KR20170105013A - 은 피복 구리분 및 그의 제조 방법 - Google Patents
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- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 341
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 340
- 239000004332 silver Substances 0.000 title claims abstract description 335
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 276
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 44
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 21
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims abstract description 74
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 71
- XFXPMWWXUTWYJX-UHFFFAOYSA-N Cyanide Chemical compound N#[C-] XFXPMWWXUTWYJX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 15
- 229940100890 silver compound Drugs 0.000 claims abstract description 14
- 150000003379 silver compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 14
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 239000011591 potassium Substances 0.000 claims abstract description 10
- KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N boric acid Chemical compound OB(O)O KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 8
- 239000004327 boric acid Substances 0.000 claims abstract description 8
- CKLJMWTZIZZHCS-UHFFFAOYSA-N D-OH-Asp Natural products OC(=O)C(N)CC(O)=O CKLJMWTZIZZHCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 4
- CKLJMWTZIZZHCS-UWTATZPHSA-N L-Aspartic acid Natural products OC(=O)[C@H](N)CC(O)=O CKLJMWTZIZZHCS-UWTATZPHSA-N 0.000 claims abstract description 4
- CKLJMWTZIZZHCS-REOHCLBHSA-N L-aspartic acid Chemical compound OC(=O)[C@@H](N)CC(O)=O CKLJMWTZIZZHCS-REOHCLBHSA-N 0.000 claims abstract description 4
- 229960005261 aspartic acid Drugs 0.000 claims abstract description 4
- 235000010338 boric acid Nutrition 0.000 claims abstract description 4
- PJAHUDTUZRZBKM-UHFFFAOYSA-K potassium citrate monohydrate Chemical compound O.[K+].[K+].[K+].[O-]C(=O)CC(O)(CC([O-])=O)C([O-])=O PJAHUDTUZRZBKM-UHFFFAOYSA-K 0.000 claims abstract description 4
- WQNHWIYLCRZRLR-UHFFFAOYSA-N 2-(3-hydroxy-2,5-dioxooxolan-3-yl)acetic acid Chemical compound OC(=O)CC1(O)CC(=O)OC1=O WQNHWIYLCRZRLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 40
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 26
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 22
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 claims description 21
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 15
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 11
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 11
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 9
- RYCLIXPGLDDLTM-UHFFFAOYSA-J tetrapotassium;phosphonato phosphate Chemical compound [K+].[K+].[K+].[K+].[O-]P([O-])(=O)OP([O-])([O-])=O RYCLIXPGLDDLTM-UHFFFAOYSA-J 0.000 claims description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 6
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 4
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 claims description 2
- 239000008199 coating composition Substances 0.000 claims 1
- XZSPDZZPOWEABC-UHFFFAOYSA-N cyanide Chemical compound N#[C-].N#[C-] XZSPDZZPOWEABC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ALKZAGKDWUSJED-UHFFFAOYSA-N dinuclear copper ion Chemical compound [Cu].[Cu] ALKZAGKDWUSJED-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract description 12
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract description 12
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 abstract description 4
- NNFCIKHAZHQZJG-UHFFFAOYSA-N potassium cyanide Chemical compound [K+].N#[C-] NNFCIKHAZHQZJG-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- LWIHDJKSTIGBAC-UHFFFAOYSA-K tripotassium phosphate Chemical compound [K+].[K+].[K+].[O-]P([O-])([O-])=O LWIHDJKSTIGBAC-UHFFFAOYSA-K 0.000 abstract 2
- 229910000160 potassium phosphate Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 235000011009 potassium phosphates Nutrition 0.000 abstract 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 55
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 40
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 28
- SQGYOTSLMSWVJD-UHFFFAOYSA-N silver(1+) nitrate Chemical compound [Ag+].[O-]N(=O)=O SQGYOTSLMSWVJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 28
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 16
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 16
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 16
- 229910001961 silver nitrate Inorganic materials 0.000 description 14
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 11
- ATRRKUHOCOJYRX-UHFFFAOYSA-N Ammonium bicarbonate Chemical compound [NH4+].OC([O-])=O ATRRKUHOCOJYRX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000001099 ammonium carbonate Substances 0.000 description 10
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 10
- 235000012501 ammonium carbonate Nutrition 0.000 description 9
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 9
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 9
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 8
- 239000000706 filtrate Substances 0.000 description 7
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 7
- UEUXEKPTXMALOB-UHFFFAOYSA-J tetrasodium;2-[2-[bis(carboxylatomethyl)amino]ethyl-(carboxylatomethyl)amino]acetate Chemical compound [Na+].[Na+].[Na+].[Na+].[O-]C(=O)CN(CC([O-])=O)CCN(CC([O-])=O)CC([O-])=O UEUXEKPTXMALOB-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000002738 chelating agent Substances 0.000 description 6
- KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N citric acid Chemical compound OC(=O)CC(O)(C(O)=O)CC(O)=O KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 6
- 230000004584 weight gain Effects 0.000 description 6
- 235000019786 weight gain Nutrition 0.000 description 6
- -1 Can be prevented Chemical compound 0.000 description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 5
- 229910021607 Silver chloride Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 4
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 4
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 4
- HKZLPVFGJNLROG-UHFFFAOYSA-M silver monochloride Chemical compound [Cl-].[Ag+] HKZLPVFGJNLROG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 229960004543 anhydrous citric acid Drugs 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 244000205754 Colocasia esculenta Species 0.000 description 2
- 235000006481 Colocasia esculenta Nutrition 0.000 description 2
- JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N Cu2+ Chemical compound [Cu+2] JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N Formaldehyde Chemical compound O=C WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UIIMBOGNXHQVGW-UHFFFAOYSA-M Sodium bicarbonate Chemical compound [Na+].OC([O-])=O UIIMBOGNXHQVGW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 235000021355 Stearic acid Nutrition 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 2
- 235000011114 ammonium hydroxide Nutrition 0.000 description 2
- QZPSXPBJTPJTSZ-UHFFFAOYSA-N aqua regia Chemical compound Cl.O[N+]([O-])=O QZPSXPBJTPJTSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 2
- 229910001431 copper ion Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000004821 distillation Methods 0.000 description 2
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- QIQXTHQIDYTFRH-UHFFFAOYSA-N octadecanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCC(O)=O QIQXTHQIDYTFRH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OQCDKBAXFALNLD-UHFFFAOYSA-N octadecanoic acid Natural products CCCCCCCC(C)CCCCCCCCC(O)=O OQCDKBAXFALNLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JMANVNJQNLATNU-UHFFFAOYSA-N oxalonitrile Chemical compound N#CC#N JMANVNJQNLATNU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000006174 pH buffer Substances 0.000 description 2
