KR20200029810A - 데이터 처리 시스템 및 그의 동작방법 - Google Patents

데이터 처리 시스템 및 그의 동작방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20200029810A
KR20200029810A KR1020180108308A KR20180108308A KR20200029810A KR 20200029810 A KR20200029810 A KR 20200029810A KR 1020180108308 A KR1020180108308 A KR 1020180108308A KR 20180108308 A KR20180108308 A KR 20180108308A KR 20200029810 A KR20200029810 A KR 20200029810A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
battery
memory
data processing
processing system
background operation
Prior art date
Application number
KR1020180108308A
Other languages
English (en)
Inventor
변유준
Original Assignee
에스케이하이닉스 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 에스케이하이닉스 주식회사 filed Critical 에스케이하이닉스 주식회사
Priority to KR1020180108308A priority Critical patent/KR20200029810A/ko
Priority to US16/384,231 priority patent/US11639969B2/en
Priority to CN201910795183.3A priority patent/CN110890123B/zh
Publication of KR20200029810A publication Critical patent/KR20200029810A/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/26Power supply means, e.g. regulation thereof
    • G06F1/32Means for saving power
    • G06F1/3203Power management, i.e. event-based initiation of a power-saving mode
    • G06F1/3206Monitoring of events, devices or parameters that trigger a change in power modality
    • G06F1/3212Monitoring battery levels, e.g. power saving mode being initiated when battery voltage goes below a certain level
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/367Software therefor, e.g. for battery testing using modelling or look-up tables
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/14Handling requests for interconnection or transfer
    • G06F13/16Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus
    • G06F13/1668Details of memory controller
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/382Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/385Arrangements for measuring battery or accumulator variables
    • G01R31/387Determining ampere-hour charge capacity or SoC
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30Monitoring
    • G06F11/3058Monitoring arrangements for monitoring environmental properties or parameters of the computing system or of the computing system component, e.g. monitoring of power, currents, temperature, humidity, position, vibrations
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/0223User address space allocation, e.g. contiguous or non contiguous base addressing
    • G06F12/023Free address space management
    • G06F12/0238Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory
    • G06F12/0246Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory in block erasable memory, e.g. flash memory
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/0223User address space allocation, e.g. contiguous or non contiguous base addressing
    • G06F12/023Free address space management
    • G06F12/0253Garbage collection, i.e. reclamation of unreferenced memory
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0602Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
    • G06F3/0604Improving or facilitating administration, e.g. storage management
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/56Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
    • G11C11/5621Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/56Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
    • G11C11/5671Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge trapping in an insulator
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/30Power supply circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/34Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
    • G11C16/349Arrangements for evaluating degradation, retention or wearout, e.g. by counting erase cycles
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/34Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
    • G11C16/349Arrangements for evaluating degradation, retention or wearout, e.g. by counting erase cycles
    • G11C16/3495Circuits or methods to detect or delay wearout of nonvolatile EPROM or EEPROM memory devices, e.g. by counting numbers of erase or reprogram cycles, by using multiple memory areas serially or cyclically
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/38Response verification devices
    • G11C29/42Response verification devices using error correcting codes [ECC] or parity check
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/04Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS
    • G11C16/0483Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS comprising cells having several storage transistors connected in series
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Power Sources (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)

Abstract

본 발명의 실시 예들에 따른 데이터 처리 시스템은 배터리 상태 정보를 확인하고, 상기 배터리 상태 정보에 대응하는 배터리 등급을 설정하는 호스트; 및 상기 배터리 등급을 상기 호스트로부터 제공받아 저장하고, 상기 배터리 등급에 기초하여 백그라운드 동작의 수행 방법을 설정하며, 상기 설정된 수행 방법에 따라 상기 백그라운드 동작을 수행하는 메모리 시스템을 포함할 수 있다.

Description

데이터 처리 시스템 및 그의 동작방법 {DATA PROCESSING SYSTEM AND OPERATING METHOD THEREOF}
본 발명은 데이터 처리 시스템에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 전체적인 시스템의 성능을 극대화하는 데이터 처리 시스템 및 그것의 동작방법에 관한 것이다.
최근 컴퓨터 환경에 대한 패러다임(paradigm)이 언제, 어디서나 컴퓨터 시스템을 사용할 수 있도록 하는 유비쿼터스 컴퓨팅(ubiquitous computing)으로 전환되고 있다. 이로 인해 휴대폰, 디지털 카메라, 노트북 컴퓨터 등과 같은 휴대용 전자 장치의 사용이 급증하고 있다. 이와 같은 휴대용 전자 장치는 일반적으로 메모리 장치를 이용하는 메모리 시스템, 다시 말해 데이터 저장 장치를 사용한다. 데이터 저장 장치는 휴대용 전자 장치의 주 기억 장치 또는 보조 기억 장치로 사용된다.
메모리 장치를 이용한 데이터 저장 장치는 기계적인 구동부가 없어서 안정성 및 내구성이 뛰어나며, 또한 정보의 액세스 속도가 매우 빠르고 전력 소모가 적다는 장점이 있다. 이러한 장점을 갖는 메모리 시스템의 일 예로 데이터 저장 장치는, USB(Universal Serial Bus) 메모리 장치, 다양한 인터페이스를 갖는 메모리 카드, 솔리드 스테이트 드라이브(SSD: Solid State Drive) 등을 포함한다.
본 발명의 실시 예에 따른 데이터 처리 시스템은 백그라운드 동작을 효율적으로 제어할 수 있는 방법을 제공한다.
본 발명의 실시 예들에 따른 데이터 처리 시스템은 배터리 상태 정보를 확인하고, 상기 배터리 상태 정보에 대응하는 배터리 등급을 설정하는 호스트; 및 상기 배터리 등급을 상기 호스트로부터 제공받아 저장하고, 상기 배터리 등급에 기초하여 백그라운드 동작의 수행 방법을 설정하며, 상기 설정된 수행 방법에 따라 상기 백그라운드 동작을 수행하는 메모리 시스템을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 데이터 처리 시스템의 동작방법은 상기 배터리 상태 정보를 확인하는 단계; 상기 배터리 상태 정보에 대응하는 배터리 등급을 설정하는 단계; 상기 배터리 등급에 기초하여 상기 백그라운드 동작의 수행 방법을 설정하는 단계; 및 상기 설정된 수행 방법에 따라 상기 백그라운드 동작을 수행하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따르면, 데이터 처리 시스템의 배터리 가용 용량에 기초하여 백그라운드 동작을 제어함으로써, 배터리 사용 효율을 증가시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템을 포함하는 데이터 처리 시스템의 일 예를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템에서 메모리 장치의 일 예를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 장치에서 메모리 블록들의 메모리 셀 어레이 회로를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템에서 메모리 장치 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 5a 내지 도 5f는 본 발명의 일 실시 예에 따른 데이터 처리 시스템의 동작을 나타낸 개념도이다.
도 6a 내지 도 6f는 본 발명의 일 실시 예에 따른 데이터 처리 시스템의 동작을 나타낸 개념도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 메모리 시스템의 동작 과정을 나타낸 흐름도이다.
도 8 내지 도 16은 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템을 포함하는 데이터 처리 시스템의 다른 일 예들을 개략적으로 도시한 도면이다.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시 예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 하기의 설명에서는 본 발명에 따른 동작을 이해하는데 필요한 부분만이 설명되며 그 이외 부분의 설명은 본 발명의 요지를 흩뜨리지 않도록 생략될 것이라는 것을 유의하여야 한다.
이하, 도면들을 참조하여 본 발명의 실시 예들에 대해서 보다 구체적으로 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템을 포함하는 데이터 처리 시스템의 일 예를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 1을 참조하면, 데이터 처리 시스템(100)은, 호스트(Host)(102) 및 메모리 시스템(110)을 포함한다.
그리고, 호스트(102)는, 전자 장치, 예컨대 휴대폰, MP3 플레이어, 랩탑 컴퓨터 등과 같은 휴대용 전자 장치들, 또는 데스크탑 컴퓨터, 게임기, TV, 프로젝터 등과 같은 전자 장치들을 포함, 즉 유무선 전자 장치들을 포함한다.
또한, 호스트(102)는, 적어도 하나의 운영 시스템(OS: operating system) 혹은 복수의 운영 시스템들을 포함할 수 있으며, 또한 사용자의 요청에 상응한 메모리 시스템(110)과의 동작 수행을 위해 운영 시스템을 실행한다. 여기서, 호스트(102)는, 사용자 요청에 해당하는 복수의 커맨드들을 메모리 시스템(110)으로 전송하며, 그에 따라 메모리 시스템(110)에서는 커맨드들에 해당하는 동작들, 즉 사용자 요청에 상응하는 동작들을 수행한다. 운영 시스템은 호스트(102)의 기능 및 동작을 전반적으로 관리 및 제어하고, 데이터 처리 시스템(100) 또는 메모리 시스템(110)을 사용하는 사용자와 호스트(102) 간에 상호 동작을 제공한다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 호스트(102)는 배터리(104) 및 배터리(104)를 관리하는 배터리관리부(106)를 포함할 수 있다.
배터리(104)는 데이터 처리 시스템(100)에 전력을 공급할 수 있다. 이때, 배터리(104)는 제한적인 전력을 가지고 있을 수 있다. 데이터 처리 시스템(100)은 호스트(102)의 리드 요청 혹은 라이트 요청을 처리하기 위하여 메모리 시스템(110) 내 컨트롤러(130) 및 메모리 장치(150)를 구동시킬 수 있다. 이로 인하여, 배터리(104)가 제한적인 전력을 소모할 수 있다.
뿐만 아니라, 호스트(102)가 제공하는 요청과는 무관하게 메모리 시스템(110) 내에서 수행되는 백그라운드 동작이 수행될 수 있다. 백그라운드 동작은 호스트(102)의 요청과는 무관하게, 메모리 시스템(110)이 미래에 필요한 작업이 있다고 판단되면, 메모리 시스템(110)에 의하여 수행될 수 있다. 백그라운드 동작은 가비지 컬렉션(garbage collection) 동작, 리드 리클레임(read reclaim) 동작 및 웨어레벨링(wear-leveling) 동작을 포함할 수 있다. 다만, 백그라운드 동작이 메모리 시스템(110) 내에서 자주 수행되면, 백그라운드 동작은 배터리(104)가 가지고 있는 제한적인 전력을 과다하게 소모시킬 수 있다.
배터리(104)는 호스트(102)에 포함되는 구성요소로 도 1에 도시되어 있으나, 이는 하나의 실시 예일 뿐이며, 이에 제한되는 것은 아니다. 본 발명의 또 다른 실시 예에 따르면, 호스트(102)와 배터리(104)는 별개의 구성요소로 데이터 처리 시스템(100)에 포함될 수 있다. 다만, 이하에서는 설명의 편의를 위하여 호스트(102)가 배터리(104)를 포함한다고 가정한다.
그리고, 배터리관리부(106)는 배터리(104)를 관리할 수 있다. 구체적으로, 배터리관리부(106)는 배터리 상태 정보(예를 들면, 배터리의 현재 가용 용량)을 확인할 수 있다.
나아가, 배터리관리부(106)는 확인된 배터리 상태 정보를 복수의 배터리 등급으로 구분할 수 있다. 예를 들면, 배터리의 가용 용량이 100%미만 80%이상인 경우, 배터리관리부(106)는 배터리 상태 정보를 5등급으로 분류할 수 있다. 또한, 배터리의 가용 용량이 80%미만 60%이상인 경우, 배터리관리부(106)는 배터리 상태 정보를 4등급으로 분류할 수 있다. 또한, 배터리의 가용 용량이 60%미만 40%이상인 경우, 배터리관리부(106)는 배터리 상태 정보를 3등급으로 분류할 수 있다. 나아가, 배터리의 가용 용량이 40%미만 20%이상인 경우, 배터리관리부(106)는 배터리 상태 정보를 2등급으로 분류할 수 있으며, 배터리의 가용 용량이 20%미만 10%이상인 경우, 배터리관리부(106)는 배터리 상태 정보를 1등급으로 분류할 수 있다. 배터리의 가용 용량이 10%미만 0%보다 큰 경우, 배터리관리부(106)는 배터리 상태 정보를 0등급으로 분류할 수 있다. 다만, 이는 하나의 실시 예일 뿐이며, 이에 제한되는 것은 아니다.
배터리관리부(106)는 확인된 배터리 상태 정보에 기초하여 해당하는 배터리 등급을 설정할 수 있다.
호스트(102)는 설정된 배터리 등급을 호스트 인터페이스 유닛(132)를 통하여 메모리 시스템(110)에 제공할 수 있다. 특히, 호스트(102)는 설정된 배터리 등급을 시스템이 부팅될 때 메모리 시스템(110)에 제공할 수 있다. 나아가, 호스트(102)는 배터리 등급이 변경된 때, 메모리 시스템(110)에 배터리 등급을 제공할 수 있다. 예를 들면, 호스트(102)는 배터리 등급이 상향 혹은 하향될 때마다 메모리 시스템(110)에게 배터리 등급을 제공할 수 있다.
또한, 메모리 시스템(110)은, 호스트(102)의 요청에 응답하여 동작하며, 특히 호스트(102)에 의해서 액세스되는 데이터를 저장한다. 다시 말해, 메모리 시스템(110)은, 호스트(102)의 주 기억 장치 또는 보조 기억 장치로 사용될 수 있다. 여기서, 메모리 시스템(110)은 호스트(102)와 연결되는 호스트 인터페이스 프로토콜에 따라, 다양한 종류의 저장 장치(솔리드 스테이트 드라이브(SSD: Solid State Drive), MMC, eMMC(embedded MMC))들 중 어느 하나로 구현될 수 있다.
아울러, 메모리 시스템(110)을 구현하는 저장 장치들은, DRAM(Dynamic Random Access Memory), SRAM(Static RAM) 등과 같은 휘발성 메모리 장치와, ROM(Read Only Memory), MROM(Mask ROM), PROM(Programmable ROM), EPROM(Erasable ROM), EEPROM(Electrically Erasable ROM), FRAM(Ferromagnetic ROM), PRAM(Phase change RAM), MRAM(Magnetic RAM), RRAM(Resistive RAM), 플래시 메모리 등과 같은 비휘발성 메모리 장치로 구현될 수 있다.
메모리 시스템(110)은 메모리 장치(150), 및 컨트롤러(130)를 포함한다.
여기서, 컨트롤러(130) 및 메모리 장치(150)는 하나의 반도체 장치로 집적될 수 있다. 일 예로, 컨트롤러(130) 및 메모리 장치(150)는 하나의 반도체 장치로 집적되어 SSD, PC 카드(PCMCIA: Personal Computer Memory Card International Association), SD 카드(SD, miniSD, microSD, SDHC), 유니버설 플래시 기억 장치(UFS) 등으로 구성할 수 있다. 또한, 다른 일 예로, 메모리 시스템(110)은, 컴퓨팅 시스템을 구성하는 다양한 구성 요소들 중 하나(컴퓨터, 스마트폰, 휴대용 게임기) 등을 구성할 수 있다.
한편, 메모리 시스템(110)에서의 메모리 장치(150)는, 전원이 공급되지 않아도 저장된 데이터를 유지할 수 있으며, 특히 라이트(write) 동작을 통해 호스트(102)로부터 제공된 데이터를 저장하고, 리드(read) 동작을 통해 저장된 데이터를 호스트(102)로 제공한다. 여기서, 메모리 장치(150)는, 복수의 메모리 블록(memory block)들을 포함하며, 각각의 메모리 블록들은, 복수의 페이지들(pages)을 포함하며, 또한 각각의 페이지들은, 복수의 워드라인(WL: Word Line)들이 연결된 복수의 메모리 셀들을 포함한다. 또한, 메모리 장치(150)는, 복수의 메모리 블록들이 각각 포함된 복수의 플래인들(plane)을 포함하며, 특히 복수의 플래인들이 각각 포함된 복수의 메모리 다이(memory die)들을 포함할 수 있다. 아울러, 메모리 장치(150)는, 비휘발성 메모리 장치, 일 예로 플래시 메모리가 될 수 있으며, 이때 플래시 메모리는 3차원(dimension) 입체 스택(stack) 구조가 될 수 있다.
여기서, 메모리 장치(150)의 구조 및 메모리 장치(150)의 3차원 입체 스택 구조에 대해서는, 이하 도 2 내지 도 4에서 보다 구체적으로 설명된다.
그리고, 메모리 시스템(110)에서의 컨트롤러(130)는, 호스트(102)로부터의 요청에 응답하여 메모리 장치(150)를 제어한다. 예컨대, 컨트롤러(130)는, 메모리 장치(150)로부터 리드된 데이터를 호스트(102)로 제공하고, 호스트(102)로부터 제공된 데이터를 메모리 장치(150)에 저장하며, 이를 위해 컨트롤러(130)는, 메모리 장치(150)의 리드, 라이트, 프로그램(program), 이레이즈(erase) 등의 동작을 제어한다.
보다 구체적으로 설명하면, 컨트롤러(130)는, 호스트 인터페이스(Host I/F) 유닛(132), 프로세서(Processor)(134), 메모리 인터페이스(Memory I/F) 유닛(142), 메모리(Memory)(144) 및 배터리정보관리부(146)를 포함한다.
또한, 호스트 인터페이스 유닛(132)은, 호스트(102)의 커맨드(command) 및 데이터를 처리하며, USB(Universal Serial Bus), SATA(Serial Advanced Technology Attachment), SCSI(Small Computer System Interface), ESDI(Enhanced Small Disk Interface), 등과 같은 다양한 인터페이스 프로토콜들 중 적어도 하나를 통해 호스트(102)와 통신하도록 구성될 수 있다. 여기서, 호스트 인터페이스 유닛(132)은, 호스트(102)와 데이터를 주고 받는 영역으로 호스트 인터페이스 계층(HIL: Host Interface Layer, 이하 'HIL'이라 칭하기로 함)이라 불리는 펌웨어(firmware)를 통해 구동될 수 있다.
또한, 메모리 인터페이스 유닛(142)은, 컨트롤러(130)가 호스트(102)로부터의 요청에 응답하여 메모리 장치(150)를 제어하기 위해, 컨트롤러(130)와 메모리 장치(150) 간의 인터페이싱을 수행하는 메모리/스토리지(storage) 인터페이스가 된다.
아울러, 메모리(144)는, 메모리 시스템(110) 및 컨트롤러(130)의 동작 메모리로서, 메모리 시스템(110) 및 컨트롤러(130)의 구동을 위한 데이터를 저장한다.
여기서, 메모리(144)는, 휘발성 메모리로 구현될 수 있으며, 예컨대 정적 랜덤 액세스 메모리(SRAM: Static Random Access Memory), 또는 동적 랜덤 액세스 메모리(DRAM: Dynamic Random Access Memory) 등으로 구현될 수 있다. 아울러, 메모리(144)는 컨트롤러(130)의 내부에 존재하거나, 또는 컨트롤러(130)의 외부에 존재할 수 있으며, 이때 메모리 인터페이스를 통해 컨트롤러(130)로부터 데이터가 입출력되는 외부 휘발성 메모리로 구현될 수도 있다.
또한, 메모리(144)는, 호스트(102)와 메모리 장치(150) 간 데이터 라이트 및 리드 등의 동작을 수행하기 위해 필요한 데이터, 및 데이터 라이트 및 리드 등의 동작 수행 시의 데이터를 저장하며, 이러한 데이터 저장을 위해, 프로그램 메모리, 데이터 메모리, 라이트 버퍼(buffer)/캐시(cache), 리드 버퍼/캐시, 데이터 버퍼/캐시, 맵(map) 버퍼/캐시 등을 포함한다.
배터리 정보 관리부(146)는 호스트(102)로부터 제공된 배터리 등급을 프로세서(134)의 제어에 의하여 저장할 수 있다. 나아가, 호스트(102)로부터 새로운 배터리 등급이 제공되면, 배터리 정보 관리부(146)는 프로세서(134)의 제어에 의하여 배터리 등급을 업데이트할 수 있다. 비록 도 1에는 배터리 정보 관리부(146)가 메모리(144)와 별개의 구성요소로 도시되어 있으나, 메모리(144)에 포함될 수 있다.
그리고, 프로세서(134)는, 메모리 시스템(110)의 전체적인 동작을 제어하며, 특히 호스트(102)로부터의 라이트 요청 또는 리드 요청에 응답하여, 메모리 장치(150)에 대한 프로그램 동작 또는 리드 동작을 제어한다. 여기서, 프로세서(134)는, 메모리 시스템(110)의 제반 동작을 제어하기 위해 플래시 변환 계층(FTL: Flash Translation Layer, 이하 'FTL'이라 칭하기로 함)이라 불리는 펌웨어(firmware)를 구동한다. 또한, 프로세서(134)는, 마이크로프로세서 또는 중앙 처리 장치(CPU) 등으로 구현될 수 있다.
특히, 본 발명의 실시 예에 따른 프로세서(134)는 배터리 정보 관리부(146)에 저장된 배터리 등급에 기초하여 백그라운드 동작의 수행 방법을 설정할 수 있다.
예를 들면, 프로세서(134)는 배터리 등급 각각에 대응하는 수행횟수로 백그라운드 동작의 수행 횟수를 설정할 수 있다. 배터리 등급이 5등급인 경우, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 10번 수행하도록 백그라운드 동작을 설정할 수 있다. 나아가, 배터리 등급이 4등급인 경우에는, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 8번 수행하도록 설정하고, 배터리 등급이 3등급인 경우에는, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 6번 수행하도록 설정할 수 있다. 또한, 배터리 등급이 2등급인 경우에는, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 4번 수행하도록 설정하며, 배터리 등급이 1등급인 경우에는, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 2번 수행하도록 설정할 수 있다. 마지막으로, 배터리 등급이 0등급인 경우, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 수행하지 아니할 수 있다.
또 다른 예를 들면, 프로세서(134)는 배터리 등급에 각각에 대응하는 수행시간으로 백그라운드 동작의 수행 시간을 설정할 수 있다. 배터리 등급이 5등급인 경우, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 100ms동안 수행하도록 백그라운드 동작을 설정할 수 있다. 나아가, 배터리 등급이 4등급인 경우에는, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 80ms 동안 수행하도록 설정하고, 배터리 등급이 3등급인 경우에는, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 60ms동안 수행하도록 설정할 수 있다. 또한, 배터리 등급이 2등급인 경우에는, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 40ms동안 수행하도록 설정하며, 배터리 등급이 1등급인 경우에는, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 20ms동안 수행하도록 설정할 수 있다. 마지막으로, 배터리 등급이 0등급인 경우, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 수행하지 아니할 수 있다.
다만, 상기 예들은 하나의 실시 예일뿐이며, 이에 제한되는 것은 아니다.
나아가, 프로세서(134)는 설정된 백그라운드 동작 방법대로 백그라운드 동작을 수행할 수 있다. 예를 들면, 프로세서(134)는 배터리 등급이 3등급인 경우, 60ms동안 가비지 컬렉션 동작을 수행할 수 있다. 또 다른 예를 들면, 프로세서(134)는 배터리 등급이 4등급인 경우 8번 리드 리클레임 동작을 수행할 수 있다. 나아가, 프로세서(134)는 대기 시간(idle time)에서 백그라운드 동작을 수행할 수 있다.
컨트롤러(130)는, 마이크로프로세서 또는 중앙 처리 장치(CPU) 등으로 구현된 프로세서(134)를 통해, 호스트(102)로부터 요청된 동작을 메모리 장치(150)에서 수행, 다시 말해 호스트(102)로부터 수신된 커맨드에 해당하는 커맨드 동작을, 메모리 장치(150)와 수행한다. 또한 메모리 장치(150)에 대한 백그라운드(background) 동작을 수행할 수도 있다. 여기서, 메모리 장치(150)에 대한 백그라운드 동작은, 가비지 컬렉션(GC: Garbage Collection) 동작, 웨어 레벨링(WL: Wear Leveling) 동작, 맵 플러시(map flush) 동작, 배드 블록 관리(bad block management) 동작 등을 포함한다.
추가로, 도면에 도시되어 있진 아니하지만, 컨트롤러(130)는 ECC(Error correction code) 유닛 및 PMU(Power Management Unit)를 더 포함할 수 있다.
아울러, ECC유닛은, 메모리 장치(150)에서 처리되는 데이터의 에러 비트를 정정하며, ECC 인코더와 ECC 디코더를 포함할 수 있다. 여기서, ECC 인코더(ECC encoder)는 메모리 장치(150)에 프로그램될 데이터를 에러 정정 인코딩(error correction encoding)하여, 패리티(parity) 비트가 부가된 데이터를 생성하며, 패리티 비트가 부가된 데이터는, 메모리 장치(150)에 저장될 수 있다. 그리고, ECC 디코더(ECC decoder)는, 메모리 장치(150)에 저장된 데이터를 리드할 경우, 메모리 장치(150)로부터 리드된 데이터에 포함되는 에러를 검출 및 정정한다. 여기서, ECC 유닛(138)은, LDPC(low density parity check) 코드(code), BCH(Bose, Chaudhri, Hocquenghem) 코드, 터보 코드(turbo code), 리드-솔로몬 코드(Reed-Solomon code), 컨벌루션 코드(convolution code), RSC(recursive systematic code), TCM(trellis-coded modulation), BCM(Block coded modulation) 등의 코디드 모듈레이션(coded modulation)을 사용하여 에러 정정을 수행할 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다. 또한, ECC 유닛(는 오류 정정을 위한 회로, 모듈, 시스템, 또는 장치를 모두 포함할 수 있다.
그리고, PMU는, 컨트롤러(130)의 파워, 즉 컨트롤러(130)에 포함된 구성 요소들의 파워를 제공 및 관리할 수 있다.
이하에서는, 도 2 내지 도 4를 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템에서의 메모리 장치에 대해서 보다 구체적으로 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템에서 메모리 장치의 일 예를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 장치에서 메모리 블록들의 메모리 셀 어레이 회로를 개략적으로 도시한 도면이며, 도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템에서 메모리 장치 구조를 개략적으로 도시한 도면으로, 메모리 장치가 3차원 비휘발성 메모리 장치로 구현될 경우의 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.
