JPH0348737A - 温度検出回路 - Google Patents
温度検出回路Info
- Publication number
- JPH0348737A JPH0348737A JP18547189A JP18547189A JPH0348737A JP H0348737 A JPH0348737 A JP H0348737A JP 18547189 A JP18547189 A JP 18547189A JP 18547189 A JP18547189 A JP 18547189A JP H0348737 A JPH0348737 A JP H0348737A
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- Japan
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- diode
- amplifier
- cathode
- anode
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電気回路を有する温度検出回路に関する。
第2図は従来の温度検出回路の一例のブロック図である
。
。
第1のダイオード13のアノードを第1の電源11に接
続[2、第1のダイオード13のカソードから第nのダ
イオード14のアノードまでを同方向にn個ダイオード
を直列接続し、第nのダイオード14のカソードを増幅
器]7の第1の入力端に接続すると共に電流源15を介
して第2の電源12に接続し、増幅器17の第2の入力
端を基準電圧源16に接続する構成であった。
続[2、第1のダイオード13のカソードから第nのダ
イオード14のアノードまでを同方向にn個ダイオード
を直列接続し、第nのダイオード14のカソードを増幅
器]7の第1の入力端に接続すると共に電流源15を介
して第2の電源12に接続し、増幅器17の第2の入力
端を基準電圧源16に接続する構成であった。
次に動作について説明する。ダイオード1個当りのアノ
ード−カソード間の電圧をVac (V)とし、第1の
電源11を基準とすると、増幅器17の第1の入力端に
は(−nXVac)(V)の電圧が生じる。ダイオード
1個当りのアノード−カソード間の電圧の温度依存をΔ
Vac(V/”C)とすると、温度がT(”C)変動し
た場合、増幅器17の第1の入力端は基準電圧源16に
対してT×n×ΔVac (:V)変動する。増幅器1
7の利得をAとした時、この変動を増幅器17にて増幅
するとAXTXnXΔVac (V)となる。
ード−カソード間の電圧をVac (V)とし、第1の
電源11を基準とすると、増幅器17の第1の入力端に
は(−nXVac)(V)の電圧が生じる。ダイオード
1個当りのアノード−カソード間の電圧の温度依存をΔ
Vac(V/”C)とすると、温度がT(”C)変動し
た場合、増幅器17の第1の入力端は基準電圧源16に
対してT×n×ΔVac (:V)変動する。増幅器1
7の利得をAとした時、この変動を増幅器17にて増幅
するとAXTXnXΔVac (V)となる。
上述した従来の温度検出回路は、基準電圧源16とダイ
オードn個の電圧を比較することにより増幅するため、
増幅器17に接続されるダイオードの段数によって、決
定されるアジ−トーカソード間のバイアス電圧及び温度
係数の絶対精度が必要であるという欠点を有する。
オードn個の電圧を比較することにより増幅するため、
増幅器17に接続されるダイオードの段数によって、決
定されるアジ−トーカソード間のバイアス電圧及び温度
係数の絶対精度が必要であるという欠点を有する。
本発明の温度検出回路は、第1のダイオードのアノード
を第1の電源に接続し、前記第1のダイオードのカソー
ドから第nのダイオードのアノードまでを同方向にn個
のダイオードを直列接続し、前記第nのダイオードのカ
ソードを増幅器の第1の入力端に接続すると共に第1の
電流源を介して第2の電源に接続し、第n+1のダイオ
ードのアノードを前記第1の電源に接続し、前記第n
+−1のダイオードのカソードから第n+mのダイオー
ドのアノードまでを同方向にm個のダイオードの直列接
続し、前記第n+mのダイオードのカソードを前記増幅
器の第2の入力端に接続すると共に第2の電流源を介し
て前記第2の電源に接続し、前記増幅器の出力を出力・
端子とすることを特徴とする。
を第1の電源に接続し、前記第1のダイオードのカソー
ドから第nのダイオードのアノードまでを同方向にn個
のダイオードを直列接続し、前記第nのダイオードのカ
ソードを増幅器の第1の入力端に接続すると共に第1の
電流源を介して第2の電源に接続し、第n+1のダイオ
ードのアノードを前記第1の電源に接続し、前記第n
+−1のダイオードのカソードから第n+mのダイオー
ドのアノードまでを同方向にm個のダイオードの直列接
続し、前記第n+mのダイオードのカソードを前記増幅
器の第2の入力端に接続すると共に第2の電流源を介し
て前記第2の電源に接続し、前記増幅器の出力を出力・
端子とすることを特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の一実施例のブロック図である。
第1のダイオード3のアノードを第1の電源1に接続し
、第1のダイオード3のカソードから第nのダイオード
4のアノードまでを同方向にn個ダイオードを直列接続
し、第nのダイオード4のカソードを増幅器9の第1の
入力端に接続すると共に第1の電流源7を介して第2の
電源2に接続し、第n+1のダイオード5のアノードを
第1の電源に接続し、第n±1のダイオード5のカソー
ドから第n+mのダイオード6のアノードまでを同方向
にm個ダイオードを直列接続し、第n+mのダイオード
6のカソードを増幅器9の第の入力端に接続すると共に
第2の電流源8を介して第2の電源2に接続し、増幅器
9の出力を出力端子10とする精成を有する温度検出回
路である。
、第1のダイオード3のカソードから第nのダイオード
4のアノードまでを同方向にn個ダイオードを直列接続
し、第nのダイオード4のカソードを増幅器9の第1の
入力端に接続すると共に第1の電流源7を介して第2の
電源2に接続し、第n+1のダイオード5のアノードを
第1の電源に接続し、第n±1のダイオード5のカソー
ドから第n+mのダイオード6のアノードまでを同方向
にm個ダイオードを直列接続し、第n+mのダイオード
6のカソードを増幅器9の第の入力端に接続すると共に
第2の電流源8を介して第2の電源2に接続し、増幅器
9の出力を出力端子10とする精成を有する温度検出回
路である。
次に動作について説明する。第1の電流源7と第2の電
流源8の電流値が等しいとき、ダイオード1個当りのア
ノード−カソード間の電圧をVac(V)とし、第1の
電源1を基準とすると、増幅器9の第1の入力端には(
−nXVac)CV)の電圧が生じ、第2の入力端には
(−m X V a c )〔V〕生じる。よって、第
1と第2の入力端間には((m−n)xVac)(V)
のオフセットを生じる。ダイオード個当りのアノード−
カソード間の電圧の温度依存をΔVac(V/”C)と
すると、温度がT〔℃〕変動した場合、増幅器9の入力
端間のオフセットはTx(m、−n)XΔVac〔V〕
変動する。増幅器9の利得をAとした時、この変動を増
幅器9にて増幅するとAXTX (m−〇)×ΔVac
(V)となる。
流源8の電流値が等しいとき、ダイオード1個当りのア
