KR970072681A - 기판 바이어스가 분리된 회로에서의 정전기 보호회로 - Google Patents
기판 바이어스가 분리된 회로에서의 정전기 보호회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR970072681A KR970072681A KR1019960009993A KR19960009993A KR970072681A KR 970072681 A KR970072681 A KR 970072681A KR 1019960009993 A KR1019960009993 A KR 1019960009993A KR 19960009993 A KR19960009993 A KR 19960009993A KR 970072681 A KR970072681 A KR 970072681A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- electrostatic protection
- substrate bias
- circuit
- protection circuit
- driver
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract 9
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims abstract 5
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims abstract 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00315—Modifications for increasing the reliability for protection in field-effect transistor circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/16—Modifications for eliminating interference voltages or currents
- H03K17/161—Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches
- H03K17/162—Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches without feedback from the output circuit to the control circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/0203—Particular design considerations for integrated circuits
- H01L27/0248—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection
- H01L27/0251—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection for MOS devices
- H01L27/0266—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection for MOS devices using field effect transistors as protective elements
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/081—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/08104—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit in field-effect transistor switches
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
본 발명은 기판 바이어스가 분리된 회로의 본딩 패드를 통해 유입되는 정전기로부터 내부회로를 보호하기 위한 정전기 보호회로를 각 전원단에 대해 구성함으로써, 기판 바이어스가 분리된 회로의 세가지 각 전원단뿐만 아니라 인가될 수 있는 모든 경우의 정전기 펄스에 대해 모두 우수한 정전기 특성을 얻을 수 있는 기판 바이어스가 분리된 회로에서의 정전기 보호회로에 관한 것인 바, 그 특징은 본딩 패드(1)(2)를 통해 유입되는 정전기로부터 입/출력단 버퍼 및 드라이버를 보호하기 위한 정전기 보호수단(11)(12)(21)(22)을 기판 바이어스가 분리된 회로의 각 전원단(Vdd)(Vss)(Vbb)에 대해 구성하여 입/출력단 버퍼(10) 및 드라이버(20)에 연결함에 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
Claims (6)
- 본딩 패드(1)(2)를 통해 유입되는 정전기로부터 입/출력단 버퍼 및 드라이버를 보호하기 위한 정전기 보호수단(11)(12)(21)(22)을 기판 바이어스가 분리된 회로의 각 전원단(Vdd)(Vss)(Vbb)에 대해 구성하여 입/출력단 버퍼(10) 및 드라이버(20)에 연결하는 것을 특징으로 하는 기판 바이어스가 분리된 회로에서의 정전기 보호회로.
- 제1항에 있어서, 상기 정전기 보호수단(11)(21)은 각각 3개의 N모드 트랜지스터로 구성하는 것을 특징으로 하는 기판 바이어스가 분리된 회로에서의 정전기 보호회로.
- 제1항에 있어서, 상기 정전기 보호수단(12)(22)은 각각 3개의 P모드 트랜지스터로 구성하는 것을 특징으로하는 기판 바이어스가 분리된 회로에서의 정전기 보호회로.
- 제2항 및 제3항에 있어서, 상기 정전기 보호수단(11)(12)(21)(22)은 3개의 N모스 트랜지스터의 기판 바이어스를 분리하여 별도의 전원단(Vbb)에 연결하는 것을 특징으로 하는 기판 바이어스가 분리된 회로에서의 정전기 보호회로.
- 제1항에 있어서, 상기 정전기 보호수단(11)(12)이 연결되는 입력단 버퍼(10)와 본딩 패드(1) 사이에 저항을 직렬로 연결하는 것을 특징으로 하는 기판 바이어스가 분리된 회로에서의 정전기 보호회로.
- 제1항에 있어서, 상기 정전기 보호수단(21)(22)이 연결되는 출력단 드라이버(20)와 본딩 패드(2) 사이에 저항을 직렬로 연결하는 것을 특징으로 하는 기판 바이어스가 분리된 회로에서의 정전기 보호회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960009993A KR970072681A (ko) | 1996-04-03 | 1996-04-03 | 기판 바이어스가 분리된 회로에서의 정전기 보호회로 |
NL1005704A NL1005704C2 (nl) | 1996-04-03 | 1997-04-02 | Veiligheidsschakeling tegen statische elektriciteit in een schakeling die geïsoleerd is van substraatvoorspanning. |
FR9704006A FR2747246B1 (fr) | 1996-04-03 | 1997-04-02 | Circuit de protection contre de l'electricite statique dans un circuit isole d'une polarisation du substrat |
KR1019970012115A KR100212160B1 (en) | 1996-04-03 | 1997-04-02 | Electrostatic protection circuit |
US08/826,594 US5883540A (en) | 1996-04-03 | 1997-04-03 | Electrostatic protection circuit of an input/output circuit of a semiconductor device |
JP08482897A JP3619632B2 (ja) | 1996-04-03 | 1997-04-03 | 入力または出力のバッファ回路における静電気保護回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960009993A KR970072681A (ko) | 1996-04-03 | 1996-04-03 | 기판 바이어스가 분리된 회로에서의 정전기 보호회로 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970072681A true KR970072681A (ko) | 1997-11-07 |
Family
ID=19454936
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960009993A KR970072681A (ko) | 1996-04-03 | 1996-04-03 | 기판 바이어스가 분리된 회로에서의 정전기 보호회로 |
KR1019970012115A KR100212160B1 (en) | 1996-04-03 | 1997-04-02 | Electrostatic protection circuit |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970012115A KR100212160B1 (en) | 1996-04-03 | 1997-04-02 | Electrostatic protection circuit |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5883540A (ko) |