- 230000001376 precipitating effect Effects 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N sodium nitrate Chemical compound [Na+].[O-][N+]([O-])=O VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GGCZERPQGJTIQP-UHFFFAOYSA-N sodium;9,10-dioxoanthracene-2-sulfonic acid Chemical compound [Na+].C1=CC=C2C(=O)C3=CC(S(=O)(=O)O)=CC=C3C(=O)C2=C1 GGCZERPQGJTIQP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000008117 stearic acid Substances 0.000 description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 2
- IMNIMPAHZVJRPE-UHFFFAOYSA-N triethylenediamine Chemical compound C1CN2CCN1CC2 IMNIMPAHZVJRPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009692 water atomization Methods 0.000 description 2
- WRIDQFICGBMAFQ-UHFFFAOYSA-N (E)-8-Octadecenoic acid Natural products CCCCCCCCCC=CCCCCCCC(O)=O WRIDQFICGBMAFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VXQBJTKSVGFQOL-UHFFFAOYSA-N 2-(2-butoxyethoxy)ethyl acetate Chemical compound CCCCOCCOCCOC(C)=O VXQBJTKSVGFQOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LQJBNNIYVWPHFW-UHFFFAOYSA-N 20:1omega9c fatty acid Natural products CCCCCCCCCCC=CCCCCCCCC(O)=O LQJBNNIYVWPHFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QSBYPNXLFMSGKH-UHFFFAOYSA-N 9-Heptadecensaeure Natural products CCCCCCCC=CCCCCCCCC(O)=O QSBYPNXLFMSGKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000013 Ammonium bicarbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-K Citrate Chemical compound [O-]C(=O)CC(O)(CC([O-])=O)C([O-])=O KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- RPNUMPOLZDHAAY-UHFFFAOYSA-N Diethylenetriamine Chemical compound NCCNCCN RPNUMPOLZDHAAY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001856 Ethyl cellulose Substances 0.000 description 1
- ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N Ethyl cellulose Chemical compound CCOCC1OC(OC)C(OCC)C(OCC)C1OC1C(O)C(O)C(OC)C(CO)O1 ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000892865 Heros Species 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005642 Oleic acid Substances 0.000 description 1
- ZQPPMHVWECSIRJ-UHFFFAOYSA-N Oleic acid Natural products CCCCCCCCC=CCCCCCCCC(O)=O ZQPPMHVWECSIRJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FOIXSVOLVBLSDH-UHFFFAOYSA-N Silver ion Chemical compound [Ag+] FOIXSVOLVBLSDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IENXJNLJEDMNTE-UHFFFAOYSA-N acetic acid;ethane-1,2-diamine Chemical compound CC(O)=O.NCCN IENXJNLJEDMNTE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N ammonia Natural products N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000012538 ammonium bicarbonate Nutrition 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- SKKTUOZKZKCGTB-UHFFFAOYSA-N butyl carbamate Chemical compound CCCCOC(N)=O SKKTUOZKZKCGTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012295 chemical reaction liquid Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 235000019325 ethyl cellulose Nutrition 0.000 description 1
- 229920001249 ethyl cellulose Polymers 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- NBZBKCUXIYYUSX-UHFFFAOYSA-N iminodiacetic acid Chemical compound OC(=O)CNCC(O)=O NBZBKCUXIYYUSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000008235 industrial water Substances 0.000 description 1
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 description 1
- QXJSBBXBKPUZAA-UHFFFAOYSA-N isooleic acid Natural products CCCCCCCC=CCCCCCCCCC(O)=O QXJSBBXBKPUZAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004898 kneading Methods 0.000 description 1
- YQCIWBXEVYWRCW-UHFFFAOYSA-N methane;sulfane Chemical compound C.S YQCIWBXEVYWRCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 1
- ZQPPMHVWECSIRJ-KTKRTIGZSA-N oleic acid Chemical compound CCCCCCCC\C=C/CCCCCCCC(O)=O ZQPPMHVWECSIRJ-KTKRTIGZSA-N 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 238000002203 pretreatment Methods 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 239000008213 purified water Substances 0.000 description 1
- JEXVQSWXXUJEMA-UHFFFAOYSA-N pyrazol-3-one Chemical compound O=C1C=CN=N1 JEXVQSWXXUJEMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 150000003378 silver Chemical class 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 235000017557 sodium bicarbonate Nutrition 0.000 description 1
- 229910000030 sodium bicarbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004317 sodium nitrate Substances 0.000 description 1
- 235000010344 sodium nitrate Nutrition 0.000 description 1
- 235000019832 sodium triphosphate Nutrition 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- LAJZODKXOMJMPK-UHFFFAOYSA-N tellurium dioxide Chemical compound O=[Te]=O LAJZODKXOMJMPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UNXRWKVEANCORM-UHFFFAOYSA-I triphosphate(5-) Chemical compound [O-]P([O-])(=O)OP([O-])(=O)OP([O-])([O-])=O UNXRWKVEANCORM-UHFFFAOYSA-I 0.000 description 1
- 238000000870 ultraviolet spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 1
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- B22F1/025—
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F1/00—Metallic powder; Treatment of metallic powder, e.g. to facilitate working or to improve properties
- B22F1/17—Metallic particles coated with metal
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
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Abstract
아토마이즈법 등에 의해 얻어지고 구리분의 표면을(은 피복 구리분에 대하여) 5질량% 이상의 은 또는 은 화합물을 포함하는 은 함유층으로 피복하여 얻어진 은 피복 구리분을, 시안은칼륨 용액(또는 피로인산칼륨, 붕산, 시트르산삼칼륨일수화물, 무수 시트르산 및 L-아스파라긴산으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종 이상이 첨가된 시안은칼륨 용액)을 포함하는 은 담지액에 첨가하여, 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면에(은 피복 구리분에 대하여) 0.01질량% 이상의 은을 담지시킨다.
Description
본 발명은 은 피복 구리분 및 그의 제조 방법에 관한 것으로, 특히 도전 페이스트 등에 사용하는 은 피복 구리분 및 그의 제조 방법에 관한 것이다.
종래, 인쇄법 등에 의해 전자 부품의 전극이나 배선을 형성하기 위하여, 은분이나 구리분 등의 도전성의 금속 분말에 용제, 수지, 분산제 등을 배합하여 제작한 도전 페이스트가 사용되고 있다.
그러나, 은분은, 부피 저항률이 매우 작고, 양호한 도전성 물질이지만, 귀금속의 분말이기 때문에, 비용이 높아진다. 한편, 구리분은 부피 저항률이 낮고, 양호한 도전성 물질이지만, 산화되기 쉽기 때문에, 은분에 비하여 보존 안정성(신뢰성)이 떨어진다.
이들 문제를 해소하기 위하여, 도전 페이스트에 사용하는 금속 분말로서, 구리분의 표면을 은으로 피복한 은 피복 구리분이 제안되고 있다(예를 들어, 특허문헌 1 내지 2 참조).
그러나, 특허문헌 1 내지 2의 은 피복 구리분에서는, 구리분의 표면에 은으로 피복되어 있지 않은 부분이 존재하면, 그 부분으로부터 산화가 진행되어 버리기 때문에, 보존 안정성(신뢰성)이 불충분하다.
따라서, 본 발명은 이러한 종래의 문제점을 감안하여, 보존 안정성(신뢰성)이 우수한 은 피복 구리분 및 그의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명자들은, 상기 과제를 해결하기 위하여 예의 연구한 결과, 표면이 은 함유층으로 피복된 구리분을 은 담지액에 첨가하여, 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면에 은을 담지시킴으로써, 보존 안정성(신뢰성)이 우수한 도은 피복 구리분을 제조할 수 있음을 알아내어, 본 발명을 완성하기에 이르렀다.
즉, 본 발명에 의한 은 피복 구리분의 제조 방법은, 표면이 은 함유층으로 피복된 구리분을 은 담지액에 첨가하여, 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면에 은을 담지시키는 것을 특징으로 한다.
이 은 피복 구리분의 제조 방법에 있어서, 은을 담지시키는 표면이, 은 함유층으로 피복된 구리분의 노출면인 것이 바람직하고, 은 함유층이 은 또는 은 화합물을 포함하는 층인 것이 바람직하다. 또한, 은 피복 구리분에 대한 은 함유층의 양이 5질량% 이상인 것이 바람직하고, 은 피복 구리분에 대한 담지된 은의 양이 0.01질량% 이상인 것이 바람직하다. 또한, 은 담지액이, 시안은칼륨 용액을 포함하는 것이 바람직하고, 이 시안은칼륨 용액이, 피로인산칼륨, 붕산, 시트르산삼칼륨일수화물, 무수 시트르산 및 L-아스파라긴산으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종 이상을 포함해도 된다. 또한, 구리분의 레이저 회절식 입도 분포 장치에 의해 측정한 누적 50% 입자 직경(D50 직경)이 0.1 내지 15㎛인 것이 바람직하다.
본 발명에 의한 은 피복 구리분은, 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면의 노출 부분에 은이 담지된 은 피복 구리분이며, 시차열·열 중량 동시 측정 장치(TG-DTA 장치)에 의해 대기 중에 있어서 실온으로부터 400℃까지 승온시켜 가열했을 때에, 2개의 발열 피크가 나타나는 것을 특징으로 한다. 이 은 피복 구리분에 있어서, 2개의 발열 피크의 한쪽이, 330 내지 370℃를 발열 피크 온도로 하는 메인 피크이며, 다른 쪽이 230 내지 270℃를 발열 피크 온도로 하는 서브 피크인 것이 바람직하다.
또한, 본 발명에 의한 은 피복 구리분은, 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면의 노출 부분에 은이 담지된 은 피복 구리분이며, 시차열·열 중량 동시 측정 장치(TG-DTA 장치)에 의해 대기 중에 있어서 실온으로부터 400℃까지 승온시켜 가열했을 때에, 250℃ 및 300℃에 있어서의 은 피복 구리분의 중량 증가율이, 각각 0.3% 이하, 1.0% 이하인 것을 특징으로 한다.
상기한 은 피복 구리분에 있어서, 은 함유층이 은 또는 은 화합물을 포함하는 층인 것이 바람직하다. 또한, 은 피복 구리분에 대한 은 함유층의 양이 5질량% 이상인 것이 바람직하고, 은 피복 구리분에 대한 담지된 은의 양이 0.01질량% 이상인 것이 바람직하다. 또한, 구리분의 레이저 회절식 입도 분포 장치에 의해 측정한 누적 50% 입자 직경(D50 직경)이 0.1 내지 15㎛인 것이 바람직하다. 또한, 은 피복 구리분 중의 시안의 양이 10 내지 3000ppm인 것이 바람직하고, 은 피복 구리분 중의 탄소 함유량 및 질소 함유량이 각각 0.04질량% 이상인 것이 바람직하다.
또한, 본 발명에 의한 도전성 페이스트는, 상기한 은 피복 구리분을 도체로서 사용한 것을 특징으로 한다. 혹은, 본 발명에 의한 도전성 페이스트는, 용제 및 수지를 포함하고, 도전성 분체로서 상기한 은 피복 구리분을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 의한 태양 전지용 전극의 제조 방법은, 상기한 도전성 페이스트를 기판에 도포한 후에 경화시킴으로써 기판의 표면에 전극을 형성하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따르면, 보존 안정성(신뢰성)이 우수한 은 피복 구리분 및 그의 제조 방법을 제공할 수 있다. 또한, 이 (표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분을 사용한 도전성 페이스트를 태양 전지의 버스 바 전극의 형성에 사용하면, 태양 전지의 변환 효율을 대폭 향상시킬 수 있음과 함께, (온도 85℃, 습도 85%로 24시간 및 48시간 유지하는) 내후성 시험(신뢰성 시험) 후에도 변환 효율의 저하를 억제할 수 있다.
도 1은 실시예 4의 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정 결과를 도시하는 도면이다.
도 2는 실시예 5의 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정 결과를 도시하는 도면이다.
도 3은 비교예 3의 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정 결과를 도시하는 도면이다.
도 4는 비교예 4의 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정 결과를 도시하는 도면이다.
도 5는 실시예 7 및 비교예 6의 도전성 페이스트를 사용하여 제작한 태양 전지의 내후성 시험의 시간에 대한 변환 효율의 변화를 도시하는 도면이다.
도 2는 실시예 5의 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정 결과를 도시하는 도면이다.
도 3은 비교예 3의 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정 결과를 도시하는 도면이다.
도 4는 비교예 4의 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정 결과를 도시하는 도면이다.
도 5는 실시예 7 및 비교예 6의 도전성 페이스트를 사용하여 제작한 태양 전지의 내후성 시험의 시간에 대한 변환 효율의 변화를 도시하는 도면이다.
본 발명에 의한 은 피복 구리분의 제조 방법의 실시 형태에서는, 표면이 은 함유층으로 피복된 구리분을 은 담지액에 첨가하여, 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면에 은을 담지시킨다. 이와 같이 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면(의 노출 부분)에 은을 담지시킴으로써, 구리분이 은 함유층으로 피복되어 있지 않은 노출 부분(구리분의 노출면)을 은으로 피복하여, 구리분의 산화를 방지하여, 보존 안정성(신뢰성)이 우수한 은 피복 구리분을 제조할 수 있다.
은 함유층은, 은 또는 은 화합물을 포함하는 층인 것이 바람직하다. 은 피복 구리분에 대한 은 함유층의 피복량은 5질량% 이상인 것이 바람직하고, 7 내지 50질량%인 것이 더욱 바람직하고, 8 내지 40질량%인 것이 더욱 바람직하고, 9 내지 20질량%인 것이 가장 바람직하다. 은 함유층의 피복량이 5질량% 미만이면, 은 피복 구리분의 도전성에 악영향을 미치므로 바람직하지 않다. 한편, 50질량%를 초과하면, 은의 사용량의 증가에 의해 비용이 높아지므로 바람직하지 않다.
은 피복 구리분에 대한 은의 담지량은 0.01질량% 이상인 것이 바람직하고, 0.05 내지 0.7질량%인 것이 더욱 바람직하다. 은의 담지량이 0.01질량% 미만이면 은 피복 구리분의 구리분이 은으로 피복되어 있지 않은 노출 부분을 은이 매립하기에는 불충분하고, 은의 담지량이 0.7질량%를 초과하면, 은의 증량분에 대한 구리분의 산화 방지 효과의 향상의 비율이 작고, 은의 사용량의 증가에 의해 비용이 높아지므로 바람직하지 않다.
은 담지액은, 구리분을 은 함유층으로 피복할 때에 표면의 산화물 등의 저해 요인에 의해 은 함유층으로 피복되지 않는 약간의 부분에 은을 담지시키는 용액이며, 은 함유층으로 피복되어 있지 않은 구리분의 노출 부분에 은을 담지시킬 수 있으면서 또한 은 함유층을 녹이지 않는 용액인 것이 바람직하고, 시안은칼륨 용액 등의 시안은 화합물 용액을 포함하는 것이 바람직하다. 시안은칼륨 용액은, 구리분을 은으로 피복할 때에 사용한 경우에, 은 피복 반응이 불균일해지기 쉬워, 구리분의 표면을 균일하게 은으로 피복하기에는 적합하지 않지만, 은 함유층으로 피복되어 있지 않은 구리분의 노출 부분에 은을 담지시키기에는 효과적임을 알 수 있다. 또한, 은 담지액은 산성, 중성, 알칼리성의 어느 것이든 좋으며, 시안은칼륨 용액은, 피로인산칼륨, 붕산, 시트르산삼칼륨일수화물, 무수 시트르산 및 L-아스파라긴산으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종 이상을 포함해도 된다.
구리분의 입자 직경은, (헤로스법에 의해) 레이저 회절식 입도 분포 장치에 의해 측정한 누적 50% 입자 직경(D50 직경)이 0.1 내지 15㎛인 것이 바람직하고, 0.3 내지 10㎛인 것이 더욱 바람직하고, 1 내지 5㎛인 것이 가장 바람직하다. 누적 50% 입자 직경(D50 직경)이 0.1㎛ 미만이면, 은 피복 구리분의 도전성에 악영향을 미치므로 바람직하지 않다. 한편, 15㎛를 초과하면, 미세한 배선의 형성이 곤란해지므로 바람직하지 않다.
구리분은 습식 환원법, 전해법, 기상법 등에 의해 제조해도 되지만, 구리를 용해 온도 이상에서 용해하고, 턴디쉬 하부로부터 낙하시키면서 고압 가스 또는 고압수를 충돌시켜 급랭 응고시킴으로써 미분말로 하는, (가스 아토마이즈법, 물 아토마이즈법 등의) 소위 아토마이즈법에 의해 제조하는 것이 바람직하다. 특히, 고압수를 분사하는, 소위 물 아토마이즈법에 의해 제조하면, 입자 직경이 작은 구리분을 얻을 수 있으므로, 구리분을 도전 페이스트에 사용했을 때에 입자 사이의 접촉점의 증가에 의한 도전성의 향상을 도모할 수 있다.
구리분을 은 함유층으로 피복하는 방법으로서, 구리와 은의 치환 반응을 이용한 환원법이나, 환원제를 사용하는 환원법에 의해, 구리분의 표면에 은 또는 은 화합물을 석출시키는 방법을 사용할 수 있으며, 예를 들어 용매 중에 구리분과 은 또는 은 화합물을 포함하는 용액을 교반하면서 구리분의 표면에 은 또는 은 화합물을 석출시키는 방법이나, 용매 중에 구리분 및 유기물을 포함하는 용액과 용매 중에 은 또는 은 화합물 및 유기물을 포함하는 용액을 혼합하여 교반하면서 구리분의 표면에 은 또는 은 화합물을 석출시키는 방법 등을 사용할 수 있다.
이 용매로서는, 물, 유기 용매 또는 이들을 혼합한 용매를 사용할 수 있다. 물과 유기 용매를 혼합한 용매를 사용하는 경우에는, 실온(20 내지 30℃)에 있어서 액체가 되는 유기 용매를 사용할 필요가 있지만, 물과 유기 용매의 혼합 비율은, 사용하는 유기 용매에 의해 적절히 조정할 수 있다. 또한, 용매로서 사용하는 물은, 불순물이 혼입될 우려가 없으면, 증류수, 이온 교환수, 공업용수 등을 사용할 수 있다.
은 함유층의 원료로서, 은 이온을 용액 중에 존재시킬 필요가 있기 때문에, 물이나 많은 유기 용매에 대하여 높은 용해도를 갖는 질산은을 사용하는 것이 바람직하다. 또한, 구리분을 은 함유층으로 피복하는 반응(은 피복 반응)을 가능한 한 균일하게 행하기 위하여, 고체의 질산은이 아니라, 질산은을 용매(물, 유기 용매 또는 이들을 혼합한 용매)에 용해한 질산은 용액을 사용하는 것이 바람직하다. 또한, 사용하는 질산은 용액의 양, 질산은 용액 중의 질산은의 농도 및 유기 용매의 양은, 목적으로 하는 은 함유층의 양에 따라 결정할 수 있다.
은 함유층을 보다 균일하게 형성하기 위하여, 용액 중에 킬레이트화제를 첨가해도 된다. 킬레이트화제로서는, 은 이온과 금속 구리의 치환 반응에 의해 부생성되는 구리 이온 등이 재석출되지 않도록, 구리 이온 등에 대하여 착안정도 상수가 높은 킬레이트화제를 사용하는 것이 바람직하다. 특히, 은 피복 구리분의 코어가 되는 구리분은 주 구성 요소로서 구리를 포함하고 있으므로, 구리와의 착안정도 상수에 유의하여 킬레이트화제를 선택하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 킬레이트화제로서, 에틸렌디아민사아세트산(EDTA), 이미노디아세트산, 디에틸렌트리아민, 트리에틸렌디아민 및 이들의 염으로 이루어지는 군으로부터 선택된 킬레이트화제를 사용할 수 있다.
은 피복 반응을 안정되면서 또한 안전하게 행하기 위하여, 용액 중에 pH 완충제를 첨가해도 된다. 이 pH 완충제로서, 탄산암모늄, 탄산수소암모늄, 암모니아수, 탄산수소나트륨 등을 사용할 수 있다.
은 피복 반응 시에는, 은염을 첨가하기 전에 용액 중에 구리분을 넣고 교반하여, 구리분이 용액 중에 충분히 분산되어 있는 상태에서, 은염을 포함하는 용액을 첨가하는 것이 바람직하다. 이 은 피복 반응 시의 반응 온도는, 반응액이 응고 또는 증발되는 온도가 아니면 되지만, 바람직하게는 10 내지 40℃, 더욱 바람직하게는 15 내지 35℃의 범위에서 설정한다. 또한, 반응 시간은, 은 또는 은 화합물의 피복량이나 반응 온도에 따라 상이하지만, 1분 내지 5시간의 범위에서 설정할 수 있다.
본 발명에 의한 은 피복 구리분의 실시 형태는, 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면의 노출 부분에 은이 담지된 은 피복 구리분이며, 시차열·열 중량 동시 측정 장치(TG-DTA 장치)에 의해 대기 중에 있어서 실온으로부터 400℃까지 승온시켜 가열했을 때에, (330 내지 370℃를 발열 피크 온도로 하는 메인 피크와 230 내지 270℃를 발열 피크 온도로 하는 서브 피크의) 2개의 발열 피크(산화에 의한 증량을 수반한 발열 피크)가 나타나는 은 피복 구리분이다. 이와 같이 메인 피크 외에도 서브 피크(2개의 온도 영역에서 발열 피크)가 나타나는 것은, 은 함유층으로 피복된 구리분을 제조할 때에 사용한 질산은에 기인하는 발열 피크(메인 피크) 외에도, 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면(노출면)에 은을 담지시킬 때 사용한 은 담지액 중의 시안은칼륨 수용액에 기인하는 발열 피크(서브 피크)가 나타나기 때문이라고 생각된다. 또한, 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면(노출면)에 은을 담지시키지 않은 경우에는, 은 함유층으로 피복된 구리분을 제조할 때에 사용한 질산은에 기인하는 발열 피크(메인 피크)만 나타난다.
또한, 본 발명에 의한 은 피복 구리분의 실시 형태는, 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면의 노출 부분에 은이 담지된 은 피복 구리분이며, 시차열·열 중량 동시 측정 장치(TG-DTA 장치)에 의해 대기 중에 있어서 실온으로부터 400℃까지 승온시켜 가열했을 때에, 250℃ 및 300℃에 있어서의 은 피복 구리분의 중량 증가율이 각각 0.3% 이하, 1.0% 이하인 은 피복 구리분이다. 이와 같이, 대기 중에 있어서 가열했을 때의 중량 증가율이 작은 은 피복 구리분은, 도전 페이스트 등에 사용하는 경우의 온도 영역에서도 내산화성이 우수하여, 보존 안정성(신뢰성)이 우수하다.
상술한 실시 형태의 은 피복 구리분에 있어서, 은 함유층이 은 또는 은 화합물을 포함하는 층인 것이 바람직하다. 또한, 은 피복 구리분에 대한 은 함유층의 양이 5질량% 이상인 것이 바람직하고, 은 피복 구리분에 대한 담지된 은의 양이 0.01질량% 이상인 것이 바람직하다. 또한, 구리분의 레이저 회절식 입도 분포 장치에 의해 측정한 누적 50% 입자 직경(D50 직경)이 0.1 내지 15㎛인 것이 바람직하다. 또한, 은 피복 구리분 중의 탄소 함유량 및 질소 함유량이 각각 0.04질량% 이상인 것이 바람직하다. 단, 은 피복 구리분 중의 탄소나 질소의 양이 지나치게 많으면, 도전성 페이스트에 사용한 경우에 도전성이 악화될 우려가 있으므로, 은 피복 구리분 중의 탄소 함유량 및 질소 함유량이 각각 1질량% 이하인 것이 바람직하고, 0.3질량%인 것이 더욱 바람직하다. 또한, 은 피복 구리분 중의 시안의 양이 10 내지 3000ppm인 것이 바람직하다. 또한, 구리분을 은 함유층으로 피복할 때에 시안을 포함하는 용액을 사용하면, 은 함유층이 불균일해지기 쉽기 때문에, 구리분을 은 함유층으로 피복할 때에는 시안을 포함하는 용액을 사용하지 않고, 은이 담지되기 전의 은 피복 구리분이 시안을 포함하지 않도록 하는 것이 바람직하다.
상술한 실시 형태의 은 피복 구리분은, 상술한 실시 형태의 은 피복 구리분의 제조 방법에 의해 제조할 수 있다. 또한, 상술한 실시 형태의 은 피복 구리분의 제조 방법에서는, 은 함유층에 의해 피복된 구리분(은 피복 구리분)의 형상은, 대략 구상이어도 되고, 플레이크상이어도 되고, 해쇄된 구리분이나 플레이크상으로 편평화된 구리분에 은 함유층에 의해 피복한 후에, 은 함유층으로 피복되어 있지 않은 구리분의 노출 부분에 은을 담지시켜도, 내산화성이 우수하여, 보존 안정성(신뢰성)이 우수한 은 피복 구리분을 제조할 수 있다.
실시예
이하, 본 발명에 의한 은 피복 구리분 및 그의 제조 방법의 실시예에 대하여 상세하게 설명한다.
[실시예 1]
아토마이즈법에 의해 제조된 시판되고 있는 구리분(닛본 아토마이즈 가코 가부시끼가이샤제의 아토마이즈 구리분 SF-Cu 5㎛)을 준비하고, 이(은 피복 전의) 구리분의 입도 분포를 구한바, 구리분의 누적 10% 입자 직경(D10)은 2.26㎛, 누적 50% 입자 직경(D50)은 5.20㎛, 누적 90% 입자 직경(D90)은 9.32㎛이었다. 또한, 구리분의 입도 분포는, 레이저 회절식 입도 분포 장치(니키소 가부시끼가이샤제의 마이크로 트랙 입도 분포 측정 장치 MT-3300)에 의해 측정하여, 누적 10% 입자 직경(D10), 누적 50% 입자 직경(D50), 누적 90% 입자 직경(D90)을 구했다.
또한, EDTA-4Na(43%) 1470g과 탄산암모늄 1820g을 순수 2882g에 용해한 용액(용액 1)과, EDTA-4Na(43%) 1470g과 탄산암모늄 350g을 순수 2270g에 용해한 용액에, 은 77.8g을 포함하는 질산은 수용액 235.4g을 첨가하여 얻어진 용액(용액 2)을 준비했다.
이어서, 질소 분위기 하에서, 상기한 구리분 700g을 용액 1에 첨가하고, 교반하면서 35℃까지 승온시켰다. 이 구리분이 분산된 용액에 용액 2를 첨가하여 30분간 교반한 후, 여과하고, 수세하고, 건조하여, 은에 의해 피복된 구리분(은 피복 구리분)을 얻었다.
이어서, 얻어진 은 피복 구리분 10g에 순수 15g(25℃)을 첨가하고, 이것에 은 담지액 1.67g을 첨가하여 교반기로 60분간 교반하여 반응시킨 후, 압출하여 물을 뿌리면서, 누체(Nutsche) 방식으로 여과하고, 여과지 상의 고형물에 순수를 뿌려 세정하고, 진공 건조기에 의해 70℃에서 5시간 건조시켜, 표면에 은을 담지시킨 은 피복 구리분을 얻었다. 또한, 은 담지액으로서, 100g/L의 시안은칼륨과 80g/L의 피로인산칼륨과 35g/L의 붕산을 포함하는 수용액 5.01g으로부터 분취한 은 담지액 1.67g을 사용했다. 또한, 여과액 중의 Ag, Cu의 농도를 ICP 질량 분석 장치(ICP-MS)에 의해 측정한바, 각각 8㎎/L, 300㎎/L이었다.
이와 같이 하여 얻어진(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분을 왕수에 용해시킨 후, 순수를 첨가하여 여과함으로써 은을 염화은으로서 회수하고, 이와 같이 회수된 염화은으로부터 중량법에 의해 Ag의 함유량을 구한바, 은 피복 구리분 중의 Ag의 함유량은 10.80질량%이었다. 또한, 후술하는 비교예 1의 은 피복 구리분(은 담지액에 첨가하지 않고, 표면에 은을 담지시키지 않은 은 피복 구리분) 중의 Ag의 함유량이 10.20질량%인 점에서, 본 실시예의 은 피복 구리분의 표면에 담지된 은의 양을 구한바, 0.60질량%(=10.80질량%-10.20질량%)이었다.
또한, 얻어진(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분 40㎎을, 시차열·열 중량 동시 측정 장치(TG-DTA 장치)(가부시키가이샤 리가크제의 서모 플러스(Thermo Plus) EVO2 TG-8120)에 의해, 대기 중에 있어서 실온(25℃)으로부터 승온 속도 10℃/분으로 400℃까지 승온시켜 계측된 200℃, 250℃, 300℃ 및 350℃에 있어서의 중량의 각각과 가열 전의 은 피복 구리분의 중량의 차(가열에 의해 증가한 중량)의 가열 전의 은 피복 구리분의 중량에 대한 중량 증가율(%)로부터, 가열에 의해 증가한 중량은 모두 은 피복 구리분의 산화에 의해 증가한 중량이라고 간주하고, 은 피복 구리분의 대기 중에 있어서의 (산화에 대한) 고온 안정성을 평가함으로써, 은 피복 구리분의 보존 안정성(신뢰성)을 평가했다. 그 결과, 200℃, 250℃, 300℃ 및 350℃에 있어서의 중량 증가율은, 각각 0.08%, 0.12%, 0.67%, 3.27%이었다. 또한, 이 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정에서는, 260℃(서브 피크 온도)와 352℃(메인 피크 온도)를 발열 피크 온도로 하는(산화에 의한 증량을 수반한 서브 피크와 메인 피크의) 2개의 발열 피크가 보였다.
[실시예 2]
은 담지액으로서, 100g/L의 시안은칼륨(산 농도 60g/L) 1.67g에, 시트르산삼칼륨일수화물 0.1g과 무수 시트르산 0.082g과 L-아스파라긴산 0.017g과 물 2g을 혼합한 수용액을 사용한 것 이외는, 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해, 표면에 은을 담지시킨 은 피복 구리분을 얻었다. 또한, 여과액 중의 Ag, Cu의 농도를 ICP 질량 분석 장치(ICP-MS)에 의해 측정한바, 각각 2㎎/L, 180㎎/L이었다.
이와 같이 하여 얻어진(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분 중의 Ag의 함유량을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 10.84질량%이었다. 또한, 표면에 담지된 은의 양을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 0.64질량%이었다.
또한, 얻어진(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분의 200℃, 250℃, 300℃ 및 350℃에 있어서의 중량 증가율을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 각각 0.10%, 0.14%, 0.68%, 3.30%이었다. 또한, 이 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정에서는, 261℃(서브 피크 온도)와 353℃(메인 피크 온도)를 발열 피크 온도로 하는(산화에 의한 증량을 수반한 서브 피크와 메인 피크의) 2개의 발열 피크가 보였다.
[실시예 3]
은 담지액으로서, 100g/L의 시안은칼륨을 포함하는 수용액 1g으로부터 분취한 은 담지액 0.2mL를 사용한 것 이외는, 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해, 표면에 은을 담지시킨 은 피복 구리분을 얻었다. 또한, 여과액 중의 Ag, Cu의 농도를 ICP 질량 분석 장치(ICP-MS)에 의해 측정한바, 각각 1㎎/L 미만, 44㎎/L이었다.
이와 같이 하여 얻어진(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분 중의 Ag의 함유량을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 10.50질량%이었다. 또한, 표면에 담지된 은의 양을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 0.30질량%이었다.
또한, 얻어진(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분의 200℃, 250℃, 300℃ 및 350℃에 있어서의 중량 증가율을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 각각 0.13%, 0.15%, 0.80%, 3.03%이었다. 또한, 이 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정에서는, 242℃(서브 피크 온도)와 360℃(메인 피크 온도)를 발열 피크 온도로 하는(산화에 의한 증량을 수반한 서브 피크와 메인 피크의) 2개의 발열 피크가 보였다.
[실시예 4]
EDTA-4Na(43%) 112.61g과 탄산암모늄 9.10g을 순수 1440.89g에 용해한 용액(용액 1)과, EDTA-4Na(43%) 346.16g과 탄산암모늄 82.89g을 순수 1551.06g에 용해한 용액에, 은 18.42g을 포함하는 질산은 수용액 55.96g을 첨가하여 얻어진 용액(용액 2)을 준비했다.
이어서, 질소 분위기 하에서, 실시예 1과 마찬가지의 구리분 350.00g을 용액 1에 첨가하고, 교반하면서 35℃까지 승온시켰다. 이 구리분이 분산된 용액에 용액 2를 첨가하여 30분간 교반한 후, 여과하고, 수세하고, 건조하여, 은에 의해 피복된 구리분(은 피복 구리분)을 얻었다.
이어서, 얻어진 은 피복 구리분 10g에 순수 15g(25℃)을 첨가한 것 이외는, 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해, 표면에 은을 담지시킨 은 피복 구리분을 얻었다. 또한, 은 담지액으로서, 100g/L의 시안은칼륨과 80g/L의 피로인산칼륨과 35g/L의 붕산을 포함하는 수용액 3.54g으로부터 분취한 은 담지액 1.67g을 사용했다. 또한, 여과액 중의 Ag, Cu의 농도를 ICP 질량 분석 장치(ICP-MS)에 의해 측정한바, 각각 1㎎/L 미만, 200㎎/L이었다.
이와 같이 하여 얻어진(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분 중의 Ag의 함유량을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 5.68질량%이었다. 또한, 표면에 담지된 은의 양을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 0.74질량%이었다.
또한, 얻어진(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분의 200℃, 250℃, 300℃ 및 350℃에 있어서의 중량 증가율을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 각각 0.13%, 0.21%, 0.84%, 3.71%이었다. 또한, 도 1에 도시한 바와 같이, 이 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정에서는, 252℃(서브 피크 온도)와 351℃(메인 피크 온도)를 발열 피크 온도로 하는(산화에 의한 증량을 수반한 서브 피크와 메인 피크의) 2개의 발열 피크가 보였다.
[실시예 5]
탄산암모늄 2.6㎏을 순수 450㎏에 용해한 용액(용액 1)과, EDTA-4Na(43%) 319㎏과 탄산암모늄 76㎏을 순수 284㎏에 용해한 용액에, 은 16.904㎏을 포함하는 질산은 수용액 92㎏을 첨가하여 얻어진 용액(용액 2)을 준비했다.
이어서, 질소 분위기 하에서, 실시예 1과 마찬가지의 구리분 100㎏을 용액 1에 첨가하고, 교반하면서 35℃까지 승온시켰다. 이 구리분이 분산된 용액에 용액 2를 첨가하여 30분간 교반한 후, 여과하고, 수세하고, 건조하여, 은에 의해 피복된 구리분(은 피복 구리분)을 얻었다.
이어서, 얻어진 은 피복 구리분 7g에 순수 10.5g(25℃)을 첨가한 것 이외는, 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해, 표면에 은을 담지시킨 은 피복 구리분을 얻었다. 또한, 은 담지액으로서, 100g/L의 시안은칼륨과 80g/L의 피로인산칼륨과 35g/L의 붕산을 포함하는 수용액 2.34g으로부터 분취한 은 담지액 1.17g을 사용했다. 또한, 여과액 중의 Ag, Cu의 농도를 ICP 질량 분석 장치(ICP-MS)에 의해 측정한바, 각각 2㎎/L, 76㎎/L이었다.
이와 같이 하여 얻어진(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분 중의 Ag의 함유량을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 15.66질량%이었다. 또한, 표면에 담지된 은의 양을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 0.59질량%이었다.
또한, 얻어진(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분의 200℃, 250℃, 300℃ 및 350℃에 있어서의 중량 증가율을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 각각 0.12%, 0.13%, 0.60%, 2.63%이었다. 또한, 도 2에 도시한 바와 같이, 이 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정에서는, 269℃(서브 피크 온도)와 363℃(메인 피크 온도)를 발열 피크 온도로 하는(산화에 의한 증량을 수반한 서브 피크와 메인 피크의) 2개의 발열 피크가 보였다.
[실시예 6]
아토마이즈법에 의해 제조된 시판되고 있는 구리분(닛본 아토마이즈 가코 가부시끼가이샤제의 아토마이즈 구리분 SF-Cu 10㎛)을 준비하고, 이 (은 피복 전의) 구리분의 입도 분포를 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 구리분의 누적 10% 입자 직경(D10)은 3.4㎛, 누적 50% 입자 직경(D50)은 8.3㎛, 누적 90% 입자 직경(D90)은 15.8㎛이었다.
또한, EDTA-4Na(43%) 112.6g과 탄산암모늄 9.1g을 순수 1440g에 용해한 용액(용액 1)과, EDTA-4Na(43%) 735g과 탄산암모늄 175g을 순수 1134g에 용해한 용액에, 은 38.9g을 포함하는 질산은 수용액 120.9g을 첨가하여 얻어진 용액(용액 2)을 준비했다.
이어서, 질소 분위기 하에서, 상기한 구리분 350g을 용액 1에 첨가하고, 교반하면서 35℃까지 승온시켰다. 이 구리분이 분산된 용액에 용액 2를 첨가하여 30분간 교반한 후, 여과하고, 수세하고, 건조하여, 은에 의해 피복된 구리분(은 피복 구리분)을 얻었다.
이어서, 얻어진 은 피복 구리분 20g에 순수 35g(25℃)을 첨가하고, 이것에 은 담지액 2.95mL를 첨가하여 교반기로 60분간 교반하여 반응시킨 후, 압출하여 물을 뿌리면서, 누체 방식으로 여과하고, 여과지 상의 고형물에 순수를 뿌려 세정하고, 진공 건조기에 의해 70℃에서 5시간 건조시켜, 표면에 은을 담지시킨 은 피복 구리분을 얻었다. 또한, 은 담지액으로서, 100g/L의 시안은칼륨과 80g/L의 피로인산칼륨과 35g/L의 붕산을 포함하는 수용액으로부터 분취한 은 담지액 2.95mL를 사용했다. 또한, 여과액 중의 Ag, Cu의 농도를 ICP 질량 분석 장치(ICP-MS)에 의해 측정한바, 각각 2㎎/L, 65㎎/L이었다.
이와 같이 하여 얻어진(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분을 왕수에 용해시킨 후, 순수를 첨가하여 여과함으로써 은을 염화은으로서 회수하고, 이와 같이 회수된 염화은으로부터 중량법에 의해 Ag의 함유량을 구한바, 은 피복 구리분 중의 Ag의 함유량은 10.90질량%이었다. 또한, 후술하는 비교예 5의 은 피복 구리분(은 담지액에 첨가하지 않고, 표면에 은을 담지시키지 않은 은 피복 구리분) 중의 Ag의 함유량이 10.24질량%인 점에서, 본 실시예의 은 피복 구리분의 표면에 담지된 은의 양을 구한바, 0.66질량%(=10.90질량%-10.24질량%)이었다.
또한, 얻어진(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분의 200℃, 250℃, 300℃ 및 350℃에 있어서의 중량 증가율을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 각각 0.06%, 0.09%, 0.56%, 2.85%이었다. 또한, 이 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정에서는, 253℃(서브 피크 온도)와 349℃(메인 피크 온도)를 발열 피크 온도로 하는(산화에 의한 증량을 수반한 서브 피크와 메인 피크의) 2개의 발열 피크가 보였다.
[비교예 1]
실시예 1에서 얻어진 은 피복 구리분(은 담지액에 첨가하지 않고, 표면에 은을 담지시키지 않은 은 피복 구리분) 중의 Ag의 함유량을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 측정한바, 10.20질량%이었다. 또한, 이 은 피복 구리분의 200℃, 250℃, 300℃ 및 350℃에 있어서의 중량 증가율을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 각각 0.17%, 0.43%, 1.19%, 3.70%이었다. 또한, 이 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정에서는, 348℃를 발열 피크 온도로 하는(산화에 의한 증량을 수반한) 하나의 발열 피크가 보였다.
[비교예 2]
비교예 1의 다른 로트로서, 실시예 1에서 얻어진 은 피복 구리분(은 담지액에 첨가하지 않고, 표면에 은을 담지시키지 않은 은 피복 구리분) 중의 Ag의 함유량을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 측정한바, 10.90질량%이었다. 또한, 이 은 피복 구리분의 200℃, 250℃, 300℃ 및 350℃에 있어서의 중량 증가율을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 각각 0.16%, 0.46%, 1.27%, 3.80%이었다. 또한, 이 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정에서는, 349℃를 발열 피크 온도로 하는(산화에 의한 증량을 수반한) 하나의 발열 피크가 보였다.
[비교예 3]
실시예 4에서 얻어진 은 피복 구리분(은 담지액에 첨가하지 않고, 표면에 은을 담지시키지 않은 은 피복 구리분) 중의 Ag의 함유량을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 측정한바, 4.94질량%이었다. 또한, 은 피복 구리분의 200℃, 250℃, 300℃ 및 350℃에 있어서의 중량 증가율을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 각각 0.24%, 0.50%, 1.29%, 4.23%이었다. 또한, 도 3에 도시한 바와 같이, 이 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정에서는, 343℃를 발열 피크 온도로 하는(산화에 의한 증량을 수반한) 하나의 발열 피크가 보였다.
[비교예 4]
실시예 5에서 얻어진 은 피복 구리분(은 담지액에 첨가하지 않고, 표면에 은을 담지시키지 않은 은 피복 구리분) 중의 Ag의 함유량을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 측정한바, 15.07질량%이었다. 또한, 은 피복 구리분의 200℃, 250℃, 300℃ 및 350℃에 있어서의 중량 증가율을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 각각 0.17%, 0.40%, 1.13%, 3.50%이었다. 또한, 도 4에 도시한 바와 같이, 이 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정에서는, 348℃를 발열 피크 온도로 하는(산화에 의한 증량을 수반한) 하나의 발열 피크가 보였다.
[비교예 5]
실시예 6에서 얻어진 은 피복 구리분(은 담지액에 첨가하지 않고, 표면에 은을 담지시키지 않은 은 피복 구리분) 중의 Ag의 함유량을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 측정한바, 10.24질량%이었다. 또한, 이 은 피복 구리분의 200℃, 250℃, 300℃ 및 350℃에 있어서의 중량 증가율을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 구한바, 각각 0.12%, 0.42%, 1.03%, 3.06%이었다. 또한, 이 은 피복 구리분의 TG-DTA 측정에서는, 348℃를 발열 피크 온도로 하는(산화에 의한 증량을 수반한) 하나의 발열 피크가 보였다.
이들 실시예 및 비교예에서 얻어진 은 피복 구리분의 제조 조건 및 특성을 표 1 내지 표 2에 나타낸다.
표 1 내지 표 2에 나타낸 바와 같이, 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면(노출면)에 은을 담지시킨 실시예 1 내지 6의 은 피복 구리분에서는, 표면에 은 담지시키지 않은 비교예 1 내지 5의 은 피복 구리분에 비하여, 대기 중에 있어서 가열했을 때의 중량 증가율을 작게 할 수 있으므로, 내산화성을 향상시킬 수 있어, 보존 안정성(신뢰성)이 우수함을 알 수 있다. 또한, 비교예 4와 같이, 실시예 1 내지 3에 비하여 은 피복 구리분 중의 Ag의 함유량을 많게 해도, 실시예 1 내지 3에 비하여 대기 중에 있어서 가열했을 때의 중량 증가율이 큰 점에서, 은 피복 구리분 중의 Ag의 함유량을 많게 한 것만으로는, 내산화성을 향상시켜 보존 안정성(신뢰성)이 우수한 은 피복 구리분을 얻을 수 없음을 알 수 있다.
또한, 표면에 은을 담지시킨 실시예의 은 피복 구리분을 제조할 때에 얻어진 여과액 중의 Ag의 농도가 매우 낮고, Cu의 농도가 높은 점에서, 은으로 피복되어 있지 않은 구리분의 노출 부분에 선택적으로 은이 담지된다고 추측되며, 은으로 피복되어 있지 않은 구리분의 노출 부분을 매우 적은 양의 은으로 매립하여, 은 피복 구리분의 내산화성을 향상시켜, 보존 안정성(신뢰성)이 우수한 은 피복 구리분을 제조할 수 있다.
[비교예 6, 실시예 7]
비교예 6으로서, 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해, 은 피복 구리분(은 담지액에 첨가하지 않고, 표면에 은을 담지시키지 않은 은 피복 구리분)을 얻음과 함께, 실시예 7로서, 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해, 표면에 은을 담지시킨 은 피복 구리분을 얻었다. 이들 은 피복 구리분 중의 Ag의 함유량을 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해 측정한바, 비교예 6의 은 피복 구리분 중의 Ag 함유량은 10.14질량%이며, 실시예 7의 은 피복 구리분 중의 Ag 함유량은 10.77질량%이었다. 또한, 이들 은 피복 구리분 중의 탄소 함유량, 질소 함유량, 산소 함유량 및 시안의 양을 구함과 함께, 은 피복 구리분의 입도 분포 및 BET 비표면적을 구했다. 또한, 비교예 6과 실시예 7의 은 피복 구리분에 대하여, 실시예 1과 마찬가지의 방법에 의해, TG-DTA 측정을 행한바, 비교예 6의 은 피복 구리분에서는, 비교예 1과 마찬가지로 하나의 발열 피크가 보이고, 실시예 7의 은 피복 구리분에서는, 실시예 1과 마찬가지로 2개의 발열 피크가 보였다.