ノード−カソード間の電圧をVac(V)とし、第1の
電源1を基準とすると、増幅器9の第1の入力端には(
−nXVac)CV)の電圧が生じ、第2の入力端には
(−m X V a c )〔V〕生じる。よって、第
1と第2の入力端間には((m−n)xVac)(V)
のオフセットを生じる。ダイオード個当りのアノード−
カソード間の電圧の温度依存をΔVac(V/”C)と
すると、温度がT〔℃〕変動した場合、増幅器9の入力
端間のオフセットはTx(m、−n)XΔVac〔V〕
変動する。増幅器9の利得をAとした時、この変動を増
幅器9にて増幅するとAXTX (m−〇)×ΔVac
(V)となる。
以上説明したように本発明は、増幅器の第1と第2の入
力端に与えるバイアス電圧を同じ温度特性を有するダイ
オードによって設定することにより、ダイオードの段数
とのアノード」−力ソード間のバイアス電圧及び温度係
数の相対精度によって、温度情報を抽出できる。また、
増幅器の入力バイアス設定の自由度が増す効果もある。
力端に与えるバイアス電圧を同じ温度特性を有するダイ
オードによって設定することにより、ダイオードの段数
とのアノード」−力ソード間のバイアス電圧及び温度係
数の相対精度によって、温度情報を抽出できる。また、
増幅器の入力バイアス設定の自由度が増す効果もある。
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は従来
の温度検出回路の一例のブロック図である。 1.11・・・第1の電源、2.12・・・第2の電源
、3.13・・・第1のダイオード、4,14・・・第
nのダイオード、5・・・第n+1のダイオード、6・
・・第n+mのダイオード、7・・・第1の電流源、8
・・・第2の電流源、 9 7・・・増幅器、 0゜ 】 ・・出 力端子、 ・・電流源、 ・・基準電圧源。
の温度検出回路の一例のブロック図である。 1.11・・・第1の電源、2.12・・・第2の電源
、3.13・・・第1のダイオード、4,14・・・第
nのダイオード、5・・・第n+1のダイオード、6・
・・第n+mのダイオード、7・・・第1の電流源、8
・・・第2の電流源、 9 7・・・増幅器、 0゜ 】 ・・出 力端子、 ・・電流源、 ・・基準電圧源。
Claims (1)
- 第1のダイオードのアノードを第1の電源に接続し、前
記第1のダイオードのカソードから第nのダイオードの
アノードまでを同方向にn個のダイオードを直列接続し
、前記第nのダイオードのカソードを増幅器の第1の入
力端に接続すると共に第1の電流源を介して第2の電源
に接続し、第n+1のダイオードのアノードを前記第1
の電源に接続し、前記第n+1のダイオードのカソード
から第n+mのダイオードのアノードまでを同方向にm
個のダイオードの直列接続し、前記第n+mのダイオー
ドのカソードを前記増幅器の第2の入力端に接続すると
共に第2の電流源を介して前記第2の電源に接続し、前
記増幅器の出力を出力端子とすることを特徴とする温度
検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18547189A JPH0348737A (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | 温度検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18547189A JPH0348737A (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | 温度検出回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0348737A true JPH0348737A (ja) | 1991-03-01 |
Family
ID=16171352
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18547189A Pending JPH0348737A (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | 温度検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0348737A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6679628B2 (en) * | 2001-08-14 | 2004-01-20 | Schneider Automation Inc. | Solid state temperature measuring device and method |
US6831626B2 (en) | 2000-05-25 | 2004-12-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | Temperature detecting circuit and liquid crystal driving device using same |
EP1973229A1 (en) * | 2007-03-22 | 2008-09-24 | NEC Electronics Corporation | Overcurrent detecting circuit and semiconductor device |
-
1989
- 1989-07-17 JP JP18547189A patent/JPH0348737A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6831626B2 (en) | 2000-05-25 | 2004-12-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | Temperature detecting circuit and liquid crystal driving device using same |
US6679628B2 (en) * | 2001-08-14 | 2004-01-20 | Schneider Automation Inc. | Solid state temperature measuring device and method |
US7048438B2 (en) | 2001-08-14 | 2006-05-23 | Schneider Automatic Inc. | Solid state temperature measuring device and method |
EP1973229A1 (en) * | 2007-03-22 | 2008-09-24 | NEC Electronics Corporation | Overcurrent detecting circuit and semiconductor device |
US7660091B2 (en) | 2007-03-22 | 2010-02-09 | Nec Electronics Corporation | Overcurrent detecting circuit and semiconductor device |
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