JP (1) | JP3619632B2 (ko) |
KR (2) | KR970072681A (ko) |
FR (1) | FR2747246B1 (ko) |
NL (1) | NL1005704C2 (ko) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11355123A (ja) * | 1998-06-11 | 1999-12-24 | Mitsubishi Electric Corp | 動的しきい値mosトランジスタを用いたバッファ |
KR100384785B1 (ko) * | 1999-06-29 | 2003-05-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 정전기 방지 회로 |
JP3573674B2 (ja) | 1999-12-27 | 2004-10-06 | Necエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路の入出力保護装置とその保護方法 |
US6291964B1 (en) * | 2000-01-21 | 2001-09-18 | United Microelectronics Corp. | Multiple power source electrostatic discharge protection circuit |
KR100337923B1 (ko) * | 2000-07-24 | 2002-05-24 | 박종섭 | Esd 보호 장치 |
EP1313145A1 (en) * | 2001-11-19 | 2003-05-21 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Amplifier circuit apparatus and method of EMI suppression |
KR100429425B1 (ko) * | 2001-12-21 | 2004-05-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 정전기 방전 보호 회로 |
JP2004304136A (ja) * | 2003-04-01 | 2004-10-28 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体装置 |
US7057450B2 (en) * | 2003-07-30 | 2006-06-06 | Winbond Electronics Corp. | Noise filter for an integrated circuit |
US7969704B2 (en) * | 2007-10-01 | 2011-06-28 | Broadcom Corporation | Snubber circuit |
CN103325784B (zh) * | 2013-06-09 | 2015-11-25 | 电子科技大学 | 基于忆阻器的芯片静电保护电路 |
CN105246286B (zh) * | 2015-11-17 | 2018-06-01 | 上海一旻成峰电子科技有限公司 | 电力半导体器件综合保护装置及制备方法 |
FR3063574B1 (fr) * | 2017-03-03 | 2019-05-03 | Stmicroelectronics Sa | Dispositif compact de protection d'un circuit integre contre les decharges electrostatiques |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0691196B2 (ja) * | 1984-07-25 | 1994-11-14 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置 |
US5343352A (en) * | 1989-01-20 | 1994-08-30 | Nec Corporation | Integrated circuit having two circuit blocks energized through different power supply systems |
JPH07335834A (ja) * | 1994-06-07 | 1995-12-22 | Nippon Motorola Ltd | 半導体集積回路装置の出力ドライバ |
JPH088391A (ja) * | 1994-06-17 | 1996-01-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体回路 |
-
1996
- 1996-04-03 KR KR1019960009993A patent/KR970072681A/ko active Search and Examination
-
1997
- 1997-04-02 NL NL1005704A patent/NL1005704C2/nl not_active IP Right Cessation
- 1997-04-02 FR FR9704006A patent/FR2747246B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1997-04-02 KR KR1019970012115A patent/KR100212160B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1997-04-03 JP JP08482897A patent/JP3619632B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1997-04-03 US US08/826,594 patent/US5883540A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR970072701A (ko) | 1997-11-07 |
FR2747246A1 (fr) | 1997-10-10 |
JPH1070450A (ja) | 1998-03-10 |
US5883540A (en) | 1999-03-16 |
KR100212160B1 (en) | 1999-08-02 |
NL1005704C2 (nl) | 2000-02-15 |
FR2747246B1 (fr) | 2000-12-22 |
JP3619632B2 (ja) | 2005-02-09 |
NL1005704A1 (nl) | 1997-10-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970072681A (ko) | 기판 바이어스가 분리된 회로에서의 정전기 보호회로 | |
US5512844A (en) | Output circuit with high output voltage protection means | |
KR940017215A (ko) | 과전압 보호기능을 지니는 저(low)전압 입력 및 출력회로 | |
KR970072397A (ko) | 반도체 장치 | |
KR960012464A (ko) | 트랜지스터 보호회로 | |
KR890012398A (ko) | Mos형 반도체장치의 입력보호회로 | |
KR920015365A (ko) | 입출력 버퍼회로 | |
KR950012707A (ko) | 반도체 장치 | |
KR920017126A (ko) | 복수의 인터페이스 레벨을 출력 가능한 반도체 집적 회로장치 | |
SE0102960D0 (sv) | An arrangement for ESD protection of an integrated circuit | |
KR970030783A (ko) | 반도체 집적 회로를 보호하기 위한 정전 보호 디바이스 | |
KR970024162A (ko) | 풀업 또는 풀다운 저항을 갖는 반도체 장치(a semiconductor device having pull-up or pull-down resistance) | |
US5335134A (en) | Circuit configuration for protecting terminals of integrated circuits | |
EP0375037A3 (en) | Protection of power integrated circuits against load voltage surges | |
KR960030397A (ko) | 반도체집적회로의 보호회로 | |
KR100674951B1 (ko) | Esd 보호 회로를 구비하는 반도체 소자 | |
KR970072377A (ko) | 보호 회로 | |
KR100324323B1 (ko) | 반도체 장치의 정전방전 보호 회로 | |
KR970060479A (ko) | 반도체장치 | |
KR970003927A (ko) | 전자기 방사가 감소된 반도체 장치 | |
KR930009104A (ko) | 집적회로 보호용 회로구성 | |
KR960025766A (ko) | 정전기 방전 보호 회로 | |
KR970051077A (ko) | 반도체 메모리 장치의 입력 패드의 회로 | |
KR960001423Y1 (ko) | 이에스디 개선회로 | |
KR970017759A (ko) | 반도체 장치의 퓨즈용단 선택회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination |