KR960705187A - 자기저항성 선형 변위센서, 각 변위센서 및, 가변저항 - Google Patents

자기저항성 선형 변위센서, 각 변위센서 및, 가변저항

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Abstract

적어도 하나의 층구조를 포함하는 거대 자기저항 변위센서이다. 이 층구조는 두층들 사이에 결합을 막도록 이들 두층(32,34) 사이에 접촉토록 끼워진 금속층(33), 제2연질 자성층(32), 고정된 자성상태를 가지는 경질자성층(강자성 또는 반강자성 층(34)을 포함한다. 이센서는 또한 연질 자성층(32)내의 비정렬 자계 영역(35,36) 사이에서 측정위치에 영역벽(37)을 유도시키는 수단(56,58)과, 구조의 반대측지점사이에 전기저항을 측정하는 수단(50)을 포함한다. 동작시 영역벽을 유도하는 수단(56,58), 주로 적어도 하나의 인덱싱 마그네트(56,58)는 거대자기 저항스트립에 대응토록 위치된다. 스트립을 가로지르는 저항은 측정되며, 이 저항 측정으로부터 영역벽의 위치가 결정된다. 본 발명은 또한 가변저항으로, 선택위치에서 영역벽을 유도시키기 위한 수단(56,58)을 위치시켜 소망하는 값으로 스트립을 가로지르는 저항을 세트시킨다.

Description

자기저향성 선형 변위센서, 각 변위센서 및 가변저항
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 정렬된 자계층들을 가지는 라미네이트 구조의 단면도이다.
제2도는 반대의 자계층들을 가지는 라미네이트 구조의 단면도이다.
제3도는 반대의 자계 영역들을 분리시키고, 자성층들 중의 하나에 영역별을 가지는 라미네이트 구조의 측면도로, 제3A도는 반대의 자계 영역들을 분리시키고, 자성층들 중의 하나에 영역벽을 가지며, 고정된 자성상태를 가지는 반강자성-핀층을 가지는 라미네이트 구조의 측면도이다.
제4도는 본 발명의 바람직한 구성의 단면도이다.
제5도는 본 발명의 바람직한 구성의 평단면도이다.

Claims (12)