우선, 도 2를 참조하면, 메모리 장치(150)는, 복수의 메모리 블록들, 예컨대 블록0(BLK(Block)0)(210), 블록1(BLK1)(220), 블록2(BLK2)(230), 및 블록N-1(BLKN-1)(240)을 포함하며, 각각의 블록들(210,220,230,240)은, 복수의 페이지들(Pages), 예컨대 2M개의 페이지들(2MPages)을 포함한다. 여기서, 설명의 편의를 위해, 복수의 메모리 블록들이 각각 2M개의 페이지들을 포함하는 것을 일 예로 하여 설명하지만, 복수의 메모리들은, 각각 M개의 페이지들을 포함할 수도 있다. 그리고, 각각의 페이지들은, 복수의 워드라인(WL: Word Line)들이 연결된 복수의 메모리 셀들을 포함한다.
또한, 메모리 장치(150)는, 복수의 메모리 블록들을 하나의 메모리 셀에 저장 또는 표현할 수 있는 비트의 수에 따라, 하나의 메모리 셀에 1 비트 데이터를 저장하는 메모리 셀들에 의해 구현된 복수의 페이지들을 포함하는 단일 레벨 셀(SLC: Single Level Cell) 메모리, 하나의 메모리 셀에 2 비트 데이터를 저장할 수 있는 메모리 셀들에 의해 구현된 복수의 페이지들을 포함하는 멀티 레벨 셀(MLC: Multi Level Cell) 메모리 블록, 하나의 메모리 셀에 3 비트 데이터를 저장할 수 있는 메모리 셀들에 의해 구현된 복수의 페이지들을 포함하는 트리플 레벨 셀(TLC: Triple Level Cell) 메모리 블록, 하나의 메모리 셀에 4 비트 데이터를 저장할 수 있는 메모리 셀들에 의해 구현된 복수의 페이지들을 포함하는 쿼드러플 레벨 셀(QLC: Quadruple Level Cell) 메모리 블록, 또는 하나의 메모리 셀에 5 비트 또는 그 이상의 비트 데이터를 저장할 수 있는 메모리 셀들에 의해 구현된 복수의 페이지들을 포함하는 다중 레벨 셀(multiple level cell) 메모리 블록 등을 포함할 수 있다.
이하에서는, 설명의 편의를 위해, 메모리 장치(150)가, 플래시 메모리, 예컨대 NAND 플래시 메모리 등과 같은 비휘발성 메모리 등으로 구현되는 것을 일 예로 설명하지만, 상변환 메모리(PCRAM: Phase Change Random Access Memory), 저항 메모리(RRAM(ReRAM): Resistive Random Access Memory), 강유전체 메모리(FRAM: Ferroelectrics Random Access Memory), 및 스핀 주입 자기 메모리(STT-RAM(STT-MRAM): Spin Transfer Torque Magnetic Random Access Memory) 등과 같은 메모리들 중 어느 하나의 메모리로 구현될 수도 있다.
그리고, 각각의 블록들(210,220,230,240)은, 프로그램 동작을 통해 호스트(102)로부터 제공된 데이터를 저장하고, 리드 동작을 통해 저장된 데이터를 호스트(102)에게 제공한다.
다음으로, 도 3을 참조하면, 메모리 시스템(110)의 메모리 장치(150)에 포함된 복수의 메모리 블록들에서 각 메모리 블록(330), 메모리 셀 어레이로 구현되어 비트라인들(BL0 to BLm-1)에 각각 연결된 복수의 셀 스트링들(340)을 포함할 수 있다. 각 열(column)의 셀 스트링(340)은, 적어도 하나의 드레인 선택 트랜지스터(DST)와, 적어도 하나의 소스 선택 트랜지스터(SST)를 포함할 수 있다. 선택 트랜지스터들(DST, SST) 사이에는, 복수 개의 메모리 셀들, 또는 메모리 셀 트랜지스터들(MC0 to MCn-1)이 직렬로 연결될 수 있다. 각각의 메모리 셀(MC0 to MCn-1)은, 셀 당 복수의 비트들의 데이터 정보를 저장하는 MLC로 구성될 수 있다. 셀 스트링들(340)은 대응하는 비트라인들(BL0 to BLm-1)에 각각 전기적으로 연결될 수 있다.
여기서, 도 3은, 낸드 플래시 메모리 셀로 구성된 각 메모리 블록(330)을 일 예로 도시하고 있으나, 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 장치(150)에 포함된 복수의 메모리 블록은, 낸드 플래시 메모리에만 국한되는 것은 아니라 노어 플래시 메모리(NOR-type Flash memory), 적어도 두 종류 이상의 메모리 셀들이 혼합된 하이브리드 플래시 메모리, 메모리 칩 내에 컨트롤러가 내장된 One-NAND 플래시 메모리 등으로도 구현될 수 있다.
그리고, 메모리 장치(150)의 전압 공급 회로(310)는, 동작 모드에 따라서 각각의 워드라인들로 공급될 워드라인 전압들(예를 들면, 프로그램 전압, 리드 전압, 패스 전압 등)과, 메모리 셀들이 형성된 벌크(예를 들면, 웰 영역)로 공급될 전압을 제공할 수 있으며, 이때 전압 공급 회로(310)의 전압 발생 동작은 제어 회로(도시하지 않음)의 제어에 의해 수행될 수 있다. 또한, 전압 공급 회로(310)는, 다수의 리드 데이터를 생성하기 위해 복수의 가변 리드 전압들을 생성할 수 있으며, 제어 회로의 제어에 응답하여 메모리 셀 어레이의 메모리 블록들(또는 섹터들) 중 하나를 선택하고, 선택된 메모리 블록의 워드라인들 중 하나를 선택할 수 있으며, 워드라인 전압을 선택된 워드라인 및 비선택된 워드라인들로 각각 제공할 수 있다.
아울러, 메모리 장치(150)의 리드/라이트(read/write) 회로(320)는, 제어 회로에 의해서 제어되며, 동작 모드에 따라 감지 증폭기(sense amplifier)로서 또는 라이트 드라이버(write driver)로서 동작할 수 있다. 예를 들면, 검증/정상 리드 동작의 경우 리드/라이트 회로(320)는, 메모리 셀 어레이로부터 데이터를 리드하기 위한 감지 증폭기로서 동작할 수 있다. 또한, 프로그램 동작의 경우 리드/라이트 회로(320)는, 메모리 셀 어레이에 저장될 데이터에 따라 비트라인들을 구동하는 라이트 드라이버로서 동작할 수 있다. 리드/라이트 회로(320)는, 프로그램 동작 시 셀 어레이에 라이트될 데이터를 버퍼(미도시)로부터 수신하고, 입력된 데이터에 따라 비트라인들을 구동할 수 있다. 이를 위해, 리드/라이트 회로(320)는, 열(column)들(또는 비트라인들) 또는 열쌍(column pair)(또는 비트라인 쌍들)에 각각 대응되는 복수 개의 페이지 버퍼들(PB)(322,324,326)을 포함할 수 있으며, 각각의 페이지 버퍼(page buffer)(322,324,326)에는 복수의 래치들(도시하지 않음)이 포함될 수 있다.
또한, 메모리 장치(150)는, 2차원 또는 3차원의 메모리 장치로 구현될 수 있으며, 특히 도 4에 도시한 바와 같이, 3차원 입체 스택 구조의 비휘발성 메모리 장치로 구현될 수 있으며, 3차원 구조로 구현될 경우, 복수의 메모리 블록들(BLK0 to BLKN-1)을 포함할 수 있다. 여기서, 도 4는, 도 1에 도시한 메모리 장치(150)의 메모리 블록들을 보여주는 블록도로서, 각각의 메모리 블록들은, 3차원 구조(또는 수직 구조)로 구현될 수 있다. 예를 들면, 각각의 메모리 블록들은 제1방향 내지 제3방향들, 예컨대 x-축 방향, y-축 방향, 및 z-축 방향을 따라 신장된 구조물들을 포함하여, 3차원 구조로 구현될 수 있다.
그리고, 메모리 장치(150)에 포함된 각 메모리 블록(330)은, 제2방향을 따라 신장된 복수의 낸드 스트링들(NS)을 포함할 수 있으며, 제1방향 및 제3방향들을 따라 복수의 낸드 스트링들(NS)이 제공될 수 있다. 여기서, 각 낸드 스트링(NS)은, 비트라인(BL), 적어도 하나의 스트링 선택라인(SSL), 적어도 하나의 접지 선택라인(GSL), 복수의 워드라인들(WL), 적어도 하나의 더미 워드라인(DWL), 그리고 공통 소스라인(CSL)에 연결될 수 있으며, 복수의 트랜지스터 구조들(TS)을 포함할 수 있다.
즉, 메모리 장치(150)의 복수의 메모리 블록들에서 각 메모리 블록(330)은, 복수의 비트라인들(BL), 복수의 스트링 선택라인들(SSL), 복수의 접지 선택라인들(GSL), 복수의 워드라인들(WL), 복수의 더미 워드라인들(DWL), 그리고 복수의 공통 소스라인(CSL)에 연결될 수 있으며, 그에 따라 복수의 낸드 스트링들(NS)을 포함할 수 있다. 또한, 각 메모리 블록(330)에서, 하나의 비트라인(BL)에 복수의 낸드 스트링들(NS)이 연결되어, 하나의 낸드 스트링(NS)에 복수의 트랜지스터들이 구현될 수 있다. 아울러, 각 낸드 스트링(NS)의 스트링 선택 트랜지스터(SST)는, 대응하는 비트라인(BL)과 연결될 수 있으며, 각 낸드 스트링(NS)의 접지 선택 트랜지스터(GST)는, 공통 소스라인(CSL)과 연결될 수 있다. 여기서, 각 낸드 스트링(NS)의 스트링 선택 트랜지스터(SST) 및 접지 선택 트랜지스터(GST) 사이에 메모리 셀들(MC)이 제공, 즉 메모리 장치(150)의 복수의 메모리 블록들에서 각 메모리 블록(330)에는 복수의 메모리 셀들이 구현될 수 있다.
이하에서는, 본 발명의 실시 예에 따른 데이터 처리 시스템(100)의 동작이 설명된다. 이하에서는 설명의 편의를 위하여, 배터리의 등급이 0 내지 5등급으로 구분된다고 가정한다. 구체적으로, 배터리의 가용 용량이 100%이하 80%이상인 경우, 배터리 등급은 5등급으로 설정되며, 배터리의 가용 용량이 80%미만 60%이상인 경우, 배터리 등급은 4등급으로 설정될 수 있다. 또한, 배터리의 가용 용량이 60%미만 40%이상인 경우, 배터리 등급은 3등급으로 설정되며, 배터리의 가용 용량이 40%미만 20%이상인 경우, 배터리 등급이 2등급으로 설정될 수 있다. 그리고, 배터리의 가용 용량이 20%미만 10%이상인 경우, 배터리 등급이 1등급으로 설정되고, 배터리의 가용 용량이 10%미만 0%보다 큰 경우, 배터리 등급이 0등급으로 설정될 수 있다. 이는 하나의 실시 예일 뿐이며, 이에 제한되는 것은 아니다.
도 5a 내지 도 5f는 본 발명의 실시 예에 따른 데이터 처리 시스템(100)의 동작을 나타낸 개념도이다. 특히, 도 5a 내지 도 5f에서는 배터리 등급에 따라 다르게 설정되는 백그라운드 동작의 수행횟수로 백그라운드 동작을 수행하는 데이터 처리 시스템(100)의 동작이 설명된다.
이하에서는 설명의 편의를 위하여, 데이터 처리 시스템(100)이 온전하게 백그라운드 동작을 완료하기 위해서는 총 5번의 백그라운드 동작을 수행하여야 한다고 가정한다. 그리고, 도 5a 내지 도 5f에 도시된 데이터 처리 시스템(100)은 소스 메모리 블록(source memory block)에 저장된 데이터를 목적 메모리 블록(destination memory block)으로 이동시키는 백그라운드 동작을 수행한다고 가정한다. 나아가, 도 5a 내지 도 5f에 도시된 소스 메모리 블록에 저장된 제 1 내지 제 5 데이터를 목적 메모리 블록으로 이동시키는 총 5번의 백그라운드 동작을 수행하여야 한다고 가정한다. 즉, 소스 메모리 블록에 저장된 제 1 데이터를 목적 메모리 블록으로 이동시키려면 1회 백그라운드 동작이 수행되어야 한다.
도 5a를 참조하면, 호스트(102)는 현재 배터리 가용 용량에 대응하는 등급인 5등급을 컨트롤러(130)에 제공할 수 있다. 이로 말미암아, 현재 배터리 가용 용량은 100%이하 80%이상인 것을 알 수 있다.
배터리 정보 관리부(146)는 호스트(102)로부터 제공된 배터리 등급을 저장할 수 있다. 그리고, 프로세서(134)는 배터리 등급에 기초하여 백그라운드 동작 방법을 설정할 수 있다. 배터리 등급이 5등급이므로, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 5번 수행하도록 백그라운드 동작을 설정할 수 있다.
그리고 나서, 프로세서(134)는 소스 메모리 블록(510)에 저장된 제 1 데이터 내지 제 5 데이터(1st data 내지 5th data)를 모두 목적 메모리 블록(515)으로 이동시킬 수 있다.
또한, 도 5b를 참조하면, 호스트(102)는 현재 배터리 가용 용량에 대응하는 등급인 4등급을 컨트롤러(130)에 제공할 수 있다. 이로 말미암아, 현재 배터리 가용 용량은 80%미만 60%이상인 것을 알 수 있다.
배터리 정보 관리부(146)는 호스트(102)로부터 제공된 배터리 등급을 저장할 수 있다. 그리고, 프로세서(134)는 배터리 등급에 기초하여 백그라운드 동작 방법을 설정할 수 있다. 배터리 등급이 4등급이므로, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 4번 수행하도록 백그라운드 동작을 설정할 수 있다.
그리고 나서, 프로세서(134)는 소스 메모리 블록(520)에 저장된 제 1 데이터 내지 제 4 데이터(1st data 내지 4th data)를 목적 메모리 블록(525)으로 이동시킬 수 있다.
그리고, 도 5c를 참조하면, 호스트(102)는 현재 배터리 가용 용량에 대응하는 등급인 3등급을 컨트롤러(130)에 제공할 수 있다. 이로 말미암아, 현재 배터리 가용 용량은 60%미만 40%이상인 것을 알 수 있다.
배터리 정보 관리부(146)는 호스트(102)로부터 제공된 배터리 등급을 저장할 수 있다. 그리고, 프로세서(134)는 배터리 등급에 기초하여 백그라운드 동작 방법을 설정할 수 있다. 배터리 등급이 3등급이므로, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 3번 수행하도록 백그라운드 동작을 설정할 수 있다.
그리고 나서, 프로세서(134)는 소스 메모리 블록(530)에 저장된 제 1 데이터 내지 제 3 데이터(1st data 내지 3rd data)를 목적 메모리 블록(535)으로 이동시킬 수 있다.
나아가, 도 5d를 참조하면, 호스트(102)는 현재 배터리 가용 용량에 대응하는 등급인 2등급을 컨트롤러(130)에 제공할 수 있다. 이로 말미암아, 현재 배터리 가용 용량은 40%미만 20%이상인 것을 알 수 있다.
배터리 정보 관리부(146)는 호스트(102)로부터 제공된 배터리 등급을 저장할 수 있다. 그리고, 프로세서(134)는 배터리 등급에 기초하여 백그라운드 동작 방법을 설정할 수 있다. 배터리 등급이 2등급이므로, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 2번 수행하도록 백그라운드 동작을 설정할 수 있다.
그리고 나서, 프로세서(134)는 소스 메모리 블록(540)에 저장된 제 1 데이터 내지 제 2 데이터(1st data 내지 2nd data)를 목적 메모리 블록(545)으로 이동시킬 수 있다.
그리고, 도 5e를 참조하면, 호스트(102)는 현재 배터리 가용 용량에 대응하는 등급인 1등급을 컨트롤러(130)에 제공할 수 있다. 이로 말미암아, 현재 배터리 가용 용량은 20%미만 10%이상인 것을 알 수 있다.
배터리 정보 관리부(146)는 호스트(102)로부터 제공된 배터리 등급을 저장할 수 있다. 그리고, 프로세서(134)는 배터리 등급에 기초하여 백그라운드 동작 방법을 설정할 수 있다. 배터리 등급이 1등급이므로, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 1번 수행하도록 백그라운드 동작을 설정할 수 있다.
그리고 나서, 프로세서(134)는 소스 메모리 블록(550)에 저장된 제 1 데이터 (1st data)만 목적 메모리 블록(555)으로 이동시킬 수 있다.
마지막으로, 도 5f를 참조하면, 호스트(102)는 현재 배터리 가용 용량에 대응하는 등급인 0등급을 컨트롤러(130)에 제공할 수 있다. 이로 말미암아, 현재 배터리 가용 용량은 10%미만 0%보다 큰 것을 알 수 있다.
배터리 정보 관리부(146)는 호스트(102)로부터 제공된 배터리 등급을 저장할 수 있다. 그리고, 프로세서(134)는 배터리 등급에 기초하여 백그라운드 동작 방법을 설정할 수 있다. 배터리 등급이 0등급이므로, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 수행하지 아니할 수 있다.
상기와 같이, 데이터 처리 시스템(100)은 배터리의 현재 가용 용량에 따라 백그라운드 동작 수행 횟수를 달리하여 배터리를 절약시킬 수 있다.
도 6a 내지 도 6f는 본 발명의 실시 예에 따른 데이터 처리 시스템(100)의 동작을 나타낸 개념도이다. 특히, 도 6a 내지 도 6f에서는 배터리 등급에 따라 다르게 설정되는 백그라운드 동작의 수행시간으로 백그라운드 동작을 수행하는 데이터 처리 시스템(100)의 동작이 설명된다.
이하에서는 설명의 편의를 위하여, 메모리 시스템(110)은 100ms동안 대기 시간(idle time)을 가진다고 가정한다. 그리고, 메모리 시스템(110)이 온전하게 백그라운드 동작을 완료하기 위해서는 100ms 동안 백그라운드 동작을 수행하여야 한다고 가정한다.
도 6a를 참조하면, 호스트(102)는 현재 배터리 가용 용량에 대응하는 등급인 5등급을 컨트롤러(130)에 제공할 수 있다. 이로 말미암아, 현재 배터리 가용 용량은 100%이하 80%이상인 것을 알 수 있다.
배터리 정보 관리부(146)는 호스트(102)로부터 제공된 배터리 등급을 저장할 수 있다. 그리고, 메모리 시스템(110)에 포함된 프로세서(134)는 배터리 등급에 기초하여 백그라운드 동작 방법을 설정할 수 있다. 배터리 등급이 5등급이므로, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 100ms 동안 수행하도록 백그라운드 동작을 설정할 수 있다.
그리고 나서, 메모리 시스템(110)은 100ms 동안 백그라운드 동작을 수행할 수 있다.
또한, 도 6b를 참조하면, 호스트(102)는 현재 배터리 가용 용량에 대응하는 등급인 4등급을 컨트롤러(130)에 제공할 수 있다. 이로 말미암아, 현재 배터리 가용 용량은 80%미만 60%이상인 것을 알 수 있다.
배터리 등급이 4등급이므로, 메모리 시스템(110)에 포함된 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 80ms 동안 수행하도록 백그라운드 동작을 설정할 수 있다.
그리고 나서, 메모리 시스템(110)은 80ms 동안 백그라운드 동작을 수행할 수 있다. 메모리 시스템(110)은 나머지 20ms동안 백그라운드 동작을 수행하지 아니할 수 있다.
그리고, 도 6c를 참조하면, 호스트(102)는 현재 배터리 가용 용량에 대응하는 등급인 3등급을 컨트롤러(130)에 제공할 수 있다. 이로 말미암아, 현재 배터리 가용 용량은 60%미만 40%이상인 것을 알 수 있다.
배터리 등급이 3등급이므로, 메모리 시스템(110)에 포함된 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 60ms 동안 수행하도록 백그라운드 동작을 설정할 수 있다.
그리고 나서, 메모리 시스템(110)은 60ms 동안 백그라운드 동작을 수행할 수 있다. 메모리 시스템(110)은 나머지 40ms동안 백그라운드 동작을 수행하지 아니할 수 있다.
또한, 도 6d를 참조하면, 호스트(102)는 현재 배터리 가용 용량에 대응하는 등급인 2등급을 컨트롤러(130)에 제공할 수 있다. 이로 말미암아, 현재 배터리 가용 용량은 40%미만 20%이상인 것을 알 수 있다.
배터리 등급이 2등급이므로, 메모리 시스템(110)에 포함된 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 40ms 동안 수행하도록 백그라운드 동작을 설정할 수 있다.
그리고 나서, 메모리 시스템(110)은 40ms 동안 백그라운드 동작을 수행할 수 있다. 메모리 시스템(110)은 나머지 60ms동안 백그라운드 동작을 수행하지 아니할 수 있다.
그리고, 도 6e를 참조하면, 호스트(102)는 현재 배터리 가용 용량에 대응하는 등급인 1등급을 컨트롤러(130)에 제공할 수 있다. 이로 말미암아, 현재 배터리 가용 용량은 20%미만 10%이상인 것을 알 수 있다.
배터리 등급이 1등급이므로, 메모리 시스템(110)에 포함된 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 20ms 동안 수행하도록 백그라운드 동작을 설정할 수 있다.
그리고 나서, 프로세서(134)는 20ms 동안 백그라운드 동작을 수행할 수 있다. 나머지, 80ms동안 데이터 처리 시스템(100)은 백그라운드 동작을 수행하지 아니할 수 있다.
마지막으로, 도 6f를 참조하면, 호스트(102)는 현재 배터리 가용 용량에 대응하는 등급인 0등급을 컨트롤러(130)에 제공할 수 있다. 이로 말미암아, 현재 배터리 가용 용량은 10%미만 0%보다 큰 것을 알 수 있다.
배터리 등급이 0등급이므로, 메모리 시스템(110)은 100ms동안 백그라운드 동작을 수행하지 아니할 수 있다.
상기와 같이, 데이터 처리 시스템(100)은 배터리의 현재 가용 용량에 따라 백그라운드 동작 수행 시간을 달리하여 배터리를 절약시킬 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 메모리 시스템(110)의 동작 과정을 나타낸 흐름도이다. 특히, 도 7은 백그라운드 동작을 수행하는 메모리 시스템(110)의 동작 과정을 나타낸다. 도 7에 도시된 백그라운드 동작 수행 방법은 하나의 실시 예일 뿐이며, 이에 제한되는 것은 아니다.
단계 S701에서, 프로세서(134)는 배터리 정보 관리부(146)에 저장된 배터리 등급을 확인할 수 있다.
만약, 배터리 등급이 5등급이라면(단계 S703에서, 'Yes'), 단계 S705에서, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 별도로 제한하지 않고, 100% 수행할 수 있다.
만약, 배터리 등급이 5등급이 아니고(단계 S703에서, 'No'), 4등급이라면(단계 S707에서, 'Yes'), 단계 S709에서, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 80%만 수행할 수 있다. 예를 들면, 프로세서(134)는 백그라운드 동작의 수행 횟수 혹은 수행 시간을 80%만큼 제한할 수 있다.
만약, 배터리 등급이 4등급이 아니고(단계 S707에서, 'No'), 3등급이라면(단계 S711에서, 'Yes'), 단계 S713에서, 프로세서(134)는 백그라운드 동작의 수행 횟수 혹은 수행 시간을 60%만큼 제한할 수 있다.
만약, 배터리 등급이 3등급이 아니고(단계 S711에서, 'No'), 2등급이라면(단계 S715에서, 'Yes'), 단계 S717에서, 프로세서(134)는 백그라운드 동작의 수행 횟수 혹은 수행 시간을 40%만큼 제한할 수 있다.
만약, 배터리 등급이 2등급이 아니고(단계 S715에서, 'No'), 1등급이라면(단계 S719에서, 'Yes'), 단계 S721에서, 프로세서(134)는 백그라운드 동작의 수행 횟수 혹은 수행 시간을 20%만큼 제한할 수 있다.
만약, 배터리 등급이 1등급이 아니라면(단계 S719에서, 'No'), 단계 S723에서, 프로세서(134)는 백그라운드 동작을 수행하지 아니할 수 있다.
상기와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 컨트롤러(130)는 데이터 처리 시스템(100)의 배터리 상태 정보(예를 들면, 가용 용량)에 따라 복수의 등급으로 분류하고, 등급에 기초하여 백그라운드 동작을 제어함으로써 데이터 처리 시스템(100)의 배터리 사용 효율을 증가시킬 수 있다.
그러면 이하에서는, 도 8 내지 도 16을 참조하여, 본 발명의 실시 예에 따라 도 1 내지 도 7에서 설명한 메모리 장치(150) 및 컨트롤러(130)를 포함하는 메모리 시스템(110)이 적용된 데이터 처리 시스템 및 전자 기기들에 대해서 보다 구체적으로 설명하기로 한다.
도 8는 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템을 포함하는 데이터 처리 시스템의 다른 일 예를 개략적으로 도시한 도면이다. 여기서, 도 8는 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템이 적용된 메모리 카드 시스템을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 8를 참조하면, 메모리 카드 시스템(6100)은, 메모리 컨트롤러(6120), 메모리 장치(6130), 및 커넥터(6110)를 포함한다.
보다 구체적으로 설명하면, 메모리 컨트롤러(6120)는, 비휘발성 메모리로 구현된 메모리 장치(6130)와 연결되며, 메모리 장치(6130)를 액세스하도록 구현된다. 메모리 장치(6130)는, 도 1에서 설명한 메모리 시스템(110)에서의 메모리 장치(150)에 대응될 수 있다.
