschutz |
JP3892591B2 (ja) | 1998-09-22 | 2007-03-14 | 東芝テック株式会社 | 液晶表示装置 |
JP3656805B2 (ja) * | 1999-01-22 | 2005-06-08 | パイオニア株式会社 | 温度補償機能を有する有機el素子駆動装置 |
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