탄소 함유량은, 탄소·황 분석 장치(가부시키가이샤 호리바 세이사쿠쇼제의 EMIA-810W)에 의해 측정하고, 질소 함유량 및 산소 함유량은, 산소·질소·수소 분석 장치(LECO 재팬 고도 가이샤제)에 의해 측정했다. 그 결과, 비교예 6의 은 피복 구리분 중의 탄소 함유량은 0.02질량%, 질소 함유량은 0.007질량%, 산소 함유량은 0.08질량%이며, 실시예 7의 은 피복 구리분 중의 탄소 함유량은 0.13질량%, 질소 함유량은 0.112질량%, 산소 함유량은 0.10질량%이었다.
시안(CN-)의 양은, 은 피복 구리분 1g을 칭량하여 증류 플라스크에 넣고, 250mL의 물을 첨가하여 증류한 물에 대하여, JIS K0102에 준거하여, 전처리(전체 시안)를 행함과 함께 피리딘-피라졸론 흡광 광도법에 의한 분석을 함으로써 구했다. 그 결과, 비교예 6의 은 피복 구리분에서는 시안은 검출되지 않고, 실시예 7의 은 피복 구리분 중의 시안의 양은 1400ppm이었다.
입도 분포는, 레이저 회절식 입도 분포 장치(니키소 가부시끼가이샤제의 마이크로 트랙 입도 분포 측정 장치 MT-3300)에 의해 측정했다. 그 결과, 비교예 6의 은 피복 구리분의 누적 10% 입자 직경(D10)은 2.5㎛, 누적 50% 입자 직경(D50)은 5.2㎛, 누적 90% 입자 직경(D90)은 10.1㎛이며, 실시예 7의 은 피복 구리분의 누적 10% 입자 직경(D10)은 2.5㎛, 누적 50% 입자 직경(D50)은 5.0㎛, 누적 90% 입자 직경(D90)은 10.0㎛이었다.
BET 비표면적은, BET 비표면적 측정기(유아사 아이오닉스 가부시끼가이샤제의 4소브 US)를 사용하여 BET 1점법에 의해 측정했다. 그 결과, 비교예 6의 은 피복 구리분의 BET 비표면적은 0.31㎡/g이며, 실시예 7의 은 피복 구리분의 BET 비표면적은 0.29㎡/g이었다.
이들 결과를 표 3에 나타낸다.
표 3으로부터 알 수 있는 바와 같이, 실시예 7의(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분에서는, 비교예 6의 은 피복 구리분(은 담지액에 첨가하지 않고, 표면에 은을 담지시키지 않은 은 피복 구리분)에 비하여, 산소 함유량은 거의 변함없지만, 탄소 함유량과 질소 함유량이 증가하고 있다. 또한, 비교예 6의 은 피복 구리분에서는, 시안(CN-)이 검출되지 않지만, 실시예 7의 은 피복 구리분에서는, 제조 시에 건조 전에 수세해도 시안이 잔류되어, 은 피복 구리분이 시안을 함유하고 있다.
또한, 비교예 6 및 실시예 7의 각각의 은 피복 구리분 87.0질량%와, 에폭시 수지(미쯔비시 가가꾸 가부시끼가이샤제의 JER1256) 3.8질량%와, 용제로서 부틸카르비톨아세테이트(와코 쥰야쿠 고교 가부시끼가이샤제) 8.6질량%와, 경화제(아지노모또 파인테크노 가부시끼가이샤제의 M-24) 0.5질량%와, 분산제로서 올레산(와코 쥰야쿠 고교 가부시끼가이샤제) 0.1질량%를, 자·공전식 진공 교반 탈포 장치(가부시키가이샤 싱키사제의 아와토리렌타로)에 의해 혼합(예비혼련)한 후, 3축 롤(오토하만사제의 EXAKT80S)에 의해 혼련함으로써, 각각 도전성 페이스트 1을 얻었다.
또한, 은 이온으로서 21.4g/L의 질산은 용액 502.7L에, 공업용의 암모니아수 45L를 첨가하여, 은의 암민 착체 용액을 생성했다. 생성된 은의 암민 착체 용액에 농도 100g/L의 수산화나트륨 용액 8.8L를 첨가하여 pH 조정하고, 물 462L를 첨가하여 희석하고, 환원제로서 공업용의 포르말린 48L를 첨가했다. 그 직후에, 스테아르산으로서 16질량%의 스테아르산 에멀젼 121g을 첨가했다. 이와 같이 하여 얻어진 은의 슬러리를 여과하고, 수세한 후, 건조하여 은분 21.6㎏을 얻었다. 이 은분을 헨쉘 믹서(고속 교반기)로 표면 평활화 처리한 후, 분급하여 11㎛보다 큰 은의 응집체를 제거했다.
이와 같이 하여 얻어진 은분 85.4질량%와, 에틸셀룰로오스 수지(와코 쥰야쿠 고교 가부시끼가이샤제) 1.2질량%와, 용제(JMC 가부시끼가이샤제의 텍사놀과 와코 쥰야쿠 고교 가부시끼가이샤제의 부틸카르비톨아세테이트를 1:1로 혼합한 용제) 7.9질량%와, 첨가제로서 유리 프릿(아사히 가라스 가부시끼가이샤제의 ASF-1898B) 1.5질량% 및 이산화텔루륨(와코 쥰야쿠 고교 가부시끼가이샤제) 3.2질량%를, 자·공전식 진공 교반 탈포 장치(가부시키가이샤 싱키사제의 아와토리렌타로)에 의해 혼합(예비혼련)한 후, 3축 롤(오토하만사제의 EXAKT80S)에 의해 혼련함으로써, 도전성 페이스트 2를 얻었다.
이어서, 2매의 실리콘 웨이퍼(가부시키가이샤 E&M제, 80Ω/스퀘어, 6인치 단결정)를 준비하고, 각각의 실리콘 웨이퍼의 이면에 스크린 인쇄기(마이크로테크 가부시끼가이샤제의 MT-320T)에 의해 알루미늄 페이스트(도요알루미늄 가부시끼가이샤제의 알솔라 14-7021)를 인쇄한 후에, 열풍식 건조기에 의해 200℃에서 10분간 건조함과 함께, 실리콘 웨이퍼의 표면에 스크린 인쇄기(마이크로테크 가부시끼가이샤제의 MT-320T)에 의해, 상기한 도전성 페이스트 2를 폭 50㎛의 100개의 핑거 전극 형상으로 인쇄한 후, 열풍식 건조기에 의해 200℃에서 10분간 건조하고, 고속 소성IR로(니혼 가이시 가부시끼가이샤제의 고속 소성 시험 4실로)의 인-아웃 21초간으로 하여 피크 온도 820℃에서 소성했다. 그 후, 각각의 실리콘 웨이퍼의 표면에 스크린 인쇄기(마이크로테크 가부시끼가이샤제의 MT-320T)에 의해, 각각의 도전성 페이스트 1(비교예 6과 실시예 7의 은 피복 구리분으로부터 얻어진 도전성 페이스트 1)을 폭 1.3㎜의 3개의 버스 바 전극 형상으로 인쇄한 후, 열풍식 건조기에 의해 200℃에서 40분간 건조함과 함께 경화시켜 태양 전지를 제작했다.
상기한 태양 전지에 솔라 시뮬레이터(가부시키가이샤 와콤 덴소제)의 크세논 램프에 의해 광 조사 에너지 100mW㎠의 의사 태양광을 조사하여 전지 특성 시험을 행했다. 그 결과, 비교예 6 및 실시예 7의 도전성 페이스트를 사용하여 제작한 태양 전지의 변환 효율 Eff는, 각각 18.34%, 19.94%이었다.
또한, 내후성 시험(신뢰성 시험)으로서, 상기한 태양 전지를 각각 온도 85℃, 습도 85%로 설정한 항온항습기에 넣고, 24시간 후와 48시간 후의 변환 효율 Eff를 구한바, 비교예 6의 도전성 페이스트를 사용하여 제작한 태양 전지에서는, 24시간 후에 17.87%, 48시간 후에 16.79%이며, 실시예 7의 도전성 페이스트를 사용하여 제작한 태양 전지에서는, 24시간에 19.49%, 19.36%이었다. 이들 결과를 도 5에 도시한다.
이들 결과로부터 알 수 있는 바와 같이, 표면에 은을 담지시킨 은 피복 구리분을 사용한 도전성 페이스트를 태양 전지의 버스 바 전극의 형성에 사용하면, 태양 전지의 변환 효율 Eff를 대폭 향상시킬 수 있음과 함께, 내후성 시험 후에도 변환 효율의 저하를 억제할 수 있다. 이와 같이, 본 발명에 의한(표면에 은을 담지시킨) 은 피복 구리분을 사용한 도전성 페이스트를 태양 전지의 버스 바 전극의 형성에 사용하면, 현상의 태양 전지의 변환 효율을 실용적인 신뢰성을 유지하면서 향상시킬 수 있다.
본 발명에 의한 은 피복 구리분은, 회로 기판의 도체 패턴, 태양 전지 등의 기판 전극이나 회로 등의 전자 부품에 사용하는 도전성 페이스트의 제작에 이용할 수 있다.
Claims (20)
- 표면이 은 함유층으로 피복된 구리분을 은 담지액에 첨가하여, 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면에 은을 담지시키는 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 은을 담지시키는 표면이, 상기 은 함유층으로 피복된 구리분의 노출면인 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 은 함유층이 은 또는 은 화합물을 포함하는 층인 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 은 피복 구리분에 대한 상기 은 함유층의 양이 5질량% 이상인 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 은 피복 구리분에 대한 상기 담지된 은의 양이 0.01질량% 이상인 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 은 담지액이 시안은칼륨 용액을 포함하는 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분의 제조 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 시안은칼륨 용액이 피로인산칼륨, 붕산, 시트르산삼칼륨일수화물, 무수 시트르산 및 L-아스파라긴산으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 구리분의 레이저 회절식 입도 분포 장치에 의해 측정한 누적 50% 입자 직경(D50 직경)이 0.1 내지 15㎛인 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분의 제조 방법.
- 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면의 노출 부분에 은이 담지된 은 피복 구리분이며, 시차열·열 중량 동시 측정 장치에 의해 대기 중에 있어서 실온으로부터 400℃까지 승온시켜 가열했을 때에, 2개의 발열 피크가 나타나는 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분.
- 제9항에 있어서, 상기 2개의 발열 피크의 한쪽이, 330 내지 370℃를 발열 피크 온도로 하는 메인 피크이며, 다른 쪽이 230 내지 270℃를 발열 피크 온도로 하는 서브 피크인 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분.
- 은 함유층으로 피복된 구리분의 표면의 노출 부분에 은이 담지된 은 피복 구리분이며, 시차열·열 중량 동시 측정 장치에 의해 대기 중에 있어서 실온으로부터 400℃까지 승온시켜 가열했을 때에, 250℃ 및 300℃에 있어서의 은 피복 구리분의 중량 증가율이, 각각 0.3% 이하, 1.0% 이하인 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분.
- 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 은 함유층이 은 또는 은 화합물을 포함하는 층인 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분.
- 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 은 피복 구리분에 대한 상기 은 함유층의 양이 5질량% 이상인 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분.
- 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 은 피복 구리분에 대한 상기 담지된 은의 양이 0.01질량% 이상인 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분.
- 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 구리분의 레이저 회절식 입도 분포 장치에 의해 측정한 누적 50% 입자 직경(D50 직경)이 0.1 내지 15㎛인 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분.
- 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 은 피복 구리분 중의 시안의 양이 10 내지 3000ppm인 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분.
- 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 은 피복 구리분 중의 탄소 함유량 및 질소 함유량이 각각 0.04질량% 이상인 것을 특징으로 하는, 은 피복 구리분.
- 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 은 피복 구리분을 도체로서 사용한 것을 특징으로 하는, 도전성 페이스트.
- 용제 및 수지를 포함하고, 도전성 분체로서 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 은 피복 구리분을 포함하는 것을 특징으로 하는, 도전성 페이스트.
- 제18항의 도전성 페이스트를 기판에 도포한 후에 경화시킴으로써 기판의 표면에 전극을 형성하는 것을 특징으로 하는, 태양 전지용 전극의 제조 방법.
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2015-004008 | 2015-01-13 | ||
JP2015004008 | 2015-01-13 | ||
JPJP-P-2016-000026 | 2016-01-04 | ||
JP2016000026A JP6679312B2 (ja) | 2015-01-13 | 2016-01-04 | 銀被覆銅粉およびその製造方法 |
PCT/JP2016/000034 WO2016114106A1 (ja) | 2015-01-13 | 2016-01-06 | 銀被覆銅粉およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20170105013A true KR20170105013A (ko) | 2017-09-18 |
Family
ID=56415196
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020177019349A KR20170105013A (ko) | 2015-01-13 | 2016-01-06 | 은 피복 구리분 및 그의 제조 방법 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20180272425A1 (ko) |
JP (2) | JP6679312B2 (ko) |
KR (1) | KR20170105013A (ko) |
CN (1) | CN107206491B (ko) |
TW (1) | TWI680470B (ko) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017135138A1 (ja) * | 2016-02-03 | 2017-08-10 | Dowaエレクトロニクス株式会社 | 銀被覆銅粉およびその製造方法 |
JP6811080B2 (ja) | 2016-02-03 | 2021-01-13 | Dowaエレクトロニクス株式会社 | 銀被覆銅粉およびその製造方法 |
JP6236557B1 (ja) * | 2016-03-18 | 2017-11-22 | Dowaエレクトロニクス株式会社 | 銀テルル被覆ガラス粉およびその製造方法、ならびに導電性ペーストおよびその製造方法 |
JP6246877B1 (ja) | 2016-09-08 | 2017-12-13 | Dowaエレクトロニクス株式会社 | 導電性ペーストおよびその製造方法、ならびに太陽電池の製造方法 |
JP7090511B2 (ja) * | 2017-09-29 | 2022-06-24 | Dowaエレクトロニクス株式会社 | 銀粉およびその製造方法 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3202488A (en) * | 1964-03-04 | 1965-08-24 | Chomerics Inc | Silver-plated copper powder |
US4716081A (en) * | 1985-07-19 | 1987-12-29 | Ercon, Inc. | Conductive compositions and conductive powders for use therein |
JP4138171B2 (ja) * | 1999-08-12 | 2008-08-20 | エヌ・イーケムキャット株式会社 | 銀電気めっき浴 |
CN1273249C (zh) * | 2000-10-02 | 2006-09-06 | 旭化成电子材料元件株式会社 | 基本不含铅的金属合金颗粒及其生产方法和用途 |
JP4261973B2 (ja) * | 2003-04-28 | 2009-05-13 | 日本化学工業株式会社 | 導電性無電解めっき粉体の製造方法 |
JP2007073545A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-22 | Tsukuba Semi Technology:Kk | 半導体デバイスの結晶質改善方法 |
CN1876282A (zh) * | 2006-07-07 | 2006-12-13 | 清华大学 | 一种铜粉表面化学镀银的方法 |
TW200825213A (en) * | 2006-11-01 | 2008-06-16 | N E Chemcat Corp | Gold-silver alloy plating liquid |
JP4666663B2 (ja) * | 2007-11-30 | 2011-04-06 | 三井金属鉱業株式会社 | 銀化合物被覆銅粉、その銀化合物被覆銅粉の製造方法、その銀化合物被覆銅粉の保管方法及びその銀化合物被覆銅粉を用いた導電性ペースト |
CN101774025A (zh) * | 2010-01-19 | 2010-07-14 | 山东天诺光电材料有限公司 | 一种镀银铜粉的制备方法 |
CN102211185B (zh) * | 2011-05-17 | 2014-01-22 | 陈钢强 | 银包铜合金粉 |
KR101151366B1 (ko) * | 2011-11-24 | 2012-06-08 | 한화케미칼 주식회사 | 도전성 입자 및 이의 제조방법 |
WO2013089816A1 (en) * | 2011-12-15 | 2013-06-20 | Henkel Corporation | Selective coating of exposed copper on silver-plated copper |
WO2013108916A1 (ja) * | 2012-01-17 | 2013-07-25 | Dowaエレクトロニクス株式会社 | 銀被覆銅合金粉末およびその製造方法 |
CN102873324A (zh) * | 2012-10-17 | 2013-01-16 | 厦门大学 | 一种包裹型铜镍银复合粉体及其制备方法 |
JP5785532B2 (ja) * | 2012-11-30 | 2015-09-30 | 三井金属鉱業株式会社 | 銀コート銅粉及びその製造方法 |
WO2017135138A1 (ja) * | 2016-02-03 | 2017-08-10 | Dowaエレクトロニクス株式会社 | 銀被覆銅粉およびその製造方法 |
-
2016
- 2016-01-04 JP JP2016000026A patent/JP6679312B2/ja active Active
- 2016-01-06 CN CN201680005161.7A patent/CN107206491B/zh active Active
- 2016-01-06 US US15/542,464 patent/US20180272425A1/en not_active Abandoned
- 2016-01-06 KR KR1020177019349A patent/KR20170105013A/ko not_active Application Discontinuation
- 2016-01-11 TW TW105100676A patent/TWI680470B/zh active
-
2020
- 2020-01-29 JP JP2020012301A patent/JP2020076155A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107206491B (zh) | 2019-12-06 |
JP2016130365A (ja) | 2016-07-21 |
JP6679312B2 (ja) | 2020-04-15 |
JP2020076155A (ja) | 2020-05-21 |
TW201631603A (zh) | 2016-09-01 |
TWI680470B (zh) | 2019-12-21 |
US20180272425A1 (en) | 2018-09-27 |
CN107206491A (zh) | 2017-09-26 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application |