SU1228055A1 - Probe for testing signals of digital microcircuits - Google Patents
Probe for testing signals of digital microcircuits Download PDFInfo
- Publication number
- SU1228055A1 SU1228055A1 SU843769728A SU3769728A SU1228055A1 SU 1228055 A1 SU1228055 A1 SU 1228055A1 SU 843769728 A SU843769728 A SU 843769728A SU 3769728 A SU3769728 A SU 3769728A SU 1228055 A1 SU1228055 A1 SU 1228055A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- transistor
- probe
- input
- output
- emitter
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к импульсной технике, может быть использовано при наладке и проверке исправности полупроводниковых цифровых устройств с трем устойчивыми состо ни ми. Цель изобретени - расширение области применени к функциональных возможностей, достигаетс за счет снижени потенциала на щупе, не превыша напр жени питани контролируемых схем, и обеспечива возможности регистрировани сигнала, соответствующего сигналу свободного входа микросхем. Устройство содержит ключ I, резисторы 2, 4, 6, 14, 15 и 17, логический преобразователь 7, индикатор 8, транзисторы 3, 5, 9, II и 16, щуп 10, регулируемые источники опорного напр жени 12 и 13. Устройство позвол ет отличать вход логического элемента от выхода в высоко- импедансном состо нии. Исключает на щупе 10 потенциал, превышающий уровень напр жени питани . I ил. (Л ю (О 00 о ел елThe invention relates to a pulse technique, can be used in setting up and checking the health of semiconductor digital devices with three stable states. The purpose of the invention is to expand the scope of application to the functionality, achieved by reducing the potential on the probe, not exceeding the supply voltage of the monitored circuits, and allowing the recording of a signal corresponding to the signal of the free input of microcircuits. The device contains a switch I, resistors 2, 4, 6, 14, 15 and 17, a logic converter 7, an indicator 8, transistors 3, 5, 9, II and 16, a probe 10, adjustable sources of reference voltage 12 and 13. The device allows It does not distinguish the input of the logic element from the output in the high-impedance state. Eliminates on the probe 10 a potential greater than the supply voltage level. I il. (L yu (O 00 about ate
Description
Изобретение относитс к импульсной технике и может быть использовано при наладке и проверке исправности полупроводниковых цифровых устройств с трем устойчивыми состо ни ми.The invention relates to a pulse technique and can be used in setting up and checking the health of semiconductor digital devices with three stable states.
Цель изобретени - расширение области применени путем снижени потенциала на щупе, не превыша напр жени питани контролируемых схем и расширение функциональных возможностей в результате обеспечени возможности регистрировани сигнала , соответствуюш,его сигналу свободного входа микросхемы.The purpose of the invention is to expand the field of application by reducing the potential on the probe, not exceeding the supply voltage of controlled circuits and expanding the functionality as a result of enabling the recording of a signal corresponding to its free chip input signal.
На чертеже представлена структурна схема зонда дл проверки сигналов цифровых микросхем.The drawing shows a block diagram of a probe for checking digital microcircuit signals.
Зонд дл проверки сигналов цифровых микросхем содержит ключ 1, первый вывод которого подключен к первому выводу первого резистора 2, а второй вывод непосредственно подсоединен к коллектору первого транзистора 3 и подключен через второй резистор 4 к базе второго транзистора 5, эмиттером подключенного к общей шине, через третий резистор 6 к щине питани и непосредственно к первому входу логического преобразовател 7, выход которого подключен к входу индикатора 8, а второй вход соединен с коллектором третьего транзистора 9, эмиттер которого соединен с эмиттером первого транзистора 3, щупом Ю и эмиттером четвертого транзистора 11, при этом базы первого и третьего транзисторов 3 и 9 соединены с выходом первого регулируемого источника 12 опорного напр жени , а выход второго регулируемого источника 13 опорного напр жени подключен к базе четвертого транзистора 11, коллектором подсоединенного через четвертый резистор 14 к щине нулевого потенциала и через п тый резистор 15 к базе п того транзистора 16, эмиттер сое динен с общей шиной, а коллектор подключен через шестой резистор 17 к шине питани (Е) и непосредственно к второму входу логического преобразовател 7.The probe for checking digital microcircuit signals contains a key 1, the first output of which is connected to the first output of the first resistor 2, and the second output is directly connected to the collector of the first transistor 3 and connected via the second resistor 4 to the base of the second transistor 5, emitter connected to the common bus, the third resistor 6 to the power bar and directly to the first input of the logic converter 7, the output of which is connected to the input of the indicator 8, and the second input is connected to the collector of the third transistor 9, the emitter of which is One with the emitter of the first transistor 3, the probe U and the emitter of the fourth transistor 11, while the bases of the first and third transistors 3 and 9 are connected to the output of the first adjustable source 12 of the reference voltage, and the output of the second adjustable source 13 of the reference voltage is connected to the base of the fourth transistor 11, the collector of the zero potential connected via the fourth resistor 14 and the fifth resistor 15 to the base of the fifth transistor 16, the emitter is connected to the common bus, and the collector is connected via the sixth resistor 17 to the bus power supply (E) and directly to the second input of the logic converter 7.