  1. 제1제조 중간물과 제2제조 중간물 사이의 변위를 측정하는 센서로, 제1제조 중간물에 고정되고 적어도 하나의 라미네이트 구조를 또한 포함하며, 상기 라미네이트 구조는 제1경질 강자성 또는 반강자성-핀층, 상기 제1경질 강자성 또는 반강자성층 위에 있으며 상기 제1층보다 연질의 자성재질을 포함하는 제2자성층, 및 상기 제1 및 제2층 사이의 결합을 모두 본질적으로 바꾸지 못하도록 상기 제1 및 제2층 사이에 배열 접촉되는 전도층을 포함하는 거대 자기저항성 스트립; 상기 제2자성층내의 자계 영역들 사이의 측정 위치에서 영역벽을 유도하며, 상기 제2제조 중간물에 고정되고, 상기 자계는 상호 정열되지 않도록 된 유도수단; 및 상기 자기 저항성 스트립 위의 지점들 사이에 전기적 저항을 측정하고 상기 영역벽의 상기 위치를 측정하며,상기 제1제조 중간물에 대한 제2제조 중간물의 위치를 측정하는 측정 수단을 포함하는 센서.
  2. 제1항에 있어서, 상기 유도 수단은 적어도 하나의 인덱싱 마그네트를 포함하는 센서.
  3. 제2항에 있어서, 상기 적어도 하나의 인덱싱 마그네트는 상기 자기 저항성 스트립의 반대편에 배열되고 본질적으로 반대 방향인 자기 모멘트를 가지는 적어도 두 개의 인덱싱 마그네트를 포함하며, 상기 반대편의 인덱싱 마그네트내에서 본질적으로 반대 방향인 자기 모멘트는 상기 영역벽에 본질적으로 수직을 이루는 센서.
  4. 제1항에 있어서, 상기 측정 수단은 상기 자기 저항성 스트립을 통과하는 직류전류수단과 상기 자기 저항성 스트립을 가로지르는 전압 측정 수단을 포함하는 센서.
  5. 제1항에 있어서, 고정된 자성 상태를 가지는 상기 강자성 또는 반강자성층은 Cr, Co, Fe, Ni, Mn 및 그 합금으로 이루어지는 군에서 선택된 금속을 포함하는 센서.
  6. 제1항에 있어서, 고정된 자성 상태를 가지는 상기 강자성 또는 반강자성층은 강자성 금속으로 된 씬필름으로 코팅된 반강자성 금속(antiferromagnetic metal)을 포함하는 센서.
  7. 제1항에 있어서, 연질 자성 재질을 포함하는 상기층은 Fe, Co, Mn, Ni 및 그 합금으로 이루어지는 군에서 선택된 하나의 금속을 포함하는 센서.
  8. 제1항에 있어서, 상기 센서는 선형 변위 센서이며, 상기 자기저항 스트립은 상기 영역벽에 수직인 본질적으로 직선상인 부재를 형성시킨 센서.
  9. 제1항에 있어서, 상기 센서는 선형 변위 센서이며, 상기 자기저항 스트립은 상기 영역벽에 나란한 본질적으로 직선상인 부재를 형성시킨 센서.
  10. 제1항에 있어서, 상기 센서는 상기 제1제조 중간물에 비례하여 상기 제2제조 중간물의 회전을 측정하는 각 변위 센서이며, 상기 제2제조 중간물은 상기 제1제조 중간물에 비례하는 회전축 둘레로 회전토록 창착되며, 상기 자기저항 스트립은 상기 회전축 위에 본질적으로 중심을 가지는 호형부재를 이루며, 상기 영역벽을 유도시키는 수단을 포함하는 센서.
  11. 제11제조 중간물과 제2제조 중간물 사이의 변위를 측정하는 센서로, 연질 자성 재질을 포함하는 복수의 자성층들과 복수의 경질 강자성 또는 반강자성층들이 교대로 되고 상기 제1제조 중간물에 고정되며, 상기 강자성 또는 반강자성층들과 상기 연자성 재질을 포함하는 상기층들은 상기 자성층들 간의 결합을 본질적으로 바꾸지 못하도록 상기 자성층들 사이에 위치된 비자성 전도층들에 의해 분리 접촉되도록 된 자기 저항성 스트립; 상기 연질 자기층내의 자계 영역 사이에 있는 측정 위치에서 영역벽을 유도시키며, 상기 자계는 상호 정렬되지않고, 상기 유도 수단은 상기 제2제조 중간물에 고정되는 유도수단; 및 상기 자기 저항성 스트립 위의 지점들간의 전기적 저항을 측정하며, 상기 영역벽 위치들을 측정하고, 상기 제1제조 중간물에 대한 상기 제2제조 중간물의 위치를 측정하는 측정 수단을 포함하는 센서.
  12. 적어도 하나의 라미네이트 구조를 또한 포함하며, 상기 라마네이트 구조는 고정 자기 상태를 가지는 제1경질 강자성 또는 반자성-핀층, 상기 제1자성층 위에 있는 제2자성층; 및 상기 자성층들 사이에 위치되어 접촉하는 비자성 도전층을 포함하고, 상기 제2자성층은 상기 제1자성층보다 연질의 자성 재질을 포함하는 자기저항 스트립; 및 상기 제2자성층내의 비정렬 자계 영역간의 선택지점에서 영역벽을 유도시키고 선택값에 상기 자기저항성 스트립을 가로지르는 저항을 세팅시키는 수단을 포함하는 가변 저항.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960701697A 1993-10-01 1994-09-30 자기저항성 선형 변위센서, 각 변위센서및, 가변저항 KR100308460B1 (ko)