그에 따라, 메모리 컨트롤러(6120)는, 램(RAM: Random Access Memory), 프로세싱 유닛(processing unit), 호스트 인터페이스(host interface), 메모리 인터페이스(memory interface), 에러 정정부(error correction unit)와 같은 구성 요소들을 포함할 수 있다. 아울러, 메모리 컨트롤러(6120)는, 커넥터(6110)를 통해 외부 장치 호스트(102)와 통신할 수 있다. 그리고, 메모리 장치(6130)는 비휘발성 메모리 소자들로 구현될 수 있다. 아울러, 메모리 컨트롤러(6120) 및 메모리 장치(6130)는, 하나의 반도체 장치로 집적될 수 있다.
도 9은 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템을 포함하는 데이터 처리 시스템의 다른 일 예를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 9을 참조하면, 데이터 처리 시스템(6200)은, 메모리 장치(6230) 및 메모리 컨트롤러(6220)를 포함한다. 여기서, 도 9에 도시한 데이터 처리 시스템(6200)은, 도 1에서 설명한 바와 같이, 메모리 카드(CF, SD, microSD, 등), USB 저장 장치 등과 같은 저장 매체가 될 수 있으며, 메모리 장치(6230)는, 도 1에서 설명한 메모리 시스템(110)에서의 메모리 장치(150)에 대응되고, 메모리 컨트롤러(6220)는, 도 1에서 설명한 메모리 시스템(110)에서의 컨트롤러(130)에 대응될 수 있다.
그리고, 메모리 컨트롤러(6220)는, 호스트 인터페이스(6224)를 통해 호스트(6210)와 데이터 등을 송수신하며, NVM 인터페이스(6225)를 통해 메모리 장치(6230)와 데이터 등을 송수신한다. 여기서, 호스트 인터페이스(6224)는, PATA 버스, SATA 버스, SCSI, USB, PCIe, 낸드 인터페이스 등을 통해 호스트(6210)와 연결될 수 있다. 또한, 메모리 컨트롤러(6220)는, 무선 통신 기능, 모바일 통신 규격으로 WiFi 또는 LTE(Long Term Evolution) 등이 구현되어, 외부 장치와 통신하도록 구성됨에 따라, 유선/무선 전자 기기들, 특히 모바일 전자 기기 등에 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템 및 데이터 처리 시스템이 적용될 수 있다.
도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템을 포함하는 데이터 처리 시스템의 다른 일 예를 개략적으로 도시한 도면이다. 여기서, 도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템이 적용된 솔리드 스테이트 드라이브(SSD: Solid State Drive)를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 10을 참조하면, SSD(6300)는, 복수의 비휘발성 메모리들을 포함하는 메모리 장치(6340) 및 컨트롤러(6320)를 포함한다. 여기서, 컨트롤러(6320)는, 도 1에서 설명한 메모리 시스템(110)에서의 컨트롤러(130)에 대응되며, 메모리 장치(6340)는, 도 1에서 설명한 메모리 시스템(110)에서의 메모리 장치(150)에 대응될 수 있다.
보다 구체적으로 설명하면, 컨트롤러(6320)는, 복수의 채널들(CH1 내지 CHi)을 통해 메모리 장치(6340)와 연결된다. 그리고, 컨트롤러(6320)는 프로세서(6321), 버퍼 메모리(6325), ECC 회로(6322), 호스트 인터페이스(6324), 및 메모리 인터페이스, 예컨대 비휘발성 메모리 인터페이스(6326)를 포함한다. 설명의 편의를 위해 컨트롤러(6320) 내부에 존재하지만, 컨트롤러(6320) 외부에도 존재할 수 있다.
또한, 호스트 인터페이스(6324)는, 외부의 장치, 예컨대 호스트(6310)와 인터페이스 기능을 제공하며, 비휘발성 메모리 인터페이스(6326)는, 복수의 채널들을 통해 연결된 메모리 장치(6340)와 인터페이스 기능을 제공한다.
아울러, 도 1에서 설명한 메모리 시스템(110)이 적용된 SSD(6300)는, 복수개가 적용되어 데이터 처리 시스템, 예컨대 RAID(Redundant Array of Independent Disks) 시스템을 구현할 수 있으며, 이때 RAID 시스템에는, 복수의 SSD(6300)들과, 복수의 SSD(6300)들을 제어하는 RAID 컨트롤러가 포함될 수 있다.
도 11는 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템을 포함하는 데이터 처리 시스템의 다른 일 예를 개략적으로 도시한 도면이다. 여기서, 도 11는 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템이 적용된 eMMC(embedded multimedia card)를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 11를 참조하면, eMMC(6400)는, 적어도 하나의 낸드 플래시 메모리로 구현된 메모리 장치(6440), 및 컨트롤러(6430)를 포함한다. 여기서, 컨트롤러(6430)는, 도 1에서 설명한 메모리 시스템(110)에서의 컨트롤러(130)에 대응되며, 메모리 장치(6440)는, 도 1에서 설명한 메모리 시스템(110)에서의 메모리 장치(150)에 대응될 수 있다.
도 12 내지 도 15은 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템을 포함하는 데이터 처리 시스템의 다른 일 예를 개략적으로 도시한 도면이다. 여기서, 도 12 내지 도 15은 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템이 적용된 UFS(Universal Flash Storage)를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 12 내지 도 15을 참조하면, 각각의 UFS 시스템들(6500,6600,6700,6800)은, 호스트들(6510,6610,6710,6810), UFS 장치들(6520,6620,6720,6820), 및 UFS 카드들(6530,6630,6730,6830)을 각각 포함할 수 있다. 여기서, 각각의 호스트(6510,6610,6710,6810)은, 유선/무선 전자 기기들, 특히 모바일 전자 기기 등의 어플리케이션 프로세서가 될 수 있으며, 또한 각각의 UFS 장치들(6520,6620,6720,6820)은, 임베디드 UFS(Embedded UFS) 장치들이 되고, 아울러 각각의 UFS 카드들(6530,6630,6730,6830)은, 외부 임베디드 UFS(External Embedded UFS) 장치 또는 리무벌 UFS 카드(Removable UFS Card)가 될 수 있다.
또한, 각 UFS 시스템들(6500,6600,6700,6800)에서, 각각의 호스트들(6510,6610,6710,6810), UFS 장치들(6520,6620,6720,6820), 및 UFS 카드들(6530,6630,6730,6830) 간은, 각각 UFS 프로토콜을 통해 외부의 장치들, 예컨대 유선/무선 전자 기기들, 특히 모바일 전자 기기 등과 통신할 수 있으며, UFS 장치들(6520,6620,6720,6820)과 UFS 카드들(6530,6630,6730,6830)은, 도 1에서 설명한 메모리 시스템(110)으로 구현될 수 있다. 예컨대, 각 UFS 시스템들(6500,6600,6700,6800)에서, UFS 장치들(6520,6620,6720,6820)은, 도 9 내지 도 11에서 설명한 데이터 처리 시스템(6200), SSD(6300), 또는 eMMC(6400) 형태로 구현될 수 있으며, UFS 카드들(6530,6630,6730,6830)은, 도 8에서 설명한 메모리 카드 시스템(6100) 형태로 구현될 수 있다.
아울러, 각 UFS 시스템들(6500,6600,6700,6800)에서, 각각의 호스트들(6510,6610,6710,6810), UFS 장치들(6520,6620,6720,6820), 및 UFS 카드들(6530,6630,6730,6830) 간은, UFS(Universal Flash Storage) 인터페이스, 예컨대 MIPI(Mobile Industry Processor Interface)에서의 MIPI M-PHY 및 MIPI UniPro(Unified Protocol)을 통해 통신을 수행할 수 있으며, 아울러 UFS 장치들(6520,6620,6720,6820)과 UFS 카드들(6530,6630,6730,6830) 간은, UFS 프로토콜이 아닌 다른 프로토콜을 통해 통신할 수 있으며, 예컨대 다양한 카드 프로토콜, 일 예로 UFDs, MMC, SD(secure digital), mini SD, Micro SD 등을 통해 통신할 수 있다.
도 16은 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템을 포함하는 데이터 처리 시스템의 또 다른 일 예를 개략적으로 도시한 도면이다. 여기서, 도 15은 본 발명에 따른 메모리 시스템이 적용된 사용자 시스템을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 16을 참조하면, 사용자 시스템(6900)은, 애플리케이션 프로세서(6930), 메모리 모듈(6920), 네트워크 모듈(6940), 스토리지 모듈(6950), 및 사용자 인터페이스(6910)를 포함한다.
여기서, 애플리케이션 프로세서(6930)는 시스템-온-칩(SoC: System-on-Chip)으로 제공될 수 있다.
그리고, 메모리 모듈(6920)은, 사용자 시스템(6900)의 메인 메모리, 동작 메모리, 버퍼 메모리, 또는 캐시 메모리로 동작할 수 있다. 예컨대, 애플리케이션 프로세서(6930) 및 메모리 모듈(6920)은, POP(Package on Package)를 기반으로 패키지화되어 실장될 수 있다.
또한, 네트워크 모듈(6940)은, 외부 장치들과 통신을 수행할 수 있다. 예를 들어, 네트워크 모듈(6940)은, 유선 통신을 지원할뿐만 아니라, CDMA(Code Division Multiple Access), GSM(Global System for Mobile communication), WCDMA(wideband CDMA), CDMA-2000, TDMA(Time Dvision Multiple Access), LTE(Long Term Evolution), Wimax, WLAN, UWB, 블루투스, WI-DI 등과 같은 다양한 무선 통신을 지원함으로써, 유선/무선 전자 기기들, 특히 모바일 전자 기기 등과 통신을 수행할 수 있으며, 그에 따라 본 발명의 실시 예에 따른 메모리 시스템 및 데이터 처리 시스템이 유선/무선 전자 기기들에 적용될 수 있다. 여기서, 네트워크 모듈(6940)은, 애플리케이션 프로세서(6930)에 포함될 수 있다.
아울러, 스토리지 모듈(6950)은, 데이터를 저장, 예컨대 애플리케이션 프로세서(6930)로부터 수신한 데이터를 저장한 후, 스토리지 모듈(6950)에 저장된 데이터를 애플리케이션 프로세서(6930)로 전송할 수 있다. 여기서, 스토리지 모듈(6650)은, PRAM(Phasechange RAM), MRAM(Magnetic RAM), RRAM(Resistive RAM), NAND flash, NOR flash, 3차원 구조의 NAND 플래시 등과 같은 비휘발성 반도체 메모리 소자 등으로 구현될 수 있으며, 또한 사용자 시스템(6900)의 메모리 카드, 외장형 드라이브 등과 같은 탈착식 저장 매체(removable drive)로 제공될 수 있다. 즉, 스토리지 모듈(6950)은, 도 1에서 설명한 메모리 시스템(110)에 대응될 수 있으며, 아울러 도 10 내지 도 15에서 설명한 SSD, eMMC, UFS로 구현될 수도 있다.
한편, 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시 예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구의 범위뿐만 아니라 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.

Claims (20)

  1. 데이터 처리 시스템에 있어서,
    배터리 상태 정보를 확인하고, 상기 배터리 상태 정보에 대응하는 배터리 등급을 설정하는 호스트; 및
    상기 배터리 등급을 상기 호스트로부터 제공받아 저장하고, 상기 배터리 등급에 기초하여 백그라운드 동작의 수행 방법을 설정하며, 상기 설정된 수행 방법에 따라 상기 백그라운드 동작을 수행하는 메모리 시스템
    을 포함하는 데이터 처리 시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 호스트는
    전력을 공급하는 배터리; 및
    상기 배터리의 상태 정보를 확인하고, 상기 배터리 상태 정보에 대응하는 배터리 등급을 설정하는 배터리관리부
    를 포함하는 데이터 처리 시스템.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 호스트는
    상기 배터리 등급을 부팅 시 상기 메모리 시스템에 제공하는
    데이터 처리 시스템.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 호스트는
    상기 배터리 등급이 변경되었을 때, 상기 메모리 시스템에 상기 배터리 등급을 제공하는
    데이터 처리 시스템.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 메모리 시스템은
    데이터를 저장하는 메모리 장치; 및
    상기 배터리 등급을 저장하고, 상기 배터리 등급에 기초하여 백그라운드 동작의 수행 방법을 설정하며, 상기 설정된 수행 방법에 따라 상기 백그라운드 동작을 수행하도록 상기 메모리 장치를 제어하는 컨트롤러
    를 포함하는 데이터 처리 시스템.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 컨트롤러는
    상기 배터리 등급을 저장하고 배터리 정보 관리부; 및
    상기 배터리 등급에 기초하여 백그라운드 동작의 수행 방법을 설정하며, 상기 설정된 수행 방법에 따라 상기 백그라운드 동작을 수행하도록 상기 메모리 장치를 제어하는 프로세서
    를 포함하는 데이터 처리 시스템.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 프로세서는
    상기 배터리 등급에 대응하는 수행횟수로 상기 백그라운드 동작의 수행 횟수를 설정하는
    데이터 처리 시스템.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 프로세서는
    상기 배터리 등급에 대응하는 수행시간으로 상기 백그라운드 동작의 수행 시간을 설정하는
    데이터 처리 시스템.
  9. 제 6 항에 있어서,
    상기 배터리 정보 관리부는
    새로운 상기 배터리 등급이 제공된 경우, 저장된 상기 배터리 등급을 업데이트하는
    데이터 처리 시스템.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 백그라운드 동작은
    가비지 컬렉션 동작, 리드 리클레임 동작 및 웨어 레벨링 동작
    을 포함하는 데이터 처리 시스템.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 배터리 상태 정보는
    배터리의 가용 용량을 나타내는 정보인
    데이터 처리 시스템.
  12. 배터리 상태 정보를 확인하는 호스트 및 백그라운드 동작을 수행하는 메모리 시스템을 포함하는 데이터 처리 시스템의 동작 방법에 있어서,
    상기 배터리 상태 정보를 확인하는 단계;
    상기 배터리 상태 정보에 대응하는 배터리 등급을 설정하는 단계;
    상기 배터리 등급에 기초하여 상기 백그라운드 동작의 수행 방법을 설정하는 단계; 및
    상기 설정된 수행 방법에 따라 상기 백그라운드 동작을 수행하는 단계
    를 포함하는 데이터 처리 시스템의 동작방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 백그라운드 동작의 수행 방법을 설정하는 단계는
    상기 배터리 등급에 대응하는 수행횟수로 상기 백그라운드 동작의 수행 횟수를 설정하는
    데이터 처리 시스템의 동작방법.
  14. 제 12 항에 있어서,
    상기 백그라운드 동작의 수행 방법을 설정하는 단계는
    상기 배터리 등급에 대응하는 수행시간으로 상기 백그라운드 동작의 수행 시간을 설정하는
    데이터 처리 시스템의 동작방법.
  15. 제 12 항에 있어서,
    부팅 시, 상기 호스트로부터 상기 메모리 시스템에 상기 배터리 등급을 제공하는 단계
    를 더 포함하는 데이터 처리 시스템의 동작방법.
  16. 제 12 항에 있어서,
    상기 배터리 등급이 변경되었을 때, 상기 호스트로부터 상기 메모리 시스템에 상기 배터리 등급을 제공하는 단계
    를 더 포함하는 데이터 처리 시스템의 동작방법.
  17. 제 12 항에 있어서,
    상기 배터리 등급을 저장하는 단계
    를 더 포함하는 데이터 처리 시스템의 동작방법.
  18. 제 12 항에 있어서,
    상기 호스트로가 새로운 상기 배터리 등급을 상기 메모리 시스템에 제공한 경우, 상기 배터리 등급을 업데이트하는 단계
    를 더 포함하는 데이터 처리 시스템의 동작방법.
  19. 제 12 항에 있어서,
    상기 백그라운드 동작은
    가비지 컬렉션 동작, 리드 리클레임 동작 및 웨어 레벨링 동작
    을 포함하는 데이터 처리 시스템의 동작방법.
  20. 제 12 항에 있어서,
    상기 배터리 상태 정보는
    배터리의 가용 용량을 나타내는 정보인
    데이터 처리 시스템의 동작방법.
KR1020180108308A 2018-09-11 2018-09-11 데이터 처리 시스템 및 그의 동작방법 KR20200029810A (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180108308A KR20200029810A (ko) 2018-09-11 2018-09-11 데이터 처리 시스템 및 그의 동작방법
US16/384,231 US11639969B2 (en) 2018-09-11 2019-04-15 Data processing system and operating method thereof
CN201910795183.3A CN110890123B (zh) 2018-09-11 2019-08-27 数据处理***及其操作方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180108308A KR20200029810A (ko) 2018-09-11 2018-09-11 데이터 처리 시스템 및 그의 동작방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20200029810A true KR20200029810A (ko) 2020-03-19

