NL166576C - Afbuiginrichting voor de elektronenbundel in een elektronenmicroscoop. - Google Patents

Afbuiginrichting voor de elektronenbundel in een elektronenmicroscoop.

Info

Publication number
NL166576C
NL166576C NL7018708.A NL7018708A NL166576C NL 166576 C NL166576 C NL 166576C NL 7018708 A NL7018708 A NL 7018708A NL 166576 C NL166576 C NL 166576C
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
electron
deflector
electron beam
electron microscope
microscope
Prior art date
Application number
NL7018708.A
Other languages
English (en)
Other versions
NL7018708A (nl
NL166576B (nl
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Publication of NL7018708A publication Critical patent/NL7018708A/xx
Publication of NL166576B publication Critical patent/NL166576B/nl
Application granted granted Critical
Publication of NL166576C publication Critical patent/NL166576C/nl

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N3/00—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
    • H04N3/10—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical
    • H04N3/16—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by deflecting electron beam in cathode-ray tube, e.g. scanning corrections
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/46—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the ray or beam, e.g. electron-optical arrangement
    • H01J29/70—Arrangements for deflecting ray or beam
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02—Details
    • H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/147—Arrangements for directing or deflecting the discharge along a desired path
    • H01J37/1472—Deflecting along given lines
    • H01J37/1474—Scanning means
    • H01J37/1475—Scanning means magnetic
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02—Details
    • H01J37/24—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the tube and not otherwise provided for

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
NL7018708.A 1969-12-25 1970-12-23 Afbuiginrichting voor de elektronenbundel in een elektronenmicroscoop. NL166576C (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP44104540A JPS4922351B1 (nl) 1969-12-25 1969-12-25

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NL7018708A NL7018708A (nl) 1971-06-29
NL166576B NL166576B (nl) 1981-03-16
NL166576C true NL166576C (nl) 1981-08-17

Family

ID=14383310

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL7018708.A NL166576C (nl) 1969-12-25 1970-12-23 Afbuiginrichting voor de elektronenbundel in een elektronenmicroscoop.

Country Status (5)

Country Link
US (1) US3749964A (nl)
JP (1) JPS4922351B1 (nl)
DE (1) DE2063598B2 (nl)
GB (1) GB1340209A (nl)
NL (1) NL166576C (nl)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4209698A (en) * 1971-12-28 1980-06-24 Max-Planck-Gesellschaft Zur Forderung Der Wissenschaften E.V. Transmission-type charged particle beam apparatus
US3914608A (en) * 1973-12-19 1975-10-21 Westinghouse Electric Corp Rapid exposure of micropatterns with a scanning electron microscope
JPS55121259A (en) * 1979-03-14 1980-09-18 Hitachi Ltd Elelctron microscope
DE2937136A1 (de) * 1979-09-13 1981-04-02 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren und vorrichtung zur schnellen ablenkung eines korpuskularstrahls
JPS57212754A (en) * 1981-06-24 1982-12-27 Hitachi Ltd Electron-beam controller for electron microscope
US4687936A (en) * 1985-07-11 1987-08-18 Varian Associates, Inc. In-line beam scanning system
JP2591548B2 (ja) * 1991-07-26 1997-03-19 富士通株式会社 荷電粒子線露光装置及び荷電粒子線露光方法
DE59309505D1 (de) * 1992-02-20 1999-05-20 Thomson Brandt Gmbh Ablenkschaltung für einen Fernsehempfänger mit symmetrischer Ablenkung
JP2002170764A (ja) * 2000-12-04 2002-06-14 Nikon Corp 荷電粒子線露光装置、荷電粒子線露光装置の調整方法及び半導体デバイスの製造方法
JP5097512B2 (ja) * 2006-11-21 2012-12-12 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子ビーム用軌道補正器、及び荷電粒子ビーム装置
DE102015210941B9 (de) * 2015-06-15 2019-09-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Teilchenstrahlgerät und Verfahren zum Betrieb eines Teilchenstrahlgeräts
WO2018042505A1 (ja) * 2016-08-30 2018-03-08 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 電磁偏向器、及び荷電粒子線装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USB326594I5 (nl) * 1960-07-08
DE1227272B (de) * 1963-06-08 1966-10-20 Telefunken Patent Schaltungsanordnung zur Erzeugung eines Signals, z. B. eines Helltast-Ausloesesignals in Elektronenstrahlroehren, nach Ablauf eines Einstellvorganges
US3427494A (en) * 1965-10-28 1969-02-11 Ibm Corrected deflection circuit for cathode ray tube
DE1299088C2 (de) * 1966-06-10 1974-10-17 Siemens AG, Berlin und München, 8000 München Ablenkeinrichtung fuer den korpuskularstrahl in einem korpuskularstrahlgeraet, insbesondere elektronenmikroskop
US3417284A (en) * 1966-08-31 1968-12-17 Sperry Rand Corp Electromagnetic gross beam positioning system
US3500114A (en) * 1967-08-24 1970-03-10 Sony Corp Convergence system for a color picture tube
US3540032A (en) * 1968-01-12 1970-11-10 Ibm Display system using cathode ray tube deflection yoke non-linearity to obtain curved strokes
US3480827A (en) * 1969-01-14 1969-11-25 Ibm Flyback in double-yoke-drive cathode ray tubes