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Families Citing this family (63)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19536433C2 (de) * 1995-09-29 1999-04-08 Siemens Ag Vorrichtung zur berührungslosen Positionserfassung eines Objektes und Verwendung der Vorrichtung
JP3397026B2 (ja) * 1995-12-06 2003-04-14 トヨタ自動車株式会社 磁気式回転検出装置
DE19612422C2 (de) * 1996-03-28 2000-06-15 Siemens Ag Potentiometereinrichtung mit einem linear verschiebbaren Stellelement und signalerzeugenden Mitteln
US6166539A (en) * 1996-10-30 2000-12-26 Regents Of The University Of Minnesota Magnetoresistance sensor having minimal hysteresis problems
US5747997A (en) * 1996-06-05 1998-05-05 Regents Of The University Of Minnesota Spin-valve magnetoresistance sensor having minimal hysteresis problems
JPH09329462A (ja) * 1996-06-10 1997-12-22 Mitsubishi Electric Corp 検出装置
JPH09329463A (ja) * 1996-06-10 1997-12-22 Mitsubishi Electric Corp 検出装置
US5705973A (en) * 1996-08-26 1998-01-06 Read-Rite Corporation Bias-free symmetric dual spin valve giant magnetoresistance transducer
US6150809A (en) * 1996-09-20 2000-11-21 Tpl, Inc. Giant magnetorestive sensors and sensor arrays for detection and imaging of anomalies in conductive materials
US5936400A (en) * 1996-12-23 1999-08-10 Federal Products Co. Magnetoresistive displacement sensor and variable resistor using a moving domain wall
US5768071A (en) * 1997-06-19 1998-06-16 International Business Machines Corporation Spin valve sensor with improved magnetic stability of the pinned layer
US5976681A (en) * 1997-06-30 1999-11-02 Ford Global Technologies, Inc. Giant magnetoresistors with high sensitivity and reduced hysteresis
JP2925542B1 (ja) * 1998-03-12 1999-07-28 ティーディーケイ株式会社 磁気抵抗効果膜および磁気抵抗効果型ヘッド
US6134090A (en) * 1998-03-20 2000-10-17 Seagate Technology Llc Enhanced spin-valve/GMR magnetic sensor with an insulating boundary layer
US6356420B1 (en) 1998-05-07 2002-03-12 Seagate Technology Llc Storage system having read head utilizing GMR and AMr effects
US6738236B1 (en) 1998-05-07 2004-05-18 Seagate Technology Llc Spin valve/GMR sensor using synthetic antiferromagnetic layer pinned by Mn-alloy having a high blocking temperature
US6191926B1 (en) 1998-05-07 2001-02-20 Seagate Technology Llc Spin valve magnetoresistive sensor using permanent magnet biased artificial antiferromagnet layer
US6169647B1 (en) 1998-06-11 2001-01-02 Seagate Technology Llc Giant magnetoresistive sensor having weakly pinned ferromagnetic layer
IL143927A0 (en) 1998-12-30 2002-04-21 Nycomed Amersham Plc Nmr spectroscopic in vitro assay using hyperpolarization
SE513428C2 (sv) * 1999-01-07 2000-09-11 Forskarpatent I Uppsala Ab Lägesgivare
US6469878B1 (en) 1999-02-11 2002-10-22 Seagate Technology Llc Data head and method using a single antiferromagnetic material to pin multiple magnetic layers with differing orientation
US6391483B1 (en) 1999-03-30 2002-05-21 Carnegie Mellon University Magnetic device and method of forming same
US6331773B1 (en) 1999-04-16 2001-12-18 Storage Technology Corporation Pinned synthetic anti-ferromagnet with oxidation protection layer
US6278270B1 (en) 1999-10-29 2001-08-21 Xerox Corporation Apparatus and method for detecting small distance changes between opposed surfaces using giant magneto resistance effect sensor
US6468809B1 (en) * 2000-02-04 2002-10-22 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy High efficiency magnetic sensor for magnetic particles
JP4074192B2 (ja) * 2000-09-19 2008-04-09 シーゲイト テクノロジー エルエルシー 自己無撞着減磁場を有する巨大磁気抵抗センサ
ATE434192T1 (de) * 2000-10-26 2009-07-15 Foundation The Res Inst Of Ele Dünnfilm-magnetfeldsensor
US6888346B2 (en) 2000-11-28 2005-05-03 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Magnetoresistive flux focusing eddy current flaw detection
US20030002231A1 (en) * 2001-06-29 2003-01-02 Dee Richard Henry Reduced sensitivity spin valve head for magnetic tape applications
US20030002232A1 (en) * 2001-06-29 2003-01-02 Storage Technology Corporation Apparatus and method of making a reduced sensitivity spin valve sensor apparatus in which a flux carrying capacity is increased
JP3661652B2 (ja) * 2002-02-15 2005-06-15 ソニー株式会社 磁気抵抗効果素子および磁気メモリ装置
US6927073B2 (en) * 2002-05-16 2005-08-09 Nova Research, Inc. Methods of fabricating magnetoresistive memory devices
JP4016101B2 (ja) * 2002-08-22 2007-12-05 国立大学法人大阪大学 磁性メモリ、磁性メモリアレイ、磁性メモリの記録方法、及び磁性メモリの読み出し方法
DE10239904A1 (de) * 2002-08-30 2004-03-04 Horst Siedle Gmbh & Co. Kg. Sensorelement für einen Umdrehungszähler
US6927569B2 (en) * 2002-09-16 2005-08-09 International Business Machines Corporation Techniques for electrically characterizing tunnel junction film stacks with little or no processing
JP3893456B2 (ja) * 2002-10-18 2007-03-14 国立大学法人大阪大学 磁性メモリ及び磁性メモリアレイ
US6956257B2 (en) * 2002-11-18 2005-10-18 Carnegie Mellon University Magnetic memory element and memory device including same
JP3987924B2 (ja) 2002-12-13 2007-10-10 国立大学法人大阪大学 磁性メモリアレイ、磁性メモリアレイの書き込み方法及び磁性メモリアレイの読み出し方法
DE102004020149A1 (de) * 2004-04-24 2005-11-24 Horst Siedle Gmbh & Co. Kg. Sensorelement für einen Umdrehungszähler
JP2006287081A (ja) * 2005-04-04 2006-10-19 Fuji Electric Holdings Co Ltd スピン注入磁区移動素子およびこれを用いた装置
JP2006303159A (ja) * 2005-04-20 2006-11-02 Fuji Electric Holdings Co Ltd スピン注入磁区移動素子およびこれを用いた装置
CN1327189C (zh) * 2005-06-17 2007-07-18 清华大学 开关式数字位移传感器
JP2007005664A (ja) * 2005-06-27 2007-01-11 Fuji Electric Holdings Co Ltd スピン注入磁化反転素子
CN100375890C (zh) * 2005-09-09 2008-03-19 清华大学 含有可调零的gmr芯片的磁位移传感器
US7521922B2 (en) * 2006-11-07 2009-04-21 Key Safety Systems, Inc. Linear position sensor
GB2452474A (en) * 2007-07-03 2009-03-11 Univ Sheffield Magnetic rotation sensor
DE102009012108B4 (de) * 2009-03-06 2015-07-16 Siemens Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Anreicherung und Erfassung von Zellen in strömenden Medien
US7977935B2 (en) * 2009-06-04 2011-07-12 Key Safety Systems, Inc. Temperature tolerant magnetic linear displacement sensor
CN102620644B (zh) * 2012-03-15 2014-08-13 *** 一种基于Zigbee的微应变测量无人值守型工程监测***
CN102589410A (zh) * 2012-03-15 2012-07-18 *** 一种用于测量桩基微应变的相敏检波型lvdt位移传感器
CN102679859B (zh) * 2012-05-28 2014-11-26 广州日滨科技发展有限公司 位移传感器及位移传感器测量位移的方法
CN104279944A (zh) * 2013-07-12 2015-01-14 北京精密机电控制设备研究所 一种分体式、多冗余线位移传感器
CN103353274B (zh) * 2013-07-22 2016-01-27 山东交通学院 基于巨磁电阻效应的位移测量装置及杨氏模量的测量方法
WO2015073647A1 (en) 2013-11-13 2015-05-21 Brooks Automation, Inc. Sealed robot drive
WO2015073651A1 (en) 2013-11-13 2015-05-21 Brooks Automation, Inc. Method and apparatus for brushless electrical machine control
KR102665385B1 (ko) 2013-11-13 2024-05-13 브룩스 오토메이션 인코퍼레이티드 밀봉된 스위치드 릴럭턴스 모터
TWI695447B (zh) 2013-11-13 2020-06-01 布魯克斯自動機械公司 運送設備
CN103822648B (zh) * 2014-03-14 2016-07-06 厦门易感智能测控技术有限公司 传感器
US10782153B2 (en) 2016-03-08 2020-09-22 Analog Devices Global Multiturn sensor arrangement and readout
US10635970B2 (en) 2016-08-04 2020-04-28 International Business Machines Corporation Racetrack synapse for neuromorphic applications
DE102016220218A1 (de) 2016-10-17 2018-04-19 Schaeffler Technologies AG & Co. KG Multiturnsensor nach dem GMR-Prinzip
CN109579682B (zh) * 2019-01-24 2024-04-26 中汽研(天津)汽车工程研究院有限公司 一种动力总成悬置动态多维度位移测试传感器
US11460521B2 (en) 2019-03-18 2022-10-04 Analog Devices International Unlimited Company Multiturn sensor arrangement

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4409043A (en) * 1981-10-23 1983-10-11 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Amorphous transition metal-lanthanide alloys
US4402770A (en) * 1981-10-23 1983-09-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Hard magnetic alloys of a transition metal and lanthanide
US4616281A (en) * 1982-03-10 1986-10-07 Copal Company Limited Displacement detecting apparatus comprising magnetoresistive elements
US4835509A (en) * 1986-07-29 1989-05-30 Nippondenso Co., Ltd. Noncontact potentiometer
US4956736A (en) * 1988-12-16 1990-09-11 Eastman Kodak Company Thin film magnetic element having a rhombic shape
FR2648942B1 (fr) * 1989-06-27 1995-08-11 Thomson Csf Capteur a effet magnetoresistif
JPH0466813A (ja) * 1990-07-06 1992-03-03 Mitsubishi Electric Corp 角度検出センサ
US5206590A (en) * 1990-12-11 1993-04-27 International Business Machines Corporation Magnetoresistive sensor based on the spin valve effect
JP2690623B2 (ja) * 1991-02-04 1997-12-10 松下電器産業株式会社 磁気抵抗効果素子
MY108176A (en) * 1991-02-08 1996-08-30 Hitachi Global Storage Tech Netherlands B V Magnetoresistive sensor based on oscillations in the magnetoresistance
JP2581421Y2 (ja) * 1991-06-17 1998-09-21 株式会社村田製作所 磁気センサ
FR2685489B1 (fr) * 1991-12-23 1994-08-05 Thomson Csf Capteur de champ magnetique faible a effet magnetoresistif.
US5287238A (en) * 1992-11-06 1994-02-15 International Business Machines Corporation Dual spin valve magnetoresistive sensor
DE4243358A1 (de) * 1992-12-21 1994-06-23 Siemens Ag Magnetowiderstands-Sensor mit künstlichem Antiferromagneten und Verfahren zu seiner Herstellung

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