Устройство работает следующим образом.The device works as follows.
Источник 12 опорного напр жени регулируетс таким образом, чтобы транзистор 9 был открыт при напр жении на щупе 10, не превыщающем верхнего значени «О. Источник 13 опорного напр жени регулируетс так, чтобы транзистор 11 открывалс только при напр жении на щупе 10, превышающем нижнее значение «1.The source 12 of the reference voltage is regulated so that the transistor 9 is open when the voltage on the probe 10 does not exceed the upper value "O. The source 13 of the reference voltage is adjusted so that the transistor 11 is opened only when the voltage on the probe 10 exceeds the lower value "1.
На щуп 10 подан «О. Ключ 1 замкнут. Транзисторы 11 и 3 закрыты и удерживают в закрытом состо нии транзисторы 16 и 5. Закрытый транзистор 5 обеспечивает «1 на первом входе логического преобразовател 7. «О на щупе 10 и эмиттере транзистора 9 открывает транзистор 9, который несмотр на закрытый транзистор 16 создает «О на втором входе логического преобразовател 7. Таким образом, на первом и втором входах логического преобразовател 7 присутствует код «10, который дешифрируетс логическим преобразователем 7 и визуализируетс индикатором 8 как «О.On the probe 10 served "O. Key 1 is closed. The transistors 11 and 3 are closed and the transistors 16 and 5 are kept in the closed state. The closed transistor 5 supplies "1 to the first input of the logic converter 7." O on the probe 10 and the emitter of the transistor 9 opens the transistor 9, which despite the closed transistor 16 creates " On the second input of the logic converter 7. Thus, on the first and second inputs of the logic converter 7, there is the code "10, which is decrypted by the logic converter 7 and visualized by the indicator 8 as" O.
На щуп 10 подана «1. Ключ 1 замкнут. Транзистор 9 закрыт высоким потенциалом «1 на эмиттере. Транзисторы 11 и 3 открыты и коллекторным током открывают транзисторы 16 и 5. Открытый транзистор 5On probe 10 is filed «1. Key 1 is closed. The transistor 9 is closed by a high potential "1 on the emitter. Transistors 11 and 3 are open and transistors 16 and 5 are opened by a collector current. Open transistor 5
создает «О на первом входе логического преобразовател 7. Открытый транзистор 16 несмотр на закрытый транзистор 9 обеспечивает «О на втором входе логического преобразовател 7. Таким образом, при «1 на щупе 10 на входах логического преобразовател 7 присутствует код «00, который дешифрируетс логическим преобразователем 7 и визуализируетс индикатором 8 какcreates an “O” at the first input of the logic converter 7. The open transistor 16 despite the closed transistor 9 provides “O at the second input of the logic converter 7. Thus, when“ 1 ”on the probe 10, the code“ 00 ”is decrypted by the logical the transducer 7 and is visualized by the indicator 8 as
5five
На щуп 10 подан промежуточный межQ ду «О и «1 уровень сигнала от низкоом- ного источника. Ключ 1 замкнут. Сигнал на щупе 10, превыщающий уровень «О открывает транзистор 3 и током коллектора открывает транзистор 5, который создает «О на первом входе логического преобразовател The probe 10 is supplied with an intermediate level between “O” and “1 signal level from a low-impedance source. Key 1 is closed. The signal on the probe 10, which exceeds the level “O opens transistor 3 and the collector current opens transistor 5, which creates“ O on the first input of the logic converter
5 7. Транзисторы 11 и 9 закрыты и совместно обеспечивают «1 на втором входе. Таким образом, на входах логического преобразовател присутствует код «01, который де- щифрируетс логическим преобразователем 7 и визуализируетс индикатором 8 как про0 межуточный между «О и «1.5 7. Transistors 11 and 9 are closed and together provide “1” at the second input. Thus, at the inputs of the logic converter there is a code "01, which is deciphered by the logic converter 7 and visualized by the indicator 8 as an intermediate between" O and "1.
