KR910700445A - 물리적인 크기를 측정 및 검지하는 방법 및 장치 - Google Patents

물리적인 크기를 측정 및 검지하는 방법 및 장치

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KR910700445A
KR910700445A KR1019900702256A KR900702256A KR910700445A KR 910700445 A KR910700445 A KR 910700445A KR 1019900702256 A KR1019900702256 A KR 1019900702256A KR 900702256 A KR900702256 A KR 900702256A KR 910700445 A KR910700445 A KR 910700445A
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미셸 레네 레끼메
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다한 길베르뜨
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Abstract

내용 없음.

Description

물리적인 크기를 측정 및 검지하는 방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 장치의 다이어그램이다.
제2도는 복조장치의 바람직한 실시형태의 다이어그램이다.
제3도는 평행하게 배치된 센서들을 멀티플렉싱 및 디멀티플렉싱하는데 적합한 본 발명의 다른 장치의 다이어그램이다.

Claims (13)

  1. 측정할 크기에 민감하고 간섭계 형태의 센서(14)를 조명하기 위하여 흐트러진 빛의 소오스(10)를 이용하며, 측정할 크기의 함수인 주파수로 센서(14)를 통과하는 광플럭스의 스텍트럼을 주기적인 방법으로 변조하며, 복조기 간섭계(18)에 의해 센서(14)를 떠나는 광플럭스를 정복조하며, 이로부터 물리적인 크기의 값을 추론하기 위하여 복조된 광플럭스 스펙트럼을 분석하여 물리적인 크기를 측정 및 검지하는 방법에 있어서, 센서(14) 및 복조기(18)에 의해 발생된 변조주파수에 민감하도록 광해상도를 갖는 복조된 플럭스 스펙트럼 분석장치(22)를 이용하고, 센서(14)로 인한 스펙트럼 변조와 복조기(18)로 인한 스펙트럼 변조 사이의 비트 주파수의 특징인 복조된 신호에서의 변조를 분석하는 것을 특징으로 하는 물리적인 크기를 측정 및 검지방법.
  2. 제1항에 있어서, 비트주파수가 광소오스(10)의 스펙트럼 폭의 역수보다 더 클때 상기 특성변조의 주기 및 위상을 복조된 신호로 측정하는 것을 특징으로 하는 방법.
  3. 제1항에 있어서, 비트주파수가 광소오스(10)의 스펙트럼 폭의 역수보다 더 적을때 복조된 광플럭스의 겉보기 색상을 측정하는 것을 특징으로 하는 방법.
  4. 전술한 청구범위 중 어느 한 항에 있어서, 스펙트럼 분석(22)이 상술한 비트주파수에 둔감하도록 복조기(18) 또는 센서(14)를 조정하므로써 복조기로부터 그 다음 측정될 물리적인 크기에 영향을 받는 센서(14)로 플럭스의 비복조 부분의 세기를 측정하고, 사용된 장치세트의 스펙트럼 전달기능과는 특히 무관한 분석될 신호를 얻기 위하여 복조된 광플럭스와 플럭스의 비복조 부분의 역수를 곱하는 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 제1항에서 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 푸리에스무딩으로 분설될 신호에 존재하는 고주파수 노이즈를 제거하고, 비트주파수를 계한하여 결정하는 것을 특징으로 하는 방법.
  6. 제1항에 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 분석될 신호에서의 상술한 작동은 데이터처리 장치로 계산하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 방법.
  7. 제1항에서 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 소오스(10)와 복조기(18)를 다른 특성 변조주파수를 가지고 평행하게 배치된 다수의 센서(141, …, 14i, 14n)과 연결하고, 복조기(18)를 각 센서로 연속적으로 동조하는 것을 특징으로 하는 방법.
  8. 흐트러진 빛의 소오스(10), 이 소오스(10)에 의해 방출된 광플럭스에 대하여 주기적인 스펙트럼 변조를 행하고 측정될 크기에 민감한 간섭계 센서(14), 이때 이 변조는 측정될 크기의 함수인 주파수이며, 복조기 간섭계와 같은 센서(14)에 의해 전달된 광프럭스를 복조하는 정복조장치(18), 복조된 광플럭스에 대하여 스펙트럼 분석을 행하는 장치(22), 소오스(10)를 상호 연결하는 광파이버(12, 16, 20), 센서(14), 복조장치(18) 및 스펙트럼 분석장치(22)의 광해상도는 센서(14) 및 복조장치(18)에 의해 발생한 변조주파수에 민감하고, 상기 주파수 사이의 차이에 민감한 것으로 된 것을 특징으로 하는 물리적인 크기를 측정 및 검지하는 장치.
  9. 제8항에 있어서, 분석장치(22)는 센서(14)로 인한 변조와 복조장치(18)로 인한 변조 사이의 비트 주파수로 부터 특성 변조의 수기와 위상을 계산하기 위한 분석된 신호에 응답하는 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  10. 제8항에 있어서, 복조된 광플럭스의 겉보기 색상을 측정하기 위한 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  11. 제8항에 있어서,복조된 플럭스에서 고주파수 노이즈를 제거하기 위한 장치, 예를 들어 상기 플럭스에 대하여 푸리에 스무딩을 행하는 계산장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  12. 제8항에서 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 광소오스(10)와 복조기장치(18) 사이에 평행하게 배치된 다수의 센서(141, …, 14i, 14n)를 더 포함하며, 상기 센서는 특성 변조주파수가 다르고, 복조장치(18)는 각 센서에 연속적으로 동조되는데 적합한 것을 특징으로 하는 장치.
  13. 제8항에서 제12항 중 어느 한 항에 있어서, 복조장치(18)는 전달방향이 편광자(P)의 전달 방향에 대해 45°인 결정(C1, C2)의 중립축과 직교하거나 평행한 편광자(P)와 애널라이저(A) 사이에 배치된 두개의 복굴절 결정(C1, C2)을 가진 간섭계, 사전교정이나 측정 및 하나에 해당하는 광로길이 차이에 대해서 간섭계를 동조하도록 결정중 하나를 서로에 대해 90°로 회전하는 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019900702256A 1989-02-14 1990-02-14 물리적인 크기를 측정 및 검지하는 방법 및 장치 KR910700445A (ko)

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