Also Published As

Publication number Publication date
NL7018708A (nl) 1971-06-29
JPS4922351B1 (nl) 1974-06-07
GB1340209A (en) 1973-12-12
NL166576B (nl) 1981-03-16
DE2063598B2 (de) 1974-09-05
DE2063598A1 (de) 1971-07-08
US3749964A (en) 1973-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL172103C (nl) Magnetische afbuiginrichting voor een elektronenbundel.
NL7510002A (nl) Werkwijze voor de bereiding van een slagbesten- dig polymeer.
NL166576C (nl) Afbuiginrichting voor de elektronenbundel in een elektronenmicroscoop.
NL160978C (nl) Elektronenafbeeldingsstelsel voor het scherp afbeelden en afbuigen van een elektronenbundel.
NL147883B (nl) Aftastelektronenmicroscoop.
NL188191C (nl) Afbuigjuk voor een in-lijnelektronenstraalbuis.
NL147578B (nl) Inrichting voor het bestralen van materialen met een elektronenbundel.
NL170198C (nl) Elektronenstraalbuis voor het weergeven van gekleurde beelden.
NL167544C (nl) Geheugentrefplaat voor een elektronenstraalbuis en werkwijze voor de vervaardiging daarvan.
NL165603C (nl) Elektronenbundel-afbuigstelsel voor een kleurenelektro- nenstraalbuis.
NL173799C (nl) Inrichting voor de analyse van de energieverdeling van elektronen in een bundel.
NL156860B (nl) Inrichting voor het verdampen met behulp van een elektronenstraal.
NL147579B (nl) Werkwijze en inrichting voor het justeren van de elektronenbundel in een elektronenmicroscoop.
CA927635A (en) Light beam deflector
NL7605955A (nl) Met corpusculaire stralen werkende microscoop, in het bijzonder een elektronenmicroscoop.
NL153346B (nl) Magnetisch afbuigstelsel voor een elektronenstraalbuis.
NL167052C (nl) Inrichting voor het focusseren van een elektronenbundel.
NL163364C (nl) Inrichting met een elektronenstraalbuis voor kleuren- weergave, alsmede elektronenstraalbuis als onderdeel daarvan.
NL144430B (nl) Rooster voor een elektronenbuis.
NL165329C (nl) Dynode voor een elektronenvermenigvuldiger.
AT296639B (de) Hochleistungs-Strahlerzeugungs-System für Elektronenstrahlen, insbesondere für Elektronenstrahl-Öfen
CA819870A (en) Electron beam device
DE2238896B2 (de) Korpuskularstrahlgeraet, insbesondere elektronenmikroskop
NL168364C (nl) Beeldvormingsinrichting met een elektronenstraalbuis, alsmede elektronenstraalbuis als onderdeel daarvan.
FR1487438A (fr) Source de faisceau d'électrons non thermoionique

Legal Events

Date Code Title Description
V4 Discontinued because of reaching the maximum lifetime of a patent