Family

ID=69719467

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180108308A KR20200029810A (ko) 2018-09-11 2018-09-11 데이터 처리 시스템 및 그의 동작방법

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11639969B2 (ko)
KR (1) KR20200029810A (ko)
CN (1) CN110890123B (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220164283A1 (en) * 2020-11-24 2022-05-26 Micron Technology, Inc. Selective garbage collection

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230107067A (ko) * 2022-01-07 2023-07-14 주식회사 엘지에너지솔루션 배터리 데이터 관리 장치 및 그것의 동작 방법
CN115252975B (zh) * 2022-07-29 2023-06-06 珠海格力电器股份有限公司 雾化器控制方法、装置、雾化器及存储介质

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7484110B2 (en) 2006-03-16 2009-01-27 Microsoft Corporation Adaptive power management
KR20130049332A (ko) 2011-11-04 2013-05-14 삼성전자주식회사 메모리 시스템 및 그것의 동작 방법
US8634267B2 (en) 2012-05-14 2014-01-21 Sandisk Technologies Inc. Flash memory chip power management for data reliability and methods thereof
KR102194795B1 (ko) 2013-08-29 2020-12-23 삼성전자주식회사 전력 제어를 위한 전자 장치 및 방법
KR20160073834A (ko) 2014-12-17 2016-06-27 에스케이하이닉스 주식회사 메모리 시스템 및 메모리 시스템 동작 방법
KR102222444B1 (ko) * 2015-03-05 2021-03-04 삼성전자주식회사 전력 상태 정보를 사용하는 저장 장치 및 그것의 동작 방법
CN104991738B (zh) 2015-06-19 2018-04-24 华中科技大学 一种固态盘及其读写操作方法
KR20170075327A (ko) 2015-12-23 2017-07-03 삼성전자주식회사 전력을 관리하는 전자 장치 및 그 제어 방법
US10649896B2 (en) * 2016-11-04 2020-05-12 Samsung Electronics Co., Ltd. Storage device and data processing system including the same
KR102208058B1 (ko) 2016-11-04 2021-01-27 삼성전자주식회사 저장 장치 및 이를 포함하는 데이터 처리 시스템
US10387281B2 (en) * 2017-08-30 2019-08-20 Micron Technology, Inc. Flash memory block retirement policy
KR102244921B1 (ko) * 2017-09-07 2021-04-27 삼성전자주식회사 저장 장치 및 그 리프레쉬 방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220164283A1 (en) * 2020-11-24 2022-05-26 Micron Technology, Inc. Selective garbage collection
US11899577B2 (en) * 2020-11-24 2024-02-13 Micron Technology, Inc. Selective garbage collection

Also Published As

Publication number Publication date
US11639969B2 (en) 2023-05-02
CN110890123A (zh) 2020-03-17
CN110890123B (zh) 2024-03-19
US20200081065A1 (en) 2020-03-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102517681B1 (ko) 메모리 시스템 및 그것의 동작방법
KR102648618B1 (ko) 컨트롤러, 그것의 동작방법 및 컨트롤러를 포함하는 메모리 시스템
KR102532563B1 (ko) 메모리 장치 및 그것의 동작방법
KR20180110473A (ko) 컨트롤러, 메모리 시스템 및 그것의 동작 방법
KR20190044798A (ko) 컨트롤러 및 컨트롤러의 동작방법
KR20200010933A (ko) 메모리 시스템 및 그것의 동작방법
KR20200019430A (ko) 컨트롤러 및 그것의 동작방법
KR20190040598A (ko) 컨트롤러 및 컨트롤러의 동작방법
KR20200074647A (ko) 메모리 시스템 및 그것의 동작방법
KR20190078133A (ko) 컨트롤러 및 그것의 동작방법
KR20200064568A (ko) 메모리 시스템 및 그것의 동작방법
CN110716880B (zh) 存储器***及其操作方法
KR102586786B1 (ko) 메모리 시스템 및 그것의 동작방법
KR102520412B1 (ko) 메모리 시스템 및 그것의 동작방법
KR20200029810A (ko) 데이터 처리 시스템 및 그의 동작방법
KR102567314B1 (ko) 메모리 시스템 및 그것의 동작방법
KR20190001300A (ko) 컨트롤러 및 메모리 시스템 및 메모리 시스템의 동작 방법
KR20200068944A (ko) 메모리 시스템 및 그것의 동작방법
KR20200095903A (ko) 메모리 시스템 및 그것의 동작방법
KR102200247B1 (ko) 메모리 시스템 및 메모리 시스템의 동작방법
KR20190082513A (ko) 컨트롤러 및 그것의 동작방법
KR102513498B1 (ko) 컨트롤러, 그것의 동작방법 및 컨트롤러를 포함하는 메모리 시스템
KR102654308B1 (ko) 메모리 시스템 및 그것의 동작방법
KR20200064567A (ko) 데이터 처리 시스템 및 그것의 동작방법
KR20200066906A (ko) 메모리 시스템, 그것의 동작방법 및 컨트롤러

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal