RU2020131464A - Способ и система определения местоположения артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце - Google Patents

Способ и система определения местоположения артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце Download PDF

Info

Publication number
RU2020131464A
RU2020131464A RU2020131464A RU2020131464A RU2020131464A RU 2020131464 A RU2020131464 A RU 2020131464A RU 2020131464 A RU2020131464 A RU 2020131464A RU 2020131464 A RU2020131464 A RU 2020131464A RU 2020131464 A RU2020131464 A RU 2020131464A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
mineral
sample
artifacts
optical beam
inclusions
Prior art date
Application number
RU2020131464A
Other languages
English (en)
Inventor
Роланд ФЛЕДДЕРМАНН
Чон Хан ЧО
Адриан Пол ШЕППАРД
Тимоти Джон ЗЕНДЕН
Шейн Джейми ЛЕЙТАМ
Кэшу ХУАН
Original Assignee
Те Острейлиан Нэшнл Юниверсити
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from AU2018900677A external-priority patent/AU2018900677A0/en
Application filed by Те Острейлиан Нэшнл Юниверсити filed Critical Те Острейлиан Нэшнл Юниверсити
Publication of RU2020131464A publication Critical patent/RU2020131464A/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G06T7/0008—Industrial image inspection checking presence/absence
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • G01B11/005—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/04—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures
    • G01B15/045—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures by measuring absorption
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02—Interferometers
    • G01B9/02015—Interferometers characterised by the beam path configuration
    • G01B9/02029—Combination with non-interferometric systems, i.e. for measuring the object
    • G01B9/0203—With imaging systems
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02—Interferometers
    • G01B9/02015—Interferometers characterised by the beam path configuration
    • G01B9/02029—Combination with non-interferometric systems, i.e. for measuring the object
    • G01B9/02031—With non-optical systems, e.g. tactile
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02—Interferometers
    • G01B9/02083—Interferometers characterised by particular signal processing and presentation
    • G01B9/02087—Combining two or more images of the same region
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02—Interferometers
    • G01B9/0209—Low-coherence interferometers
    • G01B9/02091—Tomographic interferometers, e.g. based on optical coherence
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4795—Scattering, i.e. diffuse reflection spatially resolved investigating of object in scattering medium
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/87—Investigating jewels
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/389—Precious stones; Pearls
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F40/00—Handling natural language data
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/50—Depth or shape recovery
    • G06T7/521—Depth or shape recovery from laser ranging, e.g. using interferometry; from the projection of structured light
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/70—Determining position or orientation of objects or cameras
    • G06T7/73—Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods
    • G06T7/74—Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods involving reference images or patches
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
    • G01N2021/8861—Determining coordinates of flaws
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
    • G01N2021/8861—Determining coordinates of flaws
    • G01N2021/8864—Mapping zones of defects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/03—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission
    • G01N2223/04—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission and measuring absorption
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
    • G01N2223/3304—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts helicoidal scan
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/419—Imaging computed tomograph
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/646—Specific applications or type of materials flaws, defects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/652—Specific applications or type of materials impurities, foreign matter, trace amounts
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10028—Range image; Depth image; 3D point clouds
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10072—Tomographic images
    • G06T2207/10081—Computed x-ray tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10072—Tomographic images
    • G06T2207/10101—Optical tomography; Optical coherence tomography [OCT]
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108—Industrial image inspection

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Computational Linguistics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Audiology, Speech & Language Pathology (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Claims (30)

1. Способ определения местоположения артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце, содержащий этапы, на которых:
составляют карту поверхности драгоценного камня, минерала или их образца, чтобы определить рельеф поверхности, связанный по меньшей мере с участком поверхности драгоценного камня, минерала или их образца;
составляют подповерхностную карту драгоценного камня, минерала или его образца с использованием оптического луча, направленного на поверхность вдоль траектории оптического луча, причем оптический луч генерируют посредством оптического источника с использованием метода оптической томографии;
определяют нормаль поверхности на поверхности в точке пересечения траектории оптического луча с указанным определенным рельефом поверхности;
определяют относительное позиционирование между нормалью поверхности и траекторией оптического луча; и
определяют местоположение артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце на основе этапа составления подповерхностной карты и определенного относительного позиционирования.
2. Способ по п. 1, в котором на основе определенного относительного позиционирования, во время составления подповерхностной карты драгоценного камня, минерала или их образца указанные драгоценный камень, минерал или их образец и оптический луч перемещают друг относительно друга, с тем чтобы траектория оптического луча оказалась практически выровненной с нормалью поверхности в точке, где траектория оптического луча пересекает поверхность.
3. Способ по п. 1 или 2, в котором этап определения местоположения артефактов и/или включений содержит этапы, на которых генерируют исходный набор трехмерных координат артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце на основе начальной подповерхностной карты драгоценного камня, минерала или их образца и изменяют исходные трехмерные координаты на основе определенного относительного позиционирования, чтобы создать измененные трехмерные координаты артефактов и/или включений.
4. Способ по п. 3, в котором на этапе изменения определяют угол падения, который является углом между траекторией оптического луча и нормалью поверхности, и изменяют исходные трехмерные координаты на основе угла падения и одного или более параметров преломления, связанных с траекторией оптического луча и указанным драгоценным камнем, минералом или их образцом.
5. Способ по п. 1, в котором этап составления карты поверхности и этап составления подповерхностной карты выполняют одновременно как один этап составления карты.
6. Способ по п. 1, в котором этап составления карты поверхности выполняют до или после этапа составления подповерхностной карты.
7. Способ по п. 1, в котором на этапе составления карты поверхности определяют рельеф поверхности с использованием по меньшей мере одного из следующих методов: рентгеновская компьютерная томография, оптическая когерентная томография, лазерное сканирование и структурированное освещение.
8. Способ по п. 1, в котором на этапе составления подповерхностной карты применяют оптическую когерентную томографию и/или оптическую проекционную томографию.
9. Способ по п. 1, содержащий этап, на котором уточняют установленное местоположение артефактов и/или включений на основе согласованности результатов составления подповерхностной карты, полученных под разными углами обзора или в разных точках пересечения поверхности драгоценного камня, минерала или их образца.
10. Способ по п. 1, в котором этап определения местоположения содержит этапы определения трехмерных координат местоположения артефактов и/или включений и генерации трехмерной карты на основе определенных трехмерных координат.
11. Способ по п. 1, в котором артефакты представляют собой визуальные артефакты.
12. Система для определения местоположения артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце, содержащая:
устройство для составления карты поверхности, выполненное с возможностью составлять карту драгоценного камня, минерала или их образца, чтобы определить рельеф поверхности, связанный по меньшей мере с участком поверхности указанного драгоценного камня, минерала или их образца;
устройство для составления подповерхностной карты, выполненное с возможностью составления подповерхностной карты драгоценного камня, минерала или его образца с использованием оптического луча, направляемого на поверхность вдоль траектории оптического луча, причем оптический луч генерируется оптическим источником с использованием метода оптической томографии;
вычислительную систему, выполненную с возможностью определения нормали поверхности на поверхности в точке пересечения траектории оптического луча с установленным рельефом поверхности, определения относительного позиционирования между нормалью поверхности и траекторией оптического луча и определения местоположения артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце на основе этапа составления подповерхностной карты и установленного относительного позиционирования.
13. Система по п. 12, которая выполнена с возможностью, исходя из установленного относительного позиционирования, во время составления подповерхностной карты драгоценного камня, минерала или их образца, перемещать друг относительно друга драгоценный камень, минерал или их образец и оптический луч, так чтобы траектория оптического луча оказалась практически выровненной с нормалью поверхности в точке, где траектория оптического луча пересекает поверхность.
14. Система по п. 12 или 13, которая выполнена с возможностью определения местоположение артефактов и/или включений путем генерации исходного набора трехмерных координат артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце на основе начальной подповерхностной карты драгоценного камня, минерала или их образца и изменения исходных трехмерных координат на основе установленного относительного позиционирования, чтобы создать измененные трехмерные координаты артефактов и/или включений.
15. Система по п. 14, которая выполнена с возможностью изменения исходных трехмерных координат путем определения угла падения, который является углом между траекторией оптического луча и нормалью поверхности, и изменения исходных трехмерных координат на основе угла падения и одного или более параметров преломления, связанных с траекторией оптического луча и указанным драгоценным камнем, минералом или их образцом.
16. Система по п. 12, которая выполнена с возможностью выполнять этап составления карты поверхности и этап составления подповерхностной карты одновременно как один этап составления карты.
17. Система по п. 12, которая выполнена с возможностью выполнять этап составления карты поверхности до или после этапа составления подповерхностной карты.
18. Система по п. 12, в которой устройство для составления карты поверхности выполнено с возможностью определять рельеф поверхности с использованием по меньшей мере одного из следующих методов: рентгеновская компьютерная томография, оптическая когерентная томография, лазерное сканирование и структурированное освещение.
19. Система по п. 12, в которой устройство для составления подповерхностной карты выполнено с возможностью составлять подповерхностную карту с применением оптической когерентной томографии и/или оптической проекционной томографии.
20. Система по п. 12, в которой компьютерная система выполнена с возможностью уточнять определенное местоположение артефактов и/или включений на основе согласованности результатов составления подповерхностной карты, полученных под разными углами обзора или в разных точках пересечения поверхности драгоценного камня, минерала или их образца.
21. Система по п. 12, в которой компьютерная система выполнена с возможностью определять местоположение артефактов и/или включений путем определения трехмерных координат местоположения артефактов и/или включений и формирования трехмерной карты на основе определенных трехмерных координат.
22. Система по п. 12, в которой артефакты представляют собой визуальные артефакты.
RU2020131464A 2018-03-02 2019-03-04 Способ и система определения местоположения артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце RU2020131464A (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
AU2018900677A AU2018900677A0 (en) 2018-03-02 A method and system for determining the location of visual artefacts and/or inclusions in a gemstone, mineral or sample thereof
AU2018900677 2018-03-02
PCT/AU2019/050182 WO2019165514A1 (en) 2018-03-02 2019-03-04 A method and system for determining the location of artefacts and/or inclusions in a gemstone, mineral, or sample thereof

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2020131464A true RU2020131464A (ru) 2022-04-04

Family

ID=67804792

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2020131464A RU2020131464A (ru) 2018-03-02 2019-03-04 Способ и система определения местоположения артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце

Country Status (9)

Country Link
US (2) US11898962B2 (ru)
EP (1) EP3759471B1 (ru)
CN (1) CN112041667B (ru)
AU (1) AU2019227845A1 (ru)
CA (1) CA3092510A1 (ru)
IL (1) IL277014A (ru)
RU (1) RU2020131464A (ru)
SG (1) SG11202008510PA (ru)
WO (1) WO2019165514A1 (ru)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107219228A (zh) * 2017-06-29 2017-09-29 佛山科学技术学院 一种翡翠三维成像检测装置及其检测方法
EP4269004A4 (en) * 2020-12-24 2024-01-24 Sumitomo Electric Hardmetal Corp METHOD FOR PRODUCING DIAMOND TOOL INTERMEDIATE AND METHOD FOR EVALUATING SINGLE CRYSTAL DIAMOND
EP4291876A1 (en) * 2021-02-15 2023-12-20 The Australian National University A method for mapping an internal structure of a sample
CN113607747B (zh) * 2021-10-11 2021-12-10 常州微亿智造科技有限公司 基于光学相干断层扫描的覆膜产品检测***及检测方法

