SU1228055A1 - Зонд дл проверки сигналов цифровых микросхем - Google Patents

Зонд дл проверки сигналов цифровых микросхем Download PDF

Info

Publication number
SU1228055A1
SU1228055A1 SU843769728A SU3769728A SU1228055A1 SU 1228055 A1 SU1228055 A1 SU 1228055A1 SU 843769728 A SU843769728 A SU 843769728A SU 3769728 A SU3769728 A SU 3769728A SU 1228055 A1 SU1228055 A1 SU 1228055A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
transistor
probe
input
output
emitter
Prior art date
Application number
SU843769728A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Иванович Кордюмов
Original Assignee
Харьковский Ордена Ленина Политехнический Институт Им.В.И.Ленина
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Харьковский Ордена Ленина Политехнический Институт Им.В.И.Ленина filed Critical Харьковский Ордена Ленина Политехнический Институт Им.В.И.Ленина
Priority to SU843769728A priority Critical patent/SU1228055A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1228055A1 publication Critical patent/SU1228055A1/ru

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к импульсной технике, может быть использовано при наладке и проверке исправности полупроводниковых цифровых устройств с трем  устойчивыми состо ни ми. Цель изобретени  - расширение области применени  к функциональных возможностей, достигаетс  за счет снижени  потенциала на щупе, не превыша  напр жени  питани  контролируемых схем, и обеспечива  возможности регистрировани  сигнала, соответствующего сигналу свободного входа микросхем. Устройство содержит ключ I, резисторы 2, 4, 6, 14, 15 и 17, логический преобразователь 7, индикатор 8, транзисторы 3, 5, 9, II и 16, щуп 10, регулируемые источники опорного напр жени  12 и 13. Устройство позвол ет отличать вход логического элемента от выхода в высоко- импедансном состо нии. Исключает на щупе 10 потенциал, превышающий уровень напр жени  питани . I ил. (Л ю (О 00 о ел ел

Description

Изобретение относитс  к импульсной технике и может быть использовано при наладке и проверке исправности полупроводниковых цифровых устройств с трем  устойчивыми состо ни ми.
Цель изобретени  - расширение области применени  путем снижени  потенциала на щупе, не превыша  напр жени  питани  контролируемых схем и расширение функциональных возможностей в результате обеспечени  возможности регистрировани  сигнала , соответствуюш,его сигналу свободного входа микросхемы.
На чертеже представлена структурна  схема зонда дл  проверки сигналов цифровых микросхем.
Зонд дл  проверки сигналов цифровых микросхем содержит ключ 1, первый вывод которого подключен к первому выводу первого резистора 2, а второй вывод непосредственно подсоединен к коллектору первого транзистора 3 и подключен через второй резистор 4 к базе второго транзистора 5, эмиттером подключенного к общей шине, через третий резистор 6 к щине питани  и непосредственно к первому входу логического преобразовател  7, выход которого подключен к входу индикатора 8, а второй вход соединен с коллектором третьего транзистора 9, эмиттер которого соединен с эмиттером первого транзистора 3, щупом Ю и эмиттером четвертого транзистора 11, при этом базы первого и третьего транзисторов 3 и 9 соединены с выходом первого регулируемого источника 12 опорного напр жени , а выход второго регулируемого источника 13 опорного напр жени  подключен к базе четвертого транзистора 11, коллектором подсоединенного через четвертый резистор 14 к щине нулевого потенциала и через п тый резистор 15 к базе п того транзистора 16, эмиттер сое динен с общей шиной, а коллектор подключен через шестой резистор 17 к шине питани  (Е) и непосредственно к второму входу логического преобразовател  7.
Устройство работает следующим образом.
Источник 12 опорного напр жени  регулируетс  таким образом, чтобы транзистор 9 был открыт при напр жении на щупе 10, не превыщающем верхнего значени  «О. Источник 13 опорного напр жени  регулируетс  так, чтобы транзистор 11 открывалс  только при напр жении на щупе 10, превышающем нижнее значение «1.
На щуп 10 подан «О. Ключ 1 замкнут. Транзисторы 11 и 3 закрыты и удерживают в закрытом состо нии транзисторы 16 и 5. Закрытый транзистор 5 обеспечивает «1 на первом входе логического преобразовател  7. «О на щупе 10 и эмиттере транзистора 9 открывает транзистор 9, который несмотр  на закрытый транзистор 16 создает «О на втором входе логического преобразовател  7. Таким образом, на первом и втором входах логического преобразовател  7 присутствует код «10, который дешифрируетс  логическим преобразователем 7 и визуализируетс  индикатором 8 как «О.
На щуп 10 подана «1. Ключ 1 замкнут. Транзистор 9 закрыт высоким потенциалом «1 на эмиттере. Транзисторы 11 и 3 открыты и коллекторным током открывают транзисторы 16 и 5. Открытый транзистор 5
создает «О на первом входе логического преобразовател  7. Открытый транзистор 16 несмотр  на закрытый транзистор 9 обеспечивает «О на втором входе логического преобразовател  7. Таким образом, при «1 на щупе 10 на входах логического преобразовател  7 присутствует код «00, который дешифрируетс  логическим преобразователем 7 и визуализируетс  индикатором 8 как
5
На щуп 10 подан промежуточный межQ ду «О и «1 уровень сигнала от низкоом- ного источника. Ключ 1 замкнут. Сигнал на щупе 10, превыщающий уровень «О открывает транзистор 3 и током коллектора открывает транзистор 5, который создает «О на первом входе логического преобразовател 
5 7. Транзисторы 11 и 9 закрыты и совместно обеспечивают «1 на втором входе. Таким образом, на входах логического преобразовател  присутствует код «01, который де- щифрируетс  логическим преобразователем 7 и визуализируетс  индикатором 8 как про0 межуточный между «О и «1.
Щуп 10 подключен к выводу с высоко- импедансным состо нием (или обрыв). Ключ 1 замкнут. Высокоомный вывод логического элемента, хот  и имеет в свободном состо нии потенциал, промежуточный между «О и «1, но не обладает нагрузочной способностью , т. е. не способен при подключенном резисторе 2 обеспечить транзистору 5 ток база-эмиттер, достаточный дл  открывани  транзистора 5. Транзистор 5 закрыт,
Q что вызывает «1 на первом входе блока 7. Транзисторы 11 и 9 также закрыты, так как отсутствует ток база-эмиттер, и, следовательно , создают «1 на втором входе блока 7. Таким образом, при замкнутом ключе 1 и высокоимпедансном состо нии на щупе 10
5 на входах блока 7 присутствует код «11, который распознаетс  как высокоимпеданс- ное состо ние.
Высокоомный вывод логического элемента может быть входом элемента или вы- .. ходом, наход щимс  в высокоимпедансном состо нии.
Высокоомный вывод логического элемента может быть входом элемента или выходом , наход щимс  в высокоомном состо - ннии. Входной ток логического элемента на J пор док превосходит ток короткого замыкани  выхода, наход щегос  в высокоимпедансном состо нии. Это свойство позвол ет отличить вход от выхода в высокоимпедансном состо нии. Размыкание ключа 1 устран ет шунтирующее действие резистора 2 и ток входа провер емого логического элемента через щуп 10, транзистор 3 по цепи база- эмиттер транзистора 5 открывает транзистор 5, что вызывает «О на первом входе блока 7. Тока выхода в высокоимпедансном состо нии недостаточно дл  открывани  транзистора 5 по этой же цепи, и транзистор 5 остаетс  закрытым, на первом входе блока 7 «1 не измен етс .
Таким образом, при замкнутом ключе 1 на входах логического преобразовател  7 в зависимости от сигнала на щупе 10 присутствуют коды: логический ноль - 10; логическа  единица - 00; промежуточный уровень между «О и «1 - 01; высокоим- педансное состо ние - 11.
После обнаружени  высокоимпедансного состо ни  размыканием ключа 1 различают вход логического элемента от выхода в высокоимпедансном состо нии. Код «01 на входах блока 7 соответствует входу логического элемента, а код «11 - выходу в высокоимпедансном состо нии.
Остальные элементы устройства имеют следующее назначение.
соединен с коллектором третьего транзис- Резисторы 4 и 15 обеспечивают рабочий 25 тора, эмиттер которого соединен со щупом.
режим транзисторов 5 и 16. Резистор 14 служит нагрузкой дл  логического элемента при уровне «1. Резисторы 6 и 17  вл ютс  нагрузкой транзисторов 5 и 16.
Таким образом, логический преобразователь может быть реализован с помощью посто нного запоминающего устройства (ПЗУ) форматом, обеспечивающим хранение четырех семиразр дных слов. В качестве индикатора может быть применен светодиодный семисегментный индикатор.
Предлагаемое устройство позвол ет отличить вход логического элемента от выхода в высокоимпедансном состо нии и исключить
30
35
а база третьего транзистора соединена с выходом первого регулируемого источника опорного напр жени  и с базой первого транзистора , эмиттер которого соединен со щупом и эмиттером четвертого транзистора, база которого соединена с выходом второго регулируемого источника опорного напр жени , коллектор четвертого транзистора через четвертый резистор соединен с общей шиной и через п тый резистор с базой п того транзистора , эмиттер которого соединен с общей шиной, коллектор соединен через шестой резистор с шиной питани  и непосредственно с вторым входом логического преобразовател .
0
на щупе потенциал, превышающий уровень напр жени  питани .

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Зонд дл  проверки сигналов цифровых микросхем, содержащий два регулируемых источника опорного напр жени , щуп и логический преобразователь, выход которого подключен к индикатору, отличающийс  тем, что, с целью расширени  области применени  путем снижени  потенциала на щупе и расширени  функциональных возможностей в результате обеспечени  возможности регистрировани  сигнала, соответствующего сигналу свободного входа микросхемы, в него введены щесть резисторов, п ть транзисторов и ключ, первым выводом соединенный через первый резистор с общей шиной, вторым выводом непосредственно соединенный с коллектором первого транзистора, а через второй резистор соединенный с базой второго транзистора, эмиттер которого соединен с общей шиной, коллектор через третий резистор соединен с шиной питани  и непосредственно с первым входом логического преобразовател , второй вход которого
    5
    0
    5
    а база третьего транзистора соединена с выходом первого регулируемого источника опорного напр жени  и с базой первого транзистора , эмиттер которого соединен со щупом и эмиттером четвертого транзистора, база которого соединена с выходом второго регулируемого источника опорного напр жени , коллектор четвертого транзистора через четвертый резистор соединен с общей шиной и через п тый резистор с базой п того транзистора , эмиттер которого соединен с общей шиной, коллектор соединен через шестой резистор с шиной питани  и непосредственно с вторым входом логического преобразовател .
SU843769728A 1984-07-09 1984-07-09 Зонд дл проверки сигналов цифровых микросхем SU1228055A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843769728A SU1228055A1 (ru) 1984-07-09 1984-07-09 Зонд дл проверки сигналов цифровых микросхем

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843769728A SU1228055A1 (ru) 1984-07-09 1984-07-09 Зонд дл проверки сигналов цифровых микросхем

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1228055A1 true SU1228055A1 (ru) 1986-04-30

Family

ID=21130296

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843769728A SU1228055A1 (ru) 1984-07-09 1984-07-09 Зонд дл проверки сигналов цифровых микросхем

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1228055A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 883809, кл. G 01 R 31/28, 1982. Авторское свидетельство СССР № 513330, кл. G 01 R 31/28, 1976. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0141681B1 (en) Test input multiplexing circuit
JP3304355B2 (ja) テスト装置
KR890004500A (ko) 출력버퍼
KR890004486A (ko) 버퍼회로
EP0252325A3 (en) Semiconductor device having a fuse circuit and a detecting circuit for detecting the states of the fuses in the fuse circuit
IE53832B1 (en) Semiconductor integrated circuit device with test circuit
US4791312A (en) Programmable level shifting interface device
IE823102L (en) Test circuit
US4814638A (en) High speed digital driver with selectable level shifter
SU1228055A1 (ru) Зонд дл проверки сигналов цифровых микросхем
JPS6238616A (ja) 出力回路
JPH05267464A (ja) 半導体装置
JPH08204582A (ja) 半導体集積回路
JPH03229177A (ja) 第1、第2の回路を有する集積回路
JPH0231896B2 (ru)
KR890004531Y1 (ko) 로직체크 및 집적소자 불량 감지회로
SU1185590A1 (ru) Пороговое устройство
SU1372239A1 (ru) Индикатор снижени напр жени посто нного тока
SU1026311A1 (ru) Устройство дл передачи дискретных сигналов
JPH0529938A (ja) 制御装置
SU1603366A1 (ru) Способ сравнени цифровой информации и устройство дл его осуществлени
SU1173545A1 (ru) Транзисторный ключ
JPH04243158A (ja) 半導体集積回路装置
JP3194740B2 (ja) リーク電流測定可能な半導体集積回路
SU1113756A1 (ru) Устройство дл контрол логических состо ний цифровых схем