Щуп 10 подключен к выводу с высоко- импедансным состо нием (или обрыв). Ключ 1 замкнут. Высокоомный вывод логического элемента, хот и имеет в свободном состо нии потенциал, промежуточный между «О и «1, но не обладает нагрузочной способностью , т. е. не способен при подключенном резисторе 2 обеспечить транзистору 5 ток база-эмиттер, достаточный дл открывани транзистора 5. Транзистор 5 закрыт,The probe 10 is connected to the output in a high impedance state (or break). Key 1 is closed. The high-resistance output of a logic element, although it has a potential in a free state, is intermediate between "O and" 1, but does not have a load capacity, i.e., when connected to a resistor 2, it is not enough for the transistor 5 to have a base-emitter current to open the transistor 5. Transistor 5 is closed,
Q что вызывает «1 на первом входе блока 7. Транзисторы 11 и 9 также закрыты, так как отсутствует ток база-эмиттер, и, следовательно , создают «1 на втором входе блока 7. Таким образом, при замкнутом ключе 1 и высокоимпедансном состо нии на щупе 10Q which causes "1 at the first input of block 7. Transistors 11 and 9 are also closed, since there is no base-emitter current, and therefore they create" 1 at the second input of block 7. Thus, when key 1 is closed and high-impedance state is on dipstick 10
5 на входах блока 7 присутствует код «11, который распознаетс как высокоимпеданс- ное состо ние.5 at the inputs of block 7 there is a code "11, which is recognized as a high-impedance state.
Высокоомный вывод логического элемента может быть входом элемента или вы- .. ходом, наход щимс в высокоимпедансном состо нии.The high impedance output of a logic element can be an input element or an output that is in a high-impedance state.
Высокоомный вывод логического элемента может быть входом элемента или выходом , наход щимс в высокоомном состо - ннии. Входной ток логического элемента на J пор док превосходит ток короткого замыкани выхода, наход щегос в высокоимпедансном состо нии. Это свойство позвол ет отличить вход от выхода в высокоимпедансном состо нии. Размыкание ключа 1 устран ет шунтирующее действие резистора 2 и ток входа провер емого логического элемента через щуп 10, транзистор 3 по цепи база- эмиттер транзистора 5 открывает транзистор 5, что вызывает «О на первом входе блока 7. Тока выхода в высокоимпедансном состо нии недостаточно дл открывани транзистора 5 по этой же цепи, и транзистор 5 остаетс закрытым, на первом входе блока 7 «1 не измен етс .The high impedance output of a logic element can be an input element or an output that is in a high impedance state. The input current of the logic element is by J order greater than the short-circuit current of an output that is in a high-impedance state. This property allows us to distinguish an input from an output in a high-impedance state. Opening the key 1 eliminates the shunting effect of the resistor 2 and the input current of the checked logic element through the probe 10, the transistor 3 through the base-emitter circuit of the transistor 5 opens the transistor 5, which causes "O on the first input of the block 7. The output current in the high impedance state is not enough to open the transistor 5 along the same circuit, and the transistor 5 remains closed, at the first input of the block 7 "1 does not change.
Таким образом, при замкнутом ключе 1 на входах логического преобразовател 7 в зависимости от сигнала на щупе 10 присутствуют коды: логический ноль - 10; логическа единица - 00; промежуточный уровень между «О и «1 - 01; высокоим- педансное состо ние - 11.Thus, when the key is closed, 1 at the inputs of the logic converter 7, depending on the signal on the probe 10, there are codes: logical zero - 10; logical unit - 00; intermediate level between “О and“ 1 - 01; high impedance state - 11.
После обнаружени высокоимпедансного состо ни размыканием ключа 1 различают вход логического элемента от выхода в высокоимпедансном состо нии. Код «01 на входах блока 7 соответствует входу логического элемента, а код «11 - выходу в высокоимпедансном состо нии.After a high-impedance state is detected by opening the key 1, the input of the logic element is distinguished from the output in the high-impedance state. The code "01 at the inputs of block 7 corresponds to the input of the logic element, and the code" 11 to the output in a high impedance state.
Остальные элементы устройства имеют следующее назначение.The remaining elements of the device have the following purpose.