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5901198A (en) * 1997-10-10 1999-05-04 Analogic Corporation Computed tomography scanning target detection using target surface normals
ATE338946T1 (de) 2000-12-04 2006-09-15 Diamcad Verfahren und vorrichtung zur ortung von einschlüssen in einem diamantstein
US20030223054A1 (en) * 2002-05-29 2003-12-04 Natural Crystal Information Systems Method and apparatus for identifying gemstones
US7042556B1 (en) 2003-12-05 2006-05-09 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Device and nondestructive method to determine subsurface micro-structure in dense materials
US7755072B2 (en) * 2004-09-21 2010-07-13 Zvi Porat System and method for three-dimensional location of inclusions in a gemstone
IL181484A0 (en) * 2007-02-21 2007-07-04 Haim Shlezinger A method for evaluation of a gemstone
US7800741B2 (en) * 2005-08-22 2010-09-21 Galatea Ltd. Method for evaluation of a gemstone
EP2225731B1 (en) 2007-11-27 2011-03-30 Ideal-Scope Pty. Ltd. Method and system for improved optical modeling of gemstones
GB0919235D0 (en) * 2009-11-03 2009-12-16 De Beers Centenary AG Inclusion detection in polished gemstones
JP5198515B2 (ja) 2010-07-29 2013-05-15 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 画像形成装置
KR101545419B1 (ko) * 2011-02-10 2015-08-18 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 이물 검출 장치 및 이물 검출 방법
DE102011087460B3 (de) * 2011-11-30 2013-06-06 Intego Gmbh Verfahren sowie Vorrichtung zur Überprüfung eines optisch transparenten Körpers auf Fehlstellen
US9853786B2 (en) 2013-03-13 2017-12-26 Lg Electronics Inc. Method and device for reporting channel state information in wireless communication system
WO2014203266A1 (en) * 2013-06-18 2014-12-24 Arvindbhai Lavjibhai Patel Method and device for gemstone evolution
GB201421837D0 (en) * 2014-12-09 2015-01-21 Reishig Peter A method of generating a fingerprint for a gemstone using X-ray imaging
US10458921B2 (en) * 2015-12-21 2019-10-29 The Regents Of The University Of California Method to characterize cut gemstones using optical coherence tomography
JP6017105B1 (ja) 2016-01-19 2016-10-26 三菱電機株式会社 ガス遮断器
US11464206B2 (en) 2020-03-04 2022-10-11 Ara Ohanian Portable pet washing station

Also Published As

Publication number Publication date
WO2019165514A1 (en) 2019-09-06
SG11202008510PA (en) 2020-10-29
US20210041369A1 (en) 2021-02-11
US20240133822A1 (en) 2024-04-25
CN112041667A (zh) 2020-12-04
CA3092510A1 (en) 2019-09-06
EP3759471A4 (en) 2021-04-28
IL277014A (en) 2020-10-29
CN112041667B (zh) 2024-05-31
AU2019227845A1 (en) 2020-09-24
EP3759471B1 (en) 2024-05-15
EP3759471A1 (en) 2021-01-06
US11898962B2 (en) 2024-02-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2020131464A (ru) Способ и система определения местоположения артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце
US20170154436A1 (en) Stereoscopic vision three dimensional measurement method and system for calculating laser speckle as texture
US20160004926A1 (en) System for accurate 3d modeling of gemstones
JP2016515890A5 (ru)
DE502005000027D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum optischen Abtasten von Objekten
JP2008507682A5 (ru)
ATE502563T1 (de) Verfahren zur durchführung eines kontrastsehtests
JP2007521491A (ja) 高速マルチプルライン三次元デジタル化法
US10030970B2 (en) Image measuring apparatus and measuring apparatus
WO2011106469A3 (en) Display method and system for enabling an operator to visualize and correct alignment errors in imaged data sets
JP6357622B2 (ja) 作業支援装置、作業支援システム、作業支援方法およびプログラム
CN107796718A (zh) 布氏硬度测量***及方法
Sulej et al. The membrane shape mapping of the artificial ventricle in the actual dimensions
JP6833575B2 (ja) 歩行支援装置、歩行支援方法、及びプログラム
US10382678B2 (en) Image generation apparatus and image generation method
Wang et al. Measurement of mirror surfaces using specular reflection and analytical computation
RU2013123952A (ru) Способ определения координат контрольной точки объекта с применением наземного лазерного сканера
KR101879967B1 (ko) 스테레오리소그라피 공정에 의해 제조된 물체의 지지 요소의 디벨롭먼트 포인트를 정의하기 위한 개선된 컴퓨터-구현 방법
US20210390330A1 (en) System and method for determining the traceability of gemstones based on gemstone modeling
CN1702824A (zh) 形貌仿真***、形貌仿真方法以及计算机产品
CN105241393B (zh) 高精度便携式光学表面三维形貌在线检测仪
JP2007093392A (ja) ３次元形状評価方法及び３次元形状評価装置
CN110291475A (zh) 物体表面的评价方法、评价装置及使用该评价方法的工件的加工方法及机床
JP6820515B2 (ja) 表面形状測定装置及び表面形状測定方法
CN102509340B (zh) 一种基于变形的叶脉可视化造型方法