соединен с коллектором третьего транзис- Резисторы 4 и 15 обеспечивают рабочий 25 тора, эмиттер которого соединен со щупом.connected to the collector of the third transistor; Resistors 4 and 15 provide a working torus 25, the emitter of which is connected to the probe.
режим транзисторов 5 и 16. Резистор 14 служит нагрузкой дл логического элемента при уровне «1. Резисторы 6 и 17 вл ютс нагрузкой транзисторов 5 и 16.the mode of transistors 5 and 16. Resistor 14 serves as a load for a logic element at level “1. Resistors 6 and 17 are the load of transistors 5 and 16.
Таким образом, логический преобразователь может быть реализован с помощью посто нного запоминающего устройства (ПЗУ) форматом, обеспечивающим хранение четырех семиразр дных слов. В качестве индикатора может быть применен светодиодный семисегментный индикатор.Thus, the logic converter can be implemented using a read-only memory (ROM) format that provides storage of four seven-bit words. A seven-segment LED indicator can be used as an indicator.
Предлагаемое устройство позвол ет отличить вход логического элемента от выхода в высокоимпедансном состо нии и исключитьThe proposed device allows to distinguish the input of the logic element from the output in the high-impedance state and exclude
30thirty
3535
а база третьего транзистора соединена с выходом первого регулируемого источника опорного напр жени и с базой первого транзистора , эмиттер которого соединен со щупом и эмиттером четвертого транзистора, база которого соединена с выходом второго регулируемого источника опорного напр жени , коллектор четвертого транзистора через четвертый резистор соединен с общей шиной и через п тый резистор с базой п того транзистора , эмиттер которого соединен с общей шиной, коллектор соединен через шестой резистор с шиной питани и непосредственно с вторым входом логического преобразовател .and the base of the third transistor is connected to the output of the first adjustable voltage source and to the base of the first transistor, the emitter of which is connected to the probe and emitter of the fourth transistor, the base of which is connected to the output of the second adjustable voltage source, the fourth transistor is connected to the common transistor bus and through the fifth resistor with the base of the fifth transistor, the emitter of which is connected to the common bus, the collector is connected through the sixth resistor to the power bus and directly on a second input of the logic inverter.
00
на щупе потенциал, превышающий уровень напр жени питани .on the probe potential greater than the supply voltage level.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843769728A SU1228055A1 (en) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | Probe for testing signals of digital microcircuits |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843769728A SU1228055A1 (en) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | Probe for testing signals of digital microcircuits |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1228055A1 true SU1228055A1 (en) | 1986-04-30 |
Family
ID=21130296
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843769728A SU1228055A1 (en) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | Probe for testing signals of digital microcircuits |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1228055A1 (en) |
-
1984
- 1984-07-09 SU SU843769728A patent/SU1228055A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 883809, кл. G 01 R 31/28, 1982. Авторское свидетельство СССР № 513330, кл. G 01 R 31/28, 1976. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0141681B1 (en) | Test input multiplexing circuit | |
JP3304355B2 (en) | Test equipment | |
KR890004500A (en) | Output buffer | |
KR890004486A (en) | Buffer circuit | |
EP0252325A3 (en) | Semiconductor device having a fuse circuit and a detecting circuit for detecting the states of the fuses in the fuse circuit | |
IE53832B1 (en) | Semiconductor integrated circuit device with test circuit | |
US4791312A (en) | Programmable level shifting interface device | |
IE823102L (en) | Test circuit | |
US4943740A (en) | Ultra fast logic | |
US4814638A (en) | High speed digital driver with selectable level shifter | |
SU1228055A1 (en) | Probe for testing signals of digital microcircuits | |
JPS6238616A (en) | Output circuit | |
JPH05267464A (en) | Semiconductor device | |
JPH03229177A (en) | Integrated circuit having first and second circuits | |
JPH0231896B2 (en) | ||
KR890004531Y1 (en) | Testing circuit of integrated circuit | |
SU1185590A1 (en) | Threshold device | |
SU1372239A1 (en) | D.c.voltage drop indicator | |
SU1026311A1 (en) | Device for transmitting discrete signals | |
JPH0529938A (en) | Controller | |
SU1705781A2 (en) | Probe for resting signals of digital microcircuits | |
SU1173545A1 (en) | Transistorized switch | |
JPH04243158A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
EP0250007A2 (en) | TTL Buffer circuit | |
JP3194740B2 (en) | Semiconductor integrated circuit capable of measuring leak current |